JPH10154449A - 光電センサ - Google Patents

光電センサ

Info

Publication number
JPH10154449A
JPH10154449A JP8313773A JP31377396A JPH10154449A JP H10154449 A JPH10154449 A JP H10154449A JP 8313773 A JP8313773 A JP 8313773A JP 31377396 A JP31377396 A JP 31377396A JP H10154449 A JPH10154449 A JP H10154449A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
value
unit
integration
integral value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8313773A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Kamei
隆 亀井
Tomohito Noda
智史 野田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to JP8313773A priority Critical patent/JPH10154449A/ja
Publication of JPH10154449A publication Critical patent/JPH10154449A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
  • Switches Operated By Changes In Physical Conditions (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 一定速度で被検出物体が通過するときに最適
なオンオフ判別の積分値を設定できるようにすること。 【解決手段】 一定の速度で検出物体を通過させて連続
して遮光又は入光される回数を計数し、記憶部13に記
憶させる。そしてその遮光/入光回数に基づいて積分適
値を積分適値判断部13により判断する。そして積分値
変更部15によって積分部9に設定するようにしてい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は入力信号の信号処理
に特徴を有する光電センサに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来光電センサは投光部より光を物体検
知領域に照射し、透過光又は反射光を受光部により受光
する。そして受光部より得られる受光レベルを所定の閾
値によって判別してオン及びオフの判定処理を行う。こ
こでノイズ等による誤動作を防止するために1回の受光
信号によりオン,オフを判定して物体検知出力を出すの
でなく、複数回の受光信号によって判定している。従来
の一般的な判定方式として、パルスカウント方式及び移
動平均方式がある。パルスカウント方式は複数回連続し
て受光量がオンレベルとなったときオン状態と判定し、
複数回連続して受光量がオフレベルとなったときにオフ
状態と判定するものである。又移動平均方式は複数回の
受光量の平均値がオンレベル又はオフレベルとなったと
きに、夫々オン状態又はオフ状態と判定するものであ
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な従来の光電センサにおいては、判定する際の受光信号
の評価回数である積分値(以下、単に積分値という)が
固定されている。従って移動速度が速い対象物に対して
は、ノイズ等の外乱のない安定した環境で使用するとき
は、積分値を少なくしてよいにもかかわらず一定として
いるため、積分値分の投受光処理が行えず、検知信号が
得られないことがあるという欠点があった。一方応答速
度を向上させるために積分値を小さくしすぎると、ノイ
ズ等によって誤動作する可能性があるという欠点もあ
る。
【0004】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであって、あらかじめ物体を検出する状
態で受光信号を得ると共に、最適な積分値を自動的に設
定することによりこのような問題点を解決することを目
的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本願の請求項1の発明
は、一定周期の投光パルスに応じて発光し、光を物体検
知領域に照射する投光部と、前記投光部より照射され物
体検知領域を通過した光を受光する受光部と、前記受光
部からの受光信号を所定の閾値で弁別する弁別部と、所
定の速度で検出物体を通過させた状態で連続遮光又は入
光回数に基づいて積分適値を制御する積分値制御部と、
