JPH10261613A - Substrate processor - Google Patents

Substrate processor

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Publication number
JPH10261613A
JPH10261613A JP6650297A JP6650297A JPH10261613A JP H10261613 A JPH10261613 A JP H10261613A JP 6650297 A JP6650297 A JP 6650297A JP 6650297 A JP6650297 A JP 6650297A JP H10261613 A JPH10261613 A JP H10261613A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
liquid
tank
time
chemical solution
Prior art date
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Pending
Application number
JP6650297A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hitoshi Matsuda
比渡史 松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP6650297A priority Critical patent/JPH10261613A/en
Publication of JPH10261613A publication Critical patent/JPH10261613A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate processor which can process a substrate in a state such that chemicals does not deteriorate and remains fresh, even after a replacement of chemicals. SOLUTION: In the case that a scheduled time for termination of chemicals replacement in a chemicals tub comes after a scheduled time for arrival of a 1st at the chemicals tub, a lot is started to be carried and processed. When the chemicals in the tub comes to the end of its life time, the chemicals is immediately replaced. On the other hand, in the case that the scheduled time for termination of the chemicals replacement comes before the scheduled time for arrival of a lot at the chemicals tub, a chemical replacement is delayed, such that the scheduled time for termination of chemical replacement may be the same as the scheduled time for the arrival of a lot at the tub. In either case, the lot can be carried into the chemicals the before the chemical replacement is finished, and therefore a substrate can be processed with a fresh chemicals just after the chemicals has been replaced.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体基板、液
晶ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板および光ディ
スク用基板などの薄板状基板(以下、単に「基板」と称
する)を処理液に浸漬してこの表面に洗浄やエッチング
などの諸処理を施す基板処理装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for immersing a thin plate-like substrate (hereinafter simply referred to as a "substrate") such as a semiconductor substrate, a liquid crystal glass substrate, a glass substrate for a photomask, and a substrate for an optical disk in a processing liquid. The present invention relates to a substrate processing apparatus that performs various processes such as cleaning and etching on a surface.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、上記のような基板処理装置
は、薬液を貯留する薬液槽と純水を貯留する水洗槽とを
備えている。そして、予め定められた手順に従って、各
処理槽に一組の複数の基板(以下、「ロット」と称す
る)を循環搬送し、搬送先のそれぞれの処理槽において
所定の処理時間基板を浸漬する複数工程により、基板表
面の汚染物質を除去したり、基板表面の酸化膜をエッチ
ングしたり、レジスト膜を剥離したりする一連の基板処
理を達成している。
2. Description of the Related Art Conventionally, the above-described substrate processing apparatus has a chemical solution tank for storing a chemical solution and a washing tank for storing pure water. Then, according to a predetermined procedure, a set of a plurality of substrates (hereinafter, referred to as a “lot”) is circulated and transported to each processing tank, and the plurality of substrates are immersed for a predetermined processing time in each processing tank at the destination. Through the process, a series of substrate treatments of removing contaminants on the substrate surface, etching an oxide film on the substrate surface, and stripping a resist film is achieved.

【0003】ところで、薬液には、その種類に応じて液
寿命が存在する。本明細書中において、「液寿命」と
は、薬液槽に薬液を供給してからその薬液を使用するこ
とができる上限時間またはその薬液に基板を浸漬できる
上限回数を意味している。液寿命に達した後の薬液を使
用して浸漬処理を行うと処理不良となることもあるた
め、薬液槽内の薬液が液寿命に達した場合には、一旦基
板の払い出しが中止され、液寿命に達した薬液が排液さ
れ、新たな薬液が供給された後、すなわち液交換された
後、処理が再開されることとなる。処理が再開されると
ともに、再び基板が払い出され、一連の循環搬送による
基板処理が行われる。
[0003] A chemical solution has a liquid life depending on the type of the chemical solution. In this specification, the term “liquid life” means an upper limit time in which the chemical solution can be used after supplying the chemical solution to the chemical solution tank or an upper limit number of times the substrate can be immersed in the chemical solution. If the immersion process is performed using the chemical solution after the liquid life has expired, the processing may be defective.If the chemical liquid in the chemical tank reaches the liquid life, the discharge of the substrate is temporarily stopped and the liquid is discharged. After the chemical liquid whose life has expired is drained and a new chemical liquid is supplied, that is, after the liquid is replaced, the processing is restarted. When the processing is restarted, the substrate is discharged again, and the substrate processing is performed by a series of circulating conveyance.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、処理が再開
された後最初に払い出された基板が液交換された薬液槽
に到達するまでには搬送時間や循環搬送経路中の処理時
間などの一定の時間を要する。従って、処理再開後の最
初の基板が当該薬液槽に搬入されるときには薬液が必ら
ずしもフレッシュな状態ではなく、搬入されるまでに要
する時間に応じて経時劣化することとなる。
However, after the processing is resumed, a certain period of time such as the transfer time or the processing time in the circulating transfer path is required until the first discharged substrate reaches the chemical solution tank where the liquid has been exchanged. It takes time. Therefore, when the first substrate after the restart of the process is carried into the chemical solution tank, the chemical solution is not necessarily in a fresh state, but deteriorates with time according to the time required until the chemical solution is carried in.

【0005】このような問題は、薬液の液寿命が短いほ
ど、また、液交換された薬液槽が循環搬送の下流側に存
在するほど顕著な問題となる。
[0005] Such a problem becomes more serious as the liquid life of the liquid chemical is shorter and the liquid tank whose liquid has been exchanged is located downstream of the circulating conveyance.

【0006】さらに、液交換中は一連の循環搬送が中止
されているため、スループットの低下という問題も生じ
ていた。
Further, since a series of circulating conveyance is stopped during the liquid exchange, there is a problem that the throughput is reduced.

