JPH10178516A - 測定対象を画素ごとに光電測定するための走査装置 - Google Patents
測定対象を画素ごとに光電測定するための走査装置Info
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- JPH10178516A JPH10178516A JP9334186A JP33418697A JPH10178516A JP H10178516 A JPH10178516 A JP H10178516A JP 9334186 A JP9334186 A JP 9334186A JP 33418697 A JP33418697 A JP 33418697A JP H10178516 A JPH10178516 A JP H10178516A
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- H04N2201/0468—Scanning in both of the two directions, e.g. during the forward and return movements
Abstract
(57)【要約】
【課題】 静止した測定対象の画像全体を十分な解像度
で完全自動走査でき、とりわけスペクトル走査の際にも
甘受できる構造コストにより短時間で走査できるように
改善すること。 【解決手段】 走査機構(100)は多数の走査ヘッド
(120)を、測定対象(B)の複数画素(P)を画素
ごとに測定するために有し、前記測定対象の画素数は走
査ヘッドの数に相当し、実質的に第1の方向(y)に一
列に並んでおり、前記測定ヘッド(120)は、前記第
1の方向(y)に対して実質的に横方向に延在する第2
の方向(x)に全体で可動であるように構成されてお
り、前記測定対象(B)は、第2の方向(x)に対して
平行な多数の第1の走査トラック(Sa)で走査され
る。
で完全自動走査でき、とりわけスペクトル走査の際にも
甘受できる構造コストにより短時間で走査できるように
改善すること。 【解決手段】 走査機構(100)は多数の走査ヘッド
(120)を、測定対象(B)の複数画素(P)を画素
ごとに測定するために有し、前記測定対象の画素数は走
査ヘッドの数に相当し、実質的に第1の方向(y)に一
列に並んでおり、前記測定ヘッド(120)は、前記第
1の方向(y)に対して実質的に横方向に延在する第2
の方向(x)に全体で可動であるように構成されてお
り、前記測定対象(B)は、第2の方向(x)に対して
平行な多数の第1の走査トラック(Sa)で走査され
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、測定対象、有利に
は多色印刷印刷版を画素ごとに光電測定するための走査
装置であって、 測定台と、走査機構と、駆動装置と、制御装置と、処理
装置とを有し、 前記測定台には測定対象が測定のために固定され、 前記走査機構は、測定対象の表面を可動であり、測定対
象の少なくとも1つの画素をそれぞれ光電的に走査し、 前記駆動装置は走査機構を測定対象の上で、測定対象の
画素全部が検出されるように移動させ、 前記制御装置は、走査機構と駆動装置に対するものであ
り、 前記処理装置は、測定対象の走査された画素から走査機
構により形成された測定信号を処理し、評価する形式の
走査装置に関する。
は多色印刷印刷版を画素ごとに光電測定するための走査
装置であって、 測定台と、走査機構と、駆動装置と、制御装置と、処理
装置とを有し、 前記測定台には測定対象が測定のために固定され、 前記走査機構は、測定対象の表面を可動であり、測定対
象の少なくとも1つの画素をそれぞれ光電的に走査し、 前記駆動装置は走査機構を測定対象の上で、測定対象の
画素全部が検出されるように移動させ、 前記制御装置は、走査機構と駆動装置に対するものであ
り、 前記処理装置は、測定対象の走査された画素から走査機
構により形成された測定信号を処理し、評価する形式の
走査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この形式の走査装置は一般的にはスキャ
ナと称される。従来のスキャナの第1に公知の形式は個
別の測定ヘッドを有し、この測定ヘッドは1次元または
2次元で測定対象に対して相対的に移動することができ
る。測定ヘッドが1次元で移動する場合には、測定対象
は別の次元で移動する。測定ヘッドはそれぞれ測定対象
の小さな領域、いわゆる画素またはピクセルを光電的に
走査する。この場合、それぞれ走査すべき画素は測定ヘ
ッドまたは測定対象の相応の運動によって個別に走査さ
れる。走査は一般的には濃度測定で行われるが、カラー
測定ヘッドまたはスペクトル測定ヘッドを有するスキャ
ナもすでに公知である。この公知のスキャナの欠点は、
測定すべき画素を個別に走査するために必要な時間が通
常の大きさの印刷版を完全に走査するには大きいことで
あり、そのためこのスキャナは現在の印刷機の自動制御
に使用するには適しない。
ナと称される。従来のスキャナの第1に公知の形式は個
別の測定ヘッドを有し、この測定ヘッドは1次元または
2次元で測定対象に対して相対的に移動することができ
る。測定ヘッドが1次元で移動する場合には、測定対象
は別の次元で移動する。測定ヘッドはそれぞれ測定対象
の小さな領域、いわゆる画素またはピクセルを光電的に
走査する。この場合、それぞれ走査すべき画素は測定ヘ
ッドまたは測定対象の相応の運動によって個別に走査さ
れる。走査は一般的には濃度測定で行われるが、カラー
測定ヘッドまたはスペクトル測定ヘッドを有するスキャ
ナもすでに公知である。この公知のスキャナの欠点は、
測定すべき画素を個別に走査するために必要な時間が通
常の大きさの印刷版を完全に走査するには大きいことで
あり、そのためこのスキャナは現在の印刷機の自動制御
に使用するには適しない。
【0003】公知のスキャナの別の形式はこれまで専ら
濃度測定として動作していた。この形式のスキャナは、
静止した複数の測定ヘッドがライン状に配置されてお
り、この複数の測定ヘッドは測定対象の画素のライン全
体を同時にまたはシーケンシャルに走査することができ
る。さらに画素ラインを検出するためには、測定対象が
測定ヘッド構成体に対して相対的に移動される。このよ
うなスキャナは、印刷機で連続印刷中に印刷版を直接測
