JPH10319052A - 導体中の電流を測定するための方法およびデバイス - Google Patents
導体中の電流を測定するための方法およびデバイスInfo
- Publication number
- JPH10319052A JPH10319052A JP10118593A JP11859398A JPH10319052A JP H10319052 A JPH10319052 A JP H10319052A JP 10118593 A JP10118593 A JP 10118593A JP 11859398 A JP11859398 A JP 11859398A JP H10319052 A JPH10319052 A JP H10319052A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- voltage drop
- segment
- test
- conductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/14—Measuring resistance by measuring current or voltage obtained from a reference source
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/20—Modifications of basic electric elements for use in electric measuring instruments; Structural combinations of such elements with such instruments
- G01R1/203—Resistors used for electric measuring, e.g. decade resistors standards, resistors for comparators, series resistors, shunts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/0092—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring current only
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/16—Measuring impedance of element or network through which a current is passing from another source, e.g. cable, power line
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 導体を切断することなく導体中の交流電流お
よび直流電流を測定するための回路を提供する。 【解決手段】 導体（１０）のセグメントと並列に変調
された電流源を結合してテスト電流を注入する。同期復
調器（２６）がセグメントと並列にさらに結合されて、
テスト電流によって引き起こされたテスト電圧降下と導
体中の電流による電圧降下とを分離する。テスト電圧降
下および電圧降下は電圧計によって測定され、セグメン
トの抵抗およびセグメントを流れる電流がその後計算さ
れ得る。
よび直流電流を測定するための回路を提供する。 【解決手段】 導体（１０）のセグメントと並列に変調
された電流源を結合してテスト電流を注入する。同期復
調器（２６）がセグメントと並列にさらに結合されて、
テスト電流によって引き起こされたテスト電圧降下と導
体中の電流による電圧降下とを分離する。テスト電圧降
下および電圧降下は電圧計によって測定され、セグメン
トの抵抗およびセグメントを流れる電流がその後計算さ
れ得る。
Description
【０００１】
【発明の分野】この発明は一般に、電流量を測定するた
めの回路に関し、特に、動作回路の導体中の電流量を測
定するための方法および装置に関する。
めの回路に関し、特に、動作回路の導体中の電流量を測
定するための方法および装置に関する。
【０００２】
【発明の背景】導体中の電流量の測定は多くの種々の方
法で行なうことができる。伝統的な侵入的方策は、導体
を切断し、導体と直列に電流計などの電流測定デバイス
を挿入することである。しかしながら、多くの場合にお
いては、銅配線、プリント基板トレースまたは集積回路
リードの形態であろう導体を切断することは困難で不便
であり、特にプリント基板トレースの場合には導体を破
損するおそれがある。
法で行なうことができる。伝統的な侵入的方策は、導体
を切断し、導体と直列に電流計などの電流測定デバイス
を挿入することである。しかしながら、多くの場合にお
いては、銅配線、プリント基板トレースまたは集積回路
リードの形態であろう導体を切断することは困難で不便
であり、特にプリント基板トレースの場合には導体を破
損するおそれがある。
【０００３】導体を切断することなく回路内電流測定を
可能にする非侵入的方策が開発されている。配線を通過
する電流を決定するよう配線を囲む磁界を検出するため
に、電流クランプおよび磁気ピックアッププローブを用
いる。このような技術を用いると、導体に触れることな
く電流を決定することが可能である。しかしながら、一
般に電流クランプおよび磁気ピックアッププローブに
は、隣接する磁界からの干渉の影響が及ぼされ、導体の
まわりにかなりの量の物理的クリアランスが必要である
ため、プリント基板トレースにおける電流をテストする
際のそれらの使用は限られている。
可能にする非侵入的方策が開発されている。配線を通過
する電流を決定するよう配線を囲む磁界を検出するため
に、電流クランプおよび磁気ピックアッププローブを用
いる。このような技術を用いると、導体に触れることな
く電流を決定することが可能である。しかしながら、一
般に電流クランプおよび磁気ピックアッププローブに
は、隣接する磁界からの干渉の影響が及ぼされ、導体の
まわりにかなりの量の物理的クリアランスが必要である
ため、プリント基板トレースにおける電流をテストする
際のそれらの使用は限られている。
【０００４】別の非侵入的方策は、導体の長さに沿った
別個の２つの点でそれと電気接触する１対の２線式プロ
ーブ（「ケルビンクリップ」）の使用であり、これは通
常４線式測定と呼ばれ、これによりプローブの抵抗によ
る影響はなくなる。各２線式プローブにはソースコンタ
クトとセンスコンタクトとがある。２点間の電圧降下は
センスコンタクト間で測定される。測定電圧はソースコ
ンタクトを通して注入された平衡電流を用いて０にされ
る。こうすると、導体を通る電流と等しくなるよう調整
された平衡電流を、導体を切断することなく外部電流計
によって容易に測定することができる。しかしながら、
電流平衡技術の測定精度および範囲はごく限られてい
る。電流範囲の下端では、限界は、導体のうち短い部分
にかけて発生する、ミリボルト範囲での比較的小さな電
圧降下を感知する計器の能力である。電流範囲の上端で
は、限界は、平衡電流を発生する測定計器の能力であ
る。
別個の２つの点でそれと電気接触する１対の２線式プロ
ーブ（「ケルビンクリップ」）の使用であり、これは通
常４線式測定と呼ばれ、これによりプローブの抵抗によ
る影響はなくなる。各２線式プローブにはソースコンタ
クトとセンスコンタクトとがある。２点間の電圧降下は
センスコンタクト間で測定される。測定電圧はソースコ
ンタクトを通して注入された平衡電流を用いて０にされ
る。こうすると、導体を通る電流と等しくなるよう調整
された平衡電流を、導体を切断することなく外部電流計
によって容易に測定することができる。しかしながら、
電流平衡技術の測定精度および範囲はごく限られてい
る。電流範囲の下端では、限界は、導体のうち短い部分
にかけて発生する、ミリボルト範囲での比較的小さな電
圧降下を感知する計器の能力である。電流範囲の上端で
は、限界は、平衡電流を発生する測定計器の能力であ
る。
【０００５】電流を測定するための別の非侵入的技術
は、ミネマン他（Minneman et al. ）に１９９５年１月
３１日に発行され、キースレイ インスツルメンツ社
（Keithley Instruments, Inc.）に譲渡された「回路内
電流測定」（“In-Circuit Current Measurement”）と
題された米国特許第５，３８６，１８８号に記載されて
いる。ミネマン他は、４線式測定技術を用いて導体のエ
レメントに第１および第２の電流を注入し、エレメント
にかかる第１および第２の電圧降下を測定することを教
示している。その後、導体を通る電流を計算するため
に、第１および第２の電流ならびに第１および第２の電
圧降下の値を用いる。しかしながら、この回路の、導体
電流中に存在する交流電流およびノイズの処理能力はご
く限られている。
は、ミネマン他（Minneman et al. ）に１９９５年１月
３１日に発行され、キースレイ インスツルメンツ社
（Keithley Instruments, Inc.）に譲渡された「回路内
電流測定」（“In-Circuit Current Measurement”）と
題された米国特許第５，３８６，１８８号に記載されて
いる。ミネマン他は、４線式測定技術を用いて導体のエ
レメントに第１および第２の電流を注入し、エレメント
にかかる第１および第２の電圧降下を測定することを教
示している。その後、導体を通る電流を計算するため
に、第１および第２の電流ならびに第１および第２の電
圧降下の値を用いる。しかしながら、この回路の、導体
電流中に存在する交流電流およびノイズの処理能力はご
く限られている。
【０００６】したがって、測定範囲が改善され、電流の
交流または直流内容に関係なく、導体中の電流を非侵入
的に測定するための回路を提供することが望まれるであ
ろう。
交流または直流内容に関係なく、導体中の電流を非侵入
的に測定するための回路を提供することが望まれるであ
ろう。
【０００７】
【発明の概要】この発明によると、導体を切断すること
なく導体中の交流および直流を測定するための回路が提
供される。回路は、１対の２線式プローブを介して導体
上のいくつかの点に、通常は導体のセグメントを規定す
るよう物理的に密に近接して結合され、各２線式プロー
ブは、いずれも導体に結合されるセンスコンタクトおよ
びソースコンタクトを有する。
なく導体中の交流および直流を測定するための回路が提
供される。回路は、１対の２線式プローブを介して導体
上のいくつかの点に、通常は導体のセグメントを規定す
るよう物理的に密に近接して結合され、各２線式プロー
ブは、いずれも導体に結合されるセンスコンタクトおよ
びソースコンタクトを有する。
【０００８】回路はまず、ソースコンタクトを介してセ
グメントと並列に変調された電流源を結合してテスト電
流を注入することにより抵抗を測定するよう構成され
る。同時に、同期復調器もまたセグメントと並列に結合
され、テスト電流によって引き起こされた、セグメント
にかかるテスト電圧降下を、導体電流による電圧降下か
ら分離するようにする。変調された電流源および同期復
調器はいずれも基準波形発生器に結合され、変調された
電流源のテスト電流によって発生したテスト電圧降下の
同期検出を達成するよう変調波形を受取る。同期復調に
より、低レベル信号を、比較的高い振幅の干渉信号から
分離することが可能になる。変調波形の周波数は、導体
電流によるノイズおよび干渉がテスト電圧降下信号の測
定に実質的に干渉したり、またはそれを劣化したりせ
ず、予め定められたノイズ最低レベル未満となるよう選
択され得る。
グメントと並列に変調された電流源を結合してテスト電
流を注入することにより抵抗を測定するよう構成され
る。同時に、同期復調器もまたセグメントと並列に結合
され、テスト電流によって引き起こされた、セグメント
にかかるテスト電圧降下を、導体電流による電圧降下か
ら分離するようにする。変調された電流源および同期復
調器はいずれも基準波形発生器に結合され、変調された
電流源のテスト電流によって発生したテスト電圧降下の
同期検出を達成するよう変調波形を受取る。同期復調に
より、低レベル信号を、比較的高い振幅の干渉信号から
分離することが可能になる。変調波形の周波数は、導体
電流によるノイズおよび干渉がテスト電圧降下信号の測
定に実質的に干渉したり、またはそれを劣化したりせ
ず、予め定められたノイズ最低レベル未満となるよう選
択され得る。
【０００９】同期検出器によって分離されたテスト電圧
降下は、直流電圧を測定するよう構成された電圧計によ
って測定される。テスト電流Ｉt が既知であり、電流源
がオンの状態の電圧降下Ｖonおよび電流源がオフの状態
の電圧降下Ｖoff が測定可能であるため、セグメントの
抵抗は下記の等式に従って計算することができる。
降下は、直流電圧を測定するよう構成された電圧計によ
って測定される。テスト電流Ｉt が既知であり、電流源
がオンの状態の電圧降下Ｖonおよび電流源がオフの状態
の電圧降下Ｖoff が測定可能であるため、セグメントの
抵抗は下記の等式に従って計算することができる。
【００１０】Ｒseg ＝［Ｖon−Ｖoff ］／Ｉt ＶonおよびＶoff はいずれも直流電圧として電圧計によ
って同期検出器の出力で測定され、テスト電圧降下は
［Ｖon−Ｖoff ］である。
って同期検出器の出力で測定され、テスト電圧降下は
［Ｖon−Ｖoff ］である。
【００１１】回路は、回路内電流測定をもたらすようさ
らに構成され得る。電圧計は、電流源がオフにされた状
態の電圧降下を測定するようセグメントに直接結合され
る。導体電流には交流内容が含まれ得るため、電圧計
は、正しい電圧降下Ｖ0 を得るよう交流ボルトｒｍｓ
（二乗平均）に関して構成することができる。ここでＲ
se g およびＶ0 は既知であるため、セグメントを流れる
電流Ｉは下記の式に従って計算することができる。
らに構成され得る。電圧計は、電流源がオフにされた状
態の電圧降下を測定するようセグメントに直接結合され
る。導体電流には交流内容が含まれ得るため、電圧計
は、正しい電圧降下Ｖ0 を得るよう交流ボルトｒｍｓ
（二乗平均）に関して構成することができる。ここでＲ
se g およびＶ0 は既知であるため、セグメントを流れる
電流Ｉは下記の式に従って計算することができる。
【００１２】Ｉ＝Ｖseg ／Ｒseg こうして、電流の交流内容にかかわらず、導体を流れる
電流を求めることができる。
電流を求めることができる。
【００１３】この発明の１つの目的は、導体中の回路内
交流および直流電流を測定するための装置を提供するこ
とである。
交流および直流電流を測定するための装置を提供するこ
とである。
【００１４】この発明の別の目的は、交流電流が存在す
る導体中の抵抗を測定するための装置を提供することで
ある。
る導体中の抵抗を測定するための装置を提供することで
ある。
【００１５】この発明の付加的な目的は、テスト電流の
同期変調を用いて回路内交流および直流電流を測定する
ための装置を提供することである。
同期変調を用いて回路内交流および直流電流を測定する
ための装置を提供することである。
【００１６】この発明のさらなる目的は、導体電流の交
流成分を除外するために導体中のテスト電流を同時に変
調および復調するための方法を提供することである。
流成分を除外するために導体中のテスト電流を同時に変
調および復調するための方法を提供することである。
【００１７】さらなる特徴、達成および利点は、添付の
図面を参照して以下の詳細な説明から当業者には明らか
となるであろう。
図面を参照して以下の詳細な説明から当業者には明らか
となるであろう。
【００１８】
【詳細な説明】図１は、この発明に従った電流および抵
抗を測定するための回路のブロック図である。導体１０
は、配線、プリント基板トレース、集積回路リードまた
は電流を導通し得る何らかの他のタイプの金属を含み得
る。２線式プローブ１２は、隣接するソースリードおよ
びセンスリードが導体１０と電気接触した状態で、導体
の長さに沿った点１４に置かれる。２線式プローブ１６
は、隣接するソースリードおよびセンスリードが導体１
０と電気接触した状態で、点１８に置かれる。導体の点
１４および１８間の長さには、抵抗器１１によって発生
したある量の抵抗を有するセグメントが含まれる。典型
的に抵抗器１１は個別部品ではなく、導体１０のセグメ
ントの長さによって変化するトレース抵抗のモデルであ
る。電圧降下Ｖ0 は導体１０を流れる電流Ｉの結果とし
て抵抗器１１にかけて現れる。
抗を測定するための回路のブロック図である。導体１０
は、配線、プリント基板トレース、集積回路リードまた
は電流を導通し得る何らかの他のタイプの金属を含み得
る。２線式プローブ１２は、隣接するソースリードおよ
びセンスリードが導体１０と電気接触した状態で、導体
の長さに沿った点１４に置かれる。２線式プローブ１６
は、隣接するソースリードおよびセンスリードが導体１
０と電気接触した状態で、点１８に置かれる。導体の点
１４および１８間の長さには、抵抗器１１によって発生
したある量の抵抗を有するセグメントが含まれる。典型
的に抵抗器１１は個別部品ではなく、導体１０のセグメ
ントの長さによって変化するトレース抵抗のモデルであ
る。電圧降下Ｖ0 は導体１０を流れる電流Ｉの結果とし
て抵抗器１１にかけて現れる。
【００１９】変調された電流源２２はスイッチ２０ａを
介して２線式プローブ１２のソースリードに結合され
る。スイッチ２０ａはスイッチ２０ｂおよび２０ｃとと
もに、それぞれ抵抗測定モードおよび電流測定モードに
対応する上下位置を有する連結スイッチを成す。スイッ
チ２０ａから２０ｃは抵抗測定モードの上位置において
示される。変調された電流源２２はテスト電流Ｉt を発
生し、このテスト電流Ｉ t は基準波形発生器２４によっ
て発生した変調信号に応答する変調成分を有する。
介して２線式プローブ１２のソースリードに結合され
る。スイッチ２０ａはスイッチ２０ｂおよび２０ｃとと
もに、それぞれ抵抗測定モードおよび電流測定モードに
対応する上下位置を有する連結スイッチを成す。スイッ
チ２０ａから２０ｃは抵抗測定モードの上位置において
示される。変調された電流源２２はテスト電流Ｉt を発
生し、このテスト電流Ｉ t は基準波形発生器２４によっ
て発生した変調信号に応答する変調成分を有する。
【００２０】基準波形発生器２４は、導体電流から受け
たノイズ最低レベルを最小にするために所望の周波数の
変調信号を発生する。変調周波数の組は、図２により詳
細に示すように、予め定められたレベル未満のノイズ最
低レベルを得るよう、必要に応じて維持および選択され
得る。好ましい実施例では、変調信号はおよそ６１ヘル
ツの周波数の方形波の形状である。
たノイズ最低レベルを最小にするために所望の周波数の
変調信号を発生する。変調周波数の組は、図２により詳
細に示すように、予め定められたレベル未満のノイズ最
低レベルを得るよう、必要に応じて維持および選択され
得る。好ましい実施例では、変調信号はおよそ６１ヘル
ツの周波数の方形波の形状である。
【００２１】同期復調器２６は２線式プローブ１２およ
び１６のセンスリードを介して点１４および１８で導体
１０に結合され、１対の入力端子に電圧降下信号を受け
る。同期復調器２６は基準波形発生器２４からの変調信
号をさらに受け、電圧降下信号を同期して復調するよう
にし、この電圧降下信号にはテスト電圧降下および電流
Ｉからの電圧降下の両方が含まれ得る。
び１６のセンスリードを介して点１４および１８で導体
１０に結合され、１対の入力端子に電圧降下信号を受け
る。同期復調器２６は基準波形発生器２４からの変調信
号をさらに受け、電圧降下信号を同期して復調するよう
にし、この電圧降下信号にはテスト電圧降下および電流
Ｉからの電圧降下の両方が含まれ得る。
【００２２】電圧計２８は同期復調器２６の出力に結合
され、抵抗測定モードにおいてスイッチ２０ｂおよび２
０ｃを介してＶonおよびＶoff としてテスト信号を受け
る。Ｖonは変調された電流源２２がオンにされた状態で
測定され、Ｖoff は変調された電流源２２がオフにされ
た状態で測定される。ＶonおよびＶoff の値は電圧計２
８においてデジタル測定値に変換され、ＶonおよびＶ
off を記憶するマイクロプロセッサ３０に結合される。
電圧計２８は自蔵デジタル電圧計を含むか、またはこれ
に代えて、サンプルクロックおよび適当なフィルタリン
グ回路構成を備えてデジタル測定値を発生するアナログ
デジタル変換器を含んでもよい。
され、抵抗測定モードにおいてスイッチ２０ｂおよび２
０ｃを介してＶonおよびＶoff としてテスト信号を受け
る。Ｖonは変調された電流源２２がオンにされた状態で
測定され、Ｖoff は変調された電流源２２がオフにされ
た状態で測定される。ＶonおよびＶoff の値は電圧計２
８においてデジタル測定値に変換され、ＶonおよびＶ
off を記憶するマイクロプロセッサ３０に結合される。
電圧計２８は自蔵デジタル電圧計を含むか、またはこれ
に代えて、サンプルクロックおよび適当なフィルタリン
グ回路構成を備えてデジタル測定値を発生するアナログ
デジタル変換器を含んでもよい。
【００２３】マイクロプロセッサ３０は、抵抗測定モー
ドおよび電流測定モードの、回路のモードを制御するこ
とができる信号を与える。マイクロプロセッサ３０はス
イッチ２０ａから２０ｃにモード信号を与え、この信号
はスイッチ２０ａから２０ｃの各々を抵抗測定モードに
上げたり電流測定モードに下げたりする。抵抗測定モー
ドにおいて、変調された電流源２２および同期復調器２
６はセグメントに並列に結合される。抵抗測定モード時
には、変調された電流源２２は、マイクロプロセッサ３
０によって与えられたオフ／オン信号に従ってＶoff を
測定するようオフにされ、Ｖonを測定するようオンにさ
れる。マイクロプロセッサ３０は、Ｖof f の信号レベル
と予め定められた最大のノイズ最低レベルとを比較しつ
つ、基準波形発生器２４に与えられた周波数信号に応答
してテスト信号の、適当な周波数を選択するためにも用
いられ得る。
ドおよび電流測定モードの、回路のモードを制御するこ
とができる信号を与える。マイクロプロセッサ３０はス
イッチ２０ａから２０ｃにモード信号を与え、この信号
はスイッチ２０ａから２０ｃの各々を抵抗測定モードに
上げたり電流測定モードに下げたりする。抵抗測定モー
ドにおいて、変調された電流源２２および同期復調器２
６はセグメントに並列に結合される。抵抗測定モード時
には、変調された電流源２２は、マイクロプロセッサ３
０によって与えられたオフ／オン信号に従ってＶoff を
測定するようオフにされ、Ｖonを測定するようオンにさ
れる。マイクロプロセッサ３０は、Ｖof f の信号レベル
と予め定められた最大のノイズ最低レベルとを比較しつ
つ、基準波形発生器２４に与えられた周波数信号に応答
してテスト信号の、適当な周波数を選択するためにも用
いられ得る。
【００２４】変調された電流源２２によって発生したテ
スト電流Ｉt の値が既知であり、Ｖ onおよびＶoff の値
が記憶されているため、マイクロプロセッサ３０は、示
されるように下記の式に従って点１４および１８間のセ
グメントに関する抵抗器１１の値を計算することができ
る。
スト電流Ｉt の値が既知であり、Ｖ onおよびＶoff の値
が記憶されているため、マイクロプロセッサ３０は、示
されるように下記の式に従って点１４および１８間のセ
グメントに関する抵抗器１１の値を計算することができ
る。
【００２５】Ｒseg ＝［Ｖon−Ｖoff ］／Ｉt セグメント抵抗Ｒseg は限られた範囲の周波数にわたっ
て一定であり、典型的には１メガヘルツ未満であると推
定されるだろう。セグメント抵抗Ｒseg はその後ディス
プレイ３２に送られて視覚的に表示され得る。
て一定であり、典型的には１メガヘルツ未満であると推
定されるだろう。セグメント抵抗Ｒseg はその後ディス
プレイ３２に送られて視覚的に表示され得る。
【００２６】その後、マイクロプロセッサ３０はスイッ
チ２０ａから２０ｃを下位置に設定することにより回路
を電流測定モードに構成し得る。ここで、電圧計２８は
Ｖ0を直接測定するようセグメントに接続されている。
変調された電流源２２および同期復調器２６は導体１０
から切断される。電流Ｉには交流成分が含まれ得るた
め、電圧計はセグメントにかかる電圧降下Ｖ0 を正確に
測定できるように、交流ボルトを測定するよう構成する
ことができる。電圧降下Ｖ0 ならびにＶonおよびＶoff
は低レベルの電圧信号であるため、技術分野において公
知である遮蔽および保護技術などの、低レベルの電圧測
定に特有な技術を採用する必要があるだろう。
チ２０ａから２０ｃを下位置に設定することにより回路
を電流測定モードに構成し得る。ここで、電圧計２８は
Ｖ0を直接測定するようセグメントに接続されている。
変調された電流源２２および同期復調器２６は導体１０
から切断される。電流Ｉには交流成分が含まれ得るた
め、電圧計はセグメントにかかる電圧降下Ｖ0 を正確に
測定できるように、交流ボルトを測定するよう構成する
ことができる。電圧降下Ｖ0 ならびにＶonおよびＶoff
は低レベルの電圧信号であるため、技術分野において公
知である遮蔽および保護技術などの、低レベルの電圧測
定に特有な技術を採用する必要があるだろう。
【００２７】Ｖ0 の値が決定し、電圧計２８によってマ
イクロプロセッサ３０に与えられると、下記の等式に従
って電流Ｉの値を計算することができる。
イクロプロセッサ３０に与えられると、下記の等式に従
って電流Ｉの値を計算することができる。
【００２８】Ｉ＝Ｖseg ／Ｒseg その後電流Ｉはディスプレイ３２に送られて視覚的に表
示され得る。
示され得る。
【００２９】図２は、この発明に従った適当なテスト周
波数を選択するためのプロセスを示す、振幅対周波数の
グラフ図である。電流ノイズと明示されたトレース５０
は、かなりの量の高周波数エネルギを含む電圧降下Ｖ0
の、振幅対周波数内容を示す。さまざまな振幅対周波数
の分布が可能であるため、所望の精度レベルで抵抗測定
が行なえるよう多数のテスト周波数を選択することが望
ましくなる。Ｆ１、Ｆ２およびＦ３と明示されたテスト
周波数の組５２は、「ノイズ最低」と明示された予め定
められた最大レベル未満のノイズ最低レベルを得るよう
選択することができる。テスト周波数の実際のノイズ最
低レベルは、そのテスト周波数におけるトレース５０の
振幅によって決定する。この場合、周波数Ｆ３のみが、
予め定められた最大レベルの「ノイズ最低レベル」未満
である、許容できるノイズ最低レベルをもたらし、測定
を行なうために採用されることとなる。
波数を選択するためのプロセスを示す、振幅対周波数の
グラフ図である。電流ノイズと明示されたトレース５０
は、かなりの量の高周波数エネルギを含む電圧降下Ｖ0
の、振幅対周波数内容を示す。さまざまな振幅対周波数
の分布が可能であるため、所望の精度レベルで抵抗測定
が行なえるよう多数のテスト周波数を選択することが望
ましくなる。Ｆ１、Ｆ２およびＦ３と明示されたテスト
周波数の組５２は、「ノイズ最低」と明示された予め定
められた最大レベル未満のノイズ最低レベルを得るよう
選択することができる。テスト周波数の実際のノイズ最
低レベルは、そのテスト周波数におけるトレース５０の
振幅によって決定する。この場合、周波数Ｆ３のみが、
予め定められた最大レベルの「ノイズ最低レベル」未満
である、許容できるノイズ最低レベルをもたらし、測定
を行なうために採用されることとなる。
【００３０】図３は、この発明の好ましい実施例に従っ
た変調された電流源２２の概略図である。電流源５０お
よび５２はいずれもスイッチ５４のコンタクトに結合さ
れ、このスイッチ５４は、基準波形発生器２４から受け
た変調信号に応答して、電流源５０および５２の各々か
らのテスト電流Ｉt を導体１０のセグメントに交互に結
合する。このようにして、テスト電流Ｉt は所望のテス
ト周波数の交流内容を含む。変調信号は好ましくは、ス
イッチ５４による精度の高い作動を確実にするよう方形
波である。
た変調された電流源２２の概略図である。電流源５０お
よび５２はいずれもスイッチ５４のコンタクトに結合さ
れ、このスイッチ５４は、基準波形発生器２４から受け
た変調信号に応答して、電流源５０および５２の各々か
らのテスト電流Ｉt を導体１０のセグメントに交互に結
合する。このようにして、テスト電流Ｉt は所望のテス
ト周波数の交流内容を含む。変調信号は好ましくは、ス
イッチ５４による精度の高い作動を確実にするよう方形
波である。
【００３１】図４は、この発明の好ましい実施例に従っ
た同期検出器の概略図である。スイッチ６０ａから６０
ｄは、導体１０のセグメントに結合され、スイッチ６０
ａから６０ｄの各々は基準波形発生器２４からの変調信
号と同期した態様で作動する。キャパシタ６２はサンプ
ルホールド回路として動作し、セグメントから受けた電
圧値を記憶する。スイッチ６０ａから６０ｄは合わせて
整流子スイッチを形成し、図３に示される変調された電
流源２２と同期した態様で、反対の極性においてキャパ
シタ６２をセグメントに結合し、それによりキャパシタ
６２にかけてテスト電圧降下が発生するようにする。こ
のため、非同期であり帯域外信号である直流および交流
成分を含み得る、電流Ｉによる電圧降下は、テスト電流
Ｉt によるテスト電圧降下から分離される。
た同期検出器の概略図である。スイッチ６０ａから６０
ｄは、導体１０のセグメントに結合され、スイッチ６０
ａから６０ｄの各々は基準波形発生器２４からの変調信
号と同期した態様で作動する。キャパシタ６２はサンプ
ルホールド回路として動作し、セグメントから受けた電
圧値を記憶する。スイッチ６０ａから６０ｄは合わせて
整流子スイッチを形成し、図３に示される変調された電
流源２２と同期した態様で、反対の極性においてキャパ
シタ６２をセグメントに結合し、それによりキャパシタ
６２にかけてテスト電圧降下が発生するようにする。こ
のため、非同期であり帯域外信号である直流および交流
成分を含み得る、電流Ｉによる電圧降下は、テスト電流
Ｉt によるテスト電圧降下から分離される。
【００３２】そのより広い局面において発明の精神から
離れることなく上記の発明の好ましい実施例の詳細に多
くの変更がなされ得ることが当業者には自明であろう。
たとえば、変調信号は鋸波および正弦波などのさまざま
な波形をとってもよい。テスト周波数は一定である必要
はなく、変調波形は擬似ランダム間隔を含むか、または
同期復調を用いて電流Ｉから電流ノイズをより有効に除
去し、所望の精度の抵抗測定値を得るために、広域スペ
クトル通信技術の態様で鋭敏な周波数ホッピングを採用
してもよい。変調信号特性の選択は適度な量の実験によ
って得られるであろう。したがって、この発明の範囲は
前掲の特許請求の範囲によって定められるべきである。
離れることなく上記の発明の好ましい実施例の詳細に多
くの変更がなされ得ることが当業者には自明であろう。
たとえば、変調信号は鋸波および正弦波などのさまざま
な波形をとってもよい。テスト周波数は一定である必要
はなく、変調波形は擬似ランダム間隔を含むか、または
同期復調を用いて電流Ｉから電流ノイズをより有効に除
去し、所望の精度の抵抗測定値を得るために、広域スペ
クトル通信技術の態様で鋭敏な周波数ホッピングを採用
してもよい。変調信号特性の選択は適度な量の実験によ
って得られるであろう。したがって、この発明の範囲は
前掲の特許請求の範囲によって定められるべきである。
【図１】この発明に従った導体の電流および抵抗を測定
するための回路のブロック図である。
するための回路のブロック図である。
【図２】図１の回路のテスト周波数と導体周波数との関
係を示す振幅対周波数のグラフ図である。
係を示す振幅対周波数のグラフ図である。
【図３】図１の変調された電流源の好ましい実施例の概
略図である。
略図である。
【図４】図１の同期復調器の好ましい実施例の概略図で
ある。
ある。
１０ 導体 ２２ 変調された電流源 ２６ 同期復調器
フロントページの続き (72)発明者 スティーブン・デニス・スイフト アメリカ合衆国、98155 ワシントン州、 シアトル、フィフス・アベニュ・エヌ・イ ー、15302
Claims (12)
- 【請求項１】 導体中の電流を測定するための方法であ
って、 前記導体のセグメントを選択するステップを含み、前記
電流は前記セグメントにかけて電圧降下を発生し、さら
に、 前記セグメントに変調された電流源を結合するステップ
を含み、前記変調された電流源は、選択された周波数を
有する変調波形に応答してテスト電流を発生し、前記セ
グメントにかけてテスト電圧降下を発生するようにし、
さらに、 前記セグメントに同期復調器を結合して、前記変調波形
に従って前記テスト電圧降下を同期して復調することに
より、前記テスト電圧降下と前記電圧降下とを分離する
ステップと、 電圧計によって前記テスト電圧降下を測定するステップ
と、 前記変調された電流源をオフにするステップと、 前記電圧計によって前記セグメントにかかる前記電圧降
下を測定するステップと、 前記テスト電圧降下、前記電圧降下および前記テスト電
流に従って前記電流を決定するステップとを含む、方
法。 - 【請求項２】 前記テスト電圧降下および前記テスト電
流に従って前記セグメントの抵抗を計算するステップを
さらに含む、請求項１に記載の方法。 - 【請求項３】 予め定められた最大レベル未満のノイズ
最低レベルを得るよう、前記選択された周波数を選択す
るステップをさらに含む、請求項１に記載の方法。 - 【請求項４】 前記電流が、交流電流および直流電流を
含む、請求項１に記載の方法。 - 【請求項５】 前記変調された電流源が、 反対の極性の電流を発生する第１および第２の電流源
と、 双極スイッチとを含み、前記双極スイッチは、変調信号
に応答して前記第１および第２の電流源を前記セグメン
トに交互に結合する、請求項１に記載の方法。 - 【請求項６】 前記同期検出器が、 キャパシタと、 前記変調信号と同期して反対の極性において前記キャパ
シタを前記セグメントに結合するための整流スイッチと
を含み、前記テスト電圧降下は前記キャパシタにかけて
発生する、請求項１に記載の方法。 - 【請求項７】 導体中の電流を測定するためのデバイス
であって、 前記導体のセグメントに結合するための第１および第２
のプローブを含み、前記プローブの各々は、ソース接続
とセンス接続とを有し、前記電流は前記セグメントにか
けて電圧降下を発生し、前記デバイスはさらに、 変調信号を発生するための基準波形発生器と、 前記変調信号に応答してテスト電流を発生し、テスト電
圧降下を発生するよう前記第１および第２のプローブの
前記ソース接続を介して前記セグメントに結合された変
調された電流源と、 前記第１および第２のプローブの前記センス接続を介し
て前記セグメントに結合され、前記変調信号に応答して
前記テスト電圧降下と前記電圧降下とを分離する同期検
出器と、 前記電圧降下と前記テスト電圧降下とを選択的に測定し
て、デジタル測定値を発生するための電圧計と、 前記デジタル測定値を受けるよう前記電圧計に結合され
たマイクロプロセッサとを含み、前記マイクロプロセッ
サは前記テスト電圧降下および前記電圧降下に従って前
記導体中の前記電流を計算する、デバイス。 - 【請求項８】 前記マイクロプロセッサが、前記セグメ
ントの抵抗をさらに計算する、請求項７に記載のデバイ
ス。 - 【請求項９】 前記マイクロプロセッサが、前記基準波
形発生器に結合されて、予め定められた最大レベル未満
のノイズ最低レベルを得るよう、前記変調波形の周波数
を選択する、請求項７に記載のデバイス。 - 【請求項１０】 前記電流が交流電流および直流電流を
含む、請求項７に記載のデバイス。 - 【請求項１１】 前記変調された電流源が、反対の極性
において電流を発生する第１および第２の電流源と双極
スイッチとを含み、前記双極スイッチは、前記変調信号
に応答して前記第１および第２の電流源を前記セグメン
トに交互に結合する、請求項７に記載のデバイス。 - 【請求項１２】 前記同期検出器が、 キャパシタと、 前記変調信号と同期して反対の極性において前記キャパ
シタを結合するための整流スイッチとを含み、前記テス
ト電圧降下は前記キャパシタにかけて発生する、請求項
７に記載のデバイス。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/855276 | 1997-05-13 | ||
| US08/855,276 US5804979A (en) | 1997-05-13 | 1997-05-13 | Circuit for measuring in-circuit resistance and current |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10319052A true JPH10319052A (ja) | 1998-12-04 |
| JP2889227B2 JP2889227B2 (ja) | 1999-05-10 |
Family
ID=25320827
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10118593A Expired - Fee Related JP2889227B2 (ja) | 1997-05-13 | 1998-04-28 | 導体中の電流を測定するための方法およびデバイス |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5804979A (ja) |
| EP (1) | EP0878717B1 (ja) |
| JP (1) | JP2889227B2 (ja) |
| KR (1) | KR100286872B1 (ja) |
| CN (1) | CN1195987C (ja) |
| DE (1) | DE69824665T2 (ja) |
| HK (1) | HK1017078A1 (ja) |
| TW (1) | TW367412B (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013096880A (ja) * | 2011-11-02 | 2013-05-20 | Stanley Electric Co Ltd | 電流センサ |
| CN104841030A (zh) * | 2009-10-30 | 2015-08-19 | 德卡产品有限公司 | 用于检测血管内接入装置的断开的装置和方法 |
| JP2016166809A (ja) * | 2015-03-10 | 2016-09-15 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 計測ユニット、プログラム、電力計測方法、分電盤、分電盤システム |
| EP3832319A1 (de) * | 2019-12-04 | 2021-06-09 | Robert Bosch GmbH | Verfahren und vorrichtung zum überprüfen einer funktionsfähigkeit eines als systemwiderstand dienenden widerstands eines batteriesystems |
Families Citing this family (49)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6239604B1 (en) * | 1996-10-04 | 2001-05-29 | U.S. Philips Corporation | Method for inspecting an integrated circuit by measuring a voltage drop in a supply line of sub-circuit thereof |
| ES2172164T3 (es) * | 1997-07-23 | 2002-09-16 | Pirelli Cavi E Sistemi Spa | Sistema para medir la corriente alterna. |
| US5999002A (en) * | 1997-08-15 | 1999-12-07 | Keithley Instruments, Inc. | Contact check for remote sensed measurement |
| DE19840479A1 (de) * | 1998-09-04 | 2000-03-09 | Wilo Gmbh | Strommessung in Pumpen |
| ES2283093T3 (es) * | 1999-09-08 | 2007-10-16 | Rolf Dr.-Ing. Melcher | Disposicion de circuito para la supervision de un conmutador electronico previsto para el control de una carga. |
| US6400163B1 (en) | 1999-09-08 | 2002-06-04 | Rolf Melcher | Circuit arrangement for monitoring an electronic switch controlling a load |
| FR2802302B1 (fr) * | 1999-12-09 | 2002-02-15 | Sagem | Appareil de mesure de l'intensite du courant dans un conducteur |
| US6737875B2 (en) | 2000-05-22 | 2004-05-18 | Damerco, Inc. | Method and apparatus for in-circuit impedance measurement |
| AU2001264826A1 (en) * | 2000-05-22 | 2001-12-03 | Signus, Inc. | Method and apparatus for in-circuit impedance measurement |
| US20050200369A1 (en) * | 2004-03-12 | 2005-09-15 | Andre Langevin | Resistance metering device having probes on bar clamps |
| AT414048B (de) * | 2004-07-06 | 2006-08-15 | Lem Norma Gmbh | Verfahren und einrichtung zur strommessung |
| JP4589436B2 (ja) * | 2005-08-02 | 2010-12-01 | フェニックス コンタクト ゲーエムベーハー ウント コムパニー カーゲー | 安全関連の装置を安全な状態に設定するための切り換え装置 |
| US7268571B1 (en) * | 2006-03-20 | 2007-09-11 | Texas Instruments Incorporated | Method for validating and monitoring automatic test equipment contactor |
| US7504975B2 (en) * | 2006-03-24 | 2009-03-17 | Ics Triplex Technology Limited | Method and apparatus for output current control |
| US7358717B2 (en) * | 2006-05-08 | 2008-04-15 | Tektronix, Inc. | Input by-pass circuit for a current probe |
| US7498824B2 (en) * | 2006-08-22 | 2009-03-03 | Formfactor, Inc. | Method and apparatus for making a determination relating to resistance of probes |
| EP1988626A1 (de) * | 2007-05-04 | 2008-11-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Überlastschutzschaltung |
| JP5034781B2 (ja) * | 2007-08-27 | 2012-09-26 | 富士通株式会社 | 半田バンプの高感度抵抗測定装置及び監視方法 |
| US7719293B2 (en) * | 2007-11-12 | 2010-05-18 | Dell Products L.P. | System and method for current measurement |
| AU2009296712A1 (en) | 2008-09-23 | 2010-04-01 | Aegis Industries, Inc. | Stun device testing apparatus and methods |
| TWI408375B (zh) * | 2009-06-05 | 2013-09-11 | Giga Byte Tech Co Ltd | 電流測量裝置以及電腦系統 |
| US8717051B2 (en) * | 2009-10-22 | 2014-05-06 | Intersil Americas Inc. | Method and apparatus for accurately measuring currents using on chip sense resistors |
| US8659286B2 (en) | 2010-07-02 | 2014-02-25 | Brett S Reynolds | Apparatus for calibrated non-invasive measurement of electrical current |
| US9151818B2 (en) | 2011-11-08 | 2015-10-06 | Analog Devices Global | Voltage measurement |
| EP3736578A3 (en) * | 2011-09-12 | 2021-04-28 | Analog Devices International Unlimited Company | Current measurement |
| US8823402B2 (en) | 2011-11-23 | 2014-09-02 | Broadcom Corporation | Cable resistance determination in high-power PoE networks |
| GB201120295D0 (en) | 2011-11-24 | 2012-01-04 | Metroic Ltd | Current measurement apparatus |
| DE102012000557A1 (de) * | 2012-01-16 | 2013-07-18 | Micronas Gmbh | Überwachungseinrichtung und Verfahren zur Überwachung eines Leitungsabschnittes mit einer Überwachungseinrichtung |
| CN103376364A (zh) * | 2012-04-16 | 2013-10-30 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 输出阻抗测试装置 |
| DE102012218773A1 (de) * | 2012-10-15 | 2014-04-17 | Continental Automotive Gmbh | Verfahren und Einrichtung zur Messung eines Stroms durch einen Schalter |
| US8947101B2 (en) | 2013-01-04 | 2015-02-03 | Linear Technology Corporation | Method and system for measuring the resistance of a resistive structure |
| US9523720B2 (en) * | 2013-03-15 | 2016-12-20 | Infineon Technologies Ag | Multiple current sensor device, a multiple current shunt device and a method for providing a sensor signal |
| GB201309823D0 (en) * | 2013-06-01 | 2013-07-17 | Metroic Ltd | Current measurement |
| GB201309825D0 (en) | 2013-06-01 | 2013-07-17 | Metroic Ltd | Current measurement |
| DE102013011790B4 (de) * | 2013-07-16 | 2016-12-22 | Micronas Gmbh | Überwachungssystem |
| DE102015105075A1 (de) * | 2015-04-01 | 2016-10-06 | Infineon Technologies Ag | Stromsensor |
| EP3199960A1 (de) * | 2016-01-28 | 2017-08-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Schaltungsanordnung, analog-eingabebaugruppe und verfahren zur drahtbruchprüfung |
| GB2550606B (en) * | 2016-05-25 | 2019-10-16 | Exact Projects Ltd | Apparatus for and a method of detecting leakage of current |
| CN107976568A (zh) * | 2016-10-24 | 2018-05-01 | 力诚仪器股份有限公司 | 一种电流测量方法及其系统 |
| FR3060907B1 (fr) * | 2016-12-19 | 2018-12-07 | Safran Electronics & Defense | Dispositif de pilotage d’un moteur electrique |
| US10359449B2 (en) | 2017-03-29 | 2019-07-23 | Analog Devices Global | Current measurement techniques to compensate for shunt drift |
| RU2655470C1 (ru) * | 2017-05-26 | 2018-05-28 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" | Способ автоматизированного измерения сопротивлений |
| DE102017211105A1 (de) * | 2017-06-29 | 2019-01-03 | Schmidhauser Ag | Stromrichter zur Ansteuerung eines Elektromotors |
| US11221355B2 (en) * | 2017-09-08 | 2022-01-11 | Apple Inc. | Effective series resistance display sensing |
| CN110470906A (zh) * | 2018-05-10 | 2019-11-19 | 金一凡 | 一种电阻测试仪 |
| CN109541318B (zh) * | 2018-10-11 | 2020-11-03 | 宁波大学 | 一种硅波导电导检测电路 |
| GB201901223D0 (en) * | 2019-01-29 | 2019-03-20 | Sentec Ltd | DC current sensor and power meter |
| US11988695B2 (en) * | 2019-07-19 | 2024-05-21 | Siemens Energy Global GmbH & Co. KG | Arrangement for determining a current flowing through a busbar |
| CN110488084A (zh) * | 2019-09-26 | 2019-11-22 | 京信通信系统（中国）有限公司 | Pcb板支路电流检测装置和系统 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3863148A (en) * | 1973-05-04 | 1975-01-28 | Des Cables Electr Systeme Bert | Method and apparatus for measuring the resistance, resistivity or the cross-sectional area of an electrical conductor such as a wire, cable or bar |
| US4175253A (en) * | 1978-02-22 | 1979-11-20 | Teradyne, Inc. | Analyzing electrical circuit boards |
| US4584525A (en) * | 1983-04-18 | 1986-04-22 | General Electric Company | Current-shunt system for known conductors |
| GB2224853A (en) * | 1988-11-12 | 1990-05-16 | David Mawdsley | Measuring current |
| US5386188A (en) * | 1993-01-15 | 1995-01-31 | Keithley Instruments, Inc. | In-circuit current measurement |
-
1997
- 1997-05-13 US US08/855,276 patent/US5804979A/en not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-04-09 EP EP98302835A patent/EP0878717B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-04-09 DE DE69824665T patent/DE69824665T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-04-09 TW TW087105383A patent/TW367412B/zh not_active IP Right Cessation
- 1998-04-17 CN CNB981074243A patent/CN1195987C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1998-04-28 JP JP10118593A patent/JP2889227B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1998-05-01 KR KR1019980015766A patent/KR100286872B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1999
- 1999-05-05 HK HK99102026A patent/HK1017078A1/xx not_active IP Right Cessation
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104841030A (zh) * | 2009-10-30 | 2015-08-19 | 德卡产品有限公司 | 用于检测血管内接入装置的断开的装置和方法 |
| CN104841030B (zh) * | 2009-10-30 | 2017-10-31 | 德卡产品有限公司 | 用于检测血管内接入装置的断开的装置和方法 |
| US10201650B2 (en) | 2009-10-30 | 2019-02-12 | Deka Products Limited Partnership | Apparatus and method for detecting disconnection of an intravascular access device |
| JP2013096880A (ja) * | 2011-11-02 | 2013-05-20 | Stanley Electric Co Ltd | 電流センサ |
| JP2016166809A (ja) * | 2015-03-10 | 2016-09-15 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 計測ユニット、プログラム、電力計測方法、分電盤、分電盤システム |
| EP3832319A1 (de) * | 2019-12-04 | 2021-06-09 | Robert Bosch GmbH | Verfahren und vorrichtung zum überprüfen einer funktionsfähigkeit eines als systemwiderstand dienenden widerstands eines batteriesystems |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR100286872B1 (ko) | 2001-04-16 |
| EP0878717B1 (en) | 2004-06-23 |
| TW367412B (en) | 1999-08-21 |
| US5804979A (en) | 1998-09-08 |
| CN1199173A (zh) | 1998-11-18 |
| CN1195987C (zh) | 2005-04-06 |
| HK1017078A1 (en) | 1999-11-12 |
| EP0878717A2 (en) | 1998-11-18 |
| DE69824665T2 (de) | 2005-06-30 |
| JP2889227B2 (ja) | 1999-05-10 |
| KR19980086710A (ko) | 1998-12-05 |
| DE69824665D1 (de) | 2004-07-29 |
| EP0878717A3 (en) | 1999-12-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2889227B2 (ja) | 導体中の電流を測定するための方法およびデバイス | |
| US8521442B2 (en) | Method and device for measuring the electrical conductivity and/or resistivity of a solution | |
| EP1042651B1 (en) | Electrode integrity checking | |
| Caldara et al. | A virtual instrument for measurement of flicker | |
| JP7199866B2 (ja) | 多相測定装置及び該装置の動作方法 | |
| ATE45817T1 (de) | Digitalanzeigendes ohmmeter. | |
| ES8704019A1 (es) | Un metodo y un aparato para vigilar la produccion de un suceso y para detectar y obtener informacion sobre el suceso al ocurrir este. | |
| Xu et al. | Loss current studies of partial discharge activity | |
| KR19990044983A (ko) | 실효값의 빠른 계측을 얻을 수 있는 실효값 변환기 | |
| KR910012748A (ko) | Ic테스터의 ac평가장치 | |
| JP4175704B2 (ja) | 回路素子の測定装置 | |
| JPH05297038A (ja) | 接地抵抗試験器 | |
| JP2003121481A (ja) | 電流検出用低抵抗器のインダクタンス測定装置および方法 | |
| CN212568915U (zh) | 一种电信号同步获取简易检测系统 | |
| SU1061064A1 (ru) | Способ измерени коэффициента нелинейности электропроводности материалов | |
| JP2000304788A (ja) | 信号電圧比を用いた接地抵抗測定装置及び接地抵抗測定方法 | |
| JPH0943280A (ja) | 電気計測器 | |
| GB2223320A (en) | Capacitance measuring | |
| SU1748096A1 (ru) | Устройство дл обнаружени места утечки тока на корпус в электроустановках | |
| JPH0419571A (ja) | 生体抵抗計 | |
| SU1149937A1 (ru) | Устройство дл измерени переходного импеданса электродов | |
| KR0132455Y1 (ko) | 인써킷테스터의 동기제어회로 | |
| SU63877A1 (ru) | Способ измерени глубины модул ции | |
| ATE77155T1 (de) | Methode zur erkennung und beschaffung von information ueber die veraenderungen von variablen. | |
| SU1122983A1 (ru) | Устройство дл измерени коэффициента усилени по току транзисторов |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990202 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090219 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100219 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100219 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110219 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120219 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130219 Year of fee payment: 14 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |