JPH0983146A - 多層配線板及びその製造方法 - Google Patents
多層配線板及びその製造方法Info
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- JPH0983146A JPH0983146A JP7237391A JP23739195A JPH0983146A JP H0983146 A JPH0983146 A JP H0983146A JP 7237391 A JP7237391 A JP 7237391A JP 23739195 A JP23739195 A JP 23739195A JP H0983146 A JPH0983146 A JP H0983146A
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- Japan
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- energy beam
- energy
- mask
- via hole
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- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 エネルギービームを用いて生産性高く、ビア
ホールを正テーパ穴に形成することができるようにす
る。 【解決手段】 絶縁層2に穴明けを行なうよう絶縁層2
の厚さ方向にエネルギービームの照射を制御して形成し
たビアホール3で層間導通の少なくとも一部を行なうよ
うにした多層配線板を製造する。ビアホール3の加工に
エネルギービームを用い、加工面でのエネルギー分布を
中央位置が大に周辺位置が小になるように調整してエネ
ルギービームを絶縁層2に照射する。このことによっ
て、ビアホール3を深さ方向に向かって小径となるテー
パ穴に形成することができる。
ホールを正テーパ穴に形成することができるようにす
る。 【解決手段】 絶縁層2に穴明けを行なうよう絶縁層2
の厚さ方向にエネルギービームの照射を制御して形成し
たビアホール3で層間導通の少なくとも一部を行なうよ
うにした多層配線板を製造する。ビアホール3の加工に
エネルギービームを用い、加工面でのエネルギー分布を
中央位置が大に周辺位置が小になるように調整してエネ
ルギービームを絶縁層2に照射する。このことによっ
て、ビアホール3を深さ方向に向かって小径となるテー
パ穴に形成することができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ビアホールを設け
た多層配線板及びその製造方法に関するものである。
た多層配線板及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】多層配線板は絶縁層を介して回路を上下
複数層に設けて形成されるものであり、上下の回路間の
接続は、貫通するスルーホールによって行なう他に、絶
縁層にビアホール(viahole)を設け、このビア
ホールによっても上下の回路間の接続を行なうようにな
っている。
複数層に設けて形成されるものであり、上下の回路間の
接続は、貫通するスルーホールによって行なう他に、絶
縁層にビアホール(viahole)を設け、このビア
ホールによっても上下の回路間の接続を行なうようにな
っている。
【0003】そして従来、このようなビアホールの加工
技術としてはフォトエッチングあるいはケミカルエッチ
ングのようなエッチングによるものが多い。しかしなが
らフォトエッチングを行なうためには、絶縁層の樹脂材
料に制約があり、高耐熱性の多層配線板を製造すること
ができないという問題があり、またケミカルエッチング
は絶縁層に密着マスクを形成する必要があり、製造の工
程で大きな制約を受けるという問題がある。
技術としてはフォトエッチングあるいはケミカルエッチ
ングのようなエッチングによるものが多い。しかしなが
らフォトエッチングを行なうためには、絶縁層の樹脂材
料に制約があり、高耐熱性の多層配線板を製造すること
ができないという問題があり、またケミカルエッチング
は絶縁層に密着マスクを形成する必要があり、製造の工
程で大きな制約を受けるという問題がある。
【0004】そこで、レーザなどのエネルギービームを
用い、エネルギービームを絶縁層に照射することによっ
て、その熱エネルギーで絶縁層に穴加工を行なってビア
ホールを形成することが試みられている。しかし、結像
系のレーザLは一般的に結像時のエネルギー分布が均一
になるためにマスク位置でのエネルギー分布が図25
(a)に示すようなトップハット型に近いエネルギー分
布を有しており、図25(b)のように基板1の表面に
設けた絶縁層2に加工されるビアホール3は円筒型に形
成される。
用い、エネルギービームを絶縁層に照射することによっ
て、その熱エネルギーで絶縁層に穴加工を行なってビア
ホールを形成することが試みられている。しかし、結像
系のレーザLは一般的に結像時のエネルギー分布が均一
になるためにマスク位置でのエネルギー分布が図25
(a)に示すようなトップハット型に近いエネルギー分
布を有しており、図25(b)のように基板1の表面に
設けた絶縁層2に加工されるビアホール3は円筒型に形
成される。
【0005】このように、ビアホール3が円筒型に形成
されると、ビアホール3内にメッキ加工を行なう際に、
メッキ液がビアホール3内へ循環し難くなり、メッキ液
の循環不足によるビアホール3内へのメッキ付き性が低
下し、図25(c)のように回路16の周りのメッキ1
7の厚みが薄くなって、ビアホール3の底面の回路16
の部分に応力が集中して断線が発生するおそれがあると
いう問題が生じる。従って、ビアホール3は深さ方向に
向かって小径となるテーパ穴(正テーパ穴)に形成され
ていることが望ましい。このようにビアホール3が正テ
ーパ穴に形成されていると、メッキ液がビアホール3内
に循環することが容易になり、ビアホール3内へのメッ
キ付き性が向上するのである。
されると、ビアホール3内にメッキ加工を行なう際に、
メッキ液がビアホール3内へ循環し難くなり、メッキ液
の循環不足によるビアホール3内へのメッキ付き性が低
下し、図25(c)のように回路16の周りのメッキ1
7の厚みが薄くなって、ビアホール3の底面の回路16
の部分に応力が集中して断線が発生するおそれがあると
いう問題が生じる。従って、ビアホール3は深さ方向に
向かって小径となるテーパ穴(正テーパ穴)に形成され
ていることが望ましい。このようにビアホール3が正テ
ーパ穴に形成されていると、メッキ液がビアホール3内
に循環することが容易になり、ビアホール3内へのメッ
キ付き性が向上するのである。
【0006】そこで、レーザのようなエネルギービーム
を用いてビアホール3を加工するにあたって、ビアホー
ル3を正テーパ穴に形成することができるようにした技
術が特開平4−264797号公報で提供されている。
図26はその工程を示すものであり、まず図26(a)
のように回路16を形成した基板1の表面にポリイミド
による絶縁層2を設け、次に図26(b)のように第1
のマスク19を介してエキシマレーザLを照射してビア
ホールを形成する直前までの穴20を加工し、次に図2
6(c)のように穴14の箇所以外の絶縁層2に第2の
マスク21を介して紫外線Vを照射して露光し、この後
に絶縁層2を現像することによって、図26(d)のよ
うに深さ方向に向かって小径となる正テーパ穴にビアホ
ール3を形成することができるのである。
を用いてビアホール3を加工するにあたって、ビアホー
ル3を正テーパ穴に形成することができるようにした技
術が特開平4−264797号公報で提供されている。
図26はその工程を示すものであり、まず図26(a)
のように回路16を形成した基板1の表面にポリイミド
による絶縁層2を設け、次に図26(b)のように第1
のマスク19を介してエキシマレーザLを照射してビア
ホールを形成する直前までの穴20を加工し、次に図2
6(c)のように穴14の箇所以外の絶縁層2に第2の
マスク21を介して紫外線Vを照射して露光し、この後
に絶縁層2を現像することによって、図26(d)のよ
うに深さ方向に向かって小径となる正テーパ穴にビアホ
ール3を形成することができるのである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この特開平4
−264797号公報の方法では、レーザのようなエネ
ルギービームを照射する工程の他に、露光・現像の工程
が必要であり、生産性に問題を有するものであった。本
発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、エネルギ
ービームを用いて生産性高く、ビアホールを正テーパ穴
に形成することができる多層配線板及びその製造方法を
提供することを目的とするものである。
−264797号公報の方法では、レーザのようなエネ
ルギービームを照射する工程の他に、露光・現像の工程
が必要であり、生産性に問題を有するものであった。本
発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、エネルギ
ービームを用いて生産性高く、ビアホールを正テーパ穴
に形成することができる多層配線板及びその製造方法を
提供することを目的とするものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、絶縁
層2に穴明けを行なうよう絶縁層2の厚さ方向にエネル
ギービームの照射を制御して形成したビアホール3で層
間導通の少なくとも一部を行なうようにした多層配線板
において、ビアホール3をその内周面が傾斜し深さ方向
に向かって小径となるテーパ穴に形成して成ることを特
徴とするものである。
層2に穴明けを行なうよう絶縁層2の厚さ方向にエネル
ギービームの照射を制御して形成したビアホール3で層
間導通の少なくとも一部を行なうようにした多層配線板
において、ビアホール3をその内周面が傾斜し深さ方向
に向かって小径となるテーパ穴に形成して成ることを特
徴とするものである。
【0009】また請求項2の発明は、絶縁層2に穴明け
を行なうよう絶縁層2の厚さ方向にエネルギービームの
照射を制御して形成したビアホール3で層間導通の少な
くとも一部を行なうようにした多層配線板を製造するに
あたって、ビアホール3の加工にエネルギービームを用
い、加工面でのエネルギー分布を中央位置が大に周辺位
置が小になるように調整してエネルギービームを絶縁層
2に照射することによって、ビアホール3を深さ方向に
向かって小径となるテーパ穴に形成することを特徴とす
るものである。
を行なうよう絶縁層2の厚さ方向にエネルギービームの
照射を制御して形成したビアホール3で層間導通の少な
くとも一部を行なうようにした多層配線板を製造するに
あたって、ビアホール3の加工にエネルギービームを用
い、加工面でのエネルギー分布を中央位置が大に周辺位
置が小になるように調整してエネルギービームを絶縁層
2に照射することによって、ビアホール3を深さ方向に
向かって小径となるテーパ穴に形成することを特徴とす
るものである。
【0010】また、請求項3の発明は、中心部より複数
のスリット4を放射状に設けてビーム通過部5を形成し
たマスク6にエネルギービームを通過させ、このエネル
ギービームを絶縁層2に照射することを特徴とするもの
である。請求項4の発明は、中心の円形開口部7の周辺
に複数の周辺開口部8を同心円状に設けてビーム通過部
5を形成したマスク9にエネルギービームを通過させ、
このエネルギービームを絶縁層2に照射することを特徴
とするものである。
のスリット4を放射状に設けてビーム通過部5を形成し
たマスク6にエネルギービームを通過させ、このエネル
ギービームを絶縁層2に照射することを特徴とするもの
である。請求項4の発明は、中心の円形開口部7の周辺
に複数の周辺開口部8を同心円状に設けてビーム通過部
5を形成したマスク9にエネルギービームを通過させ、
このエネルギービームを絶縁層2に照射することを特徴
とするものである。
【0011】請求項5の発明は、請求項3又は4に記載
のマスク6,9を用い、エネルギービームをパルス発振
させると共にマスク6,9をエネルギービームの発振と
同期させてビーム通過部5を中心に回転させ、このマス
ク6,9を通過させたエネルギービームを絶縁層2に照
射することを特徴とするものである。請求項6の発明
は、請求項3又は4に記載のマスク6,9を用い、エネ
ルギービームを連続発振させると共にマスク6,9をビ
ーム通過部5を中心に回転させ、このマスク6,9を通
過させたエネルギービームを絶縁層2に照射することを
特徴とするものである。
のマスク6,9を用い、エネルギービームをパルス発振
させると共にマスク6,9をエネルギービームの発振と
同期させてビーム通過部5を中心に回転させ、このマス
ク6,9を通過させたエネルギービームを絶縁層2に照
射することを特徴とするものである。請求項6の発明
は、請求項3又は4に記載のマスク6,9を用い、エネ
ルギービームを連続発振させると共にマスク6,9をビ
ーム通過部5を中心に回転させ、このマスク6,9を通
過させたエネルギービームを絶縁層2に照射することを
特徴とするものである。
【0012】請求項7の発明は、ビーム通過部5を有す
るマスク10を通過させてエネルギービームを絶縁層2
に照射するにあたって、同一のマスク10を通過させた
エネルギービームの加工面での結像の縮小率を変えるこ
とによってエネルギー密度を変化させて複数回照射し、
加工面でのエネルギービームのエネルギー分布が中央位
置で大に周辺位置で小になるように調整したことを特徴
とするものである。
るマスク10を通過させてエネルギービームを絶縁層2
に照射するにあたって、同一のマスク10を通過させた
エネルギービームの加工面での結像の縮小率を変えるこ
