JP2788846B2 - 円筒内面走査装置 - Google Patents
円筒内面走査装置Info
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- JP2788846B2 JP2788846B2 JP25941493A JP25941493A JP2788846B2 JP 2788846 B2 JP2788846 B2 JP 2788846B2 JP 25941493 A JP25941493 A JP 25941493A JP 25941493 A JP25941493 A JP 25941493A JP 2788846 B2 JP2788846 B2 JP 2788846B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、印刷・製版用のCT
P(Computer To Plate )や出力スキャナ等に適用され
る円筒内面走査装置に関する。
P(Computer To Plate )や出力スキャナ等に適用され
る円筒内面走査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】円筒内面走査装置は、既知の通り、円筒
内面ドラム、当該ドラムの内面に装着された感材(フィ
ルムや版素材)、当該ドラムの中心軸に沿って副走査方
向へ移動する走査ヘッド、当該走査ヘッドに配設され上
記中心軸の周りに回転する主走査用の偏向器、及び結像
用のレンズ等を有する装置であって、画像信号等によっ
て変調された光ビームを上記レンズを介して偏向器によ
って偏向して、感材上の主走査方向へ走査・露光するも
のである。本装置のより詳細な構成は、例えば特公昭6
2−19724号公報や特開平5−27190号公報や
特開平5−5846号公報等に開示されている。最近で
は、この円筒内面走査装置は、いわゆるCTPと呼ばれ
る直接製版システムに適用されている。ここで、CTP
とは、文字・図形・絵柄等が統合されたディジタル画像
データに基づいて、網点フィルムを作ることなく、直接
版素材に網点画像を形成して印刷版を作成する装置であ
る。
内面ドラム、当該ドラムの内面に装着された感材(フィ
ルムや版素材)、当該ドラムの中心軸に沿って副走査方
向へ移動する走査ヘッド、当該走査ヘッドに配設され上
記中心軸の周りに回転する主走査用の偏向器、及び結像
用のレンズ等を有する装置であって、画像信号等によっ
て変調された光ビームを上記レンズを介して偏向器によ
って偏向して、感材上の主走査方向へ走査・露光するも
のである。本装置のより詳細な構成は、例えば特公昭6
2−19724号公報や特開平5−27190号公報や
特開平5−5846号公報等に開示されている。最近で
は、この円筒内面走査装置は、いわゆるCTPと呼ばれ
る直接製版システムに適用されている。ここで、CTP
とは、文字・図形・絵柄等が統合されたディジタル画像
データに基づいて、網点フィルムを作ることなく、直接
版素材に網点画像を形成して印刷版を作成する装置であ
る。
【0003】この円筒内面走査装置においては、一般に
BOWと呼ばれる不具合いの発生が知られている。ここ
でBOWとは、本来、主走査方向に平行に生ずべき焼付
けラインが副走査方向へ湾曲して生ずるという事象であ
り、例えば図9(b)に例示したような焼付けラインが
生じる。それに対して、同図(a)はBOWの無い理想
的な場合であり、主走査方向に平行な線49に沿って焼
付けラインが形成されている。
BOWと呼ばれる不具合いの発生が知られている。ここ
でBOWとは、本来、主走査方向に平行に生ずべき焼付
けラインが副走査方向へ湾曲して生ずるという事象であ
り、例えば図9(b)に例示したような焼付けラインが
生じる。それに対して、同図(a)はBOWの無い理想
的な場合であり、主走査方向に平行な線49に沿って焼
付けラインが形成されている。
【0004】このBOWが生じる原因としては、入射
光の光軸方向と結像用レンズの光軸との軸ずれ及び、
入射光の光軸方向に対する結像用レンズの傾きあるいは
結像用レンズに対する入射光の斜め入射による軸ずれが
挙げられる。
光の光軸方向と結像用レンズの光軸との軸ずれ及び、
入射光の光軸方向に対する結像用レンズの傾きあるいは
結像用レンズに対する入射光の斜め入射による軸ずれが
挙げられる。
【0005】そこで、これらの原因、を解決する技
術として、従来より、結像用レンズに光を入射させるた
めの入射ミラーの角度調整を行うことによりBOWを修
正する方法が用いられている。この従来技術を模式的に
例示したものが、図10である。
術として、従来より、結像用レンズに光を入射させるた
めの入射ミラーの角度調整を行うことによりBOWを修
正する方法が用いられている。この従来技術を模式的に
例示したものが、図10である。
【0006】同図において、2枚のミラー50、51は
上記入射ミラーに相当しており、両ミラー50、51で
反射した入射光ILは結像用レンズ52へと入射し、こ
の結像用レンズ52によって、円筒内面ドラムの内面5
3上に装着された版素材(図示せず)上に結像される。
このとき、結像位置は、円筒内面ドラムの中心軸に平行
な副走査方向へずれる(BOWが発生する)こととな
る。そこで、このずれを修正する目的で、両ミラー5
0、51の角度調整を行うこととなる。つまり、ミラー
50の回転調整によって方向54に関する調整を行うと
共に、ミラー51の方向55への傾き調整及び方向56
への回転調整によって、入射光ILの結像用レンズ52
に対する入射角度を調整する。この調整は、結像位置が
本来の位置へ移動するまで行うこととなる。なお、図1
0において、30は主走査用の偏向器、30Aは偏向器
30に設けられた偏向面である。
上記入射ミラーに相当しており、両ミラー50、51で
反射した入射光ILは結像用レンズ52へと入射し、こ
の結像用レンズ52によって、円筒内面ドラムの内面5
3上に装着された版素材(図示せず)上に結像される。
