JPH10282166A - プリント基板 - Google Patents
プリント基板Info
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- JPH10282166A JPH10282166A JP8176797A JP8176797A JPH10282166A JP H10282166 A JPH10282166 A JP H10282166A JP 8176797 A JP8176797 A JP 8176797A JP 8176797 A JP8176797 A JP 8176797A JP H10282166 A JPH10282166 A JP H10282166A
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- Japan
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- circuit board
- printed circuit
- electromagnetic wave
- loop
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-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0213—Electrical arrangements not otherwise provided for
- H05K1/0216—Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/16—Printed circuits incorporating printed electric components, e.g. printed resistor, capacitor, inductor
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Structure Of Printed Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 制御機器からの電磁波測定を簡易化して、電
磁波による詳細な影響が容易に調べられるとともに、作
動的に問題が発生した場合の原因追求を容易化できるプ
リント基板を提供する。 【解決手段】 プリント基板１１上での電子部品１３や
基板パターン１２の変更毎に、そのプリント基板１１上
でのループ状配線パターン１４，１５をアンテナとして
用いて、電子部品１３や基板パターン１２から発生する
電磁波を検出することにより、そのプリント基板１１上
の詳細な電磁波量を測定する際に、それらを含む電磁波
の不要な出入りを遮断するための大型設備を不要とす
る。
磁波による詳細な影響が容易に調べられるとともに、作
動的に問題が発生した場合の原因追求を容易化できるプ
リント基板を提供する。 【解決手段】 プリント基板１１上での電子部品１３や
基板パターン１２の変更毎に、そのプリント基板１１上
でのループ状配線パターン１４，１５をアンテナとして
用いて、電子部品１３や基板パターン１２から発生する
電磁波を検出することにより、そのプリント基板１１上
の詳細な電磁波量を測定する際に、それらを含む電磁波
の不要な出入りを遮断するための大型設備を不要とす
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の配線パター
ンにより電子回路を配線するために制御機器内に組み込
まれるプリント基板に関するものである。
ンにより電子回路を配線するために制御機器内に組み込
まれるプリント基板に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から、電子回路はプリント基板上等
に配線されており、そのような電子回路が組み込まれた
制御機器から発生する電磁波を測定する方法としては、
その電磁波を、電波暗室，シールドルームのような外部
からの電磁波を遮断する施設内で、その制御機器から一
定の距離にあるアンテナを使って検出し、その電磁波量
を測定器で測定している。
に配線されており、そのような電子回路が組み込まれた
制御機器から発生する電磁波を測定する方法としては、
その電磁波を、電波暗室，シールドルームのような外部
からの電磁波を遮断する施設内で、その制御機器から一
定の距離にあるアンテナを使って検出し、その電磁波量
を測定器で測定している。
【０００３】以下、上述した従来の制御機器からの電磁
波の測定について、図面を参照しながら説明する。図５
は従来の制御機器から発生する電磁波を測定するシステ
ムである。図５において、５１はその発生電磁波が測定
される制御機器、５２は被測定物である制御機器５１を
回転させるターンテーブル、５３は制御機器５１からの