前記積分値制御部により設定される積分値を越えて入力
が変化したときに物体検知信号を反転させる積分部と、
を具備することを特徴とするものである。
【0006】本願の請求項2の発明では、前記積分値制
御部は、一定時間検出物体を通過させ連続遮光又は入光
回数を検出して記憶する記憶手段と、前記記憶手段によ
って検出された所定範囲内の連続遮光又は入光回数の最
低値に基づいて積分適値を判断する積分適値判断部と、
前記積分適値判断部により判別された積分適値を前記積
分部に設定する積分値変更部と、を有することを特徴と
するものである。
【0007】本願の請求項3の発明では、前記積分値制
御部は、入光毎に定常状態か否かを判別して定常状態と
なったときに夫々連続遮光/入光回数を検出する連続遮
光又は入光判別部と、前記連続遮光又は入光回数の検出
数が所定数に達しないときに積分適値を連続遮光又は入
光の最低回数に基づいて仮決定し、検出数が所定数に達
したときに積分適値をその最低値に基づいて決定する積
分適値判断部と、前記積分適値判断部により判断された
積分値を前記積分部に設定する積分値変更部と、を具備
することを特徴とするものである。
【0008】本願の請求項4の発明では、前記積分適値
判断部は、検出された連続遮光又は入光回数の最低値よ
り小さい値を積分適値として判断することを特徴とする
ものである。
【0009】このような特徴を有する本発明によれば、
ここで受光部は投光部より照射され物体検知領域を通過
する光を受光するものであり、透過型及び反射型のいず
れの光電センサにも適用できる。そして積分適値制御部
により実際の連続入光又は遮光回数に基づいて積分適値
を設定しているため、最適の積分値が設定できることと
なる。
【0010】
【発明の実施の形態】図1は本発明の第1の実施の形態
による透過型光電センサの構成を示すブロック図であ
る。図1において発振部1は一定周期の投光パルスを発
生して投光素子2を駆動し、投光素子2をパルス点灯さ
せるものである。投光素子2は投光パルスに応じて光を
発光し、直接又は投光用光ファイバ3を介して物体検知
領域に照射する。受光素子4は直接又は受光用光ファイ
バ5を介して物体検知領域を通過した光を受光するもの
であり、その出力はゲート回路6に与えられる。ゲート
回路6は発振部1の投光パルスに同期したタイミングで
ゲートを開閉することにより外乱光の影響を除くもので
ある。ここで発振部11,投光素子2と投光用光ファイ
バ3は投光部を構成しており、受光用光ファイバ5,受
光素子4とゲート回路6は受光部を構成している。ゲー
ト回路6の出力は閾値弁別部7に与えられる。閾値弁別
部7の出力は積分値制御部8及び積分部9に与えられ
る。積分部9はカウンタやフリップフロップによって構
成されており、閾値弁別出力が積分値、即ち評価回数で
設定された回数だけ連続する場合に、その回数の出力に
応じた検知信号を出すものである。その信号は出力回路
10を介して外部に出力される。積分値制御部8にはテ
ィーチングスイッチを含む入力部11及び表示部12が
接続される。積分値制御部8には閾値弁別部7より得ら
れる弁別出力を記憶する記憶部13,積分適値判断部1
4及び積分値変更部15が設けられる。記憶部13は閾
値弁別部7の出力を投光パルス数と対応づけて記憶する
ものであり、積分適値判断部14は投光パルスの頻度に
基づいて積分適値を判断するものである。積分値変更部
15は判断された積分適値を積分部9に設定するもので
ある。これらは個別のハードウェアによって実現しても
よく、又マイクロコンピュータを用いてソフトウェアに
より実現することもできる。
【0011】図2(a),(b)はこの実施の形態に用
いられる光電センサの使用状態を示す図である。この光
電センサは投光用光ファイバ3及び受光用光ファイバ5
を介して物体検知領域に導かれている。この光電センサ
は、例えば図2(a)に示すように多数のピンを有する
IC20のピン数が正常かどうかを判別する用途に用い
るものとする。この場合にはIC20は搬送ライン21
上に沿って一定の速度で搬送されており、投受光部で遮
光される回数によりピン22の数を判別することができ
る。又図2(b)に示すように印刷用紙23の一部に一
定間隔で小さい開口が設けられている場合に、入光状態
となるパルスの連続する回数によりこの開口の有無及び
正常な大きさの開口が設けられているかどうかを判別す
ることができる。
【0012】図3は発振部11より出力される投光パル
スと受光後に閾値弁別部7によって弁別された弁別出力
を示している。IC20を搬送ライン21に沿って搬送
させた場合には、ICのピン22を光が遮光する状態で
は数回の遮光状態が発生する。例えば図3(b)に示す
ようにピン22によって遮光される毎に4〜5回の投光
が遮光され、それによって閾値弁別部7の出力がオフレ
ベルとなる。又外乱のノイズ等により遮光状態が生じる
こともある。この実施の形態では、こうした使用状態に
応じてティーチングを行い、連続遮光回数Nを4,4,
1,5・・・と記憶しておく。図4は遮光状態が連続す
る回数Nの回数毎の発生頻度を示している。そしてこの
遮光回数に基づいて最適な積分適値を判別するものであ
る。
【0013】次に第1の実施の形態による積分適値設定
処理についてフローチャートを用いて説明する。図5は
ティーチング処理を示すフローチャートである。動作を
開始すると、まずステップS1において入力部11のテ
ィーチングスイッチがオン状態となっているかどうかを
判別する。オン状態となればステップS2において閾値
弁別部7からの入光/遮光状態を入力する。そしてステ
ップS3において入光状態又は遮光状態のいずれが多い
かどうかを判別する。図2(a)に示す例では入光状態
が多いため、ルーチンS4に進んで一定時間IC20を
搬送し、連続遮光回数Nを順次記憶する。図3の例では
連続遮光回数Nが4,4,1,5・・・となっている。
そして一定時間の間連続遮光回数Nを記憶した後、ステ
ップS5に進んで連続遮光回数Nが3〜8以内の頻度が
所定値よりも多いかどうかを判別する。この範囲内の頻
度が大きければ、その頻度のうちの最低値を検出し(ス
テップS6)、ステップS7に進んで最低値−1を積分
適値と判別する。例えば連続遮光回数の頻度が図4に示
すように求められ、その最低値が4である場合には、最
低値−1、即ち3を積分適値とする。そしてステップS
8に進んで積分値変更部15によって積分部9の積分適
値を3に設定する。
【0014】一方入光状態が少ない場合、例えば図2
(b)に示すように印刷用紙23に一定間隔の小さい開
口が設けられ、この開口の有無を判別する場合には、入
光状態の回数が少なくなる。この場合にはルーチンS9
に進んで連続受光回数Nの頻度を同様にして記憶する。
そしてその回数が3〜8の頻度が多いかどうかを判別
し、この範囲内にあればステップS6に進んで同様の処
理をする(ステップS10)。又ステップS5,ステッ
プS10において3〜8範囲外の頻度が多い場合には、
正常な判別が困難としてステップS11,S12に進ん
でエラー判定を行い、エラーを表示部12により表示し
て処理を終える。このように実際の動作状態での判別結
果に基づいて積分適値を設定することにより、用いられ
る搬送経路の速度やワークの検出部分の形状等にかかわ
らず、最適の閾値が設定できることとなる。
【0015】次に本発明の第2の実施の形態による光電
センサについて説明する。この実施の形態の全体構成は
ほぼ図1と同様であり、積分適値の判別処理のみが異な
っている。即ち図6に示すように積分値制御部8Aは連
続遮光/入光判別部16と、その連続遮光/入光回数に
基づいて積分適値を判別する積分適値判断部17、及び
判断された積分値を積分部9に設定する積分値変更部1
5を有している。
【0016】図7に示す積分適値算出フローチャートに
おいては、投光パルスが加わる毎に割込処理によって動
作を開始する。まずステップS21においてティーチン
グスイッチがオン状態かどうかを判別し、オン状態であ
ればステップS22において入光/遮光状態を入力す
る。そして被検出物を検出していない状態が遮光又は入
光状態のいずれかを判別する。あらかじめいずれの状態
が多いか判別しておいてもよく、又入力部11より入光
又は遮光のいずれの状態が多いかを入力してもよい。定
常状態でなければ、ステップS24に進んでカウンタC
をインクリメントして処理を終える。次いで投光パルス
が生じる毎に同様の処理を行い、定常状態に反転したか
どうかをチェックする。定常状態に復帰すればそのとき
のカウンタCの計数値を入光又は遮光状態のパルス数N
とする(ステップS25)。そしてカウンタCをクリア
し、フロー回数fをインクリメントする(ステップS2
6,S27)。そしてステップ28においてこのとき得
られた連続遮光又は入光パルス数Nが3〜8の範囲内か
どうかをチェックし、この範囲内にあれば有効と判断す
る。そして図8のステップS29に進み、フロー回数f
が1、即ち最初のフローかどうかを判別する。最初のフ
ローであればステップS30に進んでこのときの連続遮
光又は入光パルス数Nを最低値Mとして記憶する。そし
てステップS31に進んでフロー回数fが30回に達し
たかどうかをチェックする。最初の場合にはこの回数に
達していないのでステップ33に進んで最低値M−1を
積分適値と仮決定する。そしてステップ34に進んで積
分部9に積分値を設定する。こうして処理を終える。
【0017】次いで投光パルスが加われば同様の処理を
繰り返す。ステップS29において処理フローfが1回
目でなければステップS32に進んでNとMとを比較す
る。NがMより小さければステップS30に進んでNを
Mとして記憶し、同様の処理を繰り返す。NがMより大
きければステップS32よりステップS31に進んでフ
ロー回数が30回を越えているかどうかを判別する。3
0回を越えていなければステップS33に進んでM−1
を積分適値に仮決定する。そしてステップS34におい
て仮決定した積分値を積分部9に設定する。ステップS
31においてフロー回数が30回に達していればステッ
プS25においてM−1を積分適値と判断する。このと
きにはステップS36に進み積分部9に積分値の設定処
理を行う。そしてフロー回数f及びiを0として処理を
終える。又図7のステップS28においてNが3と8の
間になければ、ステップS38に進み無効回数iをイン
クリメントする。そしてステップS39において無効回
数iが閾値th以内かどうかを判別し、閾値th以内であれ
ば処理を終える。閾値thを越えている場合にはステップ
S40に進んでエラーを表示部12によりエラー報知、
及び表示のエラー処理を行う。
【0018】こうすればティーチングスイッチ投入中も
ティーチングを行いつつ物体検出処理を行うことができ
る。そして30回の投光パルスを投光し終えた後は最適
な積分値に設定される。又そのままティーチングを続け
れば、物体の搬送速度等が変化しても自動的に追従する
ことができる。
【0019】このような本実施の形態では、連続遮光又
は入光パルス数Nが3〜8の範囲内で最も小さい値より
1回少ない回数を積分適値として設定することができ
る。この場合にもワークの搬送速度やワークの形状に対
応した最適値を設定することができる。この場合には使
用開始直後から積分適値を仮決定することができるた
め、仮決定された積分適値に基づいて物体検知信号を得
ることができる。このためティーチングモードであって
もほぼ正常な物品検知を行いつつ適切な積分適値が自動
的に設定できるという効果が得られる。
【0020】尚第1,第2の実施の形態では、連続遮光
/入光回数Nを3〜8の範囲内とし、その他の範囲内で
は無効となるようにしているが、これらの値は使用状態
によって適宜設定できることはいうまでもない。又図2
に示す実施の形態では透過型の光電センサについて説明
しているが、物体検知領域を反射により通過した光を受
光する反射型の光電センサであってもよいことはいうま
でもない。
【0021】
【発明の効果】以上詳細に説明したように本願の請求項
1〜4の発明によれば、光電センサが用いられる対象に
応じて最適な積分値を設定することができる。このため
応答速度が遅すぎたり、速すぎたりすることがなく、光
電センサを使用環境に応じた最適な状態で使用すること
ができるという優れた効果が得られる。又請求項3の発
明では、積分適値の判断処理中でも仮決定された積分適
値に基づいて物体検知をすることができるという効果が
得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態による光電センサの
全体構成を示すブロック図である。
【図2】この実施の形態による光電センサの使用状態を
示す概略図である。
【図3】この実施の形態による投光パルスとこれに対応
する閾値弁別部7の出力を示す図である。
【図4】この実施の形態による連続遮光/入光パルス数
とその頻度を示すグラフである。
【図5】第1の実施の形態による光電センサの積分適値
判別処理を示すフローチャートである。
【図6】本発明の第2の実施の形態による光電センサの
全体構成を示すブロック図である。
【図7】第2の実施の形態による積分値判別処理を示す
フローチャート(その1)である。
【図8】第2の実施の形態による積分値判別処理を示す
フローチャート(その2)である。
【符号の説明】
1 発振部 2 投光素子 3 投光用光ファイバ 4 受光素子 5 受光用光ファイバ 6 ゲート回路 7 閾値弁別部 8,8A 積分値制御部 9 積分部 10 出力部 11 入力部 12 表示部 13 記憶部 14,17 積分適値判断部 15 積分値変更部 16 連続遮光/入光判断部

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一定周期の投光パルスに応じて発光し、
    光を物体検知領域に照射する投光部と、 前記投光部より照射され物体検知領域を通過した光を受
    光する受光部と、 前記受光部からの受光信号を所定の閾値で弁別する弁別
    部と、 所定の速度で検出物体を通過させた状態で連続遮光又は
    入光回数に基づいて積分適値を制御する積分値制御部
    と、 前記積分値制御部により設定される積分値を越えて入力
    が変化したときに物体検知信号を反転させる積分部と、
    を具備することを特徴とする光電センサ。
  2. 【請求項2】 前記積分値制御部は、 一定時間検出物体を通過させ連続遮光又は入光回数を検
    出して記憶する記憶手段と、 前記記憶手段によって検出された所定範囲内の連続遮光
    又は入光回数の最低値に基づいて積分適値を判断する積
    分適値判断部と、 前記積分適値判断部により判別された積分適値を前記積
    分部に設定する積分値変更部と、を有することを特徴と
    する請求項1記載の光電センサ。
  3. 【請求項3】 前記積分値制御部は、 入光毎に定常状態か否かを判別して定常状態となったと
    きに夫々連続遮光/入光回数を検出する連続遮光又は入
    光判別部と、 前記連続遮光又は入光回数の検出数が所定数に達しない
    ときに積分適値を連続遮光又は入光の最低回数に基づい
    て仮決定し、検出数が所定数に達したときに積分適値を
    その最低値に基づいて決定する積分適値判断部と、 前記積分適値判断部により判断された積分値を前記積分
    部に設定する積分値変更部と、を具備することを特徴と
    する請求項1記載の光電センサ。
  4. 【請求項4】 前記積分適値判断部は、 検出された連続遮光又は入光回数の最低値より小さい値
    を積分適値として判断するものであることを特徴とする
    請求項1〜3のいずれか1項記載の光電センサ。
JP8313773A 1996-11-25 1996-11-25 光電センサ Pending JPH10154449A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8313773A JPH10154449A (ja) 1996-11-25 1996-11-25 光電センサ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8313773A JPH10154449A (ja) 1996-11-25 1996-11-25 光電センサ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10154449A true JPH10154449A (ja) 1998-06-09

Family

ID=18045357

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8313773A Pending JPH10154449A (ja) 1996-11-25 1996-11-25 光電センサ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10154449A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006245685A (ja) * 2005-02-28 2006-09-14 Sunx Ltd 光電センサ
JP2020094907A (ja) * 2018-12-12 2020-06-18 オムロン株式会社 光電センサ

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006245685A (ja) * 2005-02-28 2006-09-14 Sunx Ltd 光電センサ
JP4721727B2 (ja) * 2005-02-28 2011-07-13 パナソニック電工Sunx株式会社 光電センサ
JP2020094907A (ja) * 2018-12-12 2020-06-18 オムロン株式会社 光電センサ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7253910B2 (en) Optical measuring device
US4648718A (en) Optical measuring system
JPH02209535A (ja) 自動水栓装置
JPH0248951B2 (ja)
JPH10154449A (ja) 光電センサ
JP3548763B2 (ja) 検知装置及びその出力設定方法
JP5271127B2 (ja) 光電センサおよび干渉低減方法
US5166535A (en) Surface inspecting apparatus with surface inspection width adjustment
JP2005114551A (ja) 多光軸光電センサ
JPH0889644A (ja) ぱちんこ球計数センサ
JP2004279127A (ja) ライトカーテン
JPH11112319A (ja) 検知装置及びその閾値設定方法
JPH11120451A (ja) 検知装置
JP2519310Y2 (ja) 多光軸式光電スイッチ
JPH08292260A (ja) 自己診断機能を有する光電センサ
JP3351901B2 (ja) 光電センサ
JPH0815446A (ja) 光電センサ
JPH08247721A (ja) 寸法測定装置
JPH0936725A (ja) 光電センサ
JPH02285277A (ja) 相互干渉防止機能付光電スイッチ
JPH10269389A (ja) ゲート装置における複数人通過検知方法
JP3702103B2 (ja) 光学式寸法測定装置
JPH0753311Y2 (ja) 光電スチッチ
JP3544748B2 (ja) 表面検査装置
RU2090931C1 (ru) Система для подсчета предметов