JPH10178137A - Manufacture of resin molded semiconductor device - Google Patents

Manufacture of resin molded semiconductor device

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JPH10178137A
JPH10178137A JP454497A JP454497A JPH10178137A JP H10178137 A JPH10178137 A JP H10178137A JP 454497 A JP454497 A JP 454497A JP 454497 A JP454497 A JP 454497A JP H10178137 A JPH10178137 A JP H10178137A
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JP
Japan
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resin
lead frame
mold
semiconductor device
runner
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JP454497A
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Hitoshi Maeda
仁 前田
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To eliminate affects due to resin burr for improved quality and productivity. SOLUTION: On the outside edge of a lead frame 4, a place corresponding to a runner part 16 of metal mold 2 is cut off with a width wider than the runner part 16 to form a recessed part 6. At the metal mold 2, a protruded part 20 in a shape fitting in the recessed part 6 is formed. The protruded part 20 is fitted into the recessed part 6 of the lead frame 4, and a molten resin is injected into the metal mold 2 for forming a package 1001, then a cull part resin 2601 is cutoff, so that a resin burr 28 is housed inside the recessed part 6.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、リードフレームに
パッケージを樹脂モールドした樹脂モールド型半導体装
置の製造方法に関し、詳しくは、リードフレームの端面
に残存する樹脂バリに対処した新規な製造方法に関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a resin-molded semiconductor device in which a package is resin-molded on a lead frame, and more particularly, to a novel method for coping with a resin burr remaining on an end face of a lead frame. It is.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の樹脂モールド型半導体装置は、リ
ードフレームを上下金型でクランプし、この金型に溶融
樹脂を注入して半導体素子部を樹脂モールドして、図8
ないし図11に示すようにリードフレーム4にパッケー
ジ1001を形成している。その際、図8および図9に
示すように、リードフレーム4の一端面に樹脂注入口と
なるカル部樹脂26が形成され、このカル部樹脂26を
ゲート部18から切り離すことにより、図10に示すよ
うな樹脂モールドされたリードフレーム4を得るように
している。しかしながら、溶融樹脂がランナー部16を
通過する際、樹脂が金型のランナー部16から洩れてリ
ードフレーム4の外縁に付着し、これが凝固し、カル部
樹脂26を切り離した後に樹脂バリ28として残る(図
11参照)。
2. Description of the Related Art In a conventional resin-molded semiconductor device, a lead frame is clamped by upper and lower dies, molten resin is injected into the dies, and a semiconductor element portion is resin-molded.
A package 1001 is formed on a lead frame 4 as shown in FIG. At this time, as shown in FIGS. 8 and 9, a cull resin 26 serving as a resin injection port is formed on one end surface of the lead frame 4. The resin-molded lead frame 4 as shown is obtained. However, when the molten resin passes through the runner section 16, the resin leaks from the runner section 16 of the mold and adheres to the outer edge of the lead frame 4, which solidifies and remains as a resin burr 28 after separating the cull resin 26. (See FIG. 11).

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来の
樹脂モールド型半導体装置の製造方法では、樹脂バリ2
8がリードフレーム4の外縁に残っているため、この樹
脂バリ28が後工程の設備レール等に引っかかり、生産
性の低下および半導体装置の品質の悪化を招く要因とな
っている。そのため、一部の樹脂モールド型半導体装置
では、この樹脂バリ28を人手により除去する方法も採
用されているが、この方法は多大の工数を要し、コスト
アップが避けられない。
As described above, in the conventional method of manufacturing a resin-molded semiconductor device, the resin burr 2
Since the resin 8 remains on the outer edge of the lead frame 4, the resin burrs 28 are caught on equipment rails and the like in a later process, which causes a reduction in productivity and a deterioration in quality of the semiconductor device. For this reason, in some resin-molded semiconductor devices, a method of manually removing the resin burr 28 is also employed, but this method requires a large number of steps, and inevitably increases the cost.

