JPH10240196A - 液晶パネルの駆動方法および液晶装置並びに投写型表示装置 - Google Patents
液晶パネルの駆動方法および液晶装置並びに投写型表示装置Info
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- JPH10240196A JPH10240196A JP4438097A JP4438097A JPH10240196A JP H10240196 A JPH10240196 A JP H10240196A JP 4438097 A JP4438097 A JP 4438097A JP 4438097 A JP4438097 A JP 4438097A JP H10240196 A JPH10240196 A JP H10240196A
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- data
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の画像データ変換方式は、液晶パネルの
外部に画像データを一時蓄えるメモリが必要であるとと
もに、リアルタイムの表示を行なうには高速演算が可能
な演算装置ないしはデータ処理装置が必要であるため、
システムのコストが高くなるという問題点があった。 【解決手段】 水平方向の画像データは水平方向ドット
数に対応したクロック信号によってサンプリングを行な
い不足する画素データを隣接する画素データで置き換え
ることで補間するとともに、垂直方向に関しては上下2
つの表示ラインの画素データの平均をとった画素データ
を形成して補間するようにした。
外部に画像データを一時蓄えるメモリが必要であるとと
もに、リアルタイムの表示を行なうには高速演算が可能
な演算装置ないしはデータ処理装置が必要であるため、
システムのコストが高くなるという問題点があった。 【解決手段】 水平方向の画像データは水平方向ドット
数に対応したクロック信号によってサンプリングを行な
い不足する画素データを隣接する画素データで置き換え
ることで補間するとともに、垂直方向に関しては上下2
つの表示ラインの画素データの平均をとった画素データ
を形成して補間するようにした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置(液
晶パネル)における画像信号変換方法に関し、特にFE
T(電界効果型トランジスタ)によって液晶を駆動する
アクティブマトリックスLCD(液晶表示装置)におい
て規格の異なる表示方式の画像信号が入力されたときの
表示方法に利用して好適な技術に関する。また、本発明
は、異なる規格の画像信号を表示する場合の画像データ
の演算機能を有する反射型液晶パネルに関する。
晶パネル)における画像信号変換方法に関し、特にFE
T(電界効果型トランジスタ)によって液晶を駆動する
アクティブマトリックスLCD(液晶表示装置)におい
て規格の異なる表示方式の画像信号が入力されたときの
表示方法に利用して好適な技術に関する。また、本発明
は、異なる規格の画像信号を表示する場合の画像データ
の演算機能を有する反射型液晶パネルに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、アクティブマトリクス型液晶表示
装置としては、ガラス基板上にマトリックス状に画素電
極を形成すると共に、各画素電極に対応してアモルファ
スシリコン等を用いたTFTを1対1で形成して、各画
素電極にTFTにより電圧を印加して液晶を駆動するよ
うにした構成の液晶表示装置が実用化されている。
装置としては、ガラス基板上にマトリックス状に画素電
極を形成すると共に、各画素電極に対応してアモルファ
スシリコン等を用いたTFTを1対1で形成して、各画
素電極にTFTにより電圧を印加して液晶を駆動するよ
うにした構成の液晶表示装置が実用化されている。
【0003】かかる液晶表示装置においては、画素の微
細化並びに表示画面の大容量化に伴ってXGA(Extend
ed Graphics Array)規格に従った1024×768ド
ットのような高解像度の液晶パネルも実用化されてい
る。このような高解像度の液晶表示装置を備えたシステ
ムにおいて、VGA(Video Graphics Array)規格に従
った作成された640×480ドットのような低解像度
の画像データやSVGA(Super Video Graphics Arra
y)規格に従った作成された800×600ドットのよ
うな低解像度の画像データを表示させる場合、そのまま
のタイミングで画像を表示させると、画面の一部に画像
が表示され、画面全体に画像を表示させることができな
いとう不具合がある。
細化並びに表示画面の大容量化に伴ってXGA(Extend
ed Graphics Array)規格に従った1024×768ド
ットのような高解像度の液晶パネルも実用化されてい
る。このような高解像度の液晶表示装置を備えたシステ
ムにおいて、VGA(Video Graphics Array)規格に従
った作成された640×480ドットのような低解像度
の画像データやSVGA(Super Video Graphics Arra
y)規格に従った作成された800×600ドットのよ
うな低解像度の画像データを表示させる場合、そのまま
のタイミングで画像を表示させると、画面の一部に画像
が表示され、画面全体に画像を表示させることができな
いとう不具合がある。
【0004】また、SXGA(Super Extended Graphic
s Array)規格に従った1240×1024ドットのよ
うなXGAに比べて高解像度の画像データを表示させる
場合には画像データの一部が欠け、全体を表示すること
ができないという不具合もある。
s Array)規格に従った1240×1024ドットのよ
うなXGAに比べて高解像度の画像データを表示させる
場合には画像データの一部が欠け、全体を表示すること
ができないという不具合もある。
【0005】そこで、従来は液晶パネルの外部にライン
メモリやフレームメモリを設けて、低解像度の表示方式
の画像信号をディジタル信号に変換してから演算処理に
よって不足している画像データ(ドットデータ)を補間
してフル画面表示を行なったり、高解像度の表示方式の
画像データを間引いて全画面表示を行なうようにしてい
た。
メモリやフレームメモリを設けて、低解像度の表示方式
の画像信号をディジタル信号に変換してから演算処理に
よって不足している画像データ(ドットデータ)を補間
してフル画面表示を行なったり、高解像度の表示方式の
画像データを間引いて全画面表示を行なうようにしてい
た。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の画像データ
変換方式は、液晶パネルの外部に画像データを一時蓄え
るメモリが必要であるとともに、リアルタイムの表示を
行なうには高速演算が可能な演算装置ないしはデータ処
理装置が必要であるため、システムのコストが高くなる
という問題点があった。
変換方式は、液晶パネルの外部に画像データを一時蓄え
るメモリが必要であるとともに、リアルタイムの表示を
行なうには高速演算が可能な演算装置ないしはデータ処
理装置が必要であるため、システムのコストが高くなる
という問題点があった。
【0007】この発明は、外部メモリを付加したり高価
な演算装置やデータ処理装置を用いることなく、高解像
度の液晶パネルに低解像度の表示方式に従った画像デー
タを表示させることができる液晶パネルおよびその駆動
方法を提供することにある。この発明の他の目的は、低
解像度の液晶パネルに高解像度の表示方式に従った画像
データを表示させることができる液晶パネルおよびその
駆動方法を提供することにある。
な演算装置やデータ処理装置を用いることなく、高解像
度の液晶パネルに低解像度の表示方式に従った画像デー
タを表示させることができる液晶パネルおよびその駆動
方法を提供することにある。この発明の他の目的は、低
解像度の液晶パネルに高解像度の表示方式に従った画像
データを表示させることができる液晶パネルおよびその
駆動方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明は上記目的を達
成するため、時系列的に伝送される入力画像データを水
平方向画素数に対応したクロック信号によってサンプリ
ングを行って、サンプリングした画像データを複数のデ
ータ線に供給し、各画素へは、入力画像データにおける
垂直方向に隣接する複数の走査ライン用の入力画像デー
タから演算合成した画像データを供給するようにしたも
のである。
成するため、時系列的に伝送される入力画像データを水
平方向画素数に対応したクロック信号によってサンプリ
ングを行って、サンプリングした画像データを複数のデ
ータ線に供給し、各画素へは、入力画像データにおける
垂直方向に隣接する複数の走査ライン用の入力画像デー
タから演算合成した画像データを供給するようにしたも
のである。
【0009】また、この発明は、入力画像データにおけ
る垂直方向に隣接する走査ライン用の画像データに基づ
く各画素へ供給する画像データの演算合成は、データ線
に供給される画像データを、時間軸上で重み付け演算し
て合成するようにしたものである。
る垂直方向に隣接する走査ライン用の画像データに基づ
く各画素へ供給する画像データの演算合成は、データ線
に供給される画像データを、時間軸上で重み付け演算し
て合成するようにしたものである。
【0010】これによって、外部メモリを付加したり高
価な演算装置やデータ処理装置を用いることなく、高解
像度の液晶パネルに低解像度の表示方式に従った画像デ
ータを表示させることができるようになる。
価な演算装置やデータ処理装置を用いることなく、高解
像度の液晶パネルに低解像度の表示方式に従った画像デ
ータを表示させることができるようになる。
【0011】前記演算回路としては、例えば1組の保持
容量と、保持容量とデータ線との間に接続された1組の
サンプリング用スイッチ素子と、保持容量と画素電極と
の間に接続された1組の合成用スイッチ素子とからなる
電荷合成による加算回路が考えられる。この加算回路
は、前記1組のサンプリング用スイッチ素子を各々異な
る時間だけ導通させることができるようにするため別々
の走査線を設けて制御端子を接続するとともに、それら
のサンプリング用スイッチ素子の導通時間を所定の比率
に設定することで2つの画像データを所定の割合でサン
プリングした後、前記合成用スイッチ素子を導通させて
前記1組の保持容量にチャージされている電荷を合成し
て得た電圧を画素電極に印加するように動作させること
ができる。
容量と、保持容量とデータ線との間に接続された1組の
サンプリング用スイッチ素子と、保持容量と画素電極と
の間に接続された1組の合成用スイッチ素子とからなる
電荷合成による加算回路が考えられる。この加算回路
は、前記1組のサンプリング用スイッチ素子を各々異な
る時間だけ導通させることができるようにするため別々
の走査線を設けて制御端子を接続するとともに、それら
のサンプリング用スイッチ素子の導通時間を所定の比率
に設定することで2つの画像データを所定の割合でサン
プリングした後、前記合成用スイッチ素子を導通させて
前記1組の保持容量にチャージされている電荷を合成し
て得た電圧を画素電極に印加するように動作させること
ができる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施例を図
面に基づいて説明する。
面に基づいて説明する。
【0013】図1には本発明に係るアクティブマトリッ
クス型液晶パネルを用いた表示システムにおける表示制
御回路の一実施例のブロック図を示す。
クス型液晶パネルを用いた表示システムにおける表示制
御回路の一実施例のブロック図を示す。
【0014】図1において、1は本発明に係るアクティ
ブマトリックス型液晶パネル、2は入力画像信号VID
EOをガンマ補正したり増幅したりする画像信号処理回
路、3は増幅された画像信号を所定周期(本発明では少
なくともフィールド周期)で極性反転(液晶の共通電極
電位に対する画像信号の電位の極性を反転)して液晶パ
ネル1に供給する極性反転回路、4は入力画像信号の表
示モードすなわちいずれの表示規格の画像信号であるか
を判定するモード判定回路、5は水平同期信号HSYN
Cに基づいて入力側クロック信号OSCを形成するPL
L(フェーズ・ロックド・ループ)回路、6は前記入力
側クロック信号OSCおよび垂直同期信号VSYNCに
基づいて液晶パネル1の駆動回路に含まれるシフトレジ
スタに対するシフトスタート信号DX,DYやシフト動
作クロックCLX,CLY、前記極性反転回路3に対す
る極性反転の切り換えを制御するタイミング信号DPT
等を形成し出力するタイミング信号発生回路である。
ブマトリックス型液晶パネル、2は入力画像信号VID
EOをガンマ補正したり増幅したりする画像信号処理回
路、3は増幅された画像信号を所定周期(本発明では少
なくともフィールド周期)で極性反転(液晶の共通電極
電位に対する画像信号の電位の極性を反転)して液晶パ
ネル1に供給する極性反転回路、4は入力画像信号の表
示モードすなわちいずれの表示規格の画像信号であるか
を判定するモード判定回路、5は水平同期信号HSYN
Cに基づいて入力側クロック信号OSCを形成するPL
L(フェーズ・ロックド・ループ)回路、6は前記入力
側クロック信号OSCおよび垂直同期信号VSYNCに
基づいて液晶パネル1の駆動回路に含まれるシフトレジ
スタに対するシフトスタート信号DX,DYやシフト動
作クロックCLX,CLY、前記極性反転回路3に対す
る極性反転の切り換えを制御するタイミング信号DPT
等を形成し出力するタイミング信号発生回路である。
【0015】図2および図3は、本発明が適用される液
晶パネルの画素電極側の基板の一例を示す。特に限定さ
れるものでないが、この実施例の液晶パネルは標準でX
GA規格の表示が行なえるように、1024ドット×7
68ライン分の画素電極が設けられている。
晶パネルの画素電極側の基板の一例を示す。特に限定さ
れるものでないが、この実施例の液晶パネルは標準でX
GA規格の表示が行なえるように、1024ドット×7
68ライン分の画素電極が設けられている。
【0016】図2において、11および12は互いに交
差するように配設された走査線およびデータ線、13は
外部から入力されるアナログ画像信号Videoを順次
取り込んで保持するサンプリング回路、14は画像信号
Videoをサンプリング回路13に取り込むタイミン
グを与えるサンプリングクロック信号X(m-1) ,X(m)
,X(m+1) ‥‥‥を順次形成するXシフトレジスタ、
15はサンプリング回路13に取り込まれた画像データ
をデータ線12に供給するためのセレクタ回路、16は
前記走査線11を順番に選択して行くためのスキャンク
ロック信号Y(n-1) ,Y(n) ,Y(n+1) ‥‥‥を形成す
るYシフトレジスタである。
差するように配設された走査線およびデータ線、13は
外部から入力されるアナログ画像信号Videoを順次
取り込んで保持するサンプリング回路、14は画像信号
Videoをサンプリング回路13に取り込むタイミン
グを与えるサンプリングクロック信号X(m-1) ,X(m)
,X(m+1) ‥‥‥を順次形成するXシフトレジスタ、
15はサンプリング回路13に取り込まれた画像データ
をデータ線12に供給するためのセレクタ回路、16は
前記走査線11を順番に選択して行くためのスキャンク
ロック信号Y(n-1) ,Y(n) ,Y(n+1) ‥‥‥を形成す
るYシフトレジスタである。
【0017】この実施例の液晶パネル用基板において
は、走査線11が各表示ライン(1画素行)に対してそ
れぞれ3本ずつ設けられており、Yシフトレジスタ16
からの信号に基づいてそれらの走査線11a,11b,
11cを所定のタイミングで選択レベルにするゲート制
御信号Ga(n-1) ,Ga(n) ,Ga(n+1) ‥‥‥‥、G
b(n-1) ,Gb(n) ,Gb(n+1) ‥‥‥およびGc(n-
1) ,Gc(n) ,Gc(n+1) ‥‥‥を形成するタイミン
グ制御回路17が設けられている。
は、走査線11が各表示ライン(1画素行)に対してそ
れぞれ3本ずつ設けられており、Yシフトレジスタ16
からの信号に基づいてそれらの走査線11a,11b,
11cを所定のタイミングで選択レベルにするゲート制
御信号Ga(n-1) ,Ga(n) ,Ga(n+1) ‥‥‥‥、G
b(n-1) ,Gb(n) ,Gb(n+1) ‥‥‥およびGc(n-
1) ,Gc(n) ,Gc(n+1) ‥‥‥を形成するタイミン
グ制御回路17が設けられている。
【0018】1組の走査線11a,11b,11cとデ
ータ線12との交点には画素電極31を有する画素演算
回路30がそれぞれ設けられている。各画素演算回路3
0は、画素電極31とデータ線12との間に直列形態に
接続されたFET対32a,33aおよび32b,33
bと、各対のFET32a,32bと33a,33bの
接続ノードn1,n2と接地電位のような定電位を供給
するラインGND1との間に接続された1組の保持容量
34a,34bとにより構成されており、上記2組のF
ET32a,32bと33a,33bのうち32aと3
2bのゲートは走査線11aと11bにそれぞれ接続さ
れ、33aと33bのゲートは共通走査線11cに共通
に接続されている。
ータ線12との交点には画素電極31を有する画素演算
回路30がそれぞれ設けられている。各画素演算回路3
0は、画素電極31とデータ線12との間に直列形態に
接続されたFET対32a,33aおよび32b,33
bと、各対のFET32a,32bと33a,33bの
接続ノードn1,n2と接地電位のような定電位を供給
するラインGND1との間に接続された1組の保持容量
34a,34bとにより構成されており、上記2組のF
ET32a,32bと33a,33bのうち32aと3
2bのゲートは走査線11aと11bにそれぞれ接続さ
れ、33aと33bのゲートは共通走査線11cに共通
に接続されている。
【0019】保持容量34a,34bとデータ線12と
の間に接続された1組のFET32a,32bはデータ
線12上の信号レベル(画像データ)を保持容量34
a,34bに取り込むサンプリング用スイッチ素子とし
て機能し、保持容量34a,34bと画素電極31との
間に接続された1組のFET33a,33bは保持容量
34a,34bの充電電荷を容量34a,34bと液晶
容量CLCで容量分割した結果としての電圧を画素電極3
1に印加する合成用スイッチ素子として機能する。
の間に接続された1組のFET32a,32bはデータ
線12上の信号レベル(画像データ)を保持容量34
a,34bに取り込むサンプリング用スイッチ素子とし
て機能し、保持容量34a,34bと画素電極31との
間に接続された1組のFET33a,33bは保持容量
34a,34bの充電電荷を容量34a,34bと液晶
容量CLCで容量分割した結果としての電圧を画素電極3
1に印加する合成用スイッチ素子として機能する。
【0020】Xシフトレジスタ14は、図3に示すよう
に、互いに入力端子と出力端子が結合された1対のイン
バータからなるラッチ回路LTがデータ線12の数だけ
伝送用インバータTGを介して縦続接続されてなり、外
部から供給されるスタート信号Dxによってシフト動作
を開始する。本実施例のXGA規格の液晶パネルにSV
GA規格の画像信号が入力されて表示を行なう場合、1
ライン当たりすなわち1水平期間中に1352個のパル
スを有するようなXクロック信号CLX,/CLX(/
CLXはCLXと逆相の信号)に基づいてシフト動作し
て、図4のように、互いに位相のずれたワンショットパ
ルスからなるサンプリングクロック信号X(m-1) ,X
(m) ,X(m+1) ‥‥‥を出力する。
に、互いに入力端子と出力端子が結合された1対のイン
バータからなるラッチ回路LTがデータ線12の数だけ
伝送用インバータTGを介して縦続接続されてなり、外
部から供給されるスタート信号Dxによってシフト動作
を開始する。本実施例のXGA規格の液晶パネルにSV
GA規格の画像信号が入力されて表示を行なう場合、1
ライン当たりすなわち1水平期間中に1352個のパル
スを有するようなXクロック信号CLX,/CLX(/
CLXはCLXと逆相の信号)に基づいてシフト動作し
て、図4のように、互いに位相のずれたワンショットパ
ルスからなるサンプリングクロック信号X(m-1) ,X
(m) ,X(m+1) ‥‥‥を出力する。
【0021】ラッチ回路LTを構成する1対のインバー
タのうち帰還用インバータと、各ラッチ回路LTの入力
側に接続されラッチ回路へDxを伝える伝送用インバー
タTGとはクロックドインバータにより構成され、各段
の入力側の伝送用クロックドインバータと帰還用クロッ
クドインバータとは互いに逆相のXクロック信号CL
X,/CLXにより制御される。伝送用クロックドイン
バータは、奇数段と偶数段とでクロック信号の位相が逆
であるので、前段のラッチ回路のデータDxを順次次段
のラッチ回路に伝達して行くシフト動作を行なう。ま
た、各ラッチ回路の出力と次段のラッチ回路の出力との
論理積をとるNANDゲート回路G11,G12,G1
3‥‥‥が設けられており、次段のラッチ回路の出力が
立ち上がると前段のラッチ回路の出力が立ち下がること
で互いにパルスが重ならないサンプリングクロック信号
X(m-1) ,X(m) ,X(m+1) ‥‥‥を出力する。
タのうち帰還用インバータと、各ラッチ回路LTの入力
側に接続されラッチ回路へDxを伝える伝送用インバー
タTGとはクロックドインバータにより構成され、各段
の入力側の伝送用クロックドインバータと帰還用クロッ
クドインバータとは互いに逆相のXクロック信号CL
X,/CLXにより制御される。伝送用クロックドイン
バータは、奇数段と偶数段とでクロック信号の位相が逆
であるので、前段のラッチ回路のデータDxを順次次段
のラッチ回路に伝達して行くシフト動作を行なう。ま
た、各ラッチ回路の出力と次段のラッチ回路の出力との
論理積をとるNANDゲート回路G11,G12,G1
3‥‥‥が設けられており、次段のラッチ回路の出力が
立ち上がると前段のラッチ回路の出力が立ち下がること
で互いにパルスが重ならないサンプリングクロック信号
X(m-1) ,X(m) ,X(m+1) ‥‥‥を出力する。
【0022】なお、前記「1352」なる数は、この実
施例のXGA規格の液晶パネルにSVGA規格の画像信
号が入力される場合の数であり、液晶パネルの規格や入
力される画像信号が上記と異なる場合には、クロックC
LXのパルス数もそれに応じて変わるものである。XG
A規格の液晶パネルにSVGA規格の画像信号が入力さ
れる場合、例えばVESA(Video Electronics Standa
rd Association)規格に規定されるSVGA(60H
z)では水平ドット数が800、垂直ドット数が600
で、水平カウント数は1056であり(水平カウント数
1056と水平ドット数との差はブランク期間)、液晶
パネルのXGA規格の水平ドット数が「1024」であ
る。800:1056=1024:クロックCLXパル
ス数であるので、「1024」をSVGAの800で割
り、水平カウント数「1056」を掛けることにより得
られた値「1352」をクロックCLXの1水平期間の
パルス数とする。これにより、液晶パネルの水平方向の
画像データのサンプリング周期(1水平周期)は、伝送
される入力画像信号がそもそも有する1表示ラインの周
期(1水平周期)と同一にすることができる。さらに、
このクロックCLXのうちの1024個のパルスで入力
画像信号の1水平期間中のブランキング期間を除いた画
像信号部分のみをサンプリングすることにより、液晶パ
ネルにとって不足する画素分の画像データを、隣接する
画素の画像データにより補間したXGAに必要な1ライ
ン当たり1024ドットの画像データを得ることができ
る。
施例のXGA規格の液晶パネルにSVGA規格の画像信
号が入力される場合の数であり、液晶パネルの規格や入
力される画像信号が上記と異なる場合には、クロックC
LXのパルス数もそれに応じて変わるものである。XG
A規格の液晶パネルにSVGA規格の画像信号が入力さ
れる場合、例えばVESA(Video Electronics Standa
rd Association)規格に規定されるSVGA(60H
z)では水平ドット数が800、垂直ドット数が600
で、水平カウント数は1056であり(水平カウント数
1056と水平ドット数との差はブランク期間)、液晶
パネルのXGA規格の水平ドット数が「1024」であ
る。800:1056=1024:クロックCLXパル
ス数であるので、「1024」をSVGAの800で割
り、水平カウント数「1056」を掛けることにより得
られた値「1352」をクロックCLXの1水平期間の
パルス数とする。これにより、液晶パネルの水平方向の
画像データのサンプリング周期(1水平周期)は、伝送
される入力画像信号がそもそも有する1表示ラインの周
期(1水平周期)と同一にすることができる。さらに、
このクロックCLXのうちの1024個のパルスで入力
画像信号の1水平期間中のブランキング期間を除いた画
像信号部分のみをサンプリングすることにより、液晶パ
ネルにとって不足する画素分の画像データを、隣接する
画素の画像データにより補間したXGAに必要な1ライ
ン当たり1024ドットの画像データを得ることができ
る。
【0023】サンプリング回路13は、外部から入力さ
れた画像信号Videoがのる信号線(以下、ビデオライン
と称する)Lvid と接地電位のような定電位を供給する
ラインGND2との間に直列接続されたCMOSスイッ
チSW(SW1,SW2,・・・・・・)とサンプリング容量
Cs(Cs1,Cs2,・・・・・・)との組が、前記データ
線12の数の2倍の数だけ設けられ、2ライン分の画像
データを保持可能にされている。CMOSスイッチSW
のゲート端子の前段には、Xシフトレジスタ14から供
給されるサンプリングクロック信号X(m-1) ,X(m) ,
X(m+1) ‥‥‥を一方の入力とし他方の入力端子に2水
平期間を1周期とするつまり1水平期間ごとに反転する
制御信号A−Wまたはその反転信号/A−Wが入力され
それらの論理積をとるNANDゲート回路G1,G2,
G3‥‥‥が設けられている。サンプリングクロック信
号X(m-1) ,X(m) ,X(m+1) ‥‥‥のそれぞれは、N
ANDゲート回路G1,G2,G3‥‥‥のうちの2個
ずつの対のゲート(G1とG2,G3とG4,G5とG
6・・・・・・)に入力され、各対のNANDゲート回路Gm-
1 ,Gm ,Gm+1 ‥‥‥の他方の入力端子には制御信号
A−Wとその反転信号/A−Wがそれぞれ入力されるよ
うに構成されている。
れた画像信号Videoがのる信号線(以下、ビデオライン
と称する)Lvid と接地電位のような定電位を供給する
ラインGND2との間に直列接続されたCMOSスイッ
チSW(SW1,SW2,・・・・・・)とサンプリング容量
Cs(Cs1,Cs2,・・・・・・)との組が、前記データ
線12の数の2倍の数だけ設けられ、2ライン分の画像
データを保持可能にされている。CMOSスイッチSW
のゲート端子の前段には、Xシフトレジスタ14から供
給されるサンプリングクロック信号X(m-1) ,X(m) ,
X(m+1) ‥‥‥を一方の入力とし他方の入力端子に2水
平期間を1周期とするつまり1水平期間ごとに反転する
制御信号A−Wまたはその反転信号/A−Wが入力され
それらの論理積をとるNANDゲート回路G1,G2,
G3‥‥‥が設けられている。サンプリングクロック信
号X(m-1) ,X(m) ,X(m+1) ‥‥‥のそれぞれは、N
ANDゲート回路G1,G2,G3‥‥‥のうちの2個
ずつの対のゲート(G1とG2,G3とG4,G5とG
6・・・・・・)に入力され、各対のNANDゲート回路Gm-
1 ,Gm ,Gm+1 ‥‥‥の他方の入力端子には制御信号
A−Wとその反転信号/A−Wがそれぞれ入力されるよ
うに構成されている。
【0024】これによって、前記CMOSスイッチSW
は先ず奇数番目のものが順番にオンされ次に偶数番目の
ものが順番にオンするように制御される。その結果、奇
数番目のサンプリング容量Csに最初の1ライン分の画
像データが取り込まれ、次に偶数番目のサンプリング容
量Csに次の1ライン分の画像データが取り込まれて保
持されるように構成されている。
は先ず奇数番目のものが順番にオンされ次に偶数番目の
ものが順番にオンするように制御される。その結果、奇
数番目のサンプリング容量Csに最初の1ライン分の画
像データが取り込まれ、次に偶数番目のサンプリング容
量Csに次の1ライン分の画像データが取り込まれて保
持されるように構成されている。
【0025】そして、サンプリング容量Csに取り込ま
れた画像データはセレクタ回路15によって交互にデー
タ線12上へ伝送される。セレクタ回路15は、CMO
SスイッチSWと各データ線12との間にそれぞれ対を
なして接続された第2のCMOSスイッチSWs1,S
Ws2;SWs3,SWs4;‥‥‥により構成されて
おり、各対の第2CMOSスイッチSWsのうち一方に
1水平期間ごとに反転する前記制御信号A−Wと逆相の
制御信号A−Raと同相の制御信号A−Rbとによって
それぞれオン、オフ制御されるように構成されている。
従って、サンプリング回路13とセレクタ回路15は、
先ず最初の水平期間中に奇数番目のサンプリング容量に
1ライン分の画像データを取り込み、次の水平期間中に
それらを同時にデータ線12へ送るとともに次の1ライ
ン分の画像データを偶数番目のサンプリング容量に順次
取り込み、次の水平期間中にそれらを同時にデータ線1
2へ送る。このような動作を繰り返すことによって、順
次画像データを1ライン単位でデータ線12へ供給す
る。
れた画像データはセレクタ回路15によって交互にデー
タ線12上へ伝送される。セレクタ回路15は、CMO
SスイッチSWと各データ線12との間にそれぞれ対を
なして接続された第2のCMOSスイッチSWs1,S
Ws2;SWs3,SWs4;‥‥‥により構成されて
おり、各対の第2CMOSスイッチSWsのうち一方に
1水平期間ごとに反転する前記制御信号A−Wと逆相の
制御信号A−Raと同相の制御信号A−Rbとによって
それぞれオン、オフ制御されるように構成されている。
従って、サンプリング回路13とセレクタ回路15は、
先ず最初の水平期間中に奇数番目のサンプリング容量に
1ライン分の画像データを取り込み、次の水平期間中に
それらを同時にデータ線12へ送るとともに次の1ライ
ン分の画像データを偶数番目のサンプリング容量に順次
取り込み、次の水平期間中にそれらを同時にデータ線1
2へ送る。このような動作を繰り返すことによって、順
次画像データを1ライン単位でデータ線12へ供給す
る。
【0026】なお、BFF1,BFF2,BFF3‥‥
‥は、前記第2CMOSスイッチSWs1,SWs2,
SWs3‥‥‥とデータ線12との間に接続されたバッ
ファである。前記制御信号A−WやA−Ra,W−Rb
はそれぞれ外部のタイミング発生回路(図1参照)から
供給される。
‥は、前記第2CMOSスイッチSWs1,SWs2,
SWs3‥‥‥とデータ線12との間に接続されたバッ
ファである。前記制御信号A−WやA−Ra,W−Rb
はそれぞれ外部のタイミング発生回路(図1参照)から
供給される。
【0027】この実施例では、水平方向の画像データは
XGA規格の表示方式の水平方向ドット数に対応したク
ロック信号によってサンプリングを行なうように構成さ
れているため、SVGA規格の表示方式のような低解像
度の画像データが入力された場合、不足する画素データ
が隣接する画素データで自動的に補間して置き換えるよ
うになる。
XGA規格の表示方式の水平方向ドット数に対応したク
ロック信号によってサンプリングを行なうように構成さ
れているため、SVGA規格の表示方式のような低解像
度の画像データが入力された場合、不足する画素データ
が隣接する画素データで自動的に補間して置き換えるよ
うになる。
【0028】図2に示されているYシフトレジスタ16
は、Xシフトレジスタ14と同様に、互いに入力端子と
出力端子が結合された1対のインバータからなるラッチ
回路LTが表示ラインの数だけ伝送用インバータTGを
介して縦続接続されてなり、外部から供給されるスター
ト信号Dyによってシフト動作を開始し、本実施例の液
晶パネルがXGA規格の表示を行なう場合、1画面当た
りすなわち1垂直期間中に806個のパルスを有するよ
うなYクロック信号CLY,/CLYに基づいてシフト
動作して、互いに1周期ずつずれたワンショットパルス
からなるスキャンクロック信号Y(n-1) ,Y(n) ,Y(n
+1) ‥‥‥を出力する。
は、Xシフトレジスタ14と同様に、互いに入力端子と
出力端子が結合された1対のインバータからなるラッチ
回路LTが表示ラインの数だけ伝送用インバータTGを
介して縦続接続されてなり、外部から供給されるスター
ト信号Dyによってシフト動作を開始し、本実施例の液
晶パネルがXGA規格の表示を行なう場合、1画面当た
りすなわち1垂直期間中に806個のパルスを有するよ
うなYクロック信号CLY,/CLYに基づいてシフト
動作して、互いに1周期ずつずれたワンショットパルス
からなるスキャンクロック信号Y(n-1) ,Y(n) ,Y(n
+1) ‥‥‥を出力する。
【0029】ラッチ回路LTを構成する1対のインバー
タのうち帰還用インバータと、各ラッチ回路LTの入力
側に接続されラッチ回路へDyを伝える伝送用インバー
タTGとはクロックドインバータにより構成され、各段
の入力側の伝送用クロックドインバータと帰還用クロッ
クドインバータとは互いに逆相のXクロック信号CL
Y,/CLYにより制御される。伝送用クロックドイン
バータは、奇数段と偶数段とでクロック信号の位相が逆
であるので、前段のラッチ回路のデータDyを順次次段
のラッチ回路に伝達して行くシフト動作を行なう。各ラ
ッチ回路の出力と次段のラッチ回路の出力との論理積を
とるNANDゲート回路Gn-1 ,Gn ,Gn+1 ‥‥‥が
設けられており、次段のラッチ回路の出力が立ち上がる
と前段のラッチ回路の出力が立ち下がることで互いにパ
ルスが重ならないスキャンクロック信号Y(n-1) ,Y
(n) ,Y(n+1) ‥‥‥を出力する。
タのうち帰還用インバータと、各ラッチ回路LTの入力
側に接続されラッチ回路へDyを伝える伝送用インバー
タTGとはクロックドインバータにより構成され、各段
の入力側の伝送用クロックドインバータと帰還用クロッ
クドインバータとは互いに逆相のXクロック信号CL
Y,/CLYにより制御される。伝送用クロックドイン
バータは、奇数段と偶数段とでクロック信号の位相が逆
であるので、前段のラッチ回路のデータDyを順次次段
のラッチ回路に伝達して行くシフト動作を行なう。各ラ
ッチ回路の出力と次段のラッチ回路の出力との論理積を
とるNANDゲート回路Gn-1 ,Gn ,Gn+1 ‥‥‥が
設けられており、次段のラッチ回路の出力が立ち上がる
と前段のラッチ回路の出力が立ち下がることで互いにパ
ルスが重ならないスキャンクロック信号Y(n-1) ,Y
(n) ,Y(n+1) ‥‥‥を出力する。
【0030】タイミング制御回路17は、互いに対をな
しYシフトレジスタ16から供給されるスキャンクロッ
ク信号Y(n-1) ,Y(n) ,Y(n+1) ‥‥‥を一方の入力
とし他方の入力端子にイネーブル信号ENBとその反転
信号を受けるようにされたNANDゲート回路G11,
G12;G21,G22;G31,G32‥‥‥と、G
i1とGi2の出力を入力とするNORゲート回路G1
3,G23,G33‥‥‥とにより構成され、G11,
G21,G31‥‥‥の出力信号がゲート制御信号Ga
(n-1) ,Ga(n) ,Ga(n+1) ‥‥‥として走査線11
aに供給され、ゲー ト回路G12,G22,G32‥
‥‥の出力信号がゲート制御信号Gb(n-1) , Gb(n)
,Gb(n+1) ‥‥‥として走査線11bに、またゲー
ト回路G13,G23,G33‥‥‥の出力信号がゲー
ト制御信号Gc(n-1) ,Gc(n) ,Gc(n+1) ‥‥‥と
して共通走査線11cにそれぞれ供給されるように構成
されている。なお、走査線11a,11bの切り換えタ
イミングは、セレクタ回路15によるサンプリング回路
14からデータ線12への画像データ転送タイミングよ
りも若干遅れるように設定しておくのが望ましい。
しYシフトレジスタ16から供給されるスキャンクロッ
ク信号Y(n-1) ,Y(n) ,Y(n+1) ‥‥‥を一方の入力
とし他方の入力端子にイネーブル信号ENBとその反転
信号を受けるようにされたNANDゲート回路G11,
G12;G21,G22;G31,G32‥‥‥と、G
i1とGi2の出力を入力とするNORゲート回路G1
3,G23,G33‥‥‥とにより構成され、G11,
G21,G31‥‥‥の出力信号がゲート制御信号Ga
(n-1) ,Ga(n) ,Ga(n+1) ‥‥‥として走査線11
aに供給され、ゲー ト回路G12,G22,G32‥
‥‥の出力信号がゲート制御信号Gb(n-1) , Gb(n)
,Gb(n+1) ‥‥‥として走査線11bに、またゲー
ト回路G13,G23,G33‥‥‥の出力信号がゲー
ト制御信号Gc(n-1) ,Gc(n) ,Gc(n+1) ‥‥‥と
して共通走査線11cにそれぞれ供給されるように構成
されている。なお、走査線11a,11bの切り換えタ
イミングは、セレクタ回路15によるサンプリング回路
14からデータ線12への画像データ転送タイミングよ
りも若干遅れるように設定しておくのが望ましい。
【0031】この実施例のXGA規格の液晶パネルに、
水平周波数「37.9KHz」、垂直周波数「60.3
Hz」、水平カウント数「1056」、垂直カウント数
「628」、水平表示ドット数「800」、垂直表示ラ
イン数「600」のSVGA規格の画像信号を入力する
場合、XGA規格とSVGA規格との垂直表示ライン数
比が「600/768=25/32」となり、この比の
値に水平カウント数「1056」を掛け合わせると「8
25」なる値が得られる。入力画像信号のクロックのパ
ルス数に換算して825パルス毎にパネルの表示ライン
を1ラインずつ進めるようにパネルを駆動する。具体的
には、入力画像信号のクロックのパルス数に換算して8
25パルスを半周期とするクロックCLYによりパネル
のYシフトレジスタ16をシフト動作させる。これによ
って、入力画像信号のクロックの825カウント毎に表
示ラインを1つ進めたスキャンクロック信号Y(n-1) 、
Y(n) 、Y(n+1) ・・・が、Yシフトレジスタ16から
タイミング制御回路17に供給される。
水平周波数「37.9KHz」、垂直周波数「60.3
Hz」、水平カウント数「1056」、垂直カウント数
「628」、水平表示ドット数「800」、垂直表示ラ
イン数「600」のSVGA規格の画像信号を入力する
場合、XGA規格とSVGA規格との垂直表示ライン数
比が「600/768=25/32」となり、この比の
値に水平カウント数「1056」を掛け合わせると「8
25」なる値が得られる。入力画像信号のクロックのパ
ルス数に換算して825パルス毎にパネルの表示ライン
を1ラインずつ進めるようにパネルを駆動する。具体的
には、入力画像信号のクロックのパルス数に換算して8
25パルスを半周期とするクロックCLYによりパネル
のYシフトレジスタ16をシフト動作させる。これによ
って、入力画像信号のクロックの825カウント毎に表
示ラインを1つ進めたスキャンクロック信号Y(n-1) 、
Y(n) 、Y(n+1) ・・・が、Yシフトレジスタ16から
タイミング制御回路17に供給される。
【0032】これとともに、サンプリング回路13に保
持されている各画像データを所定の割合で合成するタイ
ミングを与えるためのイネーブル信号ENBを外部から
タイミング制御回路17に入力することにより、図5
(a)に示すように各ライン毎に画素のサンプリングF
ET32a、32bを所定の時間割合でオンさせるゲー
ト制御信号Ga(n-1) 、Ga(n) 、G(n+1) ・・・と、
Gb(n-1) 、Gb(n) 、Gb(n+1) ・・・とが形成され
て走査線11a、11bに出力される。このENB信号
は、入力画像信号の水平周期信号HSYNCを基準とし
て入力クロック信号OSCによって同期化した水平系の
リセット信号HRESETと、入力画像信号の825ク
ロック毎に形成されるE−SET信号を図5(b)に示
すようなフリップフロップ回路に入力して作成すること
ができる。前述のYシフトレジスタ16をシフト動作さ
せるCLY信号はこのE−SET信号に同期して変化す
る。ENB信号形成回路の信号波形を図5(c)に示
す。ここで、HRESET信号とE−SET信号とは1
クロック(1/OSC)分ずらしてあるが、これは入力
側信号にして25ライン毎に入力側のラインの切り替わ
りとパネル駆動側のラインの切り替わりが重なった場合
にENB信号がHighレベルになるようにし、パネル
の走査線11a側のFETを介してデータを書き込むよ
うにするためである。この1クロック分のずれは時間的
な割合としては1/825であり、実用上特に問題とは
ならない。
持されている各画像データを所定の割合で合成するタイ
ミングを与えるためのイネーブル信号ENBを外部から
タイミング制御回路17に入力することにより、図5
(a)に示すように各ライン毎に画素のサンプリングF
ET32a、32bを所定の時間割合でオンさせるゲー
ト制御信号Ga(n-1) 、Ga(n) 、G(n+1) ・・・と、
Gb(n-1) 、Gb(n) 、Gb(n+1) ・・・とが形成され
て走査線11a、11bに出力される。このENB信号
は、入力画像信号の水平周期信号HSYNCを基準とし
て入力クロック信号OSCによって同期化した水平系の
リセット信号HRESETと、入力画像信号の825ク
ロック毎に形成されるE−SET信号を図5(b)に示
すようなフリップフロップ回路に入力して作成すること
ができる。前述のYシフトレジスタ16をシフト動作さ
せるCLY信号はこのE−SET信号に同期して変化す
る。ENB信号形成回路の信号波形を図5(c)に示
す。ここで、HRESET信号とE−SET信号とは1
クロック(1/OSC)分ずらしてあるが、これは入力
側信号にして25ライン毎に入力側のラインの切り替わ
りとパネル駆動側のラインの切り替わりが重なった場合
にENB信号がHighレベルになるようにし、パネル
の走査線11a側のFETを介してデータを書き込むよ
うにするためである。この1クロック分のずれは時間的
な割合としては1/825であり、実用上特に問題とは
ならない。
【0033】このような駆動を行うことで、パネルのゲ
ート制御信号GaとGbは、CLY信号の変化点で表示
ラインが1ラインずつ進み、1ラインの初めではゲート
制御信号GaがまずHighレベルになり、水平同期信
号HSYNCに同期してGaとGbとが切り替わるよう
に形成される。これによって図6(b)に示すように、
SVGAの入力画像の1水平期間分の画像データを25
/32(=600/768)の割合で順次分割し合成
(平均化)した画像データが、各ラインの画素電極31
に印加されるようになる。
ート制御信号GaとGbは、CLY信号の変化点で表示
ラインが1ラインずつ進み、1ラインの初めではゲート
制御信号GaがまずHighレベルになり、水平同期信
号HSYNCに同期してGaとGbとが切り替わるよう
に形成される。これによって図6(b)に示すように、
SVGAの入力画像の1水平期間分の画像データを25
/32(=600/768)の割合で順次分割し合成
(平均化)した画像データが、各ラインの画素電極31
に印加されるようになる。
【0034】図6(b)は、各ラインにおいて、ゲート
制御信号Gaとゲート制御信号GbによりFET32
a,32bがそれぞれオンされる期間(斜線部など)を
示したものである。1aと1bは1ライン目のFET3
2aと32bがオンされる期間、2aと2bは2ライン
目のFET32aと32bがオンされる期間であり、以
下3aと3b、4aと4bがそれぞれのFET32a、
32bを介して各画素へデータを書き込む期間となる。
制御信号Gaとゲート制御信号GbによりFET32
a,32bがそれぞれオンされる期間(斜線部など)を
示したものである。1aと1bは1ライン目のFET3
2aと32bがオンされる期間、2aと2bは2ライン
目のFET32aと32bがオンされる期間であり、以
下3aと3b、4aと4bがそれぞれのFET32a、
32bを介して各画素へデータを書き込む期間となる。
【0035】ここで、SVGA表示とXGA表示の表示
画素の空間的な位置関係を比較すると図6(a)に示す
ようになる。即ち、SVGAのmライン目はXGAのn
ライン目と(n+1)ライン目の上部7/25、SVG
Aの(m+1)ライン目はXGAの(n+1)ライン目
の下部18/25と(n+2)ライン目の上部14/2
5、SVGAの(m+2)ライン目はXGAの(n+
2)ライン目の下部11/25と(n+3)ライン目の
上部21/25、以下同様・・・といった空間的位置に
相当する。従って、SVGA表示をXGAパネルに表示
するためには、SVGAの各ラインのデータに上記の割
合で重み付けを行い、足し合わせて平均化したデータを
XGAパネルの各ラインに供給すれば、情報の欠落のな
い表示を得ることができる。即ち、XGAパネルのnラ
イン目には入力のSVGAのmライン目のデータ、XG
Aの(n+1)ライン目にはSVGAのmライン目のデ
ータに7/32の重みをつけたものと(m+1)ライン
目のデータに18/32の重みを付けたものを足し合わ
せたデータ、XGAの(n+2)ライン目にはSVGA
の(m+1)ライン目のデータに14/32の重みをつ
けたものと(m+2)ライン目のデータに11/32の
重みをつけたものを足し合わせたデータ、以下同様・・
・のように重み付けをしたデータを供給すればよい。
画素の空間的な位置関係を比較すると図6(a)に示す
ようになる。即ち、SVGAのmライン目はXGAのn
ライン目と(n+1)ライン目の上部7/25、SVG
Aの(m+1)ライン目はXGAの(n+1)ライン目
の下部18/25と(n+2)ライン目の上部14/2
5、SVGAの(m+2)ライン目はXGAの(n+
2)ライン目の下部11/25と(n+3)ライン目の
上部21/25、以下同様・・・といった空間的位置に
相当する。従って、SVGA表示をXGAパネルに表示
するためには、SVGAの各ラインのデータに上記の割
合で重み付けを行い、足し合わせて平均化したデータを
XGAパネルの各ラインに供給すれば、情報の欠落のな
い表示を得ることができる。即ち、XGAパネルのnラ
イン目には入力のSVGAのmライン目のデータ、XG
Aの(n+1)ライン目にはSVGAのmライン目のデ
ータに7/32の重みをつけたものと(m+1)ライン
目のデータに18/32の重みを付けたものを足し合わ
せたデータ、XGAの(n+2)ライン目にはSVGA
の(m+1)ライン目のデータに14/32の重みをつ
けたものと(m+2)ライン目のデータに11/32の
重みをつけたものを足し合わせたデータ、以下同様・・
・のように重み付けをしたデータを供給すればよい。
【0036】本発明のパネルでは、これまで説明したよ
うに水平系の基本的な信号即ち入力側同期信号を基準と
するタイミングと、入力側クロックの一定周期毎に作成
するパネル側タイミング信号との単に2種類のタイミン
グを基準として作成した信号をパネルに入力するのみ
で、上記の重み付け駆動が可能となる。
うに水平系の基本的な信号即ち入力側同期信号を基準と
するタイミングと、入力側クロックの一定周期毎に作成
するパネル側タイミング信号との単に2種類のタイミン
グを基準として作成した信号をパネルに入力するのみ
で、上記の重み付け駆動が可能となる。
【0037】以上、XGA規格の液晶パネルにSVGA
規格の画像信号が入力される場合を例にとって説明した
ので、入力画像データを分割する比率として25/32
を用いたが、SVGA以外の画像信号が入力される場合
には他の比率で分割することとなる。例えば、640ド
ット×480ラインのVGA規格の画像信号が入力され
る場合は、図7に示すように、5/8(=480/76
8)の比率で入力画像データを順次分割したものを合成
して表示画像データを得るようにすれば良い。図7の図
示の仕方も図6(b)と同様であり、1aと1bは1ラ
イン目の画素のFET32aと32bをそれぞれオンし
てデータを書き込む期間を示し、以降同様に考えるもの
とする。
規格の画像信号が入力される場合を例にとって説明した
ので、入力画像データを分割する比率として25/32
を用いたが、SVGA以外の画像信号が入力される場合
には他の比率で分割することとなる。例えば、640ド
ット×480ラインのVGA規格の画像信号が入力され
る場合は、図7に示すように、5/8(=480/76
8)の比率で入力画像データを順次分割したものを合成
して表示画像データを得るようにすれば良い。図7の図
示の仕方も図6(b)と同様であり、1aと1bは1ラ
イン目の画素のFET32aと32bをそれぞれオンし
てデータを書き込む期間を示し、以降同様に考えるもの
とする。
【0038】XGAよりも高解像度の例えばSXGA
(1280ドット×1024ライン)規格の画像信号が
入力される場合は、図8に示すように、4/3(=10
24/768)の比率で入力画像データを順次分割した
ものを合成して表示画像データを得るようにすれば良
い。図8の図示の仕方も図6(b)と同様であり、1a
と1bは1ライン目の画素のFET32aと32bをそ
れぞれオンしてデータを書き込む期間を示し、以降同様
に考えるものとする。
(1280ドット×1024ライン)規格の画像信号が
入力される場合は、図8に示すように、4/3(=10
24/768)の比率で入力画像データを順次分割した
ものを合成して表示画像データを得るようにすれば良
い。図8の図示の仕方も図6(b)と同様であり、1a
と1bは1ライン目の画素のFET32aと32bをそ
れぞれオンしてデータを書き込む期間を示し、以降同様
に考えるものとする。
【0039】以上、XGA規格の液晶パネルについて説
明したが、この発明は例えばSVGAなど他の表示規格
に従った液晶パネルにVGA規格やXGA規格の画像信
号を入力して表示させる場合にも適用することができ
る。
明したが、この発明は例えばSVGAなど他の表示規格
に従った液晶パネルにVGA規格やXGA規格の画像信
号を入力して表示させる場合にも適用することができ
る。
【0040】特に限定されるものではないが、この実施
例においては、画素電極31に電圧を印加するFET3
2a,32bおよび33a,33bはシリコン層をチャ
ネル層とするFETで構成されており、周辺回路(X、
Yシフトレジスタ14,16やサンプリング回路13
等)を構成するトランジスタとともに同一プロセスによ
り、同時に形成される。
例においては、画素電極31に電圧を印加するFET3
2a,32bおよび33a,33bはシリコン層をチャ
ネル層とするFETで構成されており、周辺回路(X、
Yシフトレジスタ14,16やサンプリング回路13
等)を構成するトランジスタとともに同一プロセスによ
り、同時に形成される。
【0041】なお、前記実施例では各画素ごとに2つの
画像データを所定の割合でサンプリングして合成し補間
データを形成する演算回路を各画素ごとに設けている
が、同様の演算回路をデータ線ごとに画素領域の外側
(図2のセレクタ回路15と画素領域との間)に設けて
これらの演算回路で形成した画像データをデータ線12
を介して順次各画素へ転送するように構成することも可
能である。
画像データを所定の割合でサンプリングして合成し補間
データを形成する演算回路を各画素ごとに設けている
が、同様の演算回路をデータ線ごとに画素領域の外側
(図2のセレクタ回路15と画素領域との間)に設けて
これらの演算回路で形成した画像データをデータ線12
を介して順次各画素へ転送するように構成することも可
能である。
【0042】また、図示しないが、前記走査線11の反
対側(図では右側)にも前記Yシフトレジスタ16と同
様なシフトレジスタを設けて、同一の電圧を同一のタイ
ミングで各走査線11に印加、つまり1本の走査線11
をその両側から同時に駆動するように構成しても良い。
これによって、走査線11の有する寄生抵抗による電圧
のレベル落ちや信号の遅れを減らすことができる。
対側(図では右側)にも前記Yシフトレジスタ16と同
様なシフトレジスタを設けて、同一の電圧を同一のタイ
ミングで各走査線11に印加、つまり1本の走査線11
をその両側から同時に駆動するように構成しても良い。
これによって、走査線11の有する寄生抵抗による電圧
のレベル落ちや信号の遅れを減らすことができる。
【0043】さらに、データ線12の反対側(図では下
側)に各データ線12にプリチャージレベルを印加する
プリチャージ用FETを設けて、データ線12に画像信
号を印加する前に、所定のレベルにそれぞれプリチャー
ジさせるように構成しても良い。これによって、短い時
間内にデータ線12のレベルを正確に画素電極側へ伝達
することができる。さらに、X,Yシフトレジスタ1
3,16は双方向シフトレジスタとしていずれの方向へ
もシフトできるように構成してもよい。
側)に各データ線12にプリチャージレベルを印加する
プリチャージ用FETを設けて、データ線12に画像信
号を印加する前に、所定のレベルにそれぞれプリチャー
ジさせるように構成しても良い。これによって、短い時
間内にデータ線12のレベルを正確に画素電極側へ伝達
することができる。さらに、X,Yシフトレジスタ1
3,16は双方向シフトレジスタとしていずれの方向へ
もシフトできるように構成してもよい。
【0044】図9は、本発明に係る液晶パネルの第2の
実施例の要部の構成を示す。この実施例は、各画素ごと
に画素電極31と、対向基板に設けられる共通電極に印
加される液晶共通電極電位(以下、LCコモン電位co
mと記す)または入力画像信号の振幅中心電位のような
定電位を供給するラインLcとの間にリセット用FET
35を設け、このFET35を一つ前の表示ラインのゲ
ート制御信号Ga(n-1),Gb(n-1)を入力とするORゲ
ート回路36によりオン、オフさせることで、画素電極
31に画像データが入って来る直前に、保持容量34
a,34bに残っている前の画像データをリセットでき
るようにしたものである。これによって、前のフレーム
の画像データが次のフレームの画像データに影響を与え
て画質が低下するのを防止することができる。LCコモ
ン電位comは、画素電極と液晶を挟んで対向される共
通電極に印加される電圧で、FETを画素に用いた液晶
駆動で問題となるプッシュダウン現象を考慮してその分
を予めシフトした電圧であり、極性反転の実質的な基準
となる電位である。
実施例の要部の構成を示す。この実施例は、各画素ごと
に画素電極31と、対向基板に設けられる共通電極に印
加される液晶共通電極電位(以下、LCコモン電位co
mと記す)または入力画像信号の振幅中心電位のような
定電位を供給するラインLcとの間にリセット用FET
35を設け、このFET35を一つ前の表示ラインのゲ
ート制御信号Ga(n-1),Gb(n-1)を入力とするORゲ
ート回路36によりオン、オフさせることで、画素電極
31に画像データが入って来る直前に、保持容量34
a,34bに残っている前の画像データをリセットでき
るようにしたものである。これによって、前のフレーム
の画像データが次のフレームの画像データに影響を与え
て画質が低下するのを防止することができる。LCコモ
ン電位comは、画素電極と液晶を挟んで対向される共
通電極に印加される電圧で、FETを画素に用いた液晶
駆動で問題となるプッシュダウン現象を考慮してその分
を予めシフトした電圧であり、極性反転の実質的な基準
となる電位である。
【0045】なお、図9では、ORゲート回路36をN
ORゲート回路G13と別に設けているが、ORゲート
36の代わりにNORゲートG13の出力を反転させた
出力をFETのゲートに供給しても良い。この場合、N
ORゲートG13の内部からまたはG13の出力を反転
するインバータを介して得ることができる信号Gcの反
転信号をFET35のゲートに供給するため、図9の回
路に比べて素子数が少なくなる。
ORゲート回路G13と別に設けているが、ORゲート
36の代わりにNORゲートG13の出力を反転させた
出力をFETのゲートに供給しても良い。この場合、N
ORゲートG13の内部からまたはG13の出力を反転
するインバータを介して得ることができる信号Gcの反
転信号をFET35のゲートに供給するため、図9の回
路に比べて素子数が少なくなる。
【0046】前記実施例の液晶パネル用基板は透過型ま
たは反射型のいずれの液晶パネルにも適用することがで
きるが、前記実施例で説明したように各画素ごとに4〜
5個のFETと2つの保持容量を有するので、FETに
光が通過しないように遮光膜ないしは対向基板のブラッ
クマトリックスで覆う必要がある透過型液晶パネルでは
開口率を高くできない。一方、反射型液晶パネルでは画
素電極がアルミニウム層等からなる反射電極で構成され
るので、画素電極の下に前記サンプリング用FET32
a,32b等を形成しても開口率を低下させることがな
い。従って、本願発明は、反射型液晶パネルに適用する
とより効果的である。透過型液晶パネルにおいては、画
素電極はITOのような透明電極で構成される。
たは反射型のいずれの液晶パネルにも適用することがで
きるが、前記実施例で説明したように各画素ごとに4〜
5個のFETと2つの保持容量を有するので、FETに
光が通過しないように遮光膜ないしは対向基板のブラッ
クマトリックスで覆う必要がある透過型液晶パネルでは
開口率を高くできない。一方、反射型液晶パネルでは画
素電極がアルミニウム層等からなる反射電極で構成され
るので、画素電極の下に前記サンプリング用FET32
a,32b等を形成しても開口率を低下させることがな
い。従って、本願発明は、反射型液晶パネルに適用する
とより効果的である。透過型液晶パネルにおいては、画
素電極はITOのような透明電極で構成される。
【0047】図10は、本発明を適用した反射型液晶パ
ネルの反射電極側基板の断面構成例を示す。なお、図1
はマトリックス状に配置されている画素のうち一画素部
分の1つのFET33a(または33b)と1つの保持
容量34a(または34b)の断面を示す。
ネルの反射電極側基板の断面構成例を示す。なお、図1
はマトリックス状に配置されている画素のうち一画素部
分の1つのFET33a(または33b)と1つの保持
容量34a(または34b)の断面を示す。
【0048】図10において、101は単結晶シリコン
のようなP型半導体基板(N型半導体基板(N--)でも
よい)、102はこの半導体基板101の表面に形成さ
れたP型ウェル領域、103は半導体基板101の表面
に形成された素子分離用のフィールド酸化膜(いわゆる
LOCOS)である。上記ウェル領域102は、特に限
定されないが、マトリックス状に画素が配置されてなる
画素領域の共通ウェル領域として形成され、図3に示さ
れているようなサンプリング回路13やシフトレジスタ
14,16タイミング制御回路17等の周辺回路を構成
する素子が形成される部分のウェル領域とは分離して形
成されている。上記フィールド酸化膜103は選択熱酸
化によって5000〜7000オングストロームのよう
な厚さに形成される。
のようなP型半導体基板(N型半導体基板(N--)でも
よい)、102はこの半導体基板101の表面に形成さ
れたP型ウェル領域、103は半導体基板101の表面
に形成された素子分離用のフィールド酸化膜(いわゆる
LOCOS)である。上記ウェル領域102は、特に限
定されないが、マトリックス状に画素が配置されてなる
画素領域の共通ウェル領域として形成され、図3に示さ
れているようなサンプリング回路13やシフトレジスタ
14,16タイミング制御回路17等の周辺回路を構成
する素子が形成される部分のウェル領域とは分離して形
成されている。上記フィールド酸化膜103は選択熱酸
化によって5000〜7000オングストロームのよう
な厚さに形成される。
【0049】上記フィールド酸化膜103には一画素ご
とに6つの開口部が形成され、そのうち3つの開口部の
内側中央にはゲート酸化膜(絶縁膜)104bを介して
ポリシリコンあるいはメタルシリサイド等からなるゲー
ト電極104aが形成され、このゲート電極104aの
両側の基板表面には高不純物濃度のN型不純物導入層
(以下、ドーピング層という)からなるソース、ドレイ
ン領域105a,105bが形成され、MOSFET3
3a(または33b)が構成されている。ゲート電極1
04aは走査線方向(画素行方向)に延在されて、走査
線11cを構成する。
とに6つの開口部が形成され、そのうち3つの開口部の
内側中央にはゲート酸化膜(絶縁膜)104bを介して
ポリシリコンあるいはメタルシリサイド等からなるゲー
ト電極104aが形成され、このゲート電極104aの
両側の基板表面には高不純物濃度のN型不純物導入層
(以下、ドーピング層という)からなるソース、ドレイ
ン領域105a,105bが形成され、MOSFET3
3a(または33b)が構成されている。ゲート電極1
04aは走査線方向(画素行方向)に延在されて、走査
線11cを構成する。
【0050】また、上記フィールド酸化膜103に形成
された他の開口部の内側の基板表面にはP型ドーピング
領域108が形成されているとともに、このP型ドーピ
ング領域108の表面には絶縁膜109bを介してポリ
シリコンあるいはメタルシリサイド等からなる電極10
9aが形成され、この電極109aと上記P型ドーピン
グ領域108との間に絶縁膜容量からなる保持容量34
a(または34b)が構成されている。上記電極109
aは前記MOSFETのゲート電極104aとなるポリ
シリコンあるいはメタルシリサイド層と同一工程にて、
また電極109aの下の絶縁膜109bはゲート絶縁膜
104bとなる絶縁膜と同一工程にてそれぞれ形成する
ことができる。
された他の開口部の内側の基板表面にはP型ドーピング
領域108が形成されているとともに、このP型ドーピ
ング領域108の表面には絶縁膜109bを介してポリ
シリコンあるいはメタルシリサイド等からなる電極10
9aが形成され、この電極109aと上記P型ドーピン
グ領域108との間に絶縁膜容量からなる保持容量34
a(または34b)が構成されている。上記電極109
aは前記MOSFETのゲート電極104aとなるポリ
シリコンあるいはメタルシリサイド層と同一工程にて、
また電極109aの下の絶縁膜109bはゲート絶縁膜
104bとなる絶縁膜と同一工程にてそれぞれ形成する
ことができる。
【0051】上記絶縁膜104b,109bは熱酸化に
よって上記開口部の内側半導体基板表面に400〜80
0オングストロームのような厚さに形成される。上記電
極104a,109aは、ポリシリコン層を1000〜
2000オングストロームのような厚さに形成しその上
にMoあるいはWのような高融点金属のシリサイド層を
1000〜3000オングストロームのような厚さに形
成した構造とされている。ソース、ドレイン領域105
a,105bは、上記ゲート電極104aをマスクとし
てその両側の基板表面にN型不純物をイオン打ち込みで
注入することで自己整合的に形成される。
よって上記開口部の内側半導体基板表面に400〜80
0オングストロームのような厚さに形成される。上記電
極104a,109aは、ポリシリコン層を1000〜
2000オングストロームのような厚さに形成しその上
にMoあるいはWのような高融点金属のシリサイド層を
1000〜3000オングストロームのような厚さに形
成した構造とされている。ソース、ドレイン領域105
a,105bは、上記ゲート電極104aをマスクとし
てその両側の基板表面にN型不純物をイオン打ち込みで
注入することで自己整合的に形成される。
【0052】また、上記P型ドーピング領域108は、
この実施例では、専用のイオン打込みと熱処理によるド
ーピング処理で形成され、ゲート電極を形成する前にイ
オン注入法で形成するとよい。つまり、絶縁膜109b
形成後にウェルと同極性の不純物を注入し、ウェルの表
面はそれよりも高不純物濃度として低抵抗化して形成す
る。上記ウェル領域102の好ましい不純物濃度は1×
1017/cm3以下で、1〜5×1016/cm3程度が望
ましい。ソース、ドレイン領域105a,105bの好
ましい不純物濃度は1×1020/cm3、P型ドーピン
グ領域108の好ましい不純物濃度は1×1018〜10
20/cm3であるが、保持容量を構成する絶縁膜の信頼
性の観点から1×1018〜1019/cm3が特に好まし
い。
この実施例では、専用のイオン打込みと熱処理によるド
ーピング処理で形成され、ゲート電極を形成する前にイ
オン注入法で形成するとよい。つまり、絶縁膜109b
形成後にウェルと同極性の不純物を注入し、ウェルの表
面はそれよりも高不純物濃度として低抵抗化して形成す
る。上記ウェル領域102の好ましい不純物濃度は1×
1017/cm3以下で、1〜5×1016/cm3程度が望
ましい。ソース、ドレイン領域105a,105bの好
ましい不純物濃度は1×1020/cm3、P型ドーピン
グ領域108の好ましい不純物濃度は1×1018〜10
20/cm3であるが、保持容量を構成する絶縁膜の信頼
性の観点から1×1018〜1019/cm3が特に好まし
い。
【0053】上記電極104aおよび109aからフィ
ールド酸化膜103上にかけては第1の層間絶縁膜10
6が形成され、この絶縁膜106上にはアルミニウムを
主体とするメタル層からなりMOSFET33a(また
は33b)ソース領域105aと上記保持容量34a
(または34b)の電極109aとを接続するソース電
極107aおよびMOSFET33a(33b)のドレ
イン領域105bと後述の画素電極31とを接続するド
レイン電極107bが設けられており、それぞれ絶縁膜
106に形成されたコンタクトホールにて接続されがな
されている。
ールド酸化膜103上にかけては第1の層間絶縁膜10
6が形成され、この絶縁膜106上にはアルミニウムを
主体とするメタル層からなりMOSFET33a(また
は33b)ソース領域105aと上記保持容量34a
(または34b)の電極109aとを接続するソース電
極107aおよびMOSFET33a(33b)のドレ
イン領域105bと後述の画素電極31とを接続するド
レイン電極107bが設けられており、それぞれ絶縁膜
106に形成されたコンタクトホールにて接続されがな
されている。
【0054】上記絶縁膜106は、例えばHTO膜(高
温CVD法により形成される酸化シリコン膜)を100
0オングストローム程度堆積した上に、BPSG膜(ボ
ロンおよびリンを含むシリケートガラス膜)を8000
〜10000オングストロームのような厚さに堆積して
形成される。ソース電極107aおよび補助結合配線1
10を構成するメタル層は、例えば下層からTi/Ti
N/Al/TiNの4層構造とされる。各層は、下層の
Tiが100〜600オングストローム、TiNが10
00オングストローム程度、Alが4000〜1000
0オングストローム、上層のTiNが300〜600オ
ングストロームのような厚さとされる。
温CVD法により形成される酸化シリコン膜)を100
0オングストローム程度堆積した上に、BPSG膜(ボ
ロンおよびリンを含むシリケートガラス膜)を8000
〜10000オングストロームのような厚さに堆積して
形成される。ソース電極107aおよび補助結合配線1
10を構成するメタル層は、例えば下層からTi/Ti
N/Al/TiNの4層構造とされる。各層は、下層の
Tiが100〜600オングストローム、TiNが10
00オングストローム程度、Alが4000〜1000
0オングストローム、上層のTiNが300〜600オ
ングストロームのような厚さとされる。
【0055】上記ソース電極107aおよびドレイン電
極107bから層間絶縁膜106上にかけては第2の層
間絶縁膜111が形成され、この第2層間絶縁膜111
上にはアルミニウムを主体とする二層目のメタル層11
2からなる遮光膜が形成されている。この遮光膜を構成
する二層目のメタル層112は、画素領域の周囲に形成
される駆動回路等の周辺回路において素子間の接続用配
線を構成するメタル層と同一のメタル層で形成すること
ができる。従って、この遮光膜(112)のみを形成す
るために工程を追加する必要がなく、プロセスが簡略化
される。また、上記遮光膜(112)は、上記ドレイン
電極107bに対応する位置に、画素電極31とMOS
FET33a(33b)を電気的に接続するための柱状
の接続プラグ115を貫通させるための開口部112a
が形成され、それ以外は画素領域全面を覆うように形成
される。これによって、基板上方から入射する光をほぼ
完全に遮断して画素スイッチング用MOSFETのチャ
ネル領域およびウェル領域を光が通過してリーク電流が
流れるのを防止することができる。
極107bから層間絶縁膜106上にかけては第2の層
間絶縁膜111が形成され、この第2層間絶縁膜111
上にはアルミニウムを主体とする二層目のメタル層11
2からなる遮光膜が形成されている。この遮光膜を構成
する二層目のメタル層112は、画素領域の周囲に形成
される駆動回路等の周辺回路において素子間の接続用配
線を構成するメタル層と同一のメタル層で形成すること
ができる。従って、この遮光膜(112)のみを形成す
るために工程を追加する必要がなく、プロセスが簡略化
される。また、上記遮光膜(112)は、上記ドレイン
電極107bに対応する位置に、画素電極31とMOS
FET33a(33b)を電気的に接続するための柱状
の接続プラグ115を貫通させるための開口部112a
が形成され、それ以外は画素領域全面を覆うように形成
される。これによって、基板上方から入射する光をほぼ
完全に遮断して画素スイッチング用MOSFETのチャ
ネル領域およびウェル領域を光が通過してリーク電流が
流れるのを防止することができる。
【0056】上記第2層間絶縁膜111は、例えばTE
OS(テトラエチルオルソシリケート)を材料としプラ
ズマCVD法により形成される酸化シリコン膜(以下、
TEOS膜と称する)を3000〜6000オングスト
ローム程度堆積した上に、SOG膜(スピン・オン・ガ
ラス膜)を堆積し、それをエッチバックで削ってからさ
らにその上に第2のTEOS膜を2000〜5000オ
ングストローム程度の厚さに堆積して形成される。遮光
膜を構成する二層目のメタル層112は、前記一層目の
メタル層と同じものでよく、例えばTi/TiN/Al
/TiNの4層構造とされる。各層は、最下層のTiが
100〜600オングストローム、その上のTiNが1
000オングストローム程度、Alが4000〜100
00オングストローム、最上層のTiNが300〜60
0オングストロームのような厚さとされる。
OS(テトラエチルオルソシリケート)を材料としプラ
ズマCVD法により形成される酸化シリコン膜(以下、
TEOS膜と称する)を3000〜6000オングスト
ローム程度堆積した上に、SOG膜(スピン・オン・ガ
ラス膜)を堆積し、それをエッチバックで削ってからさ
らにその上に第2のTEOS膜を2000〜5000オ
ングストローム程度の厚さに堆積して形成される。遮光
膜を構成する二層目のメタル層112は、前記一層目の
メタル層と同じものでよく、例えばTi/TiN/Al
/TiNの4層構造とされる。各層は、最下層のTiが
100〜600オングストローム、その上のTiNが1
000オングストローム程度、Alが4000〜100
00オングストローム、最上層のTiNが300〜60
0オングストロームのような厚さとされる。
【0057】この実施例においては、上記遮光膜(11
2)の上に第3層間絶縁膜113が形成され、この第3
層間絶縁膜113の上に、ほぼ1画素に対応した矩形状
の画素電極31が形成されている。そして、上記遮光膜
(112)に設けられた開口部112aに対応してその
内側に位置するように、上記第3層間絶縁膜113およ
び第2層間絶縁膜111を貫通するコンタクトホール1
16が設けられており、このコンタクトホール116内
に上記ドレイン電極107bと上記画素電極31とを電
気的に接続するタングステン等の高融点金属からなる柱
状の接続プラグ115が充填されている。さらに、上記
画素電極31の上には、パシベーション膜117が全面
的に形成されている。
2)の上に第3層間絶縁膜113が形成され、この第3
層間絶縁膜113の上に、ほぼ1画素に対応した矩形状
の画素電極31が形成されている。そして、上記遮光膜
(112)に設けられた開口部112aに対応してその
内側に位置するように、上記第3層間絶縁膜113およ
び第2層間絶縁膜111を貫通するコンタクトホール1
16が設けられており、このコンタクトホール116内
に上記ドレイン電極107bと上記画素電極31とを電
気的に接続するタングステン等の高融点金属からなる柱
状の接続プラグ115が充填されている。さらに、上記
画素電極31の上には、パシベーション膜117が全面
的に形成されている。
【0058】上記画素電極31は、特に限定されない
が、接続プラグ115を構成するタングステン等をCV
D法により被着した後、タングステンと第3層間絶縁膜
113をCMP(化学的機械研磨)法で削って平坦化し
てから、例えば低温スパッタ法によりアルミニウム層を
300〜5000オングストロームのような厚さに形成
し、パターニングにより形成すると良い。なお、上記接
続プラグ15の形成方法としては、CMP法で第3層間
絶縁膜を平坦化してから、コンタクトホールを開口し、
その中にタングステンを被着して形成する方法もある。
上記パシベーション膜117としては、画素領域部にお
いては500〜2000オングストロームのような厚さ
の酸化シリコン膜が用いられ、周辺回路部およびシール
部、スクライブ部には2000〜10000オングスト
ロームのような厚さの窒化シリコン膜が用いられる。ま
た、パシベーション膜117上には、液晶パネルを構成
する際に配向膜が全面に形成され、ラビング処理され
る。
が、接続プラグ115を構成するタングステン等をCV
D法により被着した後、タングステンと第3層間絶縁膜
113をCMP(化学的機械研磨)法で削って平坦化し
てから、例えば低温スパッタ法によりアルミニウム層を
300〜5000オングストロームのような厚さに形成
し、パターニングにより形成すると良い。なお、上記接
続プラグ15の形成方法としては、CMP法で第3層間
絶縁膜を平坦化してから、コンタクトホールを開口し、
その中にタングステンを被着して形成する方法もある。
上記パシベーション膜117としては、画素領域部にお
いては500〜2000オングストロームのような厚さ
の酸化シリコン膜が用いられ、周辺回路部およびシール
部、スクライブ部には2000〜10000オングスト
ロームのような厚さの窒化シリコン膜が用いられる。ま
た、パシベーション膜117上には、液晶パネルを構成
する際に配向膜が全面に形成され、ラビング処理され
る。
【0059】図11は上記液晶パネル基板を適用した反
射型液晶パネル300の断面構成を示す。図11におい
て、131は上記実施例のように構成された反射側の液
晶パネル用基板で、この液晶パネル用基板131は、そ
の裏面にガラスもしくはセラミック等からなる支持基板
132が接着剤により接着され補強されている。これと
ともに、その表面側には、LCコモン電位が印加される
透明導電膜(ITO)からなる対向電極133を有する
入射側のガラス基板135が適当な間隔をおいて配置さ
れ、周囲をシール材136で封止された間隙内に周知の
TN(TwistedNematic)型液晶またはまたは電圧無印加
状態で液晶分子がほぼ垂直配向されたSH(Super Home
otropic)型液晶137などが充填されて液晶パネル1
30として構成されている。なお、外部から信号を入力
したり、電源電圧を供給するためのパッド領域126は
上記シール材136の外側に来るようにシール材を設け
る位置が設定されている。
射型液晶パネル300の断面構成を示す。図11におい
て、131は上記実施例のように構成された反射側の液
晶パネル用基板で、この液晶パネル用基板131は、そ
の裏面にガラスもしくはセラミック等からなる支持基板
132が接着剤により接着され補強されている。これと
ともに、その表面側には、LCコモン電位が印加される
透明導電膜(ITO)からなる対向電極133を有する
入射側のガラス基板135が適当な間隔をおいて配置さ
れ、周囲をシール材136で封止された間隙内に周知の
TN(TwistedNematic)型液晶またはまたは電圧無印加
状態で液晶分子がほぼ垂直配向されたSH(Super Home
otropic)型液晶137などが充填されて液晶パネル1
30として構成されている。なお、外部から信号を入力
したり、電源電圧を供給するためのパッド領域126は
上記シール材136の外側に来るようにシール材を設け
る位置が設定されている。
【0060】125は周辺回路を覆うように形成される
遮光膜で、この遮光膜125は液晶137を介在して対
向基板135側の共通電極133と対向されるように構
成されている。そして、遮光膜125にLCコモン電位
を印加すれば、対向基板の共通電極133にはもともと
LCコモン電位が印加されるので、その間に介在する液
晶には直流電圧が印加されなくなる。よってTN型液晶
であれば常に液晶分子がほぼ90°ねじれたままとな
り、SH型液晶であれば常に垂直配向された状態に液晶
分子が保たれる。
遮光膜で、この遮光膜125は液晶137を介在して対
向基板135側の共通電極133と対向されるように構
成されている。そして、遮光膜125にLCコモン電位
を印加すれば、対向基板の共通電極133にはもともと
LCコモン電位が印加されるので、その間に介在する液
晶には直流電圧が印加されなくなる。よってTN型液晶
であれば常に液晶分子がほぼ90°ねじれたままとな
り、SH型液晶であれば常に垂直配向された状態に液晶
分子が保たれる。
【0061】図12は、本発明の液晶パネルを用いた電
子機器の一例であり、本発明の反射型液晶パネルをライ
トバルブとして用いたプロジェクタ(投写型表示装置)
の要部を平面的に見た概略構成図である。この図12
は、光学要素130の中心を通るXZ平面における断面
図である。
子機器の一例であり、本発明の反射型液晶パネルをライ
トバルブとして用いたプロジェクタ(投写型表示装置)
の要部を平面的に見た概略構成図である。この図12
は、光学要素130の中心を通るXZ平面における断面
図である。
【0062】本例のプロジェクタは、システム光軸Lに
沿って配置した光源部410、インテグレータレンズ4
20、偏光変換素子430から概略構成される偏光照明
装置400、偏光照明装置400から出射されたS偏光
光束をS偏光光束反射面201により反射させる偏光ビ
ームスプリッタ200、偏光ビームスプリッタ200の
S偏光反射面201から反射された光のうち、青色光
(B)の成分を分離するダイクロイックミラー412、
分離された青色光(B)を青色光を変調する反射型液晶
ライトバルブ300B、青色光が分離された後の光束の
うち赤色光(R)の成分を反射させて分離するダイクロ
イックミラー413、分離された赤色光(R)を変調す
る反射型液晶ライトバルブ300R、ダイクロイックミ
ラー413を透過した残りの緑色光(G)を変調する反
射型液晶ライトバルブ300G、3つの反射型液晶ライ
トバルブ300R、300G、300Bにて変調された
光をダイクロイックミラー412,413,偏光ビーム
スプリッタ200にて合成し、この合成光をスクリーン
600に投写する投写レンズからなる投写光学系500
から構成されている。上記3つの反射型液晶ライトバル
ブ300R、300G、300Bには、それぞれ前述の
液晶パネルが用いられている。
沿って配置した光源部410、インテグレータレンズ4
20、偏光変換素子430から概略構成される偏光照明
装置400、偏光照明装置400から出射されたS偏光
光束をS偏光光束反射面201により反射させる偏光ビ
ームスプリッタ200、偏光ビームスプリッタ200の
S偏光反射面201から反射された光のうち、青色光
(B)の成分を分離するダイクロイックミラー412、
分離された青色光(B)を青色光を変調する反射型液晶
ライトバルブ300B、青色光が分離された後の光束の
うち赤色光(R)の成分を反射させて分離するダイクロ
イックミラー413、分離された赤色光(R)を変調す
る反射型液晶ライトバルブ300R、ダイクロイックミ
ラー413を透過した残りの緑色光(G)を変調する反
射型液晶ライトバルブ300G、3つの反射型液晶ライ
トバルブ300R、300G、300Bにて変調された
光をダイクロイックミラー412,413,偏光ビーム
スプリッタ200にて合成し、この合成光をスクリーン
600に投写する投写レンズからなる投写光学系500
から構成されている。上記3つの反射型液晶ライトバル
ブ300R、300G、300Bには、それぞれ前述の
液晶パネルが用いられている。
【0063】光源部410から出射されたランダムな偏
光光束は、インテグレータレンズ420により複数の中
間光束に分割された後、第2のインテグレータレンズを
光入射側に有する偏光変換素子430により偏光方向が
ほぼ揃った一種類の偏光光束(S偏光光束)に変換され
てから偏光ビームスプリッタ200に至るようになって
いる。偏光変換素子430から出射されたS偏光光束
は、偏光ビームスプリッタ200のS偏光光束反射面2
01によって反射され、反射された光束のうち、青色光
(B)の光束がダイクロイックミラー412の青色光反
射層にて反射され、反射型液晶ライトバルブ300Bに
よって変調される。また、ダイクロイックミラー411
の青色光反射層を透過した光束のうち、赤色光(R)の
光束はダイクロイックミラー413の赤色光反射層にて
反射され、反射型液晶ライトバルブ300Rによって変
調される。
光光束は、インテグレータレンズ420により複数の中
間光束に分割された後、第2のインテグレータレンズを
光入射側に有する偏光変換素子430により偏光方向が
ほぼ揃った一種類の偏光光束(S偏光光束)に変換され
てから偏光ビームスプリッタ200に至るようになって
いる。偏光変換素子430から出射されたS偏光光束
は、偏光ビームスプリッタ200のS偏光光束反射面2
01によって反射され、反射された光束のうち、青色光
(B)の光束がダイクロイックミラー412の青色光反
射層にて反射され、反射型液晶ライトバルブ300Bに
よって変調される。また、ダイクロイックミラー411
の青色光反射層を透過した光束のうち、赤色光(R)の
光束はダイクロイックミラー413の赤色光反射層にて
反射され、反射型液晶ライトバルブ300Rによって変
調される。
【0064】一方、ダイクロイックミラー413の赤色
光反射層を透過した緑色光(G)の光束は反射型液晶ラ
イトバルブ300Gによって変調される。このようにし
て、それぞれの反射型液晶ライトバルブ300R、30
0G、300Bによって変調されてダイクロイックミラ
ー412,413,偏光ビームスプリッタ200にて合
成され、スクリーン600に投射される。反射型液晶ラ
イトバルブ300R、300G、300Bとなる反射型
液晶パネルは、TN型液晶(液晶分子の長軸が電圧無印
加時にパネル基板に略並行に配向された液晶)またはS
H型液晶(液晶分子の長軸が電圧無印加時にパネル基板
に略垂直に配向された液晶)を採用している。
光反射層を透過した緑色光(G)の光束は反射型液晶ラ
イトバルブ300Gによって変調される。このようにし
て、それぞれの反射型液晶ライトバルブ300R、30
0G、300Bによって変調されてダイクロイックミラ
ー412,413,偏光ビームスプリッタ200にて合
成され、スクリーン600に投射される。反射型液晶ラ
イトバルブ300R、300G、300Bとなる反射型
液晶パネルは、TN型液晶(液晶分子の長軸が電圧無印
加時にパネル基板に略並行に配向された液晶)またはS
H型液晶(液晶分子の長軸が電圧無印加時にパネル基板
に略垂直に配向された液晶)を採用している。
【0065】TN型液晶を採用した場合には、画素の反
射電極と、対向する基板の共通電極との間に挟持された
液晶層への印加電圧が液晶のしきい値電圧以下の画素
(OFF画素)では、入射した色光は液晶層により楕円
偏光され、反射電極により反射され、液晶層を介して、
入射した色光の偏光軸とほぼ90度ずれた偏光軸成分の
多い楕円偏光に近い状態の光として反射・出射される。
一方、液晶層に電圧印加された画素(ON画素)では、
入射した色光のまま反射電極に至り、反射されて、入射
時と同一の偏光軸のまま反射・出射される。反射電極に
印加された電圧に応じてTN型液晶の液晶分子の配列角
度が変化するので、入射光に対する反射光の偏光軸の角
度は、画素のトランジスタを介して反射電極に印加する
電圧に応じて可変される。
射電極と、対向する基板の共通電極との間に挟持された
液晶層への印加電圧が液晶のしきい値電圧以下の画素
(OFF画素)では、入射した色光は液晶層により楕円
偏光され、反射電極により反射され、液晶層を介して、
入射した色光の偏光軸とほぼ90度ずれた偏光軸成分の
多い楕円偏光に近い状態の光として反射・出射される。
一方、液晶層に電圧印加された画素(ON画素)では、
入射した色光のまま反射電極に至り、反射されて、入射
時と同一の偏光軸のまま反射・出射される。反射電極に
印加された電圧に応じてTN型液晶の液晶分子の配列角
度が変化するので、入射光に対する反射光の偏光軸の角
度は、画素のトランジスタを介して反射電極に印加する
電圧に応じて可変される。
【0066】また、SH型液晶を採用した場合には、液
晶層の印加電圧が液晶のしきい値電圧以下の画素(OF
F画素)では、入射した色光のまま反射電極に至り、反
射されて、入射時と同一偏光軸のまま反射・出射され
る。一方、液晶層に電圧印加された画素(ON画素)で
は、入射した色光は液晶層にて楕円偏光され、反射電極
により反射され、液晶層を介して、入射光の偏光軸に対
して偏光軸がほぼ90度ずれた偏光軸成分の多い楕円偏
光として反射・出射する。TN型液晶の場合と同様に、
反射電極に印加された電圧に応じてTN型液晶の液晶分
子の配列角度が変化するので、入射光に対する反射光の
偏光軸の角度は、画素のトランジスタを介して反射電極
に印加する電圧に応じて可変される。
晶層の印加電圧が液晶のしきい値電圧以下の画素(OF
F画素)では、入射した色光のまま反射電極に至り、反
射されて、入射時と同一偏光軸のまま反射・出射され
る。一方、液晶層に電圧印加された画素(ON画素)で
は、入射した色光は液晶層にて楕円偏光され、反射電極
により反射され、液晶層を介して、入射光の偏光軸に対
して偏光軸がほぼ90度ずれた偏光軸成分の多い楕円偏
光として反射・出射する。TN型液晶の場合と同様に、
反射電極に印加された電圧に応じてTN型液晶の液晶分
子の配列角度が変化するので、入射光に対する反射光の
偏光軸の角度は、画素のトランジスタを介して反射電極
に印加する電圧に応じて可変される。
【0067】これらの液晶パネルの画素から反射された
色光のうち、S偏光成分はS偏光を反射する偏光ビーム
スプリッタ200を透過せず、一方、P偏光成分は透過
する。この偏光ビームスプリッタ200を透過した光に
より画像が形成される。従って、投写される画像は、T
N型液晶を液晶パネルに用いた場合はOFF画素の反射
光が投写光学系500に至りON画素の反射光はレンズ
に至らないのでノーマリーホワイト表示となり、SH液
晶を用いた場合はOFF画素の反射光は投写光学系に至
らずON画素の反射光が投写光学系500に至るのでノ
ーマリーブラック表示となる。
色光のうち、S偏光成分はS偏光を反射する偏光ビーム
スプリッタ200を透過せず、一方、P偏光成分は透過
する。この偏光ビームスプリッタ200を透過した光に
より画像が形成される。従って、投写される画像は、T
N型液晶を液晶パネルに用いた場合はOFF画素の反射
光が投写光学系500に至りON画素の反射光はレンズ
に至らないのでノーマリーホワイト表示となり、SH液
晶を用いた場合はOFF画素の反射光は投写光学系に至
らずON画素の反射光が投写光学系500に至るのでノ
ーマリーブラック表示となる。
【0068】反射型液晶パネルは、ガラス基板にTFT
アレーを形成したアクティブマトリクス型液晶パネルに
比べ、半導体技術を利用して画素が形成されるので画素
数をより多く形成でき、且つパネルサイズも小さくでき
るので、高精細な画像を投写できると共に、プロジェク
タを小型化できる。
アレーを形成したアクティブマトリクス型液晶パネルに
比べ、半導体技術を利用して画素が形成されるので画素
数をより多く形成でき、且つパネルサイズも小さくでき
るので、高精細な画像を投写できると共に、プロジェク
タを小型化できる。
【0069】図11にて説明したように、液晶パネルの
周辺回路部は遮光膜で覆われ、対向基板の対向する位置
に形成される共通電極と共に同じ電圧(例えばLCコモ
ン電位。同じ電位であればこれと異なる電位でも構わな
い。但し、画素部の対向電極と異なる電位となるので、
この場合画素部の対向電極とは分離された周辺対向電極
となる。)が印加されるので、両者間に介在する液晶に
はほぼ0Vが印加され、液晶はOFF状態と同じにな
る。従って、TN型液晶の液晶パネルでは、ノーマリホ
ワイト表示に合わせて画像領域の周辺が全て白表示にで
き、SH型液晶の液晶パネルでは、ノーマリブラック表
示に合わせて画像領域の周辺が全て黒表示にできる。
周辺回路部は遮光膜で覆われ、対向基板の対向する位置
に形成される共通電極と共に同じ電圧(例えばLCコモ
ン電位。同じ電位であればこれと異なる電位でも構わな
い。但し、画素部の対向電極と異なる電位となるので、
この場合画素部の対向電極とは分離された周辺対向電極
となる。)が印加されるので、両者間に介在する液晶に
はほぼ0Vが印加され、液晶はOFF状態と同じにな
る。従って、TN型液晶の液晶パネルでは、ノーマリホ
ワイト表示に合わせて画像領域の周辺が全て白表示にで
き、SH型液晶の液晶パネルでは、ノーマリブラック表
示に合わせて画像領域の周辺が全て黒表示にできる。
【0070】
【発明の効果】以上説明したように、この発明は、時系
列的に伝送される入力画像データを水平方向画素数に対
応したクロック信号によってサンプリングを行って、サ
ンプリングした画像データを複数のデータ線に供給し、
各画素へは、入力画像データにおける垂直方向に隣接す
る複数の走査ライン用の入力画像データから演算合成し
た画像データを供給するようにしたので、高解像度の液
晶パネルに低解像度の表示方式に従った画像データを表
示させることができるという効果がある。
列的に伝送される入力画像データを水平方向画素数に対
応したクロック信号によってサンプリングを行って、サ
ンプリングした画像データを複数のデータ線に供給し、
各画素へは、入力画像データにおける垂直方向に隣接す
る複数の走査ライン用の入力画像データから演算合成し
た画像データを供給するようにしたので、高解像度の液
晶パネルに低解像度の表示方式に従った画像データを表
示させることができるという効果がある。
【0071】また、この発明は、垂直方向に関しては入
力画像データの隣接する走査ラインの画像データを所定
の割合でサンプリングしてそれを合成する演算回路を各
画素ごとに設け、線順次方式で演算を行なうようにした
ので、外部メモリを付加したり高価な演算装置やデータ
処理装置を用いることなく、高解像度の液晶パネルに低
解像度の表示方式に従った画像データを表示させること
ができるという効果がある。
力画像データの隣接する走査ラインの画像データを所定
の割合でサンプリングしてそれを合成する演算回路を各
画素ごとに設け、線順次方式で演算を行なうようにした
ので、外部メモリを付加したり高価な演算装置やデータ
処理装置を用いることなく、高解像度の液晶パネルに低
解像度の表示方式に従った画像データを表示させること
ができるという効果がある。
【0072】さらに、この発明は、反射型液晶パネルに
おいて、1組の保持容量と、該保持容量とデータ線との
間に接続された1組のサンプリング用スイッチ素子と、
前記保持容量と画素電極との間に接続された1組の合成
用スイッチ素子とにより構成される演算回路を、前記画
素電極の下方に設けるようにしたので、液晶パネルの開
口率を低下させることなくまた外部メモリを付加したり
高価な演算装置やデータ処理装置を用いることなく、解
像度の異なる表示方式に従った画像データを表示させる
ことができる液晶パネルを得ることができるという効果
がある。
おいて、1組の保持容量と、該保持容量とデータ線との
間に接続された1組のサンプリング用スイッチ素子と、
前記保持容量と画素電極との間に接続された1組の合成
用スイッチ素子とにより構成される演算回路を、前記画
素電極の下方に設けるようにしたので、液晶パネルの開
口率を低下させることなくまた外部メモリを付加したり
高価な演算装置やデータ処理装置を用いることなく、解
像度の異なる表示方式に従った画像データを表示させる
ことができる液晶パネルを得ることができるという効果
がある。
【図1】本発明に係る液晶パネルの表示制御回路の構成
例を示すブロック図。
例を示すブロック図。
【図2】本発明に係る液晶パネルの画素電極側の基板の
一実施例を示す回路構成図。
一実施例を示す回路構成図。
【図3】本発明に係る液晶パネルの画素電極側の基板の
一実施例を示す回路構成図。
一実施例を示す回路構成図。
【図4】実施例の液晶パネルのXシフトレジスタ側の信
号変化を示すタイミングチャート。
号変化を示すタイミングチャート。
【図5】実施例の液晶パネルのYシフトレジスタ側の信
号変化を示すタイミングチャート。
号変化を示すタイミングチャート。
【図6】実施例のXGA規格の液晶パネルにSVGA規
格の画像信号が入力された場合の画像データの変換の仕
方を示すタイミングチャート。
格の画像信号が入力された場合の画像データの変換の仕
方を示すタイミングチャート。
【図7】実施例のXGA規格の液晶パネルにVGA規格
の画像信号が入力された場合の画像データの変換の仕方
を示すタイミングチャート。
の画像信号が入力された場合の画像データの変換の仕方
を示すタイミングチャート。
【図8】実施例のXGA規格の液晶パネルにSXGA規
格の画像信号が入力された場合の画像データの変換の仕
方を示すタイミングチャート。
格の画像信号が入力された場合の画像データの変換の仕
方を示すタイミングチャート。
【図9】本発明に係る液晶パネルの画素電極側基板の他
の実施例を示す回路構成図。
の実施例を示す回路構成図。
【図10】本発明を反射型液晶パネルに適用した場合の
画素電極側基板の画素部の断面構成例を示す断面図。
画素電極側基板の画素部の断面構成例を示す断面図。
【図11】本発明を適用した反射型液晶パネルの断面構
成例を示す断面図。
成例を示す断面図。
【図12】実施例の液晶パネルを用いた電子機器の一例
としてのプロジェクタの概略構成図である。
としてのプロジェクタの概略構成図である。
1 液晶パネル 2 画像信号処理回路 3 極性反転回路 4 表示モード判定回路 5,6 クロック発生用PLL回路 7 タイミング発生回路 11 走査線 12 データ線 13 サンプリング回路 14 Xシフトレジスタ 15 セレクタ回路 16 Yシフトレジスタ 17 タイミング制御回路 30 画素演算回路 31 画素電極 32a,32b サンプリング用FET 33a,33b 合成用FET 34a,34b 保持容量 101 半導体基板 102 ウェル領域 103 フィールド酸化膜 104 ゲート線 104a ゲート電極 105a,105b ソース・ドレイン領域 106 第1層間絶縁膜 107 データ線(第1メタル層) 107a ソース電極 108 P型ドーピング領域 109a 保持容量の電極(導電層) 109b 保持容量の誘電体となる絶縁膜 110 補助結合配線 111 第2層間絶縁膜 112 遮光膜(第2メタル層) 113 第3層間絶縁膜 114 画素電極(第3メタル層) 115 接続プラグ 116 コンタクトホール 117 パシベーション膜 131 液晶パネル用基板 132 支持基板 133 共通電極 135 入射側のガラス基板 136 シール材 137 液晶 200 偏光ビームスプリッタ 300 ライトバルブ(反射型液晶パネル) 410 光源部 412,413 ダイクロイックミラー 500 投写光学系 600 スクリーン
Claims (10)
- 【請求項1】 マトリクス状に配置された複数の走査線
及び複数のデータ線と、前記走査線によって制御される
スイッチ素子を介して前記データ線から画像データが供
給される複数の画素とを有する液晶パネルの駆動方法に
おいて、 時系列的に伝送される入力画像データを水平方向画素数
に対応したクロック信号によってサンプリングを行っ
て、サンプリングした前記画像データを前記複数のデー
タ線に供給し、前記各画素へは、前記入力画像データに
おける垂直方向に隣接する複数の走査ライン用の入力画
像データから演算合成した画像データを供給するように
したことを特徴とする液晶パネルの駆動方法。 - 【請求項2】 前記入力画像データにおける垂直方向に
隣接する表示ライン用の画像データに基づく前記各画素
へ供給する画像データの演算合成は、前記信号線に供給
される画像データを、時間軸上で重み付け演算して合成
するようにしたことを特徴とする請求項1記載の液晶パ
ネルの駆動方法。 - 【請求項3】 前記入力画像データを画素行分保持する
サンプリング回路を2つ以上設け、前記入力画像データ
における隣接する走査ライン用の画像データを所定の割
合でサンプリングして合成する演算回路を前記画素ごと
に設けたことを特徴とする請求項2記載の液晶パネルの
駆動方法。 - 【請求項4】 前記演算回路は、1組の保持容量と、該
保持容量と前記信号線との間に接続された1組のサンプ
リング用スイッチ素子と、前記保持容量と画素電極との
間に接続された1組の合成用スイッチ素子とにより構成
し、前記1組のサンプリング用スイッチ素子の導通時間
を所定の比率に設定することで前記信号線上の前記隣接
する走査ライン用の画像データを前記1組の保持容量に
所定の割合でサンプリングした後、前記合成用スイッチ
素子を導通させて前記1組の保持容量にチャージされて
いる電荷を合成して得た電圧を画素電極に印加させるよ
うにしたことを特徴とする請求項3記載の液晶パネルの
駆動方法。 - 【請求項5】 前記1組のサンプリング用スイッチ素子
の導通切り換えを前記入力画像データの水平同期信号に
合わせて行なうようにしたことを特徴とする請求項4記
載の液晶パネルの駆動方法。 - 【請求項6】 前記サンプリング回路から前記信号線へ
の画像データの伝送を前記水平同期信号の水平ブランキ
ング期間内に行なうようにしたことを特徴とする請求項
4または5記載の液晶パネルの駆動方法。 - 【請求項7】 マトリクス状に配置された複数の走査線
及び複数のデータ線と、前記走査線によって制御される
スイッチ素子を介して前記データ線から画像データが供
給される複数の画素とを有し、該各画素に画素電極を有
してなる液晶装置において、 各画素ごとに、1組の保持容量と、該保持容量と前記デ
ータ線との間に接続された1組のサンプリング用スイッ
チ素子と、前記保持容量と前記画素電極との間に接続さ
れた1組の合成用スイッチ素子とからなる演算回路が設
けられているとともに、前記1組のサンプリング用スイ
ッチ素子を各々別個に制御する信号を供給する1対の前
記走査線と、前記1組の合成用スイッチ素子を制御する
共通の共通走査線が配設されてなり、 前記各走査線の端部には前記複数の走査線を所定のタイ
ミングで順次選択レベルにするためのタイミング制御回
路が接続されることを特徴とする液晶装置。 - 【請求項8】 時系列的に伝送される入力画像データを
クロック信号に従って順次取り込んで2画素行分の画像
データを保持可能なサンプリング回路と、前記サンプリ
ング回路への入力画像データの取込みタイミングを与え
るサンプリングパルスを発生するシフトレジスタと、前
記サンプリング回路に取り込まれて保持されているいず
れか1走査ライン分の画像データを交互に選択して前記
信号線に転送するセレクタ回路とを備えていることを特
徴とする請求項7記載の液晶装置。 - 【請求項9】 前記画素電極が反射電極であり、前記演
算回路を構成する1組の保持容量と1組のサンプリング
用スイッチ素子と1組の合成用スイッチ素子が前記反射
電極の下方にそれぞれ形成されていることを特徴とする
請求項7または8記載の液晶装置。 - 【請求項10】 光源と、該光源からの光を変調して反
射する請求項7〜9のいずれかに記載の液晶装置と、該
液晶装置により変調された光を投写する投写光学手段と
を備えていることを特徴とする投写型表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4438097A JPH10240196A (ja) | 1997-02-27 | 1997-02-27 | 液晶パネルの駆動方法および液晶装置並びに投写型表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4438097A JPH10240196A (ja) | 1997-02-27 | 1997-02-27 | 液晶パネルの駆動方法および液晶装置並びに投写型表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10240196A true JPH10240196A (ja) | 1998-09-11 |
Family
ID=12689909
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4438097A Withdrawn JPH10240196A (ja) | 1997-02-27 | 1997-02-27 | 液晶パネルの駆動方法および液晶装置並びに投写型表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10240196A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100492458B1 (ko) * | 2001-08-07 | 2005-05-31 | 샤프 가부시키가이샤 | 매트릭스형 화상표시장치 |
KR100556455B1 (ko) * | 1998-09-26 | 2006-05-25 | 엘지전자 주식회사 | 티에프티-엘시디(tft-lcd)의게이트구동회로 |
EP2012299A2 (en) | 2007-07-04 | 2009-01-07 | Funai Electric Co., Ltd. | Liquid crystal display device |
-
1997
- 1997-02-27 JP JP4438097A patent/JPH10240196A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100556455B1 (ko) * | 1998-09-26 | 2006-05-25 | 엘지전자 주식회사 | 티에프티-엘시디(tft-lcd)의게이트구동회로 |
KR100492458B1 (ko) * | 2001-08-07 | 2005-05-31 | 샤프 가부시키가이샤 | 매트릭스형 화상표시장치 |
EP2012299A2 (en) | 2007-07-04 | 2009-01-07 | Funai Electric Co., Ltd. | Liquid crystal display device |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040511 |