JPH10160450A - 眼鏡レンズの周縁形状測定装置およびそれを有する適合判定装置 - Google Patents

眼鏡レンズの周縁形状測定装置およびそれを有する適合判定装置

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JPH10160450A
JPH10160450A JP32165196A JP32165196A JPH10160450A JP H10160450 A JPH10160450 A JP H10160450A JP 32165196 A JP32165196 A JP 32165196A JP 32165196 A JP32165196 A JP 32165196A JP H10160450 A JPH10160450 A JP H10160450A
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lens
shape
measuring
spectacle lens
spectacle
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JP32165196A
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Inventor
Yasuo Suzuki
泰雄 鈴木
Kenichi Watanabe
憲一 渡辺
Toshihiro Iwai
俊宏 岩井
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Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】少なくとも平加工後の眼鏡レンズ周縁形状を測
定するための測定子を設け、ヤゲン加工後と平加工後の
各々の眼鏡レンズの周縁形状を測定することを可能にす
る眼鏡レンズの周縁形状測定装置、及び、ヤゲン加工後
と平加工後の各々の眼鏡レンズの周縁形状を測定して、
各眼鏡レンズが眼鏡フレームの玉型形状に適合するかど
うかを判定することのできる眼鏡レンズの適合判定装置
を提供すること。 【解決手段】端面加工後の眼鏡レンズL周縁の形状を測
定するための眼鏡レンズの周縁形状測定装置において、
少なくとも平加工後の眼鏡レンズL周縁に当接する測定
子18を備えた鏡レンズの周縁形状測定装置。また、眼
鏡レンズの周縁形状測定装置を備えた眼鏡レンズの適合
判定装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ヤゲン加工又は平加工
された眼鏡レンズの周縁形状を測定する周縁形状測定装
置、及びその眼鏡レンズが眼鏡フレームの玉型に正確に
適合するかどうかを判定するための眼鏡レンズの適合判
定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、端面加工のうち、ヤゲン加工
された加工済眼鏡レンズが眼鏡レンズ枠に正確に嵌合す
るか否かを検査するために、演算で求められた設計ヤゲ
ン頂点周長と、形状測定器により測定された測定値とを
比較し、それらの差が所定範囲内ならば合格品と判断す
る眼鏡レンズの加工検査方法及び検査装置が提供されて
いる(特開平6−175087号公報を参照)。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな検査装置では、ヤゲン加工済の眼鏡レンズの周縁形
状を測定する測定子のみ備えており、平加工済の眼鏡レ
ンズが眼鏡フレームの玉型に適合するかどうかを判定す
ることはできない。
【0004】そこで、本発明は上記問題点を解決し、少
なくとも平加工後の眼鏡レンズ周縁形状を測定するため
の測定子を設け、ヤゲン加工後と平加工後の各々の眼鏡
レンズの周縁形状を測定することを可能にする眼鏡レン
ズの周縁形状測定装置、及びヤゲン加工後と平加工後の
各々の眼鏡レンズの周縁形状を測定して、各眼鏡レンズ
が眼鏡フレームの玉型形状に適合するかどうかを判定す
ることのできる眼鏡レンズの適合判定装置を提供するこ
とを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、請求項1にかかる本発明の眼鏡レンズの周縁形状測
定装置は、端面加工後の眼鏡レンズ周縁の形状を測定す