このとき、結像位置は、円筒内面ドラムの中心軸に平行
な副走査方向へずれる(BOWが発生する)こととな
る。そこで、このずれを修正する目的で、両ミラー5
0、51の角度調整を行うこととなる。つまり、ミラー
50の回転調整によって方向54に関する調整を行うと
共に、ミラー51の方向55への傾き調整及び方向56
への回転調整によって、入射光ILの結像用レンズ52
に対する入射角度を調整する。この調整は、結像位置が
本来の位置へ移動するまで行うこととなる。なお、図1
0において、30は主走査用の偏向器、30Aは偏向器
30に設けられた偏向面である。
【0007】以上の調整方法を用いて実際に焼付けライ
ンのBOWを修正するには、次の方法が採用されてい
る。先ず、感材を用意し、反射用ミラーの角度調整を行
って感材上の結像位置をシフトさせる。この状態で光ビ
ームを走査して実際に感材を露光し、焼き付けを行う。
ンのBOWを修正するには、次の方法が採用されてい
る。先ず、感材を用意し、反射用ミラーの角度調整を行
って感材上の結像位置をシフトさせる。この状態で光ビ
ームを走査して実際に感材を露光し、焼き付けを行う。
【0008】次に、焼き付け結果から走査線のBOW量
を測定して、この測定量を踏まえて上記の角度調整を行
う。そして、再び感材を露光・焼き付けして、その調整
結果を確認・測定する。こうして実際に観測されるBO
Wが許容値以内におさまるまで、上記手順を繰り返し実
行していく。
を測定して、この測定量を踏まえて上記の角度調整を行
う。そして、再び感材を露光・焼き付けして、その調整
結果を確認・測定する。こうして実際に観測されるBO
Wが許容値以内におさまるまで、上記手順を繰り返し実
行していく。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来技術は、
感材への焼き付け結果を測定しその結果を逐一フィード
バックして調整を進める方法であるが、その都度感材の
露光(焼き付け)が必要なため最終的に調整が完了する
までに多大な時間を要するという問題点がある。このた
め、調整コストがアップすることとなる。又、調整時に
消費する感材や現象等の諸費用も調整コストをアップさ
せる要因となっている。そのため、係る要因を除去し
て、調整コストを低減させることが強く要望されてい
る。
感材への焼き付け結果を測定しその結果を逐一フィード
バックして調整を進める方法であるが、その都度感材の
露光(焼き付け)が必要なため最終的に調整が完了する
までに多大な時間を要するという問題点がある。このた
め、調整コストがアップすることとなる。又、調整時に
消費する感材や現象等の諸費用も調整コストをアップさ
せる要因となっている。そのため、係る要因を除去し
て、調整コストを低減させることが強く要望されてい
る。
【0010】この発明は係る問題点を解決するためにな
されたものであって、BOWの修正に際して感材を実際
に露光する(焼き付ける)ことなく、リアルタイムで上
記修正を容易に実行できるようにすることを目的として
いる。
されたものであって、BOWの修正に際して感材を実際
に露光する(焼き付ける)ことなく、リアルタイムで上
記修正を容易に実行できるようにすることを目的として
いる。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明では、円筒内面ド
ラムの中心軸に平行な副走査方向に沿って円筒内面ドラ
ムの端面まで移動可能な走査ヘッドと、当該走査ヘッド
に取付けられた結像用のレンズ及び主走査用の偏向器と
を備え、中心軸方向から入射する光ビームをレンズ及び
偏向器を介して円筒内面ドラムの内面に装着された感材
の主走査方向に走査して、感材を露光する円筒内面走査
装置において、感材上での光ビームの結像位置が主走査
方向の本来の走査線から副走査方向側へずれる際のずれ
量を検出する光検出器を、円筒内面ドラムの端面の円周
方向の複数位置に配設し、各光検出器により検出された
光ビームの結像位置のずれ量に基づいて、光ビームの光
路を調整して前記ずれ量を修正する調整手段を設けたも
のである。なお、この発明における感材とは、光ビーム
の熱によって像形成する材料をも含むものとする。
ラムの中心軸に平行な副走査方向に沿って円筒内面ドラ
ムの端面まで移動可能な走査ヘッドと、当該走査ヘッド
に取付けられた結像用のレンズ及び主走査用の偏向器と
を備え、中心軸方向から入射する光ビームをレンズ及び
偏向器を介して円筒内面ドラムの内面に装着された感材
の主走査方向に走査して、感材を露光する円筒内面走査
装置において、感材上での光ビームの結像位置が主走査
方向の本来の走査線から副走査方向側へずれる際のずれ
量を検出する光検出器を、円筒内面ドラムの端面の円周
方向の複数位置に配設し、各光検出器により検出された
光ビームの結像位置のずれ量に基づいて、光ビームの光
路を調整して前記ずれ量を修正する調整手段を設けたも
のである。なお、この発明における感材とは、光ビーム
の熱によって像形成する材料をも含むものとする。
【0012】
【作用】走査ヘッドを、光検出器が配設された円筒内面
ドラムの端面まで移動させる。この位置において光ビー
ムをレンズ及び偏向器に順次に入射して主走査方向へ走
査させると、当該端面の円周方向上の複数位置に配設さ
れた各光検出器は、主走査方向上のそれぞれの位置にお
いて生じる本来の結像位置からのずれ量を検出する。こ
のとき、光ビームの光路調整、例えば入射光ビームに対
して結像用レンズの光軸との角度調整ないし軸ずれ調整
が行われると、その調整に呼応して、各光検出器が検出
する各位置のずれ量に変化が生ずることとなる。従っ
て、この変化を観測しながら上記入射光ビームの光路調
整を行い、感材上での結像位置のずれを修正できる。
ドラムの端面まで移動させる。この位置において光ビー
ムをレンズ及び偏向器に順次に入射して主走査方向へ走
査させると、当該端面の円周方向上の複数位置に配設さ
れた各光検出器は、主走査方向上のそれぞれの位置にお
いて生じる本来の結像位置からのずれ量を検出する。こ
のとき、光ビームの光路調整、例えば入射光ビームに対
して結像用レンズの光軸との角度調整ないし軸ずれ調整
が行われると、その調整に呼応して、各光検出器が検出
する各位置のずれ量に変化が生ずることとなる。従っ
て、この変化を観測しながら上記入射光ビームの光路調
整を行い、感材上での結像位置のずれを修正できる。
【0013】
【実施例】図1は、円筒内面走査装置の一実施例を示す
斜視図である。本円筒内面走査装置は、大別して、円筒
内面ドラム1、支持台4、副走査ベース5、走査ヘッド
6より成る。
斜視図である。本円筒内面走査装置は、大別して、円筒
内面ドラム1、支持台4、副走査ベース5、走査ヘッド
6より成る。
【0014】先ず、円筒内面ドラム1の内面2には、図
示しない版素材が真空吸着等により装着されている。
又、本図においては図示していないが、円筒内面ドラム
1の中心軸14方向の一方の端面3上には、円筒方向に
複数個のスリット付きセンサユニットが取り付けられて
いる。この点の詳細については、後述する。そして、円
筒内面ドラム1の両側面にはそれぞれ支持台4が固設さ
れており、支持台4の一方に配設された調整ねじ13を
介して、当該支持台4上に副走査ベース5が搭載されて
いる。
示しない版素材が真空吸着等により装着されている。
又、本図においては図示していないが、円筒内面ドラム
1の中心軸14方向の一方の端面3上には、円筒方向に
複数個のスリット付きセンサユニットが取り付けられて
いる。この点の詳細については、後述する。そして、円
筒内面ドラム1の両側面にはそれぞれ支持台4が固設さ
れており、支持台4の一方に配設された調整ねじ13を
介して、当該支持台4上に副走査ベース5が搭載されて
いる。
【0015】副走査ベース5の中央部には、円筒内面ド
ラム1に対面した開口部12が形成されており、その上
面11上には2本のレール9が中心軸14方向に平行と
なる様に敷設されている。その平行調整は、予め調整ね
じ13を用いて副走査ベース5をその上面11を含む面
内で2次元的に動かすことによって達成されている。こ
こで、副走査ベース5の端部の内で端面3側の部分は、
同図に示す通り、端面3よりも突出している。これによ
り、走査ヘッド6は端面3上に位置することができる。
勿論、副走査ベース5の反対側の端部も同様に突出して
いる。尚、中心軸14に平行な方向を、以後、副走査方
向と呼ぶ。
ラム1に対面した開口部12が形成されており、その上
面11上には2本のレール9が中心軸14方向に平行と
なる様に敷設されている。その平行調整は、予め調整ね
じ13を用いて副走査ベース5をその上面11を含む面
内で2次元的に動かすことによって達成されている。こ
こで、副走査ベース5の端部の内で端面3側の部分は、
同図に示す通り、端面3よりも突出している。これによ
り、走査ヘッド6は端面3上に位置することができる。
勿論、副走査ベース5の反対側の端部も同様に突出して
いる。尚、中心軸14に平行な方向を、以後、副走査方
向と呼ぶ。
【0016】一方、L字型の走査ヘッド6の一端側は2
本のレール9に遊嵌されており、更に本図では図示しな
いボールネジ(両レール9間に配設されている)に螺合
されている。そして、走査ヘッド6の他端側は前述の開
口部12内に位置しており、ヘッド7が固設されてい
る。従って、走査ヘッド6は、ボールネジからの作用を
受けて、レール9に沿って副走査方向へと移動すること
ができる。
本のレール9に遊嵌されており、更に本図では図示しな
いボールネジ(両レール9間に配設されている)に螺合
されている。そして、走査ヘッド6の他端側は前述の開
口部12内に位置しており、ヘッド7が固設されてい
る。従って、走査ヘッド6は、ボールネジからの作用を
受けて、レール9に沿って副走査方向へと移動すること
ができる。
【0017】上記ヘッド7は、中心軸14上に突出し副
走査方向に対向する2つのヘッド部8、8Aを有してお
り、両ヘッド部8、8Aには、共にその中心軸が中心軸
14と同軸となる貫通孔(図示せず)が形成されてい
る。そして、ヘッド部8の貫通孔内には結像用のレンズ
(本図では図示せず)が挿入され取り付けられており、
同じくヘッド部8Aの貫通孔内には偏向器10が挿入さ
れている。この偏向器10は、中心軸14方向からの入
射光(光ビーム)を内面2へと向う方向へ反射させる偏
向面10A(図2参照)と、当該偏向面10Aをその中
心軸まわりに回転させる機構(図示せず)とを備えてい
る。その具体的な構成は、前述の公報(特開平5−58
46号等)に開示されたものと同一である。
走査方向に対向する2つのヘッド部8、8Aを有してお
り、両ヘッド部8、8Aには、共にその中心軸が中心軸
14と同軸となる貫通孔(図示せず)が形成されてい
る。そして、ヘッド部8の貫通孔内には結像用のレンズ
(本図では図示せず)が挿入され取り付けられており、
同じくヘッド部8Aの貫通孔内には偏向器10が挿入さ
れている。この偏向器10は、中心軸14方向からの入
射光(光ビーム)を内面2へと向う方向へ反射させる偏
向面10A(図2参照)と、当該偏向面10Aをその中
心軸まわりに回転させる機構(図示せず)とを備えてい
る。その具体的な構成は、前述の公報(特開平5−58
46号等)に開示されたものと同一である。
【0018】図2は、図1の円筒内面走査装置の電気的
構成を示したブロック図である。本図では、便宜上、走
査ヘッド6内の構成は簡略的に記載されている。前述し
た偏向器10の回転機構に駆動力を与える部分が主走査
駆動回路23であり、走査ヘッド6の副走査方向への駆
動を与える機構部分はモータ22、前述のボールネジ1
6及び副走査駆動回路24である。そして、これらの主
走査及び副走査方向の駆動制御系の統括部分をなすの
が、CPU26、入力ポート27、出力ポート28から
なる制御部である。25が、走査系制御回路である。
構成を示したブロック図である。本図では、便宜上、走
査ヘッド6内の構成は簡略的に記載されている。前述し
た偏向器10の回転機構に駆動力を与える部分が主走査
駆動回路23であり、走査ヘッド6の副走査方向への駆
動を与える機構部分はモータ22、前述のボールネジ1
6及び副走査駆動回路24である。そして、これらの主
走査及び副走査方向の駆動制御系の統括部分をなすの
が、CPU26、入力ポート27、出力ポート28から
なる制御部である。25が、走査系制御回路である。
【0019】レーザ17より発振した入射光ILはミラ
ー18で反射され、変調器19(音響光学変調器等)に
入射する。変調器19は、CPU26が出力する変調信
号(画像信号等)に応じて入射光ILを変調する。変調
された入射光ILは、その後、ミラー20によって反射
され、レンズ21を介して、結像用としてのレンズ15
へ入射する。ここで、レンズ21は入射光ILを平行光
とするコリメータレンズであり、又、レンズ15は偏向
面10Aを介して入射光ILを内面2上の版素材(図示
せず)上に集光し、結像させるためのものである。その
際、入射光ILとレンズ15との配置関係等に起因して
BOWが生じる点は、既述した通りである。
ー18で反射され、変調器19(音響光学変調器等)に
入射する。変調器19は、CPU26が出力する変調信
号(画像信号等)に応じて入射光ILを変調する。変調
された入射光ILは、その後、ミラー20によって反射
され、レンズ21を介して、結像用としてのレンズ15
へ入射する。ここで、レンズ21は入射光ILを平行光
とするコリメータレンズであり、又、レンズ15は偏向
面10Aを介して入射光ILを内面2上の版素材(図示
せず)上に集光し、結像させるためのものである。その
際、入射光ILとレンズ15との配置関係等に起因して
BOWが生じる点は、既述した通りである。
【0020】図3は、前述したスリット付きセンサユニ
ット30の配置位置とその構成とを模式的に示した、円
筒内面ドラム1の端面3の部分の拡大斜視図である。本
実施例では、9個のスリット付きセンサユニット30が
同図中に示した9つの位置P1〜P9にそれぞれ固定・
配置されている。その内、本図では、図面が複雑化する
のを回避するために、位置P5に固定・配置されたスリ
ット付きセンサユニット30のみが描かれている。各位
置P1〜P9は、本来的には、円筒内面ドラム1の円周
36とその中心点を共通にする円周37上の任意の位置
であるが、本実施例では、円周37の中心点(中心軸1
4上の点である)と各位置P1〜P9を結ぶ各線が、隣
り合うもの同士で等しい角度θをなす様な円周37上の
各位置に、各位置P1〜P9が配分されている。但し、
位置P1と位置P9との関係は別である(角度θをなさ
ない)。そして、図3に示す様に中心軸14に垂直なx
y平面を想定すると、位置P2及びP8はそれぞれ−y
方向及び+y方向上にあり、位置P5は丁度−x方向上
に存在する。
ット30の配置位置とその構成とを模式的に示した、円
筒内面ドラム1の端面3の部分の拡大斜視図である。本
実施例では、9個のスリット付きセンサユニット30が
同図中に示した9つの位置P1〜P9にそれぞれ固定・
配置されている。その内、本図では、図面が複雑化する
のを回避するために、位置P5に固定・配置されたスリ
ット付きセンサユニット30のみが描かれている。各位
置P1〜P9は、本来的には、円筒内面ドラム1の円周
36とその中心点を共通にする円周37上の任意の位置
であるが、本実施例では、円周37の中心点(中心軸1
4上の点である)と各位置P1〜P9を結ぶ各線が、隣
り合うもの同士で等しい角度θをなす様な円周37上の
各位置に、各位置P1〜P9が配分されている。但し、
位置P1と位置P9との関係は別である(角度θをなさ
ない)。そして、図3に示す様に中心軸14に垂直なx
y平面を想定すると、位置P2及びP8はそれぞれ−y
方向及び+y方向上にあり、位置P5は丁度−x方向上
に存在する。
【0021】各位置P1〜P9に固定・配置されている
スリット付きセンサユニット30の構成は、次の通りで
ある。当該ユニット30の外枠を形成するL字形ブロッ
ク34が、端面3の各位置P1〜P9に固設される。そ
のL字形ブロック34に形成された溝中には、マイクロ
メータ33の作用によってz方向(中心軸14方向に平
行な副走査方向)に微動可能なベース35が遊嵌されて
おり、更に当該ベース35にはフォトダイオード31と
その検出面側に固設されたスリット32が設けられてい
る。
スリット付きセンサユニット30の構成は、次の通りで
ある。当該ユニット30の外枠を形成するL字形ブロッ
ク34が、端面3の各位置P1〜P9に固設される。そ
のL字形ブロック34に形成された溝中には、マイクロ
メータ33の作用によってz方向(中心軸14方向に平
行な副走査方向)に微動可能なベース35が遊嵌されて
おり、更に当該ベース35にはフォトダイオード31と
その検出面側に固設されたスリット32が設けられてい
る。
【0022】図4は、フォトダイオード31の検知信号
の処理回路を示したブロック図であり、当該検知信号は
一旦OPアンプ38によって増幅された上で、微分回路
39を介してコンパレータ41の一方の入力端に入力さ
れる。コンパレータ41は、他方の入力端に印加されて
いるコンパレートレベル40と上記検知信号とを比較
し、その出力をオシロスコープ42へ出力する。その結
果、図4に示す様な駆形波がオシロスコープ42の画面
上に現われる。又、コンパレータ41の出力端には、イ
ンターバルアナライザ43が接続されている。このイン
ターバルアナライザ43は、検知信号の波形変化(時間
差)を読み取り、自動解析するためのものである。
の処理回路を示したブロック図であり、当該検知信号は
一旦OPアンプ38によって増幅された上で、微分回路
39を介してコンパレータ41の一方の入力端に入力さ
れる。コンパレータ41は、他方の入力端に印加されて
いるコンパレートレベル40と上記検知信号とを比較
し、その出力をオシロスコープ42へ出力する。その結
果、図4に示す様な駆形波がオシロスコープ42の画面
上に現われる。又、コンパレータ41の出力端には、イ
ンターバルアナライザ43が接続されている。このイン
ターバルアナライザ43は、検知信号の波形変化(時間
差)を読み取り、自動解析するためのものである。
【0023】ここで図5は、前述のスリット付きセンサ
ユニット30を用いた、走査ビームSB(図1、図3参
照)の走査位置変化の検知原理を示した説明図であり、
同図(a)、(c)、(e)は上記ユニット30のスリ
ット32を+x方向側から眺めた平面図を示している。
ユニット30を用いた、走査ビームSB(図1、図3参
照)の走査位置変化の検知原理を示した説明図であり、
同図(a)、(c)、(e)は上記ユニット30のスリ
ット32を+x方向側から眺めた平面図を示している。
【0024】今、走査ヘッド6を端面3を含む平面内に
まで移動させ、結像用のレンズ15の結像位置がフォト
ダイオード31の検出面上に位置する様に当該レンズ1
5の位置調整を行った上で、入射光ILを走査ヘッド6
へ入射させたものとする。このとき、入射光ILは、中
心軸14回りに回転する偏向面10Aによって、走査ビ
ームSBとして円周36方向(主走査方向)へ主走査さ
れる。その際、円周36に沿って、スリット32付きの
フォトダイオード31が配置されているので、主走査時
に走査ビームSBが上記スリット32上を横切る。
まで移動させ、結像用のレンズ15の結像位置がフォト
ダイオード31の検出面上に位置する様に当該レンズ1
5の位置調整を行った上で、入射光ILを走査ヘッド6
へ入射させたものとする。このとき、入射光ILは、中
心軸14回りに回転する偏向面10Aによって、走査ビ
ームSBとして円周36方向(主走査方向)へ主走査さ
れる。その際、円周36に沿って、スリット32付きの
フォトダイオード31が配置されているので、主走査時
に走査ビームSBが上記スリット32上を横切る。
【0025】従って、もし走査線にBOWが発生したも
のとすれば、各フォトダイオード31が検出する走査ビ
ームSBの走査位置に変化が起きる筈である。つまり、
図3のz方向への走査位置の位置ズレが起きる。この位
置ズレは、フォトダイオード31の検知信号上には、時
間差の変化として現われることになる。ということは、
この時間差の変化を検出・確認することによって、BO
Wを定量的に測定でき、且つその修正量を知ることが可
能になる。この点に着眼し、応用したのが正に本実施例
であり、図5はこの点を如実に示している。
のとすれば、各フォトダイオード31が検出する走査ビ
ームSBの走査位置に変化が起きる筈である。つまり、
図3のz方向への走査位置の位置ズレが起きる。この位
置ズレは、フォトダイオード31の検知信号上には、時
間差の変化として現われることになる。ということは、
この時間差の変化を検出・確認することによって、BO
Wを定量的に測定でき、且つその修正量を知ることが可
能になる。この点に着眼し、応用したのが正に本実施例
であり、図5はこの点を如実に示している。
【0026】同図(a)は、BOWがない理想的な場合
ないし基準となる場合に走査ビームSBがスリット32
上を横切るケースを表わしており、スリット32におい
て斜線を施した遮光部32Aが走査ビームSBを遮断す
る部分である。従って、遮光部32A以外の透光部32
Bを走査ビームSBが横切るときのみ、フォトダイオー
ド31は“H”レベルの検知信号を出力する。この検知
信号を示したのが同図(b)であり、このときのパルス
周期はtである。
ないし基準となる場合に走査ビームSBがスリット32
上を横切るケースを表わしており、スリット32におい
て斜線を施した遮光部32Aが走査ビームSBを遮断す
る部分である。従って、遮光部32A以外の透光部32
Bを走査ビームSBが横切るときのみ、フォトダイオー
ド31は“H”レベルの検知信号を出力する。この検知
信号を示したのが同図(b)であり、このときのパルス
周期はtである。
【0027】一方、同図(c)は、BOWが生じ走査ビ
ームSBが同図(a)に対して+z方向側にずれたとき
を示しており、このときの検知信号のパルス周期は同図
(d)に示す周期t1 となり、同図(b)よりもパルス
周期が長くなる。従って、両パルス周期の差Δt(=t
1 −t)が許容限度範囲となる様に、前述した反射ミラ
ーあるいはレンズ等の位置調整を行えば、BOWをその
許容限度内にまで修正することができる。
ームSBが同図(a)に対して+z方向側にずれたとき
を示しており、このときの検知信号のパルス周期は同図
(d)に示す周期t1 となり、同図(b)よりもパルス
周期が長くなる。従って、両パルス周期の差Δt(=t
1 −t)が許容限度範囲となる様に、前述した反射ミラ
ーあるいはレンズ等の位置調整を行えば、BOWをその
許容限度内にまで修正することができる。
【0028】同じく同図(e)は、BOWが生じ走査ビ
ームSBが同図(a)に対して−z方向側にずれたとき
を示しており、このときの検知信号のパルス周期(同図
(f)のt2 )は同図(b)のときより短くなる(周期
t2 <t)。この場合にも、パルス周期の時間差Δt
(=t2 −t)が許容限度範囲内におさまる様に、ミラ
ーやレンズ等を調整すれば良い。
ームSBが同図(a)に対して−z方向側にずれたとき
を示しており、このときの検知信号のパルス周期(同図
(f)のt2 )は同図(b)のときより短くなる(周期
t2 <t)。この場合にも、パルス周期の時間差Δt
(=t2 −t)が許容限度範囲内におさまる様に、ミラ
ーやレンズ等を調整すれば良い。
【0029】そこで、以下では、上記原理に基づいた、
スリット付きセンサユニット30を使用したBOW修正
方法の手順について述べることとする。
スリット付きセンサユニット30を使用したBOW修正
方法の手順について述べることとする。
【0030】 先ず、9個のスリット付きセンサユニ
ット30を、それぞれ図3または図6(a)に示す9つ
の位置P1〜P9に配置して、走査ビームSBの位置変
