JPH10175166A - 砥液供給装置及び砥液供給方法 - Google Patents

砥液供給装置及び砥液供給方法

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JPH10175166A
JPH10175166A JP8353069A JP35306996A JPH10175166A JP H10175166 A JPH10175166 A JP H10175166A JP 8353069 A JP8353069 A JP 8353069A JP 35306996 A JP35306996 A JP 35306996A JP H10175166 A JPH10175166 A JP H10175166A
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JP
Japan
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liquid
polishing
stock solution
tank
measuring
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Pending
Application number
JP8353069A
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English (en)
Inventor
Kiyotaka Kawashima
清隆 川島
Kenichi Shigeta
賢一 重田
Koji Iguchi
幸治 井口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ebara Corp
Toshiba Corp
Original Assignee
Ebara Corp
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Ebara Corp, Toshiba Corp filed Critical Ebara Corp
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  • Control Of Non-Electrical Variables (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 装置の小型化が図れ、同時に原液ボルト交換
頻度を少なくすることができる砥液供給装置及び砥液供
給方法を提供する。 【解決手段】 ポリッシング対象物の表面研磨に用いる
砥液の原液を供給する原液供給手段10と、原液を希釈
する希釈液を供給する希釈液供給手段20と、原液供給
手段10から供給される原液と希釈液供給手段20から
供給される希釈液とを混合して所望の濃度とした砥液を
溜めると共に該溜めた砥液をポリッシング対象物に供給
する調整槽31とを具備する。原液供給手段10と調整
槽31の間に、原液の量を計量してから調整槽31に供
給する計量槽41を設ける。計量槽41には希釈液供給
手段20からの希釈液をも供給する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体ウエハ等のポ
リッシング対象物の表面を研磨するポリッシング装置に
砥液を供給する砥液供給装置及び砥液供給方法に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエハの製造工程においては、半
導体ウエハ表面を研磨して平坦且つ鏡面化するポリッシ
ング装置が使用されている。
【0003】またこのポリッシング装置には研磨用の砥
液を供給する砥液供給装置が取り付けられている。
【0004】そして従来の砥液供給装置は、調整槽内に
おいて砥液の原液とこれを希釈する希釈液(純水)とを
混合して所定濃度の砥液を作り、この砥液を必要に応じ
て調整槽からポリッシング装置に供給していた。
【0005】具体的に例えば原液の100倍希釈の砥液
を作る場合は、原液1は即ち原液ボトル1本の全液を抜
き出すことに相当するので、まず原液ボトル1本の全液
を調整槽内に移し、これに対して純水を原液ボトルの9
9杯分だけ調整槽内に加えてこれを撹拌することとして
いた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
例においては以下のような問題点があった。 上述のように原液を100倍希釈する場合は、調整槽
は原液ボトルの100倍の容量を持つ必要があり、装置
全体が大型化してしまう。
【0007】装置全体の小型化を図るために調整槽を
小型化すると、原液ボトルの容量も小さくしなければな
らなくなってしまうので、この場合は原液交換頻度が多
くなってしまう。
【0008】本発明は上述の点に鑑みてなされたもので
ありその目的は、装置の小型化が図れ、同時に原液ボル
ト交換頻度を少なくすることができる砥液供給装置及び
砥液供給方法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め本発明は、ポリッシング対象物の表面研磨に用いる砥
液の原液を供給する原液供給手段と、該原液を希釈する
希釈液を供給する希釈液供給手段と、前記原液供給手段
から供給される原液と前記希釈液供給手段から供給され
る希釈液とを混合して所望の濃度とした砥液を溜めると
共に該溜めた砥液をポリッシング対象物に供給する調整
槽とを具備する砥液供給装置において、前記原液供給手
段と調整槽の間に、原液の量を計量してから前記調整槽
に供給する計量槽を設けることとした。また前記計量槽
には、前記希釈液供給手段からの希釈液をも供給するこ
ととした。また本発明は、ポリッシング対象物の表面研
磨に用いる砥液の原液と、該原液を希釈する希釈液とを
混合して所望の濃度の砥液とした後に、該砥液をポリッ
シング対象物に供給する砥液供給方法において、前記原
液を予め計量層にて計量し、計量後の原液を前記希釈液
と混合することとした。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて詳細に説明する。図1は本発明にかかる砥液供
給装置の全体構成を示す概略構成図である。同図に示す
ようにこの砥液供給装置は、原液供給手段10と、希釈
液供給手段20と、調整槽31と、計量槽41とを具備
して構成されている。以下各構成部分について説明す
る。
【0011】原液供給手段10は、砥液の原液が充填さ
れた原液ボトル11と、原液ボトル11と計量槽41間
を連結する原液供給配管13と、原液供給配管13の途
中に取り付けられる原液ポンプ15とを具備している。
【0012】ここで砥液の原液としては、SiO2の砥
粒とKOH水溶液の混合液が用いられる。
【0013】次に希釈液供給手段20は、図示しない工
場の純水供給手段と計量槽41間を連結する希釈液供給
配管21と、希釈液供給配管21の途中に取り付けられ
る流量計23とを具備している。なお希釈液供給配管2
1の途中には図示しない開閉弁またはポンプ等を取り付
けることによって計量槽41への純水の供給及びその停
止が制御される。
【0014】次に調整槽31には、その内部に撹拌部材
33を収納するとともに、その上部に撹拌部材33を駆
動するモータ35を設置している。
【0015】次に図2は前記計量槽41を詳細に示す図
であり、同図(a)は側断面図、同図(b)は同図
(a)のA−A側断面図、同図(c)は平面図である。
【0016】同図に示すように計量槽41は、その下面
に配管43を取り付け、配管43の下端に切換バルブ4
5を取り付け、切換バルブ45に供給配管47及び排水
配管49を接続し、一方計量槽41の上面の蓋部51に
計量用フロートセンサ53及び異常検知用フロートセン
サ55を取り付け、さらに計量槽41の上部側面にオー
バーフロー用排水管57を取り付けて構成されている。
【0017】蓋部51には、図1に示す原液供給手段1
0の原液供給配管13と、希釈液供給手段20の希釈液
供給配管21が接続されている。また前記供給配管47
は調整槽31に接続されている。なお原液供給配管13
の先端は計量槽41の内部に深く挿入されているが、こ
れは該先端を計量槽41内の液体に触れさせておくよう
にして、該先端で砥液が固まってこれを塞いでしまわな
いようにするためである。
【0018】次にこの砥液供給装置の動作を図1,図2
を用いて説明する。まず切換バルブ45を閉じた状態で
原液ポンプ15を駆動して、原液ボトル11から原液を
吸い出して計量槽41内に供給する。
【0019】そして前記計量用フロートセンサ53が計
量槽41内に所定量の原液が充填されたことを検出した
際は、原液ポンプ15の駆動を停止すると同時に、前記
切換バルブ45によって配管43と供給配管47間を開
く。これによって所定量の砥液の原液が調整槽31内に
供給される。
【0020】次に前記切換バルブ45によって配管43
と供給配管47間を開いたままの状態で、希釈液供給配
管21から純水を計量槽41内に供給すれば、該純水は
計量槽41内を通過してそのまま配管43、切換バルブ
45及び供給配管47を通して調整槽31内に供給され
る。
【0021】このとき前記流量計23は供給される純水
の量を計量し、該純水の量が所定量(例えば前記原液の
量の99倍の量)に達した際は、純水の供給を停止す
る。
【0022】そして調整槽31内の原液と純水とが撹拌
部材33によって撹拌されて所望の濃度の砥液が得られ
る。
【0023】この砥液は必要に応じて、図示しないポリ
ッシング装置に供給される。調整槽30内の砥液の量が
減少すると、前記動作が繰り返される。
【0024】なお計量用フロートセンサ53や切換バル
ブ45等が故障して計量槽41内の液体が所定の液面レ
ベルを越えた場合は、異常検知用フロートセンサ55が
これを検知してこの装置の緊急停止等を行い、同時にオ
ーバーフロー用排水管57からオーバーフローさせる。
【0025】ところで上記実施形態の場合、砥液の原液
を計量して調整槽31に移した後の計量槽41内に純水
を供給するようにしたので、計量槽41が洗浄され該計
量槽41内への砥粒の付着が防止される。
【0026】なお上記実施形態においては、供給される
純水の量を希釈液供給配管21に設けた流量計23によ
って計量したが、流量計23を設ける代りに、前記砥液
の原液と同様に、純水の量を計量槽41によって計量し
ても良い。
【0027】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本発明によれ
ば以下のような優れた効果を有する。 少量ずつの原液を調整槽に供給できるので、調整槽の
小型化が図れ、装置全体の小型化が図れる。
【0028】少量ずつの原液を調整槽に供給できるの
で、原液ボトルの大きさと調整槽の大きさとは相関関係
になく、このため原液ボトルの容量を大きくして原液ボ
トル交換頻度を少なくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる砥液供給装置の全体構成を示す
概略構成図である。
【図2】計量槽41を詳細に示す図であり、同図(a)
は側断面図、同図(b)は同図(a)のA−A側断面
図、同図(c)は平面図である。
【符号の説明】
10 原液供給手段 11 原液ボトル 13 原液供給配管 15 原液ポンプ 20 希釈液供給手段 21 希釈液供給配管 23 流量計 31 調整槽 41 計量槽 45 切換バルブ 53 計量用フロートセンサ 55 異常検知用フロートセンサ 57 オーバーフロー用排水管
フロントページの続き (72)発明者 井口 幸治 神奈川県川崎市川崎区駅前本町25番地1 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ポリッシング対象物の表面研磨に用いる
    砥液の原液を供給する原液供給手段と、 該原液を希釈する希釈液を供給する希釈液供給手段と、 前記原液供給手段から供給される原液と前記希釈液供給
    手段から供給される希釈液とを混合して所望の濃度とし
    た砥液を溜めると共に該溜めた砥液をポリッシング対象
    物に供給する調整槽とを具備する砥液供給装置におい
    て、 前記原液供給手段と調整槽の間に、原液の量を計量して
    から前記調整槽に供給する計量槽を設けたことを特徴と
    する砥液供給装置。
  2. 【請求項2】 前記計量槽には、前記希釈液供給手段か
    らの希釈液をも供給することを特徴とする請求項1記載
    の砥液供給装置。
  3. 【請求項3】 ポリッシング対象物の表面研磨に用いる
    砥液の原液と、該原液を希釈する希釈液とを混合して所
    望の濃度の砥液とした後に、該砥液をポリッシング対象
    物に供給する砥液供給方法において、 前記原液を予め計量層にて計量し、計量後の原液を前記
    希釈液と混合することを特徴とする砥液供給方法。
JP8353069A 1996-12-13 1996-12-13 砥液供給装置及び砥液供給方法 Pending JPH10175166A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012101328A (ja) * 2010-11-11 2012-05-31 Lapis Semiconductor Co Ltd 混合比率制御装置および方法、ならびに砥液供給システムおよび方法
JP2015077682A (ja) * 2014-11-27 2015-04-23 ラピスセミコンダクタ株式会社 混合比率制御装置および方法、ならびに砥液供給システムおよび方法

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JPH0647649A (ja) * 1992-01-06 1994-02-22 Naaku Kk 加工油の自動調合、補給装置
JPH0752045A (ja) * 1993-08-17 1995-02-28 Ebara Corp ポリッシング装置の砥液供給装置

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