【0004】しかるに、現状の半導体モールド設備や製
造方法では、この樹脂バリ28を完全に防止することは
困難であり、解決が望まれていた。本発明は上述の点に
着目してなされたもので、樹脂バリによる悪影響をなく
し、品質および生産性の向上を図った樹脂モールド型半
導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
However, it is difficult to completely prevent the resin burr 28 with the current semiconductor molding equipment and manufacturing method, and a solution has been desired. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above points, and has as its object to provide a method of manufacturing a resin-molded semiconductor device which eliminates adverse effects of resin burrs and improves quality and productivity.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
本発明は、半導体素子が搭載されたリードフレームを金
型でクランプし、金型のランナー部からリードフレーム
側に溶融樹脂に注入し、前記半導体素子を樹脂モールド
してパッケージを形成する樹脂モールド型半導体装置の
製造方法であって、前記リードフレームの外縁であって
前記ランナー部が臨む箇所に、前記ランナー部よりも大
きな幅を有して該リードフレームの内側に窪む凹部を形
成し、前記金型に溶融樹脂を注入して半導体素子を樹脂
モールドしたのち、前記ランナー部で硬化した樹脂を切
り離すようにしたことを特徴とする。
According to the present invention, a lead frame on which a semiconductor element is mounted is clamped by a mold, and a molten resin is injected from a runner portion of the mold to the lead frame side. A method of manufacturing a resin-molded semiconductor device in which a package is formed by resin-molding the semiconductor element, wherein a portion of the outer edge of the lead frame facing the runner portion has a larger width than the runner portion. A concave portion is formed inside the lead frame, a molten resin is injected into the mold, and the semiconductor element is molded with a resin. Then, the resin cured by the runner portion is cut off.

【0006】本発明では、金型に溶融樹脂を注入すると
ランナー部を通ってパッケージが形成され、その過程で
ランナー部から微量の樹脂が洩れて凹部に付着する。樹
脂の硬化後、ランナー部で形成された樹脂を切り離すと
樹脂バリが生じるが、この樹脂バリは凹部内に収まり、
リードフレームの端面より突出しないので、後工程に移
送する際、レール等に引っ掛かることがなくなり、樹脂
バリを除去しなくても生産性および品質に悪影響をおよ
ぼすことがなくなる。
In the present invention, when the molten resin is injected into the mold, a package is formed through the runner portion, and in the process, a small amount of resin leaks from the runner portion and adheres to the concave portion. After the resin is cured, when the resin formed at the runner portion is cut off, resin burrs are generated.
Since it does not protrude from the end face of the lead frame, it does not get caught on a rail or the like when it is transferred to a subsequent process, so that productivity and quality are not adversely affected without removing resin burrs.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に示す実施の
形態に基づいて説明する。なお、図8ないし図11と同
一部材または同一機能のものは同一符号で示している。
図1および図2は、本発明方法に使用されるリードフレ
ームを金型にセットして樹脂モールドした状態を示して
いる。このリードフレーム4の外縁には、後述するラン
ナー部に対応する箇所を切欠いて凹部6を形成してい
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below based on an embodiment shown in the drawings. 8 to 11 are denoted by the same reference numerals.
1 and 2 show a state in which a lead frame used in the method of the present invention is set in a mold and resin-molded. A recess 6 is formed in the outer edge of the lead frame 4 by cutting out a portion corresponding to a runner portion described later.

