JPH1019968A - 部分放電測定の校正装置 - Google Patents
部分放電測定の校正装置Info
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- JPH1019968A JPH1019968A JP17137996A JP17137996A JPH1019968A JP H1019968 A JPH1019968 A JP H1019968A JP 17137996 A JP17137996 A JP 17137996A JP 17137996 A JP17137996 A JP 17137996A JP H1019968 A JPH1019968 A JP H1019968A
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- pulse
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 高周波成分検出法による部分放電測定におい
て、対地浮遊静電容量とリード線のインダクタンスの影
響を除去して精度の良いかつ再現性の良い校正を可能に
する部分放電測定の校正装置を提供する。 【解決手段】 パルス発生器５０から電極へパルスを伝
達するリード線５２には、対地間静電容量Ｃｘによる検
出への影響を除去するためのコモンモードフィルター５
６を設け、パルス発生器５０の直列容量Ｃｓを、該直列
容量Ｃｓとリード５２線のインダクタンスとの共振周波
数が校正に影響の無い周波数になるように設定する。
て、対地浮遊静電容量とリード線のインダクタンスの影
響を除去して精度の良いかつ再現性の良い校正を可能に
する部分放電測定の校正装置を提供する。 【解決手段】 パルス発生器５０から電極へパルスを伝
達するリード線５２には、対地間静電容量Ｃｘによる検
出への影響を除去するためのコモンモードフィルター５
６を設け、パルス発生器５０の直列容量Ｃｓを、該直列
容量Ｃｓとリード５２線のインダクタンスとの共振周波
数が校正に影響の無い周波数になるように設定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ケーブル線路の部
分放電測定を高周波成分（数ＭＨｚ〜数１０ＭＨｚ）を
測定することにより行う部分放電測定の測定精度を向上
させる校正器の改良に関する。
分放電測定を高周波成分（数ＭＨｚ〜数１０ＭＨｚ）を
測定することにより行う部分放電測定の測定精度を向上
させる校正器の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＶケーブル線路の部分放電を絶縁接続
（ＩＪ）の絶縁筒間に発生する高周波電圧（数ＭＨｚ）
を測定することにより検出する高周波成分検出方法が検
討されている。
（ＩＪ）の絶縁筒間に発生する高周波電圧（数ＭＨｚ）
を測定することにより検出する高周波成分検出方法が検
討されている。
【０００３】高周波成分検出法には直接ケーブル導体と
シース間にパルスを印加する直接法（直接校正法）と、
間接的にパルスを印加する間接法（間接校正法）とがあ
る。図６は、箔電極方式の部分放電測定絶縁接続部（Ｉ
Ｊ部）の間接校正法を示しており、図６の（ａ）はＩＪ
部の外観図、（ｂ）は回路図である。Ｇ，Ｌは大地を示
す。
シース間にパルスを印加する直接法（直接校正法）と、
間接的にパルスを印加する間接法（間接校正法）とがあ
る。図６は、箔電極方式の部分放電測定絶縁接続部（Ｉ
Ｊ部）の間接校正法を示しており、図６の（ａ）はＩＪ
部の外観図、（ｂ）は回路図である。Ｇ，Ｌは大地を示
す。
【０００４】また、図７の（ａ）に直接法の回路図を
（ｂ）に間接法の回路図を示す。この場合、ケーブルの
導体とシース間の特性インピーダンスをＺｄ、シースと
大地間の特性インピーダンスをＺｅとして、それぞれの
特性インピーダンスで終端されているとすると、図
（ａ）のような直接法の回路図を、（ｂ）のような間接
法の回路図をそれぞれ得る。Ｃ１〜Ｃ４は箔電極の静電
容量、ＲＬは測定器の検出インピーダンス、Ｃｓは校正
器５の直列容量である。
（ｂ）に間接法の回路図を示す。この場合、ケーブルの
導体とシース間の特性インピーダンスをＺｄ、シースと
大地間の特性インピーダンスをＺｅとして、それぞれの
特性インピーダンスで終端されているとすると、図
（ａ）のような直接法の回路図を、（ｂ）のような間接
法の回路図をそれぞれ得る。Ｃ１〜Ｃ４は箔電極の静電
容量、ＲＬは測定器の検出インピーダンス、Ｃｓは校正
器５の直列容量である。
【０００５】ここで、１／｛ω（Ｃ３／／Ｃ４）｝＜＜
ＲＬ、Ｃ１／／Ｃ２＞＞Ｃｓとし、校正用パルス発生器
ＰＧを定電流源とすると、等価回路は抵抗のみで表せる
ようになる。それぞれの等価回路を図８の（ａ）と
（ｂ）に示す。
ＲＬ、Ｃ１／／Ｃ２＞＞Ｃｓとし、校正用パルス発生器
ＰＧを定電流源とすると、等価回路は抵抗のみで表せる
ようになる。それぞれの等価回路を図８の（ａ）と
（ｂ）に示す。
【０００６】このような回路でＲＬに検出される電圧
は、直接法では（１）式になる。
は、直接法では（１）式になる。
【数１】
【０００７】また、間接法では、（２）式になる。
【数２】
【０００８】（１）式と（２）式からＥ0’＝２Ｅ0とな
るので、間接法は直接法に比較して２倍の校正感度が得
られることになる。
るので、間接法は直接法に比較して２倍の校正感度が得
られることになる。
【０００９】また、実線路では、高圧充電部にアクセス
することが不可能であるため、校正は前記図６に示すよ
うに、ケーブル１，１同士のＩＪ部２の絶縁筒３両側の
防食層上に設けた箔電極３，４に校正器５（校正用パル
ス発生器ＰＧと直列容量Ｃｓと筺体５ａから主になる）
からパルスを注入することにより、間接的に行われる
（間接法）。ＩＪ部２の両側の遮蔽は非接地状態であ
り、絶縁筒３両側で平衡回路になっている。
することが不可能であるため、校正は前記図６に示すよ
うに、ケーブル１，１同士のＩＪ部２の絶縁筒３両側の
防食層上に設けた箔電極３，４に校正器５（校正用パル
ス発生器ＰＧと直列容量Ｃｓと筺体５ａから主になる）
からパルスを注入することにより、間接的に行われる
（間接法）。ＩＪ部２の両側の遮蔽は非接地状態であ
り、絶縁筒３両側で平衡回路になっている。
【００１０】前記校正器５の性能は、校正の妥当性に影
響を及ぼす。上記の校正では、校正器５の両端子共に非
接地状態の遮蔽に接続するため、パルス発生器ＰＧ自体
は両端子大地に対して非接地状態になって（電気的に浮
いて）いる。従来のパルス発生器ＰＧは、電源として電
池を用いることにより、非接地状態を構成している。
響を及ぼす。上記の校正では、校正器５の両端子共に非
接地状態の遮蔽に接続するため、パルス発生器ＰＧ自体
は両端子大地に対して非接地状態になって（電気的に浮
いて）いる。従来のパルス発生器ＰＧは、電源として電
池を用いることにより、非接地状態を構成している。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、校正器
５の出力は、図９に示すようにパルス発生器ＰＧの筺体
５ａ内部に格納された高圧側（Ｈ）と筺体５ａに接続さ
れた低圧側（ｃｏｍｍｏｎを通じて接地される）になっ
ている。ＩＪ部２との両側の遮蔽と筺体５ａは共に大地
に対して対地間浮遊容量Ｃｘ（対地間静電容量の一種）
を持つ。このような高周波成分検出法においては、場合
によっては、周波数が高くなるほど校正系の対地間浮遊
容量Ｃｘとインダクタンスとの影響も出てくることが懸
念される。そこで、校正時のこれらの影響について検討
を行った。
５の出力は、図９に示すようにパルス発生器ＰＧの筺体
５ａ内部に格納された高圧側（Ｈ）と筺体５ａに接続さ
れた低圧側（ｃｏｍｍｏｎを通じて接地される）になっ
ている。ＩＪ部２との両側の遮蔽と筺体５ａは共に大地
に対して対地間浮遊容量Ｃｘ（対地間静電容量の一種）
を持つ。このような高周波成分検出法においては、場合
によっては、周波数が高くなるほど校正系の対地間浮遊
容量Ｃｘとインダクタンスとの影響も出てくることが懸
念される。そこで、校正時のこれらの影響について検討
を行った。
【００１２】（校正器の対地間浮遊容量による影響）図
１０（ａ）は図６の等価回路を示す。
１０（ａ）は図６の等価回路を示す。
【００１３】ここで、箔電極静電容量Ｃ１〜Ｃ４はイン
ピーダンスが小さいものとして無視すると、図１０の
（ｂ）の回路のように簡略化される。図から分かるよう
に、対地間浮遊容量Ｃｘは右側の特性インピーダンス
（ケーブルシース〜大地間特性インピーダンス）Ｚｅに
並列に入ることになる。例えば前記対地間浮遊容量Ｃｘ
が極めて大きくそのインピーダンスを０とすると、検出
インピーダンスＲＬの電圧Ｅ0は、
ピーダンスが小さいものとして無視すると、図１０の
（ｂ）の回路のように簡略化される。図から分かるよう
に、対地間浮遊容量Ｃｘは右側の特性インピーダンス
（ケーブルシース〜大地間特性インピーダンス）Ｚｅに
並列に入ることになる。例えば前記対地間浮遊容量Ｃｘ
が極めて大きくそのインピーダンスを０とすると、検出
インピーダンスＲＬの電圧Ｅ0は、
【数３】 となる。
【００１４】また、対地間浮遊容量Ｃｘが無いときの比
αは、
αは、
【数４】 となり、校正感度は低下する。
【００１５】つまり、ＩＪ部２の両側の遮蔽と校正器５
の筺体５ａは、図１１に示すように、共に大地に対して
対地間浮遊容量Ｃｘを持っており、校正器５で上記のよ
うな校正を行った場合、高周波になればなるほどこの対
地間浮遊容量Ｃｘによる結合のため、パルスの一部が校
正器５のリード線と大地間を流れ、試料に対するパルス
注入効率が低下する恐れが生じる。
の筺体５ａは、図１１に示すように、共に大地に対して
対地間浮遊容量Ｃｘを持っており、校正器５で上記のよ
うな校正を行った場合、高周波になればなるほどこの対
地間浮遊容量Ｃｘによる結合のため、パルスの一部が校
正器５のリード線と大地間を流れ、試料に対するパルス
注入効率が低下する恐れが生じる。
【００１６】図１２は、間接法により出力電圧を各周波
数に対して求めた一例を示しており、直接法の検出レベ
ルを２倍にして併せて示している。図のように、周波数
が高くなるほど、対地間浮遊容量Ｃｘの影響が大きくな
り、間接法の感度が低下することを示している。上記の
ように対地間浮遊容量Ｃｘの影響があるので、校正器の
置き場所や人間接触の有無などの影響により校正値が変
化するという問題が生じる。
数に対して求めた一例を示しており、直接法の検出レベ
ルを２倍にして併せて示している。図のように、周波数
が高くなるほど、対地間浮遊容量Ｃｘの影響が大きくな
り、間接法の感度が低下することを示している。上記の
ように対地間浮遊容量Ｃｘの影響があるので、校正器の
置き場所や人間接触の有無などの影響により校正値が変
化するという問題が生じる。
【００１７】（リード線のインダクタンスによる影響）
箔電極４に接続された校正器５のリード線のインダクタ
ンスＬｓと校正器５の直列容量Ｃｓとの間で、共振を起
こす恐れがある。図１３はその共振の影響として計算例
を示す。図には直接法×２を併せて示している。インダ
クタンスＬｓ＝１μＨ，Ｃｓ＝１０ｐＦ（Ｃ１，Ｃ２＝
２０００ｐＦ、Ｃｘ＝０ＰｐＦ）は約５０ＭＨｚで共振
が起こり、共振周波数の周辺のみで校正感度が見かけ上
よくなっている。したがって、リード線の長さの違いに
よりインダクタンスＬＳが変化して共振レベルが変化す
る、すなわち校正値の変化が生じるので校正が一定しな
いという問題点が生じる。
箔電極４に接続された校正器５のリード線のインダクタ
ンスＬｓと校正器５の直列容量Ｃｓとの間で、共振を起
こす恐れがある。図１３はその共振の影響として計算例
を示す。図には直接法×２を併せて示している。インダ
クタンスＬｓ＝１μＨ，Ｃｓ＝１０ｐＦ（Ｃ１，Ｃ２＝
２０００ｐＦ、Ｃｘ＝０ＰｐＦ）は約５０ＭＨｚで共振
が起こり、共振周波数の周辺のみで校正感度が見かけ上
よくなっている。したがって、リード線の長さの違いに
よりインダクタンスＬＳが変化して共振レベルが変化す
る、すなわち校正値の変化が生じるので校正が一定しな
いという問題点が生じる。
【００１８】さらに上記のように対地間浮遊容量および
リード線の長さ違いによる影響があるので、校正の再現
性が悪いという問題もある。
リード線の長さ違いによる影響があるので、校正の再現
性が悪いという問題もある。
【００１９】本発明は、前記従来の問題点を解消するべ
くなされたものであって、高周波成分検出法による部分
放電測定において、対地浮遊静電容量とリード線のイン
ダクタンスの影響を除去して精度の良いかつ再現性の良
い校正を可能にする部分放電測定の校正装置を提供する
ことを目的とする。
くなされたものであって、高周波成分検出法による部分
放電測定において、対地浮遊静電容量とリード線のイン
ダクタンスの影響を除去して精度の良いかつ再現性の良
い校正を可能にする部分放電測定の校正装置を提供する
ことを目的とする。
【００２０】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記課題を解
決するため次の構成を有する。請求項１の発明は、電力
ケーブルの部分放電を絶縁接続部の絶縁筒間に発生する
高周波電圧の検出により測定するときに、前記絶縁筒両
側に設けた電極間にパルスを注入して間接的に部分放電
測定の校正を行う装置であって、パルス発生器から前記
電極へパルスを伝達するリード線には、対地静電容量に
よる検出への影響を除去するためのコモンモードフィル
ターを設け、パルス発生器の直列容量を、該直列容量と
リード線との共振周波数が校正に影響の無い周波数にな
るように設定することを特徴とする部分放電測定の校正
装置である。
決するため次の構成を有する。請求項１の発明は、電力
ケーブルの部分放電を絶縁接続部の絶縁筒間に発生する
高周波電圧の検出により測定するときに、前記絶縁筒両
側に設けた電極間にパルスを注入して間接的に部分放電
測定の校正を行う装置であって、パルス発生器から前記
電極へパルスを伝達するリード線には、対地静電容量に
よる検出への影響を除去するためのコモンモードフィル
ターを設け、パルス発生器の直列容量を、該直列容量と
リード線との共振周波数が校正に影響の無い周波数にな
るように設定することを特徴とする部分放電測定の校正
装置である。
【００２１】請求項２の発明は、前記コモンモードフィ
ルターは、一対の信号リード線の外周に合わせて被せる
フェライトコアなどの高周波鉄心からなることを特徴と
する請求項１に記載の部分放電測定の校正装置である。
ルターは、一対の信号リード線の外周に合わせて被せる
フェライトコアなどの高周波鉄心からなることを特徴と
する請求項１に記載の部分放電測定の校正装置である。
【００２２】請求項３の発明は、前記リード線の先端に
位置しかつ電極に繋がる端子の手前に、コモンモードフ
ィルターとパルス発生器の直列容量とを設けたことを特
徴とする請求項１または２に記載の部分放電測定の校正
装置である。
位置しかつ電極に繋がる端子の手前に、コモンモードフ
ィルターとパルス発生器の直列容量とを設けたことを特
徴とする請求項１または２に記載の部分放電測定の校正
装置である。
【００２３】請求項４の発明は、パルス発生器の筺体内
では直列容量を接続しないことを特徴とする請求項３に
記載の部分放電測定の校正装置である。
では直列容量を接続しないことを特徴とする請求項３に
記載の部分放電測定の校正装置である。
【００２４】請求項１の発明においては、部分放電測定
を間接法により校正する装置であって、コモンモードフ
ィルターでリード線へ対地間静電容量の影響を除去する
ので、対地間静電容量の変化が、例えば校正装置の置き
場所や人間の接触の有無により生じても、その変化が影
響して校正値が変化することが解消される。それと共
に、パルス発生器の直列容量を、リード線の長さとの共
振周波数が校正に影響のない周波数になるように設定す
るので、リードの長さの違いによる校正値へ影響を無く
すことができる。さらに、対地間静電容量の影響とリー
ド線の長さによる影響とを除去できるので、再現性のあ
る精度の良い校正が可能になる。なお、前記共振現象の
対策としては、その外、校正器の端子−箔電極−中心導
体−箔電極−校正器の端子というループの面積をできる
だけ小さくするという対策を採ることができる。
を間接法により校正する装置であって、コモンモードフ
ィルターでリード線へ対地間静電容量の影響を除去する
ので、対地間静電容量の変化が、例えば校正装置の置き
場所や人間の接触の有無により生じても、その変化が影
響して校正値が変化することが解消される。それと共
に、パルス発生器の直列容量を、リード線の長さとの共
振周波数が校正に影響のない周波数になるように設定す
るので、リードの長さの違いによる校正値へ影響を無く
すことができる。さらに、対地間静電容量の影響とリー
ド線の長さによる影響とを除去できるので、再現性のあ
る精度の良い校正が可能になる。なお、前記共振現象の
対策としては、その外、校正器の端子−箔電極−中心導
体−箔電極−校正器の端子というループの面積をできる
だけ小さくするという対策を採ることができる。
【００２５】請求項２の発明は、前記コモンモードフィ
ルターが、一対の信号リード線の外周に合わせて被せる
フェライトコアなどの高周波鉄心であるので、設置が容
易である。
ルターが、一対の信号リード線の外周に合わせて被せる
フェライトコアなどの高周波鉄心であるので、設置が容
易である。
【００２６】請求項３の発明は、前記リード線の先端に
位置しかつ電極に繋がる端子の手前に、コモンモードフ
ィルターとパルス発生器の直列容量とを設けたので、一
括しフィルターおよび直列容量の素子を設けることがで
き、軽量小型化しやすく、取り扱いが極めて容易であ
る。
位置しかつ電極に繋がる端子の手前に、コモンモードフ
ィルターとパルス発生器の直列容量とを設けたので、一
括しフィルターおよび直列容量の素子を設けることがで
き、軽量小型化しやすく、取り扱いが極めて容易であ
る。
【００２７】請求項４の発明は、パルス発生器の筺体内
では直列容量を接続しないので、筺体（校正器）が既存
のもの使用でき、利便性が高い。
では直列容量を接続しないので、筺体（校正器）が既存
のもの使用でき、利便性が高い。
【００２８】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。図１は本発明の実施形態に
係る部分放電測定の校正装置の説明図である。図１に示
すように、実施形態の校正装置は、校正器５０とリード
線５２と校正改良アダプター５４とを備えるものであっ
て、前記図６に示して従来の校正器５に代えて用い間接
法による校正を行うものである。
施の形態を詳細に説明する。図１は本発明の実施形態に
係る部分放電測定の校正装置の説明図である。図１に示
すように、実施形態の校正装置は、校正器５０とリード
線５２と校正改良アダプター５４とを備えるものであっ
て、前記図６に示して従来の校正器５に代えて用い間接
法による校正を行うものである。
【００２９】校正器５０は、従来の校正器で例えば内蔵
のコンデンサ容量は１０ｐＦである。さらに、校正改良
アダプター５４は、コモンモードフィルターとして例え
ば一対のリード線５２に被せて使用するフェライトコア
からなるコモンモードチョークと１ｐＦのコンデンサを
有してなり、使用の際には前記校正器５０の内蔵コンデ
ンサ（１０ｐＦ）をパスして１ｐＦのコンデンサをつな
ぐようになっている。
のコンデンサ容量は１０ｐＦである。さらに、校正改良
アダプター５４は、コモンモードフィルターとして例え
ば一対のリード線５２に被せて使用するフェライトコア
からなるコモンモードチョークと１ｐＦのコンデンサを
有してなり、使用の際には前記校正器５０の内蔵コンデ
ンサ（１０ｐＦ）をパスして１ｐＦのコンデンサをつな
ぐようになっている。
【００３０】図２は前記校正装置をＩＪ部２の校正に使
用した説明図である。図６と同様部分には同一の符号を
付している。校正器５０はパルスを発生してＩＪ部２に
リード線５２を介してパルスを注入する。前記校正改良
アダプターの無い状態では、図２の（ａ）に示すよう
に、パルスはＩＪ部２に注入するとリード線５２−対地
間浮遊容量Ｃｘ−大地−対地間浮遊容量Ｃｘ−校正器筺
体５０ａの経路でリード線〜大地間還流パルスが流れ
て、校正感度を低下させる。
用した説明図である。図６と同様部分には同一の符号を
付している。校正器５０はパルスを発生してＩＪ部２に
リード線５２を介してパルスを注入する。前記校正改良
アダプターの無い状態では、図２の（ａ）に示すよう
に、パルスはＩＪ部２に注入するとリード線５２−対地
間浮遊容量Ｃｘ−大地−対地間浮遊容量Ｃｘ−校正器筺
体５０ａの経路でリード線〜大地間還流パルスが流れ
て、校正感度を低下させる。
【００３１】これに対して、図２の（ｂ）に示すよう
に、改良アダプター５４を取り付けると、（ｃ）に示す
ように、コモンモードフィルタ（５６）の作用によりＩ
Ｊ部２への注入パルスは前記対地間浮遊容量Ｃｘの影響
を受けなくなり、すなわち、前記（３）および（４）式
から対地間浮遊容量Ｃｘがあるときと比較して校正感度
が向上する。
に、改良アダプター５４を取り付けると、（ｃ）に示す
ように、コモンモードフィルタ（５６）の作用によりＩ
Ｊ部２への注入パルスは前記対地間浮遊容量Ｃｘの影響
を受けなくなり、すなわち、前記（３）および（４）式
から対地間浮遊容量Ｃｘがあるときと比較して校正感度
が向上する。
【００３２】ここで、図３は、本発明により、校正器の
対地間静電容量が大きいと検出感度が低下することに対
してコモンモードフィルタを入れることと、校正用のリ
ード線のインダクタンスによる共振現象に対しては校正
器の直列容量を小さくすることを同時に施したときの計
算結果の一例を示すものである。この場合、箔電極の静
電容量がＣ１＝Ｃ２＝２００ｐＦ、対地間静電容量Ｃｘ
＝１００ｐＦ、リード線のリアクタンスＬＳ１＝１μ
Ｈ、直列容量ＣＳ２＝１ｐＦとしている。図３では、３
ＭＨｚ〜４０ＭＨｚの範囲で間接校正＝２×（直接校
正）が成立しており、広い周波数の範囲で高感度の校正
ができることが分かる。
対地間静電容量が大きいと検出感度が低下することに対
してコモンモードフィルタを入れることと、校正用のリ
ード線のインダクタンスによる共振現象に対しては校正
器の直列容量を小さくすることを同時に施したときの計
算結果の一例を示すものである。この場合、箔電極の静
電容量がＣ１＝Ｃ２＝２００ｐＦ、対地間静電容量Ｃｘ
＝１００ｐＦ、リード線のリアクタンスＬＳ１＝１μ
Ｈ、直列容量ＣＳ２＝１ｐＦとしている。図３では、３
ＭＨｚ〜４０ＭＨｚの範囲で間接校正＝２×（直接校
正）が成立しており、広い周波数の範囲で高感度の校正
ができることが分かる。
【００３３】上記の計算結果をもとに前記図１の構造の
校正改良アダプターを作製しその効果を調査した。この
アダプターを図４のように、電力ケーブルを同軸ケーブ
ル（例えば３Ｄ−２Ｖ）で模擬し模擬ＩＪ部６０の両側
に校正用と検出用の箔電極（２００ｐＦ）６２を設け
た。シースと大地間インピーダンス模擬として１００Ω
の抵抗２つを設け終端にはマッチング抵抗として５０Ω
の抵抗を接続した。試験端子はＡは中心導体に、Ｂは外
部導体に、Ｃ、Ｄは箔電極にそれぞれ接続した。
校正改良アダプターを作製しその効果を調査した。この
アダプターを図４のように、電力ケーブルを同軸ケーブ
ル（例えば３Ｄ−２Ｖ）で模擬し模擬ＩＪ部６０の両側
に校正用と検出用の箔電極（２００ｐＦ）６２を設け
た。シースと大地間インピーダンス模擬として１００Ω
の抵抗２つを設け終端にはマッチング抵抗として５０Ω
の抵抗を接続した。試験端子はＡは中心導体に、Ｂは外
部導体に、Ｃ、Ｄは箔電極にそれぞれ接続した。
【００３４】上記の模擬ＩＪ部について、直接校正（直
接法）でＡ−Ｂ間に校正パルスを入力し、間接校正（間
接法）ではＣ−Ｄ間に校正パルスを入力して、検出レベ
ルを測定し、その比（間接校正／直接校正）を求めた。
その求めた比は図５に示すようになり、感度がほぼ数Ｍ
Ｈｚ〜５０ＭＨｚにわたって前記間接校正が直接校正の
２倍にほぼ一定になっていることがわかる。この結果か
ら、広い周波数帯域で校正感度が高く、かつ、共振点も
ないため再現性がよいことが理解される。
接法）でＡ−Ｂ間に校正パルスを入力し、間接校正（間
接法）ではＣ−Ｄ間に校正パルスを入力して、検出レベ
ルを測定し、その比（間接校正／直接校正）を求めた。
その求めた比は図５に示すようになり、感度がほぼ数Ｍ
Ｈｚ〜５０ＭＨｚにわたって前記間接校正が直接校正の
２倍にほぼ一定になっていることがわかる。この結果か
ら、広い周波数帯域で校正感度が高く、かつ、共振点も
ないため再現性がよいことが理解される。
【００３５】なお、前記共振現象の対策としては、その
外、校正器の端子−箔電極−中心導体−箔電極−校正器
の端子というループの面積をできるだけ小さくするとい
う対策を採ることができる。
外、校正器の端子−箔電極−中心導体−箔電極−校正器
の端子というループの面積をできるだけ小さくするとい
う対策を採ることができる。
【００３６】
【発明の効果】以上説明した通り請求項１の発明によれ
ば、コモンモードフィルターでリード線へ対地間静電容
量の影響を除去するので、対地間静電容量の変化が、例
えば校正装置の置き場所や人間の接触の有無により生じ
ても、その変化が影響して校正値が変化することが解消
される。
ば、コモンモードフィルターでリード線へ対地間静電容
量の影響を除去するので、対地間静電容量の変化が、例
えば校正装置の置き場所や人間の接触の有無により生じ
ても、その変化が影響して校正値が変化することが解消
される。
【００３７】それと共に、パルス発生器の直列容量を、
リード線の長さとの共振周波数が校正に影響のない周波
数になるように設定するので、リードの長さの違いによ
る校正値へ影響を無くすことができる。さらに、対地間
静電容量の影響とリード線の長さによる影響とを除去で
きるので、再現性のある精度の良い校正が可能になる。
リード線の長さとの共振周波数が校正に影響のない周波
数になるように設定するので、リードの長さの違いによ
る校正値へ影響を無くすことができる。さらに、対地間
静電容量の影響とリード線の長さによる影響とを除去で
きるので、再現性のある精度の良い校正が可能になる。
【００３８】請求項２の発明は、前記コモンモードフィ
ルターが、一対のリード線の外周に合わせて被せるフェ
ライトコア等の高周波鉄心であるので、設置が容易であ
る。
ルターが、一対のリード線の外周に合わせて被せるフェ
ライトコア等の高周波鉄心であるので、設置が容易であ
る。
【００３９】請求項３の発明は、前記リード線の先端に
位置しかつ電極に繋がる端子の手前に、コモンモードフ
ィルターとパルス発生器の直列容量とを設けたので、一
括しフィルターおよび直列容量の素子を設けることがで
き、軽量小型化しやすく、取り扱いが極めて容易であ
る。
位置しかつ電極に繋がる端子の手前に、コモンモードフ
ィルターとパルス発生器の直列容量とを設けたので、一
括しフィルターおよび直列容量の素子を設けることがで
き、軽量小型化しやすく、取り扱いが極めて容易であ
る。
【００４０】請求項４の発明は、既存のパルス発生器を
校正器に使用できて利便性が高い。
校正器に使用できて利便性が高い。
【図１】本発明の実施形態に係る部分放電測定の校正装
置の説明図である。
置の説明図である。
【図２】図１の作用の説明図であって、（ａ）は従来の
校正器を設けた例の説明図、（ｂ）はコモンモードフィ
ルターの設置説明図、（ｃ）はコモンモードフィルター
設置の回路説明図である。
校正器を設けた例の説明図、（ｂ）はコモンモードフィ
ルターの設置説明図、（ｃ）はコモンモードフィルター
設置の回路説明図である。
【図３】本発明の計算例の線図である。
【図４】本発明を検証した模擬装置の例の説明図であ
る。
る。
【図５】図４の試験例の線図である。
【図６】部分放電測定の間接校正法の説明図であって、
（ａ）は外観図で、（ｂ）は電気回路説明図である。
（ａ）は外観図で、（ｂ）は電気回路説明図である。
【図７】部分放電測定の説明図であって、（ａ）は直接
法の回路図を（ｂ）は間接法の回路図を示す。
法の回路図を（ｂ）は間接法の回路図を示す。
【図８】図７の等価回路図を示し、（ａ）は直接法の等
価回路図を（ｂ）に間接法の等価回路図を示す。
価回路図を（ｂ）に間接法の等価回路図を示す。
【図９】従来の校正器の回路説明図である。
【図１０】（ａ）は図６の等価回路図、（ｂ）は簡略回
路図である。
路図である。
【図１１】パルス注入効率低下の説明をする電気系路図
である。
である。
【図１２】間接法により出力電圧を各周波数に対して求
めた一例を示している線図である。
めた一例を示している線図である。
【図１３】リード線の共振の影響の計算例を示す線図で
ある。
ある。
５０ 校正器（パルス発生器） ５０ａ 筺体 ５２ リード線 ５４ 改良アダプター ５６ コモンモードフィルター Ｃｓ 直列容量 Ｃｘ 対地間静電容量（対地間浮遊容量）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菊田 修夫 千葉県富津市新富42番１ 株式会社フジク ラ富津工場内 (72)発明者 山田 克彦 東京都渋谷区広尾５丁目15番１号 株式会 社日本計測器製造所内 (72)発明者 黒川 正博 東京都渋谷区広尾５丁目15番１号 株式会 社日本計測器製造所内
Claims (4)
- 【請求項１】 電力ケーブルの部分放電を絶縁接続部の
絶縁筒間に発生する高周波電圧の検出により測定すると
きに、前記絶縁筒両側に設けた電極間にパルスを注入し
て間接的に部分放電測定の校正を行う装置であって、 パルス発生器から前記電極へパルスを伝達するリード線
には、対地間静電容量による検出への影響を除去するた
めのコモンモードフィルターを設け、 パルス発生器の直列容量を、該直列容量とリード線との
共振周波数が校正に影響の無い周波数になるように設定
することを特徴とする部分放電測定の校正装置。 - 【請求項２】 前記コモンモードフィルターは、一対の
信号リード線の外周に合わせて被せるフェライトコアな
どの高周波鉄心からなることを特徴とする請求項１に記
載の部分放電測定の校正装置。 - 【請求項３】 前記リード線の先端に位置しかつ電極に
繋がる端子の手前に、コモンモードフィルターとパルス
発生器の直列容量とを設けたことを特徴とする請求項１
または２に記載の部分放電測定の校正装置。 - 【請求項４】 パルス発生器の筺体内では直列容量を接
続しないことを特徴とする請求項３に記載の部分放電測
定の校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17137996A JPH1019968A (ja) | 1996-07-01 | 1996-07-01 | 部分放電測定の校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17137996A JPH1019968A (ja) | 1996-07-01 | 1996-07-01 | 部分放電測定の校正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1019968A true JPH1019968A (ja) | 1998-01-23 |
Family
ID=15922093
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17137996A Pending JPH1019968A (ja) | 1996-07-01 | 1996-07-01 | 部分放電測定の校正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1019968A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100436039B1 (ko) * | 2001-10-11 | 2004-06-11 | 한국전기연구원 | 전력기기 진단용 전자 감지장치 |
| CN102680781A (zh) * | 2012-04-28 | 2012-09-19 | 深圳光启创新技术有限公司 | 一种校准器件及超材料谐振频率测试平台 |
| CN103364633B (zh) * | 2012-03-31 | 2017-04-05 | 深圳光启创新技术有限公司 | 一种超材料谐振频率测试装置及测试方法 |
| CN109283444A (zh) * | 2018-11-26 | 2019-01-29 | 国网安徽省电力有限公司淮南供电公司 | 双原理电缆局部放电传感器及其数据融合方法 |
| WO2019188549A1 (ja) * | 2018-03-30 | 2019-10-03 | 日本電産リード株式会社 | 接続治具 |
-
1996
- 1996-07-01 JP JP17137996A patent/JPH1019968A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100436039B1 (ko) * | 2001-10-11 | 2004-06-11 | 한국전기연구원 | 전력기기 진단용 전자 감지장치 |
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| WO2019188549A1 (ja) * | 2018-03-30 | 2019-10-03 | 日本電産リード株式会社 | 接続治具 |
| JPWO2019188549A1 (ja) * | 2018-03-30 | 2021-04-01 | 日本電産リード株式会社 | 接続治具 |
| CN109283444A (zh) * | 2018-11-26 | 2019-01-29 | 国网安徽省电力有限公司淮南供电公司 | 双原理电缆局部放电传感器及其数据融合方法 |
| CN109283444B (zh) * | 2018-11-26 | 2021-01-05 | 国网安徽省电力有限公司淮南供电公司 | 双原理电缆局部放电传感器及其数据融合方法 |
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