定するために使用される。しかしこのスキャナは、静止
した印刷版の画像面全体を完全自動走査するには適さな
い。
濃度測定として動作していた。この形式のスキャナは、
静止した複数の測定ヘッドがライン状に配置されてお
り、この複数の測定ヘッドは測定対象の画素のライン全
体を同時にまたはシーケンシャルに走査することができ
る。さらに画素ラインを検出するためには、測定対象が
測定ヘッド構成体に対して相対的に移動される。このよ
うなスキャナは、印刷機で連続印刷中に印刷版を直接測
定するために使用される。しかしこのスキャナは、静止
した印刷版の画像面全体を完全自動走査するには適さな
い。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は冒頭に
述べた形式の走査装置において、静止した測定対象の画
像全体を十分な解像度で完全自動走査でき、とりわけス
ペクトル走査の際にも甘受できる構造コストにより短時
間で走査できるように改善することである。
述べた形式の走査装置において、静止した測定対象の画
像全体を十分な解像度で完全自動走査でき、とりわけス
ペクトル走査の際にも甘受できる構造コストにより短時
間で走査できるように改善することである。
【0005】本発明の別の課題は、直交走査パターンに
従って連続走査するための条件を整えることである。
従って連続走査するための条件を整えることである。
【0006】本発明の別の課題は、できるだけ小さな構
造コストによって十分に高い解像度を達成することであ
る。
造コストによって十分に高い解像度を達成することであ
る。
【0007】さらに本発明により、構造的に簡単で、使
用する測定光を最適に利用した解像度が、可視領域にあ
るスペクトル成分と測定光のIR成分との測定で同時に
得られるようにする。
用する測定光を最適に利用した解像度が、可視領域にあ
るスペクトル成分と測定光のIR成分との測定で同時に
得られるようにする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この課題は本発明によ
り、走査機構は多数の走査ヘッドを、測定対象の複数画
素を画素ごとに測定するために有し、前記測定対象の画
素数は走査ヘッドの数に相当し、実質的に第1の方向に
一列に並んでおり、前記測定ヘッドは、前記第1の方向
に対して実質的に横方向に延在する第2の方向に全体で
可動であるように構成されており、前記測定対象は、第
2の方向に対して平行な多数の第1の走査トラックで走
査されるように構成して解決される。
り、走査機構は多数の走査ヘッドを、測定対象の複数画
素を画素ごとに測定するために有し、前記測定対象の画
素数は走査ヘッドの数に相当し、実質的に第1の方向に
一列に並んでおり、前記測定ヘッドは、前記第1の方向
に対して実質的に横方向に延在する第2の方向に全体で
可動であるように構成されており、前記測定対象は、第
2の方向に対して平行な多数の第1の走査トラックで走
査されるように構成して解決される。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明の有利な形態は従属請求項
に記載されている。
に記載されている。
【0010】本発明の走査装置は一般的構成において通
常の測定装置に相当し、例えばグラフィック産業分野で
典型的なように印刷プロセスから取り出される印刷版を
画素ごとに光電測定するために使用される。走査装置は
やや傾斜した矩形の測定台Tの形態の下部構造を有し、
この測定台に測定すべき印刷版、測定対象Bを位置決め
することができる。測定対象を位置決めするために図示
しないストッパが設けられている。測定対象を測定台T
に固定することは有利には静電的にまたは公知の吸引機
構を用いて行う。測定台Tには測定キャリッジWが配置
されており、この測定キャリッジに本来の走査機構(こ
こでは図示せず)が配置されている。測定キャリッジW
は測定台の深さを越えて座標方向yに伸長しており、電
動的にその幅にわたって座標方向xに線形に往復運動す
る。ここでは相応する駆動および制御装置が測定キャリ
ッジWおよび測定台Tに設けられている。駆動装置は図
面には象徴的にのみ参照符号Aによって示されている。
走査機構はさらに処理装置をキーボードKとカラーモニ
タMを備えたコンピュータCの形態で有している。コン
ピュータCは、測定台Tまたは測定キャリッジWの制御
装置と共働し、測定キャリッジWに存在する走査機構に
より形成される測定信号を処理する。
常の測定装置に相当し、例えばグラフィック産業分野で
典型的なように印刷プロセスから取り出される印刷版を
画素ごとに光電測定するために使用される。走査装置は
やや傾斜した矩形の測定台Tの形態の下部構造を有し、
この測定台に測定すべき印刷版、測定対象Bを位置決め
することができる。測定対象を位置決めするために図示
しないストッパが設けられている。測定対象を測定台T
に固定することは有利には静電的にまたは公知の吸引機
構を用いて行う。測定台Tには測定キャリッジWが配置
されており、この測定キャリッジに本来の走査機構(こ
こでは図示せず)が配置されている。測定キャリッジW
は測定台の深さを越えて座標方向yに伸長しており、電
動的にその幅にわたって座標方向xに線形に往復運動す
る。ここでは相応する駆動および制御装置が測定キャリ
ッジWおよび測定台Tに設けられている。駆動装置は図
面には象徴的にのみ参照符号Aによって示されている。
走査機構はさらに処理装置をキーボードKとカラーモニ
タMを備えたコンピュータCの形態で有している。コン
ピュータCは、測定台Tまたは測定キャリッジWの制御
装置と共働し、測定キャリッジWに存在する走査機構に
より形成される測定信号を処理する。
【0011】測定キャリッジWはさらに下で詳細に説明
する本来の走査機構100を有し、この走査機構は図2
と図5に示すように、多数の測定ヘッド120を備えた
実質的にほぼアーム状の測定ヘッド構成体110、光源
130、光分配器140および受信ユニット160を有
する。図4からわかるように測定キャリッジWは実質的
にほぼ桶状の3つの支持要素W1,W2,W3を有し、
これら支持要素は相互に取り付けられており、相対的に
可動であるように配置されている。測定ヘッド構成体1
10は第3の、最上位の支持要素W3に取り付けられて
いる。走査機構のその他の要素は第1の、最下位の支持
