JPH10284502A - 縦型半導体製造装置におけるエアー循環装置 - Google Patents

縦型半導体製造装置におけるエアー循環装置

Info

Publication number
JPH10284502A
JPH10284502A JP9099791A JP9979197A JPH10284502A JP H10284502 A JPH10284502 A JP H10284502A JP 9099791 A JP9099791 A JP 9099791A JP 9979197 A JP9979197 A JP 9979197A JP H10284502 A JPH10284502 A JP H10284502A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
air
air circulation
wafer
cooling
flow rate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9099791A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhide Hirakoba
一秀 平木場
Yasushi Taniyama
育志 谷山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinko Electric Co Ltd
Original Assignee
Shinko Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinko Electric Co Ltd filed Critical Shinko Electric Co Ltd
Priority to JP9099791A priority Critical patent/JPH10284502A/ja
Publication of JPH10284502A publication Critical patent/JPH10284502A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】循環方式によって内部エアーを清浄化する場合
において、循環エアーの温度を効果的に下げて、熱処理
直後のウェハの強制空冷能力を高めることである。 【解決手段】熱処理を終えたウェハの強制冷却、及び自
身の清浄化との双方のためにエアーが循環する第1エア
ー循環路C1 と、自身の清浄化を主体にしてエアーが循
環する第2エアー循環路C2 との2種類のエアー循環路
とを備え、各エアー循環路C1,C2 の合流部にエアー冷
却装置Kを設置して、循環エアーの温度を下げ、ウェハ
の強制空冷時には、第1エアー循環路C1 のエアー循環
流量を第2エアー循環路C2 の流量よりも多くして、強
制冷却能力を高める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、装置内においてフ
ィルターを通してエアーを循環させて、装置内のエアー
の清浄化と、熱処理を終えたウェハの強制空冷との双方
を効率的に行えるようにした縦型半導体製造装置におけ
るエアー循環装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図3に示されるように、縦型半導体製造
装置の基本構成は、全体が筐状になった筐体Aと、収納
棚に垂直となって多数枚のウェハを保持しているウェハ
キャリアJを90°反転させて、該ウェハを垂直にする
ために前記筐体Aの入口部のキャリアローダ室R1 に設
置されるキャリアローダ装置Eと、多数枚のウェハを多
段状に保持して、該筐体Aの主室R2 内において直上に
配置されたヒータ(反応釜)Hに対して昇降可能に配置
されるウェハボートと称されるウェハ保持具Gと、前記
キャリアローダ装置Eによって反転されたウェハキャリ
アJに垂直に保持されている多数枚のウェハを一枚ず
つ、或いは複数枚ずつ取り出して、前記ウェハ保持具G
に移載させるために前記主室R2 内に設置される移載ロ
ボット(図示せず)とを備えている。なお、前記ヒータ
(反応釜)Hは、前記主室R2 と分離されたヒータ室R
3 に配置されている。
【0003】そして、多数枚のウェハを垂直に保持した
ウェハキャリアJを前記キャリアローダ装置Eに設置し
て、該装置EによってウェハキャリアJを90°反転さ
せることにより、保持されている各ウェハを水平にす
る。この状態において、前記移載ロボットにより、ウェ
ハキャリアJに水平に保持されているウェハを一枚ずつ
取り出し、前記ウェハ保持具Gに多段状にして移載し
て、該ウェハ保持具Gを上昇させて、直上のヒータ(反
応釜)H内においてウェハの熱処理(化学処理)を行っ
た後に、該ウェハ保持具Gを主室R2 内に下降させてい
る。
【0004】上記した縦型半導体製造装置では、筐体A
内に発生する微細な塵埃類がウェハに付着するのを防止
するために、内部のエアーを清浄化させている。この内
部エアーを清浄化するには、該エアーを筐体の入口部か
ら出口部に向けて一方向に流す方式と、該エアーを筐体
内で循環させる方式がある。後者の循環方式は、同じエ
アーが繰り返し使用できて、効率的であるが、ウェハの
熱処理後において、ウェハ保持具Gを主室R2 内に下降
させた場合に、高温(約650°C)に加熱されたウェ
ハによって、主室R2 内の温度が上昇させられると共
に、この高温となった循環エアーによって、熱処理を終
えたウェハを強制空冷するために、その空冷効果は低
い。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、循環方式に
よって内部エアーを清浄化する場合において、循環エア
ーの温度を効果的に下げると共に、熱処理を終えたウェ
