JPH09320084A - 円盤状光記録媒体の傾き測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光ディスクの表面での反射迷光および多層デ
ィスクの異なる層での反射迷光を除去して、所望の層の
ディスク傾きを測定できるようにしたディスク傾き測定
器を提供する。 【解決手段】 レーザダイオード１２で発生させたレー
ザ光Ｌａをビームスプリッタ１４、第１の集光レンズ１
５を介して光ディスク７に照射する。光ディスク７での
反射レーザ光Ｌｂを第１の集光レンズ５を介してビーム
スプリッタ１４で分光して第２の集光レンズ１６を介し
て４分割ディテクタ１９で検出する。第２の集光レンズ
１６と４分割ディテクタ１９との間にピンホール１７ａ
を有する遮光部材１７を配置する。反射レーザ光Ｌｂに
含まれた迷光成分Ｌｂｓは、ピンホール１７ａによって
除去される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、情報データ等の記
録パッケージ・メディアとして用いられる光ディスクや
光磁気ディスク等の円盤状光記録媒体（以下、光ディス
クと総称する。）に発生する微少な傾き量を測定する測
定装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクは、情報データや画像データ
等の情報信号を高密度に記録可能とする記録パッケージ
・メディアとして汎用されている。この光ディスクは、
例えば透明な合成樹脂材料によって成形されたディスク
基板の一方主面に螺旋状の記録トラックが形成されると
ともに、この記録トラックに情報データ等に対応してパ
ターン配列された微小な凹部からなる多数個のピットが
形成されている。また、光ディスクは、記録トラックが
形成された一方の主面が反射面として構成されるととも
に、他方の主面が保護層によって被覆されている。

【０００３】そして、光ディスクには、レーザ光源から
出射されたレーザ光が、保護層側の主面から入射されて
記録トラックにスポット照射される。入射レーザ光は、
反射面で反射されて光ディスクの主面から反射レーザ光
として出射され、光検出器によって検出される。光ディ
スクは、光検出器において、ビットの有無による反射レ
ーザ光の光量変化が電気的に変換されて記録された情報
信号が再生される。

【０００４】ところで、かかる光ディスクにおいては、
記録トラックのピッチを極めて微細に形成することによ
って情報信号の高密度化を図ったものも提供されてい
る。また、光ディスクにおいては、例えば直径が１２ｃ
ｍで厚み寸法が０．６ｍｍの２枚のディスク基板を重ね
合わせて高画質のデジタル画像信号を２時間以上記録可
能としたいわゆるデジタルビデオディスク（ＤＶＤ）も
提供されている。これら光ディスクは、情報信号の正確
な再生或いは記録を行うために、そのディスク基板が極
めて高精度に形成されなければならない。

【０００５】光ディスクは、そのディスク基板の機械的
な傾きに対して、一般に記録再生装置側に設けられたス
キュー調整機構によって照射するレーザ光の状態を調整
しながら情報信号の記録再生操作が行われる。しかしな
がら、超微細な記録トラックを有する光ディスクにおい
ては、かかるスキュー調整機構によって、そのディスク
基板自体の傾きに起因する補正を行い得ないといった問
題点があった。また、例えば、ＤＶＤでは、傾きがある
２枚のディスク基板が重ね合わされて構成された場合、
それぞれのディスク基板に形成された記録トラックに対
するレーザ光の正確なスポット照射が困難となって記録
された情報信号の精密な再生が行い得ないといった問題
を生じさせる。

【０００６】上述したように、光ディスクにおいては、
ディスク基板自体の傾きが極めて重要であり、ディスク
傾き測定器によってその測定が行われている。図１８
は、従来の光ディスクのディスク基板の傾きを測定する
測定器の模式構造図である。このディスク傾き測定器１
０１は、装着された光ディスク（ディスク）１０６に対
してレーザ光を出射するレーザ発光部１０２と、入射レ
ーザ光と反射レーザ光とを分光する偏光ビームスプリッ
タ（ＰＢＳ）１０３と、１／４波長板１０４と、２次元
ポジションセンサ１０５とから構成されている。

【０００７】レーザ発光部１０２は、例えばガスレーザ
光源、半導体レーザ光源或いは固体レーザ光源等によっ
て構成されている。このレーザ発光部１０２から出射さ
れたレーザ光は、偏光ビームスプリッタ１０３で９０度
反射されて、１／４波長板１０４を介して光ディスク１
０６へと照射される。レーザ光は、光ディスク１０６の
反射面（記録面）で反射されて１／４波長板１０４と偏
光ビームスプリッタ１０３とを通過して２次元ポジショ
ンセンサ１０５に入射される。

【０００８】光ディスク１０６の傾き量θは、同図に示
すように、この光ディスクの記録面と２次元ポジション
センサ１０５との光学距離をＬ、２次元ポジションセン
サ１０５上での反射ビームの変動量をｄとすると、次の
式（１）で表わされる。

【０００９】

【数１】

【００１０】光ディスク１０６の傾き量θは、Ｌが機械
的な寸法値であることから、反射ビームの変動量ｄを検
出することによって測定することができる。

【００１１】例えば、ＣＤ（コンパクトディスク）で
は、厚み寸法が１．２ｍｍであることから、上述した式
（１）のディスク基板の主面とレーザ光の反射面との間
隔Ｌが１．２ｍｍとなる。しかしながら、このＣＤにお
いては、入射されるレーザ光がほぼ平行光であるため
に、このレーザ光のディスク基板の表面で反射される成
分とレーザ光の記録面で反射される成分とが干渉して２
次元ポジションセンサ１０５でこれらディスク基板の表
面と記録面の平行度に応じて干渉縞が生じる。このた
め、ディスク傾き測定器１０１は、この干渉縞によって
ディスクの傾き量θに測定誤差を発生させるといった問
題点があった。

【００１２】また、上述したＤＶＤのように、レーザ光
の反射面（記録面）が複数存在するいわゆる多層光ディ
スクにおいては、どの層の傾きを測定しているのか区別
をつけるのが困難となり、精密な測定ができないといっ
た問題点があった。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
のディスク傾き測定器１０１においては、レーザ発光部
１０２から出射されて光ディスク１０６へと照射される
レーザ光が、ディスク基板の表面で反射される成分と記
録面で反射される成分とが干渉することから、この光デ
ィスク１０６の傾き量θの測定に誤差を発生させるとい
う欠点があった。また、従来のディスク傾き測定器１０
１は、記録面が複数存在するいわゆる多層ディスクに対
して、どの層の傾きを測定しているのか区別をつけるの
が困難であり、測定することができないといった問題点
があった。

