JPH0954952A - 光学ピックアップ装置及び光ディスク検査装置 - Google Patents
光学ピックアップ装置及び光ディスク検査装置Info
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- JPH0954952A JPH0954952A JP7204486A JP20448695A JPH0954952A JP H0954952 A JPH0954952 A JP H0954952A JP 7204486 A JP7204486 A JP 7204486A JP 20448695 A JP20448695 A JP 20448695A JP H0954952 A JPH0954952 A JP H0954952A
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- optical
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- laser beam
- optical disc
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 温度変化や経年変化により光ディスクが変形
することにより、光検出器と戻り光が形成する測定用ス
ポットとの間で機械的な位置誤差が生じてしまい不安定
なＲＦ信号を得てしまう。 【解決手段】 アナモフィックプリズム４は、コリメー
トレンズ３を介したレーザビームを円形にする。グレー
ティング５は、上記レーザビームを少なくとも３本の光
束成分に分離する。ハーフミラー１０は、集光レンズ９
で集光された光ディスク２０からの戻り光をＲＦ信号系
光路１１上とサーボ信号系光路１５上に分離する。凹レ
ンズ１２は、ＲＦ信号系光路１１上の戻り光を拡大す
る。スリット１３は、この凹レンズ１２によって拡大さ
れた戻り光の内の±１次光を除去する。ＲＦ信号用の光
検出器１４は、スリット１３を透過した０次光を受光す
る。サーボ信号用の光検出器１７は、マルチレンズ１６
によって導かれた０次光及び±１次光を受光する。
することにより、光検出器と戻り光が形成する測定用ス
ポットとの間で機械的な位置誤差が生じてしまい不安定
なＲＦ信号を得てしまう。 【解決手段】 アナモフィックプリズム４は、コリメー
トレンズ３を介したレーザビームを円形にする。グレー
ティング５は、上記レーザビームを少なくとも３本の光
束成分に分離する。ハーフミラー１０は、集光レンズ９
で集光された光ディスク２０からの戻り光をＲＦ信号系
光路１１上とサーボ信号系光路１５上に分離する。凹レ
ンズ１２は、ＲＦ信号系光路１１上の戻り光を拡大す
る。スリット１３は、この凹レンズ１２によって拡大さ
れた戻り光の内の±１次光を除去する。ＲＦ信号用の光
検出器１４は、スリット１３を透過した０次光を受光す
る。サーボ信号用の光検出器１７は、マルチレンズ１６
によって導かれた０次光及び±１次光を受光する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクから情
報信号を再生する光学ピックアップ装置及び光ディスク
上の欠陥等を検査する光ディスク検査装置に関する。
報信号を再生する光学ピックアップ装置及び光ディスク
上の欠陥等を検査する光ディスク検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、例えば再生専用のコンパクトディ
スクや、光磁気ディスクのような光ディスクを製造して
出荷する前段階には、光ディスク検査装置により、これ
らの光ディスクに再生レベルの光ビームを照射し戻り光
を検出してＲＦ信号のレベルを観測することが一般に行
われている。光ディスク検査装置で、上記戻り光のＲＦ
信号が変化するか否かを検出することにより、上記光デ
ィスク上に欠陥やゴミの付着等が存在するか否かを検出
している。
スクや、光磁気ディスクのような光ディスクを製造して
出荷する前段階には、光ディスク検査装置により、これ
らの光ディスクに再生レベルの光ビームを照射し戻り光
を検出してＲＦ信号のレベルを観測することが一般に行
われている。光ディスク検査装置で、上記戻り光のＲＦ
信号が変化するか否かを検出することにより、上記光デ
ィスク上に欠陥やゴミの付着等が存在するか否かを検出
している。
【０００３】この光ディスク検査装置は、ＲＦ信号を再
生するために、一般的な光学ピックアップ装置で行われ
ているようなトラッキングサーボとフォーカシングサー
ボを行っている。
生するために、一般的な光学ピックアップ装置で行われ
ているようなトラッキングサーボとフォーカシングサー
ボを行っている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記光ディ
スクには、温度変化や湿度変化により、製造時にそり等
が発生してしまうことがある。このため、光ディスク検
査装置の光検出器と戻り光が形成する測定用スポットと
の間で機械的な位置誤差が生じてしまい不安定なＲＦ信
号を得ることなり、上記光ディスク上の検査が不正確と
なってしまう。
スクには、温度変化や湿度変化により、製造時にそり等
が発生してしまうことがある。このため、光ディスク検
査装置の光検出器と戻り光が形成する測定用スポットと
の間で機械的な位置誤差が生じてしまい不安定なＲＦ信
号を得ることなり、上記光ディスク上の検査が不正確と
なってしまう。
【０００５】また、一般的に使用されている光ディスク
プレーヤに備えられた光学ピックアップ装置でも、温度
変化や経年変化により光ディスクが変形することによ
り、光検出器と戻り光が形成する測定用スポットとの間
で機械的な位置誤差が生じてしまい不安定なＲＦ信号を
得ることなる。
プレーヤに備えられた光学ピックアップ装置でも、温度
変化や経年変化により光ディスクが変形することによ
り、光検出器と戻り光が形成する測定用スポットとの間
で機械的な位置誤差が生じてしまい不安定なＲＦ信号を
得ることなる。
【０００６】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であり、機械的な変動に対してより安定で精度の高い信
号を得ることのできる光学ピックアップ装置及び光ディ
スク検査装置の提供を目的とする。
であり、機械的な変動に対してより安定で精度の高い信
号を得ることのできる光学ピックアップ装置及び光ディ
スク検査装置の提供を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光学ピック
アップ装置は、分離手段によって分けられたＲＦ信号系
光路とサーボ信号系光路の内、ＲＦ信号系光路を光路拡
大手段によって拡大するので、ＲＦ信号を得るスポット
サイズと第１の光検出手段を大きくでき、機械的な変動
に対してより安定で精度の高い信号を得られる。
アップ装置は、分離手段によって分けられたＲＦ信号系
光路とサーボ信号系光路の内、ＲＦ信号系光路を光路拡
大手段によって拡大するので、ＲＦ信号を得るスポット
サイズと第１の光検出手段を大きくでき、機械的な変動
に対してより安定で精度の高い信号を得られる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る光学ピックア
ップ装置及び光ディスク検査装置の好ましい実施の形態
について説明する。
ップ装置及び光ディスク検査装置の好ましい実施の形態
について説明する。
【０００９】先ず、第１の実施の形態は、図１に示すよ
うに、コンパクトディスクのような光ディスク２０にレ
ーザビームを照射して得られた戻り光から該光ディスク
２０上の情報信号を再生する光学ピックアップ装置１で
ある。
うに、コンパクトディスクのような光ディスク２０にレ
ーザビームを照射して得られた戻り光から該光ディスク
２０上の情報信号を再生する光学ピックアップ装置１で
ある。
【００１０】この光学ピックアップ装置１は、光ディス
ク２０に断面が楕円形の発散レーザビームを出射する例
えばレーザダイオードのような半導体レーザ２と、この
半導体レーザ２からの発散レーザビームを取り込むＮＡ
の大きなコリメートレンズ３と、コリメートレンズ３を
介したレーザビームを整形するアナモフィックプリズム
４と、このアナモフィックプリズム４からの上記整形さ
れたレーザビームを０次光、±１次光の３つに回折する
グレーティング５と、このグレーティング５で回折され
たレーザビームの一部を図中矢印Ｒ方向に反射し、残り
を透過すると共に、後述するように光ディスク２０から
の戻り光を図中矢印Ｌ方向に反射するビームスプリッタ
６と、ビームスプリッタ６を透過したレーザビームの偏
光面をπ／２ずらして円偏光にする１／４波長板７と、
この円偏光とされたレーザビームを光ディスク２０の信
号記録面に集束する対物レンズ８と、光ディスク２０の
信号記録面から対物レンズ８、１／４波長板７及びビー
ムスプリッタ６を介して供給される戻り光を集光する集
光レンズ９と、この集光レンズ９で集光された上記戻り
光をＲＦ信号系光路１１上とサーボ信号系光路１５上に
分離するハーフミラー１０と、ＲＦ信号系光路１１上の
戻り光を拡大する凹レンズ１２と、この凹レンズ１２に
よって拡大された戻り光の内の±１次光を除去するスリ
ット１３と、このスリット１３を透過した０次光を受光
するＲＦ信号用の光検出器１４と、上記サーボ信号系光
路上１５の戻り光を後述するサーボ信号用の光検出器１
７上に導くマルチレンズ１６と、マルチレンズ１６によ
って導かれた０次光及び±１次光を受光する上記サーボ
信号用の光検出器１７と、ビームスプリッタ６で図中矢
印Ｒ方向に反射された上記レーザ光を受光するオートパ
ワーコントロール（ＡＰＣ）用の光検出器１８とを備え
る。
ク２０に断面が楕円形の発散レーザビームを出射する例
えばレーザダイオードのような半導体レーザ２と、この
半導体レーザ２からの発散レーザビームを取り込むＮＡ
の大きなコリメートレンズ３と、コリメートレンズ３を
介したレーザビームを整形するアナモフィックプリズム
４と、このアナモフィックプリズム４からの上記整形さ
れたレーザビームを０次光、±１次光の３つに回折する
グレーティング５と、このグレーティング５で回折され
たレーザビームの一部を図中矢印Ｒ方向に反射し、残り
を透過すると共に、後述するように光ディスク２０から
の戻り光を図中矢印Ｌ方向に反射するビームスプリッタ
６と、ビームスプリッタ６を透過したレーザビームの偏
光面をπ／２ずらして円偏光にする１／４波長板７と、
この円偏光とされたレーザビームを光ディスク２０の信
号記録面に集束する対物レンズ８と、光ディスク２０の
信号記録面から対物レンズ８、１／４波長板７及びビー
ムスプリッタ６を介して供給される戻り光を集光する集
光レンズ９と、この集光レンズ９で集光された上記戻り
光をＲＦ信号系光路１１上とサーボ信号系光路１５上に
分離するハーフミラー１０と、ＲＦ信号系光路１１上の
戻り光を拡大する凹レンズ１２と、この凹レンズ１２に
よって拡大された戻り光の内の±１次光を除去するスリ
ット１３と、このスリット１３を透過した０次光を受光
するＲＦ信号用の光検出器１４と、上記サーボ信号系光
路上１５の戻り光を後述するサーボ信号用の光検出器１
７上に導くマルチレンズ１６と、マルチレンズ１６によ
って導かれた０次光及び±１次光を受光する上記サーボ
信号用の光検出器１７と、ビームスプリッタ６で図中矢
印Ｒ方向に反射された上記レーザ光を受光するオートパ
ワーコントロール（ＡＰＣ）用の光検出器１８とを備え
る。
【００１１】アナモフィックプリズム４は、ビーム整形
手段の一種である。半導体レーザ２から出たレーザ光
は、放射角があり円形でないため、規格で定められたリ
ムインテンシティ（rim intensity）が得られない。こ
のため、アナモフィックプリズム４は、コリメートレン
ズ３を介したレーザビームを円形にして、リムインテン
シティを規格値に適合させている。
手段の一種である。半導体レーザ２から出たレーザ光
は、放射角があり円形でないため、規格で定められたリ
ムインテンシティ（rim intensity）が得られない。こ
のため、アナモフィックプリズム４は、コリメートレン
ズ３を介したレーザビームを円形にして、リムインテン
シティを規格値に適合させている。
【００１２】グレーティング５は、上記レーザビームを
少なくとも３本の光束成分（０次光、＋１次光、−１次
光）に分離する。この３本の光束成分の一部は、ビーム
スプリッタ６の反射面６Ｒで反射されてＡＰＣ用光検出
器１８の受光面に入射する。ＡＰＣ用光検出器１８は、
上記レーザビームの一部の光量を電気信号に変換し、図
示しないＡＰＣ回路に供給する。ＡＰＣ回路は、半導体
レーザ２の出力を制御する。
少なくとも３本の光束成分（０次光、＋１次光、−１次
光）に分離する。この３本の光束成分の一部は、ビーム
スプリッタ６の反射面６Ｒで反射されてＡＰＣ用光検出
器１８の受光面に入射する。ＡＰＣ用光検出器１８は、
上記レーザビームの一部の光量を電気信号に変換し、図
示しないＡＰＣ回路に供給する。ＡＰＣ回路は、半導体
レーザ２の出力を制御する。
【００１３】ビームスプリッタ６を透過した残りの上記
レーザビームは、１／４波長板７を通過することによっ
て位相差がπ／２となり、例えば右回りの円偏光とな
る。対物レンズ８によって、光ディスク２０に集光され
た右回りの円偏光は、光ディスク２０の信号記録面に照
射される。このとき、グレーティング５によって分離さ
れた３本の光束、すなわち０次光及び±１次光は、図２
に示すように、矢印Ｃの方向に回転している光ディスク
２０上の信号記録面に形成されたトラックＴ上に３つの
スポットを形成する。例えば、０次光が主スポットＳＰ
0を、＋１次光が補助スポットＳＰ+1を、−１次光が補
助スポットＳＰ-1のようにである。
レーザビームは、１／４波長板７を通過することによっ
て位相差がπ／２となり、例えば右回りの円偏光とな
る。対物レンズ８によって、光ディスク２０に集光され
た右回りの円偏光は、光ディスク２０の信号記録面に照
射される。このとき、グレーティング５によって分離さ
れた３本の光束、すなわち０次光及び±１次光は、図２
に示すように、矢印Ｃの方向に回転している光ディスク
２０上の信号記録面に形成されたトラックＴ上に３つの
スポットを形成する。例えば、０次光が主スポットＳＰ
0を、＋１次光が補助スポットＳＰ+1を、−１次光が補
助スポットＳＰ-1のようにである。
【００１４】上記トラックＴに達した上記レーザビーム
は、光ディスク２０で反射され回転方向が逆の左回りの
円偏光となる。この左回りの円偏光となったレーザビー
ム（戻り光）は、１／４波長板７で、さらに位相差をπ
／２ずらされるので直線偏光となり、ビームスプリッタ
６の反射面６Ｒで矢印Ｌ方向に反射される。
は、光ディスク２０で反射され回転方向が逆の左回りの
円偏光となる。この左回りの円偏光となったレーザビー
ム（戻り光）は、１／４波長板７で、さらに位相差をπ
／２ずらされるので直線偏光となり、ビームスプリッタ
６の反射面６Ｒで矢印Ｌ方向に反射される。
【００１５】ビームスプリッタ６で矢印Ｌ方向に反射さ
れた上記戻り光は、集光レンズ９で集光されて、ハーフ
ミラー１０に入射する。ハーフミラー１０は反射面１０
Ｒで上記戻り光の半分をＲＦ信号系光路１１上に反射す
る。一方、ハーフミラー１０を透過した上記戻り光は、
サーボ信号系光路１５上を進む。
れた上記戻り光は、集光レンズ９で集光されて、ハーフ
ミラー１０に入射する。ハーフミラー１０は反射面１０
Ｒで上記戻り光の半分をＲＦ信号系光路１１上に反射す
る。一方、ハーフミラー１０を透過した上記戻り光は、
サーボ信号系光路１５上を進む。
【００１６】ＲＦ信号系光路１１上の戻り光は、凹レン
ズ１２によって拡大される。拡大された戻り光は、ＲＦ
信号系光路１１中の凹レンズ１２とＲＦ信号用光検出器
１４との間に配設されてなるスリット１３に達する。こ
のスリット１３は、戻り光の内の±１次光を除去し、０
次光のみを通過させる。このため、ＲＦ信号用光検出器
１４には図２に示した主スポットＳＰOからの戻り光の
みが照射される。この主スポットＳＰOからの戻り光
は、凹レンズ１２により拡大されている。また、ＲＦ信
号用光検出器１４の受光面を図３の（Ａ）に示すように
大きくする。したがって、温度変化や湿度変化により発
生する機械的な変動に対してより安定で精度の高い信号
が得られる。
ズ１２によって拡大される。拡大された戻り光は、ＲＦ
信号系光路１１中の凹レンズ１２とＲＦ信号用光検出器
１４との間に配設されてなるスリット１３に達する。こ
のスリット１３は、戻り光の内の±１次光を除去し、０
次光のみを通過させる。このため、ＲＦ信号用光検出器
１４には図２に示した主スポットＳＰOからの戻り光の
みが照射される。この主スポットＳＰOからの戻り光
は、凹レンズ１２により拡大されている。また、ＲＦ信
号用光検出器１４の受光面を図３の（Ａ）に示すように
大きくする。したがって、温度変化や湿度変化により発
生する機械的な変動に対してより安定で精度の高い信号
が得られる。
【００１７】ＲＦ信号用光検出器１４の受光面１４ａ
は、図３の（Ａ）に示すように、４分割されている。そ
して、拡大スポットＳＰLOから得られる各出力Ｉ1、
Ｉ2、Ｉ3、Ｉ4から、ＲＦ信号を検出できる。
は、図３の（Ａ）に示すように、４分割されている。そ
して、拡大スポットＳＰLOから得られる各出力Ｉ1、
Ｉ2、Ｉ3、Ｉ4から、ＲＦ信号を検出できる。
【００１８】一方、サーボ信号系光路１５上の３ビーム
からなる戻り光は、マルチレンズ１６を介してサーボ信
号用光検出器１７の図３の（Ｂ）に示す受光面１７ａに
入射する。
からなる戻り光は、マルチレンズ１６を介してサーボ信
号用光検出器１７の図３の（Ｂ）に示す受光面１７ａに
入射する。
【００１９】サーボ信号用光検出器１７の受光面１７ａ
は、図３の（Ｂ）に示すように、合計６分割されてい
る。中央部の受光面１７ａ1は、４分割されており、戻
り光が形成する主スポットｓｐ0から得られる各出力
ｉ1、ｉ2、ｉ3、ｉ4の内、（ｉ1＋ｉ3）−（ｉ2＋ｉ4）
を算出することによりフォーカスサーボ信号を得る。ま
た、両側の受光面１７ａ2及び受光面１７ａ3上に形成さ
れる補助スポットｓｐ+及び補助スポットｓｐ-から得ら
れる出力ｉ+及び出力ｉ-の差、ｉ+−ｉ-を算出すること
によりトラッキングサーボ信号を得る。
は、図３の（Ｂ）に示すように、合計６分割されてい
る。中央部の受光面１７ａ1は、４分割されており、戻
り光が形成する主スポットｓｐ0から得られる各出力
ｉ1、ｉ2、ｉ3、ｉ4の内、（ｉ1＋ｉ3）−（ｉ2＋ｉ4）
を算出することによりフォーカスサーボ信号を得る。ま
た、両側の受光面１７ａ2及び受光面１７ａ3上に形成さ
れる補助スポットｓｐ+及び補助スポットｓｐ-から得ら
れる出力ｉ+及び出力ｉ-の差、ｉ+−ｉ-を算出すること
によりトラッキングサーボ信号を得る。
【００２０】以上のように、この光学ピックアップ装置
１は、ハーフミラー１０でＲＦ信号系光路１１上及びサ
ーボ信号系光路１５上を進みように分離された戻り光を
ＲＦ信号用光検出器１４及びサーボ信号用光検出器１７
で受光しているので、ＲＦ信号及びサーボ信号を高精度
で得ることができる。
１は、ハーフミラー１０でＲＦ信号系光路１１上及びサ
ーボ信号系光路１５上を進みように分離された戻り光を
ＲＦ信号用光検出器１４及びサーボ信号用光検出器１７
で受光しているので、ＲＦ信号及びサーボ信号を高精度
で得ることができる。
【００２１】また、特に、ＲＦ信号系光路１１上では、
戻り光を凹レンズ１２で拡大してからスリット１３で±
１次光を排除し、０次光のみをＲＦ信号用光検出器１４
の受光面１４ａに入射させているので、機械的な変動に
対してより安定で精度の高い信号を得られる。
戻り光を凹レンズ１２で拡大してからスリット１３で±
１次光を排除し、０次光のみをＲＦ信号用光検出器１４
の受光面１４ａに入射させているので、機械的な変動に
対してより安定で精度の高い信号を得られる。
【００２２】なお、この光学ピックアップ装置１は、コ
ンパクトディスクのような上記光ディスク２０を再生す
るだけでなく、信号記録層が多層構造とされる多層光デ
ィスクを再生するのにも適する。
ンパクトディスクのような上記光ディスク２０を再生す
るだけでなく、信号記録層が多層構造とされる多層光デ
ィスクを再生するのにも適する。
【００２３】コンピュータの記憶装置、画像情報のパッ
ケージメディアとして、光学ディスクの高密度化が進ん
でいる。この高密度の光学ディスクを高速に読み取るた
めの技術としては、信号記録領域である情報信号層を複
数積層した多層光ディスクが提案されている。
ケージメディアとして、光学ディスクの高密度化が進ん
でいる。この高密度の光学ディスクを高速に読み取るた
めの技術としては、信号記録領域である情報信号層を複
数積層した多層光ディスクが提案されている。
【００２４】この多層光ディスクには、例えば、情報信
号層が２層に重ね合わされて構成されている図４の
（Ａ）に示すような２層光ディスク７０がある。この２
層光ディスク７０は、図４の（Ｂ）に示すように、ポリ
カーボネイト（ＰＣ）、ポリメチルメタアクリレート
（ＰＭＭＡ）等の透明な合成樹脂材料によって形成され
るディスク基板７０ａと、このディスク基板７０ａの主
面上に形成される第１の情報信号層７０ｂと、この第１
の情報信号層７０ｂ上に透明樹脂材料によって形成され
る例えば厚み４０μｍのスペーサ層７０ｃと、第１の情
報信号層７０ｂにスペーサ層７０ｃを介して重ね合わさ
れて形成される第２の情報信号層７０ｄと、この第２の
情報信号層７０ｄを機械的及び化学的に保護するために
第２の情報信号層７０ｄ上に被服形成される保護層７０
ｅとから構成されている。
号層が２層に重ね合わされて構成されている図４の
（Ａ）に示すような２層光ディスク７０がある。この２
層光ディスク７０は、図４の（Ｂ）に示すように、ポリ
カーボネイト（ＰＣ）、ポリメチルメタアクリレート
（ＰＭＭＡ）等の透明な合成樹脂材料によって形成され
るディスク基板７０ａと、このディスク基板７０ａの主
面上に形成される第１の情報信号層７０ｂと、この第１
の情報信号層７０ｂ上に透明樹脂材料によって形成され
る例えば厚み４０μｍのスペーサ層７０ｃと、第１の情
報信号層７０ｂにスペーサ層７０ｃを介して重ね合わさ
れて形成される第２の情報信号層７０ｄと、この第２の
情報信号層７０ｄを機械的及び化学的に保護するために
第２の情報信号層７０ｄ上に被服形成される保護層７０
ｅとから構成されている。
【００２５】このように多層光ディスクは、例えば第１
の情報信号層７０ａ、第２の情報信号層７０ｂのような
情報信号層が厚み十μｍ〜数十μｍのスペーサ層を介し
て複数存在する光ディスクである。任意の情報信号層か
ら情報信号を読み取るためには、光学ピックアップ装置
を構成する対物レンズの焦点位置をわずかに移動させる
ように該対物レンズをわずかに移動させる。
の情報信号層７０ａ、第２の情報信号層７０ｂのような
情報信号層が厚み十μｍ〜数十μｍのスペーサ層を介し
て複数存在する光ディスクである。任意の情報信号層か
ら情報信号を読み取るためには、光学ピックアップ装置
を構成する対物レンズの焦点位置をわずかに移動させる
ように該対物レンズをわずかに移動させる。
【００２６】そして、例えば２層光ディスク７０の場
合、第１の情報信号層７０ｂは、上記対物レンズを介し
てレーザ光を第２の情報信号層７０ｄまで透過させるた
め、反射率を１００％より十分小さくしている。ここ
で、２層光ディスク７０の第１の情報信号層７０ｂから
情報信号を読み取り再生するには、図４の（Ｂ）に示す
ように、対物レンズ５９が第１の情報信号層７０ｂにレ
ーザ光を集束するように移動される。
合、第１の情報信号層７０ｂは、上記対物レンズを介し
てレーザ光を第２の情報信号層７０ｄまで透過させるた
め、反射率を１００％より十分小さくしている。ここ
で、２層光ディスク７０の第１の情報信号層７０ｂから
情報信号を読み取り再生するには、図４の（Ｂ）に示す
ように、対物レンズ５９が第１の情報信号層７０ｂにレ
ーザ光を集束するように移動される。
【００２７】また、第２の情報信号層７０ｄから情報信
号を読み取り再生するには、図４の（Ｃ）に示すよう
に、対物レンズ５９が第２の情報信号層７０ｄにレーザ
光を集束するように移動される。
号を読み取り再生するには、図４の（Ｃ）に示すよう
に、対物レンズ５９が第２の情報信号層７０ｄにレーザ
光を集束するように移動される。
【００２８】このような２層光ディスク７０から光学ピ
ックアップ装置を使って情報信号を読み取り再生する場
合を以下に説明する。なお、この光学ピックアップ装置
では、半導体レーザ５３からのレーザ光をビームスプリ
ッタ５６で反射し、対物レンズ５９で集束して２層光デ
ィスク７０に照射している。２層光ディスク７０からの
戻り光は、ビームスプリッタ５６を透過して光検出器５
４に達する。
ックアップ装置を使って情報信号を読み取り再生する場
合を以下に説明する。なお、この光学ピックアップ装置
では、半導体レーザ５３からのレーザ光をビームスプリ
ッタ５６で反射し、対物レンズ５９で集束して２層光デ
ィスク７０に照射している。２層光ディスク７０からの
戻り光は、ビームスプリッタ５６を透過して光検出器５
４に達する。
【００２９】先ず、２層光ディスク７０の第１の情報信
号層７０ｂから情報信号を読み取り再生する場合を図５
を参照しながら説明する。一般的に、２層光ディスク７
０のような多層光ディスクから情報信号を読み出す場
合、読み出しの対象とする情報信号層ではない情報信号
層から迷光が発生してしまう。図５に示す場合、第１の
情報信号層７０ｂに照射されたレーザ光が、第１の情報
信号層７０ｂに照射される過程で、この第１の情報信号
層７０ｂを透過して情報信号の読み取りの対象にされて
いない第２の情報信号層７０ｄにも照射されてしまう。
なお、図５には、説明の簡略化のために、光検出器５４
の受光面を直線的に示す。
号層７０ｂから情報信号を読み取り再生する場合を図５
を参照しながら説明する。一般的に、２層光ディスク７
０のような多層光ディスクから情報信号を読み出す場
合、読み出しの対象とする情報信号層ではない情報信号
層から迷光が発生してしまう。図５に示す場合、第１の
情報信号層７０ｂに照射されたレーザ光が、第１の情報
信号層７０ｂに照射される過程で、この第１の情報信号
層７０ｂを透過して情報信号の読み取りの対象にされて
いない第２の情報信号層７０ｄにも照射されてしまう。
なお、図５には、説明の簡略化のために、光検出器５４
の受光面を直線的に示す。
【００３０】このため、光検出器５４には、対物レンズ
５９で焦点が合わされた第１の情報信号層７０ｂからの
反射レーザ光Ｏ1が照射されると共に、焦点が合わされ
ていない第２の情報信号層７０ｄからのフォーカスぼけ
した反射レーザ光Ｏ2も照射される。この反射レーザ光
Ｏ2が迷光である。
５９で焦点が合わされた第１の情報信号層７０ｂからの
反射レーザ光Ｏ1が照射されると共に、焦点が合わされ
ていない第２の情報信号層７０ｄからのフォーカスぼけ
した反射レーザ光Ｏ2も照射される。この反射レーザ光
Ｏ2が迷光である。
【００３１】次に、２層光ディスク７０の第２の情報信
号層７０ｄから情報信号を読み取り再生する場合を図６
を参照しながら説明する。図６に示す場合、第２の情報
信号層７０ｄに照射されたレーザ光が、第２の情報信号
層７０ｄに照射される過程で、情報信号の読み取りの対
象にされていない第１の情報信号層７０ｂにも照射され
てしまう。
号層７０ｄから情報信号を読み取り再生する場合を図６
を参照しながら説明する。図６に示す場合、第２の情報
信号層７０ｄに照射されたレーザ光が、第２の情報信号
層７０ｄに照射される過程で、情報信号の読み取りの対
象にされていない第１の情報信号層７０ｂにも照射され
てしまう。
【００３２】このため、光検出器５４には対物レンズ５
９で焦点が合わされた第２の情報信号層７０ｄからの反
射レーザ光ｏ2が照射されると共に、焦点が合わされて
いない第１の情報信号層７０ｂからのフォーカスぼけし
た反射レーザ光ｏ1も照射される。この反射レーザ光ｏ1
が迷光である。
９で焦点が合わされた第２の情報信号層７０ｄからの反
射レーザ光ｏ2が照射されると共に、焦点が合わされて
いない第１の情報信号層７０ｂからのフォーカスぼけし
た反射レーザ光ｏ1も照射される。この反射レーザ光ｏ1
が迷光である。
【００３３】したがって、この光ピックアップ装置の光
検出器５４では、上記反射レーザ光の他に所望の情報信
号層７０ｂ又は７０ｄ以外から上記迷光も照射されるの
で、高精度のＲＦ信号を得ることができない。
検出器５４では、上記反射レーザ光の他に所望の情報信
号層７０ｂ又は７０ｄ以外から上記迷光も照射されるの
で、高精度のＲＦ信号を得ることができない。
【００３４】ここで、上記光学ピックアップ装置１を用
いれば、ＲＦ信号系光路１１上のスリット１２で上述し
たような迷光を除去できるので、高精度のＲＦ信号を得
ることができる。また、サーボ信号系光路１５に上記ス
リットのような不要光除去手段を設けてもよい。
いれば、ＲＦ信号系光路１１上のスリット１２で上述し
たような迷光を除去できるので、高精度のＲＦ信号を得
ることができる。また、サーボ信号系光路１５に上記ス
リットのような不要光除去手段を設けてもよい。
【００３５】次に、このような光学ピックアップ装置１
を用いて、光ディスク２０のＲＦ信号のレベルを観測
し、光ディスク上に欠陥やゴミ等の付着等があるか否か
を検査する光ディスク検査装置３０について図７を参照
しながら説明する。
を用いて、光ディスク２０のＲＦ信号のレベルを観測
し、光ディスク上に欠陥やゴミ等の付着等があるか否か
を検査する光ディスク検査装置３０について図７を参照
しながら説明する。
【００３６】この図７において、ホストコンピュータよ
りインターフェース３１、ＣＰＵ３２を介して光ディス
ク２０の自動検査を行わせるための検査命令がシステム
コントローラ３３に送られる。このシステムコントロー
ラ３３からは、サーボ信号処理回路３４に対して各々の
サーボ系を駆動する命令が送られる。これによってサー
ボ信号処理回路３４は、スピンドルモータ３５、送りモ
ータ３６、光学ピックアップ装置１、をそれぞれサーボ
駆動制御する。すなわち、スピンドルモータ３５が駆動
されて光ディスク２０が回転され、また、送りモータ３
６が駆動されて光学ピックアップ装置１のトラッキング
サーボ動作等が行われ、さらに、光学ピックアップ装置
１により対物レンズのフォーカスサーボ動作が行われ
て、光ディスク２０上の信号記録面の所望の位置に上記
レーザビームが移動制御される。
りインターフェース３１、ＣＰＵ３２を介して光ディス
ク２０の自動検査を行わせるための検査命令がシステム
コントローラ３３に送られる。このシステムコントロー
ラ３３からは、サーボ信号処理回路３４に対して各々の
サーボ系を駆動する命令が送られる。これによってサー
ボ信号処理回路３４は、スピンドルモータ３５、送りモ
ータ３６、光学ピックアップ装置１、をそれぞれサーボ
駆動制御する。すなわち、スピンドルモータ３５が駆動
されて光ディスク２０が回転され、また、送りモータ３
６が駆動されて光学ピックアップ装置１のトラッキング
サーボ動作等が行われ、さらに、光学ピックアップ装置
１により対物レンズのフォーカスサーボ動作が行われ
て、光ディスク２０上の信号記録面の所望の位置に上記
レーザビームが移動制御される。
【００３７】光学ピックアップ装置１の上記ＲＦ信号用
光検出器１４及びサーボ信号用光検出器１７で得られた
信号は、ＲＦマトリックスアンプ３７に供給される。こ
のＲＦマトリックスアンプ３７では、光ビームの正確な
制御に必要なフォーカスエラー信号及びトラッキングエ
ラー信号等のサーボ信号、データ再生用のＲＦ信号等を
生成する。そして、サーボ信号をサーボ信号処理回路３
４に、ＲＦ信号をＲＦアンプ３８に供給する。
光検出器１４及びサーボ信号用光検出器１７で得られた
信号は、ＲＦマトリックスアンプ３７に供給される。こ
のＲＦマトリックスアンプ３７では、光ビームの正確な
制御に必要なフォーカスエラー信号及びトラッキングエ
ラー信号等のサーボ信号、データ再生用のＲＦ信号等を
生成する。そして、サーボ信号をサーボ信号処理回路３
４に、ＲＦ信号をＲＦアンプ３８に供給する。
【００３８】ＲＦアンプ３８は、ＲＦ信号を増幅してコ
ンパレータ３９に供給する。コンパレータ３９は、上記
ＲＦ信号を２値化し、レベル検出回路４０に供給する。
光ディスク２０上に欠陥が存在するとき、レベル検出回
路４０はＲＦ信号のレベルの低下を検出する。この検出
信号は、ＣＰＵ３２に送られ、ＣＰＵ３２からインター
フェース３１を介してホストコンピュータへ送信されて
例えばディスプレイ上に表示される。
ンパレータ３９に供給する。コンパレータ３９は、上記
ＲＦ信号を２値化し、レベル検出回路４０に供給する。
光ディスク２０上に欠陥が存在するとき、レベル検出回
路４０はＲＦ信号のレベルの低下を検出する。この検出
信号は、ＣＰＵ３２に送られ、ＣＰＵ３２からインター
フェース３１を介してホストコンピュータへ送信されて
例えばディスプレイ上に表示される。
【００３９】以上により、光ディスク検査装置３０では
上記光ディスク２０上の欠陥を検査することができる。
上記光ディスク２０上の欠陥を検査することができる。
【００４０】なお、図１に示したＡＰＣ用光検出器１８
からの検出信号は、ＡＰＣ回路４１に供給される。この
ＡＰＣ回路４１は、光学ピックアップ装置１の半導体レ
ーザ２の出力を自動制御する。
からの検出信号は、ＡＰＣ回路４１に供給される。この
ＡＰＣ回路４１は、光学ピックアップ装置１の半導体レ
ーザ２の出力を自動制御する。
【００４１】この光ディスク検査装置３０でも、光学ピ
ックアップ装置１は、戻り光をＲＦ信号系光路１１及び
サーボ信号系光路１５とに分け、ＲＦ信号用光検出器１
４及びサーボ信号用光検出器１７で受光しているので、
ＲＦ信号再生及びサーボを精度よく安定に行える。特
に、ＲＦ信号系光路１１上では、戻り光を凹レンズ１２
で拡大してからスリット１３で±１次光を除去し、０次
光のみをＲＦ信号用光検出器１４の受光面１４ａに入射
させているので、機械的な変動に対してより安定で精度
の高い信号を得ることのできる。
ックアップ装置１は、戻り光をＲＦ信号系光路１１及び
サーボ信号系光路１５とに分け、ＲＦ信号用光検出器１
４及びサーボ信号用光検出器１７で受光しているので、
ＲＦ信号再生及びサーボを精度よく安定に行える。特
に、ＲＦ信号系光路１１上では、戻り光を凹レンズ１２
で拡大してからスリット１３で±１次光を除去し、０次
光のみをＲＦ信号用光検出器１４の受光面１４ａに入射
させているので、機械的な変動に対してより安定で精度
の高い信号を得ることのできる。
【００４２】したがって、光ディスク検査装置３０は、
正確かつ安定に光ディスクの欠陥、汚れ等を検査でき
る。
正確かつ安定に光ディスクの欠陥、汚れ等を検査でき
る。
【００４３】また、この光ディスク検査装置３０によ
り、上述したような２層光ディスク７０の検査も、正確
かつ安定に行える。
り、上述したような２層光ディスク７０の検査も、正確
かつ安定に行える。
【００４４】
【発明の効果】本発明に係る光学ピックアップ装置は、
分離手段によって戻り光をＲＦ信号系光路上とサーボ信
号系光路上とに分離し、ＲＦ信号系光路上の戻り光を光
拡大手段によって拡大するので、機械的な変動に対して
より安定で精度の高い信号を得られる。
分離手段によって戻り光をＲＦ信号系光路上とサーボ信
号系光路上とに分離し、ＲＦ信号系光路上の戻り光を光
拡大手段によって拡大するので、機械的な変動に対して
より安定で精度の高い信号を得られる。
【００４５】また、本発明に係る光学ピックアップ装置
は、このような光学ピックアップ装置を使って光ディス
クを検査するので、正確かつ安定に光ディスクの欠陥、
汚れ等を検査できる。
は、このような光学ピックアップ装置を使って光ディス
クを検査するので、正確かつ安定に光ディスクの欠陥、
汚れ等を検査できる。
【図１】本発明に係る光学ピックアップ装置の実施の形
態の概略構成図である。
態の概略構成図である。
【図２】上記実施の形態により光ディスクのトラック上
に形成される３スポットを示す模式図である。
に形成される３スポットを示す模式図である。
【図３】上記実施の形態で用いられるＲＦ信号用光検出
器及びサーボ信号用光検出器の受光面を示す模式図であ
る。
器及びサーボ信号用光検出器の受光面を示す模式図であ
る。
【図４】２層光ディスクの構造を示す模式図である。
【図５】２層光ディスクの第１の情報信号層から情報信
号を読み取り再生する場合の状態図である。
号を読み取り再生する場合の状態図である。
【図６】２層光ディスクの第２の情報信号層から情報信
号を読み取り再生する場合の状態図である。
号を読み取り再生する場合の状態図である。
【図７】本発明に係る光ディスク検査装置の実施の形態
の概略構成図である。
の概略構成図である。
１ 光学ピックアップ装置 ２ 半導体レーザ ３ コリメートレンズ ４ アナモフィックプリズム ５ グレーティング ６ ビームスプリッタ ７ １／４波長板 ８ 対物レンズ ９ 集光レンズ １０ ハーフミラー １１ ＲＦ信号系光路 １２ 凹レンズ １３ スリット １４ ＲＦ用光検出器 １５ サーボ信号系光路 １６ マルチレンズ １７ サーボ用光検出器
Claims (6)
- 【請求項１】 光ディスクにレーザビームを照射して得
られた戻り光から該光ディスク上の情報信号を再生する
光学ピックアップ装置において、 上記レーザビームを出射する光源と、 上記光源からの上記レーザビームを整形するビーム整形
手段と、 上記ビーム整形手段からの上記整形されたレーザビーム
を回折する回折手段と、 上記回折手段からの回折レーザビームを上記光ディスク
の信号記録面に集束する対物レンズと、 上記光ディスクからの戻り光をＲＦ信号系光路上とサー
ボ信号系光路上に分離する分離手段と、 上記ＲＦ信号系光路上の戻り光を拡大する光拡大手段
と、 上記光拡大手段からの拡大レーザ光を受光する第１の光
検出手段と、 上記サーボ信号系光路上の戻り光を受光する第２の光検
出手段とを備えることを特徴とする光学ピックアップ装
置。 - 【請求項２】 上記ＲＦ信号系光路中の上記光拡大手段
と上記第１の光検出手段との間に、不要光除去手段を設
けて成ることを特徴とする請求項１記載の光学ピックア
ップ装置。 - 【請求項３】 上記第２の光検出手段は、３ビームを受
光できる受光面を備えることを特徴とする請求項１記載
の光学ピックアップ装置。 - 【請求項４】 光ディスクにレーザビームを照射して得
られた戻り光から該光ディスクの検査を行う光ディスク
検査装置において、 上記レーザビームを出射する光源と、 上記光源からの上記レーザビームを整形するビーム整形
手段と、 上記ビーム整形手段からの上記整形されたレーザビーム
を回折する回折手段と、 上記回折手段からの回折レーザビームを上記光ディスク
の信号記録面に集束する対物レンズと、 上記光ディスクからの戻り光をＲＦ信号系光路上とサー
ボ信号系光路に分離する分離手段と、 上記ＲＦ信号系光路上の戻り光を拡大する光拡大手段
と、 上記光拡大手段からの拡大レーザ光を受光する第１の光
検出手段と、 上記サーボ信号系光路上の戻り光を受光する第２の光検
出手段とを備えることを特徴とする光ディスク検査装
置。 - 【請求項５】 上記ＲＦ信号系光路中の上記光拡大手段
と上記第１の光検出手段との間に、不要光排除手段を設
けて成ることを特徴とする請求項４記載の光ディスク検
査装置。 - 【請求項６】 上記第２の光検出手段は、３ビームを受
光できる受光面を備えることを特徴とする請求項４記載
の光ディスク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7204486A JPH0954952A (ja) | 1995-08-10 | 1995-08-10 | 光学ピックアップ装置及び光ディスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7204486A JPH0954952A (ja) | 1995-08-10 | 1995-08-10 | 光学ピックアップ装置及び光ディスク検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0954952A true JPH0954952A (ja) | 1997-02-25 |
Family
ID=16491329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7204486A Pending JPH0954952A (ja) | 1995-08-10 | 1995-08-10 | 光学ピックアップ装置及び光ディスク検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0954952A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100339681C (zh) * | 2004-09-02 | 2007-09-26 | 精碟科技股份有限公司 | 光盘片检测装置 |
| US7403279B2 (en) | 2004-10-14 | 2008-07-22 | Ebara Corporation | Information recording medium examining apparatus and method |
| US9418695B2 (en) | 2013-06-19 | 2016-08-16 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Optical information apparatus and information processing apparatus |
-
1995
- 1995-08-10 JP JP7204486A patent/JPH0954952A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100339681C (zh) * | 2004-09-02 | 2007-09-26 | 精碟科技股份有限公司 | 光盘片检测装置 |
| US7403279B2 (en) | 2004-10-14 | 2008-07-22 | Ebara Corporation | Information recording medium examining apparatus and method |
| US9418695B2 (en) | 2013-06-19 | 2016-08-16 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Optical information apparatus and information processing apparatus |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20011225 |