【0007】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
であり、液交換後も薬液が経時劣化していないフレッシ
ュな状態で基板処理を行うことができる基板処理装置を
提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a substrate processing apparatus capable of performing a substrate processing in a fresh state in which a chemical solution has not deteriorated with time even after liquid replacement. I do.

【0008】また、本発明は、液交換中のスループット
の低下を抑制することができる基板処理装置を提供する
ことを目的とする。
Another object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of suppressing a decrease in throughput during liquid exchange.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の発明は、基板に対して浸漬処理を行う基
板処理装置において、(a)薬液を貯留し、前記薬液中に
おいて基板に浸漬処理を行う薬液槽と、(b)前記基板を
前記基板処理装置内に投入する基板投入部と、(c)前記
基板が前記基板投入部から前記薬液槽に到達する到達予
定時刻を算出する到達予定時刻算出手段と、(d)前記基
板が前記基板投入部から前記薬液槽に到達するまでのい
ずれかの時点において前記薬液槽の液交換が行われる際
に、当該液交換が終了する液交換終了予定時刻を算出す
る液交換終了予定時刻算出手段と、(e)前記到達予定時
刻と前記液交換終了予定時刻との差に応じて前記液交換
を遅延させる交換遅延手段と、を備えている。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus for performing immersion processing on a substrate, comprising: (a) storing a chemical solution; A chemical solution tank for performing the immersion process, (b) a substrate loading section for loading the substrate into the substrate processing apparatus, and (c) a scheduled arrival time at which the substrate reaches the chemical solution tank from the substrate loading section. Scheduled arrival time calculating means, and (d) a liquid at which the liquid exchange ends when the liquid exchange of the chemical liquid tank is performed at any time until the substrate reaches the chemical liquid tank from the substrate charging section. A liquid exchange scheduled end time calculating means for calculating a scheduled replacement end time, and (e) an exchange delay means for delaying the liquid exchange according to a difference between the expected arrival time and the scheduled liquid exchange end time. I have.

【0010】また、請求項2の発明は、請求項1の発明
に係る基板処理装置において、前記交換遅延手段に、前
記液交換終了予定時刻が前記到達予定時刻よりも前であ
る場合には、前記液交換終了予定時刻と前記到達予定時
刻とが同じになるように前記液交換を遅延させている。
[0010] In a second aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the first aspect of the present invention, the replacement delay means includes a step of, if the scheduled liquid exchange end time is earlier than the expected arrival time. The liquid exchange is delayed such that the expected liquid exchange end time and the expected arrival time are the same.

【0011】また、請求項3の発明は、請求項1または
請求項2の発明に係る基板処理装置において、前記液交
換終了予定時刻が前記到達予定時刻以降である場合に
は、前記交換遅延手段に前記液交換を遅延させることな
く、前記基板投入部に前記基板を投入させている。
According to a third aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the first or second aspect of the present invention, when the scheduled liquid exchange end time is later than the expected arrival time, the exchange delay means is provided. The substrate is inserted into the substrate input section without delaying the liquid exchange.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0013】A.基板処理装置の全体概略構成:まず、
本発明に係る基板処理装置の全体構成について説明す
る。図1は、本発明に係る基板処理装置の一例を示す正
面概略図である。この基板処理装置100は、薬液槽C
B1、CB2と、水洗槽WB1、WB2、FRと、乾燥
部SDと、基板を搬送する基板搬送ロボットTRとを備
えている。また、基板処理装置100は、その両端に、
未処理の基板Wを収納したカセット20を載置するロー
ダー部(基板投入部)LDと処理済みの基板Wが格納さ
れるカセット20を載置するアンローダー部ULDとを
備えている。
A. Overall schematic configuration of substrate processing apparatus:
The overall configuration of the substrate processing apparatus according to the present invention will be described. FIG. 1 is a schematic front view showing an example of the substrate processing apparatus according to the present invention. The substrate processing apparatus 100 includes a chemical solution tank C
B1, CB2, washing tanks WB1, WB2, FR, a drying unit SD, and a substrate transport robot TR for transporting substrates. Further, the substrate processing apparatus 100 has, at both ends thereof,
The apparatus includes a loader section (substrate loading section) LD on which a cassette 20 containing unprocessed substrates W is placed and an unloader section ULD on which a cassette 20 for storing processed substrates W is placed.

【0014】薬液槽CB1、CB2は硫酸、アンモニ
ア、塩酸、フッ酸、過酸化水素水またはそれらの混合液
などの薬液(以下、単に「薬液」とする)を収容可能な
槽であり、基板Wに対してエッチング処理などを行うた
めの処理槽である。また、水洗槽WB1、WB2は純水
を収容し、基板Wに付着した薬液を洗浄する処理槽であ
る。また、水洗槽FRも純水を収容する洗浄処理槽であ
るが、主として仕上げの洗浄用として使用されている。
さらに、乾燥部SDは基板Wを回転させつつ当該基板W
に付着した水滴を除去、乾燥させる処理部である。
The chemical tanks CB1 and CB2 are tanks capable of storing a chemical such as sulfuric acid, ammonia, hydrochloric acid, hydrofluoric acid, hydrogen peroxide or a mixture thereof (hereinafter, simply referred to as "chemical"). This is a processing tank for performing an etching process or the like on the substrate. The washing tanks WB1 and WB2 are processing tanks that contain pure water and wash chemicals attached to the substrate W. The washing tank FR is also a washing tank containing pure water, and is mainly used for finishing washing.
Further, the drying unit SD rotates the substrate W while rotating the substrate W.
This is a processing unit that removes water drops adhering to the surface and dries it.

