JP3544748B2 - 表面検査装置 - Google Patents
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Description
【産業上の利用分野】
本発明は、被検査体上に存在する面積が大きな広域欠陥を検出するための表面検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
連続走行するシート状物の表面に存在する欠陥を検出するために、一般にフライングスポット方式の表面検査装置が用いられている。この表面検査装置は、正常部分と欠陥部分とで光の反射率や透過率が異なることを利用したもので、被検査体の表面にレーザーによるスポット光を走査させ、その反射光もしくは透過光を受光器により光電検出し、検出した反射光や透過光の強度の変化から各種欠陥の有無を評価するものである。
【0003】
このような表面検査装置の中には、例えば特公平5−62942号公報に記載されているように、一箇所に集中的に発生した密度欠陥を選択的に検出することができるようにしたものがある。この表面検査装置では、受光器による光電変換信号の信号レベルの変化量が規定量以上となった時に欠陥が存在すると判断するとともに、被検査体の検査領域を細分化した細分化検査領域ごとに欠陥の発生回数を計数し、計数値が予め定められた規定値を越えた時に、この細分化検査領域内に密度欠陥が存在するものと判断している。
【0004】
ところで、紙などのように繊維材からなるものは、地合いによって光の反射率や透過率が一定しないため、これを被検査体とする場合には、正常部分においても光電変換信号の信号レベルの変動量が大きくなる。このため、従来の表面検査装置では欠陥の誤検出を防止するために、欠陥部を識別するためのしきい値の信号レベルを正常光成分の信号レベルとある程度の差をもたせて設定してある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
紙面の色ムラ等のように、使用上は問題がなくても広範囲にわたって存在するような欠陥は、製品品質上好ましくない。ところが、色ムラは光の反射率や透過率に与える影響が小さく、光電変換信号の信号レベルには大きな変化として表れないので、上記表面検査装置でこれを検出することは困難であった。
【0006】
本発明は上記の事情を考慮してなされたもので、広範囲にわたって存在する欠陥を確実に検出することができる表面検査装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の表面検査装置は、走査機構を内蔵した投光器により、連続走行する被検査体に対してその幅方向に走査する検査光を照射し、被検査体を反射又は透過した検査光を受光器で光電検出し、この検出信号に基づいて前記被検査体を幅方向に分割したレーン毎に欠陥の有無を識別する表面検査装置において、一定間隔のクロック信号を送出する基準クロック発生回路と、前記受光器の検出信号の信号レベルを二値化する閾値が設定され、前記検出信号の信号レベルが前記閾値を超える期間中に送出されるクロック信号を計数する第1の計数手段と、各レーンが一走査される毎に前記第1の計数手段による第1の計数値が入力され、前記第1の計数値を予め設定された第1の基準値と比較する手段と、前記第1の計数値が前記第1の基準値に達する前に前記検出信号の信号レベルが前記閾値を下回った場合に前記第1の計数値をクリアする手段と、前記第1の計数値が前記第1の基準値に達した時点で幅欠陥信号を出力する第1の信号発生手段と、検査光が被検査体を規定回数走査する間に、同一のレーンで前記幅欠陥信号が出力された回数を計数する第2の計数手段と、前記第2の計数手段による第2の計数値が入力され、入力された第2の計数値が予め設定された第2の基準値に達したときに広域欠陥信号を発生する第2の信号発生手段とを備えたことを特徴とする。
【0010】
図2は、本発明の表面検査装置の基本構造を概略的に表したものである。表面検査装置10は、投光器11,受光器12,光センサ14,及び信号処理回路15により構成されている。シート状の被検査物、例えば紙17は、投光器11と受光器12との間を図中矢印方向に一定速度で走行される。
【0011】
投光器11は、レーザー発振器20,レンズ群21,回転多面鏡22,及び光路折り曲げ用の2枚のミラー23,24により構成されている。レーザー発振器20から放射されたレーザー光20aは、ミラー23を介してレンズ群21に入射し、そのスポット径が調節された後に、ミラー24を介して高速回転する回転多面鏡22に入射する。そして、このレーザー光20aは、回転多面鏡22の回転によって紙17の走行方向と略直交して紙17上を幅方向に高速走査する検査光25となる。この検査光25は、紙17の検査部17aを透過した後に、走査方向に延びた受光器12に入射する。受光器12は、紙17の検査部17aを透過した検査光25を光電検出し、その強度に比例した光電変換信号を信号処理回路15に送出する。
【0012】
光センサ14は、検査光25による紙17上の走査領域から走査上流側に外れた位置に設けられており、検査光25を受光した瞬間にパルス状の受光信号を発生して信号処理回路15に送出する。
【0013】
図1は、信号処理回路15の構成を概略的に示すものである。信号処理回路15は、検査幅設定回路31,レーン分割信号発生回路32,分周回路33,基準クロック発生回路34,二値化回路35,幅欠陥検出回路36,アンド回路37,ラッチ回路38,及び広域欠陥弁別回路39により構成されている。光センサ14の受光信号S1は検査幅設定回路31に、また受光器12の光電変換信号S2は二値化回路35に入力される。
【0014】
検査幅設定回路31は、光センサ14からの受光信号S1が入力されてから時間Ta が経過した時にローレベルからハイレベルになり、時間Tb が経過した時に再びローレベルに戻る検査幅信号S3をレーン分割信号発生回路32及びアンド回路37に出力する。なお時間Ta ,Tb は、検査光25の走査速度と紙17の幅寸法とに応じて予め設定されており、時間Ta は検査光25が光センサ14を通過してから検査部17a上の検査開始位置17bに達するまでの時間、時間Tb は光センサ14を通過してから検査部17a上の検査終了位置17cに達するまでの時間に設定されている。
【0015】
レーン分割信号発生回路32は、検査幅信号S3がハイレベルになった時点から一定時間T0 が経過する毎にパルス状のレーン分割信号S4をm回発生させ、ラッチ回路38及び広域欠陥弁別回路39に送出する。なお、時間T0 及び発生回数mは、検査光25の走査速度と紙17の幅方向における検査領域の分割数に応じて設定される。本実施例では図5に示したように、紙17上を幅W0 、長さL0 の4つの検査領域D1 〜D4 に分割し、時間T0 を検査光25が各検査領域D1 〜D4 内を走査する間の時間、発生回数mを4回に設定した。分周回路33は、紙17が長さL0 走行する毎にパルス状の検査長信号S5を発生させて広域欠陥弁別回路39に送出する。基準クロック発生回路34は、一定の微小間隔でクロック信号S6を発生させて幅欠陥検出回路36に送出する。
【0016】
二値化回路35は、受光器12からの光電変換信号S2の信号レベルが予め定められているしきい値LTHLD以上になった時にハイレベルとなる光量増加信号S7を発生させて幅欠陥検出回路36に送出する。このしきい値LTHLDは、光電変換信号S2の正常光成分の信号レベルに近い値に設定されている。
【0017】
幅欠陥検出回路36は、図3に示したように、アンド回路41,計数回路42,及びデジタルコンパレータ43により構成されている。アンド回路41は、二値化回路35から入力された光量増加信号S7がハイレベルとなっている間だけ基準クロック発生回路34からのクロック信号S6を通過させて計数回路42に送出する。計数回路42は、アンド回路41から入力した通過クロック信号S41のクロック数を計数し、その計数値Cをデジタルコンパレータ43に送出する。また計数回路42は、二値化回路35からの光量増加信号S7がハイレベルからローレベルに変化した時に、計数値Cをクリアして「0」にする。デジタルコンパレータ43は、計数回路42から入力した計数値Cが予め定められた基準値C0 と等しくなった瞬間にパルス状の幅欠陥信号S8を送出する。この幅欠陥信号S8はアンド回路41にも制御信号として入力され、アンド回路41は幅欠陥信号S8を入力した時点で閉じられる。したがって、アンド回路41からは基準値C0 を越えない数の通過クロック信号S41が送出される。なお基準値C0 は、検出しようとする欠陥の、被検査体の幅方向における長さに応じて定められ、本実施例においては「4」とした。
【0018】
図1において、アンド回路37は、検査幅設定回路31からの検査幅信号S3がハイレベルとなっている間に幅欠陥検出回路36のデジタルコンパレータ43から幅欠陥信号S8を入力すると、このタイミングでパルス状の欠陥信号S9を発生させてラッチ回路38に送出する。ラッチ回路38は、アンド回路37からの欠陥信号S9を、レーン分割信号発生回路32から入力されるレーン分割信号S4と同期させて広域欠陥弁別回路39に送出する。すなわち、このラッチ回路38は、アンド回路37からパルス状の欠陥信号S9が入力された時に二進数「1」を一旦保持し、この後レーン分割信号S4が入力された瞬間に保持している二進数「1」を広域欠陥弁別回路39に送出する。また、アンド回路37から欠陥信号S9が入力されない時には、二進数「0」を保持したままなので、レーン分割信号S4の入力と同時に二進数「0」を広域欠陥弁別回路39に送出する。したがって、このラッチ回路38からはレーン分割信号S4が入力されるごとに「1」又は「0」の二進数Aが出力される。
【0019】
広域欠陥弁別回路39は、図4に示すように、二進加算器51,シフトレジスタ52,53,54,55,及びデジタルコンパレータ56により構成されている。4つのシフトレジスタ52〜55は、それぞれ重みが(20 ),(21 ),(22 ),(23 )の二進数「1」又は「0」を格納する。またシフトレジスタ52〜55は、紙17の幅方向における検査領域の分割数と同じ数のビット構成となっており、本実施例では各々4ビット構成となっている。そして、レーン分割信号発生回路32からレーン分割信号S4が入力されるごとに、各ビットの格納値を最終ビット側にシフトさせ、最終ビットに格納されていた値b0 〜b3 を二進加算器51及びデジタルコンパレータ56に出力する。これにより、二進加算器51及びデジタルコンパレータ56には、4つの値b0 〜b3 を重み順に配列してなる二進数B(=b3 b2 b1 b0 )が入力される。
【0020】
ラッチ回路38からの二進数Aは、二進加算器51に入力される。二進加算器51は、二進数Aとシフトレジスタ52〜55から入力された二進数Bとを加算し、この加算値F(=f3 f2 f1 f0 )をビットごとにシフトレジスタ52〜55に格納する。またデジタルコンパレータ56は、シフトレジスタ52〜55から入力された二進数Bが予め定められた規定値M0 以上となった時に広域欠陥信号S10を送出する。なお規定値M0 は、検出しようとする欠陥の、被検査体の走行方向における長さに応じて定められ、本実施例においては、大きさが4の二進数「0100」とした。
【0021】
図6は、上記のように構成された表面検査装置10の各出力信号の概略波形を表すものである。紙17が一定速度で走行されると、同時に投光器11から検査光25の照射が開始される。また基準クロック発生回路34が作動を開始し、一定の微小間隔でクロック信号S6を送出する。検査光25が光センサ14を通過すると、このセンサ14がパルス状の受光信号S1を発生し、検査幅設定回路31に送出する。検査幅設定回路31は、受光信号S1が入力されてから時間Ta が経過し、検査光25が紙17の検査開始位置17bに達した時に、その信号レベルをローレベルからハイレベルに変化させ、時間Tb が経過して検査終了位置17cに達した時には信号レベルを再びローレベルに戻す。したがって、この検査幅設定回路31から出力される検査幅信号S3は、検査光25が紙17の検査部17a上を走査している間だけハイレベルとなっている。
【0022】
また、検査幅信号S3がローレベルからハイレベルに変化すると、レーン分割信号発生回路32が、この時点から時間T0 が経過するごとにパルス状のレーン分割信号S4を4回発生させる。これにより、検査光25が4つの検査領域D1 〜D4 の終端部に達するごとにレーン分割信号S4が発生する。
【0023】
検査光25は検査部17aを透過して受光器12に入射する。受光器12は検査光25を光電検出し、その強度に比例した光電変換信号S2を出力する。この際、検査部17a上の正常部位においては検査光25は所定濃度をもつ紙17を所定厚み分だけ透過して受光器12に入射するので、受光器12の光電変換信号S2の信号レベルは、全体に紙17の濃度及び厚みに応じたレベルだけ低下する。検査部17a上に小欠陥、例えばキズ61が存在する場合には、このキズ61部においては紙厚が薄くなっているので、検査光25の透過光量が増加し、受光器12の光電変換信号S2の信号レベルが瞬間的に増加する。また、広い範囲にわたって濃度欠陥、例えば淡色部62が存在する場合には、この部位で光の透過率が上昇するので、光電変換信号S2の信号レベルは淡色部62と対応した位置において上昇する。
【0024】
受光器12の光電変換信号S2は二値化回路35に送られる。二値化回路35は、光電変換信号S2の信号レベルが予め設定されているしきい値LTHLD以上になった時にハイレベルとなる光量増加信号S7を発生させて幅欠陥検出回路36に送出する。この際、光電変換信号S2の信号レベルが、キズ61及び淡色部62の発生位置と、検査光25が紙17の面外を走査し、受光器12に直接入光する範囲X1,X2に対応した位置とで上昇するので、二値化回路35からは、キズ61及び淡色部62の発生位置と範囲X1,X2とで光量増加信号S7が発生される。また、しきい値LTHLDが光電変換信号S2の正常光成分の信号レベルと近い値に設定されているので、検査部17a上の正常部においても、光電変換信号S2の信号レベルの変動量が大きなノイズ部SN と対応した位置に光量増加信号S7が生じることがある。
【0025】
幅欠陥検出回路36に入力された光量増加信号S7は、アンド回路41と計数回路42とに入力される。アンド回路41は、光量増加信号S7がハイレベルとなっている間だけ基準クロック発生回路34からのクロック信号S6を通過させて計数回路42に送出する。計数回路42は、アンド回路41を通過した通過クロック信号S41のクロック数を計数し、その計数値Cをデジタルコンパレータ43に送出する。デジタルコンパレータ43は、計数回路42から入力される計数値Cを順次基準値C0 (=4)と比較し、「C=C0 」となった瞬間にパルス状の幅欠陥信号S8を送出する。
【0026】
この際、淡色部62は紙17の幅方向における長さが長いので、この淡色部62に対応した光量増加信号S7の幅も広くなり、通過クロック信号S41のクロック数が多くなる。これにより、光量増加信号S7がローレベルに変化する以前に計数回路42での計数値Cが基準値C0 に達するので、デジタルコンパレータ43から幅欠陥信号S8が送出される。そして、幅欠陥信号S8が送出されると、この瞬間にアンド回路41が閉じられ、通過クロック信号S41の送出が停止する。これにより、計数回路42による計数値Cは、基準値C0 と等しくなった時点でこれ以上増加しなくなる。また計数回路42は、光量増加信号S7がハイレベルからローレベルに変化した時に計数値Cをクリアして「0」にし、次の光量増加信号S7に対応した通過クロック信号S41の入力に備える。
【0027】
一方、キズ61部は紙17の幅方向における長さが短いので、キズ61部に対応した光量増加信号S7の幅も狭くなり、通過クロック信号S41のクロック数が少なくなる。これにより、計数回路42での計数値Cが基準値C0 に達する以前に二値化回路35からの光量増加信号S7がローレベルに変化し、計数回路42が計数値Cをクリアして「0」にするので、このキズ61と対応した位置には幅欠陥信号S8は発生しない。また、光電変換信号S2の変動が正常光成分の信号レベルよりも高レベル側に偏った状態で長く継続することもないので、ノイズ部SN に対応した光量増加信号S7も幅が狭くなり、この位置に幅欠陥信号S8は生じない。したがって、幅欠陥信号S8は、紙17の幅方向に連続的に存在する淡色部62と対応した位置と、検査光25が紙17を透過することなく直接受光器12に入光する範囲X1,X2に対応した位置とにおいて発生する。
【0028】
幅欠陥検出回路36から送出された幅欠陥信号S8は、アンド回路37に入力される。アンド回路37は、検査幅設定回路31からの検査幅信号S3がハイレベルとなっている間に幅欠陥信号S8を入力すると、このタイミングでパルス状の欠陥信号S9を発生させてラッチ回路38に送出する。この際、幅欠陥信号S8が淡色部62の発生位置と、紙17上から外れた範囲X1,X2に対応した位置とにおいて発生しているが、検査幅信号S3は検査光25が検査部17a上を走査している間だけハイレベルとなっているので、欠陥信号S9は淡色部62に対応した位置でのみ発生する。
【0029】
欠陥信号S9は、ラッチ回路38でレーン分割信号S4と同期をとられた上で広域欠陥弁別回路39に送出される。ラッチ回路38からはレーン分割信号S4が入力されるごとに「1」又は「0」の二進数Aが出力される。本実施例においては、図5及び図6に示したように第1検査領域D1 内に幅をもつ欠陥はなく、ラッチ回路38に欠陥信号S9が入力されないので、このラッチ回路38からは1回目のレーン分割信号S4が入力された瞬間に二進数「0」が出力される。また、第2検査領域D2 内には淡色部62が存在し、ラッチ回路38に欠陥信号S9が入力されるので、2回目のレーン分割信号S4が入力された時にはラッチ回路38から二進数「1」が出力される。同様に、3回目及び4回目のレーン分割信号S4が入力された時には、いずれもラッチ回路38から二進数「0」が出力される。ラッチ回路38から出力された「1」又は「0」の二進数Aは、順次二進加算器51に入力される。
【0030】
図7(A)に示すように、第1検査領域D1 に対応した二進数「0」が1回目のレーン分割信号S4と同期をとられて二進加算器51に入力されると、同時にシフトレジスタ52〜55が、それぞれビット内の格納値を最終ビット側にシフトさせて先頭ビットを空領域にするとともに、最終ビットに格納されていた各値b0 ,b1 ,b2 ,b3 (=0,0,0,0)を二進加算器51とデジタルコンパレータ56とに送出する。二進加算器51は、ラッチ回路38からの二進数「0」と、シフトレジスタ52〜55から出力された各値b0 〜b3 を重み順に配列してなる二進数「0000」とを加算し、加算値F(=0000)をシフトレジスタ52〜55の空領域となった先頭ビットに格納する。この際、シフトレジスタ52〜55には、それぞれ加算値Fの重み(20 ),(21 ),(22 ),(23 )に対応したビットの値が格納される。
【0031】
同時に、デジタルコンパレータ56がシフトレジスタ52〜55から出力された二進数B(=0000)を規定値M0 (=0100)と比較する。デジタルコンパレータ56は、二進数Bが規定値M0 以上となった時にパルス状の広域欠陥信号S10を送出するが、二進数Bが「0000」であり、規定値M0 よりも小さいので、広域欠陥信号S10は送出されない。
【0032】
図7(B)に示すように、第2検査領域D2 に対応した二進数「1」が2回目のレーン分割信号S4と同期をとられて二進加算器51に入力されると、同時にシフトレジスタ52〜55が、再び各ビット内の格納値を最終ビット側にシフトさせて先頭ビットを空領域にするとともに、最終ビットに格納されていた値b0 〜b3 を二進加算器51とデジタルコンパレータ56とに送出する。そして二進加算器51は、ラッチ回路38からの二進数「1」とシフトレジスタ52〜55からの二進数「0000」とを加算し、加算値「0001」をシフトレジスタ52〜55の先頭ビットに格納する。またデジタルコンパレータ56では、二進数「0001」と規定値M0 との比較が行われる。この場合においても、二進数「0001」が規定値M0 よりも小さいので、デジタルコンパレータ56から広域欠陥信号S10は送出されない。
【0033】
同様に、第3検査領域D3 及び第4検査領域D4 に対応した2つの二進数「0」及び「0」が二進加算器51に入力されるごとに、二進加算器51はシフトレジスタ52〜55の最終ビットから出力された二進数Bとの加算を行い、それぞれの加算値Fをシフトレジスタ52〜55の先頭ビットに格納する。そして、検査光25による1回の走査が終了した時に、図7(C)に示すように、シフトレジスタ52〜55内には4つの検査領域D1 〜D4 のそれぞれにおいて発生した欠陥信号S9の総数が最終ビット側から先頭ビット側に順に格納されている。
【0034】
検査光25の走査を繰り返すと、二進加算器51には、検査領域D1 〜D4 のそれぞれに対応した4つの二進数Aが繰り返し入力される。この二進加算器51は、二進数Aが入力されるごとにシフトレジスタ52〜55の最終ビットに格納されていた二進数Bとの加算を行い、この加算値Fを改めてシフトレジスタ52〜55の先頭ビットに格納する。この際、シフトレジスタ52〜55が検査領域の分割数「4」と同じ数のビット構成であるので、検査光25の1回の走査が終了した時点では常に、最終ビット側から先頭ビット側に向けて順に4つの検査領域D1 〜D4 のそれぞれに対応した値が格納されている。したがって、次の走査が開始されると、シフトレジスタ52〜55からは検査領域D1 〜D4 に対応した二進数Bが順に出力され、同じく検査領域D1 〜D4 の順に入力された二進数Aと順次加算される。これにより、シフトレジスタ52〜55内には、検査領域D1 〜D4 ごとの欠陥信号S9の総数が格納されていることになる。
【0035】
そしてデジタルコンパレータ56は、シフトレジスタ52〜55から出力された二進数Bと規定値M0 との比較を繰り返し、二進数Bが規定値M0 以上となった時にパルス状の広域欠陥信号S10を送出する。淡色部62は広い面積をもち、紙17の走行方向における長さが長いので、検査光25の走査を繰り返す間に、何度も淡色部62と対応した位置で欠陥信号S9が発生する。これにより、シフトレジスタ52〜55内の検査領域D2 に対応した格納値が大きくなり、デジタルコンパレータ56から広域欠陥信号S10が送出される。この広域欠陥信号S10がCPU(図示せず)に送られると、例えば、CPUが表示パネル(図示せず)に「広域欠陥あり」を表示する。
【0036】
検査光25の走査が繰り返され、紙17が長さL0 だけ走行されると、分周器33がパルス状の検査長信号S5を発生させて二進加算器51に送出する。二進加算器51は、検査長信号S5を入力した時に、シフトレジスタ52〜55の全ビット内の格納値をクリアして「0」にし、次の検査領域D1 ’〜D4 ’内の走査に備える。
【0037】
【実施例】
本発明の表面検査装置10により紙面上に存在する直径6mmの淡色部の検出を行った。なお、紙の検査幅を3m、走行速度を180m/分とし、検査光の走査回数を3000回/秒、基準クロック発生回路によるクロック信号の発生周波数を10MHZ とした。また上記条件によれば、クロック信号は、検査光が紙上を1mm走査するごとに発生されるので、通過クロック信号の基準計数値C0 を「4」、各検査領域内における欠陥信号の規定発生回数M0 を「4回」とした。さらに、光電変換信号の信号レベルから欠陥部を識別するためのしきい値LTHLDを正常光成分の信号レベルと近接する値とし、従来装置ではノイズ成分を誤検出してしまうレベルに設定した。
【0038】
上記検査の結果、キズ等のように光電変換信号の信号レベルの変化量は大きいものの、面積が小さい欠陥は検出されることがなく、直径6mm以上の大きさを持つ欠陥のみが検出された。しかも、光電変換信号の信号レベルの変化量が小さく、従来装置では検出することができなかった淡色部も検出された。これにより、本発明の検査装置によれば、光電変換信号の信号レベルの変化量の多少に係わりなく、所定以上の面積をもつ欠陥であれば確実に検出できることが確認された。
【0039】
【発明の効果】
以上のように本発明の表面検査装置によれば、一定の微小間隔でクロック信号を発生させておき、受光器による光電変換信号の信号レベルが増加又は低下した状態を保持している間に送出されたクロック信号数が基準値を越えた時に欠陥部であると認識するので、光電変換信号の信号レベルの変化量の多少に係わりなく、被検査体の幅方向における長さが短い欠陥は除外され、幅の広い欠陥のみが選別される。しかも、光電変換信号の変動は正常光成分の信号レベルよりも高レベル側あるいは低レベル側に偏った状態で長く継続することがないので、光電変換信号上から欠陥部を識別するための信号レベルのしきい値を正常光成分の信号レベルと近い値に設定してもノイズ部が誤検出される恐れがない。これにより、光の反射率や透過率に与える影響が小さく、光電変換信号の信号レベルには大きな変化として表れなくても、その幅が広い欠陥であれば確実に検出することができるようになる。
【0040】
また、所定長以上の幅をもつ欠陥が、被検査体の走行方向に規定回数以上確認された時に広域欠陥が存在すると判断するので、被検査体の幅方向、あるいは走行方向のいずれか一方にのみ長さをもつような欠陥は除外され、面積の大きな広域欠陥のみが検出される。
【0041】
さらに、被検査体の検査領域をその幅方向に細かく分割することで、1つの小領域内においては所定長以上の幅をもつ欠陥部が幅方向に複数並ぶことがなくなるので、小領域ごとの欠陥の発生回数をそのまま被検査体の走行方向における長さに置き換えることができるようになり、信号処理がより簡便になるとともに、精度の高い検査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】信号処理回路の構成を示すブロック図である。
【図2】表面検査装置の構成を示す概略図である。
【図3】図1に表した幅欠陥検出回路の構成を示すブロック図である。
【図4】図1に表した広域欠陥弁別回路の構成を示すブロック図である。
【図5】検査領域の分割方法を示す説明図である。
【図6】信号処理回路の各部における信号波形の概略を示すチャート図である。
【図7】広域欠陥弁別回路内でのデータ処理方法を示す説明図である。
【符号の説明】
10 表面検査装置
11 投光器
12 受光器
15 信号処理回路
17 紙
17a 検査部
25 検査光
32 レーン分割信号発生回路
34 基準クロック発生回路
36 幅欠陥検出回路
38 ラッチ回路
39 広域欠陥弁別回路
61 キズ
62 淡色部
Claims (1)
- 走査機構を内蔵した投光器により、連続走行する被検査体に対してその幅方向に走査する検査光を照射し、被検査体を反射又は透過した検査光を受光器で光電検出し、この検出信号に基づいて前記被検査体を幅方向に分割したレーン毎に欠陥の有無を識別する表面検査装置において、
一定間隔のクロック信号を送出する基準クロック発生回路と、
前記受光器の検出信号の信号レベルを二値化する閾値が設定され、前記検出信号の信号レベルが前記閾値を超える期間中に送出されるクロック信号を計数する第1の計数手段と、
各レーンが一走査される毎に前記第1の計数手段による第1の計数値が入力され、前記第1の計数値を予め設定された第1の基準値と比較する手段と、
前記第1の計数値が前記第1の基準値に達する前に前記検出信号の信号レベルが前記閾値を下回った場合に前記第1の計数値をクリアする手段と、
前記第1の計数値が前記第1の基準値に達した時点で幅欠陥信号を出力する第1の信号発生手段と、
検査光が被検査体を規定回数走査する間に、同一のレーンで前記幅欠陥信号が出力された回数を計数する第2の計数手段と、
前記第2の計数手段による第2の計数値が入力され、入力された第2の計数値が予め設定された第2の基準値に達したときに広域欠陥信号を発生する第2の信号発生手段とを備え、
前記第1の計数値と前記第2の計数値が前記第1の基準値と前記第2の基準値にそれぞれ達することにより広域欠陥が存在することを識別することを特徴とする表面検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP14446295A JP3544748B2 (ja) | 1995-06-12 | 1995-06-12 | 表面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP14446295A JP3544748B2 (ja) | 1995-06-12 | 1995-06-12 | 表面検査装置 |
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JPH08338812A JPH08338812A (ja) | 1996-12-24 |
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JP (1) | JP3544748B2 (ja) |
-
1995
- 1995-06-12 JP JP14446295A patent/JP3544748B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPH08338812A (ja) | 1996-12-24 |
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