ハの強制空冷能力を高めることを課題としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明が採用した手段は、装置内の各所に配置された
フィルターを通してエアーを循環させて、装置内のエア
ーを清浄化させると共に、該エアーによって熱処理を終
えたウェハを強制空冷させるための縦型半導体製造装置
におけるエアーの循環装置において、循環エアーを冷却
するためのエアー冷却装置をエアー循環路に設置したこ
とである。エアー冷却装置によって、循環エアーは、一
循環毎に強制冷却されるため、熱処理を終えたウェハ
は、常に低い温度の循環エアーによって強制空冷される
ために、その空冷効果が高まる。
【0007】この場合において、熱処理を終えたウェハ
の強制空冷、及び自身の清浄化との双方のためにエアー
が循環する第1エアー循環路と、自身の清浄化を主体に
してエアーが循環する第2エアー循環路との2種類のエ
アー循環路を設けて、第1エアー循環路に設けられたブ
ロワーの回転数を制御可能にして、ウェハの強制空冷時
のエアー循環流量を、通常時のエアー循環流量よりも多
くすると、熱処理終了直後のウェハの強制空冷能力が一
層高められる。
【0008】更に、第1及び第2の各エアー循環路に設
置された各ブロワーのエアー流入側にそれぞれエアーダ
ンパーを設置すると、強制空冷時と通常時との間におけ
るエアー循環流量の変更時における流量の変動がスムー
ズに行われて、圧力バランスが保たれると共に、乱流等
の発生を抑えることができる。また、強制空冷時と、通
常時において、装置天井より供給される供給エアーの流
量は一定とすることができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、実施例を挙げて本発明を更
に詳細に説明する。図1は、本発明に係る縦型半導体製
造装置におけるエアーの循環装置を模式的に示す斜視図
であり、図2は、第1及び第2の各エアー循環路C1,C
2 を主体にしたエアーの流れを示す図であり、図3は、
筐体Aの内部を模式的に示す断面図である。前記筐体A
の一方の側板の内側には、主室R2 内に入り込んだウェ
ハ保持具Gと相対向する配置となって第1フィルターF
1 が設けられており、該側板の内側における前記第1フ
ィルターF1 と前記キャリアローダ室R1 との間には、
そのほぼ全高に亘って第2フィルターF2 が設けられて
いる。また、筐体A内に全てが配置された形状となった
キャリアローダ室R1 の天井部には、第3フィルターF
3 が設けられている。また、前記筐体Aの他方の側板の
内側には、エアー冷却装置Kが配置されている。このエ
アー冷却装置Kは、公知の構造であって、例えば、冷却
水が循環する装置本体内にエアー流路が設けられて、温
度の高いエアーが、前記エアー流路を通過する間に、自
身の熱が前記冷却水に奪われて冷却されるものが挙げら
れる。
【0010】また、筐体Aの上面には、第1及び第2の
各ブロワーB1,B2 が設置され、各ブロワーB1,B2
上流側には、外気に通じる第1及び第2の各外部エアー
ダンパーD1,D2 が接続されている。更に、前記エアー
冷却装置Kの上端の流出部と、前記第1及び第2の各ブ
ロワーB1,B2 とを接続する各エアー通路の間には、そ
れぞれ第1及び第2の各内部エアーダンパーD11, D12
が配置されて、この各内部エアーダンパーD11, D
12は、前記エアー冷却装置Kの流出部から分岐された各
エアー管路にそれぞれ設けられている。
【0011】本発明のエアーの循環装置では、上記した
各種エアー機器によって、熱処理を終えたウェハの強制
空冷、及び自身の清浄化のためにエアーが循環する第1
エアー循環路C1 と、自身の清浄化を主体にしてエアー
が循環する第2エアー循環路C2 との2種類のエアー循
環路を備えていることに、その特徴が存する。即ち、図
2において、第1エアー循環路C1 は、第1ブロワーB
1 、第1フィルターF1 、エアー冷却装置K、及び第1
内部エアーダンパーD11とをエアー管路を介してこの順
序で接続し、更に第1ブロワーB1 と第1内部エアーダ
ンパーD11とのエアー管路に第1外部エアーダンパーD
1 をエアー管路を介して接続することにより構成され
る。一方、第2エアー循環路C2 は、第2ブロワー
2 、第2フィルターF2 、エアー冷却装置K、及び第
2内部エアーダンパーD12をエアー管路を介してこの順
序で接続し、更に第2ブロワーB2 と第2内部エアーダ
ンパーD12とのエアー管路に第2外部エアーダンパーD
2 をエアー管路を介して接続することにより構成され
る。図2に示されているように、第1及び第2の各エア
ー循環路C1,C2 を通るエアーは、合流して前記エアー
冷却装置Kに流入すると共に、該冷却装置Kから流出し
たエアーは、2つに分岐されて第1及び第2の各内部エ
アーダンパーD11, D12を通って第1及び第2の各ブロ
ワーB1,B2 により吸引される構成になっている。第1
及び第2の各ブロワーB1,B2 は、それぞれ各駆動モー
タM1,M2 により駆動され、モータM1 はインバータ制
御等によって、その回転数の制御が可能なモータが採用
される。
【0012】また、第2エアー循環路C2 は、第2フィ
ルターF2 とエアー冷却装置Kとの間において2つに分
岐され、第2エアー循環路C2 から分岐されたエアー分
岐流路C3 を通るエアーは、前記第3フィルターF3
通ってキャリアローダ室R1に流入して、筐体Aの外部
に排出されて、再度使用されるリターンエアーAR とな
る。また、第1及び第2の各エアー循環路C1,C2 を循
環するエアーの一部は、外部に漏れてリークエアーAL
となる。よって、筐体A内の循環エアーを一定に保持す
るには、リターンエアーAR とリークエアーAL との各