【0015】基板搬送ロボットTRは、水平方向および
上下方向に移動可能であり、ローダー部LDから未処理
ロットを払い出し、予め定められた処理手順(以下、
「レシピ」と称する)に従って上記各処理槽間でロット
を循環搬送するとともに、処理済みのロットをアンロー
ダー部ULDに渡すロボットである。基板搬送ロボット
TRは、開閉自在の一対のハンド11を備えており、当
該ハンド11には、その内側に基板Wを保持するための
複数の溝が一定のピッチで平行に設けられており(図示
省略)、当該複数の溝によってロットが保持されること
となる。この基板搬送ロボットTRがローダー部LDか
らロットを受け取る際には、カセット20の下方に設け
られた図示を省略するホルダによってカセット20から
上昇されたロットを基板搬送ロボットTRの一対のハン
ド11が把持することによって行われる。また、アンロ
ーダー部ULDにロットを渡す場合には、上記とは逆
に、ハンド11から図示を省略するホルダにロットが渡
され、そのホルダが下降することによって、ロットがカ
セット20内部に格納される。なお、ここに示している
例は、カセット20からロットを取り出して、そのロッ
トを直接基板搬送ロボットTRが把持、搬送する方式の
装置であるが、カセット20ごと基板搬送ロボットTR
が保持してロットを搬送する、いわゆるカセット搬送方
式の装置であってもかまわない。
The substrate transfer robot TR is movable in the horizontal and vertical directions, pays out unprocessed lots from the loader section LD, and executes a predetermined processing procedure (hereinafter, referred to as a predetermined processing procedure).
The robot is a robot that circulates and transports a lot between the processing tanks according to a “recipe” and transfers the processed lot to an unloader unit ULD. The substrate transport robot TR includes a pair of openable and closable hands 11, and a plurality of grooves for holding the substrate W are provided in the hand 11 in parallel at a constant pitch (shown in the figure). (Omitted), lots are held by the plurality of grooves. When the substrate transport robot TR receives the lot from the loader section LD, the pair of hands 11 of the substrate transport robot TR grips the lot raised from the cassette 20 by a holder (not shown) provided below the cassette 20. It is done by doing. When transferring the lot to the unloader unit ULD, the lot is transferred from the hand 11 to a holder (not shown), and the lot is stored in the cassette 20 by descending the holder. You. Note that the example shown here is an apparatus of a type in which a lot is taken out from the cassette 20 and the lot is directly gripped and transported by the substrate transport robot TR.
May be a so-called cassette transfer type device for transferring a lot while holding the same.

【0016】B.基板処理装置の制御機構:次に、基板
処理装置100の制御機構について説明する。図2は、
基板処理装置100の制御機構を説明するための機能ブ
ロック図である。この基板処理装置100には、卓上型
コンピュータ30が組み込まれており、オペレータは当
該卓上型コンピュータ30を介して装置に指令を与えた
り、処理パターンや処理条件の設定を行ったりできる。
B. Control mechanism of substrate processing apparatus: Next, a control mechanism of the substrate processing apparatus 100 will be described. FIG.
FIG. 3 is a functional block diagram for explaining a control mechanism of the substrate processing apparatus 100. The substrate processing apparatus 100 incorporates a desktop computer 30. An operator can give commands to the apparatus and set processing patterns and processing conditions via the desktop computer 30.

【0017】卓上型コンピュータ30は、その本体部で
あるCPU31と、読み出し専用メモリーであるROM
32と、読み書き自在のメモリーであるRAM33と、
制御用ソフトウェアやデータなどを記憶しておく磁気デ
ィスク34と、付随する入出力機器とのインターフェイ
スである入出力ポート35と、基板処理装置100を直
接制御する装置とのインターフェイスであるネットワー
クポート36と、基板処理装置100外部に設けられて
いるホストコンピュータなどと通信を行う通信ポート3
7とを備えている。また、卓上型コンピュータ30に
は、入出力ポート35を介してディスプレイ38とキー
ボード39とが付随して設けられており、オペレータは
ディスプレイ38の表示を確認しつつ、キーボード39
からコマンドやパラメータを入力することができる。そ
して、オペレータは、キーボード39から後述する基板
の到達予定時刻や薬液槽の液交換終了予定時刻を設定入
力することが可能である。
The desktop computer 30 has a CPU 31 as its main body and a ROM as a read-only memory.
32, a RAM 33 which is a readable and writable memory,
A magnetic disk 34 for storing control software, data, etc., an input / output port 35 as an interface with associated input / output devices, and a network port 36 as an interface with a device that directly controls the substrate processing apparatus 100. A communication port 3 for communicating with a host computer or the like provided outside the substrate processing apparatus 100
7 is provided. The desktop computer 30 is also provided with a display 38 and a keyboard 39 via an input / output port 35.
You can enter commands and parameters from. Then, the operator can set and input the scheduled arrival time of the substrate and the scheduled end time of the liquid exchange in the chemical tank from the keyboard 39.

【0018】卓上型コンピュータ30に入力された指令
は、処理用のソフトウェアに基づいて処理され、必要に
応じて当該卓上型コンピュータ30からネットワークポ
ート36を介してマスターコントローラ40および槽コ
ントローラ50などに伝達される。マスターコントロー
ラ40は、基板搬送ロボットTR(図1参照)の動作を
制御する。また、マスターコントローラ40は、ロット
が薬液槽に到達する到達予定時刻や薬液槽の液交換終了
予定時刻を算出することが可能であるとともに、必要に
応じて槽コントローラ50に液交換の指令を与える。
The command input to the desktop computer 30 is processed based on processing software, and is transmitted from the desktop computer 30 to the master controller 40 and the tank controller 50 via the network port 36 as necessary. Is done. The master controller 40 controls the operation of the substrate transport robot TR (see FIG. 1). Further, the master controller 40 can calculate the scheduled arrival time of the lot to reach the chemical solution tank and the scheduled liquid exchange end time of the chemical solution tank, and give a liquid exchange command to the tank controller 50 as necessary. .

