JPH10275796A - Substrate treating equipment - Google Patents

Substrate treating equipment

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JPH10275796A
JPH10275796A JP7773797A JP7773797A JPH10275796A JP H10275796 A JPH10275796 A JP H10275796A JP 7773797 A JP7773797 A JP 7773797A JP 7773797 A JP7773797 A JP 7773797A JP H10275796 A JPH10275796 A JP H10275796A
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JP
Japan
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substrate
time
tank
chemical solution
liquid exchange
Prior art date
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Application number
JP7773797A
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Japanese (ja)
Inventor
Masahiro Arioka
昌宏 有岡
Hitoshi Yoshioka
斉 吉岡
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP7773797A priority Critical patent/JPH10275796A/en
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  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To perform an oil exchange and a substrate treatment at the same timing and to suppress the reduction in a throughput, by providing a chemical liquid tank and a substrate treating equipment with a feeding part, calculating a scheduled time when a substrate arrives the chemical liquid tank from the feeding part and an oil exchange ending scheduled time of the chemical liquid tank, and controlling the substrate feeding part. SOLUTION: A substrate-treating equipment 100 has, for example, a chemical liquid bath CB, a rinsing bath WB, a substrate-carrying robot TR, and a loader part (feeding part) LD for placing a cassette 20 that accommodates a non-treated substrate W. Also, a computer 30 is incorporated and a treatment pattern is set. When a lot to be fed is carried into target chemical liquid bath, a schedule time for arriving at the chemical liquid bath is calculated and it is judged whether a liquid is exchanged or not at either point from the feeding point of the lot to the arrival point to the target chemical liquid bath. When the liquid is to be exchanged, a liquid exchange ending scheduled time is calculated, thus preventing the liquid exchange from interfering with a lot treatment and at the same time suppressing the reduction in a throughout as an entire substrate-treating device.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体基板、液
晶ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板および光ディ
スク用基板などの薄板状基板(以下、単に「基板」と称
する)を処理液に浸漬してこの表面に洗浄やエッチング
などの諸処理を施す基板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for immersing a thin plate-like substrate (hereinafter simply referred to as a "substrate") such as a semiconductor substrate, a liquid crystal glass substrate, a glass substrate for a photomask, and a substrate for an optical disk in a processing liquid. The present invention relates to a substrate processing apparatus that performs various processes such as cleaning and etching on a surface.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、上記のような基板処理装置
は、薬液を貯留する薬液槽と純水を貯留する水洗槽とを
備えている。そして、予め定められた手順に従って、各
処理槽に一組の複数の基板(以下、「ロット」と称す
る)を循環搬送し、搬送先のそれぞれの処理槽において
所定の処理時間基板を浸漬する複数工程により、基板表
面の汚染物質を除去したり、基板表面の酸化膜をエッチ
ングしたり、レジスト膜を剥離したりする一連の基板処
理を達成している。
2. Description of the Related Art Conventionally, the above-described substrate processing apparatus has a chemical solution tank for storing a chemical solution and a washing tank for storing pure water. Then, according to a predetermined procedure, a set of a plurality of substrates (hereinafter, referred to as a “lot”) is circulated and transported to each processing tank, and the plurality of substrates are immersed for a predetermined processing time in each processing tank at the destination. Through the process, a series of substrate treatments of removing contaminants on the substrate surface, etching an oxide film on the substrate surface, and stripping a resist film is achieved.

【0003】ところで、薬液には、その種類に応じて液
寿命が存在する。本明細書中において、「液寿命」と
は、薬液槽に薬液を供給してからその薬液を使用するこ
とができる上限時間またはその薬液に基板を浸漬できる
上限回数を意味している。液寿命に達した後の薬液を使
用して浸漬処理を行うと処理不良となることもあるた
め、薬液槽内の薬液が液寿命に達した場合には、一旦基
板の払い出しが中止され、液寿命に達した薬液が排液さ
れ、新たな薬液が供給された後、すなわち液交換が終了
した後、処理が再開されることとなる。処理が再開され
るとともに、再び基板が払い出され、一連の循環搬送に
よる基板処理が行われる。
[0003] A chemical solution has a liquid life depending on the type of the chemical solution. In this specification, the term “liquid life” means an upper limit time in which the chemical solution can be used after supplying the chemical solution to the chemical solution tank or an upper limit number of times the substrate can be immersed in the chemical solution. If the immersion process is performed using the chemical solution after the liquid life has expired, the processing may be defective.If the chemical liquid in the chemical tank reaches the liquid life, the discharge of the substrate is temporarily stopped and the liquid is discharged. After the chemical solution whose life has expired is drained and a new chemical solution is supplied, that is, after the liquid exchange is completed, the process is restarted. When the processing is restarted, the substrate is discharged again, and the substrate processing is performed by a series of circulating conveyance.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、処理が再開
された後最初に払い出された基板が液交換された薬液槽
に到達するまでには搬送時間や循環搬送経路中の処理時
間などの一定の時間を要する。この時間は、液交換され
た薬液槽としては処理可能であるにもかかわらず待機し
ている状態となるため、無駄な時間となり、装置全体と
してのスループットが低下することとなる。
However, after the processing is resumed, a certain period of time such as the transfer time or the processing time in the circulating transfer path is required until the first discharged substrate reaches the chemical solution tank where the liquid has been exchanged. It takes time. This time is in a standby state despite the fact that it can be processed as the liquid tank whose liquid has been exchanged, so that it is wasted time and the throughput of the entire apparatus is reduced.

【0005】また、処理再開後の最初の基板が当該薬液
槽に搬入されるときには薬液がフレッシュな状態ではな
く、搬入されるまでに要する時間に応じて経時劣化する
こととなる。
When the first substrate after the resumption of processing is carried into the chemical solution tank, the chemical solution is not in a fresh state, but deteriorates with time according to the time required for carrying in.

【0006】このような問題は、液交換された薬液槽が
循環搬送の下流側に存在するほど顕著な問題となる。
Such a problem becomes more serious as the liquid-exchanged chemical tank is located downstream of the circulating conveyance.

【0007】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、スループットの低下を抑制することができる基
板処理装置を提供することを目的とする。
[0007] The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a substrate processing apparatus capable of suppressing a decrease in throughput.

【0008】また、本発明は、薬液が経時劣化していな
いフレッシュな状態で基板処理を行うことができる基板
処理装置を提供することを目的とする。
Another object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of performing substrate processing in a fresh state in which a chemical solution has not deteriorated with time.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明は、基板に対して浸漬処理を行う基
板処理装置において、(a) 薬液を貯留し、前記薬液中に
おいて基板に浸漬処理を行う薬液槽と、(b) 前記基板を
前記基板処理装置内に投入する基板投入部と、(c) 前記
基板が前記基板投入部から前記薬液槽に到達する到達予
定時刻を算出する到達予定時刻算出手段と、(d) 前記基
板の前記投入時点から前記到達時点までのいずれかの時
点において前記薬液槽の液交換が行われるときに、当該
液交換が終了する液交換終了予定時刻を算出する液交換
終了予定時刻算出手段と、(e) 前記到達予定時刻が前記
液交換終了予定時刻以降である場合には、前記基板の投
入を開始するように前記基板投入部を制御する投入制御
手段と、を備えている。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus for performing immersion processing on a substrate, comprising: (a) storing a chemical solution; A chemical solution tank for performing immersion processing, (b) a substrate loading section for loading the substrate into the substrate processing apparatus, and (c) a scheduled arrival time at which the substrate reaches the chemical solution tank from the substrate loading section is calculated. Scheduled arrival time calculating means, (d) when the liquid exchange of the chemical solution tank is performed at any time from the time of the loading of the substrate to the time of the arrival, the estimated time of liquid exchange ending when the liquid exchange ends. (E) when the estimated arrival time is equal to or later than the estimated liquid exchange end time, an input that controls the substrate input section to start the input of the substrate. Control means.

【0010】また、請求項2の発明は、請求項1の発明
に係る基板処理装置において、前記投入制御手段に、前
記到達予定時刻が前記液交換終了予定時刻よりも早い場
合には前記到達予定時刻を前記液交換終了予定時刻に一
致させるように前記基板の投入を制御させている。
According to a second aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the first aspect of the present invention, when the expected arrival time is earlier than the expected liquid exchange end time, The loading of the substrate is controlled so that the time coincides with the scheduled time for ending the liquid exchange.

【0011】また、請求項3の発明は、請求項2の発明
に係る基板処理装置において、前記基板処理装置に複数
の前記薬液槽を備え、前記投入制御手段に、前記複数の
薬液槽のそれぞれの前記到達予定時刻のすべてがそれぞ
れの前記液交換終了予定時刻以降となるように前記基板
の投入を制御させている。
According to a third aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the second aspect of the present invention, the substrate processing apparatus includes a plurality of the chemical tanks, and the charging control means includes a plurality of the chemical tanks respectively. The loading of the substrate is controlled such that all of the scheduled times of arrival are after the respective scheduled times of liquid replacement.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0013】A.基板処理装置の全体概略構成:まず、
本発明に係る基板処理装置の全体構成について説明す
る。図1は、本発明に係る基板処理装置の一例を示す正
面概略図である。この基板処理装置100は、薬液槽C
B1、CB2、CB3と、水洗槽WB1、WB2、WB
3、FRと、乾燥部SDと、基板を搬送する基板搬送ロ
ボットTRとを備えている。また、基板処理装置100
は、その両端に、未処理の基板Wを収納したカセット2
0を載置するローダー部(基板投入部)LDと処理済み
の基板Wが格納されるカセット20を載置するアンロー
ダー部ULDとを備えている。
A. Overall schematic configuration of substrate processing apparatus:
The overall configuration of the substrate processing apparatus according to the present invention will be described. FIG. 1 is a schematic front view showing an example of the substrate processing apparatus according to the present invention. The substrate processing apparatus 100 includes a chemical solution tank C
B1, CB2, CB3 and washing tanks WB1, WB2, WB
3, FR, a drying unit SD, and a substrate transport robot TR for transporting the substrate. Further, the substrate processing apparatus 100
Is a cassette 2 containing unprocessed substrates W at both ends.
A loader unit (substrate loading unit) LD for mounting the substrate 0 and an unloader unit ULD for mounting the cassette 20 in which the processed substrate W is stored.

【0014】薬液槽CB1、CB2、CB3は硫酸、ア
ンモニア、塩酸、フッ酸、過酸化水素水またはそれらの
混合液などの薬液(以下、単に「薬液」とする)を収容
可能な槽であり、基板Wに対してエッチング処理などを
行うための処理槽である。また、水洗槽WB1、WB
2、WB3は純水を収容し、基板Wに付着した薬液を洗
浄する処理槽である。また、水洗槽FRも純水を収容す
る洗浄処理槽であるが、主として仕上げの洗浄用として
使用されている。さらに、乾燥部SDは基板Wを回転さ
せつつ当該基板Wに付着した水滴を除去、乾燥させる処
理部である。
The chemical liquid tanks CB1, CB2, and CB3 are tanks capable of storing chemical liquids (hereinafter, simply referred to as "chemical liquids") such as sulfuric acid, ammonia, hydrochloric acid, hydrofluoric acid, hydrogen peroxide, or a mixture thereof. This is a processing tank for performing an etching process or the like on the substrate W. Also, the washing tanks WB1, WB
2. WB3 is a processing tank that contains pure water and cleans a chemical solution attached to the substrate W. The washing tank FR is also a washing tank containing pure water, and is mainly used for finishing washing. Further, the drying unit SD is a processing unit that removes water droplets attached to the substrate W while rotating the substrate W, and dries.