とによってエネルギー密度を変化させて複数回照射し、
加工面でのエネルギービームのエネルギー分布が中央位
置で大に周辺位置で小になるように調整したことを特徴
とするものである。
【0013】請求項8の発明は、ビーム通過部5を有す
るマスク11を通過させてエネルギービームを絶縁層2
に照射するにあたって、径の異なるビーム通過部5a,
5bを有する複数のマスク11a,11bを用い、各マ
スク11a,11bを通過させたエネルギービームで複
数回照射することによって、加工面でのエネルギービー
ムのエネルギー分布が中央位置で大に周辺位置で小にな
るように調整したことを特徴とするものである。
るマスク11を通過させてエネルギービームを絶縁層2
に照射するにあたって、径の異なるビーム通過部5a,
5bを有する複数のマスク11a,11bを用い、各マ
スク11a,11bを通過させたエネルギービームで複
数回照射することによって、加工面でのエネルギービー
ムのエネルギー分布が中央位置で大に周辺位置で小にな
るように調整したことを特徴とするものである。
【0014】請求項9の発明は、エネルギービームとし
て2種類以上のものを用いることを特徴とするものであ
る。請求項10の発明は、複数穴のビアホール3を加工
するにあたって、各ビアホール3を形成する箇所毎にマ
スク11a,11bのビーム通過部ビーム通過部5a,
5bの径の変更あるいはデフォーカスによってエネルギ
ー密度を変化させたエネルギービームの照射を複数回ず
つ行なって、深さ方向に向かって小径となるテーパ穴の
ビアホール3を形成することを特徴とするものである。
て2種類以上のものを用いることを特徴とするものであ
る。請求項10の発明は、複数穴のビアホール3を加工
するにあたって、各ビアホール3を形成する箇所毎にマ
スク11a,11bのビーム通過部ビーム通過部5a,
5bの径の変更あるいはデフォーカスによってエネルギ
ー密度を変化させたエネルギービームの照射を複数回ず
つ行なって、深さ方向に向かって小径となるテーパ穴の
ビアホール3を形成することを特徴とするものである。
【0015】請求項11の発明は、マスク11a,11
bのビーム通過部ビーム通過部5a,5bの径の変更あ
るいはデフォーカスによってエネルギー密度を変化させ
たエネルギービームの照射を複数回ずつ行なって複数穴
のビアホール3を加工するにあたって、各ビアホール3
を形成する箇所にエネルギービームを順次照射し、この
順次照射するエネルギービームの照射をエネルギー密度
を変化させて複数回繰り返すことによって、深さ方向に
向かって小径となるテーパ穴のビアホール3を形成する
ことを特徴とするものである。
bのビーム通過部ビーム通過部5a,5bの径の変更あ
るいはデフォーカスによってエネルギー密度を変化させ
たエネルギービームの照射を複数回ずつ行なって複数穴
のビアホール3を加工するにあたって、各ビアホール3
を形成する箇所にエネルギービームを順次照射し、この
順次照射するエネルギービームの照射をエネルギー密度
を変化させて複数回繰り返すことによって、深さ方向に
向かって小径となるテーパ穴のビアホール3を形成する
ことを特徴とするものである。
【0016】請求項12の発明は、エネルギービームを
2分岐し、径の異なるビーム通過部5a,5bを有する
マスク12a,12bに分岐したエネルギービームをそ
れぞれ通過させた後、この分岐したエネルギービームを
重ね合わせることによって、加工面でのエネルギービー
ムのエネルギー分布が中央位置を大に周辺位置を小にな
るように調整したことを特徴とするものである。
2分岐し、径の異なるビーム通過部5a,5bを有する
マスク12a,12bに分岐したエネルギービームをそ
れぞれ通過させた後、この分岐したエネルギービームを
重ね合わせることによって、加工面でのエネルギービー
ムのエネルギー分布が中央位置を大に周辺位置を小にな
るように調整したことを特徴とするものである。
【0017】請求項13の発明は、エネルギービームを
2分岐し、2分岐した各エネルギービームを光学系で集
光させて、加工面に対して一方のエネルギービームをジ
ャストフォーカスに他方のエネルギービームをデフォー
カスになるように重ね合わせることによって、加工面で
のエネルギービームのエネルギー分布が中央位置を大に
周辺位置を小になるように調整したことを特徴とするも
のである。
2分岐し、2分岐した各エネルギービームを光学系で集
光させて、加工面に対して一方のエネルギービームをジ
ャストフォーカスに他方のエネルギービームをデフォー
カスになるように重ね合わせることによって、加工面で
のエネルギービームのエネルギー分布が中央位置を大に
周辺位置を小になるように調整したことを特徴とするも
のである。
【0018】請求項14の発明は、透過率が同心円状に
外側程低くなるビーム透過部13を有するフィルター1
4にエネルギービームを通過させて、エネルギービーム
を絶縁層2に照射することを特徴とするものである。請
求項15の発明は、エネルギービームを加工面でデフォ
ーカスさせて照射することによって、加工面でのエネル
ギービームのエネルギー分布が中央位置を大に周辺位置
を小になるように調整したことを特徴とするものであ
る。
外側程低くなるビーム透過部13を有するフィルター1
4にエネルギービームを通過させて、エネルギービーム
を絶縁層2に照射することを特徴とするものである。請
求項15の発明は、エネルギービームを加工面でデフォ
ーカスさせて照射することによって、加工面でのエネル
ギービームのエネルギー分布が中央位置を大に周辺位置
を小になるように調整したことを特徴とするものであ
る。
【0019】請求項16の発明は、エネルギービームに
よってビアホール3を加工した後、絶縁層2の表面を粗
化処理することを特徴とするものである。
よってビアホール3を加工した後、絶縁層2の表面を粗
化処理することを特徴とするものである。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を説明
する。基板1は例えば、片面銅張り積層板や両面銅張り
積層板などの金属箔を貼った積層板によって形成される
ものであり、金属箔をプリント配線加工することによっ
て、基板1の表層には図1(a)のように回路16が形
成してある。まずこの回路16の表面をエッチングによ
って粗化処理し、図1(b)のようにこの回路16を覆
って基板1の表面に絶縁層2を設ける。ここで、絶縁層
2の材料としてはセラミックや合成樹脂が挙げられる
が、本発明ではエネルギービームを用いることによっ
て、フォトエッチングを行なう必要なくビアホール3を
形成するようにしているために、絶縁層2として合成樹
脂を用いるにあたって樹脂材料に制限がなく、エポキシ
系樹脂などFR5相当の耐熱性樹脂を塗工して乾燥硬化
(あるいは半硬化)することによって絶縁層2を形成す
ることが可能になり、高耐熱性の多層配線板を製造する
ことが可能になるものである。
する。基板1は例えば、片面銅張り積層板や両面銅張り
積層板などの金属箔を貼った積層板によって形成される
ものであり、金属箔をプリント配線加工することによっ
て、基板1の表層には図1(a)のように回路16が形
成してある。まずこの回路16の表面をエッチングによ
って粗化処理し、図1(b)のようにこの回路16を覆
って基板1の表面に絶縁層2を設ける。ここで、絶縁層
2の材料としてはセラミックや合成樹脂が挙げられる
が、本発明ではエネルギービームを用いることによっ
て、フォトエッチングを行なう必要なくビアホール3を
形成するようにしているために、絶縁層2として合成樹
脂を用いるにあたって樹脂材料に制限がなく、エポキシ
系樹脂などFR5相当の耐熱性樹脂を塗工して乾燥硬化
(あるいは半硬化)することによって絶縁層2を形成す
ることが可能になり、高耐熱性の多層配線板を製造する
ことが可能になるものである。
【0021】そして、図1(c)に示すように、炭酸ガ
スレーザやエキシマレーザのような高エネルギーを有す
るエネルギービームBを絶縁層2に照射して穴明けする
ことによって、回路16が底面に露出するビアホール3
を形成することができる。ここで、エネルギービームB
を絶縁層2に照射してビアホール3を加工するにあたっ
て、エネルギービームBは加工面(照射面)でのエネル
ギー強度が、照射の中央位置で大になり、照射の周辺位
置で小になるように、エネルギー分布を調整して使用す
るようにしてある。図4は照射するエネルギービームB
のエネルギー分布の例を示すものであり、縦をエネルギ
ー密度の高さとして表示している。図4(a)は中央部
のエネルギー密度が高く、周辺部のエネルギー密度が低
い2段階のエネルギー分布になるように調整したエネル
ギービームBを示し、図4(b)は周辺部のエネルギー
密度を中央部のエネルギー密度よりも一段低く設定する
と共にこの周辺部のエネルギー密度が外側程徐々に小さ
くなるようにエネルギー分布を調整したエネルギービー
ムBを示し、図4(c)は周辺部のエネルギー密度が中
央部のエネルギー密度と同じ密度から外側程徐々に小さ
くなるようにエネルギー分布を調整したエネルギービー
ムBを示すものである。
スレーザやエキシマレーザのような高エネルギーを有す
るエネルギービームBを絶縁層2に照射して穴明けする
ことによって、回路16が底面に露出するビアホール3
を形成することができる。ここで、エネルギービームB
を絶縁層2に照射してビアホール3を加工するにあたっ
て、エネルギービームBは加工面(照射面)でのエネル
ギー強度が、照射の中央位置で大になり、照射の周辺位
置で小になるように、エネルギー分布を調整して使用す
るようにしてある。図4は照射するエネルギービームB
のエネルギー分布の例を示すものであり、縦をエネルギ
ー密度の高さとして表示している。図4(a)は中央部
のエネルギー密度が高く、周辺部のエネルギー密度が低
い2段階のエネルギー分布になるように調整したエネル
ギービームBを示し、図4(b)は周辺部のエネルギー
密度を中央部のエネルギー密度よりも一段低く設定する
と共にこの周辺部のエネルギー密度が外側程徐々に小さ
くなるようにエネルギー分布を調整したエネルギービー
ムBを示し、図4(c)は周辺部のエネルギー密度が中
央部のエネルギー密度と同じ密度から外側程徐々に小さ
くなるようにエネルギー分布を調整したエネルギービー
ムBを示すものである。
【0022】このように、加工面でのエネルギー分布を
中央位置が大に周辺位置が小になるように調整したエネ
ルギービームBを絶縁層に照射すると、照射の中央部に
よる穴加工の速度が照射の周辺部による穴加工の速度よ
りも速いために、図1(d)のように、ビアホール3を
深さ方向に向かって小径となる正テーパ穴に形成するこ
とができるものである。エネルギービームBとして断面
円形の光束を用いるとビアホール3は逆円錐台のテーパ
穴になる。ここで、ビアホール3の内周面の傾斜角度θ
(ビアホール3の穴中心線に対する角度)が1°〜45
°の範囲になるようなテーパ穴としてビアホール3を形
成するのが好ましい。内周面の傾斜角度が1°未満のテ
ーパ穴であれば、ビアホール3にメッキ液が循環し易く
なる効果を得ることができない。逆に内周面の傾斜角度
が45°を超えるテーパ穴であると、ビアホール3の絶
縁層2の表面での開口が大きくなって高密度実装に問題
が生じるおそれがある。
中央位置が大に周辺位置が小になるように調整したエネ
ルギービームBを絶縁層に照射すると、照射の中央部に
よる穴加工の速度が照射の周辺部による穴加工の速度よ
りも速いために、図1(d)のように、ビアホール3を
深さ方向に向かって小径となる正テーパ穴に形成するこ
とができるものである。エネルギービームBとして断面
円形の光束を用いるとビアホール3は逆円錐台のテーパ
穴になる。ここで、ビアホール3の内周面の傾斜角度θ
(ビアホール3の穴中心線に対する角度)が1°〜45
°の範囲になるようなテーパ穴としてビアホール3を形
成するのが好ましい。内周面の傾斜角度が1°未満のテ
ーパ穴であれば、ビアホール3にメッキ液が循環し易く
なる効果を得ることができない。逆に内周面の傾斜角度
が45°を超えるテーパ穴であると、ビアホール3の絶
縁層2の表面での開口が大きくなって高密度実装に問題
が生じるおそれがある。
【0023】上記のようにしてビアホール3を形成した
後、絶縁層2の表面を過マンガン酸カリウム等の薬剤で
処理して図2(a)のように粗化洗浄し、次に無電解メ
ッキを行なって図2(b)のように無電解メッキ層23
を形成した後に、この上にレジスト24をコートして露
光・現像することによって、図2(c)のように回路形
成をしない部分をレジスト24で被覆し、無電解メッキ
層23に通電して電解メッキをおこなうことによって、
図2(d)のように電解メッキ層25を厚付けして回路
16を形成すると共にビアホール3の内部に導体層26
を形成する。ここで、ビアホール3は上記のように正テ
ーパ穴に形成してあるために、メッキ液が容易にビアホ
ール3内に循環し、メッキ付き性が良好になるものであ
る。そして図2(e)のようにレジスト24を剥離する
と共にレジスト24で覆われていた無電解メッキ層23
をエッチング除去する。
後、絶縁層2の表面を過マンガン酸カリウム等の薬剤で
処理して図2(a)のように粗化洗浄し、次に無電解メ
ッキを行なって図2(b)のように無電解メッキ層23
を形成した後に、この上にレジスト24をコートして露
光・現像することによって、図2(c)のように回路形
成をしない部分をレジスト24で被覆し、無電解メッキ
層23に通電して電解メッキをおこなうことによって、
図2(d)のように電解メッキ層25を厚付けして回路
16を形成すると共にビアホール3の内部に導体層26
を形成する。ここで、ビアホール3は上記のように正テ
ーパ穴に形成してあるために、メッキ液が容易にビアホ
ール3内に循環し、メッキ付き性が良好になるものであ
る。そして図2(e)のようにレジスト24を剥離する
と共にレジスト24で覆われていた無電解メッキ層23
をエッチング除去する。
【0024】後は、上記と同様にしてこの上に絶縁層2
を形成した後、バイアホール3の加工、無電解メッキ、
レジストのコート、電解メッキ等の工程を繰り返すこと
によって、図3(a)のような多層配線板を得ることが
できるものである。このような多層配線板にあって、上
下複数層に設けられる回路16はビアホール3の内周に
形成した導体層26によって図3(b)に示すように導
通接続することができるものである。
を形成した後、バイアホール3の加工、無電解メッキ、
レジストのコート、電解メッキ等の工程を繰り返すこと
によって、図3(a)のような多層配線板を得ることが
できるものである。このような多層配線板にあって、上
下複数層に設けられる回路16はビアホール3の内周に
形成した導体層26によって図3(b)に示すように導
通接続することができるものである。
【0025】次に、加工面でのエネルギー分布を中央位
置が大に周辺位置が小になるようにエネルギービームB
を調整する方法について説明する。図5及び図6は請求
項3に係る発明の実施の形態の一例を示すものであり、
図5(a)に示すような中心部より複数のスリット4を
放射状に設けるようにしてビーム通過部5を形成したマ
スク6を用いて、エネルギービームBを照射するように
してある。マスク6はステンレスやベリリウム鋼、鋼な
ど例えば厚み0.1mm程度の金属薄板で作製されるも
のであり、エッチング加工を行なってマスク6の一部を
切欠することによってビーム通過部5が形成してあり、
エネルギービームBはビーム通過部5を通過することが
できるが、ビーム通過部5以外の箇所は通過できないよ
うになっている。
置が大に周辺位置が小になるようにエネルギービームB
を調整する方法について説明する。図5及び図6は請求
項3に係る発明の実施の形態の一例を示すものであり、
図5(a)に示すような中心部より複数のスリット4を
放射状に設けるようにしてビーム通過部5を形成したマ
スク6を用いて、エネルギービームBを照射するように
してある。マスク6はステンレスやベリリウム鋼、鋼な
ど例えば厚み0.1mm程度の金属薄板で作製されるも
のであり、エッチング加工を行なってマスク6の一部を
切欠することによってビーム通過部5が形成してあり、
エネルギービームBはビーム通過部5を通過することが
できるが、ビーム通過部5以外の箇所は通過できないよ
うになっている。
【0026】そしてエネルギービームBとして炭酸ガス
レーザを用い、マスク6を通過させたエネルギービーム
Bをレンズ28等の結像光学系で絶縁層2の表面の加工
面2aに縮小結像させるようにして図5(a)や図6
(a)のように照射することによって、絶縁層2に穴明
けを行なうことができる。穴明けの速度は材料のエネル
ギービーム吸収率とエネルギービームによる材料の飛ば
し易さであるエッチレートによって決まる。そして赤外
線レーザの場合、吸収率は樹脂が大きく銅は小さく、ま
たエッチレートも樹脂が大きく銅は小さい。従って赤外
線レーザをエネルギービームBとして絶縁層2に照射す
ると、樹脂が飛ばされて絶縁層2に穴明けをすることが
できると共に銅の回路16で穴明けが止まり、絶縁層2
にのみ穴明けを行なう制御を簡単に行なうことができ
る。紫外線レーザを用いる場合は吸収率は樹脂と銅とで
殆ど差がないが、エッチレートの差によって同様に銅の
回路16で穴明けが止まり、絶縁層2にのみ穴明けを行
なう制御を簡単に行なうことができる。このようにし
て、エネルギービームBを絶縁層2に照射することによ
って、絶縁層2にビアホール3を加工することができる
ものである。尚、エネルギービームを用いた穴明けは、
エネルギービームの発生装置の出力、照射されるパルス
ショット数(照射時間)、結像の縮小率、マスクのビー
ム通過部の径等によって容易に制御するとができる。
レーザを用い、マスク6を通過させたエネルギービーム
Bをレンズ28等の結像光学系で絶縁層2の表面の加工
面2aに縮小結像させるようにして図5(a)や図6
(a)のように照射することによって、絶縁層2に穴明
けを行なうことができる。穴明けの速度は材料のエネル
ギービーム吸収率とエネルギービームによる材料の飛ば
し易さであるエッチレートによって決まる。そして赤外
線レーザの場合、吸収率は樹脂が大きく銅は小さく、ま
たエッチレートも樹脂が大きく銅は小さい。従って赤外
線レーザをエネルギービームBとして絶縁層2に照射す
ると、樹脂が飛ばされて絶縁層2に穴明けをすることが
できると共に銅の回路16で穴明けが止まり、絶縁層2
にのみ穴明けを行なう制御を簡単に行なうことができ
る。紫外線レーザを用いる場合は吸収率は樹脂と銅とで
殆ど差がないが、エッチレートの差によって同様に銅の
回路16で穴明けが止まり、絶縁層2にのみ穴明けを行
なう制御を簡単に行なうことができる。このようにし
て、エネルギービームBを絶縁層2に照射することによ
って、絶縁層2にビアホール3を加工することができる
ものである。尚、エネルギービームを用いた穴明けは、
エネルギービームの発生装置の出力、照射されるパルス
ショット数(照射時間)、結像の縮小率、マスクのビー
ム通過部の径等によって容易に制御するとができる。
【0027】ここで、中心部より複数のスリット4を放
射状に設けて形成したビーム通過部5を通過することに
よって、エネルギービームBは中央位置でエネルギー密
度が大に周辺位置でエネルギー密度が小になる図5
(b)のようなエネルギー分布になっており(図5
(b)において縦軸はエネルギー強度)、ビアホール3
を図6(b)のような深さ方向に向かって小径となる正
テーパ穴に形成することができるものである。中心部よ
り複数のスリット4を放射状に設けたビーム通過部5と
しては、図7(a)のような形状の他に、図7(b)の
ような形状として形成することもできる。
射状に設けて形成したビーム通過部5を通過することに
よって、エネルギービームBは中央位置でエネルギー密
度が大に周辺位置でエネルギー密度が小になる図5
(b)のようなエネルギー分布になっており(図5
(b)において縦軸はエネルギー強度)、ビアホール3
を図6(b)のような深さ方向に向かって小径となる正
テーパ穴に形成することができるものである。中心部よ
り複数のスリット4を放射状に設けたビーム通過部5と
しては、図7(a)のような形状の他に、図7(b)の
ような形状として形成することもできる。
【0028】図8は請求項4に係る発明に用いるマスク
9を示すものであり、中心の円形の開口部7の周辺に複
数の周辺開口部8を同心円状に設けてビーム通過部5を
形成するようにしてある。図8(a)の例では周辺開口
部8を小さい円形孔として形成し、中心の円形開口部7
の周りに周辺開口部8を一定間隔で多数設けるようにし
てあり、図8(b)の例では周辺開口部8を円弧状のス
リットとして形成し、中心の円形開口部7の周りに同一
円周上に並ぶように周辺開口部8を複数設けるようにし
てある。このマスク9を図5(a)や図6(a)と同様
にして用いてビアホール3の加工を行なうものであり、
ビーム通過部5を通過したエネルギービームBは中央開
口部7を通過する中央位置でエネルギー密度が大に、周
辺開口部8を通過する周辺位置でエネルギー密度が小に
なるエネルギー分布になって加工面2aに照射され、ビ
アホール3を図6(b)のような深さ方向に向かって小
径となる正テーパ穴に形成することができるものであ
る。
9を示すものであり、中心の円形の開口部7の周辺に複
数の周辺開口部8を同心円状に設けてビーム通過部5を
形成するようにしてある。図8(a)の例では周辺開口
部8を小さい円形孔として形成し、中心の円形開口部7
の周りに周辺開口部8を一定間隔で多数設けるようにし
てあり、図8(b)の例では周辺開口部8を円弧状のス
リットとして形成し、中心の円形開口部7の周りに同一
円周上に並ぶように周辺開口部8を複数設けるようにし
てある。このマスク9を図5(a)や図6(a)と同様
にして用いてビアホール3の加工を行なうものであり、
ビーム通過部5を通過したエネルギービームBは中央開
口部7を通過する中央位置でエネルギー密度が大に、周
辺開口部8を通過する周辺位置でエネルギー密度が小に
なるエネルギー分布になって加工面2aに照射され、ビ
アホール3を図6(b)のような深さ方向に向かって小
径となる正テーパ穴に形成することができるものであ
る。
【0029】図9は請求項5に係る発明の実施の形態の
一例を、また図10は請求項6に係る発明の実施の形態
の一例をそれぞれ示すものであり、スリット4を放射状
に設けてビーム通過部5を形成した図7のようなマスク
6、あるいは中心の円形開口部7の周辺に複数の周辺開
口部8を同心円状に設けてビーム通過部5を形成した図
8のようなマスク9を用いる(尚、図9及び図10の実
施の形態では図7(a)のマスク6を用いた例で説明す
る)。またエネルギービームBとしては、炭酸ガスレー
ザやエキシマレーザなどを用いることができ、図5
(a)の場合と同様にしてエネルギービームBをマスク
6を通過させた後に、レンズ28等の結像光学系で絶縁
層2の表面の加工面2aに縮小結像させ、ビアホール3
を加工するようにしてある。
一例を、また図10は請求項6に係る発明の実施の形態
の一例をそれぞれ示すものであり、スリット4を放射状
に設けてビーム通過部5を形成した図7のようなマスク
6、あるいは中心の円形開口部7の周辺に複数の周辺開
口部8を同心円状に設けてビーム通過部5を形成した図
8のようなマスク9を用いる(尚、図9及び図10の実
施の形態では図7(a)のマスク6を用いた例で説明す
る)。またエネルギービームBとしては、炭酸ガスレー
ザやエキシマレーザなどを用いることができ、図5
(a)の場合と同様にしてエネルギービームBをマスク
6を通過させた後に、レンズ28等の結像光学系で絶縁
層2の表面の加工面2aに縮小結像させ、ビアホール3
を加工するようにしてある。
【0030】そして請求項5の発明では図9(b)のよ
うにエネルギービームBをパルス発振させて断続的に照
射させるようにしてあり、エネルギービームBの発振と
同期させてマスク6をビーム通過部5の中央部を中心と
して回転させるようにしてある。すなわち、図9
(a),(b)のように、エネルギービームBを照射し
ている間はマスク6の回転を停止させ、エネルギービー
ムBの照射が停止している間にマスク6を回転させて次
のマスク6の回転位置で停止させるようにし、このマス
ク6を通過させたエネルギービームBを絶縁層2に照射
するようにしてある。図5(b)の場合には、エネルギ
ービームBの照射の周辺部ではスリット4に対応する部
分でだけ加工面2aにエネルギーが作用し、周辺部での
エネルギー分布が不均一になり、また周辺部への熱影響
も大きくなるが、マスク6をこのように回転させると、
スリット4の位置が図9(a)の(イ)〜(ホ)のよう
に移動するために、図9(c)の(イ)〜(ホ)にみら
れるように、絶縁層2の加工面2aへのエネルギービー
ムBの照射の周辺部で照射部分29が広がり、周辺部で
のエネルギー分布が円周方向に均一になり、周辺部への
熱影響も小さくなるものである。
うにエネルギービームBをパルス発振させて断続的に照
射させるようにしてあり、エネルギービームBの発振と
同期させてマスク6をビーム通過部5の中央部を中心と
して回転させるようにしてある。すなわち、図9
(a),(b)のように、エネルギービームBを照射し
ている間はマスク6の回転を停止させ、エネルギービー
ムBの照射が停止している間にマスク6を回転させて次
のマスク6の回転位置で停止させるようにし、このマス
ク6を通過させたエネルギービームBを絶縁層2に照射
するようにしてある。図5(b)の場合には、エネルギ
ービームBの照射の周辺部ではスリット4に対応する部
分でだけ加工面2aにエネルギーが作用し、周辺部での
エネルギー分布が不均一になり、また周辺部への熱影響
も大きくなるが、マスク6をこのように回転させると、
スリット4の位置が図9(a)の(イ)〜(ホ)のよう
に移動するために、図9(c)の(イ)〜(ホ)にみら
れるように、絶縁層2の加工面2aへのエネルギービー
ムBの照射の周辺部で照射部分29が広がり、周辺部で
のエネルギー分布が円周方向に均一になり、周辺部への
熱影響も小さくなるものである。
【0031】また請求項6の発明では、図10(b)の
ようにエネルギービームBを連続発振させて連続照射さ
せるようにしてあり、図10(a)のようにエネルギー
ビームBを照射している間、マスク6を連続して高速回
転させるようにしてある。このものにあっても、上記図
9の場合と同様に、マスク6を回転させるとスリット4
の位置が図10(a)の(イ)〜(ホ)のように移動す
るために、図10(c)の(イ)〜(ホ)にみられるよ
うに、絶縁層2の加工面2aへのエネルギービームBの
照射の周辺部で照射部分29が広がり、周辺部でのエネ
ルギー分布が円周方向に均一になるものである。
ようにエネルギービームBを連続発振させて連続照射さ
せるようにしてあり、図10(a)のようにエネルギー
ビームBを照射している間、マスク6を連続して高速回
転させるようにしてある。このものにあっても、上記図
9の場合と同様に、マスク6を回転させるとスリット4
の位置が図10(a)の(イ)〜(ホ)のように移動す
るために、図10(c)の(イ)〜(ホ)にみられるよ
うに、絶縁層2の加工面2aへのエネルギービームBの
照射の周辺部で照射部分29が広がり、周辺部でのエネ
ルギー分布が円周方向に均一になるものである。
【0032】図11は請求項7に係る発明の実施の形態
の一例を示すものであり、エネルギービームBとして炭
酸ガスレーザやエキシマレーザなどを用い、エネルギー
ビームBをマスク10のビーム通過部5を通過させた後
に、レンズ28等の結像光学系で絶縁層2の表面の加工
面2aに縮小結像させ、絶縁層2にビアホール3を加工
するようにしてある。そして請求項7の発明は、同一の
マスク10を通過させたエネルギービームBの加工面で
のエネルギー密度を変化させて複数回照射することによ
って、加工面2aでのエネルギービームBのエネルギー
分布が中央位置で大に周辺位置で小になるように調整し
たものであるが、図11の実施形態ではマスク10−レ
ンズ28−加工面2aの距離の比を変化させることによ
って、エネルギービームBの縮小率を変化させてエネル
ギー分布の調整を行なうようにしてある。
の一例を示すものであり、エネルギービームBとして炭
酸ガスレーザやエキシマレーザなどを用い、エネルギー
ビームBをマスク10のビーム通過部5を通過させた後
に、レンズ28等の結像光学系で絶縁層2の表面の加工
面2aに縮小結像させ、絶縁層2にビアホール3を加工
するようにしてある。そして請求項7の発明は、同一の
マスク10を通過させたエネルギービームBの加工面で
のエネルギー密度を変化させて複数回照射することによ
って、加工面2aでのエネルギービームBのエネルギー
分布が中央位置で大に周辺位置で小になるように調整し
たものであるが、図11の実施形態ではマスク10−レ
ンズ28−加工面2aの距離の比を変化させることによ
って、エネルギービームBの縮小率を変化させてエネル
ギー分布の調整を行なうようにしてある。
【0033】すなわち、まず図11(a)のようにマス
ク10−レンズ28−加工面2aの距離を調整してエネ
ルギービームBを照射することによって、加工面2aに
広い面積でエネルギービームBが照射されるようにす
る。このときはエネルギービームBのエネルギーは広い
面積に分散するためにエネルギービームBの照射の単位
面積当たりのエネルギー密度は低く、従って図11
(b)のように広く浅い穴30が絶縁層2に形成され
る。次に図11(c)のようにマスク10−レンズ28
−加工面2aの距離の比を変化させてエネルギービーム
Bを照射することによって、図11(a)で照射した部
分の中央部において加工面2aに狭い面積でエネルギー
ビームBが照射されるようにする。このときはエネルギ
ービームBのエネルギーは狭い面積に集中するために、
エネルギービームBの照射の単位面積当たりのエネルギ
ー密度は高い。従って、図12(a)のように1回目と
2回目のエネルギービームBの照射の累積によるエネル
ギービームBのエネルギー分布は中央位置で大に周辺位
置で小になり、図11(d)に示すように深さ方向に向
かって小径となる正テーパ穴のビアホール3を加工する
ことができるものである。このように請求項7の発明で
は、図7や図8のような複雑な形状にビーム通過部5を
形成したマスク6を用いるような必要なく、エネルギー
分布を調整することができるものである。
ク10−レンズ28−加工面2aの距離を調整してエネ
ルギービームBを照射することによって、加工面2aに
広い面積でエネルギービームBが照射されるようにす
る。このときはエネルギービームBのエネルギーは広い
面積に分散するためにエネルギービームBの照射の単位
面積当たりのエネルギー密度は低く、従って図11
(b)のように広く浅い穴30が絶縁層2に形成され
る。次に図11(c)のようにマスク10−レンズ28
−加工面2aの距離の比を変化させてエネルギービーム
Bを照射することによって、図11(a)で照射した部
分の中央部において加工面2aに狭い面積でエネルギー
ビームBが照射されるようにする。このときはエネルギ
ービームBのエネルギーは狭い面積に集中するために、
エネルギービームBの照射の単位面積当たりのエネルギ
ー密度は高い。従って、図12(a)のように1回目と
2回目のエネルギービームBの照射の累積によるエネル
ギービームBのエネルギー分布は中央位置で大に周辺位
置で小になり、図11(d)に示すように深さ方向に向
かって小径となる正テーパ穴のビアホール3を加工する
ことができるものである。このように請求項7の発明で
は、図7や図8のような複雑な形状にビーム通過部5を
形成したマスク6を用いるような必要なく、エネルギー
分布を調整することができるものである。
【0034】図12は縦方向をエネルギービームBのエ
ネルギー強度(エネルギー密度)、横方向をエネルギー
ビームBの照射幅(照射面積)として示した図であり、
上記の例では図12(a)のように一回目の照射を低い
エネルギー密度で広い面積に行ない、二回目の照射を一
回目の照射の中心位置において高いエネルギー密度で狭
い面積に行なうことによって、合計したエネルギービー
ムBのエネルギー分布が中央位置で大に周辺位置で小に
なるようにしたが、図12(b)のように一回目の照射
を高いエネルギー密度で狭い面積に行なうと共に二回目
の照射を低いエネルギー密度で広い面積に行なうように
しても、図12(c)のように一回目の照射を低いエネ
ルギー密度で広い面積に、二回目の照射を高いエネルギ
ー密度で狭い面積に、三回目の照射を低いエネルギー密
度で広い面積に行なうようにしても、図12(d)のよ
うに一回目の照射を高いエネルギー密度で狭い面積に、
二回目の照射を低いエネルギー密度で広い面積に、三回
目の照射を高いエネルギー密度で狭い面積に行なうよう
にしても、いずれも合計したエネルギービームBのエネ
ルギー分布が中央位置で大に周辺位置で小になるように
することができる。
ネルギー強度(エネルギー密度)、横方向をエネルギー
ビームBの照射幅(照射面積)として示した図であり、
上記の例では図12(a)のように一回目の照射を低い
エネルギー密度で広い面積に行ない、二回目の照射を一
回目の照射の中心位置において高いエネルギー密度で狭
い面積に行なうことによって、合計したエネルギービー
ムBのエネルギー分布が中央位置で大に周辺位置で小に
なるようにしたが、図12(b)のように一回目の照射
を高いエネルギー密度で狭い面積に行なうと共に二回目
の照射を低いエネルギー密度で広い面積に行なうように
しても、図12(c)のように一回目の照射を低いエネ
ルギー密度で広い面積に、二回目の照射を高いエネルギ
ー密度で狭い面積に、三回目の照射を低いエネルギー密
度で広い面積に行なうようにしても、図12(d)のよ
うに一回目の照射を高いエネルギー密度で狭い面積に、
二回目の照射を低いエネルギー密度で広い面積に、三回
目の照射を高いエネルギー密度で狭い面積に行なうよう
にしても、いずれも合計したエネルギービームBのエネ
ルギー分布が中央位置で大に周辺位置で小になるように
することができる。
【0035】図13は請求項8に係る発明の実施の形態
の一例を示すものであり、図11の場合と同様に、エネ
ルギービームBとして炭酸ガスレーザやエキシマレーザ
などを用い、エネルギービームBをマスク11のビーム
通過部5を通過させた後に、レンズ28等の結像光学系
で絶縁層2の表面の加工面2aに縮小結像させ、絶縁層
2にビアホール3を加工するようにしてある。そして請
求項8の発明は、径の異なるビーム通過部5a,5bを
有する複数のマスク11a,11bを用い、各マスク1
1a,11bを通過させたエネルギービームBで複数回
照射することによって、加工面2aでのエネルギービー
ムBのエネルギー分布が中央位置で大に周辺位置で小に
なるように調整するようにしてある。
の一例を示すものであり、図11の場合と同様に、エネ
ルギービームBとして炭酸ガスレーザやエキシマレーザ
などを用い、エネルギービームBをマスク11のビーム
通過部5を通過させた後に、レンズ28等の結像光学系
で絶縁層2の表面の加工面2aに縮小結像させ、絶縁層
2にビアホール3を加工するようにしてある。そして請
求項8の発明は、径の異なるビーム通過部5a,5bを
有する複数のマスク11a,11bを用い、各マスク1
1a,11bを通過させたエネルギービームBで複数回
照射することによって、加工面2aでのエネルギービー
ムBのエネルギー分布が中央位置で大に周辺位置で小に
なるように調整するようにしてある。
【0036】すなわち、まず図13(a)のように径の
大きいビーム通過部5aを設けて形成したマスク11a
を用てエネルギービームBを照射することによって、加
工面2aに広い面積でエネルギービームBを照射し、図
13(b)のように広い穴30を絶縁層2に形成する。
次に図13(c)のように径の小さいビーム通過部5b
を設けて形成したマスク11bにオートマスクチェンジ
ャーなどで交換してエネルギービームBを照射すること
によって、レンズ28や縮小率を変化させる必要なく、
図13(a)で照射した部分の中央部において加工面2
aに狭い面積でエネルギービームBが照射されるように
する。この結果、図14(a)のように1回目と2回目
のエネルギービームBの照射の累積によるエネルギービ
ームBのエネルギー分布は中央位置で大に周辺位置で小
になり、図13(d)に示すように深さ方向に向かって
小径となる正テーパ穴のビアホール3を加工することが
できるものである。
大きいビーム通過部5aを設けて形成したマスク11a
を用てエネルギービームBを照射することによって、加
工面2aに広い面積でエネルギービームBを照射し、図
13(b)のように広い穴30を絶縁層2に形成する。
次に図13(c)のように径の小さいビーム通過部5b
を設けて形成したマスク11bにオートマスクチェンジ
ャーなどで交換してエネルギービームBを照射すること
によって、レンズ28や縮小率を変化させる必要なく、
図13(a)で照射した部分の中央部において加工面2
aに狭い面積でエネルギービームBが照射されるように
する。この結果、図14(a)のように1回目と2回目
のエネルギービームBの照射の累積によるエネルギービ
ームBのエネルギー分布は中央位置で大に周辺位置で小
になり、図13(d)に示すように深さ方向に向かって
小径となる正テーパ穴のビアホール3を加工することが
できるものである。
【0037】図14は図12と同様な内容の図であり、
図14(a)のように一回目の照射を低いエネルギー密
度で広い面積に行ない、二回目の照射を一回目の照射の
中心位置において高いエネルギー密度で狭い面積に行な
う他に、図14(b)のように一回目の照射を高いエネ
ルギー密度で狭い面積に行なうと共に二回目の照射を低
いエネルギー密度で広い面積に行なうようにしても、図
14(c)のように一回目の照射を低いエネルギー密度
で広い面積に、二回目の照射を高いエネルギー密度で狭
い面積に、三回目の照射を低いエネルギー密度で広い面
積に行なうようにしても、図14(d)のように一回目
の照射を高いエネルギー密度で狭い面積に、二回目の照
射を低いエネルギー密度で広い面積に、三回目の照射を
高いエネルギー密度で狭い面積に行なうようにしても、
いずれも合計したエネルギービームBのエネルギー分布
が中央位置で大に周辺位置で小になるようにすることが
できる。
図14(a)のように一回目の照射を低いエネルギー密
度で広い面積に行ない、二回目の照射を一回目の照射の
中心位置において高いエネルギー密度で狭い面積に行な
う他に、図14(b)のように一回目の照射を高いエネ
ルギー密度で狭い面積に行なうと共に二回目の照射を低
いエネルギー密度で広い面積に行なうようにしても、図
14(c)のように一回目の照射を低いエネルギー密度
で広い面積に、二回目の照射を高いエネルギー密度で狭
い面積に、三回目の照射を低いエネルギー密度で広い面
積に行なうようにしても、図14(d)のように一回目
の照射を高いエネルギー密度で狭い面積に、二回目の照
射を低いエネルギー密度で広い面積に、三回目の照射を
高いエネルギー密度で狭い面積に行なうようにしても、
いずれも合計したエネルギービームBのエネルギー分布
が中央位置で大に周辺位置で小になるようにすることが
できる。
【0038】図15は請求項9に係る発明の実施の形態
を示すものであり、エネルギービームBとして炭酸ガス
レーザB1を用い、レンズ28等の結像光学系を用いて
この炭酸ガスレーザB1を絶縁層2に照射してビアホー
ル3を加工するにあたって、まず図15(a)のように
狭い面積の光束の炭酸ガスレーザB1を用いることによ
って絶縁層2に浅い穴31を加工し、次に図15(b)
のように広い面積の光束の炭酸ガスレーザB1を用いる
ことによってビアホール3を加工するようにしてある。
このように狭い面積の光束の炭酸ガスレーザB1と広い
面積の光束の炭酸ガスレーザB1の複数種のエネルギー
ビームBを用いることによって、合計したエネルギービ
ームBのエネルギー分布が中央位置で大に周辺位置で小
になるものであり、深さ方向に向かって小径となる正テ
ーパ穴のビアホール3を加工することができるものであ
る。またこのように炭酸ガスレーザB1を用いてビアホ
ール3を加工した後、エネルギービームBとしてエキシ
マレーザB2を用いて図15(a)のように照射するこ
とによって、穴底の再加工や穴周囲の付着物を除去する
ことができ、絶縁層2に高品位のビアホール3を形成す
ることができるようにしてある。
を示すものであり、エネルギービームBとして炭酸ガス
レーザB1を用い、レンズ28等の結像光学系を用いて
この炭酸ガスレーザB1を絶縁層2に照射してビアホー
ル3を加工するにあたって、まず図15(a)のように
狭い面積の光束の炭酸ガスレーザB1を用いることによ
って絶縁層2に浅い穴31を加工し、次に図15(b)
のように広い面積の光束の炭酸ガスレーザB1を用いる
ことによってビアホール3を加工するようにしてある。
このように狭い面積の光束の炭酸ガスレーザB1と広い
面積の光束の炭酸ガスレーザB1の複数種のエネルギー
ビームBを用いることによって、合計したエネルギービ
ームBのエネルギー分布が中央位置で大に周辺位置で小
になるものであり、深さ方向に向かって小径となる正テ
ーパ穴のビアホール3を加工することができるものであ
る。またこのように炭酸ガスレーザB1を用いてビアホ
ール3を加工した後、エネルギービームBとしてエキシ
マレーザB2を用いて図15(a)のように照射するこ
とによって、穴底の再加工や穴周囲の付着物を除去する
ことができ、絶縁層2に高品位のビアホール3を形成す
ることができるようにしてある。
【0039】図16及び図17は請求項10に係る発明
の実施の形態を示すものであり、請求項7や請求項8の
発明のようにエネルギービームBを複数回照射すること
によって、深さ方向に向かって小径となる正テーパ穴の
ビアホール3を加工するにあたって、一穴毎にこの複数
回の照射を行なって、基板1に多数のビアホール3を順
次形成するようにしたものである。
の実施の形態を示すものであり、請求項7や請求項8の
発明のようにエネルギービームBを複数回照射すること
によって、深さ方向に向かって小径となる正テーパ穴の
ビアホール3を加工するにあたって、一穴毎にこの複数
回の照射を行なって、基板1に多数のビアホール3を順
次形成するようにしたものである。
【0040】すなわち、まず最初のビアホール3を加工
する箇所において、前記図11(a)あるいは図13
(a)のようにエネルギービームBを広い面積に照射し
て、図16(a)のように浅い穴30を加工し、次にマ
スク10−レンズ28−加工面2aの距離の比を変化さ
せるかあるいはビーム通過部5a,5bの径が異なるマ
スク11a,11bをオートマスクチェンジャーで交換
して、前記図11(c)あるいは図13(c)のように
エネルギービームBを狭い面積に照射して、図16
(b)のように深さ方向に向かって小径となる正テーパ
穴のビアホール3を加工する。このようにして最初のビ
アホール3を加工した後、基板1を移動させて次のビア
ホール3を加工する箇所において同様に図16(c),
(d)のように複数回のエネルギービームBの照射をお
こなって、この箇所に同様なビアホール3を加工し、以
後同様にして図17(a),(b)、さらに図17
(c),(d)のように順次、複数回ずつのエネルギー
ビームBの照射をおこなって、順次ビアホール3を加工
する。
する箇所において、前記図11(a)あるいは図13
(a)のようにエネルギービームBを広い面積に照射し
て、図16(a)のように浅い穴30を加工し、次にマ
スク10−レンズ28−加工面2aの距離の比を変化さ
せるかあるいはビーム通過部5a,5bの径が異なるマ
スク11a,11bをオートマスクチェンジャーで交換
して、前記図11(c)あるいは図13(c)のように
エネルギービームBを狭い面積に照射して、図16
(b)のように深さ方向に向かって小径となる正テーパ
穴のビアホール3を加工する。このようにして最初のビ
アホール3を加工した後、基板1を移動させて次のビア
ホール3を加工する箇所において同様に図16(c),
(d)のように複数回のエネルギービームBの照射をお
こなって、この箇所に同様なビアホール3を加工し、以
後同様にして図17(a),(b)、さらに図17
(c),(d)のように順次、複数回ずつのエネルギー
ビームBの照射をおこなって、順次ビアホール3を加工
する。
【0041】この操作をさらに繰り返すことによって、
基板1に多数のビアホール3を加工することができるも
のであり、この請求項10の発明では、ビアホール3を
加工する箇所毎に複数回のエネルギービームBの照射を
おこなうようにしているために、エネルギービームBの
各照射の位置合わせが容易になって、照射の重ね合わせ
の精度が高くなるものである。
基板1に多数のビアホール3を加工することができるも
のであり、この請求項10の発明では、ビアホール3を
加工する箇所毎に複数回のエネルギービームBの照射を
おこなうようにしているために、エネルギービームBの
各照射の位置合わせが容易になって、照射の重ね合わせ
の精度が高くなるものである。
【0042】図18及び図19は請求項11に係る発明
の実施の形態を示すものであり、請求項7や請求項8の
発明のようにエネルギービームBを複数回照射すること
によって、深さ方向に向かって小径となる正テーパ穴の
ビアホール3を加工するにあたって、基板1にビアホー
ル3を設ける多数の箇所において、まず1回目のエネル
ギービームBの照射を順次行ない、1回目のエネルギー
ビームBの照射が終了した後に、1回目のエネルギービ
ームBの照射した箇所に2回目のエネルギービームBの
照射を順次行なうというように、複数回のエネルギービ
ームBの照射を各回毎にビアホール3を設ける多数の箇
所において行ない、基板1に多数のビアホール3を形成
するようにしたものである。
の実施の形態を示すものであり、請求項7や請求項8の
発明のようにエネルギービームBを複数回照射すること
によって、深さ方向に向かって小径となる正テーパ穴の
ビアホール3を加工するにあたって、基板1にビアホー
ル3を設ける多数の箇所において、まず1回目のエネル
ギービームBの照射を順次行ない、1回目のエネルギー
ビームBの照射が終了した後に、1回目のエネルギービ
ームBの照射した箇所に2回目のエネルギービームBの
照射を順次行なうというように、複数回のエネルギービ
ームBの照射を各回毎にビアホール3を設ける多数の箇
所において行ない、基板1に多数のビアホール3を形成
するようにしたものである。
【0043】すなわち、まず前記図11(a)あるいは
図13(a)のようにエネルギービームBを広い面積に
照射して、図18(a)のようにビアホール3を形成す
る箇所において浅い穴30を加工し、基板1を移動させ
て以下同様にして同じエネルギービームBの照射を基板
1のビアホールを形成する箇所において順次行ない、図
18(b)〜(e)のように浅い穴30を順次加工す
る。次にマスク10−レンズ28−加工面2aの距離の
比を変化させるかあるいはビーム通過部5a,5bの径
が異なるマスク11a,11bをオートマスクチェンジ
ャーで交換し、最後に加工した浅い穴30において、前
記図11(c)あるいは図13(c)のようにエネルギ
ービームBを狭い面積に照射して、図10(a)のよう
に深さ方向に向かって小径となる正テーパ穴のビアホー
ル3を加工する。以下、図18(a)〜(e)と逆の方
向に基板1を移動させて各浅い穴30に同じエネルギー
ビームBの照射を順次行ない、図19(b)〜(e)の
ようにビアホール3を加工する。
図13(a)のようにエネルギービームBを広い面積に
照射して、図18(a)のようにビアホール3を形成す
る箇所において浅い穴30を加工し、基板1を移動させ
て以下同様にして同じエネルギービームBの照射を基板
1のビアホールを形成する箇所において順次行ない、図
18(b)〜(e)のように浅い穴30を順次加工す
る。次にマスク10−レンズ28−加工面2aの距離の
比を変化させるかあるいはビーム通過部5a,5bの径
が異なるマスク11a,11bをオートマスクチェンジ
ャーで交換し、最後に加工した浅い穴30において、前
記図11(c)あるいは図13(c)のようにエネルギ
ービームBを狭い面積に照射して、図10(a)のよう
に深さ方向に向かって小径となる正テーパ穴のビアホー
ル3を加工する。以下、図18(a)〜(e)と逆の方
向に基板1を移動させて各浅い穴30に同じエネルギー
ビームBの照射を順次行ない、図19(b)〜(e)の
ようにビアホール3を加工する。
【0044】このようにして基板1に多数のビアホール
3を加工することができるものであり、この請求項11
の発明では、各ビアホール3を形成する箇所にエネルギ
ービームBを順次照射し、この順次照射するエネルギー
ビームBの照射を複数回繰り返すようにしているため
に、請求項10の発明の場合のようにエネルギービーム
Bの照射毎にマスク11a,11bを変更したりしてエ
ネルギービームBの照射を変更するような必要がなくな
り、加工時間を短縮することができるものである。尚、
基板1に設けるビアホール3に複数のパターンがある場
合は、パターン毎に図18や図19の操作が適用される
ものである。
3を加工することができるものであり、この請求項11
の発明では、各ビアホール3を形成する箇所にエネルギ
ービームBを順次照射し、この順次照射するエネルギー
ビームBの照射を複数回繰り返すようにしているため
に、請求項10の発明の場合のようにエネルギービーム
Bの照射毎にマスク11a,11bを変更したりしてエ
ネルギービームBの照射を変更するような必要がなくな
り、加工時間を短縮することができるものである。尚、
基板1に設けるビアホール3に複数のパターンがある場
合は、パターン毎に図18や図19の操作が適用される
ものである。
【0045】図20は請求項12の発明の実施の形態を
示すものであり、エネルギービームBとして炭酸ガスレ
ーザを用い、まずエネルギービームBを第1のビームス
プリッター33に通して、エネルギービームBのうち半
分を反射させると共に残り半分を透過させるようにして
2分岐する。ビームスプリッター33で反射されたエネ
ルギービームB1 は大きな径のビーム通過部35aを設
けて形成したマスク36aを通過させ、またビームスプ
リッター33を透過したエネルギービームB2は第1の
全反射ミラー34で反射させた後に小さな径のビーム通
過部35bを設けて形成したマスク36bを通過させる
ようにしてあり、さらにエネルギービームB1 は第2の
ビームスプリッター38に通過させ、エネルギービーム
B2 は第2の全反射ミラー37で反射させると共に第2
のビームスプリッター38で反射させるようにしてあ
り、ここでエネルギービームB1 ,B2 を重合させ、そ
してレンズ28で結像させて絶縁層2に照射させるよう
にしてある。このとき、2分岐されたうち、径の大きい
ビーム通過部35aを有するマスク36aを通過したエ
ネルギービームB1 はイのように光束の面積が大きく、
また径の小さいビーム通過部35bを有するマスク36
bを通過したエネルギービームB2 はロのように光束の
面積が小さく、従ってこのエネルギービームB1 ,B 2
を重合させるとエネルギービームBはハのようにエネル
ギー分布は中央位置が大に周辺位置が小になっており、
深さ方向に向かって小径となる正テーパ穴のビアホール
3を加工することができるものである。このようにし
て、一回のエネルギービームBの照射で中央位置が大に
周辺位置が小になったエネルギー分布で照射を行なうこ
とができ、一回のエネルギービームBの照射で正テーパ
穴のビアホール3を加工することができるものである。
示すものであり、エネルギービームBとして炭酸ガスレ
ーザを用い、まずエネルギービームBを第1のビームス
プリッター33に通して、エネルギービームBのうち半
分を反射させると共に残り半分を透過させるようにして
2分岐する。ビームスプリッター33で反射されたエネ
ルギービームB1 は大きな径のビーム通過部35aを設
けて形成したマスク36aを通過させ、またビームスプ
リッター33を透過したエネルギービームB2は第1の
全反射ミラー34で反射させた後に小さな径のビーム通
過部35bを設けて形成したマスク36bを通過させる
ようにしてあり、さらにエネルギービームB1 は第2の
ビームスプリッター38に通過させ、エネルギービーム
B2 は第2の全反射ミラー37で反射させると共に第2
のビームスプリッター38で反射させるようにしてあ
り、ここでエネルギービームB1 ,B2 を重合させ、そ
してレンズ28で結像させて絶縁層2に照射させるよう
にしてある。このとき、2分岐されたうち、径の大きい
ビーム通過部35aを有するマスク36aを通過したエ
ネルギービームB1 はイのように光束の面積が大きく、
また径の小さいビーム通過部35bを有するマスク36
bを通過したエネルギービームB2 はロのように光束の
面積が小さく、従ってこのエネルギービームB1 ,B 2
を重合させるとエネルギービームBはハのようにエネル
ギー分布は中央位置が大に周辺位置が小になっており、
深さ方向に向かって小径となる正テーパ穴のビアホール
3を加工することができるものである。このようにし
て、一回のエネルギービームBの照射で中央位置が大に
周辺位置が小になったエネルギー分布で照射を行なうこ
とができ、一回のエネルギービームBの照射で正テーパ
穴のビアホール3を加工することができるものである。
【0046】図21は請求項13の発明の実施の形態を
示すものであり、エネルギービームBとして炭酸ガスレ
ーザを用い、まずエネルギービームBを第1のビームス
プリッター33に通して、エネルギービームBのうち半
分を反射させると共に残り半分を透過させるようにして
2分岐する。ビームスプリッター33で反射されたエネ
ルギービームB1 はレンズ39に通して集光させた後、
第2のビームスプリッター38に通過させて絶縁層2に
照射させる。またビームスプリッター33を透過したエ
ネルギービームB2 は第1の全反射ミラー34で反射さ
せた後にレンズ40に通して集光させ、第2の全反射ミ
ラー37で反射させた後に第2のビームスプリッター3
8で反射させ、ここでエネルギービームB1 と重合させ
て絶縁層2に照射させるようにしてある。
示すものであり、エネルギービームBとして炭酸ガスレ
ーザを用い、まずエネルギービームBを第1のビームス
プリッター33に通して、エネルギービームBのうち半
分を反射させると共に残り半分を透過させるようにして
2分岐する。ビームスプリッター33で反射されたエネ
ルギービームB1 はレンズ39に通して集光させた後、
第2のビームスプリッター38に通過させて絶縁層2に
照射させる。またビームスプリッター33を透過したエ
ネルギービームB2 は第1の全反射ミラー34で反射さ
せた後にレンズ40に通して集光させ、第2の全反射ミ
ラー37で反射させた後に第2のビームスプリッター3
8で反射させ、ここでエネルギービームB1 と重合させ
て絶縁層2に照射させるようにしてある。
【0047】ここで、レンズ39で集光されたエネルギ
ービームB1 が加工面2aに至るまでの光路長と、レン
ズ40で集光されたエネルギービームB2 が加工面2a
に至るまでの光路長とは異なり、エネルギービームB1
は加工面2aで焦点を結ばないデフォーカスになるよう
に、エネルギービームB2 は加工面2aで焦点を結ぶジ
ャストフォーカスになるようにしてある。従ってエネル
ギービームB1 の光束の中央部にエネルギービームB2
の光束が重合されて加工面2aに照射されるようになっ
て、ニのようにエネルギー分布は中央位置が大に周辺位
置が小になり、深さ方向に向かって小径となる正テーパ
穴のビアホール3を加工することができるものである。
このようにして、一回のエネルギービームBの照射で中
央位置が大に周辺位置が小になったエネルギー分布で照
射を行なうことができ、一回のエネルギービームBの照
射で正テーパ穴のビアホール3を加工することができる
ものであり、しかもマスクを用いる必要がなくなるもの
である。
ービームB1 が加工面2aに至るまでの光路長と、レン
ズ40で集光されたエネルギービームB2 が加工面2a
に至るまでの光路長とは異なり、エネルギービームB1
は加工面2aで焦点を結ばないデフォーカスになるよう
に、エネルギービームB2 は加工面2aで焦点を結ぶジ
ャストフォーカスになるようにしてある。従ってエネル
ギービームB1 の光束の中央部にエネルギービームB2
の光束が重合されて加工面2aに照射されるようになっ
て、ニのようにエネルギー分布は中央位置が大に周辺位
置が小になり、深さ方向に向かって小径となる正テーパ
穴のビアホール3を加工することができるものである。
このようにして、一回のエネルギービームBの照射で中
央位置が大に周辺位置が小になったエネルギー分布で照
射を行なうことができ、一回のエネルギービームBの照
射で正テーパ穴のビアホール3を加工することができる
ものであり、しかもマスクを用いる必要がなくなるもの
である。
【0048】図22は請求項14の発明の実施の形態を
示すものであり、エネルギービームBとして炭酸ガスレ
ーザやエキシマレーザなどを用い、エネルギービームB
をマスク6のビーム通過部5を通過させた後に、フィル
ター14を透過させるようにしてある。フィルター14
にはエネルギービームBの透過率が中心から周囲へと同
心円状に減衰するビーム透過部13が設けてある。図2
2(a)の例では、中央に開口穴42を設け、この開口
穴42の周囲の透過率が同心円状に減衰するようにして
ある。このフィルター14にエネルギービームBを通す
と、ビーム透過部13を透過したエネルギービームBは
図22(b)のように中央位置が大に周辺位置が小にな
ったエネルギー分布をしている(図22(b)は横方向
にエネルギービームBの強さを、縦方向にエネルギービ
ームBの面積を示す)。従って、エネルギービームBを
レンズ28等の結像光学系を通して絶縁層2の表面の加
工面2aに縮小結像させ、絶縁層2にビアホール3を加
工するようにあたって、深さ方向に向かって小径となる
正テーパ穴のビアホール3を加工することができるもの
である。このようにフィルター14を用いることによっ
て、一回のエネルギービームBの照射で中央位置が大に
周辺位置が小になったエネルギー分布で照射を行なうこ
とができ、一回のエネルギービームBの照射で正テーパ
穴のビアホール3を加工することができるものである。
示すものであり、エネルギービームBとして炭酸ガスレ
ーザやエキシマレーザなどを用い、エネルギービームB
をマスク6のビーム通過部5を通過させた後に、フィル
ター14を透過させるようにしてある。フィルター14
にはエネルギービームBの透過率が中心から周囲へと同
心円状に減衰するビーム透過部13が設けてある。図2
2(a)の例では、中央に開口穴42を設け、この開口
穴42の周囲の透過率が同心円状に減衰するようにして
ある。このフィルター14にエネルギービームBを通す
と、ビーム透過部13を透過したエネルギービームBは
図22(b)のように中央位置が大に周辺位置が小にな
ったエネルギー分布をしている(図22(b)は横方向
にエネルギービームBの強さを、縦方向にエネルギービ
ームBの面積を示す)。従って、エネルギービームBを
レンズ28等の結像光学系を通して絶縁層2の表面の加
工面2aに縮小結像させ、絶縁層2にビアホール3を加
工するようにあたって、深さ方向に向かって小径となる
正テーパ穴のビアホール3を加工することができるもの
である。このようにフィルター14を用いることによっ
て、一回のエネルギービームBの照射で中央位置が大に
周辺位置が小になったエネルギー分布で照射を行なうこ
とができ、一回のエネルギービームBの照射で正テーパ
穴のビアホール3を加工することができるものである。
【0049】図23は請求項15に係る発明の実施の形
態を示すものであり、エネルギービームBとして炭酸ガ
スレーザやエキシマレーザなどを用い、エネルギービー
ムBをレンズ28等の結像光学系を通して絶縁層2の表
面の加工面2aに縮小結像させ、絶縁層2にビアホール
3を加工するようにしてある。そしてこの請求項15の
発明では、まずレンズ28と加工面2aとの間の距離を
調整する等して図23(a)のように加工面2aにエネ
ルギービームBの照射の焦点を合わせるジャストフォー
カスで照射を行ない、次にレンズ28と加工面2aとの
間の距離を調整する等して図23(b)のように加工面
2aからエネルギービームBの照射の焦点が外れるデフ
ォーカスで照射を行なう。このようにエネルギービーム
Bの照射を焦点が加工面2aに合うジャストフォーカス
から焦点が加工面2aから外れるデフォーカスにする
と、ジャストフォーカスの際のエネルギービームBの照
射は中央部に集中すると共にデフォーカスの際のエネル
ギービームB照射は周辺部にも及ぶために、エネルギー
ビームBの照射によるエネルギー分布は中央位置が大に
周辺位置が小になり、ジャストフォーカスのエネルギー
ビームBで形成される穴43の開口縁が除去されて、深
さ方向に向かって小径となる正テーパ穴のビアホール3
を加工することができるものである。
態を示すものであり、エネルギービームBとして炭酸ガ
スレーザやエキシマレーザなどを用い、エネルギービー
ムBをレンズ28等の結像光学系を通して絶縁層2の表
面の加工面2aに縮小結像させ、絶縁層2にビアホール
3を加工するようにしてある。そしてこの請求項15の
発明では、まずレンズ28と加工面2aとの間の距離を
調整する等して図23(a)のように加工面2aにエネ
ルギービームBの照射の焦点を合わせるジャストフォー
カスで照射を行ない、次にレンズ28と加工面2aとの
間の距離を調整する等して図23(b)のように加工面
2aからエネルギービームBの照射の焦点が外れるデフ
ォーカスで照射を行なう。このようにエネルギービーム
Bの照射を焦点が加工面2aに合うジャストフォーカス
から焦点が加工面2aから外れるデフォーカスにする
と、ジャストフォーカスの際のエネルギービームBの照
射は中央部に集中すると共にデフォーカスの際のエネル
ギービームB照射は周辺部にも及ぶために、エネルギー
ビームBの照射によるエネルギー分布は中央位置が大に
周辺位置が小になり、ジャストフォーカスのエネルギー
ビームBで形成される穴43の開口縁が除去されて、深
さ方向に向かって小径となる正テーパ穴のビアホール3
を加工することができるものである。
【0050】図24は請求項16に係る発明の実施の形
態を示すものであり、以上の各方法でビアホール3を加
工した後に、絶縁層2の表面を過マンガン酸カリウム等
の薬剤で粗化洗浄するようにしてある。このように粗化
洗浄処理することによって、図24(a)のように表面
に付着する付着物44を除去することができると共にビ
アホール3の穴底洗浄を行なうことができ、さらに絶縁
層2の表面へのメッキの密着力を向上させることができ
るものであり、しかも図24(b)のようにビアホール
3のテーパ角度を安定させることができるものである。
態を示すものであり、以上の各方法でビアホール3を加
工した後に、絶縁層2の表面を過マンガン酸カリウム等
の薬剤で粗化洗浄するようにしてある。このように粗化
洗浄処理することによって、図24(a)のように表面
に付着する付着物44を除去することができると共にビ
アホール3の穴底洗浄を行なうことができ、さらに絶縁
層2の表面へのメッキの密着力を向上させることができ
るものであり、しかも図24(b)のようにビアホール
3のテーパ角度を安定させることができるものである。
【0051】
【発明の効果】上記のように本発明に係る多層配線板
は、絶縁層に穴明けを行なうよう絶縁層の厚さ方向にエ
ネルギービームの照射を制御して形成したビアホールで
層間導通の少なくとも一部を行なうようにした多層配線
板において、ビアホールをその内周面が傾斜し深さ方向
に向かって小径となるテーパ穴に形成して成ることを特
徴とするものであり、ビアホールへのメッキ液の循環が
良好になってビアホール内部へのメッキ付き性が向上す
るものである。
は、絶縁層に穴明けを行なうよう絶縁層の厚さ方向にエ
ネルギービームの照射を制御して形成したビアホールで
層間導通の少なくとも一部を行なうようにした多層配線
板において、ビアホールをその内周面が傾斜し深さ方向
に向かって小径となるテーパ穴に形成して成ることを特
徴とするものであり、ビアホールへのメッキ液の循環が
良好になってビアホール内部へのメッキ付き性が向上す
るものである。
【0052】また本発明の請求項2に係る多層配線板の
製造方法は、絶縁層に穴明けを行なうよう絶縁層の厚さ
方向にエネルギービームの照射を制御して形成したビア
ホールで層間導通の少なくとも一部を行なうようにした
多層配線板を製造するにあたって、ビアホールの加工に
エネルギービームを用い、加工面でのエネルギー分布を
中央位置が大に周辺位置が小になるように調整してエネ
ルギービームを絶縁層に照射することによって、ビアホ
ールを深さ方向に向かって小径となるテーパ穴に形成す
るようにしたので、エネルギービームを用いて正テーパ
穴形状のビアホールを形成することができるものであ
り、絶縁層の樹脂材料に制約を受けることなく、また生
産性良くビアホールの加工を行なうことができるもので
ある。
製造方法は、絶縁層に穴明けを行なうよう絶縁層の厚さ
方向にエネルギービームの照射を制御して形成したビア
ホールで層間導通の少なくとも一部を行なうようにした
多層配線板を製造するにあたって、ビアホールの加工に
エネルギービームを用い、加工面でのエネルギー分布を
中央位置が大に周辺位置が小になるように調整してエネ
ルギービームを絶縁層に照射することによって、ビアホ
ールを深さ方向に向かって小径となるテーパ穴に形成す
るようにしたので、エネルギービームを用いて正テーパ
穴形状のビアホールを形成することができるものであ
り、絶縁層の樹脂材料に制約を受けることなく、また生
産性良くビアホールの加工を行なうことができるもので
ある。
【0053】また請求項3に係る多層配線板の製造方法
は、中心部より複数のスリットを放射状に設けてビーム
通過部を形成したマスクにエネルギービームを通過さ
せ、このエネルギービームを絶縁層に照射するようにし
たので、エネルギービームをマスクに通すだけでエネル
ギービームの加工面でのエネルギー分布を中央位置が大
に周辺位置が小になるように調整することができるもの
である。
は、中心部より複数のスリットを放射状に設けてビーム
通過部を形成したマスクにエネルギービームを通過さ
せ、このエネルギービームを絶縁層に照射するようにし
たので、エネルギービームをマスクに通すだけでエネル
ギービームの加工面でのエネルギー分布を中央位置が大
に周辺位置が小になるように調整することができるもの
である。
【0054】また請求項4に係る多層配線板の製造方法
は、中心の円形開口部の周辺に複数の周辺開口部を同心
円状に設けてビーム通過部を形成したマスクにエネルギ
ービームを通過させ、このエネルギービームを絶縁層に
照射するようにしたので、エネルギービームをマスクに
通すだけでエネルギービームの加工面でのエネルギー分
布を中央位置が大に周辺位置が小になるように調整する
ことができるものである。
は、中心の円形開口部の周辺に複数の周辺開口部を同心
円状に設けてビーム通過部を形成したマスクにエネルギ
ービームを通過させ、このエネルギービームを絶縁層に
照射するようにしたので、エネルギービームをマスクに
通すだけでエネルギービームの加工面でのエネルギー分
布を中央位置が大に周辺位置が小になるように調整する
ことができるものである。
【0055】また請求項5に係る多層配線板の製造方法
は、請求項3又は4に記載のマスクを用い、エネルギー
ビームをパルス発振させると共にマスクをエネルギービ
ームの発振と同期させてビーム通過部を中心に回転さ
せ、このマスクを通過させたエネルギービームを絶縁層
に照射するようにしたので、ビーム通過部の形状のまま
エネルギービームが加工面に照射されることがなくな
り、周辺部でのエネルギー分布が均一になるものであ
る。
は、請求項3又は4に記載のマスクを用い、エネルギー
ビームをパルス発振させると共にマスクをエネルギービ
ームの発振と同期させてビーム通過部を中心に回転さ
せ、このマスクを通過させたエネルギービームを絶縁層
に照射するようにしたので、ビーム通過部の形状のまま
エネルギービームが加工面に照射されることがなくな
り、周辺部でのエネルギー分布が均一になるものであ
る。
【0056】また請求項6に係る多層配線板の製造方法
は、請求項3又は4に記載のマスクを用い、エネルギー
ビームを連続発振させると共にマスクをビーム通過部を
中心に回転させ、このマスクを通過させたエネルギービ
ームを絶縁層に照射するようにしたので、ビーム通過部
の形状のままエネルギービームが加工面に照射されるこ
とがなくって、周辺部でのエネルギー分布が均一になる
ものであり、しかもエネルギービームの発振とマスクの
回転との同期制御を行なうことが不要になるものであ
る。
は、請求項3又は4に記載のマスクを用い、エネルギー
ビームを連続発振させると共にマスクをビーム通過部を
中心に回転させ、このマスクを通過させたエネルギービ
ームを絶縁層に照射するようにしたので、ビーム通過部
の形状のままエネルギービームが加工面に照射されるこ
とがなくって、周辺部でのエネルギー分布が均一になる
ものであり、しかもエネルギービームの発振とマスクの
回転との同期制御を行なうことが不要になるものであ
る。
【0057】また請求項7に係る多層配線板の製造方法
は、ビーム通過部を有するマスクを通過させてエネルギ
ービームを絶縁層に照射するにあたって、同一のマスク
を通過させたエネルギービームの加工面での結像の縮小
率を変えることによってエネルギー密度を変化させて複
数回照射し、加工面でのエネルギービームのエネルギー
分布が中央位置で大に周辺位置で小になるように調整し
たので、複雑な形状のビーム通過部を形成したマスクを
用いる必要なく、複数回の照射エネルギーの累積によっ
てエネルギービームのエネルギー分布の調整が可能にな
るものである。
は、ビーム通過部を有するマスクを通過させてエネルギ
ービームを絶縁層に照射するにあたって、同一のマスク
を通過させたエネルギービームの加工面での結像の縮小
率を変えることによってエネルギー密度を変化させて複
数回照射し、加工面でのエネルギービームのエネルギー
分布が中央位置で大に周辺位置で小になるように調整し
たので、複雑な形状のビーム通過部を形成したマスクを
用いる必要なく、複数回の照射エネルギーの累積によっ
てエネルギービームのエネルギー分布の調整が可能にな
るものである。
【0058】また請求項8に係る多層配線板の製造方法
は、ビーム通過部を有するマスクを通過させてエネルギ
ービームを絶縁層に照射するにあたって、径の異なるビ
ーム通過部を有する複数のマスクを用い、各マスクを通
過させたエネルギービームで複数回照射することによっ
て、加工面でのエネルギービームのエネルギー分布が中
央位置で大に周辺位置で小になるように調整したので、
複雑な形状のビーム通過部を形成したマスクを用いる必
要なく、複数回の照射エネルギーの累積によってエネル
ギービームのエネルギー分布の調整が可能になるもので
ある。
は、ビーム通過部を有するマスクを通過させてエネルギ
ービームを絶縁層に照射するにあたって、径の異なるビ
ーム通過部を有する複数のマスクを用い、各マスクを通
過させたエネルギービームで複数回照射することによっ
て、加工面でのエネルギービームのエネルギー分布が中
央位置で大に周辺位置で小になるように調整したので、
複雑な形状のビーム通過部を形成したマスクを用いる必
要なく、複数回の照射エネルギーの累積によってエネル
ギービームのエネルギー分布の調整が可能になるもので
ある。
【0059】また請求項9に係る多層配線板の製造方法
は、エネルギービームとして2種類以上のものを用いる
ようにしたので、エネルギービームの組み合わせで品質
の良いビアホールを形成することが可能になるものであ
る。また請求項10に係る多層配線板の製造方法は、複
数穴のビアホールを加工するにあたって、各ビアホール
を形成する箇所毎にマスクのビーム通過部の径の変更あ
るいはデフォーカスによってエネルギー密度を変化させ
たエネルギービームの照射を複数回ずつ行なって、深さ
方向に向かって小径となるテーパ穴のビアホールを形成
するようにしたので、ビアホールを加工する箇所毎に複
数回のエネルギービームの照射をおこなうことによっ
て、各照射の位置合わせが容易になって、照射の重ね合
わせの精度が高くなるものである。
は、エネルギービームとして2種類以上のものを用いる
ようにしたので、エネルギービームの組み合わせで品質
の良いビアホールを形成することが可能になるものであ
る。また請求項10に係る多層配線板の製造方法は、複
数穴のビアホールを加工するにあたって、各ビアホール
を形成する箇所毎にマスクのビーム通過部の径の変更あ
るいはデフォーカスによってエネルギー密度を変化させ
たエネルギービームの照射を複数回ずつ行なって、深さ
方向に向かって小径となるテーパ穴のビアホールを形成
するようにしたので、ビアホールを加工する箇所毎に複
数回のエネルギービームの照射をおこなうことによっ
て、各照射の位置合わせが容易になって、照射の重ね合
わせの精度が高くなるものである。
【0060】また請求項11に係る多層配線板の製造方
法は、マスクのビーム通過部の径の変更あるいはデフォ
ーカスによってエネルギー密度を変化させたエネルギー
ビームの照射を複数回ずつ行なって複数穴のビアホール
を加工するにあたって、各ビアホールを形成する箇所に
エネルギービームを順次照射し、この順次照射するエネ
ルギービームの照射をエネルギー密度を変化させて複数
回繰り返すことによって、深さ方向に向かって小径とな
るテーパ穴のビアホールを形成するようにしたので、エ
ネルギービームの照射毎にマスクを変更したりしてエネ
ルギービームの照射を変更するような必要がなくなり、
加工時間を短縮することができるものである。
法は、マスクのビーム通過部の径の変更あるいはデフォ
ーカスによってエネルギー密度を変化させたエネルギー
ビームの照射を複数回ずつ行なって複数穴のビアホール
を加工するにあたって、各ビアホールを形成する箇所に
エネルギービームを順次照射し、この順次照射するエネ
ルギービームの照射をエネルギー密度を変化させて複数
回繰り返すことによって、深さ方向に向かって小径とな
るテーパ穴のビアホールを形成するようにしたので、エ
ネルギービームの照射毎にマスクを変更したりしてエネ
ルギービームの照射を変更するような必要がなくなり、
加工時間を短縮することができるものである。
【0061】また請求項12に係る多層配線板の製造方
法は、エネルギービームを2分岐し、径の異なるビーム
通過部を有するマスクに分岐したエネルギービームをそ
れぞれ通過させた後、この分岐したエネルギービームを
重ね合わせることによって、加工面でのエネルギービー
ムのエネルギー分布が中央位置を大に周辺位置を小にな
るように調整したので、複雑な形状のビーム通過部を形
成したマスクを用いる必要なく、エネルギービームのエ
ネルギー分布の調整が可能になり、しかもエネルギービ
ームの1回の照射でビアホールを加工することができる
ものである。
法は、エネルギービームを2分岐し、径の異なるビーム
通過部を有するマスクに分岐したエネルギービームをそ
れぞれ通過させた後、この分岐したエネルギービームを
重ね合わせることによって、加工面でのエネルギービー
ムのエネルギー分布が中央位置を大に周辺位置を小にな
るように調整したので、複雑な形状のビーム通過部を形
成したマスクを用いる必要なく、エネルギービームのエ
ネルギー分布の調整が可能になり、しかもエネルギービ
ームの1回の照射でビアホールを加工することができる
ものである。
【0062】また請求項13に係る多層配線板の製造方
法は、エネルギービームを2分岐し、2分岐した各エネ
ルギービームを光学系で集光させて、加工面に対して一
方のエネルギービームをジャストフォーカスに他方のエ
ネルギービームをデフォーカスになるように重ね合わせ
ることによって、加工面でのエネルギービームのエネル
ギー分布が中央位置を大に周辺位置を小になるように調
整したので、マスクを用いる必要なくエネルギービーム
のエネルギー分布を調整することが可能になり、しかも
エネルギービームの1回の照射でビアホールを加工する
ことができるものである。
法は、エネルギービームを2分岐し、2分岐した各エネ
ルギービームを光学系で集光させて、加工面に対して一
方のエネルギービームをジャストフォーカスに他方のエ
ネルギービームをデフォーカスになるように重ね合わせ
ることによって、加工面でのエネルギービームのエネル
ギー分布が中央位置を大に周辺位置を小になるように調
整したので、マスクを用いる必要なくエネルギービーム
のエネルギー分布を調整することが可能になり、しかも
エネルギービームの1回の照射でビアホールを加工する
ことができるものである。
【0063】また請求項14に係る多層配線板の製造方
法は、透過率が同心円状に外側程低くなるビーム透過部
を有するフィルターにエネルギービームを通過させて、
エネルギービームを絶縁層に照射するようにしたので、
フィルターを通過させるだけでエネルギービームの加工
面でのエネルギー分布を中央位置が大に周辺位置が小に
なるように調整することができ、しかもエネルギービー
ムの1回の照射でビアホールを加工することができるも
のである。
法は、透過率が同心円状に外側程低くなるビーム透過部
を有するフィルターにエネルギービームを通過させて、
エネルギービームを絶縁層に照射するようにしたので、
フィルターを通過させるだけでエネルギービームの加工
面でのエネルギー分布を中央位置が大に周辺位置が小に
なるように調整することができ、しかもエネルギービー
ムの1回の照射でビアホールを加工することができるも
のである。
【0064】また請求項15に係る多層配線板の製造方
法は、エネルギービームを加工面でデフォーカスさせて
照射することによって、加工面でのエネルギービームの
エネルギー分布が中央位置を大に周辺位置を小になるよ
うに調整したので、焦点を移動させる操作でエネルギー
ビームの加工面でのエネルギー分布を中央位置が大に周
辺位置が小になるように調整することができ、しかもエ
ネルギービームの1回の照射でビアホールを加工するこ
とができるものである。
法は、エネルギービームを加工面でデフォーカスさせて
照射することによって、加工面でのエネルギービームの
エネルギー分布が中央位置を大に周辺位置を小になるよ
うに調整したので、焦点を移動させる操作でエネルギー
ビームの加工面でのエネルギー分布を中央位置が大に周
辺位置が小になるように調整することができ、しかもエ
ネルギービームの1回の照射でビアホールを加工するこ
とができるものである。
【0065】また請求項16に係る多層配線板の製造方
法は、エネルギービームによってビアホールを加工した
後、絶縁層の表面を粗化処理するようにしたので、粗化
処理によって絶縁層の表面の洗浄と同時にビアホールの
穴内の洗浄も同時に行なうことができるものである。
法は、エネルギービームによってビアホールを加工した
後、絶縁層の表面を粗化処理するようにしたので、粗化
処理によって絶縁層の表面の洗浄と同時にビアホールの
穴内の洗浄も同時に行なうことができるものである。
【図1】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、
(a),(b),(c)は多層配線板の製造の各工程の
断面図、(d)は(c)の一部の拡大した断面図であ
る。
(a),(b),(c)は多層配線板の製造の各工程の
断面図、(d)は(c)の一部の拡大した断面図であ
る。
【図2】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、
(a)乃至(e)は多層配線板の製造の各工程の断面図
である。
(a)乃至(e)は多層配線板の製造の各工程の断面図
である。
【図3】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、
(a)は多層配線板の断面図、(b)は多層配線板の一
部の拡大した断面図である。
(a)は多層配線板の断面図、(b)は多層配線板の一
部の拡大した断面図である。
【図4】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、
(a),(b),(c)はそれぞれエネルギービームの
強度分布を示す図である。
(a),(b),(c)はそれぞれエネルギービームの
強度分布を示す図である。
【図5】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、
(a)はエネルギービームの一部を省略して示した斜視
図、(b)はエネルギービームの強度分布を示す図であ
る。
(a)はエネルギービームの一部を省略して示した斜視
図、(b)はエネルギービームの強度分布を示す図であ
る。
【図6】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、
(a),(b)は断面図である。
(a),(b)は断面図である。
【図7】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、
(a),(b)はマスクの正面図である。
(a),(b)はマスクの正面図である。
【図8】本発明の実施の形態の一例を示すものであり、
(a),(b)はマスクの正面図である。
(a),(b)はマスクの正面図である。
【図9】本発明の実施の形態の一例を示す図であり、
(a)はマスクを、(b)はエネルギービームの出力の
ON−OFFとマスクの回転のON−OFFを、(c)
は加工面を示すものである。
(a)はマスクを、(b)はエネルギービームの出力の
ON−OFFとマスクの回転のON−OFFを、(c)
は加工面を示すものである。
【図10】本発明の実施の形態の一例を図であり、
(a)はマスクを、(b)はエネルギービームの出力の
ON−OFFを、(c)は加工面を示すものである。
(a)はマスクを、(b)はエネルギービームの出力の
ON−OFFを、(c)は加工面を示すものである。
【図11】本発明の実施の形態の一例を示すものであ
り、(a)乃至(d)は断面図である。
り、(a)乃至(d)は断面図である。
【図12】本発明の実施の形態の一例を示すものであ
り、(a)乃至(d)はエネルギービームの強度分布を
示す図である。
り、(a)乃至(d)はエネルギービームの強度分布を
示す図である。
【図13】本発明の実施の形態の一例を示すものであ
り、(a)乃至(d)は断面図である。
り、(a)乃至(d)は断面図である。
【図14】本発明の実施の形態の一例を示すものであ
り、(a)乃至(d)はエネルギービームの強度分布を
示す図である。
り、(a)乃至(d)はエネルギービームの強度分布を
示す図である。
【図15】本発明の実施の形態の一例を示すものであ
り、(a)乃至(c)は断面図である。
り、(a)乃至(c)は断面図である。
【図16】本発明の実施の形態の一例を示すものであ
り、(a)乃至(d)は断面図である。
り、(a)乃至(d)は断面図である。
【図17】本発明の実施の形態の一例を示すものであ
り、(a)乃至(d)は断面図である。
り、(a)乃至(d)は断面図である。
【図18】本発明の実施の形態の一例を示すものであ
り、(a)乃至(e)は断面図である。
り、(a)乃至(e)は断面図である。
【図19】本発明の実施の形態の一例を示すものであ
り、(a)乃至(e)は断面図である。
り、(a)乃至(e)は断面図である。
【図20】本発明の実施の形態の一例を示す断面図であ
る。
る。
【図21】本発明の実施の形態の一例を示す正面図であ
る。
る。
【図22】本発明の実施の形態の一例を示すものであ
り、(a)はフィルター部分の断面図、(b)はエネル
ギー強度の分布を示す図である。
り、(a)はフィルター部分の断面図、(b)はエネル
ギー強度の分布を示す図である。
【図23】本発明の実施の形態の一例を示すものであ
り、(a)及び(b)は断面図である。
り、(a)及び(b)は断面図である。
【図24】本発明の実施の形態の一例を示すものであ
り、(a)及び(b)は断面図である。
り、(a)及び(b)は断面図である。
【図25】従来例を示すものであり、(a)はエネルギ
ー強度の分布を示す図、(b)は穴明けした基板の断面
図、(c)はメッキを施した基板の断面図である。
ー強度の分布を示す図、(b)は穴明けした基板の断面
図、(c)はメッキを施した基板の断面図である。
【図26】他の従来例を示すものであり、(a)乃至
(d)は断面図である。
(d)は断面図である。
1 基板 2 絶縁層 3 ビアホール 4 スリット 5 ビーム通過部 6 マスク 7 円形開口部 8 周辺開口部 9 マスク 10 マスク 11 マスク 12 マスク 13 ビーム通過部 14 フィルター
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田中 健一郎 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内
Claims (16)
- 【請求項1】 絶縁層に穴明けを行なうよう絶縁層の厚
さ方向にエネルギービームの照射を制御して形成したビ
アホールで層間導通の少なくとも一部を行なうようにし
た多層配線板において、ビアホールをその内周面が傾斜
し深さ方向に向かって小径となるテーパ穴に形成して成
ることを特徴とする多層配線板。 - 【請求項2】 絶縁層に穴明けを行なうよう絶縁層の厚
さ方向にエネルギービームの照射を制御して形成したビ
アホールで層間導通の少なくとも一部を行なうようにし
た多層配線板を製造するにあたって、ビアホールの加工
にエネルギービームを用い、加工面でのエネルギー分布
を中央位置が大に周辺位置が小になるように調整してエ
ネルギービームを絶縁層に照射することによって、ビア
ホールを深さ方向に向かって小径となるテーパ穴に形成
することを特徴とする多層配線板の製造方法。 - 【請求項3】 中心部より複数のスリットを放射状に設
けてビーム通過部を形成したマスクにエネルギービーム
を通過させ、このエネルギービームを絶縁層に照射する
ことを特徴とする請求項2に記載の多層配線板の製造方
法。 - 【請求項4】 中心の円形開口部の周辺に複数の周辺開
口部を同心円状に設けてビーム通過部を形成したマスク
にエネルギービームを通過させ、このエネルギービーム
を絶縁層に照射することを特徴とする請求項2に記載の
多層配線板の製造方法。 - 【請求項5】 請求項3又は4に記載のマスクを用い、
エネルギービームをパルス発振させると共にマスクをエ
ネルギービームの発振と同期させてビーム通過部を中心
に回転させ、このマスクを通過させたエネルギービーム
を絶縁層に照射することを特徴とする請求項2に記載の
多層配線板の製造方法。 - 【請求項6】 請求項3又は4に記載のマスクを用い、
エネルギービームを連続発振させると共にマスクをビー
ム通過部を中心に回転させ、このマスクを通過させたエ
ネルギービームを絶縁層に照射することを特徴とする請
求項2に記載の多層配線板の製造方法。 - 【請求項7】 ビーム通過部を有するマスクを通過させ
てエネルギービームを絶縁層に照射するにあたって、同
一のマスクを通過させたエネルギービームの加工面での
結像の縮小率を変えることによってエネルギー密度を変
化させて複数回照射し、加工面でのエネルギービームの
エネルギー分布が中央位置で大に周辺位置で小になるよ
うに調整したことを特徴とする請求項2に記載の多層配
線板の製造方法。 - 【請求項8】 ビーム通過部を有するマスクを通過させ
てエネルギービームを絶縁層に照射するにあたって、径
の異なるビーム通過部を有する複数のマスクを用い、各
マスクを通過させたエネルギービームで複数回照射する
ことによって、加工面でのエネルギービームのエネルギ
ー分布が中央位置で大に周辺位置で小になるように調整
したことを特徴とする請求項2に記載の多層配線板の製
造方法。 - 【請求項9】 エネルギービームとして2種類以上のも
のを用いることを特徴とする請求項2乃至8のいずれか
に記載の多層配線板の製造方法。 - 【請求項10】 複数穴のビアホールを加工するにあた
って、各ビアホールを形成する箇所毎にマスクのビーム
通過部の径の変更あるいはデフォーカスによってエネル
ギー密度を変化させたエネルギービームの照射を複数回
ずつ行なって、深さ方向に向かって小径となるテーパ穴
のビアホールを形成することを特徴とする請求項7又は
8に記載の多層配線板の製造方法。 - 【請求項11】 マスクのビーム通過部の径の変更ある
いはデフォーカスによってエネルギー密度を変化させた
エネルギービームの照射を複数回ずつ行なって複数穴の
ビアホールを加工するにあたって、各ビアホールを形成
する箇所にエネルギービームを順次照射し、この順次照
射するエネルギービームの照射をエネルギー密度を変化
させて複数回繰り返すことによって、深さ方向に向かっ
て小径となるテーパ穴のビアホールを形成することを特
徴とする請求項7又は8に記載の多層配線板の製造方
法。 - 【請求項12】 エネルギービームを2分岐し、径の異
なるビーム通過部を有するマスクに分岐したエネルギー
ビームをそれぞれ通過させた後、この分岐したエネルギ
ービームを重ね合わせることによって、加工面でのエネ
ルギービームのエネルギー分布が中央位置を大に周辺位
置を小になるように調整したことを特徴とする請求項2
に記載の多層配線板の製造方法。 - 【請求項13】 エネルギービームを2分岐し、2分岐
した各エネルギービームを光学系で集光させて、加工面
に対して一方のエネルギービームをジャストフォーカス
に他方のエネルギービームをデフォーカスになるように
重ね合わせることによって、加工面でのエネルギービー
ムのエネルギー分布が中央位置を大に周辺位置を小にな
るように調整したことを特徴とする請求項2に記載の多
層配線板の製造方法。 - 【請求項14】 透過率が同心円状に外側程低くなるビ
ーム透過部を有するフィルターにエネルギービームを通
過させ、このエネルギービームを絶縁層に照射すること
を特徴とする請求項2に記載の多層配線板の製造方法。 - 【請求項15】 エネルギービームを加工面でデフォー
カスさせて照射することによって、加工面でのエネルギ
ービームのエネルギー分布が中央位置を大に周辺位置を
小になるように調整したことを特徴とする請求項2に記
載の多層配線板の製造方法。 - 【請求項16】 エネルギービームによってビアホール
を加工した後、絶縁層の表面を粗化処理することを特徴
とする請求項2乃至15のいずれかに記載の多層配線板
の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07237391A JP3115987B2 (ja) | 1995-09-14 | 1995-09-14 | 多層配線板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07237391A JP3115987B2 (ja) | 1995-09-14 | 1995-09-14 | 多層配線板の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0983146A true JPH0983146A (ja) | 1997-03-28 |
JP3115987B2 JP3115987B2 (ja) | 2000-12-11 |
Family
ID=17014702
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP07237391A Expired - Fee Related JP3115987B2 (ja) | 1995-09-14 | 1995-09-14 | 多層配線板の製造方法 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP3115987B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0969707A2 (en) * | 1998-06-30 | 2000-01-05 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Multilayer printed wiring board and method for manufacturing same |
WO2000015015A1 (fr) * | 1998-09-03 | 2000-03-16 | Ibiden Co., Ltd. | Carte imprimee multicouches et son procede de fabrication |
JP2001210900A (ja) * | 2000-01-25 | 2001-08-03 | Kyocera Corp | Rf励起方式レーザー装置 |
WO2002086964A1 (fr) * | 2001-04-18 | 2002-10-31 | Sony Corporation | Procede de cablage et procede d'agencement d'elements faisant appel a ce dernier et procede de production de dispositifs d'affichage d'images |
JP2004514285A (ja) * | 2000-11-17 | 2004-05-13 | エムコア・コーポレイション | 光抽出を改善するためのテーパーづけ側壁を有するレーザ分離ダイ |
-
1995
- 1995-09-14 JP JP07237391A patent/JP3115987B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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WO2000015015A1 (fr) * | 1998-09-03 | 2000-03-16 | Ibiden Co., Ltd. | Carte imprimee multicouches et son procede de fabrication |
US6591495B2 (en) | 1998-09-03 | 2003-07-15 | Ibiden Co., Ltd. | Manufacturing method of a multilayered printed circuit board having an opening made by a laser, and using electroless and electrolytic plating |
US7415761B2 (en) | 1998-09-03 | 2008-08-26 | Ibiden Co., Ltd. | Method of manufacturing multilayered circuit board |
US7832098B2 (en) | 1998-09-03 | 2010-11-16 | Ibiden Co., Ltd. | Method of manufacturing a multilayered printed circuit board |
US8148643B2 (en) | 1998-09-03 | 2012-04-03 | Ibiden Co., Ltd. | Multilayered printed circuit board and manufacturing method thereof |
JP2001210900A (ja) * | 2000-01-25 | 2001-08-03 | Kyocera Corp | Rf励起方式レーザー装置 |
JP2004514285A (ja) * | 2000-11-17 | 2004-05-13 | エムコア・コーポレイション | 光抽出を改善するためのテーパーづけ側壁を有するレーザ分離ダイ |
WO2002086964A1 (fr) * | 2001-04-18 | 2002-10-31 | Sony Corporation | Procede de cablage et procede d'agencement d'elements faisant appel a ce dernier et procede de production de dispositifs d'affichage d'images |
US6933208B2 (en) | 2001-04-18 | 2005-08-23 | Sony Corporation | Method of forming wiring, and method of arranging devices and method of manufacturing image display system by using the same |
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