JPH0983342A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JPH0983342A
JPH0983342A JP7239779A JP23977995A JPH0983342A JP H0983342 A JPH0983342 A JP H0983342A JP 7239779 A JP7239779 A JP 7239779A JP 23977995 A JP23977995 A JP 23977995A JP H0983342 A JPH0983342 A JP H0983342A
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electrode
switch means
fet
power supply
supply potential
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JP7239779A
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Kaoru Kanamaru
薫 金丸
Norihiko Satani
憲彦 佐谷
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Oki Electric Industry Co Ltd
Oki Micro Design Miyazaki Co Ltd
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Oki Electric Industry Co Ltd
Oki Micro Design Miyazaki Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体集積回路装置の貫通電流を減少させ
る。 【構成】 入力信号DINが“H”レベルから“L”レ
ベルに遷移すると、ノードN1が“L”レベルから
“H”レベルに遷移して、N−FETQ6はオフ状態か
らオン状態になるとともに、N−FETQ21はオフ状
態からオン状態になる。そのためノードN2の電位は、
従来の回路よりも早くP−FETQ5をオフ状態にする
電位になる。よって、P−FETQ5とN−FETQ6
が同時にオン状態となる期間が従来の回路のそれよりも
短くなり、P−FETQ5とN−FETQ6とを通して
流れる貫通電流I11が従来よりも減少する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レベルシフタ回
路、トライステート回路等の半導体集積回路装置の貫通
電流を少なくすることに関するものである。
【0002】
【従来の技術】図2は、従来の相補型絶縁ゲート型電界
効果トランジスタ(以下、CMOSFETと呼ぶ)を用
いたE1レベルの電圧をE2レベルの電圧に変換するレ
ベルシフタ回路の回路図である。このレベルシフタ回路
は、Pチャネル型絶縁ゲート電界効果トランジスタ(以
下、P−FETと呼ぶ)Q1、Nチャネル型絶縁ゲート
電界効果トランジスタ(以下、N−FETと呼ぶ)Q
2、及び第1のスイッチ手段としてのN−FETQ4と
を有している。P−FETQ1のゲートには入力信号D
INが入力され、ソースには電源電位E1が接続され、
ドレインにはN−FETQ2のドレイン及び第2のスイ
ッチ手段としてのN−FETQ6の制御電極としてのゲ
ートが接続されている。N−FETQ2のゲートには入
力信号DINが入力され、ソースには接地電位が接続さ
れている。N−FETQ4のゲートには入力信号DIN
が入力され、第2の電極としてのソースには第1の電源
電位とての接地電位が接続され、第1の電極としてのド
レインには第3のスイッチ手段としてのP−FETQ3
の第2の電極としてのドレイン及び第4のスイッチ手段
としてのP−FETQ5の制御電極としてのゲートが接
続されている。N−FETQ3の第1の電極としてのソ
ースには第2の電源電位としての電源電位E2が接続さ
れている。P−FETQ5の第1の電極としてのソース
には第2の電源電位としての電源電位E2が接続されて
いる。P−FETQ5の第2の電極としてのドレインか
ら出力信号DOUT1が出力される。I1はN−FET
Q6を流れる電流、N1はP−FETQ1のドレインの
ノード、N2はP−FETQ3のドレインのノードであ
る。
【0003】図3は、図1及び図2のレベルシフタ回路