【００１４】この発明はこのような課題を解決するため
なされたもので、光ディスクに照射されるレーザ光のデ
ィスク表面における反射光の迷光や、多層ディスクにお
ける異なる層の迷光を除去することによって、光ディス
クの傾き量を精密に測定できるようにしたディスク傾き
測定器を提供することを目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】上記目的を解決するため
に、この発明に係るディスク傾き測定器は、レーザ光源
と、このレーザ光源から出射されたレーザ光を円盤状光
記録媒体の情報信号が記録された情報信号記録面上に収
束させるレーザ光収束手段と、上記円盤状光記録媒体の
情報信号記録面で反射された反射レーザ光を集光させる
反射レーザ光集光手段と、この反射レーザ光集光手段で
集光された上記反射レーザ光が形成するレーザスポット
の位置を光学的に検出するスポット位置検出手段とを備
えて構成される。

【００１６】また、この発明に係るディスク傾き測定器
は、レーザ光源と、このレーザ光源から出射されたレー
ザ光を上記円盤状光記録媒体の情報信号が記録された情
報信号記録面上に収束させるレーザ光収束手段と、上記
円盤状光記録媒体の情報信号記録面で反射された反射レ
ーザ光を平行光に変換する平行光変換手段と、この平行
光変換手段で平行光に変換された上記反射レーザ光が形
成するレーザスポットの位置を光学的に検出するスポッ
ト位置検出手段とを備えて構成される。

【００１７】さらに、この発明に係るディスク傾き測定
器は、レーザ光源と、このレーザ光源から出射されたレ
ーザ光を円盤状光記録媒体の情報信号が記録された情報
信号記録面上に収束させるレーザ光収束手段と、上記円
盤状光記録媒体の情報信号記録面で反射された反射レー
ザ光を集光させる反射レーザ光集光手段と、この反射レ
ーザ光集光手段で集光された上記反射レーザ光の集光点
に位置するピンホールが形成された遮光部材と、この遮
光部材のピンホールを通過した上記反射レーザ光を平行
光に変換する平行光変換手段と、この平行光変換手段で
平行光に変換された上記反射レーザ光が形成するレーザ
スポットの位置を光学的に検出するスポット位置検出手
段とを備えて構成される。

【００１８】さらにまた、この発明に係るディスク傾き
測定器は、レーザ光源と、このレーザ光源から出射され
たレーザ光を円盤状光記録媒体の情報信号が記録された
情報信号記録面上に収束させるレーザ光収束手段と、上
記円盤状光記録媒体の情報信号記録面で反射された反射
レーザ光を集光させる反射レーザ光集光手段と、この反
射レーザ光集光手段で集光された上記反射レーザ光の一
部を通過させるピンホールが形成された遮光部材と、こ
の遮光部材のピンホールを通過した上記反射レーザ光を
平行光に変換する平行光変換手段と、この平行光変換手
段で平行光に変換された上記反射レーザ光が形成するレ
ーザスポットの位置を光学的に検出するスポット位置検
出手段とを備えて構成される。

【００１９】以上のように構成されたこの発明に係るデ
ィスク傾き測定器によれば、レーザ光源から出射された
レーザ光は、レーザ光収束手段によって円盤状光記録媒
体の情報信号が記録された情報信号記録面上に集光さ
れ、またこの情報信号記録面によって反射される。反射
レーザ光は、反射レーザ光集光手段によってスポット位
置検出手段上に集光される。したがって、ディスク傾き
測定器によれば、このスポット位置検出手段によってレ
ーザスポットの位置による差動信号を検出して、円盤状
光記録媒体の傾きを測定する。

【００２０】反射レーザ光は、平行光変換手段によって
平行光化されることにより、安定した状態でスポット位
置検出手段へと入射される。したがって、ディスク傾き
測定器によれば、このスポット位置検出手段においてレ
ーザスポットの位置がより正確に検出されて、円盤状光
記録媒体の傾きを測定する。

【００２１】また、反射レーザ光は、反射レーザ光集光
手段の焦点位置に配設された遮光部材のピンホールを通
過することにより、円盤状光記録媒体の表面における反
射光や多層ディスクの異なる層における反射光等からな
る迷光成分が除去される。したがって、ディスク傾き測
定器によれば、円盤状光記録媒体の所望の層からの反射
レーザ光を正確に検出して傾きを測定する。

【００２２】

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて、添付した図面に基づいて詳細に説明する。図１及
び図２は、この発明の第１の実施の形態として示すディ
スク傾き測定器１の基本構成及び光ディスク７の傾き測
定動作を説明する模式構造図である。このディスク傾き
測定器１は、光ディスク７の傾きを測定するための測定
光であるレーザ光を出射する光源としてのレーザダイオ
ード（ＬＤ）２と、このレーザダイオード（ＬＤ）２の
光軸上に配置されたコリメータレンズ３と、ビームスプ
リッタ４と、集光レンズ５と、４分割ディテクタ６とを
備える。

【００２３】ディスク傾き測定器１は、レーザダイオー
ド（ＬＤ）２と、コリメータレンズ３と、ビームスプリ
ッタ４と、集光レンズ５とによって光ディスク７に対す
るレーザ光の入射光学系を構成する。また、ディスク傾
き測定器１は、集光レンズ５と、ビームスプリッタ４
と、４分割ディテクタ６とによって、光ディスク７によ
って反射されたレーザ光の反射光学系を構成する。な
お、このディスク傾き測定器１においては、測定光を出
射するレーザ光源としてレーザダイオード（ＬＤ）２を
用いたが、例えばガスレーザや個体レーザ等のレーザ光
源を用いてもよいことは勿論である。

【００２４】コリメータレンズ３は、レーザダイオード
（ＬＤ）２から出射された入射レーザ光Ｌａを平行光に
変換してビームスプリッタ４へ入射させる。ビームスプ
リッタ４は、レーザダイオード（ＬＤ）２から出射され
た入射レーザ光Ｌａと、光ディスク７の情報信号記録面
によって反射された反射レーザ光Ｌｂとを分光する。す
なわち、ビームスプリッタ４は、集光レンズ５の光軸上
に配置され、側方から入射された入射レーザ光Ｌａを９
０度屈折して集光レンズ５へと導くとともに、後述する
ように光ディスク７から反射された反射レーザ光Ｌｂを
集光レンズ５の光軸方向に通過させて４分割ディテクタ
６へと導く。

【００２５】集光レンズ５は、レーザダイオード（Ｌ
Ｄ）２から出射された入射レーザ光Ｌａを光ディスク７
の情報信号記録面上に収束させるレーザ光収束手段、光
ディスク７の情報信号記録面で反射された反射レーザ光
Ｌｂを集光させる反射レーザ光集光手段、並びに反射レ
ーザ光Ｌｂを平行光に変換する平行光変換手段とを構成
している。すなわち、集光レンズ５は、図示しないディ
スク保持駆動機構に保持されて回転駆動される光ディス
ク７の一方主面に対向位置されている。また、集光レン
ズ５は、図示しない調整駆動機構によってフォーカス方
向に対して移動自在とされ、入射レーザ光Ｌａを光ディ
スク７の情報信号が記録された情報信号記録面に集光さ
せる。

【００２６】４分割ディテクタ６は、その受光検出面が
集光レンズ５の光軸と直交するようにして配置された光
電変換素子によって構成され、その受光検出面が４つの
領域６ａ乃至６ｄに４分割されている。このように４つ
の領域６ａ乃至６ｄ分割された光電変換素子は、光ディ
スク７の径方向に対応するラジアル方向Ｒのレーザスポ
ットの位置と光ディスク７の記録トラックに対応するタ
ンジェンシャル方向Ｔのレーザスポットの位置とを検出
できるように分割構成されている。

【００２７】レーザダイオード（ＬＤ）２から出射され
た入射レーザ光Ｌａは、コリメータレンズ３で平行光に
変換され、ビームスプリッタ４を介して集光レンズ５へ
導かれる。入射レーザ光Ｌａは、この集光レンズ５で集
光されて光ディスク７の情報信号記録面にスポット照射
される。入射レーザ光Ｌａは、この光ディスク７の情報
信号記録面で反射されて、反射レーザ光Ｌｂとして集光
レンズ５へと入射される。反射レーザ光Ｌｂは、この集
光レンズ５によって集光され、さらにビームスプリッタ
４を通過して４分割ディテクタ６へと入射される。

【００２８】以上のように構成されたディスク傾き測定
器１について、図２を参照して光ディスク７の傾き量の
測定操作について説明する。図２は、鎖線で示す傾きの
無い光ディスク７に対して実線で示す傾きのある光ディ
スク７に照射されたレーザ光の状態を示している。上述
した入射光学系を介して光ディスク７の情報信号記録面
で反射された反射レーザ光Ｌｂは、図３に示すように、
この光ディスク７が傾きの無い状態（ディスク傾き角が
０度）ではその主光線が中心に位置して４分割ディテク
タ６に受光されている。これに対して、反射レーザ光Ｌ
ｂは、光ディスク７が傾きを有している場合、図４或い
は図５に示すように、その主光線が傾きに対応して中心
からずれて４分割ディテクタ６に受光される。

【００２９】図３乃至図５は、４分割ディテクタ６に入
射された反射レーザ光Ｌｂの各領域６ａ乃至６ｄにおけ
る受光分布及びその光量分布を示した図である。反射レ
ーザ光Ｌｂは、光ディスク７が傾きを有しない場合、図
３に示すように、４分割ディテクタ６の各領域６ａ乃至
６ｄに均等な中心付近に分布する。したがって、４分割
ディテクタ６からは、各領域６ａ乃至６ｄから均等な出
力が送出される。

【００３０】これに対して、反射レーザ光Ｌｂは、光デ
ィスク７にタンジェンシャル方向Ｔの傾きを有している
場合、図４に示すように、４分割ディテクタ６の領域６
ａ、６ｄに偏った分布となる。したがって、４分割ディ
テクタ６からは、これら２つの領域６ａ、６ｄから大き
な出力が送出されるとともに、他の２つの領域６ｂ、６
ｃから小さな出力が送出される。また、反射レーザ光Ｌ
ｂは、光ディスク７がラジアル方向Ｒに傾きを有してい
る場合、図５に示すように、４分割ディテクタ６の領域
６ｃ、６ｄに偏った分布となる。したがって、４分割デ
ィテクタ６からは、これら２つの領域６ｃ、６ｄから大
きな出力が送出されるとともに、他の２つの領域６ａ、
６ｂから小さな出力が送出される。

【００３１】ディスク傾き測定器１は、上述した４分割
ディテクタ６の各領域６ａ乃至６ｄにおける反射レーザ
光Ｌｂの光量分布に基づいて、光ディスク７の傾き量が
検出される。

【００３２】次に、上述したディスク傾き測定器１によ
る光ディスク７の傾き量の測定操作について図６を参照
して説明する。ディスク傾き測定器１は、反射レーザ光
Ｌｂに基づく４分割ディテクタ６の各領域６ａ乃至６ｄ
からそれぞれＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの出力を送出する。光ディ
スク７は、そのタンジェンシャル方向Ｔの傾き量に対応
した差動信号が｛（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）｝の演算式で
求められる。また、光ディスク７は、そのラジアル方向
Ｒの傾き量に対応した差動信号が｛（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋
Ｃ）｝の演算式で求められる。さらに、光ディスク７の
傾き量は、これらの演算結果を４分割ディテクタ６の各
領域６ａ乃至６ｄからのそれぞれの出力の総和である
（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）で除算して正規化すると、その検出
精度が高められる。

【００３３】図７は、上述したディスク傾き測定器１に
よって検出された光ディスク７の傾き量の演算結果を示
した図であり、縦軸に出力を、横軸に傾き量（度）を示
している。同図から明らかなように、ディスク傾き測定
器１は、傾き量０度を中心に負のピークから正のピーク
までがリニアリティのある測定範囲となり、光ディスク
７の傾き量に比例した出力が得られる。

【００３４】光ディスク７は、入射された入射レーザ光
Ｌａを情報信号記録面で反射するとともに、その一部を
表面で反射させることから、反射レーザ光Ｌｂ中に表面
での反射光の迷光成分を含ませる。この反射レーザ光Ｌ
ｂ中の迷光成分は、光ディスク７の精密な傾き量の測定
を阻害する。図８及び図９によってこの発明の第２の実
施の形態として示したディスク傾き測定器１１は、この
反射レーザ光Ｌｂ中の迷光成分を除去して光ディスク７
の傾き量をより精密に測定するように構成されている。
ディスク傾き測定器１１は、上述した第１の実施の形態
として示したディスク傾き測定器１と基本的な構成をほ
ぼ同様とするが、反射レーザ光Ｌｂ中の迷光成分を除去
するための構成として第２の集光レンズ１６、遮光部材
１７及び第２のコリメータレンズ１８を備えたことを特
徴としている。

【００３５】すなわち、ディスク傾き測定器１１は、レ
ーザ光源としてのレーザダイオード（ＬＤ）１２と、こ
のレーザダイオード（ＬＤ）１２から出射されたレーザ
光を平行光へ変換する第１のコリメータレンズ１３と、
ビームスプリッタ１４と、光ディスク７に対向配置され
た第１の集光レンズ１５と、第２の集光レンズ１６と、
遮光部材１７と、第２のコリメータレンズ１８と、スポ
ット位置検出手段を構成する４分割ディテクタ１９とを
備える。

【００３６】ディスク傾き測定器１１は、レーザダイオ
ード（ＬＤ）１２と、コリメータレンズ１３と、ビーム
スプリッタ１４と、第１の集光レンズ１５とによって光
ディスク７に対するレーザ光の入射光学系を構成してい
る。また、ディスク傾き測定器１１は、第１の集光レン
ズ１５と、ビームスプリッタ１４とともに、遮光部材１
７と、第２の集光レンズ１６と、第２のコリメータレン
ズ１８と、４分割ディテクタ１９とによって光ディスク
７によって反射されたレーザ光の反射光学系を構成して
いる。

【００３７】コリメータレンズ１３は、レーザダイオー
ド（ＬＤ）１２から出射された入射レーザ光Ｌａを平行
光に変換してビームスプリッタ１４へと入射させる。ビ
ームスプリッタ１４は、第１の集光レンズ１５の光軸上
に配置され、レーザダイオード（ＬＤ）１２から出射さ
れた入射レーザ光Ｌａが側方から入射されるとともにこ
の入射レーザ光Ｌａを９０度屈折して第１の集光レンズ
１５へと導く。また、ビームスプリッタ１４は、光ディ
スク７の情報信号記録面によって反射され第１の集光レ
ンズ１５を介して入射された反射レーザ光Ｌｂを第２の
集光レンズ１６へと導く。このように、ビームスプリッ
タ１４は、入射レーザ光Ｌａと反射レーザ光Ｌｂとを分
光する作用を奏する。

【００３８】第１の集光レンズ１５は、レーザダイオー
ド（ＬＤ）１２から出射された入射レーザ光Ｌａを光デ
ィスク７の情報信号記録面上に収束させるレーザ光収束
手段を構成する。この第１の集光レンズ１５は、図示し
ないディスク保持駆動機構に保持されて回転駆動される
光ディスク７の一方主面に対向位置されるとともに、図
示しない調整駆動機構によってフォーカス方向に対して
移動自在とされる。第１の集光レンズ１５は、フォーカ
ス方向に調整動作されて入射レーザ光Ｌａを光ディスク
７の情報信号が記録された情報信号記録面に収束させ
る。

【００３９】第２の集光レンズ１６は、ビームスプリッ
タ１４を挟んで第１の集光レンズ１５の光軸上に配置さ
れている。この第２の集光レンズ１６も、図示しない調
整駆動機構によってフォーカス方向に対して移動自在と
されている。第２の集光レンズ１６は、フォーカス方向
に調整動作されてビームスプリッタ１４を通過した反射
レーザ光Ｌｂを後述するように遮光部材１７のピンホー
ル１７ａに集光させる反射レーザ光集光手段を構成す
る。

【００４０】遮光部材１７は、反射光学系内に、第２の
集光レンズ１６の光軸と直交するようにして配置されて
おり、その中心位置にピンホール１７ａが設けられてい
る。この遮光部材１７は、第２の集光レンズ１６を透過
する反射レーザ光Ｌｂがピンホール１７ａに収束するよ
うにして反射光学系内に配置される。なお、反射レーザ
光Ｌｂは、上述したように第２の集光レンズ１６がフォ
ーカス方向に調整動作されることによってピンホール１
７ａに集光されるが、この第２の集光レンズ１６を固定
配置するとともに遮光部材１７を調整駆動機構により光
軸方向に調整動作することによってピンホール１７ａに
集光されるようにしてもよい。

【００４１】第２のコリメータレンズ１８は、遮光部材
１７と４分割ディテクタ１９との間に配置されている。
この第２のコリメータレンズ１８は、遮光部材１７のピ
ンホール１７ａを通過した反射レーザ光Ｌｂを平行光化
して４分割ディテクタ１９へと導く平行光変換手段を構
成する。

【００４２】４分割ディテクタ１９は、その受光検出面
が第２の集光レンズ１６の光軸と直交するようにして配
置された光電変換素子によって構成されるとともに、こ
の受光検出面が４つの領域１９ａ乃至１９ｄに分割され
ている。このように４つの領域１９ａ乃至１９ｄに分割
された光電変換素子は、光ディスク７の径方向に対応す
るラジアル方向Ｒのレーザスポットの位置と、光ディス
ク７の記録トラックの方向に対応するトラフィック方向
Ｔのレーザスポットの位置とを検出できるよう分割構成
されている。

【００４３】レーザダイオード（ＬＤ）１２から出射さ
れた入射レーザ光Ｌａは、第１のコリメータレンズ１３
に入射されて平行光に変換され、ビームスプリッタ１４
で屈折されて第１の集光レンズ１５へと入射される。入
射レーザ光Ｌａは、この第１の集光レンズ１５で集光さ
れて光ディスク７の情報信号記録面にスポット照射され
る。入射レーザ光Ｌａは、この光ディスク７の情報信号
記録面で反射され、反射レーザ光Ｌｂとして再び第１の
集光レンズ１５へと入射される。この反射レーザ光Ｌｂ
は、さらにビームスプリッタ１４を通過して第２の集光
レンズ１６へと入射されて集光される。

【００４４】反射レーザ光Ｌｂは、この第２の集光レン
ズ１６によって遮光部材１７のピンホール１７ａに集光
されてこれを通過する。反射レーザ光Ｌｂは、このピン
ホール１７ａから第２のコリメータレンズ１８に入射さ
れて平行光化され、さらに４分割ディテクタ１９へと入
射される。

【００４５】反射レーザ光Ｌｂには、図９に示すよう
に、第１の集光レンズ１５を介して光ディスク７に入射
された入射レーザ光Ｌａがその情報信号記録面７ａで反
射されてなる主反射レーザ光成分Ｌｂｍとともに、入射
レーザ光Ｌａの一部がその表面７ｂでも反射されてなる
迷光反射レーザ光成分Ｌｂｓが含まれている。この迷光
反射レーザ光成分Ｌｂｓは、４分割ディテクタ１９で検
出される反射レーザ光Ｌｂの状態に影響を与えて光ディ
スク７の傾き測定の精度を低下させる。

【００４６】ディスク傾き測定器１１は、図９に示すよ
うに、遮光部材１７のピンホール１７ａによって反射レ
ーザ光Ｌｂの中から迷光反射レーザ光成分Ｌｂｓが除去
されて４分割ディテクタ１９に主反射レーザ光成分Ｌｂ
ｍが照射される。すなわち、第１の集光レンズ１５を介
して光ディスク７に入射された入射レーザ光Ｌａは、情
報信号記録面７ａに収束され、表面７ｂには収束されな
い。

【００４７】したがって、光ディスク７によって反射さ
れた反射レーザ光Ｌｂは、上述したように第１の集光レ
ンズ１５、ビームスプリッタ１４を介して第２の集光レ
ンズ１６によって遮光部材１７のピンホール１７ａ位置
に収束される。この場合、反射レーザ光Ｌｂは、その主
反射レーザ光成分Ｌｂｍがピンホール１７ａ位置に収束
されるが、その迷光反射レーザ光成分Ｌｂｓがピンホー
ル１７ａ位置に収束され無い。したがって、反射レーザ
光Ｌｂは、その主反射レーザ光成分Ｌｂｍが遮光部材１
７のピンホール１７ａを通過して第２のコリメータレン
ズ１８に入射される。また、反射レーザ光Ｌｂは、その
迷光反射レーザ光成分Ｌｂｓが遮光部材１７によって遮
光されることによって除去される。

【００４８】このようにして迷光反射レーザ光成分Ｌｂ
ｓが除去された反射レーザ光Ｌｂは、第２のコリメータ
レンズ１８によって平行光化された状態で４分割ディテ
クタ１９へと入射される。４分割ディテクタ１９は、光
ディスク７の傾きに応じて各領域１９ａ乃至１９ｄに入
射される光量の差異に基づいて出力を送出する。ディス
ク傾き測定器１１は、この４分割ディテクタ１９からの
出力によって上述した光ディスク７の傾き量の検出を行
う。

【００４９】図１０及び図１１は、上述したディスク傾
き測定器１１によって、ＤＶＤのように入射レーザ光Ｌ
ａを反射する情報信号記録面が２層に形成された多層光
ディスク２０の各情報信号記録面２０ａ、２０ｂの傾き
量を測定する場合を示した図である。多層光ディスク２
０は、照射された入射レーザ光Ｌａを第１の情報信号記
録面２０ａ及び第２の情報信号記録面２０ｂによってそ
れぞれ反射し、第１の反射レーザ光Ｌｂａと第２の反射
レーザ光Ｌｂｂとを送出する。

【００５０】ディスク傾き測定器１１は、図１１に示す
ように、第１の集光レンズ１５が図示しない調整駆動機
構によって調整動作されることにより、入射レーザ光Ｌ
ａを第１の情報信号記録面２０ａ或いは第２の情報信号
記録面２０ｂのいずれか一方に収束させる。図１１
（ｃ）においては、入射レーザ光Ｌａが第１の情報信号
記録面２０ａに収束されており、この第１の情報信号記
録面２０ａからの第１の反射レーザ光Ｌｂａが４分割デ
ィテクタ１９によって検出される主反射レーザ光成分Ｌ
ｂｍを構成し、第２の情報信号記録面２０ｂからの第２
の反射レーザ光Ｌｂｂが迷光反射レーザ光成分Ｌｂｓを
構成することになる。

【００５１】また、図１１（ｂ）においては、入射レー
ザ光Ｌａが第２の情報信号記録面２０ｂに収束されてお
り、この第２の情報信号記録面２０ｂからの第２の反射
レーザ光Ｌｂｂが４分割ディテクタ１９によって検出さ
れる主反射レーザ光成分Ｌｂｍを構成し、第１の情報信
号記録面２０ａからの第１の反射レーザ光Ｌｂａが迷光
反射レーザ光成分Ｌｂｓを構成することになる。

【００５２】ディスク傾き測定器１１は、例えば図１０
に示すように、入射レーザ光Ｌａが第１の情報信号記録
面２０ａに収束された状態において、この第１の情報信
号記録面２０ａからの第１の反射レーザ光Ｌｂａを遮光
部材１７のピンホール１７から通過させて第２のコリメ
ータレンズ１８を介して４分割ディテクタ１９によって
検出する。また、ディスク傾き測定器１１は、多層光デ
ィスク２０の第２の情報信号記録面２０ｂからの第２の
反射レーザ光Ｌｂｂを遮光部材１７において除去する。
したがって、ディスク傾き測定器１１は、４分割ディテ
クタ１９の出力により、第１の情報信号記録面２０ａの
傾き量を測定する。

【００５３】ディスク傾き測定器１１は、第１の集光レ
ンズ１５を調整動作させて、図１１（ｂ）に示すよう
に、入射レーザ光Ｌａを多層光ディスク２０の第２の情
報信号記録面２０ｂに収束させることによって、この第
２の情報信号記録面２０ｂの傾き量を測定する。

【００５４】上述した反射光学系にピンホール１７ａを
有する遮光部材１７を配置し、ピンホール１７ａの作用
によって反射レーザ光Ｌｂから迷光反射レーザ光成分Ｌ
ｂｍを除去するようにしたディスク傾き測定器は、以下
に示すような各実施の形態に展開される。なお、以下の
各実施の形態の説明において、上述したディスク傾き測
定器１１と同等の部材については同一符号を付すことに
よってその詳細な説明を省略する。

【００５５】この発明の第３の実施の形態として図１２
に示したディスク傾き測定器２１は、上述したディスク
傾き測定器１１に対して、反射レーザ光Ｌｂを平行光化
する第２のコリメータレンズ１８を取り除き、ピンホー
ル１７を通過したこの反射レーザ光Ｌｂを直接４分割デ
ィテクタ１９に入射させるように構成したことを特徴と
している。したがって、４分割ディテクタ１９に入射さ
れる反射レーザ光Ｌｂは、いわゆる分散光となる。

【００５６】４分割ディテクタ１９に入射される反射レ
ーザ光Ｌｂは、各領域１９ａ乃至１９ｄにおける光量分
布が、平行光であっても分散光であってもその絶対量に
ほとんど変化が無く、換言すれば、反射レーザ光Ｌｂ
は、平行光に限定されるものではなく発散光であっても
よい。ディスク傾き測定器２１は、反射レーザ光Ｌｂが
大きく広がらない範囲で、ピンホール１７を有する遮光
部材１７と４分割ディテクタ１９との間隔が適当に設定
されている。

【００５７】したがって、ディスク傾き測定器２１は、
反射光学系中から第２のコリメータレンズ１８が削除さ
れることから、全体の光路長が短縮される。

【００５８】この発明の第４の実施の形態として図１３
に示したディスク傾き測定器３１は、上述したディスク
傾き測定器１１に対して、第１の集光レンズ１５をフォ
ーカスサーボする構成を備えたことを特徴としたもので
ある。すなわち、ディスク傾き測定器３１は、第１の集
光レンズ１５をフォーカス方向に駆動する駆動コイル６
２を設けるとともに、入射レーザ光Ｌａと反射レーザ光
Ｌｂとを分光する第１のビームスプリッタ１４と、フォ
ーカスサーボ光学系を構成する第２のビームスプリッタ
３３と、第３の集光レンズ３４と、マルチレンズ３５及
び焦点検出用ディテクタ３６とを備えている。

【００５９】第２のビームスプリッタ３３は、第１のビ
ームスプリッタ１４と第２の集光レンズ１６との間に位
置して第１の集光レンズ１５の光軸上に配置されてい
る。この第２のビームスプリッタ３３は、光ディスク７
から反射された反射レーザ光Ｌｂから、フォーカスサー
ボ用の反射レーザ光Ｌｂｋを側方へと分光する。第３の
集光レンズ３４は、第２のビームスプリッタ３３の側方
に同一光軸上に位置して配置されている。この第３の集
光レンズ３４は、第２のビームスプリッタ３３によって
分光されたフォーカスサーボ用の反射レーザ光Ｌｂｋを
集光してマルチレンズ３５へと入射する。マルチレンズ
３５は、第３の集光レンズ３４から入射されたフォーカ
スサーボ用の反射レーザ光Ｌｂｋを整形して焦点検出用
ディテクタ３６へと入射する。

【００６０】以上のように構成されたディスク傾き測定
器３１は、レーザダイオード１２から出射された入射レ
ーザ光Ｌａが第１のコリメータレンズ１３に入射されて
平行光に変換され、ビームスプリッタ１４で屈折されて
第１の集光レンズ１５を介して光ディスク７の情報信号
記録面にスポット照射される。光ディスク７によって反
射された反射レーザ光Ｌｂは、上述した反射光学系を介
して４分割ディテクタ１９に入射されて光ディスク７の
傾きが検出される。

【００６１】ディスク傾き測定器３１は、光ディスク７
の任意の位置における傾き量を検出するために、上述し
たフォーカスサーボ光学系の出力によって光ディスク７
に対する入射レーザ光Ｌａが制御される。反射レーザ光
Ｌｂには、上述したようにフォーカスサーボ用の反射レ
ーザ光Ｌｂｋが含まれている。この反射レーザ光Ｌｂｋ
は、第２のビームスプリッタ３３によってフォーカスサ
ーボ光学系へと分光され、焦点検出用ディテクタ３６に
よって第１の集光レンズ１５の焦点誤差が検出される。

【００６２】したがって、ディスク傾き測定器３１は、
この焦点検出用ディテクタ３６から出力される焦点誤差
信号に基づいて第１の集光レンズ１５のフォーカスサー
ボが行われる。なお、この焦点誤差検出方法としては、
例えば非点収差法、作動同心円法、或いはナイフエッジ
法等の適宜の方法が採用される。

【００６３】この発明の第５の実施の形態として図１４
に示したディスク傾き測定器４１は、上述したディスク
傾き測定器３１に対して、反射レーザ光Ｌｂを平行光化
する第２のコリメータレンズ１８を取り除き、ピンホー
ル１７を通過したこの反射レーザ光Ｌｂを直接４分割デ
ィテクタ１９に入射させるように構成したことを特徴と
している。したがって、４分割ディテクタ１９に入射さ
れる反射レーザ光Ｌｂは、いわゆる分散光となる。

【００６４】ディスク傾き測定器４１は、反射光学系中
から第２のコリメータレンズ１８が削除されることか
ら、全体の光路長が短縮されるとともに、フォーカスサ
ーボ光学系によって光ディスク７の任意の位置における
傾き量の検出が可能となる。

【００６５】この発明の第６の実施の形態として図１５
に示したディスク傾き測定器５１は、上述したディスク
傾き測定器３１に対して、フォーカスサーボ光学系を４
分割ディテクタ１９の直前に配置した構成に特徴を有し
ている。すなわち、ディスク傾き測定器５１は、第１の
ビームスプリッタ１４によって分光される反射レーザ光
Ｌｂの反射光学系が、第２の集光レンズ１６、遮光部材
１７、第２のコリメータレンズ１８の順序で配置され、
この第２のコリメータレンズ１８の後段に第２のビーム
スプリッタ３３が配置されている。ディスク傾き測定器
５１は、この第２のビームスプリッタ３３の後段に、第
２のコリメータレンズ１８と光軸を一致させて４分割デ
ィテクタ１９が配置されるとともに、フォーカスサーボ
光学系が直交して配置されている。

【００６６】ディスク傾き測定器５１は、このように構
成したことにより、遮光部材１７のピンホール１７ａに
よって反射レーザ光Ｌｂに含まれる迷光反射レーザ光成
分Ｌｂｓが除去された主反射レーザ光成分Ｌｂｍが第２
のビームスプリッタ３３に入射される。したがって、デ
ィスク傾き測定器５１は、迷光反射レーザ光成分Ｌｂｓ
の影響を受けることなく第１の集光レンズ１５のフォー
カスサーボを精密に行うことができる。

【００６７】図１６は、上述したように第１の集光レン
ズ１５がフォーカシング方向に調整動作されるように構
成されたディスク傾き測定器に搭載される電磁アクチュ
エータ６１を示す一部破断斜視図である。電磁アクチュ
エータ６１は、第１の集光レンズ１５と、コイル６２
と、磁石６３と、ヨーク６４と、板バネ６５と、上下一
対のカバー６６、６７とから構成されている。第１の集
光レンズ１５は、詳細を省略するが、アルミニウム等の
金属またはエンジニアプラスチック、セラミック等の絶
縁物で作られている円筒状のレンズボビンの内部に固定
されている。

【００６８】このレンズボビンには、その外周部に巻線
が施されたコイル６２が嵌着されている。磁石６３は、
コイル６２の外径よりもやや大径のリング状を呈してお
り、内周側がＮ極、外周側がＳ極とされてコイル６２の
外周部に配置されている。ヨーク６４も、強磁性体によ
ってリング状を呈して形成され、その内周部に固定部６
４ａを介して磁石６３が接合されている。換言すれば、
電磁アクチュエータ６１は、第１の集光レンズ１５を中
心として、コイル６２と、磁石６３と、ヨーク６４とが
同心円状に配置されている。

【００６９】カバー６６、６７は、鉄等の強磁性体によ
り、それぞれその中心部にレーザ光のガイド穴６６ａ、
６７ａが設けられたリング状を呈して形成されている。
これらカバー６６、６７には、相対する側面部に厚み方
向のフランジ部が形成されている。カバー６６、６７
は、これらフランジ部を互いに突き合わせて図示しない
ねじによって組み合わせた状態において、上述した各部
材を収納する空間部を構成する。また、カバー６６、６
７は、磁石６３のリターン用のヨークとしても作用す
る。

【００７０】板バネ６５は、全体が略リング状を呈して
おり、第１の集光レンズ１５の外径とほぼ等しい円弧状
の切り込みによって円周方向の一部が外周部と内周部と
に区割りされている。この板バネ６５は、その内周部が
上方へと折曲されている。板バネ６５は、上カバー６６
と磁石６３との間に介挿配置されることにより、折曲さ
れた内周部によって第１の集光レンズ１５を下カバー６
７側へと付勢する。

【００７１】以上のように構成された電磁アクチュエー
タ６１には、上述したフォーカスサーボ光学系の焦点検
出用ディテクタ３６によって検出したフォーカスサーボ
信号に基づいて制御信号が印加される。電磁アクチュエ
ータ６１は、このコイル６２への通電によって第１の集
光レンズ１５に対するフォーカシング方向への磁気的駆
動力が発生してこの第１の集光レンズ１５が調整駆動さ
れる。

【００７２】図１７は、第１の集光レンズ１５をフォー
カスサーボする他の電磁アクチュエータ７１を示した要
部縦断面図である。この電磁アクチュエータ７１は、基
本的な構成を上述した電磁アクチュエータ６１と同様と
するが、第１の集光レンズ１５を上下一対の平行バネ７
８、７９によって保持した構成に特徴を有している。す
なわち、第１の集光レンズ１５は、やや長軸とされた筒
状のレンズホルダ７２の内部に固定されている。このレ
ンズホルダ７２には、その外周部に巻線が施さコイル７
３が嵌着されている。

【００７３】電磁アクチュエータ７１には、このコイル
７３の外周部に位置して筒状の磁石７４を内周部に固定
した筒状のヨーク７５が配置されている。レンズホルダ
７２は、その上下部分７２ａ、７２ｂがそれぞれ外方に
露呈されて上下カバー７６、７７の内部に移動自在に組
み合わされている。また、レンズホルダ７２は、上下一
対の板ばね７８、７９によって保持されている。

【００７４】これら板ばね７８、７９は、上下カバー７
６、７７に一体に形成された図示しない固定部に一端部
を片持ち支持されており、自由端部にホルダ支持部７８
ａ、７８ｂがそれぞれ一体に形成されている。ホルダ支
持部７８ａ、７８ｂは、レンズホルダ７２の上下部分７
２ａ、７２ｂに嵌合する複数の保持片が一体に切り起こ
し形成されている。

【００７５】以上のように構成された電磁アクチュエー
タ７１は、フォーカスサーボ信号に基づいて制御信号が
印加されてコイル７３へ通電されると、このコイル７３
と磁石７４、ヨーク７５との間に第１の集光レンズ１５
をフォーカシング方向への磁気的駆動力が発生する。レ
ンズホルダ７２は、上述したように上下部分７２ａ、７
２ｂを板ばね７８、７９によって弾持されていることに
よって、上下カバー７６、７７内を移動動作する。電磁
アクチュエータ７１は、これによって第１の集光レンズ
１５のフォーカス制御が行われる。

【００７６】

【発明の効果】以上説明したようにこの発明に係るディ
スク傾き測定器は、レーザ光収束手段（集光レンズ）を
用いてレーザ光を円盤状記録媒体の情報信号記録面に集
光させて入射し、その反射レーザ光を平行光に変換或い
は拡散光の状態で反射レーザ光収束手段（集光レンズ）
によって集光し、さらにこの反射レーザ光が形成するレ
ーザスポットの位置をスポット位置検出手段で検出する
ようにしたことにより、極めて簡易な構成によって円盤
状記録媒体の傾きの検出が可能となる。

【００７７】また、この発明に係るディスク傾き測定器
は、円盤状記録媒体の情報信号記録面で反射され反射レ
ーザ光収束手段によって集光される反射レーザ光の集光
点にピンホールを有する遮光部材を配置したことによ
り、この反射レーザ光から円盤状記録媒体の表面での反
射光成分や情報信号記録面が多層に形成された円盤状記
録媒体の異なる層からの反射光成分からなる迷光が確実
に除去され、円盤状記録媒体の傾きが極めて高精度に測
定される。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明に係るディスク傾き測定器の第１の実
施の形態を示す構造模式図である。

【図２】同ディスク傾き測定器において、光ディスクの
傾き測定動作を説明する構造模式図である。

【図３】同ディスク傾き測定器において、光ディスクの
傾きが無い状態での４分割ディテクタ上の光量分布を示
す説明図である。

【図４】同ディスク傾き測定器において、タンジェンシ
ャル方向の傾きがある光ディスの４分割ディテクタ上の
光量分布を示す説明図である。

【図５】同ディスク傾き測定器において、ラジアル方向
の傾きがある光ディスの４分割ディテクタ上の光量分布
を示す説明図である。

【図６】同ディスク傾き測定器の４分割ディテクタによ
って検出された出力から光ディスクの傾きを測定するた
めの演算方法の説明図である。

【図７】同ディスク傾き測定器によって検出された光デ
ィスクの傾き量の演算結果を示したグラフである。

【図８】この発明に係るディスク傾き測定器の第２の実
施の形態を示し、反射レーザ光から光ディスクの表面で
の反射レーザ光である迷光反射レーザ光成分を除去する
ようにしたディスク傾き測定器の構造模式図である。

【図９】同ディスク傾き測定器において、反射レーザ光
から迷光反射レーザ光成分を除去する状態を示した構造
模式図である。

【図１０】この発明に係るディスク傾き測定器の第３の
実施の形態を示し、多数の情報信号記録面を有する多層
光ディスクの各情報信号記録面の傾きを測定可能とした
ディスク傾き測定器の構造模式図である。

【図１１】多層ディスクの模式構造図である。

【図１２】この発明に係るディスク傾き測定器の第４の
実施の形態を示し、分散レーザ光により光ディスクの傾
きを測定するディスク傾き測定器の構造模式図である。

【図１３】この発明に係るディスク傾き測定器の第５の
実施の形態を示し、集光レンズのフォーカスサーボを可
能とするディスク傾き測定器の構造模式図である。

【図１４】この発明に係るディスク傾き測定器の第６の
実施の形態を示し、集光レンズのフォーカスサーボを可
能とする分散レーザ光により光ディスクの傾きを測定す
る他のディスク傾き測定器の構造模式図である。

【図１５】この発明に係るディスク傾き測定器の第７の
実施の形態を示し、集光レンズのフォーカスサーボを可
能とする他のディスク傾き測定器の構造模式図である。

【図１６】この発明に係るディスク傾き測定器に搭載さ
れる集光レンズをフォーカスサーボする電磁アクチュエ
ータの構成を示す一部破断斜視図である。

【図１７】同他の電磁アクチュエータを示す要部縦断面
図である。

【図１８】従来のディスク傾き測定器の模式構造図であ
る。

【符号の説明】

１，１１，２１，３１，４１，５１ ディスク傾き測定
器、２，１２ レーザダイオード（レーザ光源）、３，
１３，１８ コリメータレンズ、４，１４ ビームスプ
リッタ（第１のビームスプリッタ）、３３ ビームスプ
リッタ（第２のビームスプリッタ）、５，１５ 集光レ
ンズ（レーザ光収束手段、第１の集光レンズ）、１６
集光レンズ（第２の集光レンズ）、６，１９ ４分割デ
ィテクタ（スポット位置検出手段）、７ 光ディスク
（円盤状記録媒体）、２０ 多層光ディスク（円盤状記
録媒体）、１７ 遮光部材、１７ａ ピンホール、Ｌａ
入射レーザ光、Ｌｂ 反射レーザ光 、Ｌｂｍ 反射
レーザ光の主反射レーザ光成分、Ｌｂｓ 反射レーザ光
の迷光反射レーザ光成分

Claims (18)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 レーザ光源と、 このレーザ光源から出射されたレーザ光を円盤状光記録
   媒体の情報信号が記録された情報信号記録面上に収束さ
   せるレーザ光収束手段と、 上記円盤状光記録媒体の情報信号記録面で反射された反
   射レーザ光を集光させる反射レーザ光集光手段と、 この反射レーザ光集光手段で集光された上記反射レーザ
   光が形成するレーザスポットの位置を光学的に検出する
   スポット位置検出手段とを有することを特徴とする円盤
   状光記録媒体の傾き測定装置。
2. 【請求項２】 上記スポット位置検出手段は、多分割さ
   れた光電変換素子からなることを特徴とする請求項１記
   載の円盤状光記録媒体の傾き測定装置。
3. 【請求項３】 上記光電変換素子は、上記円盤状光記録
   媒体の径方向に対応する方向のレーザスポットの位置
   と、上記円盤状光記録媒体のトラック方向に対応する方
   向のレーザスポットの位置とをそれぞれ検出するように
   分割されていることを特徴とする請求項２記載の円盤状
   光記録媒体の傾き測定装置。
4. 【請求項４】 レーザ光源と、 このレーザ光源から出射されたレーザ光を上記円盤状光
   記録媒体の情報信号が記録された情報信号記録面上に収
   束させるレーザ光収束手段と、 上記円盤状光記録媒体の情報信号記録面で反射された反
   射レーザ光を平行光に変換する平行光変換手段と、 この平行光変換手段で平行光に変換された上記反射レー
   ザ光が形成するレーザスポットの位置を光学的に検出す
   るスポット位置検出手段とを有することを特徴とする円
   盤状光記録媒体の傾き測定装置。
5. 【請求項５】 上記スポット位置検出手段は、多分割さ
   れた光電変換素子からなることを特徴とする請求項４記
   載の円盤状光記録媒体の傾き測定装置。
6. 【請求項６】 上記光電変換素子は、上記円盤状光記録
   媒体の径方向に対応する方向のレーザスポットの位置
   と、上記円盤状光記録媒体のトラック方向に対応する方
   向のレーザスポットの位置とを検出するように分割され
   ていることを特徴とする請求項５記載の円盤状光記録媒
   体の傾き測定装置。
7. 【請求項７】 レーザ光源と、 このレーザ光源から出射されたレーザ光を円盤状光記録
   媒体の情報信号が記録された情報信号記録面上に収束さ
   せるレーザ光収束手段と、 上記円盤状光記録媒体の情報信号記録面で反射された反
   射レーザ光を集光させる反射レーザ光集光手段と、 この反射レーザ光集光手段で集光された上記反射レーザ
   光の集光点に位置するピンホールが形成された遮光部材
   と、 この遮光部材のピンホールを通過した上記反射レーザ光
   を平行光に変換する平行光変換手段と、 この平行光変換手段で平行光に変換された上記反射レー
   ザ光が形成するレーザスポットの位置を光学的に検出す
   るスポット位置検出手段とを有することを特徴とする円
   盤状光記録媒体の傾き測定装置。
8. 【請求項８】 上記スポット位置検出手段は、多分割さ
   れた光電変換素子からなることを特徴とする請求項７記
   載の円盤状光記録媒体の傾き測定装置。
9. 【請求項９】 上記光電変換素子は、上記円盤状光記録
   媒体の径方向に対応する方向のレーザスポットの位置
   と、上記円盤状光記録媒体のトラック方向に対応する方
   向のレーザスポットの位置とを検出するように分割され
   ていることを特徴とする請求項８記載の円盤状光記録媒
   体の傾き測定装置。
10. 【請求項１０】 前記レーザ光収束手段は、フォーカス
    サーボ制御手段によってレーザ光源から出射されたレー
    ザ光が上記円盤状光記録媒体の情報信号記録面上に収束
    するようにフォーカスサーボ制御されることを特徴とす
    る請求項７記載の円盤状光記録媒体の傾き測定装置。
11. 【請求項１１】 レーザ光源と、このレーザ光源から出
    射されたレーザ光を円盤状光記録媒体の情報信号が記録
    された情報信号記録面上に収束させるレーザ光収束手段
    と、 上記円盤状光記録媒体の情報信号記録面で反射された反
    射レーザ光を集光させる反射レーザ光集光手段と、 この反射レーザ光集光手段で集光された上記反射レーザ
    光の一部を通過させるピンホールが形成された遮光部材
    と、 この遮光部材のピンホールを通過した上記反射レーザ光
    を平行光に変換する平行光変換手段と、 この平行光変換手段で平行光に変換された上記反射レー
    ザ光が形成するレーザスポットの位置を光学的に検出す
    るスポット位置検出手段とを有することを特徴とする円
    盤状光記録媒体の傾き測定装置。
12. 【請求項１２】 上記スポット位置検出手段は、多分割
    された光電変換素子からなることを特徴とする請求項１
    １記載の円盤状光記録媒体の傾き測定装置。
13. 【請求項１３】 上記光電変換素子は、上記円盤状光記
    録媒体の径方向に対応する方向のレーザスポットの位置
    と、上記円盤状光記録媒体のトラック方向に対応する方
    向のレーザスポットの位置とを検出するように分割され
    ていることを特徴とする請求項１２記載の円盤状光記録
    媒体の傾き測定装置。
14. 【請求項１４】 上記レーザ光収束手段は、フォーカス
    サーボ制御手段によってレーザ光源から出射されたレー
    ザ光が上記円盤状光記録媒体の情報信号記録面上に収束
    するようにフォーカスサーボ制御されることを特徴とす
    る請求項１１記載の円盤状光記録媒体の傾き測定装置。
15. 【請求項１５】 レーザ光源と、 このレーザ光源から出射されたレーザ光を円盤状光記録
    媒体の情報信号が記録された情報信号記録面上に収束さ
    せるレーザ光収束手段と、 上記円盤状光記録媒体の情報信号記録面で反射された反
    射レーザ光を集光させる反射レーザ光集光手段と、 この反射レーザ光集光手段で集光された上記反射レーザ
    光の一部を通過させるピンホールが形成された遮光部材
    と、 この遮光部材のピンホールを通過した上記反射レーザ光
    の拡散光が形成するレーザスポットの位置を光学的に検
    出するスポット位置検出手段とを有することを特徴とす
    る円盤状光記録媒体の傾き測定装置。
16. 【請求項１６】 上記スポット位置検出手段は、多分割
    された光電変換素子からなることを特徴とする請求項１
    ５記載の円盤状光記録媒体の傾き測定装置。
17. 【請求項１７】 前記光電変換素子は、上記円盤状光記
    録媒体の径方向に対応する方向のレーザスポットの位置
    と、上記円盤状光記録媒体のトラック方向に対応する方
    向のレーザスポットの位置とを検出できるよう分割され
    ていることを特徴とする請求項１５記載の円盤状光記録
    媒体の傾き測定装置。
18. 【請求項１８】 上記レーザ光収束手段は、フォーカス
    サーボ制御手段によってレーザ光源から出射されたレー
    ザ光が上記円盤状光記録媒体の情報信号記録面上に収束
    するようにフォーカスサーボ制御されることを特徴とす
    る請求項１５記載の円盤状光記録媒体の傾き測定装置。