JPH10142287A - 部分放電測定の校正装置 - Google Patents

部分放電測定の校正装置

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JPH10142287A
JPH10142287A JP29874096A JP29874096A JPH10142287A JP H10142287 A JPH10142287 A JP H10142287A JP 29874096 A JP29874096 A JP 29874096A JP 29874096 A JP29874096 A JP 29874096A JP H10142287 A JPH10142287 A JP H10142287A
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JP
Japan
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calibration
capacitance
generated
charge
discharge measurement
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Pending
Application number
JP29874096A
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English (en)
Inventor
Yasuhiro Takahashi
康弘 高橋
Masao Saito
政夫 斉藤
Kazuo Watanabe
和夫 渡辺
Nobuo Kikuta
修夫 菊田
Katsuhiko Yamada
克彦 山田
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NIPPON KEISOKKI SEIZOSHO KK
Fujikura Ltd
Original Assignee
NIPPON KEISOKKI SEIZOSHO KK
Fujikura Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 部分放電測定における校正において、大地浮
遊静電容量とリード線のインダクタンスの影響を除去で
きると共に、校正感度を向上させて隣接校正も精度良く
できるようにした部分放電測定の校正方法を提供する。 【解決手段】 NJ部12において、校正器15からは
500(v)の電圧パルスをIJ14に注入する。校正
器5の直列容量Csが1(pF)になっているので、校
正電荷は500(pC)が発生可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ケーブル線路の箔
電極式で高周波成分(数MHz〜数十MHz)を測定す
ることにより行う部分放電測定法の測定精度を向上させ
る校正装置に関する。
【0002】
【従来の技術】CVケーブル線路の部分放電を測定する
方法として、絶縁接続(IJ)の絶縁筒両側に発生する
高周波電圧成分(数MHz〜数十MHz)を測定するこ
とにより検出する部分放電測定法が検討されている。
【0003】この部分放電測定法における校正は、直接
ケーブル導体とシース間にパルスを印加する直接法(直
接校正法)と間接的にパルスを印加する間接法がある。
図2は、箔電極方式の部分放電測定絶縁接続部(IJ
部)の間接校正法を示しており、図2の(a)はIJ部
の外観図、(b)は回路図である。G,Lは大地を示
す。
【0004】間接校正法では、前記図2に示すように、
ケーブル1,1同士のIJ部2の絶縁筒3両側の防食層
上に設けた箔電極4,4に校正器5(校正用パルス発生
器PGと直列容量Csと筺体5aから主になる)からパ
ルスを注入することにより、間接的に行う。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、信号検
出用箔電極のリード線のインダクタンスがあり校正にそ
の影響がでるという問題点がある。また、箔電極の静電
容量との関係による誤差を小さくする要望もある。ま
た、隣接校正においては、入力された電荷量を認識させ
る対策も必要になる。
【0006】本発明は前記従来の問題点を解消するべく
なされたものであって、部分放電測定における校正にお
いて、大地浮遊静電容量とリード線のインダクタンスの
影響を除去できると共に、十分な校正ができるようにし
て隣接校正も精度良くできるようにした部分放電測定の
校正装置を提供することを目的とする。
【0007】本発明は前記課題を解決するべく次の構成
を有する。請求項1の発明は、電力ケーブルの部分放電
測定において、絶縁接続部の絶縁筒両側に設けた箔電極
間に電圧パルスを注入して間接的に部分放電測定の校正
を行う装置であって、校正装置内部の直列容量Csとリ
ード線との共振周波数が校正に影響が無いあるいは少な
い周波数になる容量値かつ箔電極の静電容量との関係に
よる誤差を小さくする容量値に設定された該内部直列容
量Csと、前記内部直列容量Csの容量値に対応して目
標の校正電荷Qが発生可能な電圧値Vs=Q/Csの電
圧パルスを出力するパルス発生器とを有することを特徴
とする部分放電測定の校正装置である。
【0008】請求項2の発明は、内部直列容量が1(p
F)以下であって、目標の校正電荷Qが50〜500
(pC)で発生するように、パルス発生器は電圧値Vs
が最大500(v)の電圧パルスを出力するものである
ことを特徴とする請求項1に記載の部分放電測定の校正
装置である。
【0009】ここで、出願人は、本出願に関連して、箔
電極式の間接校正法において、校正器内の直列容量を小
さく(例えば10pFから1pFへ)することにより、
校正系リード線のインダクタンスおよび箔電極の容量不
足による校正誤差を小さくすることが可能になることを
案出して特願平8−171379号(未公知)を出願し
ている。
【0010】しかしながら、校正器内の直列静電容量を
10pFから1pFにした場合に、校正器の出力電圧が
0〜50(v)であると、10(pF)であれば最高5
00(pC:ピコクーロン)までの校正が可能であった
のが、1(pF)では最高50pCまでの校正しかでき
ない。すなわち、検出感度は校正電荷Qに従ったものに
なるが、Q=C・Vであるので、直列静電容量が10
(pF)のときは校正電荷Q=10(pF)×50
(v)=500(pC)になるが、直列静電容量が1
(pF)のときは校正電荷Q=1(pF)×50(v)
=50(pC)になる。
【0011】これでは、CVケーブル線路の校正を十分
にできない。特に、図1に示すような電力ケーブル11
のノーマルジョイント部(普通接続箱:ケーブルの延長
で絶縁筒がないジョイント、以下「NJ部」と略記)1
2で部分放電測定するときに隣接校正ができない。つま
り、図1において、隣接校正は、箔電極を設置できない
NJ部12の部分放電測定の校正を行うに際して、それ
の隣のIJ部13に箔電極13a、13aを介して検出
インピーダンスZを接続し、さらに先隣のIJ部14に
校正器(校正パルス発生器および直列容量Cs)15を
設けて、該校正器15から箔電極15a、15aを介し
て電圧パルスを注入して校正を行う。しかし、前記直列
容量Csが1(pF)であって校正器15のパルス出力
電圧が、50(v)であると最高50(pC)までの校
正しかできず、したがって、目的とするNJ部12の測
定感度が50(pC)以上に悪いときは、校正ができな
くなる。
【0012】これに対して、本発明者は、パルス発生器
をその内部の直列容量Csに対して目的の校正が可能な
測定感度Qが得られる電圧以上の出力電圧Vs(>Qs
/C)を出力できるようにする(請求項1)。
【0013】例えば、最大500(v)までの電圧範囲
で校正電圧を出力して校正可能にするものである(請求
項2)。したがって、前記直列静電容量が1(pF)の
ときに、校正電荷Q=Cs・V=1(pF)×500
(v)から、最大500(pC)まで発生可能になる。
よって、500(pC)まで校正電荷が発生可能となる
ので、ケーブル線路のNJ部の隣接校正も問題なく十分
な校正が可能となる。また、測定感度が50(pC)以
上と悪い場所でも校正が可能になる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。図1のNJ部12において、校正器15からは5
00(v)の電圧パルスをIJ14に注入する。校正器
5の直列容量Csが1(pF)になっているので、校正
電荷は500(pC)が発生する。
【0015】したがって、前記直列静電容量が1(p
F)のときに、校正電荷Q=Cs・V=1(pF)×5
00(v)から、最大500(pC)まで発生可能にな
る。よって、500(pC)まで校正電荷が発生可能と
なるので、ケーブル線路のNJ部の隣接校正も問題なく
十分な校正が可能となる。また、測定感度が50(p
C)以上と悪い場所でも校正が可能になる。
【0016】
【発明の効果】以上説明した通り、請求項1の発明によ
れば、校正装置内の直列静電容量を小さくして校正誤差
を小さくできると共に、校正電荷量が内部直列容量の容
量値に対応して発生可能であるので、誤差の小さな校正
が可能になる。
【0017】請求項2によれば、内部直列容量が1(p
F)のときに、校正電荷Q=Cs・V=1(pF)×5
00(v)から、最大500(pC)まで発生可能にな
る。よって、500(pC)まで校正電荷が発生可能と
なるので、ケーブル線路のNJ部の隣接校正も問題なく
十分な校正が可能となる。また、測定感度が50(p
C)以上と悪い場所でも校正が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を隣接校正で説明する図である。
【図2】(a)はIJ部の外観図、(b)は回路図であ
る。
【符号の説明】
11 電力ケーブル 12 NJ部 13、14 IJ部 15 校正器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 渡辺 和夫 千葉県富津市新富42番1 株式会社フジク ラ富津工場内 (72)発明者 菊田 修夫 千葉県富津市新富42番1 株式会社フジク ラ富津工場内 (72)発明者 山田 克彦 東京都渋谷区広尾5丁目15番1号 株式会 社日本計測器製造所内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電力ケーブルの部分放電測定において、
    絶縁接続部の絶縁筒両側に設けた箔電極間に電圧パルス
    を注入して間接的に部分放電測定の校正を行う装置であ
    って、 校正装置内部の直列容量Csとリード線との共振周波数
    が校正に影響が無いあるいは少ない周波数になる容量値
    かつ箔電極の静電容量との誤差を小さくする容量値に設
    定された該内部直列容量Csと、 前記内部直列容量Csの容量値に対応して目標の校正電
    荷Qが発生可能な電圧値Vs=Q/Csの電圧パルスを
    出力するパルス発生器とを有することを特徴とする部分
    放電測定の校正装置。
  2. 【請求項2】 内部直列容量が1(pF)以下であっ
    て、目標の校正電荷Qが50〜500(pC)で発生す
    るように、パルス発生器は電圧値Vsが最大500
    (v)の電圧パルスを出力するものであることを特徴と
    する請求項1に記載の部分放電測定の校正装置。
JP29874096A 1996-11-11 1996-11-11 部分放電測定の校正装置 Pending JPH10142287A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103472424A (zh) * 2013-08-26 2013-12-25 云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院 基于模拟电压信号注入的不同类型局放检测仪主机性能测试方法
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CN112363028A (zh) * 2020-10-29 2021-02-12 国网湖南省电力有限公司 一种局放模拟用电缆及高压电缆局放测量系统的校验方法

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