JPH0968403A - スロットルバルブ開度センサ - Google Patents

スロットルバルブ開度センサ

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JPH0968403A
JPH0968403A JP7223975A JP22397595A JPH0968403A JP H0968403 A JPH0968403 A JP H0968403A JP 7223975 A JP7223975 A JP 7223975A JP 22397595 A JP22397595 A JP 22397595A JP H0968403 A JPH0968403 A JP H0968403A
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throttle valve
hall element
temperature
circuit board
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JP7223975A
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Takahisa Ban
隆央 伴
Hideki Kawamura
秀樹 河村
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Denso Corp
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Publication date
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  • Combined Controls Of Internal Combustion Engines (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 たとえ雰囲気温度が急変するような状況下に
あっても、それら温度変化に影響されない高い精度にて
スロットルバルブの開度を検出する。 【解決手段】 同センサは、スロットルシャフト1に装
着されたロータ3、該ロータ3の先端に設けられてシャ
フト1及びロータ3と一体に回転する永久磁石5、該磁
石5の回転中心部に固定されてその磁界方向に対応した
電気信号を出力するホール素子10、そして磁石5及び
ホール素子10の温度特性を補償しつつホール素子10
を駆動してその出力を処理する回路基板20を具えて構
成される。ここでは、回路室7にシリコンゲル30を充
填して回路基板20の熱容量を増大せしめ、ロータ3の
スロットルシャフト1との結合部3aには周囲に切り欠
きの設けられた樹脂材を配してシャフト1側から磁石5
に伝達される熱を遮断し、回路基板20、磁石5、及び
ホール素子10をほぼ同一の温度環境とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、車載用エンジン
の吸気調量バルブであるスロットルバルブの開度を検出
するスロットルバルブ開度センサに関し、特にスロット
ルバルブの開閉を電子制御するシステム等、その開度を
モニタする上で高い検出精度が要求されるシステムに採
用して好適なセンサ構造の具現に関する。
【0002】
【従来の技術】上記スロットルバルブの開閉機構(以
下、単にスロットルという)としては、アクセルペダル
とのリンクによってメカニカルにその開閉を行うメカニ
カル式のもの、或いはアクセル開度やその他の条件に応
じて電子的にその開閉を制御する電子式のものが一般に
知られている。
【0003】図6に、メカニカル式スロットルについて
その構成を模式的に示す。このメカニカル式スロットル
は、同図6に示されるように、エンジン(図示せず)の
吸気管100内に図示の如く配設されてその吸気量を調
量するスロットルバルブ101と、このスロットルバル
ブ101に機械的にリンクされたアクセルペダル102
とを基本的に有して構成される。
【0004】すなわちこのメカニカル式スロットルにあ
っては、アクセルペダル102の踏み込み量に直接対応
して上記スロットルバルブ101の開度が決定されるよ
うになり、アクセルペダル102の踏み込み量が「0」
すなわち踏み込みのない状態では、上記スロットルバル
ブ101も全閉状態に維持される。
【0005】また、こうしたメカニカル式スロットルが
採用される場合には通常、同図6に併せ示されるISC
(アイドルスピードコントロール)機構を通じてアイド
ル時におけるエンジン回転数の制御が行われる。
【0006】このISC機構は、上記スロットルバルブ
101を迂回するよう吸気管100に対し図示の如く設
けられたバイパス通路104と、このバイパス通路10
4を開閉するISCバルブ105とによって構成され
る。そして、スロットルバルブ101の開度を検出する
スロットルバルブ開度センサ110によって同スロット
ルバルブ101の全閉が検出されるアイドル運転時、所
望のエンジン回転数が得られるよう、上記ISCバルブ
105の開度が電子制御装置130によって制御され
る。
【0007】スロットルバルブ101の全閉時、ISC
機構を通じてこうした吸気量制御が実行されることによ
り、極めて安定した且つ木目の細かいエンジン回転数制
御が実現されるようになる。
【0008】一方、こうしたメカニカル式スロットルに
対し、電子式スロットルは、図7に示されるように、吸
気管100内に図示の如く配設されて上記同様エンジン
の吸気量を調量するスロットルバルブ201と、このス
ロットルバルブ201とは機械的に独立に設けられたア
クセルペダル202とを有して構成される。そして、こ
れらスロットルバルブ201及びアクセルペダル202
にはそれぞれその開度を検出するためのセンサ210及
び220が設けられており、通常は、電子制御装置23
0を通じて、 (1)アクセル開度センサ220からの出力に基づきア
クセルペダル202の踏み込み量を検知する。 (2)このアクセルペダル202の踏み込み量に対応し
たスロットルバルブ201の開度が得られるよう、スロ
ットルバルブ開度センサ210の出力をモニタしつつ、
モータ240を通じて同スロットルバルブ201を開閉
駆動する。 といったフィードバック制御が実行されるようになる。
【0009】電子制御装置230を通じてこのような制
御が行われることにより、上記スロットルバルブ201
とアクセルペダル202とが機械的に独立した関係にお
かれる場合であれ、上記メカニカル式スロットルに準じ
た態様で、それら作動関係が維持されるようになる。な
お、該電子式スロットルとしての異常時等には、一種の
フェールセーフ機能として、これらスロットルバルブ2
01とアクセルペダル202とが適宜の機構を介してメ
カニカルにリンクされることもある。
【0010】また、電子式スロットルとしての同構成に
よれば、例えば上記ISCにかかる制御なども、電子制
御装置230による上記スロットルバルブ201の開閉
制御を通じて実現されるようになる。
【0011】すなわちこの場合、電子制御装置230で
は、 (1)アイドル時の目標エンジン回転数を求めてこれを
スロットルバルブ201の開度情報に変換する。 (2)この目標とする開度情報に対応したスロットルバ
ルブ201の開度が得られるよう、スロットルバルブ開
度センサ210の出力をモニタしつつ、モータ240を
通じて同スロットルバルブ201を開閉駆動する。 といったフィードバック制御を実行することとなる。
【0012】何れにせよ、こうした電子式スロットルに
あっては、スロットルバルブ201の開度を適正に制御
し、またモニタする上で、上記スロットルバルブ開度セ
ンサ210の検出精度が極めて重要な意味を持つように
なる。
【0013】図8に、上記スロットルバルブ開度センサ
210も含めて、こうした電子式スロットルの具体構造
についてその一例を示す。この図8に示される電子スロ
ットルにおいて、スロットルボディー200は、上記吸
気管100に対して組み付けられる部分であり、その内
部に、上記スロットルバルブ201がスロットルシャフ
ト1によって軸支されている。
【0014】また、このスロットルシャフト1は、上記
電子制御装置230によりその駆動が制御されるモータ
240の回転軸にギア群241並びに電磁クラッチ24
2を介して連結されている。
【0015】したがって、上記電磁クラッチ242のオ
ン状態でモータ240が駆動されることにより、その回
転が上記ギア群241を介してスロットルシャフト1に
伝達され、上記スロットルバルブ201の開閉が行われ
ることとなる。
【0016】一方、上記スロットルシャフト1の一方端
にはフランジ部2が設けられ、このフランジ部2に、円
筒部を有する金属製のロータ3がビス4によって固定さ
れている。
【0017】ロータ3は、ホール素子10及びその駆動
並びに信号処理用の回路基板20と共にスロットルバル
ブ開度センサ210を構成する部分であり、その円筒部
の内部にそれぞれ半円筒形状を有する一対の永久磁石5
を有している。そして、この一対の永久磁石5共々、上
記スロットルシャフト1の回転に伴って回転する。
【0018】また、ホール素子10は、この回転する一
対の永久磁石5の回転中心部に位置するよう、樹脂製の
センサハウジング6内に上記回路基板20と共に固定さ
れている。
【0019】すなわち、同スロットルバルブ開度センサ
210にあっては、このホール素子10に対する上記永
久磁石5の磁界付与方向に基づいてスロットルシャフト
1の回転角度、すなわちスロットルバルブ201の開度
を非接触にて検出するようになっている。
【0020】以下、図9及び図10に基づき、こうした
スロットルバルブ開度センサ210による開度検出原理
を更に詳述する。同スロットルバルブ開度センサにあっ
ては、図9にその概要を模式的に示すように、スロット
ルシャフト1に連動して回転するロータ3に対し、その
回転軸と直交する方向に着磁されたそれぞれ半円筒形状
の一対の永久磁石5が設けられている。そして、該永久
磁石5の中空部内に、ロータ3の回転軸に沿った面に平
行且つ回転軸を中心に対称に、同永久磁石5の磁界方向
を検出するホール素子10が配設されている。
【0021】このため、スロットルシャフト1の回動に
伴い永久磁石5がホール素子10の周りを同図9に示さ
れる態様で回転すると、該ホール素子10の感磁面に対
する磁界方向が変化し、その変化した角度θに対応した
電気信号すなわちホール電圧VHが、 VH = KH・B・Rd・I・sinθ = VA・sinθ …(1) といったかたちで、同ホール素子10から出力されるよ
うになる。
【0022】ここで、値VAは、値「KH・B・Rd・
I」に対応した定数である。図10に示されるように、
ロータ3が「−90(=θ)」度から「+90(=
θ)」度まで回転する間に、上記ホール電圧VHは、
「−VA」から「+VA」へと正弦波上を連続的に変化
するようになる。また、同(1)式において、KHはホ
ール素子10の感度であり、Bは磁石5の磁束密度であ
り、Rdはホール素子10の内部抵抗であり、Iはホー
ル素子10の駆動電流である。
【0023】図8に例示したスロットルバルブ開度セン
サ210において、回路基板20では、上記駆動電流I
をホール素子10に対し供給するとともに、ホール素子
10からこうした態様で出力されるホール電圧VHを所
要に処理して、上記スロットルバルブ201の開度に対
応した電気信号を出力することとなる。なおこの出力
は、図示しないコネクタ等を介して電子制御装置230
(図7)に取り込まれるようになる。
【0024】ところで、上記ホール素子10や永久磁石
5は本来、負の温度特性を持つことから、通常であれば
周囲の温度に応じてその駆動条件が変化し、上記出力さ
れるホール電圧VHにも、それら温度特性に応じた変動
が来たすようになる。そして、ホール電圧VHにこのよ
うな変動が来たす場合、上記回路基板20を通じて処理
される信号、すなわち上記スロットルバルブ201の開
度を示す信号の信頼性も自ずと低いものとなる。
【0025】そこで、こうした回路基板20には通常、
上記駆動電流Iに対し正の温度特性を持たせる温度特性
補償回路を設け、該補償回路を通じて上記ホール素子1
0や永久磁石5の温度特性を補償するようにしている。
【0026】なお、このような温度特性補償回路を有す
るホール素子の駆動並びに信号処理回路としては従来、
例えば特開平5−157506号公報に記載されている
回路が知られている。
【0027】
【発明が解決しようとする課題】このように、ホール素
子や磁石の温度特性を、その駆動用の基準電圧若しくは
駆動電流を通じて補償するようにすれば、その出力され
るホール電圧VHの信頼性も自ずと高まるようになる。
そして、こうしてホール電圧VHの信頼性が高まれば、
上記スロットルバルブ開度センサとしてもそのセンサ出
力を常に高い精度に維持することができるようになる。
【0028】しかし、上記回路基板20はそもそも、該
基板20自身の温度環境においてホール素子10や永久
磁石5の温度特性を補償するものであることから、回路
基板20がそれらホール素子10や永久磁石5と異なる
温度環境におかれる場合には、自ずとその補償される温
度特性にもずれが生じるようになる。
【0029】例えば、当該車両が登坂して一時停車した
後、降坂する場合等、そのエンジンルームの雰囲気温度
が急変するような状況下では、同スロットルバルブ開度
センサにあっても、上記ホール素子10や永久磁石5と
上記回路基板20とで、その温度に差が生じることとな
る。この車両の「登坂−停車−降坂」を例とした主にス
ロットルバルブ開度センサ内部における温度環境変化の
推移、並びにその影響について、図8並びに図11を参
照して更に詳述する。
【0030】まず、登坂後の停車時には、エンジンの余
熱によって、エンジンルーム内の雰囲気温度も高温とな
っている。そしてその後の降坂時には、該降坂に伴う冷
えた新気がエンジンルーム内に流入することとなり、該
エンジンルーム内の温度は、図11(a)に示される態
様で急激に低下する。このとき、上記スロットルバルブ
開度センサにあっては図8に矢印F1及びF2にて付記
する方向でスロットルボディー200側からエンジンル
ーム(雰囲気)側への熱伝導が起こり、時間的には、 ・エンジンルーム(雰囲気)→センサハウジング6→回
路基板20→ホール素子10→永久磁石5→ロータ3→
スロットルシャフト1→スロットルボディー200 といった順序でその冷却が行われるようになる。
【0031】しかも、同スロットルバルブ開度センサに
おいては、 (イ)回路基板20は、それ自身の熱容量が小さいた
め、エンジンルーム(雰囲気)側からの冷却によって、
その温度が速く変化(低下)する。 (ロ)永久磁石5は、熱伝導率の高い金属製のロータ3
及びスロットルシャフト1を介して、熱容量が大きく温
度の変化しにくいスロットルボディー200に連結され
ているため、その温度変化は遅い。 (ハ)ホール素子10は、電気的にも機械的にも上記回
路基板20に連結されているものの、上記温度変化の遅
い永久磁石5によって囲繞されているなど、その温度環
境は回路基板20とは多少異なったものとなっている。
このためその温度変化は、永久磁石5よりは速く、回路
基板20よりは遅い。 といった、要素毎に異なる温度環境におかれており、結
局、上記降坂に伴う冷却の過程において、これら回路基
板20、ホール素子10、及び永久磁石5には、図11
(b)に示されるような温度差が生じることとなる。
【0032】そしてこのとき、回路基板20では上述し
たように、自らの温度環境において上記ホール素子10
や永久磁石5の温度特性補償を行うことにより、その出
力にも、図11(c)に示されるような大きな検出誤差
が生じるようになる。なお、同図11(c)において、
レベル線ACRは、該電子式スロットルとしての必要精
度境界を示している。
【0033】このように、スロットルバルブ開度センサ
にあっては通常、ホール素子の駆動並びに信号処理を行
う回路基板に設けられた温度特性補償回路によってホー
ル素子や永久磁石の温度特性が補償されるとはいえ、エ
ンジンルームの雰囲気温度が急変するような状況下で
は、同回路による温度補償が正しく行われず、上述した
大きな検出誤差を生じることとなる。
【0034】そして特に、前記ISC等にかかる制御を
もスロットルバルブの開閉を通じて行う電子式スロット
ル等、その開度をモニタする上で高い検出精度が要求さ
れるシステムにあっては、スロットルバルブ開度センサ
によるこのような検出誤差の発生も深刻である。
【0035】この発明は、こうした実情に鑑みてなされ
たものであり、たとえ雰囲気温度が急変するような状況
下にあっても、それら温度変化に影響されない高い精度
にてスロットルバルブの開度を検出することのできるス
ロットルバルブ開度センサを提供することを目的とす
る。
【0036】
【課題を解決するための手段】こうした目的を達成する
ため、請求項1記載の発明では、スロットルバルブを軸
支するスロットルシャフトに装着され、該スロットルシ
ャフトの回転に伴って回転するロータと、このロータに
装着され、その回転軸と直交する方向に着磁されて一体
に回転する磁石手段と、この磁石手段の中空部内に位置
するようハウジングに固定され、同磁石手段の磁界方向
に対応した電気信号を出力する磁電変換素子と、前記ハ
ウジングに設けられた回路室に装着されて、前記磁石手
段及び磁電変換素子の温度特性を補償しつつ、同磁電変
換素子から出力される電気信号を所要に処理する回路基
板と、前記磁石手段及び前記磁電変換素子及び前記回路
基板の温度推移にかかる時間特性を物理的に近似せしめ
る温度推移補償手段とを具えてスロットルバルブ開度セ
ンサを構成する。
【0037】また、請求項2記載の発明では、該請求項
1記載の発明の構成において、前記温度推移補償手段
を、前記回路基板の装着されたハウジング回路室に充填
された保温部材を具えるものとして構成する。
【0038】また、請求項3記載の発明では、同請求項
1記載の発明の構成において、前記温度推移補償手段
を、前記ロータの前記スロットルシャフトとの結合部に
設けられた断熱部材を具えるものとして構成する。
【0039】また、請求項4記載の発明では、同請求項
1記載の発明の構成において、前記温度推移補償手段
を、前記回路基板の装着されたハウジング回路室に充填
された保温部材、及び前記ロータの前記スロットルシャ
フトとの結合部に設けられた断熱部材を具えるものとし
て構成する。
【0040】また、請求項5記載の発明では、上記請求
項2または4記載の発明の構成において、前記保温部材
を、ゲル若しくはポッティング材によって構成する。ま
た、請求項6記載の発明では、該請求項5記載の発明の
構成において、前記ゲル若しくはポッティング材を、前
記回路基板の表面に1mm以上堆積する構成とする。
【0041】また、請求項7記載の発明では、上記請求
項3または4記載の発明の構成において、前記断熱部材
を、前記ロータの前記磁石手段の装着されるヨーク部と
前記スロットルシャフトとの結合部とを連結する樹脂材
によって構成する。
【0042】また、請求項8記載の発明では、該請求項
7記載の発明の構成において、前記樹脂材を、その周囲
に多数の切り欠きが設けられている構成とする。また、
請求項9記載の発明では、請求項1記載の発明の構成に
おいて、前記磁電変換素子がホール素子であるとすると
き、前記回路基板を、基準電圧を帰還増幅する帰還増幅
回路と、温度に応じて降下電圧が変化する電圧降下素子
を含んで該帰還増幅回路の帰還路に接続され、同帰還路
を流れる電流を制御する帰還電流制御回路と、同じく電
圧降下素子を含んで前記帰還増幅回路の帰還路中に配設
され、前記帰還増幅回路の出力電圧を制御する出力電圧
制御回路とを具え、前記帰還電流制御回路及び出力電圧
制御回路により出力電圧が制御される帰還増幅回路の出
力に基づき、前記ホール素子に駆動信号を供給するもの
として構成する。
【0043】また、請求項10記載の発明では、該請求
項9記載の発明の構成において、前記帰還電流制御回路
を、第1のダイオードと第1の抵抗との直列回路を具え
る構成とし、前記出力電圧制御回路を、第2のダイオー
ドと第2の抵抗との直列回路を具える構成とし、これら
第1の抵抗と第2の抵抗との 第1の抵抗の抵抗値 > 第2の抵抗の抵抗値 なる関係に基づいて、前記帰還増幅回路の出力を正の温
度特性に設定する。
【0044】また、請求項11記載の発明では、該請求
項10記載の発明の構成において、前記帰還増幅回路の
帰還路を流れる電流が10μ〜1mアンペアに制御され
るよう、前記帰還電流制御回路の前記第1の抵抗の抵抗
値を設定する。
【0045】また、請求項12記載の発明では、これら
請求項9〜11記載の発明の構成において、前記回路基
板を、前記ホール素子に直列接続された抵抗と、該抵抗
の電圧降下と前記帰還増幅回路の出力とを比較し、同抵
抗の電圧降下が一定となるよう前記ホール素子に印加さ
れる電圧を制御する演算増幅器とを有して前記駆動信号
を前記ホール素子に供給する定電流制御回路を具える構
成とする。
【0046】これら各発明による作用は以下の通りであ
る。前述のように、本来異なる温度環境におかれる永久
磁石等の磁石手段、ホール素子等の磁電変換素子、そし
てその駆動や信号処理を行う回路基板ではあるが、請求
項1記載の発明によるように、 ・前記磁石手段及び前記磁電変換素子及び前記回路基板
の温度推移にかかる時間特性を物理的に近似せしめる温
度推移補償手段。 を具える構成によれば、該温度推移補償手段を通じて、
それら要素の温度環境はほぼ均一化されるようになる。
【0047】したがって、たとえ前記雰囲気温度が急変
するような状況に際しても、これら磁石手段、磁電変換
素子、及び回路基板間での温度差は生じ難くなり、回路
基板がそれ自身の温度環境に基づいて磁石手段や磁電変
換素子の温度特性を補償する場合においても、該補償は
常に適正に行われるようになる。
【0048】そしてこのため、同スロットルバルブ開度
センサとしての検出誤差も最小限に抑制されることとな
り、雰囲気温度の変化に影響されない高い精度にてスロ
ットルバルブの開度を検出することができるようにな
る。
【0049】また、請求項2記載の発明によるように、
上記温度推移補償手段を、 ・前記回路基板の装着されたハウジング回路室に充填さ
れた保温部材を具えるもの。 として構成すれば、本来熱容量の小さい前記回路基板に
ついて、その熱容量を増大せしめることができ、前記雰
囲気温度が急変する際の同回路基板の温度変化を緩やか
なものとすることができるようになる。すなわち、回路
基板の温度推移にかかる時間特性を前記磁電変換素子、
或いは前記磁石手段のそれに近づけることができるよう
になる。
【0050】また、請求項3記載の発明によるように、
上記温度推移補償手段を、 ・前記ロータの前記スロットルシャフトとの結合部に設
けられた断熱部材を具えるもの。 として構成すれば、熱伝導率の高いスロットルシャフト
を介して熱容量の大きいスロットルボディーに物理的に
連結される前記磁石手段について、その熱の伝達経路を
好適に断熱することができるようになる。すなわち、前
記雰囲気温度が急変する際の同磁石手段の温度変化を速
めることができ、磁石手段の温度推移にかかる時間特性
を前記磁電変換素子、或いは前記回路基板のそれに近づ
けることができるようになる。
【0051】また、請求項4記載の発明によるように、
上記温度推移補償手段を、 ・前記回路基板の装着されたハウジング回路室に充填さ
れた保温部材、及び前記ロータの前記スロットルシャフ
トとの結合部に設けられた断熱部材をそれぞれ具えるも
の。 として構成すれば、本来熱容量の小さい前記回路基板に
ついてはその熱容量を増大せしめて、前記雰囲気温度が
急変する際の同回路基板の温度変化を緩やかなものとす
ることができ、また熱伝導率の高いスロットルシャフト
を介して熱容量の大きいスロットルボディーに物理的に
連結される前記磁石手段についてはその熱の伝達経路を
好適に断熱して、前記雰囲気温度が急変する際の同磁石
手段の温度変化を速めることができるようになる。すな
わち、回路基板の温度推移にかかる時間特性、並びに磁
石手段の温度推移にかかる時間特性をそれぞれ前記磁電
変換素子のそれに近づけることができるようになる。
【0052】またこの場合には、上記保温部材及び断熱
部材を通じて、上記回路基板、磁石手段、及び磁電変換
素子の各温度推移にかかる時間特性を適合し、それら温
度環境の均一化を図ることも容易となる。
【0053】なお、上記保温部材としては、例えば請求
項5記載の発明によるように、ゲル若しくはポッティン
グ材が有効である。これらゲル若しくはポッティング材
によれば、その堆積(充填)する層厚によって、同保温
部材としての保温効果を任意に設定することができるよ
うになる。
【0054】またこの場合、その堆積(充填)する層厚
としては、請求項6記載の発明によるように、1mm以
上とすることが望ましい。前記回路基板の表面にこれら
ゲル若しくはポッティング材が1mm以上堆積されるこ
とで、当該スロットルバルブ開度センサが前記電子式ス
ロットルに適用される場合であれ、その必要精度が確保
されることが発明者等による実験によって確認されてい
る。
【0055】一方、上記断熱部材としては、例えば請求
項7記載の発明によるように、前記ロータの前記磁石手
段の装着されるヨーク部と前記スロットルシャフトとの
結合部とを連結する樹脂材が有効である。そもそも樹脂
材は金属等に比べて熱伝導率が低いことから、前記ロー
タの同結合部に対してこうした樹脂材を導入すること
で、熱容量の大きいスロットルボディーから磁石手段へ
の熱伝導は好適に低減若しくは遮断されるようになる。
【0056】そしてこの場合には、特に請求項8記載の
発明によるように、同樹脂材としてその周囲に多数の切
り欠きが設けられているものを用いることとすれば、そ
の断熱材としての断熱効果も更に高められるようにな
る。
【0057】ところで、前記磁電変換素子の1つである
ホール素子や該ホール素子に対する磁界発生源としてそ
の周囲に配設される磁石が負の温度特性を有すること、
またこれらホール素子や磁石の温度特性をホール素子の
駆動電流等を通じて補償することでその出力されるホー
ル電圧の信頼性も自ずと高まるようになること、等々は
前述した通りである。
【0058】そこで、請求項9記載の発明では、前記磁
電変換素子がホール素子である場合に、 (a)基準電圧を帰還増幅する帰還増幅回路。 (b)温度に応じて降下電圧が変化する電圧降下素子を
含んで該帰還増幅回路の帰還路に接続され、同帰還路を
流れる電流を制御する帰還電流制御回路。 (c)同じく電圧降下素子を含んで前記帰還増幅回路の
帰還路中に配設され、前記帰還増幅回路の出力電圧を制
御する出力電圧制御回路。 をそれぞれ具えて前記回路基板を構成し、前記帰還電流
制御回路及び出力電圧制御回路により出力電圧が制御さ
れる帰還増幅回路の出力に基づき、ホール素子に駆動信
号を供給するようにしている。
【0059】ここで、上記帰還電流制御回路や出力電圧
制御回路を構成する上記電圧降下素子としては各種ダイ
オードやトランジスタがあるが、これらは何れも、ホー
ル素子や磁石と同様、負の温度特性を持つ。
【0060】このため、上記出力電圧制御回路がその帰
還路中に配設される帰還増幅回路にあっては、その出力
として、上記基準電圧が該出力電圧制御回路による電圧
制御を通じて所要レベルに安定化された信号が生成され
るようにはなるが、該生成される信号は通常、負の温度
特性を持つようになる。
【0061】しかし、同請求項9記載の発明の上記構成
によるように、帰還電流制御回路をこの帰還増幅回路の
帰還路に更に接続するようにすれば、それら帰還電流制
御回路及び出力電圧制御回路による電流、電圧制御量を
通じて、正負の極性も含めてこの帰還増幅回路の出力と
して生成される信号の温度特性を変えることができるよ
うになる。
【0062】したがって、同帰還増幅回路の出力に、こ
の帰還電流制御回路及び出力電圧制御回路による電流、
電圧制御量に応じた正の温度特性を持たせるようにすれ
ば、上記定電流制御される駆動信号も自ずと正の温度特
性を持つようになり、上記ホール素子や磁石の温度特性
も良好に補償されるようになる。
【0063】しかも、同請求項9記載の発明の上記構成
によれば、その温度補償の度合いが上記帰還電流制御回
路及び出力電圧制御回路による電流、電圧制御量に応じ
て任意に決定されるようになるため、ホール素子や磁石
の温度特性にばらつきがあったとしても、それらばらつ
きに容易に対処することができるようにもなる。
【0064】一方、上記帰還増幅回路はもとより、帰還
電流制御回路及び出力電圧制御回路を構成する上記ダイ
オードやトランジスタ等も、それらの回路を一括して含
む例えば1個のモノシリックICとして半導体チップ化
することが可能であり、また容易である。
【0065】したがって同請求項9記載の発明によれ
ば、ホール素子駆動回路としての高い温度補償性能を維
持しながら、部品点数の削減も含め、その小型化を好適
に促進することができるようにもなる。
【0066】また、請求項10記載の発明によるよう
に、前記帰還電流制御回路が第1のダイオードと第1の
抵抗との直列回路を有して構成され、前記出力電圧制御
回路が第2のダイオードと第2の抵抗との直列回路を有
して構成されるものとすれば、これら第1の抵抗と第2
の抵抗との 第1の抵抗の抵抗値 > 第2の抵抗の抵抗値 なる関係に基づいて、前記帰還増幅回路の出力を正の温
度特性に設定することができる。
【0067】すなわち、上記帰還電流制御回路における
第1のダイオードの電圧降下分と上記出力電圧制御回路
における第2のダイオードの電圧降下分とは逆極性とな
るため、第1の抵抗と第2の抵抗との上記関係によっ
て、そもそも負の温度特性を持つそれらダイオードの電
圧降下に基づき帰還電流が制御される上記帰還増幅回路
の出力は、その温度特性の極性が反転されるようにな
る。
【0068】そして、同請求項10記載の発明による上
記構成によれば、上記帰還電流制御回路及び出力電圧制
御回路としての極めて簡素な回路構成をもって、ホール
素子や磁石の温度特性を高精度に補償することができる
ようになる。
【0069】因みにこの場合、第1の抵抗と第2の抵抗
との上記関係が満たされさえすれば、それら抵抗値の比
に応じて、ホール素子や磁石の温度特性のばらつきが吸
収されるようになる。
【0070】また、請求項11記載の発明によるよう
に、上記帰還電流制御回路を、 ・前記帰還増幅回路の帰還路を流れる電流が10μ〜1
mアンペアに制御されるよう前記第1の抵抗の抵抗値が
設定されるもの。 として構成すれば、通常、数十n(ナノ)〜数百nアン
ペア程度流れる上記帰還増幅回路のオフセット電流の影
響が無視できて且つ、同帰還増幅回路の出力容量を、I
C化する上で実用的な容量に設定することができるよう
になる。
【0071】すなわち、10μアンペアという電流は、
上記帰還増幅回路のオフセット電流のばらつき等によっ
て温度補償精度が悪化することを防ぐに十分な電流であ
る。また1mアンペアという電流は、上記第1及び第2
のダイオードや帰還増幅回路出力部に大容量の素子を要
しない、すなわちICチップを不必要に大型化せずに済
む適当な電流である。
【0072】また、請求項12記載の発明によるよう
に、 (d1)前記ホール素子に直列接続された抵抗。 (d2)該抵抗の電圧降下と帰還増幅回路の出力とを比
較し、同抵抗の電圧降下が一定となるようホール素子に
印加される電圧を制御する演算増幅器。 を有する定電流制御回路を通じてホール素子に駆動信号
を供給する構成とすれば、これも極めて簡素な回路に
て、同駆動信号の定電流制御機能が果たされるようにな
る。
【0073】
【発明の実施の形態】図1に、この発明にかかるスロッ
トルバルブ開度センサについてその一実施形態を示す。
【0074】この実施形態のセンサは、開度検出素子と
してホール素子を用い、先の図9及び図10に示した原
理に基づき、非接触にてスロットルバルブの開度を検出
するセンサとして構成されている。
【0075】はじめに、図1を参照して、同実施形態に
かかるスロットルバルブ開度センサの構成について説明
する。この図1において、スロットルシャフト1は、例
えば先の図8に例示したような電子式スロットルにあっ
て、そのスロットルバルブ(図1では図示を割愛)を軸
支する金属製のシャフトである。該シャフト1は通常、
これも図示を割愛した熱容量の大きいスロットルボディ
ーに熱的に接続されている。
【0076】また、このスロットルシャフト1の先端に
はフランジ部2が設けられ、該フランジ部2に対して、
当該センサのいわば回転入力部を構成するロータ3がビ
ス4によって装着されている。
【0077】このロータ3は、樹脂等、熱伝導率の低い
材料からなるとともに、その周囲に多数の切り欠き3c
が設けられて上記フランジ部2に結合される円筒形の結
合部3aと、その上部に一体に結合された鉄等の磁性体
材料からなるヨーク部3bとを有して構成される。なお
結合部3aも、そのフランジ部2と結合される底辺はフ
ランジ状に加工されており、またヨーク部3bには、そ
の内周面に、先の図9に示されるような円筒形状を有し
て、その回転軸と直交する方向に着磁された一対の永久
磁石5が取り付けられている。
【0078】ロータ3のこうした構成により、上記スロ
ットルボディーに熱的に接続されているスロットルシャ
フト1からの熱伝導は、樹脂等の低熱伝導率材料からな
り、しかも上記切り欠き3cによってその経路断面積を
縮小する結合部3aによって好適に遮断若しくは減衰さ
れるようになる。
【0079】また、ロータ3の上記構成により、スロッ
トルバルブを開閉すべくスロットルシャフト1が回動さ
れるとき、上記ヨーク部3bに装着された一対の永久磁
石5も、同ロータ3共々、その回動に伴って回転される
こととなる。そして、この回転に伴う同永久磁石5の磁
界方向が、当該センサのいわば回転検出部を構成するホ
ール素子10によって検知される。
【0080】ホール素子10は、図示しないスロットル
ボディーに対してビス等により装着された樹脂等からな
るセンサハウジング6に、同図1に示される態様で、上
記回転する永久磁石5の回転中心に位置するよう、一体
に固定されている。こうしてホール素子10には、上記
一対の永久磁石5によって、先の図9に示されるような
平行磁界が印加されるようになる。
【0081】一方、上記センサハウジング6には、エン
ジンルーム等、前述した雰囲気側に回路室7が設けられ
ており、この回路室7の底部7aに、上記ホール素子1
0を駆動し、更にはその出力を所要に処理する回路基板
20が接着剤等により固定されている。
【0082】因みに、同実施形態にかかるセンサにあっ
ては、この回路基板20にアルミナ基板等、加工が難し
く、ホール素子10を直接取り付けにくい基板が用いら
れている。このため、これら回路基板20とホール素子
10とは、同図1に示される態様でハウジング6を介し
て離間され、ホール素子接続リード11によって電気的
に接続されることとなっている。換言すれば、これら回
路基板20とホール素子10とは、先の図8に例示した
スロットルバルブ開度センサ210よりも更に、熱的に
異なる環境におかれることとなっている。
【0083】そこで同実施形態にかかるセンサでは、セ
ンサハウジング6の、上記回路基板20が装着された回
路室7内部にシリコンゲル30を充填した状態でカバー
8を施すようにしている。
【0084】センサハウジング6のこうした構成によ
り、本来熱容量の小さい回路基板20についてその熱容
量を増大せしめることができ、カバー8側において雰囲
気温度が急変するような場合でも、この回路基板20の
温度変化を緩やかなものとすることができるようにな
る。すなわち、この回路基板20と上記ホール素子10
とで、その温度推移にかかる時間特性をほぼ同等のもの
とすることができるようになる。
【0085】なお、同センサハウジング6において、符
号9にて示す部位は、上記回路基板20による処理信
号、すなわちスロットルバルブの開度信号を前述した電
子制御装置(図7参照)に出力するためのコネクタであ
る。このコネクタ9には、電極となるコネクタターミナ
ル28が設けられ、このターミナル28と上記回路基板
20の出力端子とは、ターミナル−基板接続リード27
によって電気的に接続される。
【0086】図2は、ホール素子10を駆動し、更には
その出力を所要に処理する上記回路基板20について、
そこに搭載されるホール素子駆動回路、並びにその信号
処理回路の一例を示したものである。
【0087】次に、同図2を参照して、該ホール素子駆
動回路、並びにその信号処理回路の構成について説明す
る。まず駆動回路において、抵抗R1及び抵抗R2の直
列回路からなる分圧回路21は、端子T1及びT2間に
供給される電源電圧Vccを所要に分圧して基準電圧V
1を生成する回路である。この生成された基準電圧V1
は、演算増幅器A1の非反転入力端子(+端子)に与え
られる。
【0088】この基準電圧V1が与えられる演算増幅器
A1は同駆動回路において、ホール素子10の駆動信号
を生成するための基準電圧V2を出力する帰還増幅回路
22を構成する。
【0089】帰還増幅回路22は、その出力端子と反転
入力端子(−端子)とを結ぶ帰還路に対し、抵抗R3と
ダイオードD1との直列回路からなる帰還電流制御回路
23が図示の如く接続されるとともに、同帰還路中に
は、ダイオードD2と抵抗R4との直列回路からなる出
力電圧制御回路24を具える構成となっている。後に詳
述するように、同帰還増幅回路22の帰還路中を流れる
電流I2は、上記帰還電流制御回路23を通じてその流
量が制御されるようになる。
【0090】また、この帰還増幅回路22の出力である
基準電圧V2が非反転入力端子に与えられる演算増幅器
A2は、ホール素子10に直列に接続される抵抗R5と
共に、同ホール素子10に供給する駆動信号を定電流制
御する定電流制御回路25を構成する。
【0091】この定電流制御回路25では、抵抗R5の
電圧降下と上記基準電圧V2との比較のもとに、同抵抗
R5の電圧降下が一定となるよう、ホール素子10に印
加される電圧を制御する。この結果ホール素子10に
は、その駆動電流Iとして、 I = (V2/R5) …(2) なる一定の電流が供給されるようになる。
【0092】一方、同ホール素子10から先の(1)式
に示される態様で出力されるホール電圧VHを処理する
信号処理回路26は、例えば以下のように構成される。
すなわちこの信号処理回路26において、上記ホール電
圧VHがそれぞれ非反転入力端子に入力される演算増幅
器A3及びA4と抵抗R6〜R8とは、同ホール電圧V
Hを高入力インピーダンス受入してこれを安定化するバ
ッファ回路261を構成する。このバッファ回路261
の出力は、抵抗R11及びR12と演算増幅器A6、並
びにその帰還抵抗R13と入力抵抗R14とを有して構
成される差動増幅回路263に入力されて差動増幅され
る。そして、その差動増幅出力が、センサ出力Voとし
て端子T3から出力されるようになる。
【0093】なお、同信号処理回路26において、抵抗
R9及びR10からなる分圧回路とその分圧電圧を非反
転入力端子に受入する演算増幅器A5とは、上記差動増
幅回路263の基準電圧を生成する基準電圧生成回路2
62を構成する。差動増幅回路263では、この生成さ
れる基準電圧に応じて、上記バッファ回路261の出力
(ホール電圧VH)を所要に差動増幅するようになる。
【0094】また、コンデンサC1、C2は、端子T1
及びT3に生じるノイズ、サージ等を除去するためのコ
ンデンサである。次に、上記ホール素子駆動回路の動
作、並びに同駆動回路の温度特性補償機能について更に
詳述する。
【0095】上記帰還電流制御回路23及び出力電圧制
御回路24に各々配設されるダイオードD1及びD2の
順方向電圧(端子間電圧)をそれぞれVF1及びVF
2、また電源電圧をVccとすると、これら帰還電流制
御回路3及び出力電圧制御回路24を流れる電流I1及
びI2は、それぞれ I1 = (Vcc−V1−VF1)/R3 …(3) I2 = I1+IA …(4) となる。
【0096】ここで、上記(4)式におけるIAは、帰
還増幅回路22(演算増幅器A1)のオフセット電流で
あり、通常同電流は、数十n(ナノ)〜数百nアンペア
程度の電流となる。したがって、上記電流I1を10μ
アンペア以上に設定することができれば、電流I2の値
は、実質的に I2 = I1 …(4)’ と考えることができるようになる。すなわち、以下に説
明する温度特性補償精度が、このオフセット電流IAの
ばらつき等に起因して悪化するようなことはなくなる。
【0097】他方、上記電流I1の値が必要以上に大き
くなると、上記ダイオードD1及びD2をはじめ、演算
増幅器A1の出力部には大容量の素子が必要になる。す
なわち、上記信号処理回路26も含めて同駆動回路をモ
ノシリックIC化しようとする際、ICチップが不必要
に大型化したり、若しくは1チップ化が不可能になる。
このため、同電流I1としては、10μ〜1mアンペア
が最適であり、電流I1がこのような最適な値に設定さ
れるよう上記抵抗R3の抵抗値が選ばれる。
【0098】また、同駆動回路の上記構成によれば、帰
還増幅回路22の出力である上記基準電圧V2は、 V2 = V1(1+R4/R3) −Vcc(R4/R3) +VF1(R4/R3) −VF2 …(5) となる。
【0099】ここで、分圧回路1の出力である基準電圧
V1は、 V1 = (R2/(R1+R2))Vcc …(6) であり、また、ダイオードD1及びD2の順方向電圧V
F1及びVF2は、それぞれ VF1 = VF1(25){1−K1(T−25)} …(7) VF2 = VF2(25){1−K2(T−25)} …(8) ただし、 VF1(25)、VF2(25):温度25℃時の順方向電圧 K1、K2 :温度係数 T :温度 として表される負の温度特性を持っている。
【0100】そこで、これら(6)式〜(8)式を
(5)式に代入して整理すると、 V2 = Vcc{(R2/(R1+R2))×(1+R4/R3) −R4/R3} +VF1(25){1−K1(T−25)}(R4/R3) −VF2(25){1−K2(T−25)} …(9) となる。
【0101】またここで、上記ダイオードD1及びD2
が同回路(IC)中に近接して設けられるとすると、上
記順方向電圧VF1(25)及びVF2(25)はVF(25)とし
て、また上記温度係数K1及びK2はKとして、それぞ
れ同一の値にて表すことができるようになる。このた
め、上記(9)式も、結局は V2 = Vcc{(R2/(R1+R2))×(1+R4/R3) −(R4/R3)} +VF(25){1−K(T−25)}(R4/R3−1) …(10) として表されるようになる。この基準電圧V2が定電流
制御回路25に与えられ、同制御回路25を通じて、先
の(2)式に示される駆動電流I(=V2/R5)がホ
ール素子10に供給されるようになることは上述した通
りである。
【0102】ところで、ホール素子10及び前記永久磁
石5が負の温度特性を有していることは前述した。すな
わち、先の(1)式に示されるホール素子10の感度K
H及び内部抵抗Rd、更には永久磁石5の磁束密度B
は、温度が高くなるにつれて低い値を示すようになる。
【0103】また、ホール素子10の出力であるホール
電圧VHは、同(1)式に示されるように、上記駆動電
流Iに比例する。したがって、ホール素子10及び永久
磁石5の上記負の温度特性を補償するためには、上記駆
動電流Iすなわち上記基準電圧V2に、これとは逆の正
の温度特性を持たせればよいことになる。
【0104】そこでこの回路では、上記帰還電流制御回
路23及び出力電圧制御回路24を構成するダイオード
D1及びD2が負の温度特性を有しているとはいえ、上
記(5)式によるように、それらダイオードによる電圧
降下分(右辺の第3項及び第4項)は互いに逆極性とな
っていることに着目して、抵抗R3及びR4を R3 > R4 …(11) といった関係に設定する。
【0105】すなわち、上記(10)式からも明らかな
ように、抵抗R3及びR4をこうした関係に設定するこ
とにより、同(10)式の項 VF(25){1−K(T−25)} にかかる「(R4/R3−1)」の部分が負の値にな
り、同項の温度係数−Kは正の値をとるようになる。す
なわち、抵抗R3及びR4のこうした設定を通じて、上
記基準電圧V2に正の温度特性を持たせることができる
ようになる。
【0106】図3に、同駆動回路によるこうした温度特
性補償態様を示す。同図3に示されるように、ホール素
子10の感度KH及び内部抵抗Rdが特性線L1のよう
な負の温度特性を示し、また永久磁石5の磁束密度Bが
特性線L2のような同じく負の温度特性を示すとする
と、ホール素子10と永久磁石5とでは、それらが合成
された特性として、特性線L3のような温度特性を示す
ようになる。
【0107】ホール素子10と永久磁石5とのこうした
負の温度特性に対し、同回路では、抵抗R3及びR4を
上記(11)式の関係に設定するとともに、同抵抗R3
及びR4の比の大きさを通じて、更には(10)式に含
まれる (R2/(R1+R2)) といった関係を通じて、同図3に特性線L4として示さ
れるような正の温度特性を、上記基準電圧V2(駆動電
流I)に持たせるようにする。
【0108】その結果、ホール素子10から出力される
ホール電圧VHは、その温度特性が同図3に特性線L5
として示される態様で補正されるようになり、周囲温度
の如何なる変化に対しても、常に適正な値を示すように
なる。
【0109】このように、上記ホール素子駆動回路によ
れば、それぞれダイオードD1或いはD2を具える帰還
電流制御回路23及び出力電圧制御回路24を通じてホ
ール素子の駆動電流Iに正の温度特性を持たせることが
でき、ホール素子並びに永久磁石の温度特性を好適に補
償することができるようになる。
【0110】しかも同駆動回路の上記構成によれば、そ
の温度特性の補償量(図3の特性線L4の傾き)を、上
記帰還電流制御回路23及び出力電圧制御回路24によ
る電流、電圧制御量(抵抗比R4/R3)に応じて、或
いは分圧回路21の分圧比(R2/(R1+R2))に
応じて任意に設定することができる。このため、ホール
素子や永久磁石の温度特性にばらつきがあったとして
も、それらばらつきに容易に対処することができるよう
にもなる。
【0111】ところで、回路基板20に配設された同駆
動回路を通じて、ホール素子10や永久磁石5の温度特
性をこのように補償することができるとはいえ、先の課
題の欄において述べたように、エンジンルームの雰囲気
温度が急変するような状況下では通常、これら回路基板
20、ホール素子10、及び永久磁石5の間に温度差が
生じ、上記温度特性補償が正しく行われない懸念があ
る。
【0112】しかし、図1に示した同実施形態にかかる
センサでは上述のように、その (A)ロータ3の前記構成により、スロットルボディー
に熱的に接続されているスロットルシャフト1からの熱
伝導は、樹脂等の低熱伝導率材料からなり、しかも切り
欠き3cによってその経路断面積を縮小する結合部3a
によって好適に遮断若しくは減衰されるようになる。 (B)センサハウジング6の上記回路基板20が装着さ
れた回路室7内部にシリコンゲル30を充填した構造に
より、本来熱容量の小さい回路基板20についてその熱
容量を増大せしめることができるようになる。すなわ
ち、上記雰囲気温度が急変するような場合でも、この回
路基板20の温度変化を緩やかなものとすることができ
るようになる。 といった構造によって、永久磁石5の温度推移にかかる
時間特性並びに回路基板20の温度推移にかかる時間特
性をそれぞれホール素子10のそれに近づけることがで
きるようになる。
【0113】図4は、従来のセンサの図11に示される
それら各要素の温度推移特性と対比して、同実施形態に
かかるセンサのそれら各要素の温度推移特性を示したも
のであり、以下、同図4を併せ参照して、同実施形態に
かかるセンサによるそれら各要素の温度環境補償機能を
更に詳述する。
【0114】エンジンルームの雰囲気温度が急変する状
況として、ここでも前述のように、当該車両が登坂して
一時停車した後、降坂する場合を想定する。まず、登坂
後の停車時には前述した通り、エンジンの余熱によっ
て、エンジンルーム内の雰囲気温度も高温となってい
る。そしてその後の降坂時には、該降坂に伴う冷えた新
気がエンジンルーム内に流入することとなり、該エンジ
ンルーム内の温度は、図4(a)に示される態様で急激
に低下する。なお、この図4(a)に示される状況は、
先の図11(a)に示される状況と同一である。
【0115】このため、図1に示した同実施形態のセン
サにあっても、先の図8に矢印F1及びF2にて付記し
た方向に準じて図示しないスロットルボディー側からエ
ンジンルーム(雰囲気)側への熱伝導が起こり、時間的
には、 ・エンジンルーム(雰囲気)→センサハウジング6(カ
バー8→回路室7→シリコンゲル30)→回路基板20
→センサハウジング6→ホール素子10→永久磁石5→
ロータ3(ヨーク部3b→結合部3a)→スロットルシ
ャフト1→スロットルボディー(図示せず) といった順序でその冷却が行われるようになる。
【0116】ただしここで、同実施形態にかかるセンサ
にあっては、同センサとしての上記(B)として示した
構造によって回路基板20の温度変化は遅くなり、且
つ、同センサとしての上記(A)として示した構造によ
って永久磁石5の温度変化は速くなる。
【0117】こうして結局、同実施形態のセンサでは、
上記回路基板20及び永久磁石5の温度推移にかかる時
間特性がホール素子10のそれに互いに近づくこととな
り、たとえエンジンルームの雰囲気温度が急変する状況
下にあっても、それら各要素の温度差は、図4(b)に
示されるように極めて小さなものとなる。
【0118】したがって、回路基板20が上述のよう
に、それ自身の温度を基準に上記永久磁石5及びホール
素子10の温度特性を補償する場合であれ、該温度補償
は常に適正に行われるようになり、同センサとしての検
出誤差も、図4(c)に示されるように極めて小さなも
のとなる。なお、同図4(c)においても、レベル線A
CRは、電子式スロットルとしての必要精度境界を参考
までに示している。
【0119】このように、同実施形態にかかるスロット
ルバルブ開度センサによれば、 (1)たとえ雰囲気温度が急変するような状況に際して
も、永久磁石5、ホール素子10、及び回路基板20間
での温度差は生じ難くなり、回路基板20がそれ自身の
温度環境に基づいて永久磁石5やホール素子10の温度
特性を補償する場合においても、該補償は常に適正に行
われるようになる。
【0120】(2)そしてこのため、同スロットルバル
ブ開度センサとしての検出誤差も最小限に抑制されるこ
ととなり、雰囲気温度の変化に影響されない高い精度に
てスロットルバルブの開度を検出することができるよう
になる。
【0121】(3)また、回路基板20に搭載されるホ
ール素子駆動回路にあっては、それぞれダイオードD1
或いはD2を具える帰還電流制御回路23及び出力電圧
制御回路24を通じてホール素子の駆動電流Iに正の温
度特性を持たせるようにしている。このため、サーミス
タ等、それ自らに温度特性のばらつきが大きい温度特性
補償素子を用いる前記特開平5−157506号公報記
載の回路などに比べて、より正確にホール素子10並び
に永久磁石5の温度特性を補償することができるように
なる。
【0122】(4)しかも同駆動回路の前記構成によれ
ば、その温度特性の補償量(図3の特性線L4の傾き)
が、上記帰還電流制御回路23及び出力電圧制御回路2
4による電流、電圧制御量(抵抗比R4/R3)に応じ
て、或いは分圧回路21の分圧比(R2/(R1+R
2))に応じて任意に設定されるようになる。このた
め、ホール素子10や永久磁石5の温度特性にばらつき
があったとしても、それらばらつきに容易に対処するこ
とができるようにもなる。
【0123】(5)そして、上記サーミスタ等を用いず
に、ダイオードD1及びD2を通じて温度特性の補償を
行う同駆動回路は、信号処理回路26をも含めて、これ
を1個のモノシリックICとして実現することも容易で
ある。
【0124】(6)また、同駆動回路をこうしてIC化
することにより、上記ダイオードD1及びD2も同IC
中に自ずと近接して設けられることとなり、上記(1
0)式への変換、すなわち ・順方向電圧VF1(25)及びVF2(25)をVF(25)とす
る。 ・温度係数K1及びK2をKとする。 として同一化したことが意味を持つようになる。
【0125】(7)また、これらダイオードD1及びD
2は、単に同一特性というだけではなく、半導体装置と
しての製造プロセスを通じて物性的にも高精度に管理さ
れるため、製品間のばらつきも極めて少ない。すなわ
ち、駆動対象となるホール素子や磁石自体が負の一定の
温度特性を有するものであれば、製品によらずに、極め
て高い精度で上述した温度特性補償機能が維持されるよ
うにもなる。
【0126】(8)更に、アルミナ基板等が用いられる
回路基板20の図2に示される各抵抗は、いわゆる厚膜
抵抗体として形成することができ、これを前記回路室7
に装着した後も、例えばレーザートリミングによる抵抗
値の微調整が可能である。因みに、抵抗R1、R2、R
3、及びR4の抵抗値によって上記駆動回路による温度
特性の補償量が調整され、抵抗R6、R7、及びR8の
抵抗値によって上記信号処理回路26の出力ゲインが調
整され、抵抗R9及びR10の抵抗値によって同信号処
理回路26の出力オフセットが調整される。等々、多く
の優れた効果を得ることができるようになる。
【0127】なお、同実施形態のセンサにおいて、セン
サハウジング6の上記回路室7に充填するシリコンゲル
30の注入量について、その厚さと同センサによる検出
誤差との関係を測定したところ、図5に示されるような
結果を得ることができた。
【0128】すなわち、この図5においても、レベル線
ACRは、電子式スロットルとしての必要精度境界を示
すものであり、同図5の結果によれば、シリコンゲル3
0の厚さが1mm以上あれば、前記電子式スロットルの
必要精度を満足する良好な温度環境補償機能が得られる
ことが判る。
【0129】なお因みに、先の図4は、このシリコンゲ
ル30の厚さを2mmとしたときの同センサによる温度
環境補償態様、並びに検出誤差を示している。適用され
るスロットル構造並びにその環境によって多少の差があ
るとはいえ、先のロータ3の構造も含めて、同シリコン
ゲル30の厚さが2mm以上であれば、ほぼ確実に、上
記各要素(特に回路基板20)の温度環境が補償される
ようになる。
【0130】そして、この回路室7に充填される保温部
材は、シリコンゲル30に限らず、注入後に硬化するポ
ッティング材などであっても勿論よい。ところで、同実
施形態にかかるセンサでは前述のように、回路基板20
にアルミナ基板等、ホール素子10を直接取り付けにく
い基板が用いられ、これら回路基板20とホール素子1
0とは、図1に示される態様で、ハウジング6を介して
離間されるとした。しかし、同センサの、こうして回路
室に保温部材を充填して回路基板20の温度環境を補償
する構造は、先の図8に示される関係におかれる回路基
板20とホール素子10とに対しても同様に適用するこ
とができる。そして、そのロータ3の構造も含め、その
回路基板20に対して上記シリコンゲルやポッティング
材を施すようにすることで、同図8に示されるセンサに
ついても、上記に準じた温度環境補償機能を付与するこ
とができるようになる。
【0131】また、これら回路基板20及びホール素子
10の関係について同実施形態の構造を採用する場合で
あれ、ホール素子10のハウジング6に対する取付構造
は任意である。例えば、 ・ホール素子10をハウジング6の底壁に一体成型す
る。 ・成型されたハウジング6の底壁にホール素子10を接
着する。 ・ハウジング6に適宜のホルダを設け、該ホルダにホー
ル素子10装着する。 等々、任意の構造で取り付けることができる。
【0132】また、同実施形態のセンサでは、前記
(A)として示したロータ3の構造と、前記(B)とし
て示したハウジング回路室7の構造とを同時に採用する
構成としたが、実用上は、これら構造の何れか一方のみ
を採用する構成とすることもできる。適用されるスロッ
トルの構造、或いは同スロットルの配設環境によって
は、これら構造の何れか一方のみを採用することでも上
記に準じた温度環境補償機能が満たされることとなる。
【0133】また、特に前記(A)として示したロータ
3の構造については、結合部3aが樹脂等の低熱伝導率
材からなるだけでも、それなりの熱伝導遮断効果を得る
ことはできる。
【0134】また、同実施形態のセンサにあっては、ホ
ール素子10に対する磁界付与手段として永久磁石5を
用いることとしたが、これは、いわゆる電磁石などによ
って代用することもできる。
【0135】また、こうした磁石手段によって付与され
る磁界情報を電気信号に変換する磁電変換素子として、
同実施形態のセンサではホール素子を用いたが、これに
代えて、磁気抵抗素子なども適宜採用することができ
る。
【0136】また、回路基板20に搭載される前記ホー
ル素子駆動回路に関しても、同実施形態においては、ダ
イオードD1及びD2の順方向電圧を利用してホール素
子や磁石の温度特性を補償するようにしたが、これら温
度特性を補償するために使用することのできる素子はダ
イオードには限られない。
【0137】すなわち、温度に応じて降下電圧が変化す
る電圧降下素子であればよく、上記ダイオードに代えて
適宜のトランジスタを用いることもできる。例えばNP
N接合されるトランジスタにあっては、そのベース−エ
ミッタ間の電圧(VBE)が、それらダイオードの順方向
電圧VFと同様、温度に応じて降下電圧が変化する。こ
のため、同トランジスタのベース−エミッタ間電圧を利
用してホール素子や磁石の温度特性を補償する構成とす
ることもできる。
【0138】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、たとえ雰囲気温度が急変するような状況下にあって
も、それら温度変化に影響されない高い精度にてスロッ
トルバルブの開度を検出することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明のスロットルバルブ開度センサの一実
施形態を示す断面図。
【図2】同センサに用いられるホール素子駆動回路の一
例を示す回路図。
【図3】同ホール素子駆動回路による温度特性補償態様
を示すグラフ。
【図4】同センサによる各要素の温度環境補償態様を示
すグラフ。
【図5】回路基板上のシリコンゲル厚と検出誤差との関
係を示すグラフ。
【図6】メカニカル式スロットルの一般構成を模式的に
示す略図。
【図7】電子式スロットルの一般構成を模式的に示す略
図。
【図8】電子式スロットルの具体構成例を示す正面及び
部分断面図。
【図9】ホール素子によるスロットルバルブ開度検出原
理を示す略図。
【図10】同検出原理におけるホール素子の出力特性を
示すグラフ。
【図11】従来のセンサにおける各要素の温度推移を示
すグラフ。
【符号の説明】
1…スロットルシャフト、2…フランジ部、3…ロー
タ、4…ビス、5…永久磁石、6…センサハウジング、
7…回路室、8…カバー、9…コネクタ、10…ホール
素子、11…ホール素子接続リード、20…回路基板、
21…分圧回路、22…帰還増幅回路、23…帰還電流
制御回路、24…出力電圧制御回路、25…定電流制御
回路、26…信号処理回路、27…ターミナル−基板接
続リード、28…コネクタターミナル、30…シリコン
ゲル(保温部材)、100…吸気管、101、201…
スロットルバルブ、102、202…アクセルペダル、
104…バイパス通路、105…ISCバルブ、11
0、210…スロットルバルブ開度センサ、130、2
30…電子制御装置、200…スロットルボディー、2
40…モータ。

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】スロットルバルブを軸支するスロットルシ
    ャフトに装着され、該スロットルシャフトの回転に伴っ
    て回転するロータと、 このロータに装着され、その回転軸と直交する方向に着
    磁されて一体に回転する磁石手段と、 この磁石手段の中空部内に位置するようハウジングに固
    定され、同磁石手段の磁界方向に対応した電気信号を出
    力する磁電変換素子と、 前記ハウジングに設けられた回路室に装着されて、前記
    磁石手段及び磁電変換素子の温度特性を補償しつつ、同
    磁電変換素子から出力される電気信号を所要に処理する
    回路基板と、 前記磁石手段及び前記磁電変換素子及び前記回路基板の
    温度推移にかかる時間特性を物理的に近似せしめる温度
    推移補償手段と、 を具えることを特徴とするスロットルバルブ開度セン
    サ。
  2. 【請求項2】前記温度推移補償手段は、前記回路基板の
    装着されたハウジング回路室に充填された保温部材を具
    える請求項1記載のスロットルバルブ開度センサ。
  3. 【請求項3】前記温度推移補償手段は、前記ロータの前
    記スロットルシャフトとの結合部に設けられた断熱部材
    を具える請求項1記載のスロットルバルブ開度センサ。
  4. 【請求項4】前記温度推移補償手段は、前記回路基板の
    装着されたハウジング回路室に充填された保温部材、及
    び前記ロータの前記スロットルシャフトとの結合部に設
    けられた断熱部材を具える請求項1記載のスロットルバ
    ルブ開度センサ。
  5. 【請求項5】前記保温部材は、ゲル若しくはポッティン
    グ材である請求項2または4記載のスロットルバルブ開
    度センサ。
  6. 【請求項6】請求項5記載のスロットルバルブ開度セン
    サにおいて、 前記ゲル若しくはポッティング材は、前記回路基板の表
    面に1mm以上堆積されることを特徴とするスロットル
    バルブ開度センサ。
  7. 【請求項7】前記断熱部材は、前記ロータの前記磁石手
    段の装着されるヨーク部と前記スロットルシャフトとの
    結合部とを連結する樹脂材である請求項3または4記載
    のスロットルバルブ開度センサ。
  8. 【請求項8】請求項7記載のスロットルバルブ開度セン
    サにおいて、 前記樹脂材は、その周囲に多数の切り欠きが設けられて
    いることを特徴とするスロットルバルブ開度センサ。
  9. 【請求項9】前記磁電変換素子はホール素子であり、 前記回路基板は、 基準電圧を帰還増幅する帰還増幅回路と、 温度に応じて降下電圧が変化する電圧降下素子を含んで
    該帰還増幅回路の帰還路に接続され、同帰還路を流れる
    電流を制御する帰還電流制御回路と、 同じく電圧降下素子を含んで前記帰還増幅回路の帰還路
    中に配設され、前記帰還増幅回路の出力電圧を制御する
    出力電圧制御回路と、 を具え、前記帰還電流制御回路及び出力電圧制御回路に
    より出力電圧が制御される帰還増幅回路の出力に基づ
    き、前記ホール素子に駆動信号を供給するものである請
    求項1記載のスロットルバルブ開度センサ。
  10. 【請求項10】前記帰還電流制御回路は、第1のダイオ
    ードと第1の抵抗との直列回路を有して構成され、 前記出力電圧制御回路は、第2のダイオードと第2の抵
    抗との直列回路を有して構成され、 前記帰還増幅回路の出力は、前記第1の抵抗と前記第2
    の抵抗との 第1の抵抗の抵抗値 > 第2の抵抗の抵抗値 なる関係に基づいて正の温度特性に設定される請求項9
    記載のスロットルバルブ開度センサ。
  11. 【請求項11】前記帰還電流制御回路は、前記帰還増幅
    回路の帰還路を流れる電流が10μ〜1mアンペアに制
    御されるよう前記第1の抵抗の抵抗値が設定される請求
    項10記載のスロットルバルブ開度センサ。
  12. 【請求項12】請求項9または10または11記載のス
    ロットルバルブ開度センサにおいて、 前記回路基板は、前記ホール素子に直列接続された抵抗
    と、該抵抗の電圧降下と前記帰還増幅回路の出力とを比
    較し、同抵抗の電圧降下が一定となるよう前記ホール素
    子に印加される電圧を制御する演算増幅器とを有して前
    記駆動信号を前記ホール素子に供給する定電流制御回路
    を具えることを特徴とするスロットルバルブ開度セン
    サ。
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