【0015】基板搬送ロボットTRは、水平方向および
上下方向に移動可能であり、ローダー部LDから未処理
ロットを払い出し、予め定められた処理手順(以下、
「レシピ」と称する)に従って上記各処理槽間でロット
を循環搬送するとともに、処理済みのロットをアンロー
ダー部ULDに渡すロボットである。基板搬送ロボット
TRは、開閉自在の一対のハンド11を備えており、当
該ハンド11には、その内側に基板Wを保持するための
複数の溝が一定のピッチで平行に設けられており(図示
省略)、当該複数の溝によってロットが保持されること
となる。この基板搬送ロボットTRがローダー部LDか
らロットを受け取る際には、カセット20の下方に設け
られた図示を省略するホルダによってカセット20から
上昇されたロットを基板搬送ロボットTRの一対のハン
ド11が把持することによって行われる。また、アンロ
ーダー部ULDにロットを渡す場合には、上記とは逆
に、ハンド11から図示を省略するホルダにロットが渡
され、そのホルダが下降することによって、ロットがカ
セット20内部に格納される。なお、ここに示している
例は、カセット20からロットを取り出して、そのロッ
トを直接基板搬送ロボットTRが把持、搬送する方式の
装置であるが、カセット20ごと基板搬送ロボットTR
が保持してロットを搬送する、いわゆるカセット搬送方
式の装置であってもかまわない。
The substrate transfer robot TR is movable in the horizontal and vertical directions, pays out unprocessed lots from the loader section LD, and executes a predetermined processing procedure (hereinafter, referred to as a predetermined processing procedure).
The robot is a robot that circulates and transports a lot between the processing tanks according to a “recipe” and transfers the processed lot to an unloader unit ULD. The substrate transport robot TR includes a pair of openable and closable hands 11, and a plurality of grooves for holding the substrate W are provided in the hand 11 in parallel at a constant pitch (shown in the figure). (Omitted), lots are held by the plurality of grooves. When the substrate transport robot TR receives the lot from the loader section LD, the pair of hands 11 of the substrate transport robot TR grips the lot raised from the cassette 20 by a holder (not shown) provided below the cassette 20. It is done by doing. When transferring the lot to the unloader unit ULD, the lot is transferred from the hand 11 to a holder (not shown), and the lot is stored in the cassette 20 by descending the holder. You. Note that the example shown here is an apparatus of a type in which a lot is taken out from the cassette 20 and the lot is directly gripped and transported by the substrate transport robot TR.
May be a so-called cassette transfer type device for transferring a lot while holding the same.

【0016】B.基板処理装置の制御機構:次に、基板
処理装置100の制御機構について説明する。図2は、
基板処理装置100の制御機構を説明するための機能ブ
ロック図である。この基板処理装置100には、卓上型
コンピュータ30が組み込まれており、オペレータは当
該卓上型コンピュータ30を介して装置に指令を与えた
り、処理パターンや処理条件の設定を行ったりできる。
B. Control mechanism of substrate processing apparatus: Next, a control mechanism of the substrate processing apparatus 100 will be described. FIG.
FIG. 3 is a functional block diagram for explaining a control mechanism of the substrate processing apparatus 100. The substrate processing apparatus 100 incorporates a desktop computer 30. An operator can give commands to the apparatus and set processing patterns and processing conditions via the desktop computer 30.

【0017】卓上型コンピュータ30は、その本体部で
あるCPU31と、読み出し専用メモリーであるROM
32と、読み書き自在のメモリーであるRAM33と、
制御用ソフトウェアやデータなどを記憶しておく磁気デ
ィスク34と、付随する入出力機器とのインターフェイ
スである入出力ポート35と、基板処理装置100を直
接制御する装置とのインターフェイスであるネットワー
クポート36と、基板処理装置100外部に設けられて
いるホストコンピュータなどと通信を行う通信ポート3
7とを備えている。また、卓上型コンピュータ30に
は、入出力ポート35を介してディスプレイ38とキー
ボード39とが付随して設けられており、オペレータは
ディスプレイ38の表示を確認しつつ、キーボード39
からコマンドやパラメータを入力することができる。そ
して、オペレータは、キーボード39から後述する基板
の到達予定時刻や薬液槽の液交換終了予定時刻を設定入
力することが可能である。
The desktop computer 30 has a CPU 31 as its main body and a ROM as a read-only memory.
32, a RAM 33 which is a readable and writable memory,
A magnetic disk 34 for storing control software, data, etc., an input / output port 35 as an interface with associated input / output devices, and a network port 36 as an interface with a device that directly controls the substrate processing apparatus 100. A communication port 3 for communicating with a host computer or the like provided outside the substrate processing apparatus 100
7 is provided. The desktop computer 30 is also provided with a display 38 and a keyboard 39 via an input / output port 35.
You can enter commands and parameters from. Then, the operator can set and input the scheduled arrival time of the substrate and the scheduled end time of the liquid exchange in the chemical tank from the keyboard 39.

【0018】卓上型コンピュータ30に入力された指令
は、処理用のソフトウェアに基づいて処理され、必要に
応じて当該卓上型コンピュータ30からネットワークポ
ート36を介してマスターコントローラ40および槽コ
ントローラ50などに伝達される。マスターコントロー
ラ40は、基板搬送ロボットTR(図1参照)の動作を
制御する。また、マスターコントローラ40は、ロット
が薬液槽に到達する到達予定時刻や薬液槽の液交換終了
予定時刻を算出することが可能であるとともに、必要に
応じて槽コントローラ50に液交換の指令を与える。
The command input to the desktop computer 30 is processed based on processing software, and is transmitted from the desktop computer 30 to the master controller 40 and the tank controller 50 via the network port 36 as necessary. Is done. The master controller 40 controls the operation of the substrate transport robot TR (see FIG. 1). Further, the master controller 40 can calculate the scheduled arrival time of the lot to reach the chemical solution tank and the scheduled liquid exchange end time of the chemical solution tank, and give a liquid exchange command to the tank controller 50 as necessary. .

