JP2788846B2

JP2788846B2 - 円筒内面走査装置

Info

Publication number: JP2788846B2
Application number: JP25941493A
Authority: JP
Inventors: 幸彦稲垣; 秀樹松浦; 永治松本
Original assignee: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date: 1993-09-21
Filing date: 1993-09-21
Publication date: 1998-08-20
Anticipated expiration: 2013-08-20
Also published as: JPH0792415A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、印刷・製版用のＣＴ
Ｐ（Computer To Plate ）や出力スキャナ等に適用され
る円筒内面走査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】円筒内面走査装置は、既知の通り、円筒
内面ドラム、当該ドラムの内面に装着された感材（フィ
ルムや版素材）、当該ドラムの中心軸に沿って副走査方
向へ移動する走査ヘッド、当該走査ヘッドに配設され上
記中心軸の周りに回転する主走査用の偏向器、及び結像
用のレンズ等を有する装置であって、画像信号等によっ
て変調された光ビームを上記レンズを介して偏向器によ
って偏向して、感材上の主走査方向へ走査・露光するも
のである。本装置のより詳細な構成は、例えば特公昭６
２−１９７２４号公報や特開平５−２７１９０号公報や
特開平５−５８４６号公報等に開示されている。最近で
は、この円筒内面走査装置は、いわゆるＣＴＰと呼ばれ
る直接製版システムに適用されている。ここで、ＣＴＰ
とは、文字・図形・絵柄等が統合されたディジタル画像
データに基づいて、網点フィルムを作ることなく、直接
版素材に網点画像を形成して印刷版を作成する装置であ
る。

【０００３】この円筒内面走査装置においては、一般に
ＢＯＷと呼ばれる不具合いの発生が知られている。ここ
でＢＯＷとは、本来、主走査方向に平行に生ずべき焼付
けラインが副走査方向へ湾曲して生ずるという事象であ
り、例えば図９（ｂ）に例示したような焼付けラインが
生じる。それに対して、同図（ａ）はＢＯＷの無い理想
的な場合であり、主走査方向に平行な線４９に沿って焼
付けラインが形成されている。

【０００４】このＢＯＷが生じる原因としては、入射
光の光軸方向と結像用レンズの光軸との軸ずれ及び、
入射光の光軸方向に対する結像用レンズの傾きあるいは
結像用レンズに対する入射光の斜め入射による軸ずれが
挙げられる。

【０００５】そこで、これらの原因、を解決する技
術として、従来より、結像用レンズに光を入射させるた
めの入射ミラーの角度調整を行うことによりＢＯＷを修
正する方法が用いられている。この従来技術を模式的に
例示したものが、図１０である。

【０００６】同図において、２枚のミラー５０、５１は
上記入射ミラーに相当しており、両ミラー５０、５１で
反射した入射光ＩＬは結像用レンズ５２へと入射し、こ
の結像用レンズ５２によって、円筒内面ドラムの内面５
３上に装着された版素材（図示せず）上に結像される。
このとき、結像位置は、円筒内面ドラムの中心軸に平行
な副走査方向へずれる（ＢＯＷが発生する）こととな
る。そこで、このずれを修正する目的で、両ミラー５
０、５１の角度調整を行うこととなる。つまり、ミラー
５０の回転調整によって方向５４に関する調整を行うと
共に、ミラー５１の方向５５への傾き調整及び方向５６
への回転調整によって、入射光ＩＬの結像用レンズ５２
に対する入射角度を調整する。この調整は、結像位置が
本来の位置へ移動するまで行うこととなる。なお、図１
０において、３０は主走査用の偏向器、３０Ａは偏向器
３０に設けられた偏向面である。

【０００７】以上の調整方法を用いて実際に焼付けライ
ンのＢＯＷを修正するには、次の方法が採用されてい
る。先ず、感材を用意し、反射用ミラーの角度調整を行
って感材上の結像位置をシフトさせる。この状態で光ビ
ームを走査して実際に感材を露光し、焼き付けを行う。

【０００８】次に、焼き付け結果から走査線のＢＯＷ量
を測定して、この測定量を踏まえて上記の角度調整を行
う。そして、再び感材を露光・焼き付けして、その調整
結果を確認・測定する。こうして実際に観測されるＢＯ
Ｗが許容値以内におさまるまで、上記手順を繰り返し実
行していく。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来技術は、
感材への焼き付け結果を測定しその結果を逐一フィード
バックして調整を進める方法であるが、その都度感材の
露光（焼き付け）が必要なため最終的に調整が完了する
までに多大な時間を要するという問題点がある。このた
め、調整コストがアップすることとなる。又、調整時に
消費する感材や現象等の諸費用も調整コストをアップさ
せる要因となっている。そのため、係る要因を除去し
て、調整コストを低減させることが強く要望されてい
る。