要素W1に配置されている。第1の支持要素W1は図4
には詳細に示されていない。第1の最下位の支持要素W
1は、測定台Tに対して平行の面に、測定台Tの幅にわ
たって線形横方向に往復運動するよう配置されている。
第1の支持要素W1はまたx軸方向(図1)に可動であ
る。ここでこの方向はその符号に関係なく以下、第2の
方向xと称する。第2の支持要素W2は第1の支持要素
W1に取り付けられており、これに対して相対的に、一
方では測定台Tに対して平行の面でy軸方向に平行にず
らすことができ、他方では測定台の面に対して垂直のz
軸(図1参照)を中心にして2つの角度位置の間を旋回
運動方向vに旋回する。第2の支持要素のy運動方向は
以下、符号に関係なく第1の方向yと称する。最後に、
第3の支持要素W3は第2の支持要素W2に取り付けら
れており、これに対して相対的にz軸の方向に、すなわ
ちその高さを測定台Tの表面に対して調整可能である。
図4からわかるように、第1の支持要素W1およびひい
ては測定キャリッジW全体は下側端部でローラ1に支承
されてり、またその上側端部では測定台Tに取り付けら
れたレール2により案内され、かつ電動的に駆動される
搬送ベルト3に固定されている。搬送ベルトは第1の支
持要素W1およびひいては測定キャリッジ全体Wを測定
台の上で横方向に往復牽引する。搬送ベルト3は駆動装
置Aの一部である。
する本来の走査機構100を有し、この走査機構は図2
と図5に示すように、多数の測定ヘッド120を備えた
実質的にほぼアーム状の測定ヘッド構成体110、光源
130、光分配器140および受信ユニット160を有
する。図4からわかるように測定キャリッジWは実質的
にほぼ桶状の3つの支持要素W1,W2,W3を有し、
これら支持要素は相互に取り付けられており、相対的に
可動であるように配置されている。測定ヘッド構成体1
10は第3の、最上位の支持要素W3に取り付けられて
いる。走査機構のその他の要素は第1の、最下位の支持
要素W1に配置されている。第1の支持要素W1は図4
には詳細に示されていない。第1の最下位の支持要素W
1は、測定台Tに対して平行の面に、測定台Tの幅にわ
たって線形横方向に往復運動するよう配置されている。
第1の支持要素W1はまたx軸方向(図1)に可動であ
る。ここでこの方向はその符号に関係なく以下、第2の
方向xと称する。第2の支持要素W2は第1の支持要素
W1に取り付けられており、これに対して相対的に、一
方では測定台Tに対して平行の面でy軸方向に平行にず
らすことができ、他方では測定台の面に対して垂直のz
軸(図1参照)を中心にして2つの角度位置の間を旋回
運動方向vに旋回する。第2の支持要素のy運動方向は
以下、符号に関係なく第1の方向yと称する。最後に、
第3の支持要素W3は第2の支持要素W2に取り付けら
れており、これに対して相対的にz軸の方向に、すなわ
ちその高さを測定台Tの表面に対して調整可能である。
図4からわかるように、第1の支持要素W1およびひい
ては測定キャリッジW全体は下側端部でローラ1に支承
されてり、またその上側端部では測定台Tに取り付けら
れたレール2により案内され、かつ電動的に駆動される
搬送ベルト3に固定されている。搬送ベルトは第1の支
持要素W1およびひいては測定キャリッジ全体Wを測定
台の上で横方向に往復牽引する。搬送ベルト3は駆動装
置Aの一部である。
【0012】アーム状の測定ヘッド構成体110は測定
キャリッジWの長手伸長方向に対して平行に配向されて
おり、その構成によって測定キャリッジWの第3の最上
位の支持要素W3上で4つの運動自由度を有する。すな
わち、始点と終点の間を第2の方向(x軸)に線形往復
運動し、第1の方向(y軸)に上下に線形平行移動し、
測定台Tに対してレベル調整し(z座標、高さh)、z
軸を中心に第1と第2の角度位置の間を旋回運動(旋回
方向v)する。測定ヘッド構成体110の運動はその4
つの自由度に応じて、すでに述べた駆動装置Aにより制
御装置Sと共働して行われる。この制御装置は上位の制
御命令をコンピュータCから受け取る。
キャリッジWの長手伸長方向に対して平行に配向されて
おり、その構成によって測定キャリッジWの第3の最上
位の支持要素W3上で4つの運動自由度を有する。すな
わち、始点と終点の間を第2の方向(x軸)に線形往復
運動し、第1の方向(y軸)に上下に線形平行移動し、
測定台Tに対してレベル調整し(z座標、高さh)、z
軸を中心に第1と第2の角度位置の間を旋回運動(旋回
方向v)する。測定ヘッド構成体110の運動はその4
つの自由度に応じて、すでに述べた駆動装置Aにより制
御装置Sと共働して行われる。この制御装置は上位の制
御命令をコンピュータCから受け取る。
【0013】アーム状の測定ヘッド構成体110は測定
キャリッジWに、測定対象Bにわずかな間隔をおいて配
置される。この測定ヘッド構成体は1つのアーム状のブ
ロックにまとめられたn個(典型的には160)の測定
ヘッド120からなる。これらの測定ヘッドはそれぞれ
1つの供給側光導体121と導出側光導体122を有す
る。これらの光導体は、測定対象Bを直径約2〜3mm
の制限された領域で照明光により照射し、この領域から
反射された測定光を外に導くように構成されている(図
2および図3)。ここでは、反射された測定光が入射方
向に対して約45゜の角度βで検出されるように構成さ
れている。個々の測定ヘッド120には光学素子123
および124が設けられている。これら光学素子は供給
側導体121から供給される照明光を適切に前記領域に
集束し、ここから反射される光を導出側光導体122に
入力結合する。これら光学素子123,124は従来の
光学レンズまたは勾配屈折素子とすることができる。測
定ヘッド120により検出された測定対象Bの領域は以
下、測定対象Bの画素またはピクセルPと称する。これ
らピクセルPの、z軸方向における測定ヘッド構成体1
10ないし測定ヘッド120への投影、すなわち測定ヘ
ッド構成体を基準にした測定位置をP’とする。測定ヘ
ッド120の配置構成は、測定位置P’が直線L1にあ
り、等間隔aで相互に並置されるようになされている
(図6)。
キャリッジWに、測定対象Bにわずかな間隔をおいて配
置される。この測定ヘッド構成体は1つのアーム状のブ
ロックにまとめられたn個(典型的には160)の測定
ヘッド120からなる。これらの測定ヘッドはそれぞれ
1つの供給側光導体121と導出側光導体122を有す
る。これらの光導体は、測定対象Bを直径約2〜3mm
の制限された領域で照明光により照射し、この領域から
反射された測定光を外に導くように構成されている(図
2および図3)。ここでは、反射された測定光が入射方
向に対して約45゜の角度βで検出されるように構成さ
れている。個々の測定ヘッド120には光学素子123
および124が設けられている。これら光学素子は供給
側導体121から供給される照明光を適切に前記領域に
集束し、ここから反射される光を導出側光導体122に
入力結合する。これら光学素子123,124は従来の
光学レンズまたは勾配屈折素子とすることができる。測
定ヘッド120により検出された測定対象Bの領域は以
下、測定対象Bの画素またはピクセルPと称する。これ
らピクセルPの、z軸方向における測定ヘッド構成体1
10ないし測定ヘッド120への投影、すなわち測定ヘ
ッド構成体を基準にした測定位置をP’とする。測定ヘ
ッド120の配置構成は、測定位置P’が直線L1にあ
り、等間隔aで相互に並置されるようになされている
(図6)。
【0014】測定ヘッド120の供給側光導体121お
よび導出側光導体122は実質的にドラム状に構成され
た光分配器140と結合されており、等間隔に2つの円
形ラインに沿って光分配器の端面に開口している。図5
ではわかりやすくするため、光導体121ないし122
は光分配器140の対向する端面で開口している。実際
には光導体121,122の開口部は同じ端面で2つの
同心円形ラインに沿っている。光分配器140の内部に
は、モータ146により同じ形状で駆動されるロータ1
41が配置されている。このロータは2つの光導体ブリ
ッジ142と143を有する。これらの一方142は回
転中に、軸方向に開口する光供給導体144を順次、供
給側光導体121と光学的に結合し、他方143は同じ
ように軸方向に開口する光導出導体145を順次、導出
側光導体122と光学的に結合する。ここではそれぞれ
の結合は周期的に繰り返して行われ、それぞれ同じ測定
ヘッド120に所属する供給側光導体と導出側光導体1
21と122が同時に光供給導体144および光導出導
体145に結合される。さらに光導体121と122
は、測定ヘッド構成体110の個々の測定ヘッド120
がそれぞれシーケンシャルに、すなわちラインごとに周
期的に作動されるように構成されている。
よび導出側光導体122は実質的にドラム状に構成され
た光分配器140と結合されており、等間隔に2つの円
形ラインに沿って光分配器の端面に開口している。図5
ではわかりやすくするため、光導体121ないし122
は光分配器140の対向する端面で開口している。実際
には光導体121,122の開口部は同じ端面で2つの
同心円形ラインに沿っている。光分配器140の内部に
は、モータ146により同じ形状で駆動されるロータ1
41が配置されている。このロータは2つの光導体ブリ
ッジ142と143を有する。これらの一方142は回
転中に、軸方向に開口する光供給導体144を順次、供
給側光導体121と光学的に結合し、他方143は同じ
ように軸方向に開口する光導出導体145を順次、導出
側光導体122と光学的に結合する。ここではそれぞれ
の結合は周期的に繰り返して行われ、それぞれ同じ測定
ヘッド120に所属する供給側光導体と導出側光導体1
21と122が同時に光供給導体144および光導出導
体145に結合される。さらに光導体121と122
は、測定ヘッド構成体110の個々の測定ヘッド120
がそれぞれシーケンシャルに、すなわちラインごとに周
期的に作動されるように構成されている。
【0015】光供給導体144は光源130と結合され
ている。この光源はキセノンランプ131を有し、場合
により凹面鏡132およびレンズ系133を有する。こ
れらはランプ131から発した照明光を光導体144に
入力結合する。光分配器140によって、個々の測定ヘ
ッド120が周期的にシーケンシャルに光源130と結
合される。ここで各測定ヘッド120は全体で使用され
る照明光を受け、照明光が個々の測定ヘッド120に強
度に応じて分配されることはない。このようにして光源
130の出力を比較的小さくすることができる。
ている。この光源はキセノンランプ131を有し、場合
により凹面鏡132およびレンズ系133を有する。こ
れらはランプ131から発した照明光を光導体144に
入力結合する。光分配器140によって、個々の測定ヘ
ッド120が周期的にシーケンシャルに光源130と結
合される。ここで各測定ヘッド120は全体で使用され
る照明光を受け、照明光が個々の測定ヘッド120に強
度に応じて分配されることはない。このようにして光源
130の出力を比較的小さくすることができる。
【0016】光導出導体145は受信ユニット160と
結合されており、これにより受信ユニットも光分配器1
40を介して周期的にシーケンシャルに個々の測定ヘッ
ド120と結合される。受信ユニット160は分光光度
計として構成されており、拡散素子として凹面状ホログ
ラフィック反射屈折格子161と、例えばラインCCD
フィールドまたはフォトダイオードフィールドの形態の
光電変換器ライン162を測定変換器として有する。変
換器ライン162は拡散素子161により形成された1
次の干渉最大領域に配置されている。ここで変換器ライ
ンの個々の変換素子には、測定光の可視成分のうち相対
的に狭いスペクトル領域、例えば10〜20nmだけが
それぞれ供給される。
結合されており、これにより受信ユニットも光分配器1
40を介して周期的にシーケンシャルに個々の測定ヘッ
ド120と結合される。受信ユニット160は分光光度
計として構成されており、拡散素子として凹面状ホログ
ラフィック反射屈折格子161と、例えばラインCCD
フィールドまたはフォトダイオードフィールドの形態の
光電変換器ライン162を測定変換器として有する。変
換器ライン162は拡散素子161により形成された1
次の干渉最大領域に配置されている。ここで変換器ライ
ンの個々の変換素子には、測定光の可視成分のうち相対
的に狭いスペクトル領域、例えば10〜20nmだけが
それぞれ供給される。
【0017】さらに受信ユニット160は本発明の別の
重要な実施例に従って、付加的光受信器163を有す
る。この付加的光受信器は変換器ライン162とは異な
り、1次の屈折最大領域に配置されるのではなく、0次
の屈折最大領域に配置される。この光受信器は、例えば
前置されたフィルタ164を用い測定光の赤外線成分の
領域にある選択された波長領域に感度を有する。付加的
光受信器163および0次屈折最大領域におけるその特
別な構成によって、測定に対する構造コストをスペクト
ルの可視領域においても赤外線領域においても低く押さ
えることができ、同時に測定光を最適に使用することが
できる。
重要な実施例に従って、付加的光受信器163を有す
る。この付加的光受信器は変換器ライン162とは異な
り、1次の屈折最大領域に配置されるのではなく、0次
の屈折最大領域に配置される。この光受信器は、例えば
前置されたフィルタ164を用い測定光の赤外線成分の
領域にある選択された波長領域に感度を有する。付加的
光受信器163および0次屈折最大領域におけるその特
別な構成によって、測定に対する構造コストをスペクト
ルの可視領域においても赤外線領域においても低く押さ
えることができ、同時に測定光を最適に使用することが
できる。
【0018】変換器ライン162と付加的光受信器16
3には、増幅器およびA/D変換器170が後置接続さ
れている。この増幅器およびA/D変換器は、変換器ラ
イン162および付加的光受信器163により形成され
た測定信号(反射された測定光に相当する)を後置接続
された処理装置、ここではコンピュータCにより処理可
能な形式に変換する。変換器ライン162により形成さ
れた、測定光の可視スペクトル成分を表す測定信号を以
下、スペクトル測定信号と称し、赤外線光受信器163
により形成された、測定光の赤外線成分を表す測定信号
を以下、IR測定信号と称する。
3には、増幅器およびA/D変換器170が後置接続さ
れている。この増幅器およびA/D変換器は、変換器ラ
イン162および付加的光受信器163により形成され
た測定信号(反射された測定光に相当する)を後置接続
された処理装置、ここではコンピュータCにより処理可
能な形式に変換する。変換器ライン162により形成さ
れた、測定光の可視スペクトル成分を表す測定信号を以
下、スペクトル測定信号と称し、赤外線光受信器163
により形成された、測定光の赤外線成分を表す測定信号
を以下、IR測定信号と称する。
【0019】光分配器140は本発明の別の有利な構成
に従い、測定ヘッド120の数nまたはこれに配属され
た供給側と導出側の光導体121および122の数より
も3倍多くの入力および出力側を有する。これら付加的
入力側の1つは、較正光導体151により直接、すなわ
ち測定ヘッド120を介する迂回路なしで所属の出力側
と結合されている。これによりロータ141が相応の位
置にあるとき、光源130は1回転ごとに一度直接、受
信ユニット160と結合される。このときに形成された
測定信号を制御装置Sまたは処理装置Cにより走査機構
100の較正のために評価することができる。光分配器
140の他方の入力側には同期光導体152が接続され
ている。この同期光導体は別の光センサ153に導か
れ、この光センサは制御装置Sに接続されている。光セ
ンサ153はロータ141の1回転ごとに直接、光源1
30と結合される。このときに形成された信号は制御装
置Sまたは処理装置Cによって、走査機構100の同期
のために評価することができる。第3の出力側は非接続
入力側(すなわち光が印加されない)に配属されてお
り、測定装置の暗較正に用いる。
に従い、測定ヘッド120の数nまたはこれに配属され
た供給側と導出側の光導体121および122の数より
も3倍多くの入力および出力側を有する。これら付加的
入力側の1つは、較正光導体151により直接、すなわ
ち測定ヘッド120を介する迂回路なしで所属の出力側
と結合されている。これによりロータ141が相応の位
置にあるとき、光源130は1回転ごとに一度直接、受
信ユニット160と結合される。このときに形成された
測定信号を制御装置Sまたは処理装置Cにより走査機構
100の較正のために評価することができる。光分配器
140の他方の入力側には同期光導体152が接続され
ている。この同期光導体は別の光センサ153に導か
れ、この光センサは制御装置Sに接続されている。光セ
ンサ153はロータ141の1回転ごとに直接、光源1
30と結合される。このときに形成された信号は制御装
置Sまたは処理装置Cによって、走査機構100の同期
のために評価することができる。第3の出力側は非接続
入力側(すなわち光が印加されない)に配属されてお
り、測定装置の暗較正に用いる。
【0020】ここまで説明した走査装置の作用を以下説
明する。ここではすべての機能経過はコンピュータCに
より制御装置Sと関連して制御されることを前提とす
る。
明する。ここではすべての機能経過はコンピュータCに
より制御装置Sと関連して制御されることを前提とす
る。
【0021】まず走査機構100は測定対象Bの厚さに
適合される。このために測定キャリッジWが測定対象B
の上を、測定ヘッド120が測定対象Bの縁部領域に接
近するまで走行される。次に測定キャリッジWが静止し
ているとき、測定対象Bの最初の走査が、測定台T上の
測定ヘッド120の高さhが種々異なるときに行われ
る。この高さhは、形成される測定信号が最大値に達す
るまで調整される。ここで発見されたレベル調整hは記
憶され、別の測定対象Bの走査まで維持される。自動的
なレベル適合はレベル調整装置によって行われ、このレ
ベル調整装置は駆動装置Aにより制御装置およびコンピ
ュータCと関連して形成されている。
適合される。このために測定キャリッジWが測定対象B
の上を、測定ヘッド120が測定対象Bの縁部領域に接
近するまで走行される。次に測定キャリッジWが静止し
ているとき、測定対象Bの最初の走査が、測定台T上の
測定ヘッド120の高さhが種々異なるときに行われ
る。この高さhは、形成される測定信号が最大値に達す
るまで調整される。ここで発見されたレベル調整hは記
憶され、別の測定対象Bの走査まで維持される。自動的
なレベル適合はレベル調整装置によって行われ、このレ
ベル調整装置は駆動装置Aにより制御装置およびコンピ
ュータCと関連して形成されている。
【0022】次に測定対象Bの本来のピクセルごとの走
査が2回実行される。すなわち、測定キャリッジWが測
定対象Bの左側の開始位置から測定対象Bの右側の終了
位置まで前進運動する間と、測定キャリッジWがその開
始位置に後退運動する間である。
査が2回実行される。すなわち、測定キャリッジWが測
定対象Bの左側の開始位置から測定対象Bの右側の終了
位置まで前進運動する間と、測定キャリッジWがその開
始位置に後退運動する間である。
【0023】図7に示されているように、ここでは画素
ごとの走査は2次元で行われる。すなわち、ラインL1
に沿って順次配置されている測定ヘッド120をシーケ
ンシャルに作動することによって、走査ラインLaに沿
った走査が行われる。この走査ラインLaは実質的に第
1の方向yに対して平行である。測定キャリッジW、ひ
いては測定ヘッド120を第2の方向xに線形運動する
ことにより、各測定ヘッド120は測定対象Bを第1の
走査トラックSaまたは第2の走査トラックSbに沿っ
て走査する。この測定トラックは測定キャリッジWの運
動方向(第2の方向x)に対して平行である。従って、
走査ラインLaと第1および第2の走査トラックSa,
Sbは格子状の走査パターンを形成し、その交点には走
査された画素Pが存在する。画像面を個々の画素Pに分
割することは測定ヘッド120の間隔と、時間的にシー
ケンシャルに測定ヘッドを作動させることによって行わ
れる。個々のトラックSaおよびSbの間隔sは測定ヘ
ッド120の間隔aによって設定される。2つの順次連
続する走査ラインLa間の間隔rは、光分配器140の
ロータが完全に1回転するのに必要な周期持続時間t
と、方向xにおける測定キャリッジWの前進運動によっ
て決められる。測定ヘッド120の配置構成によって決
められる測定ヘッド構成体110の測定位置はP’によ
り示されている。
ごとの走査は2次元で行われる。すなわち、ラインL1
に沿って順次配置されている測定ヘッド120をシーケ
ンシャルに作動することによって、走査ラインLaに沿
った走査が行われる。この走査ラインLaは実質的に第
1の方向yに対して平行である。測定キャリッジW、ひ
いては測定ヘッド120を第2の方向xに線形運動する
ことにより、各測定ヘッド120は測定対象Bを第1の
走査トラックSaまたは第2の走査トラックSbに沿っ
て走査する。この測定トラックは測定キャリッジWの運
動方向(第2の方向x)に対して平行である。従って、
走査ラインLaと第1および第2の走査トラックSa,
Sbは格子状の走査パターンを形成し、その交点には走
査された画素Pが存在する。画像面を個々の画素Pに分
割することは測定ヘッド120の間隔と、時間的にシー
ケンシャルに測定ヘッドを作動させることによって行わ
れる。個々のトラックSaおよびSbの間隔sは測定ヘ
ッド120の間隔aによって設定される。2つの順次連
続する走査ラインLa間の間隔rは、光分配器140の
ロータが完全に1回転するのに必要な周期持続時間t
と、方向xにおける測定キャリッジWの前進運動によっ
て決められる。測定ヘッド120の配置構成によって決
められる測定ヘッド構成体110の測定位置はP’によ
り示されている。
【0024】測定ヘッド120が第1の方向yに対して
平行なラインに沿って配置されていたとすれば、測定キ
ャリッジWの前進運動に基づき走査中には、第1の方向
yに対して傾いた走査ラインLaが得られることとな
る。従って走査パターンは直交しなくなる。このことは
測定信号の評価を格段に難しくする。直交する走査パタ
ーンは理論的には、測定キャリッジWを走査中に走査ラ
インに沿って停止することによって得られる。しかしこ
のことは実際には種々の理由から有利ではない。例えば
このようにすると走査過程全体が不所望に多くの時間を
必要とするようになる。その他に測定キャリッジWをス
テップごとに移動することは機械的に不利である。それ
にもかかわらず測定キャリッジWを連続運動させた場合
でも直交走査パターンが達成されるように本発明の重要
な実施例に従って、測定ヘッド構成体110が前進走行
中に、第1の方向xに対して見越し角α1またはα2だ
け斜めに調整される。この斜め調整は、第2の支持要素
W2をz軸に対して平行な旋回軸を中心に旋回すること
によって行われる。この旋回軸は、測定ヘッド構成体1
10の走査サイクルで最初に作動される測定ヘッド12
0の測定位置P’を通って延在する。見越し角α1およ
びα2は、走査サイクルで最後に作動される測定ヘッド
120の測定位置P’が当該測定ヘッド120の作動時
点で正確に走査ラインLaに重なるように選択される。
この走査ラインLaとは、同じ走査サイクルで最初の測
定ヘッド120がその作動時点で存在していた走査ライ
ンである。測定キャリッジWの後退走行中は測定ヘッド
構成体110の斜め調整は、走査ラインLaの方向を設
定した第1の方向xに対して鏡像的に反対となる。従っ
て2つの見越し角α1とα2は反対の符号を有する同じ
大きさの角度である。
平行なラインに沿って配置されていたとすれば、測定キ
ャリッジWの前進運動に基づき走査中には、第1の方向
yに対して傾いた走査ラインLaが得られることとな
る。従って走査パターンは直交しなくなる。このことは
測定信号の評価を格段に難しくする。直交する走査パタ
ーンは理論的には、測定キャリッジWを走査中に走査ラ
インに沿って停止することによって得られる。しかしこ
のことは実際には種々の理由から有利ではない。例えば
このようにすると走査過程全体が不所望に多くの時間を
必要とするようになる。その他に測定キャリッジWをス
テップごとに移動することは機械的に不利である。それ
にもかかわらず測定キャリッジWを連続運動させた場合
でも直交走査パターンが達成されるように本発明の重要
な実施例に従って、測定ヘッド構成体110が前進走行
中に、第1の方向xに対して見越し角α1またはα2だ
け斜めに調整される。この斜め調整は、第2の支持要素
W2をz軸に対して平行な旋回軸を中心に旋回すること
によって行われる。この旋回軸は、測定ヘッド構成体1
10の走査サイクルで最初に作動される測定ヘッド12
0の測定位置P’を通って延在する。見越し角α1およ
びα2は、走査サイクルで最後に作動される測定ヘッド
120の測定位置P’が当該測定ヘッド120の作動時
点で正確に走査ラインLaに重なるように選択される。
この走査ラインLaとは、同じ走査サイクルで最初の測
定ヘッド120がその作動時点で存在していた走査ライ
ンである。測定キャリッジWの後退走行中は測定ヘッド
構成体110の斜め調整は、走査ラインLaの方向を設
定した第1の方向xに対して鏡像的に反対となる。従っ
て2つの見越し角α1とα2は反対の符号を有する同じ
大きさの角度である。
【0025】方向yで達成される解像度は測定ヘッド1
20の数に依存する。コスト的に許容できる数の測定ヘ
ッド120によりピクセルに対して適切な走査解像度を
達成するために、本発明の別の有利な実施例では、測定
ヘッド構成体110が測定キャリッジWの後退運動の際
に第1の方向で小さな間隔Δsだけ平行にずらされ、後
退運動の際に形成される走査トラックSbが前進運動の
走査トランクSa間の中央に正確に来るようにする。前
進および後退運動を複数回行うことができるならば、測
定ヘッド構成体110を各個々の運動の際に、通常のト
ラック間隔sの端数分だけ相応にずらすことによってさ
らに格段に解像度をあげることができる。
20の数に依存する。コスト的に許容できる数の測定ヘ
ッド120によりピクセルに対して適切な走査解像度を
達成するために、本発明の別の有利な実施例では、測定
ヘッド構成体110が測定キャリッジWの後退運動の際
に第1の方向で小さな間隔Δsだけ平行にずらされ、後
退運動の際に形成される走査トラックSbが前進運動の
走査トランクSa間の中央に正確に来るようにする。前
進および後退運動を複数回行うことができるならば、測
定ヘッド構成体110を各個々の運動の際に、通常のト
ラック間隔sの端数分だけ相応にずらすことによってさ
らに格段に解像度をあげることができる。
【0026】見越し角α1とα2は、第2の方向の解像
度ax、測定ヘッド120の数nと間隔a、走査トラッ
クの総数k*n、光分配器140の周期時間t、測定ヘ
ッド120と関係しない、光分配器140の付加的位置
の数m、および第2の方向xにおける測定ヘッド構成体
110の送り速度uに関連する。ここで正方気の走査パ
ターンを基礎とし、方向xの解像度axと方向yの解像
度ayはそれぞれ約2.5mmであり、測定キャリッジ
Wの往復運動は1回だけであり、走査トラック5a,5
bの総数k*nは測定ヘッド120の数の2倍に等しい
とすれば、見越し角α1とα2に対する角度は約0.1
5゜である。
度ax、測定ヘッド120の数nと間隔a、走査トラッ
クの総数k*n、光分配器140の周期時間t、測定ヘ
ッド120と関係しない、光分配器140の付加的位置
の数m、および第2の方向xにおける測定ヘッド構成体
110の送り速度uに関連する。ここで正方気の走査パ
ターンを基礎とし、方向xの解像度axと方向yの解像
度ayはそれぞれ約2.5mmであり、測定キャリッジ
Wの往復運動は1回だけであり、走査トラック5a,5
bの総数k*nは測定ヘッド120の数の2倍に等しい
とすれば、見越し角α1とα2に対する角度は約0.1
5゜である。
【0027】本発明の走査機構100により許容できる
コストで、色印刷版Bの画素ごとの色測定が迅速かつ効
率的に十分な解像度で印刷版Bの表面全体にわたって可
能となる。従って、共に印刷された色監視ストライプで
の線形測定とは異なり、画像における測定が可能であ
る。その際に得られた測定データを種々の基準に従って
印刷プロセスの自動制御のために処理することができ
る。
コストで、色印刷版Bの画素ごとの色測定が迅速かつ効
率的に十分な解像度で印刷版Bの表面全体にわたって可
能となる。従って、共に印刷された色監視ストライプで
の線形測定とは異なり、画像における測定が可能であ
る。その際に得られた測定データを種々の基準に従って
印刷プロセスの自動制御のために処理することができ
る。
【図1】本発明の走査装置の実施例の簡単な概略図であ
る。
る。
【図2】走査装置の測定ヘッド構成体の基本概略図であ
る。
る。
【図3】測定ヘッド構成体の測定ヘッドを、図2のライ
ンIII−IIIの断面で示す図である。
ンIII−IIIの断面で示す図である。
【図4】走査装置の測定キャリッジを、図1のラインI
V−IVの断面で示す図である。
V−IVの断面で示す図である。
【図5】走査装置の概略図である。
【図6】測定ヘッド構成体の簡単な概略図である。
【図7】走査過程中の測定ヘッド構成体の運動と走査過
程を説明するための概略図である。
程を説明するための概略図である。
A 駆動装置 B 測定対象 T 測定台 W 測定キャリッジ C コンピュータ 100 走査機構 110 測定ヘッド構成体 120 測定ヘッド 130 光源 140 光分配器 160 受信ユニット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H04N 1/107 (71)出願人 390009232 Kurfuersten−Anlage 52−60,Heidelberg,Fede ral Republic of Ger many (72)発明者 クルト リュエグ スイス国 エフレティコーン クヴェレン シュトラーセ 1
Claims (17)
- 【請求項1】 測定対象、有利には多色印刷印刷版を画
素ごとに光電測定するための走査装置であって、 測定台(T)と、走査機構(100)と、駆動装置
(A)と、制御装置(S)と、処理装置(C)とを有
し、 前記測定台(T)には測定対象(B)が測定のために固
定され、 前記走査機構(100)は、測定対象(B)の表面を可
動であり、測定対象(B)の少なくとも1つの画素
(P)をそれぞれ光電的に走査し、 前記駆動装置(A)は走査機構(100)を測定対象
(B)の上で、測定対象(B)の画素(P)全部が検出
されるように移動させ、 前記制御装置(S)は、走査機構(100)と駆動装置
(A)に対するものであり、 前記処理装置(C)は、測定対象(B)の走査された画
素(P)から走査機構(100)により形成された測定
信号を処理し、評価する形式の走査装置において、 前記走査機構(100)は多数の走査ヘッド(120)
を、測定対象(B)の複数画素(P)を画素ごとに測定
するために有し、 前記測定対象の画素数は走査ヘッドの数に相当し、実質
的に第1の方向(y)に一列に並んでおり、 前記測定ヘッド(120)は、前記第1の方向(y)に
対して実質的に横方向に延在する第2の方向(x)に全
体で可動であるように構成されており、 前記測定対象(B)は、第2の方向(x)に対して平行
な多数の第1の走査トラック(Sa)で走査される、こ
とを特徴とする走査装置。 - 【請求項2】 測定ヘッド(120)は駆動装置(A)
により第1の方向(y)に対して平行に全体でずらさ
れ、 前記測定対象(B)は前記第1の走査トラック(Sa)
に対して平行にずらされた多数の第2の走査トラック
(Sb)で走査される、請求項1記載の走査装置。 - 【請求項3】 走査機構(100)は測定対象(B)
を、測定ヘッド(120)の始点から終点までの前進運
動の間、前記第1の走査トラック(Sa)に沿って走査
し、測定ヘッドの終点から始点までの後退運動の間、前
記第2の走査トラック(Sb)に沿って走査する、請求
項2記載の走査装置。 - 【請求項4】 走査機構(100)は走査ヘッド(12
0)を周期的にシーケンシャルに作動する請求項1から
3までのいずれか1項記載の走査装置。 - 【請求項5】 測定ヘッド(120)は測定対象(B)
をその全体運動中に、走査トラック(Sa,Sb)に沿
って走査し、実質的に直線ライン(L1)に沿って配置
されており、 該ラインは第1の方向(y)に対して、走査サイクル中
に走査される測定対象(B)の画素(P)が第1の方向
(y)に対して平行な走査ライン(La)に沿って並ぶ
ような見越し角(α1)だけ傾いている、請求項4記載
の走査装置。 - 【請求項6】 測定ヘッド(120)全体は、駆動装置
(A)によって測定台(T)に対して平行な面内で第1
と第2の角度位置(α1,α2)の間を旋回可能であ
り、 駆動装置(A)は測定ヘッド(120)をその前進運動
の間は第1の角度位置(α1)に旋回し、後退運動の間
は第2の角度位置(α2)に旋回し、 ライン(L1)に沿って測定ヘッド(120)が配置さ
れており、当該ライン(L1)は前記2つの角度位置
(α1,α2)においては第1の方向(y)に対して見
越し角(α1,α2)だけ鏡像的に反対に傾いている、
請求項3から5までのいずれか1項記載の走査装置。 - 【請求項7】 測定ヘッド(120)全体は測定台
(T)までの間隔に関してレベル調整可能であり、 駆動装置(A)はレベル調整装置(A,S,C)を、測
定台(T)から測定ヘッド(120)までの間隔を測定
対象(B)の厚さに自動適合するために有している、請
求項1から6までのいずれか1項記載の走査装置。 - 【請求項8】 測定ヘッド(120)はそれぞれ、照明
光を測定対象(B)に供給する光導体(121)と、測
定対象(B)から反射された測定光を導出する光導体
(122)とを有し、 走査機構(100)は光源(130)、受信ユニット
(160)および光分配器(140)を有し、 前記光分配器(140)はそれぞれ個々の測定ヘッド
(120)の供給側光導体(121)と導出側光導体
(122)を周期的にシーケンシャルに光源(130)
および受信ユニット(160)に結合する、請求項1か
ら7までのいずれか1項記載の走査装置。 - 【請求項9】 光分配器(140)は同期して回転する
2つの光導体ブリッジ(142,143)を有し、 該光導体ブリッジは軸方向に配置されたそれぞれ1つの
光導体(144,145)を周期的かつシーケンシャル
に周辺に配置された多数の光導体(121,122)に
光学的に結合する、請求項8記載の走査装置。 - 【請求項10】 受信ユニット(160)は分光光度計
として構成されており、 該分光光度計は、測定対象(B)の画素(P)の走査に
より測定ヘッド(120)から供給された測定光を、可
視スペクトル領域にある所定数の狭帯域スペクトル領域
に分解し、相応の電気スペクトル測定信号に変換する、
請求項8または9記載の走査装置。 - 【請求項11】 受信ユニット(160)は付加的に光
受信器(163)を有しており、 当該光受信器は、測定光の赤外線成分の少なくとも部分
領域を選択的に検出するためのものであり、かつそうす
るIR測定信号を形成するためのものである、請求項1
0記載の走査装置。 - 【請求項12】 受信ユニット(160)は、凹面状反
射屈折格子(161)を拡散素子として、並びにこれに
よって形成された1次の干渉最大領域に配置された光電
変換器ライン(162)を有し、 測定光のIR成分に対する光受信器(163)は、屈折
格子(161)の0次の干渉最大領域に配置されてい
る、請求項11記載の走査装置。 - 【請求項13】 走査機構(100)は、前記第2の方
向(x)に測定台(T)の上を移動する測定キャリッジ
(W)を有しており、 該測定キャリッジには測定ヘッド(120)が取り付け
られており、該測定キャリッジは光源(130)、光分
配器(140)および受信ユニット(160)も支持す
る、請求項8から12までのいずれか1項記載の走査装
置。 - 【請求項14】 測定キャリッジ(W)は3つの支持要
素(W1,W2,W3)を有し、 第1の支持要素(W1)は測定台(T)に対して平行な
面内を前記第2の方向(x)で測定台(T)に対して相
対的に移動し、 第2の支持要素(W2)は第1の支持要素(W1)に取
り付けられており、測定台(T)に対して平行な面内を
前記第1の方向(y)で、前記第1の支持要素に対して
相対的に平行にずらされ、かつ2つの角度位置(α1,
α2)の間を旋回可能であり、 第3の支持要素(W3)は第2の支持要素(W2)に取
り付けられており、測定台(T)に対して垂直方向に前
記第2の支持要素に対して相対的に調整可能であり、か
つ測定ヘッド(120)を支持している、請求項2,
6,7または13記載の走査装置。 - 【請求項15】 光分配器(140)は回転サイクルご
とに少なくとも一度、光源(130)を受信ユニット
(160)と直接結合し、 制御装置(S)または処理装置(C)は、受信ユニット
(160)によってここで形成された測定信号を走査機
構(100)の較正のために評価する、請求項8から1
4までのいずれか1項記載の走査装置。 - 【請求項16】 付加的光センサ(153)が設けられ
ており、 光分配器(140)は回転サイクルごとに少なくとも一
度、光源(130)を前記付加的光センサ(153)と
結合し、 制御装置(S)または処理装置(C)は、付加的光セン
サ(153)により形成された測定信号を走査機構(1
00)の同期のために評価する、請求項8から15まで
のいずれか1項記載の走査装置。 - 【請求項17】 光分配器(140)は、測定装置の暗
較正に対する測定位置を有する、請求項8から16まで
のいずれか1項記載の走査装置。
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