JPH0976470A

JPH0976470A - 印刷物検査装置

Info

Publication number: JPH0976470A
Application number: JP7241911A
Authority: JP
Inventors: Masashi Nishida; 真史西田; Hiroshi Sato; 博佐藤
Original assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd
Current assignee: Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date: 1995-09-20
Filing date: 1995-09-20
Publication date: 1997-03-25

Abstract

(57)【要約】【課題】印刷物検査において、１画像中に存在する複
数の欠陥部位を個々に独立して欠陥判定し、安定した欠
陥検査を可能とする。【解決手段】欠陥候補画像に対して、所定の矩形領域
と、画像の所定のレベル差を設定する手段と、前記所定
のレベル差以上の画素数を計測する手段を備え、前記所
定の矩形領域を欠陥判定の処理単位として、該矩形領域
内で前記所定のレベル差以上の画素数が所定画素数を越
えると、欠陥が存在すると判定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、走行中の印刷物表
面状態を光学的に監視して、取り込んだ検査画像を基準
画像と比較し検査する印刷物検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、印刷物検査は、いろいろの方法で
人手によって行われていた。例えば、印刷機や印刷物の
種類によっては、印刷後の印刷物を適宜抜き取り、目視
により検査を行っていた。又、一定速度で連続的に走行
する印刷物では、印刷速度に同期したストロボ照明を行
い、走行する印刷中の印刷物を静止画像として判断しよ
うとする試みが行われていた。

【０００３】一方、近年、印刷物の検査をオンラインで
ラインセンサを利用して行うというシステムが開発され
ており、欠陥候補となる画素を対象画像の全領域にわた
って検索し、欠陥の有無を判定している。又、検出すべ
き欠陥の大きさを指定できる機能を有するものは、そこ
から大きさの判定処理を行っている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の欠陥判定処理では、対象画像の全領域にわたって欠
陥の有無を判定しているため、１画像中に複数の欠陥を
有する場合には、それぞれの欠陥を別々のものとして認
識することができず、例えば、図２６に示す欠陥部位９
２ａ、９２ｂのように、非常に小さな欠陥が散在してい
るような場合、個々に見れば欠陥として判定してほしく
ないような場合でも、これら２つの欠陥部位９２ａ、９
２ｂを１つのものとして処理し、欠陥と判定してしまう
という問題がある。

【０００５】又、複数の欠陥を別々のものとして認識す
るためには、各欠陥部位の連結性を判断し、ラベリング
を行う必要があり、その後に外接する長方形の大きさか
ら欠陥の大きさを求めなければならず、欠陥判定処理が
非常に複雑になるという問題がある。

【０００６】本発明は、前記従来の問題を解決するべく
なされたもので、１画像中に存在する複数の欠陥部位を
個々に独立して欠陥判定することができ、処理を複雑に
することなく安定した欠陥検査を可能とする印刷物検査
装置を提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明は、走行中の印刷
物表面状態を光学的に監視して、取り込んだ検査画像を
基準画像と比較し検査する印刷物検査装置において、欠
陥の候補となる画素を含む欠陥候補画像を蓄える欠陥候
補画像メモリと、前記欠陥候補画像に対して、欠陥判定
の処理単位としての所定の矩形領域と、該矩形領域内で
の画像の所定のレベル差を設定する設定手段と、前記所
定の矩形領域内で、前記所定のレベル差以上の画素数を
計測し、格納する計測格納手段と、前記画素数が、所定
画素数を越えた場合に欠陥と判定する判定手段と、を備
えたことにより、前記目的を達成したものである。

【０００８】即ち、本発明によれば、欠陥候補画像に対
して、所定の矩形領域範囲を処理単位として、該矩形領
域毎に、ある所定のレベル差以上の画素数を計測し、そ
の画素数がある所定画素数を越えていた場合に欠陥と判
定するようにしたため、各欠陥部位毎にそれぞれ欠陥判
定ができ、欠陥部位を独立して判定できることにより、
散在するノイズ成分を１つの欠陥としてまとめて判定し
てしまう誤判定を防ぐことができる。

【０００９】

【発明の実施の形態】好ましい実施の形態は、前記所定
のレベル差と前記所定画素数の組合せを複数設定するこ
とであり、これにより、検出すべき欠陥の種類を弁別す
ることができる。

