JPH11273150A - 光学読取式記録媒体及びそのドライブ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光学読取式記録媒体の汚損による情報処理や
制御への悪影響を低減することで信頼性の向上を図る。 【解決手段】 光学式ディスクや光カード等の光学読取
式記録媒体１において、光の入射面１ａの状態を検出す
るために当該入射面１ａと記録層２との間に反射層３を
形成する。また、光学読取式記録媒体１に対して情報の
再生又は記録を行うためのドライブ装置４において、光
学読取式記録媒体１の入射面１ａの状態を検出する光学
的検出手段６を設けるとともに、入射面１ａの汚れ具合
に応じて光源５の発光量又は強度を増強する制御手段７
を設けた。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光の入射面の表面
状態を検出することができる光学読取式記録媒体及びそ
のドライブ装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】光学読取式記録媒体、例えば、光ディス
ク（コンパクトディスクやレーザーディスク、光磁気デ
ィスク等。）においては、記録層へのレーザービームの
照射後に戻り光を検出することで記録情報を取り出すこ
とができるようにドライブ装置が構成されており、ディ
スクへのビームの入射面に保護層を形成することによっ
てディスクの取り扱い時等における記録層の損傷を防い
でいる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ディス
クへのビームの入射面に指紋や塵埃等が付着したり、傷
等がついた場合に、これらを感知する手段が講じられて
いないため、例えば、汚れが酷いと情報の書き込みや読
み出しに要する光量の不足によって誤検出等の虞が生じ
る等の問題がある。

【０００４】そこで、本発明は、光学読取式記録媒体の
汚損による情報処理や制御への悪影響を低減することで
信頼性の向上を図ることを課題とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明に係る光学読取式
記録媒体は上記した課題を解決するために、光の入射面
の状態を検出するために当該入射面と記録層との間に反
射層を形成したものであり、また、本発明に係る光学読
取式記録媒体のドライブ装置は、光学読取式記録媒体へ
の光の入射面の状態を検出する光学的検出手段を設けた
ものである。

【０００６】従って、本発明によれば、光学読取式記録
媒体への光の入射面の状態を光学的に検出することで表
面の汚損の度合を把握することができる。

【０００７】

【発明の実施の形態】図１は本発明に係る光学読取式記
録媒体とそのドライブ装置の基本構成を概念的に示すも
のであり、光学読取式記録媒体１に対する情報の読み書
きに係る構成部を除いた本質的な部分だけを抽出して示
している。

【０００８】光学読取式記録媒体１は、その記録層２に
光を照射することによって記録情報を読み取ることがで
きる構成とされ、その形状の如何は問わない。例えば、
円盤状、テープ状等、各種の形態が可能であり、ディス
クに形成されるトラックに沿って情報の読み出しや書き
込みを行うもの（所謂光学式ディスク）や、記録媒体に
対して一定方向のビーム走査によって情報の読み書きを
行うもの（光カード、光テープ等）が挙げられ、要は情
報を光学的に読み取ったり書き込むことのできる形態で
あれば、如何なる媒体であっても構わない。

【０００９】図１の大円内に拡大して示すように、光学
読取式記録媒体１には、これに入射される光の入射面１
ａの表面状態を検出するために、当該入射面１ａと記録
層２との間に反射層３（あるいは反射膜）が形成されて
いる。

【００１０】反射層３の材料としては、金属（金属膜）
や、光の波長によって反射率が異なる特性を有する材料
（例えば、波長依存性膜（あるいは波長分離膜）等。）
が挙げられるが、後者の場合には、光学読取式記録媒体
１への入射光のうち記録層２に到達して反射される光の
波長と、反射層３で反射される光の波長とが異なるよう
に光学系を設計することができるので、両者の区別が容
易になる（つまり、記録情報に対応する検出信号と、表
面状態の検出信号との判別が容易になる。）という利点
がある。

【００１１】尚、この反射層３の反射率が高すぎると、
記録層２に到達する光量が低下してしまい、記録層２か
ら情報を光学的に取り出したり又は記録することが困難
になるので、反射率の設計値については、記録層２の材
質や信号再生、記録時のＳ／Ｎ比、波長等の要因を考慮
して決定する必要がある。また、反射層３は汚損等によ
って影響を受ける入射面１ａの表面状態を、その反射光
から把握するために積極的に付加されるものであり、図
では層数が１層とされているが、複数層であっても構わ
ない（但し、記録層２への到達光量の減少を考慮すると
層数は少ないことが好ましい。）。

