JPH10214438A - 光ディスク及び光ディスク装置 - Google Patents

光ディスク及び光ディスク装置

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JPH10214438A
JPH10214438A JP9016101A JP1610197A JPH10214438A JP H10214438 A JPH10214438 A JP H10214438A JP 9016101 A JP9016101 A JP 9016101A JP 1610197 A JP1610197 A JP 1610197A JP H10214438 A JPH10214438 A JP H10214438A
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land
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直泰 池谷
Takeshi Mori
豪 森
Michinobu Saegusa
理伸 三枝
Yoshiteru Murakami
善照 村上
Junji Hirokane
順司 広兼
Akira Takahashi
明 高橋
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ランド/グルーブ記録が可能で、その両者に
置いて簡単にアドレス信号を再生でき、また品質の高い
情報再生信号を与えることのできる光ディスク及び光デ
ィスク装置を提供する。 【解決手段】 記録トラックとしてグルーブ１及びラン
ド２を有している。グルーブ１は略同一幅に形成されて
おり、第一の領域において両側壁がアドレス情報に対応
して蛇行している。グルーブ１の第１の領域は隣接する
少なくとも一方のグルーブ１と同一角度位置を先頭して
形成されている。また、アドレス情報の各ビットに対応
する蛇行部分は隣接するグルーブ１間で同期して形成さ
れている。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、トラッキング用の
ランド／グルーブを有し、グルーブ／ランド両方とも記
録可能な光ディスク及び光ディスク装置に関し、特に、
ランド及びグルーブにおいてアドレス情報を正確に読み
出せる光ディスク及び光ディスク装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】近年、光ディスクに対してさらなる高密
度化が要求されており、それに対応するため、様々な方
式が提案されている。その方式の１つとしてランド／グ
ルーブ記録が検討されている。このランド／グルーブ記
録は光ディスクに形成されたランド及びグルーブの両方
に記録行う方式であるが、この場合、ランド及びグルー
ブの両方にアドレスを記録しておくことが必要である。
アドレス情報の記録方法としては、例えば特開平５−３
１４５３８号公報や特開平６−３０１９７６号公報に記
載された方法が提案されている。
【０００３】図１３は、特開平５−３１４５３８号公報
に記載されたアドレス信号の検出方式を説明する図であ
る。図１３に示したように、この方式ではグルーブの側
壁の一方（図中１ａ）だけをアドレスに応じて蛇行させ
ている。そして、グルーブ幅（ランド幅）の倍より小さ
い光スポットを用いて、蛇行した側壁１ａの蛇行周波数
をトラッキング誤差信号から検出することによりアドレ
ス情報を求める。
【０００４】また、特開平６−３０１９７６号公報に記
載されたアドレス信号の検出方式では、アドレス記録領
域においてグルーブ幅（ランド幅）がアドレス信号に応
じて変えられている。そして、光ディスクからの反射光
のトータル光量がグルーブ幅（ランド幅）に応じて変化
することを利用してアドレス信号を再生する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
特開平５−３１４５３８号公報に記載の光ディスクで
は、ランド及びグルーブの幅が場所によって異なること
により、反射率が変化するため、情報再生信号が劣化す
るなどの問題がある。また、非常に高密度での情報記録
が可能になるものの、ランド及びグルーブの幅が場所に
よって異なるため、ビームスポットにトラックオフセッ
トが発生しやすく、再生信号に影響を及ぼすという問題
がある。
【０００６】また、特開平６−３０１９７６号公報の光
ディスクでは、トータル光量でアドレス信号を再生する
が、トータル光量のしきい値は、レーザー光量の変動、
グルーブ幅の変動及びディスク毎の反射率の差等によっ
て影響を受けやすいため、それを防止するためのシステ
ムが複雑になってしまう。
【０００７】さらに、以上２つの従来例ではランド及び
グルーブの両方ともその幅が一定とはなっていないた
め、製造が困難であるという問題がある。
【０００８】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたものであって、グルーブ及びランドに対するアドレ
ス信号を確実に与えることができ、且つ、品質の高い情
報再生信号を与えることのできる光ディスク及び光ディ
スク装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の光ディ
スクは、グルーブ及びランドからなる記録トラックを有
し、各記録トラックの少なくとも一部に、隣接記録トラ
ックと同一角度位置を先頭とするアドレス領域が形成さ
れている光ディスクであって、前記グルーブと前記ラン
ドのどちらか一方である第１記録トラックが、前記アド
レス領域において、両側壁がアドレス情報に応じて蛇行
しているとともに略同一幅に形成されており、前記アド
レス情報の各１ビットに対応する蛇行部分は、互いに隣
接する第１記録トラック間で同期して形成されているこ
とを特徴としている。
【００１０】請求項２に記載の光ディスクは、請求項１
に記載の光ディスクにおいて、第１記録トラックに記録
されたアドレス情報が、隣接する第１記録トラックに記
録されたアドレス情報と１ビットのみが異なっているグ
レイコードからなることを特徴としている。
【００１１】請求項３に記載の光ディスクは、請求項１
または請求項２に記載の光ディスクにおいて、前記グル
ーブ深さが、λ／６ｎ近傍〔基板の屈折率：ｎ、記録波
長：λ〕に設定されてなることを特徴としている。
【００１２】請求項４に記載の光ディスクは、請求項１
または請求項２に記載の光ディスクにおいて、前記グル
ーブ深さが、λ／８ｎ近傍〔基板の屈折率：ｎ、記録波
長：λ〕に設定されてなることを特徴としている。
【００１３】請求項５に記載の光ディスクは、請求項ま
たは請求項２に記載の光ディスクにおいて、前記グルー
ブ深さが、λ／１０ｎ近傍〔基板の屈折率：ｎ、記録波
長：λ〕に設定されてなることを特徴としている。
【００１４】請求項６に記載の光ディスクは、請求項１
または請求項２に記載の光ディスクにおいて、前記グル
ーブ深さが、λ／３ｎ以上〔基板の屈折率：ｎ、記録波
長：λ〕に設定されてなることを特徴としている。
【００１５】請求項７に記載の光ディスク装置は、請求
項１乃至請求項６のいずれかに記載の光ディスクから情
報を再生する光ディスク装置において、光ビームが第１
記録トラックを追従しているときに、その側壁の蛇行を
検出することにより、第１記録トラックにおけるアドレ
ス情報を再生する第１アドレス再生手段を備えてなるこ
とを特徴としている。
【００１６】請求項８に記載の光ディスク装置は、請求
項７に記載の光ディスク装置において、光ビームが、隣
接する２つの第１記録トラックに挟まれた第２記録トラ
ックを追従しているときに、その両側の側壁の形状が異
なっている相違部を検出する検出手段と、該検出手段の
検出結果に基づき、第２記録トラックのアドレス情報を
再生する第２アドレス再生手段と、を有してなることを
特徴としている。
【００１７】請求項９に記載の光ディスク装置は、請求
項８に記載の光ディスク装置において、前記第２アドレ
ス再生手段は、光ビームが第２記録トラックを追従して
いるときに、前記相違部以外の一致部分における側壁の
蛇行に基づいた一致部信号を得る一致部信号検出手段
と、前記相違部における信号を“０”，“１”と仮定し
て前記一致部信号に付加することにより、少なくとも２
つの仮定信号を生成し、予め決められた規則に基づきそ
の少なくとも２つの仮定信号の内の一つを選択して第２
記録トラックのアドレス情報とする合成手段と、を有し
てなることを特徴としている。
【００１８】請求項１０に記載の光ディスク装置は、請
求項９に記載の光ディスク装置において、前記少なくと
も２つの仮定信号の内の２つが、互いに隣接する２つの
第１記録トラックのアドレス情報ではないときに、読取
エラーと判定する第１エラー検出手段を有してなること
を特徴としている。
【００１９】請求項１１に記載の光ディスク装置は、請
求項８乃至請求項１０のいずれかに記載の光ディスク装
置において、１本の第２記録トラック中に存在する前記
相違部の個数が所定値と一致しない場合に、読取エラー
と判定する第２エラー検出手段を有してなることを特徴
としている。
【００２０】
【発明の実施の形態】
〔実施の形態１〕本発明の光ディスク基板の一実施の形
態について図１〜図５に基づいて説明すれば、以下のと
おりである。
【００２１】図１は本実施の形態に係る光ディスク基板
の平面図、図２は半径方向の断面図を示し、基板５にト
ラッキング用のグルーブ１（請求項における第１記録ト
ラック）とランド２（請求項における第２記録トラッ
ク）が形成されている。ランド２の幅はグルーブ１の幅
とほぼ等しくなるよう設定されている。
【００２２】本実施の形態の光ディスクにおいて、アド
レス情報を得るための第一の領域（請求項におけるアド
レス領域）では、グルーブ１（図１における第１グルー
ブａ，第２グルーブｂ）の両側壁はアドレス情報に応じ
て光ディスク基板５の半径方向に蛇行している。各グル
ーブにおける第一の領域は、そのスタート位置が隣接す
るグルーブの少なくとも一方と同一角度位置となってい
る（例えば、ＺＣＡＶ方式で情報が記録される場合に
は、同一半径領域（ゾーン）内に属するグルーブの第一
の領域のスタート位置が、ディスクの中心と外周とを結
ぶ同じ線分上に存在するようになっている）。また、隣
接するグルーブ１において、アドレス情報の同一ビット
に対応する蛇行部分は同期して（アドレス再生系から見
て、同一長さに）形成されている（すなわち、互いに隣
接するグルーブ１の側壁の蛇行は、同期した基準クロッ
クを元にして形成されている）。
【００２３】また、蛇行周波数は、トラッキングサーボ
系の追従周波数よりも高く設定されている。このため、
光ビームは側壁の蛇行には追従せず、グルーブ１あるい
はランド２（第１ランドａ）の略中央を走査する。第二
の領域は情報の記録、再生、もしくは消去を行う領域で
ある。第一の領域，第二の領域を通じてグルーブ１は略
同一幅に形成されている。
【００２４】記録再生用光スポット４をグルーブ１に追
従させるか、ランド２に追従させるかは、トラッキング
信号の極性を反転することによって容易に選択できる。
トラッキング信号は例えばプッシュプル法によって得ら
れる。
【００２５】このような光ディスクにおいて、ランド１
及びグルーブ２から記録されたアドレス情報を読み取る
には、ランド１及びグルーブ２における側壁の蛇行状態
を検出すればよい。なお、アドレス情報を得るために信
号成分を確保するためには、上記蛇行の振幅量は±５ｎ
ｍ以上有ればよい。振幅量を大きくすれば信号量は大き
くなるが、作製するのが難しくなる。作製上、好ましく
は、±１０ｎｍから±５０ｎｍの範囲に設定すればよ
い。
【００２６】以下、図１に基づき本実施の形態のアドレ
ス情報の再生方法について具体的に説明する。図１にお
いて、第一の領域内では、第１グルーブａは（１００