電磁波を検出するアンテナ、５４はアンテナ５３から検
出して受信した電磁波を測定する測定器である。
波の測定について、図面を参照しながら説明する。図５
は従来の制御機器から発生する電磁波を測定するシステ
ムである。図５において、５１はその発生電磁波が測定
される制御機器、５２は被測定物である制御機器５１を
回転させるターンテーブル、５３は制御機器５１からの
電磁波を検出するアンテナ、５４はアンテナ５３から検
出して受信した電磁波を測定する測定器である。
【０００４】以上のように構成された電磁波測定システ
ムによる電磁波の測定方法について、以下に説明する。
ターンテーブル５２を回転させながら、制御機器５１全
体から発生する電磁波が制御機器５１から一定の距離Ｌ
ｓにおかれたアンテナ５３に検出され受信される。この
ようにして受信された電磁波は、測定器５４で測定さ
れ、制御機器５１の各方向の周波数に対する電磁波レベ
ルが測定される。
ムによる電磁波の測定方法について、以下に説明する。
ターンテーブル５２を回転させながら、制御機器５１全
体から発生する電磁波が制御機器５１から一定の距離Ｌ
ｓにおかれたアンテナ５３に検出され受信される。この
ようにして受信された電磁波は、測定器５４で測定さ
れ、制御機器５１の各方向の周波数に対する電磁波レベ
ルが測定される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記のよ
うな従来の電磁波測定システムでは、制御機器から発生
する電磁波を測定する際には、その測定対象である制御
機器全体を測定するため、制御機器内のプリント基板上
の電子部品およびパターンの変更時や制御機器の製造品
質のばらつき時に、それらの制御機器に関して全ての測
定を再度実施し直さなければならず、それらによる測定
時間が多くかかるとともに、電磁波による詳細な影響が
調べにくくなり、作動的に問題が発生した場合の原因追
求が困難になるという問題点を有していた。
うな従来の電磁波測定システムでは、制御機器から発生
する電磁波を測定する際には、その測定対象である制御
機器全体を測定するため、制御機器内のプリント基板上
の電子部品およびパターンの変更時や制御機器の製造品
質のばらつき時に、それらの制御機器に関して全ての測
定を再度実施し直さなければならず、それらによる測定
時間が多くかかるとともに、電磁波による詳細な影響が
調べにくくなり、作動的に問題が発生した場合の原因追
求が困難になるという問題点を有していた。
【０００６】本発明は、上記従来の問題点を解決するも
ので、制御機器から発生する電磁波の測定を簡易化し
て、電磁波による詳細な影響を容易に調べることができ
るとともに、作動的に問題が発生した場合の原因追求を
容易化することができるプリント基板を提供する。
ので、制御機器から発生する電磁波の測定を簡易化し
て、電磁波による詳細な影響を容易に調べることができ
るとともに、作動的に問題が発生した場合の原因追求を
容易化することができるプリント基板を提供する。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明のプリント基板は、そのプリント基板上での
電子部品やパターンの変更毎に、そのプリント基板上で
のループ状配線パターンをアンテナとして用いて、電子
部品やパターンから発生する電磁波を検出することによ
り、そのプリント基板上の詳細な電磁波量を測定する際
に、それらを含む電磁波の不要な出入りを遮断するため
の大型設備を不要とすることを特徴とする。
に、本発明のプリント基板は、そのプリント基板上での
電子部品やパターンの変更毎に、そのプリント基板上で
のループ状配線パターンをアンテナとして用いて、電子
部品やパターンから発生する電磁波を検出することによ
り、そのプリント基板上の詳細な電磁波量を測定する際
に、それらを含む電磁波の不要な出入りを遮断するため
の大型設備を不要とすることを特徴とする。
【０００８】以上により、制御機器から発生する電磁波
の測定を簡易化して、電磁波による詳細な影響を容易に
調べることができるとともに、作動的に問題が発生した
場合の原因追求を容易化することができる。
の測定を簡易化して、電磁波による詳細な影響を容易に
調べることができるとともに、作動的に問題が発生した
場合の原因追求を容易化することができる。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載のプリン
ト基板は、ＣＰＵやメモリのタイミングコントロール用
のクロック回路やＰＷＭ制御によるスイッチング電源回
路などの電磁波を発生する電子回路を有する制御機器に
おいて、複数の配線パターンを有し、それらの配線パタ
ーンにより前記電子回路を配線するために前記制御機器
内に組み込まれるプリント基板であって、一部の前記配
線パターンを、前記電磁波の測定用としてループ状に形
成し、そのループの中を通る電磁波を検出するように構
成する。
ト基板は、ＣＰＵやメモリのタイミングコントロール用
のクロック回路やＰＷＭ制御によるスイッチング電源回
路などの電磁波を発生する電子回路を有する制御機器に
おいて、複数の配線パターンを有し、それらの配線パタ
ーンにより前記電子回路を配線するために前記制御機器
内に組み込まれるプリント基板であって、一部の前記配
線パターンを、前記電磁波の測定用としてループ状に形
成し、そのループの中を通る電磁波を検出するように構
成する。
【００１０】請求項２に記載のプリント基板は、請求項
１に記載の電磁波測定用の配線パターンを、ループ状の
導体を有する電子部品として実装した構成とする。これ
らの構成によると、プリント基板上での電子部品やパタ
ーンの変更毎に、そのプリント基板上でのループ状配線
パターンをアンテナとして用いて、電子部品やパターン
から発生する電磁波を検出することにより、そのプリン
ト基板上の詳細な電磁波量を測定する際に、それらを含
む電磁波の不要な出入りを遮断するための大型設備を不
要とする。
１に記載の電磁波測定用の配線パターンを、ループ状の
導体を有する電子部品として実装した構成とする。これ
らの構成によると、プリント基板上での電子部品やパタ
ーンの変更毎に、そのプリント基板上でのループ状配線
パターンをアンテナとして用いて、電子部品やパターン
から発生する電磁波を検出することにより、そのプリン
ト基板上の詳細な電磁波量を測定する際に、それらを含
む電磁波の不要な出入りを遮断するための大型設備を不
要とする。
【００１１】以下、本発明の実施の形態を示すプリント
基板について、図面を参照しながら具体的に説明する。 （実施の形態１）はじめに、本実施の形態１のプリント
基板を用いた電磁波ノイズの測定方法について説明す
る。
基板について、図面を参照しながら具体的に説明する。 （実施の形態１）はじめに、本実施の形態１のプリント
基板を用いた電磁波ノイズの測定方法について説明す
る。
【００１２】図１は本実施の形態１のプリント基板上に
ループ状の配線パターンを形成したものを示すものであ
る。図１において、１１はプリント基板、１２は配線用
の基板パターン、１３は電子部品、１４はプリント基板
１１の表面に形成したループ状の配線パターン、１５は
プリント基板１１の内装に形成した垂直方向用のループ
状配線パターン、１６は測定用ランドを示すものであ
る。
ループ状の配線パターンを形成したものを示すものであ
る。図１において、１１はプリント基板、１２は配線用
の基板パターン、１３は電子部品、１４はプリント基板
１１の表面に形成したループ状の配線パターン、１５は
プリント基板１１の内装に形成した垂直方向用のループ
状配線パターン、１６は測定用ランドを示すものであ
る。
【００１３】図２において、２１はプリント基板、２２
はループ状配線パターン、２３は測定器、２４は測定用
プローブである。図３において、３１はプリント基板、
３２はループ状配線パターン、ａ，ｂ，ｃ，ｄはループ
状配線パターン３２による各測定ポイント、３３は測定
記録表である。
はループ状配線パターン、２３は測定器、２４は測定用
プローブである。図３において、３１はプリント基板、
３２はループ状配線パターン、ａ，ｂ，ｃ，ｄはループ
状配線パターン３２による各測定ポイント、３３は測定
記録表である。
【００１４】以上のように構成されたプリント基板にお
ける動作を、図１から図３に基づいて説明する。図１の
ループ状配線パターン１４はプリント基板１１の表面に
円を描き、その両端はスペクトラムアナライザー等の測
定器に接続された測定用プローブが接触できるように、
測定用ランド１６やピン（図示せず）をたてておく。
ける動作を、図１から図３に基づいて説明する。図１の
ループ状配線パターン１４はプリント基板１１の表面に
円を描き、その両端はスペクトラムアナライザー等の測
定器に接続された測定用プローブが接触できるように、
測定用ランド１６やピン（図示せず）をたてておく。
【００１５】また、ループ状配線パターン１５はプリン
ト基板１１の内装を利用しプリント基板１１に対して垂
直にループが形成できるようにし、同様に、プリント基
板１１の表面に測定用ランド１７やピンをたてておく。
ト基板１１の内装を利用しプリント基板１１に対して垂
直にループが形成できるようにし、同様に、プリント基
板１１の表面に測定用ランド１７やピンをたてておく。
【００１６】プリント基板１１上の各種の電子部品１３
や基板パターン１２などに電流が流れると、その周囲に
磁場が発生するため、その磁場を測定するアンテナとし
てプリント基板１１上にループ状配線パターン１４，１
５を形成し、図２のプリント基板２１において、測定器
２３および測定用プローブ２４でループ状配線パターン
２２により検出した電磁波を測定するように、プリント
基板１１上の各ポイントの電磁波を測定をする。この際
に、常にプリント基板１１上の特定の場所の電磁波ノイ
ズをデータや波形として測定しておき、図３の測定記録
表３３のように各データを蓄積しておく。この測定記録
表３３において、Ｎｏ．５の測定ポイントｂ点における
データのように値が著しく違う場合、そのデータに基づ
いて、測定ポイントｂ点の周囲の基板パターンや電子部
品に問題がないかをすぐに調べることができる。 （実施の形態２）次に、本実施の形態２のプリント基板
について説明する。
や基板パターン１２などに電流が流れると、その周囲に
磁場が発生するため、その磁場を測定するアンテナとし
てプリント基板１１上にループ状配線パターン１４，１
５を形成し、図２のプリント基板２１において、測定器
２３および測定用プローブ２４でループ状配線パターン
２２により検出した電磁波を測定するように、プリント
基板１１上の各ポイントの電磁波を測定をする。この際
に、常にプリント基板１１上の特定の場所の電磁波ノイ
ズをデータや波形として測定しておき、図３の測定記録
表３３のように各データを蓄積しておく。この測定記録
表３３において、Ｎｏ．５の測定ポイントｂ点における
データのように値が著しく違う場合、そのデータに基づ
いて、測定ポイントｂ点の周囲の基板パターンや電子部
品に問題がないかをすぐに調べることができる。 （実施の形態２）次に、本実施の形態２のプリント基板
について説明する。
【００１７】図４において、４１はプリント基板、４２
は配線用の基板パターン、４３は電磁波測定用の配線パ
ターンであるループ状の導体を持つ電子部品としての測
定用部品を示すものである。
は配線用の基板パターン、４３は電磁波測定用の配線パ
ターンであるループ状の導体を持つ電子部品としての測
定用部品を示すものである。
【００１８】図４に示すように、図１のプリント基板１
１において配線パターンをループ状に形成したループ状
配線パターン１４の代わりに、あらかじめ円形状の導体
４３ａをもつ測定用部品４３をプリント基板４１上に実
装することにより、図１から図３に示す実施の形態１の
各プリント基板における電磁波測定用のループ状配線パ
ターンと同じ作用をさせることができる。
１において配線パターンをループ状に形成したループ状
配線パターン１４の代わりに、あらかじめ円形状の導体
４３ａをもつ測定用部品４３をプリント基板４１上に実
装することにより、図１から図３に示す実施の形態１の
各プリント基板における電磁波測定用のループ状配線パ
ターンと同じ作用をさせることができる。
【００１９】以上の各実施の形態のプリント基板によれ
ば、制御機器から発生する電磁波の測定を簡易化して、
電磁波による詳細な影響を容易に調べることができると
ともに、作動的に問題が発生した場合の原因追求を容易
化することができる。
ば、制御機器から発生する電磁波の測定を簡易化して、
電磁波による詳細な影響を容易に調べることができると
ともに、作動的に問題が発生した場合の原因追求を容易
化することができる。
【００２０】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、プリント
基板上での電子部品やパターンの変更毎に、そのプリン
ト基板上でのループ状配線パターンをアンテナとして用
いて、電子部品やパターンから発生する電磁波を検出す
ることにより、そのプリント基板上の詳細な電磁波量を
測定する際に、それらを含む電磁波の不要な出入りを遮
断するための大型設備を不要とすることができる。
基板上での電子部品やパターンの変更毎に、そのプリン
ト基板上でのループ状配線パターンをアンテナとして用
いて、電子部品やパターンから発生する電磁波を検出す
ることにより、そのプリント基板上の詳細な電磁波量を
測定する際に、それらを含む電磁波の不要な出入りを遮
断するための大型設備を不要とすることができる。
【００２１】そのため、制御機器から発生する電磁波の
測定を簡易化して、電磁波による詳細な影響を容易に調
べることができるとともに、作動的に問題が発生した場
合の原因追求を容易化することができる。
測定を簡易化して、電磁波による詳細な影響を容易に調
べることができるとともに、作動的に問題が発生した場
合の原因追求を容易化することができる。
【図１】本発明の実施の形態１のプリント基板の構成を
示す斜視図
示す斜視図
【図２】同実施の形態１における電磁波測定システムの
構成を示す斜視図
構成を示す斜視図
【図３】同実施の形態１における測定記録の説明図
【図４】本発明の実施の形態２のプリント基板の構成を
示す斜視図
示す斜視図
【図５】従来の電磁波測定システムの概略構成を示す斜
視図
視図
１１，２１，３１，４１ プリント基板 １２，４２ 基板パターン １３ 電子部品 １４，１５，２２，３２ ループ状配線パターン １６，１７ 測定用ランド ２３ 測定器 ２４ 測定用プローブ ３３ 測定記録表 ４３ 測定用部品
Claims (2)
- 【請求項１】 ＣＰＵやメモリのタイミングコントロー
ル用のクロック回路やＰＷＭ制御によるスイッチング電
源回路などの電磁波を発生する電子回路を有する制御機
器において、複数の配線パターンを有し、それらの配線
パターンにより前記電子回路を配線するために前記制御
機器内に組み込まれるプリント基板であって、一部の前
記配線パターンを、前記電磁波の測定用としてループ状
に形成し、そのループの中を通る電磁波を検出するよう
に構成したプリント基板。 - 【請求項２】 電磁波測定用の配線パターンを、ループ
状の導体を有する電子部品として実装した請求項１に記
載のプリント基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8176797A JPH10282166A (ja) | 1997-04-01 | 1997-04-01 | プリント基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8176797A JPH10282166A (ja) | 1997-04-01 | 1997-04-01 | プリント基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10282166A true JPH10282166A (ja) | 1998-10-23 |
Family
ID=13755620
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8176797A Pending JPH10282166A (ja) | 1997-04-01 | 1997-04-01 | プリント基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10282166A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005326422A (ja) * | 2004-05-14 | 2005-11-24 | Alstom Transport Sa | 電磁界の測定システム |
| JP2013065979A (ja) * | 2011-09-15 | 2013-04-11 | Fujitsu Component Ltd | 無線モジュール試験装置 |
| KR20150108489A (ko) * | 2014-03-17 | 2015-09-30 | 삼성디스플레이 주식회사 | 노이즈 검사 장치 및 이를 이용하는 표시 패널의 검사 방법 |
| KR20190036609A (ko) * | 2017-09-28 | 2019-04-05 | 주식회사 라온솔루션 | 노이즈를 확인할 수 있는 모바일용 메모리 실장 테스트 장치 |
| US11092623B2 (en) | 2018-12-11 | 2021-08-17 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Current sensor for measuring alternating electromagnetic wave and a current breaker using the same |
-
1997
- 1997-04-01 JP JP8176797A patent/JPH10282166A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005326422A (ja) * | 2004-05-14 | 2005-11-24 | Alstom Transport Sa | 電磁界の測定システム |
| JP2013065979A (ja) * | 2011-09-15 | 2013-04-11 | Fujitsu Component Ltd | 無線モジュール試験装置 |
| KR20150108489A (ko) * | 2014-03-17 | 2015-09-30 | 삼성디스플레이 주식회사 | 노이즈 검사 장치 및 이를 이용하는 표시 패널의 검사 방법 |
| KR20190036609A (ko) * | 2017-09-28 | 2019-04-05 | 주식회사 라온솔루션 | 노이즈를 확인할 수 있는 모바일용 메모리 실장 테스트 장치 |
| US11092623B2 (en) | 2018-12-11 | 2021-08-17 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Current sensor for measuring alternating electromagnetic wave and a current breaker using the same |
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