JPH10267621A - 物体の高さ測定装置及びその方法 - Google Patents
物体の高さ測定装置及びその方法Info
- Publication number
- JPH10267621A JPH10267621A JP9088896A JP8889697A JPH10267621A JP H10267621 A JPH10267621 A JP H10267621A JP 9088896 A JP9088896 A JP 9088896A JP 8889697 A JP8889697 A JP 8889697A JP H10267621 A JPH10267621 A JP H10267621A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coordinate system
- imaging device
- monitor
- optical axis
- plane
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ななめＣＣＤ装置を用いたステレオ法による
高さ測定装置において、比較的簡単な式により測定点の
高さを測定可能とする。 【解決手段】 基準面に略垂直な光軸を有する第１の撮
像装置１と、この光軸に基準面上で所定角度で交差する
光軸を有する第２の撮像装置２と、基準面上のワールド
座標系内の物体の前記両撮像装置による撮像信号を入力
して画像処理し、この画像処理データにより前記物体の
測定点の前記撮像装置内のモニタ座標系での位置を演算
し、この位置データに基づいて前記物体の測定点の前記
基準面からのワールド座標系の高さを演算する画像処理
装置とを備えた、物体の高さ測定装置において、前記画
像処理装置は以下の式に基づいて前記測定点のワールド
座標系の高さＺを測定する。
高さ測定装置において、比較的簡単な式により測定点の
高さを測定可能とする。 【解決手段】 基準面に略垂直な光軸を有する第１の撮
像装置１と、この光軸に基準面上で所定角度で交差する
光軸を有する第２の撮像装置２と、基準面上のワールド
座標系内の物体の前記両撮像装置による撮像信号を入力
して画像処理し、この画像処理データにより前記物体の
測定点の前記撮像装置内のモニタ座標系での位置を演算
し、この位置データに基づいて前記物体の測定点の前記
基準面からのワールド座標系の高さを演算する画像処理
装置とを備えた、物体の高さ測定装置において、前記画
像処理装置は以下の式に基づいて前記測定点のワールド
座標系の高さＺを測定する。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、物体の任意の測定
点の基準面からの高さを測定する物体の高さ測定装置及
びその方法に関する。
点の基準面からの高さを測定する物体の高さ測定装置及
びその方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、基準面上に設置された物体の所定
の測定点の前記基準面からの高さを測定する方法の一つ
として、複数の撮像装置で異なる方向から前記物体を撮
像した撮像信号を画像処理して測定する、いわゆるステ
レオ法が良く知られている。このステレオ法は、それぞ
れの撮像レンズの光軸が所定角度で交差する例えば２つ
以上の撮像装置によって前記物体を撮像し、この異なる
方向での撮像信号を画像処理した後に、各画像データ上
での前記測定点の座標値（以後、モニタ座標値と言う）
と前記複数の撮像装置の位置関係データ（例えば、各装
置の基準面からの距離、光軸と基準面とのなす角度、光
軸間の交差角度等）に基づいて、前記測定点の基準面か
らの高さを演算して測定するものである。
の測定点の前記基準面からの高さを測定する方法の一つ
として、複数の撮像装置で異なる方向から前記物体を撮
像した撮像信号を画像処理して測定する、いわゆるステ
レオ法が良く知られている。このステレオ法は、それぞ
れの撮像レンズの光軸が所定角度で交差する例えば２つ
以上の撮像装置によって前記物体を撮像し、この異なる
方向での撮像信号を画像処理した後に、各画像データ上
での前記測定点の座標値（以後、モニタ座標値と言う）
と前記複数の撮像装置の位置関係データ（例えば、各装
置の基準面からの距離、光軸と基準面とのなす角度、光
軸間の交差角度等）に基づいて、前記測定点の基準面か
らの高さを演算して測定するものである。
【０００３】このようなステレオ法による物体の高さ測
定装置の一例が、例えば特許登録番号第２５２６５４３
号公報（平成８年６月１４日登録）に開示されており、
図６及び図７はこの開示された高さ測定装置を示してい
る。以下、同図に基づいて従来の高さ測定装置について
説明する。第１の撮像装置２１ａの撮像レンズ２５ａの
光軸と、第２の撮像装置２１ｂの撮像レンズ２５ｂの光
軸とは所定角度θで基準面９で交差しており、第１の撮
像装置２１ａの前記光軸は基準面９に対して略垂直とな
っている。また、第１の撮像装置２１ａの光軸上にハー
フミラー２４が設けられており、第１の撮像装置２１ａ
はハーフミラー２４の反射像を入力している。そして、
画像装置２６は２つの撮像装置の撮像信号を入力し、画
像処理して測定点の位置を演算する。この高さ測定装置
によると、基準面９の上面に設置された物体２３の所定
の測定点７の基準面９からの高さｈを測定するときに
は、まず、第１の撮像装置２１ａが測定点７の真上にな
るように設定される。そして、第１の撮像装置２１ａの
画像により測定点７の位置Ｘ1 （これは、測定点７から
基準面への垂線の交点の位置に等しい）を検出し、また
第２の撮像装置２１ｂの画像により測定点７の位置Ｘ2
を検出する。さらに、図７に示すように、前記検出した
位置Ｘ1 （図７(1) 参照）に基づいて、第２の撮像装置
２１ｂの画像（図７(2) 参照）上での測定点７から基準
面への垂線の前記交点の位置Ｘ1aを求める。この検出し
た位置Ｘ1a、Ｘ2 に基づいて式「ｈ＝（Ｘ2 −Ｘ1a）／
SIN θ」によって高さｈを算出するようにしている。
定装置の一例が、例えば特許登録番号第２５２６５４３
号公報（平成８年６月１４日登録）に開示されており、
図６及び図７はこの開示された高さ測定装置を示してい
る。以下、同図に基づいて従来の高さ測定装置について
説明する。第１の撮像装置２１ａの撮像レンズ２５ａの
光軸と、第２の撮像装置２１ｂの撮像レンズ２５ｂの光
軸とは所定角度θで基準面９で交差しており、第１の撮
像装置２１ａの前記光軸は基準面９に対して略垂直とな
っている。また、第１の撮像装置２１ａの光軸上にハー
フミラー２４が設けられており、第１の撮像装置２１ａ
はハーフミラー２４の反射像を入力している。そして、
画像装置２６は２つの撮像装置の撮像信号を入力し、画
像処理して測定点の位置を演算する。この高さ測定装置
によると、基準面９の上面に設置された物体２３の所定
