JPH10213762A - 光走査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 使用環境変化や外部からの振動衝撃等の外乱
を受けても、各走査線の継ぎ目部を一致させる。 【解決手段】 半導体レーザー１２Ａ、１２Ｂからレー
ザービームＡ、Ｂが、回転多面鏡２０へ入射され、偏向
されたレーザービームＡ、Ｂは、反射鏡２６Ａ、２６Ｂ
へ入射する。この反射鏡２６Ａ、２６Ｂは、レーザービ
ームが走査する感光体ドラム２８の主走査方向の各走査
線の継ぎ目が一致するように設置されている。レーザー
ビームの走査開始側には、半導体レーザーの数に対応し
てビーム検出器３０Ａ、３０Ｂが配設され、さらに、反
射鏡２６Ａ、２６Ｂに干渉されないようになっている。
レーザービームの走査開始端を、ビーム検出器で検出す
ることで、各走査線の相対位置関係を検出することがで
き、レーザビームの光路が変化しても、変動後の各走査
線の継ぎ目が一致するように補正することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザービームを
画像情報に応じて被走査媒体上に走査露光することによ
り、画像を記録するレーザプリンタやディジタル複写機
などの画像記録装置に使用される光走査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の光走査装置としては、例
えば図１１に示すようなものがある。この光走査装置
は、一つの光源８６から出射されたレーザビームを集光
レンズ群８８を介して回転多面鏡９０へ照射すると共
に、該回転多面鏡９０に照射されたレーザビームを該回
転多面鏡９０の回転に伴って移動する反射面９０Ａによ
って反射することにより、結像レンズ９２を介して感光
体ドラム９４の軸方向に沿って走査露光するように構成
したものである。

【０００３】ところで、レーザプリンタやディジタル複
写器などの画像記録装置には、最近、高速化及び高解像
度化が要求されてきている。そして、光走査装置におい
て、これらの高速化及び高解像度化の要求に応えるに
は、まず、回転多面鏡の回転数を増加させることによ
り、レーザビームが感光体ドラム上の１ラインを走査す
るのに要する時間を短縮することが考えられる。

【０００４】しかし、回転多面鏡を回転駆動させる駆動
モータの回転速度はボールベアリングを使用した場合
で、現在、１５，０００ｒｐｍが限度である。また、大
幅なコストアップを招く空気軸受を使用したとしても４
０，０００ｒｐｍが限度である。従って、回転多面鏡の
回転数を増加させることによって高速化及び高解像度化
を図るには限界がある。

【０００５】次に、回転多面鏡の反射面の数を多くする
ことが考えられるが、反射面の数が増えると回転多面鏡
が大径化して通常の駆動モータでは駆動し難いという問
題が発生する。また、反射面の数が増えると、必然的に
１つの反射面がレーザビームを走査する走査角が小さく
なるため、回転多面鏡から一定の距離の位置における走
査幅は走査角の減少に伴って短くなる。つまり従来と同
じ走査幅を確保するには回転多面鏡から感光体ドラマま
での距離を大きくする必要がある。これにより光走査装
置の大型化を招くという問題があった。

【０００６】そこで、光走査装置の高速化及び高解像度
化に伴う装置大型化防止技術として特開昭６３−４７７
１８号公報に示すように被走査媒体の表面を主走査方向
に沿って分割走査する光走査装置が既に提案されてい
る。

【０００７】この分割走査式の光走査装置は、図１２に
示すように、回転多面鏡９６の反射面９６ａに対して異
なる入射角で反射面９６ａの同一点上に２個のレーザ光
源９８Ａ、９８ＢからレーザビームＡ、Ｂを入射させ、
回転多面鏡９６で偏向した反射レーザビームにより被走
査媒体１００上を分割走査するもので、２個のレーザ光
源９８Ａ、９８ＢからのレーザビームＡ、Ｂの入射角度
差θ／２を被走査媒体１００上における全走査角θの１
／２とした構成をとっている。これにより、高速化及び
高解像度化の要求に応えると共に装置の大型化を防止す
ることができる。

【０００８】ところが、このような分割走査式の光走査
装置は、被走査媒体１００上の有効走査幅を２つの走査
線で分割走査するので、分割領域（走査領域１００Ａと
走査領域１００Ｂ）において各走査線の相対位置関係が
僅かに変動しても継ぎ目部Ｌにおいて各走査線が不連続
になったり重なり合ったりし、視覚上大きく画像を乱す
こととなる。

【０００９】このため、主走査方向の継ぎ目部Ｌにおい
て、２個のレーザ光源９８Ａ、９８Ｂに対する画像信号
の出力タイミングを図っている。すなわち、回転多面鏡
９６で反射されたレーザ光源９８Ａのレーザビームが、
反射鏡１０２の位置に達したことを、ビーム検知器１０
４で受光することで調整し、レーザ光源９８Ａとレーザ
光源９８Ｂに各々同じタイミングで画像信号を出力する
ことで、走査領域１００Ａと走査領域１００Ｂの継ぎ目
を一致させている。

【００１０】しかし、光走査装置は、使用環境の変化や
外部からの振動衝撃によって光学部品の位置が僅かに変
動してもレーザビームの光路が変化し、走査面上での走
査線位置が主走査、副走査方向に変動してしまう。

【００１１】この変動後の走査線を補正するには、変動
後の各走査線の相対位置関係を検知する必要があるが、
従来の構成では、走査領域１００Ａを走査する走査線の
走査開始側にビーム検知器１０４を設けるのは問題はな
いが、走査領域１００Ｂを走査する走査線の走査開始側
にビーム検知器を設けると、走査領域１００Ａを走査す
る走査線の光路を干渉する。このため、従来の分割走査
式の光走査装置の構成では、変動後の各走査線の相対位
置関係を検知することができず補正できない。このた
め、画像が乱れて所望の画質を維持できなくなる。

【００１２】また、走査面上での走査線位置が副走査方
向に変動し、副走査方向における継ぎ目が正確につなが
らないという不都合を解消する手立ても考えられていな
い。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】本発明は上記事実を考
慮し、使用環境変化や外部からの振動衝撃等の外乱を受
けても、各走査線の継ぎ目部において、画像の乱れの少
ない分割走査式の光走査装置を提供することを課題とす
る。

【００１４】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明で
は、複数の光源から複数のレーザービームが、一つの回
転多面鏡の同一面へ異なった入射角度で入射される。回
転多面鏡は、レーザービームを偏向して、反射鏡へ入射
させる。この反射鏡は、反射したレーザービームが走査
する被走査媒体の表面の主走査方向の各走査線の継ぎ目
が一致するように設置されている。

【００１５】また、回転多面鏡によって偏向された各レ
ーザービームの走査開始側には、光源の数に対応してビ
ーム検出手段が配設され、さらに、入射するレーザービ
ームの走査開始端が反射鏡に干渉されないようになって
いる。

【００１６】このように、レーザービームの走査開始端
を、それぞれビーム検出手段で検出することで、各走査
線の相対位置関係を検出することができる。このため、
光走査装置の使用環境が変化したり、外部からの振動衝
撃を受け光学部品の位置が僅かに変動したりして、レー
ザビームの光路が変化しても、変動後の各走査線の継ぎ
目が一致するように補正することができる。

【００１７】請求項２に記載の発明では、回転多面鏡で
偏向されビーム検出手段に向かうレーザビームの光路途
中にフィルタが設けられている。このフィルタは、副走
査方向に透過率が異なっており、レーザービームが副走
査方向に振れると、ビーム検出手段で検出する光量が変
動する。そして、第１制御手段において、複数のビーム
検出手段により検出された光量の検出差を算出し、この
検出差と記憶された初期差とを比較することで、副走査
方向のレーザービームの位置を検知することができる。

【００１８】請求項３に記載の発明では、光源と回転多
面鏡との光路途中に反射鏡が設けられており、レーザー
ビームを反射して回転多面鏡へ向かわせる。この反射鏡
は、角度調整手段によって、副走査方向の傾きを調整す
ることができるようになっている。

【００１９】すなわち、第１制御手段からの出力信号に
基づいて、副走査方向のレーザービームの位置に応じ
て、反射鏡の角度を調整することで角度調整手段を操作
し、副走査方向の走査線の位置を補正し、副走査方向の
継ぎ目を一致させることができる。

【００２０】請求項４に記載の発明では、第２制御手段
が、複数のビーム検出手段が検出した主走査方向の走査
開始位置検出信号の検出差と、記憶された初期差を比較
し、その差に応じてレーザービームの書き出しタイミン
グを制御することにより、各走査線が主走査方向へ変動
しても、継ぎ目を一致させることができる。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下に図１〜図９を用いて本発明
の実施形態を説明する。

【００２２】図１及び図２は本形態に係る光走査装置１
０の構成を示す説明図である。光走査装置１０は、それ
ぞれ画像情報に応じて変調されたレーザビームを発生す
る２つの半導体レーザ１２Ａ、１２Ｂが、Ｆθレンズ１
４の光軸に対して左右対称となる位置に設けられてい
る。

【００２３】各半導体レーザ１２Ａ、１２Ｂから出射さ
れた２本のレーザビームＡ、Ｂは、レーザビームを集光
及び平行化する集光レンズ群１６Ａ、１６Ｂを介し、反
射鏡１８Ａ、１８Ｂへそれぞれ入射される。この反射鏡
１８Ａ、１８Ｂの反射面は、上方へ傾斜しており、反射
されたレーザビームＡ、Ｂは、上方へ、且つ角度差αを
もって回転多面鏡２０の同一面へ導光される。なお、反
射鏡１８Ｂには、後述する反射鏡１８Ｂの副走査方向の
傾きを調整する角度調整機構２２が設けられている。

【００２４】一方、回転多面鏡２０で反射された２本の
レーザビームＡ、Ｂは各レーザビームＡ、Ｂを結像させ
ると共に走査面上の走査速度を補正する一つのＦθレン
ズ１４を介したのち、ハウジング２４の奥方へ隙間をあ
けて配設された反射鏡２６Ａ、２６Ｂへ向かう。

【００２５】この反射鏡２６Ａ、２６Ｂは平面視にてハ
字状となるように配置され、且つ反射面が下方へ傾斜し
ており、入射されレーザビームＡ、Ｂを、互いに光路が
重複しないように有効走査範囲に向けて反射させ、感光
体ドラム２８上に結像させる。また各レーザビームＡ、
Ｂの走査開始側で有効走査範囲外（反射鏡２６Ａの左
側、反射鏡２６Ａと反射鏡２６Ｂの間）には、レーザビ
ームを検知するビーム検出器３０Ａ、３０Ｂが設けられ
ている。そして、ビーム検出器３０Ａ、３０Ｂに向かう
各レーザビームＡ、Ｂの光路途中には、図３に示すよう
に、副走査方向に透過率が異なるフィルタ３２Ａ、３２
Ｂが配置され、各レーザビームＡ、Ｂの主走査方向及び
副走査方向の開始位置を検出するようになっている。

【００２６】次に、本形態に係る光走査装置の作用を説
明する。回転多面鏡２０の鏡面２０ａへ入射したレーザ
ビームＡ、Ｂは、回転多面鏡２０の回転動作に伴って移
動する鏡面２０ａによって反射され、感光体ドラム２８
の表面を主走査方向に沿って走査する。その際、レーザ
ビームＡ、Ｂは回転多面鏡２０の鏡面２０ａに対する入
射角度がαだけ異なって入射するように設定されている
ので、回転多面鏡２０によって偏向されるレーザビーム
Ａ、Ｂも角度αだけ異なった状態で、感光体ドラム２８
の表面を同時に走査する。

【００２７】つまり、２本のレーザビームＡ、Ｂの内、
一方のレーザビームＡが感光体ドラム２８の有効走査範
囲の半分の範囲を、他方のレーザビームＢは残った範囲
を主走査方向に沿って走査する。すなわち、一方のレー
ザビームＡが感光体ドラム２８の有効走査範囲の左端部
から走査を開始し、中央部に向かい走査している時に、
他方のレーザビームＢは感光体ドラム２８の有効走査範
囲の中央部から走査を開始し、右端部に向かって走査す
るようになっている。

【００２８】次に、図３〜図５には、レーザビーム位置
を検出するビーム検出器の構成及び動作を示す説明図が
示されている。なお、ビーム検出器３０Ａとビーム検出
器３０Ｂ、及びフィルタ３２Ａとフィルタ３２Ｂの構成
は同じなので、ビーム検出器３０Ａとフィルタ３２Ａを
例に採って説明する。

【００２９】ビーム検出器３０Ａの前には、副走査方向
に一定の割合で透過率が異なるフィルタ３２Ａが設けて
あり、これにより副走査方向にレーザビームＡが変動し
た際には、図４にで示したように、ビーム検出器
３０Ａに入るレーザビームＡの入光量が変動量に比例し
て変化する。例えば、下側にズレると、ビーム検出器３
０Ａに入るレーザビームＡの入光量が減少する構成であ
る。

【００３０】また、ビーム検出器３０Ａの受光素子３１
Ａには主走査方向に２分割されたフォトダイオード３１
Ａａ、３１Ａｂを使用している。

【００３１】ここで、図５及び図９に基づいて、ビーム
検出器の動作を説明する。レーザビームＡが主走査方向
（矢印Ｓ）に走査されると、先ず、分割されたフォトダ
イオード３１Ａａ、３１Ａｂから増幅器を介して波形
ａ、ｂが出力され、走査開始側のフォトダイオード３１
Ａａの出力をピークホールド回路３３Ａを介して出力値
Ｖａをピークホールドする。

【００３２】次に、それら出力波形ａ、ｂのクロスポイ
ントｃ、ｄにおいてコンパレータ等のロジック回路に代
表される回路を介して主走査方向の書き出し位置を設定
する出力信号３４Ａが出力される。

【００３３】すなわち、レーザビームＡがビーム検出器
３０Ａに入射走査する際、レーザビームＡの書出し位置
を設定する出力信号３４Ａと、ビーム検出器３０Ａに入
光される入光量、すなわちビーム検出器３０Ａのピーク
ホールドの出力値Ｖａとを検知することで、レーザビー
ムＡの主走査及び副走査方向の位置に関する情報をリア
ルタイムに検知することができる。なお、ここでは、レ
ーザビームＡについて説明したが、レーザビームＢにつ
いても構成は同じであり、図中では、符号Ｂを付してあ
る。

【００３４】次に、反射鏡１８Ｂの角度調整機構２２の
構成を説明する。図６に示すように、角度調整機構２２
は、反射鏡１８Ｂを保持する保持部材３８を備えてい
る。この保持部材３８は、筺体４０から立設された軸板
４２へ挿通されたピン４４に回転可能に取付けられてい
る。また、筺体４０の平板部には、板ばね４６の基端が
固定されており、湾曲した自由端側が、保持部材３８の
下部と当接し、反射鏡１８Ｂの鏡面が上を向くように、
保持部材３８を付勢している。

【００３５】さらに、反射鏡１８Ｂの鏡面側には、筒状
のケース４８が配置されており、その軸線が保持部材３
８の表面と直交している。このケース４８の中には、調
整部材５０がスライド可能に収納されており、スプリン
グ５２によって、ケース４８の内部へ付勢されている。
また、調整部材５０には、突起５０Ａ形成されており、
ケース４８に形成された円孔５４から突出し、保持部材
３８の表面を押さえている。

【００３６】さらに、ケース４８の中には、調整部材５
０と同軸上に圧電アクチュエータ５６がスライド可能に
配置されている。この圧電アクチュエータ５６は、印加
電圧によって一方向（矢印Ｔ方向）に伸縮する圧電素子
から構成されており、ケース４８の底壁に貫通螺合され
たスクリューネジ５８の先端部で、調整部材５０側へ押
されている。なお、調整部材５０を移動させる移動手段
として、圧電アクチュエータだけでなく、高精度で微小
量ずつ移動するものであれば手段は問わない。

【００３７】次に、本形態に係る光走査装置の補正方法
を説明する。先ず、光走査装置１０の組立作業が終了し
た後、調整工程にて各走査線の副走査方向の継ぎ目合わ
せ調整を行う。

【００３８】これは、光走査装置１０を調整装置（図示
省略）にセットした状態にて、各レーザビームを走査さ
せ、仮想走査面上の継ぎ目部に配置された、ＣＣＤカメ
ラ等の撮像素子によって継ぎ目部分の各レーザビームの
副走査方向の状態を把握する。

【００３９】その後、各レーザビームの副走査方向の状
態に基づいて、図６に示す角度調整機構２２に設けられ
たスクリューネジ５８の螺合量を調整して、反射鏡１８
Ｂの角度を補正し、副走査方向の継ぎ目を合わせる。そ
の後、レーザプリンタやディジタル複写機などの画像記
録装置に組み込んだ後、通常の画像形成動作を開始す
る。この時、各レーザビームの書き出しタイミングは各
ビーム検出器３０Ａ、３０Ｂの出力信号を基に、設計値
であるデフォルトタイミングによって書き出される。こ
の初期状態にてレーザビームＡは画像６２Ａを、レーザ
ビームＢは画像６２Ｂを交互にデフォルトタイミングに
よってパターンを描き、図１０（Ａ）のように主走査方
向の位置が各レーザビームで不一致の時は、図１０
（Ｂ）のように一致するよう、書き出しタイミングを調
整する。

【００４０】この一連の初期調整作業が終了した段階
で、各レーザビームＡ、Ｂを走査させ、レーザビームＡ
を検出するビーム検出器３０Ａから出力される書き出し
位置設定出力信号３４ＡとレーザビームＢを検出するビ
ーム検出器３０Ｂから出力される書き出し位置設定出力
信号３４Ｂの時間差をベースクロック６６とカウンタ６
８を用いてカウントし、その結果をセレクタ７２を介し
てメモリ７０に記憶する。

【００４１】この各ビーム検出器３０Ａ、３０Ｂは各レ
ーザビームＡ、Ｂの検出タイミングが初期状態から差を
生じるよう配設されている。

【００４２】また、この時前述した方法を用い、レーザ
ビームＡを検出するビーム検出器３０Ａのフォトダイオ
ード３１Ａａの出力値Ｖａをピークホールドした値とレ
ーザビームＢを検出するビーム検出器３０Ｂのフォトダ
イオード３０Ｂの出力値をピークホールドした値の差も
比較器３５で比較しメモリ７０に記憶する。

【００４３】この後、光走査装置１０が搭載された画像
記録装置の使用環境が一定で、かつ外部からの衝撃振動
が加わらなければ、初期調整によって調整された継ぎ目
画像は乱れることはない。しかし実際には、使用環境の
変化や機内の温度変化や搬送時の振動衝撃によって微小
ながら光走査装置１０を構成する光学部材の位置関係が
変動するため、各走査レーザビームの位置関係が初期調
整状態から変化し、継ぎ目部画像に乱れを生じる。

【００４４】そこで、本実施例では以下に説明する方法
にて各レーザビームの位置変動を補正し、継ぎ目部画質
を初期調整状態画質に維持している。

【００４５】図９に副走査方向の継ぎ目補正制御のブロ
ック図を示す。外乱要因により各レーザビームの位置が
副走査方向に変動し、各レーザビームＡ、Ｂの副走査方
向の相対位置が変動したとすると、図４に示すように各
レーザビームを検知するビーム検出器に入射する光量が
変化する。すなわち各ビーム検出器３０Ａ、３０Ｂのフ
ォトダイオード出力のピークホールドの出力値Ｖａ、Ｖ
ｂも各ビーム検出器３０Ａ、３０Ｂで変動し、初期調整
後にメモリー７０に記憶した各検出器のピークホールド
の出力値差が変化する。この初期状態のピークホールド
の出力値差と変動後のピークホールドの出力値差を演算
制御部７４で比較演算処理し、反射鏡１８Ｂに設けられ
た角度調整機構２２の圧電アクチュエータ駆動回路７６
に制御信号を送る。圧電アクチュエータ駆動回路７６は
制御信号に応じて圧電アクチュエータ５６への印加電圧
を調整し、反射鏡１８Ｂの副走査方向の角度を調整す
る。

【００４６】次に、図８に示すブロック図を参照して、
副走査方向補正と同時に行われる主走査方向の継ぎ目補
正制御を説明する。

【００４７】各レーザビームＡ、Ｂの位置が主走査方向
に変動すると、各レーザビームＡ、Ｂを検知する各ビー
ム検出器３０Ａ、３０Ｂの主走査方向の書き出し位置を
設定する出力信号３４Ａ、３４Ｂの出力タイミング差は
初期状態から変化する。これらより、初期状態の各ビー
ム検出器３０Ａ、３０Ｂの主走査方向の書き出し位置を
設定する出力信号３４Ａ、３４Ｂの差をベースクロック
６６を用いカウントし記憶したカウント値と変動後のカ
ウント値を比較演算部７８で比較し、それらの差の情報
を画像記録装置全体のコントロールをつかさどるＭＣＵ
（Ｍａｉｎ Ｃｏｎｔｒｏｌ Ｕｎｉｔ）８０に送り、
半導体レーザ駆動回路８２を操作して、レーザビームＢ
の書き出しタイミングを制御することにより主走査方向
の継ぎ目部分を初期状態と同じ状態に補正する。

【００４８】本実施例の補正制御では一方のレーザビー
ムＡを基準とし主走査方向及び副走査方向に補正を行う
ものである。すなわち各レーザビームＡ、Ｂの相対位置
関係を初期状態、つまり継ぎ目部で正確に継がるよう補
正している。ここで基準としているレーザビームＡが変
動しても継ぎ目部画像の乱れはなく、画像全体の位置が
僅かに変動するだけで実用上問題ないが、更に基準とし
ているレーザビームＡの変動も補正したい時は角度調整
機構２２を反射鏡１８Ａに取付けてもよい。

【００４９】なお、本形態では、レーザービームが２つ
あるタイプで説明したが、２つ以上であって、同じよう
に走査線の主走査方向及び副走査方向の補正することが
できる。

【００５０】

【発明の効果】本発明は上記構成としたので、レーザプ
リンタやディジタル複写機などの画像記録装置が使用環
境の変化や機内の温度変化や搬送時の振動衝撃をうけて
も、最も画像形成上重要な各分割走査線の継ぎ目部分
を、極めて簡単な構造と制御手段で、継ぎ目を一致させ
画像の品質を一定に維持することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本形態に係わる光走査装置の概略構成を示す平
面図である。

【図２】本形態に係わる光走査装置の概略構成を横から
見た図である。

【図３】本形態に係わるビーム検出器の概略構成及び動
作を説明する概念図である。

【図４】本形態に係わるビーム検出器で検出された光量
の変動を示すグラフである。

【図５】本形態に係わるビーム検出器の出力信号を説明
するグラフである。

【図６】本形態に係わる角度調整機構を示した概略構成
図である。

【図７】主走査方向の書き出し位置設定信号の比較処理
を説明する図である。

【図８】主走査方向の継ぎ目補正制御の概略構成を示す
ブロック図である。

【図９】副走査方向の継ぎ目補正制御の概略構成を示す
ブロック図である。

【図１０】初期調整用の画像パターンを示す図である。

【図１１】従来の光走査装置の構成を示す模式図であ
る。

【図１２】従来の分割走査式光走査装置の構成を示す模
式図である。

【符号の説明】

１２ 光源（半導体レーザ） １８ 反射鏡 ２０ 回転多面鏡 ２２ 角度調整機構（角度調整手段） ２６ 反射鏡 ２８ 感光体ドラム（被走査媒体） ３０ ビーム検知器（ビーム検出手段） ３２ フィルタ ７４ 演算制御部（第１制御手段） ８０ ＭＣＵ（第２制御手段）

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の光源からレーザービームを一つの
   回転多面鏡の同一面へ異なった入射角度で入射させ、回
   転多面鏡で偏向し被走査媒体の表面を主走査方向に沿っ
   て分割走査する光走査装置において、 前記光源の数に対応して各レーザービームの走査開始側
   へ配置されたビーム検出手段と、前記回転多面鏡によっ
   て偏向されたレーザービームを反射して、前記被走査媒
   体の表面で各走査線の継ぎ目を一致させると共に、各レ
   ーザビームの走査開始端が前記ビーム検出手段へ入射可
   能な位置に配置された複数の反射鏡と、を有することを
   特徴とする光走査装置。
2. 【請求項２】 前記ビーム検出手段に向かうレーザビー
   ムの光路途中に設けられ、副走査方向に透過率が異なる
   フィルタと、複数の前記ビーム検出手段により検出され
   た光量の検出差を算出し、この検出差と記憶された初期
   差とを比較する第１制御手段と、を有することを特徴と
   する請求項１に記載の光走査装置。
3. 【請求項３】 前記光源と前記回転多面鏡との光路途中
   に設けられ、レーザービームを反射して回転多面鏡へ向
   かわせる反射鏡の副走査方向の傾きを、前記第１制御手
   段からの出力信号に基づいて変化させる角度調整手段を
   有することを特徴とする請求項２に記載の光走査装置。
4. 【請求項４】 複数の前記ビーム検出手段により検出さ
   れた主走査方向の走査開始端の位置検出信号の検出差と
   記憶された初期差を比較し、その差に応じてレーザービ
   ームの書き出しタイミングを制御する第２制御手段を設
   けたことを特徴とする請求項１〜３記載の何れかに記載
   の光走査装置。