JPH10221072A - 写真測量システムおよび写真測量方法 - Google Patents
写真測量システムおよび写真測量方法Info
- Publication number
- JPH10221072A JPH10221072A JP9034330A JP3433097A JPH10221072A JP H10221072 A JPH10221072 A JP H10221072A JP 9034330 A JP9034330 A JP 9034330A JP 3433097 A JP3433097 A JP 3433097A JP H10221072 A JPH10221072 A JP H10221072A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recorded image
- dimensional coordinates
- points
- recorded
- observation point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C11/00—Photogrammetry or videogrammetry, e.g. stereogrammetry; Photographic surveying
- G01C11/04—Interpretation of pictures
- G01C11/06—Interpretation of pictures by comparison of two or more pictures of the same area
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ステレオペア写真による写真測量において精
度の高い測量を行う。 【解決手段】 被写体１０２を原寸Ｌが既知である基準
構造物１０と共にカメラ１００により主点位置Ｍ１およ
びＭ２で撮影する。基準構造物１０の基準形状の頂点Ｐ
１、Ｐ２、Ｐ３と観測点２点を、撮影された２つの写真
においてペア指定する。基準形状の頂点および観測点の
写真座標からそれぞれの３次元座標を、逐次近似法を用
いて共線方程式により求める。基準形状の頂点の３次元
座標から各頂点間の距離を求め、原寸Ｌとのずれ量を算
出する。ずれ量が許容範囲であれば観測点のペア指定は
正確であると判断する。
度の高い測量を行う。 【解決手段】 被写体１０２を原寸Ｌが既知である基準
構造物１０と共にカメラ１００により主点位置Ｍ１およ
びＭ２で撮影する。基準構造物１０の基準形状の頂点Ｐ
１、Ｐ２、Ｐ３と観測点２点を、撮影された２つの写真
においてペア指定する。基準形状の頂点および観測点の
写真座標からそれぞれの３次元座標を、逐次近似法を用
いて共線方程式により求める。基準形状の頂点の３次元
座標から各頂点間の距離を求め、原寸Ｌとのずれ量を算
出する。ずれ量が許容範囲であれば観測点のペア指定は
正確であると判断する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば交通事故調
査等における写真測量に関する。
査等における写真測量に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、交通事故調査などで行われる写真
測量において、例えば被写体は銀塩フィルムを用いたカ
メラ、あるいは電子スチルカメラにより撮影され、複数
の記録画像における被写体の２次元座標から、共線方程
式などを用いた演算により被写体の３次元座標が得られ
る。
測量において、例えば被写体は銀塩フィルムを用いたカ
メラ、あるいは電子スチルカメラにより撮影され、複数
の記録画像における被写体の２次元座標から、共線方程
式などを用いた演算により被写体の３次元座標が得られ
る。
【０００３】このような共線方程式を用いた演算は、コ
ンピュータにより逐次近似解法で解く方法がとられる。
コンピュータを用いてこのような共線方程式を逐次近似
解法で解いて３次元座標値を求める演算を実行させる際
に、実際に３次元座標値を求めたい任意の箇所（観測
点）を、それぞれの記録画像上の２次元座標値としてコ
ンピュータに入力する作業が必要となる。この作業は、
３次元座標値を求める観測点が各記録画像で対応するよ
う、各記録画像上の座標値で入力しなければならない。
２次元座標値の入力作業には、例えば２枚の記録画像を
コンピュータのＣＲＴに表示し、ＣＲＴを目視しながら
それぞれの記録画像上で観測点を指定することにより座
標値を入力するというマンマシンインターフェースが用
いられている。
ンピュータにより逐次近似解法で解く方法がとられる。
コンピュータを用いてこのような共線方程式を逐次近似
解法で解いて３次元座標値を求める演算を実行させる際
に、実際に３次元座標値を求めたい任意の箇所（観測
点）を、それぞれの記録画像上の２次元座標値としてコ
ンピュータに入力する作業が必要となる。この作業は、
３次元座標値を求める観測点が各記録画像で対応するよ
う、各記録画像上の座標値で入力しなければならない。
２次元座標値の入力作業には、例えば２枚の記録画像を
コンピュータのＣＲＴに表示し、ＣＲＴを目視しながら
それぞれの記録画像上で観測点を指定することにより座
標値を入力するというマンマシンインターフェースが用
いられている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＣＲＴ
に表示された記録画像上で観測点を指定する方法は記録
画像の撮影状態や解像度等に左右されるため各記録画像
における観測点を対応させるのは困難であり、入力座標
値に誤差が生じやすい。入力される座標値に誤差がある
とこの誤差が含まれた状態で演算が行われるため、算出
される３次元座標の精度を著しく低下させてしまうとい
う問題があった。
に表示された記録画像上で観測点を指定する方法は記録
画像の撮影状態や解像度等に左右されるため各記録画像
における観測点を対応させるのは困難であり、入力座標
値に誤差が生じやすい。入力される座標値に誤差がある
とこの誤差が含まれた状態で演算が行われるため、算出
される３次元座標の精度を著しく低下させてしまうとい
う問題があった。
【０００５】本発明は以上の問題を解決するものであ
り、常に安定して精度の高い測量が行える写真測量シス
テムを提供することを目的としている。
り、常に安定して精度の高い測量が行える写真測量シス
テムを提供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に係る写真測量シ
ステムは、互いに異なる撮影位置およびまたは撮影姿勢
にて得られ、測量対象物と形状および大きさを特定する
パラメータが既知である基準構造物とが含まれる２つの
被写界像を、それぞれ、第１の記録画像および第２の記
録画像として記録する画像記録手段と、第１の記録画像
における基準構造物上の複数点の２次元座標と、第２の
記録画像における複数点の２次元座標と、第１の記録画
像における観測点の２次元座標と、第２の記録画像にお
ける観測点の２次元座標とを取得する２次元座標取得手
段と、２次元座標取得手段により得られた第１の記録画
像における複数点の２次元座標、第２の記録画像におけ
る複数点の２次元座標、第１の記録画像における観測点
の２次元座標、第２の記録画像における観測点の２次元
座標と、予め設定された第１の記録画像を記録した時の
撮影姿勢に対する第２の記録画像を記録した時の撮影姿
勢の相対的な変位量、および第１の記録画像を記録した
時の撮影位置に対する第２の記録画像を記録した時の撮
影位置の相対的な移動量とに基づいて、複数点の３次元
座標と観測点の３次元座標を未知数とする共線方程式を
逐次近似解法を用いて未知数を求める３次元座標算出手
段と、３次元座標算出手段により算出された複数点の３
次元座標値に基づいてパラメータに対応する値を演算す
る情報演算手段と、情報演算手段により演算された値と
パラメータとを比較し２次元座標取得手段が取得した観
測点の２次元座標値が適正であるか否かを判別する判別
手段とを備えたことを特徴とする。
ステムは、互いに異なる撮影位置およびまたは撮影姿勢
にて得られ、測量対象物と形状および大きさを特定する
パラメータが既知である基準構造物とが含まれる２つの
被写界像を、それぞれ、第１の記録画像および第２の記
録画像として記録する画像記録手段と、第１の記録画像
における基準構造物上の複数点の２次元座標と、第２の
記録画像における複数点の２次元座標と、第１の記録画
像における観測点の２次元座標と、第２の記録画像にお
ける観測点の２次元座標とを取得する２次元座標取得手
段と、２次元座標取得手段により得られた第１の記録画
像における複数点の２次元座標、第２の記録画像におけ
る複数点の２次元座標、第１の記録画像における観測点
の２次元座標、第２の記録画像における観測点の２次元
