JPH0989588A - デジタル測定方法およびその装置 - Google Patents
デジタル測定方法およびその装置Info
- Publication number
- JPH0989588A JPH0989588A JP24200095A JP24200095A JPH0989588A JP H0989588 A JPH0989588 A JP H0989588A JP 24200095 A JP24200095 A JP 24200095A JP 24200095 A JP24200095 A JP 24200095A JP H0989588 A JPH0989588 A JP H0989588A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- digital
- input
- range
- measured
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定範囲の中の必要な所定範囲の測定精度が
良く、且つ測定値の伝送速度を低下させないようにす
る。 【解決手段】 測定対象のアナログ物理量をトランスジ
ューサＲthにて電気的なアナログ電圧に変換し、アナロ
グ電圧をＡ／Ｄ変換部２でデジタル値に変換したうえ
で、デジタル値をアナログ物理量の測定データとして外
部装置にデジタル伝送するためのデジタル測定方法であ
って、入力上下限範囲内の入力の量子化ビット数を一定
に保つとともに、入力上下限範囲内の所定入力範囲に対
してビット当たりの重みを変えるようにした。
良く、且つ測定値の伝送速度を低下させないようにす
る。 【解決手段】 測定対象のアナログ物理量をトランスジ
ューサＲthにて電気的なアナログ電圧に変換し、アナロ
グ電圧をＡ／Ｄ変換部２でデジタル値に変換したうえ
で、デジタル値をアナログ物理量の測定データとして外
部装置にデジタル伝送するためのデジタル測定方法であ
って、入力上下限範囲内の入力の量子化ビット数を一定
に保つとともに、入力上下限範囲内の所定入力範囲に対
してビット当たりの重みを変えるようにした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、アナログ値をＡ／
Ｄ変換して出力するデジタル測定方法およびその装置に
関する。
Ｄ変換して出力するデジタル測定方法およびその装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】図５は従来のデジタル測定装置を説明す
る要部ブロック図である。図６は従来のデジタル測定装
置の量子化方法を示す説明図であり、図６（ａ）は入力
上下限範囲を４ビットで量子化する場合を示し、図６
（ｂ）は入力上下限範囲を５ビットで量子化する場合を
示している。
る要部ブロック図である。図６は従来のデジタル測定装
置の量子化方法を示す説明図であり、図６（ａ）は入力
上下限範囲を４ビットで量子化する場合を示し、図６
（ｂ）は入力上下限範囲を５ビットで量子化する場合を
示している。
【０００３】図５に示すデジタル測定装置は、測定対象
のアナログ物理量として温度を想定したデジタル温度測
定装置であり、トランスジューサとしてのサーミスタＲ
thと、固定抵抗Ｒと、増幅部１と、Ａ／Ｄ変換部２と、
データ伝送部３とを含んで構成されている。
のアナログ物理量として温度を想定したデジタル温度測
定装置であり、トランスジューサとしてのサーミスタＲ
thと、固定抵抗Ｒと、増幅部１と、Ａ／Ｄ変換部２と、
データ伝送部３とを含んで構成されている。
【０００４】サーミスタＲthは温度に応じて抵抗値が大
きく変化する半導体であって、温度が上昇すると抵抗値
の低下する負特性を有するものと、温度が上昇すると抵
抗値の上昇する正特性を有するものとが存在するが、こ
こでは負特性のものが使用されている。増幅部１は入力
電圧を一定の増幅率で増幅して出力する。Ａ／Ｄ変換部
２は入力されるアナログ電圧をデジタル値に逐次変換す
る。データ伝送部３は、Ａ／Ｄ変換部２が逐次変換して
出力するデジタル値を、所定のシリアルデータ伝送フォ
ーマットに整えて出力する。
きく変化する半導体であって、温度が上昇すると抵抗値
の低下する負特性を有するものと、温度が上昇すると抵
抗値の上昇する正特性を有するものとが存在するが、こ
こでは負特性のものが使用されている。増幅部１は入力
電圧を一定の増幅率で増幅して出力する。Ａ／Ｄ変換部
２は入力されるアナログ電圧をデジタル値に逐次変換す
る。データ伝送部３は、Ａ／Ｄ変換部２が逐次変換して
出力するデジタル値を、所定のシリアルデータ伝送フォ
ーマットに整えて出力する。
【０００５】サーミスタＲthは固定抵抗Ｒと直列に接続
する。サーミスタＲthの他端は直流電源Ｖccに接続す
る。固定抵抗Ｒの他端は接地する。サーミスタＲthと固
定抵抗Ｒとの接続点は増幅部１の入力部に接続する。増
幅部１の出力部はＡ／Ｄ変換部２の入力部に接続する。
Ａ／Ｄ変換部２の出力部はデータ伝送部３の入力部に接
続する。
する。サーミスタＲthの他端は直流電源Ｖccに接続す
る。固定抵抗Ｒの他端は接地する。サーミスタＲthと固
定抵抗Ｒとの接続点は増幅部１の入力部に接続する。増
幅部１の出力部はＡ／Ｄ変換部２の入力部に接続する。
Ａ／Ｄ変換部２の出力部はデータ伝送部３の入力部に接
続する。
【０００６】上述のデジタル測定装置は次のように動作
する。このデジタル測定装置は、上限温度Ｔmax と下限
温度Ｔmin との範囲の温度Ｔの測定を対象としており、
サーミスタＲthは、サーミスタＲthと固定抵抗Ｒとの接
続点電圧Ｖi が直線的な関係で近似できる測定対象温度
範囲で用いられる。サーミスタＲthと固定抵抗Ｒとの接
続点電圧Ｖi は増幅部１に入力され、増幅部１は電圧Ｖ
i を増幅し電圧Ｖo にして出力する。
する。このデジタル測定装置は、上限温度Ｔmax と下限
温度Ｔmin との範囲の温度Ｔの測定を対象としており、
サーミスタＲthは、サーミスタＲthと固定抵抗Ｒとの接
続点電圧Ｖi が直線的な関係で近似できる測定対象温度
範囲で用いられる。サーミスタＲthと固定抵抗Ｒとの接
続点電圧Ｖi は増幅部１に入力され、増幅部１は電圧Ｖ
i を増幅し電圧Ｖo にして出力する。
【０００７】この増幅部１の出力する電圧Ｖo は、測定
対象温度Ｔが上限温度Ｔmax のときＶo ＝ＶmAX とな
り、測定対象温度Ｔが下限温度Ｔmin のときＶo ＝Ｖ
min となる。Ａ／Ｄ変換部２は、図６（ａ）に示すよう
