JPH0979942A - 光ファイバ検査装置 - Google Patents
光ファイバ検査装置Info
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- JPH0979942A JPH0979942A JP23236695A JP23236695A JPH0979942A JP H0979942 A JPH0979942 A JP H0979942A JP 23236695 A JP23236695 A JP 23236695A JP 23236695 A JP23236695 A JP 23236695A JP H0979942 A JPH0979942 A JP H0979942A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 遠方の障害点を検出することが可能な光ファ
イバ検査装置を実現する。 【解決手段】 周波数を掃引した電気信号を光信号に変
換した後光ファイバに入射し、光ファイバ内の障害点か
らの反射光を検出してその周波数情報から障害点を特定
する光ファイバ検査装置において、周波数を掃引した電
気信号に基づき強度変調した光を出力する強度変調光源
と、この強度変調光源の出力光を前記光ファイバに入射
すると共に光ファイバからの反射光及び一定時間遅延さ
せた強度変調光源の出力光をそれぞれ出射する光学手段
と、この光学手段の２つの出力光をそれぞれ電気信号に
変換する検出手段と、この検出手段の２つの出力信号間
の差周波数に基づき前記光ファイバを検査する解析手段
とを設ける。
イバ検査装置を実現する。 【解決手段】 周波数を掃引した電気信号を光信号に変
換した後光ファイバに入射し、光ファイバ内の障害点か
らの反射光を検出してその周波数情報から障害点を特定
する光ファイバ検査装置において、周波数を掃引した電
気信号に基づき強度変調した光を出力する強度変調光源
と、この強度変調光源の出力光を前記光ファイバに入射
すると共に光ファイバからの反射光及び一定時間遅延さ
せた強度変調光源の出力光をそれぞれ出射する光学手段
と、この光学手段の２つの出力光をそれぞれ電気信号に
変換する検出手段と、この検出手段の２つの出力信号間
の差周波数に基づき前記光ファイバを検査する解析手段
とを設ける。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバの検査
装置に関し、特に検出可能距離が長い光ファイバ検査装
置に関する。
装置に関し、特に検出可能距離が長い光ファイバ検査装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光ファイバの検査装置としては一
般に知られているＯＴＤＲ(Optical Time Domain Refle
ctmeter)やＯＦＤＲ(Optical Frequency Domain Reflec
tmeter)がある。ＯＦＤＲは周波数を掃引した電気信号
を光信号に変換した後光ファイバに入射し、光ファイバ
内の障害点からの反射光を検出してその周波数情報から
前記障害点を特定する。
般に知られているＯＴＤＲ(Optical Time Domain Refle
ctmeter)やＯＦＤＲ(Optical Frequency Domain Reflec
tmeter)がある。ＯＦＤＲは周波数を掃引した電気信号
を光信号に変換した後光ファイバに入射し、光ファイバ
内の障害点からの反射光を検出してその周波数情報から
前記障害点を特定する。
【０００３】ここで、図５はこのような従来の強度変調
形ＯＦＤＲの一例を示す構成ブロック図である。図５に
おいて１は出力周波数を掃引する発振器、２は分配器、
３は半導体レーザ等の外部信号で出力光の制御が可能な
光源、４は光結合器、５は光ファイバ等のＤＵＴ(Devic
e Under Test )、６は光検出器、７はミキサ、８は周波
数アナライザである。
形ＯＦＤＲの一例を示す構成ブロック図である。図５に
おいて１は出力周波数を掃引する発振器、２は分配器、
３は半導体レーザ等の外部信号で出力光の制御が可能な
光源、４は光結合器、５は光ファイバ等のＤＵＴ(Devic
e Under Test )、６は光検出器、７はミキサ、８は周波
数アナライザである。
【０００４】また、１〜３は強度変調光源５０を、４は
光学手段５１を、６は検出手段５２を、７及び８は解析
手段５３をそれぞれ構成している。
光学手段５１を、６は検出手段５２を、７及び８は解析
手段５３をそれぞれ構成している。
【０００５】発振器１の出力は分配器２に接続され、分