座標と、予め設定された第１の記録画像を記録した時の
撮影姿勢に対する第２の記録画像を記録した時の撮影姿
勢の相対的な変位量、および第１の記録画像を記録した
時の撮影位置に対する第２の記録画像を記録した時の撮
影位置の相対的な移動量とに基づいて、複数点の３次元
座標と観測点の３次元座標を未知数とする共線方程式を
逐次近似解法を用いて未知数を求める３次元座標算出手
段と、３次元座標算出手段により算出された複数点の３
次元座標値に基づいてパラメータに対応する値を演算す
る情報演算手段と、情報演算手段により演算された値と
パラメータとを比較し２次元座標取得手段が取得した観
測点の２次元座標値が適正であるか否かを判別する判別
手段とを備えたことを特徴とする。
【０００７】例えば判別手段は基準構造物のパラメータ
と情報演算手段により演算されたパラメータに対応する
値の差分の最大値が許容範囲であるか否かにより２次元
座標取得手段が取得した観測点の２次元座標値が適正で
あるか否かを判別する。
と情報演算手段により演算されたパラメータに対応する
値の差分の最大値が許容範囲であるか否かにより２次元
座標取得手段が取得した観測点の２次元座標値が適正で
あるか否かを判別する。
【０００８】好ましくは判別手段の判別結果を報知する
報知手段を備えている。
報知手段を備えている。
【０００９】好ましくは差分の最大値が所定の許容範囲
内となるまで観測点の２次元座標取得手段と３次元座標
算出手段と情報演算手段と判別手段との動作を繰り返
す。
内となるまで観測点の２次元座標取得手段と３次元座標
算出手段と情報演算手段と判別手段との動作を繰り返
す。
【００１０】例えば基準構造物は正三角形の平面を有
し、この正三角形の各頂点が基準構造物上の複数点に対
応している。
し、この正三角形の各頂点が基準構造物上の複数点に対
応している。
【００１１】例えばパラメータおよび情報演算手段によ
り演算されたパラメータに対応する値は、正三角形の頂
点を結ぶ３辺の長さの寸法である。
り演算されたパラメータに対応する値は、正三角形の頂
点を結ぶ３辺の長さの寸法である。
【００１２】好ましくは、観測点は少なくとも２点であ
る。
る。
【００１３】好ましくは、許容範囲は基準構造物の原寸
の約０．１パーセント以下である。
の約０．１パーセント以下である。
【００１４】例えば、変位量はカメラに設けられた傾斜
角センサにより求められる。
角センサにより求められる。
【００１５】また、本発明に係る写真測量方法は、測量
対象物と形状および大きさを特定するパラメータが既知
である基準構造物とを含んだ被写界像を、互いに異なる
撮影位置およびまたは撮影姿勢にてそれぞれ撮影し、第
１の記録画像、第２の記録画像を得る第１ステップと、
第１の記録画像における基準構造物上の複数点の２次元
座標と、第２の記録画像における複数点の２次元座標と
を取得する第２ステップと、第１の記録画像における観
測点の２次元座標と、第２の記録画像における観測点の
２次元座標とを取得する第３ステップと、第１の記録画
像を記録した時の撮影姿勢に対する第２の記録画像を記
録した時の撮影姿勢の相対的な変位量と、第１の記録画
像を記録した時の撮影位置に対する第２の記録画像を記
録した時の撮影位置の相対的な移動量とを入力する第４
ステップと、第３ステップおよび第４ステップで得られ
た値に基づいて、複数点の３次元座標と観測点の３次元
座標を未知数とする共線方程式を逐次近似解法を用いて
未知数を求める第５ステップと、第５ステップにより求
められた複数点の３次元座標値に基づいてパラメータに
対応する値を演算する第６ステップと、第６ステップに
より演算された値とパラメータとを比較し第３ステップ
で取得した観測点の２次元座標値が適正であるか否かを
判別する第７ステップとを備えたことを特徴とする。
対象物と形状および大きさを特定するパラメータが既知
である基準構造物とを含んだ被写界像を、互いに異なる
撮影位置およびまたは撮影姿勢にてそれぞれ撮影し、第
１の記録画像、第２の記録画像を得る第１ステップと、
第１の記録画像における基準構造物上の複数点の２次元
座標と、第２の記録画像における複数点の２次元座標と
を取得する第２ステップと、第１の記録画像における観
測点の２次元座標と、第２の記録画像における観測点の
２次元座標とを取得する第３ステップと、第１の記録画
像を記録した時の撮影姿勢に対する第２の記録画像を記
録した時の撮影姿勢の相対的な変位量と、第１の記録画
像を記録した時の撮影位置に対する第２の記録画像を記
録した時の撮影位置の相対的な移動量とを入力する第４
ステップと、第３ステップおよび第４ステップで得られ
た値に基づいて、複数点の３次元座標と観測点の３次元
座標を未知数とする共線方程式を逐次近似解法を用いて
未知数を求める第５ステップと、第５ステップにより求
められた複数点の３次元座標値に基づいてパラメータに
対応する値を演算する第６ステップと、第６ステップに
より演算された値とパラメータとを比較し第３ステップ
で取得した観測点の２次元座標値が適正であるか否かを
判別する第７ステップとを備えたことを特徴とする。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。図１は、本発明による写真測量方
法において被写体を撮影する際の被写体、基準構造物
（ターゲット）、カメラの位置関係を示す図である。
尚、本明細書において基準構造物とは、各部の原寸が既
知であり、そのため写真測量において被写体とともに撮
影されることにより画像の縮尺率の基準とすることがで
きる構造物である。
を参照して説明する。図１は、本発明による写真測量方
法において被写体を撮影する際の被写体、基準構造物
（ターゲット）、カメラの位置関係を示す図である。
尚、本明細書において基準構造物とは、各部の原寸が既
知であり、そのため写真測量において被写体とともに撮
影されることにより画像の縮尺率の基準とすることがで
きる構造物である。
【００１７】被写体である立方体１０２は、基準構造物
１０が共に写るように、電子スチルカメラ１００によ
り、それぞれ異なる第１のカメラ位置（撮影位置）Ｍ１
および第２のカメラ位置Ｍ２において、それぞれ撮影さ
れる。ここでカメラ位置Ｍ１およびＭ２は、電子スチル
カメラ１００の撮影レンズの後側主点の位置に対応して
おり、また、図中、２点鎖線で描かれているＯ1 および
Ｏ2 は、それぞれ、第１のカメラ位置Ｍ１および第２の
カメラ位置Ｍ２にある時の撮影レンズの光軸を示してい
る。
１０が共に写るように、電子スチルカメラ１００によ
り、それぞれ異なる第１のカメラ位置（撮影位置）Ｍ１
および第２のカメラ位置Ｍ２において、それぞれ撮影さ
れる。ここでカメラ位置Ｍ１およびＭ２は、電子スチル
カメラ１００の撮影レンズの後側主点の位置に対応して
おり、また、図中、２点鎖線で描かれているＯ1 および
Ｏ2 は、それぞれ、第１のカメラ位置Ｍ１および第２の
カメラ位置Ｍ２にある時の撮影レンズの光軸を示してい
る。
【００１８】基準構造物１０は、正三角形の頂点に位置
する３つの基準点Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３を有している。これ
らの基準点Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３によって定義される形状
（図１において斜線を施した部分）を本明細書では基準
形状と呼ぶ。尚、本実施形態では一辺の長さがＬの正三
角形である基準形状を有する基準構造物を用いている。
する３つの基準点Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３を有している。これ
らの基準点Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３によって定義される形状
（図１において斜線を施した部分）を本明細書では基準
形状と呼ぶ。尚、本実施形態では一辺の長さがＬの正三
角形である基準形状を有する基準構造物を用いている。
【００１９】電子スチルカメラ１００は傾斜角センサ
（図示せず）を備えており、常時カメラ姿勢（撮影姿
勢）が計測される。傾斜角センサとは、互いに直交しそ
のうち１つは鉛直方向と一致する３軸方向のそれぞれの
軸回りの回転角（αｎ、βｎ、γｎ）を計測するセンサ
である。電子スチルカメラ１００のレリーズボタン（図
示せず）は２段スイッチに連動しており、レリーズボタ
ンが半押しされると測光スイッチがオンし、全押しされ
るとレリーズスイッチがオンする。測光スイッチがオン
すると、測光手段、測距手段、傾斜角センサの各測定値
がモニタされる。レリーズスイッチがオンすると、画像
情報が記録されるとともに傾斜角センサの計測値（α
ｎ、βｎ、γｎ）が内部メモリに記憶される。
（図示せず）を備えており、常時カメラ姿勢（撮影姿