るための眼鏡レンズの周縁形状測定装置において、少な
くとも平加工後の眼鏡レンズ周縁に当接する測定子を備
えたことを特徴とする。
【0006】また、請求項2の発明にかかる眼鏡レンズ
の適合判定装置は、上述した構成に加えて、眼鏡レンズ
の周縁形状測定装置を備えることを特徴とする。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に基づいて説明する。
【0008】図1において、1は眼鏡レンズ形状(玉型
形状)のための形状データを測定するための玉型形状測
定装置である。この玉型形状測定装置としては、眼鏡フ
レーム(メガネフレーム)の眼鏡レンズ枠(フレーム
枠)の形状(フレーム形状)のみを測定するフレーム形
状測定装置(フレーム枠形状データ入力手段)を用いる
こともできるし、又、眼鏡レンズ枠のフレーム形状と眼
鏡レンズの倣い研削に用いられる型板や玉型モデル等の
形状との両方の形状測定ができる形状測定装置を用いる
ことができる。
【0009】また、2はフィッテング判定装置(判定手
段)、3はレンズ形状測定装置(レンズ形状データ入力
手段)、LGは玉摺機(レンズ周縁研削装置)である。
この玉型形状測定装置1は、メガネフレーム(眼鏡フレ
ーム)MFにおける左側及び右側の玉型FR,FL(眼鏡
枠)のヤゲン溝(図示せず)に沿う玉型形状情報(θ
i,ρi´,Zi´)、即ち回転角θiにおけるレンズ光軸
中心からヤゲン溝までの動径ρi及びヤゲン溝の光軸方
向の位置Ziを測定するものである。この玉型形状測定
装置1には周知の構造のものを用いることができるの
で、その詳細な説明は省略する。尚、玉型形状情報(θ
i,ρi´,Zi´)はレンズ光軸中心のデータに変換さ
れている。
【0010】<フィッテング判定装置2>フィッテング
判定装置2は、図1(b)に示した様に、演算制御回路
(演算制御手段)2aと、演算制御回路2aに接続され
たキーボード2bと、演算制御回路2aにより制御され
る液晶表示装置(表示手段)2cを有する(図1(a),
図2参照)。そして、玉型形状測定装置1からの測定結
果である玉型形状情報(θi,ρi,Zi)が演算制御回
路2aに入力されるようになっている。
【0011】<レンズ形状測定装置3>レンズ周縁形状
測定手段としてのレンズ形状測定装置3(レンズ周縁形
状測定装置)は、図1(a),図3に示した様に、装置本
体4を有する。この装置本体4は、左右両側部の前側に
突出する軸支用の筺体部4a,4bを有する。また、レ
ンズ形状測定装置3は、図4(a)に示した測定手段5
と、図4(b)に示した軸回転駆動手段6と、図4(b)に示
した軸移動手段7と、図1(b)に示した演算制御回路
(演算制御手段)8を有する。尚、M1,M2は演算制
御回路2aに接続されたメモリ、DSPは装置本体4の
筺体部4b上部正面に設けられた液晶表示部である。こ
の液晶表示部DSPは演算制御回路8により表示を制御
する。
【0012】(測定手段5)測定手段5は、左右の筺体
部4a,4bの上部内に固定された固定板9,10と、
固定板9,10に両端部が固定された一対の軸状のガイ
ドレール11,12と、ガイドレール11,12が摺動
自在に貫通するベース13と、ガイドレール11を挟む
ようにベース13の上端部に回転自在に保持された一対
のガイドローラ14,14´を有する(図4(c)参
照)。尚、ガイドレール11,12は、互いに平行に設
けられていると共に、上下に間隔をおいて配置されてい
る。
【0013】また、測定手段5は、ベース13の正面に
設けられた上下に延びるレール15aと、レール15a
に上下動自在に保持された測定アーム15と、測定アー
ム15の上端に設けられた係止ピン16と、測定アーム
15の正面下部に固定された操作ツマミ17と、測定ア
ーム15の下端部に回転自在に設けられた鼓形状の測定
子18(測定部材)と、ベース13の上端に固定された
ブラケット19と、ブラケット19の側部に保持された
フック20を有する。
【0014】このフック20は、ブラケット19に前後
回動可能に取り付けられていると共に、バネ(図示せ
ず)で係止ピン16の上方に位置するように付勢されて
いる。。そして、操作ツマミ17を摘んで測定アーム1
5を上方に移動させて、フック20の傾斜ガイド20a
に係止ピン16を案内させることで、フック20が図示
しないバネのバネ力に抗して後方側に回動させられ、係