流量の和だけ、補給エアーAS として各エアー循環路C
1,C2 に補給する必要があり、前記第1及び第2の各外
部エアーダンパーD1,D2 の部分から各エアー循環路C
1,C2 に補給されている。
【0013】そして、第1及び第2の各ブロワーB1,B
2 を作動させて、第1及び第2の各エアー循環路C1,C
2 においてエアーを循環させると、第1エアー循環路C
1 においては、第1フィルターF1 を通過して清浄化さ
れたエアーは、主室R2 内を通ってエアー冷却装置K内
に流入して、該装置K内において熱交換により冷却され
た後に流出して、第1内部エアーダンパーD11を通って
第1ブロワーB1 により吸引されて循環する。一方、第
2エアー循環路C2 においては、第2フィルターF2
通過して清浄化されたエアーは、主室R2 内を通ってエ
アー冷却装置K内に流入して、該装置K内において熱交
換により冷却された後に流出して、第2内部エアーダン
パーD12を通って第2ブロワーB2 により吸引されて循
環する。
【0014】ここで、熱処理されたウェハを冷却させな
い通常時における第1及び第2の各エアー循環路C1,C
2 の流量をそれぞれQ1,Q2 とし、第2エアー循環路C
2 から分岐されたエアー分岐流路C3 の流量をQ3 とす
る。また、前記リークエアーAL 及び補給エアーAS
各流量を、それぞれQ4,Q5 とすると、上記したよう
に、(Q5 =Q3 +Q4 )の関係にある。このため、エ
アー冷却装置K内におけるエアーの流量は、(Q1 +Q
2 −Q3 −Q4)となる。
【0015】ウェハの熱処理後において、ウェハ保持具
Gが主室R2 内に下降すると、主室R2 内の温度は急激
に高くなって、循環するエアーの温度も急上昇する。こ
のため、熱処理されたウェハが主室R2 に下がって来た
場合には、モータM1 によって第1ブロワーB1 の回転
数を増して、第1エアー循環路C1 のエアー流量
(Q1') を通常時の流量(Q1)よりも大きくして、熱処
理直後の高温のウェハを強制空冷する。このエアー流量
の増加割合(Q1'/Q1)は、(1.5〜2)程度であ
る。ここで、第1及び第2のいずれのエアー循環路C1,
2 においても、エアー冷却装置Kを通過する間に、高
温のエアーは、熱交換により、その温度が下がる。この
ように、エアー冷却装置Kにより熱交換されて低温とな
ったエアーを循環させ、しかも熱処理されたウェハが主
室R2 に入り込んだ場合には、第1エアー循環路C1
エアー流量(Q1') を通常時の流量(Q1)よりも大きく
して、ウェハに対するエアーの吹付け量を増すことによ
り、熱処理されて高温となったウェハに対する冷却効果
は、著しく高められる。
【0016】また、本発明のエアー循環装置では、ウェ
ハの強制空冷時と通常時とにおいて、第1エアー循環路
1 のエアー流量を2段階に調整している。このため、
エアー流量の変更時において、第1及び第2の各エアー
循環路C1,C2(特に、第1エアー循環路C1)において、
エアー流量の急激な変化によって、主室R2 を流れるエ
アーに乱流等が発生し易くなる。この問題の解決に対し
て、本発明では、第1及び第2の各ブロワーB1,B2
直前のエアー管路にそれぞれ外部エアーダンパーD1,D
2 及び内部エアーダンパーD11,D12を設けて、エアー
流量変更時における流量変化がスムーズに行われるよう
にしてあるので、主室R2 内における内圧バランスが保
たれると共に、乱流等の発生を抑えることができる。
【0017】なお、図1において、1は、第2フィルタ
ーF2 の上方に設けられたファンを示し、2及び3は、
いずれもエアー分岐流路C3 の終端部に設けられたファ
ンを示し、4は、同じくエアー分岐流路C3 の終端部に
設けられたダンパーを示す。
【0018】
【発明の効果】本発明に係る縦型半導体製造装置におけ
るエアーの循環装置は、循環エアーを冷却するためのエ
アー冷却装置をエアー循環路に設置してあるので、以下
のような諸効果が奏される。 (1)循環エアーは、エアー冷却装置によって一循環毎
に強制冷却されるため、熱処理を終えたウェハは、常に
低い温度の循環エアーによって強制空冷されて、その空
冷効果が高められる。 (2)熱処理を終えたウェハの強制空冷、及び自身の清
浄化との双方のためにエアーが循環する第1エアー循環
路と、自身の清浄化を主体にしてエアーが循環する第2
エアー循環路との2種類のエアー循環路を設けて、第1
エアー循環路に設けられたブロワーの回転数を制御可能
にして、ウェハの強制空冷時のエアー循環流量を、通常
時のエアー循環流量よりも多くすると、熱処理終了直後
のウェハの強制空冷能力が一層高められる。 (3)第1及び第2の各エアー循環路に設置された各ブ
ロワーのエアー流入側にそれぞれエアーダンパーを設置
すると、強制空冷時と通常時との間におけるエアー循環
流量の変更時における流量の変動がスムーズに行われ
て、主室内における内圧バランスが保たれると共に、乱
流等の発生を抑えることができる。 (4)強制空冷時と、通常時において、装置天井より供
給される供給エアーの流量は一定とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る縦型半導体製造装置におけるエア
ーの循環装置を模式的に示す斜視図である。
【図2】第1及び第2の各エアー循環路C1,C2 を主体
にしたエアーの流れを示す図である。
【図3】筐体Aの内部を模式的に示す断面図である。
【符号の説明】
A:筐体 B1 :第1ブロワー B2 :第2ブロワー C1 :第1エアー循環路 C2 :第2エアー循環路 D1 :第1外部エアーダンパー D2 :第2外部エアーダンパー D11:第1内部エアーダンパー D12:第2内部エアーダンパー F1 :第1フィルター F2 :第2フィルター K:エアー冷却装置

