JPH10276266A - 交換機テスト装置 - Google Patents
交換機テスト装置Info
- Publication number
- JPH10276266A JPH10276266A JP10064934A JP6493498A JPH10276266A JP H10276266 A JPH10276266 A JP H10276266A JP 10064934 A JP10064934 A JP 10064934A JP 6493498 A JP6493498 A JP 6493498A JP H10276266 A JPH10276266 A JP H10276266A
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- Japan
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- test
- signal
- microprocessor
- mode
- dsp
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 トランクレジスタ信号、ＤＴＭＦ及びＣＣＴ
信号の送／受信機能を装置を増設せずにテストできる交
換機の信号テスト装置を提供する。 【解決手段】 交換機の信号テスト装置において、端末
機と通信を行うインタフェース部１１０と、交換システ
ムとのＰＣＭ通信を行うＰＣＭインタフェース部１８０
と、端末機から入力されるテスト命令を受信し、該当テ
ストモードを実行するよう制御信号を発生するマイクロ
プロセッサ１００と、マイクロプロセッサ１００の制御
でＰＣＭインタフェース部を通じて交換システムに所定
の周波数を有するテスト用の信号を発生するテスト信号
メモリ１６０と、マイクロプロセッサ１００の制御下で
交換機からフィードバック伝送されてＰＣＭインタフェ
ース部を通じて入力されるテスト用の信号を受信して分
析するデジタル信号処理部１４０と、を備えることを特
徴とする
信号の送／受信機能を装置を増設せずにテストできる交
換機の信号テスト装置を提供する。 【解決手段】 交換機の信号テスト装置において、端末
機と通信を行うインタフェース部１１０と、交換システ
ムとのＰＣＭ通信を行うＰＣＭインタフェース部１８０
と、端末機から入力されるテスト命令を受信し、該当テ
ストモードを実行するよう制御信号を発生するマイクロ
プロセッサ１００と、マイクロプロセッサ１００の制御
でＰＣＭインタフェース部を通じて交換システムに所定
の周波数を有するテスト用の信号を発生するテスト信号
メモリ１６０と、マイクロプロセッサ１００の制御下で
交換機からフィードバック伝送されてＰＣＭインタフェ
ース部を通じて入力されるテスト用の信号を受信して分
析するデジタル信号処理部１４０と、を備えることを特
徴とする
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、交換機のテストを
行う信号テスト装置に関する。
行う信号テスト装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の信号テスト装置は、コーデック／
フィルタ部(codec／filter)、ＳＬＩＣ(Subscriber Lin
e Interface Circuit)部、チャネル選択部及びハイウェ
イインタフェース部よりなる。まず、コーデック／フィ
ルタ部は、アナログ信号をＰＣＭ信号に変換して量子化
するコーデック部と、量子化波形を成形するフィルタ部
とからなる。ＳＬＩＣ部はコーデック／フィルタ部から
出力されるアナログ信号をＳＬＩＣのチップ(ＴＩＰ)、
リング(ＲＩＮＧ)端に送り、電話機を通じてテスト時に
用いられる。チャネル選択部は、ＰＣＭハイウェイに該
当するチャネルを選択するために用いられる。ハイウェ
イインタフェース部はハイウェイで送られるＰＣＭ信号
を受信する。
フィルタ部(codec／filter)、ＳＬＩＣ(Subscriber Lin