の測定点７の基準面９からの高さｈを測定するときに
は、まず、第１の撮像装置２１ａが測定点７の真上にな
るように設定される。そして、第１の撮像装置２１ａの
画像により測定点７の位置Ｘ1 （これは、測定点７から
基準面への垂線の交点の位置に等しい）を検出し、また
第２の撮像装置２１ｂの画像により測定点７の位置Ｘ2
を検出する。さらに、図７に示すように、前記検出した
位置Ｘ1 （図７(1) 参照）に基づいて、第２の撮像装置
２１ｂの画像（図７(2) 参照）上での測定点７から基準
面への垂線の前記交点の位置Ｘ1aを求める。この検出し
た位置Ｘ1a、Ｘ2 に基づいて式「ｈ＝（Ｘ2 −Ｘ1a）／
SIN θ」によって高さｈを算出するようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記特許登録番号第２
５２６５４３号公報に開示された高さ測定装置において
は、２つの撮像装置の各撮像素子面（受光面）がそれぞ
れの撮像レンズ２５ａ、２５ｂの光軸に垂直である場合
には、光軸間の交差角度θや、第１の撮像装置２１ａの
画像上での位置と、第２の撮像装置２１ｂの画像上での
位置との対応関係式等から、前述のような簡単な式によ
って高さｈを求めることができる。
５２６５４３号公報に開示された高さ測定装置において
は、２つの撮像装置の各撮像素子面（受光面）がそれぞ
れの撮像レンズ２５ａ、２５ｂの光軸に垂直である場合
には、光軸間の交差角度θや、第１の撮像装置２１ａの
画像上での位置と、第２の撮像装置２１ｂの画像上での
位置との対応関係式等から、前述のような簡単な式によ
って高さｈを求めることができる。
【０００５】一方、第２の撮像装置２１ｂの光軸は基準
面９に対して傾斜しているので、通常のように光軸に対
して撮像素子面が直交している場合には光軸からの距離
が遠い点ではその画像の焦点が合わなくなってしまう。
この状態で撮像した撮像信号を画像処理して測定点７の
位置を検出すると、測定誤差が大きくなる。そこで、第
２の撮像装置２１ｂの撮像素子面を光軸に対して斜めに
傾斜させた、いわゆるななめＣＣＤ装置等を用いること
によって、上記焦点距離のずれが補正され、測定精度を
高精度に保つことができる。しかしながら、第２の撮像
装置２１ｂにこのようなななめＣＣＤ装置を用いる場合
には、前述の式は対応していないので算出できない。す
なわち、前述の式における位置Ｘ1a、Ｘ2 を、モニタ座
標系の各測定位置データを用いて他の式により算出しな
ければならないが、これまでにこの方法は開示されてい
ない。
面９に対して傾斜しているので、通常のように光軸に対
して撮像素子面が直交している場合には光軸からの距離
が遠い点ではその画像の焦点が合わなくなってしまう。
この状態で撮像した撮像信号を画像処理して測定点７の
位置を検出すると、測定誤差が大きくなる。そこで、第
２の撮像装置２１ｂの撮像素子面を光軸に対して斜めに
傾斜させた、いわゆるななめＣＣＤ装置等を用いること
によって、上記焦点距離のずれが補正され、測定精度を
高精度に保つことができる。しかしながら、第２の撮像
装置２１ｂにこのようなななめＣＣＤ装置を用いる場合
には、前述の式は対応していないので算出できない。す
なわち、前述の式における位置Ｘ1a、Ｘ2 を、モニタ座
標系の各測定位置データを用いて他の式により算出しな
ければならないが、これまでにこの方法は開示されてい
ない。
【０００６】本発明は、上記の問題点に着目してなされ
たものであり、ななめＣＣＤ装置を用いたステレオ法に
よる高さ測定装置において、比較的簡単な式により測定
点の高さを測定することが可能な物体の高さ測定装置及
びその方法を提供することを目的としている。
たものであり、ななめＣＣＤ装置を用いたステレオ法に
よる高さ測定装置において、比較的簡単な式により測定
点の高さを測定することが可能な物体の高さ測定装置及
びその方法を提供することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段、作用及び効果】上記の目
的を達成するために、請求項１に記載の発明は、基準面
に略垂直な光軸を有する第１の撮像装置１と、この光軸
に基準面上で所定角度で交差する光軸を有する第２の撮
像装置２と、基準面上のワールド座標系内の物体の前記
両撮像装置による撮像信号を入力して画像処理し、この
画像処理データにより前記物体の測定点の前記撮像装置
内のモニタ座標系での位置を演算し、この位置データに
基づいて前記物体の測定点の前記基準面からのワールド
座標系の高さを演算する画像処理装置とを備えた、物体
の高さ測定装置において、前記画像処理装置は以下の式
に基づいて前記測定点のワールド座標系の高さＺを測定
することを特徴としている。 ｕ＝ｋp （ｐ−ｐ0 ）COS θ0 ＋ｋq （ｑ−ｑ0 ）SIN
θ0 ｔ＝ｋr （ｒ−ｒ0 ） ｋp はモニタ座標系でのＰ軸方向の長さからワールド座
標系での長さへの変換係数、ｋq はモニタ座標系でのＱ
軸方向の長さからワールド座標系での長さへの変換係
数、ｋr はモニタ座標系でのＲ軸方向の長さからワール
ド座標系での長さへの変換係数、L1は第２の撮像装置２
の撮像レンズの主点Ｈ2 から原点Ｏまでの距離、L2は第
２の撮像装置２の撮像レンズの主点Ｈ2 から撮像素子ま
での距離、L3は第１の撮像装置１の撮像レンズの主点Ｈ
1 から原点Ｏまでの距離、L4は第１の撮像装置１の撮像
レンズの主点Ｈ1 から撮像素子までの距離、θ1 は第２
の撮像装置２の撮像レンズの光軸と基準面とのなす角
度、θ2 は第２の撮像装置２の撮像レンズの光軸と撮像
素子とのなす角度、θ0 はモニタ座標系のＰＱ軸のワー
ルド座標系のＸＹ軸に対するＺ軸回りの回転角度、ｐ0
は原点Ｏのモニタ座標系のＰＱ面でのＰ座標値、ｑ0 は
原点Ｏのモニタ座標系のＰＱ面でのＱ座標値、ｒ0 は原
点Ｏのモニタ座標系のＲＳ面でのＲ座標値、ｐは測定点
のモニタ座標系のＰＱ面でのＰ座標値、ｑは測定点のモ
ニタ座標系のＰＱ面でのＱ座標値、ｒは測定点のモニタ
座標系のＲＳ面でのＲ座標値。
的を達成するために、請求項１に記載の発明は、基準面
に略垂直な光軸を有する第１の撮像装置１と、この光軸
に基準面上で所定角度で交差する光軸を有する第２の撮
像装置２と、基準面上のワールド座標系内の物体の前記
両撮像装置による撮像信号を入力して画像処理し、この
画像処理データにより前記物体の測定点の前記撮像装置
内のモニタ座標系での位置を演算し、この位置データに
基づいて前記物体の測定点の前記基準面からのワールド
座標系の高さを演算する画像処理装置とを備えた、物体
の高さ測定装置において、前記画像処理装置は以下の式
に基づいて前記測定点のワールド座標系の高さＺを測定
することを特徴としている。 ｕ＝ｋp （ｐ−ｐ0 ）COS θ0 ＋ｋq （ｑ−ｑ0 ）SIN
θ0 ｔ＝ｋr （ｒ−ｒ0 ） ｋp はモニタ座標系でのＰ軸方向の長さからワールド座
標系での長さへの変換係数、ｋq はモニタ座標系でのＱ
軸方向の長さからワールド座標系での長さへの変換係
数、ｋr はモニタ座標系でのＲ軸方向の長さからワール
ド座標系での長さへの変換係数、L1は第２の撮像装置２
の撮像レンズの主点Ｈ2 から原点Ｏまでの距離、L2は第
２の撮像装置２の撮像レンズの主点Ｈ2 から撮像素子ま
での距離、L3は第１の撮像装置１の撮像レンズの主点Ｈ
1 から原点Ｏまでの距離、L4は第１の撮像装置１の撮像
レンズの主点Ｈ1 から撮像素子までの距離、θ1 は第２
の撮像装置２の撮像レンズの光軸と基準面とのなす角
度、θ2 は第２の撮像装置２の撮像レンズの光軸と撮像
素子とのなす角度、θ0 はモニタ座標系のＰＱ軸のワー
ルド座標系のＸＹ軸に対するＺ軸回りの回転角度、ｐ0
は原点Ｏのモニタ座標系のＰＱ面でのＰ座標値、ｑ0 は
原点Ｏのモニタ座標系のＰＱ面でのＱ座標値、ｒ0 は原
点Ｏのモニタ座標系のＲＳ面でのＲ座標値、ｐは測定点
のモニタ座標系のＰＱ面でのＰ座標値、ｑは測定点のモ
ニタ座標系のＰＱ面でのＱ座標値、ｒは測定点のモニタ
座標系のＲＳ面でのＲ座標値。
【０００８】また、請求項３に記載の発明は、基準面に
略垂直な光軸方向と、この光軸に基準面上で所定角度で
交差する光軸方向とから基準面上のワールド座標系内の
物体を撮像し、この異なる方向からの撮像画像のモニタ
座標系での測定点の位置データに基づいて、ステレオ法
により前記基準面からの前記物体の測定点のワールド座
標系の高さを測定する物体の高さ測定方法において、以
下の式に基づいて、前記物体の測定点のワールド座標系
の高さＺを測定することを特徴とする物体の高さ測定方
法。 但し、各パラメータは前記と同じとする。
略垂直な光軸方向と、この光軸に基準面上で所定角度で
交差する光軸方向とから基準面上のワールド座標系内の
物体を撮像し、この異なる方向からの撮像画像のモニタ
座標系での測定点の位置データに基づいて、ステレオ法
により前記基準面からの前記物体の測定点のワールド座
標系の高さを測定する物体の高さ測定方法において、以
下の式に基づいて、前記物体の測定点のワールド座標系
の高さＺを測定することを特徴とする物体の高さ測定方
法。 但し、各パラメータは前記と同じとする。
【０００９】請求項１又は３に記載の発明によると、撮
像方向（光軸の方向）が異なる２つの撮像装置の内、基
準面に対して非垂直な光軸を有する撮像装置として、な
なめＣＣＤ装置のように撮像素子面が光軸に対して斜め
に傾いている（垂直でない）ものを用いた場合でも、比
較的簡単な式に基づいて、モニタ座標系での測定点の位
置データによって、測定点の基準面からの高さを演算す
ることが可能となる。この結果、精度良く高さを測定で
きる。
像方向（光軸の方向）が異なる２つの撮像装置の内、基
準面に対して非垂直な光軸を有する撮像装置として、な
なめＣＣＤ装置のように撮像素子面が光軸に対して斜め
に傾いている（垂直でない）ものを用いた場合でも、比
較的簡単な式に基づいて、モニタ座標系での測定点の位
置データによって、測定点の基準面からの高さを演算す
ることが可能となる。この結果、精度良く高さを測定で
きる。
【００１０】請求項２に記載の発明は、前記請求項１記
載の物体の高さ測定装置において、前記第１の撮像装置
１の光軸上にミラーを配置し、前記第１の撮像装置１は
このミラーからの反射像を入力して前記物体の測定点を
撮像するようにしたことを特徴としている。
載の物体の高さ測定装置において、前記第１の撮像装置
１の光軸上にミラーを配置し、前記第１の撮像装置１は
このミラーからの反射像を入力して前記物体の測定点を
撮像するようにしたことを特徴としている。
【００１１】請求項２に記載の発明によると、第１の撮
像装置の光軸上にミラーを配置し、第１の撮像装置１は
このミラーからの反射像を入力するようにする。このと
き、この光軸が基準面に対して略垂直となるようにして
いるので、前請求項の発明と同様に精度よく高さを測定
できると共に、第１の撮像装置１の設置場所が制約を受
けにくくなるので、実用的である。
像装置の光軸上にミラーを配置し、第１の撮像装置１は
このミラーからの反射像を入力するようにする。このと
き、この光軸が基準面に対して略垂直となるようにして
いるので、前請求項の発明と同様に精度よく高さを測定
できると共に、第１の撮像装置１の設置場所が制約を受
けにくくなるので、実用的である。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて、本発明に
係わる物体の高さ測定装置の実施形態を詳細に説明す
る。図１は、実施形態を表すハード構成図である。ま
ず、基準面９の上部に測定対象物の絶対座標系（以後、
ワールド座標系と言う）を設定し、基準面９に平行な座
標軸をＸＹ、基準面９に直交する座標軸をＺとする。第
１の撮像装置１はその撮像レンズの光軸をＺ軸に平行に
して配設され、また第２の撮像装置２はその撮像レンズ
の光軸が第１の撮像装置１の前記光軸に対して所定の角
度αだけ傾斜し、かつ、基準面９の上で交差するように
配設されている。ここでは、説明を簡単にするため、第
２の撮像装置２の前記光軸はＺＸ平面に平行な面上に設
けられているものとする。
係わる物体の高さ測定装置の実施形態を詳細に説明す
る。図１は、実施形態を表すハード構成図である。ま
ず、基準面９の上部に測定対象物の絶対座標系（以後、
ワールド座標系と言う）を設定し、基準面９に平行な座
標軸をＸＹ、基準面９に直交する座標軸をＺとする。第
１の撮像装置１はその撮像レンズの光軸をＺ軸に平行に
して配設され、また第２の撮像装置２はその撮像レンズ
の光軸が第１の撮像装置１の前記光軸に対して所定の角
度αだけ傾斜し、かつ、基準面９の上で交差するように
配設されている。ここでは、説明を簡単にするため、第
２の撮像装置２の前記光軸はＺＸ平面に平行な面上に設
けられているものとする。
【００１３】また、ワールド座標系内の所定の位置に測
定対象物体の所定の測定点７が有り、各撮像装置１、２
により撮像した測定点７の画像信号は画像処理装置５に
入力され、この画像処理装置５によって画像処理され
る。この画像処理された各撮像装置１、２の画像データ
はそれぞれ対応するモニタ表示器３、４に入力されて表
示される。画像処理装置５は、画像処理によって得られ
て画像データに対してパターンマッチング等の演算処理
を行って測定点７の各モニタ表示器３、４の画像上での
座標系（以後、モニタ座標系と言う）の位置を演算す
る。そして、この演算された測定点７のモニタ座標を以
下の算出式に代入することによって、基準面９からの測
定点７の高さを精度良く測定することが可能となってい
る。
定対象物体の所定の測定点７が有り、各撮像装置１、２
により撮像した測定点７の画像信号は画像処理装置５に
入力され、この画像処理装置５によって画像処理され