【0019】液交換の指令を受けた槽コントローラ50
は、後述する薬液排液手段51および薬液供給手段53
などに指令を伝達して、各処理槽への注排液などを制御
する。さらに、槽コントローラ50は、タイマー56お
よびカウンター57を備えており、それらを使用して薬
液の液寿命を管理する。
The tank controller 50 that has received the liquid exchange command
Are a chemical liquid discharging means 51 and a chemical liquid supplying means 53 which will be described later.
And the like, and controls the injection and drainage of each processing tank. Further, the tank controller 50 includes a timer 56 and a counter 57, and uses these to manage the life of the chemical solution.

【0020】C.薬液槽の構成:次に、基板処理装置1
00に備えられた薬液槽CB2の構成について説明す
る。なお、以下の説明は、薬液槽CB2についてのもの
であるが、薬液槽CB1、CB3についても同じであ
る。
C. Configuration of Chemical Solution Tank: Next, Substrate Processing Apparatus 1
The configuration of the chemical solution tank CB2 provided in 00 will be described. The following description is for the chemical tank CB2, but the same applies to the chemical tanks CB1 and CB3.

【0021】図3は、基板処理装置100の薬液槽CB
2の構成を説明する概念図である。薬液槽CB2は、内
槽60、外槽65、バット68およびそれらに付随する
注排液機構により構成されている。
FIG. 3 shows a chemical solution tank CB of the substrate processing apparatus 100.
FIG. 3 is a conceptual diagram illustrating the configuration of FIG. The chemical solution tank CB2 includes an inner tank 60, an outer tank 65, a bat 68, and a liquid supply / drainage mechanism associated therewith.

【0022】内槽60は、薬液を貯留し、浸漬された基
板Wに対し薬液によるエッチング処理などを行う槽であ
る。また、外槽65は、内槽60から溢れ出た薬液を回
収するための槽である。外槽65に溢れ出た薬液は、循
環ポンプ70によって内槽60に循環され、その経路中
において循環フィルター71によって浄化される。
The inner tank 60 is a tank for storing a chemical solution and performing an etching process with the chemical solution on the immersed substrate W. The outer tank 65 is a tank for collecting a chemical solution overflowing from the inner tank 60. The chemical liquid overflowing into the outer tank 65 is circulated to the inner tank 60 by the circulation pump 70, and is purified by the circulation filter 71 in the path.

【0023】また、内槽60には、薬液供給手段53か
ら薬液を供給することができる。薬液供給は、内槽60
の上方から直接内槽60内に薬液を供給することにより
行われるが、これに限定されるものではなく、例えば、
外槽65から内槽60への循環経路中に新たな薬液を供
給するようにしてもよい。
A chemical solution can be supplied from the chemical solution supply means 53 to the inner tank 60. The chemical solution is supplied to the inner tank 60
This is performed by supplying a chemical solution directly into the inner tank 60 from above, but is not limited to this. For example,
A new chemical solution may be supplied in the circulation path from the outer tank 65 to the inner tank 60.

【0024】バット68は、内槽60および外槽65か
らさらに溢れ出た薬液を回収するための容器である。
The vat 68 is a container for collecting the chemical liquid overflowing from the inner tank 60 and the outer tank 65.

【0025】上記の内槽60、外槽65およびバット6
8に貯留している薬液は、それぞれドレイン用のエアー
弁73、72、74を介し、薬液排液手段51によって
排液することができる。なお、図3に示す薬液排液手段
51、薬液供給手段53、循環ポンプ70およびエアー
弁72、73、74はすべて槽コントローラ50(図2
参照)により、その動作を制御されている。
The inner tank 60, the outer tank 65, and the butt 6
The chemical solution stored in 8 can be drained by the chemical solution draining means 51 via drain air valves 73, 72, 74, respectively. It should be noted that the chemical liquid discharging means 51, the chemical liquid supplying means 53, the circulation pump 70, and the air valves 72, 73, 74 shown in FIG.
) Controls its operation.

【0026】図3に示す薬液槽CB2において浸漬処理
が行われるときには、まず、薬液供給手段53から薬液
が供給され、内槽60および外槽65に浸漬処理に必要
な所定の液量が貯留されて、薬液の供給が中止された
後、内槽60内の薬液中にロットが浸漬され、基板Wに
対するエッチング処理が開始される。基板Wに対する浸
漬処理が行われている最中は、エアー弁72、73、7
4は、閉鎖され、循環ポンプ70による薬液の循環利用
がなされている。すなわち、浸漬処理の定常状態にあっ
ては、内槽60内の処理用薬液のうち溢れ出た薬液が、
外槽65に回収され、循環ポンプ70を経て、循環フィ
ルター71により浄化された後、再び内槽60に供給さ
れる動作が繰り返されることとなる。
When the immersion process is performed in the chemical solution tank CB2 shown in FIG. 3, first, a chemical solution is supplied from the chemical solution supply means 53, and a predetermined amount of liquid necessary for the immersion process is stored in the inner tank 60 and the outer tank 65. Then, after the supply of the chemical solution is stopped, the lot is immersed in the chemical solution in the inner tank 60, and the etching process on the substrate W is started. While the immersion processing is being performed on the substrate W, the air valves 72, 73, 7
Reference numeral 4 is closed, and the circulation pump 70 recirculates the chemical solution. That is, in the steady state of the immersion processing, the overflowing chemical solution among the processing chemical solutions in the inner tank 60 is
The operation of being collected in the outer tank 65, being purified by the circulation filter 71 via the circulation pump 70, and then being supplied to the inner tank 60 again is repeated.

【0027】また、薬液槽CB2において液交換が行わ
れるときには、内槽60および外槽65に貯留されてい
る薬液をそれぞれエアー弁72、73を介して全て排液
した後、薬液供給手段53から新しい薬液を供給し、内
槽60および外槽65に浸漬処理に必要な所定の液量を
再び貯留することにより実行される。また、液交換時に
は、図示を省略する洗浄手段および温調手段により槽洗
浄および薬液の温調も行われる。
When the liquid is exchanged in the chemical tank CB2, all the chemicals stored in the inner tank 60 and the outer tank 65 are drained through the air valves 72 and 73, respectively. This is performed by supplying a new chemical solution and storing a predetermined amount of liquid necessary for the immersion process in the inner tank 60 and the outer tank 65 again. Further, at the time of liquid exchange, cleaning of the tank and temperature control of the chemical solution are also performed by cleaning means and temperature adjusting means (not shown).

【0028】D.基板処理手順:次に、基板処理装置1
00における基板処理手順の特徴であるロットの投入時
期調整処理について説明する。図4は、基板処理装置1
00における基板処理手順を示すフローチャートであ
る。以下の処理はロットの投入時、すなわちロットがロ
ーダー部LDから払い出される時点において実行される
処理である。
D. Substrate processing procedure: Next, substrate processing apparatus 1
A lot input timing adjustment process which is a feature of the substrate processing procedure at 00 will be described. FIG. 4 shows a substrate processing apparatus 1
6 is a flowchart showing a substrate processing procedure at 00. The following processing is executed when a lot is input, that is, when the lot is discharged from the loader unit LD.

【0029】まず、ステップS1において投入すべき新
規のロットが対象となる薬液槽に搬入されるか否かが判
断される。この判断は、そのロットに対応するレシピを
マスターコントローラ40が識別して行う。ここで、図
4に示す処理手順は薬液槽CB1、CB2、CB3のそ
れぞれについて順に実行されるものであり、「対象とな
る薬液槽」とはそれらのうちステップS1の判断時点で
対象となっている薬液槽である。
First, in step S1, it is determined whether or not a new lot to be put in is carried into a target chemical solution tank. This determination is made by the master controller 40 identifying the recipe corresponding to the lot. Here, the processing procedure shown in FIG. 4 is sequentially executed for each of the chemical tanks CB1, CB2, and CB3, and the “target chemical tank” is a target at the time of the determination in step S1. It is a chemical tank.

【0030】投入すべきロットが対象となる薬液槽に搬
入される場合には、ステップS2に進み、当該ロットが
対象薬液槽に到達する到達予定時刻が算出される。到達
予定時刻は、マスターコントローラ40が算出するパラ
メータであり、そのロットが対象薬液槽に搬入されるま
でに要する時間、換言すればロットが対象薬液槽に搬入
されるまでに浸漬される各処理槽における処理時間と各
処理槽間の搬送時間との和に基づいて算出される。到達
予定時刻を算出する一例を以下の表1に示す。
When the lot to be introduced is carried into the target chemical solution tank, the process proceeds to step S2, and the expected arrival time at which the lot reaches the target chemical solution tank is calculated. The scheduled arrival time is a parameter calculated by the master controller 40, and is a time required for the lot to be carried into the target chemical solution tank, in other words, each processing tank immersed until the lot is carried into the target chemical solution tank. Is calculated based on the sum of the processing time and the transport time between the processing tanks. An example of calculating the scheduled arrival time is shown in Table 1 below.

【0031】[0031]

【表1】 [Table 1]

【0032】ロットは各処理部に表1の上から順に従っ
て搬送されるものとし、各処理部間の搬送時間は理解を
容易にするためすべて1分としている。また、各処理部
での処理時間も表1に記載の通りであるとする。この場
合、薬液槽CB2への到達予定時刻は薬液槽CB1、水
洗槽WB1での浸漬処理時間と搬送時間の合計である2
3分となる。表1に示すように、対象としている薬液槽
が薬液槽CB1、CB2、CB3のいずれであるかによ
って到達予定時刻も異なる。なお、到達予定時刻は、オ
ペレータがキーボード39を介して設定入力するように
してもよい。
The lot is transported to each processing section in the order from the top of Table 1, and the transport time between each processing section is set to one minute for easy understanding. It is also assumed that the processing time in each processing unit is as shown in Table 1. In this case, the scheduled time of arrival at the chemical tank CB2 is the sum of the immersion processing time and the transport time in the chemical tank CB1 and the washing tank WB1.
3 minutes. As shown in Table 1, the expected arrival time differs depending on whether the target chemical tank is one of the chemical tanks CB1, CB2, and CB3. The scheduled arrival time may be set and input by the operator via the keyboard 39.

【0033】次に、ロットの投入時点から対象薬液槽へ
の到達時点までのいずれかの時点において対象薬液槽が
液交換を実施するか否かが判断される(ステップS
3)。この判断は、液寿命を管理する槽コントローラ5
0が上記到達予定時刻を参照しつつ行う。薬液槽の液交
換が実施される場合は、液交換が終了する液交換終了予
定時刻がマスターコントローラ40によって算出される
(ステップS4)。なお、液交換の開始時点(液寿命に
達する時点)はロットの投入時点以前であっても以後で
あってもよく、薬液が液寿命に達する時刻に液交換に必
要な時間を加算して液交換終了予定時刻を算出する。ま
た、液交換終了予定時刻もオペレータがキーボード39
を介して設定入力するようにしてもよい。
Next, it is determined whether or not the target chemical liquid tank is to be subjected to liquid exchange at any time from the time of inputting the lot to the time of reaching the target chemical liquid tank (step S).
3). This judgment is made by the tank controller 5 that manages the liquid life.
0 is performed with reference to the expected arrival time. When the liquid exchange in the chemical tank is performed, the scheduled liquid exchange end time at which the liquid exchange ends is calculated by the master controller 40 (step S4). The starting point of the liquid exchange (the point at which the liquid life is reached) may be before or after the lot input, and the time required for the liquid exchange is added to the time at which the chemical liquid reaches the liquid life. Calculate the scheduled replacement end time. Also, the operator is requested to enter the keyboard 39 when the liquid replacement end time is estimated.
The setting may be input via the.

【0034】次に、ステップS5に進み、マスターコン
トローラ40が上記到達予定時刻と液交換終了予定時刻
とを比較する。そして、到達予定時刻が液交換終了予定
時刻以降である場合には、ステップS7に進む。
Next, proceeding to step S5, the master controller 40 compares the expected arrival time with the expected liquid exchange end time. If the scheduled arrival time is after the scheduled liquid exchange end time, the process proceeds to step S7.

【0035】一方、到達予定時刻が液交換終了予定時刻
よりも前である場合には、ステップS6に進んで到達予
定時刻の再算出が実行され、再びステップS5に戻る。
すなわち、液交換終了予定時刻は液寿命と液交換に要す
る時間とによって決定される不変の時刻であるのに対し
て、到達予定時刻はロットの投入時期を調整することに
よって変化させることが可能な時刻である。そして、ス
テップS5からステップS6への循環処理は、到達予定
時刻が液交換終了予定時刻以降になるまでロットの投入
時期を遅らせる処理である。
On the other hand, if the scheduled arrival time is before the scheduled liquid exchange end time, the process proceeds to step S6, where the estimated arrival time is recalculated, and the process returns to step S5 again.
In other words, the scheduled liquid exchange end time is an invariable time determined by the liquid life and the time required for the liquid exchange, whereas the estimated arrival time can be changed by adjusting the lot input timing. It is time. The circulation process from step S5 to step S6 is a process of delaying the lot input time until the scheduled arrival time becomes equal to or later than the scheduled liquid exchange end time.

【0036】ところで、ロットが対象薬液槽に搬入され
ない場合(ステップS1)および上記所定の期間内に対
象薬液槽が液交換を実施しない場合(ステップS3)
は、投入したロットの処理が当該対象薬液槽によって中
断されることはない。また、所定の期間内に対象薬液槽
が液交換を実施する場合でも、ロットの到達予定時刻が
液交換終了予定時刻以降(ステップS5)であれば、投
入したロットの処理が対象薬液槽の液交換によって中断
されることはない。これらの場合には、ステップS7に
進み、マスターコントローラ40が全ての薬液槽につい
て上記ステップS1〜ステップS6の処理を行ったか否
かを判断する。そして、例えば、薬液槽CB3について
は未処理である場合には、再びステップS1に戻り、薬
液槽CB3を対象薬液槽として上記処理を繰り返すこと
となる。一方、薬液槽CB1、CB2、CB3のすべて
について上記処理が終了しているときは、これらのいか
なる薬液槽によってもロットの処理が中断されることは
なく、ステップS8に進み、ロットの投入が開始され、
レシピに従って処理が実行される。
By the way, when the lot is not carried into the target chemical solution tank (step S1) and when the target chemical solution tank does not perform liquid exchange within the above-mentioned predetermined period (step S3).
In this case, the processing of the input lot is not interrupted by the target chemical solution tank. Further, even when the target chemical tank performs liquid exchange within a predetermined period, if the scheduled arrival time of the lot is later than the scheduled liquid exchange end time (step S5), the processing of the input lot is performed in the target chemical liquid tank. It is not interrupted by the exchange. In these cases, the process proceeds to step S7, and it is determined whether or not the master controller 40 has performed the processes of steps S1 to S6 for all the chemical liquid tanks. Then, for example, if the chemical solution tank CB3 has not been processed, the process returns to step S1 again, and the above process is repeated with the chemical solution tank CB3 as the target chemical solution tank. On the other hand, when the above processing is completed for all of the chemical tanks CB1, CB2, and CB3, the processing of the lot is not interrupted by any of these chemical tanks, the process proceeds to step S8, and the lot input is started. And
Processing is performed according to the recipe.

【0037】以上のような手順での処理内容を図5を用
いて具体的に示す。図5は、ロット投入時期の調整を説
明するための図である。なお、以下に示す例は、すべて
投入ロットが対象薬液槽に搬入され(ステップS1)か
つ所定の期間内に対象薬液槽が液交換を実施する(ステ
ップS3)場合である。
The processing contents in the above-described procedure will be specifically shown with reference to FIG. FIG. 5 is a diagram for explaining adjustment of the lot input timing. The following example is a case where all the input lots are carried into the target chemical tank (step S1), and the target chemical tank performs liquid exchange within a predetermined period (step S3).

【0038】図5(a)の例では、時刻t1にロットが
投入されると、到達予定時刻は時刻t2となる。一方、
対象薬液槽における液交換はロット投入以前の時刻t3
に開始されており、時刻t2が液交換終了予定時刻であ
る。このケースでは、到達予定時刻と液交換終了予定時
刻が同時刻t2であるため、当該対象薬液槽の液交換が
ロット処理の障害となることはなく、ステップS5から
直接ステップS7に進む。そして、従来では、時刻t2
に液交換が終了してからロットが投入され、対象薬液槽
には時刻t4に到達していたのが、液交換と基板処理と
が同時期(時刻t1から時刻t2の時間)に行われ、時刻
2に薬液交換終了と同時に対象薬液槽に到達するた
め、その時間差(時刻t2と時刻t4との差)分だけスル
ープットが向上するとともに、液交換直後のフレッシュ
な薬液を使用して浸漬処理を行うことができる。
In the example of FIG. 5A, when a lot is input at time t 1 , the expected arrival time is time t 2 . on the other hand,
The liquid exchange in the target chemical tank is performed at time t 3 before the lot is introduced.
It has been started, the time t 2 is a liquid exchange scheduled end time. In this case, since estimated time of arrival and the liquid exchange scheduled end time is the same time t 2, the liquid exchange of the target chemical tank is never an obstacle to lot processing, the process proceeds directly to step S7 from step S5. Conventionally, at time t 2
Liquid exchange lot is turned from the end, of the target chemical tank has reached the time t 4 is the liquid exchange and the substrate processing and the same time to (time from time t 1 at time t 2) It performed, to reach the same time subject chemical tank and chemical exchange ends at time t 2, thereby improving the throughput by minute (difference between the time t 2 and time t 4) the time difference, a fresh chemical solution immediately after liquid exchange Can be used for immersion treatment.

【0039】次に、図5(b)の例は、液交換がロット
の投入後の時刻t3に開始される点のみが図5(a)の
例と異なる。この場合であっても、到達予定時刻と液交
換終了予定時刻が同時刻t2であるため、当該対象薬液
槽の液交換がロット処理の障害となることはなく、ステ
ップS5から直接ステップS7に進む。その結果、上記
と同様の効果が得られる。
Next, the example of FIG. 5 (b) differs from the example of FIG. 5 (a) only in that the liquid exchange is started at time t 3 after the introduction of the lot. Even in this case, since estimated time of arrival and the liquid exchange scheduled end time is the same time t 2, the never liquor exchange of the target chemical tank becomes an obstacle for lot processing, directly step S7 from step S5 move on. As a result, the same effects as above can be obtained.

【0040】また、図5(c)の例では、時刻t1にロ
ットが投入され、到達予定時刻は時刻t2である。対象
薬液槽における液交換はロット投入以前の時刻t3に開
始され、到達予定時刻t2よりも前の時刻t5が液交換終
了予定時刻である。このケースでは、到達予定時刻t2
が液交換終了予定時刻t5よりも後であるため、対象薬
液槽の液交換がロット処理の障害となることはなく、ス
テップS5から直接ステップS7に進む。そして、従来
に比較して時刻t2から時刻t4までの時間差分だけスル
ープットを向上することができる。
In the example of FIG. 5C, the lot is loaded at time t 1 , and the expected arrival time is time t 2 . Liquor exchange in a subject chemical bath began in lot input earlier time t 3, the time t 5 before the estimated time of arrival t 2 is a liquor exchange expected ending time. In this case, the estimated arrival time t 2
There order is later than the liquid exchange expected ending time t 5, never liquid exchange target chemical tank becomes an obstacle for lot processing, the process proceeds directly to step S7 from step S5. Then, it is possible to improve the time difference only throughput from the time t 2 as compared with the prior to time t 4.

【0041】さらに、図5(d)に示す例では、時刻t
1にロットが投入されると、到達予定時刻は時刻t2とな
る。一方、対象薬液槽における液交換はロット投入以前
の時刻t3に開始されており、時刻t5が液交換終了予定
時刻である。この場合は、到達予定時刻t2が液交換終
了予定時刻t5よりも前であるため、対象薬液槽の液交
換がロット処理の障害となる。そこで、ステップS6か
らステップS5の循環処理を繰り返すことにより、時間
の経過とともにロット投入時期が時刻t1から遅延す
る。やがて、ロット投入時期が時刻t6になると、その
時点における到達予定時刻は液交換終了予定時刻と同時
刻t5となり、この時点でステップS5からステップS
7に進む。この場合も、従来に比較して時刻t5から時
刻t4までの時間差分だけスループットを向上すること
ができるとともに、薬液が経時劣化していないフレッシ
ュな状態で基板浸漬処理を実行することができる。
Further, in the example shown in FIG.
If the lot is turned to 1, estimated time of arrival is the time t 2. On the other hand, the liquid exchange in the subject chemical tank has been started in the lot input the previous time t 3, the time t 5 is a liquid exchange scheduled end time. In this case, since estimated time of arrival t 2 is before the liquor exchange expected ending time t 5, the liquid exchange of the target chemical tank becomes an obstacle of lot processing. Therefore, by the step S6 to repeat the circulation process in step S5, lot input timing is delayed from the time t 1 over time. Eventually, when the lot input time reaches time t 6 , the expected arrival time at that time becomes the same time t 5 as the expected liquid exchange end time, and at this time, steps S 5 to S 5 are performed.
Go to 7. Again, it is possible to improve the time difference only throughput from time t 5 as compared with the prior to time t 4, it is possible to perform the substrate immersed in fresh state where the drug solution is not degraded over time .

【0042】以上のような処理を、すべての薬液槽CB
1、CB2、CB3について実行しているため、どの薬
液槽の液交換も投入されたロットの処理の障害となるこ
とはなく、基板処理装置100全体として従来よりもス
ループットの低下を抑制することができる。なお、対象
となる薬液槽が異なれば到達予定時刻も異なることは、
既に述べた通りである。
The above processing is performed in all the chemical tanks CB
1, CB2, and CB3 are performed, so that the liquid exchange in any of the chemical tanks does not hinder the processing of the inputted lot, and the reduction in throughput of the substrate processing apparatus 100 as a whole can be suppressed as compared with the related art. it can. It should be noted that, if the target chemical solution tank is different, the scheduled arrival time will be different.
As described above.

【0043】以上、この発明の実施形態について説明し
たが、本発明は上記の例に限定されるものではなく、例
えば、上記実施形態における基板処理装置100は、基
板Wをロット単位で処理する装置であったが、これを1
枚ずつ処理する枚葉式の基板処理装置としてもよい。
Although the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-described example. For example, the substrate processing apparatus 100 in the above-described embodiment is an apparatus for processing a substrate W in lot units. But this was 1
It may be a single-wafer-type substrate processing apparatus that processes one by one.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明に
よれば、到達予定時刻が液交換終了予定時刻以降である
場合には、基板の投入を開始するようにしているため、
基板処理が液交換によって阻害されることなく液交換と
基板処理とを同時期に行うことができ、その結果スルー
プットの低下を抑制することができる。また、液交換が
終了してから短時間で基板が浸漬されるため、薬液が経
時劣化していないフレッシュな状態で基板処理を行うこ
とができる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, when the scheduled arrival time is after the scheduled liquid exchange end time, the loading of the substrate is started.
The liquid exchange and the substrate processing can be performed at the same time without the substrate processing being hindered by the liquid exchange. As a result, a decrease in throughput can be suppressed. Further, since the substrate is immersed in a short time after the liquid exchange is completed, the substrate processing can be performed in a fresh state in which the chemical solution has not deteriorated with time.

【0045】また、請求項2の発明によれば、到達予定
時刻が液交換終了予定時刻よりも早い場合には、到達予
定時刻を液交換終了予定時刻に一致させるように基板の
投入を制御しているため、基板処理が液交換によって阻
害されることなく液交換と基板処理とを同時期に行うこ
とができ、その結果スループットの低下を抑制すること
ができる。
According to the second aspect of the present invention, when the estimated arrival time is earlier than the scheduled liquid exchange end time, the loading of the substrate is controlled so that the estimated arrival time coincides with the estimated liquid exchange end time. Therefore, the liquid exchange and the substrate processing can be performed at the same time without the substrate processing being hindered by the liquid exchange, and as a result, a decrease in throughput can be suppressed.

【0046】また、請求項3の発明によれば、複数の薬
液槽のそれぞれの到達予定時刻のすべてがそれぞれの液
交換終了予定時刻以降となるように基板の投入を制御し
ているため、どの薬液槽の液交換も基板処理の障害とな
ることはなく、基板処理装置全体としてのスループット
低下を抑制することができる。
According to the third aspect of the present invention, since the loading of the substrate is controlled so that all of the scheduled arrival times of the plurality of chemical liquid tanks are equal to or later than the respective scheduled end times of the liquid exchange, Liquid exchange in the chemical solution tank does not hinder substrate processing, and it is possible to suppress a decrease in throughput of the entire substrate processing apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る基板処理装置の一例を示す正面概
略図である。
FIG. 1 is a schematic front view showing an example of a substrate processing apparatus according to the present invention.

【図2】図1の基板処理装置の制御機構を説明するため
の機能ブロック図である。
FIG. 2 is a functional block diagram for explaining a control mechanism of the substrate processing apparatus of FIG.

【図3】図1の基板処理装置の薬液槽の構成を説明する
概念図である。
FIG. 3 is a conceptual diagram illustrating a configuration of a chemical solution tank of the substrate processing apparatus of FIG.

【図4】図1の基板処理装置における基板処理手順を示
すフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart illustrating a substrate processing procedure in the substrate processing apparatus of FIG. 1;

【図5】ロット投入時期の調整を説明するための図であ
る。
FIG. 5 is a diagram for explaining adjustment of a lot input timing.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

40 マスターコントローラ 50 槽コントローラ 51 薬液排液手段 53 薬液供給手段 72、73、74 エアー弁 100 基板処理装置 CB1、CB2、CB3 薬液槽 LD ローダー部 W 基板 Reference Signs List 40 Master controller 50 Tank controller 51 Chemical liquid discharging means 53 Chemical liquid supplying means 72, 73, 74 Air valve 100 Substrate processing device CB1, CB2, CB3 Chemical liquid tank LD Loader unit W Substrate

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板に対して浸漬処理を行う基板処理装
置において、 (a) 薬液を貯留し、前記薬液中において基板に浸漬処理
を行う薬液槽と、 (b) 前記基板を前記基板処理装置内に投入する基板投入
部と、 (c) 前記基板が前記基板投入部から前記薬液槽に到達す
る到達予定時刻を算出する到達予定時刻算出手段と、 (d) 前記基板の前記投入時点から前記到達時点までのい
ずれかの時点において前記薬液槽の液交換が行われると
きに、当該液交換が終了する液交換終了予定時刻を算出
する液交換終了予定時刻算出手段と、 (e) 前記到達予定時刻が前記液交換終了予定時刻以降で
ある場合には、前記基板の投入を開始するように前記基
板投入部を制御する投入制御手段と、を備えることを特
徴とする基板処理装置。
1. A substrate processing apparatus for performing an immersion process on a substrate, comprising: (a) a chemical solution tank for storing a chemical solution and performing an immersion process on the substrate in the chemical solution; (C) a scheduled arrival time calculating means for calculating a scheduled arrival time at which the substrate reaches the chemical solution tank from the substrate insertion unit, (d) the substrate from the time of introduction of the substrate When the liquid exchange in the chemical solution tank is performed at any time up to the arrival point, the liquid exchange scheduled end time calculation means for calculating the liquid exchange end scheduled time at which the liquid exchange ends, (e) the scheduled arrival A substrate processing apparatus, comprising: a loading control unit that controls the substrate loading unit so that loading of the substrate is started when the time is equal to or later than the scheduled liquid exchange end time.
【請求項2】 請求項1記載の基板処理装置において、 前記投入制御手段は、前記到達予定時刻が前記液交換終
了予定時刻よりも早い場合には、前記到達予定時刻を前
記液交換終了予定時刻に一致させるように前記基板の投
入を制御することを特徴とする基板処理装置。
2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein, when the expected arrival time is earlier than the expected liquid exchange end time, the input control means sets the expected arrival time to the expected liquid exchange end time. A substrate processing apparatus for controlling the loading of the substrate so as to match the substrate.
【請求項3】 請求項2記載の基板処理装置において、 前記基板処理装置は、複数の前記薬液槽を備え、 前記投入制御手段は、前記複数の薬液槽のそれぞれの前
記到達予定時刻のすべてがそれぞれの前記液交換終了予
定時刻以降となるように前記基板の投入を制御すること
を特徴とする基板処理装置。
3. The substrate processing apparatus according to claim 2, wherein the substrate processing apparatus includes a plurality of the chemical solution tanks, and the input control unit determines that all of the scheduled arrival times of the plurality of the chemical solution tanks are different. A substrate processing apparatus, wherein the loading of the substrate is controlled so as to be after each of the scheduled liquid exchange end times.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008522939A (en) * 2004-12-10 2008-07-03 グラナドス,ファン ルイス レンドン Chemical method for obtaining fully or partially satin / matte finished glass comprising immersion in an acid solution for simultaneous and continuous production
JP2008522938A (en) * 2004-12-10 2008-07-03 グラナドス,ファン ルイス レンドン Chemical method for obtaining an antireflective finished glass comprising soaking in an acid solution for simultaneous and continuous production
JP2015056631A (en) * 2013-09-13 2015-03-23 東京エレクトロン株式会社 Substrate liquid processing apparatus, substrate liquid processing method, and computer readable storage medium storing substrate liquid processing program

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