【００１２】光学読取式記録媒体１のドライブ装置４
は、光学読取式記録媒体１への光照射を行う光源５と、
光学読取式記録媒体１への光の入射面１ａの状態を検出
する光学的検出手段６とを備えている。

【００１３】光源５としては、レーザー等のコヒーレン
ト光を発する光源が挙げられるが、これに限らず、イン
コヒーレント光を発する光源、あるいは該光源とインコ
ヒーレント−コヒーレント変換素子等を組み合せた構成
等、各種の形態が挙げられる。

【００１４】光源５から発した光のうち、光学読取式記
録媒体１の入射面１ａ付近（入射面１ａや反射層３）で
表面反射された光は、受光素子を含む光学的検出手段６
に到達し、その光量又は強度を検出することによって入
射面１ａがどれだけ汚損されているかを示す情報が取得
される。尚、光学読取式記録媒体１の入射面１ａによる
反射光が表面状態の検出に充分な光量や強度を有する場
合には、上記反射層３を有さない光学読取式記録媒体１
についてもその入射面１ａがどれだけ汚損されているか
を検出することができることは勿論である。

【００１５】光学的検出手段６による検出信号は、コン
ピュータ等の計算機又は専用回路を用いて実現される制
御手段７に送出され、当該検出信号は各種の用途に使用
される。例えば、制御手段７が、検出光量（検出信号の
レベル値）と基準値とを比較して、光学読取式記録媒体
１の入射面１ａの汚れがあまりに酷いと判断した場合に
告知手段８に信号を送出してユーザーにその旨を文字、
図形等による表示や音声等によって伝え、当該光学読取
式記録媒体１の使用を差し控えるように促したり、ある
いは、制御手段７が、光学的検出手段６からの検出信号
を受け取って、入射面１ａの汚れ具合に応じて光源５の
発光量又は強度を増強する、つまり汚れ等に起因する検
出光量や強度の低下に応じて光源５の出力するエネルギ
ーを増加させるように補償制御を行う。また、光源５に
対してその照射方向を走査する機構が設けられ、かつ光
学読取式記録媒体１の記録層２の記録情報として光源５
のビーム走査制御に必要な制御情報が含まれている場合
において、光学読取式記録媒体１の入射面１ａの汚れが
酷いと判断したときの再生情報を無視しあるいは当該情
報の重要度を低めに評価するといった制御を行うことが
できる。

【００１６】尚、光学読取式記録媒体１の記録層２に情
報を記録したり又は情報を読み出すための手段について
はこれを既知として説明を省略する。

【００１７】しかして、光学読取式記録媒体１への光の
入射面１ａにおける汚損の度合を光学的に検出すること
で、例えば、記録情報や再生情報に不良が生じないよう
にしたり、誤検出や誤動作等の発生を防止することがで
きる。

【００１８】尚、光学読取式記録媒体１への光照射にあ
たって記録層２で反射した光と、入射面１ａ付近での反
射光との区別をより明瞭にするためには、例えば、図２
の光学読取式記録媒体１Ａに示すように、反射層３と記
録層２との間に偏光層９を設けることが好ましい。これ
によって、記録層２に到達する光については、記録層２
での反射の前と後で偏光層９を合計２回透過するのに対
して、表面反射光は偏光層９の影響を受けないので、両
者は偏光面の違いとして区別することができる。尚、こ
の場合に光学読取式記録媒体への入射光が偏光している
ことは勿論である。

【００１９】偏光層９の形成については、基板に膜（偏
光膜）を形成する方法や、偏光板（波長板等）を貼り付
ける方法が挙げられる。例えば、後者の場合には、上記
した光カードにおいて偏光板の結晶軸が所定の方向を向
くように基材に偏光板を接着したり、あるいはディスク
状媒体において複数枚に分割した偏光板を基材に接着す
る方法等が挙げられる。

【００２０】

【実施例】図３乃至図８は本発明を光学式ディスク及び
その記録／再生装置に適用した実施の一例を示すもので
ある。

【００２１】図３はディスク１０の外観とその断面構造
の拡大図を示しており、同図に矢印「Ｉ」で示す方向か
らレーザービームの照射が行われる。

【００２２】サブストレートと称する円盤１１には、ポ
リカーボネート等のように光学的、機械的な特性の適し
た材料が使用され、矢印Ｉとは反対側に位置する面１１
ａにはピットやグルーブ等の構造が射出成形によって形
成され、当該面１１ａに記録層（あるいは記録面）１２
が形成される。例えば、両面貼り合わせタイプのディス
クの場合には、記録方式に応じて各種材料の膜（相変化
膜や色素膜、誘電体膜等。）がスパッタリングや塗布等
によって積層形成される。尚、記録層１２の上にはレー
ザービームの光を効率良く反射させるための反射膜１３
がアルミニウム等の金属材料を用いてスパッタリングに
より形成されている。

【００２３】円盤１１のうち矢印Ｉ側の面１１ｂには、
使用するレーザー波長に対する１／４波長板１４（上記
偏光層９に相当する。）が付設されている。その際、円
盤１１とは別個に設けられた波長板を円盤１１の形状に
合わせて裁断して、単に円盤１１に貼り付けたのでは結
晶軸が一方向を向くだけであるため、結晶軸がほぼ円周
方向に沿う配置を実現するためには、円周方向に適当な
数に分割して（図では、破線ａ、ａ、・・・で示すよう
に８分割としている。）、複数枚の波長板を円盤１１に
接着する方法を用いている。

【００２４】１／４波長板１４には、適当な表面反射光
を得るために反射膜１５（上記した反射層３に相当し、
例えば、金が用いられる。）がスパッタリングによって
形成されており、当該反射膜１５の反射率は上記した反
射膜１３の反射率に比して小さくされ、記録層１２に対
する情報の読み書きに支障を来さない値に設計されてい
る。

【００２５】この反射膜１５を腐食等から保護するため
に保護膜１６が、紫外線硬化性樹脂等を用いてコーティ
ングにより形成されている。

【００２６】尚、図３の例ではディスクの片面から情報
の読み書きを行うタイプの構造を示しているため、ディ
スク全体の機械的強度を保証するために、上記反射膜１
３には補強用のサブストレート（所謂ダミーサブストレ
ート）１７が接着されている（接着層１８は紫外線硬化
性樹脂等を用いて形成されている。）が、上記構造にお
いてサブストレート１７を除いた構造を有する２枚のデ
ィスクを貼り合わせて形成される、両面貼り合わせタイ
プのディスクの場合には、ディスクの両面からそれぞれ
情報の読み書きを行うことができることは勿論である。

【００２７】図４は上記ディスク１０を用いたドライブ
装置１９のうち、光学ヘッド部２０の構成部材の配置例
を示している。尚、本図では、理解のし易さを優先する
ために配線やハウジング等、説明に直接関係のない部分
は一切省略している。

【００２８】光学ヘッド部２０は、半導体レーザーやビ
ームスプリッタ等を含む光学系２１と、対物レンズ２２
が設けられた２軸デバイス（あるいはアクチュエータ）
２３とから構成されている。

【００２９】光学系２１において、半導体レーザーから
発して各種の光学部品を経たビーム光は立上用のミラー
２４によってその照射方向が直角に変更された後、対物
レンズ２２を通してディスク１０に照射される。つま
り、光学系２１の構成部品は水平方向に延びる光軸に沿
って配置されているので、水平方向に配置されるディス
ク１０（図４に２点鎖線で示す。）に対してビーム光を
直角に照射するには、ミラー２４によって光軸をディス
ク１０に対して垂直な方向に変える必要がある。

【００３０】２軸デバイス２３は、対物レンズ２２を介
してビーム光がディスク１０の記録層１２で焦点を結ぶ
ように焦点方向のフォーカシング調整を行う機構と、デ
ィスク１０のトラックをなぞる（トレース）ためにディ
スクの半径方向における位置決め（所謂トラッキング）
の調整機構を備えており、既知のようにコイルと磁石と
を組み合わせた構成で生じる電磁力が利用される。

【００３１】尚、光学ヘッド部全体は図示しないハウジ
ングに収容されて、歯車列やリードスクリュー等を用い
た送り機構によって移動され、ディスクに対してシーク
動作が行われる。

【００３２】図５は、動作原理を説明するために光学系
２１の配置とディスク１０の断面構造との関係を示す光
路の説明図である。尚、図では光学系やディスクにおい
て説明に必要な部分だけを示している。

【００３３】半導体レーザーにはレーザーダイオード２
５が用いられており、該レーザーダイオード２５から出
射したビーム光は、コリメータレンズ２６によって平行
光に変換された後、グレーティングと称する位相回折格
子２７に入射され、＋１次や−１次の回折光がトラッキ
ング制御のためのサイドビームとになる（３スポット法
やＤＰＰ法等。）。勿論、トラッキング制御にこのよう
な回折光を必要としない場合には、グレーティングは不
要である。

【００３４】その後、光は無偏光ビームスプリッタ２８
においてレーザー光の出射レベルをモニタリング（監
視）するための光と、ディスク１０に向かう光とに分け
られる。即ち、前者はモニタ用フォトディテクタ２９に
到達し、また、後者についてはさらに偏光ビームスプリ
ッタ３０でＳ偏光成分のみが分離されてから（ミラー２
４での光路変更後に）、対物レンズ２２を介してディス
ク１０の記録層１２に照射されてここで焦点を結ぶ。

【００３５】戻り光については、ディスク１０の記録層
１２や反射膜１３により反射する光（図に「ＬＲ」で示
す。）と、ディスク１０の入射面や反射膜１５で反射す
る光（図に「ＬＳ」で示す。）とでは光路が異なるので
それぞれに分けて説明する。

【００３６】先ず、記録層１２の近辺で反射する光ＬＲ
については、その前にディスク１０の１／４波長板１４
によって円偏光の光に変換された状態で記録層１２に達
し、その後に再び１／４波長板１４を透過するときにＰ
偏光の光となる。そのため、偏光ビームスプリッタ３０
で反射された後、集光レンズ（組み合わせレンズ）３１
を介してＲＦ（Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号
・サーボ信号検出用のフォトディテクタ３２（例えば、
複数に分割された受光面を有する。）に到達する。尚、
このディテクタ３２から得られる焦点エラー信号及びト
ラッキングエラー信号を用いて上記２軸デバイス２３を
使ったフォーカシング制御やトラッキング制御が行われ
ることは周知の通りである。

【００３７】他方、ディスク１０の入射面付近で反射し
た光は１／４波長板１４の影響を受けないので依然Ｓ偏
光のままであり、偏光ビームスプリッタ３０を透過す
る。そして、そのうちの一部が無偏光ビームスプリッタ
２８で反射されて集光レンズ３３を介して表面反射光の
検出用フォトディテクタ３４へと導かれる。尚、ディス
ク表面での反射光の一部しか集光レンズ３３に入射され
ないこと及びサブストレート１１の厚みが厳密には不均
一であること（製造上のバラツキ等）を考慮すると、フ
ォトディテクタ３４に完全に焦点を結ぶことは困難であ
るため、フォトディテクタ３４のサイズを大きくして光
検出範囲を充分に確保することが好ましい。

【００３８】こうして、フォトディテクタ３４で得られ
た反射光の強度又は光量からディスク表面の汚損状態
（付着した指紋等による。）を推定することが可能とな
り、レーザー光の強度に補正を加えることで、汚損に起
因する記録層１２へのビーム強度の低下をリアルタイム
で補償することができる。

【００３９】図６はデータ書き込み時のビーム出力補正
に係る回路構成の一例を示しており、ＣＰＵ（中央演算
処理装置）等を使ったコントローラ３５からの指令値が
レーザー出力設定部３６に送出されると、ここでレーザ
ー光の強度設定に係る制御信号がＤ（ディジタル）／Ａ
（アナログ）変換後に加算器３７を経てレーザードライ
バー（駆動回路）３８に送られ、該レーザードライバー
３８の出力がレーザーダイオード２５に送出される。

【００４０】また、コントローラ３５はディスク１０に
記録すべき情報に対応した指令信号を記録波形発生部３
９（シンセサイザ回路を含む。）に送出し、ここから発
光タイミングの制御信号がレーザードライバー３８に送
出される。

【００４１】表面反射光の検出用フォトディテクタ３４
による検出信号は、アンプ部４０（フィルタ回路等を含
む。）を経て比較部４１（差動アンプ等）のマイナス入
力端子に送出される。比較部４１については、ディスク
１０に汚れがない場合において予め測定しておいた表面
反射光の反射光量を示す基準値「ＲＥＦ」が設定されて
おり、これが比較部４１のプラス入力端子に供給され
る。そして、比較部４１の出力信号がレーザー出力の補
償用信号として上記加算器３７に送られる。

【００４２】しかして、アンプ部４０の出力信号は、記
録時におけるディスク１０の表面状態を反映する反射光
の光量に係る信号であり、ディスク表面があまり汚れて
いない場合には、比較部４１の出力信号のレベルがほぼ
ゼロとなるが、ディスク表面に汚れがある場合には、そ
の汚れが酷い程光量が低下して信号レベルが下がるの
で、基準値ＲＥＦから当該信号のレベル値を差し引いた
レベルに相当する差信号が比較部４１から加算器３７に
送出されてレーザー出力設定部３６からの信号に加算さ
れ、レーザー出力が増加するように制御が行われる。

【００４３】尚、基準値「ＲＥＦ」についてはこれを固
定値としても良いし、コントローラ３５からの信号によ
って設定可能な可変値（図には可変抵抗の記号で示
す。）としても良い。

【００４４】また、記録情報の再生処理においても同様
にアンプ部４０の出力信号レベルと基準値ＲＥＦとの比
較結果に応じてレーザー出力の制御を行うことができる
ことは勿論である。

【００４５】上記した反射膜１５を波長依存性膜１５Ａ
によって形成する場合には、例えば、図７に示すような
光学系の配置を採ることができる。

【００４６】即ち、レーザーダイオード４２から発した
光（これを、「Ｌａ」と記す。）は、１段目のビームス
プリッタ４３において２分され、そのうちの一方がモニ
タ用フォトディテクタ２９に到達し、他方が次段のビー
ムスプリッタ４４において反射した後、対物レンズ２２
を介してディスク１０Ａに照射される。尚、ビームスプ
リッタ４４の反射境界面には波長依存性膜１５Ａと同じ
性質をもつ波長依存性膜４５が形成されている。

【００４７】そして、ディスク１０Ａによって反射され
た戻り光は、ビームスプリッタ４４での反射後にビーム
スプリッタ４３でさらに反射され、集光レンズ４６を介
して表面反射光の検出用ディテクタ４７に受光される。

【００４８】発光部と受光部との両者を有する送受光部
４８から発した光（これを「Ｌｂ」と記す。）は、ビー
ムスプリッタ４４を透過した後、対物レンズ２２を介し
てディスク１０Ａに照射される。そして、ディスク１０
Ａによって反射された戻り光がビームスプリッタ４４を
透過して再び送受光部４８に到達する。尚、この送受光
部４８には、例えば、レーザーダイオードやフォトダイ
オード、プリズム等を同一基板上に構成した所謂レーザ
ーカプラや、レーザーダイオード、フォトダイオード、
ホログラムプレート等を１つのパッケージ内に収めたホ
ログラムユニット等、既知の集積型部品を用いることが
できる。また、送受光部４８の代わりに発光部と受光部
とが分離された形態を採用する場合には、送受光部の位
置に発光部を配置し、当該発光部とビームスプリッタ４
４との間にさらにビームスプリッタを置いて分離した光
を受光部に導くように構成すれば良い。

【００４９】上記波長依存性膜１５Ａ、４５は、図７の
右上のグラフ図に示すように、光の波長「λ」が長くな
る程その反射率が小さくなる性質を有しており、レーザ
ーダイオード４２の発光波長「λａ」の方が送受光部４
８の発光波長「λｂ」より短いとする（例えば、λａ＝
６５０ｎｍ（ナノメートル）、λｂ＝７８０ｎｍ。）
と、レーザーダイオード４２から発した光Ｌａについて
はビームスプリッタ４４の波長依存性膜４５やディスク
１０Ａの波長依存性膜１５Ａにおける反射率が相対的に
高いため、当該光がディスク１０Ａの記録層１２に到達
する割合が相対的に低い。つまり、ビームスプリッタ４
４で反射した光の大半は波長依存性膜１５Ａによって反
射された後、ビームスプリッタ４３、４４での光路変更
後にその一部が集光レンズ４６を介してディテクタ４７
に到達することになる。

【００５０】他方、送受光部４８の発光部から出射した
光Ｌｂについては、ビームスプリッタ４４の波長依存性
膜４５やディスク１０Ａの波長依存性膜１５Ａにおける
反射率が相対的に低いので、これらの膜を透過した光が
ディスク１０Ａの記録層１２にまで到達する。よって、
記録層１２の近辺における反射光のうち、波長依存性膜
１５Ａ、４５を通過した光が送受光部４８内の受光部に
到達することになり、これから記録情報の検出がなされ
る。

【００５１】こうして、ディテクタ４７による検出信号
からディスク１０Ａの表面状態を検出するとともに、当
該検出信号からディスク１０Ａ表面の汚れの程度に応じ
て送受光部４８の光出力を補正したり、あるいは、当該
検出信号に基づいてフォーカシング制御を行うことでレ
ーザーダイオード４２からの光Ｌａがディスク１０Ａの
表面付近で焦点を結ぶようにしてディスク１０Ａの表面
状態を的確に把握することができる。

【００５２】尚、上記の説明において、波長依存性膜は
光の波長が長くなる程その反射率が小さくなる性質を有
するとしたが、要は使用する光の波長に応じて異なる反
射率を示す材料であって２種類以上の波長を区別するこ
とができるのであれば如何なる材料であっても構わな
い。

【００５３】

【発明の効果】以上に記載したところから明らかなよう
に、請求項１に係る発明によれば、光学読取式記録媒体
への光の入射面における表面状態を把握するための検出
光量を反射層によって充分確保することができる。

【００５４】また、請求項２に係る発明によれば、光学
読取式記録媒体への光の入射面における表面状態を光学
的検出手段を用いて検出することによって、入射面の状
態から汚損の度合を把握することができ、汚損に起因し
て生じる記録又は再生処理時の外乱の影響を排除するこ
とが可能となるので、記録情報や再生情報の信頼性を高
めることができる。

【００５５】請求項３に係る発明によれば、光学読取式
記録媒体の入射面と記録層との間に形成された反射層に
よって反射される光の光量又は強度を検出することによ
って光学読取式記録媒体の入射面における表面状態を充
分な光量をもって検出することができ、外光等の影響を
受け難くなる。

【００５６】請求項４に係る発明によれば、光学読取式
記録媒体の入射面の汚れ具合に応じて光源の発光量又は
強度を増強することによって、誤検出等の低減を図り、
光学読取式記録媒体の汚損による情報処理や制御への悪
影響を低減することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る装置の基本構成を概念的に示す図
である。

【図２】反射層と記録層との間に偏光層を設けた光学読
取式記録媒体の断面構造を示す概略図である。

【図３】図４乃至図８とともに本発明を光学式ディスク
及びその記録／再生装置に適用した実施の一例を示すも
のであり、本図は光学式ディスクの構成を概略的に示す
図である。

【図４】光学式ディスクのドライブ装置のうち、光学ヘ
ッド部の構成例を示す斜視図である。

【図５】動作原理を説明するために光路を概略的に示す
説明図である。

【図６】ビーム出力補正に係る回路構成の一例を示す回
路ブロック図である。

【図７】反射層に波長依存性膜を用いた場合の光学系の
配置例を示す光路の概略的な説明図である。

【符号の説明】

１…光学読取式記録媒体、１ａ…入射面、２…記録層、
３…反射層、４…ドライブ装置、５…光源、６…光学的
検出手段、７…制御手段

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録層に光を照射することによって記録
   情報を読み取ることができる光学読取式記録媒体におい
   て、 光の入射面の状態を検出するために当該入射面と上記記
   録層との間に反射層を形成したことを特徴とする光学読
   取式記録媒体。
2. 【請求項２】 記録層に光を照射することによって記録
   情報を読み取ることができる光学読取式記録媒体に対し
   て情報の再生又は記録を行うための、光学読取式記録媒
   体のドライブ装置において、 上記光学読取式記録媒体への光の入射面の状態を検出す
   る光学的検出手段を設けたことを特徴とする光学読取式
   記録媒体のドライブ装置。
3. 【請求項３】 請求項２に記載した光学読取式記録媒体
   のドライブ装置において、 光の入射面の状態を検出するために光学読取式記録媒体
   の入射面と記録層との間に形成された反射層によって反
   射される光の光量又は強度を光学的検出手段によって検
   出することを特徴とする光学読取式記録媒体のドライブ
   装置。
4. 【請求項４】 請求項２に記載した光学読取式記録媒体
   のドライブ装置において、 上記光学読取式記録媒体への光照射を行うための光源
   と、 上記光学読取式記録媒体への光の入射面の状態について
   の検出信号を光学的検出手段から受け取って、入射面の
   汚れ具合に応じて上記光源の発光量又は強度を増強する
   制御手段とを設けたことを特徴とする光学読取式記録媒
   体のドライブ装置。