KR100598919B1 - Wet station with double bath and method to operating for double bath thereof - Google Patents
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Abstract
본 발명은 연속적으로 동일한 약액을 사용하는 이중 처리조를 갖는 웨트 스테이션 및 그의 이중 처리조 운용 방법에 관한 것이다. 웨트 스테이션은 연속적으로 구비되고 동일한 약액으로 처리되는 제 1 및 제 2 처리조와, 제 1 및 제 2 처리조에 투입된 제 1 및 제 2 약액의 라이프 카운터 및 라이프 타임 특성을 판별하여, 제 1 및 제 2의 처리조 중에 어느 하나의 처리조의 약액을 교체시, 나머지 다른 하나의 처리조로 웨이퍼를 투입하도록 제어하는 제어부를 포함하여 웨이퍼를 항상 투입 가능하도록 한다. 따라서 본 발명에 의하면, 웨이퍼 투입 및 약액 교체 시기를 라이프 카운터 및 라이프 타임을 이용하여 판별하고, 항상 웨이퍼 투입 가능한 상태를 유지함으로써, 생산성 및 공정 성능을 향상시킨다.The present invention relates to a wet station having a dual treatment tank using continuously the same chemical liquid and a method for operating the dual treatment tank thereof. The wet station determines the life counter and the life time characteristics of the first and second treatment tanks that are continuously provided and are treated with the same chemical solution, and the first and second chemical solutions that are introduced into the first and second treatment tanks, When the chemical liquid of any one of the processing tank of the replacement of the control tank for controlling the input of the wafer into the other processing tank, the wafer is always available to be injected. Therefore, according to the present invention, the wafer input time and the chemical liquid replacement time are determined using the life counter and the life time, and the state in which the wafer can be inserted at all times is improved, thereby improving productivity and process performance.
반도체 제조 설비, 배치형 웨트 스테이션, 이중 처리조, 웨이퍼, 약액Semiconductor manufacturing facilities, batch wet stations, dual treatment tanks, wafers, chemicals
Description
도 1은 본 발명의 웨트 스테이션의 개략적인 구성을 나타내는 블럭도;1 is a block diagram showing a schematic configuration of a wet station of the present invention;
도 2a 내지 도 2c는 도 1에 도시된 배스 시스템의 처리 공정에 따른 다양한 구성들을 도시한 도면들;2A-2C illustrate various configurations in accordance with the processing of the bath system shown in FIG. 1;
도 3은 본 발명에 따른 웨이퍼 투입 및 약액 교체 시기를 판별하기 위한 논리표를 나타내는 도면;3 is a view showing a logic table for determining a wafer input and chemical liquid replacement time according to the present invention;
도 4는 본 발명에 따른 웨트 스테이션의 웨이퍼 투입 및 약액 교체 수순을 나타내는 흐름도; 그리고4 is a flowchart showing a wafer input and chemical liquid replacement procedure of the wet station according to the present invention; And
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 이중 처리조의 웨이퍼 투입 및 약액 교체를 위한 순차적인 운용 상태를 나타내는 도면이다.5 is a view showing a sequential operation state for the wafer input and chemical liquid replacement of the dual treatment tank according to an embodiment of the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
10 : 웨이퍼 100 : 웨트 스테이션10: wafer 100: wet station
102 : 제어 시스템 104 : 컨트롤러102: control system 104: controller
106 : 메모리 110, 110a ~ 110c : 배스 시스템106:
112 : 처리조 114 : 이송 로봇112: treatment tank 114: transfer robot
120 ~ 126, 140 ~ 142 : 이중 처리조120 to 126, 140 to 142: double treatment tank
본 발명은 반도체 제조 설비에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 반도체 제조 공정 처리를 위해 동일한 약액을 사용하는 이중 처리조(double bath)를 갖는 배치(batch)형의 웨트 스테이션(wet station) 및 그의 이중 처리조에서의 웨이퍼 투입 및 약액 교체를 위한 운용 방법에 관한 것이다.FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to semiconductor fabrication equipment, and more particularly to batch wet stations and doubles thereof having a double bath using the same chemicals for semiconductor fabrication process processing. It relates to an operation method for wafer input and chemical liquid replacement in a treatment tank.
일반적으로 반도체 제조 설비의 웨트 스테이션은 배치형 처리 설비로, 반도체 제조 공정에 따른 다수의 처리조(bath)들을 구비하고, 이를 이용하여 다양한 제조 공정들을 위해 처리조의 구성(configuration)을 설정하고, 이를 순차적으로 일괄 처리한다.In general, the wet station of a semiconductor manufacturing facility is a batch processing facility, which includes a plurality of baths according to a semiconductor manufacturing process, and uses the same to set a configuration of a processing tank for various manufacturing processes. Batch sequentially.