【００１０】他の好ましい実施の形態は、前記矩形領域
で互いに一部分重なり合うようにすることであり、これ
により、矩形領域に区切る位置によって欠陥検出結果に
差異が生じることを防止することができる。

【００１１】更に他の好ましい実施の形態は、前記矩形
領域の形状を印刷の流れ方向に長い長方形とすることで
あり、これにより、印刷方向に発生する筋状欠陥の検出
が容易となる。

【００１２】以下、図面を参照して、本発明のより具体
的な実施の形態の例を詳細に説明する。

【００１３】第１実施形態による印刷物検査装置の全体
構成を図１に示す。

【００１４】図１に示すように、本実施形態の印刷物検
査装置は、ガイドローラ２によりガイドされつつ走行す
る印刷物４に印刷された絵柄を画像データとして入力す
る入力部１０と、入力された画像データをＡ／Ｄ変換
し、光ファイバ８を用いて処理部３０へ伝送する信号伝
送部２０と、印刷欠陥の判定を行う処理部３０と、印刷
不良画像を画面に表示し、且つ本装置の操作を行う操作
部４０とから構成される。

【００１５】入力部１０は、画像入力用の３板式カラー
ラインセンサカメラ（以後単にカメラという）１１と、
光源装置としての高輝度高周波蛍光灯１２とからなる。

【００１６】又、カメラ１１の同期入力タイミングは信
号伝送部２０によって作成される。即ち、信号伝送部２
０は、印刷物４の移動に同期したロータリエンコーダ６
からの出力を変換して、カメラ１１へ出力する。

【００１７】なお、光源に使用される高輝度高周波蛍光
灯１２の周波数は、例えば３０ＫＨｚであり、カメラ１
１の入力画像にとってはほとんど連続点灯と見做すこと
ができる。

【００１８】信号伝送部２０の構成を図２に示す。

【００１９】カメラ１１より信号伝送部２０へ向けて出
力されたアナログ信号（画像データ）に対するノイズの
影響を極力少なくするためには、Ｒ、Ｇ、Ｂ各々のアナ
ログ信号の伝送経路をなるべく短くすることが望ましい
ので、信号伝送部２０はカメラ１１の付近に設置され
る。

【００２０】信号伝送部２０へ入力されたアナログ信号
は、速度補正部２１により原反（印刷物）速度変動によ
る画像の影響を取り除かれ、Ａ／Ｄ変換部２２によりデ
ジタル信号に変換された後、電気−光変換部２３におい
て光信号に変換され、耐ノイズ性の高い光ファイバ８を
通じて処理部３０へ伝送される。

【００２１】又、前に述べたように同期入力のタイミン
グは、印刷機に設置されたロータリエンコーダ６より得
られる。ロータリエンコーダ６の信号は、絵柄の頭出し
のために、シフター２４及びタイミングコントローラ２
５によりカメラ用に信号をコントロールし、カメラ１１
へ出力する。

【００２２】処理部３０の構成を図３に示す。

【００２３】信号伝送部２０より受けた画像データの信
号を、まず前処理部３１で、後の処理に必要な信号形態
に変換する。

【００２４】前処理部３１は、光ファイバ８より入力さ
れた光信号を電気信号に変換し、カメラ１１の各画像毎
のばらつき、光源の照明むらを補正するシェーディング
補正を行い、カラーデータＲＧＢにそれぞれ係数を乗じ
て加算し、モノクロデータに変換する。

【００２５】前処理部３１でシェーディング補正された
カラーデータは後の表示のためにフルカラーメモリ３２
に蓄えられる。

【００２６】又、前処理部３１で変換されたモノクロデ
ータ（輝度データ）は基準画メモリ３４もしくは検査画
メモリ３３に蓄えられ、これを用いて印刷不良の検査が
行われる。

【００２７】学習部３６では、欠陥検出用のための閾値
画像の作成と、位置補正のためのデータの選択が行われ
る。又、位置補正部３５では、学習部３６よりのデータ
に基づいて、後で述べるような方法で基準画像検査画の
位置ずれ補正を行い、最後に欠陥判定部３７において基
準画と検査画を比較して欠陥部分を判定する。

【００２８】欠陥判定部３７の構成を図４に示す。

【００２９】欠陥判定部３７は、検査画メモリ４３、基
準画メモリ４４、閾値画メモリ４６、差の絶対値処理部
４５、差分画メモリ４７、閾値処理部４８、欠陥候補画
メモリ５０、ウインドウ判定処理部５１、及び最終判定
処理部５２を含んでいる。欠陥判定部３７内の検査画メ
モリ４３には検査画メモリ３３のデータが転送され、同
じく基準画メモリ４４には基準画メモリ３４のデータが
転送される。検査画メモリ４３と基準画メモリ４４のデ
ータは差の絶対値処理部４５において、位置補正部３５
から得られた位置ずれ量を考慮して各画素毎に差の絶対
値が算出され、得られた結果は差分画メモリ４７に蓄え
られる。又、学習部３６で作成された閾値画が閾値画メ
モリ４６に蓄えられる。そして、閾値処理部４８におい
て差分画メモリ４７と閾値画メモリ４６の対応する画像
どうしを比較し、閾値を越える差分値のみを欠陥補正画
メモリ５０に蓄積する。この欠陥補正画メモリ５０に対
して、ウインドウ判定処理部５１においてウインドウ判
定処理を行い、又その結果に対して最終判定処理部５２
で最終判定を行う。

【００３０】又、ウインドウ判定処理部５１及び最終判
定処理部５２の構成を図５に示す。

【００３１】各判定ウィンドウ毎の処理において、基準
画像と欠陥画像の各画素のレベル差と、その画素値を越
える画素数の組合せを複数用意することによって、欠陥
の種類を弁別することができる。図５は、３つの組合せ
を設定した例を示している。即ち、レベル１処理部６
１、レベル２処理部６２、及びレベル３処理部６３であ
る。各レベルの具体的な設定方法については後で詳しく
述べる。

【００３２】各レベル毎の処理部６１、６２、６３は、
それぞれ画素数レベル差設定手段７１ａ、ｂ、ｃ、画素
数レベル差格納メモリ（計測格納手段）７２ａ、ｂ、
ｃ、判定ウィンドウ処理回路（判定手段）７３ａ、ｂ、
ｃ、重み係数設定手段７４ａ、ｂ、ｃ、重み係数格納メ
モリ７５ａ、ｂ、ｃ、及び乗算器７６ａ、ｂ、ｃを備え
ている。

【００３３】又更に、最終判定処理部５２は、各レベル
毎の乗算結果を加算する加算器７７、最終判定値設定手
段７８、最終判定値格納メモリ７９及び最終判定を行う
比較器８０を含んでいる。

【００３４】操作部４０は本装置の操作を行い、又欠陥
発生時には、欠陥を含む検査画をモニタ４１に表示する
と共に、ブザーで印刷欠陥のあったことを警告したり、
ディテクタにより欠陥のある印刷物を除去したり、除去
が不可能の場合には欠陥のあった部分にラベリングを施
し、欠陥個所が分かるようにする等の処理を行う。

【００３５】以下、欠陥候補画像作成処理について詳し
く説明する。

【００３６】図６〜図１０に、検査画像と基準画像を比
較し異なった部分を欠陥候補画像として生成する処理の
過程を示す。

【００３７】図６は、検査画像１００を表わしている。
検査画像１００は、印刷絵柄１１０と欠陥部位１２０を
含んでおり、欠陥部位１２０を通るある線１３０上の画
素の輝度値の並びは図６下方のグラフ１４０のように表
わせる。

【００３８】図７は、基準画像２００を表わしている。
基準画像２００は、印刷絵柄２１０のみを含んでおり、
検査画像１００と同じ位置の線２２０上の画素の輝度値
の並びは、図７下方のグラフ２３０のようになる。検査
画像１００が基準画像２００に対して位置ずれを起こし
ている場合には、位置ずれ補正を行った後に検査画像１
００と基準画像２００の各画素毎に輝度値の差の絶対値
を求め、図８に示すような差分画像３００を作成する。

【００３９】図８に示すように、差分画像３００中には
印刷絵柄１１０、２１０の輪郭部分３１０が位置ずれ誤
差として残る。又、欠陥部位１２０は基準画像２００中
には含まれていないため、差分画像３００中に欠陥部位
３２０としてそのまま残される。この差分画像３００に
おいて検査画像１００中の線１３０と同じ位置の線３３
０上の画素の輝度値の並びは、図８下方のグラフ３４０
で表わされる。

【００４０】ここで、印刷絵柄１１０、２１０の輪郭部
分３１０は、欠陥ではないので、この部分を誤って欠陥
と判定しないようにするために、図９に示す閾値画像４
００を用意する。この閾値画像４００は基準画像２０
０、あるいはそれ以前に入力された、基準となる画像か
ら作成される。

【００４１】閾値画像４００における各画素の値は印刷
絵柄の輪郭部分に発生する位置ずれ誤差及び画像中に含
まれるノイズ成分を越えるものでなくてはならない。
又、検査画像１００は印刷原反の伸縮や画像取込みタイ
ミングのずれにより、基準画像２００に比べて歪みを含
んでいるので、位置ずれ補正を行ったとしても絵柄の輪
郭の位置が基準画像のそれに比べてずれてしまう。従っ
て、閾値画像４００中の絵柄輪郭部分４１０は差分画像
３００中の輪郭部分３１０よりも太くする必要がある。

【００４２】この点閾値画像４００において、検査画像
１００中の線１３０と同じ位置の線４２０上の画素の輝
度値の並びは図９下方のグラフ４３０で表わされる。

【００４３】差分画像３００の各画素値が閾値画像４０
０の同じ位置に存在する各画素の値よりも大きい場合に
は、そのまま差分画像３００の画素値を残し、そうでな
い場合には、画素の値を０とする。

【００４４】このようにして作成されたのが、図１０に
示す欠陥候補画像５００である。欠陥候補画像５００に
は、欠陥部位５１０が残される。この欠陥候補画像５０
０において、検査画像１００中の線１３０と同じ位置の
線５２０上の画素の輝度値の並びはグラフ５３０で表わ
される。

【００４５】欠陥候補画像５００の作成後、後段の処理
において欠陥部位５１０の大きさや輝度値が計測され、
前述したように、欠陥判定部３７において、最終的な欠
陥判定が行われる。

【００４６】本発明は、この欠陥判定処理に関するもの
である。

【００４７】まず第１実施形態に係る欠陥判定処理につ
いて説明する。

【００４８】図１１に欠陥候補画像の一例を示す。この
例は、欠陥部位９０ａ、９０ｂの２つの欠陥候補を含ん
でいる。この欠陥候補画像を図１１に示すように、１つ
が、例えば縦Ｍ、横Ｎの大きさをもつ格子状の矩形領域
（判定ウィンドウ）に分け、それぞれの判定ウィンドウ
で欠陥の有無を判定する。

【００４９】これにより、離れた位置に存在する欠陥部
位９０ａと９０ｂは独立に判定処理することができる。
即ち、欠陥部位９０ｂは、判定ウィンドウ９１ｂにおけ
る処理によって欠陥か否か判定されるのであって、欠陥
部位９０ａの判定を行う判定ウィンドウ９１ａには影響
されない。又、逆に、欠陥部位９０ａの判定は欠陥部位
９０ｂの判定には影響されない。

【００５０】従って、このような判定ウィンドウの処理
を行うことによって、各欠陥部位毎に欠陥判定を行うこ
とができ、散在するノイズ成分を１つの欠陥としてまと
めて判定してしまうことによる誤判定を防ぐことができ
る。

【００５１】各判定ウィンドウ毎の欠陥判定処理は、判
定ウィンドウ内の画素値（基準画像と欠陥画像の各画素
のレベル差）と、その画素値を越える画素数の組合せに
よって決定される。即ち、検査対象となる欠陥部位の候
補のレベル差がある設定値以上で、且つその面積（画素
数）がある設定値以上であれば、それは欠陥と判定され
る。

【００５２】前に述べたように、このレベル差と画素数
の組合せを複数用意することによって、欠陥の種類を弁
別する機能をもたせることができるが、本実施形態では
図１２に示すような、レベル１、２、３という３つの組
合せを設定している。

【００５３】レベル１は、レベル差が小さくて画素数の
多い欠陥、即ち淡くても大きな欠陥を検出するものであ
り、レベル３は、レベル差が大きくて画素数の少ない欠
陥、即ち小さくても濃い欠陥を検出するものであり、レ
ベル２はレベル１とレベル３の中間である。

【００５４】以下本実施形態の欠陥判定処理を説明す
る。

【００５５】各処理は、図５の欠陥候補画像メモリ５０
に対して行われ、判定ウィンドウ処理はそれぞれレベル
１処理部６１、レベル２処理部６２、レベル３処理部６
３において各レベル１、２、３毎に独立して実行され
る。各レベルの処理部６１、６２、６３では、画素数レ
ベル差設定手段７１ａ、ｂ、ｃによって設定された各値
が画素数レベル差格納メモリ７２ａ、ｂ、ｃに保管さ
れ、判定ウィンドウ処理回路７３ａ、ｂ、ｃで使用され
る。判定ウィンドウ処理回路７３ａ、ｂ、ｃによって各
々の判定ウィンドウ毎に欠陥の判定が行われる。

【００５６】この判定ウィンドウ内における欠陥判定処
理を図１３、１４のフローチャートに示す。

【００５７】各判定ウィンドウ内の画素数は、図１１に
示すように横Ｎ、縦Ｍであり、横方向は０からＮ−１ま
で、縦方向は０からＭ−１までアドレス付けさけてい
る。又、各レベルの設定値は、図１２に示すように、レ
ベル１はレベル差Ｌ１以上、画素数Ｓ１以上で、レベル
２はレベル差Ｌ２以上、画素数Ｓ２以上で、レベル３は
レベル差Ｌ３以上、画素数Ｓ３以上である。

【００５８】まず、図１３のステップ１００において、
各レベル毎の設定値を越える画素数をカウントするカウ
ンタＮ１、Ｎ２、Ｎ３を０クリアする。次のステップ１
０２において、判定ウィンドウ内における画素の位置を
示す縦方向の座標ｊを０クリアし、ステップ１０４にお
いて同じく横方向の座標ｉを０クリアする。

【００５９】ステップ１０６で座標（ｉ，ｊ）における
画素の輝度値Ｐ（ｉ，ｊ）がレベルＬ３を越えているか
否か判定する。その結果レベルＬ３を越えている場合に
は、ステップ１０８でカウンタＮ３を１増加してステッ
プ１１８ヘ進む。

【００６０】又、レベルＬ３を越えていない場合には、
次のステップ１１０で該輝度値Ｐ（ｉ，ｊ）をレベルＬ
２と比較する。レベルＬ２を越えている場合にはステッ
プ１１２でカウンタＮ２を１増加して、ステップ１１８
へ進む。

【００６１】又、レベルＬ２を越えていない場合には、
次のステップ１１４で該輝度値Ｐ（ｉ，ｊ）をレベルＬ
１と比較する。レベルＬ１を越えている場合には、ステ
ップ１１６でカウンタＮ１を１増加してステップ１１８
へ進む。

【００６２】以上のような画素数のカウントにより、カ
ウンタＮ１には、レベル差Ｌ１以上でＬ２より小のもの
の個数が、又カウンタＮ２には、レベル差Ｌ２以上でＬ
３より小のものの個数が、そしてカウンタＮ３には、レ
ベル差Ｌ３以上のものの個数がカウントアップされる。

【００６３】ステップ１１８で、横方向の座標ｉを１増
加し、次のステップ１２０で、ｉがＮに等しくなったか
否か、即ち判定ウィンドウ内で横１行の処理が済んだか
否か判断する。未だｉがＮに等しくなく、そのような処
理が終了していないときは、再びステップ１０６へ戻り
前と同じ処理を繰り返す。

【００６４】ｉがＮに等しくなったら、次のステップ１
２２で縦方向の座標ｊを１増加し、ステップ１２４でｊ
がＭに等しくなったか否か、即ち当該判定ウィンドウ内
の全ての行の処理を終了したか否か判断する。未だｊが
Ｍに等しくなく終了していなければ、再びステップ１０
４へ戻り、次の行の処理を行う。

【００６５】ｊがＭに等しくなったら、図１４のステッ
プ１２６へ進み、カウンタＮ１をレベル１の画素数の設
定値Ｓ１と比較する。Ｎ１がＳ１以上であれば、ステッ
プ１２８でレベル１の欠陥が存在すると判定する。

【００６６】同様にして、カウンタＮ２について、ステ
ップ１３０でＳ１と比較して、Ｎ２がＳ１以上であった
ら、ステップ１３２でレベル１の欠陥が存在すると判定
し、ステップ１３４でＮ２をレベル２の画素数の設定値
Ｓ２と比較し、Ｎ２がＳ２以上であれば、ステップ１３
６でレベル２の欠陥が存在すると判定する。

【００６７】又、カウンタＮ３についても、ステップ１
３８でＳ１以上であるときはステップ１４０でレベル１
の欠陥が存在すると判定し、ステップ１４２でＳ２以上
とされたらステップ１４４でレベル２の欠陥が存在する
と判定し、ステップ１４６でレベル３の画素数の設定値
Ｓ３と比較し、Ｓ３以上であればステップ１４８でレベ
ル３の欠陥が存在すると判定する。

【００６８】レベル１の欠陥があったと判定された場合
は、判定ウィンドウ処理回路７３ａより乗算器７６ａに
対し１が出力され、レベル２の欠陥があったと判定され
た場合は、判定ウィンドウ処理回路７３ｂより乗算器７
６ｂに対し１が出力され、レベル３の欠陥があったと判
定された場合は、判定ウィンドウ処理回路７３ｃより乗
算器７６ｃに対し１が出力される。又、欠陥が無い場合
には、それぞれ０が出力される。

【００６９】このようにして、最終判定処理部５２の各
乗算器７６ａ、ｂ、ｃはそれぞれ１又は０のデータを受
け取る。最終判定処理部５２では各レベル毎に重み係数
設定手段７４ａ、ｂ、ｃを有し、その値は重み係数格納
メモリ７５ａ、ｂ、ｃに保管される。

【００７０】ウィンドウ判定処理部５１より入力された
１又は０のデータに重み係数が乗算器７６ａ、ｂ、ｃに
よって乗算され、全てのレベルの乗算結果が加算器７７
によって加算される。最終判定値設定手段７８によって
設定され、最終判定値格納メモリ７９に保管された値
と、加算値とを比較器８０によって比較し、加算値の方
が大きかった場合に、その判定ウィンドウ内に欠陥が存
在したという最終判定を得る。

【００７１】なお、このとき各レベル毎の重み係数の設
定により、どのレベルを重視した検査を実施するかを決
定することができる。

【００７２】次に、欠陥判定処理の第２実施形態につい
て説明する。

【００７３】これは、欠陥を３つのレベル１、２、３に
分類する方法として、図１５に示すように、レベル差を
重視して検査するようにしたものである。

【００７４】即ち、第１実施形態では、図１２に示すよ
うに、例えばレベル差がＬ３以上の場合であっても、画
素数がＳ３以上のときはレベル３の欠陥、その中でも画
素数がＳ２以上のときはレベル２の欠陥、更に画素数が
Ｓ１以上のときはレベル１の欠陥というように、細かく
欠陥のレベル分けがなされている。

【００７５】これに対し、図１５に示すように、本第２
実施形態においては、レベル差がＬ３以上の場合は、画
素数がＳ３以上ならば全てレベル３の欠陥として、更に
これを画素数に応じて、レベル２、レベル１の欠陥と分
けることはしていない。このように、画素数よりもレベ
ル差を重視して欠陥判定を行うものである。

【００７６】この処理フローを図１６、１７に示す。

【００７７】図１６において、ステップ２００から２２
４までの処理は第１実施形態の処理フローである図１３
のステップ１００から１２４までと同じである。

【００７８】図１７のステップ２２６以降の後半の処理
では、図１５に示すレベル分けに従って、各レベル毎に
画素数の判定を行い、各レベル毎の欠陥判定を行ってい
る。

【００７９】前に述べたように、カウンタＮ１はレベル
差Ｌ１以上でＬ２より小のものの個数を、カウンタＮ２
のレベル差Ｌ２以上でＬ３より小のものの個数を、又カ
ウンタＮ３はレベル差Ｌ３以上のものの個数を保持して
いるので、ステップ２２６以下のステップにおいて、各
カウンタＮ１、Ｎ２、Ｎ３が単に、それぞれ画素数Ｓ
１、Ｓ２、Ｓ３以上か否かを判断するだけで、それぞれ
図１５に示すレベル１、２、３の欠陥を検出することが
できる。

【００８０】次に、欠陥判定処理の第３実施形態につい
て説明する。

【００８１】これは、欠陥を３つのレベル１、２、３に
分類する方法として、図１８に示すように、面積（画素
数）を重視して検査するようにしたものである。

【００８２】即ち、第１実施形態では、図１２に示すよ
うに、例えば画素数がＳ１以上の場合であっても、レベ
ル差がＬ１以上のときはレベル１の欠陥、その中でもレ
ベル差がＬ２以上のときはレベル２の欠陥、更にレベル
差がＬ３以上のときはレベル３の欠陥としていた。

【００８３】これに対し、図１８に示すように、本第３
実施形態においては、例えば画素数がＳ１以上の場合
は、レベル差がＬ１以上ならば全てレベル１の欠陥とし
て、更にこれをレベル差に応じてレベル２、レベル３と
はしていない。このようにレベル差よりも画素数を重視
して欠陥判定を行うものである。

【００８４】この処理フローを図１９、２０に示す。

【００８５】図１９においてステップ３００から３２４
までの処理は、第２実施形態と同様第１実施形態の処理
フローである図１３のステップ１００から１２４までと
同じである。

【００８６】ステップ３２６以降の後半の処理では、図
１８に示すレベル分けに従って、各レベル毎に、画素数
の判定を行う。

【００８７】前に述べたように、カウンタＮ１はレベル
差Ｌ１以上でＬ２よりも小のものの個数を、カウンタＮ
２はレベル差Ｌ２以上でＬ３より小のものの個数を、又
カウンタＮ３はレベル差Ｌ３以上のものの個数を保持し
ているので、例えば、カウンタＮ２について、ステップ
３３０でＮ２がＳ１以上であると判断されたら、ステッ
プ３３２でレベル１の欠陥が存在するとして先へ進み、
Ｎ２をＳ２と比較してレベル２の欠陥か否かの判定は行
わない。

【００８８】カウンタＮ３についても同様であり、Ｎ３
を画素数の大きい方から順にＳ１、Ｓ２、Ｓ３と比較
し、どこかでＮ３の方が大となったら、そのレベルの欠
陥を検出する。このように画素数重視の検出が行われ
る。

【００８９】次に、欠陥判定処理の第４実施形態につい
て説明する。

【００９０】これは、欠陥候補画像上の判定ウィンドウ
をオーバーラップさせることにより、判定ウィンドウの
区切り方によって生じる判定欠陥の差異を防ごうとする
ものである。

【００９１】図２１に示す判定ウィンドウ９３は、その
大きさが横方向Ｎ、縦方向Ｍで、横方向への移動ステッ
プをＮ／２、縦方向への移動ステップＭ／２とした場合
である。この場合、判定ウィンドウ９３は横方向、縦方
向共半分ずつオーバーラップしている。

【００９２】もし、このようにオーバーラップさせない
とすると、例えば図２２に示すように、判定ウィンドウ
９４ａを設定した場合には、欠陥部位９５が４つの判定
ウィンドウに分割されて、各判定ウィンドウではそれぞ
れ小さな欠陥として判定処理されてしまう。しかし、１
つの判定ウィンドウが欠陥部位９５をほとんど含むよう
に判定ウィンドウを設定した場合には、大きな欠陥とし
て判定される。従って、判定ウィンドウの区切る場所に
よって判定結果に差異を生じてしまう。

【００９３】これに対し、図２３に示すように、判定ウ
ィンドウ９４ｂを半分ずつオーバーラップさせた場合に
は、９つの判定ウィンドウに分割され、区切る場所の違
いによらず、いずれかの判定ウィンドウには所定の面積
が保たれるため、安定した欠陥検出が可能となる。

【００９４】次に、欠陥判定処理の第５実施形態につい
て説明する。

【００９５】これは、印刷欠陥は印刷の流れ方向に長い
筋状のものが多いので、そのような欠陥の検出を容易に
するものである。

【００９６】例えば、図２４に示すように、欠陥部位９
６が筋状をなすとき、判定ウィンドウ９７を設定して
も、欠陥部位９６が筋状で細長いため、１つの判定ウィ
ンドウ９７に含めることができず、小さな欠陥として判
定されてしまう。

【００９７】そこで本実施形態では、図２５に示すよう
に、筋状の欠陥部位９６に対し、判定ウィンドウ９８の
形状を縦に長い長方形にしたものである。これにより印
刷方向に発生する筋状欠陥を検出し易くなった。

【００９８】

【発明の効果】以上説明したとおり、本発明によれば、
欠陥候補画像に対して、所定の矩形領域（判定ウィンド
ウ）を処理単位として欠陥判定をおこなようにしたた
め、１画面中に存在する複数の欠陥部位を個々に独立し
て欠陥判定することができ、処理を複雑にすることな
く、安定した欠陥検査が可能となった。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施形態による印刷物検査装置の概略を示す
全体構成図

【図２】信号伝送部の構成を示すブロック線図

【図３】処理部の構成を示すブロック線図

【図４】欠陥判定部の構成を示すブロック線図

【図５】ウインドウ判定処理部及び最終判定処理部の構
成を示すブロック線図

【図６】検査画像を示す説明図

【図７】基準画像を示す説明図

【図８】差分画像を示す説明図

【図９】閾値画像を示す説明図

【図１０】欠陥候補画像を示す説明図

【図１１】本実施形態による判定ウィンドウを示す説明
図

【図１２】第１実施形態による欠陥判定のためのレベル
分けの例を示す線図

【図１３】第１実施形態による欠陥判定処理を示すフロ
ーチャート

【図１４】同じく第１実施形態による欠陥判定処理を示
すフローチャート

【図１５】第２実施形態による欠陥判定のためのレベル
分けの例を示す線図

【図１６】第２実施形態による欠陥判定処理を示すフロ
ーチャート

【図１７】同じく第２実施形態による欠陥判定処理を示
すフローチャート

【図１８】第３実施形態による欠陥判定のためのレベル
分けの例を示す線図

【図１９】第３実施形態による欠陥判定処理を示すフロ
ーチャート

【図２０】第３実施形態による欠陥判定処理を示すフロ
ーチャート

【図２１】第４実施形態による判定ウィンドウを示す説
明図

【図２２】判定ウィンドウの区切り方による判定結果の
差異を示す説明図

【図２３】第４実施形態による判定ウィンドウでの欠陥
判定を示す説明図

【図２４】筋状欠陥の判定の問題点を示す説明図

【図２５】第５実施形態による判定ウィンドウを示す説
明図

【図２６】従来の欠陥判定による問題点を示す説明図

【符号の説明】

１０…入力部２０…信号伝送部３０…処理部３７…欠陥判定部４０…操作部５０…欠陥候補画像メモリ５１…ウィンドウ判定処理部５２…最終判定処理部７１ａ、ｂ、ｃ…画素数レベル差設定手段７２ａ、ｂ、ｃ…画素数レベル差格納メモリ（計測格納
手段）７３ａ、ｂ、ｃ…判定ウィンドウ処理回路（判定手段）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】走行中の印刷物表面状態を光学的に監視し
て、取り込んだ検査画像を基準画像と比較し検査する印
刷物検査装置において、欠陥の候補となる画素を含む欠陥候補画像を蓄える欠陥
候補画像メモリと、前記欠陥候補画像に対して、欠陥判定の処理単位として
の所定の矩形領域と、該矩形領域内での画像の所定のレ
ベル差を設定する設定手段と、前記所定の矩形領域内で、前記所定のレベル差以上の画
素数を計測し、格納する計測格納手段と、前記画素数が、所定画素数を越えた場合に欠陥と判定す
る判定手段と、を備えたことを特徴とする印刷物検査装置。
【請求項２】請求項１において、前記所定のレベル差と
前記所定画素数の組合せを複数設定したことを特徴とす
る印刷物検査装置。
【請求項３】請求項１において、前記矩形領域が互いに
一部分重なり合うようにしたことを特徴とする印刷物検
査装置。
【請求項４】請求項１において、前記矩形領域の形状
を、印刷の流れ方向に長い長方形としたことを特徴とす
る印刷物検査装置。