【００１０】この発明は係る問題点を解決するためにな
されたものであって、ＢＯＷの修正に際して感材を実際
に露光する（焼き付ける）ことなく、リアルタイムで上
記修正を容易に実行できるようにすることを目的として
いる。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明では、円筒内面ド
ラムの中心軸に平行な副走査方向に沿って円筒内面ドラ
ムの端面まで移動可能な走査ヘッドと、当該走査ヘッド
に取付けられた結像用のレンズ及び主走査用の偏向器と
を備え、中心軸方向から入射する光ビームをレンズ及び
偏向器を介して円筒内面ドラムの内面に装着された感材
の主走査方向に走査して、感材を露光する円筒内面走査
装置において、感材上での光ビームの結像位置が主走査
方向の本来の走査線から副走査方向側へずれる際のずれ
量を検出する光検出器を、円筒内面ドラムの端面の円周
方向の複数位置に配設し、各光検出器により検出された
光ビームの結像位置のずれ量に基づいて、光ビームの光
路を調整して前記ずれ量を修正する調整手段を設けたも
のである。なお、この発明における感材とは、光ビーム
の熱によって像形成する材料をも含むものとする。

【００１２】

【作用】走査ヘッドを、光検出器が配設された円筒内面
ドラムの端面まで移動させる。この位置において光ビー
ムをレンズ及び偏向器に順次に入射して主走査方向へ走
査させると、当該端面の円周方向上の複数位置に配設さ
れた各光検出器は、主走査方向上のそれぞれの位置にお
いて生じる本来の結像位置からのずれ量を検出する。こ
のとき、光ビームの光路調整、例えば入射光ビームに対
して結像用レンズの光軸との角度調整ないし軸ずれ調整
が行われると、その調整に呼応して、各光検出器が検出
する各位置のずれ量に変化が生ずることとなる。従っ
て、この変化を観測しながら上記入射光ビームの光路調
整を行い、感材上での結像位置のずれを修正できる。

【００１３】

【実施例】図１は、円筒内面走査装置の一実施例を示す
斜視図である。本円筒内面走査装置は、大別して、円筒
内面ドラム１、支持台４、副走査ベース５、走査ヘッド
６より成る。

【００１４】先ず、円筒内面ドラム１の内面２には、図
示しない版素材が真空吸着等により装着されている。
又、本図においては図示していないが、円筒内面ドラム
１の中心軸１４方向の一方の端面３上には、円筒方向に
複数個のスリット付きセンサユニットが取り付けられて
いる。この点の詳細については、後述する。そして、円
筒内面ドラム１の両側面にはそれぞれ支持台４が固設さ
れており、支持台４の一方に配設された調整ねじ１３を
介して、当該支持台４上に副走査ベース５が搭載されて
いる。

【００１５】副走査ベース５の中央部には、円筒内面ド
ラム１に対面した開口部１２が形成されており、その上
面１１上には２本のレール９が中心軸１４方向に平行と
なる様に敷設されている。その平行調整は、予め調整ね
じ１３を用いて副走査ベース５をその上面１１を含む面
内で２次元的に動かすことによって達成されている。こ
こで、副走査ベース５の端部の内で端面３側の部分は、
同図に示す通り、端面３よりも突出している。これによ
り、走査ヘッド６は端面３上に位置することができる。
勿論、副走査ベース５の反対側の端部も同様に突出して
いる。尚、中心軸１４に平行な方向を、以後、副走査方
向と呼ぶ。

【００１６】一方、Ｌ字型の走査ヘッド６の一端側は２
本のレール９に遊嵌されており、更に本図では図示しな
いボールネジ（両レール９間に配設されている）に螺合
されている。そして、走査ヘッド６の他端側は前述の開
口部１２内に位置しており、ヘッド７が固設されてい
る。従って、走査ヘッド６は、ボールネジからの作用を
受けて、レール９に沿って副走査方向へと移動すること
ができる。

