JPH10150349A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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JPH10150349A
JPH10150349A JP8305315A JP30531596A JPH10150349A JP H10150349 A JPH10150349 A JP H10150349A JP 8305315 A JP8305315 A JP 8305315A JP 30531596 A JP30531596 A JP 30531596A JP H10150349 A JPH10150349 A JP H10150349A
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JP
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transistor
channel
output
mos transistor
mos
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JP8305315A
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Inventor
Masahisa Sakamoto
昌久 坂本
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 P,NのMOSトランジスタから成る直列回
路INV1,INV2と、その出力用のMOSトランジ
スタQP10,QN20とを備えて、デジタルの入力信
号INを伝搬する回路において、MOSトランジスタの
特性を変更することなく、ノイズを抑えるために出力信
号OUTになまりを発生させる。 【解決手段】 CMOSインバータを構成していたトラ
ンジスタQP1,QN1;QP2,QN2の接続点B
1,B2に対して、トランジスタQN1側には反対の極
性のトランジスタQR1を介在し、トランジスタQP2
側にも反対の極性のトランジスタQR2を介在する。ト
ランジスタQR1,QR2は抵抗として機能し、波形に
なまりを生じさせることができるとともに、該トランジ
スタQR1,QR2によるスレッシュアップまたはダウ
ンは、トランジスタQP10,QN20の動作保証範囲
であるので、出力信号OUTは、フルスイングが可能と
なる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、特にゲートアレイ
用のASIC(Application Specific IC )などとして
好適に実施される半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】前記ゲートアレイにおいて、デジタル信
号を伝搬する典型的な従来技術の回路は、たとえば図4
で示すように構成されている。この回路は、一対のCM
OSインバータinv1,inv2と、このCMOSイ
ンバータinv1,inv2に個別に対応する出力用の
MOSトランジスタqp10,qn20とを備えて構成
されている。
【0003】CMOSインバータinv1は、Pチャネ
ルのMOSトランジスタqp1と、NチャネルのMOS
トランジスタqn1とが、電源ライン間に直列に接続さ
れて構成されている。MOSトランジスタqp1,qn
1のゲートには入力端子a1に入力された入力信号in
が共通に入力され、MOSトランジスタqp1のソース
にはハイレベルの電源電位VDDが与えられ、MOSトラ
ンジスタqn1のソースは接地され、両MOSトランジ
スタqp1,qn1のドレインからは、ラインk1を介
してMOSトランジスタqp10のゲートへ、内部信号
spが出力される。MOSトランジスタqp10のソー
スには前記ハイレベルの電源電位VDDが与えられ、ドレ
インからは出力端子a2に出力信号outが導出され
る。
【0004】同様に、CMOSインバータinv2は、
PチャネルのMOSトランジスタqp2と、Nチャネル
のMOSトランジスタqn2とが電源ライン間に直列に
接続されて構成されており、MOSトランジスタqp
2,qn2のゲートには入力端子a1に入力された入力
信号inが入力され、MOSトランジスタqp2のソー
スにはハイレベルの電源電位VDDが与えられ、MOSト
ランジスタqn2のソースは接地され、両MOSトラン
ジスタqp2,qn2のドレインからは、ラインk2を
介してMOSトランジスタqn20のゲートへ、内部信
号snが出力される。MOSトランジスタqn20のソ
ースは接地され、ドレインからは、前記出力端子a2に
出力信号outが導出される。
【0005】このように構成される回路では、入力信号
inがCMOSインバータinv1,inv2で反転さ
れて、前記内部信号sp,snが作成され、さらにこの
内部信号sp,snがMOSトランジスタqp10,q
n20で反転されて、前記入力信号inに対して予め定
める時間だけ遅延した非反転の出力信号outが導出さ
れる。
【0006】しかしながら、このように構成される回路
では、該回路が有するL,C,Rの成分等によって、C
MOSインバータinv1,inv2の状態の遷移時
に、波形の急峻な立上がりまたは立下がりによって不要
輻射が発生し、図5(a)で示す入力信号inの波形に
対して、図5(b)で示す出力信号outの波形のよう
に、リンギングによる高周波成分が発生してしまうとい
う問題がある。
【0007】これによって、たとえば該回路がトランシ
ーバ等の通信機器に使用される場合には、雑音が発生し
たり、またテレビジョン受信器に使用される場合には、
画像に乱れが生じたりするなどのノイズが発生するとい
う問題がある。
【0008】このような問題を解決するためには、たと
えばL/W(MOSトランジスタのチャネル長/チャネ
ル幅)、ゲート膜圧および誘電率等のMOSトランジス
タの有する特性を変更して、所望とする出力波形なまり
を得る方法が考えられる。しかしながらこのような方法
では、各ASICの設計のたび毎に、変更したMOSト
ランジスタの特性の評価や検証を行わなければならず、
開発期間が長期間に及ぶという問題がある。
【0009】そこで、前述の図4で示す回路の問題を他
の手法で解決するようにした従来技術は、たとえば図6
で示される。この図6で示す回路は、前述の図4で示す
回路に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付し
て、その説明を省略する。この図6で示す回路では、前
記CMOSインバータinv1に対応するCMOSイン
バータinv10は、前記PチャネルのMOSトランジ
スタqp1と、多段(この図6の例では4段)で、相互
に直列に接続されたNチャネルのMOSトランジスタq
n11〜qn14とを備えて構成されている。同様に、
前記CMOSインバータinv2に対応するCMOSイ
ンバータinv20は、相互に直列に多段に接続された
PチャネルのMOSトランジスタqp11〜qp14
と、前記MOSトランジスタqn2とを備えて構成され
ている。
【0010】このように構成されるCMOSインバータ
inv10,inv20では、MOSトランジスタqn
11〜qn14;qp11〜qp14のソースから伝搬
してくる、それぞれ接地電位または電源電位の伝搬時間
が長くなり、前記図5(a)で示す入力信号inに対し
て、出力信号outには、図5(c)で示すように、波
形なまりが生じ、前記図5(b)で示すようなノイズの
発生を抑えることができる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上述の図6で示すよう
な従来技術の半導体集積回路では、出力信号outに所
望とする波形なまりを生じさせるために、MOSトラン
ジスタの段数を調整して、信号レベルの遷移時間、すな
わち前記接地電位または電源電位の伝搬時間が制御され
ている。したがって、所望とする波形なまりが得られる
まで、MOSトランジスタの段数が増加し、該半導体集
積回路の規模が、基本設計の時点よりも数%増加してし
まうという問題がある。
【0012】一方、前記伝搬時間を制御するさらに他の
従来技術として、たとえば特開平5−206803号公
報が挙げられる。この従来技術の回路を図7で示す。な
お、この回路は遅延回路であり、入力端子a1からの入
力信号inが与えられる遅延部d1と、この遅延部d1
で反転遅延して作成された内部信号sがラインkを介し
て入力される波形整形部d2とを備えて構成される。こ
うして、後段側の波形整形部d2から出力端子a2へ出
力される出力信号outは、図8において参照符α1で
示す前記入力信号inに対して、参照符α2で示すよう
に、非反転で所定期間だけ遅延された信号となる。
【0013】前段側の遅延部d1では、前記入力信号i
nが与えられる一対のPチャネルのMOSトランジスタ
qp1とNチャネルのMOSトランジスタqn2とに対
して、それぞれ逆極性のMOSトランジスタqn1aと
qp2aとが関連して設けられている。したがって、前
記ラインkへの内部信号sは、図8において、参照符α
3で示すように、入力信号a1が緩やかに遷移する波形
となり、かつハイレベル側が前記電源電位VDDよりもM
OSトランジスタqn1aの閾値電圧分だけスレッシュ
ダウンしたレベルとなり、ローレベル側が接地電位より
も前記MOSトランジスタqp2aの閾値電圧分だけス
レッシュアップしたレベルとなる。このように、伝搬速
度の遅延のために設けられたMOSトランジスタqn1
a,qp2aの閾値電圧による振幅の縮小は、後段側の
波形整形部d2で波形整形されることによって解消し、
出力信号outは、入力信号inと相似の波形で、電源
電位VDDまたは接地電位にフルシフトし、かつ遅延した
波形となる。
【0014】すなわち、内部信号sがMOSトランジス
タqp1の導通によって立上げられるときには、介在さ
れたMOSトランジスタqn1aが抵抗として機能し、
波形なまりを生じさせる。こうして、ハイレベルに立上
がった内部信号sによって、前記MOSトランジスタq
n1aと同一極性のMOSトランジスタqn20は、出
力信号outを接地レベルにフルシフトする。同様に、
内部信号sがMOSトランジスタqn2の導通によって
立下げられるときには、介在されたMOSトランジスタ
qp2aが抵抗として機能し、波形なまりを生じさせ
る。こうして、ローレベルに立下がった内部信号sによ
って、前記MOSトランジスタqp2aと同一極性のM
OSトランジスタqp10は、出力信号outを前記電
源電位VDDにフルシフトする。
【0015】しかしながら、この図7で示す回路では、
波形整形部d2のMOSトランジスタqp10,qn2
0は共通の内部信号sによって導通/遮断制御されるの
で、同時に導通している期間があり、前記輻射によるノ
イズが依然として発生するという問題がある。
【0016】本発明の目的は、MOSトランジスタの特
性の変更を行うことなく、かつ介在すべきMOSトラン
ジスタをむやみに多段にすることなく、出力信号の波形
なまりを所望とするレベルに制御することができる半導
体集積回路を提供することである。
【0017】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係る半
導体集積回路は、入力信号が共通に与えられ、Pチャネ
ルのトランジスタとNチャネルのトランジスタとから成
る2組の直列回路と、前記各直列回路に個別的に対応し
た出力用のトランジスタとを搭載して構成される半導体
集積回路において、前記2組の直列回路のPチャネルの
トランジスタとNチャネルのトランジスタとの接続点に
対して、いずれか一方の組では該Pチャネルのトランジ
スタまたはNチャネルのトランジスタのいずれか一方の
トランジスタ側に、いずれか他方の組ではいずれか他方
のトランジスタ側に、直列に、そのトランジスタとは反
対の導電形式のトランジスタを1または複数個介在し、
前記出力用のトランジスタは、対応する直列回路に介在
されたトランジスタと同一極性のトランジスタであるこ
とを特徴とする。
【0018】上記の構成によれば、電源ライン間に、C
MOSインバータであるP,N両チャネルのトランジス
タの直列回路が2組並列に介在され、入力信号は各トラ
ンジスタのゲートに共通に与えられ、出力信号は各直列
回路に個別的に対応する出力用のトランジスタのドレイ
ンから導出されるようにして、デジタル信号を伝搬する
回路において、ハイレベルの電源ライン側のPチャネル
のトランジスタと、ローレベルの電源ライン側のNチャ
ネルのトランジスタとの接続点に対して、一方の組の直
列回路では、Pチャネルのトランジスタ側にNチャネル
のトランジスタを1または複数個直列に介在し、他方の
組の直列回路では、Nチャネルのトランジスタ側にPチ
ャネルのトランジスタを1または複数個直列に介在す
る。
【0019】前記介在されたNチャネルのトランジスタ
は抵抗成分として機能し、Pチャネルのトランジスタの
ソース電極から伝搬してくるハイレベルの電源電位は、
この介在されたNチャネルのトランジスタで閾値電圧分
だけスレッシュダウンされ、対応するNチャネルの出力
用のトランジスタに内部信号として導出される。これに
よって、前記内部信号における波形には、立上がり時に
なまりが生じることになる。
【0020】一方、対応する出力用のトランジスタは、
前記内部信号が前記ハイレベルの電源電位よりも前記閾
値電圧分だけスレッシュダウンしていても、この出力用
のトランジスタの動作保証範囲内であり、出力電圧は、
0Vなどの所定のローレベルまでフルスイングすること
ができる。このようにして、前記介在したNチャネルの
トランジスタによる出力の振幅変化を無くして、かつ出
力信号には該介在したNチャネルのトランジスタによる
波形なまりを生じさせることができる。
【0021】同様に、前記介在されたPチャネルのトラ
ンジスタは抵抗成分として機能し、Nチャネルのトラン
ジスタのソース電極から伝搬してくるローレベルの電源
電位は、この介在されたPチャネルのトランジスタで閾
値電圧分だけスレッシュアップされ、対応するPチャネ
ルの出力用のトランジスタに内部信号として導出され
る。これによって、前記内部信号における波形には、立
下がり時になまりが生じることになる。
【0022】一方、対応する出力用のトランジスタは、
前記内部信号が前記ローレベルの電源電位よりも前記閾
値電圧分だけスレッシュアップしていても、この出力用
のトランジスタの出力電圧は、5Vなどの所定のハイレ
ベルまでフルスイングすることができる。このようにし
て、前記介在したPチャネルのトランジスタによる出力
の振幅変化を無くして、かつ出力信号には該介在したP
チャネルのトランジスタによる波形なまりを生じさせる
ことができる。
【0023】したがって、前記入力信号に応答した前記
出力信号を出力する信号伝搬にあたって、出力用のトラ
ンジスタのうち、遮断すべき側が速やかに遮断した後、
導通すべき側が緩やかに導通することになり、2つの出
力用のトランジスタが同時に導通していることはない。
こうして不要輻射の発生を抑えて、耐ノイズ性を向上す
ることができる。
【0024】また、このようにして耐ノイズ性が向上す
るようになまりを生じさせるにあたって、トランジスタ
の特性の変更を不要とすることができるとともに、介在
されるトランジスタは抵抗として機能するので、所望と
するなまりを得るにあたって、むやみに多段に構成する
必要はなく、回路面積の増大を抑えることもできる。
【0025】また請求項2の発明に係る半導体集積回路
は、前記いずれか一方の組の直列回路のいずれか他方の
トランジスタおよびいずれか他方の組の直列回路のいず
れか一方のトランジスタを、相互に並列に接続された多
段のトランジスタで構成することを特徴とする。
【0026】上記の構成によれば、出力用のトランジス
タの遮断時に電流を供給する一方の組の直列回路の他方
のトランジスタおよび他方の組の直列回路の一方のトラ
ンジスタを並列多段で構成するので、速やかに遮断させ
ることができ、確実に、2つの出力用のトランジスタが
同時に導通しないようにすることができる。
【0027】
【発明の実施の形態】本発明の実施の一形態について、
図1および図2に基づいて説明すれば以下のとおりであ
る。
【0028】図1は、本発明の実施の一形態の電気回路
図である。この回路は、2組の直列回路INV1,IN
V2と、それらに個別的に対応する出力用のMOSトラ
ンジスタQP10,QN20とを備えて構成されてい
る。
【0029】一方の組の直列回路INV1では、ハイレ
ベルの電源電位VDDと接地電位との間に、Pチャネルの
MOSトランジスタQP1とNチャネルのMOSトラン
ジスタQN1とが直列に接続されて構成される通常のC
MOSインバータの構成において、前記MOSトランジ
スタQP1,QN1の接続点B1に対して、一方のMO
SトランジスタQN1側に、直列に、そのMOSトラン
ジスタとは反対の導電形式であるPチャネルのMOSト
ランジスタQR1が介在される。
【0030】前記MOSトランジスタQP1,QN1の
ゲートには、入力端子A1に与えられるデジタルの入力
信号INが共通に入力され、MOSトランジスタQP1
のソースには前記電源電位VDDが与えられ、MOSトラ
ンジスタQN1のソースは接地されている。また、MO
SトランジスタQN1のドレインは、MOSトランジス
タQR1のゲートおよびドレインと接続され、MOSト
ランジスタQP1のドレインおよびMOSトランジスタ
QR1のソースからは、ラインK1に内部信号SPが出
力される。
【0031】したがって、入力信号INが図2(a)で
示されるように、ハイレベルとローレベルとの間で切換
わるデジタル信号であるときに、前記内部信号SPは、
図2(b)で示すように、ローレベルとハイレベルとに
切換わる反転信号となる。ただし、図2において、時刻
t1で示すように、前記入力信号INがローレベルから
ハイレベルに立上がるときには、MOSトランジスタQ
P1は速やかに遮断し、MOSトランジスタQN1は速
やかに導通するけれども、MOSトランジスタQR1が
抵抗として機能し、これによって内部信号SPのレベル
は、ローレベルへ緩やかに立下がってゆく。これに対し
て、時刻t2で示されるように、入力信号INがハイレ
ベルからローレベルへ立下がる時には、MOSトランジ
スタQN1は速やかに遮断し、MOSトランジスタQP
1は速やかに導通し、これによって、前記内部信号SP
は速やかに立上がる。
【0032】なお、前記内部信号SPのレベルは、MO
SトランジスタQP1が導通するハイレベル時には、前
記電源電位VDDと略等しくなるけれども、MOSトラン
ジスタQR1を介するローレベル時には、該MOSトラ
ンジスタQR1のゲート−ソース間の閾値電圧によっ
て、接地レベルから前記閾値電圧分だけスレッシュアッ
プした値となる。
【0033】一方、出力用のMOSトランジスタQP1
0は、前記MOSトランジスタQR1と等しい導電形式
のPチャネルのMOSトランジスタであり、ゲートには
前記内部信号SPが与えられ、ソースには前記電源電位
DDが与えられ、ドレインからは出力端子A2へ出力信
号OUTが導出される。したがって、MOSトランジス
タQP10からの出力信号OUTは、前記内部信号SP
のハイレベル/ローレベルに対応して、オープン/ハイ
レベルとなる。
【0034】これに対して、他方の組の直列回路INV
2では、CMOSインバータを構成するPチャネルのM
OSトランジスタQP2とNチャネルのMOSトランジ
スタQN2との接続点B2に対して、他方のMOSトラ
ンジスタQP2側に、直列に、該他方のMOSトランジ
スタとは反対の導電形式であるNチャネルのMOSトラ
ンジスタQR2が介在されている。前記出力用のMOS
トランジスタQN20は、前記MOSトランジスタQR
2と等しい導電形式のNチャネルとなっている。
【0035】したがって、入力信号INのハイレベル/
ローレベルに対応して、直列回路INV2からラインK
2へ出力される内部信号SNは、図2(c)で示すよう
に、ローレベル/ハイレベルとなる。ただし、ハイレベ
ル側では、MOSトランジスタQR2のゲート−ソース
間の閾値電圧分だけ前記電源電位VDDからスレッシュダ
ウンし、また時刻t1での入力信号INの立上がり時に
は、MOSトランジスタQN2が導通して速やかに立下
がるのに対して、時刻t2の立下がり時には、前記MO
SトランジスタQR2の抵抗作用によって、緩やかに立
上がる。
【0036】MOSトランジスタQN20のゲートには
前記内部信号SNが与えられ、ソースは接地されてお
り、ドレインからは前記出力端子A2に出力信号OUT
が導出される。したがって、前記内部信号SNのハイレ
ベル/ローレベルに対応して、このMOSトランジスタ
QN20は、出力信号OUTをローレベル/オープンと
する。
【0037】したがって、出力信号OUTは、図2
(d)で示すように、入力信号INのハイレベル/ロー
レベルに対応して、ハイレベル/ローレベルとなる、非
反転で、かつ立上がりおよび立下がりの遷移時には、そ
のレベルが緩やかに遷移するなまった波形となる。ま
た、そのようになまりを生じさせるために介在したMO
SトランジスタQR1,QR2によって、該MOSトラ
ンジスタQR1,QR2の閾値電圧分だけ内部信号S
P,SNにそれぞれスレッシュアップまたはスレッシュ
ダウンが生じても、出力用のMOSトランジスタQP1
0,QN20の動作保証範囲内であるので、出力信号O
UTは、入力信号INと同様に、フルスイングすること
ができる。
【0038】たとえば、電源電位VDDを5Vとし、出力
端子A2に接続される負荷容量を20pFとするとき、
出力信号OUTの波形なまりの立上がり時の最大遅延時
間T1は、45nsecであり、立下がり時の最大遅延
時間T2は、34nsecであった。
【0039】以上のようにして本発明に従う回路では、
直列回路INV1,INV2を構成するMOSトランジ
スタQP1,QN1;QP2,QN2の接続点B1,B
2に対して、MOSトランジスタQN1,QP2側に導
電形式の反対のMOSトランジスタQR1,QR2を介
在するので、出力用のMOSトランジスタQP10,Q
N20の導通時の遷移をなまらせることができ、また遮
断時には速やかに遮断させることができ、出力信号OU
Tに、該MOSトランジスタQP10,QN20が同時
に導通していることによるノイズが発生することを防止
することができる。また、介在したMOSトランジスタ
QR1,QR2によるスレッシュアップまたはスレッシ
ュダウンの影響は、出力用のMOSトランジスタQP1
0,QN20の動作保証範囲内であるので、正常な動作
を行うことができる。
【0040】こうして、集積回路を形成するにあたっ
て、前記L/WなどのMOSトランジスタの特性を変更
することなく、前記ノイズを抑制することができる所望
とする波形なまりを得ることができ、前記特性の変更に
伴う評価や検証の必要がなくなり、開発期間を短縮する
ことができる。また、介在するMOSトランジスタQR
1,QR2は、介在される側のMOSトランジスタと
は、逆極性であるので、1個で充分な抵抗効果を得るこ
とができ、回路規模の増大を招くこともない。
【0041】本発明の実施の他の形態について、図3に
基づいて説明すれば以下のとおりである。
【0042】図3は、本発明の実施の他の形態の電気回
路図であり、前述の図1で示す構成に類似し、対応する
部分には同一の参照符号を付して、その説明を省略す
る。上述の図1で示すように、1段のMOSトランジス
タQR1,QR2を介在するだけで、前述の図6で示す
ような多段に構成する場合と同様の効果を得ることがで
きるけれども、さらに波形なまりを大きくしたいときに
は、この図3で示すように、直列回路INV1a,IN
V2aにおいて、多段(この図3の例では2段)のMO
SトランジスタQR11,QR12;QR21,QR2
2を直列に介在するようにしてもよい。
【0043】また、出力用のMOSトランジスタQP1
0,QN20をより速やかに遮断させるために、遮断駆
動する前述のMOSトランジスタQP1,QN2も、こ
の直列回路INV1a,INV2aで示すように、並列
多段のMOSトランジスタQP11,QP12,QP1
3,QP14;QN21,QN22,QN23,QN2
4でそれぞれ構成してもよい。
【0044】これによって、出力用のMOSトランジス
タQP10,QN20が同時に導通することを、さらに
確実に防止することができる。
【0045】
【発明の効果】請求項1の発明に係る半導体集積回路
は、以上のように、電源ライン間に、CMOSインバー
タであるP,N両チャネルのトランジスタの直列回路が
2組並列に介在され、入力信号は各トランジスタのゲー
トに共通に与えられ、出力信号は各直列回路に個別的に
対応する出力用のトランジスタのドレインから導出され
るようにして、デジタル信号を伝搬するようにした回路
において、ハイレベルの電源ライン側のPチャネルのト
ランジスタと、ローレベルの電源ライン側のNチャネル
のトランジスタとの接続点に対して、一方の組の直列回
路では、Pチャネルのトランジスタ側に、抵抗成分とし
て機能するNチャネルのトランジスタを1または複数個
直列に介在し、他方の組の直列回路では、Nチャネルの
トランジスタ側に、抵抗成分として機能するPチャネル
のトランジスタを1または複数個直列に介在する。
【0046】それゆえ、Pチャネルのトランジスタのソ
ース電極から伝搬してくるハイレベルの電源電位は、介
在されたNチャネルのトランジスタで閾値電圧分だけス
レッシュダウンされ、対応するNチャネルの出力用のト
ランジスタに導出される内部信号の波形には、立上がり
時になまりが生じ、Nチャネルのトランジスタのソース
電極から伝搬してくるローレベルの電源電位は、この介
在されたPチャネルのトランジスタで閾値電圧分だけス
レッシュアップされ、対応するPチャネルの出力用のト
ランジスタに導出される内部信号の波形には、立下がり
時になまりが生じることになる。
【0047】したがって、前記入力信号に応答した前記
出力信号を出力する信号伝搬にあたって、出力用のトラ
ンジスタのうち、遮断すべき側が速やかに遮断した後、
導通すべき側が緩やかに導通することになり、2つの出
力用のトランジスタが同時に導通していることはない。
こうして不要輻射の発生を抑えて、耐ノイズ性を向上す
ることができる。
【0048】また、このようにして耐ノイズ性を向上す
るようになまりを生じさせるにあたって、トランジスタ
の特性の変更を不要とすることができるとともに、介在
されるトランジスタは抵抗として機能するので、所望と
するなまりを得るにあたって、むやみに多段に構成する
必要はなく、回路面積の増大を抑えることもできる。
【0049】また請求項2の発明に係る半導体集積回路
は、以上のように、出力用のトランジスタの遮断時に電
流を供給する一方の組の直列回路の他方のトランジスタ
および他方の組の直列回路の一方のトランジスタを並列
多段で構成する。
【0050】それゆえ、速やかに遮断させることがで
き、確実に、2つの出力用のトランジスタが同時に導通
しないようにすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の一形態の電気回路図である。
【図2】図1で示す構成の動作を説明するための波形図
である。
【図3】本発明の実施の他の形態の電気回路図である。
【図4】典型的な従来技術の電気回路図である。
【図5】図4および図6で示す構成の動作を説明するた
めの波形図である。
【図6】他の従来技術の電気回路図である。
【図7】さらに他の従来技術の電気回路図である。
【図8】図7で示す構成の動作を説明するための波形図
である。
【符号の説明】
INV1,INV2 直列回路 INV1a,INV2a 直列回路 QN1,QN2 MOSトランジスタ(Nチャ
ネル) QN20 出力のMOSトランジスタ
(Nチャネル) QN21〜QN24 MOSトランジスタ(Nチャ
ネル) QP1,QP2 MOSトランジスタ(Pチャ
ネル) QP10 出力のMOSトランジスタ
(Pチャネル) QP11〜QP14 MOSトランジスタ(Pチャ
ネル) QR1 MOSトランジスタ(介在されたMOSトラ
ンジスタ:Pチャネル) QR2 MOSトランジスタ(介在されたMOSトラ
ンジスタ:Nチャネル) QR11,QR12 MOSトランジスタ(介在され
たMOSトランジスタ:Pチャネル) QR21,QR22 MOSトランジスタ(介在され
たMOSトランジスタ:Nチャネル)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】入力信号が共通に与えられ、Pチャネルの
    トランジスタとNチャネルのトランジスタとから成る2
    組の直列回路と、前記各直列回路に個別的に対応した出
    力用のトランジスタとを搭載して構成される半導体集積
    回路において、 前記2組の直列回路のPチャネルのトランジスタとNチ
    ャネルのトランジスタとの接続点に対して、いずれか一
    方の組では該PチャネルのトランジスタまたはNチャネ
    ルのトランジスタのいずれか一方のトランジスタ側に、
    いずれか他方の組ではいずれか他方のトランジスタ側
    に、直列に、そのトランジスタとは反対の導電形式のト
    ランジスタを1または複数個介在し、 前記出力用のトランジスタは、対応する直列回路に介在
    されたトランジスタと同一極性のトランジスタであるこ
    とを特徴とする半導体集積回路。
  2. 【請求項2】前記いずれか一方の組の直列回路のいずれ
    か他方のトランジスタおよびいずれか他方の組の直列回
    路のいずれか一方のトランジスタを、相互に並列に接続
    された多段のトランジスタで構成することを特徴とする
    請求項1記載の半導体集積回路。
JP8305315A 1996-11-15 1996-11-15 半導体集積回路 Pending JPH10150349A (ja)

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