JP2006071383A - 電磁波妨害信号の発生源特定方法 - Google Patents
電磁波妨害信号の発生源特定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006071383A JP2006071383A JP2004253591A JP2004253591A JP2006071383A JP 2006071383 A JP2006071383 A JP 2006071383A JP 2004253591 A JP2004253591 A JP 2004253591A JP 2004253591 A JP2004253591 A JP 2004253591A JP 2006071383 A JP2006071383 A JP 2006071383A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- interference signal
- frequency
- domain information
- electromagnetic wave
- sideband
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
【課題】 比較的容易に且つ比較的短時間で電磁波妨害信号の発生源を特定することができるようにすることを目的とする。
【解決手段】 電磁波妨害信号の所定周波数範囲の周波数領域情報を得、この周波数領域情報のピークを検出して側波帯を検出し、この検出した側波帯を所定時間取得し、この所定時間取得した側波帯の時間的レベル変化の周期性を検出してこの電磁波妨害信号の時間領域情報の周期及びデューティを得、この時間領域情報の周期及びデューティに基づいて、この電磁波妨害信号の発生源を特定するようにしたものである。
【選択図】 図1
【解決手段】 電磁波妨害信号の所定周波数範囲の周波数領域情報を得、この周波数領域情報のピークを検出して側波帯を検出し、この検出した側波帯を所定時間取得し、この所定時間取得した側波帯の時間的レベル変化の周期性を検出してこの電磁波妨害信号の時間領域情報の周期及びデューティを得、この時間領域情報の周期及びデューティに基づいて、この電磁波妨害信号の発生源を特定するようにしたものである。
【選択図】 図1
Description
本発明はデジタル回路を有する電子機器の電磁波妨害信号の発生源を特定するのに適用して好適な電磁波妨害信号の発生源特定方法に関する。
一般にデジタル回路を有する電子機器の動作により生じる電磁波妨害信号(EMI)のほとんどは、クロック信号やデジタル伝送信号に代表される矩形波の基本波とその高調波に起因している。
近年のデジタル回路を有する電子機器は、図7に示す如く複数の機能モジュールによって構成されており、この場合複数の周波数のクロック信号により動作する。これら複数の周波数のクロック信号は、通常、ある一つの周波数を逓倍もしくは分周することで作り出されている。
そのため、このデジタル回路の動作により発生する電磁波妨害信号(EMI)は複数の周波数のクロック信号もしくはそれに同期するデジタル伝送信号等による基本波やその高調波が、複雑に重畳していることが多くなっている。
一般的に、電磁波妨害対策はこの電磁波妨害信号の発生源と伝達経路を調査しながら進める。この電磁波妨害信号の発生源の調査方法としては、図7に示す如く、電界プローブや電流プローブ等の検査プローブ1を用いて、基板、シャーシ、ケーブル上に流れる電磁波妨害対策対象となる周波数の電流を観測する方法があげられる。
また、従来特許文献1に記載の如き電磁波放射測定方法が提案されている。
特開2001−343409号公報
ところで、例えば図7に示すように周波数f1の電磁波妨害信号の発生源2と伝達経路を調査する場合、従来の調査方法では他の機能モジュール3、4及び5のクロック信号の周波数がf2、f3及びf4で之等の高調波がf1=2×f2=3×f3=4×f4と調査しようとする電磁波妨害信号の周波数f1と重畳している場合、この電磁波妨害信号の周波数f1とその他の高調波2×f2、3×f3、4×f4との切り分けが行えず、電磁波妨害信号の発生源や伝達経路が複数複雑に観測されて、電磁波妨害信号の主要因となっている発生源と伝達経路の特定が困難であり、この電磁波妨害信号の発生源の調査に長時間を要する不都合があった。
また特許文献1に記載の技術では電磁波妨害信号の測定はできるが、デジタル回路を有する電子機器の電磁波妨害信号の発生源を特定することはできない。
本発明は斯る点に鑑み、比較的容易に且つ比較的短時間で電磁波妨害信号の発生源を特定することができるようにすることを目的とする。
本発明電磁波妨害信号の発生源特定方法は電磁波妨害信号の所定周波数範囲の周波数領域情報を得、この周波数領域情報のピークを検出して側波帯を検出し、この検出した側波帯を所定時間取得し、この所定時間取得した側波帯の時間的レベル変化の周期性を検出してこの電磁波妨害信号の時間領域情報の周期及びデューティを得、この時間領域情報の周期及びデューティに基づいて、この電磁波妨害信号の発生源を特定するようにしたものである。
斯る本発明によれば電磁波妨害信号の所定周波数範囲の周波数領域情報から時間領域情報の特徴とする周期及びデューティを得、この時間領域情報の特徴とする周期及びデューティに基づいて、電磁波妨害信号の発生源を特定するようにしたので、この電磁波妨害信号の周波数と他の機能モジュールのクロック信号の周波数の高調波とが重畳した場合でも、電磁波妨害信号の発生源を区別することができ、比較的容易に且つ比較的短時間で電磁波妨害信号の発生源を特定することができる。
また、本発明電磁波妨害信号の発生源特定方法は電磁波妨害信号の所定周波数範囲の周波数領域情報を得、この周波数領域情報のピークを検出して側波帯を検出し、この検出した側波帯の周波数及びレベルを検出し、この検出した側波帯の周波数及びレベルよりこの電磁波妨害信号の周波数領域情報の変調度及び変調周波数を演算し、この周波数領域情報の変調度及び変調周波数に基づいて、この電磁波妨害信号の発生源を特定するようにしたものである。
斯る本発明によれば電磁波妨害信号の所定周波数範囲の周波数領域情報から周波数領域情報の特徴とする変調度及び変調周波数を得、この周波数領域情報の特徴とする変調度及び変調周波数に基づいて、電磁波妨害信号の発生源を特定するようにしたので、この電磁波妨害信号の周波数と他の機能モジュールのクロック信号の周波数の高調波とが重畳した場合でも、電磁波妨害信号の発生源を区別することができ、比較的容易に且つ比較的短時間で電磁波妨害信号の発生源を特定することができる。
また、本発明電磁波妨害信号の発生源特定方法は電磁波妨害信号の所定周波数範囲の周波数領域情報を得、この周波数領域情報のピークを検出して側波帯を検出し、この検出した側波帯を所定時間取得し、この所定時間取得した側波帯の時間的レベル変化の周期性を検出して、この電磁波妨害信号の時間領域情報の周期及びデューティを得ると共にこの検出した側波帯の周波数及びレベルを検出し、この検出した側波帯の周波数及びレベルよりこの電磁波妨害信号の周波数領域情報の変調度及び変調周波数を演算し、この時間領域情報の周期及びデューティとこの周波数領域情報の変調度及び変調周波数とに基づいて、この電磁波妨害信号の発生源を特定するようにしたものである。
本発明によれば、電磁波妨害信号の周波数と他の機能モジュールのクロック信号の周波数の高調波とが重畳した場合でも、電磁波妨害信号の発生源を区別することができ、比較的容易に且つ比較的短時間で電磁波妨害信号の発生源を特定することができる。
以下、図面を参照して本発明電磁波妨害信号の発生源特定方法を実施するための最良の形態の例を説明する。
図2は、本例による電磁波妨害信号の発生源特定方法を実施するための構成例を示し、図2において、10は電磁波妨害評価や電磁波妨害対策検討を行う設備で例えば電波暗室である。
本例においてはこの電波暗室10の所定位置に図7に示す如き電磁波妨害信号の発生源を特定しようとする電子機器即ち被試験機器11を配する如くする。
また、この電波暗室10の所定位置に被試験機器11が発生する電磁波妨害信号等を検出するアンテナ12が設けられており、このアンテナ12よりの電磁波妨害信号等の検出信号をこの電波暗室10の外に設けられた測定システム13に供給する。
尚、電磁波妨害対策検討においては、電磁波妨害信号をコモンモード電流やコモンモード電圧として間接的に評価する機材例えばWorkbench Faraday Cageを応用した評価装置や電流プローブ等を代用としてもよい。
この測定システム13は、スペクトラムアナライザ、電磁波妨害信号(EMI)レシーバ、高周波(RF)アンプ、高周波(RF)スイッチ等より構成され、コンピュータ等より成る制御装置14により制御される。この場合測定システム13のインターフェースはGPIB(General Purpose Interface Bus)等を介して自動的に制御される場合が多い。
コンピュータ等より成る制御装置14は、GPIB等を介して電波暗室10や測定システム13を制御し、測定システム13により測定したデータの収集と解析を行うと共に本例による図1に示すフローチャートによる電磁波妨害信号の発生源特定方法を実行する。図2において、15は種々の表示を行うモニターである。
この図1のフローチャートにおいては、開始後、先ずステップS1で、測定器であるスペクトラムアナライザにおいて、測定対象の電磁波妨害信号の周波数feを定義(設定)する。この電磁波妨害信号の周波数feは、図3に示す如きEMI規格に基づく通常の評価で得られるスペクトラムデータから得られる周波数データである。図3はEMI規格に基づく30MHZ〜1GHZのスペクトラムデータの例を示す。図3において、線aは規格値である。
また、このステップS1で、スペクトラムアナライザにおいて、側波帯測定周波数上限fsmaxと側波帯測定周波数下限fsminとを定義(設定)し、所定周波数範囲を決める。この周波数上限fsmax及び周波数下限fsminは測定器の性能と測定にかける時間から決定されるが、一般的には周波数下限fsminは数KHZ〜数10KHZ程度に、周波数上限fsmaxは数100KHZ程度に定義(設定)される。
また、このステップS1において、検出する側波帯の数である検出側波帯数Nsを設定(定義)する。この検出側波帯数Nsは搬送波の上側及び下側の側波帯の組数でカウントする。この検出側波帯数Nsは多いほど測定に要する時間が長くなるため通常は1〜4とする。
また、このステップS1でタイムドメイン情報取得時間Ttを設定(定義)する。このタイムドメイン情報取得時間Ttは、周波数領域情報(周波数ドメインデータ)の連続取得を続ける時間のことで、被試験機器11により決めるとよい。タイムドメイン情報取得時間Ttを長く設定すると、それだけ測定時間が長くなる。通常は数秒から数10秒に設定する。
その後、この電磁波妨害信号の搬送波周波数fcの測定を行う。この搬送波周波数fcは電磁波妨害信号の周波数feの中心周波数であり、最大ピーク値を示す周波数であり、この電磁波妨害信号の周波数feを詳細に測定することで得られる。
次に、スペクトラムアナライザのSPAN(測定用周波数範囲)を設定する(ステップS3)。このSPANは搬送波周波数fcを中心周波数としたときに、側波帯測定の周波数下限fsminが十分観測できるようにこの周波数下限fsminの2倍よりやや大きい任意の値Snをかけた値とする。
SPAN=2×fsmin×Sn
とし、任意の値Snを通常1.5とした値に設定する。
SPAN=2×fsmin×Sn
とし、任意の値Snを通常1.5とした値に設定する。
次にスペクトラムアナライザの分解能帯域幅RBW(Resolution Band Width)を設定する(ステップS4)。この分解能帯域幅RBWは測定速度と測定精度との兼ね合いで決定する。測定速度を優先する場合は、上述SPANを割る分母を小さく設定し、測定精度を優先する場合には、上述SPANを割る分母を大きく設定する。一般的にはSPAN/10〜SPAN/50に設定する。本例においては
RBW=SPAN/20
と設定する。
RBW=SPAN/20
と設定する。
本例においては、上述条件でスペクトラムデータ(周波数領域情報)を制御装置(コンピュータ)14に取得する。このスペクトラムデータを例えば積算平均を行い必要十分に安定したデータとする。
次にこのスペクトラムデータ(周波数領域情報)からピーク検出を行う(ステップS6)。この検出したピークは例えば図4に示す如く、搬送波、側波帯、そしてノイズとから成っている。ここでいうノイズは例えば外来電波等、周波数的な特徴を分析しようとする電磁波妨害信号に無関係な部分から生じるものである。
次に検出した図4に示す如きピークより側波帯を選別し、側波帯の周波数fsを検出する(ステップS7)。この場合搬送波を中心にしてその上側及び下側に対象関係にあるピークの組を側波帯とする。一般にデジタル回路による電磁波妨害信号は両側側波帯を持つので、両側側波帯の関係にないピークは側波帯ではないと判断する。図4例では3つの側波帯1、2及び3が存在する。
次に検出された側波帯の数がステップS1で設定した数Ns例えば2以上になったかどうかを判断し(ステップS8)、検出された側波帯の数が設定した側波帯数Nsに満たないときはスペクトラムアナライザのSPANを2倍とし(ステップS9)、このSPANが側波帯測定周波数上限fsmaxを十分観測できる周波数範囲fsmax×2(×Sn)以内であるかどうかを判断し(ステップS10)、以内であるときにはステップS4、ステップS5、ステップS6、ステップS7、ステップS8、ステップS9、ステップS10を繰り返す。
このステップS10でこのSPANが側波帯測定周波数上限fsmaxを十分観測できる周波数範囲fsmax×2(×Sn)を超えたときは検出側波帯数があるかどうかを判断し(ステップS11)、このステップS11で検出側波帯が無いと判断したときには周波数領域情報の特徴が無いとする(ステップS12)。
ステップS8で検出した側波帯の数が設定した側波帯数Ns以上になったときは、このスペクトラムアナライザの設定による測定で得られた周波数ドメインデータ(周波数領域情報)をステップS1で設定した取得時間Ttの間測定し、時間領域情報(タイムドメインデータ)として蓄積する(ステップS13)。このステップS13で得られる時間領域情報としては図5例に示す如く横軸を時間軸とし縦軸をレベルとし時間Tt間の搬送波及び側波帯の時間レベル変化曲線が得られる。
ステップS11において、検出された側波帯の数は設定した側波帯数Nsに満たないが、いくつかの側波帯が検出されたときはSPANを検出された側波帯の最大周波数fsの2倍よりやや大きく、最大fs×2(×Sn)に設定する(ステップS14)。
また、分解能帯域幅RBWについては測定速度が低下する場合は、このSPANの拡大に応じて広げた値を設定し(ステップS15)、ステップS13に移行する。
本例においては、ステップS13で得られた時間領域情報の搬送波及び側波帯の時間的レベル変化の周期性を検出する(ステップS16)。このステップS16において、周期性が検出されたかどうかを判断し(ステップS17)、周期性が無いと判断したときは時間領域情報(タイムドメインデータ)の特徴無しとする(ステップS18)。
ステップS17で周期性有りと判断したときには、図5に示す如きこの周期及びデューティを、この電磁波妨害信号の時間領域情報(タイムドメインデータ)の特徴とする(ステップS19)。
また、本例においては、ステップS13で得られた図5に示す如き、時間領域情報(タイムドメインデータ)を平均化し、搬送波及び側波帯の夫々の周波数及びレベル演算し(ステップS20)、図6に示す如き搬送波及び側波帯の夫々の周波数及びレベルを得る。
次に、この搬送波及び側波帯の夫々の周波数及びレベルより、例えば図6に示す如き変調度ΔdB1、ΔdB2、・・・ΔdB6及び変調周波数(fc−fs1、fc+fs1)、(fc−fs2、fc+fs2)、(fc−fs3、fc+fs3)を演算し(ステップS21)、この変調度及び変調周波数をこの電磁波妨害信号の周波数領域情報(周波数ドメインデータ)の特徴とする(ステップS22)。
本例においては、ステップS19で得られる時間領域情報の周期、デューティ及び/又はステップS22で得られる周波数領域情報の変調度、変調周波数に基づいて、図7に示す如き電子機器の電磁波妨害信号の発生源を特定するようにする。
本例によれば、電磁波妨害信号の所定周波数範囲の周波数領域情報から時間領域情報の特徴とする周期、デューティ及び/又は周波数領域情報の特徴とする変調度、変調周波数を得、この時間領域情報の特徴とする周期、デューティ及び/又は周波数領域情報の特徴とする変調度、変調周波数に基づいて、電磁波妨害信号の発生源を特定するようにしたので、この電磁波妨害信号の周波数と他の機能モジュールのクロック信号の周波数の高調波とが重畳した場合でも、電磁波妨害信号の発生源を区別することができ、比較的容易に且つ比較的短時間で電磁波妨害信号の発生源を特定することができる。
尚本発明は上述例に限ることなく本発明の要旨を逸脱することなく、その他種々の構成が採り得ることは勿論である。
10…電波暗室、11…被試験機器、12…アンテナ、13…測定システム、14…制御装置
Claims (3)
- 電磁波妨害信号の所定周波数範囲の周波数領域情報を得、該周波数領域情報のピークを検出して側波帯を検出し、前記検出した側波帯を所定時間取得し、該所定時間取得した側波帯の時間的レベル変化の周期性を検出して前記電磁波妨害信号の時間領域情報の周期及びデューティを得、該時間領域情報の周期及びデューティに基づいて、前記電磁波妨害信号の発生源を特定するようにしたことを特徴とする電磁波妨害信号の発生源特定方法。
- 電磁波妨害信号の所定周波数範囲の周波数領域情報を得、該周波数領域情報のピークを検出して側波帯を検出し、前記検出した側波帯の周波数及びレベルを検出し、該検出した側波帯の周波数及びレベルより前記電磁波妨害信号の周波数領域情報の変調度及び変調周波数を演算し、該周波数領域情報の変調度及び変調周波数に基づいて、前記電磁波妨害信号の発生源を特定するようにしたことを特徴とする電磁波妨害信号の発生源特定方法。
- 電磁波妨害信号の所定周波数範囲の周波数領域情報を得、該周波数領域情報のピークを検出して側波帯を検出し、前記検出した側波帯を所定時間取得し、該所定時間取得した側波帯の時間的レベル変化の周期性を検出して、前記電磁波妨害信号の時間領域情報の周期及びデューティを得ると共に前記検出した側波帯の周波数及びレベルを検出し、該検出した側波帯の周波数及びレベルより前記電磁波妨害信号の周波数領域情報の変調度及び変調周波数を演算し、前記時間領域情報の周期及びデューティと前記周波数領域情報の変調度及び変調周波数とに基づいて、前記電磁波妨害信号の発生源を特定するようにしたことを特徴とする電磁波妨害信号の発生源特定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004253591A JP2006071383A (ja) | 2004-08-31 | 2004-08-31 | 電磁波妨害信号の発生源特定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004253591A JP2006071383A (ja) | 2004-08-31 | 2004-08-31 | 電磁波妨害信号の発生源特定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006071383A true JP2006071383A (ja) | 2006-03-16 |
Family
ID=36152185
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004253591A Pending JP2006071383A (ja) | 2004-08-31 | 2004-08-31 | 電磁波妨害信号の発生源特定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006071383A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017225026A (ja) * | 2016-06-16 | 2017-12-21 | 株式会社東芝 | 信号検出装置、無線通信装置、無線通信端末および信号検出方法 |
CN117647694A (zh) * | 2024-01-29 | 2024-03-05 | 深圳市微克科技股份有限公司 | 一种适用于智能手表加工过程的质量检测方法 |
-
2004
- 2004-08-31 JP JP2004253591A patent/JP2006071383A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017225026A (ja) * | 2016-06-16 | 2017-12-21 | 株式会社東芝 | 信号検出装置、無線通信装置、無線通信端末および信号検出方法 |
CN117647694A (zh) * | 2024-01-29 | 2024-03-05 | 深圳市微克科技股份有限公司 | 一种适用于智能手表加工过程的质量检测方法 |
CN117647694B (zh) * | 2024-01-29 | 2024-04-09 | 深圳市微克科技股份有限公司 | 一种适用于智能手表加工过程的质量检测方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20130238264A1 (en) | Measurement device for identifying electromagnetic interference source, method for estimating the same, and computer readable information recording medium enabling operations thereof | |
JP5482078B2 (ja) | 部分放電検出装置 | |
US8903324B1 (en) | Passive intermodulation (PIM) distance-to-fault analyzer and method to resolve distance-to-fault within a constrained receive band | |
US8073641B2 (en) | Electromagnetic field distribution measuring method, apparatus for the method, computer program and information recording medium | |
US6297642B1 (en) | Partial discharge detection method | |
JP4261041B2 (ja) | 高電圧機器の絶縁異常診断装置及びその絶縁異常診断方法 | |
JP5762661B1 (ja) | 部分放電位置標定装置 | |
US20150142344A1 (en) | Method and apparatus for measuring partial discharge charge value in frequency domain | |
JP6789872B2 (ja) | 分析方法、分析装置、およびプログラム | |
JP2001133506A (ja) | ガス絶縁機器の診断方法および装置 | |
JP5103715B2 (ja) | 電磁波妨害信号の発生源特定方法及びプログラム | |
JP2006084413A (ja) | 電磁波妨害信号の発生源特定方法 | |
JP2006071383A (ja) | 電磁波妨害信号の発生源特定方法 | |
JP2003185689A (ja) | 電界測定装置、電界測定方法、プログラム、及び記憶媒体 | |
JP4972856B2 (ja) | 電磁波妨害信号の発生源特定方法 | |
US7680493B2 (en) | Low phase noise testing system utilizing a crystal filter | |
US20130113659A1 (en) | Detection of signals | |
JP6858395B2 (ja) | ノイズ源探査システムおよびノイズ源探査方法 | |
RU2702453C1 (ru) | Способ оценки стойкости микроэлектронного оборудования к внешнему электромагнитному воздействию | |
RU2685048C1 (ru) | Способ определения мест появления неоднородностей и повреждений линий электропередачи | |
JP2005257285A (ja) | 妨害電波自動測定装置 | |
Rahim | Evolution and trends of EMI receiver | |
JP2011002281A (ja) | 検査装置、ならびに、検査方法 | |
JPH06308202A (ja) | 回路検査装置 | |
JP2654793B2 (ja) | 部分放電検出装置 |