상기 배치형 웨트 스테이션은 처리량(throughput)을 개선할 목적으로 처리조들 중 동일한 약액을 사용하여 공정을 처리하는 처리조를 두 개로 배치되도록 구성을 설정한다. 이 때, 약액은 처리조에 공급되어 사용 회수를 나타내는 라이프 카운터(Life Counter : LC)와, 처리조에 공급되어서 경과된 시간을 나타내는 라이프 타임(Life Time : LT) 등의 특성을 가지며, 엔지니어는 이를 이용하여 약액의 사용 여부를 관리한다. 예를 들어, SC-1 계열의 약액은 라이프 카운터 10 회, 라이프 타임 360 분을 가지며, H2SO4 계열의 약액은 라이프 카운터 50 회, 라이프 타임 1440 분을 갖는다. 따라서 이러한 약액의 특성은 공정 처리의 향상을 위해 모니터링해야 할 중요한 요인이다.The batch wet station sets the configuration so that two treatment tanks for processing the process using the same chemical liquid among the treatment tanks for the purpose of improving throughput. At this time, the chemical liquid has characteristics such as a Life Counter (LC) for supplying the treatment tank to indicate the number of times of use, and a Life Time (LT) for elapsed time to be supplied to the treatment tank. To manage the use of chemicals. For example, the SC-1 series has 10 life counters and a life time of 360 minutes, and the H2SO4 series has 50 life counters and a life time of 1440 minutes. Therefore, the nature of these chemicals is an important factor to be monitored for improved process processing.
일반적으로 배치형 웨트 스테이션에서, 동일한 약액을 사용하는 이중 처리조는 각각 서로 다른 라이프 카운터와 라이프 타임의 약액으로 처리되기 때문에 이전 처리조에서 다음 처리조로 진행될 때, 이중 처리조 중 어느 처리조에 웨이퍼를 투입해야 하는지 또는 어느 처리조의 약액을 교체해야 하는지에 따라 공정 특성이 달라지게 된다. 따라서 공정 진행 상, 이중 처리조에서의 웨이퍼 투입 또는 약액 교체를 위한 판단이 매우 어렵다.In general, in a batch wet station, dual treatment tanks using the same chemical liquid are each treated with chemical liquids of different life counters and lifetimes, so when the wafer is processed from the previous treatment tank to the next treatment tank, the wafer is introduced into one of the processing tanks. Process characteristics will vary depending on whether or not the treatment liquid needs to be replaced. Therefore, during the process, it is very difficult to determine the wafer input or chemical liquid replacement in the dual treatment tank.
또한 상기 배치형 웨트 스테이션은 이중 처리조를 각각 1 회씩 교차하여 웨이퍼를 투입하였다. 그러나 이러한 경우, 마지막 공정 처리에서 이중 처리조는 서로 1 회의 라이프 카운터 차이를 두고 약액 교체를 하기 때문에, 이중 처리조의 어느 하나의 처리조 또는 이중 처리조 모두의 약액을 동시에 교체하는 경우가 발생되어 약액 교체 소요 시간 동안에는 웨이퍼를 투입하지 못하게 되는 현상이 발생하였다. 그 결과, 공정 관리가 어렵게 되고, 그리고 약액 교체를 위한 소요 시간 동안에 웨이퍼는 대기 상태로 놓이게 됨으로써 생산성이 저하된다.In addition, the batch-type wet station interposed the double treatment tank once each and introduced the wafer. However, in this case, since the dual treatment tanks replace the chemical liquid with one life counter difference from each other in the last process treatment, the chemical liquids of either the treatment tank or the dual treatment tank of the dual treatment tank may be replaced at the same time. The phenomenon that the wafer can not be inserted during the required time has occurred. As a result, process management becomes difficult, and the wafer is placed in a standby state for a time required for chemical liquid change, thereby lowering productivity.
본 발명의 목적은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 동일한 약액을 사용하는 이중 처리조를 갖는 배치형 웨트 스테이션에서, 웨이퍼 투입 및/또는 약액 교체를 위한 이중 처리조의 운용하기 위한 장치를 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to provide an apparatus for operating a dual treatment tank for wafer input and / or chemical replacement in a batch type wet station having a dual treatment tank using the same chemical liquid. .
본 발명의 다른 목적은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 동일한 약액을 사용하는 이중 처리조를 갖는 배치형 웨트 스테이션에서, 웨이퍼 투입 및/또는 약액 교체를 위한 이중 처리조의 운용 방법을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to solve the above-described problems, in a batch wet station having a dual treatment tank using the same chemical solution, to provide a method of operating a dual treatment tank for wafer input and / or chemical replacement.
본 발명의 또 다른 목적은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 동일한 약액을 사용하는 이중 처리조의 운용을 효율적으로 처리하여 생산성을 향상시키는 배치형 웨트 스테이션 및 그의 운용 방법을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to solve the above problems, to provide a batch-type wet station and a method of operating the same to improve productivity by efficiently treating the operation of the dual treatment tank using the same chemical liquid.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 특징에 의하면, 배치형 웨트 스테이션은, 연속적으로 구비되고 동일한 약액으로 처리되는 제 1 및 제 2 처리조 및; 상기 제 1 및 제 2 처리조에 투입된 제 1 및 제 2 약액의 라이프 카운터 및 라이프 타임 특성을 판별하여, 상기 제 1 및 제 2의 처리조 중에 어느 하나의 처리조의 약액을 교체시, 나머지 다른 하나의 처리조로 웨이퍼를 투입하도록 제어하는 제어부를 포함하여 웨이퍼를 항상 투입할 수 있도록 한다.According to one aspect of the present invention for achieving the above object, a batch type wet station includes: first and second treatment tanks which are continuously provided and treated with the same chemical liquid; The life counter and the life time characteristics of the first and second chemical liquids introduced into the first and second treatment tanks are determined, and when the chemical liquid of any one of the first and second treatment tanks is replaced, the other It includes a control unit for controlling the input of the wafer into the treatment tank to ensure that the wafer is always inserted.
이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 제어부는 프로그램어블 로직 컨트롤러로 구비된다.In a preferred embodiment of this aspect, the control unit is provided with a programmable logic controller.
상기 제어부는, 상기 제 1 및 제 2 약액의 라이프 카운터가 동일한 경우에는 상기 제 1 및 상기 제 2 약액의 라이프 타임이 작은 처리조로 웨이퍼를 투입하도록 제어한다. 또한 상기 제어부는, 상기 제 1 및 상기 제 2 약액의 라이프 카운터가 동일하지 않는 경우, 상기 제 1 및 상기 제 2 약액의 라이프 카운터 모두가 라이프 카운터의 절반 미만이면, 상기 제 1 및 상기 제 2 약액 중 신규 약액으로 웨이퍼를 투입하고, 상기 제 1 및 상기 제 2 약액의 라이프 카운터 중 적어도 어느 하나가 라이프 카운터의 절반 이상이면, 상기 제 1 및 상기 제 2 약액의 라이프 카운터가 큰 쪽의 처리조로 웨이퍼를 투입하도록 제어한다.When the life counters of the first and second chemical liquids are the same, the controller controls the wafer to be introduced into a processing tank having a small life time of the first and second chemical liquids. The control unit may further include the first and second chemical liquids when the life counters of the first and second chemical liquids are less than half of the life counter when the life counters of the first and the second chemical liquids are not the same. If the wafer is introduced into the new chemical liquid, and at least one of the life counters of the first and second chemical liquids is at least half of the life counter, the life counter of the first and the second chemical liquids is larger in the processing tank. Control to input.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 특징에 의하면, 연속적으로 동일한 약액을 사용하는 제 1 및 제 2 처리조를 포함하는 이중 처리조를 갖는 배치형 웨트 스테이션의 상기 이중 처리조의 운용 방법은, 웨이퍼를 상기 이중 처리조 이전의 처리조에서 공정을 처리하는 단계와; 상기 제 1 및 상기 제 2 처리조 중 어느 하나의 처리조로 상기 웨이퍼를 투입하거나 상기 어느 하나의 처리조 약액을 교체하기 위하여 상기 제 1 및 상기 제 2 처리조의 상기 약액들의 라이프 카운터 및 라이프 타임 특성을 각각 판별하는 단계 및; 상기 판별 결과, 상기 제 1 및 상기 제 2 처리조의 약액 중 어느 하나의 처리조의 약액을 교체시, 나머지 다른 하나의 처리조로 웨이퍼를 투입하도록 하는 단계를 포함한다.According to another feature of the present invention for achieving the above object, the operation method of the dual treatment tank of the batch-type wet station having a dual treatment tank including the first and the second treatment tank using the same chemical liquid continuously, Processing the wafer in a processing tank prior to the dual processing tank; Life counter and lifetime characteristics of the chemical liquids of the first and second processing tanks may be changed in order to insert the wafer into one of the first and second processing tanks or to replace any of the processing liquids. Determining each; As a result of the determination, when replacing the chemical liquid of any one of the chemical liquid of the first and the second processing tank, the step of introducing the wafer into the other processing tank.
이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 판별하는 단계는, 상기 제 1 및 상기 제 2 처리조의 약액의 라이프 카운터를 각각 라이프 카운터의 반으로 나눈 값의 몫과 나머지를 비교하여, 상기 제 1 및 상기 제 2 처리조 중 어느 하나로 웨이퍼를 투입하거나 약액을 교체한다. 이 때, 상기 웨이퍼를 투입하는 것은, 상기 제 1 처리조와 상기 제 2 처리조의 몫이 "0"일 때는 나머지가 작은 쪽의 처리조로 상기 웨이퍼를 투입하고, 상기 제 1 및 상기 제 2 처리조의 몫이 모두 "1"일 때는 나머지가 큰 쪽의 처리조로 상기 웨이퍼를 투입하고, 상기 제 1 처리조의 몫이 "1"이고 상기 제 2 처리조의 몫이 "0"일 때는 상기 제 1 처리조로 상기 웨이퍼를 투입하고, 상기 제 1 처리조의 몫이 "0"이고 상기 제 2 처리조의 몫이 "1"일 때는 상기 제 2 처리조로 상기 웨이퍼를 투입하며, 그리고 상기 제 1 및 상기 제 2 처리조의 몫과 나머지가 같을 때는 상기 약액의 라이프 타임이 작은 쪽의 처리조로 상기 웨이퍼를 투입하는 것이 바람직하다.In the preferred embodiment of the present aspect, the determining may include comparing the quotient and the remainder of the value obtained by dividing the life counters of the chemical liquids of the first and second treatment tanks in half of the life counters, respectively, and the first and the The wafer is introduced into one of the second treatment tanks or the chemical liquid is replaced. At this time, injecting the wafer, when the share of the first processing tank and the second processing tank is "0", the wafer is introduced into the processing tank of the smaller one, and the share of the first and the second processing tank. When all of these are "1", the wafer is introduced into the larger processing tank, and when the share of the first processing tank is "1" and the share of the second processing tank is "0", the wafer is transferred to the first processing tank. Input the wafer, and when the share of the first processing tank is "0" and the share of the second processing tank is "1", the wafer is introduced into the second processing tank, and the share of the first and the second processing tank When the remainder is the same, it is preferable to inject the wafer into a processing tank having a smaller life time of the chemical liquid.
또한 웨이퍼가 투입되면, 상기 제 1 및 상기 제 2 처리조의 라이프 카운터를 업데이팅하고, 상기 제 1 및 상기 제 2 처리조의 약액이 라이프 카운터에 도달되면, 해당 처리조의 약액을 교체하도록 한다.In addition, when the wafer is introduced, the life counters of the first and second processing tanks are updated, and when the chemicals of the first and second processing tanks reach the life counters, the chemicals of the processing tanks are replaced.
이 특징의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 제 1 및 상기 제 2 처리조의 약액이 모두 라이프 카운터의 절반 미만인 경우에는 라이프 카운터가 작은 쪽의 처리조로 웨이퍼를 투입하고, 상기 제 1 및 상기 제 2 처리조 중 적어도 어느 하나가 라이프 카운터의 절반 이상인 경우에는 라이프 카운터가 큰 쪽의 처리조로 웨이퍼를 투입하여 라이프 카운터를 업 카운팅하고, 상기 업 카운딩된 라이프 카운터의 처리조가 약액 교체 시기에 도달되면, 상기 업 카운팅된 처리조의 약액을 교체한다.In a preferred embodiment of this aspect, when the chemical liquids of the first and second processing tanks are all less than half of the life counter, the life counter puts the wafer into the smaller processing tank, and the first and second processing tanks are used. If at least one of them is more than half of the life counter, the life counter inputs the wafer to the larger processing tank to up-count the life counter, and when the processing tank of the up-counted life counter reaches the chemical liquid replacement time, Replace the chemicals in the counted treatment bath.
따라서 본 발명에 의하면, 웨이퍼 투입 및 약액 교체 시기를 라이프 카운터 및 라이프 타임을 이용하여 판별하고, 이중 처리조로 웨이퍼를 투입하거나 약액을 교체함으로써, 이중 처리조 간의 약액 교체 타이밍이 겹치지 않게 되며, 항상 웨이퍼 투입 가능한 상태를 유지한다.Therefore, according to the present invention, the wafer input and chemical liquid replacement time are determined using the life counter and the life time, and the wafer is inserted into the dual treatment tank or the chemical liquid is replaced, so that the chemical liquid replacement timing does not overlap between the dual treatment tanks, and the wafer is always Maintain ready-to-feed status.
이하 본 발명의 실시예를 첨부된 도면에 의거하여 상세히 설명한다.DETAILED DESCRIPTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 배치형 웨트 스테이션의 개략적인 구성을 나타내는 블럭도이다.1 is a block diagram showing a schematic configuration of a batch wet station of the present invention.
도 1을 참조하면, 상기 웨트 스테이션(100)은 예를 들어, 웨이퍼의 확산전 세정, 실리콘 산화막, 질화막 에칭, 레지스트 스트립(Resist Strip) 공정 등을 처리하는 배치형 웨트 스테이션으로, 다수의 처리조(112)들과 웨이퍼(도 2a 내지 도 2c의 10)를 이송하여 처리조(112)로 투입하거나 처리조(112)로부터 웨이퍼(10)를 반송하는 이송 로봇(도 2a 내지 도 2c의 114)을 구비하는 처리조 시스템(110)과, 상기 처리조(112)로 약액을 공급, 배출하기 위한 약액 공급 시스템(108) 및 상기 웨트 스테이션(100)의 제반 동작을 제어하는 제어 시스템(102)을 포함한다.Referring to FIG. 1, the
상기 처리조 시스템(110)은 다수의 처리조(112)를 구비하며, 다양한 공정에 대응하여 웨이퍼(10)를 처리조(112)로 투입하고, 동일한 약액을 사용하여 해당 공정을 처리하는 적어도 하나의 이중 처리조(120, 122, 124 또는/및 126)를 구비한다.The
상기 약액 공급 시스템(108)은 전형적인 약액 공급 시스템으로 예컨대, 배관, 펌프, 밸브 및 히터 등을 구비하여 상기 처리조 시스템(110)의 처리조들로 약액을 공급하거나 약액을 교체하기 위해 배출시킨다.The chemical
그리고 상기 제어 시스템(102)은 예를 들어, 프로그램어블 로직 컨트롤러(PLC) 또는 컴퓨터 등과 같은 오퍼레이터 인터페이스(operater interface) 장치로 구비되며, 상기 처리조 시스템(110) 및 상기 약액 공급 시스템(108)과 내부 버스 또는 네트워크를 통해 연결되어 이들의 제반 동작을 제어한다. 상기 제어 시스템(102)은 컨트롤러(104)와, 메모리(106)를 구비한다.In addition, the
특히, 본 발명에 의하면, 상기 제어 시스템(102)은 이중 처리조로 웨이퍼를 투입하거나 약액의 교체 시기를 판별하기 위하여 약액의 라이프 카운터(LC) 및 라이프 타임(LT) 특성을 이용한다. 예를 들어, SC-1 계열의 약액은 라이프 카운터가 10 회, 라이프 타임이 360 분이고, H2SO4 계열의 약액은 라이프 카운터가 50 회, 라이프 타임이 1440 분이다.In particular, according to the present invention, the
우선 이중 처리조의 약액에 대한 라이프 카운터(LC)를 라이프 카운터의 반(LC/2)으로 나누어 몫과 나머지를 구한다. 이 때, 라이프 카운터(LC)를 반으로 나누면, 나누어 지지 않을 때와 나누어 질 때의 나머지가 반전되는 현상을 이용한다.First, the life counter (LC) for the chemical liquid in the double treatment tank is divided by half (LC / 2) of the life counter to find the quotient and remainder. At this time, dividing the life counter LC in half utilizes a phenomenon in which the remainder when not divided and when divided is reversed.
이러한 현상은 라이프 카운터(LC)가 이중 처리조 모두의 몫이 "0" 일 때, 제 1 처리조의 몫이 "1" 이고, 제 2 처리조의 몫이 "0" 일 때, 제 2 처리조의 몫이 "1" 이고, 제 1 처리조의 몫이 "0" 일 때, 이중 처리조 모두의 몫이 "1" 일 때, 그리고 이중 처리조의 몫과 나머지가 같을 때로 분류된다.This phenomenon occurs in the life counter LC when the share of all the dual treatment tanks is "0", when the share of the first treatment tank is "1", and when the share of the second treatment tank is "0", the share of the second treatment tank. Is " 1 ", the share of the first treatment tank is " 0 ", the share of all the dual treatment tanks is " 1 ", and the share and the remainder of the dual treatment tank are the same.
따라서 제 1 및 제 2 처리조의 몫이 모두 "0"인 경우에는 제 1 및 제 2 처리조 중 나머지가 작은 처리조로 웨이퍼를 투입하고, 제 1 처리조의 몫이 "1" 이고, 제 2 처리조의 몫이 "0"일 경우에는 제 1 처리조로 웨이퍼를 투입한다. 또, 제 2 처리조의 몫이 "1" 이고, 제 1 처리조의 몫이 "0"일 때는 제 2 처리조로 투입하고, 제 1 및 제 2 처리조의 몫이 모두 "1"일 때는 나머지가 큰 쪽의 처리조로 웨이퍼를 투입한다. 그리고 제 1 및 제 2 처리조의 몫과 나머지가 같을 때에는 제 1 및 제 2 처리조의 약액에 대한 라이프 타임을 비교하여 라이프 타임이 작은 쪽의 처리조로 웨이퍼를 투입한다.Therefore, when the share of both the first and second processing tanks is "0", the wafer is introduced into the smaller processing tank of the first and second processing tanks, the share of the first processing tank is "1", and When the share is "0", the wafer is introduced into the first treatment tank. Moreover, when the share of a 2nd processing tank is "1" and the share of a 1st processing tank is "0", it inputs into a 2nd processing tank, and when the share of both 1st and 2nd processing tanks is "1", the remainder is larger. The wafer is put into a treatment tank of. When the quotient and the remainder of the first and second processing tanks are the same, the life time of the chemical liquids of the first and second processing tanks is compared, and the wafer is introduced into the processing tank having the smaller life time.
그 결과, 상술한 경우에 의해 웨이퍼 투입 및 약액 교체 시기를 판별하여 해당 처리조로 웨이퍼를 투입하거나 약액을 교체하면, 이중 처리조 간의 약액 교체 타이밍이 겹치지 않게 되며, 항상 웨이퍼 투입 가능한 상태를 유지하게 된다. 그 러므로 본 발명의 웨트 스테이션은 약액 교체 소요 시간동안에도 웨이퍼를 대기 상태로 둘 필요가 없다. 또한, 상기 웨트 스테이션은 이중 처리조 중 신규 약액을 우선 사용하도록 하여 공정 성능을 향상시킬 수 있으며, 약액의 라이프 카운터 및 라이프 타임이 오버되는 경우를 근본적으로 방지할 수 있다.As a result, when the wafer is added and the chemical liquid replacement time is determined according to the above-described case, when the wafer is inserted into the processing tank or the chemical liquid is replaced, the chemical liquid replacement timing does not overlap between the dual processing tanks, and the wafer can be always inserted. . Therefore, the wet station of the present invention does not need to put the wafer on standby even during the chemical replacement time. In addition, the wet station may improve the process performance by first using a new chemical in the dual treatment tank, it is possible to fundamentally prevent the life counter and life time of the chemical over.
도 2a 내지 도 2c는 도 1에 도시된 처리조 시스템의 처리 공정에 따른 다양한 실시예들을 도시한 도면이다. 이 도면들은 각각 다른 공정에 따른 처리조 시스템의 일부 구성을 나타낸 것으로, 상기 처리조 시스템은 각각 동일한 약액을 사용하는 적어도 하나의 이중 처리조를 포함한다.2A to 2C are diagrams illustrating various embodiments according to a treatment process of the treatment tank system shown in FIG. 1. These figures show some configurations of treatment tank systems according to different processes, each of which includes at least one dual treatment tank using the same chemical liquid.
즉, 도 2a를 참조하면, 상기 처리조 시스템(110a)은 예컨대, 포토 공정을 처리하기 위한 구성으로, H2SO4 계열의 동일한 약액을 사용하는 이중 처리조(120)를 갖는다. 도 2b를 참조하면, 상기 처리조 시스템(110b)은 예컨대, 포토 공정을 처리하기 위한 구성으로, SC-1 계열의 동일한 약액을 사용하는 이중 처리조(122)를 갖는다.That is, referring to FIG. 2A, the
그리고 도 2c를 참조하면, 상기 처리조 시스템(110c)은 예컨대, 스트립 공정을 처리하기 위한 구성으로, H2SO4 계열 및 SC-1 계열의 동일한 약액을 사용하는 두 개의 이중 처리조(124, 126)를 갖는다.2C, the
따라서 상기 처리조 시스템(110 : 110a ~ 110c)은 이중 처리조 이전의 처리조에서 공정이 완료되면, 다음의 이중 처리조의 약액 특성(즉, 라이프 카운터 및 라이프 타임)을 판별하여 웨이퍼(10) 투입 및/또는 약액의 교체 시기를 조절하여 해당 공정을 처리함으로써, 이중 처리조의 웨이퍼 투입 및/또는 약약 교체 등의 공 정 처리 시간을 효율적으로 조절할 수 있다.Therefore, when the processing tank system 110 (110a to 110c) is completed in the processing tank prior to the dual treatment tank, the
도 3은 본 발명에 따른 웨이퍼 투입 및 약액 교체 시기를 판별하기 위한 논리표를 나타내는 도면이다. 본 발명의 이중 처리조에서의 웨이퍼 투입은 공정 특성이 우수하도록 신규 약액의 우선 사용을 원칙으로 한다. 그리고 약액 교체가 필요한 경우, 약액 교체로 인한 대기 시간을 제거하기 위하여 이중 처리조의 라이프 카운터와 라이프 타임을 판별하여 하나의 처리조에 웨이퍼가 투입되면, 동시에 다른 하나의 처리조는 약액을 교체한다.3 is a view showing a logic table for determining the wafer input and chemical liquid replacement time according to the present invention. The wafer input in the dual treatment tank of the present invention is based on the preferential use of a new chemical liquid in order to have excellent process characteristics. And when the chemical liquid replacement is necessary, in order to eliminate the waiting time due to chemical liquid replacement, the life counter and the life time of the dual treatment tank are determined, and when the wafer is introduced into one treatment tank, the other treatment tank simultaneously replaces the chemical liquid.
도 3을 참조하면, 상기 논리표는 이중 처리조의 각 약액의 라이프 카운터(LC)를 라이프 카운터(LC)의 반으로 나누고, 그 몫(130, 134)과 나머지(132, 136)를 이용하여 웨이퍼 투입될 처리조의 선택(138)을 표시한 것이다.Referring to FIG. 3, the logical table divides the life counter LC of each chemical liquid of the dual treatment tank into half of the life counter LC, and uses the
즉, 제 1 처리조(BATH1)와 제 2 처리조(BATH2)의 약액은 예를 들어, 10 회의 라이프 카운터(LC)를 갖는다. 따라서 이를 반으로 나눈 값 '5'를 이용하여 라이프 카운터(LC)를 나누면 처리 중인 현재 약액에 대한 몫과 나머지를 구할 수 있다.That is, the chemical liquid of the first treatment tank BATH1 and the second treatment tank BATH2 has, for example, ten life counters LC. Thus, dividing this by half, and dividing the life counter (LC) by using '5', you can get the quotient and remainder of the current chemical.
여기서 현재 약액의 라이프 카운터(LC)가 절반 미만의 경우에는 라이프 카운터(LC)가 작은 쪽의 처리조로 웨이퍼를 투입하고, 라이프 카운터(LC)가 절반 이상의 경우에는 라이프 카운터(LC)가 큰 쪽의 처리조로 웨이퍼를 투입한다. 이는 웨이퍼 투입 및 약액 교체를 최적화하기 위한 경험치 데이터를 이용한 것이다.If the life counter LC of the current chemical liquid is less than half, the wafer is introduced into the processing tank of the smaller life counter LC. If the life counter LC is more than half, the life counter LC is larger. The wafer is introduced into the treatment tank. This is done using experience data to optimize wafer loading and chemical change.
구체적으로 라이프 카운터(LC)를 라이프 카운터(LC)의 반으로 나눈 값의 몫(130, 134)을 비교하면, 제 1 및 제 2 처리조(BATH1, BATH2) 모두가 몫이 '0'일 때, 나머지가 작은 쪽으로 웨이퍼를 투입한다. 제 1 처리조(BATH1)의 몫이 '1'이 고, 제 2 처리조(BATH2)의 몫이 '0'일 때에는 제 1 처리조(BATH1)로 웨이퍼를 투입한다. 제 2 처리조(BATH2)의 몫이 '1'이고, 제 1 처리조(BATH1)의 몫이 '0'일 때에는 제 2 처리조(BATH2)로 웨이퍼를 투입한다. 그리고 제 1 및 제 2 처리조(BATH1, BATH2) 모두가 몫이 '1'일 때는 나머지가 큰 쪽의 처리조로 웨이퍼를 투입한다. 또한 제 1 및 제 2 처리조(BATH1, BATH2)의 몫과 나머지가 동일한 경우에는 약액의 라이프 타임(LT)을 비교하여 라이프 타임(LT)이 작은 쪽의 처리조로 웨이퍼를 투입한다.Specifically, when the
그 결과, 제 1 및 제 2 처리조(BATH1, BATH2)의 라이프 카운터(LC)가 절반 미만의 경우에는 신규 약액을 우선 사용하도록 하고, 제 1 및 제 2 처리조(BATH1, BATH2) 중 어느 하나가 절반 이상의 경우에는 라이프 카운터가 큰 쪽의 처리조로 웨이퍼를 투입한다. 그리고 웨이퍼 투입시, 해당 처리조 약액의 라이프 카운터(LC)를 업 카운팅(up counting)하고, 업 카운팅된 약액이 라이프 카운터(LC, 즉 10 회)에 도달되면, 약액을 교체한다. 따라서 하나의 처리조가 공정 처리하는 중에 다른 하나는 약액을 교체할 수 있다. 또한 약액의 교체 시간 동안에도 다른 처리조에 의해서 공정을 처리함으로써, 약액 교체로 인한 대기 시간을 제거할 수 있다.As a result, when the life counter LC of the first and second treatment tanks BHT1 and BATH2 is less than half, the new chemical liquid is preferentially used, and either one of the first and second treatment tanks BHT1 and BATH2 is used. Is more than half, the wafer is put into the processing tank with the larger life counter. When the wafer is loaded, the life counter LC of the processing tank chemical is up counted, and when the up counted chemical reaches the life counter LC, that is, 10 times, the chemical is replaced. Thus, while one treatment tank is processing, the other can replace the chemical liquid. In addition, by processing the process by another treatment tank during the chemical liquid replacement time, it is possible to eliminate the waiting time due to chemical liquid replacement.
도 4는 본 발명에 따른 웨트 스테이션의 웨이퍼 투입 및 약액 교체 수순을 나타내는 흐름도이다. 이 수순은 상기 제어 시스템(102)의 컨트롤러(104)가 처리하는 프로그램으로서, 이 프로그램은 상기 메모리(106)에 저장된다.4 is a flowchart illustrating a wafer input and chemical liquid replacement procedure of the wet station according to the present invention. This procedure is a program processed by the
도면을 참조하면, 상기 제어 시스템(102)은 단계 S200에서 이전 처리조(처리조)의 공정이 완료되면, 단계 S202에서 다음 처리조가 동일한 약액을 사용하는 이중 처리조인지를 판별한다. 판별 결과, 이중 처리조이면, 이 수순은 단계 S204로 진행하여, 이중 처리조의 라이프 카운터(LC) 및 라이프 타임(LT)을 이용하여, 웨이퍼 투입 및/또는 약액 교체 대상의 처리조를 판별한다. 즉, 상술한 도 3과 같이, 이중 처리조에 공급된 약액들의 라이프 카운터(LC)와 라이프 타임(LT)을 이용하여 웨이퍼를 투입할 처리조와 약액을 교체할 처리조를 판별한다. 그리고 판별 결과, 다음 처리조가 동일한 약액을 사용하는 이중 처리조가 아니면, 이 수순은 단계 S212로 진행하여 다음 처리조로 웨이퍼를 투입하여 후속 공정을 진행한다.Referring to the figure, the
이어서 단계 S206에서 이중 처리조 중 어느 하나로 웨이퍼를 투입하고, 단계 S208에서 이중 처리조 중 다른 하나가 약액을 교체할 시기이면, 단계 S210에서 해당 처리조의 약액을 교체한다. 이 경우, 약액 교체가 필요하지 않으면, 단계 S204로 진행하여 다음 공정을 진행한다. 여기서 상기 단계들(S208, S210)은 순차적으로 표시되었지만, 시간적으로 동시에 이루어지는 것이 바람직하다.Subsequently, in step S206, the wafer is introduced into one of the dual treatment tanks, and when the other of the dual treatment tanks is the time to replace the chemical liquid in step S208, the chemical liquid of the corresponding treatment tank is replaced in step S210. In this case, if chemical liquid replacement is not necessary, the flow advances to step S204 to proceed to the next step. Although the steps S208 and S210 are sequentially displayed, it is preferable that the steps S208 and S210 are performed simultaneously in time.
또한, 상기 단계들(S206 ~ S210)에서는 웨이퍼가 투입되는 처리조는 신규 약액을 우선 사용하도록 하여 공정 성능을 향상시키고, 라이프 카운터 및/또는 라이프 타임이 초과되는 경우를 근본적으로 차단한다. 특히 이중 처리조 중 하나의 처리조의 약액 교체 시간 동안에도 웨이퍼는 다른 하나의 처리조로 투입하여 대기 시간을 제거한다.In addition, in the above steps (S206 ~ S210), the processing tank into which the wafer is put in advance to use the new chemical solution to improve the process performance, and essentially blocks the case where the life counter and / or life time is exceeded. In particular, during the chemical liquid replacement time of one of the dual treatment tanks, the wafer is introduced into the other treatment tank to eliminate the waiting time.
그러므로 본 발명의 웨트 스테이션은 이중 처리조의 처리조들 간의 약액 교체 타이밍이 겹치지 않게 함으로써, 웨이퍼를 이중 처리조 중 어느 하나로 투입할 수 있다.Therefore, the wet station of the present invention can inject the wafer into any one of the dual processing tanks by preventing the chemical liquid replacement timing between the processing tanks of the dual processing tanks from overlapping.
계속해서, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 웨이퍼 투입 및 약액 교체를 나타내는 도면이다. 이 실시예에서는 SC-1 계열의 약액 즉, 라이프 카운터가 10 회이고, 약액 교체시 소용 시간이 4 회의 런(run) 투입 간에 이루어진다는 가정에서 설명한다. 또한 동일한 라이프 카운터의 경우에는 제 1 처리조의 라이프 타임이 작다고 가정한다.Subsequently, FIG. 5 is a view illustrating wafer injection and chemical liquid replacement according to an embodiment of the present invention. In this embodiment, it is assumed on the assumption that the SC-1 series of chemicals, that is, the life counter, is 10 times, and the time required for replacing the chemicals is between 4 run inputs. In the case of the same life counter, it is assumed that the life time of the first processing tank is small.
도면을 참조하면, 제 1 및 제 2 처리조(140, 142)를 구비하는 이중 처리조는 도 3에 도시된 바와 같이, 라이프 카운터(LC)를 라이프 카운터(LC)의 반으로 나눈 몫과 나머지를 이용하여 웨이퍼 투입 및 약액의 교체를 판별한다. 여기서 처리조 내부에 표시된 숫자(0 ~ 9)는 현재 처리중인 약액의 라이프 카운터(LC)를 나타내고, 화살표는 현재 웨이퍼 투입 상태를 그리고 기호 '×'는 약액 교체를 나타낸다.Referring to the drawings, the dual processing tank having the first and
제 1 처리조(140)와 제 2 처리조(142)의 라이프 카운터(LC)가 '0'일 때는 라이프 타임에 의해서 즉, 라이프 타임이 작은 제 1 처리조(140)로 웨이퍼를 투입한다. 제 1 처리조(140)의 라이프 카운터(LC)가 업 카운팅되어 라이프 카운터(LC)가 '1'이고, 제 2 처리조(142)의 라이프 카운터(LC)가 '0'일 때 웨이퍼는 제 2 처리조(142)로 투입된다.When the life counter LC of the
이러한 수순을 반복하여 제 1 및 제 2 처리조(140, 142)의 라이프 카운터(LC)가 모두 라이프 카운터(LC)의 절반(여기서는 '5') 미만의 경우에는 라이프 카운터(LC)가 작은 쪽으로 웨이퍼를 투입한다. 그리고 라이프 카운터가 같은 경우에는 라이프 타임이 작은 쪽으로 웨이퍼를 투입한다. 즉, 제 1 및 제 2 처리조(140, 142)의 라이프 카운터(LC)가 모두 '4'인 경우, 웨이퍼는 라이프 타임(LT)이 작은 제 1 처리조(140)로 투입되고, 제 1 처리조(140)의 라이프 카운터(LC)는 '5'로 업 카운팅된다.By repeating this procedure, when the life counters LC of the first and
이 후, 제 1 및 제 2 처리조(140, 142) 중 어느 하나의 라이프 카운터(LC)가 라이프 카운터(LC)의 절반 이상이 되면, 라이프 카운터(LC)가 큰 쪽의 처리조로 웨이퍼를 투입한다. 이러한 수순을 반복하여 제 1 및 제 2 처리조(140, 142)의 라이프 카운터(LC)가 각각 '9', '4'가 되면, 다음 수순에서 제 2 처리조(142)로 웨이퍼를 투입하고 동시에 제 1 처리조(140)의 약액을 교체한다. 약액 교체 소요 시간은 4 회의 런 투입 간에 이루어지므로, 제 1 처리조(140)의 약액이 완전히 교체될 때까지 즉, 라이프 카운터(LC)가 '7'이 될 때까지는 제 2 처리조(142)로 웨이퍼를 투입한다. 약액 교체 소요 시간은 예컨대 약 20 여분 소요되며, 종래 기술에 의하면, 이 시간 동안에는 웨이퍼를 대기 상태로 유지하였으나, 본 발명에 의하면, 약액 교체 소요 시간에도 제 2 처리조(142)로 웨이퍼를 투입하여 공정을 처리할 수 있다. 이 후, 동일한 방법으로 라이프 카운터(LC)와 라이프 타임(LT)을 이용하여 웨이퍼를 투입하거나 약액을 교체한다.Thereafter, when the life counter LC of any of the first and
상술한 바와 같이, 본 발명의 배치형 웨트 스테이션은 연속적으로 동일한 약액을 사용하는 이중 처리조의 웨이퍼 투입 및 약액 교체 시간을 조절하여 공정을 처리함으로써, 생산성 및 공정 성능을 향상시킨다.As described above, the batch-type wet station of the present invention improves productivity and process performance by processing the process by adjusting the wafer input and chemical liquid replacement time of the dual treatment tank using the same chemical liquid continuously.
뿐만 아니라, 라이프 카운터 및 라이프 타임을 이용하여 약액의 교체 시기를 정확히 판별함으로써, 약액의 사용량을 최소화하고 폐액 처리가 적은 환경 친화적인 반도체 제조 설비를 제공할 수 있다. In addition, by accurately determining the replacement time of the chemical liquid using the life counter and the life time, it is possible to provide an environmentally friendly semiconductor manufacturing equipment which minimizes the amount of the chemical liquid and has less waste liquid treatment.
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10261613A (en) * | 1997-03-19 | 1998-09-29 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate processor |
US6235634B1 (en) * | 1997-10-08 | 2001-05-22 | Applied Komatsu Technology, Inc. | Modular substrate processing system |
KR20030024161A (en) * | 2001-09-17 | 2003-03-26 | 삼성전자주식회사 | Method of handling wet-processing apparatus |
KR20040070601A (en) * | 2003-02-04 | 2004-08-11 | 아남반도체 주식회사 | Apparatus for preventing wafer from dryness |
-
2003
- 2003-12-24 KR KR1020030096663A patent/KR100598919B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10261613A (en) * | 1997-03-19 | 1998-09-29 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | Substrate processor |
US6235634B1 (en) * | 1997-10-08 | 2001-05-22 | Applied Komatsu Technology, Inc. | Modular substrate processing system |
KR20030024161A (en) * | 2001-09-17 | 2003-03-26 | 삼성전자주식회사 | Method of handling wet-processing apparatus |
KR20040070601A (en) * | 2003-02-04 | 2004-08-11 | 아남반도체 주식회사 | Apparatus for preventing wafer from dryness |
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