配器２の一方の出力は光源３に接続され、他方の出力は
ミキサ７の一方の入力端子に接続される。光源３の出力
光は光結合器４を介してＤＵＴ５に入射される。
配器２の一方の出力は光源３に接続され、他方の出力は
ミキサ７の一方の入力端子に接続される。光源３の出力
光は光結合器４を介してＤＵＴ５に入射される。
【０００６】ＤＵＴ５からの反射光は光結合器４を介し
光検出器６に入射される。光検出器６の出力はミキサ７
の他方の入力端子に接続され、ミキサ７の出力は周波数
アナライザ８に接続される。
光検出器６に入射される。光検出器６の出力はミキサ７
の他方の入力端子に接続され、ミキサ７の出力は周波数
アナライザ８に接続される。
【０００７】ここで、図５に示す従来例の動作を説明す
る。発振器１の出力は分配器２で２つに分配され、その
一方の出力で光源３を駆動する。この時、光源３の出力
光は発振器１の出力により強度変調される。
る。発振器１の出力は分配器２で２つに分配され、その
一方の出力で光源３を駆動する。この時、光源３の出力
光は発振器１の出力により強度変調される。
【０００８】この強度変調された光はＤＵＴ５に入射さ
れ、ＤＵＴ５内に存在する障害点において反射が生じ
る。この反射光は光検出器６で検出され、ミキサ７にお
いて分配器２の他方の出力、言い換えれば発振器１の出
力と合成される。
れ、ＤＵＴ５内に存在する障害点において反射が生じ
る。この反射光は光検出器６で検出され、ミキサ７にお
いて分配器２の他方の出力、言い換えれば発振器１の出
力と合成される。
【０００９】周波数アナライザ８ではミキサ７の出力で
ある２つの入力信号の差周波数に基づき光ファイバ等の
ＤＵＴ５を検査する。
ある２つの入力信号の差周波数に基づき光ファイバ等の
ＤＵＴ５を検査する。
【００１０】即ち、発振器１を単位時間当たり一定の周
波数変化でリニアに掃引すると、ミキサ７に接続される
２つの入力信号の差周波数は遅れ時間差に比例し、さら
に、この遅れ時間差はＤＵＴ５内の障害点までの距離に
比例するので、前記差周波数からＤＵＴ５内の障害点ま
での距離が求まり、前記差周波数の信号強度から障害点
の大きさが求まり、光ファイバを検査することができ
る。
波数変化でリニアに掃引すると、ミキサ７に接続される
２つの入力信号の差周波数は遅れ時間差に比例し、さら
に、この遅れ時間差はＤＵＴ５内の障害点までの距離に
比例するので、前記差周波数からＤＵＴ５内の障害点ま
での距離が求まり、前記差周波数の信号強度から障害点
の大きさが求まり、光ファイバを検査することができ
る。
【００１１】例えば、発振器１を”１ＧＨｚ／ｓｅｃ”
の割合で掃引し、ＤＵＴ５を群屈折率”ｎ＝１．５”の
光ファイバとし、真空中の光速を”Ｃ”とした場合、光
ファイバ”１ｍ”を光が往復する時間”ｔ”は、 ｔ＝１×２×ｎ／Ｃ＝１×１０-8 ［ｓｅｃ］ (1) となる。
の割合で掃引し、ＤＵＴ５を群屈折率”ｎ＝１．５”の
光ファイバとし、真空中の光速を”Ｃ”とした場合、光
ファイバ”１ｍ”を光が往復する時間”ｔ”は、 ｔ＝１×２×ｎ／Ｃ＝１×１０-8 ［ｓｅｃ］ (1) となる。
【００１２】さらに、掃引の割合から、 １×１０9×１×１０-8 ＝１０9×１０-8＝１０ ［Ｈｚ］ (2) となり、”１０Ｈｚ”の差周波数が生じることになる。
【００１３】言い換えれば、ＤＵＴ５内の障害点までの
距離が”１ｍ”であれば”１０Ｈｚ”、”１０ｍ”であ
れば”１００Ｈｚ”、”１００ｍ”であれば”１ＫＨ
ｚ”と言った周波数出力がミキサ７の周波数出力として
得られることになる。
距離が”１ｍ”であれば”１０Ｈｚ”、”１０ｍ”であ
れば”１００Ｈｚ”、”１００ｍ”であれば”１ＫＨ
ｚ”と言った周波数出力がミキサ７の周波数出力として
得られることになる。
【００１４】この結果、この具体例においては差周波
数”１０Ｈｚ”がＤＵＴ５内の障害点までの距離”１
ｍ”に相当するので、周波数アナライザ８において差周
波数を解析することにより、ＤＵＴ５内の障害点までの
距離等を得ることができる。
数”１０Ｈｚ”がＤＵＴ５内の障害点までの距離”１
ｍ”に相当するので、周波数アナライザ８において差周
波数を解析することにより、ＤＵＴ５内の障害点までの
距離等を得ることができる。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、障害点の検出
可能距離は反射光の強度に依存する一方、強度変調光の
スペクトラム純度にも依存する。このスペクトラム純度
が低い場合、遠方の障害点からの反射光は正弦波からず
れてしまいミキサ７の出力を周波数解析しても周波数、
ピークパワーの測定が困難になる。
可能距離は反射光の強度に依存する一方、強度変調光の
スペクトラム純度にも依存する。このスペクトラム純度
が低い場合、遠方の障害点からの反射光は正弦波からず
れてしまいミキサ７の出力を周波数解析しても周波数、
ピークパワーの測定が困難になる。
【００１６】例えば、周波数アナライザ８で測定され
る”１０００ｍ”先の障害点からの信号は”１００ｍ”
先の障害点からの信号と比較して”１／１０”になる。
る”１０００ｍ”先の障害点からの信号は”１００ｍ”
先の障害点からの信号と比較して”１／１０”になる。
【００１７】即ち、スペクトラム純度が高い場合には、
その信号は、 sin(f0・t) (3) で表される。
その信号は、 sin(f0・t) (3) で表される。
【００１８】一方、スペクトラム純度が低い場合は少し
ずつ周波数のずれた波の重なりとみなされ、 A0・sin(f0・t)＋A1・sin(f0±f1)t ＋A2・sin(f0±f2)t....... (4) 但し、A0＋A1＋A2＋.....＝１である。で表される。
ずつ周波数のずれた波の重なりとみなされ、 A0・sin(f0・t)＋A1・sin(f0±f1)t ＋A2・sin(f0±f2)t....... (4) 但し、A0＋A1＋A2＋.....＝１である。で表される。
【００１９】このため、障害点が近くて各波の位相差が
小さい場合は式（３）で近似できるが、障害点が遠くな
ると１つの波とは近似できず、周波数アナライザ８で検
出すると強度が低下し、周波数情報も広がりを持ってし
まい周波数、ピークパワーの測定が困難になってしまう
と言った問題点がある。従って本発明が解決しようとす
る課題は、遠方の障害点を検出することが可能な光ファ
イバ検査装置を実現することにある。
小さい場合は式（３）で近似できるが、障害点が遠くな
ると１つの波とは近似できず、周波数アナライザ８で検
出すると強度が低下し、周波数情報も広がりを持ってし
まい周波数、ピークパワーの測定が困難になってしまう
と言った問題点がある。従って本発明が解決しようとす
る課題は、遠方の障害点を検出することが可能な光ファ
イバ検査装置を実現することにある。
【００２０】
【課題を解決するための手段】このような課題を達成す
るために、本発明の第１では、周波数を掃引した電気信
号を光信号に変換した後光ファイバに入射し、光ファイ
バ内の障害点からの反射光を検出してその周波数情報か
ら前記障害点を特定する光ファイバ検査装置において、
周波数を掃引した電気信号に基づき強度変調した光を出
力する強度変調光源と、この強度変調光源の出力光を前
記光ファイバに入射すると共に前記光ファイバからの前
記反射光及び一定時間遅延させた前記強度変調光源の出
力光をそれぞれ出射する光学手段と、この光学手段の２
つの出力光をそれぞれ電気信号に変換する検出手段と、
この検出手段の２つの出力信号間の差周波数に基づき前
記光ファイバを検査する解析手段とを備えたことを特徴
とするものである。
るために、本発明の第１では、周波数を掃引した電気信
号を光信号に変換した後光ファイバに入射し、光ファイ
バ内の障害点からの反射光を検出してその周波数情報か
ら前記障害点を特定する光ファイバ検査装置において、
周波数を掃引した電気信号に基づき強度変調した光を出
力する強度変調光源と、この強度変調光源の出力光を前
記光ファイバに入射すると共に前記光ファイバからの前
記反射光及び一定時間遅延させた前記強度変調光源の出
力光をそれぞれ出射する光学手段と、この光学手段の２
つの出力光をそれぞれ電気信号に変換する検出手段と、
この検出手段の２つの出力信号間の差周波数に基づき前
記光ファイバを検査する解析手段とを備えたことを特徴
とするものである。
【００２１】このような課題を達成するために、本発明
の第２では、周波数を掃引した電気信号を光信号に変換
した後光ファイバに入射し、光ファイバ内の障害点から
の反射光を検出してその周波数情報から前記障害点を特
定する光ファイバ検査装置において、周波数を掃引した
電気信号に基づき強度変調した光を出力する強度変調光
源と、この強度変調光源の出力光を前記光ファイバに入
射すると共に前記光ファイバからの前記反射光を出射す
る光学手段と、この光学手段の出力光を電気信号に変換
する検出手段と、一定時間遅延させた周波数を掃引した
前記電気信号と前記検波手段の出力信号との差周波数に
基づき前記光ファイバを検査する解析手段とを備えたこ
とを特徴とするものである。
の第２では、周波数を掃引した電気信号を光信号に変換
した後光ファイバに入射し、光ファイバ内の障害点から
の反射光を検出してその周波数情報から前記障害点を特
定する光ファイバ検査装置において、周波数を掃引した