の動作波形図である。以下、この図を参照しつつ図2の
レベルシフト回路の動作を説明する。入力信号DINに
N−FETQ2、Q4の閾値電圧よりも十分大きいE1
レベルの(以下、“H”レベルと呼ぶ)信号が入力され
ると、N−FETQ4がオン状態となりノードN2の電
位は接地レベル(以下、“L”レベルと呼ぶ)となる。
また、P−FETQ1はオフ状態、N−FETQ2はオ
ン状態となりノードN1の電位は“L”レベルになる。
ノードN1が“L”レベルのため、N−FETQ6はオ
フ状態となり、ノードN2が“L”レベルのためP−F
ETQ5がオン状態となり、出力DOUT1にE2レベ
ルの“H”レベルの信号が出力される。入力信号DIN
にN−FETQ2、Q4の閾値電圧よりも十分小さい
“L”レベルの信号が入力されると、N−FETQ2、
Q4がオフ状態となる。P−FETQ1がオン状態にな
るため、ノードN1の電位は“H”レベルになる。よっ
て、N−FETQ6がオン状態となり、DOUT1には
“L”レベルの信号が出力される。
【0004】図4は、従来のレベルシフタを用いた半導
体集積回路装置のトライステート回路の回路図である。
このトライステート回路には、入力信号DINと出力制
御信号HZCを入力する2入力NANDゲート1と入力
信号DINの逆相の入力信号BDINと出力制御信号H
ZCを入力する2入力NANDゲート2とレベルシフタ
5、6とを有している。NANDゲート1の出力側に
は、インバータ3が接続されている。インバータ3の出
力側には、インバータ4及びレベルシフタ5のN−FE
TQ6−1のゲートが接続されている。インバータ4の
出力側には、レベルシフタ5のN−FETQ4−1のゲ
ートが接続されている。NANDゲート2の出力側に
は、レベルシフタ6のN−FETQ4−2及びインバー
タ7が接続されている。インバータ7の出力側には、レ
ベルシフタ6のN−FETQ6−2のゲートが接続され
ている。レベルシフタ5のP−FETQ3−1、N−F
ETQ4−1、P−FETQ5−1、N−FETQ6−
1、レベルシフタ6のP−FETQ3−2、N−FET
Q4−2、P−FETQ5−2、N−FETQ6−2
は、図2中のP−FETQ3、N−FETQ4、P−F
ETQ5、N−FETQ6とそれぞれ同様の要素であ
る。
【0005】レベルシフタ5のP−FETQ5−1のド
レインにはP−FETQ8のゲートが接続されている。
レベルシフタ6のP−FETQ5−2のドレインにはイ
ンバータ8が接続されて、さらにその出力側には、N−
FETQ9のゲートが接続されている。P−FETQ8
のソースには、電源電位E2が接続され、ドレインに
は、N−FETQ9のドレインが接続されている。N−
FETQ9のソースには、接地電位が接続されている。
P−FETQ8のドレインから出力信号DOUT1が出
力される。OH1はレベルシフタ5のP−FETQ5−
1のドレインの出力信号、OL1はレベルシフタ6のP
−FETQ5−2のドレインの出力信号である。I2
は、N−FETQ4−1を流れる電流、I3はN−FE
TQ6−1を流れる電流、I4はN−FETQ4−2を
流れる電流、I5はN−FETQ6−2を流れる電流で
ある。
【0006】図6(a)〜(b)は、図4及び図5の動
作波形図である。以下、この図を参照しつつ図4のトラ
イステート回路の動作(1)、(2)を説明する。 (1) 出力させない場合 出力制御信号HZCが“L”レベルとなり、出力信号O
H1に“H”レベル、出力信号OL1に“L”レベルが
出力され、出力信号DOUT1はハイインピーダンスと
なる。 (2) 出力可能の時 出力制御信号HZCが“H”レベルとなり、入力信号D
INに“H”レベル、入力信号BDINに“L”レベル
が入力されると、OH1に“L”レベル、OL1に
“L”レベルが出力され、P−FETQ8がオン状態、
N−FETQ9がオフ状態となり、出力信号DOUT1
に“H”レベルが出力される。また、入力信号DINに
“L”レベル、BDINに“H”レベルが入力される
と、OH1に“H”レベル、OL1に“H”レベルが出
力され、N−FETQ9がオン状態、P−FETQ8が
オフ状態、となり、出力信号DOUT1に“L”レベル
が出力される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
半導体集積回路装置においては、次のような課題があっ
た。図7は図1及び図2の電流波形図、図8は図4及び
