JPH10285146A - ビット誤り測定回路 - Google Patents

ビット誤り測定回路

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JPH10285146A
JPH10285146A JP9081613A JP8161397A JPH10285146A JP H10285146 A JPH10285146 A JP H10285146A JP 9081613 A JP9081613 A JP 9081613A JP 8161397 A JP8161397 A JP 8161397A JP H10285146 A JPH10285146 A JP H10285146A
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JP
Japan
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signal
terminal
input
error
circuit
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JP9081613A
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Hiroshi Nimoda
宏 仁茂田
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Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L1/00Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
    • H04L1/20Arrangements for detecting or preventing errors in the information received using signal quality detector

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明の課題は、被測定信号からメモリに
書き込んだデータの誤りの有無を検証し、誤りがあれば
それを訂正する手段を設けたビット誤り測定回路を提供
することである。 【解決手段】 被測定信号1aからメモリ回路20及
びメモリ回路21に書き込んだ誤り検出基準信号の内、
メモリ回路21に書き込んだ誤り検出基準信号21aの
誤りビットの有無をビット誤り検出回路100外部で検
証し、誤りビットがあれば該誤り検出基準信号21aを
訂正する機能を設けているため、正確なビット誤り測定
が可能である。また、被測定信号1aを書き込むメモリ
を、メモリ回路20及びメモリ回路21内に有している
ので、測定と訂正とを同時に行うことが可能である。さ
らに、誤り検出基準信号21aの訂正結果をメモリ回路
22に記憶し、該訂正結果を用いて基準信号データの訂
正作業中の測定結果の補正をする機能を設けていること
で、基準信号データの訂正作業中の誤りを正確に測定す
ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、IC等のデバイス
や、伝送装置、伝送線路等の評価のためのビット誤り測
定において、特にユーザが試験信号パターンを任意に設
定して評価を行う場合のビット誤り測定回路に関する。
【0002】
【従来の技術】ビット誤り測定では、送信機が試験信号
を送信し、該試験信号をIC等のデバイスや、伝送装
置、伝送線路等の測定対象を介して受信機が受信する。
そして受信機が受信した該試験信号のビット誤りを測定
することで、測定対象の評価を行う。試験信号のパター
ンとしては、疑似ランダムパターンやユーザが任意に設
定したパターンが良く用いられる。
【0003】送信機は、上記のようなパターンの試験信
号を周期毎に繰り返して送信する。受信機は、送信機が
送信した該試験信号を受信し、同期引き込みにより1周
期分の試験信号を受信機内のメモリに記憶することで基
準信号を内部に生成する。更に、引き続き送信機より送
信される試験信号を被測定信号として、該被測定信号と
前記基準信号をビット毎に比較しビット誤り検出を行
い、誤りのあったビット数をカウントし誤り率を計算す
る。
【0004】このような従来のビット誤り測定回路とし
ては、例えば特開平8−149112号公報に開示され
たものがあり、以下、図6〜図9を参照してこの従来の
ビット誤り測定回路について詳細に説明する。
【0005】図6は、従来のビット誤り測定回路200
の回路構成を示すブロック図である。
【0006】図7は、図6に図示されるメモリ回路20
の回路構成を示すブロック図である。
【0007】まず、構成から説明する。
【0008】図6において、ビット誤り測定回路200
は、メモリ回路20、アドレスカウンタ30、スイッチ
回路40、誤り検出回路50、ゲート回路51、誤りカ
ウンタ60及びクロックカウンタ70で構成されてい
る。また、図6中、1は被測定信号(試験信号)1aの
入力端子であり、2はクロック信号2aの入力端子であ
り、3はアドレスカウンタ30の最大アドレス値3aの
入力端子であり、4はアドレスカウンタ制御信号4aの
入力端子であり、5は同期引き込み信号5aの入力端子
であり、31はアドレスキャリアップ信号30bの出力
端子であり、61は誤りカウント値60aの出力端子で
あり、71はクロックカウント値70aの出力端子であ
る。
【0009】図7において、メモリ回路20は、外部端
子として、2つのデータ入出力端子20X、20Y、ア
ドレス入力端子20A、読み書き制御信号入力端子20
RW及びスイッチ切換信号入力端子20SWを有し、内
部は、メモリ201及びスイッチ回路202によって構
成されている。メモリ201は、データ入出力端子20
1D、アドレス入力端子201A、読み書き制御信号入
力端子201RWを有し、スイッチ回路202は、2つ
の切換端子202X、202Y、コモン端子202Z及
びスイッチ切換信号入力端子202SWを有する。
【0010】スイッチ回路202の一方の切換端子20
2Xはメモリ回路20のデータ入出力端子20Xに、他
方の切換端子202Yはメモリ回路20のデータ入出力
端子20Yに、コモン端子202Zはメモリ201のデ
ータ入出力端子201に、スイッチ切換信号入力端子2
02SWはメモリ回路20のスイッチ切換信号入力端子
20SWに接続され、メモリ201のアドレス入力端子
201Aはメモリ回路20のアドレス入力端子20A
に、読み書き制御信号入力端子201RWはメモリ回路
20の読み書き制御信号入力端子20RWにそれぞれ接
続されている。
【0011】図6において、メモリ回路20は、端子1
に入力される被測定信号1aをデータ入出力端子20X
の入力とし、アドレスカウンタ30のアドレス出力端子
30OUTから出力されるアドレス値30aをアドレス
入力端子20Aの入力とし、スイッチ回路40の出力端
子40OUTから出力される読み書き制御信号40aを
読み書き制御信号入力端子20RWの入力とし、端子5
に入力される同期引き込み信号5aをスイッチ切換信号
入力端子20SWの入力とする。
【0012】スイッチ切換信号入力端子20SWに入力
される同期引き込み信号5aが論理値0のとき、すなわ
ち、同期引き込みが指示されているときは、図7に図示
した、メモリ回路20内部のスイッチ回路202は、コ
モン端子202Zと切換端子202Xを接続し、データ
入出力端子20Xに入力される被測定信号1aを読み込
み、読み書き制御信号40aの立ち上がりで読み込んだ
該被測定信号1aをアドレス入力端子20Aに入力され
たアドレス値30aが示すアドレスに書き込む。
【0013】スイッチ切換信号入力端子20SWに入力
される同期引き込み信号5aが論理値1のとき、すなわ
ち、同期引き込みが指示されていないときは、図7に図
示した、メモリ回路20内部のスイッチ回路202は、
コモン端子202Zと切換端子202Yを接続し、アド
レス入力端子20Aに入力されたアドレス値30aが示
すアドレスのデータを読み出して、基準信号20aとし
てデータ入出力端子20Yから誤り検出回路50の一方
の入力端子50IBに対して出力する。
【0014】アドレスカウンタ30は、クロック端子3
0CLK、最大アドレス値入力端子30AM、リセット
端子30RST、キャリアップ信号出力端子30C及び
出力端子30OUTを有しており、端子2に入力される
クロック信号2aをクロック端子30CLKの入力と
し、端子3に入力される最大アドレス値3aを最大アド
レス値入力端子30AMの入力とし、端子4に入力され
るアドレスカウンタ制御信号4aをリセット端子30R
STの入力とする。
【0015】リセット端子30RSTに入力されたアド
レスカウンタ制御信号4aが論理値1、すなわち、カウ
ントを指示しているときは、アドレスカウンタ30はク
ロック端子30CLKに入力されるクロック信号2aに
よってカウントアップ動作を行い、カウント値をアドレ
ス値30aとして出力端子30OUTからメモリ回路2
0のアドレス入力端子20Aに対して出力し、該カウン
ト値が、最大アドレス値入力端子30AMに入力された
最大アドレス値3aで設定された最大アドレス値まで達
すると、カウント値をリセットし、アドレスキャリアッ
プ信号30bとして、パルス信号をキャリアップ信号出
力端子30Cから端子31に対して出力した上でカウン
トを続ける。
【0016】リセット端子30RSTに入力されたアド
レスカウンタ制御信号4aが論理値0、すなわち、リセ
ットを指示しているときは、アドレスカウンタ30はカ
ウント値をリセットする。
【0017】スイッチ回路40は、データ入力端子40
X、データ入力端子40Y、スイッチ切換信号入力端子
40SW及び出力端子40OUTを有しており、端子2
に入力されるクロック信号2aをデータ入力端子40X
の入力とし、論理値1で固定された信号をデータ入力端
子40Yの入力とし、端子5に入力される同期引き込み
信号5aをスイッチ切換信号入力端子40SWの入力と
する。
【0018】スイッチ切換信号入力端子40SWに入力
された同期引き込み信号5aが論理値0のとき、すなわ
ち、同期引き込みが指示されているときは、出力端子4
0OUTは内部でデータ入力端子40Xと接続され、デ
ータ入力端子40Xに入力されたクロック信号2aを読
み書き制御信号40aとして、出力端子40OUTから
メモリ回路20の読み書き制御信号入力端子20RWに
対して出力する。
【0019】スイッチ切換信号入力端子40SWに入力
された同期引き込み信号5aが論理値1のとき、すなわ
ち、同期引き込みが指示されていないときは、出力端子
40OUTは内部でデータ入力端子40Yと接続され、
論理値1で固定された信号(High信号H)を読み書
き制御信号40aとして、スイッチ回路40の出力端子
40OUTからメモリ回路20の読み書き制御信号入力
端子20RWに対して出力する。
【0020】誤り検出回路50は、データ入力端子50
IA、データ入力端子50IB及び出力端子50OUT
を有しており、端子1に入力される被測定信号1aをデ
ータ入力端子50IAの入力とし、メモリ回路20のデ
ータ入出力端子20Yから出力される基準信号20aを
データ入力端子50IBの入力とする。
【0021】誤り検出回路50は、データ入力端子50
IAに入力された被測定信号1aと、データ入力端子5
0IBに入力された基準信号20aを比較し、異なるビ
ット値を検出したとき、すなわちビット誤りを検出した
ときは、誤り検出信号50aとして論理値1を出力端子
50OUTからゲート回路51のデータ入力端子51I
Aに対して出力し、同じビット値を検出したとき、すな
わちビット誤りを検出しないときは、誤り検出信号50
aとして論理値0を出力端子50OUTからゲート回路
51のデータ入力端子51IAに対して出力する。
【0022】ゲート回路51は、データ入力端子51I
A、データ入力端子51IB及び出力端子51OUTを
有しており、誤り検出回路50の出力端子50OUTか
ら出力される誤り検出信号50aをデータ入力端子51
IAの入力とし、端子2に入力されるクロック信号2a
をデータ入力端子51IBの入力とする。
【0023】ゲート回路51は、データ入力端子51I
Aに入力される誤り検出信号50aと、データ入力端子
51IBに入力されるクロック信号2aがともに論理値
1のときのみ出力端子51OUTから誤りカウンタ60
のクロック端子60CLKに論理値1を出力する。すな
わち、誤り検出信号50aとクロック信号2aを入力と
するAND演算の結果を、誤り検出パルス信号51aと
して出力端子51OUTから誤りカウンタ60のクロッ
ク端子60CLKに対して出力する。
【0024】誤りカウンタ60は、クロック端子60C
LK、リセット端子60RST及び出力端子60OUT
を有しており、ゲート回路51の出力端子51OUTか
ら出力される誤り検出パルス信号51aをクロック端子
60CLKの入力とし、端子5に入力される同期引き込
み信号5aをリセット端子60RSTの入力とする。
【0025】リセット端子60RSTに入力される同期
引き込み信号5aが論理値0のとき、すなわち、同期引
き込みが指示されているときは、誤りカウンタ60はカ
ウント値をリセットする。
【0026】リセット端子60RSTに入力される同期
引き込み信号5aが論理値1のとき、すなわち、同期引
き込みが指示されていないときは、誤りカウンタ60は
クロック端子60CLKに入力される誤り検出パルス信
号51aによってカウントアップし、カウント値を誤り
カウント値60aとして端子61からビット誤り測定回
路外部に対して出力する。
【0027】クロックカウンタ70は、クロック端子7
0CLK、リセット端子70RST及び出力端子70O
UTを有しており、端子2に入力されるクロック信号2
aをクロック端子70CLKの入力とし、端子5に入力
される同期引き込み信号5aをリセット端子70RST
の入力とする。
【0028】リセット端子70RSTに入力される同期
引き込み信号5aが論理値0のとき、すなわち、同期引
き込みが指示されているときは、クロックカウンタ70
はカウント値をリセットする。
【0029】リセット端子70RSTに入力される同期
引き込み信号5aが論理値1のとき、すなわち、同期引
き込みが指示されていないときは、クロックカウンタ7
0はクロック端子70CLKに入力されるクロック信号
2aによってカウントアップし、カウント値をクロック
カウント値70aとして端子71からビット誤り測定回
路外部に対して出力する。
【0030】次に、図8に示すタイムチャートを参照し
て、図6に示したビット誤り測定回路200の動作を説
明する。
【0031】図8において、2aは、クロック信号を示
す波形図である。
【0032】1aは被測定信号を示す波形図で、1周期
の長さが6ビットの場合を例にとって説明している。各
ビットにA〜Fの符号と周期番号を付けている。例えば
1周期目はD1、E1、F1、A1、B1、C1とな
り、2周期目はD2、E2、F2、A2、B2、C2・
・・のようになる。なお、図8でいう周期とは、メモリ
回路20が書き込みを開始したビットから書き込みを終
了するビットまでを指し、必ずしも送信側で設定したパ
ターンの開始と終了による周期とは一致しない。
【0033】また符号の上のバーは誤りビットであるこ
とを示す。例えばA3は符号の上にバーがついているの
で、このビットは誤りビットである。
【0034】3aは、アドレスカウンタ30の最大アド
レス値を設定する信号を示す。図8は被測定信号の1周
期の長さが6ビットの場合の例であるので、3aの値は
6である。
【0035】4aは、アドレスカウンタ制御信号を示す
波形図である。図8では、アドレスカウンタ制御回路4
aが論理値0のときアドレスカウンタ30をリセットす
るとしている。30aは、アドレスカウンタ30が出力
するアドレス値を示す波形図である。30bは、アドレ
スカウンタ30が出力するアドレスキャリアップ信号を
示す波形図である。
【0036】5aは、同期引き込み信号を示す波形図で
ある。図8では、同期引き込み信号5aが論理値0のと
き同期引き込みを指示するとしている。誤りカウンタ6
0とクロックカウンタ70は、同期引き込み信号5aに
よって動作制御される。同期引き込み信号5aが論理値
1のときすなわち同期引き込みを指示されていないとき
カウント動作を行い、論理値0のときすなわち同期引き
込みを指示されているときそれぞれのカウント値をリセ
ットして動作を停止するとしている。
【0037】40aは、メモリ201の読み書き制御信
号を示す波形図、20aは、メモリ回路20が出力する
誤り検出基準信号を示す波形図、50aは、誤り検出信
号を示す波形図、51aは、誤り検出パルス信号を示す
波形図、60aは、誤りカウント値を示す波形図、70
aは、クロックカウント値を示す波形図である。
【0038】時刻t1において、端子4に入力されるア
ドレスカウンタ制御信号4aを、論理値1から0にする
ことによりアドレスカウンタ30のリセット端子30R
STに論理値0が入力されると、アドレスカウンタ30
のアドレス値30aがリセットされる。このアドレスカ
ウンタ制御信号4aによるリセット指示と同時に端子5
に入力される同期引き込み信号5aを論理値1から0に
する、すなわち、被測定信号1aの同期引き込みを行う
指示を出す。
【0039】同期引き込み信号5aが論理値0になるこ
とにより、スイッチ回路40のスイッチ切換信号入力端
子40SWに論理値0が入力されると、スイッチ回路4
0の出力端子40OUTは内部でデータ入力端子40X
と接続され、データ入力端子40Xより入力されたクロ
ック信号2aを出力端子40OUTから読み書き制御信
号40aとしてメモリ回路20の読み書き制御信号入力
端子20RWに対して出力する。
【0040】また、同期引き込み信号5aが論理値0に
なることにより、メモリ回路20のスイッチ切換信号入
力端子20SWに論理値0が入力されると、メモリ回路
20内部のスイッチ回路202は、切換端子202Xと
コモン端子202Zを接続し、データ入出力端子20X
に入力される被測定信号1aをメモリ201のデータ入
出力端子201Dの入力とする。
【0041】更に、同期引き込み信号5aが論理値0に
なることにより、誤りカウンタ60とクロックカウンタ
70のそれぞれのリセット端子60RST、リセット端
子70RSTに論理値0が入力されると、それまでのカ
ウント値誤りカウント値60a及びクロックカウント値
70aはリセットされ、カウント動作を停止する。
【0042】時刻t2において、アドレスカウンタ制御
信号4aを論理値0から1にすることによりアドレスカ
ウンタ30のリセット端子30RSTに論理値1が入力
され、アドレスカウンタ30のリセットが解除される
と、アドレスカウンタ30はクロック端子30CLKに
入力されるクロック信号2aによってカウントアップ動
作を行い、カウントしたアドレス値30aを出力端子3
0OUTからメモリ回路20のアドレス入力端子20A
に対して出力する。
【0043】メモリ回路20の読み書き制御信号入力端
子20RWに入力される時刻t2における読み書き制御
信号40aの立ち上がりにより、メモリ回路20は、デ
ータ入出力端子20Xに入力される被測定信号1aのそ
の時刻t2におけるデータD1を、アドレスカウンタ3
0よりアドレス入力端子20Aに入力されるアドレス値
30aが示すメモリ201内のアドレス1に書き込む。
【0044】以降、アドレスカウンタ30のカウントす
るアドレス値30aが、最大アドレス値3a(=6)に
達し、アドレスカウンタ30がキャリアップするまで、
同様にして被測定信号1aからE1、F1、A1・・・
を読み込み、メモリ201に書き込みを行う。
【0045】時刻t3において、アドレスカウンタ30
は、最大アドレス値3aが指定するアドレス値までカウ
ントしたことで、アドレスキャリアップ信号30bとし
てキャリアップ信号出力端子30Cからアドレスキャリ
アップパルスP1を出力する。アドレスキャリアップパ
ルスP1の立ち上がりと同時に同期引き込み信号5aを
論理値1にする。
【0046】同期引き込み信号5aが論理値1になるこ
とにより、スイッチ回路40のスイッチ切換信号入力端
子40SWに論理値1が入力されると、スイッチ回路4
0の出力端子40OUTは内部でデータ入力端子40Y
と接続され、データ入力端子40Yより入力された論理
値1の信号(High信号H)を出力端子40OUTか
ら読み書き制御信号40aとしてメモリ回路20の読み
書き制御信号入力端子20RWに対して出力する。この
読み書き制御信号入力端子20RWの入力が論理値1で
固定されていることにより、メモリ回路20は、メモリ
201に記憶されたデータを読み出すモードに固定され
る。
【0047】また、同期引き込み信号5aが論理値1に
なることにより、メモリ回路20のスイッチ切換信号入
力端子20SWに論理値1が入力されると、メモリ回路
20内部のスイッチ回路202は、切換端子202Yと
コモン端子202Zを接続し、メモリ回路20は、その
時刻t3にアドレスカウンタ30よりアドレス入力端子
20Aに入力されるアドレス値30aが示すメモリ20
1内のアドレスに書き込まれたデータを読み出してデー
タ入出力端子20Yから出力する。
【0048】以降同様にして、メモリ回路20は書き込
まれたデータの読み出しを行う。図6では時刻t2から
時刻t3までメモリ回路20に、D1、E1、F1、A
1、B1、C1を書き込んでおり、このデータを周期毎
に繰り返し読み出す。
【0049】更に、同期引き込み信号5aが論理値1に
なることにより、誤りカウンタ60とクロックカウンタ
70のそれぞれのリセット端子60RST、リセット端
子70RSTに論理値1が入力されると、誤りカウンタ
60とクロックカウンタ70のリセットが解除されてそ
れぞれのカウント動作を行う。特に、以降、クロックカ
ウンタ70は、クロック信号2aのクロックをカウント
することにより、間接的に、誤り測定が行われたビット
数をクロックカウント値70aとしてカウントする。
【0050】時刻t4における、誤り検出回路50のデ
ータ入力端子50IAに入力される被測定信号1aは誤
りビットE2であり、メモリ回路20より誤り検出回路
50のデータ入力端子50IBに入力される基準信号2
0aは正しいビットE1である。このため、誤り検出回
路50は、誤り検出信号50aとして出力端子50OU
Tから誤り検出パルスP2を出力する。この誤り検出パ
ルスP2が、誤り検出信号50aとしてゲート回路51
のデータ入力端子51IAに入力されると、当該誤り検
出信号50aとデータ入力端子51IBに入力されるク
ロック信号2aとのAND演算の結果が、誤り検出パル
ス信号51aとして出力端子51OUTから誤りカウン
タ60のクロック端子60CLKに対して出力される。
当該誤り検出パルス信号51aは、誤り検出信号50a
が論理値1である間は、クロック信号2aと同波形とな
る。
【0051】誤りカウンタ60は、ゲート回路51より
クロック端子60CLKに入力される誤り検出パルス信
号51aにより誤りカウント値60aをカウントアップ
する。
【0052】以降、同様の動作によって、誤りカウンタ
60は、誤りビットのカウントを行う、当該カウントさ
れた誤りカウント値60aをクロックカウント値70a
で除することによって誤り率を計算することが出来る。
【0053】
【発明が解決しようとする課題】この従来のビット誤り
測定回路200は、同期引き込みを1周期の伝送時間で
確実に行い、同期を確立する事ができる。しかしなが
ら、基準信号20aとしてメモリ201内に取り込んだ
データの誤りの検証を行っていないため、当該基準信号
20aのデータ自体に誤りがある場合には正しい誤り測
定ができないという問題があった。
【0054】上述したような問題の例を図9のタイムチ
ャートに示す。図9において、信号を表す符号は、図8
と同一であるため説明を省略する。また、図9におい
て、1aの2周期目以降のビット誤り位置は、図8にお
ける1aの2周期目以降のビット誤り位置と全く同じで
あり、1周期目に誤りビットA1があることが、図6と
異なる点である。
【0055】時刻t3において、メモリ回路20は誤り
ビットA1を基準信号として書き込んでしまったため、
メモリ回路20のデータ入出力端子20Yから誤り検出
回路50に対して出力される基準信号20aは誤りビッ
トA1を繰り返し含んでしまっている。
【0056】時刻t6において、誤り検出回路50のデ
ータ入力端子50IAに入力される被測定信号1aはA
2で正しい信号であるが、データ入力端子50IBに入
力される基準信号20aが誤りビットA1であるため、
誤り検出信号50aとして出力端子50OUTから誤り
検出パルスP3が出力されてしまう。
【0057】逆に時刻t7において、誤り検出回路50
のデータ入力端子50IAに入力される被測定信号1a
は誤りビットA3であるが、データ入力端子50IBに
入力される基準信号20aは誤りビットA1であるた
め、誤り検出回路50はデータ入力端子50IA及びデ
ータ入力端子50IBに入力される2つの信号が同一で
あるため、誤り検出パルスを発生しない。
【0058】このように、基準信号20aとするデータ
自体に誤りがある場合には正しい誤り測定ができず、特
に、周期内の同じ位置で必ず誤りが起こる、というよう
な誤りを検出することが不可能であるため、論理ミスな
どのような測定対象の重大な欠陥を検出することができ
ないという問題があった。
【0059】以上のような問題を解決するため、本発明
の課題は、被測定信号からメモリに書き込んだデータの
誤りの有無を検証し、誤りがあればそれを訂正する手段
を設けたビット誤り測定回路を提供することである。
【0060】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
被測定信号の1周期分のデータを基準信号として記憶す
るメモリ回路と、前記被測定信号の誤りを検出する誤り
検出回路と、この誤り検出回路が検出した誤りビット数
をカウントする誤りカウンタと、を有するビット誤り測
定回路において、前記メモリ回路を外部から制御する制
御信号を入力する複数の端子を設け、前記メモリ回路に
記憶した基準信号を外部で検証し、誤りがあれば該誤り
を前記外部からの制御信号の制御により訂正することを
特徴としている。
【0061】請求項1記載の発明によれば、メモリ回路
は、被測定信号の1周期分のデータを基準信号として記
憶して、該記憶した基準信号を誤り検出回路に対して出
力し、誤り検出回路は、前記メモリ回路より入力された
基準信号と被測定信号を比較して、誤りを検出したとき
は誤り検出信号を誤りカウンタに対して出力し、誤りカ
ウンタは、誤り検出回路より入力された誤り検出信号に
より、ビット誤り数をカウントする。前記メモリ回路を
外部から制御する制御信号を入力する複数の端子から
は、メモリ回路内に記憶した前記基準信号を外部に取り
出す等の制御信号が入力され、メモリ回路外部にて、誤
りビットが基準信号となっているか否か検証される。誤
りビットが基準信号となってしまっていた場合には、該
誤りビットを訂正して正しい基準信号を前記メモリ回路
に記憶し直す。
【0062】したがって、被測定信号1周期分を前記メ
モリ回路に記憶することにより生成した基準信号に誤り
ビットが含まれる場合にも、該誤りビットを訂正するこ
とができ、正確なビット誤り測定を行うことができる。
【0063】請求項2記載の発明は、請求項1記載のビ
ット誤り測定回路において、前記メモリ回路を第1のメ
モリ回路とし、被測定信号から該第1のメモリ回路が記
憶したデータと同一のデータを基準信号として記憶する
第2のメモリ回路と、前記第1のメモリ回路、または、
第2のメモリ回路から出力される基準信号の何れかを選
択し、前記誤り検出回路に対して出力する選択回路と、
を更に備え、前記第1のメモリ回路に記憶された基準信
号を検証、訂正している間、前記選択回路は、前記第2
のメモリ回路に記憶された基準信号を選択して前記誤り
検出回路に対して出力し、当該基準信号を誤り検出に用
いることで、測定と訂正とを同時に行うことを特徴とし
ている。
【0064】請求項2記載の発明によれば、第1のメモ
リ回路は、被測定信号の1周期分のデータを基準信号と
して記憶して、該記憶した基準信号を選択回路に対して
出力し、第2のメモリ回路は、第1のメモリ回路が記憶
したデータと同一のデータを基準信号として記憶し、該
基準信号を選択回路に対して出力し、選択回路は、前記
第1のメモリ回路に記憶された基準信号を検証、訂正し
ている間は、前記第2のメモリ回路より入力される基準
信号を選択して、誤り検出回路に対して出力し、訂正作
業終了後は、訂正され正しい値となった第1のメモリ回
路に記憶された基準信号を選択して、誤り検出回路に対
して出力し、誤り検出回路は、前記メモリ回路より入力
された基準信号と被測定信号を比較して、誤りを検出し
たときは誤り検出信号を誤りカウンタに対して出力し、
誤りカウンタは、誤り検出回路より入力された誤り検出
信号により、ビット誤り数をカウントする。
【0065】したがって、誤り検出作業と、訂正作業
と、を同時進行することができ、効率の良いビット誤り
測定を行うことができる。
【0066】請求項3記載の発明は、請求項2記載のビ
ット誤り測定回路において、前記第1のメモリ回路に記
憶された基準信号を訂正している間、前記第2のメモリ
回路に記憶した基準信号を用いて行った誤り検出の結果
を記憶する第3のメモリ回路と、この第3のメモリ回路
を外部から制御する制御信号を入力する複数の端子と、
基準信号の訂正作業中に誤り測定された被測定信号の周
期数をカウントする周期カウンタと、を更に備え、前記
第3のメモリ回路に記憶されたデータと、前記周期カウ
ンタによってカウントされた周期カウント値と、前記誤
りカウンタによってカウントされた誤りカウント値と、
前記第1のメモリ回路に記憶された基準信号の訂正結果
と、を用いて、前記基準信号の訂正作業中の測定結果の
補正を行うことを特徴としている。
【0067】請求項3記載の発明によれば、第3のメモ
リ回路は、第2のメモリ回路に記憶した基準信号を用い
て行った誤り検出の結果を記憶し、該第3のメモリ回路
を外部から制御する制御信号を入力する複数の端子から
は、該第3のメモリ回路内に記憶された前記誤り検出の
結果を外部に取り出す等の制御信号が入力され、周期カ
ウンタは、請求項2記載の訂正作業と誤り検出作業の同
時進行時の被測定信号の周期数をカウントし、前記第3
のメモリ回路に記憶された結果と、前記誤りカウント値
と、前記周期カウント値と、前記第1のメモリ回路に記
憶された基準信号の訂正結果と、を用いることにより、
前記基準信号データ訂正作業中の測定結果の補正を行
う。
【0068】したがって、誤り検出作業と、訂正作業
と、の同時進行時のビット誤り測定による測定値を、正
確な値に補正することができる。
【0069】
【発明の実施の形態】以下、図1〜図3を参照して本発
明に係るビット誤り測定回路の実施の形態を詳細に説明
する。
【0070】まず、図1を参照して構成を説明する。
【0071】図1は、本発明を適用したビット誤り測定
回路100の回路構成を示すブロック図である。
【0072】図1において、ビット誤り測定回路100
は、メモリ回路20、21、22、アドレスカウンタ3
0、32、スイッチ回路40、80、214、215、
224、225、誤り検出回路50、ゲート回路51、
誤りカウンタ60、クロックカウンタ70及び周期カウ
ンタ90で構成されている。
【0073】また、図1中、1は被測定信号(試験信
号)1aの入力端子、2はクロック信号2aの入力端
子、3はアドレスカウンタ30の最大アドレス値3aの
入力端子、4はアドレスカウンタ制御信号4aの入力端
子、5は同期引き込み信号5aの入力端子、7は訂正通
知信号7aの入力端子、14はメモリ回路21への外部
からの読み書き制御信号14aの入力端子、15はメモ
リ回路21への外部からのアドレス値15aの入力端
子、24はメモリ回路22への外部からの読み書き制御
信号24aの入力端子、25はメモリ回路22への外部
からのアドレス値25aの入力端子である。
【0074】31はアドレスキャリアップ信号30bの
出力端子、61は誤りカウント値60aの出力端子、7
1はクロックカウント値70aの出力端子、91は周期
カウンタ90の周期カウント値90aの出力端子、22
0はメモリ回路22の記憶データ22aの出力端子であ
る。
【0075】210はメモリ回路21の入出力信号であ
る誤り検出基準信号21aの入出力端子である。
【0076】これらの構成要素の中でメモリ回路20、
アドレスカウンタ30、スイッチ回路40、誤り検出回
路50、ゲート回路51、誤りカウンタ60、クロック
カウンタ70は図6に示す従来例における構成要素と共
通である。またメモリ回路20、21,22の構成は、
図7に示す従来例におけるメモリ回路と同様である。
【0077】図1において、アドレスカウンタ30は、
クロック端子30CLK、最大アドレス値入力端子30
AM、リセット端子30RST、キャリアップ信号出力
端子30C及び出力端子30OUTを有しており、端子
2に入力されるクロック信号2aをクロック端子30C
LKの入力とし、端子3に入力される最大アドレス値3
aを最大アドレス値入力端子30AMの入力とし、端子
4に入力されるアドレスカウンタ制御信号4aをリセッ
ト端子30RSTの入力とする。
【0078】リセット端子30RSTに入力されたアド
レスカウンタ制御信号4aが論理値1、すなわち、カウ
ントを指示しているときは、アドレスカウンタ30はク
ロック端子30CLKに入力されるクロック信号2aに
よってカウントアップ動作を行い、カウント値をアドレ
ス値30aとして、出力端子30OUTからメモリ回路
20のアドレス入力端子20A、メモリ回路22のデー
タ入出力端子22X及びスイッチ回路215のデータ入
力端子215Xに対して出力し、当該カウント値が、最
大アドレス値入力端子30AMに入力された最大アドレ
ス値3aで設定された最大アドレス値まで達すると、当
該カウント値をリセットし、アドレスキャリアップ信号
30bとして、パルス信号をキャリアップ信号出力端子
30Cから周期カウンタ90のクロック信号入力端子9
0CLK及び端子31に対して出力した上でカウントを
続ける。
【0079】リセット端子30RSTに入力されたアド
レスカウンタ制御信号4aが論理値0、すなわち、リセ
ットを指示しているときは、アドレスカウンタ30はカ
ウント値をリセットする。
【0080】すなわち、アドレスカウンタ30は、被測
定信号1aの周期と同一の値を最大アドレス値入力端子
30AMに入力されることにより、メモリ回路20のア
ドレスを周期毎に繰り返し指定するはたらきをする。
【0081】スイッチ回路40は、2つのデータ入力端
子40X、40Y、スイッチ切換信号入力端子40SW
及び出力端子40OUTを有しており、端子2に入力さ
れるクロック信号2aをデータ入力端子40Xの入力と
し、論理値1(High信号H)で固定された信号をデ
ータ入力端子40Yの入力とし、端子5に入力される同
期引き込み信号5aをスイッチ切換信号入力端子40S
