JPH10281978A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JPH10281978A JPH10281978A JP9341997A JP9341997A JPH10281978A JP H10281978 A JPH10281978 A JP H10281978A JP 9341997 A JP9341997 A JP 9341997A JP 9341997 A JP9341997 A JP 9341997A JP H10281978 A JPH10281978 A JP H10281978A
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- automatic analyzer
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】自動分析装置の測光部で、Log変換器の入力光
電流Iinをマイクロプロセッサを用いて算出し、この入
力光電流Iin を光源ランプの交換時期の判定に使用す
る。 【解決手段】測光部はマイクロプロセッサ１０１，Log
変換器１７，Ａ／Ｄ変換器１８，Ｄ／Ａ変換器１０２，
光検知器３３から成る。光検知器３３からの入力光電流
IinはLog変換器１７で対数変換と電流電圧変換され、Ａ
／Ｄ変換器でディジタル量に変換される。また、Log 変
換器のリファレンス電流は、Ｄ／Ａ変換器の設定値と電
圧電流変換用抵抗値からマイクロプロセッサで算出す
る。以上よりLog変換器の変換式を用いてIinを算出す
る。
電流Iinをマイクロプロセッサを用いて算出し、この入
力光電流Iin を光源ランプの交換時期の判定に使用す
る。 【解決手段】測光部はマイクロプロセッサ１０１，Log
変換器１７，Ａ／Ｄ変換器１８，Ｄ／Ａ変換器１０２，
光検知器３３から成る。光検知器３３からの入力光電流
IinはLog変換器１７で対数変換と電流電圧変換され、Ａ
／Ｄ変換器でディジタル量に変換される。また、Log 変
換器のリファレンス電流は、Ｄ／Ａ変換器の設定値と電
圧電流変換用抵抗値からマイクロプロセッサで算出す
る。以上よりLog変換器の変換式を用いてIinを算出す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は自動分析装置に関す
る。
る。
【０００２】
【従来の技術】従来の自動分析装置の一例は特開昭52−
40187 号公報に開示される。この文献による自動分析装
置では、反応ディスクの外周上に配置された多数の反応
容器のそれぞれに関し、分析依頼情報に従って、所定量
の試料サンプルを反応容器に分注し、所定の試薬をサン
プルに加え、所定時間および所定温度の条件下で反応さ
せて所要の測定を行い、測定終了後に反応容器を洗浄
し、再度分析に使用する基本動作を有する。
40187 号公報に開示される。この文献による自動分析装
置では、反応ディスクの外周上に配置された多数の反応
容器のそれぞれに関し、分析依頼情報に従って、所定量
の試料サンプルを反応容器に分注し、所定の試薬をサン
プルに加え、所定時間および所定温度の条件下で反応さ
せて所要の測定を行い、測定終了後に反応容器を洗浄
し、再度分析に使用する基本動作を有する。
【０００３】このように動作する自動分析装置の測定は
吸光度測定であり、反応容器が吸光度測定用セルを兼ね
ている。このように構成された自動分析装置は反応容器
直接測光方式と呼ばれる。また、多数の反応容器を固定
した反応ディスクを１マシンサイクル内で１回転と１反
応容器分ずつ回転させ、この回転中に全ての反応容器が
最低１回は測光軸上を通過するように構成され、これに
よって全反応過程のデータを測光する方式は、全反応過
程方式と呼ばれる。反応容器直接測光方式では、反応過
程の試料のＡ／Ｄ変換器の出力から前述のセルブランク
値を差引くことで、水との相対的な吸光度を算出してい
る。
吸光度測定であり、反応容器が吸光度測定用セルを兼ね
ている。このように構成された自動分析装置は反応容器
直接測光方式と呼ばれる。また、多数の反応容器を固定
した反応ディスクを１マシンサイクル内で１回転と１反
応容器分ずつ回転させ、この回転中に全ての反応容器が
最低１回は測光軸上を通過するように構成され、これに
よって全反応過程のデータを測光する方式は、全反応過
程方式と呼ばれる。反応容器直接測光方式では、反応過
程の試料のＡ／Ｄ変換器の出力から前述のセルブランク
値を差引くことで、水との相対的な吸光度を算出してい
る。
【０００４】ここで光源として使用するランプは、輝度
や輝度分布等に経時的変化を生じる有寿命品である。通
常定電圧入力に対して、光源ランプの光量は減少してい
き、交換時期を迎えることとなる。
や輝度分布等に経時的変化を生じる有寿命品である。通
常定電圧入力に対して、光源ランプの光量は減少してい
