JPH10278910A - サーモグラフィによる製品検査装置 - Google Patents
サーモグラフィによる製品検査装置Info
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- JPH10278910A JPH10278910A JP8788097A JP8788097A JPH10278910A JP H10278910 A JPH10278910 A JP H10278910A JP 8788097 A JP8788097 A JP 8788097A JP 8788097 A JP8788097 A JP 8788097A JP H10278910 A JPH10278910 A JP H10278910A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 高温領域と低温領域の温度分布を持つ加熱シ
ール製品の不良検出精度を高める。 【解決手段】 製品の搬送方向と直交する方向を走査ラ
インとして製品の温度を検出する赤外線カメラ１２と、
複数の異常温度レベルの判定値１８と不良品の判定値２
０とを有すると共に、前記搬送方向に一定の測定範囲で
前記赤外線カメラの検出信号を取り込み、該検出信号ｔ
m を前記異常温度レベルの判定値１８と比較して異常温
度レベルの信号を計数し、該計数値１９を前記不良品の
判定値２０と比較することにより、不良品の判定を行う
検査処理手段１４〜１７とを備え、包装加熱シールされ
た製品を赤外線カメラ１２により検査する。
ール製品の不良検出精度を高める。 【解決手段】 製品の搬送方向と直交する方向を走査ラ
インとして製品の温度を検出する赤外線カメラ１２と、
複数の異常温度レベルの判定値１８と不良品の判定値２
０とを有すると共に、前記搬送方向に一定の測定範囲で
前記赤外線カメラの検出信号を取り込み、該検出信号ｔ
m を前記異常温度レベルの判定値１８と比較して異常温
度レベルの信号を計数し、該計数値１９を前記不良品の
判定値２０と比較することにより、不良品の判定を行う
検査処理手段１４〜１７とを備え、包装加熱シールされ
た製品を赤外線カメラ１２により検査する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、包装加熱シールさ
れた製品を赤外線カメラにより検査するサーモグラフィ
による製品検査装置に関する。
れた製品を赤外線カメラにより検査するサーモグラフィ
による製品検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図５は包装加熱シールラインの概要を説
明するための図であり、１１は熱シール機、１２はライ
ン赤外線カメラ、１３は製品処理機、２１は中間品、２
２、２３は製品、３１はベルトラインを示す。
明するための図であり、１１は熱シール機、１２はライ
ン赤外線カメラ、１３は製品処理機、２１は中間品、２
２、２３は製品、３１はベルトラインを示す。
【０００３】ラーメンや菓子等の食品、薬品、その他の
真空パック製品は、まず円筒状の長い連続した包装シー
トを作成し、その中に食品等を充填したものを、例えば
図５に示すような包装加熱シールラインにおいて、両端
（前後）で加熱シールしてカットし製品として送り出す
ようにしている。図５に示す包装加熱シールラインは、
中に食品等を充填した中間品２１をベルトライン３１で
搬送しながら、熱シール機１１で加熱シールしてカット
し、これら製品２２、２３を検査品としてライン赤外線
カメラ１２で検査し、検査後の製品２３を製品処理機１
３で処理するものである。
真空パック製品は、まず円筒状の長い連続した包装シー
トを作成し、その中に食品等を充填したものを、例えば
図５に示すような包装加熱シールラインにおいて、両端
（前後）で加熱シールしてカットし製品として送り出す
ようにしている。図５に示す包装加熱シールラインは、
中に食品等を充填した中間品２１をベルトライン３１で
搬送しながら、熱シール機１１で加熱シールしてカット
し、これら製品２２、２３を検査品としてライン赤外線
カメラ１２で検査し、検査後の製品２３を製品処理機１
３で処理するものである。
【０００４】このような包装加熱シールでは、充填した
ものが加熱シール領域にはみ出したり、加熱が十分でな
