JPH0989937A - 光ファイバ型センサおよび偏光子ユニット - Google Patents
光ファイバ型センサおよび偏光子ユニットInfo
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Abstract
を検光子の軸に対して所望の角度に調節することが簡単
にかつ正確にでき、構造も簡単にすることができるよう
にする。 【解決手段】 偏光子ユニット10は、全体がステンレ
ス製の円筒形パイプ11で覆われており、内部には、薄
膜型の偏光子12と、光コネクタフェルール13,14
とが一体に設けられている。これらは、偏光子12を光
コネクタフェルール13および14で挟み、接着剤を使
用して光学的および物理的に結合させ、スリーブ15で
包むことにより構成されている。また、光コネクタフェ
ルール13には入力用ファイバ16が、一方、光コネク
タフェルール14にはセンシング用ファイバ17が結合
されている。
Description
る直線偏光のファラデー回転効果を利用する光ファイバ
型センサおよび偏光子ユニットに関し、特に電流あるい
は磁場の計測を行うための光ファイバ型センサおよび偏
光子ユニットに関する。
デー回転効果を利用する光ファイバ型センサは、センシ
ング用ファイバに入射した直線偏光の方位が電流の作る
磁場によって回転する原理を利用するものである。
本原理を示す図である。光ファイバ型センサでは、光源
61からの検査光を偏光子62によって直線偏光に変換
し、センシング用ファイバ63に導入する。このとき偏
光子62は、光源61の強度等の変動を相殺するため、
検査光の偏波面方位が、センサの置かれた座標系の垂直
方向の座標軸に対して45°傾くように設けられてい
る。
査光は、導体64に流れる電流Iによってファラデー回
転を受け、検光子65に入射する。検光子65は、導体
64に電流が流れていないときには、検査光の偏波面方
位がセンシング用ファイバ63への導入時と同じく検光
子の軸に対して45°傾いた状態で入射されるように設
けられている。この検光子65は、検査光を2つの偏波
成分に分離し、それぞれ受光素子66,67に送る。受
光素子66,67は、例えばフォトダイオードであり、
送られた光を電気信号に変換する。電気信号は、さらに
公知の信号演算処理回路によってファラデー回転角度値
に変換される。ファラデー回転角度値は、導体64を流
れる電流に比例するので、このファラデー回転角度値を
知ることにより、目的とする電流値が求められる。
は、各部品が図6のような空間的な配置ではなく、偏光
子62、センシング用ファイバ63、検光子65等を一
体にしたモジュールを使用している。
型センサの構成を示す平面図である。この光ファイバ型
センサ70では、偏光子72と検光子ユニット75とが
基台上に一体に設けられている。偏光子72は、入力用
ファイバ71とセンシング用ファイバ73との間に固定
されている。入力用ファイバ71の端部からは、レーザ
光である検査光L11が入射し、偏光子72で直線偏光
に変換されてセンシング用ファイバ73に導入される。
ただし、ここでは、検査光L11は、図6のように偏波
面が45°傾けられることはない。
複数回巻かれており、その中心に導体74が挿入されて
いる。検査光L11は、センシング用ファイバ73を伝
搬する過程で、導体74を流れる電流が起こす磁界によ
ってファラデー回転を受け、検光子ユニット75に入力
される。
複屈折結晶体752、光路シフトプリズム753を有
し、これらがハウジング内に一体に設けられている。半
波長板751は、その光軸回りの角度を換えることによ
って、複屈折結晶体752に入射する検査光L11の偏
波面角度を換えることができる。半波長板751は、導
体74に電流が流れていないときに、検査光L11の偏
波面が検光子の軸に対して45°傾くように設置されて
いる。
ではなく、この半波長板751で行う理由は、センシン
グ用ファイバ73の捻じれや変形によって、それを伝搬
する検査光L11の偏波面方位も微妙に変化する恐れが
あるからである。センシング用ファイバ73を通過した
後で検査光L11の偏波面方位を調節することにより、
正確な検査が行える。
1は、複屈折結晶体752によって直交する2成分が分
離され、一方は直進して受光用ファイバ76を介して信
号Tとして出力され、他方は光路シフトプリズム753
で光路調節されて受光用ファイバ77に送られてこの受
光用ファイバ77を介して信号Rとして出力される。
い受光素子によって電気信号に変換され、これにより、
図6で説明したように導体74を流れる電流値が検出さ
れる。
波長板751を使用した検光子ユニット75は、以下の
ような問題点があった。 (1)半波長板751の面が光軸と垂直の関係にない場
合には、半波長板751を光軸回りに回転させたとき
に、光路がズレてしまい、半波長板751の前後の光フ
ァイバの結合効率が変動し、測定値に誤差が生じてしま
う。 (2)半波長板751は、水晶等の結晶によりなるの
で、その温度特性によって位相差に変動があり、出射光
がわずかに楕円化する。このため、温度の変化する環境
での高精度測定は期待できない。 (3)半波長板751は、薄板なため取り付けが難し
く、その角度の調節も難しい。
のであり、半波長板を使用しなくても検査光の基準方位
を検光子の軸に対して所望の角度に調節することが簡単
にかつ正確にでき、構造も簡単にすることのできる光フ
ァイバ型センサを提供することを目的とする。
決するために、光ファイバを伝搬する直線偏光のファラ
デー回転効果を利用する光ファイバ型センサにおいて、
光入力用ファイバとセンシング用ファイバとが偏光子を
介して一体に結合され、光入力用ファイバとセンシング
用ファイバを結ぶ方向を回転軸として回動可能に設けら
れた偏光子ユニットと、検光子により前記センシング用
ファイバの出射光を互いに直交する2つの偏波成分に分
離して出力する検光子ユニットと、を有することを特徴
とする光ファイバ型センサが提供される。
子が光入力用ファイバとセンシング用ファイバとの間に
一体に結合されているので、光入力用ファイバとセンシ
ング用ファイバを結ぶ方向を回転軸として簡単に回動さ
せることができる。よって、光軸に対する偏光子の回動
によって、検査光の偏波面方位を所望の角度に調節する
ことができる。このとき、光入力用ファイバとセンシン
グ用ファイバ内では、検査光は方位がずれることがほと
んどないので、偏光子ユニットの回動角度に応じた角度
だけ偏波面方位が変化する。
づいて説明する。図1は本形態の偏光子ユニットの構成
を示す図である。偏光子ユニット10は、全体がステン
レス製の円筒形パイプ11で覆われており、内部には、
薄膜型の偏光子12と、光コネクタフェルール13,1
4とが一体に設けられている。これらは、偏光子12を
光コネクタフェルール13および14で挟み、接着剤を
使用して光学的および物理的に結合させ、スリーブ15
で包むことにより構成されている。また、光コネクタフ
ェルール13には入力用ファイバ16が、一方、光コネ
クタフェルール13にはセンシング用ファイバ17が結
合されている。
タ等のプリズム系偏光子、光学的に透明な誘電体と金属
等の導電体を交互に積層した積層型薄膜偏光子、あるい
はガラス等の透明体中に銀、銅等の金属よりなる偏平あ
るいは回転楕円体の微粒子が配向分散された微粒子配向
分散型偏光子等が使用できる。積層型薄膜偏光子や微粒
子配向分散型偏光子は、非常に小さいため、偏光子ユニ
ット10全体を小型化することができ、密閉化にも有利
である。
を計測するための実験システムの概略構成を示す図であ
る。光源21からは、検査光L0として例えば850n
mのレーザ光が出力される。この検査光L0は、1/4
波長板を通過した後偏光子23によって直線偏光にな
り、レンズ24によって集光される。集光された検査光
L0は、入力用ファイバ16に入射される。ここで、入
力用ファイバ16は、石英ガラスファイバである。
0は、偏光子ユニット10で偏波面方位が換えられ、セ
ンシング用ファイバ17を介して出射される。ここで、
センシング用ファイバ17は、鉛ガラスファイバであ
り、コアガラスはSiO2 とPbOを含み、SiO2 の
重量が5〜35%、PbOの重量が65〜85%であ
る。これにより、センシング用ファイバ17の光弾性定
数が±3×10-9cm2 /kg以下になっている。
検査光L0は、レンズ25によってコリメートされ、検
光子26で2つの偏波成分に分離し、それぞれレンズ2
7,29を介して受光素子28,30に送られる。
ニット10、およびセンシング用ファイバ17は、それ
ぞれ回動機構部31,32,33により支持されてい
る。回動機構部31,32,33は、それぞれ入力用フ
ァイバ16の入射端部、偏光子ユニット10全体、セン
シング用ファイバ17の出射端部を回動させ、所望の回
動角度で固定させることができる。
10を固定し、センシング用ファイバ17の出射端部を
回動させてファイバを捻り、その状態で出射する検査光
の偏波面方位と消光比を測定する実験を行った。この結
果、センシング用ファイバ17の出射端部を回動させて
も、回動角度に対する偏波面方位の変化の割合は約0.
001であり、回動角度45°に対しては0.045°
程度であり、実質上無視できるレベルであった。また、
消光比は35dB以上であり、誘起複屈折は極めて小さ
いことが示された。
17を石英ガラスファイバにして同様の実験を行ったと
ころ、回動角度に対する偏波面方位の変化は約0.1と
大きなものであった。また、消光比は回動の度合いによ
って不確定に変化してしまった。
端部を固定し、偏光子ユニット10を回動させて、出射
する検査光の偏波面方位と消光比を測定する実験を行っ
た。この結果、検査光の偏波面方位は、偏光子ユニット
10を回動させた角度だけ回転した。
た光ファイバ型センサの構成を示す平面図である。この
光ファイバ型センサ40では、偏光子ユニット10が固
定ユニット41に固定された状態で基台上に設けられて
いる。偏光子ユニット10は、後述するように、光入力
用ファイバとセンシング用ファイバを結ぶ方向を回転軸
として回動調節され固定されている。また、基台上に
は、検光子ユニット43が設けられている。偏光子ユニ
ット10と検光子ユニット43との間には、センシング
用ファイバ17が設けられている。センシング用ファイ
バ17は、リング状に複数回巻かれており、その中心に
導体42が挿入されている。
光である検査光L1が図示されていない光源から入射さ
れる。検査光L1は、偏光子ユニット10で直線偏光に
変換されてセンシング用ファイバ17に導入される。検
査光L1は、センシング用ファイバ17を伝搬する過程
で、導体42を流れる電流が起こす磁界によってファラ
デー回転を受け、その後検光子ユニット43に入力され
る。
び光路シフトプリズム432を有し、これらがハウジン
グ内に一体に設けられている。センシング用ファイバ1
7から出射された検査光L1は、検光子ユニット43の
検光子431に入射し、そこで直交する2つの偏波成分
が分離し、一方は直進して受光用ファイバ44を介して
信号Tとして出力され、他方は光路シフトプリズム43
2で光路調節されて受光用ファイバ45に送られ、この
受光用ファイバ45を介して信号Rとして出力される。
2つの信号TおよびRは、図示されていない受光素子に
よって電気信号に変換され、これにより、導体42を流
れる電流値が検出される。
あり、(A)は平面図、(B)は矢印X方向から見た側
面図、(C)は矢印Y方向から見た側面図である。固定
ユニット41は、基台411と固定ユニットとしての2
個の押さえ板412,413から構成されている。基台
411には、図(C)に示すようにV字状の溝411a
が形成されている。この溝411aには、偏光子ユニッ
ト10が載置される。
ているので、溝411a上で容易に回動させることがで
きる。偏光子ユニット10を所望の角度だけ回動させた
らば、押さえ板412,413を上から被せ、それぞれ
ネジ412a,412b,413a,413bを締める
ことにより、偏光子ユニット10をその状態で固定する
ことができる。あるいは、予め押さえ板412,413
を被せてネジ412a,412b,413a,413b
を緩く締めた状態で偏光子ユニット10の回動角度を調
節し、その後にネジ412a,412b,413a,4
13bを強く締めるようにしてもよい。
角度に対する検光子ユニット43からの出力光量の測定
結果を示す図である。図中、特性P,Qは、検光子ユニ
ット43により分離された2つの偏波成分の強度特性を
示す。図からも分かるように、偏光子ユニット10を適
度に回動させることにより、2つの偏波成分を1:1、
すなわち出射光の方位を検光子431の軸に45°の角
度方向に調節することができる。よって、入力用ファイ
バ16やセンシング用ファイバ17が破断するほどの大
きな応力は加わらない。
力用ファイバ16およびセンシング用ファイバ17とと
もに偏光子ユニット10として一体に形成するようにし
たので、偏光子12自体を回動させる必要がない。この
ため、検査光の光軸が変動せず、ファイバ結合効率の変
動もないので、半波長板を使用せずに、検査光の偏波面
方位を容易にかつ正確に調節することができる。また、
光ファイバ型センサの部品点数も減り、製造コストおよ
び製造効率が向上する。さらに、偏光子12の密閉化も
容易であり、小型化が図れ、この小型化によって光路を
短くできるので信頼性が向上する。
固定ユニット41によって固定するようにしたので、光
ファイバ型センサ40への固定を簡単にかつ確実に行う
ことができる。
れる性質がある。光弾性とは材質に加えられた応力によ
って材質の屈折率に異方性が生じ、材質中を伝搬する光
に複屈折が起こる現象である。この現象のため光ファイ
バをその光線方向を中心軸にして物理的に捻ると応力が
生じ偏波面の方位も同時に捻れる。
偏光子ユニットの回動角と必ずしも等しくなく、また温
度変化などの要因で応力が変化したときには偏波面方位
が変動し測定誤差の原因となる。さらにファイバ中の複
屈折により本来直線偏光であるべき検査光が楕円偏光に
変化するという不都合も多々生ずる。
バ17の材料に鉛ガラスを使用し、その光弾性定数が±
3×10-9cm2 /kg以下となるようにしたので、偏
光子ユニット10を回動させたときのセンシング用ファ
イバ17の捻じれによる偏波面の捻じれを無視できる程
度に低減することができ、より正確な調節が可能とな
る。
と一体にした偏光子ユニット10によって偏波面方位を
調節するようにしたが、検光子431をファイバと一体
にすることにより、その検光子ユニットによって偏波面
方位を調節することが可能である。このときの検光子4
31の材料としては、方解石、石英等の結晶を用いた検
光子、あるいは偏光ビームスプリッタ、グラントムソン
プリズム、グランレーザプリズム等のプリズム系検光子
等が使用できる。
40として、導体42を流れる電流値を測定するために
偏光子ユニット10を用いる例を示したが、電流の代わ
りに磁界の大きさの測定にも使用することができる。
を光入力用ファイバとセンシング用ファイバとの間に一
体に結合するようにしたので、光入力用ファイバとセン
シング用ファイバを結ぶ方向を回転軸として簡単に回動
させることができる。よって、光軸に対する偏光子ユニ
ットの回動によって、検査光の偏波面を所望の方位に調
節することができる。このため、検査光の光軸が変動せ
ず、ファイバ結合効率の変動もないので、半波長板を使
用せずに、検査光の偏波面方位を容易にかつ正確に調節
することができる。また、光ファイバ型センサの部品点
数も減り、製造コストおよび製造効率が向上する。さら
に、偏光子の密閉化も容易であり、小型化が図れ、この
小型化によって光路を短くできるので信頼性が向上す
る。
る。
の実験システムの概略構成を示す図である。
センサの構成を示す平面図である。
平面図、(B)は矢印X方向から見た側面図、(C)は
矢印Y方向から見た側面図である。
光子ユニットからの出力光量の測定結果を示す図であ
る。
る。
構成を示す平面図である。
Claims (10)
- 【請求項1】 光ファイバを伝搬する直線偏光のファラ
デー回転効果を利用する光ファイバ型センサにおいて、 光入力用ファイバとセンシング用ファイバとが偏光子を
介して一体に結合され、前記光入力用ファイバとセンシ
ング用ファイバを結ぶ方向を回転軸として回動可能に設
けられた偏光子ユニットと、 検光子により前記センシング用ファイバの出射光を互い
に直交する2つの偏波成分に分離して出力する検光子ユ
ニットと、 を有することを特徴とする光ファイバ型センサ。 - 【請求項2】 偏光子ユニットは、光入力用ファイバと
センシング用ファイバとが各々フェルールを介して接着
剤により前記偏光子と結合され、前記偏光子およびフェ
ルールの周囲にはスリーブが設けられ、さらに前記スリ
ーブが筐体によって覆われていることを特徴とする請求
項1記載の光ファイバ型センサ。 - 【請求項3】 前記偏光子ユニットが載置される基台
と、前記偏光子ユニットを前記基台に対して固定する固
定部材と、を有することを特徴とする請求項2記載の光
ファイバ型センサ。 - 【請求項4】 前記基台には、V字状の溝が形成されて
いることを特徴とする請求項3記載の光ファイバ型セン
サ。 - 【請求項5】 前記センシング用ファイバは、光弾性定
数が±3×10-9cm2 /kg以下であることを特徴と
する請求項1記載の光ファイバ型センサ。 - 【請求項6】 前記センシング用ファイバは、コアガラ
スにSiO2 とPbOを含み、SiO2 の重量が5〜3
5%、PbOの重量が65〜85%であることを特徴と
する請求項1記載の光ファイバ型センサ。 - 【請求項7】 光ファイバを伝搬する直線偏光のファラ
デー回転効果を利用する光ファイバ型センサにおいて、 光入力用ファイバとセンシング用ファイバとの間に設け
られる偏光子と、 前記センシング用ファイバと受光素子側の受光用ファイ
バとが検光子を介して一体に結合され、前記センシング
用ファイバより出射する光の直進方向を回転軸として回
動可能に設けられた検光子ユニットと、 を有することを特徴とする光ファイバ型センサ。 - 【請求項8】 前記センシング用ファイバは、光弾性定
数が±3×10-9cm2 /kg以下であることを特徴と
する請求項7記載の光ファイバ型センサ。 - 【請求項9】 前記センシング用ファイバは、コアガラ
スにSiO2 とPbOを含み、SiO2 の重量が5〜3
5%、PbOの重量が65〜85%であることを特徴と
する請求項7記載の光ファイバ型センサ。 - 【請求項10】 光源からの光を直線偏光に変換する偏
光子ユニットにおいて、 光入力用ファイバとセンシング用ファイバとが偏光子を
介して一体に結合され、前記光入力用ファイバとセンシ
ング用ファイバを結ぶ方向を回転軸として回動可能に設
けられることを特徴とする偏光子ユニット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24918795A JP3415972B2 (ja) | 1995-09-27 | 1995-09-27 | 光ファイバ型センサおよび偏光子ユニット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24918795A JP3415972B2 (ja) | 1995-09-27 | 1995-09-27 | 光ファイバ型センサおよび偏光子ユニット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0989937A true JPH0989937A (ja) | 1997-04-04 |
JP3415972B2 JP3415972B2 (ja) | 2003-06-09 |
Family
ID=17189201
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24918795A Expired - Fee Related JP3415972B2 (ja) | 1995-09-27 | 1995-09-27 | 光ファイバ型センサおよび偏光子ユニット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3415972B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1482315A1 (en) * | 2002-03-01 | 2004-12-01 | The Tokyo Electric Power Co., Inc. | Current measuring device |
JP2008232739A (ja) * | 2007-03-19 | 2008-10-02 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 光ファイバ電流センサ及びその光学バイアス設定方法 |
-
1995
- 1995-09-27 JP JP24918795A patent/JP3415972B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1482315A1 (en) * | 2002-03-01 | 2004-12-01 | The Tokyo Electric Power Co., Inc. | Current measuring device |
EP1482315A4 (en) * | 2002-03-01 | 2008-04-23 | Tokyo Electric Power Co | CURRENT MEASUREMENT |
JP2008232739A (ja) * | 2007-03-19 | 2008-10-02 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 光ファイバ電流センサ及びその光学バイアス設定方法 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP3415972B2 (ja) | 2003-06-09 |
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