JPH10208471A - 並列dram操作を可能にするキャッシュ・シンクロナスdramアーキテクチャ - Google Patents
並列dram操作を可能にするキャッシュ・シンクロナスdramアーキテクチャInfo
- Publication number
- JPH10208471A JPH10208471A JP9280391A JP28039197A JPH10208471A JP H10208471 A JPH10208471 A JP H10208471A JP 9280391 A JP9280391 A JP 9280391A JP 28039197 A JP28039197 A JP 28039197A JP H10208471 A JPH10208471 A JP H10208471A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- row
- data
- sdram
- cache
- memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/41—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
- G11C11/413—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1015—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port
- G11C7/103—Read-write modes for single port memories, i.e. having either a random port or a serial port using serially addressed read-write data registers
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/08—Addressing or allocation; Relocation in hierarchically structured memory systems, e.g. virtual memory systems
- G06F12/0802—Addressing of a memory level in which the access to the desired data or data block requires associative addressing means, e.g. caches
- G06F12/0893—Caches characterised by their organisation or structure
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1072—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
ンクでの同時操作を行うことができるようにしてSDR
AMのパフォーマンスを向上させる。 【解決手段】 多重バンク・アーキテクチャを有するキ
ャッシュ・シンクロナス・ダイナミック・ランダム・ア
クセス・メモリ(SDRAM)装置において、センス増
幅器106Aによってラッチされたデータの行は、ラン
ダムにアドレス可能な行レジスタ102Aに格納され
る。選択論理ゲート手段が、実行するキャッシュSDR
AMの特定の同期メモリ操作に従ってデータの行を選択
的に行レジスタにゲート入力する。書込み操作中にキャ
ッシュSDRAMに入力されるデータは、センス増幅器
によって受け取られ、メモリ・バンク・アレイに書き込
まれる。読出しコマンド中にキャッシュSDRAMから
出力されるデータは行レジスタからのみ読み出される。
Description
ナス・ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ(S
DRAM)装置に関し、具体的にはキャッシュSDRA
Mに係わる。
AM、特に2Mビット×4入出力×2バンクSDRAM
が図示されている。SDRAMの他の構成(たとえば1
Mビット×8入出力×2バンク、512Mビット×16
入出力×2バンクなど)も知られている。典型的なSD
RAM10は、アドレス・バッファ12と、第1および
第2のメモリ・バンク(14A、14B)と、対応する
行デコーダ(16A、16B)と、列デコーダ(18
A、18B)と、センス増幅器(20A、20B)と、
データ・ラッチ(22A、22B)とを備える。データ
入出力バッファ24が、メモリ・アレイ(すなわちアレ
イ14Aまたは14B)に書き込まれるデータを受け取
り、メモリ・アレイ(すなわちアレイ14Aまたは14
B)から読み出されたデータを出力する。
号がクロック・バッファ26(CLKバッファ)に入力
される。このCLK信号はSDRAM10の様々な機能
ブロックにシステム・タイミングを与える。SRAM1
0の入力はCLK信号の立上り端でサンプリングされ
る。外部供給クロック・イネーブル信号(CKE)がク
ロック・イネーブル・バッファ28(CKEバッファ)
に入力される。CKEバッファ28は、CLKバッファ
26と自己リフレッシュ・クロック30とにイネーブル
出力信号を供給する。CKEは、高レベル状態のときに
CLK信号をアクティブ状態にし、低レベルのときにC
LK信号をイナクティブにする。CKE低はクロックを
イナクティブにすることによって電源遮断モード、中断
モード、または自己リフレッシュ・モードを開始する。
自己リフレッシュ・クロック30と行アドレス・カウン
タ32は標準方式で動作して自己リフレッシュ・モード
を実現する。
0からA11を受け取り、アドレス・データ線34を介
してコマンド・デコーダ36と行デコーダ(16A、1
6B)と、列デコーダ(18A、18B)と、順次制御
回路(38A、38B)と、モード・レジスタ40とに
情報を出力する。データ入出力バッファ24は、DQ0
〜DQ3に対応する入出力データを供給する。
信号に従って、SDRAM10の所望の操作を実行する
適切なコマンド信号を出力する。典型的なSDRAM操
作の例としては、読出し操作と書込み操作がある。読出
し操作中、SDRAM10は読出しコマンドを受け取る
とアドレス線で受け取ったアドレスによって指定された
特定の記憶場所からデータを読み出す。同様に、書込み
操作中、SDRAMは、データ入出力(I/O)線DQ
0〜DQ3で受け取ったデータをアドレス線で受け取っ
たアドレスによって指定された特定の記憶場所に書き込
む。SDRAM操作に関連して、コマンド・デコーダ3
6はチップ選択(CS)、行アドレス・ストローブ(R
AS)、列アドレス・ストローブ(CAS)、書込みイ
ネーブル(WE)、およびバンク選択(BS)の各入力
信号を含むバッファ入力信号を受け取る。コマンド・デ
コーダ36は、第1の操作に従って行アドレス・カウン
タ32に自己リフレッシュ操作を行うコマンド信号を供
給する。コマンド・デコーダ36は、他の操作に従って
所望の同期メモリ操作の実行に応じてモード・レジスタ
40、各メモリ・バンク(14A、14B)の行/列選
択ブロック(16A、16B)、および各メモリ・バン
クの順次制御ブロック(38A、38B)にコマンド信
号を供給する。この同期メモリ操作はクロックの立ち上
がりまたは立ち下がりでコマンド・デコーダによってデ
コードされた標準SDRAMコマンドに対応する。たと
えば、モード・レジスタ40はそれぞれの順次制御ブロ
ック(38A、38B)または各メモリ・バンク(14
A、14B)に制御信号を供給する。各メモリ・バンク
の順次制御ブロックは、それぞれのメモリ・バンクに関
連づけられたそれぞれのデータ・ラッチを制御する。モ
ード・レジスタ40は、図3に示すようにアドレス・バ
ッファ12を介して、動作モードとCAS待ち時間と、
バースト・タイプ(BT)と、バースト長とをプログラ
ムする入力データを受け取る。各メモリ・バンク(14
A、14B)の行/列選択(42A、42B)は、それ
ぞれのメモリ・バンク(14A、14B)に関連づけら
れたそれぞれの行デコーダ(16A、16B)と列デコ
ーダ(18A、18B)とを制御する。データ入出力バ
ッファ24にはSDRAMチップ10のデータ入力また
はデータ出力を選択的に全部マスクしたりいずれもマス
クしなかったりするバッファ・データ・マスク入力線
(DQM)が接続されている。図1及び図2に示すよう
なSDRAMの読出し、書込み、リフレッシュ、および
その他の一般的な操作の特定の実施は当技術分野で周知
であり、本明細書では詳述しない。
は当技術分野で周知である。SDRAMの業界標準(す
なわち電気的および機械的業界標準)が確立されてい
る。たとえば16Mビット・シンクロナスDRAM製品
の標準には、制御、アドレス、およびデータ入出力回路
のすべてが外部供給クロックの正のエッジと同期すると
いう要件が含まれる。さらに、アクセス操作の前には、
モード・レジスタ設定サイクル中にアドレス入力線A0
〜A9によって装置にCAS待ち時間と、バースト長
と、バースト・シーケンスとをプログラムしなければな
らない。
能性によって柔軟性を持たせ、非同期DRAMでは達成
することができないより高いバースト・レートを実現す
るように設計されているが、残念ながら標準SDRAM
はページ・ヒットまたはミスの初期待ち時間を改善しな
い。ページ・ヒットは読出しサイクル中にアクセスする
行がすでにセンス増幅器によってセンスされ、メモリ・
アレイまたはバンクが開いている場合に発生する。ペー
ジ・ミスは、読出しサイクル中にアクセスする行が現在
センス増幅器によってセンスされていない場合に発生
し、まずメモリ・バンクを閉じ、アクティベートし直
し、リフレッシュし、再び開かなければならない。さら
に、標準SDRAMはDRAMサイクル時間(tRC)と
DRAMプリチャージ時間(tRP)によって生じる不利
を軽減しない。複数のメモリ・バンクの使用により、標
準SDRAMは、プリチャージ時間遅延とサイクル時間
遅延の一部を隠すためにユーザが両方のメモリ・バンク
に対する同時操作を行えるようにする。しかし、この機
能は、記憶するデータが順序立っていて、2つの開いた
バンクの間をSDRAMが中断なしに行き来することが
できるように構成可能な場合にのみ有用である。現在の
マルチタスク・コンピュータ・オペレーティング・シス
テムではこれは手に負えない作業である。したがって標
準SDRAMは、たとえばメモリ帯域幅を十分に利用す
ることができないことや、すべてのメモリ・アクセスに
ついて望ましくないシステム待ち状態があることなど、
いくつかのパフォーマンス上の限界がある。
リの待ち時間を短縮し、同じメモリ・バンクでの同時操
作を行うことができるようにすることによって、すなわ
ち多重バンク装置の単一のメモリ・バンクを使用するこ
とによって、標準SDRAMのパフォーマンスの問題を
解決することである。
に利用することができるようにし、すべてのメモリ・ア
クセスのシステム待ち状態をなくすことである。
ンク・アーキテクチャを有するキャッシュ・シンクロナ
ス・ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ(キャ
ッシュSDRAM)装置が、シンクロナス・ダイナミッ
ク・ランダム・アクセス・メモリ(SDRAM)バンク
と、ランダムにアドレス可能な行レジスタと、選択論理
ゲート手段とを備える。このSDRAMは、メモリ・バ
ンク・アレイに結合され、メモリ・バンク・アレイ内の
データの行を選択する行デコーダと、ビット線を介して
メモリ・バンク・アレイに結合され、行デコーダによっ
て選択されたデータの行をラッチするセンス増幅器と、
データの行の所望の列を選択する同期列選択手段とを備
える。行レジスタにはセンス増幅器によってラッチされ
たデータの行が格納される。選択論理ゲート手段は、セ
ンス増幅器と行レジスタとの間に配置され、実行するキ
ャッシュSDRAMの特定の同期メモリ操作に従って、
ビット線上にあるデータの行を行レジスタにゲート入力
する。書込み操作中にキャッシュSDRAMに入力され
るデータはセンス増幅器が受け取り、メモリ・バンク・
