JPH0981736A - 傷検査装置 - Google Patents
傷検査装置Info
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- JPH0981736A JPH0981736A JP7231699A JP23169995A JPH0981736A JP H0981736 A JPH0981736 A JP H0981736A JP 7231699 A JP7231699 A JP 7231699A JP 23169995 A JP23169995 A JP 23169995A JP H0981736 A JPH0981736 A JP H0981736A
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Abstract
有率を小さくし、かつ位置ずれ補正を容易にする。 【解決手段】 被検査部材1に光源2からの光を当て、
その反射光を撮像装置(CAMERA)で撮像して傷の
有無を検出するに当たり、CAMERAを図示の如く例
えば3台(31〜33)設けることにより、検出精度を
上げられるようにし、信頼性を向上させる。このとき、
ビームスプリッタ41〜43を介在させることで、空間
占有率を小さくする。さらに、CAMERA31〜33
の出力から位置ずれ補正量を求め、その量に応じてメモ
リの読み出しアドレスを決定することで、機械的な手法
によらず簡単に位置ずれ補正を可能とする。
Description
等の長尺物、または円板状部材等の表面の傷を光学的に
検査するための傷検査装置に関する。
被検査部材1の表面を光源2により照射し、被検査部材
1の或るライン上からの反射光をテレビカメラなどの撮
像装置3によって撮像し、その撮像画像から傷の有無を
検出するものである。
撮像装置では傷の大きさ,種類などによっては検出でき
ない場合があることが指摘されている。つまり、1つの
撮像装置では検出精度が上がらず信頼性に乏しいという
問題がある。したがって、この発明の課題は、撮像装置
を複数個設けることで検出精度を高めて信頼性を向上さ
せること、また、撮像装置を複数個設けた場合の空間専
有率を小さくすること、さらには、撮像装置を複数個設
けた場合の各撮像装置の位置ずれ補正を容易にすること
などにある。
に、この発明では撮像装置を2つ以上設ける。これによ
り、1つでは検出できない場合でも他の撮像装置で検出
できることもあることから、検出精度が上がり信頼性が
増大する。また、ビームスプリッタを介在させることに
より、撮像装置の空間専有率を小さくし、ビームスプリ
ッタの透過と反射の関係を選択することで、撮像装置へ
の入射光量を互いにほぼ等しくする。さらに、各撮像装
置を介して得られる出力から、相互の位置ずれ量を求
め、これに応じてメモリ上のアドレスを決定すること
で、位置ずれ量を容易に補正し得るようにする。
態を示す概要図である。すなわち、光源2と複数台(こ
こでは、3台とする)の撮像装置(テレビカメラ:CA
MERA)31〜33を配置して構成される。なお、1
は鋼板等の被検査部材である。つまり、図1では例えば
撮像装置32を、光源3からの入射光に対する正反射位
置のほぼ中心線上に配置し、この中心線に対しそれぞれ
所定角度(ここでは例えば1°)ずつ傾けて他の撮像装
置31,33を配置するようにしたものである。
概要図である。これは、図1に示すものが高さ方向(紙
面の上下方向)に或る大きさを必要とし大型化するの
で、高さ方向を低くするようにし空間専有率を小さくす
るものである。すなわち、被検査部材2からの反射光路
内に、光を分岐・結合するためのビームスプリッタ41
〜43を配置し、反射光路をビームスプリッタ42を中
心に互いに少しずつ変えることにより、テレビカメラ3
1〜33を鉛直方向に重ねて設置し得るようにしたもの
である。
当たっては、光の分岐・結合の割合を例えば図3のよう
にすることで、各テレビカメラ31〜33の入射光量を
ほぼ等しくすることができる。すなわち、3台のテレビ
カメラ31〜33を設けるものとすれば、ビームスプリ
ッタ41〜43の被検査部材1に近いものから順に、光
の透過対反射の割合をそれぞれ2対1,1対1,0対1
とする。こうすれば、全入射光量をLとして、テレビカ
メラ31,32,33の入射光量はそれぞれほぼL/3
ずつとすることができる。なお、最上段のビームスプリ
ッタ41は反射鏡であるが、ここでは100%反射形
(0%透過形)のビームスプリッタと呼ぶこととする。
場合は、各テレビカメラが被検査部材の同じ位置(ライ
ン)を観察することが必要とされる。このため、機械的
に調整することがまず考えられるが、テレビカメラ等の
大きさに比べて視野の調整量が極端に小さなオーダとな
るため、機械的な調整は現実的ではない。そこで、この
発明では以下のようにする。図4はこの発明による位置
調整原理を説明するための説明図である。
なう場合の例で、1は円板状の被検査部材、31〜35
はテレビカメラ(CAMERA)、41〜45はビーム
スプリッタ、5は標準パターンである。すなわち、位置
調整時には被検査部材1の近傍に標準パターン5を配置
する。この標準パターン5は図5に示すように、中心部
に矩形状のくり抜き部51を持つ基板上に、「ハ」の字
形のパターンP11,P12,P21およびP22を形
成して構成され、この標準パターン5を被検査部材1に
接するように配置しテレビカメラ31〜35にて撮像す
る。
力(図4(イ)参照)を、図示されない画像処理装置の
メモリに格納し、メモリに格納されたデータにもとづ
き、或るデータを基準として他のデータの回転方向(y
方向)ずれ,半径方向(x方向)ずれおよびスキューず
れを含む位置補正量をそれぞれ検出する(図4(ロ)参
照)。このとき、観測ラインと撮像装置の分解能,走査
速度などの関数となる位置補正量と、メモリの位置(ア
ドレス)との関係には一定の関係があるので、位置補正
量が検出されれば、その量に応じてメモリ上の位置関係
を決定することができる(図4(ハ)参照)。
6は撮像視野と2つのテレビカメラによる出力の関係を
示すもので、2のテレビカメラによる出力が回転方向
(y方向)にずれていて、例えば一方のテレビカメラの
視点が走査ラインL1、他方のテレビカメラの視点が走
査ラインL2にあるとすると、前者の場合のテレビカメ
ラの出力はの如くなり、後者の場合の出力はのよう
になる。
ずれ(Δy)は、カメラ出力とカメラ出力との基準
点からの時間差をty、標準パターン5のパターンP1
2,P22が水平ラインとなす角度をθ1として、 Δy=k・ty・tanθ1 …(1) と表わすことができる。ここで、kは1ライン当たりの
走査時間およびテレビカメラの分解能等にて定まる定数
であり、tyは計測できるので、Δyは上記(1)式の
関係から求めることができる。
が分かれば、その量に応じたメモリ上のずれ量も分かる
ので、メモリに予め格納されている一方のカメラ出力を
基準にして、他方の出力のメモリ上の読み出しアドレス
を決定することにより、撮像装置のy方向のずれを補正
することが可能となる。なお、2つの出力の位置関係は
図6に示すtd1とtd2の差、つまり(td1−td
2)の正負から知ることができる。また、θ1は通常4
5°に選ばれるので、(1)式は、 Δy=k・ty …(2) の如く簡略化され、y方向の値をあたかもx方向の量の
如く扱うことが可能となる。
めの説明図である。これも図6と同様であるが、この場
合は単にカメラ出力とカメラ出力との時間的な差、 Δx=k・tx …(3) として得られる。つまり、txを計測するだけで、x方
向のずれ量を求めることが可能となる。なお、2つの出
力の位置関係はtxが正か、負かで決定されることにな
る。
図である。ずれ角度をθ2とすると、図8に示すカメラ
出力とカメラ出力との時間的な差をtx、出力の
起点から標準パターンのパターンP22を検出するまで
の時間をtとして、 tanθ2=tx・tanθ1/t …(4) と表わすことができ、θ1を45°とすれば、 tanθ2=tx/t …(5) となる。なお、どちら方向のスキューずれかは図8に示
す、(td1−td2)が正か負かにより知ることがで
きる。
径方向(x方向)ずれまたはスキューずれを含む位置補
正量を検出し、この量に応じてメモリ上の位置関係を決
定するのは、上述の通りである。また、以上ではテレビ
カメラを3台または5台設ける例について説明したが、
一般には2つ以上設ければ良いことは容易に類推可能で
ある。
けるようにしたので、1つではだけでは観測されない場
合でも他のもので検出できることもあることから、検出
精度を上げることができ信頼性を向上させることが可能
になる。また、撮像装置(テレビカメラ等)の配置を工
夫することで、空間専有率を小さくすることが可能とな
る利点もある。加えて、機械的でなく記憶された画像上
の操作だけで、簡単に撮像装置における各種の位置ずれ
を補正することが可能となる利点もある。
である。
である。
割合を説明するための説明図である。
説明図である。
めの説明図である。
めの説明図である。
明図である。
レビカメラ)、41〜43…ビームスプリッタ、5,P
11,P12,P21,P22…標準パターン、51…
くり抜き部。
Claims (5)
- 【請求項1】 光源により被検査部材の表面を照射し、
被検査部材の同一ライン上からの反射光を複数の撮像手
段にて撮像し、得られた撮像画像から被検査部材の傷の
有無を検出可能にしたことを特徴とする傷検査装置。 - 【請求項2】 前記光源からの入射光に対する正反射位
置を中心に、所定角度ずつ円弧状にずらして前記複数の
撮像手段を配置することを特徴とする請求項1に記載の
傷検査装置。 - 【請求項3】 前記光源からの入射光に対する反射位置
を中心に所定角度ずつずらしてビームスプリッタを配置
し、このビームスプリッタにより分岐または反射された
反射光を、鉛直方向に互いに重ねて配置された前記複数
の撮像手段に導くことを特徴とする請求項1に記載の傷
検査装置。 - 【請求項4】 前記各ビームスプリッタの透過と反射の
比率をそれぞれ選択することにより、各撮像手段への入
射光量を互いにほぼ等しくすることを特徴とする請求項
3に記載の傷検査装置。 - 【請求項5】 光源により被検査部材の表面を照射し、
被検査部材の同一ライン上からの反射光を複数の撮像手
段により撮像して所定のメモリに記憶し、記憶された撮
像画像から被検査部材の傷の有無を検出するに当たり、
前記同一ラインの近傍に配置された基準パターンを各撮
像手段により撮像し、或る撮像手段からの出力を基準と
して他の撮像手段からの出力との差をそれぞれ求め、こ
の差の量に応じて前記メモリに記憶されている撮像画像
データの読み出しアドレスを決定し、各撮像手段の位置
ずれを補正可能にしたことを特徴とする傷検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7231699A JPH0981736A (ja) | 1995-09-08 | 1995-09-08 | 傷検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7231699A JPH0981736A (ja) | 1995-09-08 | 1995-09-08 | 傷検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0981736A true JPH0981736A (ja) | 1997-03-28 |
Family
ID=16927622
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7231699A Pending JPH0981736A (ja) | 1995-09-08 | 1995-09-08 | 傷検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0981736A (ja) |
Cited By (1)
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JP2011510289A (ja) * | 2008-01-16 | 2011-03-31 | オルボテック リミテッド | 複数のカメラを使用した基板検査 |
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1995
- 1995-09-08 JP JP7231699A patent/JPH0981736A/ja active Pending
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