JPH10122829A - 半田フィレットの外観検査装置 - Google Patents
半田フィレットの外観検査装置Info
- Publication number
- JPH10122829A JPH10122829A JP28360396A JP28360396A JPH10122829A JP H10122829 A JPH10122829 A JP H10122829A JP 28360396 A JP28360396 A JP 28360396A JP 28360396 A JP28360396 A JP 28360396A JP H10122829 A JPH10122829 A JP H10122829A
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- camera
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電子部品が高密度実装される基板において、
光の２次反射による外観検査の誤判定を解消できる半田
フィレットの外観検査装置を提供すること。 【解決手段】 基板１１の上方にカメラ１６とリング状
の光源１７を設け、それぞれの直下に第１の偏光板１８
と第２の偏光板１９を設ける。検査対象である第１の電
子部品１２の半田フィレット１４をカメラ１６で観察す
る場合、光源１７から照射されて検査対象外の第２の電
子部品１３の半田フィレット１５で側方へ反射された光
Ｌ４は、検査対象の半田フィレット１４で上方へ２次反
射されてカメラ１６へ向かうが、この光Ｌ４は２つの半
田フィレット１４，１５で２回反射されることによりそ
の偏光角は９０°回転するので、第２の偏光板１９で完
全に遮光され、カメラ１６に入射しない。したがって検
査対象の半田フィレット１４を暗く観察して半田付け状
態の良否判定を的確に行うことができる。
光の２次反射による外観検査の誤判定を解消できる半田
フィレットの外観検査装置を提供すること。 【解決手段】 基板１１の上方にカメラ１６とリング状
の光源１７を設け、それぞれの直下に第１の偏光板１８
と第２の偏光板１９を設ける。検査対象である第１の電
子部品１２の半田フィレット１４をカメラ１６で観察す
る場合、光源１７から照射されて検査対象外の第２の電
子部品１３の半田フィレット１５で側方へ反射された光
Ｌ４は、検査対象の半田フィレット１４で上方へ２次反
射されてカメラ１６へ向かうが、この光Ｌ４は２つの半
田フィレット１４，１５で２回反射されることによりそ
の偏光角は９０°回転するので、第２の偏光板１９で完
全に遮光され、カメラ１６に入射しない。したがって検
査対象の半田フィレット１４を暗く観察して半田付け状
態の良否判定を的確に行うことができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品を基板に
半田付けした半田フィレットの外観検査装置に関するも
のである。
半田付けした半田フィレットの外観検査装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】電子部品を基板に半田付けした後、半田
付け状態の外観検査が行われる。半田付け状態の外観検
査は、一般に、半田フィレットを上方のカメラで観察す
ることにより行われる。以下、従来の半田フィレットの
外観検査方法について説明する。
付け状態の外観検査が行われる。半田付け状態の外観検
査は、一般に、半田フィレットを上方のカメラで観察す
ることにより行われる。以下、従来の半田フィレットの
外観検査方法について説明する。
【０００３】図５は、従来の半田フィレットの外観検査
方法の説明図、図６および図７は同半田フィレットの外
観検査における半田フィレットの明暗画像図である。図
５において、基板１の上面には電子部品２が半田付けさ
れている。３は半田フィレットである。基板１の上方に
設けられたリング状の光源４から基板１へ向かって光を
照射し、半田フィレット３をカメラ５で観察する。半田
フィレット３の上面は緩やかな下り勾配のテーパ状鏡面
であり、矢印Ｌ１で示すように半田フィレット３に照射
された光は側方へ反射し、カメラ５には入射しない。し
たがって半田フィレット３は、図６に示すようにカメラ
５に暗く観察される。
方法の説明図、図６および図７は同半田フィレットの外
観検査における半田フィレットの明暗画像図である。図
５において、基板１の上面には電子部品２が半田付けさ
れている。３は半田フィレットである。基板１の上方に
設けられたリング状の光源４から基板１へ向かって光を
照射し、半田フィレット３をカメラ５で観察する。半田
フィレット３の上面は緩やかな下り勾配のテーパ状鏡面
であり、矢印Ｌ１で示すように半田フィレット３に照射
された光は側方へ反射し、カメラ５には入射しない。し
たがって半田フィレット３は、図６に示すようにカメラ
５に暗く観察される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、基板１には
電子部品が高密度実装される場合が多く、この場合、相
隣る電子部品は互いに近接した位置に半田付けされる。
図５において、６は電子部品２に近接した位置に半田付
けされた他の電子部品、７はその半田フィレットであ
る。このように、電子部品２の近くに他の電子部品６が
ある場合、破線矢印で示すように光源４から照射された
光Ｌ２は半田フィレット７で側方へ反射され、電子部品
２の半田フィレット３で２次反射されてカメラ５に入射
する。したがってこの場合、半田フィレット３の画像は
図７に示すように全体が暗くならず、光Ｌ２が２次反射
された部分３ａはスポット的に明るく観察される。この
ため、半田フィレット３の外観検査を正しく行うことは
できず、半田フィレット３の形状の良否を誤判定しやす
いという問題点があった。
電子部品が高密度実装される場合が多く、この場合、相
隣る電子部品は互いに近接した位置に半田付けされる。
図５において、６は電子部品２に近接した位置に半田付
けされた他の電子部品、７はその半田フィレットであ
る。このように、電子部品２の近くに他の電子部品６が
ある場合、破線矢印で示すように光源４から照射された
光Ｌ２は半田フィレット７で側方へ反射され、電子部品
２の半田フィレット３で２次反射されてカメラ５に入射
する。したがってこの場合、半田フィレット３の画像は
図７に示すように全体が暗くならず、光Ｌ２が２次反射
された部分３ａはスポット的に明るく観察される。この
ため、半田フィレット３の外観検査を正しく行うことは
できず、半田フィレット３の形状の良否を誤判定しやす
いという問題点があった。
【０００５】したがって本発明は、電子部品が高密度実
装される基板において、光の２次反射による外観検査の
誤判定を解消できる半田フィレットの外観検査装置を提
供することを目的とする。
装される基板において、光の２次反射による外観検査の
誤判定を解消できる半田フィレットの外観検査装置を提
供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の半田フィレット
の外観検査装置は、電子部品を基板に半田付した半田フ
ィレットを上方から観察するカメラと、半田フィレット
に対して光を照射する光源と、光源から半田フィレット
へ向かう光路に設けられた第１の偏光板と、半田フィレ
ットからカメラへ向かう光路に設けられた第２の偏光板
とを備え、検査対象外の半田フィレットにより側方へ反
射された後、検査対象の半田フィレットにより上方へ２
次反射された光を、その偏光角を回転させることにより
前記第２の偏光板を透過させないようにしたものであ
る。
の外観検査装置は、電子部品を基板に半田付した半田フ
ィレットを上方から観察するカメラと、半田フィレット
に対して光を照射する光源と、光源から半田フィレット
へ向かう光路に設けられた第１の偏光板と、半田フィレ
ットからカメラへ向かう光路に設けられた第２の偏光板
とを備え、検査対象外の半田フィレットにより側方へ反
射された後、検査対象の半田フィレットにより上方へ２
次反射された光を、その偏光角を回転させることにより
前記第２の偏光板を透過させないようにしたものであ
る。
【０００７】
【発明の実施の形態】上記構成の本発明は、検査対象の
電子部品の近くにある検査対象外の電子部品の半田フィ
レットで側方へ反射され、さらに検査対象の電子部品の
半田フィレットで上方へ２次反射された光は２つの半田
フィレットで反射されることによりその偏光角は回転す
るので、この光は第２の偏光板を透過できずに完全に遮
光されてカメラには入射しない。したがって２次反射に
よる誤判定を解消できる。
電子部品の近くにある検査対象外の電子部品の半田フィ
レットで側方へ反射され、さらに検査対象の電子部品の
半田フィレットで上方へ２次反射された光は２つの半田
フィレットで反射されることによりその偏光角は回転す
るので、この光は第２の偏光板を透過できずに完全に遮
光されてカメラには入射しない。したがって２次反射に
よる誤判定を解消できる。
【０００８】（実施の形態１）図１は、本発明の実施の
形態１の半田フィレットの外観検査装置の正面図、図２
は同半田フィレットの外観検査装置のカメラで観察され
る半田フィレットの明暗画像図、図３は同第１の偏光板
と第２の偏光板の原理説明図である。
形態１の半田フィレットの外観検査装置の正面図、図２
は同半田フィレットの外観検査装置のカメラで観察され
る半田フィレットの明暗画像図、図３は同第１の偏光板
と第２の偏光板の原理説明図である。
【０００９】図１において、基板１１の上面には第１の
電子部品１２と第２の電子部品１３がそれぞれ半田付け
されている。１４，１５はそれぞれの半田フィレットで
あり、その上面は緩やかな下り勾配のテーパ状鏡面にな
っている。
電子部品１２と第２の電子部品１３がそれぞれ半田付け
されている。１４，１５はそれぞれの半田フィレットで
あり、その上面は緩やかな下り勾配のテーパ状鏡面にな
っている。
【００１０】基板１１の上方には外観検査用のカメラ１
６とリング状の光源１７が設けられている。光源１７の
直下には第１の偏光板１８が設けられており、またカメ
ラ１６の直下には第２の偏光板１９が設けられている。
この２つの偏光板１７，１８の偏光角（光を偏光する向
き）は同一方向に設定しており、基板のＸＹ座標軸に対
して４５°に向けられている。
６とリング状の光源１７が設けられている。光源１７の
直下には第１の偏光板１８が設けられており、またカメ
ラ１６の直下には第２の偏光板１９が設けられている。
この２つの偏光板１７，１８の偏光角（光を偏光する向
き）は同一方向に設定しており、基板のＸＹ座標軸に対
して４５°に向けられている。
【００１１】次に半田フィレットの外観検査方法を説明
する。図１において、第１の電子部品１２が検査対象と
する。光源１７から半田フィレット１４へ向かって照射
された光Ｌ３は、半田フィレット１４で側方へ反射され
るので、その反射光はカメラ１６に入射しない。また光
源１７から検査対象外の第２の電子部品１３の半田フィ
レット１５へ向かって照射された光Ｌ４は、半田フィレ
ット１５で側方へ反射され、さらに半田フィレット１４
で上方へ２次反射されてカメラ１６へ向かう。しかしな
がらこの光Ｌ４の光路には２枚の偏光板１８，１９が設
けられているので、半田フィレット１４で２次反射され
た反射光は第２の偏光板１９で完全に遮光され、カメラ
１６には入射しない。したがって半田フィレット１４は
図２に示すように全体が暗く観察される。
する。図１において、第１の電子部品１２が検査対象と
する。光源１７から半田フィレット１４へ向かって照射
された光Ｌ３は、半田フィレット１４で側方へ反射され
るので、その反射光はカメラ１６に入射しない。また光
源１７から検査対象外の第２の電子部品１３の半田フィ
レット１５へ向かって照射された光Ｌ４は、半田フィレ
ット１５で側方へ反射され、さらに半田フィレット１４
で上方へ２次反射されてカメラ１６へ向かう。しかしな
がらこの光Ｌ４の光路には２枚の偏光板１８，１９が設
けられているので、半田フィレット１４で２次反射され
た反射光は第２の偏光板１９で完全に遮光され、カメラ
１６には入射しない。したがって半田フィレット１４は
図２に示すように全体が暗く観察される。
【００１２】図３は、この原理を模型化して判りやすく
説明するものである。図３では、半田フィレット１４，
１５はフラットな傾斜面に模型化して描いている。光源
１７から照射された光Ｌ４は、偏光角４５°の第１の偏
光板１８を透過する。この光Ｌ４は半田フィレット１５
で側方へ反射され、次いで半田フィレット１４で上方へ
２次反射され、第２の偏光板１９へ入射するが、この光
Ｌ４は２つの半田フィレット１４，１５の傾斜面で２回
反射されることにより、その偏光角は９０°回転し、偏
光角１３５°で第２の偏光板１９に入射する。しかし第
２偏光板１９は第１偏光板と同じ偏光角４５°なので光
Ｌ４は第２偏光板を透過しない。このように光Ｌ４の偏
光角が９０°回転することにより、光Ｌ４は第２の偏光
板１９を透過せず、したがってカメラ１６に入射せず、
図２に示すように半田フィレット１４は完全に暗く観察
されるものである。勿論、上記回転角度は厳密に９０°
ではないが、第２の偏光板１９を透過しない程度には回
転する。
説明するものである。図３では、半田フィレット１４，
１５はフラットな傾斜面に模型化して描いている。光源
１７から照射された光Ｌ４は、偏光角４５°の第１の偏
光板１８を透過する。この光Ｌ４は半田フィレット１５
で側方へ反射され、次いで半田フィレット１４で上方へ
２次反射され、第２の偏光板１９へ入射するが、この光
Ｌ４は２つの半田フィレット１４，１５の傾斜面で２回
反射されることにより、その偏光角は９０°回転し、偏
光角１３５°で第２の偏光板１９に入射する。しかし第
２偏光板１９は第１偏光板と同じ偏光角４５°なので光
Ｌ４は第２偏光板を透過しない。このように光Ｌ４の偏
光角が９０°回転することにより、光Ｌ４は第２の偏光
板１９を透過せず、したがってカメラ１６に入射せず、
図２に示すように半田フィレット１４は完全に暗く観察
されるものである。勿論、上記回転角度は厳密に９０°
ではないが、第２の偏光板１９を透過しない程度には回
転する。
【００１３】以上のようにこの半田フィレットの外観検
査装置によれば、検査対象の電子部品（第１の電子部品
１２）の近くにある他の電子部品（第２の電子部品１
３）の半田フィレット１５で側方へ反射され、さらに検
査対象の半田フィレット１４で上方へ２次反射された光
がカメラ１６に入射するのを完全に遮光できるので、図
７に示す従来方法のように半田フィレット１４が部分的
に明るく観察されることはなく、図２に示すように半田
フィレット１４は全体が暗く観察されるので、半田付け
状態の外観検査を的確に行い、誤判定を解消することが
できる。
査装置によれば、検査対象の電子部品（第１の電子部品
１２）の近くにある他の電子部品（第２の電子部品１
３）の半田フィレット１５で側方へ反射され、さらに検
査対象の半田フィレット１４で上方へ２次反射された光
がカメラ１６に入射するのを完全に遮光できるので、図
７に示す従来方法のように半田フィレット１４が部分的
に明るく観察されることはなく、図２に示すように半田
フィレット１４は全体が暗く観察されるので、半田付け
状態の外観検査を的確に行い、誤判定を解消することが
できる。
【００１４】（実施の形態２）図４は、本発明の実施の
形態２の半田フィレットの外観検査装置の正面図であ
る。この実施の形態２では、リング状の光源１７の直下
に１板の偏光板２０が設けられており、光源１７の直下
が第１偏光部２０ａであり、カメラ１６の直下が第２偏
光部２０ｂとなっている。
形態２の半田フィレットの外観検査装置の正面図であ
る。この実施の形態２では、リング状の光源１７の直下
に１板の偏光板２０が設けられており、光源１７の直下
が第１偏光部２０ａであり、カメラ１６の直下が第２偏
光部２０ｂとなっている。
【００１５】したがって検査対象外の第２の電子部品１
３の半田フィレット１５で側方へ反射されて、検査対象
の第１の電子部品１２の半田フィレット１４で２次反射
された光Ｌ５は、実施の形態１と同じ原理により第１偏
光部２０ａと第２偏光部２０ｂで完全に遮断され、カメ
ラ１６には入射しない。したがって図２に示す明暗画像
が入手され、実施の形態１と同様の作用効果が得られ
る。
３の半田フィレット１５で側方へ反射されて、検査対象
の第１の電子部品１２の半田フィレット１４で２次反射
された光Ｌ５は、実施の形態１と同じ原理により第１偏
光部２０ａと第２偏光部２０ｂで完全に遮断され、カメ
ラ１６には入射しない。したがって図２に示す明暗画像
が入手され、実施の形態１と同様の作用効果が得られ
る。
【００１６】
【発明の効果】本発明によれば、検査対象外の電子部品
の半田フィレットで側方へ反射された光が検査対象の電
子部品の半田フィレットで２次反射されてカメラに入射
するのを完全に遮光できるので、２次反射光による半田
フィレットの外観検査の誤判定を解消し、外観検査を的
確に行うことができる。
の半田フィレットで側方へ反射された光が検査対象の電
子部品の半田フィレットで２次反射されてカメラに入射
するのを完全に遮光できるので、２次反射光による半田
フィレットの外観検査の誤判定を解消し、外観検査を的
確に行うことができる。
【図１】本発明の実施の形態１の半田フィレットの外観
検査装置の正面図
検査装置の正面図
【図２】本発明の実施の形態１の半田フィレットの外観
検査装置のカメラで観察される半田フィレットの明暗画
像図
検査装置のカメラで観察される半田フィレットの明暗画
像図
【図３】本発明の実施の形態１の第１の偏光板と第２の
偏光板の原理説明図
偏光板の原理説明図
【図４】本発明の実施の形態２の半田フィレットの外観
検査装置の正面図
検査装置の正面図
【図５】従来の半田フィレットの外観検査方法の説明図
【図６】従来の半田フィレットの外観検査における半田
フィレットの明暗画像図
フィレットの明暗画像図
【図７】従来の半田フィレットの外観検査における半田
フィレットの明暗画像図
フィレットの明暗画像図
１１ 基板 １２ 第１の電子部品 １３ 第２の電子部品 １４，１５ 半田フィレット １６ カメラ １７ 光源 １８ 第１の偏光板 １９ 第２の偏光板 ２０ 偏光板 ２０ａ 第１偏光部 ２０ｂ 第２偏光部
Claims (1)
- 【請求項１】電子部品を基板に半田付した半田フィレッ
トを上方から観察するカメラと、半田フィレットに対し
て光を照射する光源と、光源から半田フィレットへ向か
う光路に設けられた第１の偏光板と、半田フィレットか
らカメラへ向かう光路に設けられ、かつ前記第１の偏光
板の偏光角と同じ偏光角を有する第２の偏光板とを備
え、検査対象外の半田フィレットにより側方へ反射され
た後、検査対象の半田フィレットにより上方へ２次反射
された光を、その偏光角を回転させることにより前記第
２の偏光板を透過させないようにしたことを特徴とする
半田フィレットの外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28360396A JPH10122829A (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 半田フィレットの外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28360396A JPH10122829A (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 半田フィレットの外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10122829A true JPH10122829A (ja) | 1998-05-15 |
Family
ID=17667650
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28360396A Pending JPH10122829A (ja) | 1996-10-25 | 1996-10-25 | 半田フィレットの外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10122829A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012073414A1 (ja) * | 2010-11-30 | 2012-06-07 | パナソニック株式会社 | 画像処理装置 |
-
1996
- 1996-10-25 JP JP28360396A patent/JPH10122829A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012073414A1 (ja) * | 2010-11-30 | 2012-06-07 | パナソニック株式会社 | 画像処理装置 |
| CN103037751A (zh) * | 2010-11-30 | 2013-04-10 | 松下电器产业株式会社 | 图像处理装置 |
| JP5238098B2 (ja) * | 2010-11-30 | 2013-07-17 | パナソニック株式会社 | 画像処理装置および画像処理装置の作動方法 |
| US8648907B2 (en) | 2010-11-30 | 2014-02-11 | Panasonic Corporation | Image processing apparatus |
| JPWO2012073414A1 (ja) * | 2010-11-30 | 2014-05-19 | パナソニック株式会社 | 画像処理装置および画像処理装置の作動方法 |
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