JPH1027564A - 試料ステージ支持装置 - Google Patents

試料ステージ支持装置

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JPH1027564A
JPH1027564A JP8181019A JP18101996A JPH1027564A JP H1027564 A JPH1027564 A JP H1027564A JP 8181019 A JP8181019 A JP 8181019A JP 18101996 A JP18101996 A JP 18101996A JP H1027564 A JPH1027564 A JP H1027564A
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sample
flange
vacuum
holder
mounting
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JP8181019A
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Masato Kudou
政都 工藤
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Jeol Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構成で試料ホルダの回転軸を調整
すること。 【解決手段】 試料ホルダ(33+34)をホルダ軸L
回りに回転可能に保持する試料ステージ(31〜3
5)、前記試料ステージ(31〜35)を収容する真空
試料室A、前記真空試料室Aの開口4の周囲に設けられ
る取付フランジ5、前記取付フランジ5の外端面に連結
される真空シール用フランジ12、前記各フランジの間
に配置される枠状の真空シール部材G、前記真空シール
用フランジ12の外端面に配置される弾性変形可能なス
ペーサ21、前記真空シール用フランジ12と連結し前
記スペーサ21を挟んで配置され前記試料ステージ(3
1〜35)を支持する位置調整用フランジ22、前記各
フランジの内周縁を気密にシールする枠状シール部材2
6、および、取付用ネジ貫通孔13,23を貫通し取付
用ネジ孔6と螺合する取付用ネジ11により形成される
試料ステージ支持装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、荷電粒子線装置
(電子ビーム、イオンビーム等を用いた分析装置や電子
顕微鏡装置等)の真空試料室内に配置される試料ステー
ジを真空試料室形成用の外壁部材に支持する試料ステー
ジ支持装置に関し、特に、前記試料ステージに回転可能
に保持される試料ホルダのホルダ回転軸を荷電粒子線に
交差させることが可能な試料ステージ支持装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】試料ステージを真空試料室形成用の外壁
部材に装着した際、前記荷電粒子線装置は前記試料ホル
ダの回転軸(以下「ホルダ軸」という)を荷電粒子線に
交差させ、ホルダ軸上に保持した試料に荷電粒子線が照
射されるように設計されている。前記ホルダ軸上に試料
面を保持し前記試料面に荷電粒子線を照射して観察、分
析を行う際、設計通りにホルダ軸が荷電粒子線と交差す
る場合にはホルダ軸回りに試料ホルダを回転させても試
料面上の荷電粒子線の入射位置は変化しない。しかし、
前記試料ステージを真空試料室形成用の外壁部材に装着
した際、製作誤差等により、前記ホルダ軸は荷電粒子線
と交差していない場合が多い。この場合に前記試料ホル
ダをホルダ軸回りに回転させると前記試料ホルダの荷電
粒子線の試料面への入射位置は前記試料ホルダの回転の
前後で異なる。この場合試料を回転させながら試料面の
同一位置の観察、分析ができなくなる。したがって、前
記試料ホルダの回転軸と前記荷電粒子線とを交差するよ
うに調整しなければならない。
【0003】従来、試料ホルダの回転軸と荷電粒子線と
を交差させる技術として下記の技術が知られている。 (a)前記試料ホルダを支持している前記試料ステージ
の位置をゴニオメータ等の構成の複雑な試料ステージ支
持装置を用いて調整することによって前記試料ホルダの
回転軸を荷電粒子線と交差させる技術。 (b)前記試料ホルダの回転軸を調整せず、荷電粒子線
照射系装置の位置を調整することによって荷電粒子線と
試料ホルダの回転軸とを交差させる技術。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前記(a)の技術で
は、以下の問題点がある。構成の複雑な前記試料ステー
ジ支持装置では装置が大型となりコストが高くなる。前
記(b)の技術では、以下の問題点がある。荷電粒子線
照射系装置の位置を調整する場合、装置が大がかりとな
り簡単な構成で前記試料ホルダの回転軸を調整すること
ができない。
【0005】簡単な構成で荷電粒子線と試料ホルダの回
転軸とを交差させる技術として下記の技術(J01)が考
えられる。 (J01)(図4に示す技術) 図4は荷電粒子線装置の1例としてのSEM(走査電子
顕微鏡)の平断面図である。図4において試料に照射さ
れる電子ビームL0は、図4の紙面手前側から後側に向
かって照射される。試料ステージ01は試料ホルダ01
aおよび前記試料ホルダ01aをホルダ軸L回りに回転可
能に支持するホルダ保持部材01bにより構成されてい
る。前記試料ステージ01を支持する試料ステージ支持
部材02は真空試料室形成用の外壁部材03に取り付け
られている。前記真空試料室形成用の外壁部材03には
前記試料ステージ支持部材02と互いに接する面にOリ
ング収容溝04が形成されていて、シール材としてOリ
ング06が収容されている。また、前記試料ステージ支
持部材02には、馬鹿孔である複数の取付用ネジ貫通孔
07が形成されている。前記複数の取付用ネジ貫通孔0
7に対応して前記真空試料室形成用の外壁部材03に複
数の取付用ネジ孔08が形成されていて、複数の取付用
ネジ09が前記各取付用ネジ貫通孔07を貫通して前記
取付用ネジ孔08に螺合している。
【0006】これらにより前記試料ステージ支持部材0
2は前記真空試料室形成用の外壁部材03に取り付けら
れる。この際、前記試料ホルダ01aに保持された試料
の観測面は前記ホルダ軸L上に保持する必要があり、且
つ前記試料ステージ支持部材02は荷電粒子線L0と前
記ホルダ軸Lとが交差するように配置する必要がある。
したがって、前記荷電粒子線L0と前記ホルダ軸Lとが
交差するように前記試料ステージ01を調節しなければ
ならない。
【0007】(前記(J01)の問題点)前記試料ステー
ジ支持部材02に形成されている前記取付用ネジ貫通孔
07が馬鹿孔に形成されているので、前記試料ステージ
01の横方向(図4で左右方向)および上下方向(紙面
に垂直な方向)の位置調節が可能である。しかしなが
ら、前記真空試料室形成用の外壁部材03に対する前記
ステージ支持部材02の横方向の微小な位置調節は非常
に困難である。また、前記Oリング06をOリング収容
溝04から突出する状態で配置し、前記複数の取付用ネ
ジ09の締付量を調節して、前記試料ステージ01の傾
きを調節することができる。前記試料ステージ01の傾
きの調節により前記ホルダ軸Lの位置を前記電子ビーム
L0に交差させることができる。この際、前記Oリング
06を前記Oリング収容溝04から突出さなければなら
ないが、この場合には前記Oリング06のシール性が低
下する等の原因から、真空試料室内の超高真空状態が十
分に保持できない。このため、超高真空対応になってい
る荷電粒子線装置(たとえばオージェ電子分光装置な
ど)に対して(J01)の技術の適応は難しい。
【0008】本発明は、前述の事情に鑑み、下記の記載
内容を課題とする。 (O01)簡単な構成で試料ホルダの回転軸を調整するこ
と。
【0009】
【課題を解決するための手段】次に、前記課題を解決す
るために案出した本発明を説明するが、本発明の要素に
は、後述の実施例の要素との対応を容易にするため、実
施例の要素の符号をカッコで囲んだものを付記する。ま
た、本発明を後述の実施例の符号と対応させて説明する
理由は、本発明の理解を容易にするためであり、本発明
の範囲を実施例に限定するためではない。
【0010】(本発明)前記課題を解決するために、本
発明の試料ステージ支持装置は、下記の要件を備えたこ
とを特徴とする、(A01)試料ホルダ(33+34)お
よび前記試料ホルダ(33+34)をホルダ軸(L)回
りに回転可能に保持するホルダ保持部材(31)を有す
る試料ステージ(31〜35)、(A02)荷電粒子線
(L0)に前記試料ホルダ(33+34)が配置される
状態で前記試料ステージ(31〜35)を収容する真空
試料室(A)、(A03)試料ステージ挿入用の開口
(4)および前記開口(4)の周囲に設けられ、前記開
口(4)から真空試料室(A)に搬入した前記試料ステ
ージ(31〜35)を取り付ける取付フランジ(5)を
有し、前記真空試料室(A)を形成する真空試料室形成
用の外壁部材(3)、(A04)前記取付フランジ(5)
の外周に沿って形成された多数の取付用ネジ孔(6)、
(A05)前記取付フランジ(5)の外端面に連結される
真空シール用フランジ(12)、この真空シール用フラ
ンジ(12)の外端面に弾性変形可能なスペーサ(2
1)を挟んで配置された位置調整用フランジ(22)、
および前記真空シール用フランジ(12)内周縁および
位置調整用フランジ(22)の内周縁を気密にシールす
る枠状シール部材(26)を有し、前記位置調整用フラ
ンジ(22)により前記試料ステージ(31〜35)を
支持するステージ支持部材(12〜26)、(A06)前
記取付フランジ(5)および前記真空シール用フランジ
(12)間に配置された枠状の真空シール部材(G)、
(A07)前記取付用ネジ孔(6)に対応して、前記真空
シール用フランジ(12)および位置調整用フランジ
(22)の外周に沿って形成された多数の取付用ネジ貫
通孔(13,23)、(A08)前記各取付用ネジ貫通孔
(13,23)を貫通し、前記取付用ネジ孔(6)と螺
合して前記取付フランジ(5)と連結する取付用ネジ
(11)。
【0011】
【作用】次に、前述の特徴を備えた本発明の作用を説明
する。前述の特徴を備えた本発明の試料ステージ支持装
置では、真空試料室形成用の外壁部材(3)は、真空試
料室(A)を形成する。試料ホルダ(33+34)およ
び前記試料ホルダ(33+34)をホルダ軸(L)回り
に回転可能に保持するホルダ保持部材(31)を有する
試料ステージ(31〜35)は、前記真空試料室形成用
の外壁部材(3)の試料ステージ挿入用の開口(4)か
ら真空試料室(A)に搬入される。前記試料ステージ
(31〜35)は、荷電粒子線(L0)の通路に前記試料
ホルダ(33+34)が配置される状態で真空試料室
(A)に収容される。前記開口(4)周囲の前記真空試
料室形成用の外壁部材(3)に設けられた取付フランジ
(5)には外周に沿って多数の取付用ネジ孔(6)が形
成されている。前記取付フランジ(5)の外端面に連結
されるステージ支持部材(12〜26)の真空シール用
フランジ(12)および位置調整用フランジ(22)に
はそれらの外周に沿って前記取付用ネジ孔(6)に対応
する多数の取付用ネジ貫通孔(13,23)が形成され
ている。
【0012】前記取付フランジ(5)と前記真空シール
用フランジ(12)との間は枠状の真空シール部材
(G)によりシールされる。前記真空シール用フランジ
(12)の外端面には弾性変形可能なスペーサ(21)
を挟んで位置調整用フランジ(22)が配置される。枠
状シール部材(26)は、前記真空シール用フランジ
(12)の内周縁および位置調整用フランジ(22)の
内周縁を気密にシールする。前記ステージ支持部材(1
2〜26)の位置調整用フランジ(22)は、前記試料
ステージ(31〜35)を支持する。前記取付フランジ
(5)の外周に沿って形成された多数の取付用ネジ孔
(6)に対応して、前記各取付用ネジ貫通孔(13,2
3)を貫通し、前記取付用ネジ孔(6)と螺合する取付
用ネジ(11)が前記取付フランジ(5)と連結する。
このような簡単な構成でもって試料ホルダ(33+3
4)の回転軸の調整が可能となる。
【0013】
【発明の実施の形態】次に図面を参照しながら、本発明
の試料ステージ支持装置の実施の形態の例(実施例)を
説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるもので
はない。 なお、以後の説明の理解を容易にするため
に、図面において互いに直交する矢印X,Y,Zの方向
に直交座標軸X軸、Y軸、Z軸を定義し、矢印X方向を
前方、矢印Y方向を左方、 矢印Z方向を上方とする。
この場合、X方向(前方)と逆向き(−X方向)は後
方、Y方向(左方)と逆向き(−Y方向)は右方、Z方
向(上方)と逆向き(−Z方向)は下方となる。また、
前方(X方向)及び後方(−X方向)を含めて前後方向
又はX軸方向といい、左方(Y方向)及び右方(−Y方
向)を含めて左右方向又はY軸方向といい、上方(Z方
向)及び下方(−Z方向)を含めて上下方向又はZ軸方
向ということにする。さらに図中、「○」の中に「・」
が記載されたものは紙面の裏から表に向かう矢印を意味
し、「○」の中に「×」が記載されたものは紙面の表か
ら裏に向かう矢印を意味するものとする。
【0014】(実施例1)図1は本発明の実施例1の試
料ステージ支持装置の正面図である。図2は同実施例1
の試料ステージ支持装置の平断面図で、前記図1のII−
II線断面図である。図3は同実施例1の要部拡大図で前
記図2の矢印IIIで示す部分の拡大図である。図1にお
いて、電子ビーム照射装置(荷電粒子線装置)1の下端
部は真空容器2上端に支持されている。電子ビーム照射
装置1下端の電子ビーム出射部1aは真空容器2上端内
部に配置されている。電子ビーム照射装置1の図示しな
い上端部に設けた電子銃(図示せず)から出射した電子
ビームL0は、前記電子ビーム出射部1aから下方に出射
して真空容器2内に配置された試料(後述)を照射す
る。前記真空容器2は外壁部材3を有し、外壁部材3内
側には、真空試料室Aが形成される。
【0015】図2、図3において、前記外壁部材3はそ
の側面に、試料ステージ挿入用開口4が形成されてい
る。前記開口4の外周で且つ前記真空容器2の外側面側
に、リング状の取付フランジ5を有している。前記取付
フランジ5の外周部には多数の取付用ネジ孔6が形成さ
れている。前記取付フランジ5の外端面7には前記取付
用ネジ孔6より中心側部分に、リング状の外端面真空シ
ール部材収容部8が形成されている。前記外端面真空シ
ール部材収容部8のリング状部分のほぼ中央にリング状
の外端面シール用凸条9が形成されている。前記外端面
シール用凸条9は、前記外端面真空シール部材収容部8
において取付フランジ5の外端面から外方向へ隆起して
形成されている(図3参照)。前記取付フランジ5に
は、前記取付用ネジ孔6に螺合する取付用ネジ11によ
り後述のステージ支持部材(12〜26)が取付けられ
るようになっている。
【0016】前記取付フランジ5の外端面7側にはリン
グ状の真空シール用フランジ12が配置される。前記真
空シール用フランジ12は、前記取付フランジ5と重な
り合うような形状、大きさをしている部材である。前記
真空シール用フランジ12の中央には、試料ステージ挿
入口12aが形成されている。前記試料ステージ挿入口
12aの外周には、前記取付フランジ5に形成されてい
る取付用ネジ孔6に対応する多数の取付用ネジ貫通孔1
3が形成されている。前記取付用ネジ貫通孔13より中
心側の前記取付フランジ5と接する側にはリング状の内
端面真空シール部材収容部14が形成されている。前記
内端面真空シール部材収容部14のリング状部分のほぼ
中央には、リング状の内端面シール用凸条15が形成さ
れている。前記内端面シール用凸条15は、前記外端面
シール用凸条9に対向して形成されており、前記内端面
真空シール部材収容部14において、前記真空シール用
フランジ12の内端面から前記取付フランジ5方向へ隆
起している(図3参照)。 前記真空シール用フランジ12の内周面の軸方向(Y軸
方向)外端面には外端面枠状シール材接合部16が形成
されている。前記外端面枠状シール材接合部16は、図
3に示すように前記真空シール用フランジ12の外端面
内周縁側が中心方向(Y方向)へ隆起している。
【0017】前記内端面シール用凸条15と前記外端面
シール用凸条9とによってリング状の真空シール部材で
あるガスケットGが支持されている。前記ガスケットG
は、銅製の部材で、前記取付フランジ5の外端面シール
用凸条9と前記真空シール用フランジ12の内端面シー
ル用凸条15とで締めつけられる。
【0018】前記真空シール用フランジ12の外端面に
は、スプリングワッシャ21を挟んで位置調整用フラン
ジ22が配置されている。前記スプリングワッシャ21
は、前記真空シール用フランジ12と位置調整用フラン
ジ22の間隔を保持する機能を有し、前記ガスケットG
を十分にシールするに足る力を加えても塑性変形しない
ような強度を持つ材質であることが必要である。前記位
置調整用フランジ22は、前記取付フランジ5と前記真
空シール用フランジ12と重なり合うような形状、大き
さをしている部材である。前記位置調整用フランジ22
の中央には、試料ステージ挿入口22aが形成されてい
る。前記試料ステージ挿入口22aの外周外端面には、
Oリング溝22bが形成されその外周には試料ステージ
支持用ネジ孔22cが形成されている。前記Oリング溝
22b内にはOリング22dが収容されている。前記試料
ステージ支持用ネジ孔22cの外周には、前記取付用ネ
ジ孔6と前記取付用ネジ貫通孔13に対応する多数の取
付用ネジ貫通孔23が形成されている。前記取付用ネジ
貫通孔23より中心側の前記真空シール用フランジ12
と接する側には内端面枠状シール部材接合部24が形成
されている。前記内端面枠状シール部材接合部24は、
図3に示すように前記位置調整用フランジ22の内端面
内周縁側が中心方向(Y方向)へ隆起している。
【0019】前記外端面枠状シール材接合部16と前記
内端面枠状シール部材接合部24との間には枠状シール
部材26が配置されている。前記枠状シール部材26は
弾性を有する断面V字型のベローズ状の部材である。こ
れによって、前記枠状シール部材26は前記真空シール
用フランジ12と前記位置調整用フランジ22との間を
連結するとともに、両フランジ12,22の内周面側を
外周面に対して気密にシールする。前記符号12〜26
で示された要素によりステージ支持部材(12〜26)
が構成され、前記ステージ支持部材(12〜26)と前
記取付用ネジ11とから試料ステージ支持装置Sが構成
されている。
【0020】前記位置調整用フランジ22には、ステー
ジ固定用ネジ29により、円筒状のホルダ保持部材31
のフランジ32が固定される。前記フランジ32の内端
面と前記位置調整用フランジ22の外端面とは位置調整
用フランジ22の外端面に設けられたOリング溝22b
に収容されたOリング22dにより気密にシールされ
る。図1、図2において、前記円筒状のホルダ保持部材
31の内側にはホルダ本体33がホルダ軸L回りに配置
されるように回転可能に支持されている。ホルダ本体3
3の先端部には、試料保持部34が設けられている。前
記試料保持部34は試料の観察面(電子ビーム入射面)
がホルダ軸L上に配置されるように前記試料を支持する
部材である。前記ホルダ本体33の外端部には試料ホル
ダ回転操作部35が設けられていて、手動により前記試
料ホルダ1をホルダ軸L回りに回転させることができる
ようになっている。なお、手動の代わりに自動回転駆動
機構を設けることが可能である。前記ホルダ本体33お
よび試料保持部34により試料ホルダ(33+34)が
構成されている。また、前記符号31〜35で示した要
素により試料ステージ(31〜35)が構成されてい
る。
【0021】(実施例1の作用)次に前述の構成を備え
た実施例1の作用を説明する。前述の特徴を備えた本発
明の実施例1では、前記試料ホルダ本体33をホルダ軸
Lに回転可能に保持する試料ステージ(31〜35)
は、ステージ固定用ネジ29により位置調整用フランジ
22に固定して支持される。前記位置調整用フランジ2
2の複数の取付用ネジ貫通孔23を貫通する各取付用ネ
ジ11は、前記位置調整用フランジ22と前記真空シー
ル用フランジ12との間に配置されている複数のスプリ
ングワッシャ21および前記真空シール用フランジ12
の各取付用ネジ貫通孔13とを貫通し、前記取付フラン
ジ5周囲に設けられた複数の取付用ネジ孔6と螺合す
る。これにより前記試料ステージ(31〜35)、前記
両フランジ22,12およびスプリングワッシャ21と
が取付フランジ5に連結される。この際、前記位置調整
用フランジ22と真空シール用フランジ12との内周縁
側で接合されている枠状シール部材26、前記真空シー
ル用フランジ12と取付フランジ5との内周縁側で配置
されているガスケットG、およびOリング22dにより
前記真空試料室A内部は外部に対して気密にシールされ
る。
【0022】前記試料ホルダ本体33の先端部の試料保
持部34には試料がその観察面をホルダ軸L上に配置し
た状態で支持される。前記試料の観察面の角度(電子ビ
ームの入射角度)を変えるには、前記ホルダ本体33の
外端部に設けてある試料ホルダ操作部35を回転させる
ことで可能となる。しかし、前記電子ビームL0と前記
ホルダ本体33のホルダ軸Lとが交差していない場合に
は、試料保持部34に載置してある試料の観察面に入射
する電子ビームの入射位置が移動するので同一の試料面
の観測、分析が不可能となる。このため前記複数の各取
付用ネジ11を締め付けることによって試料ステージ
(31〜35)の傾きを変えて前記電子ビームL0とホ
ルダ軸Lとが交差するように調整する。なお、スペーサ
21が変形できなくなるまでネジ11が締め込まれた時
点で、それ以上の調整はできなくなるので、スペーサ2
1の大きさは必要な調整量に十分なだけの大きさでなけ
ればならない。これにより、本実施例のような簡単な構
成でも前記電子ビームL0とホルダ軸Lとが交差するよ
うに調整できる。前記ホルダ軸Lが電子ビームL0と交
差する状態では前記ホルダ本体33の外端部に設けてあ
る試料ホルダ操作部35を回転させても前記試料の観察
面に入射する電子ビームの入射角度が変わるだけで入射
位置は移動しなくなる。したがって、試料の観察面の電
子ビーム入射位置を移動させることなく、電子ビームの
入射角度を変化させて試料面を観察または分析すること
ができる。
【0023】(変更例)以上、本発明の実施例を詳述し
たが、本発明は、前記実施例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内
で、種々の変更を行うことが可能である。本発明の変更
実施例を下記に例示する。 (H01)前記スプリングワッシャには皿ばねワッシャな
ど圧縮可能な弾性部材の使用可能である。 (H02)前記ガスケットは銅製の部材を使用しているが
他の材質の真空シール部材でも使用可能である。
【0024】
【発明の効果】前述の本発明の試料ステージ支持装置
は、下記の効果を奏することができる。 (E01)簡単な構成で真空状態を保持しつつ試料ホルダ
のホルダ軸の調整が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は本発明の実施例1の試料ステージ支持
装置の正面図である。
【図2】 図2は同実施例1の試料ステージ支持装置の
平断面図で、前記図1のII−II線断面図である。
【図3】 図3は同実施例1の要部拡大図で前記図2の
矢印IIIで示す部分の拡大図である。
【図4】 図4は荷電粒子線装置の1例としてのSEM
(走査電子顕微鏡)の平断面図である。
【符号の説明】
A…真空試料室、G…真空シール部材(ガスケット)、
L…ホルダ軸、L0…荷電粒子線、3…外壁部材、4…
開口、5…取付フランジ、6…取付用ネジ孔、11…取
付用ネジ、12…真空シール用フランジ、(12〜2
6)…ステージ支持部材、(13,23)…取付用ネジ
貫通孔、21…スペーサ、22…位置調整用フランジ、
26…枠状シール部材、31…ホルダ保持部材、(31
〜35)…試料ステージ、(33+34)…試料ホル
ダ、

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下記の要件を備えたことを特徴とする試
    料ステージ支持装置、(A01)試料ホルダおよび前記試
    料ホルダをホルダ軸回りに回転可能に保持するホルダ保
    持部材を有する試料ステージ、(A02)荷電粒子線に前
    記試料ホルダが配置される状態で前記試料ステージを収
    容する真空試料室、(A03)試料ステージ挿入用の開口
    および前記開口の周囲に設けられ、前記開口から真空試
    料室に搬入した前記試料ステージを取り付ける取付フラ
    ンジを有し、前記真空試料室を形成する真空試料室形成
    用の外壁部材、(A04)前記取付フランジの外周に沿っ
    て形成された多数の取付用ネジ孔、(A05)前記取付フ
    ランジの外端面に連結される真空シール用フランジ、こ
    の真空シール用フランジの外端面に弾性変形可能なスペ
    ーサを挟んで配置された位置調整用フランジ、および前
    記真空シール用フランジ内周縁および位置調整用フラン
    ジの内周縁を気密にシールする枠状シール部材を有し、
    前記位置調整用フランジにより前記試料ステージを支持
    するステージ支持部材、(A06)前記取付フランジおよ
    び前記真空シール用フランジ間に配置された枠状の真空
    シール部材、(A07)前記取付用ネジ孔に対応して、前
    記真空シール用フランジおよび位置調整用フランジの外
    周に沿って形成された多数の取付用ネジ貫通孔、(A0
    8)前記各取付用ネジ貫通孔を貫通し、前記取付用ネジ
    孔と螺合して前記取付フランジと連結する取付用ネジ。
JP8181019A 1996-07-10 1996-07-10 試料ステージ支持装置 Withdrawn JPH1027564A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101878753B1 (ko) * 2012-12-20 2018-07-16 삼성전자주식회사 수직 장착이 가능한 현미경용 시료 스테이지 및 이를 채용한 주사 탐침 현미경

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101878753B1 (ko) * 2012-12-20 2018-07-16 삼성전자주식회사 수직 장착이 가능한 현미경용 시료 스테이지 및 이를 채용한 주사 탐침 현미경

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