る。この画像処理された各撮像装置１、２の画像データ
はそれぞれ対応するモニタ表示器３、４に入力されて表
示される。画像処理装置５は、画像処理によって得られ
て画像データに対してパターンマッチング等の演算処理
を行って測定点７の各モニタ表示器３、４の画像上での
座標系（以後、モニタ座標系と言う）の位置を演算す
る。そして、この演算された測定点７のモニタ座標を以
下の算出式に代入することによって、基準面９からの測
定点７の高さを精度良く測定することが可能となってい
る。
【００１４】各モニタ表示器３、４の画像上のモニタ座
標系は、それぞれ、直交２軸のＰＱ軸、直交２軸のＲＳ
軸で表されている。ここに、第１の撮像装置１の光軸が
Ｚ軸に平行であることから、ＰＱ平面はＸＹ平面に平行
であり、また、第２の撮像装置２の光軸がＺＸ平面に平
行な面上に設けられていることから、Ｒ軸はＺＸ平面に
平行（言い換えると、Ｓ軸はＹ軸に平行）である。
標系は、それぞれ、直交２軸のＰＱ軸、直交２軸のＲＳ
軸で表されている。ここに、第１の撮像装置１の光軸が
Ｚ軸に平行であることから、ＰＱ平面はＸＹ平面に平行
であり、また、第２の撮像装置２の光軸がＺＸ平面に平
行な面上に設けられていることから、Ｒ軸はＺＸ平面に
平行（言い換えると、Ｓ軸はＹ軸に平行）である。
【００１５】また、第２の撮像装置２の光軸は前述のよ
うに基準面９に対して傾斜しているので、通常のように
光軸に対して撮像素子面（受光面）が直交している場合
には光軸からの距離が遠い点ではその画像の焦点が合わ
なくなってしまう。これを解消して測定精度を高精度に
保つには、第２の撮像装置２の撮像素子面を光軸に対し
て斜めに傾斜させた、いわゆる、ななめＣＣＤ装置等を
用いることによって、前記焦点距離のずれを補正する必
要がある。本実施形態では、第２の撮像装置２にななめ
ＣＣＤ装置を使用しているが、この場合においても測定
点の高さ演算処理が可能なような算出式を提案してい
る。
うに基準面９に対して傾斜しているので、通常のように
光軸に対して撮像素子面（受光面）が直交している場合
には光軸からの距離が遠い点ではその画像の焦点が合わ
なくなってしまう。これを解消して測定精度を高精度に
保つには、第２の撮像装置２の撮像素子面を光軸に対し
て斜めに傾斜させた、いわゆる、ななめＣＣＤ装置等を
用いることによって、前記焦点距離のずれを補正する必
要がある。本実施形態では、第２の撮像装置２にななめ
ＣＣＤ装置を使用しているが、この場合においても測定
点の高さ演算処理が可能なような算出式を提案してい
る。
【００１６】以下に、図２〜図４に基づいて、高さの算
出式の説明を行う。図２は、２つの撮像装置１、２の位
置関係を詳細に説明している。同図において、撮像面Ａ
1 、Ａ2 はそれぞれ各撮像装置１、２の受光面を示して
おり、よって、この撮像面Ａ1 、Ａ2 上に前記ＰＱ軸、
又はＲＳ軸の各モニタ座標系がそれぞれ張られているこ
とになる。ここで、モニタ座標系のＰＱ軸がＸＹ軸に対
してＺ軸回りに角度θ0 だけ回転しているとする。ま
た、第２の撮像装置２の光軸と基準面９とのなす角をθ
1 、第２の撮像装置２の光軸と撮像素子面（例えば、Ｃ
ＣＤ面）とのなす角をθ2 とする。さらに、撮像点Ｏ1
及び撮像点Ｏ2 は、それぞれ、原点Ｏを第１の撮像装置
１又は第２の撮像装置２で撮像したときのモニタ座標系
のＰＱ軸の点又はＲＳ軸の点とする。また、各撮像装置
１、２の撮像レンズの主点（ここでは、説明の簡単のた
めに理想的なレンズを考え、このレンズに対する主点を
言う）を、それぞれＨ1 、Ｈ2 とする。
出式の説明を行う。図２は、２つの撮像装置１、２の位
置関係を詳細に説明している。同図において、撮像面Ａ
1 、Ａ2 はそれぞれ各撮像装置１、２の受光面を示して
おり、よって、この撮像面Ａ1 、Ａ2 上に前記ＰＱ軸、
又はＲＳ軸の各モニタ座標系がそれぞれ張られているこ
とになる。ここで、モニタ座標系のＰＱ軸がＸＹ軸に対
してＺ軸回りに角度θ0 だけ回転しているとする。ま
た、第２の撮像装置２の光軸と基準面９とのなす角をθ
1 、第２の撮像装置２の光軸と撮像素子面（例えば、Ｃ
ＣＤ面）とのなす角をθ2 とする。さらに、撮像点Ｏ1
及び撮像点Ｏ2 は、それぞれ、原点Ｏを第１の撮像装置
１又は第２の撮像装置２で撮像したときのモニタ座標系
のＰＱ軸の点又はＲＳ軸の点とする。また、各撮像装置
１、２の撮像レンズの主点（ここでは、説明の簡単のた
めに理想的なレンズを考え、このレンズに対する主点を
言う）を、それぞれＨ1 、Ｈ2 とする。
【００１７】測定点７の基準面９からの高さを矢印７ａ
で表しており、この矢印７ａの先端が測定点７の位置を
示している。この測定点７を撮像した画像は、モニタ座
標系ＰＱでは測定点７と主点Ｈ1 とを結ぶ直線が撮像面
Ａ1 と交わる点Ｋ1 に、またモニタ座標系ＲＳでは測定
点７と主点Ｈ2 とを結ぶ直線が撮像面Ａ2 と交わる点Ｋ
2 に結像される。
で表しており、この矢印７ａの先端が測定点７の位置を
示している。この測定点７を撮像した画像は、モニタ座
標系ＰＱでは測定点７と主点Ｈ1 とを結ぶ直線が撮像面
Ａ1 と交わる点Ｋ1 に、またモニタ座標系ＲＳでは測定
点７と主点Ｈ2 とを結ぶ直線が撮像面Ａ2 と交わる点Ｋ
2 に結像される。
【００１８】次に、上記の撮像された点Ｋ1 、Ｋ2 のモ
ニタ座標データに基づいて測定点７の高さを算出するた
めに、図２に示した各座標軸及び各点をＺＸ平面への投
影することを考える。これまでの各前提条件があるの
で、このように投影することによって説明を分かり易く
することができる。この投影の前の準備として、図３に
示すように、測定点７を通り、かつ、Ｙ軸に平行な（す
なわち、測定点７のＸ座標値が一定、及びＺ座標値が一
定となる）直線７ｂをワールド座標系内に設ける。ま
た、モニタ座標系ＰＱでの点Ｋ1 を、撮像点Ｏ1 を通っ
てＸ軸に平行な直線１１（この直線は、当然のことなが
らモニタ座標系ＰＱ面内に入っている）上に投影したと
きの点Ｋ1aの位置を、ワールド座標系で算出する。
ニタ座標データに基づいて測定点７の高さを算出するた
めに、図２に示した各座標軸及び各点をＺＸ平面への投
影することを考える。これまでの各前提条件があるの
で、このように投影することによって説明を分かり易く
することができる。この投影の前の準備として、図３に
示すように、測定点７を通り、かつ、Ｙ軸に平行な（す
なわち、測定点７のＸ座標値が一定、及びＺ座標値が一
定となる）直線７ｂをワールド座標系内に設ける。ま
た、モニタ座標系ＰＱでの点Ｋ1 を、撮像点Ｏ1 を通っ
てＸ軸に平行な直線１１（この直線は、当然のことなが
らモニタ座標系ＰＱ面内に入っている）上に投影したと
きの点Ｋ1aの位置を、ワールド座標系で算出する。
【００１９】図４はモニタ座標系ＰＱ平面及びワールド
座標系ＸＹ平面をＺ軸方向から見た図を示しており、同
図を参照して、直線１１上での撮像点Ｏ1 と前記点Ｋ1a
との距離ｕの算出方法を説明する。同図において、点Ｋ
1aは直線１１上に点Ｋ1 から垂線を下ろした交点で表さ
れる。いま、説明のために、撮像点Ｏ1 を通ってＰ軸に
平行な直線１２を引き、この直線１２上に点Ｋ1 から垂
線を下ろした交点をＢとし、さらにこの点Ｂから直線１
１上に垂線を下ろした交点をＣとする。また、モニタ座
標系ＰＱ内における撮像点Ｏ1 の座標を（ｐ0 ，ｑ0
）、点Ｋ1 の座標を（ｐ，ｑ）とする。このとき、線
分Ｏ1 Ｂ及び線分Ｋ1 Ｂの長さは、線分の方向も考慮し
てそれぞれ（ｐ−ｐ0 ）及び（ｑ−ｑ0 ）で表されるの
で、線分Ｏ1Ｃ及び線分Ｋ1aＣの長さはそれぞれ〔（ｐ
−ｐ0 ）COS θ0 〕及び〔（ｑ−ｑ0）SIN θ0 〕と表
される。以上のことから、線分Ｏ1 Ｋ1aの長さをワール
ド座標系での距離ｕに変換する数式１は次のように表さ
れる。。
座標系ＸＹ平面をＺ軸方向から見た図を示しており、同
図を参照して、直線１１上での撮像点Ｏ1 と前記点Ｋ1a
との距離ｕの算出方法を説明する。同図において、点Ｋ
1aは直線１１上に点Ｋ1 から垂線を下ろした交点で表さ
れる。いま、説明のために、撮像点Ｏ1 を通ってＰ軸に
平行な直線１２を引き、この直線１２上に点Ｋ1 から垂
線を下ろした交点をＢとし、さらにこの点Ｂから直線１
１上に垂線を下ろした交点をＣとする。また、モニタ座
標系ＰＱ内における撮像点Ｏ1 の座標を（ｐ0 ，ｑ0
）、点Ｋ1 の座標を（ｐ，ｑ）とする。このとき、線
分Ｏ1 Ｂ及び線分Ｋ1 Ｂの長さは、線分の方向も考慮し
てそれぞれ（ｐ−ｐ0 ）及び（ｑ−ｑ0 ）で表されるの
で、線分Ｏ1Ｃ及び線分Ｋ1aＣの長さはそれぞれ〔（ｐ
−ｐ0 ）COS θ0 〕及び〔（ｑ−ｑ0）SIN θ0 〕と表
される。以上のことから、線分Ｏ1 Ｋ1aの長さをワール
ド座標系での距離ｕに変換する数式１は次のように表さ
れる。。
【数１】ｕ＝ｋp （ｐ−ｐ0 ）COS θ0 ＋ｋq （ｑ−ｑ
0 ）SIN θ0 ここで、ｋp はモニタ座標系でのＰ軸方向の長さからワ
ールド座標系での長さへの変換係数であり、具体的に
は、例えばモニタ座標系でのＰ軸方向の画像の単位長さ
に対応するワールド座標系での実際の長さとして表され
る。同様に、ｋqはモニタ座標系でのＱ軸方向の長さか
らワールド座標系での長さへの変換係数である。求めた
距離ｕは、線分Ｏ1 Ｋ1 を直線１１に投影した線分Ｏ1
Ｋ1aのワールド座標系での長さを表している。
0 ）SIN θ0 ここで、ｋp はモニタ座標系でのＰ軸方向の長さからワ
ールド座標系での長さへの変換係数であり、具体的に
は、例えばモニタ座標系でのＰ軸方向の画像の単位長さ
に対応するワールド座標系での実際の長さとして表され
る。同様に、ｋqはモニタ座標系でのＱ軸方向の長さか
らワールド座標系での長さへの変換係数である。求めた
距離ｕは、線分Ｏ1 Ｋ1 を直線１１に投影した線分Ｏ1
Ｋ1aのワールド座標系での長さを表している。
【００２０】図５は、図３をＺＸ平面に投影した図を示
す。同図において、Ｒ軸上での撮像点Ｏ2 の座標をｒ0
、点Ｋ2 の座標をｒとすると、ワールド座標系での撮
像点Ｏ2 と点Ｋ2 との距離ｔは、次の数式２によって求
められる。
す。同図において、Ｒ軸上での撮像点Ｏ2 の座標をｒ0
、点Ｋ2 の座標をｒとすると、ワールド座標系での撮
像点Ｏ2 と点Ｋ2 との距離ｔは、次の数式２によって求
められる。
【数２】ｔ＝ｋr （ｒ−ｒ0 ） なお、ｋr はモニタ座標系でのＲ軸方向の長さからワー
ルド座標系での長さへの変換係数である。
ルド座標系での長さへの変換係数である。
【００２１】また、原点Ｏから主点Ｈ1 までの距離をL
3、主点Ｈ1 から撮像面Ａ1 までの距離をL4、原点Ｏか
ら主点Ｈ2 までの距離をL1、主点Ｈ2 から撮像面Ａ2 ま
での距離をL2とする。このとき、各点のワールド座標系
の座標及び各直線の方程式は以下のように表される。ま
ず、原点Ｏと撮像点Ｏ2 を通る直線Ｊ1 は数式３で表さ
れる。
3、主点Ｈ1 から撮像面Ａ1 までの距離をL4、原点Ｏか
ら主点Ｈ2 までの距離をL1、主点Ｈ2 から撮像面Ａ2 ま
での距離をL2とする。このとき、各点のワールド座標系
の座標及び各直線の方程式は以下のように表される。ま
ず、原点Ｏと撮像点Ｏ2 を通る直線Ｊ1 は数式３で表さ
れる。
【数３】直線Ｊ1 ；Ｚ＝Ｘtan θ1 また、主点Ｈ1 、Ｈ2 の座標はそれぞれＨ1 （０、L
3）、Ｈ2 （L1 COSθ1 、L1 SINθ1 ）で表され、撮像
点Ｏ1 及び撮像点Ｏ2 の座標はそれぞれＯ1 （０、L3＋
L4）、Ｏ2 （( L1＋L2 ) COSθ1 、( L1＋L2 ) SINθ1
）で表される。よって、点Ｋ1 及び点Ｋ2 の座標はそ
れぞれ、Ｋ1 （ｕ、L3＋L4）、Ｋ2 （( L1＋L2) COSθ1
＋ｔCOS （θ1 ＋θ2 ）、( L1＋L2 ) SINθ1 ＋ｔSIN
（θ1 ＋θ2））で表される。以上から、主点Ｈ2 と点
Ｋ2 を通る直線Ｊ2 は数式４で表される。
3）、Ｈ2 （L1 COSθ1 、L1 SINθ1 ）で表され、撮像
点Ｏ1 及び撮像点Ｏ2 の座標はそれぞれＯ1 （０、L3＋
L4）、Ｏ2 （( L1＋L2 ) COSθ1 、( L1＋L2 ) SINθ1
）で表される。よって、点Ｋ1 及び点Ｋ2 の座標はそ
れぞれ、Ｋ1 （ｕ、L3＋L4）、Ｋ2 （( L1＋L2) COSθ1
＋ｔCOS （θ1 ＋θ2 ）、( L1＋L2 ) SINθ1 ＋ｔSIN
（θ1 ＋θ2））で表される。以上から、主点Ｈ2 と点
Ｋ2 を通る直線Ｊ2 は数式４で表される。
【数４】直線Ｊ2 ； また同様に、主点Ｈ1 と点Ｋ1 を通る直線Ｊ3 は数式５
で表される。
で表される。
【数５】直線Ｊ3 ；（Ｚ−L3）ｕ／L4＝Ｘ
【００２２】求める測定点７の高さは直線Ｊ2 と直線Ｊ
3 の交点（直線７ｂ上）のＺ座標で表されるので、この
ことから、数式５のＸを数式４に代入してＺを求める
と、数式６が得られる。 よって、数式６によって測定点７の高さ（Ｚ方向高さ）
が測定可能となる。
3 の交点（直線７ｂ上）のＺ座標で表されるので、この
ことから、数式５のＸを数式４に代入してＺを求める
と、数式６が得られる。 よって、数式６によって測定点７の高さ（Ｚ方向高さ）
が測定可能となる。
【００２３】以上説明したように、基準面に対して垂直
の光軸を有する第１の撮像装置１と、基準面に対して所
定角度θ1 だけ傾いた光軸を有し、かつ、この光軸が第
１の撮像装置１の前記光軸に基準面上で交差している第
２の撮像装置２とによって、基準面上の物体をステレオ
法で撮像して所定の測定点高さを数式６に基づいて精度
良く測定可能となる。数式６においては、第２の撮像装
置２の光軸に対する撮像面Ａ２のなす角度θ2 が９０度
以外のときも考慮しているので、例えば、ななめＣＣＤ
装置等を用いる場合でも、精度良く高さ測定ができる。
すなわち、測定対象物を斜めから撮像していてもななめ
ＣＣＤ装置によって焦点を正確に合わせることができる
ので、画像処理により精度良く各モニタ座標位置が求ま
り、これによって、正確な高さ測定ができる。
の光軸を有する第１の撮像装置１と、基準面に対して所
定角度θ1 だけ傾いた光軸を有し、かつ、この光軸が第
１の撮像装置１の前記光軸に基準面上で交差している第
２の撮像装置２とによって、基準面上の物体をステレオ
法で撮像して所定の測定点高さを数式６に基づいて精度
良く測定可能となる。数式６においては、第２の撮像装
置２の光軸に対する撮像面Ａ２のなす角度θ2 が９０度
以外のときも考慮しているので、例えば、ななめＣＣＤ
装置等を用いる場合でも、精度良く高さ測定ができる。
すなわち、測定対象物を斜めから撮像していてもななめ
ＣＣＤ装置によって焦点を正確に合わせることができる
ので、画像処理により精度良く各モニタ座標位置が求ま
り、これによって、正確な高さ測定ができる。
【００２４】また、第１の撮像装置１が光軸回りに回転
（図２では、角度θ0 だけ回転）している場合でも、こ
の回転角度を考慮して（上記実施形態では、ｕを求めて
対応している）測定点高さを演算できるので、測定精度
が向上する。なお、以上の説明では、第１の撮像装置１
の光軸を基準面９に垂直に設定しているが、測定誤差が
許容される範囲内において、垂直の精度は許容される。
また、第１の撮像装置１の光軸上にミラーを配設し、第
１の撮像装置１はこのミラーからの反射像を入力して測
定点７を撮像するようにしても、上記作用及び効果は変
わらない。
（図２では、角度θ0 だけ回転）している場合でも、こ
の回転角度を考慮して（上記実施形態では、ｕを求めて
対応している）測定点高さを演算できるので、測定精度
が向上する。なお、以上の説明では、第１の撮像装置１
の光軸を基準面９に垂直に設定しているが、測定誤差が
許容される範囲内において、垂直の精度は許容される。
また、第１の撮像装置１の光軸上にミラーを配設し、第
１の撮像装置１はこのミラーからの反射像を入力して測
定点７を撮像するようにしても、上記作用及び効果は変
わらない。
【００２５】また、以上で記述した算出式を組み込んだ
ソフトウェアは、フロッピーディスクを当該ソフトウェ
アが格納された電子データ記録媒体として、流通配布さ
れる。この電子データ記録媒体はフロッピーディスクに
限定されるものではなく、ハードディスク、ＩＣカード
又はＣＤＲＯＭ等でもよい。また、流通配布の形態も、
電子データ記録媒体による流通のみではなく、前記ソフ
トウェアを利用するハードウェアと、前記ソフトウェア
が収納されている開発機器（例えば開発用のパーソナル
コンピュータ）とを公衆回線やネットワークを経由して
接続し、通信により流通配布する形態を取っても良い。
前記流通配布の際には、前記ソフトウェアを利用するハ
ードウェア、例えば、専用の測定装置や、パーソナルコ
ンピュータと電子カメラを接続した装置等にインストー
ルするためのインストーラを添付して流通配布してもよ
く、前記算出式を組み込んだソフトウェアを容量圧縮し
たデータを流通配布してもよい。
ソフトウェアは、フロッピーディスクを当該ソフトウェ
アが格納された電子データ記録媒体として、流通配布さ
れる。この電子データ記録媒体はフロッピーディスクに
限定されるものではなく、ハードディスク、ＩＣカード
又はＣＤＲＯＭ等でもよい。また、流通配布の形態も、
電子データ記録媒体による流通のみではなく、前記ソフ
トウェアを利用するハードウェアと、前記ソフトウェア
が収納されている開発機器（例えば開発用のパーソナル
コンピュータ）とを公衆回線やネットワークを経由して
接続し、通信により流通配布する形態を取っても良い。
前記流通配布の際には、前記ソフトウェアを利用するハ
ードウェア、例えば、専用の測定装置や、パーソナルコ
ンピュータと電子カメラを接続した装置等にインストー
ルするためのインストーラを添付して流通配布してもよ
く、前記算出式を組み込んだソフトウェアを容量圧縮し
たデータを流通配布してもよい。
【図１】本発明に係わる高さ測定装置の実施形態のハー
ド構成図を示す。
ド構成図を示す。
【図２】本発明に係わる高さ測定装置の撮像装置の位置
関係の説明図を示す。
関係の説明図を示す。
【図３】図２における測定点を通り、Ｙ軸平行な直線の
説明図を示す。
説明図を示す。
【図４】図２におけるＰＱ平面及びＸＹ平面をＺ軸方向
から見た図を示す。
から見た図を示す。
【図５】図３をＺＸ平面に投影した図を示す。
【図６】従来技術に係わる高さ測定装置の構成図であ
る。
る。
【図７】従来技術に係わる高さ測定装置の画像上での測
定点説明図である。
定点説明図である。
１ 第１の撮像装置 ２ 第２の撮像装置 ３、４ モニタ表示器 ５ 画像処理装置 ７ 測定点 ９ 基準面 ２１ａ 第１の撮像装置 ２１ｂ 第２の撮像装置 ２３ 物体 ２４ ハーフミラー ２５ａ、２５ｂ 撮像レンズ ２６ 画像処理装置 Ｘ、Ｙ、Ｚ ワールド座標軸 Ｐ、Ｑ、Ｒ、Ｓ モニタ座標軸
Claims (3)
- 【請求項１】 基準面に略垂直な光軸を有する第１の撮
像装置(1) と、この光軸に基準面上で所定角度で交差す
る光軸を有する第２の撮像装置(2) と、基準面上のワー
ルド座標系内の物体の前記両撮像装置による撮像信号を
入力して画像処理し、この画像処理データにより前記物
体の測定点の前記撮像装置内のモニタ座標系での位置を
演算し、この位置データに基づいて前記物体の測定点の
前記基準面からのワールド座標系の高さを演算する画像
処理装置とを備えた、物体の高さ測定装置において、 前記画像処理装置は以下の式に基づいて前記測定点のワ
ールド座標系の高さＺを測定することを特徴とする物体
の高さ測定装置。 ｕ＝ｋp （ｐ−ｐ0 ）COS θ0 ＋ｋq （ｑ−ｑ0 ）SIN
θ0 ｔ＝ｋr （ｒ−ｒ0 ） ｋp はモニタ座標系でのＰ軸方向の長さからワールド座
標系での長さへの変換係数、 ｋq はモニタ座標系でのＱ軸方向の長さからワールド座
標系での長さへの変換係数、 ｋr はモニタ座標系でのＲ軸方向の長さからワールド座
標系での長さへの変換係数、 L1は第２の撮像装置(2) の撮像レンズの主点(H2)から原
点(O) までの距離、 L2は第２の撮像装置(2) の撮像レンズの主点(H2)から撮
像素子までの距離、 L3は第１の撮像装置(1) の撮像レンズの主点(H1)から原
点(O) までの距離、 L4は第１の撮像装置(1) の撮像レンズの主点(H1)から撮
像素子までの距離、 θ1 は第２の撮像装置(2) の撮像レンズの光軸と基準面
とのなす角度、 θ2 は第２の撮像装置(2) の撮像レンズの光軸と撮像素
子とのなす角度、 θ0 はモニタ座標系のＰＱ軸のワールド座標系のＸＹ軸
に対するＺ軸回りの回転角度、 ｐ0 は原点(O) のモニタ座標系のＰＱ面でのＰ座標値、 ｑ0 は原点(O) のモニタ座標系のＰＱ面でのＱ座標値、 ｒ0 は原点(O) のモニタ座標系のＲＳ面でのＲ座標値、 ｐは測定点のモニタ座標系のＰＱ面でのＰ座標値、 ｑは測定点のモニタ座標系のＰＱ面でのＱ座標値、 ｒは測定点のモニタ座標系のＲＳ面でのＲ座標値。 - 【請求項２】 前記請求項１記載の物体の高さ測定装置
において、 前記第１の撮像装置(1) の光軸上にミラーを配置し、前
記第１の撮像装置(1)はこのミラーからの反射像を入力
して前記物体の測定点を撮像するようにしたことを特徴
とする物体の高さ測定装置。 - 【請求項３】 基準面に略垂直な光軸方向と、この光軸
に基準面上で所定角度で交差する光軸方向とから基準面
上のワールド座標系内の物体を撮像し、この異なる方向
からの撮像画像のモニタ座標系での測定点の位置データ
に基づいて、ステレオ法により前記基準面からの前記物
体の測定点のワールド座標系の高さを測定する物体の高
さ測定方法において、 以下の式に基づいて、前記物体の測定点のワールド座標
系の高さＺを測定することを特徴とする物体の高さ測定
方法。 ｕ＝ｋp （ｐ−ｐ0 ）COS θ0 ＋ｋq （ｑ−ｑ0 ）SIN
θ0 ｔ＝ｋr （ｒ−ｒ0 ） ｋp はモニタ座標系でのＰ軸方向の長さからワールド座
標系での長さへの変換係数、 ｋq はモニタ座標系でのＱ軸方向の長さからワールド座
標系での長さへの変換係数、 ｋr はモニタ座標系でのＲ軸方向の長さからワールド座
標系での長さへの変換係数、 L1は第２の撮像装置(2) の撮像レンズの主点(H2)から原
点(O) までの距離、 L2は第２の撮像装置(2) の撮像レンズの主点(H2)から撮
像素子までの距離、 L3は第１の撮像装置(1) の撮像レンズの主点(H1)から原
点(O) までの距離、 L4は第１の撮像装置(1) の撮像レンズの主点(H1)から撮
像素子までの距離、 θ1 は第２の撮像装置(2) の撮像レンズの光軸と基準面
とのなす角度、 θ2 は第２の撮像装置(2) の撮像レンズの光軸と撮像素
子とのなす角度、 θ0 はモニタ座標系のＰＱ軸のワールド座標系のＸＹ軸
に対するＺ軸回りの回転角度、 ｐ0 は原点(O) のモニタ座標系のＰＱ面でのＰ座標値、 ｑ0 は原点(O) のモニタ座標系のＰＱ面でのＱ座標値、 ｒ0 は原点(O) のモニタ座標系のＲＳ面でのＲ座標値、 ｐは測定点のモニタ座標系のＰＱ面でのＰ座標値、 ｑは測定点のモニタ座標系のＰＱ面でのＱ座標値、 ｒは測定点のモニタ座標系のＲＳ面でのＲ座標値。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9088896A JPH10267621A (ja) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 物体の高さ測定装置及びその方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9088896A JPH10267621A (ja) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 物体の高さ測定装置及びその方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10267621A true JPH10267621A (ja) | 1998-10-09 |
Family
ID=13955736
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9088896A Pending JPH10267621A (ja) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | 物体の高さ測定装置及びその方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10267621A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6915007B2 (en) | 1998-01-16 | 2005-07-05 | Elwin M. Beaty | Method and apparatus for three dimensional inspection of electronic components |
| US7079678B2 (en) | 1998-01-16 | 2006-07-18 | Scanner Technologies Corporation | Electronic component products made according to a process that includes a method for three dimensional inspection |
| CN102980562A (zh) * | 2012-11-15 | 2013-03-20 | 北京中软鸿美信息技术有限公司 | 交通事故现场图像处理系统及方法 |
| CN103528571A (zh) * | 2013-10-12 | 2014-01-22 | 上海新跃仪表厂 | 单目立体视觉相对位姿测量方法 |
| JP2020530555A (ja) * | 2017-07-26 | 2020-10-22 | ロベルト・ボッシュ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツングＲｏｂｅｒｔ Ｂｏｓｃｈ Ｇｍｂｈ | 物体の位置を認識する装置および方法 |
| CN115665553A (zh) * | 2022-09-29 | 2023-01-31 | 深圳市旗扬特种装备技术工程有限公司 | 一种无人机的自动跟踪方法、装置、电子设备及存储介质 |
-
1997
- 1997-03-24 JP JP9088896A patent/JPH10267621A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6915007B2 (en) | 1998-01-16 | 2005-07-05 | Elwin M. Beaty | Method and apparatus for three dimensional inspection of electronic components |
| US7079678B2 (en) | 1998-01-16 | 2006-07-18 | Scanner Technologies Corporation | Electronic component products made according to a process that includes a method for three dimensional inspection |
| US7085411B2 (en) | 1998-01-16 | 2006-08-01 | Scanner Technologies Corporation | Method of manufacturing electronic components including a method for three dimensional inspection |
| CN102980562A (zh) * | 2012-11-15 | 2013-03-20 | 北京中软鸿美信息技术有限公司 | 交通事故现场图像处理系统及方法 |
| CN103528571A (zh) * | 2013-10-12 | 2014-01-22 | 上海新跃仪表厂 | 单目立体视觉相对位姿测量方法 |
| JP2020530555A (ja) * | 2017-07-26 | 2020-10-22 | ロベルト・ボッシュ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツングＲｏｂｅｒｔ Ｂｏｓｃｈ Ｇｍｂｈ | 物体の位置を認識する装置および方法 |
| US11313961B2 (en) | 2017-07-26 | 2022-04-26 | Robert Bosch Gmbh | Method and device for identifying the height of an object |
| CN115665553A (zh) * | 2022-09-29 | 2023-01-31 | 深圳市旗扬特种装备技术工程有限公司 | 一种无人机的自动跟踪方法、装置、电子设备及存储介质 |
| CN115665553B (zh) * | 2022-09-29 | 2023-06-13 | 深圳市旗扬特种装备技术工程有限公司 | 一种无人机的自动跟踪方法、装置、电子设备及存储介质 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6176114B2 (ja) | 投影像自動補正システム、投影像自動補正方法およびプログラム | |
| JP3728900B2 (ja) | キャリブレーション方法及び装置、並びにキャリブレーション用データ生成方法 | |
| JP2810320B2 (ja) | 球体の回転量測定装置及び測定方法 | |
| JP3739550B2 (ja) | ウェハの測定位置決定方法 | |
| JPH02264808A (ja) | ３次元曲面形状の測定装置 | |
| JP2001061121A (ja) | プロジェクタ装置 | |
| JPH04191607A (ja) | ３次元計測方法 | |
| CN113824942B (zh) | 梯形校正方法、装置、投影仪及计算机可读存储介质 | |
| CN108429908B (zh) | 一种摄像模组的测试方法、装置、设备及介质 | |
| WO2011118476A1 (ja) | ３次元距離計測装置及びその方法 | |
| JP2000028332A (ja) | ３次元計測装置及び３次元計測方法 | |
| JPH10267621A (ja) | 物体の高さ測定装置及びその方法 | |
| JP2001296124A (ja) | ３次元座標計測方法及び３次元座標計測装置 | |
| JP3545542B2 (ja) | ウェハの回転方向検出方法 | |
| JP4275661B2 (ja) | 変位測定装置 | |
| JP3545558B2 (ja) | ウェハの測定位置決定方法 | |
| JP3452188B2 (ja) | ２次元動画像中の特徴点の追跡方法 | |
| JP3340599B2 (ja) | 平面推定方法 | |
| WO2019186985A1 (ja) | 振動計測システム、振動計測装置、振動計測方法、及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
| JPH10221066A (ja) | ステレオ法による３次元位置計測装置及びその計測方法 | |
| JPH11173840A (ja) | 測距装置及び測距方法 | |
| KR100287319B1 (ko) | 피측정 웨이퍼의 회전방향 검출방법과 측정위치 결정방법 및 그 장치 | |
| JPH0642943A (ja) | カメラの傾き角度検出方法 | |
| JPH0953914A (ja) | 三次元座標計測装置 | |
| JP3446020B2 (ja) | 形状計測方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050520 |
|
| RD01 | Notification of change of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421 Effective date: 20050622 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Effective date: 20051101 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Effective date: 20051114 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091202 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091202 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101202 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111202 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 6 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111202 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 7 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121202 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 7 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121202 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131202 Year of fee payment: 8 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |