JPH0966519A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents

半導体装置の製造方法

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JPH0966519A
JPH0966519A JP22533995A JP22533995A JPH0966519A JP H0966519 A JPH0966519 A JP H0966519A JP 22533995 A JP22533995 A JP 22533995A JP 22533995 A JP22533995 A JP 22533995A JP H0966519 A JPH0966519 A JP H0966519A
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JP
Japan
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tape
wafer
mark
semiconductor device
chip
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JP22533995A
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Katsuya Kosuge
克也 小菅
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な方法及び装置によってチップの裏面に
識別記号を付す方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 ダイシングテープ上にマークテープを接
着し、その上にウエハを接着する。マークテープと共に
ウエハを分割することによってチップを製造する。マー
クテープとダイシングテープ間の接着力よりマークテー
プとウエハ間の接着力のほうが大きい。従って、チップ
をダイシングテープより取り上げると、マークテープは
チップに接着されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置の製造方
法に関し、より詳細には、組み立て工程において半導体
チップの裏面にマークを付す方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造工程は、一般に、ウエ
ハ製造工程と組み立て工程と検査工程とを含む。組み立
て工程では先ずウエハよりチップが形成される。
【0003】図5を参照してチップ形成工程を説明す
る。図5Aに示すように、検査を経たウエハ13がダイ
シングテープ12上に接着される。次に図5Bに示すよ
うに、分割される。これはダイシングと称される。こう
して多数の小さなチップ22が形成される。最後に図5
Cに示すように、ダイシングテープ12上に接着された
チップ22が一つ一つ取り上げられ、次の工程へ搬送さ
れる。
【0004】半導体装置には、パッケージを使用するパ
ッケージ型とパッケージを使用しないノンパッケージ型
がある。パッケージ型ではチップはパッケージと称され
る容器に取り付けられる。これはダイボンディングと称
される。
【0005】更に、チップのパッド(電極)とパッケー
ジに取り付けられた外部リード線が接続される。最後に
パッケージはウエハを収容した状態で密封される。こう
してパッケージ型の半導体装置が製造される。
【0006】ノンパッケージ型ではチップのパッドに直
接リード線が接続される。半導体装置の内部及び外部結
線法として、ワイヤボンディング法とワイヤレスボンデ
ィング法とがある。
【0007】図6に、ワイヤレスボンディング法によっ
て半導体装置21をプリント配線板41に装着する場合
を示す。図6Aはテープキャリヤパッケージ(TCP)
法によって装着された半導体装置の例を示し、図6Bは
フリップチップ法によって装着された半導体装置の例を
示す。
【0008】ノンパッケージ型の半導体装置はベアチッ
プとも称され、チップ22が露出されている。図示のよ
うに、集積回路が形成された表面22Bがプリント配線
板41側に面し、裏面22Aが外側に露出している。
【0009】ノンパッケージ型の半導体装置ではチップ
22の裏面22Aに識別記号が付される。例えば、半導
体装置の形式、名称、製造番号、仕様等である。
【0010】図7はチップ22の裏面22Aに識別記号
を付す方法を示す。図7Aの例ではレーザ発振器31か
らのレーザ光線32によってチップ22の裏面22Aに
識別記号を刻印し、図7Bの例ではレーザ発振器31か
らのレーザ光線32によってウエハ13の裏面13Aに
識別記号を刻印す。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】図7に示すように、レ
ーザ光線32によってチップ22又はウエハ13に刻印
する方法は、チップ22又はウエハ13の表面22B、
13Bに形成された集積回路に傷つけないように保持す
る必要があり、一般に手数がかかり装置が複雑化する欠
点がある。
【0012】本発明は斯かる点に鑑み、簡単な方法及び
装置によってチップ22の裏面22Aに識別記号を付す
方法を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明によると、ダイシ
ングテープ上にウエハを接着し該ウエハを分割すること
によってチップを製造することを含む半導体装置の製造
方法において、上記ダイシングテープ上に上記ウエハを
接着するとき所定のマークを上記ウエハに転写する転写
工程を含むことを特徴とする。
【0014】本発明によると、半導体装置の製造方法に
おいて、上記転写工程は、上記ダイシングテープ上に上
記ウエハを接着するとき上記ダイシングテープと上記ウ
エハの間に上記所定のマークを有するマークテープを接
着することを含む。
【0015】本発明によると、半導体装置の製造方法に
おいて、上記マークテープと上記ダイシングテープ間の
接着力より上記マークテープと上記ウエハ間の接着力の
ほうが大きいことを特徴とする。
【0016】
【発明の実施の形態】図1及び図2を参照して本発明に
よる方法を説明する。図1Aに示すように、先ずダイシ
ングテープ12上にマークテープ11を配置し、両者を
接着する。このときマークテープ11のマークが付され
た面が下側に、即ち、ダイシングテープ12側になるよ
うに配置される。次に、図1Bに示すように、マークテ
ープ11上にウエハ13を配置し、両者を接着する。こ
のとき、ウエハ13の裏面13Aが下側に、即ち、マー
クテープ11側になるように配置される。
【0017】図1Cに示すように、こうして、下から上
に順に、ダイシングテープ12、マークテープ11及び
ウエハ13が重ねて配置され互いに接着される。このと
き、マークテープ11とダイシングテープ12間の接着
力よりマークテープ11とウエハ13間の接着力のほう
が強いように接着される。
【0018】次に図2Aに示すように、ウエハ13は分
割又はダイシングされる。本例では、ウエハ13と共に
マークテープ11も分割される。図2Bに示すように、
最後に、こうして生成されたチップ22が取り出され
る。上述のように、マークテープ11とダイシングテー
プ12間の接着力よりマークテープ11とウエハ13間
の接着力のほうが強いから、マークテープ11とダイシ
ングテープ12間が剥離する。従って、裏面22Aにマ
ークテープ11が装着されたチップ22が生成される。
【0019】図3は本発明による方法を示す流れ図であ
る。ステップ101は図1Aに相当し、ダイシングテー
プ12上にマークテープ11を接着する。ステップ10
2は図1Bに相当し、マークテープ11上にウエハ13
を接着する。ステップ103では、図2Aに示したよう
に、ウエハ13をマークテープ11と共に分割するダン
シング工程である。ステップ104はチップ22を一つ
一つ取り出す工程であり、図2Bに相当する。
【0020】図4は本例によるマークテープ11の印又
はマークの例を示す。マーク11Aは多数の小さな印
“AL”の集合的配列よりなる。一つ一つのマーク11
Aは、チップ22の寸法より小さいように選択される。
マーク11Aはチップ22の寸法より小さく且つチップ
22の回転方向が識別することができるならどのような
ものであってもよい。
【0021】以上本発明の実施の形態について詳細に説
明したが、本発明はこれらの例に限定されることなく特
許請求の範囲に記載された発明の範囲にて様々な変更等
が可能であることは当業者にとって理解されよう。
【0022】上述の例ではマークテープ11を使用して
ウエハ13の裏面13に多数の小さなマーク11Aを付
した。しかしながら、マークテープ11を使用すること
なく適当な印刷方法によって同様にマーク11Aをウエ
ハ13の裏面13に接着してもよい。
【0023】例えば図1Aのマークテープ11を接着す
る工程の代わりに、ダイシングテープ12上に適当な印
刷方法によってマーク11Aを装着し、図1Bのウエハ
13を接着する工程にてマーク11Aをウエハ13に転
写するように構成してもよい。ウエハ13に転写可能な
ようにダイシングテープ12上にマーク11Aを装着す
る方法は印刷技術の分野にて既知であり、ここでは詳細
を説明しない。
【0024】更に、上述の例ではノンパッケージ型の半
導体装置の製造方法について説明したが、本例はパッケ
ージ型の半導体装置にも適用されよう。また、本発明
は、結線方法として、ワイヤレスボンディング法が使用
される半導体装置ばかりでなく、ワイヤボンディング法
が使用される半導体装置にも適用可能である。
【0025】
【発明の効果】本発明によると、自動的に且つ簡単な方
法でチップの裏面にマークを付すことができる利点を有
する。
【0026】本発明によると、ウエハのダイシングと同
時にチップの裏面にマークを付すことができる利点を有
する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による半導体装置の製造方法を説明する
ための説明図である。
【図2】本発明による半導体装置の製造方法を説明する
ための説明図である。
【図3】本発明による半導体装置の製造方法を示す流れ
図である。
【図4】チップの裏面に付すマークの例を示す図であ
る。
【図5】従来の半導体装置の製造方法を説明するための
説明図である。
【図6】従来の半導体装置がプリント配線板上に装着さ
れた状態を示す図である。
【図7】従来のウエハ又はチップの裏面にマークを付す
方法を説明するための説明図である。
【符号の説明】
11 マークテープ 11A マーク 12 ダイシングテープ 13 ウエハ 13A 裏面 13A 表面 21 半導体装置 22 チップ 22A 裏面 22B 表面 31 レーザ発振器 32 レーザ光 41 プリント配線板

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ダイシングテープ上にウエハを接着し該
    ウエハを分割することによってチップを製造することを
    含む半導体装置の製造方法において、 上記ダイシングテープ上に上記ウエハを接着するとき所
    定のマークを上記ウエハに転写する転写工程を含むこと
    を特徴とする半導体装置の製造方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の半導体装置の製造方法に
    おいて、上記転写工程は、上記ダイシングテープ上に上
    記ウエハを接着するとき上記ダイシングテープと上記ウ
    エハの間に上記所定のマークを有するマークテープを接
    着することを含む半導体装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 請求項2記載の半導体装置の製造方法に
    おいて、上記マークテープと上記ダイシングテープ間の
    接着力より上記マークテープと上記ウエハ間の接着力の
    ほうが大きいことを特徴とする半導体装置の製造方法。
JP22533995A 1995-09-01 1995-09-01 半導体装置の製造方法 Pending JPH0966519A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003533871A (ja) * 2000-04-04 2003-11-11 シノヴァ エス.アー. 対象物を切断して切断物を機械加工するための方法および対象物または切断物を保持するための支持台
KR100652435B1 (ko) * 2005-10-07 2006-12-01 삼성전자주식회사 첫 번째 다이의 위치를 구분할 수 있는 표시수단을구비하는 웨이퍼 및 웨이퍼의 다이 부착 방법
JP2021170575A (ja) * 2020-04-14 2021-10-28 リンテック株式会社 接着シートおよび処理装置

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KR100652435B1 (ko) * 2005-10-07 2006-12-01 삼성전자주식회사 첫 번째 다이의 위치를 구분할 수 있는 표시수단을구비하는 웨이퍼 및 웨이퍼의 다이 부착 방법
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