勢）が計測される。傾斜角センサとは、互いに直交しそ
のうち１つは鉛直方向と一致する３軸方向のそれぞれの
軸回りの回転角（αｎ、βｎ、γｎ）を計測するセンサ
である。電子スチルカメラ１００のレリーズボタン（図
示せず）は２段スイッチに連動しており、レリーズボタ
ンが半押しされると測光スイッチがオンし、全押しされ
るとレリーズスイッチがオンする。測光スイッチがオン
すると、測光手段、測距手段、傾斜角センサの各測定値
がモニタされる。レリーズスイッチがオンすると、画像
情報が記録されるとともに傾斜角センサの計測値（α
ｎ、βｎ、γｎ）が内部メモリに記憶される。
【００２０】また、電子スチルカメラ１００にはＩＣカ
ードが着脱可能である。ＩＣカードには、画像データ、
撮影情報、傾斜角センサの測定値等のデータが記録され
る。ＩＣカードを外部のコンピュータに装着することに
より、コンピュータにより各データが解読され、画像情
報、傾斜角センサの測定値等が取り出され、写真測量の
演算処理に用いられる。
ードが着脱可能である。ＩＣカードには、画像データ、
撮影情報、傾斜角センサの測定値等のデータが記録され
る。ＩＣカードを外部のコンピュータに装着することに
より、コンピュータにより各データが解読され、画像情
報、傾斜角センサの測定値等が取り出され、写真測量の
演算処理に用いられる。
【００２１】図２（ａ）、図２（ｂ）は２つのカメラ位
置Ｍ１、Ｍ２からそれぞれ撮影されたときの画像であ
る。図２（ａ）に示すように画像１において、撮像中心
ｃ１を原点とする２次元直交座標系である第１の写真座
標系（ｘ１、ｙ１）が画像上に設定される。第１の写真
座標系において基準構造物１０の基準点Ｐ１は像点ｐ１
１（ｐｘ１１、ｐｙ１１）、基準点Ｐ２は像点ｐ１２
（ｐｘ１２、ｐｙ１２）、基準点Ｐ３は像点ｐ１３（ｐ
ｘ１３、ｐｙ１３）で示される。同様に図２（ｂ）に示
すように画像２においては撮像中心ｃ２を原点とする２
次元直交座標系である第２の写真座標系（ｘ２、ｙ２）
が画像上に設定され、基準点Ｐ１は像点ｐ２１（ｐｘ２
１、ｐｙ２１）、基準点Ｐ２は像点ｐ２２（ｐｘ２２、
ｐｙ２２）、基準点Ｐ３は像点ｐ２３（ｐｘ２３、ｐｙ
２３）で示される。
置Ｍ１、Ｍ２からそれぞれ撮影されたときの画像であ
る。図２（ａ）に示すように画像１において、撮像中心
ｃ１を原点とする２次元直交座標系である第１の写真座
標系（ｘ１、ｙ１）が画像上に設定される。第１の写真
座標系において基準構造物１０の基準点Ｐ１は像点ｐ１
１（ｐｘ１１、ｐｙ１１）、基準点Ｐ２は像点ｐ１２
（ｐｘ１２、ｐｙ１２）、基準点Ｐ３は像点ｐ１３（ｐ
ｘ１３、ｐｙ１３）で示される。同様に図２（ｂ）に示
すように画像２においては撮像中心ｃ２を原点とする２
次元直交座標系である第２の写真座標系（ｘ２、ｙ２）
が画像上に設定され、基準点Ｐ１は像点ｐ２１（ｐｘ２
１、ｐｙ２１）、基準点Ｐ２は像点ｐ２２（ｐｘ２２、
ｐｙ２２）、基準点Ｐ３は像点ｐ２３（ｐｘ２３、ｐｙ
２３）で示される。
【００２２】図２に示された２枚の画像から立方体の３
次元座標を求めるためには、ある３次元の基準座標系を
設定し、この基準座標系における２枚の画像の位置を定
めることが必要である。本実施形態では、第１のカメラ
位置Ｍ１を原点とし光軸Ｏ１方向をＺ軸とする右手系の
３次元直交座標系（Ｘ、Ｙ、Ｚ）を基準座標系とする。
図３はカメラ１００、画像１、画像２、および基準構造
物１０の基準形状との位置関係を、基準座標系（Ｘ、
Ｙ、Ｚ）を用いて３次元的に示す図である。第２のカメ
ラ位置Ｍ２はこの基準座標系で表される。すなわち第２
のカメラ位置Ｍ２は第１のカメラ位置Ｍ１に対する変位
量（Ｘｏ、Ｙｏ、Ｚｏ）で示される。
次元座標を求めるためには、ある３次元の基準座標系を
設定し、この基準座標系における２枚の画像の位置を定
めることが必要である。本実施形態では、第１のカメラ
位置Ｍ１を原点とし光軸Ｏ１方向をＺ軸とする右手系の
３次元直交座標系（Ｘ、Ｙ、Ｚ）を基準座標系とする。
図３はカメラ１００、画像１、画像２、および基準構造
物１０の基準形状との位置関係を、基準座標系（Ｘ、
Ｙ、Ｚ）を用いて３次元的に示す図である。第２のカメ
ラ位置Ｍ２はこの基準座標系で表される。すなわち第２
のカメラ位置Ｍ２は第１のカメラ位置Ｍ１に対する変位
量（Ｘｏ、Ｙｏ、Ｚｏ）で示される。
【００２３】基準座標系における基準点Ｐｉ（ｉ＝１〜
３）の３次元座標（ＰＸｉ、ＰＹｉ、ＰＺｉ）は、例え
ば基準点とその像点と撮影レンズの主点位置とが一直線
上にあることを利用した共線方程式（（１）式）を用い
て求められる。尚、（１）式におけるＣは撮影レンズの
後側主点から撮像面までの距離、すなわち焦点距離に相
当し、画像１および２において同一である。図３におい
て、距離Ｃは撮影レンズの主点位置Ｍ１と撮像中心ｃ１
との距離、あるいは撮影レンズの主点位置Ｍ２と撮像中
心ｃ２との距離である。
３）の３次元座標（ＰＸｉ、ＰＹｉ、ＰＺｉ）は、例え
ば基準点とその像点と撮影レンズの主点位置とが一直線
上にあることを利用した共線方程式（（１）式）を用い
て求められる。尚、（１）式におけるＣは撮影レンズの
後側主点から撮像面までの距離、すなわち焦点距離に相
当し、画像１および２において同一である。図３におい
て、距離Ｃは撮影レンズの主点位置Ｍ１と撮像中心ｃ１
との距離、あるいは撮影レンズの主点位置Ｍ２と撮像中
心ｃ２との距離である。
【００２４】
【数１】
【００２５】図５は本実施形態の写真測量システムのハ
ードウエア構成を示すブロック図である。システム全体
を制御するＣＰＵ（中央演算処理装置）２０には入出力
演算制御部２１を介してキーボード２２、マウス２３、
ＩＣカード２４、画像表示が可能なＣＲＴ（表示装置）
２５およびプリンタ２６が接続されている。また、ＣＰ
Ｕ５０には記憶装置２７が接続されており、各入力装置
から入力されたデータや、ＣＰＵ２０による処理結果が
格納される。カメラ１００により撮影された画像デー
タ、およびカメラ１００の撮影姿勢データが記録された
ＩＣカード２４をコンピュータに装着し、所定の操作を
おこなうことにより画像１、２（図２参照）がＣＲＴ２
５に表示される。操作者はＣＲＴ２５に表示された画像
１内の任意の観測点をマウス２３で指定し、画像２内で
その点に対応すると思われる点を同様にマウス２３で指
定する。本明細書では、このように画像１、２で対応す
ると思われる一対の点を指定することを「ペア指定す
る」という。操作者によりペア指定された点の座標はコ
ンピュータにおける演算処理のデータとして取り込まれ
る。
ードウエア構成を示すブロック図である。システム全体
を制御するＣＰＵ（中央演算処理装置）２０には入出力
演算制御部２１を介してキーボード２２、マウス２３、
ＩＣカード２４、画像表示が可能なＣＲＴ（表示装置）
２５およびプリンタ２６が接続されている。また、ＣＰ
Ｕ５０には記憶装置２７が接続されており、各入力装置
から入力されたデータや、ＣＰＵ２０による処理結果が
格納される。カメラ１００により撮影された画像デー
タ、およびカメラ１００の撮影姿勢データが記録された
ＩＣカード２４をコンピュータに装着し、所定の操作を
おこなうことにより画像１、２（図２参照）がＣＲＴ２
５に表示される。操作者はＣＲＴ２５に表示された画像
１内の任意の観測点をマウス２３で指定し、画像２内で
その点に対応すると思われる点を同様にマウス２３で指
定する。本明細書では、このように画像１、２で対応す
ると思われる一対の点を指定することを「ペア指定す
る」という。操作者によりペア指定された点の座標はコ
ンピュータにおける演算処理のデータとして取り込まれ
る。
【００２６】次に、図６および７のフローチャートを用
いて、本実施形態の写真測量の手順を説明する。尚、説
明の都合上観測点として、立方体１０２の頂点Ｑ１（図
１参照）に対応する点を画像１、２内において最初に指
定し、次いで頂点Ｑ２（図１参照）に対応する点を指定
するものとする。
いて、本実施形態の写真測量の手順を説明する。尚、説
明の都合上観測点として、立方体１０２の頂点Ｑ１（図
１参照）に対応する点を画像１、２内において最初に指
定し、次いで頂点Ｑ２（図１参照）に対応する点を指定
するものとする。
【００２７】図６は写真測量システム全体の処理手順を
示すフローチャートである。ステップ２００では、傾斜
角センサにより計測された第１の撮影位置におけるカメ
ラの撮影姿勢データ（α１、β１、γ１）と撮影された
画像１のデータをＩＣカード２４から読み出し、ステッ
プ２０１では、傾斜角センサにより計測された第２の撮
影位置におけるカメラの撮影姿勢データ（α２、β２、
γ２）と撮影された画像２のデータをＩＣカード２４か
ら読み出す。次いでステップ２０２では、ステップ２０
０、２０１で読み出した第１および第２の撮影位置のカ
メラの撮影姿勢データから第１の撮影位置を基準とする
第２の撮影位置におけるカメラの相対姿勢（α＝α２−