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 装置内の各所に配置されたフィルターを
    通してエアーを循環させて、装置内のエアーを清浄化さ
    せると共に、該エアーによって熱処理を終えたウェハを
    強制空冷させるための縦型半導体製造装置におけるエア
    ーの循環装置であって、 循環エアーを冷却するためのエアー冷却装置を、エアー
    循環路に設置したことを特徴とする縦型半導体製造装置
    におけるエアー循環装置。
  2. 【請求項2】 熱処理を終えたウェハの強制空冷、及び
    自身の清浄化との双方のためにエアーが循環する第1エ
    アー循環路と、自身の清浄化を主体にしてエアーが循環
    する第2エアー循環路との2種類のエアー循環路を備
    え、 第1エアー循環路に設けられたブロワーの回転数を制御
    可能にして、ウェハの強制空冷時のエアー循環流量を、
    通常時のエアー循環流量よりも多くすることを特徴とす
    る請求項1に記載の縦型半導体製造装置におけるエアー
    循環装置。
  3. 【請求項3】 第1及び第2の各エアー循環路に設置さ
    れた各ブロワーのエアー流入側には、それぞれエアーダ
    ンパーが設置されていることを特徴とする請求項2に記
    載の縦型半導体製造装置におけるエアー循環装置。
JP9099791A 1997-04-01 1997-04-01 縦型半導体製造装置におけるエアー循環装置 Pending JPH10284502A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9099791A JPH10284502A (ja) 1997-04-01 1997-04-01 縦型半導体製造装置におけるエアー循環装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9099791A JPH10284502A (ja) 1997-04-01 1997-04-01 縦型半導体製造装置におけるエアー循環装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10284502A true JPH10284502A (ja) 1998-10-23

Family

ID=14256754

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9099791A Pending JPH10284502A (ja) 1997-04-01 1997-04-01 縦型半導体製造装置におけるエアー循環装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10284502A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008193077A (ja) * 2007-01-31 2008-08-21 Tera Semicon Corp 非晶質シリコンの結晶化のための熱処理システム
CN113161258A (zh) * 2021-01-08 2021-07-23 浙江旭盛电子有限公司 一种单晶硅抛光片热处理装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008193077A (ja) * 2007-01-31 2008-08-21 Tera Semicon Corp 非晶質シリコンの結晶化のための熱処理システム
CN113161258A (zh) * 2021-01-08 2021-07-23 浙江旭盛电子有限公司 一种单晶硅抛光片热处理装置
CN113161258B (zh) * 2021-01-08 2023-12-12 浙江旭盛电子有限公司 一种单晶硅抛光片热处理装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5944894A (en) Substrate treatment system
US20120000629A1 (en) Substrate processing apparatus
US20080105204A1 (en) Substrate processing apparatus and manufacturing method for semiconductor devices
JPH04148139A (ja) クリーンルーム
JP6190278B2 (ja) 熱交換システム及び同熱交換システムを有する基板処理装置
JP5144207B2 (ja) 基板処理装置および半導体装置の製造方法
JPH10284502A (ja) 縦型半導体製造装置におけるエアー循環装置
JP3402713B2 (ja) 熱処理装置
JP3449548B2 (ja) 空気調和システム
JP4025146B2 (ja) 処理液用タンク及び処理装置
JPH07135182A (ja) 熱処理装置
JPH0894129A (ja) 空気調和機の室外ユニット
JP2001056140A (ja) クリーンルーム
JP3449551B2 (ja) 直近空調ユニット
JP3279727B2 (ja) 熱処理装置
US7051800B2 (en) Hot plate cooling system
JP2004278887A (ja) 乱流式クリーンルーム
JP3449553B2 (ja) 上下吹出形直近空調ユニット
CN219502220U (zh) 用于高温废气的过滤装置
JPS62739A (ja) 半導体製造用空気調和方法
JP2004125345A (ja) 連続焼成炉
JP4441728B2 (ja) 汚染物質除去装置
JPS5835341A (ja) 温度制御機能を備えたクリ−ンユニツト
JPH06347193A (ja) 空気調和機
JPH0411749A (ja) Ic試験装置の排熱冷却方法

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080526

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090526

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090526

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100526

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 11

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110526

EXPY Cancellation because of completion of term