かったりしてシールが不完全になることがあるため、ラ
イン赤外線カメラ１２を用いて不完全なシールの不良品
の判定検査をサーモグラフィにより行っている。このよ
うな包装加熱シールラインにおける流れ製品の良品と不
良品の検査では、熱シール機１１で加熱シールしてカッ
トした製品２２、２３を検査品としてライン赤外線カメ
ラ１２で温度を測定し、ライン赤外線カメラ１２の走査
ライン上の温度が設定値以上又は設定値以下になった時
に不良品として警報を出力していた。
ものが加熱シール領域にはみ出したり、加熱が十分でな
かったりしてシールが不完全になることがあるため、ラ
イン赤外線カメラ１２を用いて不完全なシールの不良品
の判定検査をサーモグラフィにより行っている。このよ
うな包装加熱シールラインにおける流れ製品の良品と不
良品の検査では、熱シール機１１で加熱シールしてカッ
トした製品２２、２３を検査品としてライン赤外線カメ
ラ１２で温度を測定し、ライン赤外線カメラ１２の走査
ライン上の温度が設定値以上又は設定値以下になった時
に不良品として警報を出力していた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の検
査では、走査ライン上の温度が設定値以上又は設定値以
下か否かで判定を行うため、温度分布が一様であれば一
定の精度で不良品の検知が可能であるが、温度分布が高
温領域と低温領域のように一様でない場合には検知が不
可能になるという問題がある。このような問題は、例え
ば包装シートが両端のみで加熱シールされるものではな
く、図４に示すように円筒状の長い連続した包装シート
２１を作成する際に、縦方向に加熱シールされた領域２
５がある場合に生じる。これは、包装シートを加熱シー
ルしカットしたとき、縦方向の加熱シール部の熱容量が
他の領域より大きくなるためである。
査では、走査ライン上の温度が設定値以上又は設定値以
下か否かで判定を行うため、温度分布が一様であれば一
定の精度で不良品の検知が可能であるが、温度分布が高
温領域と低温領域のように一様でない場合には検知が不
可能になるという問題がある。このような問題は、例え
ば包装シートが両端のみで加熱シールされるものではな
く、図４に示すように円筒状の長い連続した包装シート
２１を作成する際に、縦方向に加熱シールされた領域２
５がある場合に生じる。これは、包装シートを加熱シー
ルしカットしたとき、縦方向の加熱シール部の熱容量が
他の領域より大きくなるためである。
【０００６】図６は温度分布が高温領域と低温領域のよ
うに一様でない場合の不良品の例を説明するための図で
ある。この図６（Ａ）に示すように温度分布として、縦
方向に加熱シールされた領域２５のある特に熱容量の大
きな高温領域と低温領域がある場合、それぞれの領域に
対応して高温領域の判定値ＴA 、低温領域の判定値
ＴB 、ＴC を設定しても、従来の検査では、高温領域の
判定値ＴA を越える温度となった場合の図６（Ｂ）に示
す不良品や、低温領域の下限の判定値ＴC を下回る温度
となった場合の図６（Ｄ）に示す不良品は検出できる。
しかし、低温領域の上限の判定値ＴB を越える温度とな
った場合の図６（Ｃ）に示す不良品は検出が不可能であ
った。なお、図６（Ｂ）に示す不良品は、縦方向に加熱
シールされた領域２５に物が挟まったような場合であ
り、図６（Ｃ）に示す不良品は、その両側の加熱シール
領域２６で物が挟まったような場合、図６（Ｄ）に示す
不良品は、加熱シールが十分でなく温度が上がっていな
いような場合である。
うに一様でない場合の不良品の例を説明するための図で
ある。この図６（Ａ）に示すように温度分布として、縦
方向に加熱シールされた領域２５のある特に熱容量の大
きな高温領域と低温領域がある場合、それぞれの領域に
対応して高温領域の判定値ＴA 、低温領域の判定値
ＴB 、ＴC を設定しても、従来の検査では、高温領域の
判定値ＴA を越える温度となった場合の図６（Ｂ）に示
す不良品や、低温領域の下限の判定値ＴC を下回る温度
となった場合の図６（Ｄ）に示す不良品は検出できる。
しかし、低温領域の上限の判定値ＴB を越える温度とな
った場合の図６（Ｃ）に示す不良品は検出が不可能であ
った。なお、図６（Ｂ）に示す不良品は、縦方向に加熱
シールされた領域２５に物が挟まったような場合であ
り、図６（Ｃ）に示す不良品は、その両側の加熱シール
領域２６で物が挟まったような場合、図６（Ｄ）に示す
不良品は、加熱シールが十分でなく温度が上がっていな
いような場合である。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するものであって、高温領域と低温領域の温度分布を
持つ加熱シール製品の不良検出精度を高めるものであ
る。
決するものであって、高温領域と低温領域の温度分布を
持つ加熱シール製品の不良検出精度を高めるものであ
る。
【０００８】そのために本発明は、包装加熱シールされ
た製品を赤外線カメラにより検査するサーモグラフィに
よる製品検査装置において、製品の搬送方向と直交する
方向を走査ラインとして製品の温度を検出する赤外線カ
メラと、複数の異常温度レベルの判定値と不良品の判定
値とを有すると共に、前記搬送方向に一定の測定範囲で
前記赤外線カメラの検出信号を取り込み、該検出信号を
前記異常温度レベルの判定値と比較して異常温度レベル
の信号を計数し、該計数値を前記不良品の判定値と比較
することにより、不良品の判定を行う検査処理手段とを
備えたことを特徴とするものである。
た製品を赤外線カメラにより検査するサーモグラフィに
よる製品検査装置において、製品の搬送方向と直交する
方向を走査ラインとして製品の温度を検出する赤外線カ
メラと、複数の異常温度レベルの判定値と不良品の判定
値とを有すると共に、前記搬送方向に一定の測定範囲で
前記赤外線カメラの検出信号を取り込み、該検出信号を
前記異常温度レベルの判定値と比較して異常温度レベル
の信号を計数し、該計数値を前記不良品の判定値と比較
することにより、不良品の判定を行う検査処理手段とを
備えたことを特徴とするものである。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しつつ説明する。図１は本発明に係るサーモグラ
フィによる製品検査装置の実施の形態を示す図であり、
１１は熱シール機、１２は赤外線カメラ、１３は製品処
理機、１４はレベル判定部、１５はレベル計数部、１６
は不良品判定部、１７は判定処理部、１８、２０は判定
値レジスタ、１９はカウンタを示す。
を参照しつつ説明する。図１は本発明に係るサーモグラ
フィによる製品検査装置の実施の形態を示す図であり、
１１は熱シール機、１２は赤外線カメラ、１３は製品処
理機、１４はレベル判定部、１５はレベル計数部、１６
は不良品判定部、１７は判定処理部、１８、２０は判定
値レジスタ、１９はカウンタを示す。
【００１０】図１において、熱シール機１１は、例えば
先に述べた包装加熱シールラインにおいて品物が充填さ
れた長い連続した包装シートを製品単位に加熱シールし
カットするものであり、その加熱シール・カットに合わ
せて測定開始・測定終了のタイミング信号を出力するも
のである。赤外線カメラ１２は、包装加熱シールライン
の熱シール機１１の下流にあって、熱シール機１１で製
品単位に加熱シールしカットされた検査品をライン走査
して温度測定信号を出力するものである。製品処理機１
３は、包装加熱シールラインの更に赤外線カメラ１２の
下流にあって、良品と不良品を仕分け処理する、例えば
不良品取り除き機等である。
先に述べた包装加熱シールラインにおいて品物が充填さ
れた長い連続した包装シートを製品単位に加熱シールし
カットするものであり、その加熱シール・カットに合わ
せて測定開始・測定終了のタイミング信号を出力するも
のである。赤外線カメラ１２は、包装加熱シールライン
の熱シール機１１の下流にあって、熱シール機１１で製
品単位に加熱シールしカットされた検査品をライン走査
して温度測定信号を出力するものである。製品処理機１
３は、包装加熱シールラインの更に赤外線カメラ１２の
下流にあって、良品と不良品を仕分け処理する、例えば
不良品取り除き機等である。
【００１１】判定値レジスタ１８は、図６に示す異常温
度レベルを判定するものとして、高温領域の判定値
ＴA 、低温領域の判定値ＴB 、ＴC を格納し、判定値レ
ジスタ２０は、判定値レジスタ１８に格納された判定値
ＴA 、ＴB 、ＴC に従って判定されたそれぞれの異常温
度レベルの信号の計数値ｎA 、ｎB 、ｎC から不良品の
判定を行うための判定値ＮA 、ＮB 、ＮC を格納するも
のである。カウンタ１９は、判定値レジスタ１８に格納
された判定値ＴA 、ＴB 、ＴC に従って判定されたそれ
ぞれの異常温度レベルの信号の計数値ｎA 、ｎB 、ｎC
を保持するものである。
度レベルを判定するものとして、高温領域の判定値
ＴA 、低温領域の判定値ＴB 、ＴC を格納し、判定値レ
ジスタ２０は、判定値レジスタ１８に格納された判定値
ＴA 、ＴB 、ＴC に従って判定されたそれぞれの異常温
度レベルの信号の計数値ｎA 、ｎB 、ｎC から不良品の
判定を行うための判定値ＮA 、ＮB 、ＮC を格納するも
のである。カウンタ１９は、判定値レジスタ１８に格納
された判定値ＴA 、ＴB 、ＴC に従って判定されたそれ
ぞれの異常温度レベルの信号の計数値ｎA 、ｎB 、ｎC
を保持するものである。
【００１２】レベル判定部１４は、赤外線カメラ１２か
ら取り込まれた走査ライン上の温度測定信号ｔm を判定
値レジスタ１８に格納された判定値ＴA 、ＴB 、ＴC と
比較してレベル判定を行うものである。レベル計数部１
５は、そのレベル判定された各温度測定信号ｔm を計数
し、それぞれの計数値ｎA 、ｎB 、ｎC をカウンタ１９
に保持するものであり、熱シール機１１から供給される
測定開始信号により計数を開始し、熱シール機１１から
供給される測定終了信号又は判定処理部１７から供給さ
れるリセット信号によりカウンタ１９の各計数値ｎA 、
ｎB 、ｎC をリセットして、測定開始信号が送られてく
るまで計数を停止する。不良品判定部１６は、レベル計
数部１５により計数されカウンタ１９に保持された計数
値ｎA 、ｎB 、ｎC を判定値レジスタ２０に格納された
各判定値ＴA 、ＴB 、ＴC と比較して不良品の判定を行
うものであり、良品／不良品の判定信号を製品処理機１
３に送ると共に、不良品の判定がなされた場合には、レ
ベル計数部１５にリセット信号を送る。
ら取り込まれた走査ライン上の温度測定信号ｔm を判定
値レジスタ１８に格納された判定値ＴA 、ＴB 、ＴC と
比較してレベル判定を行うものである。レベル計数部１
５は、そのレベル判定された各温度測定信号ｔm を計数
し、それぞれの計数値ｎA 、ｎB 、ｎC をカウンタ１９
に保持するものであり、熱シール機１１から供給される
測定開始信号により計数を開始し、熱シール機１１から
供給される測定終了信号又は判定処理部１７から供給さ
れるリセット信号によりカウンタ１９の各計数値ｎA 、
ｎB 、ｎC をリセットして、測定開始信号が送られてく
るまで計数を停止する。不良品判定部１６は、レベル計
数部１５により計数されカウンタ１９に保持された計数
値ｎA 、ｎB 、ｎC を判定値レジスタ２０に格納された
各判定値ＴA 、ＴB 、ＴC と比較して不良品の判定を行
うものであり、良品／不良品の判定信号を製品処理機１
３に送ると共に、不良品の判定がなされた場合には、レ
ベル計数部１５にリセット信号を送る。
【００１３】本発明は、このように構成することによ
り、走査ライン上の温度についてそれぞれの温度レベル
で判定し、そのポイント数により良品か不良品かを判定
するので、複数の温度領域を有する製品の検査にも対応
でき、その判定精度をより高くすることができる。
り、走査ライン上の温度についてそれぞれの温度レベル
で判定し、そのポイント数により良品か不良品かを判定
するので、複数の温度領域を有する製品の検査にも対応
でき、その判定精度をより高くすることができる。
【００１４】さらに、製品の検査処理を詳述する。図２
は製品検査処理の例を説明するための図、図３は製品不
良判定処理の例を説明するための図、図４は測定範囲を
説明するための図である。
は製品検査処理の例を説明するための図、図３は製品不
良判定処理の例を説明するための図、図４は測定範囲を
説明するための図である。
【００１５】製品検査の全体の処理の流れは、図２に示
すように熱シール機１１から測定開始信号が送られてく
るのを待って（ステップＳ１１）、赤外線カメラ１２か
らの温度測定値を取り込む（ステップＳ１２）。取り込
んだ測定値についてレベル毎の積算処理を行って製品の
不良判定を行い（ステップＳ１３）、製品不良と判定さ
れると、製品不良処理を実行する（ステップＳ１４）。
製品不良の判定がなければ測定終了信号が送られてくる
までステップＳ１２に戻って測定値取り込み処理を繰り
返し行う（ステップＳ１５）。製品不良処理を実行し、
あるいは良品で測定終了信号が送られてくると、測定値
積算をリセットして（ステップＳ１６）、ステップＳ１
１に戻り次の測定開始信号を待つ。
すように熱シール機１１から測定開始信号が送られてく
るのを待って（ステップＳ１１）、赤外線カメラ１２か
らの温度測定値を取り込む（ステップＳ１２）。取り込
んだ測定値についてレベル毎の積算処理を行って製品の
不良判定を行い（ステップＳ１３）、製品不良と判定さ
れると、製品不良処理を実行する（ステップＳ１４）。
製品不良の判定がなければ測定終了信号が送られてくる
までステップＳ１２に戻って測定値取り込み処理を繰り
返し行う（ステップＳ１５）。製品不良処理を実行し、
あるいは良品で測定終了信号が送られてくると、測定値
積算をリセットして（ステップＳ１６）、ステップＳ１
１に戻り次の測定開始信号を待つ。
【００１６】ステップＳ１３の製品不良判定処理は、図
３に示すように測定値ｔm を取り込むと、測定値ｔm を
各判定値ＴC 、ＴB 、ＴA と比較する（ステップＳ２
１、Ｓ２４、Ｓ２７）。そして、測定値ｔm がＴC より
小さい場合には、計数値ｎC をインクリメントしてから
（ステップＳ２２）、計数値ｎC を比較して判定値ＮC
を越えると不良品の判定を行う（ステップＳ２３）。測
定値ｔm がＴB より大きい場合には、計数値ｎB をイン
クリメントしてから（ステップＳ２５）、計数値ｎB を
比較して判定値ＮB を越えると不良品の判定を行う（ス
テップＳ２６）。さらに測定値ｔm がＴA より大きい場
合には、計数値ｎA をインクリメントしてから（ステッ
プＳ２８）、計数値ｎA を比較して判定値ＮA を越える
と不良品の判定を行う（ステップＳ２９）。
３に示すように測定値ｔm を取り込むと、測定値ｔm を
各判定値ＴC 、ＴB 、ＴA と比較する（ステップＳ２
１、Ｓ２４、Ｓ２７）。そして、測定値ｔm がＴC より
小さい場合には、計数値ｎC をインクリメントしてから
（ステップＳ２２）、計数値ｎC を比較して判定値ＮC
を越えると不良品の判定を行う（ステップＳ２３）。測
定値ｔm がＴB より大きい場合には、計数値ｎB をイン
クリメントしてから（ステップＳ２５）、計数値ｎB を
比較して判定値ＮB を越えると不良品の判定を行う（ス
テップＳ２６）。さらに測定値ｔm がＴA より大きい場
合には、計数値ｎA をインクリメントしてから（ステッ
プＳ２８）、計数値ｎA を比較して判定値ＮA を越える
と不良品の判定を行う（ステップＳ２９）。
【００１７】測定開始から測定終了までの測定範囲は、
図４に示すように長い連続した包装シート２１と製品２
２の加熱シール・カットの領域２４−１や、製品２２と
２３の加熱シール・カットの領域２４−２に設定され、
その前端に測定開始信号、後端に測定終了信号が発生さ
れる。これらの信号は、熱シール機において、加熱シー
ル・カット処理から一定の搬送速度に基づき算出される
タイミングにより発生することができる。なお、図４に
示すように縦方向に加熱シールされた領域２５がある場
合、この付近イの熱容量は両側に比べて大きくなるの
で、この領域は、判定値ＴB を越える高温領域となる。
したがって、判定値ＮB は、この高温領域の計数値に図
６（Ｃ）に示すような不良品の場合の計数値を加えた値
が設定されることにより、図６（Ｃ）に示すような不良
品の検出が可能となる。
図４に示すように長い連続した包装シート２１と製品２
２の加熱シール・カットの領域２４−１や、製品２２と
２３の加熱シール・カットの領域２４−２に設定され、
その前端に測定開始信号、後端に測定終了信号が発生さ
れる。これらの信号は、熱シール機において、加熱シー
ル・カット処理から一定の搬送速度に基づき算出される
タイミングにより発生することができる。なお、図４に
示すように縦方向に加熱シールされた領域２５がある場
合、この付近イの熱容量は両側に比べて大きくなるの
で、この領域は、判定値ＴB を越える高温領域となる。
したがって、判定値ＮB は、この高温領域の計数値に図
６（Ｃ）に示すような不良品の場合の計数値を加えた値
が設定されることにより、図６（Ｃ）に示すような不良
品の検出が可能となる。
【００１８】なお、本発明は、上記実施の形態に限定さ
れるものではなく、種々の変形が可能である。例えば検
査対象の製品は、長い連続した包装シートを製品単位に
加熱シールしカットするものに限らず、マヨネーズ等の
ように樹脂製容器の開口部を加熱シールした結果、高温
部分が円環状に存在するようなものについても同様に適
用できる。
れるものではなく、種々の変形が可能である。例えば検
査対象の製品は、長い連続した包装シートを製品単位に
加熱シールしカットするものに限らず、マヨネーズ等の
ように樹脂製容器の開口部を加熱シールした結果、高温
部分が円環状に存在するようなものについても同様に適
用できる。
【００１９】また、検査対象の製品は、通常赤外線カメ
ラのライン走査範囲の中央部に位置するので、レベル判
定及び計数をライン走査範囲の全域にわたって行う必要
はない。不要な部分についてもレベル判定及び計数を行
うと、場合によっては正しくない判定を行うことも予想
される。そのため、実際には、赤外線カメラのライン走
査範囲の中で検査対象が存在する範囲を指定し、その指
定された範囲の温度測定信号についてのみレベル計数を
行うようにすることが好ましい。そのためには、赤外線
カメラ１２が発生するライン走査に同期した信号に基づ
いて、ライン走査範囲中の任意の範囲を指定するゲート
信号を作成する回路を設け、このゲート信号に基づいて
レベル計数部１５が指定範囲の温度測定信号についての
み計数を行うようにすればよい。
ラのライン走査範囲の中央部に位置するので、レベル判
定及び計数をライン走査範囲の全域にわたって行う必要
はない。不要な部分についてもレベル判定及び計数を行
うと、場合によっては正しくない判定を行うことも予想
される。そのため、実際には、赤外線カメラのライン走
査範囲の中で検査対象が存在する範囲を指定し、その指
定された範囲の温度測定信号についてのみレベル計数を
行うようにすることが好ましい。そのためには、赤外線
カメラ１２が発生するライン走査に同期した信号に基づ
いて、ライン走査範囲中の任意の範囲を指定するゲート
信号を作成する回路を設け、このゲート信号に基づいて
レベル計数部１５が指定範囲の温度測定信号についての
み計数を行うようにすればよい。
【００２０】さらに、上記実施の形態では、各判定値と
の比較により不良品を判定して計数の停止、つまりその
製品についての最終的判定結果を出力したが、判定値を
不良品レベルとそれ以前の警報レベルのように複数段で
設定して、警報の出力、不良品の取り除きを段階的に行
うようにしてもよいし、警報あるいは不良品取り除きの
いずれか一方だけを行うようにしてもよいことはいうま
でもない。また、高温領域と低温領域の判定出力も使い
分けてもよい。
の比較により不良品を判定して計数の停止、つまりその
製品についての最終的判定結果を出力したが、判定値を
不良品レベルとそれ以前の警報レベルのように複数段で
設定して、警報の出力、不良品の取り除きを段階的に行
うようにしてもよいし、警報あるいは不良品取り除きの
いずれか一方だけを行うようにしてもよいことはいうま
でもない。また、高温領域と低温領域の判定出力も使い
分けてもよい。
【００２１】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、複数の異常温度レベルの判定値と不良品の判
定値とを有すると共に、前記搬送方向に一定の測定範囲
で前記赤外線カメラの検出信号を取り込み、該検出信号
を前記異常温度レベルの判定値と比較して異常温度レベ
ルの信号を計数し、該計数値を前記不良品の判定値と比
較することにより、不良品の判定を行うので、信号レベ
ルと計数値から良品と不良品の判定をより高い精度で行
うことができる。また、計数値により判定を行うので、
製品の流れによる位置ずれや速度の変更にも柔軟に対応
できる。
によれば、複数の異常温度レベルの判定値と不良品の判
定値とを有すると共に、前記搬送方向に一定の測定範囲
で前記赤外線カメラの検出信号を取り込み、該検出信号
を前記異常温度レベルの判定値と比較して異常温度レベ
ルの信号を計数し、該計数値を前記不良品の判定値と比
較することにより、不良品の判定を行うので、信号レベ
ルと計数値から良品と不良品の判定をより高い精度で行
うことができる。また、計数値により判定を行うので、
製品の流れによる位置ずれや速度の変更にも柔軟に対応
できる。
【図１】 本発明に係るサーモグラフィによる製品検査
装置の実施の形態を示す図である。
装置の実施の形態を示す図である。
【図２】 製品検査処理の例を説明するための図であ
る。
る。
【図３】 製品不良判定処理の例を説明するための図で
ある。
ある。
【図４】 測定範囲を説明するための図である。
【図５】 包装加熱シールラインの概要を説明するため
の図である。
の図である。
【図６】 温度分布が高温領域と低温領域のように一様
でない場合の不良品の例を説明するための図である。
でない場合の不良品の例を説明するための図である。
１１…熱シール機、１２…赤外線カメラ、１３…製品処
理機、１４…レベル判定部、１５…レベル計数部、１６
…不良品判定部、１７…判定処理部、１８、２０…判定
値レジスタ、１９…カウンタ
理機、１４…レベル判定部、１５…レベル計数部、１６
…不良品判定部、１７…判定処理部、１８、２０…判定
値レジスタ、１９…カウンタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉村 正昭 東京都昭島市武蔵野三丁目１番２号 日本 電子株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 包装加熱シールされた製品を赤外線カメ
ラにより検査するサーモグラフィによる製品検査装置に
おいて、製品の搬送方向と直交する方向を走査ラインと
して製品の温度を検出する赤外線カメラと、複数の異常
温度レベルの判定値と不良品の判定値とを有すると共
に、前記搬送方向に一定の測定範囲で前記赤外線カメラ
の検出信号を取り込み、該検出信号を前記異常温度レベ
ルの判定値と比較して異常温度レベルの信号を計数し、
該計数値を前記不良品の判定値と比較することにより、
不良品の判定を行う検査処理手段とを備えたことを特徴
とするサーモグラフィによる製品検査装置。 - 【請求項２】 前記検査処理手段は、複数の温度レベル
の判定値を有し、最も低い温度レベルの判定値では、該
判定値より低い温度レベルの信号を前記異常温度レベル
の信号として計数し、前記最も低い温度レベル以外の判
定値では、該判定値より高い温度レベルの信号を前記異
常温度レベルの信号として計数することを特徴とする請
求項１記載のサーモグラフィによる製品検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8788097A JPH10278910A (ja) | 1997-04-07 | 1997-04-07 | サーモグラフィによる製品検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8788097A JPH10278910A (ja) | 1997-04-07 | 1997-04-07 | サーモグラフィによる製品検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10278910A true JPH10278910A (ja) | 1998-10-20 |
Family
ID=13927190
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8788097A Withdrawn JPH10278910A (ja) | 1997-04-07 | 1997-04-07 | サーモグラフィによる製品検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10278910A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1997
- 1997-04-07 JP JP8788097A patent/JPH10278910A/ja not_active Withdrawn
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|---|---|---|---|
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