止ピン16がフック20の先端を越えると、フック20
が図示しないバネのバネ力で前側に回動する。この後、
操作ツマミ17から手を離すと、係止ピン16がフック
20に係止させられる。これにより、測定アーム15及
び測定子18を上方の初期位置に位置させることができ
る。
【0015】また、操作ツマミ17を摘んで測定アーム
15を上方に持ち上げ、図示しない操作手段でフック2
0を後方に回動操作することで、フック20による係止
ピン16に係止は解除されるようになっている。
【0016】しかも、係止ピン16がフック20に係止
されているのを検出する検出手段21が設けられてい
る。尚、この検出手段21は図4(a)には図示していな
いが、この検出手段21にはマイクロスイッチや圧力セ
ンサ等を用いることができる。そして、この検出手段2
1からの検出信号は演算制御回路8に入力される。
【0017】更に、測定手段5は、ベース13の正面と
測定アーム15との間に介装されたX方向測定手段とし
てのマグネスケール22(リニアスケール)と、ベース
13の背面と固定板9,10との間に介装されたZ方向
測定手段としてのマグネスケール23(リニアスケー
ル)を有する。
【0018】このマグネスケール22は、ベース13の
正面に上下方向(X軸方向)に向けて固定された磁気検
出ヘッド22aと、磁気検出ヘッド22aを上下方向に
向けて貫通し且つ測定アーム15に保持されたロッド状
の磁気スケール22bを有する。また、マグネスケール
23は、ベース13の背面に左右方向(Z軸方向)に向
けて固定された磁気検出ヘッド23aと、磁気検出ヘッ
ド23aを左右方向に向けて貫通し且固定板9,10に
保持されたロッド状の磁気スケール23bを有する。
【0019】尚、本実施例では、測定子18のX軸方向
及びZ軸方向への移動量検出にマグネケール22,23
をリニアスケールとして用いているが、この検出には光
電変換素子を用いたリニアスケールやポテンショメータ
等を用いることもできる。
【0020】また、鼓状の測定子18には、谷底部18
aを有するV溝18bが設けられている。そして、V溝
18bの傾斜角度(開き角度)は、100゜から140
゜の範囲に設定される。尚、通常は眼鏡レンズの周縁に
設けられるヤゲンの角度は100゜程度に設定されてい
るので、V溝18bの傾斜角度(開き角度)を100゜
から140゜としたが、この場合にはV溝18bの傾斜
角度(開き角度)を120゜にするのが好ましい。しか
し、V溝18bの傾斜角度(開き角度)は上述のものに
限定されるものではない。即ち、V溝18bの傾斜角度
(開き角度)は、眼鏡レンズの周縁に設けられるヤゲン
の角度と同じか、或はこのヤゲンの角度以上で且つヤゲ
ンから測定子が外れない角度であればよい。
【0021】この傾斜角度(開き角度)更に、測定子1
8による測定には測定アーム15の自重を測定圧として
眼鏡レンズの周縁部に全て作用させてもよいが、好まし
くは、測定アーム15の自重よる下方への力よりも僅か
に弱いバネ力のバネ等の付勢手段(図示せず)によって
測定アーム15の自重に抗して上方にバネ付勢して、測
定アーム15による眼鏡レンズの周縁への測定圧を軽減
するようにしてもよい。
【0022】(軸回転駆動手段6)軸回転駆動手段6
は、筺体部4bの下部に前後に向けて固定された固定板
24と、装置本体4内に左右動自在に保持された図示し
ない可動ベースと、この可動ベースに回転自在に保持さ
れた駆動軸25と、可動ベースに固定されたレンズ回転
軸用のパルスモータ26と、パルスモータ26の出力軸
に固定されたウオーム27と、ウオーム27に噛合し且
つ駆動軸25に設けられたウオームホイール28と、可
動ベースに回転自在に保持されたレンズ回転軸29と、
固定板24に回転自在に保持されたレンズ回転軸30を
有する。このレンズ回転軸29,30は、同軸上に設け
られていると共に、筺体部4a,4bの対向壁4a1,
4b1を貫通して筺体部4a,4b間に突出している。
尚、レンズ回転軸30の左端部近傍の部分には図示を省
略したスプライン部が設けられている。
【0023】また、軸駆動手段6は、駆動軸の両端部に
固定されたタイミングギヤ31,32とレンズ回転軸2
9の一端部に固定されたタイミングギヤ33と、レンズ
回転軸30の上述したスプライン部(図示せず)にスプ
ライン嵌合されたタイミングギヤ34と、タイミングギ
ヤ31,33に掛け渡されたタイミングベルト35と、