【0008】金型2は、上型2Aと下型2Bとで構成さ
れ、上型2Aは下型2Bに対して上下動するようになっ
ている。下型2Bは、図2に示すように、リードフレー
ム4が収容される収容部8が仕切部12の左右に形成さ
れ、この収容部8の上下にはパッケージ1001を形成
する窪み10が形成されている。中央の仕切部12には
樹脂溜まりとなるカル部26が形成され、このカル部2
6から左右にランナー部16がそれぞれ延び、このラン
ナー部16はゲート部18を介して下型2Bの窪み10
と連接されている。
The mold 2 comprises an upper mold 2A and a lower mold 2B, and the upper mold 2A moves up and down with respect to the lower mold 2B. As shown in FIG. 2, the lower mold 2 </ b> B has, as shown in FIG. 2, housing portions 8 for housing the lead frames 4 formed on the left and right of the partition portion 12, and recesses 10 for forming the package 1001 formed above and below the housing portions 8. ing. A cull portion 26 serving as a resin pool is formed in the central partition portion 12.
Runner portions 16 extend from the left and right of the lower mold 2B via the gate portion 18.
Has been linked with.

【0009】前記凹部6は図1に示すように前記ランナ
ー部16が臨むリードフレーム4の外縁箇所に、ランナ
ー部16よりも大きい幅で形成され、前記ゲート部18
はリードフレーム4の下面に形成されている。前記ラン
ナー部16に対応する箇所の仕切部12の左右側部に上
記したリードフレーム4の凹部6に嵌まる形状の凸部2
0が形成されている。リードフレーム4は、図2に示す
ように、下型2Bの収容部8に収容されて上型2Aとの
間でクランプされる。このとき、下型2Bの凸部20に
リードフレーム4の凹部6が密接状態で嵌まっている
(図3および図4参照)。
As shown in FIG. 1, the recess 6 is formed at the outer edge of the lead frame 4 where the runner 16 faces, and has a width larger than that of the runner 16.
Are formed on the lower surface of the lead frame 4. On the left and right sides of the partition portion 12 corresponding to the runner portion 16, the convex portion 2 having a shape to fit into the concave portion 6 of the lead frame 4.
0 is formed. As shown in FIG. 2, the lead frame 4 is accommodated in the accommodating portion 8 of the lower die 2B and clamped between the upper die 2A. At this time, the concave portion 6 of the lead frame 4 is fitted in the convex portion 20 of the lower mold 2B in a close state (see FIGS. 3 and 4).

【0010】この状態で下型2Bの注入口22から溶融
樹脂を注入すると、この溶融樹脂はカル部26からラン
ナー部16、さらにランナー部16からゲート部18を
通って下型2Bの窪み10に注入され、下型2Bの窪み
10からリードフレーム4に形成された複数のリードの
間の隙間を通って上型2Aの窪み10に供給され、これ
ら上型2Aと下型2Bの窪み10において半導体素子が
モールドされ、パッケージ1001が形成される。所定
時間経過して樹脂が硬化すると、リードフレーム4にカ
ル部26で形成されたカル部樹脂2601が連接された
状態となり、このリードフレーム4を金型2から取り出
す(図5参照)。
In this state, when the molten resin is injected from the injection port 22 of the lower mold 2B, the molten resin flows from the cull portion 26 to the runner portion 16 and further from the runner portion 16 to the gate portion 18 to the recess 10 of the lower mold 2B. It is injected and supplied from the depression 10 of the lower die 2B to the depression 10 of the upper die 2A through a gap between a plurality of leads formed on the lead frame 4, and the semiconductor is formed in the depression 10 of the upper die 2A and the lower die 2B. The element is molded, and a package 1001 is formed. When the resin cures after a predetermined time, the cull resin 2601 formed by the cull portion 26 is connected to the lead frame 4 and the lead frame 4 is removed from the mold 2 (see FIG. 5).

【0011】次いで、このカル部樹脂2601をゲート
部樹脂1801の箇所から、モールド設備で自動で切り
離すと、図6に示すようにパッケージ1001が形成さ
れたリードフレーム4が作成される。カル部樹脂260
1を切り離すとランナー部16で硬化した樹脂も一緒に
切り離されるが、あとに樹脂バリ28が凹部6に残る
(図7参照)。しかしながら、本実施の形態例ではこの
樹脂バリ28は、凹部6内に収まり、リードフレーム4
の外縁401より突出しないので、後工程に移送する
際、レール等に引っ掛かることがなくなり、樹脂バリ2
8を除去しなくても生産性および品質に悪影響をおよぼ
すことがなくなる。
Next, when the cull resin 2601 is automatically separated from the gate resin 1801 by a molding facility, a lead frame 4 having a package 1001 is formed as shown in FIG. Cal part resin 260
When 1 is cut off, the resin cured by the runner section 16 is also cut off, but the resin burr 28 remains in the recess 6 later (see FIG. 7). However, in the present embodiment, the resin burr 28 fits in the recess 6 and the lead frame 4
Does not protrude from the outer edge 401 of the resin burr, so that it does not get caught on a rail or the like when transferred to a subsequent process.
Even if 8 is not removed, productivity and quality will not be adversely affected.

【0012】しかも、金型2の方にも凹部6に嵌まる凸
部20を形成しているので、ゲート部18から洩れる樹
脂も凸部20で阻止されて微量になるため、樹脂バリ2
8自体も微小になる。したがって、本実施の形態の樹脂
モールド型半導体装置の製造方法によれば、生産性の低
下および品質の悪化の要因となっている樹脂バリ28を
除去することなく、リードフレーム4に凹部6を形成す
るという簡単な手段で樹脂バリ28の悪影響に対処でき
る。
In addition, since the convex portion 20 that fits into the concave portion 6 is also formed on the mold 2, the resin leaking from the gate portion 18 is also blocked by the convex portion 20 and becomes very small.
8 itself becomes minute. Therefore, according to the method of manufacturing a resin-molded semiconductor device of the present embodiment, the concave portion 6 is formed in the lead frame 4 without removing the resin burr 28 which is a factor of lowering productivity and deteriorating quality. The harmful effect of the resin burr 28 can be dealt with by a simple means.

【0013】また、樹脂バリ28を除去する付帯作業も
廃止でき、工数削減によるコスト低減が可能となる。な
お、凹部6は樹脂バリ28をリードフレーム4の外縁4
01より突出させない目的で形成されるものであるか
ら、その目的が達成できれば、できるだけ小さい深さに
形成することが好ましい。また、金型2の構成も上記実
施の形態に限定されず、例えば、1枚のリードフレーム
4だけを樹脂モールドするものであってもよいし、ある
いはリードフレーム4を上型2Aに収容するタイプのも
のでもよく、ゲート部から樹脂を注入して樹脂モールド
するあらゆるタイプの金型に適用可能である。
Further, the additional work of removing the resin burr 28 can be eliminated, and the cost can be reduced by reducing the number of steps. In addition, the concave portion 6 is formed such that the resin burr 28 is
Since it is formed for the purpose of not protruding from 01, it is preferable to form as small a depth as possible if the purpose can be achieved. In addition, the configuration of the mold 2 is not limited to the above-described embodiment. For example, only one lead frame 4 may be resin-molded, or a type in which the lead frame 4 is housed in the upper mold 2A. The present invention may be applied to any type of mold in which a resin is injected from a gate portion to perform resin molding.

【0014】[0014]