e Interface Circuit)部、チャネル選択部及びハイウェ
イインタフェース部よりなる。まず、コーデック／フィ
ルタ部は、アナログ信号をＰＣＭ信号に変換して量子化
するコーデック部と、量子化波形を成形するフィルタ部
とからなる。ＳＬＩＣ部はコーデック／フィルタ部から
出力されるアナログ信号をＳＬＩＣのチップ(ＴＩＰ)、
リング(ＲＩＮＧ)端に送り、電話機を通じてテスト時に
用いられる。チャネル選択部は、ＰＣＭハイウェイに該
当するチャネルを選択するために用いられる。ハイウェ
イインタフェース部はハイウェイで送られるＰＣＭ信号
を受信する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし従来の信号テス
ト装置は、信号テスト時に単純にハイウェイに接続さ
れ、スイッチでチャネルを選択することでＰＣＭ信号の
周波数測定、レベル測定、ケーデンス(cadence)測定に
のみ用いられてきた。このため、トランクレジスタ信
号、ＤＴＭＦ、ＣＣＴ(Continuity Check Tone)信号の
送／受信機能などのテストはできず、各種の信号テスト
の各項目ごとにセットアップしなければならないため、
コストが上がるなどの問題がある。
ト装置は、信号テスト時に単純にハイウェイに接続さ
れ、スイッチでチャネルを選択することでＰＣＭ信号の
周波数測定、レベル測定、ケーデンス(cadence)測定に
のみ用いられてきた。このため、トランクレジスタ信
号、ＤＴＭＦ、ＣＣＴ(Continuity Check Tone)信号の
送／受信機能などのテストはできず、各種の信号テスト
の各項目ごとにセットアップしなければならないため、
コストが上がるなどの問題がある。
【０００４】よって本発明は、トランクレジスタ信号、
ＤＴＭＦ及びＣＣＴ信号の送／受信機能を装置を増やす
ことなくテストできる信号テスト装置を提供する。
ＤＴＭＦ及びＣＣＴ信号の送／受信機能を装置を増やす
ことなくテストできる信号テスト装置を提供する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
る本発明の交換機の信号テスト装置は、端末機と通信を
行うインタフェース部と、交換システムとのＰＣＭ通信
を行うＰＣＭインタフェース部と、端末機から入力され
るテスト命令を受信し、該当テストモードを実行するよ
う制御信号を発生するマイクロプロセッサと、マイクロ
プロセッサの制御でＰＣＭインタフェース部を通じて交
換システムに所定の周波数を有するテスト用の信号を発
生するテスト信号メモリと、マイクロプロセッサの制御
下で交換機からフィードバック伝送されてＰＣＭインタ
フェース部を通じて入力されるテスト用の信号を受信し
て分析するデジタル信号処理部と、を備えることを特徴
とする。さらに、マイクロプロセッサの制御下で各装置
に該当システムクロックを発生する読出／書込回路を備
える。
る本発明の交換機の信号テスト装置は、端末機と通信を
行うインタフェース部と、交換システムとのＰＣＭ通信
を行うＰＣＭインタフェース部と、端末機から入力され
るテスト命令を受信し、該当テストモードを実行するよ
う制御信号を発生するマイクロプロセッサと、マイクロ
プロセッサの制御でＰＣＭインタフェース部を通じて交
換システムに所定の周波数を有するテスト用の信号を発
生するテスト信号メモリと、マイクロプロセッサの制御
下で交換機からフィードバック伝送されてＰＣＭインタ
フェース部を通じて入力されるテスト用の信号を受信し
て分析するデジタル信号処理部と、を備えることを特徴
とする。さらに、マイクロプロセッサの制御下で各装置
に該当システムクロックを発生する読出／書込回路を備
える。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を添付図
面を参照しつつ詳細に説明する。
面を参照しつつ詳細に説明する。
【０００７】図１は信号テスト装置のブロック構成図で