き、交換時期を迎えることとなる。
【０００５】そこで従来の自動分析装置では、セルブラ
ンク値の吸光度を監視して既定値を超えた場合、使用者
に対して光源ランプの交換を促す方法をとってきた。
ンク値の吸光度を監視して既定値を超えた場合、使用者
に対して光源ランプの交換を促す方法をとってきた。
【０００６】Log変換器の出力式を数１に示す。Log変換
器の出力は入力電流Iin とリファレンス電流Irefの比か
ら常用対数をとり、これにLog 変換器のゲインＫを掛け
た値として得られる。
器の出力は入力電流Iin とリファレンス電流Irefの比か
ら常用対数をとり、これにLog 変換器のゲインＫを掛け
た値として得られる。
【０００７】
【数１】 Ｖｏ＝Ｋ×Log10（Iref／Iin） …（数１） Ｖｏ：Log 変換器出力電圧 Ｋ：Log 変換器ゲイン Iref：リファレンス電流 Iin：光検知器からの入力電流
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】前述のように従来の自
動分析装置で、光源ランプの交換時期の判断はセルブラ
ンク値の吸光度データをもとにしたものである。この吸
光度データには反応容器の透過率も含まれており、光源
ランプの光量低下と反応容器の透過率のばらつきの切り
分けを難しくしている。また、同一特性の光源ランプと
光度計を用いても、Log変換器のリファレンス電流値に
ばらつきがあれば、Iin一定であっても吸光度データは
異なってくる。この場合リファレンス電流の設定値が高
めだと、光源ランプは早い段階で使用限界に達すること
となる。このように吸光度データで光源ランプの寿命を
管理すると、光源ランプの使用限界はリファレンス電流
の設定値に影響される。
動分析装置で、光源ランプの交換時期の判断はセルブラ
ンク値の吸光度データをもとにしたものである。この吸
光度データには反応容器の透過率も含まれており、光源
ランプの光量低下と反応容器の透過率のばらつきの切り
分けを難しくしている。また、同一特性の光源ランプと
光度計を用いても、Log変換器のリファレンス電流値に
ばらつきがあれば、Iin一定であっても吸光度データは
異なってくる。この場合リファレンス電流の設定値が高
めだと、光源ランプは早い段階で使用限界に達すること
となる。このように吸光度データで光源ランプの寿命を
管理すると、光源ランプの使用限界はリファレンス電流
の設定値に影響される。
【０００９】本発明の目的は、光源ランプの使用限界を
吸光度データのような相対値ではなく、Log変換器の入
力電流Iinで定量的に規定することにある。またIin は
反応容器を外した状態で測定した場合、反応容器の吸光
の影響を排除できる。
吸光度データのような相対値ではなく、Log変換器の入
力電流Iinで定量的に規定することにある。またIin は
反応容器を外した状態で測定した場合、反応容器の吸光
の影響を排除できる。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の自動分析装置の
測光系では、光源ランプよりの光は光学系と反応槽を経
由して光検知器で受光される。この際、測光時に光軸が
反応容器を経由しなければ反応容器による吸光の影響を
排除できる。受光された光は光検知器により光電流に変
換される。この受光量と光電流値の関係は比例を示す。
光電流はLog 変換器を経てＡ／Ｄ変換器によりディジタ
ル量へ変換される。この測定値と既知のリファレンス電
流値からマイクロプロセッサを用いて数１より光電流を
算出する。測定した光電流値がばらつく場合には複数回
測定を行い、その平均値を用いることも可能である。
測光系では、光源ランプよりの光は光学系と反応槽を経
由して光検知器で受光される。この際、測光時に光軸が
反応容器を経由しなければ反応容器による吸光の影響を
排除できる。受光された光は光検知器により光電流に変
換される。この受光量と光電流値の関係は比例を示す。
光電流はLog 変換器を経てＡ／Ｄ変換器によりディジタ
ル量へ変換される。この測定値と既知のリファレンス電
流値からマイクロプロセッサを用いて数１より光電流を
算出する。測定した光電流値がばらつく場合には複数回
測定を行い、その平均値を用いることも可能である。
【００１１】以上より受光量の変動を電流値という定量
的な値で管理することが可能となる。また、光軸が反応
容器を経由しない状態で測光を行えば、反応容器の吸光
のばらつきの影響を排除した受光量の監視が可能であ
る。
的な値で管理することが可能となる。また、光軸が反応
容器を経由しない状態で測光を行えば、反応容器の吸光
のばらつきの影響を排除した受光量の監視が可能であ
る。
【００１２】本発明による自動分析装置の測光系は、測
定前に予め各波長毎の光電流値を測定する。そしてこの
光電流値を予め規定した許容範囲と比較し、測定値がこ
の範囲を逸脱していればその旨を装置使用者に対して示
し、光源ランプの交換を促す。これにより光源ランプの
劣化による測定データの信頼性低下を事前に防止でき
る。
定前に予め各波長毎の光電流値を測定する。そしてこの
光電流値を予め規定した許容範囲と比較し、測定値がこ
の範囲を逸脱していればその旨を装置使用者に対して示
し、光源ランプの交換を促す。これにより光源ランプの
劣化による測定データの信頼性低下を事前に防止でき
る。
【００１３】また、従来の方法ではリファレンス電流Ir
efと光電流Iin の相対値より算出する吸光度データをも
とに光源ランプの使用限界を規定しているが、本発明で
はリファレンス電流のばらつきを排除したLog変換器の
入力電流Iinで定量的に規定できる。またIin は反応容
器を外した状態で測定した場合、反応容器の吸光の影響
を排除できる。
efと光電流Iin の相対値より算出する吸光度データをも
とに光源ランプの使用限界を規定しているが、本発明で
はリファレンス電流のばらつきを排除したLog変換器の
入力電流Iinで定量的に規定できる。またIin は反応容
器を外した状態で測定した場合、反応容器の吸光の影響
を排除できる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施例を添付図
面に基づいて説明する。
面に基づいて説明する。
【００１５】図２は自動分析装置の原理的な装置構成図
を示す。図２で、１は反応ディスクであり、反応ディス
ク１は回転自在に取付けられ、かつ反応ディスク１を回
転させる回転駆動機構（図示せず）を備えている。反応
ディスク１の外周上には例えば１２０個の多数の反応容
器２が設けられている。反応ディスク１全体は保温槽３
によって所定の温度に保持されている。４は恒温槽であ
る。
を示す。図２で、１は反応ディスクであり、反応ディス
ク１は回転自在に取付けられ、かつ反応ディスク１を回
転させる回転駆動機構（図示せず）を備えている。反応
ディスク１の外周上には例えば１２０個の多数の反応容
器２が設けられている。反応ディスク１全体は保温槽３
によって所定の温度に保持されている。４は恒温槽であ
る。
【００１６】５は試料サンプルディスク機構であり、こ
の機構５には多数の試料カップ６が配設されている。試
料カップ６内の試料は試料ピペッティング機構７のノズ
ル８によって適宜に抽出され、所定の反応容器に注入さ
れる。９はそれぞれ多数の試料カップを備えた試薬ディ
スク機構であり、各試薬ディスク機構９には試薬ピペッ
ティング機構１０Ａと１０Ｂが配設されている。試薬デ
ィスク機構９に近接されて配設された１１は撹拌機構で
ある。１２は多波長光度計、１３は光源であり、多波長
光度計１２と光源１３の間に測光対象を収容する反応容
器２が配設される。１４は洗浄機構である。
の機構５には多数の試料カップ６が配設されている。試
料カップ６内の試料は試料ピペッティング機構７のノズ
ル８によって適宜に抽出され、所定の反応容器に注入さ
れる。９はそれぞれ多数の試料カップを備えた試薬ディ
スク機構であり、各試薬ディスク機構９には試薬ピペッ
ティング機構１０Ａと１０Ｂが配設されている。試薬デ
ィスク機構９に近接されて配設された１１は撹拌機構で
ある。１２は多波長光度計、１３は光源であり、多波長
光度計１２と光源１３の間に測光対象を収容する反応容
器２が配設される。１４は洗浄機構である。
【００１７】制御系および信号処理系について、１５は
マイクロコンピュータ、１６はインターフェース、１７
はLog(対数）変換器、１８はＡ／Ｄ変換器、１９は試薬
分注機構である。また２２はプリンタ、２３はＣＲＴ、
２４は記憶装置、２５は操作パネルである。
マイクロコンピュータ、１６はインターフェース、１７
はLog(対数）変換器、１８はＡ／Ｄ変換器、１９は試薬
分注機構である。また２２はプリンタ、２３はＣＲＴ、
２４は記憶装置、２５は操作パネルである。
【００１８】図１は反応容器と測光系の要部を示し、こ
の図に基づいて入力光電流Iin 算出方法について詳述す
る。入力光電流を算出する際には反応容器の吸光の影響
を排除するため、この反応容器を事前に外しておく、ま
たは光軸が反応容器を経由しない測光ポイントに反応デ
ィスクを移動する。光源ランプよりの光には、分析に必
要とされる全ての波長が含まれている。従って、必要な
光の組合わせによる光を与えるものではない。反応槽を
通過した光は、分光用グレーティング３２で分光され、
分光した各波長の光は検知器３３に配列された、例え
ば、１２個の受光素子のそれぞれによって測光される。
受光素子によって得られた測定データは電流値としてLo
g 変換器１７の１２個の対数変換素子により対数変換と
同時に電流電圧変換が行われる。この測定処理は、例え
ば、連続して５回行い、この内最大値と最小値を除いた
３回の測定値の平均値を算出して、入力光電流値算出用
の測定値とする。ここでLog 変換器の出力電圧値は前述
の数１によって与えられる。Ｄ／Ａ変換器１０２は数１
におけるリファレンス電流Irefを与えるものである。こ
のリファレンス電流は、マイクロプロセッサにより与え
られるデータをＤ／Ａ変換器１０２が電圧に置換えて、
更にこの電圧を抵抗により電圧電流変換することで得ら
れる。マイクロプロセッサ１０１により与えられたデー
タはＤ／Ａ変換器内部で記憶保持され、次にマイクロプ
ロセッサ１０１からデータの書換えが行われるまで失わ
れることはない。
の図に基づいて入力光電流Iin 算出方法について詳述す
る。入力光電流を算出する際には反応容器の吸光の影響
を排除するため、この反応容器を事前に外しておく、ま
たは光軸が反応容器を経由しない測光ポイントに反応デ
ィスクを移動する。光源ランプよりの光には、分析に必
要とされる全ての波長が含まれている。従って、必要な
光の組合わせによる光を与えるものではない。反応槽を
通過した光は、分光用グレーティング３２で分光され、
分光した各波長の光は検知器３３に配列された、例え
ば、１２個の受光素子のそれぞれによって測光される。
受光素子によって得られた測定データは電流値としてLo
g 変換器１７の１２個の対数変換素子により対数変換と
同時に電流電圧変換が行われる。この測定処理は、例え
ば、連続して５回行い、この内最大値と最小値を除いた
３回の測定値の平均値を算出して、入力光電流値算出用
の測定値とする。ここでLog 変換器の出力電圧値は前述
の数１によって与えられる。Ｄ／Ａ変換器１０２は数１
におけるリファレンス電流Irefを与えるものである。こ
のリファレンス電流は、マイクロプロセッサにより与え
られるデータをＤ／Ａ変換器１０２が電圧に置換えて、
更にこの電圧を抵抗により電圧電流変換することで得ら
れる。マイクロプロセッサ１０１により与えられたデー
タはＤ／Ａ変換器内部で記憶保持され、次にマイクロプ
ロセッサ１０１からデータの書換えが行われるまで失わ
れることはない。
【００１９】マイクロプロセッサ１０１は、得られた測
定値とＤ／Ａ変換器１０２の設定値およびこの出力に接
続した既知の抵抗値から求められるリファレンス電流値
から、数１より入力光電流Iin を算出する。算出された
各波長の入力光電流値は、記憶装置に記録され、また操
作パネル２５あるいはプリンタ２２より出力される。更
にマイクロプロセッサ１０１は測定したIin と、予め規
定した入力光電流値の使用範囲と比較する。この範囲を
逸脱している場合には測光系に異常があることを操作パ
ネル２５に表示して装置使用者に対して光源ランプの交
換を促す。またマイクロプロセッサ１０１は、入力光電
流値Iin の測定と合わせて光源ランプの電源のオン／オ
フ時間を記録し、光源ランプの通電時間と入力光電流Ii
n の変化過程を記録する。光源ランプの通電時間に対す
る光量の変化傾向が既知である場合、前述の入力光電流
Iin の変化傾向から、光源ランプが使用不可となるまで
の時間を予測することも可能である。
定値とＤ／Ａ変換器１０２の設定値およびこの出力に接
続した既知の抵抗値から求められるリファレンス電流値
から、数１より入力光電流Iin を算出する。算出された
各波長の入力光電流値は、記憶装置に記録され、また操
作パネル２５あるいはプリンタ２２より出力される。更
にマイクロプロセッサ１０１は測定したIin と、予め規
定した入力光電流値の使用範囲と比較する。この範囲を
逸脱している場合には測光系に異常があることを操作パ
ネル２５に表示して装置使用者に対して光源ランプの交
換を促す。またマイクロプロセッサ１０１は、入力光電
流値Iin の測定と合わせて光源ランプの電源のオン／オ
フ時間を記録し、光源ランプの通電時間と入力光電流Ii
n の変化過程を記録する。光源ランプの通電時間に対す
る光量の変化傾向が既知である場合、前述の入力光電流
Iin の変化傾向から、光源ランプが使用不可となるまで
の時間を予測することも可能である。
【００２０】
【発明の効果】本発明によれば、自動分析装置で、Ｄ／
Ａ変換器の設定値とＤ／Ａ変換器の出力を電圧電流変換
する抵抗値とから、Log 変換器のリファレンス電流値を
マイクロプロセッサで算出可能とし、更に数１を用いて
入力光電流Iin を算出している。これによりリファレン
ス電流の装置間差を排除した入力光電流Iin により、光
源ランプの交換時期をより定量的な値で管理可能とす
る。
Ａ変換器の設定値とＤ／Ａ変換器の出力を電圧電流変換
する抵抗値とから、Log 変換器のリファレンス電流値を
マイクロプロセッサで算出可能とし、更に数１を用いて
入力光電流Iin を算出している。これによりリファレン
ス電流の装置間差を排除した入力光電流Iin により、光
源ランプの交換時期をより定量的な値で管理可能とす
る。
【図１】本発明の測光部のブロック図。
【図２】自動分析装置の原理的な説明図。
Claims (8)
- 【請求項１】分光器，光検知器、その出力である光電流
を増幅するアンプをもち、分析を行う前に、分析に使用
する反応容器に水を入れて上記反応容器に対し測光を実
施する自動分析装置において、測定前に光軸が上記反応
容器を経由しない測光ポイントまたは上記反応容器を外
した状態で測定を行い、この測定値とLog 変換器のリフ
ァレンス電流値から入力光電流値を算出し、光源ランプ
が使用可能範囲にあるかどうかを判断することを特徴と
する自動分析装置。 - 【請求項２】請求項１において、Ａ／Ｄ変換器およびＣ
ＰＵを有し、各測定波長の入力光電流値が測定データの
信頼性を保証できる範囲内にあるかどうかを判断する機
能を有する自動分析装置。 - 【請求項３】請求項２において、入力光電流値を連続し
て５回測定を行い、最大値と最小値を除いた３回の測定
値の平均値をもって入力光電流値とする機能を有する自
動分析装置。 - 【請求項４】請求項２において、ランプ電源の電圧制御
機構を有し、入力光電流が測定データの信頼性を保証で
きる範囲外となった時、上記光源ランプの印可電圧を制
御して、入力光電流値を規定範囲内へ収める機能を有す
る自動分析装置。 - 【請求項５】請求項２において、測定した入力光電流値
と光源ランプの通電時間を記録し、既知の上記光源ラン
プの特性から、入力光電流値が使用可能領域を外れるま
での時間予測を行う機能を有する自動分析装置。 - 【請求項６】請求項２において、同一測光系における光
源ランプ交換時の入力光電流値の波長分布の変動をモニ
タする機能を有する自動分析装置。 - 【請求項７】請求項２において、入力光電流値が測定デ
ータの信頼性を保証できる範囲外となった時、装置使用
者に対して測光系の異常を示す機能を有する自動分析装
置。 - 【請求項８】モデム等の通信回線インターフェース回路
を有し、サービスサイトで測定した入力光電流Iin をモ
ニタし、ランプ劣化による測定データの信頼性低下の予
防保全が可能となる自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9341997A JPH10281978A (ja) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9341997A JPH10281978A (ja) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | 自動分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10281978A true JPH10281978A (ja) | 1998-10-23 |
Family
ID=14081791
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9341997A Pending JPH10281978A (ja) | 1997-04-11 | 1997-04-11 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10281978A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004184141A (ja) * | 2002-12-02 | 2004-07-02 | Hitachi High-Technologies Corp | 分析装置 |
| JP2006125953A (ja) * | 2004-10-28 | 2006-05-18 | Jeol Ltd | 生化学自動分析装置 |
| JP2008058151A (ja) * | 2006-08-31 | 2008-03-13 | Hitachi High-Technologies Corp | 化学分析装置 |
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| CN102914547A (zh) * | 2012-10-09 | 2013-02-06 | 上海交通大学 | 自动检测瓶装液体中杂质的系统和方法 |
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| WO2023119813A1 (ja) * | 2021-12-23 | 2023-06-29 | 株式会社日立ハイテク | 自動分析装置及び光源ランプの寿命の判定方法 |
-
1997
- 1997-04-11 JP JP9341997A patent/JPH10281978A/ja active Pending
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