JPH10300786A - 垂直作動型プローブカード及びそれに用いるプローブユニット - Google Patents

垂直作動型プローブカード及びそれに用いるプローブユニット

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JPH10300786A
JPH10300786A JP11881297A JP11881297A JPH10300786A JP H10300786 A JPH10300786 A JP H10300786A JP 11881297 A JP11881297 A JP 11881297A JP 11881297 A JP11881297 A JP 11881297A JP H10300786 A JPH10300786 A JP H10300786A
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JP
Japan
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probe
guide member
probes
wiring pattern
substrate
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JP11881297A
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English (en)
Inventor
Masao Okubo
昌男 大久保
Hiroshi Iwata
浩 岩田
Kazumasa Okubo
和正 大久保
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Japan Electronic Materials Corp
Original Assignee
Japan Electronic Materials Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 垂直作動型プローブカードにおいて、プロー
ブ同士の接触を確実に防止する。 【構成】 配線パターン310が形成された基板300
と、この基板300に取り付けられるプローブユニット
PUとを備えており、前記プローブユニットPUは、測
定対象物としてのLSIチップ610の電極パッド61
1に対して垂直に接触させられ、かつ前記配線パターン
310に電気的に接続される複数本のプローブ100
と、このプローブ100が挿入される複数個の貫通孔2
11が開設された第1の案内部材210と、前記プロー
ブ100の先端の接触部110が挿入される複数個の貫
通孔221が開設された第2の案内部材220と、前記
第1の案内部材210と第2の案内部材220との間に
充填される絶縁性ゲル950とを有しており、前記プロ
ーブ100には、電極パッド611に対して垂直方向に
加圧接触させられた場合に変形する弾性変形部としての
座屈部160が形成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、LSIチップ等の
電気的諸特性の測定に用いられる垂直作動型プローブカ
ードと、それに用いられるプローブユニットとに関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の垂直作動型プローブカードは、図
3に示すように、配線パターン310が形成された基板
300と、この基板300に垂直に取り付けられた複数
本のプローブ100と、前記基板300の下面側に取り
付けられたプローブ支持部材200とを有している。
【0003】前記プローブ100は、測定対象物である
LSIチップ610の電極パッド611に接触する先端
の接触部110と、このプローブ100が前記配線パタ
ーン310に接続するための後端の接続部120と、こ
れらの接触部110と接続部120との間に設けられた
略U字形状に湾曲させられた弾性変形部130とを有し
ている。このプローブ100は、例えばタングステンの
細線等の先端を尖鋭化するとともに、中腹部が弾性変形
部130となるように略U字形状に湾曲させることで1
本ずつ製造されている。
【0004】一方、前記プローブ支持部材200は、板
状の第1の案内部材210と、この第1の案内部材21
0と所定の間隔を有して平行に設けられる板状の第2の
案内部材220と、これらの第1の案内部材210及び
第2の案内部材220を基板300の下面側に取り付け
るための取付部材230とを有している。第1の案内部
材210及び第2の案内部材220には、前記LSIチ
ップ610の電極パッド611に対応した貫通孔21
1、221が開設されている。この貫通孔211、22
1にプローブ100を挿入することにより、プローブ1
00の位置決めを行なうのである。また、前記プローブ
100の略U字形状の弾性変形部130は、第1の案内
部材210と第2の案内部材220との間に位置するよ
うになっている。
【0005】また、プローブ100の後端の接続部12
0を配線パターン310に直接接続するのではなく、図
4に示すように、異方性導電シート400を介してプロ
ーブ100と配線パターン310とを接続するものもあ
る。
【0006】さらに、プローブ100に略U字形状の弾
性変形部130を設けず、図4に示すように、中腹部を
直径より細く形成して、この部分を弓なりに撓ませるこ
とで加圧接触するようにしたものもある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の垂直作動型プローブカード及びそれに用いるプ
ローブには以下のような問題点がある。まず、最近のL
SIチップの微細化、高集積化、ウエハの大型化、テス
ターの高性能化等から、複数個(現時点では64個)の
LSIチップの電気的諸特定のを同時に測定する並列処
理が行なわれるようになった。このため、プローブカー
ドも大型になりより多くのプローブが取り付けられるよ
うになっている。
【0008】このため、略U字形状の弾性変形部を有す
るプローブを使用するプローブカードでは、隣接するプ
ローブの弾性変形部同士が接触しないように、同一方向
を向くように配列する必要がある。従って、プローブの
基板に対する取付作業は非常に手間のかかるものになっ
ている。
【0009】また、中腹部を他の部分より細くしたプロ
ーブを用いると、プローブの交換ノ際に第1及び第2の
案内部材からスムーズに引き抜くことができるという利
点があり、かつプローブの取付時にプローブの配置の方
向を考慮する必要はないが、細くした部分が撓む方向を
予め規制することができないので、プローブ同士の接触
の問題は解消していない。
【0010】本発明は上記事情に鑑みて創案されたもの
で、プローブ同士の接触を確実に防止することができる
垂直作動型プローブカード及びそれに用いるプローブユ
ニットを提供することを目的としている。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明に係る垂直作動型
プローブカードは、配線パターンが形成された基板と、
この基板に取り付けられるプローブユニットとを備えて
おり、前記プローブユニットは、測定対象物の電極パッ
ドに対して垂直に接触させられ、かつ前記配線パターン
に電気的に接続される複数本のプローブと、このプロー
ブが挿入される複数個の貫通孔が開設された第1の案内
部材と、前記プローブの先端の接触部が挿入される複数
個の貫通孔が開設された第2の案内部材と、前記第1の
案内部材と第2の案内部材との間に充填される絶縁性ゲ
ルとを有しており、前記プローブには、電極パッドに対
して垂直方向に加圧接触させられた場合に変形する弾性
変形部が形成されている。
【0012】本発明に係るプローブユニットは、配線パ
ターンが形成された基板に取り付けられるプローブユニ
ットであって、測定対象物の電極パッドに対して垂直に
接触させられ、かつ前記配線パターンに電気的に接続さ
れる複数本のプローブと、このプローブが挿入される複
数個の貫通孔が開設された第1の案内部材と、前記プロ
ーブの先端の接触部が挿入される複数個の貫通孔が開設
された第2の案内部材と、前記第1の案内部材と第2の
案内部材との間に充填される絶縁性ゲルとを有してお
り、前記プローブには、電極パッドに対して垂直方向に
加圧接触させられた場合に変形する弾性変形部が形成さ
れている。
【0013】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態に係る
垂直作動型プローブカードの概略的断面図、図2は本発
明の実施の形態に係る垂直作動型プローブカードに用い
るプローブユニットのシート部材の一部を剥がした概略
的斜視図である。
【0014】本発明の実施の形態に係る垂直作動型プロ
ーブカードは、配線パターン310が形成された基板3
00と、この基板300に取り付けられるプローブユニ
ットPUとを備えており、前記プローブユニットPU
は、測定対象物としてのLSIチップ610の電極パッ
ド611に対して垂直に接触させられ、かつ前記配線パ
ターン310に電気的に接続される複数本のプローブ1
00と、このプローブ100が挿入される複数個の貫通
孔211が開設された第1の案内部材210と、前記プ
ローブ100の先端の接触部110が挿入される複数個
の貫通孔221が開設された第2の案内部材220と、
前記第1の案内部材210と第2の案内部材220との
間に充填される絶縁性ゲル950とを有しており、前記
プローブ100には、電極パッド611に対して垂直方
向に加圧接触させられた場合に変形する弾性変形部とし
ての座屈部160が形成されている。
【0015】まず、前記基板300は多層基板であっ
て、各層に配線パターン310が形成されている。しか
も、配線パターン310は最下層、すなわち基板300
の下面に露出しており、この部分で前記プローブ100
と電気的に接続されることになる。この配線パターン3
10とプローブ100とを電気的に接続するものは、例
えば異方性導電シート400と称されるものが使用され
る。この異方性導電シート400は弾性を有する素材の
中に一定方向を向いた微細な導電性繊維等を含ませたも
のであり、一定方向にのみ電気を伝えるようになってい
る。この垂直作動型プローブカードの場合には、上下方
向にのみ電気を伝えるようになったものを使用する。す
なわち、後述するプローブユニットPUと基板300と
の間に異方性導電シート400を挟み込むことで、プロ
ーブユニットPUのプローブ100の接続部120が異
方性導電シート400に接触し、この異方性導電シート
400が基板300の最下層に露出させた配線パターン
310に接触することで、プローブ100と基板300
の配線パターン310との電気的接触が完了するのであ
る。
【0016】前記プローブ100は、先端が接触部11
0として尖鋭化されており、後端が接続部120となっ
ている。また、このプローブ100は,図5に示すよう
に弾性変形部が他の部分、すなわち先端の接触部110
や後端の接続部120より細く形成されることによって
弾性変形部の一種としての座屈部160として構成され
ている。この座屈部160は、プローブ100が電極パ
ッド611に垂直方向に加圧接触させられると、図5
(B)に示すように座屈する。この座屈部160座屈に
よって所定の接触圧を確保するのである。
【0017】一方、プローブユニットPUは、プローブ
100と、第1の案内部材210と、第2の案内部材2
20と、絶縁性ゲル950との他に、絶縁性ゲル950
が充填される空間の4側面を密閉するためのシート部材
920と、各案内部材210、220の貫通孔211、
221を密閉するための接着剤900とを有している。
【0018】第1の案内部材210は、絶縁性を有する
板材であり、LSIチップ610の電極パッド611の
配置パターンに応じた複数個の貫通孔211が開設され
ている。この貫通孔211には、プローブ100の座屈
部160より上側が挿入されるようになっている。
【0019】また、第2の案内部材220も同様に絶縁
性を有する板材であり、LSIチップ610の電極パッ
ド611の配置パターンに応じた複数個の貫通孔221
が開設されている。この貫通孔221は、プローブ10
0の接触部110が、例えば0.5ミリほど突出するよ
うに挿入される部分である。従って、プローブ100の
接触部110が互いに独立した貫通孔211に挿入され
ているので、プローブ100の接触部110同士が接触
するおそれが激減する。
【0020】このプローブユニットPUの構造を製造工
程とともに説明する。まず、第1の案内部材210と第
2の案内部材220とを重ね合わせる。第1の案内部材
210及び第2の案内部材220の貫通孔211、22
1は、LSIチップ610の電極パッド611の配置パ
ターンに対応しているため、重ね合わせた第1の案内部
材210と第2の案内部材220とでは、その貫通孔2
11、221は一致している。
【0021】次いで、第1の案内部材210を下向きに
する。この際、第1の案内部材210の下側に厚さ約
0.3ミリのスペーサ(図示省略)を置いておく。すな
わち、第1の案内部材210とこれが載置された面との
間には0.3ミリの隙間が形成されているのである。
【0022】この状態で、プローブ100を接触部11
0が第2の案内部材220の側になるように第1の案内
部材210及び第2の案内部材220の貫通孔211、
221に挿入する。すると、プローブ100の後端であ
る接続部120は、第1の案内部材210の貫通孔21
1から0.3ミリ突出した状態になる。この状態で、貫
通孔211に絶縁性を有する接着剤900を充填する
と、プローブ100は接続部120を貫通孔211から
0.3ミリ突出させて第1の案内部材210に取り付け
られる。この際の接着剤としては、例えばシリカを重量
比で30%程度含有する比較的熱膨張率の小さいものが
適する。具体的には、例えば住友ベークライト社製のE
CK−9023等が適している。
【0023】次に、第1の案内部材210と第2の案内
部材220との間にくさびを挿入し、第1の案内部材2
10と第2の案内部材220との間の隙間を広げる。こ
の隙間の寸法は、プローブ100の長さによって適宜決
定するものであるが、広げた結果、第2の案内部材22
0の貫通孔221からプローブ100の接触部110が
0.3ミリ突出するように決定する。
【0024】第2の案内部材220の貫通孔221から
プローブ100の接触部110が0.3ミリ突出したな
らば、第1の案内部材210と第2の案内部材220と
の間に適当な高さを有するスペーサ960(図2参照)
を4隅等に挿入し、前記くさびを除去する。
【0025】この状態で、第1の案内部材210と第2
の案内部材220とを絶縁性ゲル950が充填される空
間の4側面を密閉するためのシート部材920で連結す
る。このシート部材920としては耐熱性が強いものが
望ましい。具体的には、0.3ミリ厚程度のポリイミド
テープを用いる。
【0026】次に、絶縁性ゲル950を密閉された空間
に充填する。従って、第1の案内部材210と第2の案
内部材220との間に挿入されるスペーサ960は、絶
縁性ゲル950に埋没することになる。この絶縁性ゲル
950としては、やや硬度の高い東芝シリコーンゲルT
SE−3991C等が望ましいが、絶縁性を有している
ものであれば他の種類であってもよい。
【0027】この絶縁性ゲル950の充填作業は、ディ
スペンサーの注入針を前記シート部材920に刺して行
なう。この場合、絶縁性ゲル950は最下方から注入
し、空気抜きは上方から行なうことは勿論である。この
絶縁性ゲル950の充填の際には、気泡が生じないよう
に静かに行なうことが望ましいが、ある程度の気泡が生
じたとしても実際上の問題はない。
【0028】絶縁性ゲル950が充填されたプローブユ
ニットPUを150℃で加熱し、絶縁性ゲル950をゼ
リー上に加熱硬化させる。
【0029】このようにして製造されたプローブユニッ
トPUは、絶縁性ゲル950の充填前では、100μm
のオーバードライブ(プローブ100の接触部110が
LSIチップ610の電極パッド611に接触してか
ら、さらに100μm分だけ加圧すること)に大して1
6grの接触圧(以下、『16gr/100μmOD』
とあらわす)であったが、絶縁性ゲル950が硬化した
後での接触圧は25gr/100μmODになった。す
なわち、プローブ100の接触圧が向上したのである。
これによりプローブ100の弾性限界が向上した。具体
的には、絶縁性ゲル950がない状態であると,150
μmのオーバードライブを加えると、プローブ100は
塑性変形を生じていたが、硬化した絶縁性ゲル950の
存在により、200μmのオーバードライブでも塑性変
形が生じないのである。
【0030】このようにして構成されたプローブユニッ
トPUは、取付部材230によって基板300の裏面側
に取り付けられる。この際、プローブユニットPUの第
1の案内部材210と基板300の裏面との間に異方性
導電シート400を介在させるので、プローブ100と
基板300の配線パターン310とが電気的に接続され
る。
【0031】
【発明の効果】本発明に係る垂直作動型プローブカード
は、配線パターンが形成された基板と、この基板に取り
付けられるプローブユニットとを備えており、前記プロ
ーブユニットは、測定対象物の電極パッドに対して垂直
に接触させられ、かつ前記配線パターンに電気的に接続
される複数本のプローブと、このプローブが挿入される
複数個の貫通孔が開設された第1の案内部材と、前記プ
ローブの先端の接触部が挿入される複数個の貫通孔が開
設された第2の案内部材と、前記第1の案内部材と第2
の案内部材との間に充填される絶縁性ゲルとを有してお
り、前記プローブには、電極パッドに対して垂直方向に
加圧接触させられた場合に変形する弾性変形部が形成さ
れている。
【0032】このため、複数本のプローブを高密度に配
置したとしても、それらの間には絶縁性ゲルが存在する
ので、接触を確実に防止することができる。従って、よ
り高密度に電極パッドが配置された現在のLSIチップ
等の電気的諸特性の測定に適している。また、絶縁性ゲ
ルを用いることによって、プローブの弾性限界を向上さ
せることができる。
【0033】一方、本発明に係るプローブユニットは、
配線パターンが形成された基板に取り付けられるプロー
ブユニットであって、測定対象物の電極パッドに対して
垂直に接触させられ、かつ前記配線パターンに電気的に
接続される複数本のプローブと、このプローブが挿入さ
れる複数個の貫通孔が開設された第1の案内部材と、前
記プローブの先端の接触部が挿入される複数個の貫通孔
が開設された第2の案内部材と、前記第1の案内部材と
第2の案内部材との間に充填される絶縁性ゲルとを有し
ており、前記プローブには、電極パッドに対して垂直方
向に加圧接触させられた場合に変形する弾性変形部が形
成されている。
【0034】かかるプローブユニットを用いると、より
高密度に電極パッドが配置された現在のLSIチップ等
の電気的諸特性の測定に適した垂直作動型プローブカー
ド、すなわちプローブ相互の接触を確実に防止した垂直
作動型プローブカードとすることができる。また、絶縁
性ゲルを用いることによって、プローブの弾性限界を向
上させた垂直作動型プローブカードとすることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る垂直作動型プローブ
カードの概略的断面図である。
【図2】本発明の実施の形態に係る垂直作動型プローブ
カードに用いるプローブユニットのシート部材の一部を
剥がした概略的斜視図である。
【図3】従来のこの種の垂直作動型プローブカードの概
略的断面図である。
【図4】従来のこの種の他の垂直作動型プローブカード
の概略的断面図である。
【図5】この種の垂直作動型プローブカードに用いられ
るプローブの図面であって、同図(A)はオーバードラ
イブが加えられていない場合の概略的側面図、同図
(B)はオーバードライブが加えられた場合の概略的側
面図である。
【符号の説明】
100 プローブ 110 接触部 120 接続部 210 第1の案内部材 211 (第1の案内部材の)貫通孔 220 第2の案内部材 221 (第2の案内部材の)貫通孔 300 基板 310 配線パターン 950 絶縁性ゲル PU プローブユニット 610 LSIチップ(測定対象物) 611 電極パッド

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 配線パターンが形成された基板と、この
    基板に取り付けられるプローブユニットとを具備してお
    り、前記プローブユニットは、測定対象物の電極パッド
    に対して垂直に接触させられ、かつ前記配線パターンに
    電気的に接続される複数本のプローブと、このプローブ
    が挿入される複数個の貫通孔が開設された第1の案内部
    材と、前記プローブの先端の接触部が挿入される複数個
    の貫通孔が開設された第2の案内部材と、前記第1の案
    内部材と第2の案内部材との間に充填される絶縁性ゲル
    とを有しており、前記プローブには、電極パッドに対し
    て垂直方向に加圧接触させられた場合に変形する弾性変
    形部が形成されていることを特徴とする垂直作動型プロ
    ーブカード。
  2. 【請求項2】 配線パターンが形成された基板に取り付
    けられるプローブユニットにおいて、測定対象物の電極
    パッドに対して垂直に接触させられ、かつ前記配線パタ
    ーンに電気的に接続される複数本のプローブと、このプ
    ローブが挿入される複数個の貫通孔が開設された第1の
    案内部材と、前記プローブの先端の接触部が挿入される
    複数個の貫通孔が開設された第2の案内部材と、前記第
    1の案内部材と第2の案内部材との間に充填される絶縁
    性ゲルとを有しており、前記プローブには、電極パッド
    に対して垂直方向に加圧接触させられた場合に変形する
    弾性変形部が形成されていることを特徴とするプローブ
    ユニット。
JP11881297A 1997-04-21 1997-04-21 垂直作動型プローブカード及びそれに用いるプローブユニット Pending JPH10300786A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001249145A (ja) * 1999-12-28 2001-09-14 Micronics Japan Co Ltd プローブカード及びその製造方法
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