α１、β＝β２−β１、γ＝γ２−γ１）を求める。
示すフローチャートである。ステップ２００では、傾斜
角センサにより計測された第１の撮影位置におけるカメ
ラの撮影姿勢データ（α１、β１、γ１）と撮影された
画像１のデータをＩＣカード２４から読み出し、ステッ
プ２０１では、傾斜角センサにより計測された第２の撮
影位置におけるカメラの撮影姿勢データ（α２、β２、
γ２）と撮影された画像２のデータをＩＣカード２４か
ら読み出す。次いでステップ２０２では、ステップ２０
０、２０１で読み出した第１および第２の撮影位置のカ
メラの撮影姿勢データから第１の撮影位置を基準とする
第２の撮影位置におけるカメラの相対姿勢（α＝α２−
α１、β＝β２−β１、γ＝γ２−γ１）を求める。
【００２８】ステップ２０３では、第１の撮影位置を基
準とした第２の撮影位置の相対的な移動量（Ｘｏ、Ｙ
ｏ、Ｚｏ）を入力する。この移動量は撮影者により、例
えば所定位置からの第１の撮影位置および第２の撮影位
置の記録等に基づいてその値がキーボード２２より入力
される。
準とした第２の撮影位置の相対的な移動量（Ｘｏ、Ｙ
ｏ、Ｚｏ）を入力する。この移動量は撮影者により、例
えば所定位置からの第１の撮影位置および第２の撮影位
置の記録等に基づいてその値がキーボード２２より入力
される。
【００２９】ステップ２０４において、基準構造物の基
準形状の３頂点のペア指定をマウス２３を用いて行う。
各点のそれぞれの写真座標系における写真座標が変数
（Ｐ１ｊ（ｐｘ１ｊ、ｐｙ１ｊ）、Ｐ２ｊ（ｐｘ２ｊ、
ｐｙ２ｊ））（ｊ＝１〜３）に格納される。
準形状の３頂点のペア指定をマウス２３を用いて行う。
各点のそれぞれの写真座標系における写真座標が変数
（Ｐ１ｊ（ｐｘ１ｊ、ｐｙ１ｊ）、Ｐ２ｊ（ｐｘ２ｊ、
ｐｙ２ｊ））（ｊ＝１〜３）に格納される。
【００３０】ステップ２０５では、観測点のペアの指定
を継続するか否かを判断する。もし観測点のペア指定を
行うのであればステップ２０６に進み、観測点のペア指
定および３次元座標の算出処理を行う。
を継続するか否かを判断する。もし観測点のペア指定を
行うのであればステップ２０６に進み、観測点のペア指
定および３次元座標の算出処理を行う。
【００３１】図７は、観測点のペア指定および共線方程
式を用いた観測点の３次元座標の算出処理、すなわち図
６のフローチャートのステップ２０６における処理の手
順を示すフローチャートである。ステップ３００におい
て観測点のペア指定を行う。すなわち、画像１、画像２
において対応すると思われる観測点をそれぞれ指定す
る。ステップ３０１ではペア指定済みの観測点数が２点
以上か否かを判断する。もし２点以上であればステップ
３０２に進み、２点以上でなければステップ３００に戻
る。すなわち、最初にＱ１が指定された段階では指定済
み観測点数が１点なのでステップ３００に戻り、次いで
Ｑ２が指定された段階でステップ３０２へ進む。尚、ス
テップ３０１においてペア指定済み観測点数が２点以上
であることを条件として次ステップへ進むこととしてい
るのは、演算結果の精度の観点から基準形状を構成する
基準点３点と合わせて５点以上の測定点入力を行うこと
が望ましいからである。
式を用いた観測点の３次元座標の算出処理、すなわち図
６のフローチャートのステップ２０６における処理の手
順を示すフローチャートである。ステップ３００におい
て観測点のペア指定を行う。すなわち、画像１、画像２
において対応すると思われる観測点をそれぞれ指定す
る。ステップ３０１ではペア指定済みの観測点数が２点
以上か否かを判断する。もし２点以上であればステップ
３０２に進み、２点以上でなければステップ３００に戻
る。すなわち、最初にＱ１が指定された段階では指定済
み観測点数が１点なのでステップ３００に戻り、次いで
Ｑ２が指定された段階でステップ３０２へ進む。尚、ス
テップ３０１においてペア指定済み観測点数が２点以上
であることを条件として次ステップへ進むこととしてい
るのは、演算結果の精度の観点から基準形状を構成する
基準点３点と合わせて５点以上の測定点入力を行うこと
が望ましいからである。
【００３２】ステップ３０２では最初に指定された観測
点であるＱ１の写真座標が変数（Ｐ１４（ｐｘ１４、ｐ
ｙ１４）、Ｐ２４（ｐｘ２４、ｐｙ２４））に格納され
る。ステップ３０３では最後に指定された観測点である
Ｑ２の写真座標が変数（Ｐ１５（ｐｘ１５、ｐｙ１
５）、Ｐ２５（ｐｘ２５、ｐｙ２５））に格納される。
点であるＱ１の写真座標が変数（Ｐ１４（ｐｘ１４、ｐ
ｙ１４）、Ｐ２４（ｐｘ２４、ｐｙ２４））に格納され
る。ステップ３０３では最後に指定された観測点である
Ｑ２の写真座標が変数（Ｐ１５（ｐｘ１５、ｐｙ１
５）、Ｐ２５（ｐｘ２５、ｐｙ２５））に格納される。
【００３３】ステップ３０４では、（１）式の共線方程
式を例えば逐次近似解法などの手法を用いて解き、基準
点Ｐｊ（ｊ＝１〜３）の３次元座標（ＰＸｊ、ＰＹｊ、
ＰＺｊ）、および観測点Ｑ１およびＱ２の３次元座標
（ＰＸｊ、ＰＹｊ、ＰＺｊ）（（ｊ＝４〜５）を求め
る。逐次近似解法とは、前述の共線方程式において未知
変量Ｘｏ、Ｙｏ、Ｚｏ、α、β、γに初期値を与え、こ
の初期値の周りにテーラー展開して線形化し、最小二乗
法により未知変量の補正量を求める手法である。この演
算により未知変量の誤差の少ない近似値が求められる。
式を例えば逐次近似解法などの手法を用いて解き、基準
点Ｐｊ（ｊ＝１〜３）の３次元座標（ＰＸｊ、ＰＹｊ、
ＰＺｊ）、および観測点Ｑ１およびＱ２の３次元座標
（ＰＸｊ、ＰＹｊ、ＰＺｊ）（（ｊ＝４〜５）を求め
る。逐次近似解法とは、前述の共線方程式において未知
変量Ｘｏ、Ｙｏ、Ｚｏ、α、β、γに初期値を与え、こ
の初期値の周りにテーラー展開して線形化し、最小二乗
法により未知変量の補正量を求める手法である。この演
算により未知変量の誤差の少ない近似値が求められる。
【００３４】以上の演算処理により基準座標系における
基準点Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３および観測点Ｑ１、Ｑ２の３次
元座標（ＰＸｊ、ＰＹｊ、ＰＺｊ）（ｊ＝１〜５）が、
２つの写真座標ｐ１ｊ（ｐｘ１ｊ、ｐｙ１ｊ）、ｐ２ｊ
（ｐｘ２ｊ、ｐｙ２ｊ）（ｊ＝１〜５）から変換され
る。
基準点Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３および観測点Ｑ１、Ｑ２の３次
元座標（ＰＸｊ、ＰＹｊ、ＰＺｊ）（ｊ＝１〜５）が、
２つの写真座標ｐ１ｊ（ｐｘ１ｊ、ｐｙ１ｊ）、ｐ２ｊ
（ｐｘ２ｊ、ｐｙ２ｊ）（ｊ＝１〜５）から変換され
る。
【００３５】ステップ３０５ではステップ３０４で求め
た基準点Ｐｉ（ｉ＝１〜３）の座標から各基準点間の基
準座標上の距離ｌｉ（ｉ＝１〜３）を求め、次いで距離
ｌｉ（ｉ＝１〜３）に倍率変換をかける。倍率変換は基
準形状の面積比を求めることにより行う。すなわち、距
離ｌｉ（ｉ＝１〜３）から基準座標上の基準形状の面積
を求め、既知である基準形状の原寸から求められる基準
形状の実際の面積との比を求め、距離ｌｉ（ｉ＝１〜
３）にその比を掛け合わせ、距離Ｌｉ（ｉ＝１〜３）を
算出する。
た基準点Ｐｉ（ｉ＝１〜３）の座標から各基準点間の基
準座標上の距離ｌｉ（ｉ＝１〜３）を求め、次いで距離
ｌｉ（ｉ＝１〜３）に倍率変換をかける。倍率変換は基
準形状の面積比を求めることにより行う。すなわち、距
離ｌｉ（ｉ＝１〜３）から基準座標上の基準形状の面積
を求め、既知である基準形状の原寸から求められる基準
形状の実際の面積との比を求め、距離ｌｉ（ｉ＝１〜
３）にその比を掛け合わせ、距離Ｌｉ（ｉ＝１〜３）を
算出する。
【００３６】ステップ３０６では、既知の情報である基
準形状の１辺の原寸と、ステップ２０５で算出した距離
Ｌｉ（ｉ＝１〜３）とのずれ量を求める。ずれ量は、原
寸に対する原寸と距離Ｌｉとの差の絶対値の割合であ
る。さらにステップ３０７でそのずれ量の最大値を抽出
する。
準形状の１辺の原寸と、ステップ２０５で算出した距離
Ｌｉ（ｉ＝１〜３）とのずれ量を求める。ずれ量は、原
寸に対する原寸と距離Ｌｉとの差の絶対値の割合であ
る。さらにステップ３０７でそのずれ量の最大値を抽出
する。
【００３７】ステップ３０８において、ステップ３０７
で抽出したずれ量の最大値が許容値以下であればステッ
プ３０９に進み、最後に行った観測点のペア指定が正確
である旨を画面表示しステップ２０７に戻る。ずれ量の
最大値が許容値以下でなければステップ３１０に進み、
最後に行った観測点のペア指定が正確でない旨を画面表
示し、ステップ３００に戻り再度観測点のペア指定が行
える。すなわち、本実施形態では、基準形状の３つの頂
点のペア指定および最初にペア指定を行った観測点のペ
ア指定が正確であるとして演算処理を行い、基準形状の
辺の原寸と演算結果のずれ量が許容値以下となるまで２
点目の観測点のペア指定を繰り返して行うことができ
る。尚、本実施形態では許容値を原寸の約０．１パーセ
ントに設定している。
で抽出したずれ量の最大値が許容値以下であればステッ
プ３０９に進み、最後に行った観測点のペア指定が正確
である旨を画面表示しステップ２０７に戻る。ずれ量の
最大値が許容値以下でなければステップ３１０に進み、
最後に行った観測点のペア指定が正確でない旨を画面表
示し、ステップ３００に戻り再度観測点のペア指定が行
える。すなわち、本実施形態では、基準形状の３つの頂
点のペア指定および最初にペア指定を行った観測点のペ
ア指定が正確であるとして演算処理を行い、基準形状の
辺の原寸と演算結果のずれ量が許容値以下となるまで２
点目の観測点のペア指定を繰り返して行うことができ
る。尚、本実施形態では許容値を原寸の約０．１パーセ
ントに設定している。
【００３８】画像１、２における最後に行った観測点の
ペア指定が正確と判定されステップ２０７に戻ったら、
基準座標系の各座標に倍率変換を行う。倍率変換の方法
は、ステップ３０５と同様である。
ペア指定が正確と判定されステップ２０７に戻ったら、
基準座標系の各座標に倍率変換を行う。倍率変換の方法
は、ステップ３０５と同様である。
【００３９】次いでステップ２０８では図４に示すよう
にＰ１とＰ２を結ぶ直線をＸ軸とし、基準形状を含む平
面ＰｓをＸ−Ｚ平面とする３次元座標系（Ｘ’、Ｙ’、
Ｚ’）が設定され、基準点Ｐ１を原点として基準点Ｐ
２、Ｐ３および観測点が基準座標系から座標変換され
る。なお、原点は基準形状を含む面内であれば、任意の
点でもかまわない。この座標変換は例えばベクトル変換
などを用いて行われる。
にＰ１とＰ２を結ぶ直線をＸ軸とし、基準形状を含む平
面ＰｓをＸ−Ｚ平面とする３次元座標系（Ｘ’、Ｙ’、
Ｚ’）が設定され、基準点Ｐ１を原点として基準点Ｐ
２、Ｐ３および観測点が基準座標系から座標変換され
る。なお、原点は基準形状を含む面内であれば、任意の
点でもかまわない。この座標変換は例えばベクトル変換
などを用いて行われる。
【００４０】ステップ２０９ではＣＲＴ２５に例えばＸ
−Ｚ平面図が図示され、ステップ２０５に戻る。なお、
特にＸ−Ｚ平面図に限るものではなく、Ｘ−Ｙ平面図あ
るいは立体斜視図でもよい。
−Ｚ平面図が図示され、ステップ２０５に戻る。なお、
特にＸ−Ｚ平面図に限るものではなく、Ｘ−Ｙ平面図あ
るいは立体斜視図でもよい。
【００４１】ステップ２０５に戻りペア指定を継続しな
い場合はステップ２１０に進み、平面図のデータを記憶
装置に保存して処理を終了する。
い場合はステップ２１０に進み、平面図のデータを記憶
装置に保存して処理を終了する。
【００４２】以上のように本実施形態では、基準形状の
寸法と基準座標から算出した基準形状の寸法の差分量に
より２つの写真座標系で指定された観測点が一致してい
るか否かを判断し、もし差分量が許容値を超えている場
合は観測点を指定し直すことができる。そのため、観測
点の指定の精度が撮影画像の解像度等に左右されること
がなく常に安定している。
寸法と基準座標から算出した基準形状の寸法の差分量に
より２つの写真座標系で指定された観測点が一致してい
るか否かを判断し、もし差分量が許容値を超えている場
合は観測点を指定し直すことができる。そのため、観測
点の指定の精度が撮影画像の解像度等に左右されること
がなく常に安定している。
【００４３】尚、本実施形態では基準形状の寸法を比較
しているがこれに限るものではなく、例えば基準形状を
形成する三角形の３つの角の値、あるいは三角形の面積
を比較してもよい。
しているがこれに限るものではなく、例えば基準形状を
形成する三角形の３つの角の値、あるいは三角形の面積
を比較してもよい。
【００４４】また、本実施形態では倍率変換における補
正倍率を基準形状の面積比から算出しているがこれに限
るものではなく、例えば基準形状の１辺の長さの比から
算出してもよい。
正倍率を基準形状の面積比から算出しているがこれに限
るものではなく、例えば基準形状の１辺の長さの比から
算出してもよい。
【００４５】また、本実施形態ではカメラ姿勢を撮影時
に記録されたＩＣカードから読み出しているがこれに限
るものではなく、別途計測してキーボードから入力する
システム構成としてもよい。
に記録されたＩＣカードから読み出しているがこれに限
るものではなく、別途計測してキーボードから入力する
システム構成としてもよい。
【００４６】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、写真測量
における観測点の指定の精度を高めることができる。
における観測点の指定の精度を高めることができる。
【図１】本発明による写真測量システムにおいて被写体
を撮影する際の被写体、基準構造物、カメラの位置関係
を示す図である。
を撮影する際の被写体、基準構造物、カメラの位置関係
を示す図である。
【図２】（ａ）は第１の撮影位置で撮影された画像であ
り、（ｂ）は第２の撮影位置で撮影された画像である。
り、（ｂ）は第２の撮影位置で撮影された画像である。
【図３】カメラ、撮影平面、基準構造物との位置関係を
基準座標系を用いて３次元的に示す図である。
基準座標系を用いて３次元的に示す図である。
【図４】基準形状の２点を結ぶ直線をＸ軸とし、基準形
状を含む平面をＸ−Ｚ平面とする３次元座標系を示す図
である。
状を含む平面をＸ−Ｚ平面とする３次元座標系を示す図
である。
【図５】本発明の写真測量システムのハードウエア構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図６】本発明の写真測量システム全体の処理手順を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図７】観測点のペア指定および共線方程式を用いた観
測点の３次元座標の算出処理の手順を示すフローチャー
トである。
測点の３次元座標の算出処理の手順を示すフローチャー
トである。
１０ 基準構造物 １００ カメラ １０２ 立方体
Claims (10)
- 【請求項１】 互いに異なる撮影位置およびまたは撮影
姿勢にて得られ、測量対象物と形状および大きさを特定
するパラメータが既知である基準構造物とが含まれる２
つの被写界像を、それぞれ、第１の記録画像および第２
の記録画像として記録する画像記録手段と、 前記第１の記録画像における前記基準構造物上の複数点
の２次元座標と、前記第２の記録画像における前記複数
点の２次元座標と、前記第１の記録画像における観測点
の２次元座標と、前記第２の記録画像における前記観測
点の２次元座標とを取得する２次元座標取得手段と、 前記２次元座標取得手段により得られた前記第１の記録
画像における前記複数点の２次元座標、前記第２の記録
画像における前記複数点の２次元座標、前記第１の記録
画像における前記観測点の２次元座標、前記第２の記録
画像における前記観測点の２次元座標と、予め設定され
た前記第１の記録画像を記録した時の撮影姿勢に対する
前記第２の記録画像を記録した時の撮影姿勢の相対的な
変位量、および前記第１の記録画像を記録した時の撮影
位置に対する前記第２の記録画像を記録した時の撮影位
置の相対的な移動量とに基づいて、前記複数点の３次元
座標と前記観測点の３次元座標を未知数とする共線方程
式を逐次近似解法を用いて前記未知数を求める３次元座
標算出手段と、 前記３次元座標算出手段により算出された前記複数点の
３次元座標値に基づいて前記パラメータに対応する値を
演算する情報演算手段と、 前記情報演算手段により演算された値と前記パラメータ
とを比較し前記２次元座標取得手段が取得した前記観測
点の２次元座標値が適正であるか否かを判別する判別手
段とを備えたことを特徴とする写真測量システム。 - 【請求項２】前記判別手段が前記基準構造物の前記パラ
メータと前記情報演算手段により演算された前記パラメ
ータに対応する値の差分の最大値が許容範囲であるか否
かにより前記２次元座標取得手段が取得した前記観測点
の２次元座標値が適正であるか否かを判別することを特
徴とする請求項１に記載の写真測量システム。 - 【請求項３】さらに前記判別手段の判別結果を報知する
報知手段を備えたことを特徴とする請求項１に記載の写
真測量システム。 - 【請求項４】前記差分の最大値が所定の許容範囲内とな
るまで前記観測点の２次元座標取得手段と前記３次元座
標算出手段と前記情報演算手段と前記判別手段との動作
を繰り返すことを特徴とする請求項２に記載の写真測量
システム。 - 【請求項５】 前記基準構造物が正三角形の平面を有
し、この正三角形の各頂点が前記基準構造物上の複数点
に対応していることを特徴とする請求項１に記載の写真
測量システム。 - 【請求項６】 前記パラメータおよび前記情報演算手段
により演算された前記パラメータに対応する値が、前記
正三角形の辺の長さの寸法であることを特徴とする請求
項５に記載の写真測量システム。 - 【請求項７】 前記観測点が少なくとも２点であること
を特徴とする請求項１に記載の写真測量システム。 - 【請求項８】 前記許容範囲が前記基準構造物の寸法の
約０．１パーセント以下であることを特徴とする請求項
４に記載の写真測量システム。 - 【請求項９】 前記変位量が前記カメラに設けられた傾
斜角センサにより求められることを特徴とする請求項１
に記載の写真測量システム。 - 【請求項１０】 測量対象物と形状および大きさを特定
するパラメータが既知である基準構造物とを含んだ被写
界像を、互いに異なる撮影位置およびまたは撮影姿勢に
てそれぞれ撮影し、第１の記録画像、第２の記録画像を
得る第１ステップと、 前記第１の記録画像における前記基準構造物上の複数点
の２次元座標と、前記第２の記録画像における前記複数
点の２次元座標とを取得する第２ステップと、前記第１
の記録画像における観測点の２次元座標と、前記第２の
記録画像における前記観測点の２次元座標とを取得する
第３ステップと、 前記第１の記録画像を記録した時の撮影姿勢に対する前
記第２の記録画像を記録した時の撮影姿勢の相対的な変
位量と、前記第１の記録画像を記録した時の撮影位置に
対する前記第２の記録画像を記録した時の撮影位置の相
対的な移動量とを入力する第４ステップと、 前記第３ステップおよび前記第４ステップで得られた値
に基づいて、前記複数点の３次元座標と前記観測点の３
次元座標を未知数とする共線方程式を逐次近似解法を用
いて前記未知数を求める第５ステップと、 前記第５ステップにより求められた前記複数点の３次元
座標値に基づいて前記パラメータに対応する値を演算す
る第６ステップと、 前記第６ステップにより演算された値と前記パラメータ
とを比較し前記第３ステップで取得した前記観測点の２
次元座標値が適正であるか否かを判別する第７ステップ
とを備えたことを特徴とする写真測量方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03433097A JP3426459B2 (ja) | 1997-02-03 | 1997-02-03 | 写真測量システムおよび写真測量方法 |
| US09/017,237 US6144761A (en) | 1997-02-03 | 1998-02-02 | Photogrammetric analytical measurement system |
| DE19804205A DE19804205B4 (de) | 1997-02-03 | 1998-02-03 | Fotogrammetrisches Meßverfahren und fotogrammetrische Meßeinrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03433097A JP3426459B2 (ja) | 1997-02-03 | 1997-02-03 | 写真測量システムおよび写真測量方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10221072A true JPH10221072A (ja) | 1998-08-21 |
| JP3426459B2 JP3426459B2 (ja) | 2003-07-14 |
Family
ID=12411152
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03433097A Expired - Fee Related JP3426459B2 (ja) | 1997-02-03 | 1997-02-03 | 写真測量システムおよび写真測量方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6144761A (ja) |
| JP (1) | JP3426459B2 (ja) |
| DE (1) | DE19804205B4 (ja) |
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6618497B1 (en) | 1999-06-24 | 2003-09-09 | Pentax Corporation | Photogrammetric image processing apparatus and method |
| US6618498B1 (en) | 1999-07-07 | 2003-09-09 | Pentax Corporation | Image processing computer system for photogrammetric analytical measurement |
| US6628803B1 (en) | 1998-11-25 | 2003-09-30 | Pentax Corporation | Device for calculating positional data of standard points of photogrammetric target |
| US6650764B1 (en) | 1999-03-01 | 2003-11-18 | Pentax Corporation | Device for calculating positional data of standard points of a photogrammetric target |
| US6693650B2 (en) | 2000-03-17 | 2004-02-17 | Pentax Corporation | Image processing computer system for a photogrammetric analytical measurement |
| US6762766B1 (en) | 1999-07-06 | 2004-07-13 | Pentax Corporation | Image processing computer system for photogrammetric analytical measurement |
| US6768813B1 (en) | 1999-06-16 | 2004-07-27 | Pentax Corporation | Photogrammetric image processing apparatus and method |
| US6901161B1 (en) | 1999-09-06 | 2005-05-31 | Pentax Corporation | Image-processing computer system for photogrammetric analytical measurement |
| US6954217B1 (en) | 1999-07-02 | 2005-10-11 | Pentax Corporation | Image processing computer system for photogrammetric analytical measurement |
| US6963666B2 (en) | 2000-09-12 | 2005-11-08 | Pentax Corporation | Matching device |
| JP2012165217A (ja) * | 2011-02-08 | 2012-08-30 | Naoyuki Murakami | 数値制御機器のテレビカメラモニター画面の関連操作方法 |
| JP2013015519A (ja) * | 2012-06-26 | 2013-01-24 | Baybig Co Ltd | ３次元相対座標計測装置およびその方法 |
| CN107300377A (zh) * | 2016-11-01 | 2017-10-27 | 北京理工大学 | 一种绕飞轨迹下的旋翼无人机三维目标定位方法 |
| JP2018197674A (ja) * | 2017-05-23 | 2018-12-13 | オリンパス株式会社 | 計測装置の作動方法、計測装置、計測システム、３次元形状復元装置、およびプログラム |
| JP2020016662A (ja) * | 2013-12-26 | 2020-01-30 | トプコン ポジショニング システムズ， インク． | 面上における対象物の正確な位置決定のための方法及び装置 |
| KR102129206B1 (ko) * | 2019-06-14 | 2020-07-01 | 주식회사 큐픽스 | 사진 이미지를 이용한 3차원 좌표 계산 방법 및 3차원 좌표 계산 장치 |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6600511B1 (en) * | 1997-01-08 | 2003-07-29 | Pentax Corporation | Camera for use in photogrammetric analytical measurement |
| US6442293B1 (en) * | 1998-06-11 | 2002-08-27 | Kabushiki Kaisha Topcon | Image forming apparatus, image forming method and computer-readable storage medium having an image forming program |
| US6717683B1 (en) * | 1998-09-30 | 2004-04-06 | Pentax Corporation | Target for photogrammetric analytical measurement system |
| JP4794708B2 (ja) * | 1999-02-04 | 2011-10-19 | オリンパス株式会社 | ３次元位置姿勢センシング装置 |
| US6487517B2 (en) * | 2000-05-25 | 2002-11-26 | Pentax Corporation | Target for photogrammetric analytical measurement system |
| US6539330B2 (en) | 2000-07-19 | 2003-03-25 | Pentax Corporation | Method and apparatus for measuring 3-D information |
| JP3690346B2 (ja) * | 2001-12-27 | 2005-08-31 | ヤマハ株式会社 | 撮影装置 |
| US7218384B2 (en) * | 2002-02-27 | 2007-05-15 | Pentax Corporation | Surveying system |
| US7098997B2 (en) * | 2002-06-26 | 2006-08-29 | Pentax Corporation | Surveying system |
| US7075634B2 (en) * | 2002-06-28 | 2006-07-11 | Pentax Corporation | Surveying system |
| JP4196942B2 (ja) * | 2004-12-21 | 2008-12-17 | セイコーエプソン株式会社 | 撮像装置及びこれを備えた携帯電話機 |
| JP2006242755A (ja) * | 2005-03-03 | 2006-09-14 | Sokkia Co Ltd | 測量システム |
| US8089549B2 (en) | 2007-09-19 | 2012-01-03 | Ricoh Company, Ltd. | Imaging apparatus capable of detecting and displaying information with respect to an incline thereof |
| US8179448B2 (en) * | 2008-08-26 | 2012-05-15 | National Taiwan University | Auto depth field capturing system and method thereof |
| US9584711B2 (en) * | 2012-04-04 | 2017-02-28 | Schlumberger Technology Corporation | Imaging methods and systems for controlling equipment in remote environments |
| JP2014185996A (ja) * | 2013-03-25 | 2014-10-02 | Toshiba Corp | 計測装置 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3263724B2 (ja) * | 1993-04-16 | 2002-03-11 | 日本電信電話株式会社 | ２次元レーザパターンによる形状特徴抽出装置 |
| NO302055B1 (no) * | 1993-05-24 | 1998-01-12 | Metronor As | Fremgangsmåte og system for geometrimåling |
| JPH08233527A (ja) * | 1995-02-28 | 1996-09-13 | Oki Electric Ind Co Ltd | 対応点探索装置および対応点探索方法 |
| JPH08241410A (ja) * | 1995-03-07 | 1996-09-17 | Oki Electric Ind Co Ltd | 対応点探索装置および対応点探索方法 |
| US5699444A (en) * | 1995-03-31 | 1997-12-16 | Synthonics Incorporated | Methods and apparatus for using image data to determine camera location and orientation |
| US5642293A (en) * | 1996-06-03 | 1997-06-24 | Camsys, Inc. | Method and apparatus for determining surface profile and/or surface strain |
-
1997
- 1997-02-03 JP JP03433097A patent/JP3426459B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-02-02 US US09/017,237 patent/US6144761A/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-02-03 DE DE19804205A patent/DE19804205B4/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6628803B1 (en) | 1998-11-25 | 2003-09-30 | Pentax Corporation | Device for calculating positional data of standard points of photogrammetric target |
| US6650764B1 (en) | 1999-03-01 | 2003-11-18 | Pentax Corporation | Device for calculating positional data of standard points of a photogrammetric target |
| US6768813B1 (en) | 1999-06-16 | 2004-07-27 | Pentax Corporation | Photogrammetric image processing apparatus and method |
| US6618497B1 (en) | 1999-06-24 | 2003-09-09 | Pentax Corporation | Photogrammetric image processing apparatus and method |
| US6954217B1 (en) | 1999-07-02 | 2005-10-11 | Pentax Corporation | Image processing computer system for photogrammetric analytical measurement |
| US6762766B1 (en) | 1999-07-06 | 2004-07-13 | Pentax Corporation | Image processing computer system for photogrammetric analytical measurement |
| US6618498B1 (en) | 1999-07-07 | 2003-09-09 | Pentax Corporation | Image processing computer system for photogrammetric analytical measurement |
| US6901161B1 (en) | 1999-09-06 | 2005-05-31 | Pentax Corporation | Image-processing computer system for photogrammetric analytical measurement |
| US6693650B2 (en) | 2000-03-17 | 2004-02-17 | Pentax Corporation | Image processing computer system for a photogrammetric analytical measurement |
| US6963666B2 (en) | 2000-09-12 | 2005-11-08 | Pentax Corporation | Matching device |
| JP2012165217A (ja) * | 2011-02-08 | 2012-08-30 | Naoyuki Murakami | 数値制御機器のテレビカメラモニター画面の関連操作方法 |
| JP2013015519A (ja) * | 2012-06-26 | 2013-01-24 | Baybig Co Ltd | ３次元相対座標計測装置およびその方法 |
| JP2020016662A (ja) * | 2013-12-26 | 2020-01-30 | トプコン ポジショニング システムズ， インク． | 面上における対象物の正確な位置決定のための方法及び装置 |
| CN107300377A (zh) * | 2016-11-01 | 2017-10-27 | 北京理工大学 | 一种绕飞轨迹下的旋翼无人机三维目标定位方法 |
| CN107300377B (zh) * | 2016-11-01 | 2019-06-14 | 北京理工大学 | 一种绕飞轨迹下的旋翼无人机三维目标定位方法 |
| JP2018197674A (ja) * | 2017-05-23 | 2018-12-13 | オリンパス株式会社 | 計測装置の作動方法、計測装置、計測システム、３次元形状復元装置、およびプログラム |
| US11321861B2 (en) | 2017-05-23 | 2022-05-03 | Olympus Corporation | Method of operating measurement device, measurement device, measurement system, three-dimensional shape restoration device, and recording medium |
| KR102129206B1 (ko) * | 2019-06-14 | 2020-07-01 | 주식회사 큐픽스 | 사진 이미지를 이용한 3차원 좌표 계산 방법 및 3차원 좌표 계산 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19804205B4 (de) | 2004-04-08 |
| JP3426459B2 (ja) | 2003-07-14 |
| US6144761A (en) | 2000-11-07 |
| DE19804205A1 (de) | 1998-08-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3426459B2 (ja) | 写真測量システムおよび写真測量方法 | |
| US10825198B2 (en) | 3 dimensional coordinates calculating apparatus, 3 dimensional coordinates calculating method, 3 dimensional distance measuring apparatus and 3 dimensional distance measuring method using images | |
| US11010925B2 (en) | Methods and computer program products for calibrating stereo imaging systems by using a planar mirror | |
| US9972120B2 (en) | Systems and methods for geometrically mapping two-dimensional images to three-dimensional surfaces | |
| JP4832878B2 (ja) | 画像合成処理装置及び方法 | |
| US8208029B2 (en) | Method and system for calibrating camera with rectification homography of imaged parallelogram | |
| JP6573419B1 (ja) | 位置決め方法、ロボット及びコンピューター記憶媒体 | |
| JP2010008352A (ja) | 寸法測定方法及び寸法測定装置 | |
| JP7073850B2 (ja) | 入力装置および入力装置の入力方法 | |
| JP2000011172A (ja) | 仮想環境生成方法および装置、並びに仮想環境生成プログラムを記録した記録媒体 | |
| JP3690581B2 (ja) | 位置検出装置及びその方法、平面姿勢検出装置及びその方法 | |
| KR102129206B1 (ko) | 사진 이미지를 이용한 3차원 좌표 계산 방법 및 3차원 좌표 계산 장치 | |
| WO2015159835A1 (ja) | 画像処理装置、画像処理方法、プログラム | |
| JP2896539B2 (ja) | 物体の位置、角度等の固有情報の検出方法 | |
| JP4149732B2 (ja) | ステレオマッチング方法、３次元計測方法及び３次元計測装置並びにステレオマッチング方法のプログラム及び３次元計測のプログラム | |
| JP4006296B2 (ja) | 写真測量による変位計測方法及び変位計測装置 | |
| JP3696335B2 (ja) | 複数枚の画像の各計測点の対応づけ方法 | |
| JP2004212142A (ja) | 画像寸法の測定方法 | |
| CN111915666A (zh) | 基于移动终端的体积测量方法及装置 | |
| JP3924576B2 (ja) | 写真測量による３次元計測方法及び装置 | |
| JP4282361B2 (ja) | 写真測量方法および写真測量プログラム | |
| JP2003042730A (ja) | 表面形状測定装置、及びその方法、並びに表面状態図化装置 | |
| JP2000121362A (ja) | 写真測量用ターゲット測定装置 | |
| JPH0835828A (ja) | ３次元計測装置のキャリブレーション方法 | |
| JP3761458B2 (ja) | 物体長算出方法および物体長算出装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090509 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090509 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100509 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100509 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110509 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110509 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120509 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120509 Year of fee payment: 9 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120509 Year of fee payment: 9 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120509 Year of fee payment: 9 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120509 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130509 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140509 Year of fee payment: 11 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |