JPH1019664A - 発光素子アレー検査装置 - Google Patents
発光素子アレー検査装置Info
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- JPH1019664A JPH1019664A JP17513596A JP17513596A JPH1019664A JP H1019664 A JPH1019664 A JP H1019664A JP 17513596 A JP17513596 A JP 17513596A JP 17513596 A JP17513596 A JP 17513596A JP H1019664 A JPH1019664 A JP H1019664A
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- light emitting
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 発光素子アレーを検査する場合、ゴミなどに
よる汚れの場合も不良品と判定してしまい、正常に動作
しているにも拘わらず、不良品とみなされることがあっ
た。 【解決手段】 発光用サイリスタをオフした状態で転送
用サイリスタのみを順次オンし、各々の転送用サイリス
タがオンしているときの発光輝度を測定する手段と、転
送用サイリスタを順次オンすることで発光用サイリスタ
を順次オンし、各々の発光用サイリスタがオンしている
ときの発光輝度を測定する手段とを備え、測定された転
送用サイリスタ及び発光用サイリスタの輝度を各々設定
された基準値と比較することによって、発光素子アレー
の良否を判定する。
よる汚れの場合も不良品と判定してしまい、正常に動作
しているにも拘わらず、不良品とみなされることがあっ
た。 【解決手段】 発光用サイリスタをオフした状態で転送
用サイリスタのみを順次オンし、各々の転送用サイリス
タがオンしているときの発光輝度を測定する手段と、転
送用サイリスタを順次オンすることで発光用サイリスタ
を順次オンし、各々の発光用サイリスタがオンしている
ときの発光輝度を測定する手段とを備え、測定された転
送用サイリスタ及び発光用サイリスタの輝度を各々設定
された基準値と比較することによって、発光素子アレー
の良否を判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子写真複写機、
ファクシミリ、印字装置などの記録ヘッドに用いられる
自己走査型発光素子アレーの検査装置に関するものであ
る。
ファクシミリ、印字装置などの記録ヘッドに用いられる
自己走査型発光素子アレーの検査装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、自己走査型発光素子アレーとして
は、例えば特開平１−２３８９６２号公報、特開平２−
２０８０６７号公報、特開平２−２１２１７０号公報、
特開平３−２０４５７号公報、特開平３−１９４９７８
号公報、特開平４−５８７２号公報、特開平４−２３３
６７号公報、特開平４−２９６５７９号公報、特開平５
−８４９７１号公報などに開示されている。また、電子
情報通信学会（１９９０・３．５）においては、ＰＮＰ
Ｎサイリスタ構造を用いた自己走査型発光素子、ジャパ
ンハードコピー１９９１（Ａ−１７）においては、駆動
回路を集績化した光プリンタ用発光素子アレーが記載さ
れており、記録用の発光素子として注目されている。
は、例えば特開平１−２３８９６２号公報、特開平２−
２０８０６７号公報、特開平２−２１２１７０号公報、
特開平３−２０４５７号公報、特開平３−１９４９７８
号公報、特開平４−５８７２号公報、特開平４−２３３
６７号公報、特開平４−２９６５７９号公報、特開平５
−８４９７１号公報などに開示されている。また、電子
情報通信学会（１９９０・３．５）においては、ＰＮＰ
Ｎサイリスタ構造を用いた自己走査型発光素子、ジャパ
ンハードコピー１９９１（Ａ−１７）においては、駆動
回路を集績化した光プリンタ用発光素子アレーが記載さ
れており、記録用の発光素子として注目されている。
【０００３】図３はこのような自己走査機能を有する発
光素子アレーの等価回路を示した回路図である。なお、
図３では発光素子アレーの一部の回路を示している。図
３において、ＳＲ１〜ＳＲ５は記録素子であるところの
発光用サイリスタであり、基板上に一列に等間隔を置い
て配列されている。各発光用サイリスタのアノード端子
は電源ライン（５Ｖ）に接続され、カソード端子は後述
するように画像データを供給するラインに共通に接続さ
れている。また、ＳＲ１′〜ＳＲ５′はカスケードに接
続された転送用サイリスタである。
光素子アレーの等価回路を示した回路図である。なお、
図３では発光素子アレーの一部の回路を示している。図
３において、ＳＲ１〜ＳＲ５は記録素子であるところの
発光用サイリスタであり、基板上に一列に等間隔を置い
て配列されている。各発光用サイリスタのアノード端子
は電源ライン（５Ｖ）に接続され、カソード端子は後述
するように画像データを供給するラインに共通に接続さ
れている。また、ＳＲ１′〜ＳＲ５′はカスケードに接
続された転送用サイリスタである。
【０００４】各々の転送用サイリスタは、発光用サイリ
スタに対応して設けられており、対応する転送用と発光
用のサイリスタのゲート電極は電位結合した構成になっ
ている。また、各々の転送用サイリスタのアノード端子
は電源ライン（５Ｖ）に接続され、ゲート端子はそれぞ
れ抵抗ＲL を介してＶＧＡ（グランドライン）に接続さ
れている。また、各転送用サイリスタのうち奇数番目の
カソード端子及び偶数番目のカソード端子は各々共通に
接続されている。奇数番目の共通ラインには転送クロッ
クφ１が供給され、偶数番目の共通ラインには転送クロ
ックφ２が供給される。Ｄはカスケードに接続された結
合用のダイオードであり、先頭のダイオードＤのアノー
ド端子にスタートパレスφＳが供給される。これらの転
送用サイリスタ、抵抗、ダイオードによって自己走査回
路が構成され、発光用サイリスタを１ビットづつ走査す
るように働くものである。
スタに対応して設けられており、対応する転送用と発光
用のサイリスタのゲート電極は電位結合した構成になっ
ている。また、各々の転送用サイリスタのアノード端子
は電源ライン（５Ｖ）に接続され、ゲート端子はそれぞ
れ抵抗ＲL を介してＶＧＡ（グランドライン）に接続さ
れている。また、各転送用サイリスタのうち奇数番目の
カソード端子及び偶数番目のカソード端子は各々共通に
接続されている。奇数番目の共通ラインには転送クロッ
クφ１が供給され、偶数番目の共通ラインには転送クロ
ックφ２が供給される。Ｄはカスケードに接続された結
合用のダイオードであり、先頭のダイオードＤのアノー
ド端子にスタートパレスφＳが供給される。これらの転
送用サイリスタ、抵抗、ダイオードによって自己走査回
路が構成され、発光用サイリスタを１ビットづつ走査す
るように働くものである。
【０００５】次に、以上の発光素子アレーの動作を図４
を参照して説明する。まず、図４（ａ）はスタートパル
スφＳであり、動作の開始を指示するときはハイレベル
のスタートパルスφＳが先頭のダイオードＤのアノード
端子に供給される。なお、スタードパルスφＳはハイレ
ベルであるので、ダイオードの順方向降下電圧を１Ｖ程
度とすると、先頭の転送用サイリスタＳＲ１′のゲート
電圧は５Ｖ、次の転送用サイリスタＳＲ２′のゲート電
圧は４Ｖ、その次の転送用サイリスタＳＲ３′のゲート
電圧は３Ｖというように結合用ダイオードの電圧降下に
よって順次低くなっていく。
を参照して説明する。まず、図４（ａ）はスタートパル
スφＳであり、動作の開始を指示するときはハイレベル
のスタートパルスφＳが先頭のダイオードＤのアノード
端子に供給される。なお、スタードパルスφＳはハイレ
ベルであるので、ダイオードの順方向降下電圧を１Ｖ程
度とすると、先頭の転送用サイリスタＳＲ１′のゲート
電圧は５Ｖ、次の転送用サイリスタＳＲ２′のゲート電
圧は４Ｖ、その次の転送用サイリスタＳＲ３′のゲート
電圧は３Ｖというように結合用ダイオードの電圧降下に
よって順次低くなっていく。
【０００６】このようにスタートパルスφＳがハイレベ
ルの状態で、図４（ｂ）のように転送クロックφ１がロ
ーレベルになると、転送用サイリスタはカソード電圧が
ゲート電圧より拡散電位Ｖdif 以上低くなるとオンする
ので、奇数番目の共通ラインに接続されている転送用サ
イリスタのうちゲート電圧の最も高い転送用サイリスタ
ＳＲ１′がオン状態となる。この場合、各転送用サイリ
スタのカソード電圧はほぼ一定であるので、奇数番目の
共通ラインに接続された他の転送用サイリスタはオフの
ままである。
ルの状態で、図４（ｂ）のように転送クロックφ１がロ
ーレベルになると、転送用サイリスタはカソード電圧が
ゲート電圧より拡散電位Ｖdif 以上低くなるとオンする
ので、奇数番目の共通ラインに接続されている転送用サ
イリスタのうちゲート電圧の最も高い転送用サイリスタ
ＳＲ１′がオン状態となる。この場合、各転送用サイリ
スタのカソード電圧はほぼ一定であるので、奇数番目の
共通ラインに接続された他の転送用サイリスタはオフの
ままである。
【０００７】ここで、転送用サイリスタＳＲ１′がオン
した状態で、画像信号φＤがローレベルになると、先頭
の発光サイリスタＳＲ１がオンし、一定時間だけ発光す
る。そのほかの発光サイリスタはオフのままである。な
お、画像信号φＤは、図４（ｄ）の駆動クロックφＩと
画像データのアンドをとった信号である。次いで、発光
サイリスタＳＲ１を一定時間発光させた後、画像信号φ
Ｄをハイレベルにすると、発光サイリスタＳＲ１のアノ
ードとカソード間の電位差がなくなるので、発光サイリ
スタＳＲ１はオフに転じる。続いて、図４（ｃ）に示す
ように転送クロックφ２をローレベルにすると、偶数番
目の共通ラインに接続されている転送用サイリスタのう
ち最もゲート電圧の高い転送用サイリスタＳＲ２′がオ
ンし、そのゲート電圧はほぼ５Ｖとなる。この状態で、
図４（ｂ）のように転送クロックφ１をハイレベルにす
ると、転送用サイリスタＳＲ１′のカソード電圧は５Ｖ
となってオフする。
した状態で、画像信号φＤがローレベルになると、先頭
の発光サイリスタＳＲ１がオンし、一定時間だけ発光す
る。そのほかの発光サイリスタはオフのままである。な
お、画像信号φＤは、図４（ｄ）の駆動クロックφＩと
画像データのアンドをとった信号である。次いで、発光
サイリスタＳＲ１を一定時間発光させた後、画像信号φ
Ｄをハイレベルにすると、発光サイリスタＳＲ１のアノ
ードとカソード間の電位差がなくなるので、発光サイリ
スタＳＲ１はオフに転じる。続いて、図４（ｃ）に示す
ように転送クロックφ２をローレベルにすると、偶数番
目の共通ラインに接続されている転送用サイリスタのう
ち最もゲート電圧の高い転送用サイリスタＳＲ２′がオ
ンし、そのゲート電圧はほぼ５Ｖとなる。この状態で、
図４（ｂ）のように転送クロックφ１をハイレベルにす
ると、転送用サイリスタＳＲ１′のカソード電圧は５Ｖ
となってオフする。
【０００８】この結果、転送用サイリスタＳＲ１′から
転送用サイリスタＳＲ２′にオン状態が転送され、次に
画像信号φＤをローレベルにすることによって次の発光
サイリスタＳＲ２がオンし、一定時間発光する。このよ
うにして転送クロックφ１，φ２を交互にローレベルと
して転送用サイリスタを１ビットづつ転送することによ
り、それに連れて発光サイリスタを順次シフトし、個々
の発光サイリスタを画像信号に応じて駆動することで、
発光用サイリスタを走査することができる。なお、転送
用サイリスタがオンしている場合、光量は小さいながら
も発光用サイリスタと同じように発光する。
転送用サイリスタＳＲ２′にオン状態が転送され、次に
画像信号φＤをローレベルにすることによって次の発光
サイリスタＳＲ２がオンし、一定時間発光する。このよ
うにして転送クロックφ１，φ２を交互にローレベルと
して転送用サイリスタを１ビットづつ転送することによ
り、それに連れて発光サイリスタを順次シフトし、個々
の発光サイリスタを画像信号に応じて駆動することで、
発光用サイリスタを走査することができる。なお、転送
用サイリスタがオンしている場合、光量は小さいながら
も発光用サイリスタと同じように発光する。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来におい
ては、自己走査型発光素子アレーを検査する場合、ピン
フォトダイオードなどを用いて発光用サイリスタの発光
量のみを確認している。しかしながら、自己走査型発光
素子アレーは転送用サイリスタと発光用サイリスタを備
えているので、発光用サイリスタの発光量のみを確認す
るだけでは、発光用サイリスタの不良が発見された場
合、転送用サイリスタの転送動作に原因があるのか、発
光用サイリスタに原因があるのかがわからなかった。即
ち、発光用サイリスタの発光量が不足する原因として
は、転送用サイリスタの動作不良で発光しないケースが
あったり、あるいは発光用サイリスタの表面に付着した
ゴミなどによる汚れで発光量が不足するケースがあるた
め、ゴミなどの汚れの場合も不良品と判定してしまい、
正常に動作しているにも拘わらず、不良品とみなされる
ことがあった。
ては、自己走査型発光素子アレーを検査する場合、ピン
フォトダイオードなどを用いて発光用サイリスタの発光
量のみを確認している。しかしながら、自己走査型発光
素子アレーは転送用サイリスタと発光用サイリスタを備
えているので、発光用サイリスタの発光量のみを確認す
るだけでは、発光用サイリスタの不良が発見された場
合、転送用サイリスタの転送動作に原因があるのか、発
光用サイリスタに原因があるのかがわからなかった。即
ち、発光用サイリスタの発光量が不足する原因として
は、転送用サイリスタの動作不良で発光しないケースが
あったり、あるいは発光用サイリスタの表面に付着した
ゴミなどによる汚れで発光量が不足するケースがあるた
め、ゴミなどの汚れの場合も不良品と判定してしまい、
正常に動作しているにも拘わらず、不良品とみなされる
ことがあった。
【００１０】そこで、本発明は、発光用サイリスタだけ
でなく転送用サイリスタの輝度も測定することにより、
正確に発光素子アレーの良否を判定できるようにした発
光素子アレー検査装置を提供することを目的としたもの
である。
でなく転送用サイリスタの輝度も測定することにより、
正確に発光素子アレーの良否を判定できるようにした発
光素子アレー検査装置を提供することを目的としたもの
である。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、列状に
配列された複数の発光用サイリスタと、前記発光用サイ
リスタに対応して設けられ、前記発光用サイリスタを走
査するための複数の転送用サイリスタとを有する自己走
査型発光素子アレーの検査装置であって、前記発光用サ
イリスタをオフした状態で前記転送用サイリスタのみを
順次オンし、各々の転送用サイリスタのオンしていると
きの発光輝度を測定する手段と、前記転送用サイリスタ
を順次オンすることで前記発光用サイリスタを順次オン
し、各々の発光用サイリスタのオンしているときの発光
輝度を測定する手段とを備え、測定された転送用サイリ
スタの発光輝度及び発光用サイリスタの発光輝度を各々
設定された基準値と比較することによって、発光素子ア
レーの良否を判定することを特徴とする発光素子アレー
検査装置によって達成される。
配列された複数の発光用サイリスタと、前記発光用サイ
リスタに対応して設けられ、前記発光用サイリスタを走
査するための複数の転送用サイリスタとを有する自己走
査型発光素子アレーの検査装置であって、前記発光用サ
イリスタをオフした状態で前記転送用サイリスタのみを
順次オンし、各々の転送用サイリスタのオンしていると
きの発光輝度を測定する手段と、前記転送用サイリスタ
を順次オンすることで前記発光用サイリスタを順次オン
し、各々の発光用サイリスタのオンしているときの発光
輝度を測定する手段とを備え、測定された転送用サイリ
スタの発光輝度及び発光用サイリスタの発光輝度を各々
設定された基準値と比較することによって、発光素子ア
レーの良否を判定することを特徴とする発光素子アレー
検査装置によって達成される。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の発光
素子アレー検査装置の一実施形態を示したブロック図で
ある。図１において、１は検査対象であるところの自己
走査型発光素子アレーである。発光素子アレー１は図３
に示したように自己走査回路を内蔵し、１２８画素分の
発光用サイリスタを備えている。発光素子アレー１の構
成、動作については、図３、図４で説明した通りであ
る。
て図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の発光
素子アレー検査装置の一実施形態を示したブロック図で
ある。図１において、１は検査対象であるところの自己
走査型発光素子アレーである。発光素子アレー１は図３
に示したように自己走査回路を内蔵し、１２８画素分の
発光用サイリスタを備えている。発光素子アレー１の構
成、動作については、図３、図４で説明した通りであ
る。
【００１３】発光素子アレー１の正面には、発光素子ア
レー１の個々の発光用サイリスタ及び転送用サイリスタ
の輝度を測定するための受光素子２が設けられている。
受光素子２としては、フォトマルチプライヤーが用いら
れ、発光量を電圧信号に変えて読み取るものである。受
光素子２は図示しないパルスモータなどの駆動機構によ
って発光素子アレーの走査方向に移動できるようになっ
ていて、制御部３の制御によって発光素子アレー１の転
送動作に同期して転送用サイリスタ、発光用サイリスタ
を１つづつスライドするように構成されている。受光素
子２はこのように発光素子アレー１の走査方向にスライ
ドすることで、転送用サイリスタ及び発光用サイリスタ
の発光輝度を順次測定し、測定結果を測定データとして
制御部３へ出力する。
レー１の個々の発光用サイリスタ及び転送用サイリスタ
の輝度を測定するための受光素子２が設けられている。
受光素子２としては、フォトマルチプライヤーが用いら
れ、発光量を電圧信号に変えて読み取るものである。受
光素子２は図示しないパルスモータなどの駆動機構によ
って発光素子アレーの走査方向に移動できるようになっ
ていて、制御部３の制御によって発光素子アレー１の転
送動作に同期して転送用サイリスタ、発光用サイリスタ
を１つづつスライドするように構成されている。受光素
子２はこのように発光素子アレー１の走査方向にスライ
ドすることで、転送用サイリスタ及び発光用サイリスタ
の発光輝度を順次測定し、測定結果を測定データとして
制御部３へ出力する。
【００１４】制御部３は受光素子２や駆動回路４を制御
し、発光素子アレー１の検査動作を制御するための制御
回路である。制御部３は受光素子２を駆動する駆動機構
に発光素子アレー１の転送動作に同期して駆動信号を出
力し、前述のように受光素子２を発光素子アレー１の走
査方向に移動させる。また、制御部３は駆動回路４に発
光素子アレー１を駆動する信号を作成するのに必要な制
御信号と画像信号を供給する。ここで、制御信号は図
３、図４で説明したようなスタートパルスφＳ、転送ク
ロックφ１，φ２、駆動クロックφＩを作成するための
クロック信号であり、画像信号は８ビットのパラレルデ
ータからなっている。
し、発光素子アレー１の検査動作を制御するための制御
回路である。制御部３は受光素子２を駆動する駆動機構
に発光素子アレー１の転送動作に同期して駆動信号を出
力し、前述のように受光素子２を発光素子アレー１の走
査方向に移動させる。また、制御部３は駆動回路４に発
光素子アレー１を駆動する信号を作成するのに必要な制
御信号と画像信号を供給する。ここで、制御信号は図
３、図４で説明したようなスタートパルスφＳ、転送ク
ロックφ１，φ２、駆動クロックφＩを作成するための
クロック信号であり、画像信号は８ビットのパラレルデ
ータからなっている。
【００１５】駆動回路４は制御信号をもとにφＳ，φ
１，φ２，φＩを作成すると共に、画像信号をシリアル
データに変換する。また、駆動回路４では、駆動クロッ
クφＩとシリアルの画像信号のアンドをとって、画像信
号φＤとして出力する。画像信号φＤは個々の発光用サ
イリスタを点灯させるか、消灯させるかを決定する信号
であり、画像信号φＤがローレベルであれば発光用サイ
リスタはオンし、ハイレベルであればオフである。
１，φ２，φＩを作成すると共に、画像信号をシリアル
データに変換する。また、駆動回路４では、駆動クロッ
クφＩとシリアルの画像信号のアンドをとって、画像信
号φＤとして出力する。画像信号φＤは個々の発光用サ
イリスタを点灯させるか、消灯させるかを決定する信号
であり、画像信号φＤがローレベルであれば発光用サイ
リスタはオンし、ハイレベルであればオフである。
【００１６】次に、本実施形態の具体的な動作を図２を
参照して詳細に説明する。まず、発光素子アレー１の検
査に際し、制御部３は発光素子アレー１の発光用サイリ
スタはオフしたままで転送用サイリスタのみを順次オン
し、わずかではあるが個々の転送用サイリスタの発光輝
度を測定する。具体的に説明すると、制御部３は駆動回
路４に前述のような制御信号と８ビットの画像信号Ｄ
OUT を供給する。駆動回路４では、これらの信号を受け
て、図４に示すようにスタートパルスφＳ、転送クロッ
クφ１，φ２、駆動クロックφＩを作成する。
参照して詳細に説明する。まず、発光素子アレー１の検
査に際し、制御部３は発光素子アレー１の発光用サイリ
スタはオフしたままで転送用サイリスタのみを順次オン
し、わずかではあるが個々の転送用サイリスタの発光輝
度を測定する。具体的に説明すると、制御部３は駆動回
路４に前述のような制御信号と８ビットの画像信号Ｄ
OUT を供給する。駆動回路４では、これらの信号を受け
て、図４に示すようにスタートパルスφＳ、転送クロッ
クφ１，φ２、駆動クロックφＩを作成する。
【００１７】また、駆動回路４においては、図４に示す
ように制御部３から送信された画像信号ＤOUT をシリア
ルデータに変換し、これと駆動クロックφＩとアンドを
とって図４のように画像信号φＤを作成する。なお、こ
の場合は、転送用サイリスタのみをオンさせるので、図
４に実線で示すように画像信号φＤはハイレベルのまま
である。駆動回路４はスタートパルスφＳ、転送クロッ
クφ１，φ２、画像信号φＤをそれぞれ抵抗器Ｒを通し
て発光素子アレー１に供給する。これにより、発光素子
アレー１は、図３、図４で説明したような動作で先頭の
転送用サイリスタＳＲ′から順に一定時間づつオンして
いく。但し、発光用サイリスタはオフのままである。
ように制御部３から送信された画像信号ＤOUT をシリア
ルデータに変換し、これと駆動クロックφＩとアンドを
とって図４のように画像信号φＤを作成する。なお、こ
の場合は、転送用サイリスタのみをオンさせるので、図
４に実線で示すように画像信号φＤはハイレベルのまま
である。駆動回路４はスタートパルスφＳ、転送クロッ
クφ１，φ２、画像信号φＤをそれぞれ抵抗器Ｒを通し
て発光素子アレー１に供給する。これにより、発光素子
アレー１は、図３、図４で説明したような動作で先頭の
転送用サイリスタＳＲ′から順に一定時間づつオンして
いく。但し、発光用サイリスタはオフのままである。
【００１８】一方、制御部３は受光素子２に測定命令信
号を出力し、受光素子２による発光輝度の測定動作を制
御する。具体的には、受光素子２は前述のようにパルス
モータを含む駆動機構によって発光素子アレー１の走査
方向に移動できるようになっており、制御部３は駆動回
路４による発光素子アレー１の転送動作と同期をとって
パルスモータの駆動信号を駆動機構に供給する。この駆
動信号は測定命令信号に含まれている。また、制御部３
は駆動回路４の転送クロックφ１，φ２と同期して輝度
の測定を指示する測定命令信号を受光素子３に供給す
る。測定命令信号は、転送用サイリスタがオンしている
ときにオン、その他の期間はオフするように指示するオ
ン／オフ信号であり、このオン／オフ信号が転送クロッ
クに同期して供給される。
号を出力し、受光素子２による発光輝度の測定動作を制
御する。具体的には、受光素子２は前述のようにパルス
モータを含む駆動機構によって発光素子アレー１の走査
方向に移動できるようになっており、制御部３は駆動回
路４による発光素子アレー１の転送動作と同期をとって
パルスモータの駆動信号を駆動機構に供給する。この駆
動信号は測定命令信号に含まれている。また、制御部３
は駆動回路４の転送クロックφ１，φ２と同期して輝度
の測定を指示する測定命令信号を受光素子３に供給す
る。測定命令信号は、転送用サイリスタがオンしている
ときにオン、その他の期間はオフするように指示するオ
ン／オフ信号であり、このオン／オフ信号が転送クロッ
クに同期して供給される。
【００１９】従って、制御部３の制御によって、発光素
子アレー１の先頭の転送用サイリスタＳＲ１がオンする
と、受光素子２はその正面に移動し、転送用サイリスタ
ＳＲ１′がオンしているときの発光輝度を測定する。発
光輝度は前述のように電圧信号で読み取られ、制御部３
へ送られる。次いで、転送用サイリスタＳＲ２′がオン
すると、受光素子２もその正面に移動し、転送用サイリ
スタＳＲ２′がオンしているときの発光輝度を測定す
る。このようにして転送用サイリスタを順次オンし、そ
の転送動作に同期して受光素子２を移動させることで、
転送用サイリスタの輝度を順次測定していく。測定され
た輝度は、その都度制御部３へ送られ、制御部３は内部
のメモリに記憶させておく。受光素子アレー１のすべて
の転送用サイリスタの輝度の測定を終了すると、制御部
３は引き続いて発光用サイリスタの輝度の測定を行う。
子アレー１の先頭の転送用サイリスタＳＲ１がオンする
と、受光素子２はその正面に移動し、転送用サイリスタ
ＳＲ１′がオンしているときの発光輝度を測定する。発
光輝度は前述のように電圧信号で読み取られ、制御部３
へ送られる。次いで、転送用サイリスタＳＲ２′がオン
すると、受光素子２もその正面に移動し、転送用サイリ
スタＳＲ２′がオンしているときの発光輝度を測定す
る。このようにして転送用サイリスタを順次オンし、そ
の転送動作に同期して受光素子２を移動させることで、
転送用サイリスタの輝度を順次測定していく。測定され
た輝度は、その都度制御部３へ送られ、制御部３は内部
のメモリに記憶させておく。受光素子アレー１のすべて
の転送用サイリスタの輝度の測定を終了すると、制御部
３は引き続いて発光用サイリスタの輝度の測定を行う。
【００２０】発光用サイリスタの輝度を測定する場合、
制御部３は同様に駆動回路４に制御信号と８ビットの画
像信号ＤOUT を供給する。駆動回路４では、先の説明と
同様に制御部３からの信号を用いてスタートパルスφ
Ｓ、転送クロックφ１，φ２、画像信号φＤを作成し、
発光素子アレー１に供給する。但し、この場合は、発光
用サイリスタをオンさせるので、図２に示すように画像
信号はローレベル（破線で示す）となる。これにより、
発光素子アレー１は、先頭の転送用サイリスタＳＲ１′
がオンし、それに伴って先頭の発光用サイリスタＳＲが
オンし、以下順に転送用サイリスタ及び発光用サイリス
タは一定時間づつオンしていく。
制御部３は同様に駆動回路４に制御信号と８ビットの画
像信号ＤOUT を供給する。駆動回路４では、先の説明と
同様に制御部３からの信号を用いてスタートパルスφ
Ｓ、転送クロックφ１，φ２、画像信号φＤを作成し、
発光素子アレー１に供給する。但し、この場合は、発光
用サイリスタをオンさせるので、図２に示すように画像
信号はローレベル（破線で示す）となる。これにより、
発光素子アレー１は、先頭の転送用サイリスタＳＲ１′
がオンし、それに伴って先頭の発光用サイリスタＳＲが
オンし、以下順に転送用サイリスタ及び発光用サイリス
タは一定時間づつオンしていく。
【００２１】一方、制御部３では、先の説明と同様に受
光素子２の測定動作を制御し、先頭の発光用サイリスタ
ＳＲ１がオンすると、その正面に受光素子２を移動させ
る。また、制御部３は転送クロックに同期して輝度の測
定を指示するオン／オフ信号を受光素子２に供給し、発
光用サイリスタＳＲ１がオンしているときの発光輝度を
測定する。次いで、次の転送用サイリスタＳＲ２′がオ
ンし、それに伴って発光用サイリスタＳＲ２がオンする
と、受光素子２もその正面に移動し、発光用サイリスタ
ＳＲ２がオンしているときの輝度を測定する。このよう
にして発光用サイリスタの輝度を順次測定し、最後の発
光用サイリスタの輝度を測定したところで発光素子アレ
ー１の転送用サイリスタ及び発光用サイリスタの輝度の
測定を終了する。もちろん、測定された発光用サイリス
タの輝度もその都度制御部３へ送られ、制御部３では先
に測定された転送用サイリスタの輝度データと対応させ
てメモリに記憶させておく。
光素子２の測定動作を制御し、先頭の発光用サイリスタ
ＳＲ１がオンすると、その正面に受光素子２を移動させ
る。また、制御部３は転送クロックに同期して輝度の測
定を指示するオン／オフ信号を受光素子２に供給し、発
光用サイリスタＳＲ１がオンしているときの発光輝度を
測定する。次いで、次の転送用サイリスタＳＲ２′がオ
ンし、それに伴って発光用サイリスタＳＲ２がオンする
と、受光素子２もその正面に移動し、発光用サイリスタ
ＳＲ２がオンしているときの輝度を測定する。このよう
にして発光用サイリスタの輝度を順次測定し、最後の発
光用サイリスタの輝度を測定したところで発光素子アレ
ー１の転送用サイリスタ及び発光用サイリスタの輝度の
測定を終了する。もちろん、測定された発光用サイリス
タの輝度もその都度制御部３へ送られ、制御部３では先
に測定された転送用サイリスタの輝度データと対応させ
てメモリに記憶させておく。
【００２２】発光素子アレーの輝度の測定を終了する
と、制御部３はその発光素子アレーの合否判定を行う。
この合否判定に際しては、予め転送用サイリスタ、発光
用サイリスタの各々について発光輝度の基準範囲が決め
られており、制御部３はメモリに記憶されている転送用
サイリスタと発光用サイリスタの輝度データを検索して
基準範囲から外れている転送用サイリスタと発光用サイ
リスタがあるかどうかを判定する。ここで、転送用サイ
リスタの輝度が基準範囲から外れているものを検出した
場合（このときは、転送用サイリスタは動作していない
ので、それと対になった発光用サイリスタは点灯しな
い）、制御部３はその発光素子アレー１は動作不良であ
るので、不良品と判定する。
と、制御部３はその発光素子アレーの合否判定を行う。
この合否判定に際しては、予め転送用サイリスタ、発光
用サイリスタの各々について発光輝度の基準範囲が決め
られており、制御部３はメモリに記憶されている転送用
サイリスタと発光用サイリスタの輝度データを検索して
基準範囲から外れている転送用サイリスタと発光用サイ
リスタがあるかどうかを判定する。ここで、転送用サイ
リスタの輝度が基準範囲から外れているものを検出した
場合（このときは、転送用サイリスタは動作していない
ので、それと対になった発光用サイリスタは点灯しな
い）、制御部３はその発光素子アレー１は動作不良であ
るので、不良品と判定する。
【００２３】また、対になった転送用サイリスタと発光
用サイリスタのうち、転送用サイリスタの輝度は基準範
囲に入っていて、発光用サイリスタの輝度が基準範囲か
ら外れている場合は、転送用サイリスタは正常に動作し
ており、発光用サイリスタにゴミなどが付着することに
よって輝度が不足している可能性があるので、再検査を
行うようにする。そして、再検査の結果、発光用サイリ
スタの輝度が基準範囲に入っていれば良品と判定し、や
はり発光輝度が基準範囲から外れていれば、もともと発
光用サイリスタは動作不良であると判断してその発光素
子アレーを不良品と判定する。
用サイリスタのうち、転送用サイリスタの輝度は基準範
囲に入っていて、発光用サイリスタの輝度が基準範囲か
ら外れている場合は、転送用サイリスタは正常に動作し
ており、発光用サイリスタにゴミなどが付着することに
よって輝度が不足している可能性があるので、再検査を
行うようにする。そして、再検査の結果、発光用サイリ
スタの輝度が基準範囲に入っていれば良品と判定し、や
はり発光輝度が基準範囲から外れていれば、もともと発
光用サイリスタは動作不良であると判断してその発光素
子アレーを不良品と判定する。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、発
光素子アレーの転送用サイリスタと発光用サイリスタの
輝度を測定することにより、転送用サイリスタの動作を
確認することができ、動作不良の原因が転送用サイリス
タにあるのか、発光用サイリスタにあるのかを識別する
ことができる。従って、発光用サイリスタに動作不良の
原因があったときは、ゴミなどの汚れによる可能性があ
るため、再検査を行うことにより、正確に発光用サイリ
スタ自身の不良であるかどうかを確認でき、正常に動作
しているにも拘わらず、不良品とみなされるような事態
を回避することができる。
光素子アレーの転送用サイリスタと発光用サイリスタの
輝度を測定することにより、転送用サイリスタの動作を
確認することができ、動作不良の原因が転送用サイリス
タにあるのか、発光用サイリスタにあるのかを識別する
ことができる。従って、発光用サイリスタに動作不良の
原因があったときは、ゴミなどの汚れによる可能性があ
るため、再検査を行うことにより、正確に発光用サイリ
スタ自身の不良であるかどうかを確認でき、正常に動作
しているにも拘わらず、不良品とみなされるような事態
を回避することができる。
【図１】本発明の発光素子アレー検査装置の一実施形態
を示したブロック図である。
を示したブロック図である。
【図２】図１の実施形態の各部の信号を示した図であ
る。
る。
【図３】自己走査型発光素子アレーの等価回路を示した
図である。
図である。
【図４】図３の発光素子アレーを駆動するための信号を
示した図である。
示した図である。
１ 発光素子アレー ２ 受光素子 ３ 制御部 ４ 駆動回路 ＳＲ１〜ＳＲ５ 発光用サイリスタ ＳＲ１′〜ＳＲ５′ 転送用サイリスタ
Claims (1)
- 【請求項１】 列状に配列された複数の発光用サイリス
タと、前記発光用サイリスタに対応して設けられ、前記
発光用サイリスタを走査するための複数の転送用サイリ
スタとを有する自己走査型発光素子アレーの検査装置で
あって、前記発光用サイリスタをオフした状態で前記転
送用サイリスタのみを順次オンし、各々の転送用サイリ
スタのオンしているときの発光輝度を測定する手段と、
前記転送用サイリスタを順次オンすることで前記発光用
サイリスタを順次オンし、各々の発光用サイリスタのオ
ンしているときの発光輝度を測定する手段とを備え、測
定された転送用サイリスタの発光輝度及び発光用サイリ
スタの発光輝度を各々設定された基準値と比較すること
によって、発光素子アレーの良否を判定することを特徴
とする発光素子アレー検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17513596A JP3332731B2 (ja) | 1996-07-04 | 1996-07-04 | 発光素子アレー検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17513596A JP3332731B2 (ja) | 1996-07-04 | 1996-07-04 | 発光素子アレー検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1019664A true JPH1019664A (ja) | 1998-01-23 |
| JP3332731B2 JP3332731B2 (ja) | 2002-10-07 |
Family
ID=15990909
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17513596A Expired - Fee Related JP3332731B2 (ja) | 1996-07-04 | 1996-07-04 | 発光素子アレー検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3332731B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100762853B1 (ko) | 2006-04-27 | 2007-10-08 | (주)티에스이 | 발광 다이오드 테스트 시스템 |
| JP2010284932A (ja) * | 2009-06-15 | 2010-12-24 | Suzuka Fuji Xerox Co Ltd | プリントヘッドの検査装置 |
| JP2019096743A (ja) * | 2017-11-22 | 2019-06-20 | 富士ゼロックス株式会社 | 発光部品、プリントヘッド及び画像形成装置 |
-
1996
- 1996-07-04 JP JP17513596A patent/JP3332731B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100762853B1 (ko) | 2006-04-27 | 2007-10-08 | (주)티에스이 | 발광 다이오드 테스트 시스템 |
| JP2010284932A (ja) * | 2009-06-15 | 2010-12-24 | Suzuka Fuji Xerox Co Ltd | プリントヘッドの検査装置 |
| JP2019096743A (ja) * | 2017-11-22 | 2019-06-20 | 富士ゼロックス株式会社 | 発光部品、プリントヘッド及び画像形成装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3332731B2 (ja) | 2002-10-07 |
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