JPH10321674A - チップボンディングヘッドのツール平行度測定方法及びチップボンディングヘッド - Google Patents

チップボンディングヘッドのツール平行度測定方法及びチップボンディングヘッド

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JPH10321674A
JPH10321674A JP14300697A JP14300697A JPH10321674A JP H10321674 A JPH10321674 A JP H10321674A JP 14300697 A JP14300697 A JP 14300697A JP 14300697 A JP14300697 A JP 14300697A JP H10321674 A JPH10321674 A JP H10321674A
Authority
JP
Japan
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tool
bonding
parallelism
pressure
flat sensor
Prior art date
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Pending
Application number
JP14300697A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiyuki Arai
義之 新井
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Toray Engineering Co Ltd
Original Assignee
Toray Engineering Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toray Engineering Co Ltd filed Critical Toray Engineering Co Ltd
Priority to JP14300697A priority Critical patent/JPH10321674A/ja
Publication of JPH10321674A publication Critical patent/JPH10321674A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ボンディングステージに対するボンディング
ツールの平行度を自動的に調整し得るようにする。 【解決手段】 圧力量に対応した電流の変化を検出し得
る平面センサー18をボンディングステージ3に載置す
ると共にボンディングツール13を降下させて平面セン
サー18を加圧する。すると、平面センサー18からの
制御信号に基づいてツール平行度調整装置15が作動
し、よって、ボンディングツール13が、前後方向(α
方向)及び左右方向(β方向)のどちらか一方若しくは
両方向に揺動せしめられてボンディングステージ3に対
するボンディングツール13の平行度が調整される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、チップボンディン
グヘッドのツール平行度測定方法及びチップボンディン
グヘッドに関するものである。
【0002】
【従来の技術】周知のように、液晶基板等の各種の基板
に半導体チップをボンディングすることは広く実施され
ているが、その際、ミクロン単位の精度が要求され、か
つ、それが一段と高精度になりつつある。その為、ボン
ディングステージに対するボンディングツールの平行度
を高精度に保たねばならなく、それを怠ると、ボンディ
ング時に所謂、チップずれや端子の接続不良等が発生し
て高精度のボンディングが困難になる。
【0003】そこで、定期的又は不規則に、ボンディン
グステージに対するボンディングツールの平行度測定
(又は確認)が余儀無くされており、一般には、ボンデ
ィングステージ上に載置されている感圧紙にボンディン
グツールを圧接せしめて測定(又は確認)し、そして、
その結果に基づいて作業員がチップボンディングヘッド
に装着されているツール平行度調整装置を手作業操作に
より調整している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
調整作業には、多大な時間と労力を費やさなければなら
ず、また、人為的な調整である為、その調整にばらつき
が生じ易く、しかも、感圧紙によってボンディングツー
ルの加圧範囲が制限される為、広い加圧範囲でのでの調
整が困難である等の諸々の欠点を有していた。
【0005】本発明は、このような欠点に鑑みて発明さ
れたものであって、圧力量に対応した電流の変化を検出
し得る平面センサーを用いることにより、ボンディング
ステージに対するボンディングツールの平行度調整を自
動化し得て上述の従来の欠点を一挙に解消することがで
きることを見い出し本発明を完成したものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明に係る
チップボンディングヘッドのツール平行度測定方法は、
請求項1に記載するように、ボンディングステージに対
するボンディングツールの平行度を、圧力量に対応した
電流の変化を検出し得る平面センサーを用いて測定する
ことを特徴とするものである。
【0007】なお、平面センサーは、行及び列方向に形
成された電極を感圧抵抗物質で被覆して構成されたもの
が好ましい。
【0008】また、本発明に係るチップボンディングヘ
ッドは、圧力量に対応した電流の変化を検出する平面セ
ンサーからの制御信号に基づいてボンディングステージ
に対するボンディングツールの平行度を調整するツール
平行度調整装置を備えていることを特徴とするものであ
る。
【0009】なお、ツール平行度調整装置は、平面セン
サーからの制御信号に基づいてボンディングツールを左
右方向へ揺動せしめる第1揺動制御装置及び前後方向へ
揺動せしめる第2揺動装置で構成するのが好ましい。
【0010】
【発明の実施の形態】正面図である図1において、この
チップボンディング装置は、装置フレーム1にチップボ
ンディングヘッド2及びボンディングステージ3等を装
着して構成されているが、チップボンディングヘッド2
は、装置フレーム1に固着されたスライドガイド4と、
このスライドガイド4に摺動し得るように係合されたア
クチュエータブラケット5と、このブラケット5に固着
のピン6及び装置フレーム1に固着のピン7に係止され
たコイルバネ8と、アクチュエータブラケット5の上面
に固着されたロードセル9及びその下面に固着されたア
クチュエータ10と、装置フレーム1に固着されたZテ
ーブル11と、このZテーブル11に固着されたヘッド
ブラケット12と、後述するように装着されたボンディ
ングツール13及び加圧伝達軸14等を備えている。
【0011】なお、図1においては示されていないが、
図1の横断面図である図2、図2の縦断面図である図
3、斜視図である図4(但し、この図においては、ヘッ
ドブラケット12等が省略されている。)及び図2の正
面図である図6(但し、この図においては、ボンディン
グツール13が省略されている。)において示されてい
るように、ヘッドブラケット12に、ツール平行度調整
装置15が装着されている。
【0012】これらの図において、ツール平行度調整装
置15は、第1揺動制御装置16と第2揺動制御装置1
7と平面センサー18とで構成されていると共に、第1
揺動制御装置16は、ヘッドブラケット12に回転し得
るように装着された軸19,20と、軸19,20の一
端に固着された中空体の外ハウジング21と、軸19の
他端に固着された揺動アーム22と、ヘッドブラケット
12に固着された固定アーム23と、この固定アーム2
3に装着されたアクチュエータ24と、固定アーム23
に装着のピン25a及び揺動アーム22に装着のピン2
5bに係止されたコイルバネ26とで構成されている。
【0013】なお、アクチュエータ24は、固定アーム
23に固着されている筒ケーシング27内に嵌挿せしめ
られているロッドを下方向へ突出させ得るように装着さ
れ、かつ、かかるロッドの下端24aが、揺動アーム2
2の上端22aに当接されている。
【0014】その為、第1揺動制御装置16は、アクチ
ュエータ24のロッドの出没制御により、揺動アーム2
2を揺動させて外ハウジング21を左右方向(図4にお
いて示されているβ方向)に揺動させることができる。
【0015】また、第2揺動制御装置17は、外ハウジ
ング21に回転し得るように装着された軸30,31
と、軸30,31の一端に固着された中空体の内ハウジ
ング32と、軸31の他端に固着された揺動アーム33
と、外ハウジング21に固着された固定アーム34と、
この固定アーム34に装着されたアクチュエータ35
と、固定アーム34に装着のピン36a(図6参照)及
び揺動アーム33に装着のピン36bに係止されたコイ
ルバネ37とで構成されている。
【0016】なお、アクチュエータ35は、アクチュエ
ータ24と同様に、固定アーム34に固着されている筒
ケーシング38内に嵌挿せしめられているロッドを下方
向へ突出させ得るように装着され、かつ、かかるロッド
の下端35a(図4参照)が、揺動アーム33の上端3
3aに当接されている。
【0017】その為、第2揺動制御装置17は、アクチ
ュエータ35のロッドの出没制御により、揺動アーム3
3を揺動させて内ハウジング32を前後方向(図4にお
いて示されているα方向)に揺動させることができる。
【0018】一方、ボンディングツール13は、このツ
ール13に固着されたスライドベアリング39a,39
bを、内ハウジング32に固着されているカイドレール
40a,40bに係合せしめて摺動し得るように装着さ
れていると共に、図5において示されているように、ヘ
ッドブラケット12に懸装、すなわち、同図において、
ヘッドブラケット12の上端部12aに装着のピン41
a及びボンディングツール13の上端部に装着のピン4
1bに係止されたコイルバネ42により懸装されてい
る。
【0019】そして、このように懸装されているボンデ
ィングツール13の上端に加圧伝達軸14の下端が当接
されて抜け止めされているが、加圧伝達軸14は、摺動
し得るようにヘッドブラケット12の上端部12aに装
着されている。
【0020】加えて、図4において示されている、ボン
ディングステージ3に載置されている平面センサー18
は、その厚さが0.1mm程度の薄いものであって、行
及び列方向に形成された電極18aを感圧抵抗性物質で
被覆して構成されているが、これに圧力が加えられる
と、その圧力量に応じて感圧抵抗性物質の抵抗値が変化
し、かつ、これを前記電極によって電流の変化として検
出することができる。
【0021】その為、Zテーブル11を駆動してヘッド
ブラケット12を上方の待機位置から下方のボンディン
グ開始位置へ移動させ、続いて、アクチュエータ10の
ロッドを下方へ向って所定ストローク突出させることに
よりボンディングツール13を下方へ移動せしめてボン
ディングステージ3上の平面センサー18を加圧するこ
とができ、よって、ボンディングステージ3に対するボ
ンディングツール13の平行度を測定することができ
る。
【0022】また、その際、各地点の電流変化の検出に
基づき、それを制御信号として第1,2揺動制御装置1
6,17のアクチュエータ24,35を所定に制御する
ことにより、ボンディングステージ3に対するボンディ
ングツール13の平行度を自動的に所定に調整すること
ができる。なお、必要に応じて第1,2揺動制御装置1
6,17のアクチュエータ24,35の両方又はどちら
か一方を制御することができる。
【0023】以上、一実施形態について述べたが、本発
明においては、ボンディングツールは、ツール下端部に
ヒータを内蔵等せしめた所謂、ヒータ装着型のものに限
定されず、必要に応じて、ヒータを装着していないもの
を選択してもよい。しかし、ヒータを内蔵型が好まし
い。
【0024】また、ツール下端面に半導体チップ吸着孔
を開口せしめた所謂、チップ吸着型のものが好ましい
が、それを開口せしめていないものであってもよく、か
つ、それらの内、ツール下端部にヒータを内蔵せしめる
と共にツール下端面に半導体チップ吸着孔を開口せしめ
たものが最も好ましい。
【0025】また、ツール平行度調整装置は、揺動型が
好ましいが、他の型式のものであってもよく、かつ、第
1,2揺動制御装置16,17のアクチュエータ24,
35夫々に代えて、減速機及びサーボモータを装着して
もよい。
【0026】また、チップボンディングヘッドは、圧力
量に対応した電流の変化を検出する平面センサーからの
制御信号に基づいてボンディングステージに対するボン
ディングツールの平行度を調整するツール平行度調整装
置を備えている限りにおいては、上述の、ボンディング
ツールをZ軸方向だけに移動させるものに限定されず、
これに加えてXY軸方向へ移動させたり、更に加えて所
定角θ方向に回転させたりする等、いかなる型式のもの
であってもよい。
【0027】また、ボンディングステージについても、
固定ステージに限定されず、XYテーブル若しくはXY
θテーブルを備えた可動ステージであってもよい。
【0028】
【発明の効果】上述の如く、本発明によると、ボンディ
ングステージに対するボンディングツールの平行度調整
の自動化が図れる。なお、行及び列方向に形成された電
極を感圧抵抗物質で被覆して構成された平面センサーを
用いているから、各地点の平行度を正確に測定すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】チップボンディング装置の正面図である。
【図2】図1の横断面図である。
【図3】図2の縦断面図である。
【図4】ボンディングツールの平行度を測定する態様を
示す斜視図である。
【図5】ボンディングツールの上端部の装着態様を示す
拡大図である。
【図6】図2の正面図である。
【符号の説明】
2 チップボンディングヘッド 3 ボンディングステージ 13 ボンディングツール 15 ツール平行度調整装置 16 第1揺動制御装置 17 第2揺動制御装置 18 平面センサー 18a 電極 21 外ハウジング 32 内ハウジング

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ボンディングステージに対するボンディ
    ングツールの平行度を、圧力量に対応した電流の変化を
    検出し得る平面センサーを用いて測定することを特徴と
    するチップボンディングヘッドのツール平行度測定方
    法。
  2. 【請求項2】 平面センサーが、行及び列方向に形成さ
    れた電極を感圧抵抗物質で被覆して構成されたものであ
    ることを特徴とする請求項1に記載のチップボンディン
    グヘッドのツール平行度測定方法。
  3. 【請求項3】 圧力量に対応した電流の変化を検出する
    平面センサーからの制御信号に基づいてボンディングス
    テージに対するボンディングツールの平行度を調整する
    ツール平行度調整装置を備えていることを特徴とするチ
    ップボンディングヘッド。
  4. 【請求項4】 ツール平行度調整装置を、平面センサー
    からの制御信号に基づいてボンディングツールを左右方
    向へ揺動せしめる第1揺動装置及び前後方向へ揺動せし
    める第2揺動制御装置で構成したことを特徴とする請求
    項3に記載のチップボンディングヘッド。
JP14300697A 1997-05-15 1997-05-15 チップボンディングヘッドのツール平行度測定方法及びチップボンディングヘッド Pending JPH10321674A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001082674A1 (fr) * 2000-04-25 2001-11-01 Toray Engineering Co., Ltd. Dispositif de montage de puce et procede de reglage du parallelisme dans ce dispositif de montage de puce
JP2007158316A (ja) * 2005-11-11 2007-06-21 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 圧着装置および圧着方法、並びに半導体装置の作製方法
US7635014B2 (en) 2005-11-11 2009-12-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for pressure bonding and method for manufacturing semiconductor device
JP2019075446A (ja) * 2017-10-16 2019-05-16 ファスフォードテクノロジ株式会社 半導体製造装置および半導体装置の製造方法

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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US7635014B2 (en) 2005-11-11 2009-12-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for pressure bonding and method for manufacturing semiconductor device
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