電気信号に基づき強度変調した光を出力する強度変調光
源と、この強度変調光源の出力光を前記光ファイバに入
射すると共に前記光ファイバからの前記反射光を出射す
る光学手段と、この光学手段の出力光を電気信号に変換
する検出手段と、一定時間遅延させた周波数を掃引した
前記電気信号と前記検波手段の出力信号との差周波数に
基づき前記光ファイバを検査する解析手段とを備えたこ
とを特徴とするものである。
【００２２】このような課題を達成するために、本発明
の第３では、本発明の第１若しくは第２において強度変
調光源の出力光の遅延量若しくは周波数を掃引した電気
信号の遅延量を適宜選択することを特徴とするものであ
る。
の第３では、本発明の第１若しくは第２において強度変
調光源の出力光の遅延量若しくは周波数を掃引した電気
信号の遅延量を適宜選択することを特徴とするものであ
る。
【００２３】
【作用】遅延手段において基準となる光若しくは信号を
一定時間遅延させることにより、被測定信号と基準とな
る信号とは遅延時間の差が小さくなるため位相差も小さ
くなって信号劣化を防ぐことができる。
一定時間遅延させることにより、被測定信号と基準とな
る信号とは遅延時間の差が小さくなるため位相差も小さ
くなって信号劣化を防ぐことができる。
【００２４】
【発明の実施の形態】以下本発明を図面を用いて詳細に
説明する。図１は本発明に係る光ファイバ検査装置の第
１の実施例を示す構成ブロック図である。ここで、１，
３〜８及び５３は図５と同一符号を付してある。
説明する。図１は本発明に係る光ファイバ検査装置の第
１の実施例を示す構成ブロック図である。ここで、１，
３〜８及び５３は図５と同一符号を付してある。
【００２５】図１において９は光ファイバ等の光遅延素
子、１０は光検出器であり、１及び３は強度変調光源５
０ａを、４及び９は光学手段５１ａを、６及び１０は検
出手段５２ａをそれぞれ構成している。
子、１０は光検出器であり、１及び３は強度変調光源５
０ａを、４及び９は光学手段５１ａを、６及び１０は検
出手段５２ａをそれぞれ構成している。
【００２６】発振器１の出力は光源３に接続され、光源
３の出力光は光結合器４に入射される。光結合器４の一
方の出力光はＤＵＴ５に入射され、他方の出力光は光遅
延素子９に入射される。
３の出力光は光結合器４に入射される。光結合器４の一
方の出力光はＤＵＴ５に入射され、他方の出力光は光遅
延素子９に入射される。
【００２７】また、ＤＵＴ５からの反射光は光結合器４
を介し光検出器６に入射され、光遅延素子９の出力光は
光検出器１０に入射される。光検出器６及び１０の出力
はミキサ７の２つの入力端子に接続され、ミキサ７の出
力は周波数アナライザ８に接続される。
を介し光検出器６に入射され、光遅延素子９の出力光は
光検出器１０に入射される。光検出器６及び１０の出力
はミキサ７の２つの入力端子に接続され、ミキサ７の出
力は周波数アナライザ８に接続される。
【００２８】ここで、図１に示す実施例の動作を説明す
る。発振器１の出力は光源３を駆動するので光源３の出
力光は発振器１の出力により強度変調される。
る。発振器１の出力は光源３を駆動するので光源３の出
力光は発振器１の出力により強度変調される。
【００２９】この強度変調された光はＤＵＴ５及び光遅
延素子９に入射され、ＤＵＴ５内に存在する障害点にお
いて生じた反射光は光検出器６で検出される。一方、強
度変調された光は光遅延素子９において一定時間遅延さ
れた後光検出器１０で検出される。
延素子９に入射され、ＤＵＴ５内に存在する障害点にお
いて生じた反射光は光検出器６で検出される。一方、強
度変調された光は光遅延素子９において一定時間遅延さ
れた後光検出器１０で検出される。
【００３０】これらの検出信号はミキサ７において合成
され、周波数アナライザ８ではミキサ７の出力である２
つの入力信号の差周波数に基づき光ファイバ等のＤＵＴ
５を検査する。
され、周波数アナライザ８ではミキサ７の出力である２
つの入力信号の差周波数に基づき光ファイバ等のＤＵＴ
５を検査する。
【００３１】例えば、光遅延素子９が”２０００ｍ”、
ＤＵＴ５内の障害点までの距離が”１１００ｍ”である
場合、基準となる信号は”２０００ｍ”、言い換えれば
片道”１０００ｍ”の距離を進むのでＤＵＴ５内の障害
点からの信号と光遅延素子９の出力信号との位相差はＤ
ＵＴ５内での”１００ｍ”の距離に相当する位相差とな
る。
ＤＵＴ５内の障害点までの距離が”１１００ｍ”である
場合、基準となる信号は”２０００ｍ”、言い換えれば
片道”１０００ｍ”の距離を進むのでＤＵＴ５内の障害
点からの信号と光遅延素子９の出力信号との位相差はＤ
ＵＴ５内での”１００ｍ”の距離に相当する位相差とな
る。
【００３２】即ち、被測定光の検出信号と基準となる光
の検出信号とを合成して周波数差を周波数アナライザ８
で測定すると位相差が同じ様にずれた信号間の測定が主
になされ、従来例で問題となった極度の信号劣化を防ぐ
ことができる。
の検出信号とを合成して周波数差を周波数アナライザ８
で測定すると位相差が同じ様にずれた信号間の測定が主
になされ、従来例で問題となった極度の信号劣化を防ぐ
ことができる。
【００３３】また、前述の条件下ではＤＵＴ５内の障害
点までの距離が”１１００ｍ”であれば”１ｋＨ
ｚ”、”２０００ｍ”であれば”１０ｋＨｚ”と言った
周波数出力がミキサ７の周波数出力として得られること
になる。
点までの距離が”１１００ｍ”であれば”１ｋＨ
ｚ”、”２０００ｍ”であれば”１０ｋＨｚ”と言った
周波数出力がミキサ７の周波数出力として得られること
になる。
【００３４】これは基準となる光も片道”１０００ｍ”
分の周波数変化を生じているためで、従って”１０００
ｍ”分の周波数変化分が引かれた状態になっている。
分の周波数変化を生じているためで、従って”１０００
ｍ”分の周波数変化分が引かれた状態になっている。
【００３５】この結果、光遅延素子９において基準とな
る光を一定時間遅延させることにより、極度の信号劣化
が防止でき遠方の障害点を検出することが可能になる。
る光を一定時間遅延させることにより、極度の信号劣化
が防止でき遠方の障害点を検出することが可能になる。
【００３６】また、図２は本発明に係る光ファイバ検査
装置の第２の実施例を示す構成ブロック図である。ここ
で、１〜８，５０，５１及び５２は図５と同一符号を付
してある。
装置の第２の実施例を示す構成ブロック図である。ここ
で、１〜８，５０，５１及び５２は図５と同一符号を付
してある。
【００３７】図２において１１は遅延素子であり、７，
８及び１１は解析手段５３ａを構成している。
８及び１１は解析手段５３ａを構成している。
【００３８】発振器１の出力は分配器２に接続され、分
配器２の一方の出力は光源３に接続され、他方の出力は
遅延素子１１に接続される。光源３の出力光は光結合器
４を介してしてＤＵＴ５に入射される。
配器２の一方の出力は光源３に接続され、他方の出力は
遅延素子１１に接続される。光源３の出力光は光結合器
４を介してしてＤＵＴ５に入射される。
【００３９】ＤＵＴ５からの反射光は光結合器４を介し
光検出器６に入射される。光検出器６の出力はミキサ７
の一方の入力端子に接続される。また、遅延素子１１の
出力はミキサ７の他方の入力端子に接続され、ミキサ７
の出力は周波数アナライザ８に接続される。
光検出器６に入射される。光検出器６の出力はミキサ７
の一方の入力端子に接続される。また、遅延素子１１の
出力はミキサ７の他方の入力端子に接続され、ミキサ７
の出力は周波数アナライザ８に接続される。
【００４０】ここで、図２に示す実施例の動作を説明す
る。図２に示す実施例では基準となる信号を分配器２で
分配しその信号を遅延素子１１によって一定時間遅延さ
せる。
る。図２に示す実施例では基準となる信号を分配器２で
分配しその信号を遅延素子１１によって一定時間遅延さ
せる。
【００４１】また、ミキサ７において光検出器６で検出
された検出信号と合成することにより、第１に実施例と
同様に位相差が同じ様にずれた信号間の測定が主になさ
れるので従来例で問題となった極度の信号劣化を防ぐこ
とができる。
された検出信号と合成することにより、第１に実施例と
同様に位相差が同じ様にずれた信号間の測定が主になさ
れるので従来例で問題となった極度の信号劣化を防ぐこ
とができる。
【００４２】例えば、遅延素子１１の遅延時間を”１０
μｓｅｃ”にすれば第１の実施例と同様の周波数出力を
得ることができる。
μｓｅｃ”にすれば第１の実施例と同様の周波数出力を
得ることができる。
【００４３】但し、第１及び第２の実施例においては基
準となる光若しくは信号は片道”１０００ｍ”分の周波
数変化を生じているので、常に”１０００ｍ”分の周波
数変化分が引かれた状態になっている。
準となる光若しくは信号は片道”１０００ｍ”分の周波
数変化を生じているので、常に”１０００ｍ”分の周波
数変化分が引かれた状態になっている。
【００４４】従って、障害点が”１００ｍ”のところに
あった場合、遅延がなければ”１ＫＨｚ”であるが遅延
による影響のため”１０ＫＨｚ”分が減算され、”９Ｋ
Ｈｚ”が周波数出力として得られることになる。しか
し、この信号が”１００ｍ”の障害点若しくは”９００
ｍ”の障害点のどちらの信号であるか識別することはで
きない。
あった場合、遅延がなければ”１ＫＨｚ”であるが遅延
による影響のため”１０ＫＨｚ”分が減算され、”９Ｋ
Ｈｚ”が周波数出力として得られることになる。しか
し、この信号が”１００ｍ”の障害点若しくは”９００
ｍ”の障害点のどちらの信号であるか識別することはで
きない。
【００４５】図３は本発明に係る光ファイバ検査装置の
第３の実施例を示す構成ブロック図である。ここで、
１，３〜８，１０，５０ａ，５２ａ及び５３は図１と同
一符号を付してある。
第３の実施例を示す構成ブロック図である。ここで、
１，３〜８，１０，５０ａ，５２ａ及び５３は図１と同
一符号を付してある。
【００４６】図３において９ａ及び９ｂは光遅延素子、
１２ａ及び１２ｂは光スイッチ回路であり、４，９ａ，
９ｂ，１２ａ及び１２ｂは光学手段５１ｂを構成してい
る。
１２ａ及び１２ｂは光スイッチ回路であり、４，９ａ，
９ｂ，１２ａ及び１２ｂは光学手段５１ｂを構成してい
る。
【００４７】接続関係については図１に示す第１の実施
例とほぼ同様であり、異なる点は以下の通りである。
例とほぼ同様であり、異なる点は以下の通りである。
【００４８】即ち、光結合器４の他方の出力光は光スイ
ッチ回路１２ａの入力端子に入射され、光スイッチ回路
１２ａの一方の出力光が光遅延素子９ａに、他方の出力
光が光遅延素子９ｂにそれぞれ入射される。
ッチ回路１２ａの入力端子に入射され、光スイッチ回路
１２ａの一方の出力光が光遅延素子９ａに、他方の出力
光が光遅延素子９ｂにそれぞれ入射される。
【００４９】また、光遅延素子９ａ及び９ｂの出力光は
それぞれ光スイッチ回路１２ｂの２つの入力端子に入射
され、光スイッチ回路１２ｂの出力光が光検出器１０に
入射される。
それぞれ光スイッチ回路１２ｂの２つの入力端子に入射
され、光スイッチ回路１２ｂの出力光が光検出器１０に
入射される。
【００５０】ここで、図３に示す第３の実施例の動作を
説明する。光遅延素子９ａを”２０００ｍ”、光遅延素
子９ｂは遅延ゼロとする。
説明する。光遅延素子９ａを”２０００ｍ”、光遅延素
子９ｂは遅延ゼロとする。
【００５１】そして、”０ｍ”〜”１０００ｍ”のＤＵ
Ｔ５内を測定する場合は光スイッチ回路１２ａ及び１２
ｂで光遅延素子９ｂを選択し、”１０００ｍ”〜”２０
００ｍ”のＤＵＴ５内を測定する場合は光スイッチ回路
１２ａ及び１２ｂで光遅延素子９ａを選択して測定す
る。
Ｔ５内を測定する場合は光スイッチ回路１２ａ及び１２
ｂで光遅延素子９ｂを選択し、”１０００ｍ”〜”２０
００ｍ”のＤＵＴ５内を測定する場合は光スイッチ回路
１２ａ及び１２ｂで光遅延素子９ａを選択して測定す
る。
【００５２】”１０００ｍ”〜”２０００ｍ”のＤＵＴ
５内の測定時においても第１及び第２の実施例と同様の
識別問題が生じるが、”０ｍ”〜”１０００ｍ”のＤＵ
Ｔ５内の測定結果を参照することにより、例えば、”１
００ｍ”の障害点若しくは”９００ｍ”の障害点のどち
らの信号であるかを識別することができる。
５内の測定時においても第１及び第２の実施例と同様の
識別問題が生じるが、”０ｍ”〜”１０００ｍ”のＤＵ
Ｔ５内の測定結果を参照することにより、例えば、”１
００ｍ”の障害点若しくは”９００ｍ”の障害点のどち
らの信号であるかを識別することができる。
【００５３】また、図４は本発明に係る光ファイバ検査
装置の第４の実施例を示す構成ブロック図である。ここ
で、１〜８，１１，５０，５１及び５２は図２と同一符
号を付してある。
装置の第４の実施例を示す構成ブロック図である。ここ
で、１〜８，１１，５０，５１及び５２は図２と同一符
号を付してある。
【００５４】図４において１３ａ及び１３ｂはスイッチ
回路であり、７，８，１１，１３ａ及び１３ｂは解析手
段５３ｂを構成している。
回路であり、７，８，１１，１３ａ及び１３ｂは解析手
段５３ｂを構成している。
【００５５】接続関係については図２に示す第２の実施
例とほぼ同様であり、異なる点は以下の通りである。
例とほぼ同様であり、異なる点は以下の通りである。
【００５６】即ち、分配器２の他方の出力がスイッチ回
路１３ａの入力端子に接続され、スイッチ回路１３ａの
一方の出力が遅延素子１１に接続され、他方の出力がス
イッチ回路１３ｂの一方の入力端子に接続される。
路１３ａの入力端子に接続され、スイッチ回路１３ａの
一方の出力が遅延素子１１に接続され、他方の出力がス
イッチ回路１３ｂの一方の入力端子に接続される。
【００５７】また、遅延素子１１の出力はスイッチ回路
１３ｂの他方の入力端子に接続され、スイッチ回路１３
ｂの出力はミキサ７の他方の入力端子に接続される。
１３ｂの他方の入力端子に接続され、スイッチ回路１３
ｂの出力はミキサ７の他方の入力端子に接続される。
【００５８】ここで、図４に示す第４の実施例の動作を
説明する。構成上は図２に示す第２の実施例とほぼ同様
であり、スイッチ回路１３ａ及び１３ｂにより遅延量を
適宜選択して、第３の実施例のように、例えば、”１０
０ｍ”の障害点若しくは”９００ｍ”の障害点のどちら
の信号であるかを識別することができるようにしたもの
である。
説明する。構成上は図２に示す第２の実施例とほぼ同様
であり、スイッチ回路１３ａ及び１３ｂにより遅延量を
適宜選択して、第３の実施例のように、例えば、”１０
０ｍ”の障害点若しくは”９００ｍ”の障害点のどちら
の信号であるかを識別することができるようにしたもの
である。
【００５９】なお、図３及び図４の実施例においては２
つの遅延量を切り替えて測定を行っているが、勿論これ
に限る訳ではなく２以上の任意の遅延量切り替えて測定
しても良い。
つの遅延量を切り替えて測定を行っているが、勿論これ
に限る訳ではなく２以上の任意の遅延量切り替えて測定
しても良い。
【００６０】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明によれば次のような効果がある。遅延手段におい
て基準となる光若しくは信号を一定時間遅延させること
により、遠方の障害点を検出することが可能な光ファイ
バ検査装置が実現できる。
本発明によれば次のような効果がある。遅延手段におい
て基準となる光若しくは信号を一定時間遅延させること
により、遠方の障害点を検出することが可能な光ファイ
バ検査装置が実現できる。
【図１】本発明に係る光ファイバ検査装置の第１の実施
例を示す構成ブロック図である。
例を示す構成ブロック図である。
【図２】本発明に係る光ファイバ検査装置の第２の実施
例を示す構成ブロック図である。
例を示す構成ブロック図である。
【図３】本発明に係る光ファイバ検査装置の第３の実施
例を示す構成ブロック図である。
例を示す構成ブロック図である。
【図４】本発明に係る光ファイバ検査装置の第４の実施
例を示す構成ブロック図である。
例を示す構成ブロック図である。
【図５】従来の強度変調形ＯＦＤＲの一例を示す構成ブ
ロック図である。
ロック図である。
１ 発振器 ２ 分配器 ３ 光源 ４ 光結合器 ５ ＤＵＴ ６，１０ 光検出器 ７ ミキサ ８ 周波数アナライザ ９，９ａ，９ｂ 光遅延素子 １１ 遅延素子 １２ａ，１２ｂ 光スイッチ回路 １３ａ，１３ｂ スイッチ回路 ５０，５０ａ 強度変調光源 ５１，５１ａ，５１ｂ 光学手段 ５２，５２ａ 検出手段 ５３，５３ａ，５３ｂ 解析手段
Claims (3)
- 【請求項１】周波数を掃引した電気信号を光信号に変換
した後光ファイバに入射し、光ファイバ内の障害点から
の反射光を検出してその周波数情報から前記障害点を特
定する光ファイバ検査装置において、 周波数を掃引した電気信号に基づき強度変調した光を出
力する強度変調光源と、 この強度変調光源の出力光を前記光ファイバに入射する
と共に前記光ファイバからの前記反射光及び一定時間遅
延させた前記強度変調光源の出力光をそれぞれ出射する
光学手段と、 この光学手段の２つの出力光をそれぞれ電気信号に変換
する検出手段と、 この検出手段の２つの出力信号間の差周波数に基づき前
記光ファイバを検査する解析手段とを備えたことを特徴
とする光ファイバ検査装置。 - 【請求項２】周波数を掃引した電気信号を光信号に変換
した後光ファイバに入射し、光ファイバ内の障害点から
の反射光を検出してその周波数情報から前記障害点を特
定する光ファイバ検査装置において、 周波数を掃引した電気信号に基づき強度変調した光を出
力する強度変調光源と、 この強度変調光源の出力光を前記光ファイバに入射する
と共に前記光ファイバからの前記反射光を出射する光学
手段と、 この光学手段の出力光を電気信号に変換する検出手段
と、 一定時間遅延させた周波数を掃引した前記電気信号と前
記検波手段の出力信号との差周波数に基づき前記光ファ
イバを検査する解析手段とを備えたことを特徴とする光
ファイバ検査装置。 - 【請求項３】強度変調光源の出力光の遅延量若しくは周
波数を掃引した電気信号の遅延量を適宜選択することを
特徴とする特許請求の範囲請求項１若しくは範囲請求項
２記載の光ファイバ検査装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23236695A JP3692510B2 (ja) | 1995-09-11 | 1995-09-11 | 光ファイバ検査装置 |
| US08/727,377 US5844235A (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Optical frequency domain reflectometer for use as an optical fiber testing device |
| DE0754939T DE754939T1 (de) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Messvorrichtung für optische fasern |
| DE69632000T DE69632000T2 (de) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Messvorrichtung für optische fasern |
| PCT/JP1996/000170 WO1996024038A1 (fr) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Dispositif de detection a fibres optiques |
| EP96901143A EP0754939B1 (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Optical fibre detecting device |
| US09/039,944 US6008487A (en) | 1995-02-02 | 1998-03-16 | Optical-fiber inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23236695A JP3692510B2 (ja) | 1995-09-11 | 1995-09-11 | 光ファイバ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0979942A true JPH0979942A (ja) | 1997-03-28 |
| JP3692510B2 JP3692510B2 (ja) | 2005-09-07 |
Family
ID=16938098
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23236695A Expired - Lifetime JP3692510B2 (ja) | 1995-02-02 | 1995-09-11 | 光ファイバ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3692510B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002010705A3 (en) * | 2000-08-01 | 2002-08-15 | Wavecrest Corp | Electromagnetic and optical analyzer |
| JP2012501124A (ja) * | 2008-08-29 | 2012-01-12 | テレフオンアクチーボラゲット エル エム エリクソン（パブル） | 光ネットワークにおけるファイバの監視方法 |
-
1995
- 1995-09-11 JP JP23236695A patent/JP3692510B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002010705A3 (en) * | 2000-08-01 | 2002-08-15 | Wavecrest Corp | Electromagnetic and optical analyzer |
| JP2012501124A (ja) * | 2008-08-29 | 2012-01-12 | テレフオンアクチーボラゲット エル エム エリクソン（パブル） | 光ネットワークにおけるファイバの監視方法 |
| US8634713B2 (en) | 2008-08-29 | 2014-01-21 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | Fibre monitoring in optical networks |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3692510B2 (ja) | 2005-09-07 |
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