アレイに書き込まれる。読出し操作中にSDRAMから
出力されるデータは、行レジスタからのみ読み出され
る。行レジスタに入っているデータの行は、まずメモリ
・バンク・アレイから読み出され、次に特定の同期メモ
リ操作に従って選択的に行レジスタにゲート入力された
ものである。
は、以下に示す本発明を実行する最善の態様の詳細な説
明を読めばより明らかになろう。以下の説明では、添付
図面を参照するが、同様の参照番号を使用して様々な図
における同様の部分を識別する。
リ(DRAM)、より具体的にはシンクロナスDRAM
は当技術分野で周知であるため、本発明について、特に
本発明の一部を形成する要素または本発明と直接協調動
作する要素について説明する。しかし、特に図示または
説明していないその他の要素は半導体メモリ技術の業者
には周知の様々な形態をとることができるものと理解さ
れたい。さらに、わかりやすいように、本発明について
16MビットSDRAM(2Mビット×4入出力×2バ
ンク)に関して説明するが、その他のSDRAM密度、
構成、およびバンク数量も可能である。
ュSDRAM100のブロック図が図示されている。S
DRAM100上の8Kビットの組込みキャッシュ10
2が、各SDRAMバンク(104A、104B)につ
いて4Kビットの組込みスタティック・ランダム・アク
セス・メモリ(行レジスタ)(102A、102B)を
含む。以下の説明では「キャッシュ」と「組込み行レジ
スタ」と「スタティック・ランダム・アクセス・メモ
リ」という用語は同義に使用し、スタティック・ランダ
ム・アクセス・メモリを意味するものと解釈されたい。
さらに、以下の説明ではバンクA(104A)およびそ
れに付随する行レジスタ102Aについて言及するが、
その説明はバンクB(104B)およびそれに付随する
行レジスタ102Bにも等しく当てはまる。さらに、以
下の本発明の詳細な説明では、「ヒット」および「ミ
ス」という用語を使用するが、これらの用語は(以下で
詳述する)行レジスタに保持されるデータのページに適
用されるものである。「ヒット」は、アクセスする行が
すでに行レジスタ内にあり、したがってメモリ・バンク
・アレイの新しい行にアクセスする必要がない場合に起
こる。「ミス」は、アクセスする行が現在行レジスタ内
にある行ではない場合に起こる。書込みコマンドでの
「ミス」は行レジスタには影響しないのに対して、読出
しコマンドで「ミス」があると新しい行が行レジスタに
ロードされる。行レジスタの内容は、SDRAMアレイ
から最後によみとられた行と常に等しく、その間の期間
に書込みが行われた場合はその書込みによって修正され
た内容と等しい。
されると、それに関連づけられたセンス増幅器106A
によって行データがラッチされ、キャッシュ102Aに
直接には送られない。これによって、キャッシュ102
Aの現行内容を変更することなくSDRAMアレイ10
4Aをリフレッシュしたり、新しい行アクセスを開始し
たりすることができる。しかし、新しい行がアクティベ
ートされた後で読出しコマンドが発生した場合、その行
全体が自動的にキャッシュ102Aに送られ、その後で
その特定のCAS待ち時間内にチップ100から読み出
される。本発明によると、すべての読出しコマンドは、
以下で「書込み転送モード」と「非書込み転送」モード
とに言及しながら詳述するように、SDRAMアレイ
(104A、104B)からSRAMキャッシュ(10
2A、102B)を介して同期的にデータを取り出し、
SDRAMアレイ(104A、104B)に直接にはア
クセスしない。
SDRAMアーキテクチャは、メモリの待ち時間を減ら
すだけでなくDRAMメモリの同じバンクに対する並列
操作の実行を可能にすることによってもシステム・パフ
ォーマンスを向上させる。読出しでは常に本発明によっ
てキャッシュにアクセスし、書込みデータはバッファリ
ングされるため、このキャッシュSDRAMはSRAM
速度でランダムな列アクセスを行うことができる。
スタ(102A、102B)を使用して同じバンク(そ
れぞれ104A、104B)に対する並列操作を行うこ
とができる。この並列操作を行う能力によって、メモリ
のパフォーマンスが大幅に向上し、場合によってはメモ
リの帯域幅が実質的に標準SDRAMの2倍になる(図
12、図13参照)。
・アーキテクチャを有するキャッシュ・シンクロナス・
ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ(キャッシ
ュSDRAM)装置10が、メモリ・バンク・アレイ1
04Aに結合され、メモリ・バンク・アレイ内のデータ
の行を選択する行デコーダ116Aシンクロナス・ダイ
ナミック・ランダム・アクセス・メモリ(SDRAM)
バンクを備えている。メモリ・バンク・アレイ104A
には、行デコーダ116Aによって選択されたデータの
行をラッチするセンス増幅器120Aがビット線119
Aを介して結合されている。データの行の所望の列を選
択する列デコーダ118Aが備えられている。センス増
幅器120Aによってラッチされたデータの行を格納す
る行レジスタ102Aが備えられている。このSDRA
Mの列デコーダ118Aはさらに、行レジスタ102A
に格納されているデータの行の所望の列を選択する。
Aとの間に配置され、実行するキャッシュSDRAM1
00の特定のメモリ操作に従ってビット線121A上に
あるデータの行を選択的に前記行レジスタ102Aにゲ
ート入力する選択論理ゲート手段が設けられている。選
択論理ゲート手段121Aは、センス増幅器120Aか
ら行レジスタ102Aまでのデータの行の所望のゲート
を行う適切な論理回路を含む。書込み操作中にキャッシ
ュSDRAM100に入力されるデータは、センス増幅
器120Aが受け取り、メモリ・バンク・アレイ104
Aに書き込まれる。さらに、読出し操作中にキャッシュ
SDRAM100から出力されるデータは行レジスタ1
02Aからのみ読み出される。行レジスタ102A内に
入っているデータの行はまずメモリ・バンク・アレイ1
04Aからセンス増幅器120Aに読み出され、それか
ら特定の同期メモリ操作に従って選択的に行レジスタ1
02Aにゲート入力されたものである。たとえば、行デ
コーダによって選択されたデータの行が行レジスタ10
2Aにゲート入力された後、メモリ・バンク・アレイ内
のデータの同じ行に影響を与える後続のメモリ操作(書
込み操作など)がさらに行われると、選択論理ゲート手
段121Aはビット線上にある影響を受けたデータの行
を行レジスタ102Aにゲート入力し、それによって行
データの整合性を維持する。
AMは、キャッシュSDRAM100の入出力データを
受け取る入力線を有するデータ入出力(I/O)バッフ
ァ124を備える。データI/Oバッファ124と行レ
ジスタ102Aの間には、行レジスタ102Aから出力
されたデータをデータI/Oバッファ124にラッチす
るデータ・ラッチ122Aが結合されている。データ・
ラッチ122AはさらにデータI/Oバッファ124と
センス増幅器120Aとの間に結合されて、データI/
Oバッファ124からセンス増幅器120Aに入力され
るデータをラッチする。キャッシュSDRAM100、
具体的には行レジスタ120Aから出力されるデータ
は、キャッシュSDRAM100に供給される外部クロ
ック信号と同期した同期データである。
ラなどの制御手段(図示せず)を使用してキャッシュS
DRAM100を制御し、行レジスタ102A上と多重
バンク・アーキテクチャの同じバンク104Aの対応す
るメモリ・バンク・アレイ上とで並列メモリ操作を行え
るようにすることができる。この制御手段は、キャッシ
ュSDRAM100を制御して、行レジスタ102Aに
対するバースト読出し操作と多重バンク・アーキテクチ
ャの同一バンクのメモリ・バンク・アレイ104Aに対
するバンク・プリチャージ操作を並列して行えるように
することができる。あるいは、制御手段はキャッシュS
DRAM100を制御して、行レジスタ102Aに対す
るバースト読出し操作と多重バンク・アーキテクチャの
同一バンクの対応するメモリ・バンク・アレイ104A
に対するバンク・アクティベート操作とを並列して行え
るようにすることができる。制御手段はさらにキャッシ
ュSDRAM100を制御して行レジスタ102Aに対
するバースト読出し操作と多重バンク・アーキテクチャ
の同一バンクの対応するメモリ・バンク・アレイ104
Aに対するバンク・リフレッシュ操作とを並列して行え
るようにすることができる。
らに、第2のメモリ・バンク・アレイに結合され、第2
のメモリ・バンク・アレイ内のデータの第2の行を選択
する第2の行デコーダと、第2のビット線を介して第2
のメモリ・バンク・アレイに結合され、第2の行デコー
ダによって選択されたデータの行をラッチする第2のセ
ンス増幅器と、データの行の所望の列を選択する第2の
列デコーダとを含む第2のシンクロナス・ダイナミック
・ランダム・アクセス・メモリ(SDRAM)バンクを
備える。第2のセンス増幅器によってラッチされたデー
タの行は第2のランダムにアドレス可能な行レジスタに
格納される。センス増幅器と統合された第2の選択論理
ゲート手段が第2のセンス増幅器と第2の行レジスタ1
02Bとの間に配置され、実行するキャッシュSDRA
Mの特定の操作に従って第2のビット線上にあるデータ
の行を選択的に行レジスタ102Bにゲート入力する。
書込み操作中にキャッシュSDRAM100の第2のバ
ンクに入力されるデータは、第2のセンス増幅器106
Bが受け取り、第2のメモリ・バンク・アレイ104B
に書き込まれる。読出し操作中にキャッシュSDRAM
の第2のバンクから出力されるデータは、第2の行レジ
スタ102Bからのみ読み出され、第2の行レジスタ1
02Bに入っているデータの行はまず第2のメモリ・バ
ンク・アレイ104Bから第2のセンス増幅器に読み出
され、それから特定の同期メモリ操作に従って選択的に
第2の行レジスタ102Bにゲート入力される。
ら、どの並列操作が可能であり、それらをどのように使
用してメモリ・パフォーマンスを最大限にし、システム
待ち状態を最小限にすることができるかを以下に述べ
る。
て)図7を参照すると、キャッシュSDRAMにバンク
・アクティベート・コマンドが送られた場合、メモリ内
でその行が選択され、データがセンス増幅器106Aに
よってラッチされる。この時点で、キャッシュ102A
の内容は変化しないままである。読出しコマンドが発行
されると、選択された行全体が1クロック・サイクル以
内にキャッシュ102Aに転送され、2クロック・サイ
クル以内に最初の読出しデータが出力線上に現れる。読
出しコマンドに続くクロック・サイクル時に、行データ
がキャッシュ102Aとセンス増幅器106Aの両方に
ラッチされる。すべての読出しは、キャッシュ102A
からデータを取り出し、アレイ104Aにはアクセスし
ないため、DRAMアレイ104Aを開いたままにして
おく必要がなくなる。その結果、自動プリチャージ機能
を使用してDRAMアレイ104Aを読出しコマンドに
続くクロック・サイクルでプリチャージすることができ
る(自動プリチャージ付きの読出し)。手動プリチャー
ジ・コマンドを使用するとバースト読出しが終了するた
め、この時点では手動プリチャージ・コマンドを使用す
ることはできない。標準SDRAMとの下位互換性を維
持するために、本発明のキャッシュSDRAMではバー
ストの手動プリチャージ終了が実施されることに留意さ
れたい。バーストを完了させることができるようにする
ため、読出しバーストの終了の2クロック・サイクル前
に手動プリチャージ・コマンドを出すことができる。S
DRAMアレイ104Aがプリチャージされると、シス
テム(図示せず)はキャッシュ(すなわちページ)読出
しアクセス中に同じバンクまたは異なるバンクに対して
自動リフレッシュ・コマンド(図9の時点T5)または
別のバンク・アクティベート・コマンドあるいはその両
方を出すことができる。
ジ)読出し中にバンク・アクティベートを行うことがで
きることにより、システムは同一バンクへのメモリ・ア
クセスをパイプライン化することもできる。これは、コ
ントローラによって開いたページを閉じてから(同じペ
ージへの)次の行アクセスを開始すると同時に、キャッ
シュに保持されている前の行から読出しデータをバース
ト出力することによって行う(図10)。パイプライン
処理を使用して、読出しバースト中にプリチャージ時間
とページ・ミスのtRCDを完全に隠蔽することができる
だけでなく、CAS待ち時間の一部も隠蔽することがで
きる。これはキャッシュSDRAM10のきわめて強力
な機能であり、ランダム行読出しの場合は、パイプライ
ン化によってメモリの帯域幅を2倍以上にすることがで
きる(図12、図13参照)。図11に示すように、行
キャッシュを使用して、読出しサイクルに続く書込みミ
ス・サイクルの待ち時間の一部を隠蔽することもでき
る。
縮をメモリ・アクセス・サイクルをオーバーラップさせ
る機能と組み合わせることによって、キャッシュSDR
AMは標準SDRAMを大幅に上回るパフォーマンス上
の優位が得られる(図12、図13参照)。すなわち、
キャッシュSDRAMは読出しページ・ミスの待ち時間
を読出しページ・ヒットの待ち時間にまで短縮すること
ができ、それによってメモリのパフォーマンスを同じク
ロック周波数で動作するSDRAMの2倍以上にするこ
とができる。書込みサイクル中は入力データの最後のビ
ットがメモリ・セルに正しく格納されるまでDRAMを
開いたままにしなければならず、プリチャージすること
ができないため、書込みバーストはパイプライン化する
ことができないことに留意されたい。
Mセンス増幅器(106A、106B)からの行データ
は第1の読出しコマンドまたは書込みコマンド時にのみ
(しかも書込みコマンドではチップが書込み転送モード
になっている場合のみ)キャッシュ(102A、102
B)に転送される。同じ行に対するそれ以降の読出しコ
マンドまたは書込みコマンドはキャッシュ(102A、
102B)へのロードを行わず、キャッシュの内容は変
化しない。言い換えると、同じ行に対して複数の読出し
を行ってもそのたびにキャッシュの再ロードが行われる
ことはない。
アーキテクチャとプログラム可能キャッシュ方針を有す
るキャッシュ・シンクロナス・ダイナミック・ランダム
・アクセス・メモリ(キャッシュSDRAM)装置10
0は、メモリ・バンク・アレイ104Aに結合され、メ
モリ・バンク・アレイ104A内のデータの行を選択す
る行デコーダ116Aと、ビット線121Aを介してメ
モリ・バンク・アレイ104Aに結合され、行デコーダ
116Aによって選択されたデータの行をラッチするセ
ンス増幅器120Aと、データの行の所望の列を選択す
る列デコーダ118Aとを含むシンクロナス・ダイナミ
ック・ランダム・アクセス・メモリ(SDRAM)バン
クを備える。センス増幅器120Aによってラッチされ
たデータの行はランダムにアドレス可能な行レジスタ1
02Aに格納される。センス増幅器120Aと行レジス
タ102Aの間に選択論理ゲート手段121Aが配置さ
れ、実行するキャッシュSDRAM100の特定の同期
メモリ操作に従ってビット線121上にあるデータの行
をレジスタ102Aにゲート入力する。書込み操作中に
キャッシュSDRAM100に入力されるデータはセン
ス増幅器120Aが受け取り、メモリ・バンク・アレイ
104Aに書き込まれる。読出し操作中にキャッシュS
DRAM100から出力されるデータは行レジスタ10
2Aからのみ読み出される。行レジスタ102A内に入
っているデータの行は、まずメモリ・バンクからセンス
増幅器120Aに読み出され、それから特定のメモリ操
作に従って選択的に行レジスタ102Aにゲート入力さ
れたものである。SDRAMの列デコーダ118Aが、
さらに行レジスタ102Aに格納されたデータの行の所
望の列を選択するようになっている。行デコーダによっ
て選択されたデータの行がゲートされて行レジスタ10
2Aに入れられる読出し操作の後、メモリ・バンク・ア
レイ内の同じデータの行に影響を与える後続のメモリ操
作がさらに行われると、ビット線上にある影響を受けた
データの行を選択論理ゲート手段121Aが行レジスタ
102Aにゲート入力し、それによって行データの整合
性を維持する。
ングして、書込みサイクル中に業界標準SDRAMの通
常動作モードに対応する書込み転送モード(すなわち書
込み割振りモード)で動作するようにし、さらに書込み
サイクル中に代替動作モードに従って非書込み転送モー
ド(すなわち非書込み割振りモード)で動作するように
し、それによってそれぞれ第1と第2のキャッシュ方針
で動作するようにする手段108を設ける。このプログ
ラミング手段は、以下で図7および図8を参照しながら
詳述するようにモード・レジスタ108を備えることが
好ましい。あるいは、このプログラミングはワイヤボン
ドまたは金属マスク・オプションなど他の手段によって
行うこともできる。
ミング手段108Aから送られる制御信号に応答し、書
込み転送モード中であって書込みコマンドの発生時には
キャッシュ方針は論理ゲート手段121Aが前にアクテ
ィベートされた行をSDRAMアレイ104Aから行レ
ジスタ102Aにロードするようにする。さらに、非書
込み転送モード中であって書込みコマンドの発生時に
は、キャッシュ方針は論理ゲート手段121Aが前にア
クティベートされた行を行レジスタ102Aに転送しな
いようにし、後者の場合、行レジスタ102Aは独立し
たキャッシュ読出しバンクとして機能し、SDRAMア
レイ104Aは半独立DRAM書込みバンクとして機能
する。
モリ・バンク・アレイに結合され、第2のメモリ・バン
ク・アレイ内のデータの第2の行を選択する第2の行デ
コーダと、第2のビット線を介して第2のメモリ・バン
ク・アレイに結合され、第2の行デコーダによって選択
されたデータの行をラッチする第2のセンス増幅器と、
データの行の所望の列を選択する第2の列デコーダとを
含む第2のシンクロナス・ダイナミック・ランダム・ア
クセス・メモリ(SDRAM)バンクをさらに備えるこ
とができる。第2のセンス増幅器によってラッチされた
データの行を格納するために第2のランダムにアドレス
可能な行レジスタを設ける。さらに、第2のセンス増幅
器と第2の行レジスタとの間に配置された第2の選択論
理ゲート手段を設け、実行する特定のメモリ操作に従っ
て第2のビット線上にあるデータの行を選択的に前記行
レジスタにゲート入力する。書込み操作中に第2のSD
RAMに入力されるデータは第2のセンス増幅器が受け
取り、第2のメモリ・バンク・アレイに書き込まれる。
読出し捜査中に第2のSDRAMから出力されるデータ
は、第2の行レジスタからのみ読み出される。第2の行
レジスタに入っているデータの行は、まず第2のメモリ
・バンク・アレイから第2のセンス増幅器に読み出さ
れ、それから特定のメモリ操作に従って第2の行レジス
タに選択的にゲート入力されたものである。
アーキテクチャを有するキャッシュ・シンクロナス・ダ
イナミック・ランダム・アクセス・メモリ(キャッシュ
SDRAM)装置でプログラム可能キャッシュ方針を実
施する方法が、メモリ・バンク・アレイに結合され、メ
モリ・バンク・アレイ内のデータの行を選択する行デコ
ーダと、ビット線を介してメモリ・バンク・アレイに結
合され、行デコーダによって選択されたデータの行をラ
ッチするセンス増幅器と、データの行の所望の列を選択
する列デコーダとを含むシンクロナス・ダイナミック・
ランダム・アクセス・メモリ(SDRAM)バンクを設
けるステップと、センス増幅器によってラッチされたデ
ータの行を格納するランダムにアドレス可能な行レジス
タ(行レジスタ)を設けるステップと、書込み操作中に
キャッシュSDRAMに入力されるデータがセンス増幅
器によって受け取られ、メモリ・バンク・アレイに書き
込まれ、読出し操作中にキャッシュSDRAMから出力
されるデータが行レジスタからのみ読み出され、行レジ
スタ内に入っているデータの行はまずメモリ・バンク・
アレイからセンス増幅器に読み出されてから特定の同期
メモリ操作に従って行レジスタに選択的にゲート入力さ
れたものである、センス増幅器と前記行レジスタとの間
に配置され、実行するキャッシュSDRAMの特定の同
期メモリ操作に従ってビット線上にあるデータの行を選
択的に行レジスタにゲート入力する選択論理ゲート手段
を設けるステップと、キャッシュSDRAMを、書込み
サイクル中に業界標準SDRAMの通常動作モードに対
応する書込み転送モードで動作するようにし、さらに書
込みサイクル中に非書込み転送モードで動作するように
し、それによってそれぞれ第1および第2のキャッシュ
方針で動作するようにプログラミングするステップとを
含む。
らの制御信号に応答する選択論理ゲート手段を設けるス
テップを含み、書込み転送モード中であって書込みコマ
ンドの発生時にはキャッシュ方針は選択論理ゲート手段
が前にアクティベートされた行をSDRAMアレイから
行レジスタに自動的にロードするようになっている。さ
らに、非書込み転送モード中であって書込みコマンドの
発生時にはキャッシュ方針は選択論理ゲート手段が前に
アクティベートされた行を行レジスタに転送しないよう
になっており、後者の場合、行レジスタは独立したキャ
ッシュ読出しバンクとして機能し、SDRAMアレイは
半独立DRAM書込みバンクとして機能する。さらに、
この方法は、行デコーダによって選択されたデータの行
が行レジスタにゲート入力され、メモリ・バンク・アレ
イ内の同じ行に影響を与える追加の後続のメモリ操作が
発生すると選択論理ゲート手段がビット線上にある影響
を受けたデータの行を行レジスタにゲート入力し、それ
によって行データの整合性を維持するステップを含む。
針の方法は、第2のメモリ・バンク・アレイに結合さ
れ、第2のメモリ・バンク・アレイ内のデータの第2の
行を選択する第2の行デコーダと、第2のビット線を介
して第2のメモリ・バンク・アレイに結合され、第2の
行デコーダによって選択されたデータの行をラッチする
第2のセンス増幅器と、データの行の所望の列を選択す
る第2の列デコーダとを含む第2のシンクロナス・ダイ
ナミック・ランダム・アクセス・メモリ(SDRAM)
バンクを設けるステップをさらに含むことができる。第
2のセンス増幅器によってラッチされたデータの行を格
納する第2のランダムにアドレス可能な行レジスタを設
ける。第2のセンス増幅器と第2の行レジスタの間に配
置され、実行する特定の同期メモリ操作に従って第2の
ビット線上にあるデータの行を選択的に行レジスタにゲ
ート入力する選択論理ゲート手段を設ける。書込み操作
中に第2のSDRAMに入力されるデータは第2のセン
ス増幅器が受け取り、第2のメモリ・バンク・アレイに
書き込まれる。あるいは、読出し操作中に第2のSDR
AMから出力されるデータは第2の行レジスタからのみ
読み出され、第2の行レジスタに入っているデータの行
はまず第2のメモリ・バンク・アレイから第2のセンス
増幅器に読み出され、次に特定の同期メモリ操作に従っ
て第2の行レジスタに選択的にゲート入力されたもので
ある。
モードについて詳述すると、本発明は最大限の装置柔軟
性をもたせるためにプログラム可能キャッシュ方針を組
み込む。この特徴によって、キャッシュSDRAMユー
ザは特定の応用分野用にキャッシュSDRAMのキャッ
シュを最適化することができ、その結果、最適なメモリ
・パフォーマンスおよび互換性が得られる。本発明に関
しては、図4、図5および図8に示すようにモード・レ
ジスタ108を使用して特定の応用分野で書込み転送動
作モードと非書込み転送動作モードのどちらを使用する
かを選択することが好ましい。モード・レジスタ設定サ
イクル中に、図8に示すようにアドレス線A7〜A11
の内容に基づいて通常/書込み割振り(書込み転送)モ
ードまたは非書込み割振り(非書込み転送)モードが選
択される。
みコマンドが発生した場合、モード・レジスタ108に
問い合わせて、センス増幅器(106A、106B)か
らのデータをキャッシュ(102A、102B)にロー
ドするかどうか、すなわちセンス増幅器からのワード線
データをキャッシュに転送するかどうかを判断する。モ
ード・レジスタ108が、キャッシュSDRAM100
チップが書込み転送モードになっていることを示した場
合、書込みコマンドによってセンス増幅器データがSD
RAMアレイ(104A、104B)からキャッシュ
(102A、102B)にロードされる。モード・レジ
スタ108がキャッシュSDRAM100チップが非書
込み転送モードになっていることを示した場合、書込み
コマンドによってキャッシュ(102A、102B)へ
のセンス増幅器データの自動転送は行われない。書込み
ヒットが発生した場合(すなわちその書込みページがす
でにキャッシュに入っている場合)、データがDRAM
アレイ(104A、104B)に書き込まれるとキャッ
シュSDRAM100はキャッシュを自動的に更新する
(図7および図8参照)。
常)モードで使用されている場合、書込みミスがあると
新しいデータの行がアクティベートされ、SDRAMア
レイ(104A、104B)からキャッシュ(102
A、102B)に転送されて、キャッシュ(102A、
102B)に格納されている前の情報があればそれが上
書きされる。読出し操作は常にキャッシュ(102A、
102B)のロードを行うため、読出しコマンドまたは
書込みコマンドが出された後、SDRAMセンス増幅器
(106A、106B)内の行データは常にキャッシュ
・データと等しい。したがって、書込み転送モードで
は、1バンク(104A、104B)について1DRA
Mキャッシュ行のみが読出しまたは書込みのために使用
可能である(図7参照)。
ドについて詳述する。読取りミスが発生すると、新しい
行のためにバンク・アクティベート・コマンドを発行し
なければならない。tRCD時間後、その新しい行のデー
タにアクセスするためにキャッシュSDRAMに対して
読取りコマンドまたは自動プリチャージ付き読取りコマ
ンドを出すことができる。時点T0で読取りコマンドが
発行されると、同じクロック・サイクル時に行Xのデー
タがSDRAMバンクからキャッシュに転送される。自
動プリチャージ機能が呼び出された場合、読取りコマン
ドに続くクロック・サイクル時にDRAMプリチャージ
が開始される。2クロック・サイクル後に、SDRAM
バンクが閉じられるかまたはプリチャージされ、同じバ
ンクから新しい行Yをアクティベートすることができる
(クロック時間T3)。時点T5で書込みコマンドが発
行されると、キャッシュSDRAMはセンス増幅器デー
タ(行Y)をキャッシュに転送する。この時点で、SD
RAMセンス増幅器とキャッシュは両方とも同じ情報
(行Y)を保持している。その後で読取りコマンドが出
されると、ャッシュから行Yの列データが読み出される
(図9の時点T7〜T9を参照)。同様に、後で書込み
コマンドが出されると、センス増幅器に保持されている
行Yにデータが書き込まれ、同時にキャッシュ内の行Y
も更新される。
行された後でSDRAMセンス増幅器102Aとキャッ
シュ106Aは常に同じ行を保持することになるため、
メモリ・コントローラ(図示せず)はキャッシュSDR
AMの1バンク当たり1つのページ・タグしか必要とし
ない。これは、業界標準SDRAMに必要な1バンク当
たりのページ・タグ数と同じ数である。さらに、SDR
AM/キャッシュ・バンク(104A、102A)の制
御は標準SDRAMのDRAMバンクの制御と同じにな
る。標準SDRAMとの互換性をさらにもたせるため
に、書込み転送モードのバイナリ・コードは業界標準S
DRAMの通常動作モードのコードに対応している(図
8参照)。これらの特徴は、キャッシュSDRAMはS
DRAMと100パーセント互換にするのに寄与し、既
存のメモリ・コントローラおよびシステム(図示せず)
に修正を加えることなく、標準SDRAMをキャッシュ
SDRAMで置き換えることができる。
ドになると、書込みミスが発生した場合にキャッシュに
は新しい行が転送されない(図7参照)。DRAMセン
ス増幅器内で新しい行が更新され、それによってキャッ
シュの内容が影響を受けない状態に維持される。これに
よって、キャッシュSDRAMは同じDRAMバンクで
読取りページと書込みページを同時に開いておくことが
できるので有利である。
モードについて詳述する。読取りミスが発生すると、バ
ンク・アクティベート・コマンドを発行して新しい行を
アクティベートしなければならない。tRCD時間後、そ
の新しい行のデータにアクセスするためにキャッシュS
DRAMに対して読取りコマンドを出すことができる。
時点T0で読取りコマンドが発行されると、同じクロッ
ク・サイクルで行XのデータがSDRAMからキャッシ
ュに転送される。自動プリチャージ機能が読み出された
場合、読取りコマンドに続くクロック・サイクル時にS
DRAMプリチャージが開始される。2クロック・サイ
クル後、SDRAMバンクは閉じられ新しい行Yをアク
ティベートすることができる。時点T5で書込みコマン
ドを発行した場合、キャッシュSDRAMは行Yをキャ
ッシュにロードしない。その代わり、書込みデータをを
使用してSDRAMセンス増幅器106Aを更新し、キ
ャッシュ102Aは影響を受けない。この時点で、バン
ク内には列読出し/書込みを行うことができる開いた行
が2行(行Xおよび行Y)ある。この後で読取りコマン
ドを発行すると、キャッシュ内の行Xから列データが読
み出される(図10の時点T7〜T9参照)。同様に、
この後で書込みコマンドを発行すると、SDRAM内の
行Yにデータが書き込まれる。SDRAMをプリチャー
ジし、行Yを再アクティベートしてから読出しコマンド
を発行しない限り、行Yからデータを読み出すことはで
きない。同様に、SDRAMをプリチャージし、行Xを
再アクティベートしてから書込みコマンドを出さない限
り、行Xにデータを書き込むことはできない。
は、メモリの1ページからデータを読み出し、そのデー
タを処理し、次にその結果をメモリの別のページに書き
戻すシステム(図示せず)に最適である。この場合、キ
ャッシュSDRAMは同じバンク内で読出しページと書
込みページの両方を同時に開いておくことができる。さ
らに、データ・コピー操作またはデータ移動操作を頻繁
に行う応用分野では、本発明によるキャッシュSDRA
Mの非書込み転送モードを使用することによりパフォー
マンス上の利点が得られる場合がある。
はSDRAMにとって発展的な改良である。たとえば、
キャッシュSDRAM100の設計は、業界標準SDR
AM(たとえば16MビットSDRAM)との下位互換
性を維持するように実施されている。本発明のキャッシ
ュSDRAM100は、(i)SDRAMのコマンド、
アドレス、およびデータ・セットアップ/保持時間をサ
ポートし、(ii)業界標準16MビットSDRAMと同
じピン配列とパッケージを使用し、(iii)SDRAM
と同じコマンド定義、コマンド・シーケンス、および真
理値表を使用し、(iv)すべての動作周波数でCAS待
ち時間3の動作のサポートを実現することによって、下
位互換性を維持する。(iv)項について簡単に説明する
と、キャッシュSDRAMは83MHzから133MH
zまでの周波数で、CAS待ち時間2で動作することが
できる。標準SDRAMはこれらのすべての周波数で動
作するのにCAS待ち時間3を要する。その結果、所与
のキャッシュSDRAMはその動作周波数でCAS待ち
時間2と3の両方をサポートすることになる。たとえ
ば、100MHzのCAS待ち時間キャッシュSDRA
M部は、100MHzでCAS待ち時間3のSDRAM
制御で動作する。しかし、SDRAMの制御がキャッシ
ュSDRAMのパフォーマンス向上を利用しない場合、
この状況でキャッシュSDRAMのパフォーマンスはS
DRAMと同じになる。
シュSDRAMは標準SDRAMとのプラグ互換性を持
つようにすることができる。さらに、本明細書で示すよ
うにプログラムして、SDRAM制御信号が与えられた
場合に標準SDRAMのように動作させることができ
る。
DRAMは標準SDRAMのパフォーマンスの制限を解
消するので有利である。たとえば、キャッシュSDRA
Mはすべての読取り操作が行レジスタから行われるよう
にすることによって標準SDRAMの列待ち時間を短縮
する。さらに、キャッシュSDRAMは同じバンクに対
する並列操作をサポートすることによってメモリ・パフ
ォーマンスを向上させる。したがって、ユーザはSDR
AMの待ち時間を隠蔽するためにアクセスをパイプライ
ン化し、コマンドをオーバーラップさせることができ
る。これらの変更により、(図12、図13に例示する
ように)同じクロック周波数でパフォーマンスを標準S
DRAMの2倍以上にすることができる。この場合も、
キャッシュSDRAMの設計は、ユーザがメモリ帯域幅
を十分に利用してすべてのメモリ・アクセスでシステム
待ち状態をなくすことができるようにする発展的な変更
となる。
照しながら具体的に図示し、説明したが、当業者なら、
本発明の態様および詳細に様々な変更を加えることがで
き、特許請求の範囲に記載されている本発明の精神およ
び範囲から逸脱することなく、本明細書で特に説明した
実施態様以外の本発明のその他の実施態様を作成または
実施することができることがわかるであろう。
の事項を開示する。
るキャッシュ・シンクロナス・ダイナミック・ランダム
・アクセス・メモリ(キャッシュSDRAM)装置であ
って、メモリ・バンク・アレイに結合され、メモリ・バ
ンク・アレイ内のデータの行を選択する行デコーダと、
ビット線を介してメモリ・バンク・アレイに結合され、
行デコーダによって選択されたデータの行をラッチする
センス増幅器と、データの行の所望の列を選択する同期
列選択手段とを備えるシンクロナス・ダイナミック・ラ
ンダム・アクセス・メモリ(SDRAM)バンクと、セ
ンス増幅器によってラッチされたデータの行を格納する
ランダムにアドレス可能な行レジスタと、センス増幅器
と前記行レジスタとの間に配置され、実行する前記キャ
ッシュSDRAMの特定の同期メモリ操作に従ってビッ
ト線上にあるデータの行を前記行レジスタにゲート入力
する選択論理ゲート手段とを含み、書込み操作中に前記
キャッシュSDRAMに入力されるデータがセンス増幅
器によって受け取られてメモリ・バンク・アレイに書き
込まれ、読出し操作中に前記キャッシュSDRAMから
出力されるデータが前記行レジスタからのみ読み出さ
れ、前記行レジスタに入っているデータの行はまずメモ
リ・バンク・アレイからセンス増幅器に読み出され、次
に特定の同期メモリ操作に従って行レジスタに選択的に
ゲート入力されていることを特徴とする、キャッシュS
DRAM。 (2)前記キャッシュSDRAMに入力されるデータを
受け取る入力線を有する同期的に操作されるデータ入出
力(I/O)バッファと、前記データI/Oバッファと
前記行レジスタとの間に結合され、前記行レジスタから
前記データI/Oバッファに出力されるデータをラッチ
し、さらに前記データI/Oバッファとセンス増幅器と
の間に結合され、前記同期的に操作されるデータI/O
バッファからセンス増幅器に入力されるデータをラッチ
する、同期的に操作されるデータ・ラッチとをさらに含
む、上記(1)に記載のキャッシュSDRAM装置。 (3)前記SDRAMの同期列選択手段がさらに前記行
レジスタに格納されたデータの行の所望の列を選択する
ことを特徴とする、上記(1)に記載のキャッシュSD
RAM装置。 (4)前記キャッシュSDRAMを制御して前記行レジ
スタと多重バンク・アーキテクチャの同じバンクの対応
するメモリ・バンク・アレイとに対して並列同期メモリ
操作を行うことができるように同期制御手段をさらに含
む、上記(1)に記載のキャッシュSDRAM装置。 (5)前記同期制御手段が前記キャッシュSDRAMを
制御して、前記行レジスタに対する読出し操作と多重バ
ンク・アーキテクチャの同じバンクのメモリ・バンク・
アレイに対するプリチャージ操作とを並列して行うこと
ができるようにすることを特徴とする、上記(4)に記
載のキャッシュSDRAM装置。 (6)前記同期制御手段が前記キャッシュSDRAMを
制御して、前記行レジスタに対する読出し操作と多重バ
ンクアーキテクチャの同じバンクの対応するメモリ・バ
ンク・アレイに対するバンク・アクティベート操作とを
並列して行うことができるようにすることを特徴とす
る、上記(4)に記載のキャッシュSDRAM装置。 (7)前記同期制御手段が前記キャッシュSDRAMを
制御して、前記行レジスタに対する読出し操作と多重バ
ンク・アーキテクチャの同じバンクの対応するメモリ・
バンク・アレイに対するバンク・リフレッシュ操作とを
並列して行うことができるようにすることを特徴とす
る、上記(4)に記載のキャッシュSDRAM装置。 (8)行デコーダによって選択されたデータの行が前記
行レジスタにゲート入力され、メモリ・バンク・アレイ
内のデータの同じ行に影響を与える追加の後続同期メモ
リ操作が発生すると、前記選択論理ゲート手段が影響を
受けた行またはビット線上にあるデータを前記行レジス
タにゲート入力し、それによって行データの整合性を維
持することを特徴とする、上記(1)に記載のキャッシ
ュSDRAM装置。 (9)第2のメモリ・バンク・アレイに結合され、第2
のメモリ・バンク・アレイ内のデータの第2の行を選択
する第2の行デコーダと、第2のビット線を介して第2
のメモリ・バンク・アレイに結合され、第2の行デコー
ダによって選択されたデータの行をラッチする第2のセ
ンス増幅器と、データの行の所望の列を選択する第2の
同期列選択手段とを備えた第2のシンクロナス・ダイナ
ミック・ランダム・アクセス・メモリ(SDRAM)バ
ンクと、第2のセンス増幅器によってラッチされたデー
タの列を格納する第2のランダムにアドレス可能な行レ
ジスタと、第2のセンス増幅器と前記第2の行レジスタ
との間に配置され、実行する前記キャッシュSDRAM
の特定の同期メモリ操作に従って第2のビット線上にあ
るデータの行を選択的に前記行レジスタにゲート入力す
る第2の選択論理ゲート手段とをさらに含み、書込み操
作中に前記キャッシュSDRAMの前記第2のSDRA
Mに入力されるデータが第2のセンス増幅器によって受
け取られ、第2のメモリ・バンク・アレイに書き込ま
れ、読出し操作中に前記キャッシュSDRAMの前記第
2のSDRAMから出力されるデータが前記第2の行レ
ジスタからのみ読み出され、前記第2の行レジスタに入
っているデータの行がまず第2のメモリ・バンク・アレ
イから第2のセンス増幅器に読み出され、次に特定の同
期メモリ操作に従って第2の行レジスタに選択的にゲー
ト入力されることを特徴とする、上記(1)に記載のキ
ャッシュSDRAM装置。
ンクロナス・ダイナミック・ランダム・アクセス装置の
ブロック図である。
ンクロナス・ダイナミック・ランダム・アクセス装置の
ブロック図である。
ラミングに関連して使用されるアドレス入力の例を示す
図である。
力×2バンク)シンクロナス・ダイナミック・ランダム
・アクセス・メモリ装置のブロック図である。
力×2バンク)シンクロナス・ダイナミック・ランダム
・アクセス・メモリ装置のブロック図である。
ュSDRAMの一部を詳細に示す図である。
一部を説明する流れ図である。
レジスタのプログラミングに関連して使用されるアドレ
ス入力の例を示す図である。
シュ・コマンドの例を示す図(バースト長=4、CAS
待ち時間=2)である。
(バースト長=4、CAS待ち時間=2)である。
図(バースト長=4、CAS待ち時間=2)である。
の標準SDRAMと本発明によるキャッシュSDRAM
とのタイミング図の比較を示す図である。
の標準SDRAMと本発明によるキャッシュSDRAM
とのタイミング図の比較を示す図である。
Claims (9)
- 【請求項1】多重バンク・アーキテクチャを有するキャ
ッシュ・シンクロナス・ダイナミック・ランダム・アク
セス・メモリ(キャッシュSDRAM)装置であって、 メモリ・バンク・アレイに結合され、メモリ・バンク・
アレイ内のデータの行を選択する行デコーダと、ビット
線を介してメモリ・バンク・アレイに結合され、行デコ
ーダによって選択されたデータの行をラッチするセンス
増幅器と、データの行の所望の列を選択する同期列選択
手段とを備えるシンクロナス・ダイナミック・ランダム
・アクセス・メモリ(SDRAM)バンクと、 センス増幅器によってラッチされたデータの行を格納す
るランダムにアドレス可能な行レジスタと、 センス増幅器と前記行レジスタとの間に配置され、実行
する前記キャッシュSDRAMの特定の同期メモリ操作
に従ってビット線上にあるデータの行を前記行レジスタ
にゲート入力する選択論理ゲート手段とを含み、 書込み操作中に前記キャッシュSDRAMに入力される
データがセンス増幅器によって受け取られてメモリ・バ
ンク・アレイに書き込まれ、 読出し操作中に前記キャッシュSDRAMから出力され
るデータが前記行レジスタからのみ読み出され、前記行
レジスタに入っているデータの行はまずメモリ・バンク
・アレイからセンス増幅器に読み出され、次に特定の同
期メモリ操作に従って行レジスタに選択的にゲート入力
されていることを特徴とする、キャッシュSDRAM。 - 【請求項2】前記キャッシュSDRAMに入力されるデ
ータを受け取る入力線を有する同期的に操作されるデー
タ入出力(I/O)バッファと、 前記データI/Oバッファと前記行レジスタとの間に結
合され、前記行レジスタから前記データI/Oバッファ
に出力されるデータをラッチし、さらに前記データI/
Oバッファとセンス増幅器との間に結合され、前記同期
的に操作されるデータI/Oバッファからセンス増幅器
に入力されるデータをラッチする、同期的に操作される
データ・ラッチとをさらに含む、請求項1に記載のキャ
ッシュSDRAM装置。 - 【請求項3】前記SDRAMの同期列選択手段がさらに
前記行レジスタに格納されたデータの行の所望の列を選
択することを特徴とする、請求項1に記載のキャッシュ
SDRAM装置。 - 【請求項4】前記キャッシュSDRAMを制御して前記
行レジスタと多重バンク・アーキテクチャの同じバンク
の対応するメモリ・バンク・アレイとに対して並列同期
メモリ操作を行うことができるように同期制御手段をさ
らに含む、請求項1に記載のキャッシュSDRAM装
置。 - 【請求項5】前記同期制御手段が前記キャッシュSDR
AMを制御して、前記行レジスタに対する読出し操作と
多重バンク・アーキテクチャの同じバンクのメモリ・バ
ンク・アレイに対するプリチャージ操作とを並列して行
うことができるようにすることを特徴とする、請求項4
に記載のキャッシュSDRAM装置。 - 【請求項6】前記同期制御手段が前記キャッシュSDR
AMを制御して、前記行レジスタに対する読出し操作と
多重バンクアーキテクチャの同じバンクの対応するメモ
リ・バンク・アレイに対するバンク・アクティベート操
作とを並列して行うことができるようにすることを特徴
とする、請求項4に記載のキャッシュSDRAM装置。 - 【請求項7】前記同期制御手段が前記キャッシュSDR
AMを制御して、前記行レジスタに対する読出し操作と
多重バンク・アーキテクチャの同じバンクの対応するメ
モリ・バンク・アレイに対するバンク・リフレッシュ操
作とを並列して行うことができるようにすることを特徴
とする、請求項4に記載のキャッシュSDRAM装置。 - 【請求項8】行デコーダによって選択されたデータの行
が前記行レジスタにゲート入力され、メモリ・バンク・
アレイ内のデータの同じ行に影響を与える追加の後続同
期メモリ操作が発生すると、前記選択論理ゲート手段が
影響を受けた行またはビット線上にあるデータを前記行
レジスタにゲート入力し、それによって行データの整合
性を維持することを特徴とする、請求項1に記載のキャ
ッシュSDRAM装置。 - 【請求項9】第2のメモリ・バンク・アレイに結合さ
れ、第2のメモリ・バンク・アレイ内のデータの第2の
行を選択する第2の行デコーダと、第2のビット線を介
して第2のメモリ・バンク・アレイに結合され、第2の
行デコーダによって選択されたデータの行をラッチする
第2のセンス増幅器と、データの行の所望の列を選択す
る第2の同期列選択手段とを備えた第2のシンクロナス
・ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ(SDR
AM)バンクと、 第2のセンス増幅器によってラッチされたデータの列を
格納する第2のランダムにアドレス可能な行レジスタ
と、 第2のセンス増幅器と前記第2の行レジスタとの間に配
置され、実行する前記キャッシュSDRAMの特定の同
期メモリ操作に従って第2のビット線上にあるデータの
行を選択的に前記行レジスタにゲート入力する第2の選
択論理ゲート手段とをさらに含み、 書込み操作中に前記キャッシュSDRAMの前記第2の
SDRAMに入力されるデータが第2のセンス増幅器に
よって受け取られ、第2のメモリ・バンク・アレイに書
き込まれ、 読出し操作中に前記キャッシュSDRAMの前記第2の
SDRAMから出力されるデータが前記第2の行レジス
タからのみ読み出され、前記第2の行レジスタに入って
いるデータの行がまず第2のメモリ・バンク・アレイか
ら第2のセンス増幅器に読み出され、次に特定の同期メ
モリ操作に従って第2の行レジスタに選択的にゲート入
力されることを特徴とする、請求項1に記載のキャッシ
ュSDRAM装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/731,790 US5787457A (en) | 1996-10-18 | 1996-10-18 | Cached synchronous DRAM architecture allowing concurrent DRAM operations |
US08/731790 | 1996-10-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10208471A true JPH10208471A (ja) | 1998-08-07 |
JP3398583B2 JP3398583B2 (ja) | 2003-04-21 |
Family
ID=24940954
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28039197A Expired - Fee Related JP3398583B2 (ja) | 1996-10-18 | 1997-10-14 | キャッシュ・シンクロナス・ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5787457A (ja) |
JP (1) | JP3398583B2 (ja) |
KR (1) | KR100257430B1 (ja) |
TW (1) | TW338129B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6445632B2 (en) | 2000-02-15 | 2002-09-03 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device for fast access |
Families Citing this family (103)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6044433A (en) * | 1996-08-09 | 2000-03-28 | Micron Technology, Inc. | DRAM cache |
TW349196B (en) * | 1996-10-18 | 1999-01-01 | Ibm | Cached synchronous DRAM architecture having a mode register programmable cache policy |
US5835932A (en) * | 1997-03-13 | 1998-11-10 | Silicon Aquarius, Inc. | Methods and systems for maintaining data locality in a multiple memory bank system having DRAM with integral SRAM |
US5987574A (en) * | 1997-04-30 | 1999-11-16 | Sony Corporation | Bank arbitration for SDRAM memory control |
US5909225A (en) * | 1997-05-30 | 1999-06-01 | Hewlett-Packard Co. | Frame buffer cache for graphics applications |
US5937204A (en) * | 1997-05-30 | 1999-08-10 | Helwett-Packard, Co. | Dual-pipeline architecture for enhancing the performance of graphics memory |
US6002412A (en) * | 1997-05-30 | 1999-12-14 | Hewlett-Packard Co. | Increased performance of graphics memory using page sorting fifos |
KR100301036B1 (ko) * | 1997-06-26 | 2001-09-03 | 윤종용 | 데이터입출력마스크입력버퍼의전류소모를감소시키기위한제어부를구비하는동기식반도체메모리장치 |
US5983314A (en) * | 1997-07-22 | 1999-11-09 | Micron Technology, Inc. | Output buffer having inherently precise data masking |
JPH11134243A (ja) * | 1997-10-31 | 1999-05-21 | Brother Ind Ltd | 記憶装置の制御装置及びデータ処理システムにおける記憶装置の制御方法 |
JP4079507B2 (ja) * | 1998-05-12 | 2008-04-23 | 富士通株式会社 | メモリ制御システムおよびメモリ制御方法 |
US6166963A (en) * | 1998-09-17 | 2000-12-26 | National Semiconductor Corporation | Dual port memory with synchronized read and write pointers |
US6418518B1 (en) | 1998-09-18 | 2002-07-09 | National Semiconductor Corporation | Decoupled address and data access to an SDRAM |
US6532505B1 (en) * | 1999-11-12 | 2003-03-11 | Infineon Technologies Ag | Universal resource access controller |
US6330636B1 (en) * | 1999-01-29 | 2001-12-11 | Enhanced Memory Systems, Inc. | Double data rate synchronous dynamic random access memory device incorporating a static RAM cache per memory bank |
TW457430B (en) * | 1999-03-02 | 2001-10-01 | Via Tech Inc | Memory access control device |
US6125422A (en) * | 1999-03-17 | 2000-09-26 | Rambus Inc | Dependent bank memory controller method and apparatus |
US6538928B1 (en) * | 1999-10-12 | 2003-03-25 | Enhanced Memory Systems Inc. | Method for reducing the width of a global data bus in a memory architecture |
US7073014B1 (en) * | 2000-07-28 | 2006-07-04 | Micron Technology, Inc. | Synchronous non-volatile memory system |
US6615307B1 (en) * | 2000-05-10 | 2003-09-02 | Micron Technology, Inc. | Flash with consistent latency for read operations |
US6851026B1 (en) * | 2000-07-28 | 2005-02-01 | Micron Technology, Inc. | Synchronous flash memory with concurrent write and read operation |
US6314049B1 (en) | 2000-03-30 | 2001-11-06 | Micron Technology, Inc. | Elimination of precharge operation in synchronous flash memory |
US6728161B1 (en) | 2000-06-30 | 2004-04-27 | Micron Technology, Inc. | Zero latency-zero bus turnaround synchronous flash memory |
US6785764B1 (en) | 2000-05-11 | 2004-08-31 | Micron Technology, Inc. | Synchronous flash memory with non-volatile mode register |
US6654847B1 (en) | 2000-06-30 | 2003-11-25 | Micron Technology, Inc. | Top/bottom symmetrical protection scheme for flash |
US6785765B1 (en) | 2000-06-30 | 2004-08-31 | Micron Technology, Inc. | Status register to improve initialization of a synchronous memory |
US6442076B1 (en) | 2000-06-30 | 2002-08-27 | Micron Technology, Inc. | Flash memory with multiple status reading capability |
US6697907B1 (en) | 2000-06-30 | 2004-02-24 | Micron Technology, Inc. | Hardware initialization of a synchronous memory |
US6675255B1 (en) | 2000-06-30 | 2004-01-06 | Micron Technology, Inc. | Device initialize command for a synchronous memory |
US20050135180A1 (en) * | 2000-06-30 | 2005-06-23 | Micron Technology, Inc. | Interface command architecture for synchronous flash memory |
US6304497B1 (en) | 2000-06-30 | 2001-10-16 | Micron Technology, Inc. | Synchronous memory status register |
US6278654B1 (en) | 2000-06-30 | 2001-08-21 | Micron Technology, Inc. | Active terminate command in synchronous flash memory |
KR100869870B1 (ko) * | 2000-07-07 | 2008-11-24 | 모사이드 테크놀로지스, 인코포레이티드 | 메모리 소자에서의 읽기 명령 수행 방법 및 dram액세스 방법 |
US6246626B1 (en) | 2000-07-28 | 2001-06-12 | Micron Technology, Inc. | Protection after brown out in a synchronous memory |
US6396728B1 (en) | 2000-07-28 | 2002-05-28 | Micron Technology, Inc. | Array organization for high-performance memory devices |
US6883044B1 (en) * | 2000-07-28 | 2005-04-19 | Micron Technology, Inc. | Synchronous flash memory with simultaneous access to one or more banks |
US6366524B1 (en) | 2000-07-28 | 2002-04-02 | Micron Technology Inc. | Address decoding in multiple-bank memory architectures |
US6307779B1 (en) | 2000-07-28 | 2001-10-23 | Micron Technology, Inc. | Method and circuitry for bank tracking in write command sequence |
US6728798B1 (en) * | 2000-07-28 | 2004-04-27 | Micron Technology, Inc. | Synchronous flash memory with status burst output |
US6862654B1 (en) | 2000-08-17 | 2005-03-01 | Micron Technology, Inc. | Method and system for using dynamic random access memory as cache memory |
US6445603B1 (en) | 2000-08-21 | 2002-09-03 | Micron Technology, Inc. | Architecture, package orientation and assembly of memory devices |
US6580659B1 (en) | 2000-08-25 | 2003-06-17 | Micron Technology, Inc. | Burst read addressing in a non-volatile memory device |
US6507525B1 (en) | 2000-08-25 | 2003-01-14 | Micron Technology, Inc. | Differential sensing in a memory |
US6310809B1 (en) | 2000-08-25 | 2001-10-30 | Micron Technology, Inc. | Adjustable pre-charge in a memory |
US6691204B1 (en) * | 2000-08-25 | 2004-02-10 | Micron Technology, Inc. | Burst write in a non-volatile memory device |
US6877100B1 (en) * | 2000-08-25 | 2005-04-05 | Micron Technology, Inc. | Adjustable timing circuit of an integrated circuit by selecting and moving clock edges based on a signal propagation time stored in a programmable non-volatile fuse circuit |
US6711701B1 (en) * | 2000-08-25 | 2004-03-23 | Micron Technology, Inc. | Write and erase protection in a synchronous memory |
US6541849B1 (en) | 2000-08-25 | 2003-04-01 | Micron Technology, Inc. | Memory device power distribution |
US6304488B1 (en) | 2000-08-25 | 2001-10-16 | Micron Technology, Inc. | Current limiting negative switch circuit |
US6359821B1 (en) | 2000-08-25 | 2002-03-19 | Micron Technology, Inc. | Differential sensing in a memory with reference current |
US6275446B1 (en) | 2000-08-25 | 2001-08-14 | Micron Technology, Inc. | Clock generation circuits and methods |
US6496434B1 (en) | 2000-08-25 | 2002-12-17 | Micron Technology Inc. | Differential sensing in a memory using two cycle pre-charge |
US6327202B1 (en) | 2000-08-25 | 2001-12-04 | Micron Technology, Inc. | Bit line pre-charge in a memory |
US6504768B1 (en) | 2000-08-25 | 2003-01-07 | Micron Technology, Inc. | Redundancy selection in memory devices with concurrent read and write |
US6307790B1 (en) | 2000-08-30 | 2001-10-23 | Micron Technology, Inc. | Read compression in a memory |
US6304510B1 (en) | 2000-08-31 | 2001-10-16 | Micron Technology, Inc. | Memory device address decoding |
US6327193B1 (en) * | 2000-09-25 | 2001-12-04 | National Semiconductor Corporation | Mixed signal method for display deflection signal generation for low cost displays |
US6779076B1 (en) | 2000-10-05 | 2004-08-17 | Micron Technology, Inc. | Method and system for using dynamic random access memory as cache memory |
JP4312947B2 (ja) * | 2000-11-06 | 2009-08-12 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置及びその出力データ更新方法 |
US6774426B2 (en) * | 2000-12-19 | 2004-08-10 | Micron Technology, Inc. | Flash cell with trench source-line connection |
US6738874B2 (en) * | 2001-05-02 | 2004-05-18 | Layer N Networks, Inc. | Controller architecture and strategy for small discontiguous accesses to high-density memory devices |
US6608618B2 (en) * | 2001-06-20 | 2003-08-19 | Leapfrog Enterprises, Inc. | Interactive apparatus using print media |
US6918019B2 (en) * | 2001-10-01 | 2005-07-12 | Britestream Networks, Inc. | Network and networking system for small discontiguous accesses to high-density memory devices |
US6728159B2 (en) * | 2001-12-21 | 2004-04-27 | International Business Machines Corporation | Flexible multibanking interface for embedded memory applications |
US6813679B2 (en) | 2002-06-20 | 2004-11-02 | Purple Mountain Server Llc | Method and circuit for increasing the memory access speed of an enhanced synchronous SDRAM |
KR100557590B1 (ko) * | 2002-12-26 | 2006-03-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 오토 리프레시 제어회로 |
CN1296831C (zh) * | 2003-08-22 | 2007-01-24 | 晶豪科技股份有限公司 | 同步记忆体的时序控制方法 |
KR100620645B1 (ko) * | 2004-04-13 | 2006-09-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 동기 및 비동기 병용 모드 레지스터 세트를 포함하는psram |
US8089795B2 (en) | 2006-02-09 | 2012-01-03 | Google Inc. | Memory module with memory stack and interface with enhanced capabilities |
US8796830B1 (en) | 2006-09-01 | 2014-08-05 | Google Inc. | Stackable low-profile lead frame package |
US8111566B1 (en) | 2007-11-16 | 2012-02-07 | Google, Inc. | Optimal channel design for memory devices for providing a high-speed memory interface |
US8055833B2 (en) | 2006-10-05 | 2011-11-08 | Google Inc. | System and method for increasing capacity, performance, and flexibility of flash storage |
US8359187B2 (en) | 2005-06-24 | 2013-01-22 | Google Inc. | Simulating a different number of memory circuit devices |
US9507739B2 (en) | 2005-06-24 | 2016-11-29 | Google Inc. | Configurable memory circuit system and method |
US8081474B1 (en) | 2007-12-18 | 2011-12-20 | Google Inc. | Embossed heat spreader |
US9171585B2 (en) | 2005-06-24 | 2015-10-27 | Google Inc. | Configurable memory circuit system and method |
US8335894B1 (en) | 2008-07-25 | 2012-12-18 | Google Inc. | Configurable memory system with interface circuit |
US20080082763A1 (en) | 2006-10-02 | 2008-04-03 | Metaram, Inc. | Apparatus and method for power management of memory circuits by a system or component thereof |
US8619452B2 (en) | 2005-09-02 | 2013-12-31 | Google Inc. | Methods and apparatus of stacking DRAMs |
US8090897B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-01-03 | Google Inc. | System and method for simulating an aspect of a memory circuit |
US7386656B2 (en) | 2006-07-31 | 2008-06-10 | Metaram, Inc. | Interface circuit system and method for performing power management operations in conjunction with only a portion of a memory circuit |
US8386722B1 (en) | 2008-06-23 | 2013-02-26 | Google Inc. | Stacked DIMM memory interface |
US10013371B2 (en) | 2005-06-24 | 2018-07-03 | Google Llc | Configurable memory circuit system and method |
US20080028136A1 (en) | 2006-07-31 | 2008-01-31 | Schakel Keith R | Method and apparatus for refresh management of memory modules |
US8077535B2 (en) | 2006-07-31 | 2011-12-13 | Google Inc. | Memory refresh apparatus and method |
US7609567B2 (en) | 2005-06-24 | 2009-10-27 | Metaram, Inc. | System and method for simulating an aspect of a memory circuit |
US8041881B2 (en) | 2006-07-31 | 2011-10-18 | Google Inc. | Memory device with emulated characteristics |
GB2441726B (en) | 2005-06-24 | 2010-08-11 | Metaram Inc | An integrated memory core and memory interface circuit |
US8327104B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-12-04 | Google Inc. | Adjusting the timing of signals associated with a memory system |
US8244971B2 (en) | 2006-07-31 | 2012-08-14 | Google Inc. | Memory circuit system and method |
US8438328B2 (en) * | 2008-02-21 | 2013-05-07 | Google Inc. | Emulation of abstracted DIMMs using abstracted DRAMs |
US8060774B2 (en) | 2005-06-24 | 2011-11-15 | Google Inc. | Memory systems and memory modules |
US8130560B1 (en) | 2006-11-13 | 2012-03-06 | Google Inc. | Multi-rank partial width memory modules |
US9542352B2 (en) | 2006-02-09 | 2017-01-10 | Google Inc. | System and method for reducing command scheduling constraints of memory circuits |
US8397013B1 (en) | 2006-10-05 | 2013-03-12 | Google Inc. | Hybrid memory module |
US9632929B2 (en) | 2006-02-09 | 2017-04-25 | Google Inc. | Translating an address associated with a command communicated between a system and memory circuits |
US7436708B2 (en) | 2006-03-01 | 2008-10-14 | Micron Technology, Inc. | NAND memory device column charging |
US7724589B2 (en) | 2006-07-31 | 2010-05-25 | Google Inc. | System and method for delaying a signal communicated from a system to at least one of a plurality of memory circuits |
US8209479B2 (en) | 2007-07-18 | 2012-06-26 | Google Inc. | Memory circuit system and method |
US8080874B1 (en) | 2007-09-14 | 2011-12-20 | Google Inc. | Providing additional space between an integrated circuit and a circuit board for positioning a component therebetween |
DE202010017690U1 (de) | 2009-06-09 | 2012-05-29 | Google, Inc. | Programmierung von Dimm-Abschlusswiderstandswerten |
JP2014053058A (ja) * | 2012-09-06 | 2014-03-20 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
US10402324B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-09-03 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Memory access for busy memory by receiving data from cache during said busy period and verifying said data utilizing cache hit bit or cache miss bit |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5226147A (en) * | 1987-11-06 | 1993-07-06 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device for simple cache system |
US5184320A (en) * | 1988-02-12 | 1993-02-02 | Texas Instruments Incorporated | Cached random access memory device and system |
-
1996
- 1996-10-18 US US08/731,790 patent/US5787457A/en not_active Expired - Lifetime
-
1997
- 1997-07-16 TW TW086110105A patent/TW338129B/zh not_active IP Right Cessation
- 1997-08-08 KR KR1019970037911A patent/KR100257430B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1997-10-14 JP JP28039197A patent/JP3398583B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6445632B2 (en) | 2000-02-15 | 2002-09-03 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device for fast access |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW338129B (en) | 1998-08-11 |
US5787457A (en) | 1998-07-28 |
KR19980032271A (ko) | 1998-07-25 |
JP3398583B2 (ja) | 2003-04-21 |
KR100257430B1 (ko) | 2000-05-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3398583B2 (ja) | キャッシュ・シンクロナス・ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ | |
JP3335298B2 (ja) | キャッシュsdramデバイス | |
US5636173A (en) | Auto-precharge during bank selection | |
KR100273725B1 (ko) | 동기식 다이나믹 랜덤 액세스 메모리의 자동 활성화 | |
US5587961A (en) | Synchronous memory allowing early read command in write to read transitions | |
US6615309B2 (en) | Semiconductor memory device | |
US6330636B1 (en) | Double data rate synchronous dynamic random access memory device incorporating a static RAM cache per memory bank | |
KR100869870B1 (ko) | 메모리 소자에서의 읽기 명령 수행 방법 및 dram액세스 방법 | |
US6154418A (en) | Write scheme for a double data rate SDRAM | |
JP4734580B2 (ja) | エンハンスド・バス・ターンアラウンド集積回路ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置 | |
US8730759B2 (en) | Devices and system providing reduced quantity of interconnections | |
US20030217223A1 (en) | Combined command set | |
JP5043662B2 (ja) | メモリの制御方法、メモリ・システム | |
US20040054824A1 (en) | Reduced latency wide-I/O burst architecture | |
US6366523B1 (en) | Method and apparatus for anticipatory selection of external or internal addresses in a synchronous memory device | |
JPH10208468A (ja) | 半導体記憶装置並びに同期型半導体記憶装置 | |
US7366822B2 (en) | Semiconductor memory device capable of reading and writing data at the same time | |
US10768859B1 (en) | History-based memory control system and method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080214 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090214 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100214 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110214 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110214 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110214 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110214 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110214 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120214 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120214 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120214 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120214 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120214 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130214 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130214 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130214 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130214 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130214 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140214 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |