JPH10228104A - 感放射線性樹脂組成物 - Google Patents

感放射線性樹脂組成物

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JPH10228104A
JPH10228104A JP36184697A JP36184697A JPH10228104A JP H10228104 A JPH10228104 A JP H10228104A JP 36184697 A JP36184697 A JP 36184697A JP 36184697 A JP36184697 A JP 36184697A JP H10228104 A JPH10228104 A JP H10228104A
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克巳 猪俣
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将宏 秋山
Shinichiro Iwanaga
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Akira Tsuji
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】スカムの発生が有効に抑制され、現像性に優
れ、良好なパターン形状が得られるとともに、感度、解
像度にも優れ、特に、良好な焦点深度を備えたポジ型レ
ジストとして好適な新規な感放射線性樹脂組成物を提供
する。 【解決手段】アルカリ可溶性樹脂および、例えば下記式
(1)で表わされるキノンジアジド化合物を含有する感
放射線性樹脂組成物。 (ここで、Dは下記式で表わされる基を示す。)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、アルカリ可溶性樹
脂を含有する感放射線性樹脂組成物に関する。さらに詳
しくはg線、i線等の紫外線、KrFエキシマレーザー
等の遠紫外線、シンクロトロン放射線等のX線、電子線
等の荷電粒子線の如き各種放射線、特に紫外線、遠紫外
線に感応する高集積回路作製用レジストとして好適な感
放射線性樹脂組成物に関する。
【0002】
【従来の技術】ポジ型レジストは、集積回路の製造にお
いて多く用いられているが、近年における集積回路の高
集積化に伴って、より解像度の向上したレジストパター
ンを形成できるポジ型レジストが望まれている。一般に
ポジ型レジストの解像度を向上させるための、レジスト
材料の改良には、例えばレジストに用いられるアルカリ
可溶性樹脂の分子量を低下させる方法があるが、この場
合にはレジストの耐熱性が低下するといった問題が生じ
る。他方、プロセス改良による解像度の向上としてステ
ッパーの開口係数(NA)を大きくする方法があるが、
この場合には焦点深度(フォーカス許容性)が狭くなる
問題が生じるため、同時にレジスト材料の改良が必要で
あり、例えばフォーカス許容性を向上させるためにキノ
ンジアジド化合物の添加量を増やすことがその1つの対
応法である。しかしながら、キノンジアジド化合物の添
加量を増やすと現像性が悪化することになる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、現像
性、感度、解像度に優れ、さらに良好な焦点深度を備え
たポジ型レジストとして好適な感放射線性樹脂組成物を
提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、本発明
の前記目的は、(A)アルカリ可溶性樹脂、および
(B)下記式(1):
【0005】
【化4】 (式(1)中、R1〜R6は、独立にアルキル基、シクロ
アルキル基またはアリール基である。 aおよびbは独
立に1〜3の整数であり、D1およびD2は独立に、水素
原子または1,2−キノンジアジドスルホニル基であ
り、 但し、D1が複数存在する場合には、D1の少なく
とも1つは1,2−キノンジアジドスルホニル基であ
る。Aは、単結合、−O−、−S−、−CH2−、−C
(CH32−、下記式(2):
【0006】
【化5】 で表される基、または下記式(3):
【0007】
【化6】 示される基である。 xおよびyは、0〜2の整数であ
る。)で表される1,2−キノンジアジド化合物を含有
することを特徴とする感放射線性樹脂組成物、によって
達成される。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明を具体的に説明す
る。 (A)アルカリ可溶性樹脂 本発明の組成物に用いられる(A) 成分のアルカリ可溶
性樹脂(以下、「樹脂(A) 」という)としては、例
えばアルカリ可溶性フェノール樹脂、ポリビニルフェノ
ールまたはその誘導体、スチレン−無水マレイン酸共重
合体またはその誘導体、ポリビニルヒドロキシベンゾエ
−ト、カルボキシル基含有アクリル酸系樹脂等が挙げら
れ、これらの中では、アルカリ可溶性フェノール樹脂が
好ましい。
【0009】樹脂(A) のポリスチレン換算重量平均
分子量(以下、「Mw」という)は、通常、300〜2
0,000であるが、本発明の組成物を基板へ塗布する
際の作業性、レジストとして使用する際の現像性、感度
および耐熱性を向上する点から、2,000〜20,0
00であることが好ましく、3,000〜15,000
であることが特に好ましい。中でも、アルカリ可溶性フ
ェノール樹脂の場合には、5,000〜14,000の
範囲が好ましく、8,000〜12,000がより好ま
しい。前記アルカリ可溶性フェノール樹脂は、下記式
(4) :
【0010】
【化7】 [式中、nは1〜3の整数である]で示されるフェノー
ル化合物と、モノアルデヒド化合物、ビスアルデヒド化
合物等のアルデヒド化合物とを重縮合させることによっ
て得られる。
【0011】上記フェノール化合物の好ましい例は、フ
ェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレ
ゾール、2,3−キシレノール、2,5−キシレノー
ル、3,4−キシレノール、3,5−キシレノール、
2,3,5−トリメチルフェノールおよび3,4,5−
トリメチルフェノールであり、特に好ましくはフェノー
ル、m−クレゾール、p−クレゾール、2,3−キシレ
ノール、2,4−キシレノール、2,5−キシレノー
ル、3,4−キシレノール、3,5−キシレノールおよ
び2,3,5−トリメチルフェノールである。これらの
フェノール化合物は、1種単独でまたは2種以上組み合
わせて用いられる。
【0012】フェノール化合物を2種以上組み合わせて
用いる場合には、例えばm−クレゾール/p−クレゾー
ル=30〜95/5〜70(重量比)、 m−クレゾー
ル/2,4−キシレノール=50〜90/10〜50
(重量比)、m−クレゾール/2,3−キシレノール/
3,4−キシレノール=20〜95/5〜80/0〜7
5(重量比)、またはm−クレゾール/2,3,5−ト
リメチルフェノール/2,3−キシレノール=20〜9
5/5〜80/0〜75(重量比)の組み合わせが特に
好ましい。
【0013】また、前記フェノール化合物と重縮合させ
るモノアルデヒド化合物としては、例えばホルムアルデ
ヒド、トリオキサン、パラホルムアルデヒド等のホルム
アルデヒド類、メチルヘミホルマール、エチルヘミホル
マール、プロピルヘミホルマール、ブチルヘミホルマー
ル、フェニルヘミホルマール等のヘミホルマール類、ベ
ンズアルデヒド、o−ヒドロキシベンズアルデヒド、m
−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロキシベンズ
アルデヒド、o−クロロベンズアルデヒド、m−クロロ
ベンズアルデヒド、p−クロロベンズアルデヒド、o−
ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベンズアルデヒ
ド、p−ニトロベンズアルデヒド、o−メチルベンズア
ルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−メチルベ
ンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデヒド、p−n
−ブチルベンズアルデヒド等のベンズアルデヒド類、ア
セトアルデヒド、プロピルアルデヒド、フェニルアセト
アルデヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−フ
ェニルプロピルアルデヒド、およびフルフラールが挙げ
られる。また、前記ビスアルデヒド化合物としては、グ
リオキサール、グルタルアルデヒド、テレフタルアルデ
ヒド、イソフタルアルデヒド等を挙げることができる。
これらのうち、ホルムアルデヒド、ブチルヘミホルマー
ルおよびo−ヒドロキシベンズアルデヒドが特に好適で
ある。これらのアルデヒド化合物も、1種単独でまたは
2種以上を組み合わせて用いることができる。該アルデ
ヒド化合物の使用量は、フェノール化合物1モルに対
し、通常、0.7〜3.0モルでよく、好ましくは0.
6〜1.5モルである。
【0014】フェノール化合物とアルデヒド化合物との
重縮合反応には、通常、酸性触媒、塩基性触媒等の触媒
が使用される。この酸性触媒としては、例えば塩酸、硝
酸、硫酸、ギ酸、シュウ酸、酢酸およびp−トルエンス
ルホン酸が挙げられる。酸性触媒の使用量は、フェノー
ル化合物1モルに対し、通常、1×10-5〜5×l0-1
モルでよい。
【0015】前記重縮合の反応媒質としては、通常、水
が使用される。水を反応媒質として使用した場合に反応
初期から不均−系になるときには、親水性溶媒または親
油性溶媒が使用される。該親水性溶媒としては、例えば
メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール、
プロピレングリコールモノメチルエーテル等のアルコー
ル類、ならびにテトラヒドロフラン、ジオキサン等の環
状エーテル類が挙げられる。前記親油性溶媒としては、
メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、2−へ
プタノン等のケトン類が挙げられる。これらの反応媒質
の使用量は、フェノール化合物およびアルデヒド化合物
からなる反応原料100重量部当り、通常、20〜1,
000重量部でよい。
【0016】重縮合の反応温度は、原料の反応性に応じ
て適宜調整することができ、通常、10〜200℃でよ
い。重縮合の反応方法には、フェノール化合物、アルデ
ヒド化合物、触媒等を一括して反応容器に仕込む方法、
触媒の存在下で、フェノール化合物、アルデヒド等を反
応の進行とともに反応系に加えていく方法等が適宜採用
される。重縮合の反応終了後、一般的には、系内に存在
する未反応の原料、触媒、反応媒質等が除去される。す
なわち、温度を130℃〜230℃に上昇させ、減圧下
で揮発分を除去したのち、アルカリ可溶性フェノール樹
脂を回収すればよい。
【0017】特に、Mw2,000〜20,000の高
分子量のアルカリ可溶性フェノール樹脂を得るために
は、前記の方法で得られた樹脂を、エチレングリコール
モノメチルエーテルアセテート、3−メトキシプロピオ
ン酸メチル、メチルイソブチルケトン、2−へプタノ
ン、ジオキサン、メタノール、酢酸エチル等の良溶媒に
溶かし、次いで水、n−へキサン、n−へプタン等の貧
溶媒を混合する。こうして分離した樹脂溶液層を回収す
ることにより、高分子量のアルカリ可溶性フェノール樹
脂が得られる。
【0018】樹脂(A) は、1種単独でも2種以上組
み合わせて用いてもよい。樹脂(A) のMwは、前述
のように2,000〜20,000が好ましいが、得ら
れる組成物のアルカリ可溶性を促進するために、Mw
2,000未満の低分子量のアルカリ可溶性樹脂を併用
することが望ましい場合がある。該低分子量アルカリ可
溶性樹脂のMwは、好ましくは300以上2,000未
満の範囲である。
【0019】このような低分子量アルカリ可溶性樹脂と
しては、例えば低分子量のアルカリ可溶性ノボラック樹
脂、ならびにアルカリ可溶性ポリヒドロキシスチレンお
よびその誘導体を挙げられる。例えば、フェノール/ホ
ルムアルデヒド縮合ノボラック樹脂、o−クレゾール/
ホルムアルデヒド縮合ノボラック樹脂、m−クレゾール
/ホルムアルデヒド縮合ノボラック樹脂、p−クレゾー
ル/ホルムアルデヒド縮合ノボラック樹脂、m−クレゾ
ール/p−クレゾ−ル/ホルムアルデヒド縮合ノボラッ
ク樹脂、ポリヒドロキシスチレン、およびヒドロキシス
チレン−スチレン共重合体を挙げることができる。
【0020】該低分子量のアルカリ可溶性ノボラック樹
脂は、フェノール化合物とアルデヒドとを重縮合させる
ことによって得られる。このフェノール化合物として
は、前述のノボラック樹脂の合成で用いられるフェノー
ル化合物として例示したもの以外に、1−ナフトール、
2−ナフトール等も使用することができる。この場合の
アルデヒドの使用量は、フェノール化合物1モルに対し
て、通常、0.2〜0.8モルでよく、好ましくは0.
3〜0. 7モルである。また、この重縮合の触媒に
は、前記の酸性触媒が用いられる。前記低分子量アルカ
リ可溶性樹脂の配合量は、Mw2,000〜20,00
0の高分子量アルカリ可溶性樹脂100重量部に対し
て、通常、50重量部以下である。
【0021】(B)キノンジアジド化合物 本発明の組成物に(B)成分として用いられる前記式
(1)で表される1,2−キノンジアジド化合物(以
下、「キノンジアジド化合物(B)」という。)は感放
射線剤として作用する。前記式(1)中、R1〜R6は、
独立に、アルキル基、シクロアルキル基またはアリール
基である。ここで、アルキル基としては、炭素原子数1
〜4のアルキル基が好適であり、具体的にはメチル基、
エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチ
ル基、t−ブチル基等を挙げることができる。シクロア
ルキル基としては、炭素原子数5〜7のものが好まし
く、例えばシクロペンチル基、シクロヘキシル基等を挙
げることができる。アリール基としては、炭素原子数6
〜10のアリール基が好適であり、例えばフェニル基、
トリル基、ナフチル等を挙げることができる。
【0022】式(1)中、D1またはD2は、独立に、水
素原子または1,2−キノンジアジドスルホニル基であ
る。但し、D1が複数存在する場合には、そのうち少な
くとも1つは1,2−キノンジアジドスルホニル基であ
る。ここで、1,2−キノンジアジドスルホニル基とし
ては、具体的には1,2−ベンゾキノンジアジド−4−
スルホニル基、1,2−ナフトキノンジアジド−4−ス
ルホニル基、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スル
ホニル基等を挙げることができる。式(1)中、Aは単
結合、
【0023】
【化8】−O−、−S−、−CH2−、−C(CH32
−、前記式(2)または式(3)で示される基である。
【0024】式(1)で表されるキノンジアジド化合物
(B)は、式(1)において、D1およびD2がすべて水
素原子である場合に相当する化合物、すなわち式(1)
中の−OD1および−OD2で示される基が水酸基である
場合に相当する化合物(以下、「前駆体(b)」とい
う。)と、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホ
ニルクロリドとをトリエチルアミン等の塩基性触媒の存
在下で反応させることにより得られる。前駆体(b)の
具体例としては、下記式(5−1)〜(5−8)で表さ
れる化合物を挙げることができる。
【0025】
【化9】
【0026】
【化10】
【0027】キノンジアジド化合物(B)の具体例とし
ては、式(5−1)〜(5−8)で表される前駆体
(b)の1,2−ベンゾキノンジアジド−4−スルホン
酸エステル、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スル
ホン酸エステル、1,2−ナフトキノンジアジド−5−
スルホン酸エステル、1,2−ナフトキノンジアジド−
6−スルホン酸エステル等を挙げることができる。特に
1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホン酸エステ
ルおよび1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン
酸エステルが好ましい。本発明の組成物において、キノ
ンジアジド化合物(B)は、樹脂(A)100重量部当
たり、通常、5〜50重量部の割合で使用され、特に1
0〜40重量部の割合で使用することが好ましい。また
キノンジアジド化合物(B)は単独であるいは2種以上
を組み合わせて使用することができる。なお、前駆体
(b)は次のようにして製造することができる。式
(1)においてAが単結合、−O−、−S−、−CH2
−または−C(CH32−である前駆化合物は、例え
ば、下記式(6)に示すフェノール化合物を原料として
用い、合成することができる。
【0028】
【化11】 (ここで、Bは、単結合、−O−、−S−、−CH2
または−C(CH32−で表わされる基である。)
【0029】即ち、該前駆化合物は、式(6)で表わさ
れるフェノール化合物とイソプロペニルフェノールと
を、酸性触媒の存在下で、大体30〜60゜Cに加熱す
ることによって得られる。この反応には、溶媒を用いて
も用いなくてもよい。無溶媒でも反応成分が均一に混合
できれば、溶媒を用いなくてもよい。溶媒を用いる場合
には、トルエンもしくはキシレンを単独で使用するか、
またはトルエンとn−ヘキサンを混合して使用するのが
好ましい。酸性触媒としては、p−トルエンスルホン
酸、塩酸等が用いられる。また、式(1)において、A
が、前記の式(2)または式(3)で示される前駆化合
物は、例えば、それぞれ、式(7)または式(8)で示
されるジヒドロキシ化合物を出発原料として合成するこ
とができる。
【0030】
【化12】 即ち、式(7)または式(8)で表わされるジヒドロキ
シ化合物とレゾルシノールとを酸性触媒の存在下で大体
35〜60゜Cで加熱反応させて、それぞれ、下記式
(7a)または(8a):
【0031】
【化13】 で表わされる中間物質を得、次にこの中間物質をイソプ
ロペニルフェノールと酸性触媒の存在下で約30〜60
゜Cに加熱し、反応させて得ることができる。この場合
も、溶媒は用いても用いなくてもよい。溶媒を用いる場
合には、トルエンもしくはキシレンを単独で使用する
か、またはトルエンとn−ヘキサンを混合して使用する
のが好ましい。無溶媒でも反応原料が均一に混合できれ
ばよい。また、酸性触媒としては、 p−トルエンスルホ
ン酸、塩酸等が用いられる。
【0032】〔その他の成分〕本発明の組成物には、必
要に応じて、各種成分や添加剤を配合してもよい。
【0033】他のキノンジアジド化合物 本発明の組成物には、キノンジアジド化合物(B)に、
他の1,2−ベンゾキノンジアジド−4−スルホン酸エ
ステル、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホン
酸エステル、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スル
ホン酸エステル等の1,2−キノンジアジド化合物を併
用することができる。このような1,2−キノンジアジ
ド化合物としては、例えば、式:
【0034】
【化14】 [式中、X1〜X15は、独立に、水素原子、炭素原子数1
〜4のアルキル基、炭素原子数1〜4のアルコキシ基、
炭素原子数6〜10のアリール基または水酸基である。た
だし、X1〜X5、X6〜X10およびX11〜X15の各群に
おいて少なくとも1つは水酸基である。また、Y1は、
水素原子または炭素原子数1〜4のアルキル基であ
る]、
【0035】
【化15】 [式中、X16〜X30は、前記X1〜X15と同様の原子また
は基を意味し、但し、X16〜X20、X21〜X25およびX
26〜X30の各群において少なくとも1つは水酸基であ
る。また、Y2〜Y4は、独立に、水素原子または炭素原
子数1〜4のアルキル基である]、
【0036】
【化16】 [式中、X31〜X44は、前記X1〜X15と同様の原子また
は基を意味し、但し、X31〜X35において少なくとも1
つは水酸基である。また、Y5〜Y8は、独立に水素原子
または炭素原子数1〜4のアルキル基である]、
【0037】
【化17】 [式中、X45〜X58は、独立に、水素原子、ハロゲン原
子、炭素原子数1〜4のアルキル基、炭素原子数1〜4
のアルコキシ基、炭素原子数5〜7のシクロアルキル基
または水酸基である。但し、X45〜X48およびX49〜X
53の各群において少なくとも1つは水酸基である。ま
た、Y9およびY10は、独立に水素原子、炭素原子数1
〜4のアルキル基または炭素原子数5〜7のシクロアル
キル基である]、および
【0038】
【化18】 [式中、X59〜X80は、前記X45〜X58と同様である。
但し、X59〜X63、X64〜X67、X72〜X75およびX76
〜X80の各群おいて少なくとも1つは水酸基である。ま
た、Y11〜Y18は、独立に水素原子または炭素原子数1
〜4のアルキル基である。]で表されるフェノール化合
物の1,2−キノンジアジドスルホン酸エステルを挙げ
ることができる。キノンジアジド化合物(B)以外のキ
ノンジアジド化合物の配合量は、樹脂(A)100重量
部に対して、好ましくは50重量部以下である。このよ
うなキノンジアジド化合物(B)以外のキノンジアジド
化合物を使用するか否かにかかわらず、本発明の組成物
中に占める1,2−キノンジアジドスルホニル残基の総
重量は、組成物の全固形分に対して、好ましくは5〜5
0重量%、より好ましくは10〜30重量%の範囲に調
節される。
【0039】溶解促進剤 本発明においては、組成物のアルカリ溶解性を高める目
的で、低分子量のフェノール化合物(以下、「溶解促進
剤」という)を添加することができる。該フェノール化
合物の分子量は2,000未満、好ましくは200〜
1,000である。この溶解促進剤としては、ベンゼン
環数が2〜5のフェノール化合物が好適であり、例えば
下記式(9−1)〜(9−9)で表される化合物が挙げ
られる。これらは一種単独でも2種以上の組合せでも使
用できる。これらの中では、式(9−3)、式(9−
5)、式(9−6)および式(9−7)で示されるもの
が特に好ましい。
【0040】
【化19】 [式(9−1)〜(9−3)において、eおよびfは独
立に0〜3の整数であり、xおよびyは独立に0〜3に
整数であり、ただしeとfは同時に0ではなく、e+x
≦5でf+y≦5である。]
【0041】
【化20】 [式(9−4)および(9−5)において、e、fおよ
びgは独立に0〜3の整数であり、x、yおよびzは独
立に0〜3の整数であり、ただしe、fおよびgは同時
に0ではなく、e+x≦5、f+y≦4、そしてg+z
≦5である。]
【0042】
【化21】 [式(9−6)〜(9−8)において、e、fおよびg
は独立に0〜3の整数であり、x、yおよびzは独立に
0〜3の整数であり、ただしe、fおよびgは同時に0
ではなく、e+x≦5、f+y≦5そしてg+z≦5で
ある。]
【0043】
【化22】 [式中、e、f、gおよびhは独立に0〜3の整数であ
り、w、x、yおよびzは独立に0〜3の整数であり、
ただしe、f、gおよびhは同時に0ではなく、e+w
≦5、f+x≦5、g+y≦5そしてh+z≦5であ
る。]
【0044】また、前記式(9−1)〜(9−9)で表
される化合物以外に、2,3,4−トリヒドロキシベン
ゾフェノン、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベン
ゾフェノン、クルクミン、フラバン等の化合物も溶解促
進剤として使用できる。溶解促進剤の配合量は、樹脂
(A) 100重量部当り、通常、50重量部以下でよ
く、好ましくは5〜30重量部である。
【0045】界面活性剤 界面活性剤は、組成物の塗布性および現像性を改良する
ために添加される。該界面活性剤としては、例えばポリ
オキシエチレンラウリルエーテル、ポリオキシエチレン
オクチルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンノニル
フェニルエーテル、ポリエチレングリコールジラウリエ
ート、ポリエチレングリコールジステアレート、メガフ
ファックスF171、F172、F173(商品名、大
日本インキ(株)製)、フロラードFC430、FC4
31(商品名、住友スリーエム(株)製)、アサヒガー
ドAG710、サーフロンS−382、SC−101、
SC−102、SC−103、SC−104、SC−1
05、SC−106(商品名、旭硝子(株)製)、KP
341(商品名、信越化学工業(株)製)、ポリフロ−
No.75、No.95(商品名、共栄社油脂化学工業
(株)製)、ならびにNBX−7、NBX−14、NB
X−15(商品名、ネオス(株)製)が挙げられる。
【0046】これらの界面活性剤の配合量は、組成物の
固形分100重量部当たり、好ましくは2重量部以下で
ある。本発明の組成物には、さらに、レジストの放射線
照射部の潜像を可視化させ、放射線照射時のハレーショ
ンの影響を少なくするための染料や顔料、接着性を改善
するための接着助剤、保存安定剤、消泡剤等も配合する
こともできる。
【0047】感放射線性樹脂組成物の調製および使用方
本発明の組成物は、必須成分と、必要に応じ添加される
その他の成分を所定量配合し、例えば固形分濃度が20
〜40重量%となるように溶剤に溶解し、孔径0.2μ
m程度のフィルターでろ過することによって調製され
る。
【0048】前記溶剤としては、例えばエチレングリコ
ールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチ
ルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテルア
セテート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセ
テート、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジ
エチレングリコールモノエチルエーテル、プロピレング
リコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレング
リコールモノプロピルエーテルアセテート、トルエン、
キシレン、メチルエチルケトン、2−へプタノン、3−
へプタノン、4−へプタノン、シクロヘキサノン、2−
ヒドロキシプロピオン酸エチル、2−ヒドロキシ−2−
メチルプロピオン酸エチル、エトキシ酢酸エチル、ヒド
ロキシ酢酸エチル、2−ヒドロキシ−3−メチルブタン
酸メチル、3−メトキシプロピオン酸メチル、3−エト
キシプロピオン酸エチル、3−メトキシプロピオン酸エ
チル、酢酸エチル、酢酸ブチル、ピルビン酸メチルおよ
びピルビン酸エチルを挙げることができる。これらの溶
剤は一種単独でまたは2種以上組み合わせて使用され
る。
【0049】さらに、これらの溶剤に、N−メチルホル
ムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチル
ホルムアニリド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジ
メチルアセトアミド、N−メチルピロリドン、ジメチル
スルホキシド、ベンジルエチルエーテル、ジヘキシルエ
ーテル、アセトニルアセトン、イソホロン、カプロン
酸、カプリル酸、1−オクタノール、1−ノナノール、
ベンジルアルコール、酢酸べンジル、安息香酸エチル、
シュウ酸ジエチル、マレイン酸ジエチル、7−ブチロラ
クトン、炭酸エチレン、炭酸プロピレン、エチレングリ
コールモノフェニルエーテルアセテート等の高沸点溶剤
を添加することもできる。これらの溶剤も、1種単独で
または2種以上を組み合わせて便用される。
【0050】レジスト被膜およびパターンの形成 溶液として調製された本発明の組成物は、回転塗布、流
延塗布、ロール塗布等の塗布方法を用いて、シリコンウ
エハー;アルミニウム等で被覆されたウエハー等の基板
上に塗布される。次いで、これを70〜110℃でプレ
ベークすることによりレジスト被膜が形成され、レジス
ト被膜に所定位置に選択的に放射線が照射(以下、「露
光」という)される。こうして所望のレジストパターン
が形成された基板を、現像液で現像することによりパタ
ーンが形成される。また、上記レジストパターンの形成
と現像の間に、70〜140℃の温度で加熱する操作
(以下、「露光後べーク」という)を追加すると、本発
明の効果をさらに向上することができる。
【0051】前記放射線としては、g線、i線等の紫外
線、エキシマレーザー等の遠紫外線、シンクロトロン放
射線等のX線、ならびに電子線等の荷電粒子線が挙げら
れ、好ましくは紫外線である。前記現像液としては、水
酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、ケ
イ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア
水、エチルアミン、n−プロピルアミン、ジエチルアミ
ン、ジ−n−プロピルアミン、トリエチルアミン、メチ
ルジエチルアミン、ジメチルエタノールアミン、トリエ
タノールアミン、テトラメチルアンモニウムヒドロキシ
ド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、コリン、
ピロール、ピペリジン、1,8−ジアザビシクロ−
[5.4.0]−7−ウンデセン、1,5−ジアザビシ
クロ−[4.3.0]−5−ノナン等のアルカリ性化合
物を、例えば1〜10重量%の濃度に溶解してなるアル
カリ性水溶液が使用される。また、該現像液には、例え
ばメタノール、エタノール等のアルコール類などの水溶
性有機溶媒ならびに界面活性剤を、適量添加することも
できる。なお、このようなアルカリ性水溶液からなる現
像液で現像した後は、−般的には、純水、超純水等の水
で洗浄する。
【0052】
【実施例】以下、実施例により本発明を詳細に説明する
が、本発明はこれらの実施例によって、なんら制約され
るものではない。なお、実施例中のMwの測定、(B)
成分であるキノンジアジド化合物の同定、定量およびレ
ジストの評価は、以下の方法により行った。
【0053】《キノンジアジド化合物(B)》高速液体
クロマトグラフ(HPLC)分析により、各キノンジア
ジド化合物の組成の割合を分析した。また、それぞれの
ピークに相当する化合物は13C−NMRによりその構造
を同定した。 HPLC分析条件:ガスクロ工業社製HPLCカラム
(Inertsil ODS 5)を用い、液量1.0ml/m
in、溶離液:アセトニトリル/0.1%リン酸水溶液
(容量比80/20)の分析条件で、サンプル20mg
をアセトニトリル10mlに溶解した試料3μlを分析
した。検出は、280nmの波長での試料の吸光強度を
測定した。その数値を面積%で表わした。 《Mw》東ソー社製GPCカラム(G2000HXL:2
本、G3000HXL:1本、G4000HXL:1本)を
用い、流量:1.0ml/分、溶出溶媒:テトラヒドロ
フラン、カラム温度:40℃の分析条件で、単分散ポリ
スチレンを標準とするゲルパーミエーションクロマトグ
ラフ法により測定した。 《感度》0.35μmのライン・アンド・スペースパタ
ーンを、ラインとスペースのそれぞれの幅が1対1の状
態に解像する時の露光量を感度とした。(以下、「実効
感度」という。) 《解像度》実効感度の露光量で膜減りすることなく、ラ
インとスペースとの分離を走査型電子顕微鏡で確認する
ことができるライン・アンド・スペースパターンの最小
寸法を測定した。 《現像性》組成物のレジスト被膜を形成し、パターン形
成後のスカム発生の有無および現像残りの程度を走査型
電子顕微鏡を用いて調べた。 《焦点深度(フォーカス許容性)》実効感度の露光量
で、0.35μmのライン・アンド・スペースパターン
が膜減りを起こすことなくラインとスペースとの分離を
走査型電子顕微鏡で確認することができる焦点深度の幅
(フォーカスレンジ)を測定した。 《パターン形状》実効感度の露光量でレジスト被膜を露
光し、現像して得られた0.4μmのライン・アンド・
スペースパターンの断面形状を走査型電子顕微鏡で観察
し、図1に示す断面形状A、BおよびCのいずれに該当
するか判定した。
【0054】〈樹脂(A)の合成〉合成例1 オートクレーブに、 m−クレゾール 69.2g(0.64モル)、 2,3−キシレノール 9.8g(0.08モル) 3,4−キシレノール 9.8g(0.08モル) 37重量%ホルムアルデヒド水溶液 55.1g(ホルムアルデヒド:0.85モル) シュウ酸2水和物 5.0g(0.04モル) 水 52.6g および ジオキサン 182g を仕込み、オートクレーブを油浴に浸し、内温を130
℃に保持して攪拌しながら8時間縮合を行い、反応後、
室温まで冷却し、内容物をビーカーに取り出した。この
ビーカー中で2層に分離したのち、下層を取り出し、濃
縮、脱水し、乾燥してノボラック樹脂を回収した。この
樹脂を樹脂(A1)という。樹脂(A1)のMwは、
8,600であった。
【0055】合成例2 オートクレーブに、 m−クレゾール 64.9g(0.6モル) 2,3−キシレノール 36.7g(0.3モル) 3,4−キシレノール 12.2g(0.1モル) 37重量%ホルムアルデヒド水溶液 64.9g(ホルムアルデヒド:0.8モル) シュウ酸2水和物 6.3g(0.05モル) 水 79.4g および ジオキサン 383.9g を仕込み、合成例1と同様の操作を行い、ノボラック樹
脂を合成した。この樹脂を、樹脂(A2)という。樹脂
(A2)のMwは8,300であった。
【0056】〈キノンジアジド化合物(B)の合成〉以
下において、前記式(5−3)で表される化合物を前駆
化合物(5−3)、前記式(5−5)で表される化合物
を前駆化合物(5−5)、前記式(5−7)で表される
化合物を前駆化合物(5−7)と略称する。
【0057】合成例3 遮光下で、攪拌機、滴下ロートおよび温度計を備えたフ
ラスコに、 前駆化合物(5−3) 25.0g(0.05モル) 1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド 26.8g(0.1モル) および ジオキサン 311g を仕込み、攪拌しながら溶解させた。ついで、フラスコ
を30℃にコントロールされた水浴中に浸し、内温が3
0℃一定となった時点で、この溶液に トリエチルアミン 11.1g(0.11モル) を内温が35℃を越えないように滴下ロートを用いて加
え、同温度で2時間反応させた。その後、析出したトリ
エチルアミン塩酸塩をろ過により取り除き、濾液を大量
の希塩酸水溶液中に注ぎ込んで反応生成物を析出させ、
ついで析出物を濾過し、回収し、真空乾燥器中、40℃
で一昼夜乾燥してキノンジアジド化合物(B1)を得
た。キノンジアジド化合物(B1)の組成をHPLCで
分析した結果、下記に示す構造のトリエステル22%、
ジエステル68%、モノエステル10%であった。 トリエステル
【0058】
【化23】 ジエステル
【0059】
【化24】 モノエステル
【0060】
【化25】 (ここで、Dは、式:
【0061】
【化26】 で表わされる基を示す。)
【0062】合成例4 前駆化合物(5−5) 29.5g(0.05モル) 1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド 26.8g(0.1モル) ジオキサン 336g および トリエチルアミン 11.1g(0.11モル) を使用した以外は合成例3と同様にしてキノンジアジド
化合物(B2)を得た。キノンジアジド化合物(B2)
の組成をHPLCで分析した結果、下記に示す構造のト
リエステル18%、ジエステル70%、モノエステル1
2%であった。 トリエステル
【0063】
【化27】 ジエステル
【0064】
【化28】 モノエステル
【0065】
【化29】 (ここで、Dは、式:
【0066】
【化30】 で表わされる基を示す。)
【0067】合成例5 前駆化合物(5−7) 32.3g(0.05モル) 1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド 26.8g(0.1モル) ジオキサン 354g および トリエチルアミン 11.1g(0.11モル) を使用した以外は合成例3と同様にしてキノンジアジド
化合物(B3)を得た。キノンジアジド化合物(B3)
の組成をHPLCで分析した結果、下記に示す構造のジ
エステル98%、モノエステル2%であった。ジエステル
【0068】
【化31】 モノエステル
【0069】
【化32】 (ここで、Dは、式:
【0070】
【化33】 で表わされる基を示す。)
【0071】〈その他のキノンジアジド化合物の合成〉合成例6 下記式で表される化合物 14.6g(0.05モル)
【0072】
【化34】
【0073】 1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド 33.5g(0.125モル) ジオキサン 288g および トリエチルアミン 13.9g(0.138モル) を使用した以外は合成例3と同様にしてキノンジアジド
化合物(C−1)を得た。キノンジアジド化合物(C−
1)の組成をHPLCで分析した結果、トリエステル7
3%、ジエステル21%、モノエステル5%であった。
【0074】合成例7 下記式で表される化合物 21.2g(0.05モル)
【0075】
【化35】
【0076】 1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド 33.5g(0.125モル) ジオキサン 328g および トリエチルアミン 13.9g(0.138モル) を使用した以外は合成例3と同様にしてキノンジアジド
化合物(C−2)を得た。キノンジアジド化合物(C−
2)の組成をHPLCで分析した結果、トリエステル6
8%、ジエステル27%、モノエステル5%であった。
【0077】合成例8 下記式で表される化合物 37.8g(0.1モル)
【0078】
【化36】
【0079】 1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド 40.2g(0.15モル) ジオキサン 300g N,N−ジメチルホルムアミド 75g および トリエチルアミン 17.2g(0.17モル) を使用した以外は合成例3と同様にしてキノンジアジド
化合物(C−3)を得た。キノンジアジド化合物(C−
3)の組成をHPLCで分析した結果、ジエステル62
%、モノエステル36%、反応原料として使用した上記
のフェノール化合物2%であった。
【0080】合成例9 下記式で表される化合物 18.2g(0.05モル)
【0081】
【化37】
【0082】 1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホニルクロリド 40.2g(0.15モル) ジオキサン 377g および トリエチルアミン 17.2g(0.17モル) を使用した以外は合成例3と同様にしてキノンジアジド
化合物(C−4)を得た。キノンジアジド化合物(C−
4)の組成をHPLCで分析した結果、テトラエステル
23%、トリエステル69%、ジエステル8%であっ
た。
【0083】実施例1〜8および比較例1〜3 各例において、表1および表2に示す量で(但し、部は
重量部である)、樹脂(A)、溶解促進剤、キノンジア
ジド化合物および溶剤を混合して、均一溶液としたの
ち、孔径0.2μmのメンブランフィルターで濾過し、
組成物の溶液を調製した。得られた溶液を、シリコン酸
化膜を有するシリコンウエハー上にスピンナーを用いて
塗布したのち、ホットプレート上で90℃にて2分間プ
レベークして厚さ1.1μmのレジスト被膜を形成し
た。ついで、レチクルを介して、(株)ニコン社製NS
R−2005i9C縮小投影露光機(レンズ開口数=
0.57)で波長365nm(i線)を用いて露光し、
ホットプレート上で110℃で1分間ポストベークした
後、2.38重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキ
シド水溶液により現像し、超純水でリンスし、乾燥し、
レジストパターンの形成を行った。得られたレジストパ
ターンの特性を評価した。結果を表3および表4に示
す。
【0084】
【表1】
【0085】
【表2】
【0086】表1および表2の注:溶解促進剤および溶
剤の種類は、次の通りである。 溶解促進剤 α : 1,1−ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメ
チルフェニル)アセトン β : 1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1
−フェニルエタン 溶剤 S1 : 2−ヒドロキシプロピオン酸エチル S2 : 3−エトキシプロピオン酸エチル、
【0087】
【表3】
【0088】
【表4】
【0089】
【発明の効果】本発明の感放射線性樹脂組成物は、スカ
ムの発生が有効に抑制され、現像性に優れ、良好なパタ
ーン形状が得られるとともに、高感度、高解像度で、さ
らに良好なフォーカス許容性を示す。そのため、本感放
射線性樹脂組成物は高集積度の集積回路作製用レジスト
として好適に使用できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 レジストパターンの断面図を示す図であ
る。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/027 H01L 21/30 502R (72)発明者 辻 昭 東京都中央区築地二丁目11番24号 ジェイ エスアール株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】(A)アルカリ可溶性樹脂、および(B)
    下記式(1): 【化1】 (式(1)中、R1〜R6は、独立にアルキル基、シクロ
    アルキル基またはアリール基である。 aおよびbは独
    立に1〜3の整数であり、D1およびD2は独立に、水素
    原子または1,2−キノンジアジドスルホニル基であ
    り、 但し、D1が複数存在する場合には、D1の少なく
    とも1つは1,2−キノンジアジドスルホニル基であ
    る。Aは、単結合、−O−、−S−、−CH2−、−C
    (CH32−、下記式(2): 【化2】 で表される基、または下記式(3): 【化3】 示される基である。 xおよびyは、0〜2の整数であ
    る。)で表される1,2−キノンジアジド化合物を含有
    することを特徴とする感放射線性樹脂組成物。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100989018B1 (ko) * 2002-11-19 2010-10-20 제이에스알 가부시끼가이샤 감방사선성 수지 조성물, 층간 절연막 및 마이크로렌즈,및 이들의 제조 방법

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KR100989018B1 (ko) * 2002-11-19 2010-10-20 제이에스알 가부시끼가이샤 감방사선성 수지 조성물, 층간 절연막 및 마이크로렌즈,및 이들의 제조 방법

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