JPH10322193A - 論理ゲート回路 - Google Patents
論理ゲート回路Info
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- JPH10322193A JPH10322193A JP9128743A JP12874397A JPH10322193A JP H10322193 A JPH10322193 A JP H10322193A JP 9128743 A JP9128743 A JP 9128743A JP 12874397 A JP12874397 A JP 12874397A JP H10322193 A JPH10322193 A JP H10322193A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 必要な出力電流を減らすことなく、不要な貫
通電流を減らした低消費電力の論理ゲート回路を実現す
る。 【解決手段】 入力信号Siが“L”の時、E−FET
21はオフ状態になり、D−FET23から出力端子O
UTを介して次段のインバータ回路に電流が流れ、出力
信号Soが“H”になる。。この時、抵抗22には電流
が殆ど流れないので、D−FET23のゲートとソース
とはほぼ同電位になる。入力信号Siが“H”の時、E
−FET21はオン状態になり、D−FET23から抵
抗22を介してE−FET21に電流が流れ、出力信号
Soが“L”になる。この時、抵抗22に電圧降下が生
じ、出力端子OUTの電位よりもノードNの電位の方が
低くなる。そのため、D−FET23のゲート電位がソ
ース電位よりも低くなり、該D−FET23のドレイン
電流が減少する。
通電流を減らした低消費電力の論理ゲート回路を実現す
る。 【解決手段】 入力信号Siが“L”の時、E−FET
21はオフ状態になり、D−FET23から出力端子O
UTを介して次段のインバータ回路に電流が流れ、出力
信号Soが“H”になる。。この時、抵抗22には電流
が殆ど流れないので、D−FET23のゲートとソース
とはほぼ同電位になる。入力信号Siが“H”の時、E
−FET21はオン状態になり、D−FET23から抵
抗22を介してE−FET21に電流が流れ、出力信号
Soが“L”になる。この時、抵抗22に電圧降下が生
じ、出力端子OUTの電位よりもノードNの電位の方が
低くなる。そのため、D−FET23のゲート電位がソ
ース電位よりも低くなり、該D−FET23のドレイン
電流が減少する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体集積
回路等に設けられ、特に消費電力を低減したインバータ
回路、NORゲート回路、NANDゲート回路等の論理
ゲート回路に関するものである。
回路等に設けられ、特に消費電力を低減したインバータ
回路、NORゲート回路、NANDゲート回路等の論理
ゲート回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、このような分野の技術としては、
例えば、次のような文献に記載されるものがあった。 文献;大森正道編、超高速化合物半導体デバイス、(昭
61-11-30)、培風館、「E/D形DCFLの最適動作条
件」、P.257 図2は、前記文献に記載された従来の論理ゲート回路の
1つであるインバータ回路の一例を示す回路図である。
このインバータ回路10は、入力信号Siを入力する入
力端子INを有し、該入力端子INがエンハンスメン卜
型電界効果トランジスタ(以下、E−FETという)1
1のゲートに接続されている。E−FET11のソース
はグランドに接続され、該E−FET11のドレインが
出力信号Soを出力する出力端子OUTに接続されてい
る。更に、E−FET11のドレインは、ディプレッシ
ョン型電界効果トランジスタ(以下、D−FETとい
う)12のゲート及びソースに接続され、該D−FET
12のドレインが電源電位Vddに接続されている。出
力端子OUTは、E−FET13及びD−FET14で
インバータ回路10と同様に構成された次段のインバー
タ回路に接続されている。
例えば、次のような文献に記載されるものがあった。 文献;大森正道編、超高速化合物半導体デバイス、(昭
61-11-30)、培風館、「E/D形DCFLの最適動作条
件」、P.257 図2は、前記文献に記載された従来の論理ゲート回路の
1つであるインバータ回路の一例を示す回路図である。
このインバータ回路10は、入力信号Siを入力する入
力端子INを有し、該入力端子INがエンハンスメン卜
型電界効果トランジスタ(以下、E−FETという)1
1のゲートに接続されている。E−FET11のソース
はグランドに接続され、該E−FET11のドレインが
出力信号Soを出力する出力端子OUTに接続されてい
る。更に、E−FET11のドレインは、ディプレッシ
ョン型電界効果トランジスタ(以下、D−FETとい
う)12のゲート及びソースに接続され、該D−FET
12のドレインが電源電位Vddに接続されている。出
力端子OUTは、E−FET13及びD−FET14で
インバータ回路10と同様に構成された次段のインバー
タ回路に接続されている。
【0003】このインバータ回路10では、入力信号S
iが低レベル(以下、“L”という)のとき、E−FE
T11のゲートは“L”であり、該E−FET11のド
レインとソースとの間は遮断状態である。D−FET1
2のドレインからソースに流れる電流(以下、ドレイン
電流という)は、出力端子OUTから、次段のインバー
タ回路の入力端子に流れる。E−FET13のゲートと
ソース間のインピーダンスより、ゲートとソースとを接
続したD−FET12のドレインとソース間のインピー
ダンスの方が小さくなるようにゲート幅等を設計すれ
ば、出力信号Soは高レベル(以下、“H”という)に
なる。一方、入力信号Siが“H”のとき、E−FET
11のゲートは“H”であり、E−FET11のドレイ
ンとソース間は導通状態である。D−FET12のドレ
イン電流は、E−FET11のドレインとソースとの間
に流れる。ゲートとソースとを接続したD−FET12
のドレインとソースとの間のインピーダンスよりも、導
通状態のE−FET11のドレインとソースとの間のイ
ンピーダンスの方が小さくなるようにゲート幅等を設計
すれば、出力信号Soが“L”になる。
iが低レベル(以下、“L”という)のとき、E−FE
T11のゲートは“L”であり、該E−FET11のド
レインとソースとの間は遮断状態である。D−FET1
2のドレインからソースに流れる電流(以下、ドレイン
電流という)は、出力端子OUTから、次段のインバー
タ回路の入力端子に流れる。E−FET13のゲートと
ソース間のインピーダンスより、ゲートとソースとを接
続したD−FET12のドレインとソース間のインピー
ダンスの方が小さくなるようにゲート幅等を設計すれ
ば、出力信号Soは高レベル(以下、“H”という)に
なる。一方、入力信号Siが“H”のとき、E−FET
11のゲートは“H”であり、E−FET11のドレイ
ンとソース間は導通状態である。D−FET12のドレ
イン電流は、E−FET11のドレインとソースとの間
に流れる。ゲートとソースとを接続したD−FET12
のドレインとソースとの間のインピーダンスよりも、導
通状態のE−FET11のドレインとソースとの間のイ
ンピーダンスの方が小さくなるようにゲート幅等を設計
すれば、出力信号Soが“L”になる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
図2のインバータ回路10では、次のような課題があっ
た。図2のインバータ回路10では、入力信号Siが
“L”のとき、D−FET12のドレイン電流は、出力
端子OUTを経て次段のインバータ回路の入力端子に流
れる出力電流になる。この出力電流は、出力端子OUT
の寄生容量を充電して出力端子OUTの電位を“H”に
上げるために必要なものであり、この電流が大きいほど
伝搬遅延時間が短くなる。一方、入力信号Siが“H”
のとき、D−FET12のドレイン電流はE−FET1
1に流れる。この電流は、インバータ回路10の内部の
みに流れる貫通電流であり、出力端子OUTの電位が
“L”に下がることを妨げる不要な電流である。この電
流が小さいほど、インバータ回路10の消費電力を低減
できる。
図2のインバータ回路10では、次のような課題があっ
た。図2のインバータ回路10では、入力信号Siが
“L”のとき、D−FET12のドレイン電流は、出力
端子OUTを経て次段のインバータ回路の入力端子に流
れる出力電流になる。この出力電流は、出力端子OUT
の寄生容量を充電して出力端子OUTの電位を“H”に
上げるために必要なものであり、この電流が大きいほど
伝搬遅延時間が短くなる。一方、入力信号Siが“H”
のとき、D−FET12のドレイン電流はE−FET1
1に流れる。この電流は、インバータ回路10の内部の
みに流れる貫通電流であり、出力端子OUTの電位が
“L”に下がることを妨げる不要な電流である。この電
流が小さいほど、インバータ回路10の消費電力を低減
できる。
【0005】ところが、このインバータ回路10では、
電源電位Vddは一定なので、出力信号Soが“H”の
時よりも“L”の時の方が、D−FET12のドレイン
とソースとの間にかかる電圧が大きいため、必要な出力
電流よりも不要な貫通電流の方が大きい。仮に、D−F
ET12がドレインコンダクタンスが0で未飽和領域の
ない理想的なトランジスタであれば、ドレインとソース
間の電圧に関係なくドレイン電流は一定であるが、実際
にはドレインコンダクタンスが0より大きく、未飽和領
域が存在するので、ドレインとソース間の電圧が大きく
なると、ドレイン電流が増加する。特に、電源電圧Vd
dが低い場合、出力信号Soが“H”の時にD−FET
12が未飽和領域に入ってドレイン電流が小さくなるの
で、ドレイン電流の変化(即ち、出力電流と貫通電流と
の差)が更に大きくなる。このように、従来のインバー
タ回路10では、入力信号inが“H”の時に流れる貫
通電流が大きいため、消費電力が大きいという課題があ
った。
電源電位Vddは一定なので、出力信号Soが“H”の
時よりも“L”の時の方が、D−FET12のドレイン
とソースとの間にかかる電圧が大きいため、必要な出力
電流よりも不要な貫通電流の方が大きい。仮に、D−F
ET12がドレインコンダクタンスが0で未飽和領域の
ない理想的なトランジスタであれば、ドレインとソース
間の電圧に関係なくドレイン電流は一定であるが、実際
にはドレインコンダクタンスが0より大きく、未飽和領
域が存在するので、ドレインとソース間の電圧が大きく
なると、ドレイン電流が増加する。特に、電源電圧Vd
dが低い場合、出力信号Soが“H”の時にD−FET
12が未飽和領域に入ってドレイン電流が小さくなるの
で、ドレイン電流の変化(即ち、出力電流と貫通電流と
の差)が更に大きくなる。このように、従来のインバー
タ回路10では、入力信号inが“H”の時に流れる貫
通電流が大きいため、消費電力が大きいという課題があ
った。
【0006】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明は、論理ゲート回路において、第1の電源電
位と第1のノードとの間に接続され、入力端子の論理レ
ベルに基づいて該第1の電源電位と第1のノードとの間
の導通状態をオン/オフ制御する1つ又は複数のスイッ
チング手段と、前記第1のノードと出力端子との間に接
続され、前記スイッチング手段がオン状態の時に該スイ
ッチング手段を介して前記第1の電源電位に流れる電流
を制限すると共に該第1のノードの電位を設定するイン
ピーダンス手段(例えば、抵抗或いはD−FET等で構
成されている)と、第2の電源電位と前記出力端子との
間に接続され、前記第1のノードの電位によって制御さ
れた電流を前記出力端子へ出力する電流制御手段とを、
備えている。本発明によれば、以上のように論理ゲート
回路を構成したので、スイッチング手段がオフ状態の
時、インピーダンス手段には殆ど電流が流れないので、
第1のノードと出力端子との間の電位差はほぼ同一にな
り、出力端子の電位によって制御された電流が電流制御
手段から該出力端子へ出力される。一方、スイッチング
手段がオン状態の時、インピーダンス手段に電流が流れ
るので、第1のノードの電位が出力端子の電位よりも低
くなり、第1のノードの電位によって制御された電流
(即ち、貫通電流)が電流制御手段から該インピーダン
ス手段を介してスイッチング手段へ流れる。そのため、
必要な出力電流を減らすことなく、不要な貫通電流が減
少する。従って、前記課題を解決できるのである。
に、本発明は、論理ゲート回路において、第1の電源電
位と第1のノードとの間に接続され、入力端子の論理レ
ベルに基づいて該第1の電源電位と第1のノードとの間
の導通状態をオン/オフ制御する1つ又は複数のスイッ
チング手段と、前記第1のノードと出力端子との間に接
続され、前記スイッチング手段がオン状態の時に該スイ
ッチング手段を介して前記第1の電源電位に流れる電流
を制限すると共に該第1のノードの電位を設定するイン
ピーダンス手段(例えば、抵抗或いはD−FET等で構
成されている)と、第2の電源電位と前記出力端子との
間に接続され、前記第1のノードの電位によって制御さ
れた電流を前記出力端子へ出力する電流制御手段とを、
備えている。本発明によれば、以上のように論理ゲート
回路を構成したので、スイッチング手段がオフ状態の
時、インピーダンス手段には殆ど電流が流れないので、
第1のノードと出力端子との間の電位差はほぼ同一にな
り、出力端子の電位によって制御された電流が電流制御
手段から該出力端子へ出力される。一方、スイッチング
手段がオン状態の時、インピーダンス手段に電流が流れ
るので、第1のノードの電位が出力端子の電位よりも低
くなり、第1のノードの電位によって制御された電流
(即ち、貫通電流)が電流制御手段から該インピーダン
ス手段を介してスイッチング手段へ流れる。そのため、
必要な出力電流を減らすことなく、不要な貫通電流が減
少する。従って、前記課題を解決できるのである。
【0007】
【発明の実施の形態】第1の実施形態 図1は、本発明の第1の実施形態を示す論理ゲート回路
の1つであるインバータ回路の回路図である。このイン
バータ回路20は、入力信号Siを入力する入力端子I
Nを有し、該入力端子INが該入力信号Siの論理レベ
ルに基づいてオン/オフ制御されるスイッチング手段
(例えば、E−FET)21のゲートに接続されてい
る。E−FET21のソースは第1の電源電位(例え
ば、グランド)に接続され、該E−FET21のドレイ
ンが第1のノードNに接続されている。ノードNは、E
−FET21に流れる電流を制限すると共に該ノードN
の電位を設定するインピーダンス手段(例えば、抵抗)
22を介して出力信号Soを出力する出力端子OUTに
接続され、該出力端子OUTには電流制御手段(例え
ば、D−FET)23のソースが接続されている。D−
FET23のドレインは第2の電源電位Vddに接続さ
れ、該D−FET23のゲートにはノードNが接続され
ている。D−FET23は、ノードNの電位によって制
御された電流を出力端子OUTへ出力する機能を有して
いる。出力端子OUTは、E−FET31、抵抗32、
及びD−FET33で同様に構成された次段のインバー
タ回路に接続されている。
の1つであるインバータ回路の回路図である。このイン
バータ回路20は、入力信号Siを入力する入力端子I
Nを有し、該入力端子INが該入力信号Siの論理レベ
ルに基づいてオン/オフ制御されるスイッチング手段
(例えば、E−FET)21のゲートに接続されてい
る。E−FET21のソースは第1の電源電位(例え
ば、グランド)に接続され、該E−FET21のドレイ
ンが第1のノードNに接続されている。ノードNは、E
−FET21に流れる電流を制限すると共に該ノードN
の電位を設定するインピーダンス手段(例えば、抵抗)
22を介して出力信号Soを出力する出力端子OUTに
接続され、該出力端子OUTには電流制御手段(例え
ば、D−FET)23のソースが接続されている。D−
FET23のドレインは第2の電源電位Vddに接続さ
れ、該D−FET23のゲートにはノードNが接続され
ている。D−FET23は、ノードNの電位によって制
御された電流を出力端子OUTへ出力する機能を有して
いる。出力端子OUTは、E−FET31、抵抗32、
及びD−FET33で同様に構成された次段のインバー
タ回路に接続されている。
【0008】次に、図1の動作を説明する。このインバ
ータ回路20では、入力信号Siが“L”の時、E−F
ET21のゲートは“L”であり、該E−FET21の
ドレインとソースとの間はオフ状態である。D−FET
23を流れる電流は、出力端子OUTから次段のインバ
ータ回路の入力端子INに流れる。この時、抵抗22に
は電流が殆ど流れないので電圧降下が生じず、ノ一ドN
の電位と出力端子OUTの電位とはほぼ等しい。つま
り、D−FET23のゲートとソースとは電気的に接続
されていると見做すことができ、D−FET23と図2
中のD−FET12とのゲート幅が等しくなるように設
計すれば、従来の図2のインバータ回路10と同様の構
成になる。E−FET31のゲートとソース間のインピ
ーダンスより、ゲートとソースとが電気的に接続された
D−FET23のドレインとソース間のインピーダンス
の方が小さくなるようにゲート幅等を設計すれば、出力
信号Soは“H”になる。
ータ回路20では、入力信号Siが“L”の時、E−F
ET21のゲートは“L”であり、該E−FET21の
ドレインとソースとの間はオフ状態である。D−FET
23を流れる電流は、出力端子OUTから次段のインバ
ータ回路の入力端子INに流れる。この時、抵抗22に
は電流が殆ど流れないので電圧降下が生じず、ノ一ドN
の電位と出力端子OUTの電位とはほぼ等しい。つま
り、D−FET23のゲートとソースとは電気的に接続
されていると見做すことができ、D−FET23と図2
中のD−FET12とのゲート幅が等しくなるように設
計すれば、従来の図2のインバータ回路10と同様の構
成になる。E−FET31のゲートとソース間のインピ
ーダンスより、ゲートとソースとが電気的に接続された
D−FET23のドレインとソース間のインピーダンス
の方が小さくなるようにゲート幅等を設計すれば、出力
信号Soは“H”になる。
【0009】入力信号Siが“H”の時、E−FET2
1のゲートは“H”であり、該E−FET21のドレイ
ンとソースとの間はオン状態である。D−FET23を
流れる電流は、抵抗22を介してE−FET21のドレ
インからソースに流れる。この時、抵抗22に電圧降下
が生じ、出力端子OUTの電位よりもノードNの電位の
方が低くなる。そのため、D−FET23のゲート電位
がソース電位よりも低くなり、該D−FET23のドレ
イン電流が減少する。つまり、D−FET23のドレイ
ンとソース間のインピーダンスが大きくなる。D−FE
T23のドレインとソース間のインピーダンスよりも、
抵抗22のインピーダンスと、オン状態のE−FET2
1のドレインとソース間のインピーダンスとの和の方が
小さくなるように抵抗値やゲート幅等を設計すれば、出
力信号Soが“L”になる。以上のように、この第1の
実施形態では、D−FET23と従来の図2中のD−F
ET12とのゲート幅が等しくなるように設計した場
合、出力信号Soが“H”の時、該D−FET23のド
レイン電流は、D−FET12のドレイン電流と同様で
あり、出力信号Soが“L”の時、該D−FET23の
ドレイン電流は抵抗22で制限されてD−FET12の
ドレイン電流よりも小さくなる。そのため、必要な出力
電流を減らすことなく、不要な貫通電流を減らすことが
でき、低消費電力のインバータ回路20を実現できる。
1のゲートは“H”であり、該E−FET21のドレイ
ンとソースとの間はオン状態である。D−FET23を
流れる電流は、抵抗22を介してE−FET21のドレ
インからソースに流れる。この時、抵抗22に電圧降下
が生じ、出力端子OUTの電位よりもノードNの電位の
方が低くなる。そのため、D−FET23のゲート電位
がソース電位よりも低くなり、該D−FET23のドレ
イン電流が減少する。つまり、D−FET23のドレイ
ンとソース間のインピーダンスが大きくなる。D−FE
T23のドレインとソース間のインピーダンスよりも、
抵抗22のインピーダンスと、オン状態のE−FET2
1のドレインとソース間のインピーダンスとの和の方が
小さくなるように抵抗値やゲート幅等を設計すれば、出
力信号Soが“L”になる。以上のように、この第1の
実施形態では、D−FET23と従来の図2中のD−F
ET12とのゲート幅が等しくなるように設計した場
合、出力信号Soが“H”の時、該D−FET23のド
レイン電流は、D−FET12のドレイン電流と同様で
あり、出力信号Soが“L”の時、該D−FET23の
ドレイン電流は抵抗22で制限されてD−FET12の
ドレイン電流よりも小さくなる。そのため、必要な出力
電流を減らすことなく、不要な貫通電流を減らすことが
でき、低消費電力のインバータ回路20を実現できる。
【0010】第2の実施形態 図3は、本発明の第2の実施形態を示す論理ゲート回路
の1つであるインバータ回路の回路図であり、第1の実
施形態を示す図1中の要素と共通の要素には共通の符号
が付されている。このインバータ回路20Aでは、イン
ピーダンス手段として、図1中の抵抗22に代えてD−
FET24が設けられている。D−FET24のドレイ
ンは出力端子OUTに接続され、ソース及びゲートがノ
ードNに接続されている。又、図1中の抵抗32に代え
て、ソースとゲートとが接続されたD−FET34が接
続されている。他は、図1と同様の構成である。図4
は、一般的なD−FETのゲートとソース間の電圧Vg
sをパラメータとする電流電圧特性を示す図であり、縦
軸にドレイン電流Ids、及び横軸にドレインとソース
間の電圧Vdsがとられている。このインバータ回路2
0Aでは、次の点が図1と異なっている。
の1つであるインバータ回路の回路図であり、第1の実
施形態を示す図1中の要素と共通の要素には共通の符号
が付されている。このインバータ回路20Aでは、イン
ピーダンス手段として、図1中の抵抗22に代えてD−
FET24が設けられている。D−FET24のドレイ
ンは出力端子OUTに接続され、ソース及びゲートがノ
ードNに接続されている。又、図1中の抵抗32に代え
て、ソースとゲートとが接続されたD−FET34が接
続されている。他は、図1と同様の構成である。図4
は、一般的なD−FETのゲートとソース間の電圧Vg
sをパラメータとする電流電圧特性を示す図であり、縦
軸にドレイン電流Ids、及び横軸にドレインとソース
間の電圧Vdsがとられている。このインバータ回路2
0Aでは、次の点が図1と異なっている。
【0011】入力信号Siが“L”の時、E−FET2
1のゲートは“L”であり、ドレインとソース間はオフ
状態であるが、該ドレインとソース間にはわずかな電流
が流れている。入力信号Siの電位を“L”から次第に
上昇させていくと、或る点(即ち、論理閾値)で出力信
号Soが“H”から“L”に遷移するが、入力信号Si
の電位が“L”から論理閾値まで(この時、出力信号S
oは“H”になっている)上昇するにしたがって、E−
FET21のドレインとソース間に流れる電流が次第に
大きくなる。第1の実施形態では、この電流によって抵
抗22に電圧降下が生じ、D−FET23のドレイン電
流が減少して、必要な出力電流の低下が起こる。この場
合、抵抗22の抵抗値を小さくすることにより、出力電
流の低下を抑えることができるが、貫通電流が増加する
という問題が発生する。そこで、本実施形態では、抵抗
22に代えて、ゲートとソースとが接続されたD−FE
T24を設けている。
1のゲートは“L”であり、ドレインとソース間はオフ
状態であるが、該ドレインとソース間にはわずかな電流
が流れている。入力信号Siの電位を“L”から次第に
上昇させていくと、或る点(即ち、論理閾値)で出力信
号Soが“H”から“L”に遷移するが、入力信号Si
の電位が“L”から論理閾値まで(この時、出力信号S
oは“H”になっている)上昇するにしたがって、E−
FET21のドレインとソース間に流れる電流が次第に
大きくなる。第1の実施形態では、この電流によって抵
抗22に電圧降下が生じ、D−FET23のドレイン電
流が減少して、必要な出力電流の低下が起こる。この場
合、抵抗22の抵抗値を小さくすることにより、出力電
流の低下を抑えることができるが、貫通電流が増加する
という問題が発生する。そこで、本実施形態では、抵抗
22に代えて、ゲートとソースとが接続されたD−FE
T24を設けている。
【0012】図4に示すように、D−FETの電流電圧
特性は、ドレイン電流Idsが小さい未飽和領域NSで
は、ドレイン電流Idsの増加に対するドレインとソー
ス間の電圧の上昇が小さく、ドレインとソース間の抵抗
が小さくなっている。ドレイン電流Idsが大きい飽和
領域Sでは、ドレイン電流Idsの増加に対するドレイ
ンとソース間の電圧の上昇が大きく、ドレインとソース
間の抵抗が大きくなっている。従って、D−FET24
の未飽和領域NSから飽和領域Sに移る時のドレイン電
流Idsの値と、入力信号Siの電位が論理閾値の時に
E−FET21のドレインとソース間に流れる電流とが
等しくなるように該D−FET24を設計すれば、入力
信号Siの電位が論理閾値以下で、E−FET21のド
レインとソース間に流れる電流(即ち、D−FET24
のドレイン電流)が小さい時は、D−FET24のドレ
インとソース間の電圧が小さく、D−FET23のドレ
イン電流(即ち、出力電流)の減少を抑えることができ
る。又、入力信号Siの電位が論理閾値以上で、D−F
ET24のドレイン電流が大きい時は該D−FET24
のドレインとソース間の電圧が大きく、D−FET23
のドレイン電流(即ち、貫通電流)を小さくできる。
特性は、ドレイン電流Idsが小さい未飽和領域NSで
は、ドレイン電流Idsの増加に対するドレインとソー
ス間の電圧の上昇が小さく、ドレインとソース間の抵抗
が小さくなっている。ドレイン電流Idsが大きい飽和
領域Sでは、ドレイン電流Idsの増加に対するドレイ
ンとソース間の電圧の上昇が大きく、ドレインとソース
間の抵抗が大きくなっている。従って、D−FET24
の未飽和領域NSから飽和領域Sに移る時のドレイン電
流Idsの値と、入力信号Siの電位が論理閾値の時に
E−FET21のドレインとソース間に流れる電流とが
等しくなるように該D−FET24を設計すれば、入力
信号Siの電位が論理閾値以下で、E−FET21のド
レインとソース間に流れる電流(即ち、D−FET24
のドレイン電流)が小さい時は、D−FET24のドレ
インとソース間の電圧が小さく、D−FET23のドレ
イン電流(即ち、出力電流)の減少を抑えることができ
る。又、入力信号Siの電位が論理閾値以上で、D−F
ET24のドレイン電流が大きい時は該D−FET24
のドレインとソース間の電圧が大きく、D−FET23
のドレイン電流(即ち、貫通電流)を小さくできる。
【0013】以上のように、この第2の実施形態では、
D−FET24の未飽和領域NSから飽和領域Sに移る
時のドレイン電流Idsの値と、入力信号Siの電位が
論理閾値の時にE−FET21のドレインとソース間に
流れる電流とが等しくなるように該D−FET24を設
計すれば、第1の実施形態の利点に加え、入力信号Si
の電位が“L”から論理閾値まで遷移する間で出力電流
の低下を抑えることができ、更に、該入力信号Siの電
位が論理閾値から“H”まで遷移する間で貫通電流の増
加も抑えることができる。尚、本発明は上記実施形態に
限定されず、種々の変形が可能である。その変形例とし
ては、例えば次のようなものがある。
D−FET24の未飽和領域NSから飽和領域Sに移る
時のドレイン電流Idsの値と、入力信号Siの電位が
論理閾値の時にE−FET21のドレインとソース間に
流れる電流とが等しくなるように該D−FET24を設
計すれば、第1の実施形態の利点に加え、入力信号Si
の電位が“L”から論理閾値まで遷移する間で出力電流
の低下を抑えることができ、更に、該入力信号Siの電
位が論理閾値から“H”まで遷移する間で貫通電流の増
加も抑えることができる。尚、本発明は上記実施形態に
限定されず、種々の変形が可能である。その変形例とし
ては、例えば次のようなものがある。
【0014】(a) 図5は、図1の変形例を示す論理
ゲート回路の1つである例えば3入力のNORゲート回
路の回路図であり、第1の実施形態を示す図1中の要素
と共通の要素には共通の符号が付されている。このNO
Rゲート回路20Bでは、図1中の入力端子IN及びE
−FET21に代えて、入力信号Si1,Si2,Si
3をそれぞれ入力する入力端子IN1,IN2,IN
3、及びゲートに該入力端子IN1,IN2,IN3が
それぞれ接続されたE−FET21a,21b,21c
が設けられている。E−FET21a,21b,21c
の各ソースはグランドに接続され、各ドレインがノード
Nに接続されている。他は、図1と同様の構成である。
このNORゲート回路20Bは、入力信号Si1,Si
2,Si3のうちの少なくとも1つが“L”から“H”
に遷移した時、E−FET21a,21b,21cのう
ちの対応するE−FETがオン状態になり、出力信号S
oが“H”から“L”に遷移する3入力のNORゲート
回路として動作し、第1の実施形態とほぼ同様の利点を
有している。
ゲート回路の1つである例えば3入力のNORゲート回
路の回路図であり、第1の実施形態を示す図1中の要素
と共通の要素には共通の符号が付されている。このNO
Rゲート回路20Bでは、図1中の入力端子IN及びE
−FET21に代えて、入力信号Si1,Si2,Si
3をそれぞれ入力する入力端子IN1,IN2,IN
3、及びゲートに該入力端子IN1,IN2,IN3が
それぞれ接続されたE−FET21a,21b,21c
が設けられている。E−FET21a,21b,21c
の各ソースはグランドに接続され、各ドレインがノード
Nに接続されている。他は、図1と同様の構成である。
このNORゲート回路20Bは、入力信号Si1,Si
2,Si3のうちの少なくとも1つが“L”から“H”
に遷移した時、E−FET21a,21b,21cのう
ちの対応するE−FETがオン状態になり、出力信号S
oが“H”から“L”に遷移する3入力のNORゲート
回路として動作し、第1の実施形態とほぼ同様の利点を
有している。
【0015】(b) 図6は、図3の変形例を示す論理
ゲート回路の1つである例えば3入力のNORゲート回
路の回路図であり、図3及び図5中の要素と共通の要素
には共通の符号が付されている。このNORゲート回路
20Cでは、図5中の抵抗22に代えてD−FET24
が設けられている。又、図5中の抵抗32に代えて、ソ
ースとゲートとが接続されたD−FET34が接続され
ている。他は、図5と同様の構成である。このNORゲ
ート回路20Cは、図5のNORゲート回路20Bと同
様に、3入力のNORゲート回路として動作し、第2の
実施形態と同様の利点を有している。例えば、入力信号
Si1,Si2,Si3のうちの1つの電位が論理閾値
の時に、E−FET21a,21b,21cのうちの対
応するE−FETのドレインとソース間に流れる電流
と、D−FET24の未飽和領域NSから飽和領域Sに
移る時のドレイン電流Idsの値とが等しくなるように
該D−FET24を設計すれば、入力信号Si1,Si
2,Si3のうちの1つの電位が“L”から論理閾値ま
で遷移する間で出力電流の低下を抑えることができ、更
に、該入力信号Si1,Si2,Si3のうちの1つの
電位が論理閾値から“H”まで遷移する間で貫通電流の
増加も抑えることができる。
ゲート回路の1つである例えば3入力のNORゲート回
路の回路図であり、図3及び図5中の要素と共通の要素
には共通の符号が付されている。このNORゲート回路
20Cでは、図5中の抵抗22に代えてD−FET24
が設けられている。又、図5中の抵抗32に代えて、ソ
ースとゲートとが接続されたD−FET34が接続され
ている。他は、図5と同様の構成である。このNORゲ
ート回路20Cは、図5のNORゲート回路20Bと同
様に、3入力のNORゲート回路として動作し、第2の
実施形態と同様の利点を有している。例えば、入力信号
Si1,Si2,Si3のうちの1つの電位が論理閾値
の時に、E−FET21a,21b,21cのうちの対
応するE−FETのドレインとソース間に流れる電流
と、D−FET24の未飽和領域NSから飽和領域Sに
移る時のドレイン電流Idsの値とが等しくなるように
該D−FET24を設計すれば、入力信号Si1,Si
2,Si3のうちの1つの電位が“L”から論理閾値ま
で遷移する間で出力電流の低下を抑えることができ、更
に、該入力信号Si1,Si2,Si3のうちの1つの
電位が論理閾値から“H”まで遷移する間で貫通電流の
増加も抑えることができる。
【0016】(c) 図5及び図6のNORゲート回路
以外に、図1又は図3中のE−FET21に代えて、複
数のE−FETを直列に接続したNANDゲート回路
や、E−FETを並列や直列に接続した複合ゲート回路
等に対しても、本発明を適用できる。 (d) インピーダンス手段は、第1の実施形態では抵
抗22で構成し、第2の実施形態ではD−FET24で
構成したが、用途に応じてコイルやコンデンサ、及びこ
れらを組み合わせたインピーダンス素子等を用いてもよ
い。
以外に、図1又は図3中のE−FET21に代えて、複
数のE−FETを直列に接続したNANDゲート回路
や、E−FETを並列や直列に接続した複合ゲート回路
等に対しても、本発明を適用できる。 (d) インピーダンス手段は、第1の実施形態では抵
抗22で構成し、第2の実施形態ではD−FET24で
構成したが、用途に応じてコイルやコンデンサ、及びこ
れらを組み合わせたインピーダンス素子等を用いてもよ
い。
【0017】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、第1のノードと出力端子との間にインピーダンス
手段を設けたので、出力信号が“H”の時、出力電流は
従来と同様であり、出力信号が“L”の時、電流制御手
段の電流はインピーダンス手段で制限されてスイッチン
グ手段に流れる。そのため、必要な出力電流を減らすこ
となく、不要な貫通電流を減らすことができ、低消費電
力の論理ゲート回路を実現できる。
れば、第1のノードと出力端子との間にインピーダンス
手段を設けたので、出力信号が“H”の時、出力電流は
従来と同様であり、出力信号が“L”の時、電流制御手
段の電流はインピーダンス手段で制限されてスイッチン
グ手段に流れる。そのため、必要な出力電流を減らすこ
となく、不要な貫通電流を減らすことができ、低消費電
力の論理ゲート回路を実現できる。
【図1】本発明の第1の実施形態のインバータ回路の回
路図である。
路図である。
【図2】従来のインバータ回路の回路図である。
【図3】本発明の第2の実施形態のインバータ回路の回
路図である。
路図である。
【図4】D−FETの電流電圧特性を示す図である。
【図5】図1の変形例を示す論理ゲート回路の回路図で
ある。
ある。
【図6】図3の変形例を示す論理ゲート回路の回路図で
ある。
ある。
20,20A インバータ回路
(論理ゲート回路) 20B,20C NORゲート回路
(論理ゲート回路) 21,21a,21b,21c E−FET(スイ
ッチング手段) 22 抵抗(インピーダ
ンス手段) 23 D−FET(電流
制御手段) 24 D−FET(イン
ピーダンス手段)
(論理ゲート回路) 20B,20C NORゲート回路
(論理ゲート回路) 21,21a,21b,21c E−FET(スイ
ッチング手段) 22 抵抗(インピーダ
ンス手段) 23 D−FET(電流
制御手段) 24 D−FET(イン
ピーダンス手段)
Claims (3)
- 【請求項1】 第1の電源電位と第1のノードとの間に
接続され、入力端子の論理レベルに基づいて該第1の電
源電位と第1のノードとの間の導通状態をオン/オフ制
御する1つ又は複数のスイッチング手段と、 前記第1のノードと出力端子との間に接続され、前記ス
イッチング手段がオン状態の時に該スイッチング手段を
介して前記第1の電源電位に流れる電流を制限すると共
に該第1のノードの電位を設定するインピーダンス手段
と、 第2の電源電位と前記出力端子との間に接続され、前記
第1のノードの電位によって制御された電流を前記出力
端子へ出力する電流制御手段とを、 備えたことを特徴とする論理ゲート回路。 - 【請求項2】 前記インピーダンス手段は、抵抗で構成
したことを特徴とする請求項1記載の論理ゲート回路。 - 【請求項3】 前記インピーダンス手段は、ゲート及び
ソースが前記第1のノードに接続され且つドレインが前
記出力端子に接続されたディプレッション型の電界効果
トランジスタで構成したことを特徴とする請求項1記載
の論理ゲート回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9128743A JPH10322193A (ja) | 1997-05-19 | 1997-05-19 | 論理ゲート回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9128743A JPH10322193A (ja) | 1997-05-19 | 1997-05-19 | 論理ゲート回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10322193A true JPH10322193A (ja) | 1998-12-04 |
Family
ID=14992367
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9128743A Withdrawn JPH10322193A (ja) | 1997-05-19 | 1997-05-19 | 論理ゲート回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10322193A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008259182A (ja) * | 2007-03-09 | 2008-10-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 昇圧回路に用いられる電流制御回路 |
US8138836B2 (en) | 2010-02-02 | 2012-03-20 | Mitsubishi Electric Corporation | Emitter-follower type bias circuit |
-
1997
- 1997-05-19 JP JP9128743A patent/JPH10322193A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008259182A (ja) * | 2007-03-09 | 2008-10-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 昇圧回路に用いられる電流制御回路 |
US8138836B2 (en) | 2010-02-02 | 2012-03-20 | Mitsubishi Electric Corporation | Emitter-follower type bias circuit |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040803 |