化の測定系を構成する。
ット30を、それぞれ図3または図6(a)に示す9つ
の位置P1〜P9に配置して、走査ビームSBの位置変
化の測定系を構成する。
【0031】 次に、円筒内面ドラム1の内面2上
に、感光フィルムを装着し、プリスキャンを行う。即
ち、円筒内面ドラム1内で感光フィルム上に走査線のB
OWが測定できるパターン(例えば一本線等)を焼き付
け、その結果から各位置P1〜P9に対応する位置での
BOWを測定する。その結果は、例えば、位置P5を基
準として相対的に表わすものとすれば、図6(c)に示
した様なものとなる。
に、感光フィルムを装着し、プリスキャンを行う。即
ち、円筒内面ドラム1内で感光フィルム上に走査線のB
OWが測定できるパターン(例えば一本線等)を焼き付
け、その結果から各位置P1〜P9に対応する位置での
BOWを測定する。その結果は、例えば、位置P5を基
準として相対的に表わすものとすれば、図6(c)に示
した様なものとなる。
【0032】 その後、走査ヘッド6をレール9に沿
って端面3を含む平面内の位置まで移動する。そして、
結像位置が各フォトダイオード31の検出面上に位置す
る様に、上記センサユニット30の位置調整を行う。
って端面3を含む平面内の位置まで移動する。そして、
結像位置が各フォトダイオード31の検出面上に位置す
る様に、上記センサユニット30の位置調整を行う。
【0033】 係る調整終了後、マイクロメータ33
を予め定めたその基準となるメータ値まで回して、フォ
トダイオード31を基準位置まで移動させる。この基準
位置では、図5(a)の様に、スリット32の遮光部3
2Aのほぼ中央部付近を走査ビームSBが横切ることと
なる。この調整は、9個のスリット付きセンサユニット
30の全てについて行われる。
を予め定めたその基準となるメータ値まで回して、フォ
トダイオード31を基準位置まで移動させる。この基準
位置では、図5(a)の様に、スリット32の遮光部3
2Aのほぼ中央部付近を走査ビームSBが横切ることと
なる。この調整は、9個のスリット付きセンサユニット
30の全てについて行われる。
【0034】 上記基準位置の調整終了後、走査ビー
ムSBを各スリット付きセンサユニット30のスリット
32上へ走査する。これにより、各位置P1〜P9に於
けるフォトダイオード31の検知信号、即ち、各パルス
周期が測定される。この測定結果から、位置P5に於け
るパルス周期を基準とした各位置P1〜P9に於けるパ
ルス周期の時間差Δtを求め(位置P5ではΔt=
0)、予め求めておいた時間差Δtと走査ビームSBの
変位Δzとの相関関係から、求めた各位置P1〜P9で
の時間差Δtに対応する変位Δzを算出する。これらの
算出処理は、インターバルアナライザ43によって実行
される。その算出結果の一例を、図6(b)に実線とし
て示す。尚、図6(b)中に破線で示されている曲線
は、比較上の便宜のために同図(c)の結果を表わした
ものである。
ムSBを各スリット付きセンサユニット30のスリット
32上へ走査する。これにより、各位置P1〜P9に於
けるフォトダイオード31の検知信号、即ち、各パルス
周期が測定される。この測定結果から、位置P5に於け
るパルス周期を基準とした各位置P1〜P9に於けるパ
ルス周期の時間差Δtを求め(位置P5ではΔt=
0)、予め求めておいた時間差Δtと走査ビームSBの
変位Δzとの相関関係から、求めた各位置P1〜P9で
の時間差Δtに対応する変位Δzを算出する。これらの
算出処理は、インターバルアナライザ43によって実行
される。その算出結果の一例を、図6(b)に実線とし
て示す。尚、図6(b)中に破線で示されている曲線
は、比較上の便宜のために同図(c)の結果を表わした
ものである。
【0035】 以上より、前述の焼き付け結果(図6
(c))と各スリット付きセンサユニット30の測定・
結果(図6(b))とを比較する。その差が、各スリッ
ト付きセンサユニット30の副走査方向(z方向)への
取り付け誤差となる。
(c))と各スリット付きセンサユニット30の測定・
結果(図6(b))とを比較する。その差が、各スリッ
ト付きセンサユニット30の副走査方向(z方向)への
取り付け誤差となる。
【0036】 そこで、位置P5を除く各位置のスリ
ット付きセンサユニット30を、それぞれの誤差分だけ
マイクロメータ33によって微調整する。これにより、
微調整後の各スリット付きセンサユニット30のマイク
ロメータ33のメータ値が、補完された各基準位置を示
すこととなる。
ット付きセンサユニット30を、それぞれの誤差分だけ
マイクロメータ33によって微調整する。これにより、
微調整後の各スリット付きセンサユニット30のマイク
ロメータ33のメータ値が、補完された各基準位置を示
すこととなる。
【0037】尚、各マイクロメータ33によって微調整
する代わりに、上記各誤差分をオフセット信号として各
フォトダイオード31の検知信号に上乗せすることによ
って、電気的に補正する様にしても良い。
する代わりに、上記各誤差分をオフセット信号として各
フォトダイオード31の検知信号に上乗せすることによ
って、電気的に補正する様にしても良い。
【0038】 以上の準備段階が終了すると、次に再
度走査ビームSBを円周36に沿って走査させて、反射
ミラーやレンズの角度調整等によってBOW修正を行
う。これは、レンズ等の位置調整系を適当量だけ調整
し、それによる各スリット付きセンサユニット30の検
知信号の波形変化(パルス周期の変化)を見ながら、更
に前記位置調整系の調整を行い、最終的に全てのフォト
ダイオード31の検知信号のパルス周期が等しくなるま
で当該調整を実行することにより達成される。この様
に、調整結果がすぐにオシロスコープ42上の波形変化
となって現われるため、調整を行うオペレータにとって
はオシロスコープ42を眺めながら調整することがで
き、短時間でBOW修正を完了させることができる。
度走査ビームSBを円周36に沿って走査させて、反射
ミラーやレンズの角度調整等によってBOW修正を行
う。これは、レンズ等の位置調整系を適当量だけ調整
し、それによる各スリット付きセンサユニット30の検
知信号の波形変化(パルス周期の変化)を見ながら、更
に前記位置調整系の調整を行い、最終的に全てのフォト
ダイオード31の検知信号のパルス周期が等しくなるま
で当該調整を実行することにより達成される。この様
に、調整結果がすぐにオシロスコープ42上の波形変化
となって現われるため、調整を行うオペレータにとって
はオシロスコープ42を眺めながら調整することがで
き、短時間でBOW修正を完了させることができる。
【0039】尚、その際に、各フォトダイオード31の
検知信号を予めインターバルアナライザ43に組み込ま
れた自動解析ソフトを用いて解析し、その解析結果(時
間差Δtと変位Δzとの相関関係から、各フォトダイオ
ード31によって検知される変位Δzを算出した結果)
をパーソナルコンピュータ上に表示させながら、上記調
整を行う様にすることもできる。この場合には、オペレ
ータは直接各位置P1〜P9に於けるBOW量を観測す
ることができるため、より一層定量的にミラーやレンズ
等の位置調整系の調整をコントロールすることが可能と
なる。このことは、調整時間の短時間化を一層加速させ
得る。ここでは、オペレータがBOW量を観測しながら
ミラーやレンズ等の位置調整系をコントロールしている
が、前記BOW量に関する信号によって作動するピエゾ
素子等を調整系として採用しても良い。
検知信号を予めインターバルアナライザ43に組み込ま
れた自動解析ソフトを用いて解析し、その解析結果(時
間差Δtと変位Δzとの相関関係から、各フォトダイオ
ード31によって検知される変位Δzを算出した結果)
をパーソナルコンピュータ上に表示させながら、上記調
整を行う様にすることもできる。この場合には、オペレ
ータは直接各位置P1〜P9に於けるBOW量を観測す
ることができるため、より一層定量的にミラーやレンズ
等の位置調整系の調整をコントロールすることが可能と
なる。このことは、調整時間の短時間化を一層加速させ
得る。ここでは、オペレータがBOW量を観測しながら
ミラーやレンズ等の位置調整系をコントロールしている
が、前記BOW量に関する信号によって作動するピエゾ
素子等を調整系として採用しても良い。
【0040】上記実施例では、光検出器として図5に例
示した様なスリットを備えたものを用いたが、この様な
態様のものに限られるものではない。例えば、図7に例
示する様なスリット45を用いることもできる。このス
リット45は、丁度図5のスリットとは逆の関係にあ
り、中央の透光部45B(開口部または透明部となって
いる)を走査ビームSBが通過する際にのみ、走査ビー
ムSBが検出される。なお、周囲の斜線部分45Aは遮
光部である。また、図8(a)、(b)に例示する様な
スリット47、48をフォトダイオード31上に設ける
こともできる。これら図7,図8の場合でも、変位Δz
を検知する原理は同一である。
示した様なスリットを備えたものを用いたが、この様な
態様のものに限られるものではない。例えば、図7に例
示する様なスリット45を用いることもできる。このス
リット45は、丁度図5のスリットとは逆の関係にあ
り、中央の透光部45B(開口部または透明部となって
いる)を走査ビームSBが通過する際にのみ、走査ビー
ムSBが検出される。なお、周囲の斜線部分45Aは遮
光部である。また、図8(a)、(b)に例示する様な
スリット47、48をフォトダイオード31上に設ける
こともできる。これら図7,図8の場合でも、変位Δz
を検知する原理は同一である。
【0041】更に、光検出器としては、今までに上述し
た様なスリット付きのセンサタイプのものである必要は
なく、例えば、2次元CCD素子のような撮像素子を用
いることもできる。要は、走査ビームSBの走査位置を
検出できるものであれば、検出器として利用することが
できる。この様に本発明では、光検出器の形状・構成そ
のものに特徴があるのではなく、その様な光検出器を円
筒内面ドラム1の中心軸14方向の一端面3の円周方向
に複数個配置し、その検知信号を利用する点に、本発明
の意義がある。これにより、BOW修正の結果を即座に
検知して、調整中のオペレータにBOW修正にとって有
意義な情報を表示しうる機能を、円筒内面走査装置自身
に持たせることが可能となる。
た様なスリット付きのセンサタイプのものである必要は
なく、例えば、2次元CCD素子のような撮像素子を用
いることもできる。要は、走査ビームSBの走査位置を
検出できるものであれば、検出器として利用することが
できる。この様に本発明では、光検出器の形状・構成そ
のものに特徴があるのではなく、その様な光検出器を円
筒内面ドラム1の中心軸14方向の一端面3の円周方向
に複数個配置し、その検知信号を利用する点に、本発明
の意義がある。これにより、BOW修正の結果を即座に
検知して、調整中のオペレータにBOW修正にとって有
意義な情報を表示しうる機能を、円筒内面走査装置自身
に持たせることが可能となる。
【0042】尚、本実施例では、スリット付きセンサユ
ニット30の個数を9個としたが、これに限るものでは
なく、少なくとも3個以上あれば(その内一つが基準と
なる)、BOW修正結果を適切に検知することが可能で
ある。又、上記スリット付きセンサユニット30の配置
位置としては、円周37方向上の任意の位置であれば良
く、本実施例の様に角度θ方向に等しく配置されている
必要はない。
ニット30の個数を9個としたが、これに限るものでは
なく、少なくとも3個以上あれば(その内一つが基準と
なる)、BOW修正結果を適切に検知することが可能で
ある。又、上記スリット付きセンサユニット30の配置
位置としては、円周37方向上の任意の位置であれば良
く、本実施例の様に角度θ方向に等しく配置されている
必要はない。
【0043】更に本実施例では版素材が感材として用い
られていたが、感光フィルム等を感材として用いること
は当然ながら可能である。
られていたが、感光フィルム等を感材として用いること
は当然ながら可能である。
【0044】
【発明の効果】本発明は、従来技術の様に何度も感材の
焼き付け結果をフィードバックさせる必要は一切なく、
BOW(結像位置の副走査方向でのずれ)修正を格段に
短時間で、即ち、リアルタイムで行うことを可能とす
る。その際、円筒内面ドラムの端面上にその円周方向に
沿って光検出器を複数個設ければ良く、極めて簡単な構
成で以て上記BOWのリアルタイム修正を実現すること
ができる。
焼き付け結果をフィードバックさせる必要は一切なく、
BOW(結像位置の副走査方向でのずれ)修正を格段に
短時間で、即ち、リアルタイムで行うことを可能とす
る。その際、円筒内面ドラムの端面上にその円周方向に
沿って光検出器を複数個設ければ良く、極めて簡単な構
成で以て上記BOWのリアルタイム修正を実現すること
ができる。
【図1】この発明の円筒内面走査装置の一実施例の外観
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
【図2】円筒内面走査装置の電気系統を示すブロック図
である。
である。
【図3】円筒内面走査装置の円筒内面ドラムの一端面側
を拡大して示す斜視図である。
を拡大して示す斜視図である。
【図4】スリット付きフォトダイオードとその出力信号
の処理系統を示すブロック図である。
の処理系統を示すブロック図である。
【図5】スリット付きフォトダイオードの検知原理を示
す説明図である。
す説明図である。
【図6】各位置のスリット付きフォトダイオードの配置
位置と検知結果を示す説明図である。
位置と検知結果を示す説明図である。
【図7】スリット付きフォトダイオードの他の実施例を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図8】スリット付きフォトダイオードの他の実施例を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図9】BOWの無い場合と有る場合とを示した説明図
である。
である。
【図10】BOW修正のための調整方法を例示した説明
図である。
図である。
1 円筒内面ドラム 2 内面 3 端面 6 走査ヘッド 10 偏向器 10A 偏向面 14 中心軸 15 結像用のレンズ 30 スリット付きセンサユニット 31 フォトダイオード 32 スリット 33 マイクロメータ 37 円周 IL 入射光 SB 走査ビーム
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松本 永治 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天 神北町1番地の1 大日本スクリーン製 造株式会社内 (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G02B 26/10
Claims (1)
- 【請求項1】 円筒内面ドラムの中心軸に平行な副走査
方向に沿って前記円筒内面ドラムの端面まで移動可能な
走査ヘッドと、当該走査ヘッドに取付けられた結像用の
レンズ及び主走査用の偏向器とを備え、前記中心軸方向
から入射する光ビームを前記レンズ及び偏向器を介して
前記円筒内面ドラムの内面に装着された感材の主走査方
向に走査して、前記感材を露光する円筒内面走査装置に
おいて、 前記感材上での光ビームの結像位置が前記主走査方向の
本来の走査線から前記副走査方向側へずれる際のずれ量
を検出する光検出器を、前記円筒内面ドラムの端面の円
周方向の複数位置に配設し、 前記各光検出器により検出された光ビームの結像位置の
ずれ量に基づいて、前記光ビームの光路を調整して前記
ずれ量を修正する調整手段を設けたことを特徴とする円
筒内面走査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25941493A JP2788846B2 (ja) | 1993-09-21 | 1993-09-21 | 円筒内面走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25941493A JP2788846B2 (ja) | 1993-09-21 | 1993-09-21 | 円筒内面走査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0792415A JPH0792415A (ja) | 1995-04-07 |
JP2788846B2 true JP2788846B2 (ja) | 1998-08-20 |
Family
ID=17333783
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25941493A Expired - Fee Related JP2788846B2 (ja) | 1993-09-21 | 1993-09-21 | 円筒内面走査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2788846B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5451777A (en) * | 1994-01-14 | 1995-09-19 | Miles Inc. | Scanning apparatus with self-propelled linear motion carriage |
-
1993
- 1993-09-21 JP JP25941493A patent/JP2788846B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0792415A (ja) | 1995-04-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |