JPH10132559A - 測距センサ - Google Patents
測距センサInfo
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- JPH10132559A JPH10132559A JP28773696A JP28773696A JPH10132559A JP H10132559 A JPH10132559 A JP H10132559A JP 28773696 A JP28773696 A JP 28773696A JP 28773696 A JP28773696 A JP 28773696A JP H10132559 A JPH10132559 A JP H10132559A
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- filter
- distance
- projecting
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来例のセンサ本体の前方にフィルタを備え
た測距センサにおいては、フィルタ表面で投光部の漏れ
光が直接反射して受光部に入射するため、測距センサの
精度をあげることが困難であった。 【解決手段】 発光素子の光を測距対象物に投射する投
光部及び該投射光が測距対象物により反射された光を受
光する受光部より成るセンサ本体と、該センサ本体の全
面に配設されたフィルタとを有し、且つ該投光部と該受
光部との間に遮光壁を設けたことを特徴とする測距セン
サである。
た測距センサにおいては、フィルタ表面で投光部の漏れ
光が直接反射して受光部に入射するため、測距センサの
精度をあげることが困難であった。 【解決手段】 発光素子の光を測距対象物に投射する投
光部及び該投射光が測距対象物により反射された光を受
光する受光部より成るセンサ本体と、該センサ本体の全
面に配設されたフィルタとを有し、且つ該投光部と該受
光部との間に遮光壁を設けたことを特徴とする測距セン
サである。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光を投射してその反
射光を受光することにより対象物との距離を検知する測
距センサに関し、特に投光部の光が直接受光部へ迷光と
なって入射することを防止する遮光壁に関するものであ
る。
射光を受光することにより対象物との距離を検知する測
距センサに関し、特に投光部の光が直接受光部へ迷光と
なって入射することを防止する遮光壁に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】対象物までの距離や対象物の変位を測定
することのできる測距センサは、発光素子の光を測距対
象物に投射する投光部及び該投射光が測距対象物により
反射された光を受光する受光部より成るセンサ本体と測
距対象物の間には何もない状態での測距を基本としてい
るが、一般に測距センサは測距センサを搭載する機器の
内部に設置されるため、機器の外観デザイン上、外部か
ら見えないように測距センサの前方に可視光をカットす
るフィルタを設置することが多い。図４はそのような従
来例の測距センサの構成を示す説明図である。図４にお
いてセンサ本体５０には投光部と受光部とがあり、投光
部は赤外線を発光する発光ダイオード（ＬＥＤ）などで
構成される発光素子５１とその前方に配設される投光レ
ンズ５２とより成る。一方、受光部は投射光が測距対象
物により反射された光を受光し位置検出データとして出
力する半導体位置検出素子（ＰＳＤ）５４とその前方に
配設される受光レンズ５３より成る。センサ本体５０の
前方にはフィルタ５７が設置されている。フィルタ５７
は赤外線透過樹脂等で構成されており、測距対象物５９
に投射される赤外線投射光６０及び赤外線反射光を６１
を透過させる。また、可視光を遮断してセンサ本体５０
を外部から見えなくして外観を美しくみせるとともにセ
ンサ本体５０を保護している。さらに、フィルタ５７は
投射光、反射光のフィルタ５７上での乱反射を防ぐため
にその両面が鏡面になっている。赤外線発光素子５１か
ら発した投射光６０は投光レンズ５２を通過し、フィル
タ５７を通過して、測距対象物５９で乱反射される。乱
反射された光の一部である反射光６１は再びフィルタ５
７を通過して受光レンズ５３に入射し、ＰＳＤ５４に到
達する。ＰＳＤ５４は反射光６１を受光スポット６３の
位置で検出し、位置検出データとして出力する。ＰＳＤ
５４で検出された位置検出データ受光信号を演算処理す
ることにより、測距対象物５９との距離を計測すること
ができる。
することのできる測距センサは、発光素子の光を測距対
象物に投射する投光部及び該投射光が測距対象物により
反射された光を受光する受光部より成るセンサ本体と測
距対象物の間には何もない状態での測距を基本としてい
るが、一般に測距センサは測距センサを搭載する機器の
内部に設置されるため、機器の外観デザイン上、外部か
ら見えないように測距センサの前方に可視光をカットす
るフィルタを設置することが多い。図４はそのような従
来例の測距センサの構成を示す説明図である。図４にお
いてセンサ本体５０には投光部と受光部とがあり、投光
部は赤外線を発光する発光ダイオード（ＬＥＤ）などで
構成される発光素子５１とその前方に配設される投光レ
ンズ５２とより成る。一方、受光部は投射光が測距対象
物により反射された光を受光し位置検出データとして出
力する半導体位置検出素子（ＰＳＤ）５４とその前方に
配設される受光レンズ５３より成る。センサ本体５０の
前方にはフィルタ５７が設置されている。フィルタ５７
は赤外線透過樹脂等で構成されており、測距対象物５９
に投射される赤外線投射光６０及び赤外線反射光を６１
を透過させる。また、可視光を遮断してセンサ本体５０
を外部から見えなくして外観を美しくみせるとともにセ
ンサ本体５０を保護している。さらに、フィルタ５７は
投射光、反射光のフィルタ５７上での乱反射を防ぐため
にその両面が鏡面になっている。赤外線発光素子５１か
ら発した投射光６０は投光レンズ５２を通過し、フィル
タ５７を通過して、測距対象物５９で乱反射される。乱
反射された光の一部である反射光６１は再びフィルタ５
７を通過して受光レンズ５３に入射し、ＰＳＤ５４に到
達する。ＰＳＤ５４は反射光６１を受光スポット６３の
位置で検出し、位置検出データとして出力する。ＰＳＤ
５４で検出された位置検出データ受光信号を演算処理す
ることにより、測距対象物５９との距離を計測すること
ができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来例のフィルタを備
えた測距センサにおいては、フィルタ表面で投光部の漏
れ光の反射が生じ測定対象物との距離が正確に測れない
場合があった。例えば、図４において投光部５５から投
射光６０の他に漏れ光６２が発生している。この漏れ光
６２がフィルタ５７の裏面で鏡面反射して受光部５６で
受光される。これはＰＳＤ５４上での反射光６１の到達
点である本来の受光スポット６３とは違う受光スポット
６４の位置で検出される。この結果、ＰＳＤ５４は本来
の受光スポット６３及び漏れ光による受光スポット６４
の位置検出データを識別することが出来ず、本来の対象
物５９との距離が正確に測れなくなる。
えた測距センサにおいては、フィルタ表面で投光部の漏
れ光の反射が生じ測定対象物との距離が正確に測れない
場合があった。例えば、図４において投光部５５から投
射光６０の他に漏れ光６２が発生している。この漏れ光
６２がフィルタ５７の裏面で鏡面反射して受光部５６で
受光される。これはＰＳＤ５４上での反射光６１の到達
点である本来の受光スポット６３とは違う受光スポット
６４の位置で検出される。この結果、ＰＳＤ５４は本来
の受光スポット６３及び漏れ光による受光スポット６４
の位置検出データを識別することが出来ず、本来の対象
物５９との距離が正確に測れなくなる。
【０００４】このため、フィルタの位置を近付けてフィ
ルタの反射光が受光部に入らないようにしたり、センサ
本体とフィルタの位置関係を変化させてもれ光の受光部
への侵入を防いでいた。
ルタの反射光が受光部に入らないようにしたり、センサ
本体とフィルタの位置関係を変化させてもれ光の受光部
への侵入を防いでいた。
【０００５】図５はフィルタ５７とセンサー本体５０と
の距離と出力頻度の度数との関係を示すグラフであり、
横軸はフィルタとセンサー本体との距離（単位：ｃｍ）
であり、縦軸は出力度数（単位：ＤＥＣ）を示してい
る。曲線Ａは測距対象物が無い場合（測距対象物が無限
遠にある場合）の測距センサの出力を示す曲線である。
フィルタとセンサー本体との距離が０から０．４ｃｍの
範囲は前記出力度数は１ＤＥＣであり、前記距離が０．
５ｃｍ、０．６ｃｍと大きくなるに従い、前記出力度数
は２５ＤＥＣ、１００ＤＥＣと増加し、前記距離が０．
７ｃｍ以上では前記出力度数は１３５〜１７５ＤＥＣの
高い値を示している。言い換えれば、測距対象物が無い
場合、距離の大小に係わらず、正しい出力度数は１ＤＥ
Ｃを示さなければならないが、フィルタとセンサ本体と
の距離が大きくなると漏れ光がフィルタ５７で反射して
受光部５６に侵入することにより出力度数が増大してい
ることを示している。この例によると測距センサの精度
をあげるにはセンサ本体５０をフィルタ５７から０．４
ｃｍ以内の距離に設置する必要があることとなり、設計
の自由度が大幅に制限されることになる。
の距離と出力頻度の度数との関係を示すグラフであり、
横軸はフィルタとセンサー本体との距離（単位：ｃｍ）
であり、縦軸は出力度数（単位：ＤＥＣ）を示してい
る。曲線Ａは測距対象物が無い場合（測距対象物が無限
遠にある場合）の測距センサの出力を示す曲線である。
フィルタとセンサー本体との距離が０から０．４ｃｍの
範囲は前記出力度数は１ＤＥＣであり、前記距離が０．
５ｃｍ、０．６ｃｍと大きくなるに従い、前記出力度数
は２５ＤＥＣ、１００ＤＥＣと増加し、前記距離が０．
７ｃｍ以上では前記出力度数は１３５〜１７５ＤＥＣの
高い値を示している。言い換えれば、測距対象物が無い
場合、距離の大小に係わらず、正しい出力度数は１ＤＥ
Ｃを示さなければならないが、フィルタとセンサ本体と
の距離が大きくなると漏れ光がフィルタ５７で反射して
受光部５６に侵入することにより出力度数が増大してい
ることを示している。この例によると測距センサの精度
をあげるにはセンサ本体５０をフィルタ５７から０．４
ｃｍ以内の距離に設置する必要があることとなり、設計
の自由度が大幅に制限されることになる。
【０００６】図６は従来の測距センサの別の構成例を示
す説明図である。図６においては、センサ本体５０をフ
ィルタ５７に対してを斜めに取付けている。このことに
より例えば、漏れ光６５、６６がフィルターで反射され
ても、受光部５６へ反射しないようにして受光部５６へ
の侵入を防いでいる。しかし、このような構成ではもれ
光が受光部へ侵入しないようにフィルタとセンサ本体と
の角度を特定の角度にしなければならず、設計の自由度
が制限される。
す説明図である。図６においては、センサ本体５０をフ
ィルタ５７に対してを斜めに取付けている。このことに
より例えば、漏れ光６５、６６がフィルターで反射され
ても、受光部５６へ反射しないようにして受光部５６へ
の侵入を防いでいる。しかし、このような構成ではもれ
光が受光部へ侵入しないようにフィルタとセンサ本体と
の角度を特定の角度にしなければならず、設計の自由度
が制限される。
【０００７】また、フィルタを曲面等で構成した場合に
はフィルタとセンサ本体との位置関係の設定は複雑化
し、単にフィルタとセンサ本体との距離や角度を調整す
るでけでは防ぎきれない場合も発生する。
はフィルタとセンサ本体との位置関係の設定は複雑化
し、単にフィルタとセンサ本体との距離や角度を調整す
るでけでは防ぎきれない場合も発生する。
【０００８】本発明はこのような問題点に鑑みなされた
ものであり、漏れ光がフィルタで反射して測距センサの
測距精度を損なう問題を解決することを目的としてい
る。
ものであり、漏れ光がフィルタで反射して測距センサの
測距精度を損なう問題を解決することを目的としてい
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項１記載の
測距センサは、発光素子の光を測距対象物に投射する投
光部及び該投射光が測距対象物により反射された光を受
光する受光部より成るセンサ本体と、該センサ本体の全
面に配設されたフィルタとを有し、且つ該投光部と該受
光部との間に遮光壁を設けたことを特徴とするものであ
る。
測距センサは、発光素子の光を測距対象物に投射する投
光部及び該投射光が測距対象物により反射された光を受
光する受光部より成るセンサ本体と、該センサ本体の全
面に配設されたフィルタとを有し、且つ該投光部と該受
光部との間に遮光壁を設けたことを特徴とするものであ
る。
【００１０】また、本発明の請求項２記載の測距センサ
は、投光部及び受光部の前方にフィルタを配設し且つ遮
光壁がセンサ本体の前面と該フィルタとの間を隙間なく
遮蔽していることを特徴とするものである。
は、投光部及び受光部の前方にフィルタを配設し且つ遮
光壁がセンサ本体の前面と該フィルタとの間を隙間なく
遮蔽していることを特徴とするものである。
【００１１】さらに、本発明の請求項３記載の測距セン
サは、遮光壁の高さをｘ、投光部と受光部との距離を２
ｗ、前記センサ本体の全面と前記フィルタとの距離を
ｄ、遮光壁の位置と投光部と受光部との中点の位置との
距離をａとする時、式ｄ＞ｘ＞ｄ（１−ａ／ｗ）の関係
を満足することを特徴とするものである。
サは、遮光壁の高さをｘ、投光部と受光部との距離を２
ｗ、前記センサ本体の全面と前記フィルタとの距離を
ｄ、遮光壁の位置と投光部と受光部との中点の位置との
距離をａとする時、式ｄ＞ｘ＞ｄ（１−ａ／ｗ）の関係
を満足することを特徴とするものである。
【００１２】［作用］本発明によれば、遮光壁を設置す
ることにより、測距センサの設置の自由度を阻害するこ
となく漏れ光がセンサ本体の前面に搭載されたフィルタ
で反射されて受光部で検知される誤動作を防止し、測距
センサを正確に動作させることができる。
ることにより、測距センサの設置の自由度を阻害するこ
となく漏れ光がセンサ本体の前面に搭載されたフィルタ
で反射されて受光部で検知される誤動作を防止し、測距
センサを正確に動作させることができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】図１乃至図３は本発明の一実施の
形態に関する図である。図１は本発明の一実施の形態で
ある測距センサの構成を示す図であり、図１（ａ）は測
距センサの構成を示す説明図であり、図１（ｂ）は図１
（ａ）の測距センサを側面から見た図である。
形態に関する図である。図１は本発明の一実施の形態で
ある測距センサの構成を示す図であり、図１（ａ）は測
距センサの構成を示す説明図であり、図１（ｂ）は図１
（ａ）の測距センサを側面から見た図である。
【００１４】図１（ａ）において、基板３２上に設置さ
れたセンサ本体１０には発光素子１１と投光レンズ１２
で構成された投光部１５と、受光レンズ１３と半導体位
置検出素子（ＰＳＤ）１４で構成される受光部１６とが
あり、ホルダー２４に固定されている。センサ本体１０
の前方には赤外線透過樹脂等で構成された可視光をカッ
トするフィルタ１８が設置されている。フィルタ１８の
設置により、センサ本体１０は外部から見えず、外観を
美しくすることができ、またセンサ本体１０に外部の埃
等が付着することを防止することができる。尚、センサ
本体が見えて良い場合にはフィルタは透明な材料であっ
てもよい。可視光を遮るフィルタ１０の両面は赤外線投
射光、及び赤外線反射光の乱反射を防ぐため表面が滑ら
かな鏡面状になっている。センサ本体１０の投光レンズ
１２と受光レンズ１３の間には可視光を遮光する樹脂で
形成された遮光壁１７が設置されている。この遮光壁１
７は、センサ本体１０の前面に配置されたフィルタ１８
との間を隙間なく遮蔽する構造となっている。また、ホ
ルダー２４と遮光壁１７を一体に形成することにより、
コストの低減を図っている。
れたセンサ本体１０には発光素子１１と投光レンズ１２
で構成された投光部１５と、受光レンズ１３と半導体位
置検出素子（ＰＳＤ）１４で構成される受光部１６とが
あり、ホルダー２４に固定されている。センサ本体１０
の前方には赤外線透過樹脂等で構成された可視光をカッ
トするフィルタ１８が設置されている。フィルタ１８の
設置により、センサ本体１０は外部から見えず、外観を
美しくすることができ、またセンサ本体１０に外部の埃
等が付着することを防止することができる。尚、センサ
本体が見えて良い場合にはフィルタは透明な材料であっ
てもよい。可視光を遮るフィルタ１０の両面は赤外線投
射光、及び赤外線反射光の乱反射を防ぐため表面が滑ら
かな鏡面状になっている。センサ本体１０の投光レンズ
１２と受光レンズ１３の間には可視光を遮光する樹脂で
形成された遮光壁１７が設置されている。この遮光壁１
７は、センサ本体１０の前面に配置されたフィルタ１８
との間を隙間なく遮蔽する構造となっている。また、ホ
ルダー２４と遮光壁１７を一体に形成することにより、
コストの低減を図っている。
【００１５】図１（ａ）の場合、投光部と受光部との距
離は２０〜３０ｍｍ程度、センサ本体とフィルタとの距
離は７〜１５ｍｍ程度であり、従来例の０．４ｍｍより
も大きい距離の値であるが、測距精度を低下させること
は無かった。
離は２０〜３０ｍｍ程度、センサ本体とフィルタとの距
離は７〜１５ｍｍ程度であり、従来例の０．４ｍｍより
も大きい距離の値であるが、測距精度を低下させること
は無かった。
【００１６】さらに、図１（ａ）において、遮光壁１７
は板状の形状の外に、ホルダーの前面にあって、漏れ光
を防ぐ形状をしていればよく、例えばホルダーの投光部
と受光部との間に凸形状の壁を配置したものでもよい。
このような構造の場合、センサ本体１０上の発光素子１
１からの光を測距対象物１９に投射する投射光２０は投
光レンズ１２、フィルタ１８を通過して測距対象物１９
に到達する。測距対象物１９で反射された反射光２１は
受光レンズ１３を通過してＰＳＤ１４上に到達する。Ｐ
ＳＤ１４は光２１を受光スポット２２の位置で検出す
る。ＰＳＤ１４の受光信号を処理することにより、測距
対象物１９とセンサ本体１０の距離を計測することがで
きる。一方、投光部１５からの漏れ光２３は遮光壁１７
で遮断されるため、受光部１６にその光が入射すること
は無く、測距対象物１９との距離を正確に計測すること
ができる。
は板状の形状の外に、ホルダーの前面にあって、漏れ光
を防ぐ形状をしていればよく、例えばホルダーの投光部
と受光部との間に凸形状の壁を配置したものでもよい。
このような構造の場合、センサ本体１０上の発光素子１
１からの光を測距対象物１９に投射する投射光２０は投
光レンズ１２、フィルタ１８を通過して測距対象物１９
に到達する。測距対象物１９で反射された反射光２１は
受光レンズ１３を通過してＰＳＤ１４上に到達する。Ｐ
ＳＤ１４は光２１を受光スポット２２の位置で検出す
る。ＰＳＤ１４の受光信号を処理することにより、測距
対象物１９とセンサ本体１０の距離を計測することがで
きる。一方、投光部１５からの漏れ光２３は遮光壁１７
で遮断されるため、受光部１６にその光が入射すること
は無く、測距対象物１９との距離を正確に計測すること
ができる。
【００１７】図１（ｂ）は図１（ａ）の測距センサを側
面から見た図であり、基板３２に固定されたセンサ本体
１０上の遮光壁１７はフィルタ１８を内側から押すよう
に固定されている。２４はホルダーである。また、枠部
２５は凹部２６を有しており、凹部２６はフィルタ１８
に形成された爪部２７と係合し、フィルタ１８を外側か
ら押さえている。このため、フィルタ１８は遮光壁１７
と枠部２５によって固定され、フィルタ１８の位置ずれ
による測距精度の低下を防ぐと共に、機器の外観を保つ
作用を果たしている また、図１（ｂ）において、枠部
２５とフィルタ１８とが一体的に構成されていてもよ
い。また、フィルタは測距センサが搭載されている機器
の表面部材等を利用して構成してもよい。
面から見た図であり、基板３２に固定されたセンサ本体
１０上の遮光壁１７はフィルタ１８を内側から押すよう
に固定されている。２４はホルダーである。また、枠部
２５は凹部２６を有しており、凹部２６はフィルタ１８
に形成された爪部２７と係合し、フィルタ１８を外側か
ら押さえている。このため、フィルタ１８は遮光壁１７
と枠部２５によって固定され、フィルタ１８の位置ずれ
による測距精度の低下を防ぐと共に、機器の外観を保つ
作用を果たしている また、図１（ｂ）において、枠部
２５とフィルタ１８とが一体的に構成されていてもよ
い。また、フィルタは測距センサが搭載されている機器
の表面部材等を利用して構成してもよい。
【００１８】図２は本発明の一実施の形態である別の測
距センサの構成を示す説明図である。図２において、セ
ンサ本体１０の前面には曲面形状をしたフィルタ２９が
設置され、投光部と受光部との間に位置する遮光壁３０
は前方のフィルタとセンサ本体の前面との間を隙間なく
遮蔽する構造となっている。フィルタ２９による漏れ光
の反射は複雑であり、例えば漏れ光２８ａ、漏れ光２８
ｂのように複数の経路から受光部１６に入射する可能性
がある。しかし、このような場合でも、センサ本体１０
とフィルタ２９との間の遮光壁３０により漏れ光が受光
部１６への侵入することを完全に防ぐことができる。
距センサの構成を示す説明図である。図２において、セ
ンサ本体１０の前面には曲面形状をしたフィルタ２９が
設置され、投光部と受光部との間に位置する遮光壁３０
は前方のフィルタとセンサ本体の前面との間を隙間なく
遮蔽する構造となっている。フィルタ２９による漏れ光
の反射は複雑であり、例えば漏れ光２８ａ、漏れ光２８
ｂのように複数の経路から受光部１６に入射する可能性
がある。しかし、このような場合でも、センサ本体１０
とフィルタ２９との間の遮光壁３０により漏れ光が受光
部１６への侵入することを完全に防ぐことができる。
【００１９】図３は本発明の一実施の形態である別の測
距センサの構成を示す説明図である。図３において、セ
ンサ本体１０の前面にフィルタ３３がセンサ本体１０と
ほぼ平行に設けられ、センサ本体１０の投光部１５と該
受光部１６との間にほぼ垂直な遮光壁３１が設けられて
いる。遮光壁の高さをｘ、投光部と受光部との距離を２
ｗ、前記センサ本体の全面と前記フィルタとの距離を
ｄ、遮光壁の位置と投光部と受光部との中点の位置との
距離をａとする時、式（１）の関係を満足する値に遮光
壁の高さｘは選ばれている。この条件により、漏れ光が
受光部１６に入射して検出されることによる誤動作は無
くなる。
距センサの構成を示す説明図である。図３において、セ
ンサ本体１０の前面にフィルタ３３がセンサ本体１０と
ほぼ平行に設けられ、センサ本体１０の投光部１５と該
受光部１６との間にほぼ垂直な遮光壁３１が設けられて
いる。遮光壁の高さをｘ、投光部と受光部との距離を２
ｗ、前記センサ本体の全面と前記フィルタとの距離を
ｄ、遮光壁の位置と投光部と受光部との中点の位置との
距離をａとする時、式（１）の関係を満足する値に遮光
壁の高さｘは選ばれている。この条件により、漏れ光が
受光部１６に入射して検出されることによる誤動作は無
くなる。
【００２０】 ｄ＞ｘ＞ｄ（１−ａ／ｗ） （１） この図３の場合、投光部と受光部との距離２ｗを２０〜
３０ｍｍ程度、センサ本体の全面と前記フィルタとの距
離ｄは３０〜７０ｍｍ程度、遮光壁の位置と投光部と受
光部との中点の位置との距離ａは２〜１０ｍｍ程度であ
り、遮光壁の高さをｘとする時、 ｄ＞ｘ＞ｄ（１−ａ／ｗ） ＝（３０〜７０）×（１−（２〜１０）／（２０〜３０）） ＝（３０〜７０）×（１−（０．９３〜０．５）） ＝（３０〜７０）×（０．０７〜０．５）） ＝２．２〜３５ｍｍ となる。
３０ｍｍ程度、センサ本体の全面と前記フィルタとの距
離ｄは３０〜７０ｍｍ程度、遮光壁の位置と投光部と受
光部との中点の位置との距離ａは２〜１０ｍｍ程度であ
り、遮光壁の高さをｘとする時、 ｄ＞ｘ＞ｄ（１−ａ／ｗ） ＝（３０〜７０）×（１−（２〜１０）／（２０〜３０）） ＝（３０〜７０）×（１−（０．９３〜０．５）） ＝（３０〜７０）×（０．０７〜０．５）） ＝２．２〜３５ｍｍ となる。
【００２１】また、図１及び図３では、フィルタとセン
サ本体との関係をほぼ平行として説明したが、必要に応
じてある程度の傾斜角度に与えてもよいことは当然であ
る。
サ本体との関係をほぼ平行として説明したが、必要に応
じてある程度の傾斜角度に与えてもよいことは当然であ
る。
【００２２】
【発明の効果】本発明の請求項１記載の測距センサによ
れば、発光素子の光を測距対象物に投射する投光部及び
該投射光が測距対象物により反射された光を受光する受
光部より成るセンサ本体と、該センサ本体の全面に配設
されたフィルタとを有し、且つ該投光部と該受光部との
間に遮光壁を設けたことを特徴とするものであり、フィ
ルタとセンサの位置に関係なく、漏れ光が受光部で検知
されること防止できるため、測距センサの測距性能を向
上させることができる。
れば、発光素子の光を測距対象物に投射する投光部及び
該投射光が測距対象物により反射された光を受光する受
光部より成るセンサ本体と、該センサ本体の全面に配設
されたフィルタとを有し、且つ該投光部と該受光部との
間に遮光壁を設けたことを特徴とするものであり、フィ
ルタとセンサの位置に関係なく、漏れ光が受光部で検知
されること防止できるため、測距センサの測距性能を向
上させることができる。
【００２３】また、本発明の請求項２記載の測距センサ
は、投光部及び受光部の前方にフィルタを配設し且つ遮
光壁がセンサ本体の前面と該フィルタとの間を隙間なく
遮蔽していることを特徴とするものであり、フィルタと
センサの位置に関係なく、漏れ光が受光部で検知される
こと防止できる。また、フィルタが曲面で構成されてい
る場合であっても漏れ光が受光部で検知されること防止
できるので測距センサの測距性能を向上させることがで
きる。
は、投光部及び受光部の前方にフィルタを配設し且つ遮
光壁がセンサ本体の前面と該フィルタとの間を隙間なく
遮蔽していることを特徴とするものであり、フィルタと
センサの位置に関係なく、漏れ光が受光部で検知される
こと防止できる。また、フィルタが曲面で構成されてい
る場合であっても漏れ光が受光部で検知されること防止
できるので測距センサの測距性能を向上させることがで
きる。
【００２４】さらに、本発明の請求項３記載の測距セン
サは、遮光壁の高さをｘ、投光部と受光部との距離を２
ｗ、前記センサ本体の全面と前記フィルタとの距離を
ｄ、遮光壁の位置と投光部と受光部との中点の位置との
距離をａとする時、式ｘ＞ｄ（１−ａ／ｗ）の関係を満
足することを特徴とするものであり、漏れ光が受光部で
検知されることを防止し、遮光壁を小形化することがで
きと共に、設計の自由度を大きくすることができる。
サは、遮光壁の高さをｘ、投光部と受光部との距離を２
ｗ、前記センサ本体の全面と前記フィルタとの距離を
ｄ、遮光壁の位置と投光部と受光部との中点の位置との
距離をａとする時、式ｘ＞ｄ（１−ａ／ｗ）の関係を満
足することを特徴とするものであり、漏れ光が受光部で
検知されることを防止し、遮光壁を小形化することがで
きと共に、設計の自由度を大きくすることができる。
【図１】本発明の一実施の形態である測距センサの構成
を示す図である。（ａ）は測距センサの構成を示す説明
図であり、（ｂ）は（ａ）の測距センサを側面から見た
図である。
を示す図である。（ａ）は測距センサの構成を示す説明
図であり、（ｂ）は（ａ）の測距センサを側面から見た
図である。
【図２】本発明の一実施の形態である別の測距センサの
構成を示す説明図である。
構成を示す説明図である。
【図３】本発明の一実施の形態である別の測距センサの
構成を示す説明図である。
構成を示す説明図である。
【図４】従来例の測距センサの構成を示す説明図であ
る。
る。
【図５】フィルタとセンサーとの距離と出力頻度の度数
との関係を示すグラフである。
との関係を示すグラフである。
【図６】従来例の測距センサの別の構成例を示す説明図
である。
である。
１０ センサ本体 １１ 発光素子 １２ 投光レンズ １３ 受光レンズ １４ 半導体位置検出素子（ＰＳＤ） １５ 投光部 １６ 受光部 １７ 遮光壁 １８ フィルタ １９ 測距対象物 ２０ 投射光 ２１ 反射光 ２２ 受光スポット ２３ 漏れ光 ２４ ホルダー ２５ 枠部 ２６ 凹部 ２７ 爪部 ２８ａ 漏れ光 ２８ｂ 漏れ光 ２９ 曲面形状をしたフィルタ ３０ 遮光壁 ３１ 遮光壁 ３２ 基板 ａ 遮光壁の位置と投光部と受光部との中点の位置との
距離 ｄ 前記センサ本体の全面と前記フィルタとの距離 ｘ 遮光壁の高さ ２ｗ 投光部と受光部との距離
距離 ｄ 前記センサ本体の全面と前記フィルタとの距離 ｘ 遮光壁の高さ ２ｗ 投光部と受光部との距離
Claims (3)
- 【請求項１】発光素子の光を測距対象物に投射する投光
部及び該投射光が測距対象物により反射された光を受光
する受光部より成るセンサ本体と、該センサ本体の全面
に配設されたフィルタとを有し、且つ該投光部と該受光
部との間に遮光壁を設けたことを特徴とする測距セン
サ。 - 【請求項２】請求項１記載の測距センサにおいて、投光
部及び受光部の前方にフィルタを配設し且つ遮光壁がセ
ンサ本体の前面と該フィルタとの間を隙間なく遮蔽して
いることを特徴とする測距センサ。 - 【請求項３】請求項１記載の測距センサにおいて、遮光
壁の高さをｘ、投光部と受光部との距離を２ｗ、前記セ
ンサ本体の全面と前記フィルタとの距離をｄ、遮光壁の
位置と投光部と受光部との中点の位置との距離をａとす
る時、式ｄ＞ｘ＞ｄ（１−ａ／ｗ）の関係を満足するこ
とを特徴とする測距センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28773696A JPH10132559A (ja) | 1996-10-30 | 1996-10-30 | 測距センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28773696A JPH10132559A (ja) | 1996-10-30 | 1996-10-30 | 測距センサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10132559A true JPH10132559A (ja) | 1998-05-22 |
Family
ID=17721099
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28773696A Pending JPH10132559A (ja) | 1996-10-30 | 1996-10-30 | 測距センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10132559A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004117161A (ja) * | 2002-09-26 | 2004-04-15 | Sharp Corp | 光学式変位センサ |
| JP2012018060A (ja) * | 2010-07-07 | 2012-01-26 | East Japan Railway Co | 車輪形状測定装置 |
| JP2016061590A (ja) * | 2014-09-16 | 2016-04-25 | 株式会社リコー | 撮像装置、媒体種別判定装置および画像形成装置 |
| JP2020143890A (ja) * | 2019-03-05 | 2020-09-10 | 大阪瓦斯株式会社 | コンロ |
-
1996
- 1996-10-30 JP JP28773696A patent/JPH10132559A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004117161A (ja) * | 2002-09-26 | 2004-04-15 | Sharp Corp | 光学式変位センサ |
| US7193731B2 (en) | 2002-09-26 | 2007-03-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical displacement sensor |
| JP2012018060A (ja) * | 2010-07-07 | 2012-01-26 | East Japan Railway Co | 車輪形状測定装置 |
| JP2016061590A (ja) * | 2014-09-16 | 2016-04-25 | 株式会社リコー | 撮像装置、媒体種別判定装置および画像形成装置 |
| JP2020143890A (ja) * | 2019-03-05 | 2020-09-10 | 大阪瓦斯株式会社 | コンロ |
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