タイミングギヤ32,34に掛け渡されたタイミングベ
ルト36を有する。
【0024】(軸移動手段7)軸移動手段7は、上述し
た図示しない可動ベースを駆動して、レンズ回転軸2
9,30間に眼鏡レンズLを挟持させたり、レンズ回転
軸29,30間に保持された眼鏡レンズLを取り外した
りするために、レンズ回転軸29,30の対向端部同士
を相対接近・離反させるのに用いられる。
【0025】この軸駆動手段7は、回転自在に且つ軸方
向に移動不能に上述の可動ベースに保持された雌ネジ3
7を有する。この雌ネジ37は、左右方向(Z軸方向)
に延びていると共に、他端部が固定板24を螺着されて
固定板24を貫通している。従って、雌ネジ37を正回
転又は逆回転させることにより、上述の可動ベースが左
右方向(Z軸方向)に移動させられる様になっている。
【0026】また、軸移動手段7は、装置本体4内に固
定された軸移動用のパルスモータ38と、パルスモータ
38の出力軸に固定されたウオーム39と、ウオーム3
9に噛合し且つ雌ネジ37に固定されたウオームホイー
ル40を有する。
【0027】尚、41は左眼鏡レンズMLの測定開始ス
イッチ、41´は右眼鏡レンズMRの測定開始スイッ
チ、42は軸駆動用のパルスモータ38を正転させて眼
鏡レンズLをレンズ回転軸29,30間にクランプさせ
るのに用いるクランプスイッチ、43はパルスモータ3
8を逆転させてレンズ回転軸29,30間にクランプし
た眼鏡レンズLのクランプを解除させるのに用いるクラ
ンプ解除スイッチで、スイッチ41,41´,42,4
3からの信号は演算制御回路8に入力される。また、4
4は演算制御回路8に接続されたメモリである。
【0028】(作用)次に、この様な構成の眼鏡用レン
ズの適合判定装置の作用を上述の演算制御回路の機能と
と共に説明する。
【0029】玉型形状測定装置1で測定されたメガネフ
レームMFの玉型FLの玉型形状情報(θi,ρi´,Zi
´)は、フィッテング判定装置2に入力されて、演算制
御回路2aを介してメモリM1に記憶される。
【0030】一方、玉型形状測定装置1からの玉型形状
情報(θi,ρi´,Zi´)は玉摺機(レンズ周縁研削
加工装置)に入力されて、玉摺機は玉型形状情報(θ
i,ρi´,Zi´)を基に円形の被加工レンズ(未加工
レンズ)をレンズ形状に研削加工する。
【0031】そして、この研削加工された眼鏡レンズL
の周縁に形成されたヤゲン頂部のレンズ形状をレンズ形
状測定装置3で後述する様にして測定して、この測定さ
れたレンズ形状情報(θi,ρi,Zi)が玉型形状情報
(θi,ρi´,Zi´)に一致するか否かをフィッテン
グ装置2を用いて判定させる。
【0032】(i).眼鏡レンズLの保持 先ず、玉摺機LGにより研削加工され且つ周縁にヤゲン
付けされた左眼鏡レンズMLを玉摺機LGのレンズ回転
軸(図示せず)から取り外す。この状態では、未加工レ
ンズをレンズ回転軸に取り付けるためのレンズ吸着盤が
眼鏡レンズMLに付いた状態となっている。
【0033】一方、スイッチ43をON操作すると、演算
制御回路8はパルスモータ38を逆転させて、雌ネジ3
7を逆転させ図示しない可動ベース図4(b)中左方に移
動させる。これにより、図4(b)中、軸回転駆動手段6
のうちレンズ回転軸30を除いた他の全ての部品、即ち
駆動軸25,パルスモータ26,ウオーム27,ウオー
ムホイール28,レンズ回転軸29,タイミングギヤ3
1,32,33,34、タイミングベルト35,タイミ
ングベルト36が図示しない可動ベースと一体に左方に
移動させられる。この結果、レンズ回転軸29がレンズ
回転軸30から離反させられ、クランプ解除の状態とな
る。
【0034】この状態で、レンズ吸着盤が付いている眼
鏡レンズMLをレンズ回転軸29,30間に配設して、
眼鏡レンズMLのレンズ吸着盤をレンズ回転軸30の端
部に玉摺機LGにおける場合と同様にして係合させ、ス
イッチ42をON操作する。これにより、演算制御回路8
はパルスモータ38を正転させて、雌ネジ37を正転さ
せ図示しない可動ベース図4(b)中右方に移動させる。
これに伴って、図4(b)中、軸回転駆動手段6のうちレ
ンズ回転軸30を除いた他の全ての部品が右方に移動さ
せられて、レンズ回転軸29が眼鏡レンズMLに当接さ
せられ、眼鏡レンズMLがレンズ回転軸29,30間に
挟持(クランプ)される。
【0035】(ii).レンズ形状測定 a.初期位置 係合ピン16がフック20に係止されている状態では測
定開始用のスイッチ41をON操作しても、測定は開始さ
れない。しかし、この位置でスイッチ41をおんさせる
ことにより、測定のための測定子18の上下方向(X軸
方向)及び左右(Z軸方向)への原点位置がこの位置に
設定される。また、この位置における測定子18とレン
ズ回転軸29,30の軸線までの距離を図5(a)に示し
た様にL0とする。
【0036】b.測定子のセット この状態で、操作ツマミ17を摘んで測定アーム15を
上方に持ち上げ、図示しない操作手段でフック20を後
方に回動操作することで、フック20による係止ピン1
6に係止は解除させる。この解除に伴い、検出手段21
からの検出信号が演算制御回路8に入力され、演算制御
回路8は眼鏡レンズMLのヤゲン頂点形状すなわち眼鏡
レンズMLの周長を測定開始可能な状態となる。
【0037】そして、操作ツマミ17を摘んだ状態で、
測定アーム15を降下させると共に左右動させて、測定
アーム15の下端部の測定子18のV溝18aの谷底部
18bをレンズ回転軸29,30間の眼鏡レンズMLの
周縁のヤゲンygの頂点Tgに図5(b)の如く係合させ
る。
【0038】これにともない、測定アーム15と一体に
マグネスケール22の磁気スケール22bが降下し、係
止ピン16がフック20に係止されている位置からの測
定アーム15の降下量Xi(図5(a)参照)がマグネス
ケール22により測定され、このマグネスケール22か
らの測定信号が演算制御回路8に入力される。
【0039】尚、図5(c)の如く周縁部が平らに平加工
された後の眼鏡レンズMLを測定する場合には、図5(c)
の如く測定子18に筒状軸部(筒部)18cを設け、こ
の筒状軸部18cを平加工後の眼鏡レンズMLの周縁部
に係合させ、眼鏡レンズMLの動径ρi(i=0,1,
2,3,……n)を求めることができる。
【0040】さらに、図5(c)の平加工後の眼鏡レン
ズMLを測定する場合、図5(d)に示した様に構成す
るとよい。即ち、図5(d)の如く、固定板9に平加工
測定検知スイッチSを設けて、測定アーム15と一体で
移動するベース13が平加工測定検知スイッチSに当接
することで、平加工後の眼鏡レンズの周縁形状の測定シ
ーケンスに入る様にする。一方、 固定板9にマグネッ
ト(磁石)Mを固定するとともに、ベース13を鉄等の
金属から形成して、ベース13が固定板9に所定量近づ
いたときにベース13がマグネットMに磁着して、ベー
ス13及び測定アーム15のガイドレール12、12に
沿った移動を抑制し、以て、測定アーム15の上下方向
のみ移動をさせるようにする。
【0041】この構成によれば、測定子18の平加工後
の眼鏡レンズMLの周縁を測定する測定部18cおよび
18dに眼鏡レンズMLの周縁を当接させるために、操
作ツマミ17で測定アーム15を左方向に少し移動させ
る。
【0042】これにより、ベース13がマグネットMに
磁着されて、ベース13及び測定アーム15のガイドレ
ール11,12に沿う移動が規制され、測定アーム15
は上下にのみ移動可能となる。これと略同時に、測定ア
ーム15と一体で移動するベース13が平加工測定検知
スイッチSに当接して、平加工後の眼鏡レンズの周縁形
状の測定シーケンスに入る。
【0043】尚、図5(d)では、固定板9側にのみマ
グネットMを設けた構成としたが、固定板10側にのみ
同様なマグネットを設けても良いし、固定板9,10の
両方に同様なマグネットを設けても良い。また、平加工
後の眼鏡レンズの周縁形状を測定する際に、ベース13
を固定板9に近接させたときに、ベース13のガイドレ
ール11,12に沿う方向の移動をマグネットMで規制
しているが、この移動規制はマグネット以外のバネ等の
移動抑制(規制)手段で行ってもよい。
【0044】すなわち、これにより、平加工後の眼鏡レ
ンズの周縁を(ρi,θi)(i=0,1,2,3,…
n)の2次元形状として測定することができる。
【0045】c.測定 この後、スイッチ41をON操作すると、演算制御回路8
はパルスモータ26を作動制御する。このパルスモータ
26の回転は、ウオーム27,ウオームホイール28,
タイミングギヤ31,33、タイミングベルト35を介
してレンズ回転軸29に伝達されると共に、ウオーム2
7,ウオームホイール28,タイミングギヤ32,3
4、タイミングベルト36を介してレンズ回転軸30に
伝達される。これによりレンズ回転軸29,30が同期
回転させられ、眼鏡レンズMLがレンズ回転軸29,3
0と一体に回転させられる。この際、演算制御回路8
は、パルスモータ26駆動のためのパルス数からレンズ
回転軸29,30の回転角θiを求める。
【0046】そして、このレンズ回転軸29,30の回
転に伴い、測定子18は眼鏡レンズMLの周縁によって
上下動作せられ、この上下動が測定アーム15を上下動
させる。これに伴い、マグネスケール22は測定子1
8,測定アーム15の上下動を検出して演算制御回路8
に入力する。この演算制御回路8は、マグネスケール2
2からの測定信号を基に、眼鏡レンズMLの光学中心か
ら周縁の測定子18までの距離すなわち動径ρiを求
め、この動径ρiをレンズ回転軸29,30の回転角θ
iに対応させてメモリ44に(θi,ρi)として記憶さ
せる。
【0047】尚、上述したように、係合ピン16がフッ
ク20に係止されている状態においては、測定子18と
レンズ回転軸29,30の軸線までの距離をL0である
ので、測定子18が眼鏡レンズMLに当接させられた位
置における眼鏡レンズMLの動径ρiは、 ρi=(L0−Xi) [i=0,1,2,3,…n] として演算制御回路8により求めることができる。
【0048】一方、眼鏡レンズMLの周縁は光軸方向
(左右方向)にも変化するので、上述の測定動作に伴
い、即ちレンズ回転軸29,30の回転に伴い、測定子
18が眼鏡レンズMLの周縁により左右方向(Z軸方
向)にも測定アーム15と一体に移動させられる。この
際、測定子18及び測定アーム15の左右方向への移動
量はマグネスケール23により検出され、このマグネス
ケール23からの測定信号が演算制御回路8に入力され
る。そして、演算制御回路8は、マグネスケール23か
らの測定信号を基に、眼鏡レンズMLの光軸方向への移
動量Ziを求め、この移動量Ziをレンズ回転軸29,
30の回転角θiに対応させてメモリ44にレンズ形状
情報(θi,ρi,Zi)として記憶させる。
【0049】この様にして、形状測定が終了すると、メ
モリ44に記憶されたレンズ形状情報(θi,ρi,Z
i)は、演算制御回路8によりフィッテング判定装置3
に転送されて、演算制御回路2aを介してメモリM2に
記憶される。
【0050】(iii).眼鏡レンズMLのレンズ枠への適合
判定 フィッテング装置2は、メモリM1に記憶された玉型形
状情報(θi,ρi´,Zi´)とメモリM2に記憶され
たレンズ形状情報(θi,ρi,Zi)とから、回転角θ
i毎の動径ρi´,ρi及び光軸方向の移動量Zi´,
Ziが一致又は許容範囲内にあるか否かを判定して、図
2のごとく適合している場合には「OK」を液晶表示装
置2cに表示させ、適合していない場合には「NG」を
液晶表示装置2cに表示させる。
【0051】この場合、演算制御回路2aは、メモリM
1に記憶された左側の玉型FLの玉型形状情報(θi,ρ
i´,Zi´)から玉型形状50を液晶表示装置2cに表
示させると共に、メモリM2に記憶されたレンズ形状情
報(θi,ρi,Zi)から眼鏡レンズMLのヤゲン頂点
形状51を液晶表示装置2cに表示させる。尚、同様に
右側の玉型FRの玉型形状情報を基に右側の玉型形状5
0´も表示される。
【0052】この際、演算制御回路2aは、玉型形状5
0とレンズ形状51(レンズ形状)を重ねて表示する。
これにより、作業者は玉型形状50とレンズ形状51
(レンズ形状)から眼鏡レンズMLがレンズ枠3aに適
合するか否か(フィットするか否か)を視覚的にも容易
に判定できることになる。
【0053】また、眼鏡レンズMLにはレンズメータ
(図示せず)を用いて印点した三針の印点マークが付さ
れており、この印点マークに対応するマーク61,6
2,63が図6に示した様に玉型形状50に重ねて液晶
表示装置2cに表示されている。この場合、眼鏡装用者
の瞳孔中心間距離とレンズ枠Fの幾何学中心O1とをも
とに求めた眼鏡レンズMLの光学中心O2(瞳孔中心)
を基にマーク61,62,63が表示される。
【0054】尚、玉型幾何学中心位置を示す十字ライン
70及び瞳孔中心位置を示す十字ライン71も液晶表示
装置2cに表示されている。また、眼鏡レンズMLの光
学中心(瞳孔中心)O2を中心とする吸着盤外形72も
同時に表示される様になっている。
【0055】例えば、図7(a)に示すように、眼鏡レン
ズMLの印点位置61´,62´,63´は正確にも拘
らず、レンズ形状測定時に吸着盤がずれてしまった場合
や、図7(b)に示すように、印点位置61´,62´,
63´がずれていた場合においては、この印点位置61
´,62´,63´と演算制御回路8により液晶表示装
置2cに表示されたマーク61,62,63とが一致せ
ずにずれて表示されることになる。
【0056】これによって、加工済眼鏡レンズMLの周
長が一致していたとしても、印点位置のズレ等によっ
て、正確なレンズ適合判断を行うことができなかった従
来の問題を解決している。
【0057】そして、このような場合には、再度眼鏡レ
ンズMLの研削加工をやり直し、適正な眼鏡レンズを作
成する必要がある。
【0058】また、図8に示した様に、フィッテング判
定装置(レンズ適合判定装置)において、瞳孔間距離
(PD)のデータが加工済眼鏡レンズと眼鏡フレームと
において一致するか否かを判定することにも応用するこ
とができる。
【0059】この図8(a)は、レンズ形状データを示
し、図8(b)はフレーム形状データを示したものであ
る。そして、瞳孔間距離を基準に即ち瞳孔中心O2を基
準に、耳掛(テンプル)側までの距離をそれぞれ図8
(a)のレンズ形状データにおいてA,A´として、図8
(b)のフレーム形状データにおいてB,B´とすると、
AとB及びA´とB´と比較することで、瞳孔間距離
(PD)データが加工済眼鏡レンズと眼鏡フレームとに
おいて一致するか否かを判定することができる。
【0060】同様に、図8(a)のレンズ形状データすな
わちレンズ形状データによるレンズ形状50、及び図8
(b)のフレーム形状データすなわちフレーム形状データ
に基づく玉型形状51において、瞳孔中心O1及びO2
を基準にした大きさをC,C´及びD,D´と表示して
比較することで、瞳孔中心位置の上寄せ量あるいは下寄
せ量を考慮した、加工済眼鏡レンズと眼鏡フレームとに
おいて一致するか否かを判定することができる。
【0061】また、図8(c)の様に、レンズ形状データ
あるいはフレーム形状データをボックス形式でフィッテ
ィング判定装置2あるいはレンズ形状測定装置3の表示
部すなわち液晶表示装置2cあるいは液晶表示部DSP
にE,Fとして表示して比較し、加工済眼鏡レンズと眼
鏡フレームとにおいて一致するか否かを判定することが
できる。尚、レンズ形状測定装置3の液晶表示部DSP
には、フィッティング判定装置2の液晶表示装置2cに
表示した内容と同じ内容を表示させることもできる。こ
の場合には、レンズ形状測定装置3とフィッティング判
定装置2が離れた場所にあっても、離れた場所でも同じ
内容を容易に確認できる。
【0062】<他の実施例>尚、本実施例では、レンズ
枠形状情報(θi,ρi,Zi)[ここで、i=0,1,
2,3………n]を演算制御回路2aに直接入力するよ
うにしているが必ずしもこれに限定されるものではな
い。
【0063】例えば、図9に示した様に、眼鏡店80
a,80b,80c………80n等においてフレーム形
状を玉型形状測定装置1で測定して、この測定により得
られたレンズ枠形状情報のデータをパソコン(パーソナ
ルコンピュータ)PC1,PC2,PC3……PCn,
モデムMD1,MD2,MD3………MDn及びISDN通
信回線網81、モデムMDLを介してラボ(レンズ加工
工場)82等に配置したサーバー83に転送して、この
転送したデータをサーバー83に一時的に記憶保存さ
せ、このサーバー83に記憶したデータをラボ82のフ
ィッテング判定装置2の演算制御回路2aに入力するよ
うにしてもよい。尚、フィッテング判定装置2として
は、通常、図1に図示したようなノートブックタイプの
パーソナルコンピュータを用いるが、ディスクトップ型
のパーソナルコンピュータを用いてもよい。
【0064】この場合、ラボ82の玉摺機LGで加工し
た眼鏡レンズL(MR,ML)は、ラボ82のレンズ形状
測定装置3でレンズ周長すなわちレンズヤゲン頂点形状
が上述と同様にして測定されて、この測定結果をフィッ
テング判定装置2で上述と同様に判定する。そして、判
定結果が適合する場合には二点鎖線で示した様に、ラボ
82の玉摺機LGで加工した眼鏡レンズL(MR,ML)
が各眼鏡店80a,80b,80c………に搬送され
る。
【0065】尚、図10に示した様に、眼鏡店80a,
80b,80c……80n等において、モデム機能を有
し且つ通信先及び通信データの設定等ができる通信装置
1aを玉型形状測定装置1に内蔵させて、通信に必要最
小限の機能を持たせると共に、設定や通信時に必要な表
示は玉型形状測定装置1に通常設けられる液晶表示装置
(表示手段)を用いることで、パソコン(パーソナルコ
ンピュータ)PC1,PC2,PC3……PCn及びモ
デムMD1,MD2,MD3………MDnを省略して、
小スペース化を図り、店内空間を有効に活用することが
できるようにしてもよい。
【0066】また、図11に示すように、玉型形状測定
装置1、未加工の眼鏡レンズのコバ厚を測定する機能を
有するレンズ研削装置LGを、フィッテング判定装置2
に通信回線81等を介して直接接続することによって、
玉型形状測定装置1からの玉型形状データとレンズ研削
装置LGからのコバ厚データを用いて、ヤゲン加工後の
予想レンズ形状データを演算で求め、玉型形状データと
一致するか否かを判定するようにすることもできる。
【0067】さらに、上述する眼鏡レンズの適合判定装
置をレンズ研削装置LGに組み込むことで適合判定後に
即座にレンズ研削加工を行うことができる。
【0068】
【発明の効果】以上により、ヤゲン加工後と平加工後の
各々の眼鏡レンズの周縁形状を測定することができ、各
眼鏡レンズが通常の眼鏡フレームやリムレスフレーム等
の玉型形状に適合するかどうかを判定することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)はこの発明に係る眼鏡用レンズの適合判定
装置を含むシステムの概略説明図、(b)は(a)の制御回路
図である。
【図2】図1(a)のフィッテング装置の拡大説明図であ
る。
【図3】図1(a)のレンズ形状測定装置の拡大説明図で
ある。
【図4】(a)は図1(a)のレンズ形状測定装置の測定手段
の要部斜視図、(b)は図1(a)のレンズ形状測定装置の軸
回転駆動手段及び軸移動手段の要部斜視図、(c)は(a)の
部分説明図である。
【図5】(a)は図4(a)に示した測定子の原点位置の説明
図で、(b)は図4(a)の測定子と眼鏡レンズとの接触状態
を示す説明図、(c)は測定子の他の例を示す説明図であ
る。
【図6】図2に示した左右のレンズ枠形状の説明図であ
る。
【図7】(a),(b)は図4に示した眼鏡レンズの説明図で
ある。
【図8】(a)はレンズ枠形状データの説明図、(b)は玉型
形状データの説明図、(c)は形状データのボックス形式
の表示例を示す説明図である。
【図9】この発明における各装置の使用例を示す説明図
である。
【図10】この発明における各装置の使用例を示す説明
図である。
【図11】この発明における各装置の使用例を示す説明
図である。
【符号の説明】
3…レンズ形状測定装置(レンズ形状データ入力手段) 18…測定子(測定部材) L(MR,ML)…眼鏡レンズ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 端面加工後の眼鏡レンズ周縁の形状を測
    定するための眼鏡レンズの周縁形状測定装置において、 少なくとも平加工後の眼鏡レンズ周縁に当接する測定子
    を備えたことを特徴とする眼鏡レンズの周縁形状測定装
    置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の眼鏡レンズの周縁形状
    測定装置を備えたことを特徴とする眼鏡レンズの適合判
    定装置。
JP32165196A 1996-12-02 1996-12-02 眼鏡レンズの周縁形状測定装置およびそれを有する適合判定装置 Pending JPH10160450A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003166819A (ja) * 2001-12-03 2003-06-13 Topcon Corp レンズ枠形状測定装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2003166819A (ja) * 2001-12-03 2003-06-13 Topcon Corp レンズ枠形状測定装置

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