ある。従来の信号テスト装置のコーデック／フィルタ
部、ＳＬＩＣ部１０７、チャネル選択部２００、ＰＣＭ
ハイウェイインタフェース部１８０をそのまま残し、さ
らにマイクロプロセッサ１００、２４ビットＡＬＵを持
つＤＳＰ１４０、ＲＳ２３２Ｃ１１０、ランダム読出／
書込回路１６０、リセット部１２０、テスト要求接続部
１９０、メモリ（ＲＯＭ１３０、ＰＣＭデータＲＯＭ２
１０、ＳＲＡＭ１５０）を備える。
ある。従来の信号テスト装置のコーデック／フィルタ
部、ＳＬＩＣ部１０７、チャネル選択部２００、ＰＣＭ
ハイウェイインタフェース部１８０をそのまま残し、さ
らにマイクロプロセッサ１００、２４ビットＡＬＵを持
つＤＳＰ１４０、ＲＳ２３２Ｃ１１０、ランダム読出／
書込回路１６０、リセット部１２０、テスト要求接続部
１９０、メモリ（ＲＯＭ１３０、ＰＣＭデータＲＯＭ２
１０、ＳＲＡＭ１５０）を備える。
【０００８】マイクロプロセッサ１００は、端末機に対
してＲＳ２３２Ｃを介してデータ送受信が可能であり、
タイマー機能を内蔵しているので周波数を制御しやす
い。また、ＤＳＰ１４０へ周波数レベルや断続データな
どの情報を提供する。ＤＳＰ１４０は２４ビットのＡＬ
Ｕにより高速演算が可能である。そのために実行速度５
０ｎｓでクロックの発生、合成、レベルハンドリングを
行うことができ、所望の周波数とレベルを発生すること
ができるので信号テストに有効に用いられる。さらに、
受信周波数検出アルゴリズムを適用してＲ２ＭＦＣ、Ｄ
ＴＭＦ、ＣＣＴをＤＳＰモードに変換して検出する。Ｒ
Ｓ２３２Ｃ１１０は、端末機との通信のためにマイクロ
プロセッサ１００と各種の命令やデータを相互通信す
る。ランダム読出／書込回路１６０は、マイクロプロセ
ッサ１００とＤＳＰ１４０の制御信号を用いてＤＳＰ１
４０のモードコントロールを行い、ＲＯＭ読出しコント
ロール、ＲＡＭ読出／書込コントロールなどの機能を持
つ。高速ＲＯＭ１３０はＲ２ＭＦＣ、ＤＴＭＦ、ＣＣＴ
の送受信、及びクロック発生の可能なＤＳＰアセンブリ
言語より作成されたファームウェアプログラムを適用し
た。そして、ＤＳＰ１４０が高速動作するので３５ｎｓ
以上の読出しサイクル時間を有する。ＰＣＭデータＲＯ
Ｍ２１０は、他のシステムとの互換性を保つために３２
Ｋバイト単位でＡ−ｌａｗ、Ｍｕ−ｌａｗ８ビットＰＣ
Ｍデータを兼用するよう１２８Ｋバイトのメモリからな
る。その内部に記憶されたＰＣＭデータは、ＡＮＩ多重
周波数１５種、単一周波数４種、ＤＴＭＦ情報１６種、
ＣＣＴ情報２種及びテストデータが４００バイト単位で
構成されている。
してＲＳ２３２Ｃを介してデータ送受信が可能であり、
タイマー機能を内蔵しているので周波数を制御しやす
い。また、ＤＳＰ１４０へ周波数レベルや断続データな
どの情報を提供する。ＤＳＰ１４０は２４ビットのＡＬ
Ｕにより高速演算が可能である。そのために実行速度５
０ｎｓでクロックの発生、合成、レベルハンドリングを
行うことができ、所望の周波数とレベルを発生すること
ができるので信号テストに有効に用いられる。さらに、
受信周波数検出アルゴリズムを適用してＲ２ＭＦＣ、Ｄ
ＴＭＦ、ＣＣＴをＤＳＰモードに変換して検出する。Ｒ
Ｓ２３２Ｃ１１０は、端末機との通信のためにマイクロ
プロセッサ１００と各種の命令やデータを相互通信す
る。ランダム読出／書込回路１６０は、マイクロプロセ
ッサ１００とＤＳＰ１４０の制御信号を用いてＤＳＰ１
４０のモードコントロールを行い、ＲＯＭ読出しコント
ロール、ＲＡＭ読出／書込コントロールなどの機能を持
つ。高速ＲＯＭ１３０はＲ２ＭＦＣ、ＤＴＭＦ、ＣＣＴ
の送受信、及びクロック発生の可能なＤＳＰアセンブリ
言語より作成されたファームウェアプログラムを適用し
た。そして、ＤＳＰ１４０が高速動作するので３５ｎｓ
以上の読出しサイクル時間を有する。ＰＣＭデータＲＯ
Ｍ２１０は、他のシステムとの互換性を保つために３２
Ｋバイト単位でＡ−ｌａｗ、Ｍｕ−ｌａｗ８ビットＰＣ
Ｍデータを兼用するよう１２８Ｋバイトのメモリからな
る。その内部に記憶されたＰＣＭデータは、ＡＮＩ多重
周波数１５種、単一周波数４種、ＤＴＭＦ情報１６種、
ＣＣＴ情報２種及びテストデータが４００バイト単位で
構成されている。
【０００９】端末機からＲＳ２３２Ｃ１１０を通じてテ
スト命令が送られると、これをマイクロプロセッサ１０
０が受信して内部装置に該当制御信号を発生する。この
際、マイクロプロセッサ１００はＤＳＰ１４０にインタ
ラプトを発生し、ランダム読出／書込回路１６０→ＳＲ
ＡＭ１５０の経路を通じてテスト信号が記憶されたＰＣ
ＭデータＲＯＭ２１０に該当テスト項目に対するアドレ
スを発生する。ＰＣＭデータＲＯＭ２１０はアドレス信
号を受信し、該当項目のテスト信号をＰＣＭインタフェ
ース部１８０を通じて相手側の交換機に送る。
スト命令が送られると、これをマイクロプロセッサ１０
０が受信して内部装置に該当制御信号を発生する。この
際、マイクロプロセッサ１００はＤＳＰ１４０にインタ
ラプトを発生し、ランダム読出／書込回路１６０→ＳＲ
ＡＭ１５０の経路を通じてテスト信号が記憶されたＰＣ
ＭデータＲＯＭ２１０に該当テスト項目に対するアドレ
スを発生する。ＰＣＭデータＲＯＭ２１０はアドレス信
号を受信し、該当項目のテスト信号をＰＣＭインタフェ
ース部１８０を通じて相手側の交換機に送る。
【００１０】そして、受信時に相手側の交換機からフィ
ードバックされるテスト信号は、ＰＣＭインタフェース
部１８０を通じてＤＳＰ１４０で受信される。この際Ｄ
ＳＰ１４０は、ＲＯＭ１３０に記憶されたプログラムに
従って受信したテスト信号に対するテスト結果をマイク
ロプロセッサ１００→ＲＳ２３２Ｃ１１０の経路を通じ
て最終的に端末機に伝送する。
ードバックされるテスト信号は、ＰＣＭインタフェース
部１８０を通じてＤＳＰ１４０で受信される。この際Ｄ
ＳＰ１４０は、ＲＯＭ１３０に記憶されたプログラムに
従って受信したテスト信号に対するテスト結果をマイク
ロプロセッサ１００→ＲＳ２３２Ｃ１１０の経路を通じ
て最終的に端末機に伝送する。
【００１１】以下、図１のブロック構成図に基づき図２
及び図３のフローチャートを詳細に説明する。
及び図３のフローチャートを詳細に説明する。
【００１２】図２は、マイクロプロセッサ１００を中心
に作成した交換機をテストするフローチャートである。
に作成した交換機をテストするフローチャートである。
【００１３】２３０〜２４０段階で、マイクロプロセッ
サ１００は内部のメモリ及びＤＳＰ１４０のエラー有無
をテストして初期化する。次に２４４段階で、初期化し
たＤＳＰ１４０を待機モードにセットする。そして２４
６段階で、端末機からテスト命令が発生すると、マイク
ロプロセッサ１００のインタラプタをイネーブルする。
その後、２４８〜２５０段階で、マイクロプロセッサ１
００は待機状態でインタラプトが発生したかを検出す
る。インタラプトが検出されたら、２５２〜２６６段階
で、端末機から入力されるテスト命令から該当するモー
ドを選択して実行し、該当モードの動作が終了したら、
２４６段階に戻ってインタラプタをイネーブルする。該
当するモードは、２５４〜２５６段階のＲ２信号テスト
サービスモード、２５８〜２６０段階のＤＴＭＦ信号テ
ストサービスモード、２６２〜２６４段階のＣＣＴ信号
テストサービスモード、２６６段階のノーサービスモー
ドに分けられる。
サ１００は内部のメモリ及びＤＳＰ１４０のエラー有無
をテストして初期化する。次に２４４段階で、初期化し
たＤＳＰ１４０を待機モードにセットする。そして２４
６段階で、端末機からテスト命令が発生すると、マイク
ロプロセッサ１００のインタラプタをイネーブルする。
その後、２４８〜２５０段階で、マイクロプロセッサ１
００は待機状態でインタラプトが発生したかを検出す
る。インタラプトが検出されたら、２５２〜２６６段階
で、端末機から入力されるテスト命令から該当するモー
ドを選択して実行し、該当モードの動作が終了したら、
２４６段階に戻ってインタラプタをイネーブルする。該
当するモードは、２５４〜２５６段階のＲ２信号テスト
サービスモード、２５８〜２６０段階のＤＴＭＦ信号テ
ストサービスモード、２６２〜２６４段階のＣＣＴ信号
テストサービスモード、２６６段階のノーサービスモー
ドに分けられる。
【００１４】図３はＤＳＰ１４０を中心に作成した交換
機をテストするフローチャートである。
機をテストするフローチャートである。
【００１５】３０２〜３０４段階で、ＤＳＰ１４０はマ
イクロプロセッサ１００からのシステム初期化命令を受
けて内部プログラムを初期化し、ＤＳＰ動作モード（信
号テストモード）を指定する。次に３０６段階で、マイ
クロプロセッサ１００からテスト命令が発生すると、Ｄ
ＳＰ１４０はイネーブル状態になる。その後、３０８〜
３１０段階で、ＤＳＰ１４０は待機状態でインタラプト
が発生したかを検出する。インタラプトを検出すると、
３１２〜３２６段階でＤＳＰ１４０は、マイクロプロセ
ッサ１００から入力されるテスト命令から該当するモー
ドを選択して実行し、該当モードの動作が終了したら、
３０６段階に戻ってインタラプタをイネーブルする。該
当するモードは３１４〜３１６段階のＲ２信号テストサ
ービスモード、３１８〜３２０段階のＤＴＭＦ信号テス
トサービスモード、３２２〜３２４段階のＣＣＴ信号テ
ストサービスモード、３２６段階のノーサービスモード
に分けられる。
イクロプロセッサ１００からのシステム初期化命令を受
けて内部プログラムを初期化し、ＤＳＰ動作モード（信
号テストモード）を指定する。次に３０６段階で、マイ
クロプロセッサ１００からテスト命令が発生すると、Ｄ
ＳＰ１４０はイネーブル状態になる。その後、３０８〜
３１０段階で、ＤＳＰ１４０は待機状態でインタラプト
が発生したかを検出する。インタラプトを検出すると、
３１２〜３２６段階でＤＳＰ１４０は、マイクロプロセ
ッサ１００から入力されるテスト命令から該当するモー
ドを選択して実行し、該当モードの動作が終了したら、
３０６段階に戻ってインタラプタをイネーブルする。該
当するモードは３１４〜３１６段階のＲ２信号テストサ
ービスモード、３１８〜３２０段階のＤＴＭＦ信号テス
トサービスモード、３２２〜３２４段階のＣＣＴ信号テ
ストサービスモード、３２６段階のノーサービスモード
に分けられる。
【００１６】
【発明の効果】マイクロプロセッサとＤＳＰを用いるこ
とによりトランクレジスタ信号、ＤＴＭＦ及びＣＣＴ信
号の送／受信機能が費用を掛けなくてもテスト可能とな
る。また、新たなテスト項目が加わってもプログラムの
変更で対応できる。
とによりトランクレジスタ信号、ＤＴＭＦ及びＣＣＴ信
号の送／受信機能が費用を掛けなくてもテスト可能とな
る。また、新たなテスト項目が加わってもプログラムの
変更で対応できる。
【図１】本発明の信号テスト装置ブロック図。
【図２】マイクロプロセッサ中心の交換機テストのフロ
ーチャート。
ーチャート。
【図３】ＤＳＰ中心の交換機テストのフローチャート。
１００ マイクロプロセッサ １１０ ＲＳ２３２Ｃ １２０ リセット回路 １３０ ＲＯＭ １４０ ＤＳＰ １５０ ＳＲＡＭ １６０ ランダム読出／書込回路 １７０ ＳＬＩＣ １８０ ＰＣＭインタフェース部 １９０ テスト要求接続部 ２００ チャネル選択部 ２１０ ＰＣＭデータＲＯＭ
Claims (2)
- 【請求項１】 交換機の信号テスト装置において、 端末機と通信を行うインタフェース部と、交換システム
とのＰＣＭ通信を行うＰＣＭインタフェース部と、端末
機から入力されるテスト命令を受信し、該当テストモー
ドを実行するよう制御信号を発生するマイクロプロセッ
サと、マイクロプロセッサの制御でＰＣＭインタフェー
ス部を通じて交換システムに所定の周波数を有するテス
ト用の信号を発生するテスト信号メモリと、マイクロプ
ロセッサの制御下で交換機からフィードバック伝送され
てＰＣＭインタフェース部を通じて入力されるテスト用
の信号を受信して分析するデジタル信号処理部と、を備
えることを特徴とする信号テスト装置。 - 【請求項２】 マイクロプロセッサの制御下で各装置に
該当システムクロックを発生する読出／書込回路をさら
に備える請求項１記載の信号テスト装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1997P9467 | 1997-03-20 | ||
| KR1019970009467A KR19980073886A (ko) | 1997-03-20 | 1997-03-20 | 교환기의 신호 테스트 장치 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10276266A true JPH10276266A (ja) | 1998-10-13 |
Family
ID=19500187
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10064934A Pending JPH10276266A (ja) | 1997-03-20 | 1998-03-16 | 交換機テスト装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5940473A (ja) |
| JP (1) | JPH10276266A (ja) |
| KR (1) | KR19980073886A (ja) |
| NL (1) | NL1008424C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100485684B1 (ko) * | 2002-11-12 | 2005-04-27 | 엘지전자 주식회사 | 대용량 시스템의 ｒ２ 시그널링을 위한 디지털 신호프로세서의인터페이스 장치 |
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| DE19802825C1 (de) * | 1998-01-26 | 1999-08-12 | Siemens Ag | Verfahren zur schnellen Prüfung der Funktionsfähigkeit eines Teilnehmersatzes |
| US6507737B1 (en) * | 1998-09-30 | 2003-01-14 | Lucent Technologies Inc. | Method for automatically monitoring continuity and integrity of communication trunks |
| KR100590859B1 (ko) * | 1999-09-14 | 2006-06-19 | 삼성전자주식회사 | 교환기 시스템의 기능 시험방법 |
| US6078646A (en) * | 1999-09-22 | 2000-06-20 | Mclaughlin; Peter J. | Caller ID activated test device for testing a telephone subscriber loop/access line |
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| US20090106406A1 (en) * | 2007-10-23 | 2009-04-23 | Tellabs Vienna, Inc | Method of initiating dtmf diagnostics and other features via a call in diagnostics interface |
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| KR102180592B1 (ko) * | 2018-12-14 | 2020-11-18 | 주식회사 엘지씨엔에스 | It 시스템 검증 방법 및 시스템 |
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