【００１７】上記ヘッド７は、中心軸１４上に突出し副
走査方向に対向する２つのヘッド部８、８Ａを有してお
り、両ヘッド部８、８Ａには、共にその中心軸が中心軸
１４と同軸となる貫通孔（図示せず）が形成されてい
る。そして、ヘッド部８の貫通孔内には結像用のレンズ
（本図では図示せず）が挿入され取り付けられており、
同じくヘッド部８Ａの貫通孔内には偏向器１０が挿入さ
れている。この偏向器１０は、中心軸１４方向からの入
射光（光ビーム）を内面２へと向う方向へ反射させる偏
向面１０Ａ（図２参照）と、当該偏向面１０Ａをその中
心軸まわりに回転させる機構（図示せず）とを備えてい
る。その具体的な構成は、前述の公報（特開平５−５８
４６号等）に開示されたものと同一である。

【００１８】図２は、図１の円筒内面走査装置の電気的
構成を示したブロック図である。本図では、便宜上、走
査ヘッド６内の構成は簡略的に記載されている。前述し
た偏向器１０の回転機構に駆動力を与える部分が主走査
駆動回路２３であり、走査ヘッド６の副走査方向への駆
動を与える機構部分はモータ２２、前述のボールネジ１
６及び副走査駆動回路２４である。そして、これらの主
走査及び副走査方向の駆動制御系の統括部分をなすの
が、ＣＰＵ２６、入力ポート２７、出力ポート２８から
なる制御部である。２５が、走査系制御回路である。

【００１９】レーザ１７より発振した入射光ＩＬはミラ
ー１８で反射され、変調器１９（音響光学変調器等）に
入射する。変調器１９は、ＣＰＵ２６が出力する変調信
号（画像信号等）に応じて入射光ＩＬを変調する。変調
された入射光ＩＬは、その後、ミラー２０によって反射
され、レンズ２１を介して、結像用としてのレンズ１５
へ入射する。ここで、レンズ２１は入射光ＩＬを平行光
とするコリメータレンズであり、又、レンズ１５は偏向
面１０Ａを介して入射光ＩＬを内面２上の版素材（図示
せず）上に集光し、結像させるためのものである。その
際、入射光ＩＬとレンズ１５との配置関係等に起因して
ＢＯＷが生じる点は、既述した通りである。

【００２０】図３は、前述したスリット付きセンサユニ
ット３０の配置位置とその構成とを模式的に示した、円
筒内面ドラム１の端面３の部分の拡大斜視図である。本
実施例では、９個のスリット付きセンサユニット３０が
同図中に示した９つの位置Ｐ１〜Ｐ９にそれぞれ固定・
配置されている。その内、本図では、図面が複雑化する
のを回避するために、位置Ｐ５に固定・配置されたスリ
ット付きセンサユニット３０のみが描かれている。各位
置Ｐ１〜Ｐ９は、本来的には、円筒内面ドラム１の円周
３６とその中心点を共通にする円周３７上の任意の位置
であるが、本実施例では、円周３７の中心点（中心軸１
４上の点である）と各位置Ｐ１〜Ｐ９を結ぶ各線が、隣
り合うもの同士で等しい角度θをなす様な円周３７上の
各位置に、各位置Ｐ１〜Ｐ９が配分されている。但し、
位置Ｐ１と位置Ｐ９との関係は別である（角度θをなさ
ない）。そして、図３に示す様に中心軸１４に垂直なｘ
ｙ平面を想定すると、位置Ｐ２及びＰ８はそれぞれ−ｙ
方向及び＋ｙ方向上にあり、位置Ｐ５は丁度−ｘ方向上
に存在する。

【００２１】各位置Ｐ１〜Ｐ９に固定・配置されている
スリット付きセンサユニット３０の構成は、次の通りで
ある。当該ユニット３０の外枠を形成するＬ字形ブロッ
ク３４が、端面３の各位置Ｐ１〜Ｐ９に固設される。そ
のＬ字形ブロック３４に形成された溝中には、マイクロ
メータ３３の作用によってｚ方向（中心軸１４方向に平
行な副走査方向）に微動可能なベース３５が遊嵌されて
おり、更に当該ベース３５にはフォトダイオード３１と
その検出面側に固設されたスリット３２が設けられてい
る。

【００２２】図４は、フォトダイオード３１の検知信号
の処理回路を示したブロック図であり、当該検知信号は
一旦ＯＰアンプ３８によって増幅された上で、微分回路
３９を介してコンパレータ４１の一方の入力端に入力さ
れる。コンパレータ４１は、他方の入力端に印加されて
いるコンパレートレベル４０と上記検知信号とを比較
し、その出力をオシロスコープ４２へ出力する。その結
果、図４に示す様な駆形波がオシロスコープ４２の画面
上に現われる。又、コンパレータ４１の出力端には、イ
ンターバルアナライザ４３が接続されている。このイン
ターバルアナライザ４３は、検知信号の波形変化（時間
差）を読み取り、自動解析するためのものである。

【００２３】ここで図５は、前述のスリット付きセンサ
ユニット３０を用いた、走査ビームＳＢ（図１、図３参
照）の走査位置変化の検知原理を示した説明図であり、
同図（ａ）、（ｃ）、（ｅ）は上記ユニット３０のスリ
ット３２を＋ｘ方向側から眺めた平面図を示している。

【００２４】今、走査ヘッド６を端面３を含む平面内に
まで移動させ、結像用のレンズ１５の結像位置がフォト
ダイオード３１の検出面上に位置する様に当該レンズ１
５の位置調整を行った上で、入射光ＩＬを走査ヘッド６
へ入射させたものとする。このとき、入射光ＩＬは、中
心軸１４回りに回転する偏向面１０Ａによって、走査ビ
ームＳＢとして円周３６方向（主走査方向）へ主走査さ
れる。その際、円周３６に沿って、スリット３２付きの
フォトダイオード３１が配置されているので、主走査時
に走査ビームＳＢが上記スリット３２上を横切る。

【００２５】従って、もし走査線にＢＯＷが発生したも
のとすれば、各フォトダイオード３１が検出する走査ビ
ームＳＢの走査位置に変化が起きる筈である。つまり、
図３のｚ方向への走査位置の位置ズレが起きる。この位
置ズレは、フォトダイオード３１の検知信号上には、時
間差の変化として現われることになる。ということは、
この時間差の変化を検出・確認することによって、ＢＯ
Ｗを定量的に測定でき、且つその修正量を知ることが可
能になる。この点に着眼し、応用したのが正に本実施例
であり、図５はこの点を如実に示している。

【００２６】同図（ａ）は、ＢＯＷがない理想的な場合
ないし基準となる場合に走査ビームＳＢがスリット３２
上を横切るケースを表わしており、スリット３２におい
て斜線を施した遮光部３２Ａが走査ビームＳＢを遮断す
る部分である。従って、遮光部３２Ａ以外の透光部３２
Ｂを走査ビームＳＢが横切るときのみ、フォトダイオー
ド３１は“Ｈ”レベルの検知信号を出力する。この検知
信号を示したのが同図（ｂ）であり、このときのパルス
周期はｔである。

【００２７】一方、同図（ｃ）は、ＢＯＷが生じ走査ビ
ームＳＢが同図（ａ）に対して＋ｚ方向側にずれたとき
を示しており、このときの検知信号のパルス周期は同図
（ｄ）に示す周期ｔ₁となり、同図（ｂ）よりもパルス
周期が長くなる。従って、両パルス周期の差Δｔ（＝ｔ
₁−ｔ）が許容限度範囲となる様に、前述した反射ミラ
ーあるいはレンズ等の位置調整を行えば、ＢＯＷをその
許容限度内にまで修正することができる。

【００２８】同じく同図（ｅ）は、ＢＯＷが生じ走査ビ
ームＳＢが同図（ａ）に対して−ｚ方向側にずれたとき
を示しており、このときの検知信号のパルス周期（同図
（ｆ）のｔ₂）は同図（ｂ）のときより短くなる（周期
ｔ₂＜ｔ）。この場合にも、パルス周期の時間差Δｔ
（＝ｔ₂−ｔ）が許容限度範囲内におさまる様に、ミラ
ーやレンズ等を調整すれば良い。

【００２９】そこで、以下では、上記原理に基づいた、
スリット付きセンサユニット３０を使用したＢＯＷ修正
方法の手順について述べることとする。

【００３０】先ず、９個のスリット付きセンサユニ
ット３０を、それぞれ図３または図６（ａ）に示す９つ
の位置Ｐ１〜Ｐ９に配置して、走査ビームＳＢの位置変
化の測定系を構成する。

【００３１】次に、円筒内面ドラム１の内面２上
に、感光フィルムを装着し、プリスキャンを行う。即
ち、円筒内面ドラム１内で感光フィルム上に走査線のＢ
ＯＷが測定できるパターン（例えば一本線等）を焼き付
け、その結果から各位置Ｐ１〜Ｐ９に対応する位置での
ＢＯＷを測定する。その結果は、例えば、位置Ｐ５を基
準として相対的に表わすものとすれば、図６（ｃ）に示
した様なものとなる。

【００３２】その後、走査ヘッド６をレール９に沿
って端面３を含む平面内の位置まで移動する。そして、
結像位置が各フォトダイオード３１の検出面上に位置す
る様に、上記センサユニット３０の位置調整を行う。

【００３３】係る調整終了後、マイクロメータ３３
を予め定めたその基準となるメータ値まで回して、フォ
トダイオード３１を基準位置まで移動させる。この基準
位置では、図５（ａ）の様に、スリット３２の遮光部３
２Ａのほぼ中央部付近を走査ビームＳＢが横切ることと
なる。この調整は、９個のスリット付きセンサユニット
３０の全てについて行われる。

【００３４】上記基準位置の調整終了後、走査ビー
ムＳＢを各スリット付きセンサユニット３０のスリット
３２上へ走査する。これにより、各位置Ｐ１〜Ｐ９に於
けるフォトダイオード３１の検知信号、即ち、各パルス
周期が測定される。この測定結果から、位置Ｐ５に於け
るパルス周期を基準とした各位置Ｐ１〜Ｐ９に於けるパ
ルス周期の時間差Δｔを求め（位置Ｐ５ではΔｔ＝
０）、予め求めておいた時間差Δｔと走査ビームＳＢの
変位Δｚとの相関関係から、求めた各位置Ｐ１〜Ｐ９で
の時間差Δｔに対応する変位Δｚを算出する。これらの
算出処理は、インターバルアナライザ４３によって実行
される。その算出結果の一例を、図６（ｂ）に実線とし
て示す。尚、図６（ｂ）中に破線で示されている曲線
は、比較上の便宜のために同図（ｃ）の結果を表わした
ものである。

【００３５】以上より、前述の焼き付け結果（図６
（ｃ））と各スリット付きセンサユニット３０の測定・
結果（図６（ｂ））とを比較する。その差が、各スリッ
ト付きセンサユニット３０の副走査方向（ｚ方向）への
取り付け誤差となる。

【００３６】そこで、位置Ｐ５を除く各位置のスリ
ット付きセンサユニット３０を、それぞれの誤差分だけ
マイクロメータ３３によって微調整する。これにより、
微調整後の各スリット付きセンサユニット３０のマイク
ロメータ３３のメータ値が、補完された各基準位置を示
すこととなる。

【００３７】尚、各マイクロメータ３３によって微調整
する代わりに、上記各誤差分をオフセット信号として各
フォトダイオード３１の検知信号に上乗せすることによ
って、電気的に補正する様にしても良い。

【００３８】以上の準備段階が終了すると、次に再
度走査ビームＳＢを円周３６に沿って走査させて、反射
ミラーやレンズの角度調整等によってＢＯＷ修正を行
う。これは、レンズ等の位置調整系を適当量だけ調整
し、それによる各スリット付きセンサユニット３０の検
知信号の波形変化（パルス周期の変化）を見ながら、更
に前記位置調整系の調整を行い、最終的に全てのフォト
ダイオード３１の検知信号のパルス周期が等しくなるま
で当該調整を実行することにより達成される。この様
に、調整結果がすぐにオシロスコープ４２上の波形変化
となって現われるため、調整を行うオペレータにとって
はオシロスコープ４２を眺めながら調整することがで
き、短時間でＢＯＷ修正を完了させることができる。

【００３９】尚、その際に、各フォトダイオード３１の
検知信号を予めインターバルアナライザ４３に組み込ま
れた自動解析ソフトを用いて解析し、その解析結果（時
間差Δｔと変位Δｚとの相関関係から、各フォトダイオ
ード３１によって検知される変位Δｚを算出した結果）
をパーソナルコンピュータ上に表示させながら、上記調
整を行う様にすることもできる。この場合には、オペレ
ータは直接各位置Ｐ１〜Ｐ９に於けるＢＯＷ量を観測す
ることができるため、より一層定量的にミラーやレンズ
等の位置調整系の調整をコントロールすることが可能と
なる。このことは、調整時間の短時間化を一層加速させ
得る。ここでは、オペレータがＢＯＷ量を観測しながら
ミラーやレンズ等の位置調整系をコントロールしている
が、前記ＢＯＷ量に関する信号によって作動するピエゾ
素子等を調整系として採用しても良い。

【００４０】上記実施例では、光検出器として図５に例
示した様なスリットを備えたものを用いたが、この様な
態様のものに限られるものではない。例えば、図７に例
示する様なスリット４５を用いることもできる。このス
リット４５は、丁度図５のスリットとは逆の関係にあ
り、中央の透光部４５Ｂ（開口部または透明部となって
いる）を走査ビームＳＢが通過する際にのみ、走査ビー
ムＳＢが検出される。なお、周囲の斜線部分４５Ａは遮
光部である。また、図８（ａ）、（ｂ）に例示する様な
スリット４７、４８をフォトダイオード３１上に設ける
こともできる。これら図７，図８の場合でも、変位Δｚ
を検知する原理は同一である。

【００４１】更に、光検出器としては、今までに上述し
た様なスリット付きのセンサタイプのものである必要は
なく、例えば、２次元ＣＣＤ素子のような撮像素子を用
いることもできる。要は、走査ビームＳＢの走査位置を
検出できるものであれば、検出器として利用することが
できる。この様に本発明では、光検出器の形状・構成そ
のものに特徴があるのではなく、その様な光検出器を円
筒内面ドラム１の中心軸１４方向の一端面３の円周方向
に複数個配置し、その検知信号を利用する点に、本発明
の意義がある。これにより、ＢＯＷ修正の結果を即座に
検知して、調整中のオペレータにＢＯＷ修正にとって有
意義な情報を表示しうる機能を、円筒内面走査装置自身
に持たせることが可能となる。

【００４２】尚、本実施例では、スリット付きセンサユ
ニット３０の個数を９個としたが、これに限るものでは
なく、少なくとも３個以上あれば（その内一つが基準と
なる）、ＢＯＷ修正結果を適切に検知することが可能で
ある。又、上記スリット付きセンサユニット３０の配置
位置としては、円周３７方向上の任意の位置であれば良
く、本実施例の様に角度θ方向に等しく配置されている
必要はない。

【００４３】更に本実施例では版素材が感材として用い
られていたが、感光フィルム等を感材として用いること
は当然ながら可能である。

【００４４】

【発明の効果】本発明は、従来技術の様に何度も感材の
焼き付け結果をフィードバックさせる必要は一切なく、
ＢＯＷ（結像位置の副走査方向でのずれ）修正を格段に
短時間で、即ち、リアルタイムで行うことを可能とす
る。その際、円筒内面ドラムの端面上にその円周方向に
沿って光検出器を複数個設ければ良く、極めて簡単な構
成で以て上記ＢＯＷのリアルタイム修正を実現すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の円筒内面走査装置の一実施例の外観
を示す斜視図である。

【図２】円筒内面走査装置の電気系統を示すブロック図
である。

【図３】円筒内面走査装置の円筒内面ドラムの一端面側
を拡大して示す斜視図である。

【図４】スリット付きフォトダイオードとその出力信号
の処理系統を示すブロック図である。

【図５】スリット付きフォトダイオードの検知原理を示
す説明図である。

【図６】各位置のスリット付きフォトダイオードの配置
位置と検知結果を示す説明図である。

【図７】スリット付きフォトダイオードの他の実施例を
示す説明図である。

【図８】スリット付きフォトダイオードの他の実施例を
示す説明図である。

【図９】ＢＯＷの無い場合と有る場合とを示した説明図
である。

【図１０】ＢＯＷ修正のための調整方法を例示した説明
図である。

【符号の説明】

１円筒内面ドラム２内面３端面６走査ヘッド１０偏向器１０Ａ偏向面１４中心軸１５結像用のレンズ３０スリット付きセンサユニット３１フォトダイオード３２スリット３３マイクロメータ３７円周ＩＬ入射光ＳＢ走査ビーム

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者松本永治京都市上京区堀川通寺之内上る４丁目天神北町１番地の１大日本スクリーン製造株式会社内 (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G02B 26/10

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】円筒内面ドラムの中心軸に平行な副走査
方向に沿って前記円筒内面ドラムの端面まで移動可能な
走査ヘッドと、当該走査ヘッドに取付けられた結像用の
レンズ及び主走査用の偏向器とを備え、前記中心軸方向
から入射する光ビームを前記レンズ及び偏向器を介して
前記円筒内面ドラムの内面に装着された感材の主走査方
向に走査して、前記感材を露光する円筒内面走査装置に
おいて、前記感材上での光ビームの結像位置が前記主走査方向の
本来の走査線から前記副走査方向側へずれる際のずれ量
を検出する光検出器を、前記円筒内面ドラムの端面の円
周方向の複数位置に配設し、前記各光検出器により検出された光ビームの結像位置の
ずれ量に基づいて、前記光ビームの光路を調整して前記
ずれ量を修正する調整手段を設けたことを特徴とする円
筒内面走査装置。