Wの入力とする。
【0082】スイッチ切換信号入力端子40SWに入力
された同期引き込み信号5aが論理値0のとき、すなわ
ち、同期引き込みが指示されているときは、出力端子4
0OUTは内部でデータ入力端子40Xと接続され、デ
ータ入力端子40Xに入力されたクロック信号2aを読
み書き制御信号40aとして、出力端子40OUTから
メモリ回路20の読み書き制御信号入力端子20RW及
びスイッチ回路214のデータ入力端子214Xに対し
て出力する。
【0083】スイッチ切換信号入力端子40SWに入力
された同期引き込み信号5aが論理値1のとき、すなわ
ち、同期引き込みが指示されていないときは、出力端子
40OUTは内部でデータ入力端子40Yと接続され、
論理値1で固定された信号(High信号H)を読み書
き制御信号40aとして、スイッチ回路40の出力端子
40OUTからメモリ回路20の読み書き制御信号入力
端子20RW及びスイッチ回路214のデータ入力端子
214Xに対して出力する。
【0084】すなわち、スイッチ回路40は、同期引き
込み時にはメモリ回路20及びメモリ回路21に対して
クロック信号2aの立ち上がりのタイミングで書き込み
を指示し、同期引き込み終了後は、メモリ回路20及び
メモリ回路21を読み込みモード固定にする論理値1の
信号(High信号H)を出力する。
【0085】メモリ回路20は、2つのデータ入出力端
子20X、20Y、アドレス入力端子20A、読み書き
制御信号入力端子20RW及びスイッチ切換信号入力端
子20SWを有しており、端子1に入力される被測定信
号1aをデータ入出力端子20Xの入力とし、アドレス
カウンタ30のアドレス出力端子30OUTから出力さ
れるアドレス値30aをアドレス入力端子20Aの入力
とし、スイッチ回路40の出力端子40OUTから出力
される読み書き制御信号40aを読み書き制御信号入力
端子20RWの入力とし、端子5に入力される同期引き
込み信号5aをスイッチ切換信号入力端子20SWの入
力とする。
【0086】スイッチ切換信号入力端子20SWに入力
される同期引き込み信号5aが論理値0のとき、すなわ
ち、同期引き込みが指示されているときは、図7に図示
した、メモリ回路20内部のスイッチ回路202は、コ
モン端子202Zと切換端子202Xを接続し、メモリ
回路20は、データ入出力端子20Xに入力される被測
定信号1aを読み込み、読み書き制御信号40aの立ち
上がりで、読み込んだ該被測定信号1aをアドレス入力
端子20Aに入力されたアドレス値30aが示すアドレ
スに書き込む。
【0087】スイッチ切換信号入力端子20SWに入力
される同期引き込み信号5aが論理値1のとき、すなわ
ち、同期引き込みが指示されていないときは、図7に図
示した、メモリ回路20内部のスイッチ回路202は、
コモン端子202Zと切換端子202Yを接続し、メモ
リ回路20は、アドレス入力端子20Aに入力されたア
ドレス値30aが示すアドレスのデータを読み込んで、
基準信号20aとしてデータ入出力端子20Yから誤り
スイッチ回路80のデータ入力端子80Yに対して出力
する。
【0088】すなわち、メモリ回路20は、同期引き込
み時に被測定信号1aを1周期分メモリに記憶すること
により誤り検出基準信号を生成し、同期引き込み終了
後、訂正作業終了までの間の誤り検出基準信号として、
誤り検出基準信号20aを出力する。
【0089】スイッチ回路214は、2つのデータ入力
端子214X、214Y、スイッチ切換信号入力端子2
14SW及び出力端子214OUTを有しており、スイ
ッチ回路40の出力端子40OUTから出力される読み
書き制御信号40aをデータ入力端子214Xの入力と
し、端子14に入力される読み書き制御信号14aをデ
ータ入力端子214Yの入力とし、端子7に入力される
訂正通知信号7aをスイッチ切換信号入力端子214S
Wの入力とする。
【0090】スイッチ切換信号入力端子214SWに入
力された訂正通知信号7aが論理値0のとき、すなわ
ち、訂正作業が指示されていないときは、出力端子21
4OUTは内部でデータ入力端子214Xと接続され、
データ入力端子214Xに入力された読み書き制御信号
40aを読み書き制御信号214aとして、出力端子2
14OUTからメモリ回路21の読み書き制御信号入力
端子21RWに対して出力する。
【0091】スイッチ切換信号入力端子214SWに入
力された訂正通知信号7aが論理値1のとき、すなわ
ち、訂正作業が指示されているときは、出力端子214
OUTは内部でデータ入力端子214Yと接続され、端
子14に入力されデータ入力端子214Yに入力された
読み書き制御信号14aを読み書き制御信号214aと
して、出力端子214OUTからメモリ回路21の読み
書き制御信号入力端子21RWに対して出力する。
【0092】すなわち、スイッチ回路214は、訂正作
業中は外部からの読み書き制御信号14aをメモリ回路
21に対して出力し、メモリ回路21を外部から制御可
能とし、訂正作業終了後は、スイッチ回路40とメモリ
回路21を接続し、メモリ回路21を読み込みモード固
定にする論理値1の信号(High信号H)を出力す
る。
【0093】スイッチ回路215は、2つのデータ入力
端子215X、215Y、スイッチ切換信号入力端子2
15SW及び出力端子215OUTを有しており、アド
レスカウンタ30の出力端子30OUTから出力される
アドレス値30aをデータ入力端子215Xの入力と
し、端子15に入力されるアドレス値15aをデータ入
力端子215Yの入力とし、端子7に入力される訂正通
知信号7aをスイッチ切換信号入力端子215SWの入
力とする。
【0094】スイッチ切換信号入力端子215SWに入
力された訂正通知信号7aが論理値0のとき、すなわ
ち、訂正作業が指示されていないときは、出力端子21
5OUTは内部でデータ入力端子215Xと接続され、
データ入力端子215Xに入力されたアドレス値30a
をアドレス値215aとして、出力端子215OUTか
らメモリ回路21のアドレス入力端子21Aに対して出
力する。
【0095】スイッチ切換信号入力端子215SWに入
力された訂正通知信号7aが論理値1のとき、すなわ
ち、訂正作業が指示されているときは、出力端子215
OUTは内部でデータ入力端子215Yと接続され、端
子15に入力されデータ入力端子215Yに入力された
アドレス値15aをアドレス値215aとして、出力端
子215OUTからメモリ回路21のアドレス入力端子
21Aに対して出力する。
【0096】すなわち、スイッチ回路215は、訂正作
業中は外部からのアドレス値15aをメモリ回路21に
対して出力し、メモリ回路21を外部から制御可能と
し、訂正作業終了後は、アドレスカウンタ30とメモリ
回路21を接続し、メモリ回路21のアドレスを周期毎
に繰り返し指定するはたらきをする。
【0097】メモリ回路21は、2つのデータ入出力端
子21X、21Y、アドレス入力端子21A、読み書き
制御信号入力端子21RW及びスイッチ切換信号入力端
子21SWを有しており、端子1に入力される被測定信
号1aをデータ入出力端子21Xの入力とし、スイッチ
回路215の出力端子215OUTから出力されるアド
レス値215aをアドレス入力端子21Aの入力とし、
スイッチ回路214の出力端子214OUTから出力さ
れる読み書き制御信号214aを読み書き制御信号入力
端子21RWの入力とし、端子5に入力される同期引き
込み信号5aをスイッチ切換信号入力端子21SWの入
力とする。
【0098】スイッチ切換信号入力端子21SWに入力
される同期引き込み信号5aが論理値0のとき、すなわ
ち、同期引き込みが指示されているときは、図7に図示
した、メモリ回路21内部のスイッチ回路202は、コ
モン端子202Zと切換端子202Xを接続し、データ
入出力端子21Yに入力される被測定信号1aを読み込
み、読み書き制御信号214aの立ち上がりで読み込ん
だ該被測定信号1aをアドレス入力端子21Aに入力さ
れたアドレス値215aが示すアドレスに書き込む。
【0099】スイッチ切換信号入力端子21SWに入力
される同期引き込み信号5aが論理値1のとき、すなわ
ち、同期引き込みが指示されていないときは、図7に図
示した、メモリ回路21内部のスイッチ回路202は、
コモン端子202Zと切換端子202Yを接続し、アド
レス入力端子21Aに入力されたアドレス値215aが
示すアドレスのデータを誤り検出基準信号21aとして
データ入出力端子21Yから誤りスイッチ回路80のデ
ータ入力端子80X及び端子210に対して出力する。
あるいは、端子210に入力され、データ入出力端子2
1Yに入力される訂正された誤り検出基準信号21aを
読み込み、読み書き制御信号214aの立ち上がりで、
読み込んだ該誤り検出基準信号21aをアドレス入力端
子21Aに入力されたアドレス値215aが示すアドレ
スに書き込む。
【0100】すなわち、メモリ回路21は、同期引き込
み時に被測定信号1aを1周期分メモリに記憶すること
により誤り検出基準信号を生成し、同期引き込み終了
後、訂正作業終了までの間は、外部から制御されること
によって、メモリに記憶した誤り検出基準信号を訂正さ
れメモリに新たに記憶し、訂正作業終了後は、誤り検出
基準信号として、誤り検出基準信号21aを出力する。
【0101】スイッチ回路80は、2つのデータ入力端
子80X、80Y、スイッチ切換信号入力端子80SW
及び出力端子80OUTを有しており、メモリ回路21
のデータ入出力端子21Yから出力される誤り検出基準
信号21aをデータ入力端子80Xの入力とし、メモリ
回路20のデータ入出力端子20Yから出力される誤り
検出基準信号20aをデータ入力端子80Yの入力と
し、端子7に入力される訂正通知信号7aをスイッチ切
換信号入力端子80SWの入力とする。
【0102】スイッチ切換信号入力端子80SWに入力
された訂正通知信号7aが論理値0のとき、すなわち、
訂正作業が指示されていないときは、出力端子80OU
Tは内部でデータ入力端子80Xと接続され、データ入
力端子80Xに入力された誤り検出基準信号21aを基
準信号80aとして、出力端子80OUTから誤り検出
回路50のデータ入力端子50IBに対して出力する。
【0103】スイッチ切換信号入力端子80SWに入力
された訂正通知信号7aが論理値1のとき、すなわち、
訂正作業が指示されているときは、出力端子80OUT
は内部でデータ入力端子80Yと接続され、データ入力
端子80Yに入力された誤り検出基準信号20aを基準
信号80aとして、出力端子80OUTから誤り検出回
路50のデータ入力端子50IBに対して出力する。
【0104】すなわち、スイッチ回路80は、訂正作業
中はメモリ回路20から出力される誤り検出基準信号2
0aを基準信号として出力し、訂正作業終了後はメモリ
回路21から出力される誤り検出基準信号21aを基準
信号をして出力する。
【0105】誤り検出回路50は、2つのデータ入力端
子50IA、50IB及び出力端子50OUTを有して
おり、端子1に入力される被測定信号1aをデータ入力
端子50IAの入力とし、スイッチ回路80の出力端子
80OUTから出力される基準信号80aをデータ入力
端子50IBの入力とする。
【0106】すなわち、誤り検出回路50は、データ入
力端子50IAに入力された被測定信号1aと、データ
入力端子50IBに入力された基準信号80aを比較
し、異なるビット値を検出したとき、すなわちビット誤
りを検出したときは、誤り検出信号50aとして論理値
1を出力端子50OUTからゲート回路51のデータ入
力端子51IAに対して出力し、同じビット値を検出し
たとき、すなわちビット誤りを検出しないときは、誤り
検出信号50aとして論理値0を出力端子50OUTか
らゲート回路51のデータ入力端子51IAに対して出
力する。ただし、この誤り検出信号50aは、誤りビッ
トが2ビット以上続いた場合においても誤りビット数分
のパルスを発生するものではない。
【0107】ゲート回路51は、データ入力端子51I
A、データ入力端子51IB及び出力端子51OUTを
有しており、誤り検出回路50の出力端子50OUTか
ら出力される誤り検出信号50aをデータ入力端子51
IAの入力とし、端子2に入力されるクロック信号2a
をデータ入力端子51IBの入力とし、データ入力端子
51IAに入力される誤り検出信号50aと、データ入
力端子51IBに入力されるクロック信号2aを2つの
入力とするAND演算の結果を、誤り検出パルス信号5
1aとして出力端子51OUTから誤りカウンタ60の
クロック端子60CLK、アドレスカウンタ32のクロ
ック端子32CLK及びスイッチ回路224のデータ入
力端子224Yに対して出力する。
【0108】すなわち、ゲート回路51は、誤り検出信
号50aが論理値1である間は、クロック信号2aと同
波形となる誤り検出パルス信号51aを出力し、誤りビ
ットが2ビット以上続いた場合においても誤りビット数
に応じた数のパルスを発生する。
【0109】誤りカウンタ60は、クロック端子60C
LK、リセット端子60RST及び出力端子60OUT
を有しており、ゲート回路51の出力端子51OUTか
ら出力される誤り検出パルス信号51aをクロック端子
60CLKの入力とし、端子5に入力される同期引き込
み信号5aをリセット端子60RSTの入力とする。
【0110】リセット端子60RSTに入力される同期
引き込み信号5aが論理値0のとき、すなわち、同期引
き込みが指示されているときは、誤りカウンタ60はカ
ウント値をリセットする。
【0111】リセット端子60RSTに入力される同期
引き込み信号5aが論理値1のとき、すなわち、同期引
き込みが指示されていないときは、誤りカウンタ60は
クロック端子60CLKに入力される誤り検出パルス信
号51aによってカウントアップ動作を行い、カウント
値を誤りカウント値60aとして出力端子60OUTか
ら端子61に対して出力し、ビット誤り測定回路外部に
出力する。
【0112】すなわち、誤りカウンタ60は、同期引き
込み終了後の誤りビット数をカウントする。
【0113】クロックカウンタ70は、クロック端子7
0CLK、リセット端子70RST及び出力端子70O
UTを有しており、端子2に入力されるクロック信号2
aをクロック端子70CLKの入力とし、端子5に入力
される同期引き込み信号5aをリセット端子70RST
の入力とする。
【0114】リセット端子70RSTに入力される同期
引き込み信号5aが論理値0のとき、すなわち、同期引
き込みが指示されているときは、クロックカウンタ70
はカウント値をリセットする。
【0115】リセット端子70RSTに入力される同期
引き込み信号5aが論理値1のとき、すなわち、同期引
き込みが指示されていないときは、クロックカウンタ7
0はクロック端子70CLKに入力されるクロック信号
2aによってカウントアップ動作を行い、カウント値を
クロックカウント値70aとして出力端子70OUTか
ら端子71に対して出力し、ビット誤り測定回路外部に
出力する。
【0116】すなわち、クロックカウンタ70は、同期
引き込み終了後のビット誤り測定をされたビット数をカ
ウントする。後述する補正された誤りビット数をこの値
で除することにより、誤り率を計算することが出来る。
【0117】アドレスカウンタ32は、クロック端子3
2CLK、リセット端子32RST及び出力端子32O
UTを有しており、ゲート回路51の出力端子51OU
Tから出力される誤り検出パルス信号51aをクロック
端子32CLKの入力とし、端子7に入力される訂正通
知信号7aをリセット端子32RSTの入力とする。
【0118】リセット端子32RSTに入力された訂正
通知信号7aが論理値1、すなわち、訂正作業中である
ことを示しているときは、アドレスカウンタ32はクロ
ック端子32CLKに入力される誤り検出パルス信号5
1aによってカウントアップ動作を行い、カウント値を
アドレス値32aとしてスイッチ回路225のデータ入
力端子225Yに対して出力する。
【0119】リセット端子32RSTに入力された訂正
通知信号7aが論理値0、すなわち、訂正作業が行われ
ていないことを示しているときは、アドレスカウンタ3
2はカウント値をリセットする。
【0120】すなわち、アドレスカウンタ32は、ビッ
ト誤りが検出される毎にメモリ回路22のアドレス値を
カウントアップし、メモリ回路22の書き込み時のアド
レス指定を行う。
【0121】スイッチ回路224は、2つのデータ入力
端子224X、224Y、スイッチ切換信号入力端子2
24SW及び出力端子224OUTを有しており、端子
24に入力される読み書き制御信号24aをデータ入力
端子224Xの入力とし、ゲート回路51の出力端子5
1OUTから出力される誤り検出パルス信号51aをデ
ータ入力端子224Yの入力とし、端子7に入力される
訂正通知信号7aをスイッチ切換信号入力端子224S
Wの入力とする。
【0122】スイッチ切換信号入力端子224SWに入
力された訂正通知信号7aが論理値0のとき、すなわ
ち、訂正作業が指示されていないときは、出力端子22
4OUTは内部でデータ入力端子224Xと接続され、
端子24に入力されデータ入力端子224Xに入力され
た読み書き制御信号24aを読み書き制御信号224a
として、出力端子224OUTからメモリ回路22の読
み書き制御信号入力端子22RWに対して出力する。
【0123】スイッチ切換信号入力端子224SWに入
力された訂正通知信号7aが論理値1のとき、すなわ
ち、訂正作業が指示されているときは、出力端子224
OUTは内部でデータ入力端子224Yと接続され、デ
ータ入力端子224Yに入力された誤り検出パルス信号
51aを読み書き制御信号224aとして、出力端子2
24OUTからメモリ回路22の読み書き制御信号入力
端子22RWに対して出力する。
【0124】すなわち、スイッチ回路224は、訂正作
業中は誤り検出パルス信号51aをメモリ回路22に出
力することにより、メモリ回路22の書き込み制御を行
い、訂正作業終了後は、端子24からの読み書き制御信
号24aをメモリ回路22に出力することにより、メモ
リ回路22を外部から制御可能とする。
【0125】スイッチ回路225は、2つのデータ入力
端子225X、225Y、スイッチ切換信号入力端子2
25SW及び出力端子225OUTを有しており、端子
25に入力されるアドレス値25aをデータ入力端子2
25Xの入力とし、アドレスカウンタ32の出力端子3
2OUTから出力されるアドレス値32aをデータ入力
端子225Yの入力とし、端子7に入力される訂正通知
信号7aをスイッチ切換信号入力端子225SWの入力
とする。
【0126】スイッチ切換信号入力端子225SWに入
力された訂正通知信号7aが論理値0のとき、すなわ
ち、訂正作業が指示されていないときは、出力端子22
5OUTは内部でデータ入力端子225Xと接続され、
端子25に入力されデータ入力端子225Xに入力され
たアドレス値25aをアドレス値225aとして、出力
端子225OUTからメモリ回路22のアドレス入力端
子22Aに対して出力する。
【0127】スイッチ切換信号入力端子225SWに入
力された訂正通知信号7aが論理値1のとき、すなわ
ち、訂正作業が指示されているときは、出力端子225
OUTは内部でデータ入力端子225Yと接続され、デ
ータ入力端子225Yに入力されたアドレス値32aを
アドレス値225aとして、出力端子225OUTから
メモリ回路22のアドレス入力端子22Aに対して出力
する。
【0128】すなわち、スイッチ回路225は、訂正作
業中はアドレスカウンタ32とメモリ回路22を接続す
ることにより、メモリ回路22のアドレス指定を行い、
訂正作業終了後は、端子25からのアドレス値25aを
メモリ回路22に出力することにより、メモリ回路22
を外部から制御可能とする。
【0129】メモリ回路22は、2つのデータ入出力端
子22X、22Y、アドレス入力端子22A、読み書き
制御信号入力端子22RW及びスイッチ切換信号入力端
子22SWを有しており、アドレスカウンタ30の出力
端子30OUTから出力されるアドレス値30aをデー
タ入出力端子22Xの入力とし、スイッチ回路225の
出力端子225OUTから出力されるアドレス値225
aをアドレス入力端子22Aの入力とし、スイッチ回路
224の出力端子224OUTから出力される読み書き
制御信号224aを読み書き制御信号入力端子22RW
の入力とし、端子7に入力される訂正通知信号7aをス
イッチ切換信号入力端子22SWの入力とする。
【0130】スイッチ切換信号入力端子22SWに入力
される訂正通知信号7aが論理値0のとき、すなわち、
訂正作業が指示されていないときは、図7に図示した、
メモリ回路22内部のスイッチ回路202は、コモン端
子202Zと切換端子202Yを接続し、アドレス入力
端子22Aに入力されたアドレス値225aが示すアド
レスのデータを記憶データ22aとしてデータ入出力端
子22Yから端子220に対して出力し、ビット誤り測
定回路外部に出力する。
【0131】スイッチ切換信号入力端子22SWに入力
される訂正通知信号7aが論理値1のとき、すなわち、
訂正作業が指示されているときは、図7に図示した、メ
モリ回路22内部のスイッチ回路202は、コモン端子
202Zと切換端子202Xを接続し、データ入出力端
子22Xに入力されるアドレス値30aを読み込み、読
み書き制御信号224aの立ち上がりで読み込んだ該ア
ドレス値30aをアドレス入力端子22Aに入力された
アドレス値225aが示すアドレスに書き込む。
【0132】すなわち、メモリ回路22は、訂正作業中
は、誤りビットを検出した際に当該誤りビットのメモリ
回路20におけるアドレスを記憶し、訂正作業終了後
は、外部から制御されることにより、メモリに記憶され
た誤りビットのアドレスを外部に出力し、誤りビットカ
ウント値の補正に関する情報を提供する。
【0133】周期カウンタ90は、クロック端子90C
LK、リセット端子90RST及び出力端子90OUT
を有しており、アドレスカウンタ30のキャリアップ信
号出力端子30Cから出力されるアドレスキャリアップ
信号30bをクロック端子90CLKの入力とし、端子
7に入力される訂正通知信号7aをリセット端子90R
STの入力とする。
【0134】リセット端子90RSTに入力される訂正
通知信号7aが論理値0のとき、すなわち、訂正作業が
指示されていないときは、クロックカウンタ90はカウ
ント値をリセットする。
【0135】リセット端子90RSTに入力される訂正
通知信号7aが論理値1のとき、すなわち、訂正作業が
指示されているときは、クロックカウンタ90はクロッ
ク端子90CLKに入力されるアドレスキャリアップ信
号30bによってカウントアップ動作を行い、カウント
値を周期カウント値90aとして出力端子90OUTか
ら端子91に対して出力し、ビット誤り測定回路外部に
出力する。
【0136】すなわち、周波数カウンタ90は、訂正作
業中のビット誤り検証された被測定信号1aの周期数を
カウントし、訂正作業後の誤り数カウント値補正のため
の情報を提供する。
【0137】次に、図2及び図3に示すタイムチャート
を参照して、図1に示したビット誤り測定回路100の
動作を説明する。
【0138】図2及び図3は、同じ時系列のタイムチャ
ートであるが、紙面の関係上分割してある。
【0139】図2及び図3において、2aは、クロック
信号を示す波形図である。1aは被測定信号を示す波形
図で、1周期の長さが6ビットの場合を例にとって説明
している。各ビットにA〜Fの符号と周期番号を付けて
いる。例えば1周期目はD1、E1、F1、A1、B
1、C1となり、2周期目はD2、E2、F2、A2、
B2、C2・・・のようになる。なお、図2及び図3で
いう周期とは、メモリ回路20及びメモリ回路21が書
き込みを開始したビットから書き込みを終了するビット
までを指し、必ずしも送信側で設定したパターンの開始
と終了とは一致しない。また図2及び図3中において符
号の上のバーは誤りビットであることを示す。例えばA
3は符号の上にバーがついているので、このビットは誤
りビットである。
【0140】図2において、4aは、アドレスカウンタ
制御信号を示す波形図である。図2では、アドレスカウ
ンタ制御信号4aが論理値0のときアドレスカウンタ3
0をリセットするとしている。30aは、アドレスカウ
ンタ30が出力するアドレス値を示す波形図である。5
aは、同期引き込み信号を示す波形図である。図2で
は、同期引き込み信号5aが論理値0のとき同期引き込
みを指示するとしている。40aは、メモリ回路20の
読み書き制御信号を示す波形図、20aは、メモリ回路
20が出力する誤り検出基準信号を示す波形図である。
7aは、訂正通知信号を示す波形図である。図2では、
誤り検出基準信号の訂正作業中であることを論理値1で
示すとしている。215aは、メモリ回路21に入力さ
れるアドレス値を示す波形図、214aは、メモリ回路
21に入力される読み書き制御信号を示す波形図、21
aは、メモリ回路21が入出力する誤り検出基準信号を
示す波形図、60aは、誤りカウント値を示す波形図、
70aは、クロックカウント値を示す波形図である。
【0141】なお、アドレスカウンタ30の最大アドレ
ス値3aは図示しないが、ここでは、全ての時間におい
て一定値3a=6に固定されているとする。
【0142】また、読み書き制御信号14a、読み書き
制御信号24a及びアドレス値25aについても図示し
ていないが、図2及び図3に示した時間においては、読
み書き制御信号14aは論理値1に、読み書き制御信号
24a及びアドレス値25aは論理値0にそれぞれ固定
されているとする。
【0143】図3において、30bは、アドレスカウン
タ30が出力するアドレスキャリアップ信号を示す波形
図であり、アドレスカウンタ30がキャリアップすると
きを除き、論理値0を保持している。15aは、外部か
ら指定されるメモリ回路21のアドレス値を示す波形
図、80aは、スイッチ回路80が出力する基準信号を
示す波形図、50aは、誤り検出信号を示す波形図であ
る。51aは、誤り検出パルス信号を示す波形図、90
aは、周期カウンタ90が出力する周期カウント値を示
す波形図、32aは、アドレスカウンタ32が出力する
アドレス値を示す波形図、225aは、メモリ回路22
に入力されるアドレス値を示す波形図である。224a
は、メモリ回路22に入力される読み書き制御信号を示
す波形図であり、読み書き制御信号224aを示す波形
図中のパルス信号の下に示されるかっこ内の数字は、メ
モリ回路22に書き込んだアドレス値30aの値を示
す。
【0144】なお波形図中の記号×は、値が不問である
ことを示す。
【0145】時刻t1において、クロック信号2aの立
ち上がりと同時に、外部から端子4に入力されるアドレ
スカウンタ制御信号4aを論理値1から0にすることに
よりアドレスカウンタ30のリセット端子30RSTに
論理値0が入力されると、アドレスカウンタ30のアド
レス値30aがリセットされる。このアドレスカウンタ
制御信号4aによるリセット指示と同時に、外部から端
子5に入力される同期引き込み信号5aを論理値1から
0にする、すなわち、被測定信号1aの同期引き込みを
行う指示を出す。
【0146】同期引き込み信号5aが論理値0になるこ
とにより、 スイッチ回路40のスイッチ切換信号入力端子40
SWに論理値0が入力されると、スイッチ回路40の出
力端子40OUTは内部でデータ入力端子40Xと接続
され、データ入力端子40Xに入力されたクロック信号
2aを出力端子40OUTから読み書き制御信号40a
としてメモリ回路20の読み書き制御信号入力端子20
RW及びスイッチ回路214のデータ入力端子214X
に対して出力する。
【0147】 メモリ回路20のスイッチ切換信号入
力端子20SWに論理値0が入力されると、メモリ回路
20内部のスイッチ回路202は、切換端子202Xと
コモン端子202Zを接続し、データ入出力端子20X
に入力される被測定信号1aをメモリ201のデータ入
出力端子201Dの入力とする。データ入出力端子20
Yはオープンの状態なのでデータ入出力端子20Yから
の出力はなく、誤り検出基準信号20aは論理値0であ
る。
【0148】 メモリ回路21のスイッチ切換信号入
力端子21SWに論理値0が入力されると、メモリ回路
21内部のスイッチ回路202は、切換端子202Xと
コモン端子202Zを接続し、データ入出力端子21X
に入力される被測定信号1aをメモリ201のデータ入
出力端子201Dの入力とする。データ入出力端子21
Yはオープンの状態なのでデータ入出力端子21Yから
の出力はなく、誤り検出基準信号21aは論理値0であ
る。
【0149】 誤りカウンタ60とクロックカウンタ
70のそれぞれのリセット端子60RST、リセット端
子70RSTに論理値0が入力されると、それまでのカ
ウント値、誤りカウント値60a及びクロックカウント
値70aはリセットされ、カウントアップ動作を停止す
る。
【0150】また、外部から端子7に入力される訂正通
知信号7aは論理値0、すなわち、訂正作業は行われて
いないので、 スイッチ回路214のスイッチ切換信号入力端子2
14SWに論理値0が入力されると、スイッチ回路21
4の出力端子214OUTは内部でデータ入力端子21
4Xと接続され、データ入力端子214Xに入力された
読み書き制御信号40aを出力端子214OUTから読
み書き制御信号214aとしてメモリ回路21の読み書
き制御信号入力端子21RWに対して出力する。同様に
して、スイッチ回路215は、データ入力端子215X
より入力されたアドレス値30aを出力端子215OU
Tからアドレス値215aとしてメモリ回路21のアド
レス入力端子21Aに対して出力する。
【0151】 スイッチ回路80は、スイッチ切換信
号入力端子80SWに論理値0が入力されると、出力端
子80OUTとデータ入力端子80Xを内部で接続する
状態になるが、前記の通りメモリ回路21のデータ入出
力端子21Yから出力される基準信号21aは論理値0
であるので、スイッチ回路80の出力端子80OUTか
ら出力される基準信号80aは、論理値0である。
【0152】 スイッチ回路224及びスイッチ回路
225もスイッチ回路80と同様に、スイッチ回路22
4のデータ入力端子224Xに入力される読み書き制御
信号24a及びスイッチ回路225のデータ入力端子2
25Xに入力されるアドレス値25aは、外部から論理
値0として入力されており、スイッチ回路224の出力
端子224OUTからメモリ回路22の読み書き制御信
号入力端子22RWに対して出力される読み書き制御信
号224a、及び、スイッチ回路225の出力端子22
5OUTからメモリ回路22のアドレス入力端子22A
に対して出力されるアドレス値225aはともに論理値
0である。
【0153】 アドレスカウンタ32と周期カウンタ
90のそれぞれのリセット端子32RST、リセット端
子90RSTに論理値0が入力されると、それまでのカ
ウント値、アドレス値32a及び周期カウント値90a
はリセットされ、カウントアップ動作を停止する。
【0154】ここで、誤り検出回路50は、同期引き込
みが行われている間データ入力端子50IBに入力され
る基準信号80aが論理値0であることから、データ入
力端子50IAに入力される被測定信号1aとの比較の
結果により、誤り検出信号50aを論理値1(誤りビッ
トを検出したときの値)として出力し、誤り検出パルス
信号51aがクロック信号2aと同じ波形となり、誤り
を検出したことを示してしまう場合もあるが、このと
き、誤りカウンタ60はリセットが掛かっており非動作
中なので、ビット誤り測定回路としての動作には影響し
ない。また、端子15に入力されるアドレス値15a
は、論理値0となっている。
【0155】時刻t2において、クロック信号2aの立
ち上がりと同時にアドレスカウンタ制御信号4aを論理
値0から1にすることにより、アドレスカウンタ30の
リセット端子30RSTに論理値1が入力され、アドレ
スカウンタ30のリセットが解除されると、アドレスカ
ウンタ30はクロック端子30CLKに入力されるクロ
ック信号2aによってカウントアップ動作を行い、カウ
ントしたアドレス値30aを出力端子30OUTからメ
モリ回路20のアドレス入力端子20A、スイッチ回路
215のデータ入力端子215X及びメモリ回路22の
データ入出力端子22Xに対して出力する。
【0156】メモリ回路20の読み書き制御信号入力端
子20RWに入力される時刻t2における読み書き制御
信号40a(=2a)の立ち上がりにより、メモリ回路
20は、データ入出力端子20Xに入力される被測定信
号1aのその時刻t2におけるデータD1を、アドレス
カウンタ30よりアドレス入力端子20Aに入力される
アドレス値30aが示すメモリ201内のアドレス1に
書き込む。
【0157】以降、アドレスカウンタ30のカウントす
るアドレス値30aが、最大アドレス値3a(=6)に
達し、アドレスカウンタ30がキャリアップし、キャリ
アップ信号出力端子30Cから出力されるキャリアップ
信号30bが論理値0から1になるキャリアップパルス
を発生するまで、同様にして被測定信号1aから1周期
(6ビット)分のデータ、E1、F1、誤りビットA
1,B1、C1を読み込み、メモリ回路20内のメモリ
201に書き込みを行う。
【0158】メモリ回路21の読み書き制御信号入力端
子21RWに入力される時刻t2における読み書き制御
信号214a(40a=2a)の立ち上がりにより、メ
モリ回路21は、データ入出力端子21Xに入力される
被測定信号1aのその時刻t2におけるデータD1を、
スイッチ回路215よりアドレス入力端子21Aに入力
されるアドレス値215aが示すメモリ201内のアド
レス1に書き込む。このとき、時刻t1における動作の
所で述べたとおり、読み書き制御信号214a、アドレ
ス値215aの実体は、それぞれ読み書き制御信号40
a、アドレス値30aであるので、時刻t2においてメ
モリ回路21は、実質的にはメモリ回路20と同じ動作
をしている。
【0159】以降メモリ回路20と同様に、アドレスカ
ウンタ30のカウントするアドレス値30aが、最大ア
ドレス値3a(=6)に達し、アドレスカウンタ30が
キャリアップし、キャリアップ信号出力端子30Cから
出力されるキャリアップ信号30bが論理値0から1に
なるキャリアップパルスを発生するまで、同様にして被
測定信号1aから1周期(6ビット)分のデータ、E
1、F1、誤りビットA1、B1、C1を読み込み、メ
モリ回路21内のメモリ201に書き込みを行う。
【0160】時刻t4において、アドレスカウンタ30
は、最大アドレス値3aが指定するアドレス値(=6)
までアドレス値30aをカウントしたことで、アドレス
キャリアップ信号30bとしてキャリアップ信号出力端
子30CからアドレスキャリアップパルスP1を出力す
る。アドレスキャリアップパルスP1の立ち上がりと同
時に同期引き込み信号5a及び訂正通知信号7aを論理
値1にする。すなわち、同期引き込みの終了及び訂正作
業の開始を指示する。
【0161】同期引き込み信号5aが論理値1になるこ
とにより、 スイッチ回路40のスイッチ切換信号入
力端子40SWに論理値1が入力されると、スイッチ回
路40の出力端子40OUTは内部でデータ入力端子4
0Yと接続され、データ入力端子40Yより入力された
論理値1の信号(High信号H)を出力端子40OU
Tから読み書き制御信号40aとしてメモリ回路20の
読み書き制御信号入力端子20RW及びスイッチ回路2
14のデータ入力端子214Xに対して出力する。この
読み書き制御信号入力端子20RWの入力が論理値1で
固定されていることにより、メモリ回路20は、内部の
メモリ201に記憶されたデータを読み出すモードに固
定される。
【0162】 メモリ回路20のスイッチ切換信号入
力端子20SWに論理値1が入力されると、メモリ回路
20内部のスイッチ回路202は、切換端子202Yと
コモン端子202Zを接続し、メモリ回路20は、その
時刻t4にアドレスカウンタ30よりアドレス入力端子
20Aに入力されるアドレス値30aが示す、メモリ2
01内のアドレス1に書き込まれたデータD1を読み出
して、データ入出力端子20Yから20aとして出力す
る。以降同様にして、メモリ回路20は内部のメモリ2
01に書き込まれたデータの読み出しを行う。図2では
時刻t2から時刻t4までにメモリ回路20内部のメモ
リ201に、D1、E1、F1、誤りビットA1、B
1、C1を書き込んでおり、このデータを周期毎に繰り
返し読み出す。メモリ回路21も同様に、データ入出力
端子21Yからデータを出力するが、詳細については後
述する。
【0163】 誤りカウンタ60とクロックカウンタ
70のそれぞれのリセット端子60RST、リセット端
子70RSTに論理値1が入力されると、誤りカウンタ
60とクロックカウンタ70のリセットが解除されてそ
れぞれのカウントアップ動作を開始する。
【0164】また、訂正通知信号7aが論理値1になる
ことにより、 スイッチ回路80のスイッチ切換信号入力端子80
SWに論理値1が入力されると、スイッチ回路80の出
力端子80OUTは内部でデータ入力端子80Yと接続
され、メモリ回路20のデータ入出力端子20Yよりデ
ータ入力端子80Yに入力された誤り検出基準信号20
a(=D1)を出力端子80OUTから基準信号80a
として誤り検出回路50のデータ入力端子50IBに対
して出力する。
【0165】 スイッチ回路214のスイッチ切換信
号入力端子214SWに論理値1が入力されると、スイ
ッチ回路214の出力端子214OUTは内部でデータ
入力端子214Yと接続され、端子14に入力されデー
タ入力端子214Yに入力された読み書き制御信号14
a(論理値1で固定)を出力端子214OUTから読み
書き制御信号214aとしてメモリ回路21の読み書き
制御信号入力端子21RWに対して出力する。同様にし
て、スイッチ回路215は、端子15に入力されると、
データ入力端子215Yに入力されたアドレス値15a
(=1)を出力端子215OUTからアドレス値215
aとしてメモリ回路21のアドレス入力端子21Aに対
して出力する。よってメモリ回路21は、外部から入力
される読み書き制御信号14aとアドレス値15aによ
り制御可能になる。読み書き制御信号14aは論理値1
で固定されているのでメモリ回路21は、読み出しモー
ド固定となる。図2では時刻t2から時刻t4までにメ
モリ回路20内部のメモリ201に、D1、E1、F
1、誤りビットA1、B1、C1を書き込んでおりアド
レス値15aが示すアドレスに対応したデータ、D1、
E1、F1、誤りビットA1、B1、C1がデータ入出
力端子21Yから誤り検出基準信号21aとして端子2
10に対して出力される。端子210に対して出力され
た誤り検出基準信号21aは、端子210から外部へ出
力され、外部にてビット誤りの検証、訂正が行われる。
【0166】 アドレスカウンタ32と周期カウンタ
90のそれぞれのリセット端子32RST、リセット端
子90RSTに論理値1が入力されると、アドレスカウ
ンタ32と周期カウンタ90のリセットが解除されてそ
れぞれのカウントアップ動作を開始する。すなわち、ア
ドレスカウンタ32は、誤りビットを検出した時に当該
誤りビットのメモリ回路20上のアドレスを記憶するメ
モリ回路22に、順次記憶するアドレス値を与えるため
に、実質的には誤りビット数をカウントしている。ま
た、周期カウンタ90は、訂正作業が行われている間の
被測定信号1aの周期数をカウントする。
【0167】 スイッチ回路224のスイッチ切換信
号入力端子224SWに論理値1が入力されると、スイ
ッチ回路224の出力端子224OUTは内部でデータ
入力端子224Yと接続され、データ入力端子224Y
に入力された誤り検出パルス信号51aを出力端子22
4OUTから読み書き制御信号224aとしてメモリ回
路22の読み書き制御信号入力端子22RWに対して出
力する。同様にして、スイッチ回路225は、データ入
力端子225Yに入力されたアドレス値32aを出力端
子225OUTからアドレス値225aとしてメモリ回
路22のアドレス入力端子22Aに対して出力する。
【0168】時刻t5において、誤り検出回路50のデ
ータ入力端子50IAに入力される被測定信号1aは誤
りビットE2であり、スイッチ回路80より誤り検出回
路50のデータ入力端子50IBに入力される基準信号
80a(=20a)は正しいビットE1である。このた
め、誤り検出回路50は、誤り検出信号50aとして出
力端子50OUTから誤り検出パルスP2を出力する。
この誤り検出パルスP2が、誤り検出信号50aとして
ゲート回路51のデータ入力端子51IAに入力される
と、当該誤り検出信号50aとデータ入力端子51IB
に入力されるクロック信号2aとのAND演算の結果
が、誤り検出パルス信号51aとして出力端子51OU
Tから誤りカウンタ60のクロック端子60CLK、ア
ドレスカウンタ32のクロック端子32CLK及びスイ
ッチ回路224のデータ入力端子224Yに対して出力
される。当該誤り検出パルス信号51aは、誤り検出信
号50aが論理値1である間は、クロック信号2aと同
波形となる。したがって、誤りビットが2ビット以上続
いた場合において、誤り検出信号50aは、1つのパル
スとして発生してしまうが、誤り検出パルス信号51a
は、誤りビット数に応じた数のパルスを発生する。
【0169】誤りカウンタ60は、ゲート回路51の出
力端子51OUTよりクロック端子60CLKに入力さ
れる誤り検出パルス信号51aにより誤りカウント値6
0aをカウントアップする。同様にアドレスカウンタ3
2は、ゲート回路51よりクロック端子32CLKに入
力される誤り検出パルス信号51aによりアドレス値3
2aをカウントアップする。
【0170】メモリ回路22は、誤り位置データとして
アドレスカウンタ30の出力端子30OUTからデータ
入出力端子22Xに入力されたアドレス値30a(=
2)を、読み書き制御信号入力端子22RWに入力され
る読み書き制御信号224a(=51a)の立ち上がり
によりアドレス入力端子22Aに入力されるアドレス値
225a(=32a)が示す内部のメモリ201のアド
レスに書き込む。
【0171】すなわち、メモリ回路22は、1番目の誤
りビットのメモリ回路20上でのアドレスをメモリ回路
22のアドレス1に記憶し、2番目の誤りビットのメモ
リ回路20上でのアドレスをメモリ回路22のアドレス
2に記憶し、以降同様にして、n番目の誤りビットのメ
モリ回路20上でのアドレスをメモリ回路22のアドレ
スnに記憶する。
【0172】時刻t6において、アドレスカウンタ30
は、最大アドレス値3aが指定するアドレス値(=6)
までアドレス値30aをカウントしたことで、アドレス
キャリアップ信号30bとしてキャリアップ信号出力端
子30CからアドレスキャリアップパルスP3を出力す
る。アドレスキャリアップパルスP3によって、周期カ
ウント値90aがカウントアップされる。
【0173】以降、上述した動作の周期毎の繰り返しに
より、図2及び図3に示すような波形となり、ビット誤
り測定が続けられる。
【0174】次に、図4及び図5に示すタイムチャート
を参照して、図1に示したビット誤り測定回路100の
訂正信号入力の動作を説明する。
【0175】図4及び図5は、同じ時系列のタイムチャ
ートであるが、紙面の関係上分割してある。
【0176】図4において、14aは、外部から指定さ
れるメモリ回路21の読み書き制御信号を示す波形図で
あり、図5において、25aは、外部から指定されるメ
モリ回路22のアドレス値を示す波形図、24aは、外
部から指定されるメモリ回路22の読み書き制御信号を
示す波形図である。なお波形図中の記号×は、値が不問
であることを示す。
【0177】また、その他の信号を表す符号について
は、図2及び図3における説明の中で既述であるので省
略するが、図4では、図2で示す波形図から誤りカウン
ト値60aとクロックカウント値70aの波形図を除い
ている。
【0178】時刻t11から時刻t12において、依
然、誤り検出基準信号21aの訂正作業中であるので、
訂正通知信号7aが論理値1となっている。外部から読
み書き制御信号14a、アドレス値15a及び訂正され
た誤り検出基準信号21aが図4に示すようなタイミン
グで入力される。すなわち、時刻t11において、アド
レス値15aとして1を入力すると同時に、アドレス値
1に対応した訂正された誤り検出信号21aとしてDを
入力し、更に同時刻に訂正された誤り検出基準信号21
a(=D)をアドレス値15aの示すアドレス(=1)
に書き込むための読み書き制御信号14aを入力する。
【0179】このとき、訂正通知信号7aが論理値1で
あることにより、スイッチ214は、出力端子214O
UTと入力端子214Yが接続されており、外部から端
子14に入力され、入力端子214Yに入力された読み
書き制御信号14aは、読み書き制御信号214aとし
て出力端子214OUTからメモリ回路21の読み書き
制御信号入力端子21RWに対して出力される。同様に
して、アドレス値15aはアドレス値215aとしてメ
モリ回路21のアドレス入力端子21Aに対して出力さ
れる。
【0180】メモリ回路21は、端子5に入力される同
期引き込み信号5aが論理値1であることにより、スイ
ッチ切換信号入力端子21SWに論理値1が入力される
と、メモリ回路21内部のスイッチ回路202は、切換
端子202Yとコモン端子202Zを接続し、端子21
0に入力され、データ入出力端子21Yに入力される訂
正された誤り検出信号21aを読み込む。更にメモリ回
路21は、読み書き制御信号入力端子21RWに入力さ
れる214a(=14a)の立ち上がりにより、アドレ
ス入力端子21Aに入力される215a(=15a)の
示す内部メモリ201のアドレスにデータ入出力端子2
1Yに入力される訂正された誤り検出信号21aを書き
込む。
【0181】以下、一周期分の信号データすべての書き
込みを終える時刻t12まで、同様の動作を繰り返す。
【0182】訂正された基準信号データを全て書き終え
た後時刻t13において、アドレスカウンタ30のキャ
リアップ信号出力端子30Cから、キャリアップ信号3
0bとしてアドレスキャリアップパルスP4が発生する
と同時に、訂正通知信号7aを論理値1から0にする、
すなわち、訂正作業終了を通知する。
【0183】このとき、同期引き込み信号5aは論理値
1であるから、スイッチ回路40のスイッチ切換信号入
力端子40SWに論理値1が入力されると、スイッチ回
路40の出力端子40OUTは内部でデータ入力端子4
0Yと接続され、データ入力端子40Yより入力された
論理値1の信号(High信号H)を出力端子40OU
Tから読み書き制御信号40aとしてスイッチ214の
データ入力端子214Xに対して出力している。
【0184】訂正通知信号7aが論理値0になることに
より、 スイッチ回路214のスイッチ切換信号入力端子2
14SWに論理値0が入力されると、スイッチ回路21
4の出力端子214OUTは内部でデータ入力端子21
4Xと接続され、データ入力端子214Xに入力された
読み書き制御信号40a(論理値1で固定)を出力端子
214OUTから読み書き制御信号214aとしてメモ
リ回路21の読み書き制御信号入力端子21RWに対し
て出力する。この読み書き制御信号入力端子21RWの
入力が論理値1で固定されていることにより、メモリ回
路21は、メモリ201に記憶されたデータを読み出す
モードに固定される。
【0185】 同様にして、スイッチ回路215は、
データ入力端子215Xより入力されたアドレス値30
aを出力端子215OUTからアドレス値215aとし
てメモリ回路21のアドレス入力端子21Aに対して出
力する。メモリ回路21のスイッチ切換信号入力端子2
1SWには、同期引き込み信号5aとして論理値1が入
力されおり、メモリ回路21内部のスイッチ回路202
は、切換端子202Yとコモン端子202Zを接続し、
メモリ回路21は、その時刻t13にスイッチ215よ
りアドレス入力端子21Aに入力されるアドレス値21
5a(=30a)が示すメモリ201内のアドレスに書
き込まれたデータを読み出してデータ入出力端子21Y
から出力する。以降同様にして、メモリ回路21は書き
込まれたデータの読み出しを行う。図4では時刻t11
からt12までメモリ回路21に訂正された誤り検出信
号21aとして、D、E、F、A、B、Cを書き込んで
おり、このデータを周期毎に繰り返し読み出す。
【0186】 スイッチ回路80のスイッチ切換信号
入力端子80SWに論理値0が入力されると、スイッチ
回路80の出力端子80OUTは内部でデータ入力端子
80Xと接続され、データ入力端子80Xに入力された
訂正された誤り検出基準信号21aを出力端子80OU
Tから基準信号80aとして誤り検出回路50のデータ
入力端子50IBに対して出力する。
【0187】 スイッチ回路224及びスイッチ回路
225も、スイッチ回路80と同様に出力端子OUTと
データ入力端子Xが接続され、スイッチ回路224のデ
ータ入力端子224Xに入力される読み書き制御信号2
4a及びスイッチ回路225のデータ入力端子225X
に入力されるアドレス値25aは、スイッチ回路224
の出力端子224OUTからメモリ回路22の読み書き
制御信号入力端子22RWに対して出力される読み書き
制御信号224a、及び、スイッチ回路225の出力端
子225OUTからメモリ回路22のアドレス入力端子
22Aに対して出力されるアドレス値225aとして外
部からメモリ回路22を制御する。
【0188】 アドレスカウンタ32と周期カウンタ
90のそれぞれのリセット端子32RST、リセット端
子90RSTに論理値0が入力されると、それまでのカ
ウント値、アドレス値32a及び周期カウント値90a
はリセットされ、カウント動作を停止する。周期カウン
タ90の周期カウント値90aは、端子90から外部に
対して出力されており、外部で動作停止時の値が保持さ
れる。
【0189】したがって、図2及び図3において時刻t
3で誤り検出基準信号として記憶された誤りビットA1
は正しい信号Aに訂正され、以後のビット誤り測定動作
は正しい信号を基準信号として行われるので、正確な測
定が可能となる。
【0190】次に、時刻t13以降における、基準信号
データ訂正作業中の誤り測定結果の補正動作について説
明する。
【0191】図2〜図5において、被測定信号1aをメ
モリ回路20に記憶した誤り検出基準信号は、アドレス
4のA1が誤りビットとなっている。したがって、この
誤り検出基準信号の検証、訂正に要した期間、すなわち
訂正通知信号7aが論理値1である時刻t3から時刻t
13までの期間において、誤り検出回路50はデータA
の誤り検出を誤りビットA1で行っている。すなわち、
時刻t3から時刻t13までに誤りカウンタ60によっ
てカウントされた誤りカウント値は明らかに誤データと
なっている。そこで、以下のような補正を行い正確なデ
ータを得る。
【0192】周期カウンタ90は、訂正通知信号7aが
論理値1である訂正作業中の時刻t3から時刻t13ま
での期間に誤り測定された被測定信号1aの周期数をカ
ウントし、該カウント値は、周期カウント値90aとし
て誤り測定回路外部に保持されている。図5の例では周
期カウント値90aはNである。またメモリ回路22
は、訂正通知信号7aが論理値1である訂正作業中の時
刻t3から時刻t13までの期間に誤りビットが検出さ
れたときの、メモリ回路20のアドレスを記憶してい
る。このアドレスのうち、メモリ回路20に記憶した誤
り検出基準信号で誤りビットであったA1のアドレス4
がいくつ記憶されているか調べ、この数をiとする。i
は、正しいビットが誤りビットであると判定された数で
あり、逆に誤りビットが正しいビットであると判定され
た数、すなわち、時刻t3から時刻t13までの期間の
真の誤り数はN−iである。したがって、ビット誤り測
定回路100の誤りカウント値60aの値をMとすると
き、補正した誤り数Eは、M−i+(N−i)の計算に
より、E=M+(N−2i)で表される。
【0193】以上説明したように、本実施の形態におい
ては、被測定信号1aからメモリ回路20及びメモリ回
路21に書き込んだ誤り検出基準信号の内、メモリ回路
21に書き込んだ誤り検出基準信号21aの誤りビット
の有無をビット誤り検出回路100外部で検証し、誤り
ビットがあれば該誤り検出基準信号21aを訂正する機
能を設けているため、正確なビット誤り測定が可能であ
る。また、被測定信号1aを書き込むメモリを、メモリ
回路20及びメモリ回路21内に有しているので、測定
と訂正とを同時に行うことが可能である。さらに、誤り
検出基準信号21aの訂正作業中の測定結果をメモリ回
路22に記憶し、該訂正結果を用いて基準信号データの
訂正作業中の測定結果の補正をする機能を設けているこ
とで、基準信号データの訂正作業中の誤りを正確に測定
することができる。
【0194】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、メモリ回
路を外部から制御する制御信号を入力する複数の端子か
ら、メモリ回路内に記憶した基準信号を外部に取り出す
等の制御信号が入力されて、誤りビットが基準信号とな
っているか否か検証され、誤りビットが基準信号となっ
てしまっていた場合には、該誤りビットを訂正して正し
い基準信号を前記メモリ回路に記憶し直すことが出来る
構成であるため、被測定信号1周期分を前記メモリ回路
に記憶することにより生成した基準信号に誤りビットが
含まれる場合にも、該誤りビットを訂正することがで
き、正確なビット誤り測定を行うことができる。
【0195】請求項2記載の発明によれば、請求項1記
載の発明の効果に加えて、選択回路は、前記第1のメモ
リ回路に記憶された基準信号を検証、訂正している間
は、第2のメモリ回路より入力される基準信号を選択し
て、誤り検出回路に対して出力し、訂正作業終了後は、
訂正され正しい値となった第1のメモリ回路に記憶され
た基準信号を選択して、誤り検出回路に対して出力する
ことが出来る構成であるため、誤り検出作業と、訂正作
業と、を同時進行することができ、効率の良いビット誤
り測定を行うことができる。
【0196】請求項3記載の発明によれば、請求項2記
載の発明の効果に加えて、第3のメモリ回路に記憶され
た結果と、誤りカウント値と、周期カウント値と、前記
第1のメモリ回路に記憶された基準信号の訂正結果と、
を用いることにより、基準信号データ訂正作業中の測定
結果の補正を行うことが出来る構成であるため、誤り検
出作業と、訂正作業と、の同時進行時のビット誤り測定
による測定値を、正確な値に補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用したビット誤り測定回路100の
回路構成を示すブロック図。
【図2】図1に示すビット誤り測定回路100の同期引
き込み動作を説明する図3と同時系列のタイムチャー
ト。
【図3】図1に示すビット誤り測定回路100の同期引
き込み動作を説明する図2と同時系列のタイムチャー
ト。
【図4】図1に示すビット誤り測定回路100の訂正作
業及び誤りカウント値補正を説明する図5と同時系列の
タイムチャート。
【図5】図1に示すビット誤り測定回路100の訂正作
業及び誤りカウント値補正を説明する図4と同時系列の
タイムチャート。
【図6】従来のビット誤り測定回路200の回路構成を
示すブロック図。
【図7】図6に図示されるメモリ回路20の回路構成を
示すブロック図。
【図8】図6に示すビット誤り測定回路200の動作を
説明するタイムチャート。
【図9】図6に示すビット誤り測定回路200の動作の
問題点を説明するタイムチャート。
【符号の説明】
20 メモリ回路 21 メモリ回路 22 メモリ回路 30 アドレスカウンタ 32 アドレスカウンタ 40 スイッチ回路 80 スイッチ回路 214 スイッチ回路 215 スイッチ回路 224 スイッチ回路 225 スイッチ回路 50 誤り検出回路 51 ゲート回路 60 誤りカウンタ 70 クロックカウンタ 90 周期カウンタ 201 メモリ 202 スイッチ回路

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被測定信号の1周期分のデータを基準信号
    として記憶するメモリ回路と、前記被測定信号の誤りを
    検出する誤り検出回路と、この誤り検出回路が検出した
    誤りビット数をカウントする誤りカウンタと、を有する
    ビット誤り測定回路において、 前記メモリ回路を外部から制御する制御信号を入力する
    複数の端子を設け、前記メモリ回路に記憶した基準信号
    を外部で検証し、誤りがあれば該誤りを前記外部からの
    制御信号の制御により訂正することを特徴とするビット
    誤り測定回路。
  2. 【請求項2】前記メモリ回路を第1のメモリ回路とし、 被測定信号から該第1のメモリ回路が記憶したデータと
    同一のデータを基準信号として記憶する第2のメモリ回
    路と、 前記第1のメモリ回路、または、第2のメモリ回路から
    出力される基準信号の何れかを選択し、前記誤り検出回
    路に対して出力する選択回路と、 を更に備え、前記第1のメモリ回路に記憶された基準信
    号を検証、訂正している間、前記選択回路は、前記第2
    のメモリ回路に記憶された基準信号を選択して前記誤り
    検出回路に対して出力し、当該基準信号を誤り検出に用
    いることで、測定と訂正とを同時に行うことを特徴とす
    る請求項1記載のビット誤り測定回路。
  3. 【請求項3】前記第1のメモリ回路に記憶された基準信
    号を訂正している間、前記第2のメモリ回路に記憶した
    基準信号を用いて行った誤り検出の結果を記憶する第3
    のメモリ回路と、 この第3のメモリ回路を外部から制御する制御信号を入
    力する複数の端子と、 基準信号の訂正作業中に誤り測定された被測定信号の周
    期数をカウントする周期カウンタと、 を更に備え、前記第3のメモリ回路に記憶されたデータ
    と、前記周期カウンタによってカウントされた周期カウ
    ント値と、前記誤りカウンタによってカウントされた誤
    りカウント値と、前記第1のメモリ回路に記憶された基
    準信号の訂正結果と、を用いて、前記基準信号の訂正作
    業中の測定結果の補正を行うことを特徴とする請求項2
    記載のビット誤り測定回路。
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