に、増幅部１の出力する電圧Ｖoの電圧範囲ＶmAX 〜Ｖ
min を例えば４ビットを以て量子化するようにされてお
り、つまり、量子化ステップ幅ΔＶをΔＶ＝〔（ＶmAX
−Ｖmin ）／２4 〕にして量子化するようにされてお
り、電圧Ｖo に応じる４ビットのデジタル値を出力す
る。データ伝送部３は、Ａ／Ｄ変換部２の変換したデジ
タル値を、送信先の外部装置との間で定めた、所定のシ
リアルデータ伝送フォーマットに整えて出力する。
対象温度Ｔが上限温度Ｔmax のときＶo ＝ＶmAX とな
り、測定対象温度Ｔが下限温度Ｔmin のときＶo ＝Ｖ
min となる。Ａ／Ｄ変換部２は、図６（ａ）に示すよう
に、増幅部１の出力する電圧Ｖoの電圧範囲ＶmAX 〜Ｖ
min を例えば４ビットを以て量子化するようにされてお
り、つまり、量子化ステップ幅ΔＶをΔＶ＝〔（ＶmAX
−Ｖmin ）／２4 〕にして量子化するようにされてお
り、電圧Ｖo に応じる４ビットのデジタル値を出力す
る。データ伝送部３は、Ａ／Ｄ変換部２の変換したデジ
タル値を、送信先の外部装置との間で定めた、所定のシ
リアルデータ伝送フォーマットに整えて出力する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】ところで、デジタル測
定装置の用途によっては、測定する温度範囲のうち、あ
る温度範囲について測定精度を向上したい場合がある。
例えば、デジタル測定装置を、空調機器による、通常の
部屋の温度制御に使用する場合では、特に１７°Ｃ〜３
０°Ｃの範囲において高精度が要求される。
定装置の用途によっては、測定する温度範囲のうち、あ
る温度範囲について測定精度を向上したい場合がある。
例えば、デジタル測定装置を、空調機器による、通常の
部屋の温度制御に使用する場合では、特に１７°Ｃ〜３
０°Ｃの範囲において高精度が要求される。
【０００９】このような場合、通常は、図６（ｂ）に示
すように、量子化ビット数を５ビットにして量子化する
方法がとられる。つまり、量子化ステップ幅ΔＶをΔＶ
＝〔（ＶmAX −Ｖmin ）／２5 〕にして量子化する方法
がとられる。しかしながら、この場合、例えば「２７°
Ｃ」という一つの纏まった測定温度値を、マイクロコン
ピュータにより、Ａ／Ｄ変換部２からデータ伝送部３へ
移すにしても、データ伝送部３から送信先の外部装置に
伝送するにしても、一つの纏まった測定温度値として５
ビットを取り扱わなければならず、マイクロコンピュー
タのメモリ容量を増やす必要があることや、情報量の増
加により一つの纏まった測定温度値の伝送速度が遅くな
るという問題点があった。
すように、量子化ビット数を５ビットにして量子化する
方法がとられる。つまり、量子化ステップ幅ΔＶをΔＶ
＝〔（ＶmAX −Ｖmin ）／２5 〕にして量子化する方法
がとられる。しかしながら、この場合、例えば「２７°
Ｃ」という一つの纏まった測定温度値を、マイクロコン
ピュータにより、Ａ／Ｄ変換部２からデータ伝送部３へ
移すにしても、データ伝送部３から送信先の外部装置に
伝送するにしても、一つの纏まった測定温度値として５
ビットを取り扱わなければならず、マイクロコンピュー
タのメモリ容量を増やす必要があることや、情報量の増
加により一つの纏まった測定温度値の伝送速度が遅くな
るという問題点があった。
【００１０】本発明は、上記の問題点を解決するために
成されたもので、その目的とするところは、測定対象範
囲の中の必要な所定範囲の測定精度が良く、且つ、測定
値の伝送速度を低下させない、デジタル測定方法および
その装置を提供することにある。
成されたもので、その目的とするところは、測定対象範
囲の中の必要な所定範囲の測定精度が良く、且つ、測定
値の伝送速度を低下させない、デジタル測定方法および
その装置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の問題点を
解決するため、請求項１記載の発明にあっては、測定対
象のアナログ物理量をトランスジューサにて電気的なア
ナログ電圧に変換し、該アナログ電圧をＡ／Ｄ変換部で
デジタル値に変換したうえで、該デジタル値を前記アナ
ログ物理量の測定データとして外部装置にデジタル伝送
するためのデジタル測定方法であって、入力上下限範囲
内の入力の量子化ビット数を一定に保つとともに、前記
入力上下限範囲内の所定入力範囲に対してビット当たり
の重みを変えることを特徴とする方法である。
解決するため、請求項１記載の発明にあっては、測定対
象のアナログ物理量をトランスジューサにて電気的なア
ナログ電圧に変換し、該アナログ電圧をＡ／Ｄ変換部で
デジタル値に変換したうえで、該デジタル値を前記アナ
ログ物理量の測定データとして外部装置にデジタル伝送
するためのデジタル測定方法であって、入力上下限範囲
内の入力の量子化ビット数を一定に保つとともに、前記
入力上下限範囲内の所定入力範囲に対してビット当たり
の重みを変えることを特徴とする方法である。
【００１２】請求項２記載の発明にあっては、前記ビッ
ト当たりの重み変えは、Ａ／Ｄ変換部の後段に介在させ
る重み変え演算手段を以て行うことを特徴とする方法で
ある。
ト当たりの重み変えは、Ａ／Ｄ変換部の後段に介在させ
る重み変え演算手段を以て行うことを特徴とする方法で
ある。
【００１３】請求項３記載の発明にあっては、前記ビッ
ト当たりの重み変えは、Ａ／Ｄ変換部の前段に介在させ
る増幅部の増幅率を所定入力範囲に対して変えることを
以て行うことを特徴とする方法である。
ト当たりの重み変えは、Ａ／Ｄ変換部の前段に介在させ
る増幅部の増幅率を所定入力範囲に対して変えることを
以て行うことを特徴とする方法である。
【００１４】請求項４記載の発明にあっては、測定対象
のアナログ物理量を電気的なアナログ電圧に変換するト
ランスジューサと、トランスジューサの出力するアナロ
グ電圧を増幅する増幅部と、増幅部の出力するアナログ
電圧をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換部と、Ａ／Ｄ変
換部の変換したデジタル値に基づいて所定範囲のデジタ
ル値に対しビット当たりの重み変えを施す重み変え演算
手段と、重み変え演算手段の出力するデジタル値を前記
アナログ物理量の測定データとして外部装置にデジタル
伝送するデータ伝送部とを備えることを特徴とするもの
である。
のアナログ物理量を電気的なアナログ電圧に変換するト
ランスジューサと、トランスジューサの出力するアナロ
グ電圧を増幅する増幅部と、増幅部の出力するアナログ
電圧をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換部と、Ａ／Ｄ変
換部の変換したデジタル値に基づいて所定範囲のデジタ
ル値に対しビット当たりの重み変えを施す重み変え演算
手段と、重み変え演算手段の出力するデジタル値を前記
アナログ物理量の測定データとして外部装置にデジタル
伝送するデータ伝送部とを備えることを特徴とするもの
である。
【００１５】請求項５記載の発明にあっては、測定対象
のアナログ物理量を電気的なアナログ電圧に変換するト
ランスジューサと、入力上下限範囲に対する出力上下限
範囲が固定されるとともにトランスジューサから入力さ
れるアナログ電圧の所定入力範囲に対して増幅率を異な
らしめる増幅部と、増幅部の出力するアナログ電圧をデ
ジタル値に変換するＡ／Ｄ変換部と、Ａ／Ｄ変換部の変
換したデジタル値を前記アナログ物理量の測定データと
して外部装置にデジタル伝送するデータ伝送部とを備え
ることを特徴とするものである。
のアナログ物理量を電気的なアナログ電圧に変換するト
ランスジューサと、入力上下限範囲に対する出力上下限
範囲が固定されるとともにトランスジューサから入力さ
れるアナログ電圧の所定入力範囲に対して増幅率を異な
らしめる増幅部と、増幅部の出力するアナログ電圧をデ
ジタル値に変換するＡ／Ｄ変換部と、Ａ／Ｄ変換部の変
換したデジタル値を前記アナログ物理量の測定データと
して外部装置にデジタル伝送するデータ伝送部とを備え
ることを特徴とするものである。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係るデジタル測定
方法およびその装置の第１の実施の形態を図１および図
２に基づいて、第２の実施の形態を図３および図４に基
づいて、それぞれ詳細に説明する。なお、該それぞれの
実施の形態においても、従来のものとの比較を行い易い
ように、デジタル測定装置は、従来と同様に、測定対象
のアナログ物理量として温度を想定したデジタル温度測
定装置として説明する。
方法およびその装置の第１の実施の形態を図１および図
２に基づいて、第２の実施の形態を図３および図４に基
づいて、それぞれ詳細に説明する。なお、該それぞれの
実施の形態においても、従来のものとの比較を行い易い
ように、デジタル測定装置は、従来と同様に、測定対象
のアナログ物理量として温度を想定したデジタル温度測
定装置として説明する。
【００１７】〔第１の実施の形態〕図１はデジタル測定
装置を説明する要部ブロック図、図２はデジタル測定装
置の量子化方法を示す説明図である。なお、従来の技術
で図５および図６を用いて説明したデジタル測定装置と
同等の箇所には同じ符号を付してあるので、同等の箇所
の詳細な説明は省略する。
装置を説明する要部ブロック図、図２はデジタル測定装
置の量子化方法を示す説明図である。なお、従来の技術
で図５および図６を用いて説明したデジタル測定装置と
同等の箇所には同じ符号を付してあるので、同等の箇所
の詳細な説明は省略する。
【００１８】図１に示すデジタル測定装置は、測定対象
のアナログ物理量として温度を想定したデジタル温度測
定装置であり、トランスジューサとしてのサーミスタＲ
thと、固定抵抗Ｒと、増幅部１と、Ａ／Ｄ変換部２と、
データ伝送部３と、重み変え演算手段４とを含んで構成
されている。
のアナログ物理量として温度を想定したデジタル温度測
定装置であり、トランスジューサとしてのサーミスタＲ
thと、固定抵抗Ｒと、増幅部１と、Ａ／Ｄ変換部２と、
データ伝送部３と、重み変え演算手段４とを含んで構成
されている。
【００１９】図１に示すデジタル測定装置と図５に示す
デジタル測定装置との比較から明らかなように、図１に
示すデジタル測定装置が、図５に示すデジタル測定装置
と異なるのは、図５に示すデジタル測定装置のＡ／Ｄ変
換部２とデータ伝送部３との間に、重み変え演算手段４
を介在した構成である。
デジタル測定装置との比較から明らかなように、図１に
示すデジタル測定装置が、図５に示すデジタル測定装置
と異なるのは、図５に示すデジタル測定装置のＡ／Ｄ変
換部２とデータ伝送部３との間に、重み変え演算手段４
を介在した構成である。
【００２０】図１におけるデジタル測定装置が、図２に
示すように、例えば、高い精度を要求される温度範囲が
温度Ｔ1 〜Ｔ2 間であり、温度Ｔ1 〜Ｔ2 間の精度に要
求される増幅部１の出力する電圧Ｖo の量子化ステップ
幅ΔＶがΔＶ＝ΔＶS であるならば、図１におけるＡ／
Ｄ変換部２の量子化ステップ幅ΔＶは、少なくとも量子
化ステップ幅ΔＶS 以下の細かさの量子化ステップ幅Δ
Ｖd にされる。
示すように、例えば、高い精度を要求される温度範囲が
温度Ｔ1 〜Ｔ2 間であり、温度Ｔ1 〜Ｔ2 間の精度に要
求される増幅部１の出力する電圧Ｖo の量子化ステップ
幅ΔＶがΔＶ＝ΔＶS であるならば、図１におけるＡ／
Ｄ変換部２の量子化ステップ幅ΔＶは、少なくとも量子
化ステップ幅ΔＶS 以下の細かさの量子化ステップ幅Δ
Ｖd にされる。
【００２１】重み変え演算手段４は、Ａ／Ｄ変換部２に
より、量子化ステップ幅ΔＶd の細かさで量子化したデ
ジタル値に基づいて、次のような重み変え演算を行う。
すなわち、重み変え演算手段４は、量子化ステップ幅Δ
Ｖd の細かさで量子化したデジタル値に演算処理を施し
て、温度Ｔmin 〜Ｔ1 の間および温度Ｔ2 〜Ｔmax の間
にあっては例えば量子化ステップ幅ΔＶL ＝〔６×ΔＶ
d 〕の粗さのデジタル値に変換し、温度Ｔ1 〜Ｔ2 の間
にあっては例えば量子化ステップ幅ΔＶS ＝〔３×ΔＶ
d 〕の細かさのデジタル値に変換する。
より、量子化ステップ幅ΔＶd の細かさで量子化したデ
ジタル値に基づいて、次のような重み変え演算を行う。
すなわち、重み変え演算手段４は、量子化ステップ幅Δ
Ｖd の細かさで量子化したデジタル値に演算処理を施し
て、温度Ｔmin 〜Ｔ1 の間および温度Ｔ2 〜Ｔmax の間
にあっては例えば量子化ステップ幅ΔＶL ＝〔６×ΔＶ
d 〕の粗さのデジタル値に変換し、温度Ｔ1 〜Ｔ2 の間
にあっては例えば量子化ステップ幅ΔＶS ＝〔３×ΔＶ
d 〕の細かさのデジタル値に変換する。
【００２２】つまり、本来ならば、量子化ステップ幅Δ
ＶS という高精度の量子化を温度Ｔ min 〜Ｔmax の全範
囲で実現するには、例えば量子化ビット数を５ビットに
して細かく量子化し、一つの纏まった測定温度値として
５ビットを取り扱わなければならないところ、高精度の
要求される温度Ｔ1 〜Ｔ2 の間についてのみ量子化ステ
ップ幅ΔＶS の細かな量子化を施すとともに、高精度の
要求されない温度Ｔmi n 〜Ｔ1 の間および温度Ｔ2 〜Ｔ
max の間については、量子化ステップ幅ΔＶLの大雑把
な量子化を施し、測定温度範囲である温度Ｔmin 〜Ｔ
max の全範囲の温度測定をカバーしつつ、且つ、高精度
の要求される部分にあっては要求に答えつつ、しかも、
量子化ビット数を例えば４ビットと少なくすることがで
きる。
ＶS という高精度の量子化を温度Ｔ min 〜Ｔmax の全範
囲で実現するには、例えば量子化ビット数を５ビットに
して細かく量子化し、一つの纏まった測定温度値として
５ビットを取り扱わなければならないところ、高精度の
要求される温度Ｔ1 〜Ｔ2 の間についてのみ量子化ステ
ップ幅ΔＶS の細かな量子化を施すとともに、高精度の
要求されない温度Ｔmi n 〜Ｔ1 の間および温度Ｔ2 〜Ｔ
max の間については、量子化ステップ幅ΔＶLの大雑把
な量子化を施し、測定温度範囲である温度Ｔmin 〜Ｔ
max の全範囲の温度測定をカバーしつつ、且つ、高精度
の要求される部分にあっては要求に答えつつ、しかも、
量子化ビット数を例えば４ビットと少なくすることがで
きる。
【００２３】従って、例えば「２７°Ｃ」という一つの
纏まった測定温度値を、マイクロコンピュータにより、
所定のシリアルデータ伝送フォーマットに整えてデータ
伝送部３から送信先の外部装置に伝送するにしても、高
精度の要求される部分にあっては要求に答えつつ、一つ
の纏まった測定温度値を少ない量子化ビット数にて取り
扱うことが可能となる。
纏まった測定温度値を、マイクロコンピュータにより、
所定のシリアルデータ伝送フォーマットに整えてデータ
伝送部３から送信先の外部装置に伝送するにしても、高
精度の要求される部分にあっては要求に答えつつ、一つ
の纏まった測定温度値を少ない量子化ビット数にて取り
扱うことが可能となる。
【００２４】つまり、送信先の外部装置に対する測定温
度値の伝送速度を落とすことなく、高精度の要求される
部分にあっては要求に答えることのできる、優れたデジ
タル温度測定方法およびその装置を提供することができ
る。なお、上記の実施の形態としては、測定対象のアナ
ログ物理量として温度を想定したが、温度に限定される
ものではなく、トランスジューサとしてロードセルなど
を用いたデジタル応力歪測定や、トランスジューサとし
てフォトダイオードを用いたデジタル照度測定などにも
応用できることは言うまでもない。
度値の伝送速度を落とすことなく、高精度の要求される
部分にあっては要求に答えることのできる、優れたデジ
タル温度測定方法およびその装置を提供することができ
る。なお、上記の実施の形態としては、測定対象のアナ
ログ物理量として温度を想定したが、温度に限定される
ものではなく、トランスジューサとしてロードセルなど
を用いたデジタル応力歪測定や、トランスジューサとし
てフォトダイオードを用いたデジタル照度測定などにも
応用できることは言うまでもない。
【００２５】〔第２の実施の形態〕図３はデジタル測定
装置を説明する要部ブロック図、図４はデジタル測定装
置の量子化方法を示す説明図である。なお、従来の技術
で図５および図６を用いて説明したデジタル測定装置と
同等の箇所には同じ符号を付してあるので、同等の箇所
の詳細な説明は省略する。
装置を説明する要部ブロック図、図４はデジタル測定装
置の量子化方法を示す説明図である。なお、従来の技術
で図５および図６を用いて説明したデジタル測定装置と
同等の箇所には同じ符号を付してあるので、同等の箇所
の詳細な説明は省略する。
【００２６】図３に示すデジタル測定装置は、測定対象
のアナログ物理量として温度を想定したデジタル温度測
定装置であり、トランスジューサとしてのサーミスタＲ
thと、固定抵抗Ｒと、増幅部１と、Ａ／Ｄ変換部２と、
データ伝送部３とを含んで構成されている。
のアナログ物理量として温度を想定したデジタル温度測
定装置であり、トランスジューサとしてのサーミスタＲ
thと、固定抵抗Ｒと、増幅部１と、Ａ／Ｄ変換部２と、
データ伝送部３とを含んで構成されている。
【００２７】また、図３に示すデジタル測定装置と図５
に示すデジタル測定装置との比較から明らかなように、
図３に示すデジタル測定装置が、図５に示すデジタル測
定装置と異なるのは、図５に示すデジタル測定装置の増
幅部１の増幅率が固定であったのに対し、図３における
デジタル測定装置の増幅部１は、図４に示すように、そ
れほど高精度の要求されない温度Ｔmin 〜Ｔ1 の間およ
び温度Ｔ2 〜Ｔmax の間では増幅率η1 であり、高精度
の要求される温度Ｔ1 〜Ｔ2 の間では増幅率η 2 であ
り、しかも、η1 ＜η2 にした構成である。
に示すデジタル測定装置との比較から明らかなように、
図３に示すデジタル測定装置が、図５に示すデジタル測
定装置と異なるのは、図５に示すデジタル測定装置の増
幅部１の増幅率が固定であったのに対し、図３における
デジタル測定装置の増幅部１は、図４に示すように、そ
れほど高精度の要求されない温度Ｔmin 〜Ｔ1 の間およ
び温度Ｔ2 〜Ｔmax の間では増幅率η1 であり、高精度
の要求される温度Ｔ1 〜Ｔ2 の間では増幅率η 2 であ
り、しかも、η1 ＜η2 にした構成である。
【００２８】図３におけるデジタル測定装置の増幅部１
は、例えば、オペアンプＯＰ1,ＯＰ 2 と、アナログスイ
ッチ１０と、増幅率η1 の増幅器１１と、増幅率η2 の
増幅器１２と、逆流を防止するダイオードＤ1,Ｄ2,Ｄ3,
Ｄ4 と、分圧抵抗ｒ1,ｒ2,ｒ 3 とを含んで構成され、次
のように接続される。
は、例えば、オペアンプＯＰ1,ＯＰ 2 と、アナログスイ
ッチ１０と、増幅率η1 の増幅器１１と、増幅率η2 の
増幅器１２と、逆流を防止するダイオードＤ1,Ｄ2,Ｄ3,
Ｄ4 と、分圧抵抗ｒ1,ｒ2,ｒ 3 とを含んで構成され、次
のように接続される。
【００２９】すなわち、抵抗ｒ1 の一端は直流電源Ｖcc
に接続し、抵抗ｒ1 の他端は抵抗ｒ 2 の一端に接続し、
抵抗ｒ2 の他端は抵抗ｒ3 の一端に接続し、抵抗ｒ3 の
他端は接地する。サーミスタＲthと固定抵抗Ｒとの接続
点は、オペアンプＯＰ1 の非反転入力部と、オペアンプ
ＯＰ2 の反転入力部と、アナログスイッチ１０の入力部
とに接続する。抵抗ｒ1 と抵抗ｒ2 との接続点は、オペ
アンプＯＰ1 の反転入力部に接続する。抵抗ｒ2 と抵抗
ｒ3 との接続点は、オペアンプＯＰ2 の非反転入力部に
接続する。オペアンプＯＰ1 の出力部はダイオードＤ1
のアノードに接続し、オペアンプＯＰ2 の出力部はダイ
オードＤ2 のアノードに接続する。ダイオードＤ1 とダ
イオードＤ2 とのカソードはそれぞれアナログスイッチ
１０の操作入力部に接続する。アナログスイッチ１０の
ａ接点出力部は増幅率η1 の増幅器１１の入力部に接続
し、アナログスイッチ１０のｂ接点出力部は増幅率η2
の増幅器１２の入力部に接続する。増幅器１１の出力部
はダイオードＤ3 のアノードに接続し、増幅器１２の出
力部はダイオードＤ4 のアノードに接続する。ダイオー
ドＤ3 とダイオードＤ4 とのカソードは、それぞれＡ／
Ｄ変換部２の入力部に接続する。
に接続し、抵抗ｒ1 の他端は抵抗ｒ 2 の一端に接続し、
抵抗ｒ2 の他端は抵抗ｒ3 の一端に接続し、抵抗ｒ3 の
他端は接地する。サーミスタＲthと固定抵抗Ｒとの接続
点は、オペアンプＯＰ1 の非反転入力部と、オペアンプ
ＯＰ2 の反転入力部と、アナログスイッチ１０の入力部
とに接続する。抵抗ｒ1 と抵抗ｒ2 との接続点は、オペ
アンプＯＰ1 の反転入力部に接続する。抵抗ｒ2 と抵抗
ｒ3 との接続点は、オペアンプＯＰ2 の非反転入力部に
接続する。オペアンプＯＰ1 の出力部はダイオードＤ1
のアノードに接続し、オペアンプＯＰ2 の出力部はダイ
オードＤ2 のアノードに接続する。ダイオードＤ1 とダ
イオードＤ2 とのカソードはそれぞれアナログスイッチ
１０の操作入力部に接続する。アナログスイッチ１０の
ａ接点出力部は増幅率η1 の増幅器１１の入力部に接続
し、アナログスイッチ１０のｂ接点出力部は増幅率η2
の増幅器１２の入力部に接続する。増幅器１１の出力部
はダイオードＤ3 のアノードに接続し、増幅器１２の出
力部はダイオードＤ4 のアノードに接続する。ダイオー
ドＤ3 とダイオードＤ4 とのカソードは、それぞれＡ／
Ｄ変換部２の入力部に接続する。
【００３０】また、抵抗ｒ1,ｒ2,ｒ3 のそれぞれの値
は、直流電源Ｖccを分圧したとき、抵抗ｒ1 と抵抗ｒ2
との接続点電圧はＶ2 になり、抵抗ｒ2 と抵抗ｒ3 との
接続点電圧はＶ1 になるように設定されている。しか
も、電圧Ｖ1 は、測定対象温度が温度Ｔ1 のときのサー
ミスタＲthと固定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖi と一致し、
電圧Ｖ2 は、測定対象温度が温度Ｔ2 のときのサーミス
タＲthと固定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖi と一致するよう
にされている。
は、直流電源Ｖccを分圧したとき、抵抗ｒ1 と抵抗ｒ2
との接続点電圧はＶ2 になり、抵抗ｒ2 と抵抗ｒ3 との
接続点電圧はＶ1 になるように設定されている。しか
も、電圧Ｖ1 は、測定対象温度が温度Ｔ1 のときのサー
ミスタＲthと固定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖi と一致し、
電圧Ｖ2 は、測定対象温度が温度Ｔ2 のときのサーミス
タＲthと固定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖi と一致するよう
にされている。
【００３１】上述のように構成されるデジタル測定装置
は次のように動作する。すなわち、測定対象温度がそれ
ほど高精度の要求されない温度Ｔmin 〜Ｔ1 の間および
温度Ｔ2 〜Ｔmax の間であるならば、サーミスタＲthと
固定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖ i は、Ｖi ＜Ｖ1 またはＶ
2 ＜Ｖi の関係にあり、オペアンプＯＰ1,ＯＰ2 のいず
れかがHigh電圧を出力するので、アナログスイッチ１０
の操作入力部はHighになり、アナログスイッチ１０の入
力部とアナログスイッチ１０のａ接点出力部とが接続さ
れて、サーミスタＲthと固定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖi
は増幅率η1 の増幅器１１に入力されることになる。
は次のように動作する。すなわち、測定対象温度がそれ
ほど高精度の要求されない温度Ｔmin 〜Ｔ1 の間および
温度Ｔ2 〜Ｔmax の間であるならば、サーミスタＲthと
固定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖ i は、Ｖi ＜Ｖ1 またはＶ
2 ＜Ｖi の関係にあり、オペアンプＯＰ1,ＯＰ2 のいず
れかがHigh電圧を出力するので、アナログスイッチ１０
の操作入力部はHighになり、アナログスイッチ１０の入
力部とアナログスイッチ１０のａ接点出力部とが接続さ
れて、サーミスタＲthと固定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖi
は増幅率η1 の増幅器１１に入力されることになる。
【００３２】一方、測定対象温度が高精度の要求される
温度Ｔ1 〜Ｔ2 の間であるならば、サーミスタＲthと固
定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖi は、Ｖ1 ＜Ｖi ＜Ｖ2 の関
係にあり、オペアンプＯＰ1,ＯＰ2 のいずれもがLow 電
圧を出力するので、アナログスイッチ１０の操作入力部
はLow になり、アナログスイッチ１０の入力部とアナロ
グスイッチ１０のｂ接点出力部とが接続されて、サーミ
スタＲthと固定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖi は増幅率η2
の増幅器１２に入力されることになる。
温度Ｔ1 〜Ｔ2 の間であるならば、サーミスタＲthと固
定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖi は、Ｖ1 ＜Ｖi ＜Ｖ2 の関
係にあり、オペアンプＯＰ1,ＯＰ2 のいずれもがLow 電
圧を出力するので、アナログスイッチ１０の操作入力部
はLow になり、アナログスイッチ１０の入力部とアナロ
グスイッチ１０のｂ接点出力部とが接続されて、サーミ
スタＲthと固定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖi は増幅率η2
の増幅器１２に入力されることになる。
【００３３】つまり、図４に示すように、測定対象温度
がそれほど高精度の要求されない温度Ｔmin 〜Ｔ1 の間
および温度Ｔ2 〜Ｔmax の間である場合、サーミスタＲ
thと固定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖi は低増幅率η1 で増
幅されて、測定対象温度が高精度の要求される温度Ｔ1
〜Ｔ2 の間である場合、サーミスタＲthと固定抵抗Ｒと
の接続点電圧Ｖi は高増幅率η2 で増幅されて、出力電
圧Ｖo としてそれぞれＡ／Ｄ変換部２に入力される。
がそれほど高精度の要求されない温度Ｔmin 〜Ｔ1 の間
および温度Ｔ2 〜Ｔmax の間である場合、サーミスタＲ
thと固定抵抗Ｒとの接続点電圧Ｖi は低増幅率η1 で増
幅されて、測定対象温度が高精度の要求される温度Ｔ1
〜Ｔ2 の間である場合、サーミスタＲthと固定抵抗Ｒと
の接続点電圧Ｖi は高増幅率η2 で増幅されて、出力電
圧Ｖo としてそれぞれＡ／Ｄ変換部２に入力される。
【００３４】Ａ／Ｄ変換部２は、例えば、量子化ステッ
プ幅ΔＶをΔＶ＝〔（ＶmAX −Ｖmi n ）／２4 〕にし
て、量子化ビット数を４ビットにした一定の量子化ステ
ップ幅で、増幅部１の出力電圧Ｖo の量子化を行い、出
力電圧Ｖo のデジタル値をデータ伝送部３に入力する。
データ伝送部３は、Ａ／Ｄ変換部２の変換したデジタル
値を、送信先の外部装置との間で定めた、所定のシリア
ルデータ伝送フォーマットに整えて出力する。
プ幅ΔＶをΔＶ＝〔（ＶmAX −Ｖmi n ）／２4 〕にし
て、量子化ビット数を４ビットにした一定の量子化ステ
ップ幅で、増幅部１の出力電圧Ｖo の量子化を行い、出
力電圧Ｖo のデジタル値をデータ伝送部３に入力する。
データ伝送部３は、Ａ／Ｄ変換部２の変換したデジタル
値を、送信先の外部装置との間で定めた、所定のシリア
ルデータ伝送フォーマットに整えて出力する。
【００３５】従って、図４に示すように、Ａ／Ｄ変換部
２の量子化ステップ幅ΔＶは一定であっても、測定対象
温度がそれほど高精度の要求されない温度Ｔmin 〜Ｔ1
の間および温度Ｔ2 〜Ｔmax の間においては、量子化ス
テップ幅ΔＶは温度ステップ幅ΔＴL に相当し、測定対
象温度が高精度の要求される温度Ｔ1 〜Ｔ2 の間におい
ては、量子化ステップ幅ΔＶは温度ステップ幅ΔＴS に
相当している。
２の量子化ステップ幅ΔＶは一定であっても、測定対象
温度がそれほど高精度の要求されない温度Ｔmin 〜Ｔ1
の間および温度Ｔ2 〜Ｔmax の間においては、量子化ス
テップ幅ΔＶは温度ステップ幅ΔＴL に相当し、測定対
象温度が高精度の要求される温度Ｔ1 〜Ｔ2 の間におい
ては、量子化ステップ幅ΔＶは温度ステップ幅ΔＴS に
相当している。
【００３６】つまり、本来ならば、量子化ステップ幅Δ
ＴS という高精度の量子化を温度Ｔ min 〜Ｔmax の全範
囲で実現するには、例えば量子化ビット数を５ビットに
して細かく量子化し、一つの纏まった測定温度値として
５ビットを取り扱わなければならないところ、高精度の
要求される温度Ｔ1 〜Ｔ2 の間についてのみ量子化ステ
ップ幅ΔＴS の細かな量子化を施すとともに、高精度の
要求されない温度Ｔmi n 〜Ｔ1 の間および温度Ｔ2 〜Ｔ
max の間については、量子化ステップ幅ΔＴLの大雑把
な量子化を施し、測定温度範囲である温度Ｔmin 〜Ｔ
max の全範囲の温度測定をカバーしつつ、且つ、高精度
の要求される部分にあっては要求に答えつつ、しかも、
量子化ビット数を例えば４ビットと少なくすることがで
きる。
ＴS という高精度の量子化を温度Ｔ min 〜Ｔmax の全範
囲で実現するには、例えば量子化ビット数を５ビットに
して細かく量子化し、一つの纏まった測定温度値として
５ビットを取り扱わなければならないところ、高精度の
要求される温度Ｔ1 〜Ｔ2 の間についてのみ量子化ステ
ップ幅ΔＴS の細かな量子化を施すとともに、高精度の
要求されない温度Ｔmi n 〜Ｔ1 の間および温度Ｔ2 〜Ｔ
max の間については、量子化ステップ幅ΔＴLの大雑把
な量子化を施し、測定温度範囲である温度Ｔmin 〜Ｔ
max の全範囲の温度測定をカバーしつつ、且つ、高精度
の要求される部分にあっては要求に答えつつ、しかも、
量子化ビット数を例えば４ビットと少なくすることがで
きる。
【００３７】従って、例えば「２７°Ｃ」という一つの
纏まった測定温度値を、マイクロコンピュータにより、
所定のシリアルデータ伝送フォーマットに整えてデータ
伝送部３から送信先の外部装置に伝送するにしても、高
精度の要求される部分にあっては要求に答えつつ、一つ
の纏まった測定温度値を少ない量子化ビット数にて取り
扱うことが可能となる。
纏まった測定温度値を、マイクロコンピュータにより、
所定のシリアルデータ伝送フォーマットに整えてデータ
伝送部３から送信先の外部装置に伝送するにしても、高
精度の要求される部分にあっては要求に答えつつ、一つ
の纏まった測定温度値を少ない量子化ビット数にて取り
扱うことが可能となる。
【００３８】つまり、送信先の外部装置に対する測定温
度値の伝送速度を落とすことなく、高精度の要求される
部分にあっては要求に答えることのできる、優れたデジ
タル温度測定方法およびその装置を提供することができ
る。なお、上記の実施の形態としては、測定対象のアナ
ログ物理量として温度を想定したが、温度に限定される
ものではなく、トランスジューサとしてロードセルなど
を用いたデジタル応力歪測定や、トランスジューサとし
てフォトダイオードを用いたデジタル照度測定などにも
応用できることは言うまでもない。
度値の伝送速度を落とすことなく、高精度の要求される
部分にあっては要求に答えることのできる、優れたデジ
タル温度測定方法およびその装置を提供することができ
る。なお、上記の実施の形態としては、測定対象のアナ
ログ物理量として温度を想定したが、温度に限定される
ものではなく、トランスジューサとしてロードセルなど
を用いたデジタル応力歪測定や、トランスジューサとし
てフォトダイオードを用いたデジタル照度測定などにも
応用できることは言うまでもない。
【００３９】
【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、入力上下
限範囲内の入力の量子化ビット数を一定に保ちつつ、前
記入力上下限範囲内の所定入力範囲に対してビット当た
りの重みを変えるので、測定範囲を広くしても必要な範
囲では高測定精度を得ることができ、且つ、測定値を外
部装置に対して速く送ることのできる、優れたデジタル
測定方法を提供できるという効果を奏する。
限範囲内の入力の量子化ビット数を一定に保ちつつ、前
記入力上下限範囲内の所定入力範囲に対してビット当た
りの重みを変えるので、測定範囲を広くしても必要な範
囲では高測定精度を得ることができ、且つ、測定値を外
部装置に対して速く送ることのできる、優れたデジタル
測定方法を提供できるという効果を奏する。
【００４０】請求項２記載の発明によれば、請求項１記
載の効果に加えて更に、演算手段の変更によって、測定
値を外部装置に対して送る速度を一定に保ちつつ、高測
定精度の測定範囲や測定精度をフレキシブルに変更した
りすることのできる、優れたデジタル測定方法を提供で
きるという効果を奏する。
載の効果に加えて更に、演算手段の変更によって、測定
値を外部装置に対して送る速度を一定に保ちつつ、高測
定精度の測定範囲や測定精度をフレキシブルに変更した
りすることのできる、優れたデジタル測定方法を提供で
きるという効果を奏する。
【００４１】請求項３記載の発明によれば、請求項１記
載の効果に加えて更に、請求項２記載の発明と比較し
て、高分解能の（量子化ステップ幅の細かい）Ａ／Ｄ変
換部を必要とせず、取り扱いビット数も少なく、測定値
の高速処理の可能な、優れたデジタル測定方法を提供で
きるという効果を奏する。
載の効果に加えて更に、請求項２記載の発明と比較し
て、高分解能の（量子化ステップ幅の細かい）Ａ／Ｄ変
換部を必要とせず、取り扱いビット数も少なく、測定値
の高速処理の可能な、優れたデジタル測定方法を提供で
きるという効果を奏する。
【００４２】請求項４記載の発明によれば、所定入力範
囲に対してビット当たりの重みを変えることができるの
で、測定範囲を広くしても量子化ビット数を一定に保ち
つつ必要な範囲では高測定精度を得ることができ、且
つ、測定値を外部装置に対して速く送ることのできる、
優れたデジタル測定装置を提供できるという効果を奏す
る。
囲に対してビット当たりの重みを変えることができるの
で、測定範囲を広くしても量子化ビット数を一定に保ち
つつ必要な範囲では高測定精度を得ることができ、且
つ、測定値を外部装置に対して速く送ることのできる、
優れたデジタル測定装置を提供できるという効果を奏す
る。
【００４３】請求項５記載の発明によれば、所定入力範
囲に対してビット当たりの重みを変えることができるの
で、測定範囲を広くしても量子化ビット数を一定に保ち
つつ必要な範囲では高測定精度を得ることができ、且
つ、測定値を外部装置に対して速く送ることができ、更
に、請求項４記載の発明と比較して、高分解能の（量子
化ステップ幅の細かい）Ａ／Ｄ変換部を必要とせず、取
り扱いビット数も少なく、測定値の高速処理の可能な、
優れたデジタル測定装置を提供できるという効果を奏す
る。
囲に対してビット当たりの重みを変えることができるの
で、測定範囲を広くしても量子化ビット数を一定に保ち
つつ必要な範囲では高測定精度を得ることができ、且
つ、測定値を外部装置に対して速く送ることができ、更
に、請求項４記載の発明と比較して、高分解能の（量子
化ステップ幅の細かい）Ａ／Ｄ変換部を必要とせず、取
り扱いビット数も少なく、測定値の高速処理の可能な、
優れたデジタル測定装置を提供できるという効果を奏す
る。
【図１】本発明に係る一実施の形態のデジタル測定装置
を説明する要部ブロック図である。
を説明する要部ブロック図である。
【図２】上記デジタル測定装置の量子化方法を示す説明
図である。
図である。
【図３】本発明に係る他の実施の形態のデジタル測定装
置を説明する要部ブロック図である。
置を説明する要部ブロック図である。
【図４】上記デジタル測定装置の量子化方法を示す説明
図である。
図である。
【図５】従来のデジタル測定装置を説明する要部ブロッ
ク図である。
ク図である。
【図６】従来のデジタル測定装置の量子化方法を示す説
明図である。
明図である。
１ 増幅部 ２ Ａ／Ｄ変換部 ３ データ伝送部 ４ 重み変え演算手段 Ｒth トランスジューサ Ｔ 測定対象のアナログ物理量
Claims (5)
- 【請求項１】 測定対象のアナログ物理量をトランスジ
ューサにて電気的なアナログ電圧に変換し、該アナログ
電圧をＡ／Ｄ変換部でデジタル値に変換したうえで、該
デジタル値を前記アナログ物理量の測定データとして外
部装置にデジタル伝送するためのデジタル測定方法であ
って、入力上下限範囲内の入力の量子化ビット数を一定
に保つとともに、前記入力上下限範囲内の所定入力範囲
に対してビット当たりの重みを変えることを特徴とする
デジタル測定方法。 - 【請求項２】 前記ビット当たりの重み変えは、Ａ／Ｄ
変換部の後段に介在させる重み変え演算手段を以て行う
ことを特徴とするデジタル測定方法。 - 【請求項３】 前記ビット当たりの重み変えは、Ａ／Ｄ
変換部の前段に介在させる増幅部の増幅率を所定入力範
囲に対して変えることを以て行うことを特徴とするデジ
タル測定方法。 - 【請求項４】 測定対象のアナログ物理量を電気的なア
ナログ電圧に変換するトランスジューサと、トランスジ
ューサの出力するアナログ電圧を増幅する増幅部と、増
幅部の出力するアナログ電圧をデジタル値に変換するＡ
／Ｄ変換部と、Ａ／Ｄ変換部の変換したデジタル値に基
づいて所定範囲のデジタル値に対しビット当たりの重み
変えを施す重み変え演算手段と、重み変え演算手段の出
力するデジタル値を前記アナログ物理量の測定データと
して外部装置にデジタル伝送するデータ伝送部とを備え
ることを特徴とするデジタル測定装置。 - 【請求項５】 測定対象のアナログ物理量を電気的なア
ナログ電圧に変換するトランスジューサと、入力上下限
範囲に対する出力上下限範囲が固定されるとともにトラ
ンスジューサから入力されるアナログ電圧の所定入力範
囲に対して増幅率を異ならしめる増幅部と、増幅部の出
力するアナログ電圧をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換
部と、Ａ／Ｄ変換部の変換したデジタル値を前記アナロ
グ物理量の測定データとして外部装置にデジタル伝送す
るデータ伝送部とを備えることを特徴とするデジタル測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24200095A JPH0989588A (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | デジタル測定方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24200095A JPH0989588A (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | デジタル測定方法およびその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0989588A true JPH0989588A (ja) | 1997-04-04 |
Family
ID=17082769
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24200095A Pending JPH0989588A (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | デジタル測定方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0989588A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009180638A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Denso Corp | 物理量センサ |
| WO2013111863A1 (ja) * | 2012-01-25 | 2013-08-01 | 三菱電機株式会社 | 半導体素子の温度検出システム及び半導体モジュール並びに半導体モジュールシステム |
| WO2022153565A1 (ja) * | 2021-01-18 | 2022-07-21 | オムロン株式会社 | 情報処理装置、情報処理装置の制御方法および情報処理装置のプログラム |
-
1995
- 1995-09-20 JP JP24200095A patent/JPH0989588A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009180638A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | Denso Corp | 物理量センサ |
| WO2013111863A1 (ja) * | 2012-01-25 | 2013-08-01 | 三菱電機株式会社 | 半導体素子の温度検出システム及び半導体モジュール並びに半導体モジュールシステム |
| US9121772B2 (en) | 2012-01-25 | 2015-09-01 | Mitsubishi Electric Corporation | Semiconductor element temperature detecting system and semiconductor module and semiconductor module system |
| DE112013000693B4 (de) | 2012-01-25 | 2019-06-19 | Mitsubishi Electric Corporation | Halbleiterelement-Temperatur-Erfassungssystem und Halbleitermodul und Halbleitermodul-System |
| WO2022153565A1 (ja) * | 2021-01-18 | 2022-07-21 | オムロン株式会社 | 情報処理装置、情報処理装置の制御方法および情報処理装置のプログラム |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4875048A (en) | Two-step parallel analog to digital converter | |
| GB2253959A (en) | Subranging analog to digital converter | |
| WO2003077447A1 (fr) | Module recepteur de lumiere a regulation numerique et procede de regulation associe | |
| JPS5873231A (ja) | Ａｄ変換装置 | |
| JPH0989588A (ja) | デジタル測定方法およびその装置 | |
| US5568146A (en) | Digital/analog converter | |
| JP3513971B2 (ja) | バッテリ温度検出装置 | |
| CN113517891B (zh) | 一种应用于数模转换器的线性校准系统和方法 | |
| JPH05196657A (ja) | 交流電圧のピーク値測定法 | |
| US10942069B2 (en) | Temperature measurement apparatus | |
| JPH06334523A (ja) | アナログ−ディジタル変換装置 | |
| JPS5913418A (ja) | 信号処理装置 | |
| JP7111913B1 (ja) | 回路装置 | |
| JPS6041327A (ja) | アナログ・ディジタル変換装置 | |
| JPH0338779B2 (ja) | ||
| CN112781743B (zh) | 一种应用于SoC的CMOS温度传感器电路及其工作方法 | |
| JPS5847008B2 (ja) | 計重方式 | |
| JPH08292215A (ja) | バッテリ電圧測定装置 | |
| JPH0514200A (ja) | 高精度化ａｄコンバータ | |
| JP3027852B2 (ja) | 自動調整機能付対数増幅器 | |
| JPH04294229A (ja) | 温度検出装置 | |
| SU1449845A1 (ru) | Многоканальное измерительное устройство дл дифференциальных индуктивных датчиков | |
| JPH066227A (ja) | アナログ−デジタルコンバータ | |
| KR100335136B1 (ko) | 신호 변환 장치 | |
| JPS6068726A (ja) | 並列形アナログ・ディジタル変換器の基準電圧補償回路 |