【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、リ
ードフレームの外縁であってランナー部を臨む箇所に、
ランナー部よりも大きな幅を有して該リードフレームの
内側に窪む凹部を形成し、金型に溶融樹脂を注入して半
導体素子を樹脂モールドしたのち、ランナー部で硬化し
た樹脂を切り離すようにした。そのため、カル部樹脂を
切り離すと樹脂バリがリードフレームに生じるが、この
樹脂バリは凹部内に収まり、リードフレームの外縁より
突出しないので、後工程に移送する際、レール等に引っ
掛かることがなくなり、樹脂バリを除去しなくても樹脂
モールド型半導体装置の生産性および品質に悪影響をお
よぼすことがなくなる。また、樹脂バリを除去する付帯
作業も廃止でき、工数削減によるコストダウンが可能と
なる。
As described above in detail, according to the present invention, the outer edge of the lead frame facing the runner portion is
After forming a concave portion having a width larger than that of the runner portion and depressed inside the lead frame, injecting a molten resin into a mold and resin-molding the semiconductor element, the resin cured in the runner portion is cut off. did. Therefore, when the cull resin is cut off, resin burrs are formed on the lead frame, but the resin burrs are contained in the concave portions and do not protrude from the outer edge of the lead frame, so that when transferred to a subsequent process, they are not caught on a rail or the like, Even if the resin burrs are not removed, the productivity and quality of the resin mold type semiconductor device will not be adversely affected. In addition, the additional work of removing resin burrs can be eliminated, and cost can be reduced by reducing man-hours.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の樹脂モールド型半導体装置の製造方法
に使用されるリードフレームを金型にセットした状態の
平面断面図で、図2のA−A線断面図である。
FIG. 1 is a plan sectional view showing a state in which a lead frame used in a method of manufacturing a resin-molded semiconductor device of the present invention is set in a mold, and is a sectional view taken along line AA of FIG.

【図2】図1のB−B線断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along line BB of FIG.

【図3】図1の要部の拡大断面図である。FIG. 3 is an enlarged sectional view of a main part of FIG.

【図4】図3のC−C線断面図である。FIG. 4 is a sectional view taken along line CC of FIG. 3;

【図5】樹脂モールドされたリードフレームを金型から
取り出した状態の平面図である。
FIG. 5 is a plan view showing a state in which a resin-molded lead frame is removed from a mold.

【図6】カル部樹脂を切り離した状態の平面図である。FIG. 6 is a plan view showing a state where a cull resin is cut off.

【図7】図6の要部の平面図である。FIG. 7 is a plan view of a main part of FIG. 6;

【図8】従来の製造方法により樹脂モールドされたリー
ドフレームを金型から取り出した状態の平面図である。
FIG. 8 is a plan view showing a state in which a lead frame molded by resin according to a conventional manufacturing method is taken out of a mold.

【図9】図8の側面図である。FIG. 9 is a side view of FIG.

【図10】従来のリードフレームのカル部樹脂を切り離
した状態の平面図である。
FIG. 10 is a plan view of a conventional lead frame in a state where a cull resin is cut off.

【図11】図10の要部の平面図である。FIG. 11 is a plan view of a main part of FIG. 10;

【符号の説明】 2…金型、2A…上型、2B…下型、4…リードフレー
ム、401…外縁、6…凹部、8…収容部、10…窪
み、1001…パッケージ、12…仕切部、16…ラン
ナー部、18…ゲート部、1801…ゲート部樹脂、2
0…凸部、26…カル部、2601…カル部樹脂、28
…樹脂バリ。
[Description of Signs] 2 ... Mold, 2A ... Upper mold, 2B ... Lower mold, 4 ... Lead frame, 401 ... Outer edge, 6 ... Concave section, 8 ... Accommodating section, 10 ... Recess, 1001 ... Package, 12 ... Partition section , 16 ... runner part, 18 ... gate part, 1801 ... gate part resin, 2
0: convex, 26: cull, 2601: cull resin, 28
... resin burrs.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体素子が搭載されたリードフレーム
を金型でクランプし、金型のランナー部からリードフレ
ーム側に溶融樹脂を注入し、前記半導体素子を樹脂モー
ルドしてパッケージを形成する樹脂モールド型半導体装
置の製造方法であって、 前記リードフレームの外縁であって前記ランナー部が臨
む箇所に、前記ランナー部よりも大きな幅を有して該リ
ードフレームの内側に窪む凹部を形成し、 前記金型に溶融樹脂を注入して半導体素子を樹脂モール
ドしたのち、前記ランナー部で硬化した樹脂を切り離す
ようにしたことを特徴とする樹脂モールド型半導体装置
の製造方法。
1. A resin mold for clamping a lead frame on which a semiconductor element is mounted with a mold, injecting a molten resin from a runner portion of the mold to the lead frame side, and resin-molding the semiconductor element to form a package. A method of manufacturing a semiconductor device, comprising: forming a concave portion having a larger width than the runner portion and being depressed inside the lead frame at an outer edge of the lead frame and facing the runner portion; A method for manufacturing a resin-molded semiconductor device, comprising: after injecting a molten resin into the mold to resin-mold a semiconductor element, separating the resin cured at the runner portion.
【請求項2】 前記金型には前記リードフレームの凹部
に嵌まる凸部が形成されていることを特徴とする請求項
1記載の樹脂モールド型半導体装置の製造方法。
2. The method of manufacturing a resin-molded semiconductor device according to claim 1, wherein a convex portion that fits into a concave portion of the lead frame is formed on the mold.
【請求項3】 前記ランナー部からリードフレーム側へ
の溶融樹脂の注入は、ランナー部からリードフレームの
一方の面側に接するゲート部を介して行われ、前記ラン
ナー部で硬化した樹脂の切り離しはゲート部で行われる
ことを特徴とする請求項1記載の樹脂モールド型半導体
装置の製造方法。
3. Injection of the molten resin from the runner portion to the lead frame side is performed via a gate portion in contact with the runner portion on one surface side of the lead frame, and separation of the resin cured by the runner portion is performed. 2. The method for manufacturing a resin-molded semiconductor device according to claim 1, wherein the method is performed in a gate portion.
【請求項4】 前記溶融樹脂による半導体素子の樹脂モ
ールドは、前記ゲート部からリードフレームの下面に供
給されると共に、下面からリードフレームに形成された
複数のリードの間の隙間を通ってリードフレームの上面
に溶融樹脂が供給されることで行われることを特徴とす
る請求項3記載の樹脂モールド型半導体装置の製造方
法。
4. The resin mold of the semiconductor element made of the molten resin is supplied from the gate portion to the lower surface of the lead frame, and passes from the lower surface through a gap between a plurality of leads formed on the lead frame. 4. The method of manufacturing a resin-molded semiconductor device according to claim 3, wherein the method is performed by supplying a molten resin to an upper surface of the semiconductor device.
【請求項5】 前記金型は上型と下型とで構成され、前
記下型の中央に仕切部が形成されると共に仕切部の左右
に前記リードフレームが収容される収容部がそれぞれ形
成され、前記仕切部の中央に溶融樹脂が供給されるカル
部が形成され、前記ランナー部は前記仕切部内で前記カ
ル部の左右にそれぞれ形成されていることを特徴とする
請求項1記載の樹脂モールド型半導体装置の製造方法。
5. The mold comprises an upper mold and a lower mold, wherein a partition is formed in the center of the lower mold, and accommodating sections for accommodating the lead frame are formed on left and right of the partition. 2. The resin mold according to claim 1, wherein a cull portion to which the molten resin is supplied is formed at the center of the partition portion, and the runner portions are formed on the left and right sides of the cull portion in the partition portion. Of manufacturing a semiconductor device.
【請求項6】 前記リードフレームの凹部に嵌まる凸部
が前記仕切部の左右側部にそれぞれ形成されていること
を特徴とする請求項5記載の樹脂モールド型半導体装置
の製造方法。
6. The method of manufacturing a resin-molded semiconductor device according to claim 5, wherein convex portions which fit into concave portions of said lead frame are formed on left and right sides of said partition portion, respectively.
JP454497A 1996-10-18 1997-01-14 Manufacture of resin molded semiconductor device Pending JPH10178137A (en)

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JP8-275900 1996-10-18
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020009885A (en) * 2000-07-27 2002-02-02 마이클 디. 오브라이언 Leadframe for semiconductor package
KR101488527B1 (en) * 2008-06-23 2015-01-30 앰코 테크놀로지 인코포레이티드 Manufacturing method of semiconductor device using mold for manufacturing a semiconductor device

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