【0019】液交換の指令を受けた槽コントローラ50
は、後述する薬液排液手段51および薬液供給手段53
などに指令を伝達して、各処理槽への注排液などを制御
する。さらに、槽コントローラ50は、タイマー56お
よびカウンター57を備えており、それらを使用して薬
液の液寿命を管理する。
The tank controller 50 that has received the liquid exchange command
Are a chemical liquid discharging means 51 and a chemical liquid supplying means 53 which will be described later.
And the like, and controls the injection and drainage of each processing tank. Further, the tank controller 50 includes a timer 56 and a counter 57, and uses these to manage the life of the chemical solution.

【0020】C.薬液槽の構成:次に、基板処理装置1
00に備えられた薬液槽CB2の構成について説明す
る。なお、以下の説明は、薬液槽CB2についてのもの
であるが、薬液槽CB1についても同じである。
C. Configuration of Chemical Solution Tank: Next, Substrate Processing Apparatus 1
The configuration of the chemical solution tank CB2 provided in 00 will be described. The following description is for the chemical solution tank CB2, but the same applies to the chemical solution tank CB1.

【0021】図3は、基板処理装置100の薬液槽CB
2の構成を説明する概念図である。薬液槽CB2は、内
槽60、外槽65、バット68およびそれらに付随する
注排液機構により構成されている。
FIG. 3 shows a chemical solution tank CB of the substrate processing apparatus 100.
FIG. 3 is a conceptual diagram illustrating the configuration of FIG. The chemical solution tank CB2 includes an inner tank 60, an outer tank 65, a bat 68, and a liquid supply / drainage mechanism associated therewith.

【0022】内槽60は、薬液を貯留し、浸漬された基
板Wに対し薬液によるエッチング処理などを行う槽であ
る。また、外槽65は、内槽60から溢れ出た薬液を回
収するための槽である。外槽65に溢れ出た薬液は、循
環ポンプ70によって内槽60に循環され、その経路中
において循環フィルター71によって浄化される。
The inner tank 60 is a tank for storing a chemical solution and performing an etching process with the chemical solution on the immersed substrate W. The outer tank 65 is a tank for collecting a chemical solution overflowing from the inner tank 60. The chemical liquid overflowing into the outer tank 65 is circulated to the inner tank 60 by the circulation pump 70, and is purified by the circulation filter 71 in the path.

【0023】また、内槽60には、薬液供給手段53か
ら薬液を供給することができる。薬液供給は、内槽60
の上方から直接内槽60内に薬液を供給することにより
行われるが、これに限定されるものではなく、例えば、
外槽65から内槽60への循環経路中に新たな薬液を供
給したり、循環ポンプ70を稼動した状態で外槽65へ
供給するようにしてもよい。
A chemical solution can be supplied from the chemical solution supply means 53 to the inner tank 60. The chemical solution is supplied to the inner tank 60
This is performed by supplying a chemical solution directly into the inner tank 60 from above, but is not limited to this. For example,
A new chemical solution may be supplied in the circulation path from the outer tank 65 to the inner tank 60, or may be supplied to the outer tank 65 while the circulation pump 70 is operating.

【0024】バット68は、内槽60および外槽65か
らさらに溢れ出た薬液を回収するための容器である。
The vat 68 is a container for collecting the chemical liquid overflowing from the inner tank 60 and the outer tank 65.

【0025】上記の内槽60、外槽65およびバット6
8に貯留している薬液は、それぞれドレイン用のエアー
弁73、72、74を介し、薬液排液手段51によって
排液することができる。なお、図3に示す薬液排液手段
51、薬液供給手段53、循環ポンプ70およびエアー
弁72、73、74はすべて槽コントローラ50(図2
参照)により、その動作を制御されている。
The inner tank 60, the outer tank 65, and the butt 6
The chemical solution stored in 8 can be drained by the chemical solution draining means 51 via drain air valves 73, 72, 74, respectively. It should be noted that the chemical liquid discharging means 51, the chemical liquid supplying means 53, the circulation pump 70, and the air valves 72, 73, 74 shown in FIG.
) Controls its operation.

【0026】図3に示す薬液槽CB2において浸漬処理
が行われるときには、まず、薬液供給手段53から薬液
が供給され、内槽60および外槽65に浸漬処理に必要
な所定の液量が貯留されて、薬液の供給が中止された
後、内槽60内の薬液中にロットが浸漬され、基板Wに
対するエッチング処理が開始される。基板Wに対する浸
漬処理が行われている最中は、エアー弁72、73、7
4は、閉鎖され、循環ポンプ70による薬液の循環利用
がなされている。すなわち、浸漬処理の定常状態にあっ
ては、内槽60内の処理用薬液のうち溢れ出た薬液が、
外槽65に回収され、循環ポンプ70を経て、循環フィ
ルター71により浄化された後、再び内槽60に供給さ
れる動作が繰り返されることとなる。
When the immersion process is performed in the chemical solution tank CB2 shown in FIG. 3, first, a chemical solution is supplied from the chemical solution supply means 53, and a predetermined amount of liquid necessary for the immersion process is stored in the inner tank 60 and the outer tank 65. Then, after the supply of the chemical solution is stopped, the lot is immersed in the chemical solution in the inner tank 60, and the etching process on the substrate W is started. While the immersion processing is being performed on the substrate W, the air valves 72, 73, 7
Reference numeral 4 is closed, and the circulation pump 70 recirculates the chemical solution. That is, in the steady state of the immersion processing, the overflowing chemical solution among the processing chemical solutions in the inner tank 60 is
The operation of being collected in the outer tank 65, being purified by the circulation filter 71 via the circulation pump 70, and then being supplied to the inner tank 60 again is repeated.

【0027】また、薬液槽CB2において液交換が行わ
れるときには、内槽60および外槽65に貯留されてい
る薬液をそれぞれエアー弁72、73を介して全て排液
した後、薬液供給手段53から新しい薬液を供給し、内
槽60および外槽65に浸漬処理に必要な所定の液量を
再び貯留することにより実行される。また、液交換時に
は、図示を省略する洗浄手段および温調手段により槽洗
浄および薬液の温調も行われる。
When the liquid is exchanged in the chemical tank CB2, all the chemicals stored in the inner tank 60 and the outer tank 65 are drained through the air valves 72 and 73, respectively. This is performed by supplying a new chemical solution and storing a predetermined amount of liquid necessary for the immersion process in the inner tank 60 and the outer tank 65 again. Further, at the time of liquid exchange, cleaning of the tank and temperature control of the chemical solution are also performed by cleaning means and temperature adjusting means (not shown).

【0028】D.基板処理手順:次に、基板処理装置1
00における基板処理手順の特徴である液交換遅延処理
について説明する。図4は、基板処理装置100におけ
る基板処理手順を示すフローチャートである。また、図
5は、基板処理装置100における液交換遅延処理の態
様を示す概念図である。
D. Substrate processing procedure: Next, substrate processing apparatus 1
The liquid exchange delay processing which is a feature of the substrate processing procedure in 00 will be described. FIG. 4 is a flowchart illustrating a substrate processing procedure in the substrate processing apparatus 100. FIG. 5 is a conceptual diagram showing an aspect of the liquid exchange delay processing in the substrate processing apparatus 100.

【0029】まず、オペレータが基板処理装置100に
備えられている各処理槽のうち本発明に係る技術である
液交換遅延処理の対象となる処理槽を選択し、キーボー
ド39から設定入力する(ステップS1)。通常、薬液
槽を選択することとなり、ここでは、薬液槽CB2を対
象槽として設定する。
First, the operator selects a processing tank to be subjected to the liquid exchange delay processing, which is a technique according to the present invention, from among the processing tanks provided in the substrate processing apparatus 100, and inputs settings from the keyboard 39 (step S1). S1). Usually, a chemical tank is selected, and here, the chemical tank CB2 is set as a target tank.

【0030】次に、処理に供するロットが設定された対
象処理槽、すなわち薬液槽CB2に搬入されるか否かが
判断される(ステップS2)。この判断は、そのロット
に対応するレシピをマスターコントローラ40が識別し
て行う。判断の結果、ロットが薬液槽CB2に搬入され
ない場合には、液交換を遅延させる必要がないため、ス
テップS7cに進み、ロットがローダー部LDから払い
出され、レシピに従って搬送・処理される。
Next, it is determined whether or not the lot to be processed is carried into the set processing tank, that is, the chemical tank CB2 (step S2). This determination is made by the master controller 40 identifying the recipe corresponding to the lot. If the result of the determination is that the lot is not carried into the chemical solution tank CB2, there is no need to delay the liquid exchange, so the process proceeds to step S7c, where the lot is discharged from the loader unit LD and transported and processed according to the recipe.

【0031】一方、ロットが薬液槽CB2に搬入される
場合には、ステップS3に進み、当該ロットが薬液槽C
B2に到達する予定時刻が算出される。到達予定時刻
は、マスターコントローラ40が算出するパラメータで
あり、そのロットが薬液槽CB2に搬入されるまでに要
する時間、換言すればロットが薬液槽CB2に搬入され
るまでに浸漬される各処理槽における処理時間と各処理
槽間の搬送時間との和に基づいて算出される。例えば、
ローダー部LDから払い出されたロットが薬液槽CB1
および水洗槽WB1を経由してから薬液槽CB2に搬入
される場合、水洗槽WB1および薬液槽CB1における
合計浸漬処理時間とローダー部LDと薬液槽CB1間、
薬液槽CB1と水洗槽WB1間および水洗槽WB1と薬
液槽CB2間の合計搬送時間との和に基づいて到達予定
時刻が算出される。なお、到達予定時刻は、オペレータ
がキーボード39を介して設定入力するようにしてもよ
い。
On the other hand, when the lot is carried into the chemical tank CB2, the process proceeds to step S3, and the lot is transferred to the chemical tank CB2.
The estimated time to reach B2 is calculated. The scheduled arrival time is a parameter calculated by the master controller 40, and is a time required for the lot to be carried into the chemical solution tank CB2, in other words, each processing tank immersed before the lot is carried into the chemical solution tank CB2. Is calculated based on the sum of the processing time and the transport time between the processing tanks. For example,
The lot paid out from the loader section LD is the chemical solution tank CB1.
And when it is carried into the chemical tank CB2 after passing through the washing tank WB1, the total immersion processing time in the washing tank WB1 and the chemical tank CB1, the distance between the loader section LD and the chemical tank CB1,
The estimated arrival time is calculated based on the sum of the total transport time between the chemical tank CB1 and the washing tank WB1 and between the washing tank WB1 and the chemical tank CB2. The scheduled arrival time may be set and input by the operator via the keyboard 39.

【0032】次に、ステップS4に進み、ロットが薬液
槽CB2に到達するまでに、薬液槽CB2がライフアッ
プする(槽内の薬液が液寿命に達する)か否かが判断さ
れる。この判断は、液寿命を管理する槽コントローラ5
0が上記到達予定時刻を参照して行う。ロットが薬液槽
CB2に到達するまでに、薬液槽CB2の薬液が液寿命
に達しない場合には、液交換を遅延する必要がなく、上
記と同様にステップS7cに進み、ロットがローダー部
LDから払い出され、レシピに従って搬送・処理され
る。
Next, the process proceeds to step S4, and it is determined whether or not the chemical solution tank CB2 has a longer life until the lot reaches the chemical solution tank CB2 (the chemical solution in the tank reaches the liquid life). This judgment is made by the tank controller 5 that manages the liquid life.
0 refers to the expected arrival time. If the chemical liquid in the chemical liquid tank CB2 does not reach the liquid life by the time the lot reaches the chemical liquid tank CB2, there is no need to delay the liquid exchange. It is paid out and transported and processed according to the recipe.

