JPH0953982A - 光度計 - Google Patents

光度計

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JPH0953982A
JPH0953982A JP8183522A JP18352296A JPH0953982A JP H0953982 A JPH0953982 A JP H0953982A JP 8183522 A JP8183522 A JP 8183522A JP 18352296 A JP18352296 A JP 18352296A JP H0953982 A JPH0953982 A JP H0953982A
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JP
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rotor
photometer
channel
segments
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JP8183522A
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Michael L Malek
エル マレック マイケル
Glen A Carey
エイ キャレイ グレン
Gregory A Coghlan
エイ コフラン グレゴリー
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Bayer Corp
Original Assignee
Ciba Corning Diagnosys Corp
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/75Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
    • G01N21/76Chemiluminescence; Bioluminescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/13Moving of cuvettes or solid samples to or from the investigating station
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/02Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
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    • G01N2035/0439Rotary sample carriers, i.e. carousels
    • G01N2035/0446Combinations of the above
    • G01N2035/0448Combinations of the above composed of interchangeable ring elements
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 試料分析システムに使用する光度計におい
て、正確で効率的な連続光放射の検出を行なう。 【解決手段】 チャンネル64が内部に形成されたハウ
ジング12上に、複数のセグメント62が連結されたロ
ータ58が回転可能に配置される。セグメント62の間
に試料を入れる容器が収容される。試料と試薬との化学
的発光と伴なう反応は、開口部94に配置される検出器
により測定される。チャンネル64内においては、試料
が装填される位置、試薬が添加されて発光が生じる位
置、その発光を検出する位置があり、順次容器が移動さ
れる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は試料検査装置、特に
光度計に関するものである。
【0002】
【従来の技術】この技術分野で周知のように、血液サン
プルのような試料サンプルの検査に用いるシステムは、
例えば、試薬をキュベット内のサンプルに加えている。
この試薬の分子は、サンプルのある成分と反応して結合
する。サンプルの残りの部分は通常は取り残され、塩基
のような更なる試薬が、結合分子の一部を発光させるた
めに加えられている。試薬の反応時間は、通常は、検査
の重要なパラメータであり、厳しい時間的な制限条件に
基づく培養が、反応サンプルが発光検出の状態になる前
に必要である。放射された光の強度とスペクトル分布
が、検査されるサンプル成分の濃度を示す。放射された
光は、検出器に入る前に分光フィルタを透過させてもよ
い。これにより、試料サンプルのタイプと試薬タイプと
結果として得られるスペクトルが分かると、試料サンプ
ル中の特定の化学成分の存在を検出することができる。
別のチャンバ内の異なる試薬で別の検査を実施して、試
料の他の成分に対する検査を行うこともできる。
【0003】また周知のように、光度計の測定領域に入
る背景光の量を最小にすることが望まれる。サンプルの
成分の濃度を示す発光信号から背景光の量を最小化する
ことによって、分析結果をより精密にすることができ
る。
【0004】病院または診療環境で効率的に実施しなけ
ればならないサンプル検査は、単位時間当たり、大きな
サンプル処理量を要求する。検査システムのいかなる部
分が検査シーケンスの停止を要することとなっても、そ
の効率を損ね、また制限時間を越えた場合には検査結果
は無駄になってしまう。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明は、試
料分析システムにおいて、正確で効率的な連続光放射の
検出を実現する光度計を提供することを目的をするもの
である。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明による試料サンプ
ルの成分を決定する光度計は、遮光ハウジングにキュベ
ットを含むサンプルの環状の案内通路を備えている。ロ
ータは、セグメント間に位置するキュベットとともに、
案内通路を介して離間するセグメントを移動させる。光
度計は、更に、ハウジングに連結すると共に、セグメン
ト間の案内通路に沿って通過する時にキュベットによっ
て放射される光を受けて検出するように位置する、一つ
又は二つの検出器アセンブリを備えている。キュベット
はロータとロータ・セグメントを介してハウジングのま
わりに進められ、キュベットがハウジングの所定の位置
に達すると、塩基のような試薬が、キュベットに加えら
れて、キュベット内の化学的発光反応を開始するととも
に、所定のスペクトル範囲内の光エネルギを放射する。
光度計は、検出器を通過した後に、キュベットの中味を
取り除く廃物吸引プローブを有している。キュベットの
エレベータは、サンプル含有キュベットをセグメント間
の案内通路の中に移動させ、出口シュートはキュベット
の中味が吸引された後にキュベットを取り除く。光度計
は、キュベットがエレベータによって光度計に移動され
る前に、キュベットがサンプルを受容して特定の試薬を
検査する培養チャンバに連結したときに、連続的で中断
のないサンプル検査を行うことができる。
【0007】更に、複数の試薬が単一のキュベットに加
えられるとともに、検出システムが複数の異なるスペク
トル範囲で同時に光放射を検出しなければならないシス
テムを提供することが望ましい分野においては、第2の
光検出アセンブリを設けることによって上記システムを
本発明に包合する。
【0008】ハウジングは、第1の表面から突出する内
側と外側の壁を有するベース壁によって形成した凹所領
域を備えている。凹所領域は、ハウジング周囲の連続す
る通路に連なっている。ハウジングは入口シュートを備
えており、この入口シュートを通ってキュベットがエレ
ベータによって配置されるとともにロータ・セグメント
間にあるハウジングの凹所領域内に保持される。ロータ
は、塩基のような化学的発光誘発物質を付加するために
キュベットを凹所に沿ってハウジング内の所定の位置に
進める。一つ又は二つの検出器アセンブリが、ハウジン
グの案内通路の反対側に設けてある。この特殊な構成に
基づいて、一つ又は複数の別々のスペクトル範囲におけ
る最終的な発光を有する試料サンプルの成分を検出でき
る光度計が提供される。
【0009】検出器アセンブリは、例えば、光電子増倍
管(PMT)を具備する場合もある。PMTの各々は、
反応容器内で生じた化学的発光の閃光に対して実質的に
同時に応答できる。フィルタを、複数のPMTのうち第
1のものが第1のスペクトル範囲の光放射に応答し、第
2のものが第2のスペクトル範囲の光放射に実質的に同
時に応答するように、各PMTの光通路に置いてもよ
い。従って、光度計は、単一の検査で、検査する二つの
別々のサンプル成分を反映する二つの異なるスペクトル
範囲の光放射を検出できる。
【0010】一つの実施例において、ハウジングの凹所
領域のベース部分には、その中に案内チャンネルが設け
られている。その底部の表面にボスを有するロータ・セ
グメントが、ハウジングの凹所領域に設けてある。ロー
タ・セグメントと案内チャンネルは共に光りトラップを
形成している。
【0011】検出器アセンブリに連結した温度制御回路
は、検出器アセンブリの温度を所定の温度範囲内に維持
する。従って、検出器は、時間的な周期に対して最小の
計測ドリフトを有する一定の測定値を示す。
【0012】
【発明の実施の形態】図1Aと1Bは、本発明による光
度計を示すものである。この光度計は、上部10’と下
部10”を有する上部カバー10と、検査すべきサンプ
ルを含有するキュベットがそこを通って移動される底部
案内通路ハウジング12とから成るハウジングを有して
いる。廃物吸引プローブアセンブリ14が、ラック・ピ
ニオン機構20によって上下するアーム18上で廃物吸
引プローブ16を制御し、下記に記載する発光検出後に
廃物流体を取り除く。
【0013】光度計は、典型的には、サンプル検査のた
めの培養システムを有する構造からピラー22上に支持
される。ピラー22は後述するTEDのヒートシンクと
して作用する。検出器アセンブリ24は、ピラー22に
も支持されて検出器とPMTをそこに設定し、後述する
ようにハウジング12の案内通路内の適宜な検査ステー
ションに位置する時にキュベットを検査する。アセンブ
リ24と類似する第2の検出器アセンブリ24’を、案
内通路ハウジング12の内部中空構造部のピラー22の
他方の側に設けることができる。検出器アセンブリ24
と24’で検査される空間部のキュベットは、検出器ア
センブリ24と24’によるステーションのキュベット
上方の開口部44に発光誘発化学物質を備えている。
【0014】排出シュート28は、キュベットが検出器
アセンブリ24の通過後に案内通路に導かれる、ハウジ
ング12の位置の下に設けられている。ハウジング12
の案内通路の底にある開口部によりキュベットが落下で
き、導管30が、保護排水管として作用して、チャンネ
ル64からシュート30への塩基の漏れを除去するとと
もに、それが入口の開口部に達することを防止する。
【0015】キュベット34は、培養システム38から
エレベータ36を介して底穴を通ってハウジング12に
入る。コントローラ42は、制御信号を光度計に送って
サンプル検査の制御および表示のために、光度計からの
データを受け取る。
【0016】更に図2A〜2Cは光度計の内部構造を示
す。カバー部10’と10”は、ハウジング12の中心
に固定されたシャフト46を締め付けるナット45によ
って、互いにハウジング12に保持されている。上部1
0’の下において、プーリ48は、コントローラ42の
信号に基づいてモータ56によって回転されるシャフト
54上で、更なるプーリ52のベルトによって駆動され
る。プーリ48は、ロータ58に固定された光学的エン
コーダ・ディスク60を介して連結したロータ58を順
に駆動する。ロータ58は、ロータに遊動的に取り付け
られるとともに、ハウジング12の案内通路を形成する
チャンネル64内を走行する、複数のセグメント62
(この場合、8個)を備えている。セグメント62は、
ロータ58により位置決めされる。そして、キュベット
がエレベータ36によって上方に移動する時に、コント
ローラ42の制御のもとで、セグメント62間で案内通
路に移動するキュベットを捕獲するスロット66を形成
している。
【0017】エンコーダ・ディスクは羽根70と主羽根
72を備えている。それらがPCボード76上の光学的
センサ74を通ると、最終位置信号がコントローラ42
に送られ、キュベットがエレベータ36からロードされ
る際に適する位置であって、検出器アセンブリによる検
査と、プローブ16による流体吸引と、シュート28を
介する排出にも適した位置に、ロータ58を停止させ
る。カバーされている検査孔80は、培養システムで組
み立てる時に適したキュベット・ロードに相応する光度
計の配置を可能にする。
【0018】ロータ58は、ハウジング12とロータ5
8の間で軸受82に軸受けされている。ハウジング12
からのシャフト46は軸受82を自由に通過する。太い
直径を有する単一の軸受はロータに所望の剛性と安定性
をもたらす。カバー部10”は、チャンネル64の案内
通路を光環境から密閉して、外部光が検出器アセンブリ
24と24’の検査ステーションに達することが最小限
度になることを保証している。
【0019】図3に示すように、セグメント62は、セ
グメントがその上に乗るショルダ・ネジ92によりアー
ム90でロータ58に固定してある。これらは、セグメ
ントを少し上下および内外に遊動するとともにネジ軸の
まわりに回転させて、固着を防止し、一定のキュベット
空間部を確保する。この結合は、それらが案内通路に沿
ってチャンネル64内で回転する時のセグメントとキュ
ベットとの詰まりを防止する。ハウジング12は黒鉛プ
ラスチック複合材で製造されており、ある程度の導電性
を有し、部品の動きに起因する静電荷が蓄積するのを防
止する。
【0020】図2Bは、ハウジング12の外壁96の開
口部94内にはめ込んだ単一の検出器アセンブリ24を
示す。好ましくは、同様の開口部94’(次の図4を参
照)がハウジング12の内壁98にはめ込んであり、単
一の検出器アセンブリ24で用いるプレート100とプ
ラグ102を収容している。プレート100と検出器2
4は、支持ブロック104と106を介してヒート・シ
ンク・ピラー22に取り付けられている。PCボード1
08は、光度計とコントローラ42の間の電気的接続の
ためのコネクタを収容している。参照番号が付記してな
いが、種々のネジとワッシャとリングが上述の図に示し
てあり、前記の部品に関する通常の取り付けを示してい
る。
【0021】図4は、キュベットからの光放射に関する
典型的な複数の頻度の検出のために二つの検出器24と
24’を有する実施例を示すものである。二つの検出器
が、ハウジング壁96と98の各開口部94と94’に
固定されている。各々が各々PMT110と112を備
えている。それらはチャンネル64内のキュベットのた
めの案内通路の領域118をレンズ114と116を介
して検査し、そこで、キュベットは、遮光シールを維持
しながら、ハウジング12とカバー部10”の開口部1
20のシール125を介して塩基を排出するために、分
配アセンブリ121とプローブ123を介して塩基のよ
うな放射誘発試薬の管理のために停止する。ハウジング
12の内部は、壁98の内部で、ストラット122によ
って強化されている。
【0022】PMT110と112は、熱スリーブ12
6で囲われて、レンズ・キャップ128に固定されてお
り、それらは溝130にOリングを有する開口部94と
94’に嵌合している。熱スリーブ126は、25℃
± 1.25 ℃ のように、PMTに相応する一定の作
動温度とそれらの環境を保持するためにコントローラ1
34(図2B)によって制御される熱電素子(TED)
132に取り付けられている。
【0023】コントローラ42の制御に基づく動作時
に、図5A〜5Cに示すように、キュベットは、エレベ
ータ36を介してロード・ステーション143のチャン
ネル64の光度計の案内通路にロードされて、セグメン
ト62の隣接するものの間で空間部140に置かれる。
同時か殆ど同時に、必要に応じて検出器24’を具備す
る、検出器24を丁度通過したキュベットの流体は、吸
引プローブ管18を介して廃物ステーション144で吸
引される。同様に、キュベットに沿う次のものが、排出
ステーション146で廃物ビン32に達するシュート2
8中に排出される。この手順を数回繰り返した後で、空
間部140内のキュベットが、チャンネル64の案内通
路に沿って回転され、塩基が加えられる、一つ又は二つ
の検出器および、それらのそれぞれのPMTで検査さ
れ、正確な時間の経過後に、輝度が測定される。空間部
140は、その中味を廃物コンテナへ吸引するために廃
物ステーション144へ通じており、続いて、更なるそ
れぞれのキュベットが、前述のように装填され、塩基に
より化学的発光が行なわれ、光検出が行なわれ吸引され
る手順まで進む間に、ずっと排出ステーション146に
移動している。
【0024】セグメント62は、図6A〜6Bに更に詳
細に図示してあり、そこでは、それらが、ネジ92を収
容する中心穴部およびアーム90(図3)を収容する凹
所領域152を備えている。上部フランジ154はキュ
ベットをその下に保持し、キュベットの底部はハウジン
グ・チャンネル64の溝付き底部156(図4)によっ
て保持されている。チャンネル64の案内通路に沿って
移動する時にキュベットを支持するセグメント62の端
部158は、図6Bに158’で示すように面取りされ
て、検出器24と24’のPMTに向かって化学的発光
性の光を反射できる。あるいは、その端部は、キュベッ
トとセグメントの間の接触を最小にして、他着の影響を
最小限にする、隆起部に形成できる。
【0025】本発明の好ましい実施例を述べてきたが、
当業者には、この概念を包合する他の実施例が使用でき
ることが明白である。従って、これらの実施例が開示さ
れた実施例に限定されないし、むしろ添付の請求の範囲
の精神と範囲のみによって限定される。
【図面の簡単な説明】
【図1A】本発明の光度計アセンブリの1つの実施の形
態を示す側面図
【図1B】制御電子要素を含む図1Aの光度計アセンブ
リを示す底面図
【図2A】図1Aと図1Bの光度計の分解組立図
【図2B】図1Aと図1Bの光度計の分解組立図
【図2C】図1Aと図1Bの光度計の分解組立図
【図3】光度計のロータ、セグメントおよびセグメント
案内通路ハウジングを示す側面分解組立図
【図4】光度計のロータアセンブリとPMT検出器アセ
ンブリの断面図
【図5A】光度計の作動中におけるロータの動作位置を
示す上面図
【図5B】光度計の作動中におけるロータの動作位置を
示す上面図
【図5C】光度計の作動中におけるロータの動作位置を
示す上面図
【図6A】図4と5のロータのセグメントを示す斜視図
【図6B】図4と5の別のロータのセグメントを示す上
面図
【図6C】図4と5のさらに別のロータのセグメントを
示す上面図
【符号の説明】
10 上部カバー 12 ハウジング 14 廃物吸引プローブ・アセンブリ 16 廃物吸引プローブ 18 アーム 22 ピラー 24 検出器アセンブリ 28 排出シュート 32 廃物ビン 36 キュベット・エレベータ 38 培養器 42 コントローラ 56 ステッピング・モータ 121 分配アセンブリ 134 コントローラ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成8年10月18日
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図6A
【補正方法】変更
【補正内容】
【図6A】
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図6B
【補正方法】変更
【補正内容】
【図6B】
【手続補正3】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図6C
【補正方法】変更
【補正内容】
【図6C】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 グレン エイ キャレイ アメリカ合衆国 オハイオ州 44044 グ ラフトン ロブソン ロード 12680 (72)発明者 グレゴリー エイ コフラン アメリカ合衆国 オハイオ州 44035 エ リリア アパートメント エックス ブラ ンスウィック ドライヴ 222

Claims (26)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ロータ・セグメント・チャンネルを内部
    に形成したハウジングと、 前記ハウジングのまわりに配置されたロータと、 前記ハウジングのロータ・セグメント・チャンネル内に
    回転自在に配置されるように、前記ロータに連結した複
    数のロータ・セグメントと、 前記ハウジングのロータ・セグメント・チャンネルのま
    わりに配置された、該ロータ・セグメント・チャンネル
    上に遮光シールを提供するカバーと、 前記チャンネル内の化学的発光誘発測定装置とを備えた
    ことを特徴とする光度計。
  2. 【請求項2】 遮光シールを提供する前記カバーが、中
    央固定装置を具備する前記ハウジングに固定されている
    ことを特徴とする請求項1記載の光度計。
  3. 【請求項3】 前記カバーを介してセグメント間の空間
    部にプローブを延長するように配置されたプローブ・ア
    センブリを更に備えていることを特徴とする請求項2記
    載の光度計。
  4. 【請求項4】 前記プローブ・アセンブリが、分配プロ
    ーブまたは吸引プローブ、および前記分配又は吸引プロ
    ーブを流体の分配または吸引のために前記空間部の第1
    の位置から第2の異なる位置に移動させる手段の一方を
    備えていることを特徴とする請求項2記載の光度計。
  5. 【請求項5】 ハウジングに連結した検出器であって、
    該検出器の一部が、光学的濾過の有無にかかわらず、前
    記ハウジングを介して設けてあり且つ前記ハウジングの
    ロータ・セグメント・チャンネルに露出されている前記
    検出器を更に備えていることを特徴とする請求項1記載
    の光度計。
  6. 【請求項6】 二つの検出器が設けてあり、該検出器の
    各々は、前記セグメント・チャンネルに面する前記ハウ
    ジングのそれぞれ内側と外側のハウジング壁に連結して
    いることを特徴とする請求項5記載の光度計。
  7. 【請求項7】 二つの検出器の各々に連結し、複数の所
    定のスペクトル範囲の各々で検出した発光に基づいて、
    送られる検出器信号の各々を評価するとともに特定の試
    料成分の存在を決定する処理回路を更に備えていること
    を特徴とする請求項6記載の測定器。
  8. 【請求項8】 離間した関係でロータの下に懸吊された
    複数のロータ・セグメントを有するロータと、 前記ロータ・セグメントを前記ロータに懸吊するカップ
    リングと、 前記ロータ・セグメントが前記ロータの回転に伴って移
    動するハウジング・チャンネル内に前記ロータ・セグメ
    ントを懸吊するように前記ロータを回転自在に支持する
    ハウジングと、 チャンネルに沿う、サンプルの装填、検査および除去用
    のステーションとを備え、 前記ロータ・セグメントが第1と第2の対向端、第1と
    第2の対向表面、および前記ロータ・セグメントの第1
    と第2の対向表面の間の口径部を有し、 前記カップリングが、前記セグメント間に一定の空間を
    維持し且つ前記チャンネル内における結束を防止する限
    定的な動きを呈するように、前記チャンネル内のセグメ
    ントの動きを受容することを特徴とする光度計。
  9. 【請求項9】 前記装填ステーションでセグメント間の
    前記チャンネルにサンプル容器を移動させるサンプル・
    エレベータを更に備えていることを特徴とする請求項8
    記載の光度計。
  10. 【請求項10】 前記検査ステーションに前記セグメン
    ト間の容器内のサンプルが放射した光を検査する、一つ
    または二つの化学的発光検出器を更に備えていることを
    特徴とする請求項8記載の光度計。
  11. 【請求項11】 化学的発光生成試薬を前記検査ステー
    ションで容器内のサンプルに提供する、試薬投与装置を
    更に備えていることを特徴とする請求項8記載の光度
    計。
  12. 【請求項12】 前記除去ステーションにおいて又はそ
    の近くに排出シュートおよび吸引プローブのうち少なく
    とも一方を更に備えていることを特徴とする請求項8記
    載の光度計。
  13. 【請求項13】 離間した関係でロータの下に懸吊され
    た複数のロータ・セグメントを有するロータと、 前記ロータ・セグメントを前記ロータに浮遊して懸吊す
    るカップリングと、 前記ロータ・セグメントが前記ロータの回転に伴って移
    動するハウジング・チャンネル内に前記ロータ・セグメ
    ントを懸吊するように前記ロータを回転自在に支持する
    ハウジングと、 チャンネルに沿う、サンプル検査用のステーションとを
    備えており、 前記ロータ・セグメントが第1と第2の対向端、第1と
    第2の対向表面、および前記ロータ・セグメントの第1
    と第2の対向表面の間の口径部を有し、 前記カプリングが、前記セグメント間に一定の空間を維
    持し且つ前記チャンネル内における結束を防止する限定
    的な動きを呈するように、前記チャンネル内のセグメン
    トの動きを受容し、 前記ハウジング・チャンネルおよびセグメントが、導電
    性材料から形成され静電電荷の蓄積を防止していること
    を特徴とする光度計。
  14. 【請求項14】 前記検査ステーションでセグメント間
    に位置したサンプル内の化学的発光を検出する、該検査
    ステーションに配置された第1と第2の検出器アセンブ
    リと、 光を前記検出器アセンブリに向けて反射するように作動
    するチャンネル内で、互いに面しているセグメント上に
    面取り縁とを更に備えていることを特徴とする請求項1
    3記載の光度計。
  15. 【請求項15】 チャンネルで互いに面するセグメント
    の縁が、セグメント間におけるチャンネル内のサンプル
    容器と接する地点を減少するように作られていることを
    特徴とする請求項14記載の光度計。
  16. 【請求項16】 複数のサンプル容器が順次移動される
    チャンネルを有するとともに、それらを介して前記チャ
    ンネルに設けた開口部を有するハウジングと、 前記ハウジングに連結し、前記開口部を通して配置さ
    れ、該ハウジングのチャンネルの所定の領域から放射さ
    れた光を検出する検出器と、 前記検出器に連結した温度検出制御回路とを備えている
    ことを特徴とする光度計。
  17. 【請求項17】 前記第1の検出器に対して前記チャン
    ネルの反対側で前記ハウジングに連結した第2の検出器
    を更に備え、 前記温度制御サーキットが前記第1と第2の検出器に連
    結していることを特徴とする請求項16記載の光度計。
  18. 【請求項18】 前記検出器が更に、 断熱スリーブ内のPMTと、 前記PMT熱スリーブに連結したTEDとを更に備えて
    いることを特徴とする請求項16記載の光度計。
  19. 【請求項19】 前記第2の検出器が更に、 断熱スリーブ内のPMTと、 前記PMT熱スリーブに連結するとともに前記制御回路
    によって制御されるTEDとを更に備えていることを特
    徴とする請求項17記載の光度計。
  20. 【請求項20】 光度計のための光電子増倍管アセンブ
    リであって、 PMT検出器に連結した第1の端部と、その中を検査用
    サンプルが移動するハウジング・チャンネルの壁の開口
    部に配置された第2の端部とを有するレンズ・キャッ
    プ、およびシールにおいて、該シールの第1の表面の少
    なくとも一部が前記ハウジングの第1の部分に接するよ
    うに、前記のレンズ・キャップの第2の端部のチャンネ
    ルに配置された前記シールを備えていることを特徴とす
    る光電子増倍管アセンブリ。
  21. 【請求項21】 前記レンズ・キャップが前記PMTと
    前記チャンネルとの間でレンズの位置を設定することを
    特徴とする請求項20記載の光電子増倍管アセンブリ。
  22. 【請求項22】 前記カバー上にネジ部を有するシャフ
    トの周囲で自由に前記ハウジングに対して前記ロータを
    回転自在に支持し、単一のナットが前記ハウジングに対
    して前記カバーを固定するように構成した軸受を更に備
    えていることを特徴とする請求項2記載の光度計。
  23. 【請求項23】 前記カップリングが前記セグメントに
    関する上下と出入と回転の動作を許容していることを特
    徴とする請求項8記載の光度計。
  24. 【請求項24】 前記カップリングがショルダ・ネジで
    あることを特徴とする請求項23記載の光度計。
  25. 【請求項25】 前記カップリングが前記セグメントに
    関する上下と出入と回転の動作を許容していることを特
    徴とする請求項13記載の光度計。
  26. 【請求項26】 前記カップリングがショルダ・ネジで
    あることを特徴とする請求項25記載の光度計。
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