図5の電流波形図である。以下、これらの図を参照しつ
つ問題点を説明する。入力信号DINが“H”レベルか
ら“L”レベルに遷移すると、図2中のノードN1が
“L”レベルから“H”レベルに遷移してN−FETQ
6がオフ状態からオン状態になり、出力信号DOUT1
が“L”レベルとなる。しかし、N−FETQ6がオン
状態になってから、P−FETQ3がオン状態、ノード
N2が“H”レベル、P−FETQ5がオフ状態に順次
推移するまでは、P−FETQ5がオン状態である。そ
のため、P−FETQ5とN−FETQ6がともにオン
状態となる期間が存在し、図7に示すように、P−FE
TQ5とN−FETQ6を通して貫通電流I1が発生す
るという問題点があった。また、図4のトライステート
回路についても同様に、図8に示すように、入力信号D
INが“L”レベルから“H”レベルに遷移する時、貫
通電流I3、入力信号DINが“H”レベルから“L”
レベルに遷移する時、貫通電流I2、入力信号BDIN
が“L”レベルから“H”レベルに遷移する時、貫通電
流I5、入力信号BDINが“H”レベルから“L”レ
ベルに遷移する時、貫通電流I4がそれぞれ発生すると
いう問題点があった。
【0008】
【課題を解決するための手段】第1の発明は、前記課題
を解決するために、入力信号を入力し導通を制御する制
御電極と第1の電極と第1の電源電位に接続されたまた
は出力動作時に前記第1の電源電位に接続される第2の
電極とを有する第1のスイッチ手段と、前記第1のスイ
ッチ手段に対して相補的に導通を制御する制御電極と第
1の電極と前記第1の電源電位に接続されたまたは出力
動作時に前記第1の電源電位に接続される第2の電極と
を有する第2のスイッチ手段と、前記第2のスイッチ手
段の第1の電極に接続され前記第1のスイッチ手段に対
して相補的に導通を制御する制御電極と第2の電源電位
に接続されたまたは前記第2の電源電位に出力動作時に
前記第2の電源電位に接続される第1の電極と第2の電
極とを有する第3のスイッチ手段と、前記第1のスイッ
チ手段の第1の電極に接続され前記第2のスイッチ手段
に対して相補的に導通を制御する制御電極と前記第2の
電源電位に接続されたまたは出力動作時に前記第2の電
源電位に接続される第1の電極と前記第2のスイッチ手
段の第1の電極に接続された第2の電極とを有する第4
のスイッチ手段とを、備えた半導体集積回路装置におい
て、以下の手段を設けている。すなわち、前記第1のス
イッチ手段の第1の電極と前記第3のスイッチ手段の第
2の電極との間に、前記入力信号または入力信号に基づ
く信号を入力し前記第1のスィッチ手段に対して相補的
に導通を制御する制御電極と第1の電極と第2の電極と
を有する第5のスイッチ手段を設けている。
【0009】第2の発明は、第1の発明と同様の半導体
集積回路装置において、以下の手段を設けている。すな
わち、第1の発明の前記入力信号または入力信号に基づ
く信号を入力し前記第1のスィッチ手段に対して相補的
に導通を制御する制御電極と前記第3のスイッチ手段の
第1の電極に接続された第1の電極と前記第3のスイッ
チ手段の第2の電極に接続された第2の電極とを有する
第5のスイッチ手段を設けている。第3の発明は、第1
の発明と同様の半導体集積回路装置において、以下の手
段を設けている。前記第2のスイッチ手段の第1の電極
と前記第4のスイッチ手段の第2の電極との間に、前記
第2のスイッチ手段の制御電極と同じ入力信号を入力し
前記第2のスィッチ手段に対して相補的に導通を制御す
る制御電極と第1の電極と第2の電極とを有する第5の
スイッチ手段を設けている。
【0010】第1の発明によれば、以上のように半導体
集積回路装置を構成したので、第1のスイッチ手段に対
して相補的に第5のスイッチ手段により導通を制御し第
1の電源電位と第2の電源電位との間の電流パスを遮断
する。第2の発明によれば、第5のスイッチ手段により
第3のスイッチ手段の第2の電極の電位を入力信号の信
号レベルの変化により早く追随して変化させるので、第
4のスイッチ手段の導通がより早く制御される。第3の
発明によれば、第2のスイッチ手段に対して相補的に第
5のスイッチ手段により導通を制御し第1の電源電位と
第2の電源電位との間の電流パスを遮断する。従って、
前記課題を解決できるのである。
【0011】
【発明の実施の形態】第1の実施形態 図1は、本発明の第1の実施形態を示す半導体集積回路
装置のレベルシフタ回路の回路図であり、図2中の要素
と同様の要素には同一の符号を付してある。このレベル
シフタ回路は、従来のレベルシフタ回路と異なる点は、
第3のスイッチ手段としてのP−FETQ3に対して並
列に第5のスイッチ手段としてのN−FETQ21を設
けたことである。図に示すように、N−FETQ21の
ゲートには、ノードN1が接続され、N−FETQ21
の第1の電極としてのドレインには、第2の電源電位と
しての電源電位E2が接続され、N−FETQ21の第
2の電極としてのソースには、ノードN2が接続されて
いる。I11はN−FETQ6を流れる電流であり、D
OUT2は出力信号である。
【0012】次に、図3及び図7を参照しつつこのレベ
ルシフタ回路の動作を説明する。入力信号DINが
“H”レベルから“L”レベルに遷移すると、ノードN
1が“L”レベルから“H”レベルに遷移して、N−F
ETQ6はオフ状態からオン状態になるとともに、N−
FETQ21はオフ状態からオン状態になる。そのため
ノードN2の電位は、図2の従来の回路よりも早くP−
FETQ5をオフ状態にする電位になる。よって、P−
FETQ5とN−FETQ6が同時にオン状態となる期
間が従来の回路のそれよりも短くなり、図7に示すよう
にP−FETQ5とN−FETQ6とを通して流れる貫
通電流I11が従来よりも減少する。また、図3に示す
ようにこの時の入力から出力までの時間も従来の回路と
ほとんど変わらない。以上のように、本第1の実施形態
では、入力信号DINのレベルの変化に即座に対応して
ノードN2の電位をP−FETQ5をオフ状態にする電
位にするためのN−FETQ21を設けたので、N−F
ETQ6に流れる貫通電流I11を減少させることがで
きるという利点がある。
【0013】第2の実施形態 図5は、第2の実施形態を示す半導体集積回路装置のト
ライステート回路の回路図であり、図4中の要素と同様
の要素には同一の符号を付してある。このトライステー
ト回路は、図4の従来のトライステート回路と異なる点
は、貫通電流を少なくするために第1のスイッチ手段と
してのN−FETQ4−1、Q4−2と第3のスイッチ
手段としてのP−FETQ3−1,Q3−2との間にそ
れぞれ第5のスイッチ手段としてのP−FETQ31−
1、Q31−2、と第2のスイッチ手段としてのN−F
ETQ6−1、Q6−2と第4のスイッチ手段としての
P−FETQ5−1,Q5−2との間にそれぞれ第5の
スイッチ手段としてのP−FETQ32−1、Q32−
2とを設け、さらに出力動作を制御するためのP−FE
TQ33−1、Q33−2、N−FETQ34−1、Q
34−2、及びN−FETQ35−1、Q35−2を設
けたことである。図に示すように、このトライステート
回路は、レベルシフタ21、22、インバータ23,2
4,25,26を有している。入力信号DINは、レベ
ルシフタ21のP−FETQ31−1のゲート、N−F
ETQ4−1のゲート、及びインーバータ23に入力さ
れる。P−FETQ31−1の第1の電極としてのソー
スには、P−FETQ3−1のドレインが接続され、第
2の電極としてのドレインには、N−FETQ4−1の
ドレインが接続されている。インバータ23の出力側に
は、P−FET32−1の制御電極としてのゲート、及
びN−FETQ6−1のゲートが接続されている。P−
FETQ32−1の第1の電極としてのソースには、P
−FETQ5−1のドレインが接続され、第2の電極と
してのドレインには、N−FETQ6−1のドレインが
接続されている。
【0014】入力信号DINと逆相の入力信号BDIN
は、レベルシフタ22のP−FETQ31−2のゲー
ト、N−FETQ4−2のゲート、及びインーバータ2
4に入力される。P−FETQ31−2のドレインに
は、N−FETQ4−2のドレインが接続されている。
インバータ24の出力側には、P−FET32−1のゲ
ート、及びN−FETQ6−1のゲートが接続されてい
る。P−FETQ32−2の第1の電極としてのソース
には、P−FETQ5−2のドレインが接続され、第2
の電極としてのドレインには、N−FETQ6−2のド
レインが接続されている。出力制御信号HZCは、P−
FETQ33−1、Q33−2、N−FETQ34−
1、Q34−2、及びインバータ25に入力される。P
−FETQ33−1は、P−FETQ31−1と並列に
接続されている。P−FETQ33−2は、P−FET
Q31−2と並列に接続されている。N−FETQ34
−1は、N−FETQ4−1と直列に接続され、そのソ
ースには、接地電位が接続されている。N−FETQ3
4−2は、N−FETQ4−2と直列に接続され、その
ソースには、接地電位が接続されている。
【0015】インバータ25の出力側には、N−FET
Q35−1、Q35−2のゲートが接続されている。N
−FETQ35−1のソースには、接地電位が接続さ
れ、そのドレインには、P−FETQ32−1のドレイ
ン、及びインバータ26が接続されている。インバータ
26の出力側には、P−FETQ8のゲートが接続され
ている。N−FETQ35−2のソースには、接地電位
が接続され、そのドレインには、P−FETQ32−2
のドレイン及びN−FETQ9のゲートが接続されてい
る。OH2はインバータ26の出力信号、OL2はP−
FETQ32−2のドレインの出力信号、DOUT2
は、P−FETQ8のドレインの出力信号、N1−1は
インバータ23の出力ノード、N1−2はインバータ2
4の出力ノード、N2−1はP−FETQ31−1のド
レインのノード、N2−2はP−FETQ31−2のド
レインのノードである。N3は、P−FETQ32−1
のドレインのノードである。レベルシフタ21,22、
P−FETQ8、N−FETQ9、インバータ26の電
源電位はE2であり、インバータ23,24,25の電
源電位はE1である。
【0016】次に、図6を参照しつつ図4のトライステ
ート回路の動作(1)、(2)を説明する。 (1)出力させない場合 出力制御信号HZCが“L”レベルとなり、P−FET
Q33−1、Q33−2がオン状態、N−FETQ34
−1、Q34−2がオフ状態、N−FETQ35−1、
Q35−2がオン状態となる。P−FETQ3−1、Q
3−2がオン状態となり、ノードN2−1,N2−2が
“H”レベル、P−FETQ5−1,Q5−2がオフ状
態となる。出力信号OH2に“H”レベルの信号、出力
信号OL2に“L”レベルの信号が出力され、出力信号
DOUT2がハイインピーダンス状態となる。 (2)出力可能の時 出力制御信号HZCが“H”レベルとなり、P−FET
Q33−1,Q33−2がオフ状態、N−FETQ34
−1,Q34−2がオン状態、N−FETQ35−1,
Q35−2がオフ状態となる。入力信号DINが“L”
レベルの時、P−FETQ31−1がオン状態、ノード
N1−1が”H”レベル、N−FETQ6−1がオン状
態、ノードN3が“L”レベルとなる。よって、P−F
ETQ3−1がオン状態となり、ノードN2−1が
“H”レベルとなる。ここで入力信号DINが“L”レ
ベルから“H”レベルに遷移すると、N−FETQ4−
1はオン状態になる。この時、図8に示すようにP−F
ETQ3−1がオン状態にあるため、従来のトライステ
ート回路では、N−FETQ4−1に貫通電流I2が流
れるが、P−FETQ31−1を用いることにより、P
−FETQ31−1が即座にオフ状態となるので、P−
FETQ3−1がオン状態にあっても、貫通電流が流れ
ず、貫通電流I12が少なくなる。
【0017】また、N−FETQ4−1がオン状態にな
ることにより、ノードN2−1が“L”レベルとなり、
P−FETQ5−1がオン状態になる。一方、インーバ
ータ23の遅延により、ノードN1−1が“H”レベル
から“L”レベルに遷移するまでにある程度の時間を要
し、それまでの間、N−FETQ6−1はオン状態にあ
るため、図4のトライテート回路ではN−FETQ6−
1に貫通電流I3が流れるが、P−FETQ32−1を
用いることにより、P−FETQ32−1が即座にオフ
状態となるので、N−FETQ6−1がオン状態にあっ
ても、貫通電流が流れず、貫通電流I13が少なくな
る。レベルシフタ22についてもレベルシフタ21と同
様に動作し、P−FETQ31−2、N−FETQ32
−2を用いることにより貫通電流I14、I15が少な
くなる。
【0018】以上のように、本第2の実施形態では、P
−FETQ31−1、Q31−2、Q32−1、Q32
−2を設け、これらを入力信号DIN、入力信号DIN
の逆相の入力信号BDINのレベルの遷移に応答してオ
フ状態に変化させるので、N−FETQ4−1、Q4−
2、Q6−1、Q6−2の貫通電流I12、I14、I
13、I15をそれぞれ減少させることができるという
利点がある。なお、本発明は、上記実施形態に限定され
ず種々の変形が可能である。その変形例としては、例え
ば次のようなものがある。 (1) 図1中のN−FETQ21の代わりにP−FE
Tに置き換え、そのゲートに入力信号DINを入力する
ような構成にしてもよい。 (2) 本実施形態では、CMOSFETの場合を説明
したが同様の極性を有するバイポーラトランジスタであ
ってもよい。 (3) 図1中または図5中のCMOSFET及び電源
電位の極性を反転することも可能である。
【0019】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、第1の発明
によれば、第1のスイッチ手段の第1の電極と第3のス
イッチ手段の第2の電極との間に、入力信号または入力
信号に基づく信号を入力し第1のスィッチ手段に対して
相補的に導通を制御する制御電極と第1の電極と第2の
電極とを有する第5のスイッチ手段を設けたので、第1
の電源電位と第2の電源電位との間の貫通電流をより少
なくすることができる。第2の発明によれば、入力信号
または入力信号に基づく信号を入力し前記第1のスィッ
チ手段に対して相補的に導通を制御する制御電極と第3
のスイッチ手段の第1の電極に接続された第1の電極と
前記第3のスイッチ手段の第2の電極に接続された第2
の電極とを有する第5のスイッチ手段を設けたので、第
1の電源電位と第2の電源電位との間の貫通電流を少な
くすることができる。第3の発明によれば、第2のスイ
ッチ手段の第1の電極と第4のスイッチ手段の第2の電
極との間に、入力信号または入力信号に基づく信号を入
力し第1のスィッチ手段に対して相補的に導通を制御す
る制御電極と第1の電極と第2の電極とを有する第5の
スイッチ手段を設けたので、第1の電源電位と第2の電
源電位との間の貫通電流をより少なくすることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態を示す半導体集積回路
装置のレベルシフタ回路の回路図である。
【図2】従来の半導体集積回路装置のレベルシフタ回路
の回路図である。
【図3】図1及び図2の動作波形図である。
【図4】従来の半導体集積回路装置のトライステート回
路の回路図である。
【図5】本発明の第2の実施形態を示す半導体集積回路
装置のトライステート回路の回路図である。
【図6】図4及び図5の動作波形図である。
【図7】図1及び図2の電流波形図である。
【図8】図4及び図5の電流波形図である。
【符号の説明】
Q4,Q4−1,Q4−2 N−FET(第1の
スイッチ手段) Q6,Q6−1,Q6−2 N−FET(第2の
スイッチ手段) Q3,Q3−1,Q3−2 P−FET(第3の
スイッチ手段) Q5,Q5−1,Q5−2 P−FET(第4の
スイッチ手段) Q21 N−FET(第5の
スイッチ手段) Q31−1,Q31−2 P−FET(第5の
スイッチ手段) Q32−1,Q32−2 P−FET(第5の
スイッチ手段)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力信号を入力し導通を制御する制御電
    極と第1の電極と第1の電源電位に接続されたまたは出
    力動作時に前記第1の電源電位に接続される第2の電極
    とを有する第1のスイッチ手段と、 前記第1のスイッチ手段に対して相補的に導通を制御す
    る制御電極と第1の電極と前記第1の電源電位に接続さ
    れたまたは出力動作時に前記第1の電源電位に接続され
    る第2の電極とを有する第2のスイッチ手段と、 前記第2のスイッチ手段の第1の電極に接続され前記第
    1のスイッチ手段に対して相補的に導通を制御する制御
    電極と第2の電源電位に接続されたまたは前記第2の電
    源電位に出力動作時に前記第2の電源電位に接続される
    第1の電極と第2の電極とを有する第3のスイッチ手段
    と、 前記第1のスイッチ手段の第1の電極に接続され前記第
    2のスイッチ手段に対して相補的に導通を制御する制御
    電極と前記第2の電源電位に接続されたまたは出力動作
    時に前記第2の電源電位に接続される第1の電極と前記
    第2のスイッチ手段の第1の電極に接続された第2の電
    極とを有する第4のスイッチ手段とを、 備えた半導体集積回路装置において、 前記第1のスイッチ手段の第1の電極と前記第3のスイ
    ッチ手段の第2の電極との間に、前記入力信号または入
    力信号に基づく信号を入力し前記第1のスィッチ手段に
    対して相補的に導通を制御する制御電極と第1の電極と
    第2の電極とを有する第5のスイッチ手段を設けたこと
    を特徴とする半導体集積回路装置。
  2. 【請求項2】 入力信号を入力し導通を制御する制御電
    極と第1の電極と第1の電源電位に接続されたまたは出
    力動作時に前記第1の電源電位に接続される第2の電極
    とを有する第1のスイッチ手段と、 前記第1のスイッチ手段に対して相補的に導通を制御す
    る制御電極と第1の電極と前記第1の電源電位に接続さ
    れたまたは出力動作時に前記第1の電源電位に接続され
    る第2の電極とを有する第2のスイッチ手段と、 前記第2のスイッチ手段の第1の電極に接続され前記第
    1のスイッチ手段に対して相補的に導通を制御する制御
    電極と第2の電源電位に接続されたまたは前記第2の電
    源電位に出力動作時に前記第2の電源電位に接続される
    第1の電極と第2の電極とを有する第3のスイッチ手段
    と、 前記第1のスイッチ手段の第1の電極に接続され前記第
    2のスイッチ手段に対して相補的に導通を制御する制御
    電極と前記第2の電源電位に接続されたまたは出力動作
    時に前記第2の電源電位に接続される第1の電極と前記
    第2のスイッチ手段の第1の電極に接続された第2の電
    極とを有する第4のスイッチ手段とを、 備えた半導体集積回路装置において、 前記入力信号または入力信号に基づく信号を入力し前記
    第1のスィッチ手段に対して相補的に導通を制御する制
    御電極と前記第3のスイッチ手段の第1の電極に接続さ
    れた第1の電極と前記第3のスイッチ手段の第2の電極
    に接続された第2の電極とを有する第5のスイッチ手段
    を設けたことを特徴とする半導体集積回路装置。
  3. 【請求項3】 入力信号を入力し導通を制御する制御電
    極と第1の電極と第1の電源電位に接続されたまたは出
    力動作時に前記第1の電源電位に接続される第2の電極
    とを有する第1のスイッチ手段と、 前記第1のスイッチ手段に対して相補的に導通を制御す
    る制御電極と第1の電極と前記第1の電源電位に接続さ
    れたまたは出力動作時に前記第1の電源電位に接続され
    る第2の電極とを有する第2のスイッチ手段と、 前記第2のスイッチ手段の第1の電極に接続され前記第
    1のスイッチ手段に対して相補的に導通を制御する制御
    電極と第2の電源電位に接続されたまたは前記第2の電
    源電位に出力動作時に前記第2の電源電位に接続される
    第1の電極と第2の電極とを有する第3のスイッチ手段
    と、 前記第1のスイッチ手段の第1の電極に接続され前記第
    2のスイッチ手段に対して相補的に導通を制御する制御
    電極と前記第2の電源電位に接続されたまたは出力動作
    時に前記第2の電源電位に接続される第1の電極と前記
    第2のスイッチ手段の第1の電極に接続された第2の電
    極とを有する第4のスイッチ手段とを、 備えた半導体集積回路装置において、 前記第2のスイッチ手段の第1の電極と前記第4のスイ
    ッチ手段の第2の電極との間に、前記第2のスイッチ手
    段の制御電極と同じ入力信号を入力し前記第2のスィッ
    チ手段に対して相補的に導通を制御する制御電極と第1
    の電極と第2の電極とを有する第5のスイッチ手段を設
    けたことを特徴とする半導体集積回路装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001144603A (ja) * 1999-11-18 2001-05-25 Oki Micro Design Co Ltd レベルシフタ回路およびそれを含むデータ出力回路
JP2012191333A (ja) * 2011-03-09 2012-10-04 Toshiba Corp 出力回路および出力制御システム

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US8502560B2 (en) 2011-03-09 2013-08-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Output circuit and output control system

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