１）に相当するグレイコードに変調されたアドレス情報
に応じて、略同一幅を保ったまま光ディスク基板５の半
径方向に蛇行し、第２グルーブｂは（１０１１）に相当
するグレイコードに変調されたアドレス情報に応じて、
略同一幅を保ったまま光ディスク基板５の半径方向に蛇
行している。なお、当然ながら図１において情報“０”
と“１”の振れ方向を反対にしても良い。
【００２７】まず、このような光ディスクにおいて、グ
ルーブ１からアドレス情報を再生する方法について説明
する。
【００２８】記録再生用光スポット４は上記したように
第１グルーブａ，第２グルーブｂの略中央位置を走査し
ており、この走査中にアドレス情報を再生する。第一の
領域では第１グルーブａ，第２グルーブｂの側壁が蛇行
しているため、記録再生用光スポット４と第１グルーブ
ａ，第２グルーブｂとの位置関係が変化し、それに伴い
トラッキング誤差信号が変化する。つまり、第１グルー
ブａ，第２グルーブｂの側壁が内周側に蛇行している場
合には記録再生用光スポット４は相対的に外周側にずれ
る（トラッキング誤差信号は記録再生用光スポット４が
外周側にずれたことを示す信号となる）。また、第１グ
ルーブａ，第２グルーブｂの側壁が外周側に蛇行してい
る場合には記録再生用光スポット４は相対的に内周側に
ずれる（トラッキング誤差信号は記録再生用光スポット
４が内周側にずれたことを示す信号となる）。従って、
トラッキング誤差信号をモニタしておけば、グルーブ１
（第１グルーブａ，第２グルーブｂ）の蛇行状態を検出
でき、そこに記録されたアドレス情報を再生できる。
【００２９】図３（１），（３）はそれぞれ図１の第１
グルーブａ，第２グルーブｂにおけるトラッキング誤差
信号の模式図である。この図に示すように、それらの側
壁が光ディスクの内周側あるいは外周側に蛇行するのに
応じてトラッキング誤差信号のレベルがＨ，Ｌと変化す
る。したがって、このトラッキング誤差信号の変化を検
出することで第１グルーブａからは（１００１）、第２
グルーブｂからは（１０１１）のアドレス情報を得るこ
とができる。
【００３０】次に、ランド２からアドレス情報を再生す
る方法について説明する。この場合、第一の領域におけ
るｙ部（請求項における一致部分）では第１ランドａの
両側の側壁が同じ方向に蛇行しているため、上記グルー
ブ１の場合と同様にしてその蛇行を検出することができ
る。しかしながら、ｘ部（請求項における相違部）では
ランドａの側壁が両側で異なる方向に蛇行しており、こ
こではトラッキング誤差信号の様子が異なる。具体的に
は、図１のｘ部では、両側の側壁がともに第１ランドａ
の幅を狭める方向に蛇行しているため、この部分での第
１ランドａは記録再生用光スポット４の略中央に位置す
ることになる。従って、ｘ部におけるトラッキング誤差
信号は位置ずれのないことを示す信号となる。
【００３１】図３（２）は第１ランドａからのトラッキ
ング誤差信号を示す模式図である。この図に示すよう
に、ｘ部では、トラッキング誤差信号のレベルが他の部
分（両側の側壁が同じように蛇行している部分）とは異
なっており、上記したＨ，Ｌの中間のレベルＭとなる。
この中間レベルＭは、３値検出等により検出することが
可能であり、これにより上記ｘ部の検出を行うことがで
きる。
【００３２】本実施の形態の光ディスク装置では、この
ｘ部の検出結果に基づき、ランド２からアドレス情報を
再生する。例えば、以下のようにして行う。
【００３３】ｘ部を検出したら、このｘ部での信号を
“０”，“１”と仮定して、ｙ部から得られた信号（図
１では（１０Ｘ１）、Ｘはｘ部における信号）に付加し
て、２つの仮定信号（（１００１），（１０１１））を
得る。この２つの仮定信号は必ずその第１ランドａに隣
接する２つのグルーブａ，ｂのアドレス情報となってい
るはずであるから、ここで、ランド２のアドレス情報を
例えばその内周側に隣接するグルーブ１のアドレス情報
と同一信号と決めておけば、その２つのアドレス情報を
有するグルーブ１の内の内周側のもののアドレス情報を
選択して、ランド２のアドレス情報とすることができ
る。なお、図１の場合にはｘ部が１カ所しかないため上
記のように簡単にアドレス情報を生成できるが、ｘ部が
複数ある場合には複雑な処理を施す必要がある。
【００３４】この例では、ランド２は隣接するグルーブ
１と同一のアドレス情報を有することとなるが、このよ
うにランド２とグルーブ１とを同一アドレス情報に設定
したとしても、トラッキング誤差信号の極性等により光
ビームがランド２とグルーブ１のどちらを走査している
かの判別が可能であるため、その判別結果に応じて正確
にトラックを特定できる。
【００３５】以上説明したように、本実施の形態の光デ
ィスクでは、アドレス情報を記録する領域のスタート位
置が隣接するトラックと同一角度位置となっており、ま
た、隣接する２つのグルーブにおいて、アドレス情報の
同一の１ビットに対応する蛇行部分が同期して形成され
ているため、記録再生用光スポットがランド２を走査し
ているときに、ランド２の両側に存在する２つのグルー
ブ１に記録されたアドレス情報の相違する部分を検出で
き、これに基づいて、ランド２のアドレス情報を再生す
ることができる。従って、ランド２及びグルーブ１の両
方からアドレス情報を正確に得ることができ、これに基
づき再生や記録等の処理を行うことができる。
【００３６】なお、ランド１からのアドレス情報の再生
は、上記の方法に限るものではなく、例えば、３値検出
によって得た信号（図３（２）の場合、（ＨＬＭＨ）な
る信号）を直接アドレス信号に用い、その３値信号に基
づきトラックアドレスの判別を行っても良い。また、中
間レベルＭの存在位置（ｘ部の存在位置）に基づきアド
レス信号を生成しても良い。
【００３７】また、ｘ部の検出も上記方法に限るもので
はなく、例えば、光ディスクからの反射光量に依存する
トータル信号を使用してその検出を行うことができる。
なぜなら、ｘ部以外の部分ではランド２の幅は略一定で
あり反射光量を蛇行の有無によらず略一定となり、ｘ部
ではランドの幅が増減しており反射光量が変化している
からである。図１のような場合、トータル信号は図３
（４）のようになり、その変化を検出することでｘ部を
検出できる。したがって、上記のような３値検出をしな
くても、トラッキング誤差信号のＨ（あるいはＬ）の判
別（Ｈ（あるいはＬ）以外はＬ（あるいはＨ）とみな
す）とトータル信号の変化場所の検出のみでアドレス情
報を再生できる。
【００３８】なお、図１の例では、グルーブ１のアドレ
ス情報は、隣接するグルーブ１と１ビットのみが異なっ
ているグレイコードからなっている。このようにするこ
とで、上記したｘ部は各ランド２に１カ所しか存在しな
くなり、その検出が簡単かつ正確となる。
【００３９】次に、上記のような光ディスクにおけるア
ドレス情報の読取エラー検出方法について説明する。
【００４０】図１のようにアドレス情報がグレイコード
からなっている場合、ｘ部（相違部）は各ランド２に必
ず１個である。このため、ｘ部が２カ所以上検出された
場合あるいは検出されなかった場合にアドレス読取エラ
ーと判断することができる。もちろん、このエラー検出
はｘ部が１カ所だけの場合にのみ有効なわけではなく、
ｘ部の個数が予め決められている場合には適用可能であ
る。つまり、ｘ部の個数が所定の個数以外の場合に読取
エラーと判断することができる。
【００４１】また、上記したようにランド２のアドレス
情報が隣接するグルーブ１のアドレス情報と同一の場合
には、上記ｘ部の信号を“０”，“１”と仮定したとき
に得られる信号が隣接する２つのグルーブ１のアドレス
情報となっていない場合にアドレス読取エラーと判断す
ることができる。
【００４２】このようなエラー検出を行うことでアドレ
ス情報の信頼性を向上させることができる。
【００４３】また、本実施の形態の光ディスク基板５で
は、記録再生用光スポット４の直径をトラックピッチよ
りも大きく、かつ、トラックピッチの２倍よりも小さく
することにより正確なアドレス情報が得られる。
【００４４】上記のように本実施の形態の光ディスク及
び光ディスク装置では、トラッキング誤差信号によりア
ドレス情報を再生できるため、レーザー光量の変動、グ
ルーブ幅の変動及びディスク毎の反射率の差等などの影
響を受けにくい。さらに、図１に示したように蛇行形状
が曲線状になっているため、その蛇行部分（第一の領
域）からアドレス情報を読み出す際に、高周波ノイズが
生じにくくなり、確実にアドレス情報を読み出すことが
可能となる。これは、本願のように、一部分のみにアド
レス情報を記録しておく場合には、非常に重要である。
【００４５】次に、上記の光ディスク基板５の製造プロ
セスについて図４（ａ）〜図４（ｅ）に基づいて説明す
る。
【００４６】（ａ）ガラス基板５の片面にフォトレジス
ト６を塗布する。
【００４７】（ｂ）レーザー光を対物レンズ７によって
フォトレジスト６上に集光し、フォトレジスト６を所望
のグルーブ１のパターンに感光させる。
【００４８】（ｃ）現像することにより、感光させたフ
ォトレジスト６を除去し、残ったフォトレジスト６によ
り所望のパターンを形成する。
【００４９】（ｄ）ドライエッチングもしくはウエット
エッチングにより、ガラス基板５、フォトレジスト６を
エッチングし、ガラス基板５に所望のパターンを形成す
る。
【００５０】（ｅ）残ったフォトレジストをアッシング
により除去する。
【００５１】上記のフォトレジスト６をグルーブ１のパ
ターンに感光させる装置を図５に示す。図５に示すよう
に、フォトレジスト６を感光させるためのレーザー光源
１１ａと、対物レンズ７のフォーカス用レーザー光源１
１ｂを備えており、レーザー光源１１ａには、例えばＡ
ｒレーザーが使用され、レーザー光源１１ｂには、例え
ばＨｅ−Ｎｅレーザーが使用される。
【００５２】レーザー光源１１ａからのレーザー光は、
ノイズ抑制装置１２ａにより光ノイズが低減された後、
ミラー１９、２０で反射され、光変調器２２に入射す
る。光変調器２２としては、例えば音響光学素子を用い
ることができ、その場合、光変調器２２の前後に集束レ
ンズ２１を配置する。
【００５３】光変調器２２を通ったレーザー光はレーザ
ー光は光偏向器２３に入射する。光偏向器２３として
は、例えば、電気光学素子、あるいは音響光学素子を用
いることができ、レーザー光の進行方向を変えることが
できる。
【００５４】さらに、レーザー光はビームエキスパンダ
ー２４によって適当なビーム径に拡大され、２色ミラー
１５によって対物レンズ７に入射する。そして、対物レ
ンズ７によってガラス基板５上のフォトレジスト６に感
光用光スポットとして集光される。
【００５５】尚、上記の光変調器２２、光偏向器２３、
ビームエキスパンダー２４は、それぞれ、ドライバー２
５、２６、２７により制御されている。
【００５６】一方、レーザー光源１１ｂからのレーザー
光は、ノイズ抑制装置１２ｂにより光ノイズが低減され
た後、偏光ビームスプリッター１３、（１／４）波長板
１４、２色ミラー１５を通り、対物レンズ７によってガ
ラス基板５上のフォトレジスト６に集光される。
【００５７】その反射光は、対物レンズ７により再び集
光され、２色ミラー１５、（１／４）波長板１４、偏光
ビームスプリッター１３を通り、対物レンズ１６及びシ
リンドリカルレンズ１７によって光検出器１８に集光さ
れる。光検出器１８からの信号に基づいて、フォーカス
サーボ系が対物レンズ７をフォーカス方向に駆動し、ス
ピンドルモーターで回転しているガラス基板５上のフォ
トレジスト６に対物レンズ７の焦点が合わされる。
【００５８】上記の構成において、まず光ビームスポッ
トの位置決めを行う。すなわち、ドライバー２６によ
り、光偏向器２３に印加される直流電圧の大きさの調整
される。その後、グルーブ１のアドレス情報に応じて蛇
行している領域でのみ上記の直流電圧にその蛇行に応じ
た信号電圧を重畳させた電圧をドライバー２６により光
偏向器２３に印加する。これによりグルーブ１がアドレ
ス情報に応じて蛇行している領域を形成することができ
る。
【００５９】また、製造方法としては、本実施の形態に
限らず、２ビームを用いて作製することも可能であり、
これらの製造方法に限られるものではない。
【００６０】また、本実施の形態の光ディスク基板５
は、上記のもの限らず、図６（ａ）〜図６（ｆ）のプロ
セスで作成したスタンパーを用いて、射出成型もしくは
射出圧縮成型によるプラスチック樹脂からなるものでも
よい。
【００６１】（ａ）ガラス基板５の片面にフォトレジス
ト６を塗布する。
【００６２】（ｂ）レーザー光を対物レンズ７によって
フォトレジスト６上に集光し、フォトレジスト６を所望
のグルーブ１のパターンに感光させる。
【００６３】（ｃ）現像することにより、感光させたフ
ォトレジスト６を除去し、残ったフォトレジスト６によ
り所望のパターンを形成する。
【００６４】（ｄ）フォトレジスト６からなるパターン
上に導電性の薄膜８をスパッタ、あるいは、無電解メッ
キなどによって形成する。
【００６５】（ｅ）薄膜８上に金属層９を電鋳などによ
って形成する。
【００６６】（ｆ）ガラス基板５、フォトレジスト６か
ら薄膜８、金属層９を剥離する。
【００６７】尚、薄膜８の材料には、Ｎｉ、Ｔａ、Ｃｒ
またはその合金、あるいはそれらの複合膜が用いられ、
金属層９の材料にも、Ｎｉ、Ｔａ、Ｃｒまたはその合
金、あるいはそれらの複合膜が用いられる。
【００６８】工程（ｆ）により剥離された薄膜８、金属
層９はスタンパー１０と呼ばれ、このスタンパー１０を
用いて、射出成型もしくは射出圧縮成型によりプラスチ
ックからなる光ディスク基板５が製造される。プラスチ
ック材料には、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、
エチレン樹脂、エステル樹脂、ナイロン樹脂、ＡＰＯな
どの熱可塑性樹脂が用いられる。
【００６９】また、本実施の形態のスタンパー１０の製
造方法は、上記に限らず、アドレス情報に応じてグルー
ブの側壁が蛇行したマスク原盤を作成し、マスク原盤を
用いて製造してもよい。
【００７０】また、光ディスク基板５の材料、製造方法
は上記のものに限られるものではない。
【００７１】なお、本実施の形態の光ディスクでは、ラ
ンドとグルーブのどちらか一方の幅が略一定であるた
め、１本のレーザビームでも製造することが可能であ
り、製造が容易であり、また、非常に精密な製造が可能
である。
【００７２】〔実施の形態２〕本発明の他の光ディスク
基板の実施の形態について図２、図７に基づいて説明す
れば、以下のとおりである。
【００７３】本実施の形態に用いられる光ディスク基板
５は、〔実施の形態１〕の光ディスク基板５と同じ特
徴、基板材料、製造プロセスを有しており、アドレス情
報に基づいたグルーブ形状が異なるものである。
【００７４】本実施の形態に係るグルーブ形状を図７に
示す。基板５にトラッキング用のグルーブ１とランド２
が形成されている。ランド２の幅はグルーブ１の幅とほ
ぼ等しくなるよう設定されている。
【００７５】グルーブの両側壁は、アドレス情報の
“１”に応じて、光ディスク基板５の内周側，外周側の
両方に振れており、その振れの周波数は、トラッキング
サーボ系の追従周波数よりも高く設定されている。
【００７６】このように側壁の蛇行したグルーブ１ある
いはランド２からのアドレス情報の検出は、〔実施の形
態１〕とほぼ同様に行えるが、本実施の形態では、記録
再生用光スポットがグルーブ１あるいはランド２を走査
しているときのトラッキング誤差信号を微分処理した信
号に基づきアドレス情報を生成する。なお、この微分処
理した信号波形は、図３に模式的に示した信号波形と同
様の波形となる。
【００７７】図７のような蛇行形状では、製造時に、蛇
行周波数を変化させる必要がなくなり、製造装置の制御
機構を簡易なものとすることが可能となる。
【００７８】〔実施の形態３〕本発明の他の光ディスク
基板の実施の形態について図２、図８に基づいて説明す
れば、以下のとおりである。
【００７９】本実施の形態に用いられる光ディスク基板
５は、〔実施の形態１〕の光ディスク基板５と同じ特
徴、基板材料、製造プロセスを有しており、アドレス情
報に基ずいたグルーブ形状が異なるものである。
【００８０】本実施の形態に係るグルーブ形状を図８に
示す。基板５にトラッキング用のグルーブ１とランド２
が形成されている。ランド２の幅はグルーブ１の幅とほ
ぼ等しくなるよう設定されている。グルーブの両側壁は
アドレス情報の“１”に応じて光ディスク基板５の内周
側（あるいは外周側）に振れた後元に戻る形状をしてお
り、その蛇行周波数は、トラッキングサーボ系の追従周
波数よりも高く設定されている。当然ながら反対方向に
振れていても良い。
【００８１】このような形状にすることにより、蛇行形
状が平易であるため再生信号の検出が簡単に行える。
【００８２】なお、上記した〔実施の形態１〜３〕では
側壁の蛇行形状を曲線状としているが矩形状であっても
よいことは言うまでもない。
【００８３】〔実施の形態４〕本発明の他の光ディスク
の実施の形態について図９に基づいて説明すれば、以下
のとおりである。
【００８４】本実施の形態に用いられる光ディスク基板
５は、〔実施の形態１〜３〕の光ディスク基板５と同じ
特徴、基板材料、製造プロセスを有しており、グルーブ
部とランド部が反対になったもので、ランドの両側壁を
蛇行させるものである。すなわち、ランドのアドレス情
報はそのまま読み取り、グルーブのアドレス情報は隣接
するランド部からのアドレス情報を組み合わせて再生す
る。再生方法は〔実施の形態１〜３〕で述べたものと同
一でよい。
【００８５】〔実施の形態５〕本発明の他の光ディスク
の実施の形態について図２に基づいて説明すれば、以下
のとおりである。
【００８６】本実施の形態に用いられる光ディスク基板
５は、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態３〕の光ディス
ク基板５と同じ特徴、基板材料、製造プロセスを有して
おり、グルーブ深さ（ランド高さ）が異なるものであ
る。
【００８７】上記の光ディスク基板５のグルーブ深さ
（ランド高さ）は、λ／６ｎ近傍〔基板の屈折率：ｎ、
記録波長：λ〕となっており、グルーブ深さ（ランド高
さ）を変えるには、エッチング比を変更したり、エッチ
ング条件を変えたり、スタンパー１０のグルーブ深さ
（ランド高さ）をλ／６ｎ近傍にするか、成型条件を変
えることにより行う。
【００８８】光ディスク基板５のグルーブ深さ（ランド
高さ）が、λ／６ｎ近傍であると、トラック間のクロス
トーク（隣接トラック信号からの回り込みノイズ）を低
減でき、高密度化が可能になる。
【００８９】〔実施の形態６〕本発明の他の光ディスク
の実施の形態について図２に基づいて説明すれば、以下
のとおりである。
【００９０】本実施の形態に用いられる光ディスク基板
５は、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態３〕の光ディス
ク基板５と同じ特徴、基板材料、製造プロセスを有して
おり、グルーブ深さ（ランド高さ）が異なるものであ
る。
【００９１】上記の光ディスク基板５のグルーブ深さ
（ランド高さ）は、λ／８ｎ近傍〔基板の屈折率：ｎ、
記録波長：λ〕となっており、グルーブ深さ（ランド高
さ）を変えるには、エッチング比を変更したり、エッチ
ング条件を変えたり、スタンパー１０のグルーブ深さ
（ランド高さ）をλ／８ｎ近傍にするか、成型条件を変
えることにより行う。
【００９２】光ディスク基板５のグルーブ深さ（ランド
高さ）が、λ／８ｎ近傍であると、トラッキング信号が
最大となり、安定したトラック追従が可能となる。
【００９３】〔実施の形態７〕本発明の他の光ディスク
の実施の形態について図２に基づいて説明すれば、以下
のとおりである。
【００９４】本実施の形態に用いられる光ディスク基板
５は、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態３〕の光ディス
ク基板５と同じ特徴、基板材料、製造プロセスを有して
おり、グルーブ深さ（ランド高さ）が異なるものであ
る。
【００９５】上記の光ディスク基板５のグルーブ深さ
（ランド高さ）は、λ／１０ｎ近傍〔基板の屈折率：
ｎ、記録波長：λ〕となっており、グルーブ深さ（ラン
ド高さ）を変えるには、エッチング比を変更したり、エ
ッチング条件を変えたり、スタンパー１０のグルーブ深
さ（ランド高さ）をλ／１０ｎ近傍にするか、成型条件
を変えることにより行う。
【００９６】光ディスク基板５のグルーブ深さ（ランド
高さ）が、λ／１０ｎ近傍であると、再生信号が大きく
なり、安定した再生信号特性を得ることが可能となる。
【００９７】〔実施の形態８〕本発明の他の光ディスク
の実施の形態について図２に基づいて説明すれば、以下
のとおりである。
【００９８】本実施の形態に用いられる光ディスク基板
５は、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態３〕の光ディス
ク基板５と同じ特徴、基板材料、製造プロセスを有して
おり、グルーブ深さ（ランド高さ）が異なるものであ
る。
【００９９】上記の光ディスク基板５のグルーブ深さ
（ランド高さ）は、λ／３ｎ以上〔基板の屈折率：ｎ、
記録波長：λ〕となっており、グルーブ深さ（ランド高
さ）を変えるには、エッチング比を変更したり、エッチ
ング条件を変えたり、スタンパー１０のグルーブ深さ
（ランド高さ）をλ／３ｎ以上にするか、成型条件を変
えることにより行う。
【０１００】光ディスク基板５のグルーブ深さ（ランド
高さ）が、λ／３ｎ以上であると、光ビームの照射強度
が強い場合においても、クロスイレース（情報の消去時
に隣のトラックの記録情報を誤って消してしまうこと）
がなくなり、光ビームの強度制御が容易となり、安定し
た消去動作を行うことが可能となる。
【０１０１】〔実施の形態９〕本発明の光ディスクの実
施の形態について図１０に基づいて説明すれば、以下の
とおりである。
【０１０２】本実施の形態の光ディスクは、図１０に示
すように、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態８〕の光デ
ィスク基板５上に、光磁気記録層２８ａとオーバーコー
ト層２９とを順次形成した構成になっている。光磁気記
録層２８ａは、図示していないが、透光性を有する誘電
体層と、磁性層と、保護層と、反射層から構成されてお
り、磁性層は、例えば、ＤｙＦｅＣｏ、ＴｂＦｅＣｏ、
ＤｙＴｂＦｅＣｏ、ＧｄＴｂＦｅ、ＧｄＴｂＦｅＣｏな
どの希土類金属−遷移金属合金からなっている。 磁性
層は、室温からキュリー点まで垂直磁化となる特性を示
す。
【０１０３】上記の構成において記録を行う場合、レー
ザー光を照射して磁性層の温度をキュリー点近傍まで昇
温し、磁性層の磁化がゼロもしくは記録磁界で反転する
ような状態にし、例えば、上向きの記録磁界を印加する
ことにより、磁性層の磁化を上向きに揃え、その後、同
じくレーザー光を照射して磁性層の温度をキュリー点近
傍まで昇温し、磁性層の磁化がゼロもしくは記録磁界で
反転するような状態にし、（反対向きの）下向きの記録
磁界を印加することにより、磁性層の磁化を下向きに揃
えることにより記録を行う。
【０１０４】実際には、レーザー光を変調する光変調記
録方法と記録磁界を変調する磁界変調記録方法がある。
【０１０５】これにより、１００万回以上書き換えが可
能な光ディスクである光磁気ディスクとなる。
【０１０６】また、磁性層としては単層に限らず、多層
膜にしても良い。多層膜にした場合、オーバーライト機
能等を付加することができ、さらに高性能化が可能であ
る。
【０１０７】〔実施の形態１０〕本発明の光ディスクの
実施の形態について図１１に基づいて説明すれば、以下
の通りである。
【０１０８】本実施の形態の光ディスクは、図１１に示
すように、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態８〕に記載
の光ディスク基板５上に、相変化型記録層２８ｂとオー
バーコート層２９とを順次形成した構成になっている。
相変化型記録層２８ｂは、図示していないが、透光性を
有する誘電体層と、記録層と、保護層と、反射層から構
成されており、記録層は、例えば、ＧｅＳｂＴｅなどの
相変化型記録材料からなっている。
【０１０９】上記の構成において記録を行う場合、高パ
ワーレーザー光を照射して記録層を非晶質状態にし、低
パワーレーザー光を照射して記録層を結晶質状態にする
ことにより記録を行う。
【０１１０】これにより、レーザー光のみで書き換えが
可能な光ディスクである相変化型光ディスクとなる。
【０１１１】〔実施の形態１１〕本発明の光ディスクの
実施の形態１１について図１２に基づいて説明すれば、
以下の通りである。
【０１１２】本実施の形態の光ディスクは、図９に示す
ように、〔実施の形態１〕〜〔実施の形態８〕に記載の
光ディスク基板５上に、光磁気記録層２８ｃとオーバー
コート層２９とを順次形成した構成になっている。光磁
気記録層２８ｃは、図示していないが、透光性を有する
誘電体層と、再生磁性層と、記録磁性層と、保護層から
構成されており、再生磁性層は、例えば、ＧｄＦｅＣ
ｏ、ＧｄＤｙＦｅＣｏなどの希土類金属−遷移金属合
金、記録磁性層は、例えば、ＤｙＦｅＣｏ、ＴｂＦｅＣ
ｏ、ＤｙＴｂＦｅＣｏ、ＧｄＴｂＦｅ、ＧｄＴｂＦｅＣ
ｏなどの希土類金属−遷移金属合金からなっている。
【０１１３】再生磁性層は、室温から所定温度まで面内
磁化となり、所定温度から垂直磁化となる特性を示し、
記録磁性層は、室温からキュリー点まで垂直磁化となる
特性を示す。
【０１１４】上記の構成において記録を行う場合は〔実
施の形態１０〕と同じであり、再生は次のように行われ
る。再生磁性層に光ビームが照射されると、照射された
部位の温度分布はガウス分布になるので、光ビームの径
より小さい領域のみの温度が上昇する。この温度上昇に
伴って、温度上昇部位の磁化は、面内磁化から垂直磁化
に移行する。つまり、再生磁性層と記録磁性層の２層間
の交換結合により、記録磁性層の磁化の向きが再生磁性
層に転写される。温度上昇部位が面内磁化から垂直磁化
に移行すると、温度上昇部位のみが磁気光学効果を示す
ようになり、温度上昇部位からの反射光に基づいて記録
磁性層に記録された情報が再生される。
【０１１５】そして、光ビームが移動して次の記録ビッ
トを再生するときは、先の再生部位の温度は低下し、垂
直磁化から面内磁化に移行する。これに伴って、この温
度の低下した部位は磁気光学効果を示さなくなり、記録
磁性層に記録された磁化は再生磁性層の面内磁化にマス
クされて再生されなくなる。これにより、雑音の原因で
ある隣接ビットからの信号が混入することがなくなる。
【０１１６】以上のように、所定温度以上の温度を有す
る領域のみを再生に関与させるので、光ビームの径より
小さい記録ビットの再生が行え、記録密度は著しく向上
することになる。
【０１１７】尚、再生磁性層と、記録磁性層との間に誘
電多層や金属層からなる非磁性層が形成され、再生時の
記録磁性からの漏洩磁界を用いて、再生磁性層を再生す
るタイプでもよい。また、保護層の後に反射層や保護層
を設けても良い。
【０１１８】
【発明の効果】本発明の光ディスクでは、グルーブとラ
ンドのどちらか一方の記録トラックの両側の側壁が、ア
ドレス情報に応じて蛇行しており、アドレス情報の各ビ
ットに対応する蛇行部分が隣接する少なくとも一方の記
録トラックと同期して形成されているため、隣接する２
つの記録トラック間のアドレス情報の相違点を検出で
き、この検出結果を用いることで、ランド及びグルーブ
の両方からアドレス情報を正確に得ることができる。ま
た、また、グルーブとランドのどちらか一方の幅が略一
定であるため、製造が容易である。
【０１１９】さらに、アドレス情報をグレイコードとす
ることにより、簡単にアドレス信号の再生が行える。
【０１２０】さらに、グルーブ深さをλ/６ｎ近傍に設
定することにより、トラック間のクロストークを低減で
き、高密度記録が可能となる。
【０１２１】また、グルーブ深さをλ/８ｎ近傍に設定
することにより、トラッキング信号が最大となり、安定
したトラック追従が可能となる。
【０１２２】また、グルーブ深さをλ/１０ｎ近傍に設
定することにより、再生信号が最大となり、安定した再
生信号特性を得ることが可能となる。
【０１２３】また、グルーブ深さをλ/３ｎ以上に設定
することにより、光ビームの照射強度が強い場合におい
ても、クロスイレース（情報の消去時に隣のトラックの
記録情報を誤って消してしまうこと）がなくなり、光ビ
ームの強度制御が容易となり、安定した消去動作を行う
ことが可能となる。
【０１２４】本発明の光ディスク装置では、両側の側壁
の蛇行状態が異なっている相違部を検出するため、ラン
ドまたはグルーブのアドレス情報を正確に再生すること
が可能となる。
【０１２５】また、相違部における信号を“０”，
“１”と仮定することで、２つの仮定信号を生成し、そ
の仮定信号によりアドレスを定義される記録トラックが
互いに隣接する同種の記録トラック（ランドまたはグル
ーブ）であるか否かによりアドレス情報の読取エラーを
検出すれば、再生したアドレス情報の信頼性を向上させ
ることができる。
【０１２６】また、上記相違部の個数に基づきアドレス
情報の読取エラーを検出すれば、再生したアドレス情報
の信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の光ディスク基板の一構成例を示す概略
上面模式図である。
【図２】本発明の光ディスク基板の一構成例を示す断面
模式図である。
【図３】本発明の光ディスク基板からの再生信号を表す
模式図である。
【図４】図１，２の光ディスク基板の製造プロセスを示
す説明図である。
【図５】図１，２の光ディスク基板の製造装置を示す説
明図である。
【図６】図１，２の光ディスク基板の他の製造プロセス
を示す説明図である。
【図７】本発明の光ディスク基板の他の構成例を示す概
略上面模式図である。
【図８】本発明の光ディスク基板の他の構成例を示す概
略上面模式図である。
【図９】本発明の光ディスク基板の他の構成例を示す概
略上面模式図である。
【図１０】本発明の光ディスク基板を利用した他の光デ
ィスクの構成を示す断面模式図である。
【図１１】本発明の光ディスク基板を利用した他の光デ
ィスクの構成を示す断面模式図である。
【図１２】本発明の光ディスク基板を利用した他の光デ
ィスクの構成を示す断面模式図である。
【図１３】従来の光ディスク基板の構成を示す概略上面
模式図である。
【符号の説明】
１ グルーブ ２ ランド ４ 記録再生用光スポット ５ ディスク基板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村上 善照 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 広兼 順司 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 高橋 明 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 グルーブ及びランドからなる記録トラッ
    クを有し、該記録トラックの少なくとも一部に、隣接記
    録トラックと同一角度位置を先頭とするアドレス領域が
    形成されている光ディスクであって、 前記グルーブと前記ランドのどちらか一方である第１記
    録トラックは、前記アドレス領域において、両側壁がア
    ドレス情報に応じて蛇行しているとともに略同一幅に形
    成されており、 前記アドレス情報の各ビットに対応する蛇行部分は、互
    いに隣接する第１記録トラック間で同期して形成されて
    いることを特徴とする光ディスク。
  2. 【請求項２】 請求項１に記載の光ディスクにおいて、 第１記録トラックに記録されたアドレス情報は、隣接す
    る第１記録トラックに記録されたアドレス情報と１ビッ
    トのみが異なっているグレイコードからなることを特徴
    とする光ディスク。
  3. 【請求項３】 請求項１または請求項２に記載の光ディ
    スクにおいて、 前記グルーブ深さが、λ／６ｎ近傍〔基板の屈折率：
    ｎ、記録波長：λ〕に設定されてなることを特徴とする
    光ディスク。
  4. 【請求項４】 請求項１または請求項２に記載の光ディ
    スクにおいて、 前記グルーブ深さが、λ／８ｎ近傍〔基板の屈折率：
    ｎ、記録波長：λ〕に設定されてなることを特徴とする
    光ディスク。
  5. 【請求項５】 請求項または請求項２に記載の光ディス
    クにおいて、 前記グルーブ深さが、λ／１０ｎ近傍〔基板の屈折率：
    ｎ、記録波長：λ〕に設定されてなることを特徴とする
    光ディスク。
  6. 【請求項６】 請求項１または請求項２に記載の光ディ
    スクにおいて、 前記グルーブ深さが、λ／３ｎ以上〔基板の屈折率：
    ｎ、記録波長：λ〕に設定されてなることを特徴とする
    光ディスク。
  7. 【請求項７】 請求項１乃至請求項６のいずれかに記載
    の光ディスクから情報を再生する光ディスク装置におい
    て、 光ビームが第１記録トラックを追従しているときに、そ
    の側壁の蛇行を検出することにより、第１記録トラック
    におけるアドレス情報を再生する第１アドレス再生手段
    を備えてなることを特徴とする光ディスク装置。
  8. 【請求項８】 請求項７に記載の光ディスク装置におい
    て、 光ビームが、隣接する２つの第１記録トラックに挟まれ
    た第２記録トラックを追従しているときに、その両側の
    側壁の形状が異なっている相違部を検出する検出手段
    と、 該検出手段の検出結果に基づき、第２記録トラックのア
    ドレス情報を再生する第２アドレス再生手段と、を有し
    てなることを特徴とする光ディスク装置。
  9. 【請求項９】 請求項８に記載の光ディスク装置におい
    て、 前記第２アドレス再生手段は、 光ビームが第２記録トラックを追従しているときに、前
    記相違部以外の一致部分における側壁の蛇行に基づいた
    一致部信号を得る一致部信号検出手段と、 前記相違部における信号を“０”，“１”と仮定して前
    記一致部信号に付加することにより、少なくとも２つの
    仮定信号を生成し、予め決められた規則に基づきその少
    なくとも２つの仮定信号の内の一つを選択して第２記録
    トラックのアドレス情報とする合成手段と、を有してな
    ることを特徴とする光ディスク装置。
  10. 【請求項１０】 請求項９に記載の光ディスク装置にお
    いて、 前記少なくとも２つの仮定信号の内の２つが、互いに隣
    接する２つの第１記録トラックのアドレス情報ではない
    ときに、読取エラーと判定する第１エラー検出手段を有
    してなることを特徴とする光ディスク装置。
  11. 【請求項１１】 請求項８乃至請求項１０のいずれかに
    記載の光ディスク装置において、 １本の第２記録トラック中に存在する前記相違部の個数
    が所定値と一致しない場合に、読取エラーと判定する第
    ２エラー検出手段を有してなることを特徴とする光ディ
    スク装置。
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