【0033】一方、ロットが薬液槽CB2に到達するま
でに、薬液槽CB2の薬液が液寿命に達する場合には、
マスターコントローラ40が液交換終了予定時刻を算出
する(ステップS5)。なお、この時点では液交換が実
際に行われているわけではなく、薬液が液寿命に達する
時刻に液交換に必要な時間を加算して液交換終了予定時
刻を算出する。また、液交換終了予定時刻もオペレータ
がキーボード39を介して設定入力するようにしてもよ
い。
On the other hand, if the chemical in the chemical tank CB2 reaches the liquid life before the lot reaches the chemical tank CB2,
The master controller 40 calculates the scheduled time for ending the liquid replacement (step S5). At this time, the liquid exchange is not actually performed, and the time required for the liquid exchange is added to the time when the chemical solution reaches the liquid life, to calculate the scheduled liquid exchange end time. In addition, the operator may set and input the scheduled liquid exchange end time via the keyboard 39.

【0034】次に、ステップS6に進み、マスターコン
トローラ40が上記到達予定時刻と液交換終了予定時刻
とを比較する。そして、液交換終了予定時刻が到達予定
時刻以降である場合には、ステップS7bに進み、液交
換を遅延させることなく、ローダー部LDからロットを
払い出し、レシピに従って搬送・処理する。その後、薬
液槽CB2の薬液が液寿命に達した時点で液交換を行
う。この場合は、液交換終了予定時刻が到達予定時刻以
降であるため、ロットが薬液槽CB2に搬入される前
に、液交換終了予定時刻と到達予定時刻との差の時間分
だけ待機することになる。
Next, proceeding to step S6, the master controller 40 compares the expected arrival time with the expected liquid exchange end time. If the scheduled liquid exchange end time is after the scheduled arrival time, the process proceeds to step S7b, where the lot is paid out from the loader unit LD without delaying the liquid exchange, and the lot is conveyed and processed according to the recipe. Thereafter, when the chemical in the chemical tank CB2 reaches the liquid life, the liquid is exchanged. In this case, since the scheduled liquid exchange end time is after the scheduled arrival time, before the lot is carried into the chemical solution tank CB2, it is necessary to wait for the difference between the estimated liquid exchange end time and the estimated arrival time. Become.

【0035】一方、液交換終了予定時刻が到達予定時刻
よりも前である場合には、ステップS7aに進んでロー
ダー部LDからロットを払い出し、レシピに従った搬送
・処理を実行しつつ、液交換を遅延させる(ステップS
8)。このときに、ステップS8においては、液交換終
了予定時刻と到達予定時刻とが同じになるようにマスタ
ーコントローラ40が液交換を遅延させる。そして、液
交換終了予定時刻と到達予定時刻とが同じになった時点
でステップS9に進み、液交換を行う。この場合は、液
交換が終了すると同時にロットを薬液槽CB2に搬入す
ることが可能である。
On the other hand, if the scheduled liquid exchange end time is earlier than the expected arrival time, the process proceeds to step S7a, where the lot is discharged from the loader unit LD, and the liquid exchange is performed while executing the transfer and processing according to the recipe. Is delayed (step S
8). At this time, in step S8, the master controller 40 delays the liquid exchange so that the expected liquid exchange end time and the expected arrival time are the same. Then, when the scheduled liquid exchange end time and the scheduled arrival time become the same, the process proceeds to step S9, and the liquid exchange is performed. In this case, the lot can be carried into the chemical solution tank CB2 at the same time as the completion of the liquid exchange.

【0036】上記処理手順に従った処理態様例を図5を
参照しつつ説明する。図5(a)は、ロットが薬液槽C
B2に搬入される予定時刻(到達予定時刻)を示してお
り、時刻t0にローダー部LDから払い出されたロット
は時刻t5に薬液槽CB2に到達する。従って、時刻t5
がステップS3で算出される到達予定時刻となる。
An example of a processing mode according to the above processing procedure will be described with reference to FIG. FIG. 5A shows that the lot is a chemical solution tank C.
B2 shows the carry is the scheduled time (estimated time of arrival), a lot that has been paid out from the loader section LD at time t 0 reaches the chemical tank CB2 time t 5. Therefore, at time t 5
Is the estimated arrival time calculated in step S3.

【0037】図5(b)〜(e)は、薬液槽CB2の液
交換の時期の例を示している。図5(e)に示す例で
は、薬液槽CB2の薬液が液寿命に達する時刻が時刻t
6であり、ロットが薬液槽CB2に到達する(時刻t5
よりも後である。従って、ステップS4からステップS
7cに進み、薬液処理を遅延することなく、ロットがロ
ーダー部LDから払い出され、処理が開始される。
FIGS. 5 (b) to 5 (e) show examples of the timing of liquid exchange in the chemical liquid tank CB2. In the example shown in FIG. 5E, the time when the chemical solution in the chemical solution tank CB2 reaches the liquid lifetime is time t.
Is 6, the lot arrives at the chemical tank CB2 (time t 5)
Later than. Therefore, from step S4 to step S
Proceeding to 7c, the lot is discharged from the loader section LD without delaying the chemical solution processing, and the processing is started.

【0038】一方、図5(b)〜(d)に示す例では、
ロットが薬液槽CB2に到達する(時刻t5)までに、
薬液槽CB2の薬液がいずれも液寿命に達するため、液
交換終了予定時刻が算出され(ステップS5)、到達予
定時刻と液交換終了予定時刻との比較が実行される(ス
テップS6)。
On the other hand, in the example shown in FIGS.
Lot to reach the chemical tank CB2 until the (time t 5),
Since all of the chemicals in the chemical solution tank CB2 reach the liquid life, the expected liquid replacement end time is calculated (step S5), and the expected arrival time is compared with the expected liquid replacement end time (step S6).

【0039】これらのうち、図5(d)に示す例では、
液交換終了予定時刻t7が到達予定時刻t5よりも後であ
るため、ロットの処理が開始(ステップS7b)された
後、やがて薬液槽CB2の薬液が液寿命(時刻t4)に
達すると即刻液交換が実行される(ステップS9)。図
5(d)に示す例では、到達予定時刻t5から液交換終
了予定時刻t7までの間ロットが待機することになる
が、薬液が液交換直後のフレッシュな状態で浸漬処理を
行うことができる。
Of these, in the example shown in FIG.
Since the scheduled liquid exchange end time t 7 is later than the expected arrival time t 5 , when the processing of the lot is started (step S7b), the chemical liquid in the chemical liquid tank CB2 eventually reaches the liquid life (time t 4 ). Immediate liquid exchange is performed (step S9). 5 In the example (d), the but between lots from arrival scheduled time t 5 to liquor exchange scheduled end time t 7 is to wait, the drug solution is performed by the immersion treatment in a fresh state immediately after the liquid exchange Can be.

【0040】また、図5(c)に示す例では、液交換終
了予定時刻t5が到達予定時刻t5と同時である。この場
合も上記と同様に、ロットの処理が開始(ステップS7
b)された後、やがて薬液槽CB2の薬液が液寿命(時
刻t3)に達すると即刻液交換が実行される(ステップ
S9)。液交換が終了すると同時に、ロットが薬液槽C
B2に搬入されるため、薬液が液交換直後のフレッシュ
な状態で浸漬処理を行うことができる。
Further, in the example shown in FIG. 5 (c), the liquid exchange expected ending time t 5 is concurrent and scheduled arrival time t 5. In this case as well, the lot processing starts (step S7).
b) After that, when the chemical solution in the chemical solution tank CB2 eventually reaches the solution life (time t 3 ), the solution is immediately replaced (step S9). At the same time when the liquid exchange is completed, the lot is
Since it is carried into B2, the immersion treatment can be performed in a fresh state immediately after the liquid solution is exchanged.

【0041】ところが、図5(b)に示す例では、液交
換終了予定時刻t2が到達予定時刻t5よりも前である。
この場合は、ロットの処理が開始(ステップS7a)さ
れるとともに、液交換が遅延される。すなわち、ロット
の処理による経過時間の分だけ液交換終了予定時刻が時
刻t2から遅らされ(ステップS8)、薬液の液寿命で
ある時刻t1に達しても液交換は開始されない。その
後、ロットの処理がさらに進行され、やがて時刻t3
達したとき、液交換終了予定時刻が到達予定時刻t5
等しくなり、液交換が実行される(ステップS9)。液
交換が終了すると同時に、ロットが薬液槽CB2に搬入
されるため、薬液が液交換直後のフレッシュな状態で浸
漬処理を行うことができる。
[0041] However, in the example shown in FIG. 5 (b), the liquid exchange expected ending time t 2 is before the estimated time of arrival t 5.
In this case, the processing of the lot is started (step S7a), and the liquid exchange is delayed. That is, an amount corresponding liquid exchange expected ending time of the elapsed time by the processing of the lot is delayed from time t 2 (step S8), and the liquid exchange is not started even after reaching the time t 1 is a chemical liquid lifetime. Thereafter, the development processing of the lot is further eventually when it reaches the time t 3, the liquid exchange expected ending time is equal to the estimated time of arrival t 5, the liquid exchange is performed (step S9). Since the lot is carried into the chemical solution tank CB2 at the same time as the completion of the liquid exchange, the immersion treatment can be performed in a fresh state immediately after the liquid exchange of the chemical solution.

【0042】また、上記の図5(b)〜(d)に示す例
においては、液交換の期間の少なくとも一部分は、ロッ
トの搬送・処理が液交換と併行して実行されているた
め、液交換中のスループットの低下を抑制することがで
きる。特に、図5(b)(c)に示す例では、液交換の
全期間においてロットの搬送・処理が併行して実行され
ているため、スループットの低下抑制効果は大きい。
In the examples shown in FIGS. 5B to 5D, the transfer and processing of the lot is performed at least in part during the liquid exchange period, so that the liquid exchange is performed. A decrease in throughput during replacement can be suppressed. In particular, in the examples shown in FIGS. 5B and 5C, since the transport and processing of the lot are executed concurrently during the entire period of the liquid exchange, the effect of suppressing the decrease in the throughput is great.

【0043】以上、この発明の実施形態について説明し
たが、本発明は上記の例に限定されるものではなく、例
えば、上記実施形態における基板処理装置100は、基
板Wをロット単位で処理する装置であったが、これを1
枚ずつ処理する枚葉式の基板処理装置としてもよい。
Although the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above-described example. For example, the substrate processing apparatus 100 in the above-described embodiment is an apparatus for processing a substrate W in lot units. But this was 1
It may be a single-wafer-type substrate processing apparatus that processes one by one.

【0044】また、上記の液交換遅延処理は、薬液槽C
B1を対象槽として設定しても同様に適用可能である。
The liquid exchange delay processing is performed in the chemical tank C
Even if B1 is set as the target tank, the present invention can be similarly applied.

【0045】[0045]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明に
よれば、到達予定時刻と液交換終了予定時刻との差に応
じて液交換を遅延させているため、液交換が終了すると
同時に、基板が薬液槽に搬入され、薬液が液交換直後の
経時劣化していないフレッシュな状態で基板処理を行う
ことができる。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the liquid exchange is delayed according to the difference between the expected arrival time and the liquid exchange end scheduled time. Then, the substrate is carried into the chemical solution tank, and the substrate processing can be performed in a fresh state in which the chemical solution has not deteriorated with time immediately after the liquid exchange.

【0046】また、請求項2の発明によれば、液交換終
了予定時刻が到達予定時刻よりも前である場合には、液
交換終了予定時刻と到達予定時刻とが同じになるように
液交換を遅延させているため、請求項1の発明と同様の
効果に加え、液交換の全期間において基板処理が液交換
と併行して実行され、液交換中のスループットの低下を
抑制することができる。
According to the second aspect of the present invention, when the scheduled liquid exchange end time is earlier than the expected arrival time, the liquid exchange is performed so that the estimated liquid exchange end time and the expected arrival time are the same. Is delayed, in addition to the same effect as the first aspect of the present invention, the substrate processing is executed concurrently with the liquid exchange during the entire period of the liquid exchange, and a decrease in throughput during the liquid exchange can be suppressed. .

【0047】また、請求項3の発明によれば、液交換終
了予定時刻が到達予定時刻以降である場合には、液交換
を遅延させることなく、基板が投入されるため、請求項
1と同様の効果を得ることができる。
According to the third aspect of the present invention, when the scheduled liquid exchange end time is later than the expected arrival time, the substrate is loaded without delaying the liquid exchange. The effect of can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る基板処理装置の一例を示す正面概
略図である。
FIG. 1 is a schematic front view showing an example of a substrate processing apparatus according to the present invention.

【図2】図1の基板処理装置の制御機構を説明するため
の機能ブロック図である。
FIG. 2 is a functional block diagram for explaining a control mechanism of the substrate processing apparatus of FIG.

【図3】図1の基板処理装置の薬液槽の構成を説明する
概念図である。
FIG. 3 is a conceptual diagram illustrating a configuration of a chemical solution tank of the substrate processing apparatus of FIG.

【図4】図1の基板処理装置における基板処理手順を示
すフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart illustrating a substrate processing procedure in the substrate processing apparatus of FIG. 1;

【図5】図1の基板処理装置における液交換遅延処理の
態様を示す概念図である。
FIG. 5 is a conceptual diagram showing an aspect of a liquid exchange delay process in the substrate processing apparatus of FIG. 1;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

40 マスターコントローラ 50 槽コントローラ 51 薬液排液手段 53 薬液供給手段 72、73、74 エアー弁 100 基板処理装置 CB1、CB2 薬液槽 LD ローダー部 W 基板 Reference Signs List 40 Master controller 50 Tank controller 51 Chemical liquid discharging means 53 Chemical liquid supplying means 72, 73, 74 Air valve 100 Substrate processing device CB1, CB2 Chemical liquid tank LD Loader unit W substrate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI // G11B 7/26 G11B 7/26 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification symbol FI // G11B 7/26 G11B 7/26

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板に対して浸漬処理を行う基板処理装
置において、 (a) 薬液を貯留し、前記薬液中において基板に浸漬処理
を行う薬液槽と、 (b) 前記基板を前記基板処理装置内に投入する基板投入
部と、 (c) 前記基板が前記基板投入部から前記薬液槽に到達す
る到達予定時刻を算出する到達予定時刻算出手段と、 (d) 前記基板が前記基板投入部から前記薬液槽に到達す
るまでのいずれかの時点において前記薬液槽の液交換が
行われる際に、当該液交換が終了する液交換終了予定時
刻を算出する液交換終了予定時刻算出手段と、 (e) 前記到達予定時刻と前記液交換終了予定時刻との差
に応じて前記液交換を遅延させる交換遅延手段と、を備
えることを特徴とする基板処理装置。
1. A substrate processing apparatus for performing an immersion process on a substrate, comprising: (a) a chemical solution tank for storing a chemical solution and performing an immersion process on the substrate in the chemical solution; (C) an expected arrival time calculating means for calculating an expected arrival time at which the substrate reaches the chemical solution tank from the substrate insertion portion, and (d) the substrate from the substrate input portion. A liquid-exchange scheduled time calculating means for calculating a scheduled liquid-change end time at which the liquid exchange ends when the liquid is exchanged in the chemical tank at any time before reaching the chemical solution tank; A substrate processing apparatus comprising: an exchange delay unit that delays the liquid exchange according to a difference between the expected arrival time and the expected liquid exchange end time.
【請求項2】 請求項1記載の基板処理装置において、 前記交換遅延手段は、前記液交換終了予定時刻が前記到
達予定時刻よりも前である場合には、前記液交換終了予
定時刻と前記到達予定時刻とが同じになるように前記液
交換を遅延させることを特徴とする基板処理装置。
2. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the replacement delay unit determines that the liquid replacement end time and the arrival time are shorter when the liquid replacement end time is earlier than the arrival time. A substrate processing apparatus, wherein the liquid exchange is delayed so that a scheduled time becomes the same.
【請求項3】 請求項1または請求項2記載の基板処理
装置において、 前記液交換終了予定時刻が前記到達予定時刻以降である
場合には、前記交換遅延手段が前記液交換を遅延させる
ことなく、前記基板投入部が前記基板を投入することを
特徴とする基板処理装置。
3. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein when the scheduled liquid exchange end time is after the scheduled arrival time, the exchange delay unit does not delay the liquid exchange. A substrate processing apparatus, wherein the substrate input section inputs the substrate.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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