JPH09501780A - 顕微鏡に用いられるコントラスト装置 - Google Patents

顕微鏡に用いられるコントラスト装置

Info

Publication number
JPH09501780A
JPH09501780A JP7527280A JP52728095A JPH09501780A JP H09501780 A JPH09501780 A JP H09501780A JP 7527280 A JP7527280 A JP 7527280A JP 52728095 A JP52728095 A JP 52728095A JP H09501780 A JPH09501780 A JP H09501780A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contrast
contrast device
microscope
illumination
plane
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7527280A
Other languages
English (en)
Inventor
ドット,ハンス−ウルリッヒ
Original Assignee
ドット,ハンス−ウルリッヒ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ドット,ハンス−ウルリッヒ filed Critical ドット,ハンス−ウルリッヒ
Publication of JPH09501780A publication Critical patent/JPH09501780A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/14Condensers affording illumination for phase-contrast observation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】 本発明は、薄いプレパラートおよび厚いプレパラートにおける無色の位相対象物を顕微鏡で目に見えるようにするための新規のコントラスト法に関する。本発明は、適当な絞りによって照明光路内の特定の空間的フーリエ成分がフィルタリングされることによって特徴付けられている。照明光路のフーリエ平面にディフューザが挿入されることにより、特定のフーリエ成分が完全に消滅してしまうことが阻止される。これによって、斜光照明の従来の方法の欠点が回避され、簡単な手段によって位相対象物の高価な画像が得られる。

Description

【発明の詳細な説明】 顕微鏡に用いられるコントラスト装置 位相対象物、たとえば細胞におけるコントラスト形成のためには、顕微鏡にお いてノマルスキー系の微分干渉コントラスト(DIC)、ホフマン系のモジュレ ーションコントラスト(HMC)および斜光照明(Schiefe Beleu chtung)(SB)が使用される。 DICは偏光された光線を用いて実施され、規定の厚さを超える対象物では、 もはや鮮明な画像を与えない。DICは別の欠点をも持っており、たとえばプラ スチック培養皿内の細胞では使用不可能である。 HMCもDIC同様に規定のプレパラート厚さを超えると良好な画像を与えな い。SBは過剰コントラスト化された、対象物とは似ていない画像を与える。こ のような画像では、高い倍率の場合にもはや細部を認識することができない。さ らに、上記3つの方法では全て1つの画豫方向、つまり上下または左右の方向で しかコントラストが得られない。 本発明の課題は、公知先行技術の欠点を取り除くことである。この課題は請求 項1に記載の装置により解決される。本発明の有利な構成は請求項2以下に記載 されている。 顕微鏡光路、つまり顕微鏡を通る光線ビームの光路には、常に少なくとも2つ のフーリエ平面が存在している。これらのフーリエ平面は、画像平面に画像を形 成する空間的なフーリエ成分がこれらのフーリエ平面に空間的に解像されて存在 していて、これらのフーリエ成分に影響を与えることができることにより特徴付 けられている。このことは、たとえば選択的にフーリエ平面内の小さな側方残分 を除いて全てのフーリエ成分が絞られるような斜光照明において行われる。この 既に久しく知られている照明形式には、たいていのフーリエ成分の脱落により画 像が対象物に全く似ていないという欠点がある。請求項1に記載の本発明の決定 的な思想は、画像形成のために片側斜光照明の場合よりも多くのフーリエ成分を 可能にし、ひいては画像を対象物に酷似させることにある。このことは本発明の 有利な構成では、たとえば単純な孔付絞りまたは単純なセクタ絞りが使用される のではなく、1/4リング絞りが使用され、この1/4リング絞りに場合によっ てはディフューザが後置されることにより達成することができる。また、絞りの 透過率自体を空間的に可変に形成することもできる。これにより、たとえば重畳 された多角斜光照明が得られる。厚い対象物を検査する際には、ディフューザは 必ずしも必要とならない。なぜならば、この場合対象物自体がディフューザとし て作用するからである。 請求項2に記載の本発明の構成では、付加的に結像光路のフーリエ平面にモジ ュレータが配置されている。このモジュレータは直接光線のフーリエ成分を弱め 、こうして同じく対象物に似た画像を生ぜしめる。請求項3に記載の本発明の構 成では、画像のほぼ直交する2つの空間方向でコントラストが形成される。モジ ュレータはディフューザ接続の有無にかかわらず使用することができる。 厚い位相対象物の画像のコントラストは、慣用のコントラスト法に比べて著し く改善される。このためには、本発明によるコントラスト装置を照明光路に挿入 すれば十分となる。それに対して別のコントラスト法は結像光路にも影響を与え なければならない。したがって、既存の顕微鏡に問題なく、以下に説明する階調 コントラストを後装備することができる。この階調コントラストは厚い位相対象 物に対しても、薄い位相対象物に対しても使用可能である。コントラストの強さ は調節することができる。慣用の位相コントラスト対物レンズの使用時では、本 発明によればハロの減じられた位相コントラストをも形成することができる。ま た、位相コントラストと階調コントラストとから成る可変の組み合わせを調節す ることもできる。階調コントラストは別のコントラスト法とは異なり、画像平面 のほぼ直交する2つの方向で形成される。この階調コントラストは種々の特殊顕 微鏡、たとえば赤外線顕微 鏡、偏光顕微鏡および蛍光顕微鏡においても使用することができるので有利であ る。 以下に、本発明の有利な実施例を図面につき詳しく説明する。 第1図は、本発明の1実施例による光路の概略図を示しており、 第2図は、本発明による装置に用いられる空間フィルタの有利な実施例を示し ており、 第3図は、本発明の1実施例による対象物近傍における光路の概略図を示して おり、 第4図は、本発明の1実施例を使用する際の、顕微鏡における位相コントラス ト対物レンズの瞳孔画像を示しており、 第5図は、赤外線顕微鏡との組み合わせで使用される、本発明の1実施例の概 略的な構造を示しており、 第6A図は、モジュレータを用いる1実施例を使用する場合の瞳孔画像を示し ており、 第6B図は、光路内での空間フィルタとモジュレータとの相対的な位置を示し ている。 有利な実施例の説明 厚い対象物を照明するための装置(階調コントラスト) 本発明によればコントラストは位相対象物において空間フィルタによって形成 される。この空間フィルタはフーリエ平面において照明階調を発生させる。この ことは、コンデンサの後側焦点平面が適当なレンズ系によって光源前方のアクセ ス可能な個所に結像されることにより達成される。第1図に示したように、顕微 鏡本体1とハロゲンランプ2との間には、焦点距離f1の2つのレンズL1,L 2が間隔2×f1で設置される。ハロゲンランプ2の照明フィラメント3は無限 遠に結像される。両レンズの間の点f1には、コンデンサ(図示しない)の後側 焦点平面=フーリエ平面4が結像される。同じくこの平面には、ハロゲンランプ の照明フィラメントが結像される。コントラストは適当な空間フィルタ=絞り5 によって形成される。この絞り5はこの個所でセンタリング可能に取り付けられ ている。 第2図は、脳切片を観察するために使用されるようなフィルタの構成が示され ている。このフィルタは主として中央絞り6と90°セクタ絞り7とからの組み 合わせである。対物レンズのアパーチュア内で照明のためにまだ有効となる有効 1/4リング8の幅は、顕微鏡の対物レンズ瞳孔の半径の1/2〜1/10であ ると有利である。この照明リングが狭くなるにつれて、画像のコントラストは増 大する。最大180°までの自由セクタを使用することもできる。90°セクタ は両直交空間方向における最大コントラストを与える。 第3図に示したように、増大したコントラストは、 対象物、たとえば脳切片がもはや全円錐状の光線9で照明されずに、湾曲させら れて先細りになった剣状の光線10でのみ照明される。これによって、脳切片に は焦点ので、汎用の全円錐状照明の場合よりもはるかに少ない散乱光しか生じな い。脳切片のはるかに深くまで覗き込むことができる。斜光照明により、位相対 象物の表示が得られ、画像はDIC撮影に似ている。 斜光照明がなぜ卓越した画像を提供するのか、という決定的な点は、中央絞り とセクタ絞りとの組み合わせの他に、特に厚い脳切片がディフューザとして作用 するという事実である。それ故に、対物レンズの瞳孔平面を観察すると、脳切片 が挿入された状態では鮮明な1/4リングではなく、不鮮明な照明階調が認めら れ、この照明階調は1/4リングの個所でまだ最大値を有している。フーリエ平 面のいかなる個所も完全に暗くはならないので、全てのフーリエ成分が画像形成 のために寄与している。この場合、重畳された多角斜光照明と呼ぶことができる 。過剰コントラスト化は回避され、極めて微細な細部がまだ認識可能となる。絞 りは、もはや対物レンズ瞳孔に結像されない、コンデンサアパーチュアにおける 象限の一部も照明されるように設定されている。コンデンサとしては、対物レン ズよりも高いアパーチュアの液浸コンデンサが使用されるので、暗視野顕微鏡の コントラスト増幅効果および解像度向上効果も発揮される。 階調コントラストのための空間フィルタは直接にコンデンサの後側焦点面また はこの焦点面に対して共役された平面に取り付けることができる。 薄い対象物を照明するための階調コントラスト 前記コントラスト法は薄い対象物に適用する場合には著しい過剰放射線および 著しいコントラストを生ぜしめる。この場合に重要となる変更は、ほぼフーリエ 平面の高さで1/4リング絞りの背後にディフューザ11を導入することである (第1図)。これによって、ディフューザとして作用する脳切片の作用は、対象 物平面に脳切片を有する必要なしに得られる。対物レンズ瞳孔を観察すると、再 び拡散照明階調が認められる。 この照明階調の分配は種々様々に調節することができる。第1に1/4リング 絞りとディフューザとの間隔を変化させることによって行うことができる。また 、レンズL2をディフューザに向かって移動させることによっても、切抜き部を 、ひいては結像された照明階調の勾配を簡便に変化させることができる。さらに 、種々のリング絞りの挟入またはシフトによるか、種々の強度のディフューザの 交換によっても、照明階調を変化させることができる。階調を変化させるための さらに別の手段は、絞りを偏光シートから製造し、この偏光シートの手前に回転 可能なポラライザを設置することである。これによって、調節可能な透過率を有 する絞りが得られ、このことは当然ながら絞り材料として種々の透過率を有する ニュートラルフィルタシートによっても達成することができる。 また、ガラスプレート上に延びる反射層または吸収層を蒸着させることによっ て、ディフューザなしでも階調を形成することができる。この場合、ガラスプレ ートの各点における透過率はリング絞りとディフューザとの上記組み合わせの作 用を模倣しなければならない。さらに、この階調は液晶構成素子(LC−SLM )によっても実現することができる。このことは次のような利点を持っている。 すなわち、コンピュータにより階調を任意に調節することができる。これによっ て、複数の同心的なリングも実現可能となる。これらのリングは位相シフト成分 と相まって過剰解像度を生ぜしめると望ましい(トラルドアパーチュア ;To raldo−Aperturen)。 1/4リングの代わりに、180°までのリングを使用することもできる。 階調コントラストを有するハロ現象なしの位相コントラスト 本発明による装置を位相コントラスト対物レンズとの組み合わせで使用するこ とができる。汎用の位相コントラスト対物レンズが使用されると、本発明によれ ば通常のハロなしの位相コントラストをも形成することが可能となる。このため には、ディフューザか、ま たは有利にはレンズL2が移動させられて(第1図)、階調12の著しく明るい 部分が対物レンズで位相リング13を一緒に取り囲むようにする(第4図)。こ の場合、ハロなしの細胞の位相コントラスト像が得られる。次に、対物レンズL 2がディフューザから離れる方向で移動させられると、瞳孔像における階調最大 部は外方に向かって変位し、位相リングはもはや直接に照明されなくなる。顕微 鏡画像は位相コントラスト像からDIC状の画像に変化する。本発明の特別な利 点は、この移行を連続的に調節することができることである。位相リングを一緒 に照明することは、ディフューザなしでも、厚い対象物の使用時では極めて微細 な構造のコントラストを高める。 階調コントラストを有する赤外線顕微鏡 プレパラートを照明するために可視光線の代わりに近赤外線領域の放射線が使 用されると、赤外線に敏感なビデオカメラを使用して、厚い対象物を一層深くま で覗き込むことができる。その理由は、赤外線が可視光線よりも僅かにしか散乱 されないことである。本発明により形成された階調コントラストは、可視光線の 場合と同様に位相対象物におけるコントラスト形成のために使用することができ るので有利である。特に800nmを越える波長を有する放射線を使用すること もできる。この波長では、もはや汎用のシートポラライザを用いるDICを使用 することができない。なぜ ならば、この偏光シートは800nmよりも上では偏光作用を失うからである。 第5図に示したように、本発明による装置は有利には次の構成部分から成ってい る。すなわち、光源1が設けられていて、この光源1の放射線からは、長波長の 赤外線が、光線および短波長の赤外線に対して透過性の加熱防止フィルタ14に よってフィルタリング除去される。この光線は前述したように階調コントラスト 装置15を通過して、顕微鏡16に入射する。近赤外線領域にある所望の波長範 囲だけがフィルタ17を透過される。顕微鏡に形成された画像は、赤外線に敏感 なカメラ18によって捉えられ、モニタ19に表示される。 落射蛍光顕微鏡における階調コントラストの使用 1/4リング照明は顕微鏡の落射照明においても使用することができる。この 場合にも、1/4リング照明を用いて厚い対象物に対して、慣用の落射照明を用 いるよりも大きな侵入深さが得られる。特に蛍光顕微鏡においては、散乱光を減 少させる目的で本発明を使用することができる。位相対象物を表示する必要はな いので、照明のためには全リングを使用することもできる。その場合、光線は肉 薄な中空コーンとして入射して、焦点面でのみ、有効な蛍光励起のために必要な 強度に達する。これによって、焦点面の外側の蛍光構造は共焦点顕微鏡の場合と 同様に極めて僅かにしか見えなくなる。 偏光顕微鏡における階調コントラストの使用 DICとは異なり、階調コントラストは偏光顕微鏡と組み合わせることもでき る。その場合、画像において偏光コントラストと階調コントラストとの組み合わ せが得られる。 結像光路における付加的なモジュレータを有する階調コントラスト ディフューザなしの構成において階調コントラストの不等な照明を改善するた めには、結像光路においても対物レンズ側の瞳孔平面またはこの平面の結像平面 にモジュレータを導入することができる。このことが結像平面で行われると、対 物レンズを変調しなくて済むという利点が得られる。10〜20%の透過率を有 するモジュレータ20(セクタ蒸着されたガラスプレート)は、直接照明の1/ 4リング21を完全にカバーするように形成されている(第6A図)。第6B図 には、照明・結像光路のフーリエ平面における空間フィルタおよびモジュレータ の配置形式が示されている。モジュレータは一時的にDICスライダの代わりに 導入することもできる。1/4リング絞りはコントラストを調節するために偏光 シートから形成することができる(上記参照)。また、モジュレータを用いても 直交方向におけるコントラストが得られる。1/4リング絞りの後方でのディフ ューザの使用の有無に関わらず、モジュレータの制限部を不鮮明に形成すること もできる。これによって、鮮明な縁部のハロ状副効果を回避することができる。 ディフューザの使用および場合によっては不鮮明に制限された位相リングの使用 に基づき、古典的な位相コントラストにおいてもハロ現象を減少させることがで きる。 階調コントラストを有する立体顕微鏡 顕微鏡において2つの独立したビーム経過が提供されると、階調コントラスト を用いて立体画像を形成することが可能となる。このためには、たとえば互いに 反対の側に位置する1/4リング状の2つの切欠きを備えたセクタ絞りにおいて 、これらの切欠きをカラーフィルタまたは直交ポラライザで覆うことができる。 たとえば接眼レンズアイカップにこのようなポラライザまたはカラーフィルタが 挿入されると、立体画像が得られる。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.顕微鏡に用いられるコントラスト装置において、 ─該コントラスト装置が顕微鏡光路のフーリエ平面内または少なくともフーリエ 平面の近傍に配置されており、 ─該コントラスト装置が、照明階調のような斜光照明の特別な形によってコント ラストを形成していることを特徴とする、顕微鏡に用いられるコントラスト装置 。 2.顕微鏡光路の第1の照明側のフーリエ平面にセクタ絞りを実施するための 装置(20)が設けられており、さらに顕微鏡光路の第2の結像側のフーリエ平 面に光線強度をモジュレーションするための装置(21)が設けられていること を特徴とする、顕微鏡に用いられるコントラスト装置。 3.該コントラスト装置が同時に画像平面の2つの方向でコントラストを形成 する、請求項1または2記載のコントラスト装置。 4.有利にはセクタ絞りの形の空間フィルタ(5)が設けられている、請求項 1から3までのいずれか1項記載のコントラスト装置。 5.ディフューザ(11)が設けられている、請求項1から4までのいずれか 1項記載のコントラスト装 置。 6.コントラストが、有利には光路に沿ったディフューザ(11)またはレン ズ(L2)の移動可能性に基づき可変である、請求項1から5までのいずれか1 項記載のコントラスト装置。 7.コントラストが、空間フィルタ(5)の可変調節可能な透過率に基づき調 節可能である、請求項1から6までのいずれか1項記載のコントラスト装置。 8.位相コントラスト対物レンズとの組み合わせで、ハロの減じられた位相コ ントラスト状の画像が形成されるようにコントラスト装置が調節可能である、請 求項1から7までのいずれか1項記載のコントラスト装置。 9.画像のコントラストが、位相コントラストと階調コントラストとの間で可 変調節可能である、請求項1から8までのいずれか1項記載のコントラスト装置 。 10.該コントラスト装置が赤外線を用いて作動可能であり、しかも画像撮影 の目的で赤外線に敏感なカメラが設けられている、請求項1から9までのいずれ か1項記載のコントラスト装置。 11.該コントラスト装置が落射光路のフーリエ平面内または少なくとも該フ ーリエ平面の近傍に配置されており、対象物が全中空コーンまたは部分中空コー ンによって照明されていて、蛍光状態にもたらされる ようになっている、請求項1から10までのいずれか1項記載のコントラスト装 置。 12.該コントラスト装置が偏光顕微鏡の顕微鏡光路に配置されている、請求 項1から11までのいずれか1項記載のコントラスト装置。 13.セクタ絞りが、互いに向かい合って位置する部分リング状の2つの切欠 きを有しており、部分光路に影響を与える適当な手段、たとえばポラライザによ って立体顕微鏡が作動されるようになっている、請求項1から12までのいずれ か1項記載のコントラスト装置。
JP7527280A 1994-04-20 1995-04-18 顕微鏡に用いられるコントラスト装置 Pending JPH09501780A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE9406545.4U 1994-04-20
DE9406545U DE9406545U1 (de) 1994-04-20 1994-04-20 Kontrastvorrichtung für Mikroskopie
PCT/DE1995/000533 WO1995029420A1 (de) 1994-04-20 1995-04-18 Kontrastvorrichtung für mikroskopie

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09501780A true JPH09501780A (ja) 1997-02-18

Family

ID=6907571

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7527280A Pending JPH09501780A (ja) 1994-04-20 1995-04-18 顕微鏡に用いられるコントラスト装置

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP0705451A1 (ja)
JP (1) JPH09501780A (ja)
DE (2) DE9406545U1 (ja)
WO (1) WO1995029420A1 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19604336B4 (de) * 1996-02-07 2004-02-26 Dodt, Hans-Ulrich, Dr. Vorrichtung zur Photostimulation mit einem Mikroskop
DE19960583A1 (de) * 1999-12-15 2001-07-05 Evotec Biosystems Ag Verfahren und Vorrichtung zur Mikroskopie
DE10024135B4 (de) * 2000-01-28 2004-07-08 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Mikroskop
DE10148782A1 (de) * 2001-09-28 2003-04-24 Zeiss Carl Jena Gmbh Optisches Modulationselement
DE10222785B4 (de) * 2002-05-23 2004-12-16 Wendlandt, Erhard Verfahren und Vorrichtung zur Probenuntersuchung
DE10314750A1 (de) * 2003-03-31 2004-11-04 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Rastermikroskop zur Detektion eines Objekts
DE102007061214A1 (de) 2007-12-19 2009-06-25 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop zum Beobachten einer Probe mittels verschiedener Kontrastverfahren
DE102008059026A1 (de) 2008-11-26 2010-05-27 Dmt Demminer Maschinenbau Technik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Abbildung von Phasenobjekten
ES2387491B1 (es) * 2011-02-28 2013-08-08 Universidad De Murcia Procedimiento y sistema para la obtención de imágenes cuantitativas en microscopía óptica de fase.
DE102013007399A1 (de) * 2013-04-30 2014-10-30 Octax Microscience Gmbh Anordnung zur Beobachtung eines Objekts in Transmissionsmikroskopie
DE102016108079A1 (de) 2016-05-02 2017-11-02 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Artefaktreduktion bei der winkelselektiven beleuchtung

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4407569A (en) * 1981-07-07 1983-10-04 Carl Zeiss-Stiftung Device for selectively available phase-contrast and relief observation in microscopes
DE3420760A1 (de) * 1984-06-04 1985-12-05 Bayer Ag, 5090 Leverkusen Beleuchtungseinrichtung fuer die optische, insbesondere bildanalytische auswertung von mikrobiologischen objekten
DE3926199A1 (de) * 1989-08-08 1991-02-14 Siemens Ag Vorrichtung zur fehlererkennung in komplexen, relativ regelmaessigen strukturen
DE4236803C2 (de) * 1992-10-30 1996-03-21 Leica Mikroskopie & Syst Mikroskop für mikroskopisch zu untersuchende Amplituden- und/ oder Phasenobjekte

Also Published As

Publication number Publication date
DE9406545U1 (de) 1994-11-03
WO1995029420A1 (de) 1995-11-02
DE19514358C2 (de) 2000-04-13
EP0705451A1 (de) 1996-04-10
DE19514358A1 (de) 1996-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4200353A (en) Modulation contrast microscope with three regions
JP3679052B2 (ja) 光学的観察装置
JPH11218690A (ja) 落射蛍光照明光学系を備えた顕微鏡
US6963445B2 (en) Light diffuser for optical microscopes replacing condenser with opal glass to produce near-koehler illumination
JPH09501780A (ja) 顕微鏡に用いられるコントラスト装置
US7576911B1 (en) Variable aperture transmissive substage microscope illuminator
Kino Intermediate optics in Nipkow disk microscopes
JP2003149559A (ja) 照明差込入射部を有する顕微鏡
US4200354A (en) Microscopy systems with rectangular illumination particularly adapted for viewing transparent objects
US20210311294A1 (en) Microscope apparatus
Samson et al. Dynamic contrast enhancement in widefield microscopy using projector-generated illumination patterns
US5731894A (en) Multi-purpose microscope objective
JP3431076B2 (ja) 顕微鏡用明視野・透過光・照明装置
CN105807413B (zh) 一种基于光调制技术的落射金相显微镜
US5305139A (en) Illumination system and method for a high definition 3-D light microscope
Piper et al. Variable phase dark-field contrast—A variant illumination technique for improved visualizations of transparent specimens
US5566020A (en) Microscopy system
EP0624258B1 (en) Microscopy system
CN205691849U (zh) 一种基于光调制技术的落射金相显微镜
JPH0235408A (ja) 顕微鏡
Evennett Kohler illumination: a simple interpretation
US6995903B1 (en) Microscope, a method for manufacturing a microscope and a method for operating a microscope
Keller Proper alignment of the microscope
JP4445720B2 (ja) 実体顕微鏡用透過照明装置
Meng et al. High-Speed Neural Imaging with Synaptic Resolution: Bessel Focus Scanning Two-Photon Microscopy and Optical-Sectioning Widefield Microscopy