JPH10261582A - ウエハ周辺露光装置のウエハ処理ステージ - Google Patents

ウエハ周辺露光装置のウエハ処理ステージ

Info

Publication number
JPH10261582A
JPH10261582A JP9084630A JP8463097A JPH10261582A JP H10261582 A JPH10261582 A JP H10261582A JP 9084630 A JP9084630 A JP 9084630A JP 8463097 A JP8463097 A JP 8463097A JP H10261582 A JPH10261582 A JP H10261582A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
fixing portion
processing stage
wafer fixing
vacuum suction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9084630A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3313609B2 (ja
Inventor
Isamu Shibuya
勇 澁谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ushio Denki KK
Ushio Inc
Original Assignee
Ushio Denki KK
Ushio Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ushio Denki KK, Ushio Inc filed Critical Ushio Denki KK
Priority to JP08463097A priority Critical patent/JP3313609B2/ja
Publication of JPH10261582A publication Critical patent/JPH10261582A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3313609B2 publication Critical patent/JP3313609B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】ウエハ固定部の傾き調整を簡便に行うことがで
きるウエハ処理ステージを提供すること。 【解決手段】ウエハ周辺露光装置のウエハを吸着保持す
るウエハ処理ステージのウエハ固定部1と軸3とを基材
2の孔16を貫通しウエハ固定部1のウエハ吸着固定用
通路と軸3の真空吸着路18とを連結する接続パイプ1
9により接続し、ウエハ固定部1の下面に3個のV溝体
4を設け、基材2に該基材2の表面に直角な方向に変位
可能な3個の支持軸5を設け、3個のV溝体4とそれぞ
れ対遇する3個の支持軸5によりウエハ固定部1が基材
2に対して傾斜可能に支持する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ウエハ上の不要レ
ジストを現像工程で除去するために適用されるウエハ周
辺露光装置において、ウエハを吸着固定して移動したり
回転したりするウエハ処理ステージに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】例えばIC、LSI等の半導体装置の製
造に際しては、シリコンウエハ等の半導体ウエハの表面
にフォトレジスト(以下レジストと称する)を塗布し、
次いで回路パターンを露光し、これを現像して、レジス
トパターンを形成することが行われている。このレジス
トパターンをマスクにして、イオン注入、エッチング、
リフトオフなどの加工が施される。レジストの半導体ウ
エハ(以下ウエハと称する)への塗布は、塗布により形
成されるレジスト膜の厚みを均一にするために、通常、
スピンコート法によりウエハの全表面に対して行われ
る。よって、パターン形成領域としてあまり利用される
ことのないウエハの周辺部にもレジストが塗布される。
【0003】レジストがポジ型レジストである場合に
は、周辺部が露光されないため現像後も周辺部にレジス
トが残留する。この周辺部に残留したレジストはウエハ
の搬送、保持の際に剥離等が発生して周辺機器を汚染
し、ひいてはウエハ表面の汚染となり、歩留りの低下を
招く原因となる。これは、特に、集積回路の高機能化、
微細化が進みつつある現在、深刻な問題となっている。
【0004】そこで、周辺部の不要レジストを現像工程
で除去することが提案され、それを実現するために、パ
ターン形成領域における回路パターンの露光工程とは別
に、周辺部の不要レジストを露光するウエハ周辺露光工
程が採用されている。レジストの塗布されたウエハ表面
を逐次移動型縮小投影露光装置(ステッパー)によって
露光する場合、1チップ分の回路パターンを露光できな
い周辺部分の形状は階段状となる。ウエハ周辺露光工程
においてこのような階段状の不要レジストを露光する場
合は、レジストが塗布されたウエハを処理ステージに載
置して真空吸着により固定し、この処理ステージを互い
に直交する二方向(以下X−Y方向と称する)に移動さ
せ、導光ファイバにより導かれる露光光をウエハ上の不
要レジストの階段状パターンに沿って移動させながらス
ポット的に照射する。
【0005】図6にウエハ周辺露光装置における従来の
ウエハ処理ステージの構成例を示す。51はウエハWが
載置され固定される円板状のウエハ固定部である。ウエ
ハ固定部51は、フランジ状の接続部材52を介して、
不図示の回転モータに接続されている回転軸58と連結
され、不図示の回転モータはさらにX−Y方向に移動可
能な不図示のX−Yステージ上に取り付けられる。ま
た、ウエハ固定部51の表面には、ウエハWとの接触面
積を小さくしてウエハWへの塵埃の付着量を小さくする
ための凹部64と、ウエハWを真空吸着により固定する
ための真空吸着溝71が設けられている。
【0006】尚、先に述べたように、階段状露光はウエ
ハ処理ステージをX−Y方向に移動させることにより行
われるのでウエハWを真空吸着により固定するウエハ固
定部51を必ずしも回転させる必要はない。しかしなが
ら、例えば、露光される不要レジスト領域をウエハの中
央部を中心とした第1象限から第4象限まで象限ごとに
四等分し、第1象限領域を露光後、ウエハ固定部51を
1/4回転させ停止し、第2象限領域を露光といった手
順で露光を行うようにすれば、ウエハを回転させず全て
の不要レジスト領域を露光する場合に比べて、ウエハ処
理ステージのX−Y方向への移動距離を短くすることが
可能となり、装置を小型化することができる。
【0007】接続部材52の鍔部は同心円状に等角度間
隔で配置される複数個の孔53を有し、これらの孔53
に相当する位置に複数個の雌ねじ孔54がウエハ固定部
51の下面に設けられている。ウエハ固定部51は、こ
れらの孔53を貫通しウエハ固定部51の雌ねじ孔54
と螺合する複数個のねじ55によって接続部材52に取
り付けられる。接続部材52の側部には3個または4個
の雌ねじ孔56が設けられており、この雌ねじ孔56に
螺合したセットビス57により、接続部材52の凹部に
挿入された回転軸58に取り付けられる。なお、回転軸
58のセットビス57と接する部分59は、平面状に加
工されている。
【0008】ウエハ固定部51には一端が真空吸着溝7
1に連通し他端がウエハ固定部51の底面に開口する吸
引路72が、接続部材52には貫通孔73が、回転軸5
8には一端が回転軸58の上面に開口し他端が回転軸5
8の側部に開口する吸引路74がそれぞれ設けられてい
て、真空吸着溝71、吸引路72、貫通孔73、吸引路
74よりウエハを真空吸着するための真空吸着系が形成
される。接続部材52とウエハ固定部51との接触面お
よび接続部材52と回転軸53との接触面にはOリング
溝60、61が設けられ、このOリング溝60、61に
挿入されるOリング62、63によって、真空吸着系の
真空もれ(以下、リークと称する)が防止される。
【0009】上記真空吸着系へ真空の供給は、例えば、
実開平3−106728号公報に記載されているように
行う。すなわち、内部に空洞を有する不図示のハウジン
グを、該空洞が上記回転軸58の側部に位置する吸引路
74の他端の開口を取り囲むように設置し、このハウジ
ングを介して不図示の真空ポンプより上記真空吸着系へ
真空の供給を行う。このような構造にすることにより、
回転軸58が回転して上記開口がいずれの位置にあって
も常に真空を供給することが可能となる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところで、導光ファイ
バにより導かれる露光光は、例えば、特開平8−317
30号公報や特願平8−165593号等に記載されて
いるように、導光ファイバの出射端81に設けられた不
図示のアパーチャ等により整形され、この整形された露
光光は、投影レンズ82によりウエハ周辺部の不要レジ
スト上に結像される。これは、図7に示すように、ウエ
ハWの周辺部の不要レジスト上に露光部分と非露光部分
の境界部における照度の変化をシャープにして、現像後
のレジストがテーパ状に残存するのを防止するためであ
る。すなわち、現像後のレジストがテーパ状に残存する
と、レジスト膜厚の薄いテーパの裾野におけるレジスト
が剥がれやすくなってしまうという問題を回避するため
である。
【0011】このような結像関係は、ウエハWがX−Y
方向に移動する露光期間中維持されている必要がある。
すなわち、図6において、露光期間中ウエハWの周辺部
表面(レジスト表面)と投影レンズ82との距離を所定
範囲内(投影レンズ82の焦点深度の範囲内)に維持す
る必要がある。例えば、ウエハ処理ステージをX−Y方
向に移動させて円周部の直径が200mmであるウエハ
Wの階段状の不要レジストを露光する場合、上記所定範
囲は±20μmである。このような条件を満足するに
は、図8に示すように、ウエハ固定部51の表面全体が
光軸に対して垂直であって互いに20μm離間している
仮想平面の間の領域内に収まる必要がある。
【0012】図6に示すウエハ処理ステージの場合、ウ
エハWと直接接触する部分であるウエハ固定部51の表
面の面精度を±1.5μm以内に加工することは可能で
ある。しかしながら、図6に示すウエハ処理ステージ
は、ウエハ固定部51と接続部材52との接続、接続部
材52と回転軸58との接続部分、回転軸58と不図示
の回転モータとの接続部分等、一体として連結される機
械的な接続部分が複数個所設けられている。よって、各
接続部分の加工精度を高精度にしたとしても、ウエハ処
理ステージを組み立てたときには各接続部分を構成する
部品の加工精度の公差が累積し、ウエハWが載置される
ウエハ固定部51の表面が上記累積公差の分だけ傾き、
結局、ウエハ固定部51の表面全体を上記20μm離間
した空間内に収めることは困難となる。
【0013】以上のような問題を踏まえれば、ウエハ固
定部51の表面全体を上記20μm離間した空間内に収
めるためには、ウエハ処理ステージを組み立てた後にウ
エハ固定部51の傾きを調節することが実際的である。
図6に示すウエハ処理ステージの場合、3個または4個
のセットビス57のねじ込み具合を調節することにより
上記傾き調節が行われている。すなわち、2個のセット
ビス57の一方を緩め、他方を締め付けるといった作業
を繰り返して、リークが発生しない程度のOリング63
の弾性変形の範囲内でウエハ固定部51の傾きを調節し
て、所定の傾きが達成された後両セットビス57を締め
付けて固定する。
【0014】すなわち、上記ウエハ処理ステージは傾き
調節を行うための機構を有しておらず、本来真空吸着系
のリーク防止のためのシールを実現するための部材であ
るOリング63の弾性変形を利用して便宜的に傾き調節
を行っている。そのため、傾き調節にあたって下記のよ
うな制約を受けることになる。
【0015】(1)Oリング63の弾性変形を利用した
傾き調整は、支点をOリング63とし力点をセットビス
57の先端として2個のセットビス57のねじ込み具合
による移動量により制御されるが、力点と支点との距離
が短いのでセットビス57の単位長さ当たりの移動によ
るウエハ固定部51の傾きの変化が大きい。発明者らが
製作した従来のウエハ処理ステージにおいては、セット
ビス57のねじ山のピッチは0.7mmであり、セット
ビス57の一方を15度回転させて緩め他方を15度回
転させて締め付けるだけで、ウエハ固定部51の傾きは
上記最大傾き角度0.4度に達し、ウエハ固定部51の
周辺部は350μm上昇または下降した。手動で調整し
うるセットビス57の最小回転角度は、経験的に5度が
限界であり、セットビス57の最小回転角度が5度であ
るときウエハ固定部51の周辺部は約117μm上昇ま
たは下降してしまう。よって、微妙な傾き調整を行うの
は不可能であり、ウエハ固定部51の表面全体を上記2
0μm離間した空間内に収めるのは非常に困難である。
【0016】本発明は以上のような事情を鑑みてなされ
たものであって、傾き調整機構を付加することにより、
微妙な傾き調整を簡便に行うことができるウエハ処理ス
テージを提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1の発明
は、ウエハ周辺露光装置のウエハを吸着保持するウエハ
処理ステージを、互いに直行する二方向および回転方向
に駆動可能であって内部に真空吸着路を有する軸と、こ
の軸に取りつけられ中央部に孔を有するフランジ状の基
材と、表面にウエハを吸着固定するための真空吸着部が
設けられ内部に該真空吸着部と連通するウエハ吸着固定
用通路が設けられている円板状のウエハ固定部とから構
成し、ウエハ固定部と軸とを上記フランジ状の基材の孔
を貫通し該ウエハ固定部のウエハ吸着固定用通路と上記
軸の真空吸着路とを連結する接続パイプにより接続し、
上記ウエハ固定部の下面に3個のV溝体を設け、上記基
材に該基材表面に直角な方向に変位可能な3個の支持軸
を設け、上記3個のV溝体とそれぞれ対遇する上記3個
の支持軸により上記ウエハ固定部が上記基材に対する傾
斜角度が調節可能であるように支持するものである。
【0018】本発明の請求項2の発明は、請求項1の発
明において、基材に3個の貫通孔を設け、上記ウエハ固
定部材の下面に3個の雌ねじ孔が設け、3個のスプリン
グワッシャと上記3個の貫通孔とを貫通する3個の雄ね
じと上記雌ねじとをそれぞれ螺合させたものである。
【0019】本発明の請求項3の発明は、請求項1、2
のいずれかの発明において、上記3個のV溝体を、上記
円板状のウエハ固定部の中心に対して同心円状であって
上記3個のV溝体の方向に一致する仮想線が一点で交わ
るように、配置したものである。
【0020】本発明の請求項4の発明は、請求項3の発
明において、上記仮想線の交点を上記円板状のウエハ固
定部の中心と略一致させたものである。
【0021】本発明の請求項5の発明は、請求項4の発
明において、上記3個の雌ねじと螺合する上記3個の雄
ねじを、上記円板状のウエハ固定部の中心に対して同心
円状であって、上記仮想線上に位置させ、上記真空吸着
部をウエハ固定部の表面の周辺部に円周状に設けている
ものである。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係るウエハ周辺露
光装置のウエハ処理ステージの実施の形態を、図面に示
した実施例を用いて詳細に説明する。
【0023】図1、2は本発明に係るウエハ周辺露光装
置のウエハ処理ステージの構成を説明する図である。こ
こで図1は図2におけるA−A断面図である。図2は図
1に示すウエハ処理ステージを矢印Bから見た図であ
り、一部分は図1におけるC−C断面図となっている。
【0024】1はウエハWが載置され、真空吸着により
固定される円板状のウエハ固定部である。図6に示した
従来のウエハ処理ステージの構成例と同様、ウエハ固定
部1はフランジ状の接続部材2を介して不図示の回転モ
ータに接続されている円筒状の回転軸3と連結され、こ
の不図示の回転モータによりウエハ固定部1に固定され
るウエハWが回転する。また、不図示の回転モータはさ
らにX−Y方向に移動可能な不図示のX−Yステージ上
に取り付けられ、この不図示のX−Yステージを駆動制
御することにより、ウエハWが固定されているウエハ固
定部1をX−Y方向に移動させる。
【0025】ここで、ウエハ処理ステージのウエハ固定
部1がX−Y方向に移動するのみならず回転可能である
のは、従来の技術で述べたような手順で露光を行って、
ウエハ処理ステージのX−Y方向への移動距離を短くし
て、装置を小型化するためである。なお、ウエハ固定部
1を移動させる代わりに露光光を放出する導光ファイバ
の出射端をX−Y方向に移動させても構わない。この場
合もウエハ固定部1が回転可能であれば、従来の技術で
述べたような手順と同様に露光領域の1/4の範囲の露
光と1/4回転・停止とを組み合わせることにより導光
ファイバの出射端のX−Y方向への移動距離を短くし
て、装置を小型化することができる。
【0026】接続部材2の底面を表す図3に示すよう
に、接続部材2の下面側には、円筒状の回転軸3が挿入
される段部10と、さらにこの回転軸3を半周だけ取り
囲む突出部11とが設けられている。そして回転軸3の
残りの半周を取り囲む固定部材24と前記突出部11と
で回転軸3を挟み、突出部11と固定部材24とをネジ
止めすることにより、接続部材2は回転軸3に取り付け
られる。
【0027】図1、2に戻り、ウエハ固定部1の表面に
は、図6に示した従来のウエハ処理ステージの構成例と
同様、ウエハWとの接触面積を小さくしてウエハWへの
塵埃の付着量を小さくするために凹部12が設けられて
いる。また、ウエハ固定部1の表面の周縁部にはウエハ
Wを真空吸着により固定するための円周状の真空吸着溝
13が設けられ、ウエハ固定部1の内部には一端が真空
吸着溝13に連通し他端がウエハ固定部1の底面に設け
られた接続パイプ挿入孔15に連通する吸引路14が設
けられている。一方、接続部材2には貫通孔16が、回
転軸3には一端が回転軸3の上面に設けられた接続パイ
プ挿入孔17に連通し他端が回転軸3の側部に開口する
吸引路18がそれぞれ設けられている。
【0028】そして、接続パイプ19の一端を接続パイ
プ挿入孔15に、他端を接続パイプ挿入孔17に挿入す
ることにより、吸引路14と吸引路18とが接続され
る。すなわち、真空吸着溝13、吸引路14、接続パイ
プ19、吸引路18よりウエハを真空吸着するための真
空吸着系が形成される。接続パイプ挿入孔15と接続パ
イプ19との接触面および接続パイプ挿入孔17と接続
パイプ19との接触面にはOリング溝20、21が設け
られ、このOリング溝20、21に挿入されるOリング
22、23によって、真空吸着系のリークが防止され
る。
【0029】上記真空吸着系へ真空の供給は、従来のウ
エハ処理ステージの構成例と同様、内部に空洞を有する
不図示のハウジングを、該空洞が上記回転軸3の側部に
位置する吸引路18の開口を取り囲むように設置し、こ
のハウジングを介して不図示の真空ポンプより上記真空
吸着系へ真空の供給を行う。このような構造にすること
により、回転軸3が回転して上記開口がいずれの位置に
あっても常に真空を供給することが可能となる。
【0030】本発明に係るウエハ周辺露光装置のウエハ
処理ステージのウエハ固定部1の傾き調節機構は以下の
ように構成される。ウエハ固定部1の底面を表す図4に
示すように、ウエハ固定部1の裏面には、直角二等辺三
角形の直角を挟む辺に沿って形成されたV溝部を有する
V溝体4a,4b,4cが同心円状に等角度間隔で取り
つけられており、各V溝部に一致する仮想線a,b,c
は一点で交わり、この交点はウエハ固定部1の中心と略
一致する。一方、接続部材2には、先端に可動のボール
が埋設されているボール先ねじ5が3個貫通螺合してい
る。そして、図1、2に示すように、3個のV溝体4の
V溝部と3個のボール先ねじ5のボールとがそれぞれ対
偶して、ウエハ固定部1は接続部材2に対してある間隔
をもって保持される。なお、ボール先ねじ5の先端部の
ボールがV溝体4のV溝部に収まることにより、ウエハ
固定部1は接続部材2に対する回転が防止され、安定し
たウエハ固定部1と接続部材2との間の対偶が実現され
る。
【0031】以上のように、本発明に係るウエハ処理ス
テージのウエハ固定部1の傾き調節機構は、ウエハ固定
部1の裏面に設けられたV溝体4a,4b,4cと接続
部材2を貫通螺合する3個のボール先ねじ5とが各々対
偶している構成である。そして傾き調節は、3個のボー
ル先ねじ5のそれぞれのねじ込み具合を変えてウエハ固
定部1の接続部材2に対する傾き角度を変える調節を適
宜行うことによりなされる。例えば、V溝体4aと対偶
するボール先ねじ5のねじ込み具合を変えると、ウエハ
固定部1の接続部材2に対する傾き角度はVb−Vcラ
インを中心に変化する。同様に、V溝体4bと対偶する
ボール先ねじ5のねじ込み具合を変えると、上記傾き角
度はVc−Vaラインを中心に変化し、V溝体4cと対
偶するボール先ねじ5のねじ込み具合を変えると、上記
傾き角度はVa−Vbラインを中心に変化する。また上
記傾き角度の調節範囲は、図5において、ウエハ固定部
1の下面に設けられた接続パイプ挿入孔15と接続パイ
プ19との間の隙間dおよび回転軸3の上面に設けられ
た接続パイプ挿入孔17と接続パイプ19との間の隙間
dにより規定される。
【0032】実際の傾き調節は以下のような手順で行わ
れる。ウエハ固定部1をX−Y方向に移動させる不図示
のX−Yステージが固定されているベースにダイヤルゲ
ージを固定し、このダイヤルゲージの測定部をウエハ固
定部1の表面の任意の部分に接触させてこの地点を基準
点として定め、ダイヤルゲージの目盛りを0に合わせ
る。ウエハ固定部1をX−Y方向に移動させ、上記基準
点から適当な距離離れた複数の地点の光軸方向の変位を
ダイヤルゲージで測定する。上記複数の地点の変位量が
基準点を中心に±10μmの幅に入っているか、すなわ
ち、ウエハ固定部1の表面全体が光軸に対して垂直であ
って互いに20μm離間している仮想平面の間の領域内
に収まっているかを測定し、この条件をみたしていなけ
れば上記傾き調整機構によりウエハ固定部1の傾きを調
整し、再度ダイヤルゲージでウエハ固定部1の表面の状
態を測定する。以上のような手順をウエハ固定部1の表
面全体が上記20μm離間した空間内に収まるまで繰り
返す。
【0033】なお、上記のような傾き調節機構が構成さ
れたウエハ固定部1と接続部材2は、接続部材2の貫通
孔6を貫通しウエハ固定部1の裏面に設けられている雌
ねじ孔8と螺合する3個の固定用ねじ7によって固定さ
れる。ここで、固定用ねじ7はスプリングワッシャ9を
貫通しており、このスプリングワッシャ9の弾性力によ
りウエハ固定部1は接続部材2に押しつけられている。
この押しつけ力により、V溝体4a,4b,4cの各V
溝部と3個のボール先ねじ5のボールとの対偶が強固に
保持され、ウエハ処理ステージが何度もX−Y方向に移
動しても3個のボール先ねじ5が緩むことなくウエハ固
定部1の傾きが維持される。
【0034】以上のように、本発明に係るウエハ処理ス
テージはウエハ固定部1の傾き調節機構を有しているの
で、図6に示すような従来のウエハ処理ステージと比較
して以下の利点がある。
【0035】(1)図4から明らかなように、傾き調整
時の支点はVa−Vbライン上、Vb−Vcライン上、
Vc−Vaライン上にあり、力点はボール先ねじ5の先
端である。一方、従来のウエハ処理ステージにおいては
支点がOリング63であり力点はセットビス57の先端
である。よって、力点支点間距離が本発明のウエハ処理
ステージの方が長いので、ボール先ねじ5の単位長さ当
たりの移動によるウエハ固定部1の傾きの変化は、図6
に示す従来のウエハ処理ステージにおいてセットビス5
7の単位長さ当たりの移動によるウエハ固定部51の傾
きの変化より小さくなる。すなわち、従来のウエハ処理
ステージに比べて、より微妙な傾き調整を行うことが可
能となり、調整を短時間で行うことができる。
【0036】(2)また、スプリングワッシャ9を貫通
する3個の固定用ねじ7の押しつけ力により、V溝体4
a,4b,4cの各V溝部と3個のボール先ねじ5のボ
ールとの対偶が強固に保持され、ウエハ処理ステージが
何度もX−Y方向に移動しても3個のボール先ねじ5が
緩むことなくウエハ固定部1の傾きが維持される。
【0037】以上のように、本発明に係るウエハ処理ス
テージにおいては、ウエハ固定部1の傾き調節機構によ
り、熟練を要することなく簡単にウエハ固定部1の傾き
を調整することができ、傾き調整後ウエハ処理ステージ
が何度もX−Y方向に移動してもウエハ固定部1の傾き
が維持されるので、ウエハの周辺部の不要レジストの露
光において、露光期間中ウエハの周辺部表面(レジスト
表面)と導光ファイバの出射端側に配置されている投影
レンズとの距離は所定範囲内に維持され、ウエハの周辺
部の全周に渡って不要レジストの露光部分と非露光部分
の境界部における照度の変化をシャープにすることがで
き、現像後のレジストがテーパ状に残存するのを防止す
ることができる。
【0038】ところで、前記したようにV溝部を有する
V溝体4a,4b,4cは、同心円状に等角度間隔でウ
エハ固定部1の裏面に配置されていて、(1)各V溝部
に一致する仮想線a,b,cは一点で交わっており、
(2)しかもこの交点はウエハ固定部1の中心と略一致
しているが、V溝体4a,4b,4cの配置はこれに限
るものではない。しかしながら、以下の理由のため、上
記構成が好ましいものであると考えられる。
【0039】(1)仮想線a,b,cが一点で交わる場
合は、周囲温度の変化によるウエハ固定部1の熱伸縮は
上記交点を基準とした伸縮となりウエハ固定部1自体は
動かない。一方、仮想線a,b,cが一点で交わらない
場合、周囲温度の変化によるウエハ固定部1の熱伸縮は
上記のようなある点を中心とした伸縮とはならず、熱伸
縮の結果ウエハ固定部1は回転方向に移動する。
【0040】互いに直行する二方向を向いた辺からなる
階段状の不要レジストを露光する場合は、ウエハ固定部
1に載置されたウエハW、あるいは、露光光を放出する
導光ファイバの出射端を上記二方向と一致したX−Y方
向(互いに直行する二方向)に移動させているので、露
光中にウエハ固定部1が移動してウエハWが回転してし
まうと、所望の露光を達成できない。回路パターンの微
細化が進むにつれ回路パターンとの境界近傍での不要レ
ジストの露光位置精度が向上し、またウエハの大口径化
が進むにつれ不要レジストの露光にかかる時間が増大す
る傾向にあるので、将来的に上記熱伸縮によるウエハ固
定部1の移動の問題を看過できなくなる可能性もある。
よって、V溝部に一致する仮想線a,b,cは一点で交
わることが望ましい。
【0041】(2)ウエハ周辺露光工程においては、階
段状の不要レジストを露光する場合の他にウエハ周辺部
のレジストをウエハのエッジから一定の幅で環状に露光
する場合もある。この場合は、ウエハのエッジから一定
の幅の領域を照射するように露光光が放出される導光フ
ァイバの出射端の位置を位置制御しながら、ウエハが固
定されたウエハ処理ステージを回転させる。
【0042】このように露光中にウエハを処理ステージ
を回転させるとき、仮想線a,b,cが一点で交わる交
点がウエハ固定部1の中心と一致しない場合は、ウエハ
固定部1は上記交点を基準点とした熱伸縮が起こるので
熱伸縮時のウエハ固定部1の中心と回転中心との間に偏
心が発生し慣性モーメントの影響を受けるが、上記交点
がウエハ固定部1の中心と略一致すれば、熱伸縮時のウ
エハ固定部1の中心と回転中心との間に偏心が発生しな
いので慣性モーメントの影響を受けず、安定した回転が
実現できる。よって、上記交点はウエハ固定部1の中心
と略一致させておけば、本発明に係るウエハ処理ステー
ジは、ウエハの周辺部を階段状に露光する装置にも、環
状に露光する装置にも共通して用いることができる。
【0043】また、図4においては、3個の固定用ねじ
7はおのおの上記仮想線a,b,c上にあって同心円状
に配置されている例が示されているが、これに限るもの
ではない。しかしながら、以下の理由のため、上記構成
が好ましいものであると考えられる。
【0044】ウエハ固定部1はV溝体4a,4b,4c
の各V溝部と対偶する3個のボール先ねじ5によって上
方向の力が付勢される一方で、3個の固定用ねじ7の貫
通するスプリングワッシャ9の弾性力によりウエハ固定
部1は下方向の力が付勢されて接続部材2に押しつけら
れる。ここで、図4のように、ウエハ固定部1の中心で
交差し互いになす角度がそれぞれ等角度である仮想線
a,b,c上にあって、かつ、同心円状にボール先ねじ
5による上方向の力の作用点と固定用ねじ7の貫通する
スプリングワッシャ9による下方向の力の作用点とが各
々配置されていると、これらの力によりウエハ固定部1
の歪みが生じたとしても、この歪みはウエハ固定部1の
中心に対して対称に発生する。よって、ウエハ固定部1
の周辺部においてもウエハ固定部1の中心に対して対称
に歪むので、当該歪みが発生したとしてもウエハ固定部
1の表面の円周状の真空吸着溝13とウエハWとは一様
に接触することになり、真空吸着に対する影響は少ない
と考えられる。
【0045】一方、V溝体4a,4b,4cの各V溝部
と対偶する3個のボール先ねじ5の位置とスプリングワ
ッシャ9を貫通する3個の固定用ねじ7の位置との配置
関係が図4のような関係でなければ、ウエハ固定部1の
歪みが生じたとしても、この歪みはウエハ固定部1の中
心に対して対称には発生しない。よって、当該歪みが発
生した場合、ウエハ固定部1の表面の円周状の真空吸着
溝13とウエハWとの接触は一様ではなくなり、場合に
よっては、リークが発生してしまうと考えられる。よっ
て、上記図4に示したような構成が好ましいものと考え
られる。
【0046】
【実施例】以下、本発明のウエハ処理ステージの具体的
な実施例について説明するが、本発明はこれに限定され
るものではない。
【0047】図1〜図5に示す構成に従い、下記の条件
により、本発明に係るウエハ処理ステージを作成した。 ・ウエハ固定部1の直径:100mm ・V溝体4a,4b,4cの各V溝部の中心の位置 :ウエハ固定部1の中心との距離 38mm ウエハ固定部1の中心に対し120°間隔 ・ボール先ねじ5:ねじピッチ0.5mmの細めねじ ・隙間d:0.2mm
【0048】上記条件を満たすウエハ処理ステージにお
いて、ウエハ固定部1の接続部材2に対する傾き角度の
調節範囲は、±4°となった。ここで、3つのボール先
ねじ5のうち1つを手動で調整しうる最小回転角度であ
る5度だけ回転させると、ウエハ固定部1の周辺部は約
4.6μm上昇または下降した。すなわち、従来のウエ
ハ処理ステージにおいてウエハ固定部の周縁部の上昇距
離または下降距離が約117μmであったのに対し、2
5倍以上の微妙な傾き調整を行うことが可能となった。
【0049】
【発明の効果】本発明のウエハ処理ステージによれば、
ウエハ固定部の下面に3個のV溝体を設け、基材に該基
材表面に直角な方向に変位可能な3個の支持軸を設け、
上記3個のV溝体とそれぞれ対遇する上記3個の支持軸
により上記ウエハ固定部が上記基材に対する傾斜角度が
調節可能であるように支持したので、傾き調整時の力点
支点間距離をある程度長くすることができ、従来のウエ
ハ処理ステージに比べて、より微妙なウエハ固定部の傾
き調整を行うことが可能となりこの調整を短時間で行う
ことができる。
【0050】また、上記基材に3個の貫通孔を設け、上
記ウエハ固定部材の下面に3個の雌ねじ孔が設け、3個
のスプリングワッシャと上記3個の貫通孔とを貫通する
3個の雄ねじと上記雌ねじとをそれぞれ螺合させれば、
上記スプリングワッシャを貫通する3個の雄ねじの押し
つけ力により、3個のV溝体の各V溝部と3個の支持軸
との対偶が強固に保持され、ウエハ処理ステージが何度
も互いに直交する二方向に移動したり、回転したりして
もウエハ固定部の傾きが安定に維持される。
【0051】また、上記3個のV溝体を上記円板状のウ
エハ固定部の中心に対して同心円状であって上記3個の
V溝体の方向に一致する仮想線が一点で交わるように配
置すれば、周囲温度の変化によるウエハ固定部の熱伸縮
は上記交点を基準とした伸縮となりウエハ固定部自体が
動かない。よって、露光位置精度が向上し、ウエハの大
口径化による不要レジストの露光にかかる時間が増大し
ても、階段状の不要レジストの互いに直行する二方向を
向いた辺の方向と露光光がウエハに対して相対的に移動
する互いに直行する二方向とがずれることがなく、所望
の露光を達成できる。
【0052】ここで、上記仮想線の交点を上記円板状の
ウエハ固定部の中心と略一致させておけば、ウエハ処理
ステージを回転させながらウエハ周辺部のレジストをウ
エハのエッジから一定の幅で環状に露光する場合におい
て、ウエハ固定部の熱伸縮は回転中心を中心に発生する
ので、安定した回転が実現できる。
【0053】上記ウエハ固定部1は3個のV溝体の各V
溝部と対偶する3個の支持軸によって上方向の力が付勢
される一方で、3個の雄ねじの貫通するスプリングワッ
シャの弾性力により下方向の力が付勢されて上記基材に
押しつけられる。上記3個の雌ねじと螺合する上記3個
の雄ねじを、上記円板状のウエハ固定部の中心に対して
同心円状であって、上記仮想線上に位置させ、かつ、上
記真空吸着部をウエハ固定部の表面の周辺部に円周状に
設けられておけば、これらの上方向ならびに下方向の力
によりウエハ固定部の歪みが生じたとしても、この歪み
はウエハ固定部の中心に対して対称に発生し、ウエハ固
定部の周辺部においても該中心に対して対称に歪むの
で、ウエハ固定部の表面の円周状の真空吸着部とウエハ
とは一様に接触し、上記歪みの真空吸着に対する影響は
少なくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るウエハ周辺露光装置のウエハ処理
ステージの構成を説明する図である。
【図2】本発明に係るウエハ周辺露光装置のウエハ処理
ステージの構成を説明する図である。
【図3】接続部材2の底面を表す図である。
【図4】ウエハ固定部1を表す図である。
【図5】隙間dを説明する図である。
【図6】ウエハ周辺露光装置における従来のウエハ処理
ステージの構成例を示す図である。
【図7】不要レジスト上の露光部分と非露光部分の境界
部における照度の変化と現像後のレジストの形状を示す
図である。
【図8】ウエハ固定部の表面と光軸に対して垂直であっ
て互いに20μm離間している仮想平面の間の領域との
関係を説明する図である。
【符号の説明】
1 ウエハ固定部 2 接続部材 3 回転軸 4a,4b,4c V溝体 5 ボール先ねじ 6 貫通孔 7 固定用ねじ 8 雌ねじ孔 9 スプリングワッシャ 10 段部 11 突出部 12 凹部 13 真空吸着溝 14 吸引路 15 接続パイプ挿入孔 16 貫通孔 17 接続パイプ挿入孔 18 吸引路 19 接続パイプ 20 Oリング溝 21 Oリング溝 22 Oリング 23 Oリング 24 固定部材 a,b,c 仮想線 W ウエハ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウエハ上の不要レジストを露光するウエ
    ハ周辺露光装置において当該ウエハを吸着保持するウエ
    ハ処理ステージであって、 駆動手段に接続され該駆動手段により互いに直行する二
    方向および回転方向に駆動され内部に真空吸着路を有す
    る軸と、 該軸に取りつけられ中央部に孔を有するフランジ状の基
    材と、 表面にウエハを吸着固定するための真空吸着部が設けら
    れ内部に該真空吸着部と連通するウエハ吸着固定用通路
    が設けられている円板状のウエハ固定部とからなり、 該ウエハ固定部と該軸とは上記フランジ状の基材の孔を
    貫通し該ウエハ固定部のウエハ吸着固定用通路と上記軸
    の真空吸着路とを連結するための接続パイプにより接続
    されていて、 上記ウエハ固定部の下面には3個のV溝体が設けられ、 上記基材には該基材表面に直角な方向に変位可能な3個
    の支持軸が設けられ、 上記3個のV溝体とそれぞれ対遇する上記3個の支持軸
    により上記ウエハ固定部が上記基材に対する傾斜角度が
    調節可能であるように支持されていることを特徴とする
    ウエハ周辺露光装置のウエハ処理ステージ。
  2. 【請求項2】 上記基材には3個の貫通孔が設けられ、 上記ウエハ固定部材の下面には3個の雌ねじ孔が設けら
    れ、 3個のスプリングワッシャと上記3個の貫通孔とを貫通
    する3個の雄ねじと上記雌ねじとがそれぞれ螺合してい
    ることを特徴とする請求項1に記載のウエハ周辺露光装
    置のウエハ処理ステージ。
  3. 【請求項3】上記3個のV溝体は上記円板状のウエハ固
    定部の中心に対して同心円状であって、 上記3個のV溝体の方向に一致する仮想線が一点で交わ
    るように配置されていることを特徴とする請求項1、2
    のいずれかに記載のウエハ周辺露光装置のウエハ処理ス
    テージ。
  4. 【請求項4】上記仮想線の交点が上記円板状のウエハ固
    定部の中心と略一致していることを特徴とする請求項3
    に記載のウエハ周辺露光装置のウエハ処理ステージ。
  5. 【請求項5】上記3個の雌ねじと螺合する上記3個の雄
    ねじは上記円板状のウエハ固定部の中心に対して同心円
    状であって、上記仮想線上に位置していて、上記真空吸
    着部はウエハ固定部の表面の周辺部に円周状に設けられ
    ていることを特徴とする請求項4に記載のウエハ周辺露
    光装置のウエハ処理ステージ。
JP08463097A 1997-03-19 1997-03-19 ウエハ周辺露光装置のウエハ処理ステージ Expired - Fee Related JP3313609B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08463097A JP3313609B2 (ja) 1997-03-19 1997-03-19 ウエハ周辺露光装置のウエハ処理ステージ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP08463097A JP3313609B2 (ja) 1997-03-19 1997-03-19 ウエハ周辺露光装置のウエハ処理ステージ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10261582A true JPH10261582A (ja) 1998-09-29
JP3313609B2 JP3313609B2 (ja) 2002-08-12

Family

ID=13836014

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP08463097A Expired - Fee Related JP3313609B2 (ja) 1997-03-19 1997-03-19 ウエハ周辺露光装置のウエハ処理ステージ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3313609B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020175191A1 (ja) * 2019-02-27 2020-09-03 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理システム及び載置台を位置合わせする方法
KR20210127747A (ko) * 2019-02-27 2021-10-22 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 처리 장치, 기판 처리 시스템 및 적재대를 위치 정렬하는 방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020175191A1 (ja) * 2019-02-27 2020-09-03 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理システム及び載置台を位置合わせする方法
KR20210127747A (ko) * 2019-02-27 2021-10-22 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 처리 장치, 기판 처리 시스템 및 적재대를 위치 정렬하는 방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP3313609B2 (ja) 2002-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR0145257B1 (ko) 위치결정 스테이지 장치
US20080202421A1 (en) Mask and substrate alignment for solder bump process
US5323712A (en) Table moving apparatus
US20050030653A1 (en) Facet mirror having a number of mirror facets
JP2008198797A (ja) 基板位置検出装置及びその撮像手段位置調整方法
US20150033886A1 (en) Driving apparatus with taper screw and elastic driving member to displace object
US5543890A (en) Process and device for adjusting the distance between a workpiece and a mask
US4198159A (en) Optical alignment system in projection printing
JP4670503B2 (ja) 押圧装置および押圧方法
JPH0831513B2 (ja) 基板の吸着装置
JP3175058B2 (ja) 基板の位置決め装置および基板の位置決め方法
JP3313609B2 (ja) ウエハ周辺露光装置のウエハ処理ステージ
US6237393B1 (en) Wafer center alignment device and method of wafer alignment
JP3322167B2 (ja) マスク保持フレームの支持構造
JP3142285B2 (ja) イオン注入装置及び方法
JPH06326174A (ja) ウェハ真空吸着装置
US20060017909A1 (en) Stage apparatus, exposure apparatus, and semiconductor device manufacturing mehtod
US4521114A (en) Single lens repeater
JPH0831515B2 (ja) 基板の吸着装置
SE457034B (sv) Anordning vid fotoexponeringssystem foer halvledarskivor med en kamera foer exponering av skivan foer att framstaella halvledaranordningar.
WO1985000075A1 (en) Wafer height correction system for focused beam system
JPH09219437A (ja) 位置決め装置
JPH05283511A (ja) 真空吸着装置
JP3143896B2 (ja) 荷電粒子線露光装置
US20210288004A1 (en) High precision bonding apparatus comprising heater

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080531

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090531

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100531

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees